CN104598086A - 电容式触控装置及其感测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电容式触控装置及其感测方法，该电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元。该触控面板包括第一感测线以及第二感测线。位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置可由第一触碰侦测单元、第二触碰侦测单元或两者计算。本发明能避免第一触碰侦测单元及第二触碰侦测单元之间的数据传输所导致图框率大幅降低的问题。

Description

电容式触控装置及其感测方法

【技术领域】

本发明涉及一种电容式触控装置，特别涉及一种电容式触控装置及其感测方法。

【背景技术】

当一电容式触控面板应用至一大尺寸装置时，感测线数量增加。此外，对于增加感测速度及计算扫描结果的需求也增加。

于轴交错式(Axis Intersect；AI)电容感测技术中，是以自电容(self-capacitance)感测方法侦测一触碰的坐标。然而轴交错式电容感测技术会发生鬼点(ghost point)问题，因此无法侦测多点触碰(multi-point touch)。相对地，于全点可寻址(All-Points Addressable；APA)电容感测技术中，通常是以互电容(mutual-capacitance)感测方法侦测一触碰的坐标，因此全点可寻址电容感测技术可侦测多点触碰。

请参阅图1，图1为现有技术中使用轴交错式电容感测技术之电容式触控装置10。该电容式触控装置10包括一触控面板100以及若干个触控集成电路(Integrated Circuits；IC)102、104。该触控面板100包括若干条感测线S1-S20。该触控集成电路102电性耦接至感测线S1-S10以扫描感测线S1-S10。该触控集成电路104电性耦接至感测线S11-S20以扫描感测线S11-S20。请参阅图2，图2绘示图1中感测线S8-S13及触控集成电路102、104的示意图，感测线S10、S11被视为边界(boundary)感测线。于电容式触控装置10中，一触碰的位置是透过感测两相邻感测线而决定。举例来说，感测线S8及S9被充电及放电以获得两感测线S8及S9之模拟至数字转换值(Analog-to-Digital Conversionvalue；以下称ADC值)。然后，感测线S8及S9之间之触碰的位置由感测线S8及S9之ADC值决定。类似地，感测线S9及S10之间之触碰的位置由感测线S9及S10之ADC值决定，感测线S10及S11之间触碰的位置由感测线S10及S11之ADC值决定。然而触控集成电路102并未电性耦接至感测线S11，因此触控集成电路102不能获得感测线S11之ADC值。当触碰的位置(感测线S10及S11之间)仅由感测线S10之ADC值决定时，ADC值会不正确或很小。为了决定正确的位置，触控集成电路104将所获得之感测线S11之ADC值传送到触控集成电路102，使得触控集成电路102能藉由使用感测线S10及S11之ADC值决定感测线S10及S11之间的位置。因为需要将感测线S11之ADC值传送至触控集成电路102，所以触控面板100的图框率(frame rate)会大幅降低并导致电容式触控装置10的性能变差。对于全点可寻址电容感测技术而言，需要将一列(row)的ADC值传送至触控集成电路102，同样也会使性能损失而变差。

因此，需要对上述因为两相邻触控集成电路之其中一者将边界感测线之ADC值传送至另外一者而导致图框率大幅降低的问题提出解决方法。

【发明内容】

本发明之一目的在于提供一电容式触控装置及其感测方法。

本发明之电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元。该触控面板包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线。这些触碰侦测单元至少包括一第一触碰侦测单元以及一第二触碰侦测单元。该第一触碰侦测单元电性耦接至这些第一感测线。该第二触碰侦测单元电性耦接至这些第二感测线。位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置是由该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算，或者该触碰的位置是由该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算。

本发明之电容式触控装置之感测方法包括：该第一触碰侦测单元扫描最后一条第一感测线的前面一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值；该第一触碰侦测单元扫描该最后一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的感测值；该第二触碰侦测单元扫描最前面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的感测值；该第二触碰侦测单元扫描该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值；以及该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算位于该最后一条第一感测线与该最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置，或者，该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算该触碰的位置。

本发明之电容式触控装置以及电容式触控装置之感测方法能避免两相邻触碰侦测单元之间的数据传输所导致图框率大幅降低的问题。

为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：

【附图说明】

图1为现有技术中使用轴交错式电容感测技术之电容式触控装置；

图2绘示图1中感测线S8-S13及两触控集成电路的示意图；

图3为本发明之一电容式触控装置；

图4绘示图3中第一感测线RX_I-3-RX_I、第二感测线RX_I+1-RX_I+4、第一触碰侦测单元及第二触碰侦测单元之一实施例；以及

图5绘示根据本发明实施例之电容式触控装置之感测方法的流程图。

【具体实施方式】

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。

图3为本发明之一电容式触控装置30。该电容式触控装置30包括一触控面板300、若干个触碰侦测单元包括一第一触碰侦测单元302以及一第二触碰侦测单元304、以及至少一驱动单元306。该触控面板300包括若干条第一感测线RX₁-RX_I、若干条第二感测线RX_I+1-RX_M、以及若干条驱动线TX₁-TX_N。第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M以列方向(column direction)排列。驱动线TX₁-TX_N跨过第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M而以行方向(row direction)排列。列方向是垂直于行方向。I、J、M以及N为正整数。第一触碰侦测单元302电性耦接至第一感测线RX₁-RX_I以扫描第一感测线RX₁-RX_I，第二触碰侦测单元304电性耦接至第二感测线RX_I+1-RX_M以扫描第二感测线RX_I+1-RX_M。第一感测线RX_I及第二感测线RX_I+1为边界感测线。驱动单元306电性耦接至驱动线TX₁-TX_N以依序驱动这些驱动线TX₁-TX_N。位于这些第一感测线RX₁-RX_I中最后一条第一感测线(即第一感测线RX_I)与这些第二感测线RX_I+1-RX_M中最前面一条第二感测线(即第二感测线RX_I+1)之间之触碰310的位置(position)是利用外插法(extrapolation method)而根据第一感测线RX₁-RX_I中最后一条第一感测线(即第一感测线RX_I)的前面一条第一感测线RX_I-1的感测值以及最后一条第一感测线RX_I的感测值计算，将于稍后详述。

侦测触碰310之前，需要预先储存一初始数据矩阵(initialdata matrix)，该初始数据矩阵包括未有触碰时，扫描驱动线TX₁-TX_N、第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M得到的感测值。更明确地说，驱动单元306提供一驱动信号给驱动线TX₁，第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304分别扫描第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M以获得未有触碰时的感测值。接着驱动单元306提供驱动信号给驱动线TX₂，第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304分别扫描第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M以获得未有触碰时的感测值。同样地方式，驱动单元306依序驱动线TX₃-TX_N，第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304分别扫描第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M以获得未有触碰时的感测值。在扫描完所有驱动线TX₁-TX_N及所有第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M之后，可获得初始数据矩阵并予以储存。

请参阅图3及图4，图4绘示图3中第一感测线RX_I-3-RX_I、第二感测线RX_I+1-RX_I+4、第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304之一实施例。当图3之触碰310发生时，采用与获得初始数据矩阵相同的步骤，即驱动线TX₁-TX_N依序由驱动单元306驱动，然后第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304感测第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M的感测值。在依序驱动所有驱动线TX₁-TX_N且扫描所有第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M之后，可获得一目前资料矩阵(currentdata matrix)，该目前资料矩阵包括该触碰310发生时，第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304扫描第一感测线RX₁-RX_I及第二感测线RX_I+1-RX_M的感测值。接着，藉由比较该初始资料矩阵(未有触碰时)及该目前资料矩阵(触碰310发生)可获得一包括若干个差异值的资料差异矩阵(data differencematrix)，根据该资料差异矩阵可侦测该触碰310。更明确地说，当该资料差异矩阵中一差异值大于一预定临界值时，可侦测到对应于该大于预定临界值之差异值的触碰。

侦测该触碰310之后，本发明之电容式触控装置30提供外插法以决定该触碰的位置(即坐标)。假设该触碰310位于第一感测线RX_I及第二感测线RX_I+1之间且位于驱动线TX_J及驱动线TX_J+₁之间，该触碰310的位置(POS_RX,POS_TX)可如下所述计算，POS_RX是利用外插法而根据下列方程式(1)计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{({\mathrm{POS}}_{I-1}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})+({\mathrm{POS}}_I\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)})+({\mathrm{POS}}_{I+1}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}---\left(1\right)$

POS_I-1为第一感测线RX_I-1的位置，DIFF_(I-1,J)为对应至第一感测线RX_I-1及驱动线TX_J的差异值，POS_I为第一感测线RX_I的位置，DIFF_(I,J)为对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J的差异值，POS_I+1为第二感测线RX_I+1的位置，DIFF_(I+1,J)为对应至第二感测线RX_I+1及驱动线TXJ的差异值。更明确地说，DIFF_(I-1,J)、DIFF_(I,J)及DIFF_(I+1,J)为触碰310发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，由于任意两相邻感测线的间距P_RX皆相等，方程式(1)可改写为下列方程式(2)：

$\begin{array}{c}\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}=\frac{[({\mathrm{POS}}_I-P_{\mathrm{RX}})\×{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}]+{\mathrm{POS}}_I\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+[({\mathrm{POS}}_I+P_{\mathrm{RX}})\×{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}]}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}\\ =\frac{{\mathrm{POS}}_I\×({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})+P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}\\ ={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}\end{array}---\left(2\right)$

此外，对应至第一感测线RX_I(即第一感测线RX_I-1、第一感测线RX_I、及第二感测线RX_I+1三者位于中间的感测线)及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I,J)可乘以一权重因子(weighting factor)W_RX以调整差异值DIFF_(I,J)的影响，藉此增进POS_RX的精确性，权重因子(weighting factor)W_RX的范围为0至1，因此方程式(2)可改写为下列方程式(3)：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+W_{\mathrm{RX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}---\left(3\right)$

如上所述，POS_RX是利用外插法而以方程式(2)或(3)计算，然而第一触碰侦测单元302并未电性耦接至第二感测线RX_I+1，因此第一触碰侦测单元302无法获得差异值DIFF_(I+1,J)，本发明利用外插法估测差异值DIFF_(I+1,J)，差异值DIFF_(I+1,J)根据下列方程式(4)计算：

DIFF_(I+1,J)＝W_(I+1,J)×[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]    (4)

更明确地说，差异值DIFF_(I+1,J)等于零或[W_(I+1,J)×(DIFF_{(I, J)}-DIFF_(I-1,J))]。由于差异值DIFF_(I,J)一定大于差异值DIFF_(I+1,J)及差异值DIFF_(I-1,J)(亦即差异值DIFF_(I,J)一定是三者中具有最大值者)，所以差异值DIFF_(I+1,J)为零或一正值。从方程式(4)可以了解到DIFF_(I+1,J)是基于差异值DIFF_(I-1,J)及差异值DIFF_(I,J)估测，也就是说，对应至第二感测线RX_I+1及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I+1,J)是基于对应至第一感测线RX_I-1及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I-1,J)与对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I,J)估测。W_(I+1,J)为权重因子(weighting factor)以调整边界感测线(即RX_I与RX_I+1)的精确性且为可选择的，W_(I+1,J)的范围为0至1，一般情况中，W_(I+1,J)为1。

于现有技术中，第一触碰侦测单元302并未电性耦接至第二感测线RX_I+1(参阅图1)，所以第一触碰侦测单元302无法获得差异值DIFF_(I+1,J)，因此第二触碰侦测单元304必须传送差异值DIFF_(I+1,J)(或对应至第二感测线RX_I+1及驱动线TX_J的感测值)给第一触碰侦测单元302，以使第一触碰侦测单元302能计算触碰310的POS_RX。第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304之间的传输及同步会导致触控面板300的图框率大幅降低。于本发明之电容式触控装置30中，虽然第一触碰侦测单元302并未电性耦接至第二感测线RX_I+1，但是差异值DIFF_(I+1,J)可藉由对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I,J)与对应至第一感测线RX_I-1及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I-1,J)估测而得。因此第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304之间不需要传输及同步，可避免触控面板300的图框率大幅降低的问题。

同样地方式，POS_TX可根据下列方程式(5)计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{TX}={\mathrm{POS}}_J+\frac{P_{\mathrm{TX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I,J+1)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I,J-1)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I,J-1)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J+1)})}---\left(5\right)$

POS_J为驱动线TX_J的位置，DIFF_(I,J-1)为对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J-1的差异值，DIFF_(I,J)为对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J的差异值，DIFF_(I,J+1)为对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J+1的差异值，P_TX为任意两相邻驱动线的间距。

此外，对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J(即驱动线TX_J-1、驱动线TX_J、及驱动线TX_J+1三者位于中间的驱动线)的差异值DIFF_(I,J)可乘以一权重因子W_TX以调整差异值DIFF_(I,J)的影响，藉此增进POS_TX的精确性，因此方程式(5)可改写为下列方程式(6)：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{TX}={\mathrm{POS}}_J+\frac{P_{\mathrm{TX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I,J+1)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I,J-1)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I,J-1)}+W_{\mathrm{TX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J+1)})}---\left(6\right)$

要说明的是，上述方程式(4)中的外插法适用于第一触碰侦测单元302。于另一实施例中，外插法也可适用于第二触碰侦测单元304。更明确地说，第二触碰侦测单元304可以基于对应至第二感测线RX_I+1及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I+1,J)与对应至第二感测线RX_I+2及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I+2,J)而估测出对应至第一感测线RX_I及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I,J)。也就是说，该触碰310可由第一触碰侦测单元302或第二触碰侦测单元304侦测而得，第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304的侦测结果可被合并为一个触碰。第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304之任一者的计算结果可作为触碰310的位置(POS_RX,POS_TX)，或者可将第一触碰侦测单元302及第二触碰侦测单元304两者的计算结果予以平均作为触碰310的位置(POS_RX,POS_TX)。

请参阅图5，图5绘示根据本发明实施例之电容式触控装置之感测方法的流程图。

该电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元。该触控面板包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线。这些触碰侦测单元至少包括电性耦接至这些第一感测线之一第一触碰侦测单元以及电性耦接至这些第二感测线之一第二触碰侦测单元。本发明之电容式触控装置之感测方法包括下列步骤。

步骤S500，第一触碰侦测单元扫描最后一条第一感测线的前面一条第一感测线，以获得最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值。

步骤S510，第一触碰侦测单元扫描最后一条第一感测线，以获得最后一条第一感测线的感测值。

步骤S520，第二触碰侦测单元扫描最前面一条第二感测线，以获得最前面一条第二感测线的感测值。

步骤S530，第二触碰侦测单元扫描最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线，以获得最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值。

步骤S540，第一触碰侦测单元根据最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与最后一条第一感测线的感测值计算位于该最后一条第一感测线与该最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置，或者，第二触碰侦测单元根据最前面一条第二感测线感测值与最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算该触碰的位置。

该触碰的位置POS_RX是根据下列方程式(7)计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})}---\left(7\right)$

POS_I为最后一条第一感测线RX_I的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I+1,J)为该最前面一条第二感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值。P_RX为两相邻第一感测线的间距。对应至最后一条第一感测线(即最后一条第一感测线的前面一条第一感测线、最后一条第一感测线、及最前面一条第二感测线三者位于中间的感测线)及驱动线TX_J的差异值DIFF_(I,J)可乘以一权重因子(weighting factor)W_RX以调整差异值DIFF_(I,J)的影响，藉此增进POS_RX的精确性(如方程式(3)所示)。

差异值DIFF_(I+1,J)是可根据下列方程式(8)而得：

DIFF_(I+1,J)＝[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]    (8)

差异值DIFF_(I+1,J)是等于零或[(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]。此外，可如方程式(4)所示利用权重因子W_(I+1,J)调整边界感测线(即RX_I与RX_I+1)的精确性，W_(I+1,J)的范围为0至1，一般情况中，W_{(I+1, J)}为1。

本发明之电容式触控装置以及电容式触控装置之感测方法能避免两相邻触碰侦测单元之间的数据传输所导致图框率大幅降低的问题。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种电容式触控装置，其特征在于，包括：

一触控面板，包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线；以及

若干个触碰侦测单元，至少包括一第一触碰侦测单元以及一第二触碰侦测单元，该第一触碰侦测单元电性耦接至这些第一感测线，该第二触碰侦测单元电性耦接至这些第二感测线，

其中位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置是由该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算，

或者该触碰的位置是由该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算。

2.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，进一步包括若干条驱动线排列以跨过这些第一感测线及这些第二感测线。

3.根据权利要求2所述的电容式触控装置，其特征在于，进一步包括一驱动单元电性耦接至这些驱动线以依序驱动这些驱动线。

4.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]。

5.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝W_(I+1,J)×[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]

W_(I+1,J)为一权重因子。

6.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+W_{\mathrm{RX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，W_RX为一权重因子，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]。

7.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+W_{\mathrm{RX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝W_(I+1,J)×[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]

W_RX及W_(I+1,J)为权重因子。

8.一种電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元，该触控面板包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线，这些触碰侦测单元至少包括电性耦接至这些第一感测线之一第一触碰侦测单元以及电性耦接至这些第二感测线之一第二触碰侦测单元，该感测方法包括：

该第一触碰侦测单元扫描最后一条第一感测线的前面一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值；

该第一触碰侦测单元扫描该最后一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的感测值；

该第二触碰侦测单元扫描最前面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的感测值；

该第二触碰侦测单元扫描该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值；以及

该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算位于该最后一条第一感测线与该最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置，

或者，该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算该触碰的位置。

9.根据权利要求8所述的電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该第一触碰侦测单元是根据下列方程式计算该触碰的位置POS_RX：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]。

10.根据权利要求8所述的電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该第一触碰侦测单元是根据下列方程式计算该触碰的位置POS_RX：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝W_(I+1,J)×[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]

W_(I+1,J)为一权重因子。

11.根据权利要求8所述的電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+W_{\mathrm{RX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，W_RX为一权重因子，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]。

12.根据权利要求8所述的電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式计算：

$\mathrm{POS}\_\mathrm{RX}={\mathrm{POS}}_I+\frac{P_{\mathrm{RX}}\×({\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)}-{\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)})}{({\mathrm{DIFF}}_{(I-1,J)}+W_{\mathrm{RX}}\×{\mathrm{DIFF}}_{(I,J)}+{\mathrm{DIFF}}_{(I+1,J)})},$

POS_I为该最后一条第一感测线的位置，DIFF_(I-1,J)为该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF_(I,J)为该最后一条第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两者的差异值，P_RX为两相邻第一感测线的间距，

DIFF_(I+1,J)是根据下列方程式计算：

DIFF_(I+1,J)＝W_(I+1,J)×[0,(DIFF_(I,J)-DIFF_(I-1,J))]

W_RX及W_(I+1,J)为权重因子。