CH696336A5 - Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrats. - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 79
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 49
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims description 29
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 25
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims description 24
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 48
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 48
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 43
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 43
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 22
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims description 20
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 19
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 19
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 claims description 14
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 14
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N Acetylene Chemical compound C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 9
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 6
- CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N tetramethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)C CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 3
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 claims description 2
- NEXSMEBSBIABKL-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilane Chemical compound C[Si](C)(C)[Si](C)(C)C NEXSMEBSBIABKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 99
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 21
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 18
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 229910001256 stainless steel alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N Nitric oxide Chemical compound O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- -1 polysiloxane Polymers 0.000 description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 229910000851 Alloy steel Inorganic materials 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- VVTSZOCINPYFDP-UHFFFAOYSA-N [O].[Ar] Chemical compound [O].[Ar] VVTSZOCINPYFDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 2
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002730 additional effect Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000004939 coking Methods 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 229920006037 cross link polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000002114 nanocomposite Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C16/0227—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching
- C23C16/0236—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching by etching with a reactive gas
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C16/0227—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching
- C23C16/0245—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching by etching with a plasma
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C16/0272—Deposition of sub-layers, e.g. to promote the adhesion of the main coating
- C23C16/029—Graded interfaces
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Description
Stand der Technik [0001] Die Erfindung geht von einem Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrats gemäss der im Oberbegriff des Patentanspruches 1 näher definierten Art aus. [0002] Beschichtungen von metallischen Substraten in Form von Kohlenstoff enthaltenden Überzügen sind in der Technik weit verbreitet und weisen Eigenschaften wie eine sehr hohe Härte, eine hohe Verschleissbeständigkeit, chemische Inertheit, Biokompatibilität, einen niedrigen Reibungskoeffizienten, eine optische Transparenz im Infrarot-Bereich und/oder Ähnliches auf. [0003] Derartige Beschichtungen sind unter anderem als amorphe Kohlenstoffschichten, als diamantartige Schichten bzw. DLC(diamond like carbon)-Schichten, oder als amorphe DLC-Schichten bekannt und können beispielsweise als Verschleissschutz von Datenträgern, reibmindernder Überzug von Lagerelementen, Hartstoffschicht auf Werkzeugen, Verschleissschutzschicht von Bauteilen im Automobilbereich, inerter Überzug von medizinischen Implantaten oder als optische Schicht auf Linsen, Fenstern und Spiegeln eingesetzt werden. [0004] Ein Verfahren der einleitend genannten Art ist aus der DE 3 047 888 C2 bekannt und dient zur Herstellung eines Kohlenstoff enthaltenden Überzuges von Werkstücken, beispielsweise von Schneiden von Rasierklingen oder Sägen. Bei diesem Verfahren wird die Oberfläche des Werkstücks in einem Rezipienten mit einem Edelgas, beispielsweise mit Argon, angeätzt. Anschliessend wird zunächst eine Zwischenschicht und dann eine Kohlenstoffschicht auf die Oberfläche aufgebracht. Die Kohlenstoffschicht, die eine Dicke zwischen 10 nm und 10 Microm aufweist, wird dadurch hergestellt, dass Acethylen oder Äthylen in den Rezipienten eingeleitet und mit Hilfe eines Plasmas an der Oberfläche des Werkstücks abgeschieden wird. Die Zwischenschicht stellt eine Haftschicht dar, die nach einem Kathodenzerstäubungs-Verfahren, d.h. einem sogenannten PVD-Verfahren (physical vapour deposition) abgeschieden wird. [0005] Nachteilig sind bei diesem Verfahren die geringe Abscheidegeschwindigkeit der Haftschicht, die hohen Verbrauchskosten durch die Verwendung sogenannter Targets, aus welchen die Haftschicht bei dem sogenannten Sputtern hergestellt wird, hohe Investitionskosten für die Sputterkathoden und die erforderlichen Netzteile sowie die aufwendige Wartung der Sputterkathoden, welche aus einem Targetwechsel besteht. [0006] Es wurde auch vorgeschlagen, die Haftschicht als siliziumhaltige Haftschicht auszubilden, die durch ein sogenanntes CVD(chemical vapour deposition)-Verfahren erzeugt wird. Bei diesem Verfahren wird die Haftschicht direkt aus einem gasförmigen Precurser gebildet, der nach einem plasmagestützten Verfahren auf der Bauteiloberfläche abgeschieden wird. [0007] Aus der DE 3 316 693 C2 ist ein Verfahren zum Herstellen amorpher Kohlenstoffschichten auf Substraten bekannt, bei dem ohne Substratvorbehandlung in einem Plasma ein Glassubstrat so beschichtet wird, dass zunächst ein siliziumhaltiges Gas in einen Rezipienten eingeleitet wird und dieses anschliessend mittels Plasmaunterstützung umgesetzt und zur Herstellung eines haftungsvermittelnden Überzugs auf der Oberfläche des Substrats abgeschieden wird. Zur Steigerung der Härte des haftungsvermittelnden Überzugs, der sogenannten Haftschicht, werden dem siliziumhaltigen Gas 10 Vol.-% bis 50 Vol.-% eines sauerstoffhaltigen Gases oder auch reiner Sauerstoff zugegeben. Durch Drosselung der Zufuhr des siliziumhaltigen Gases und Zugabe gasförmiger Kohlenwasserstoffverbindungen wird auf der Haftschicht in einem nächsten Verfahrensschritt eine amorphe Kohlenstoffschicht abgeschieden. [0008] Aus der US 5 190 807 ist ein verschleissfestes, polymerartiges Produkt bekannt, bei dem als haftungsvermittelnde Schicht eine polymerartige Polysiloxan-Zwischenschicht direkt auf ein Substrat aufgebracht ist, das beispielsweise aus Polycarbonat oder Polyacryl besteht. Auf die Polysiloxan-Zwischenschicht sind weitere Zwischenschichten, beispielsweise aus Siliziumdioxid, aufgebracht, auf welche wiederum eine diamantartige Kohlenstoffschicht als Verschleissschutz aufgebracht ist. Zur Erhöhung der Haftung der Schichten auf dem Polymersubstrat wird das Substrat vor der Beschichtung einem Plasmaätz-Verfahren mit einem Ionenstrahl eines Inertgases unterzogen, dem Wasserstoff- oder Sauerstoffionen zugegeben sein können. Diese Vorbehandlung dient insbesondere zur Entfernung von Kohlenwasserstoffen und Verunreinigungen durch Alkalimetalle und andere Additive, die sich an der Oberfläche des polymerartigen Substrats angelagert haben. [0009] Aus der EP 0 600 533 B1 ist ein Verfahren zur Beschichtung eines Substrats aus Stahl, Eisen oder einer Eisenlegierung mit diamantartigem Kohlenstoff bekannt. Bei diesem Verfahren wird das Substrat nach einem Plasmaätz-Verfahren vorbehandelt, bei dem das Substrat in einem Plasma aus Argon und Wasserstoff geätzt wird. Anschliessend wird eine dünne Siliziumzwischenschicht dadurch aufgebracht, dass das Substrat gasförmigem Silan ausgesetzt wird. Im Anschluss daran wird schrittweise Methan zugeführt, so dass sich diamantartiger Kohlenstoff auf der Siliziumzwischenschicht abscheidet. [0010] Nachteilig ist bei diesem bekannten Verfahren der Einsatz des Gases Silan, das nur unter hohen Sicherheitsvorkehrungen verwendet werden kann. [0011] Aus der US 5 653 812 ist ein Verfahren zur Beschichtung länglicher, metallischer Bauteile, wie Bohrer und Rohre, bekannt. Bei diesem Verfahren werden die Bauteile einem Plasmaätz-Verfahren unterzogen, das mit einem Inertgas, wie Argon, durchgeführt wird, so dass die Oberfläche der Bauteile von Kohlenwasserstoff-Rückständen und Oxiden gereinigt und aktiviert wird. In einem nachfolgenden Schritt wird eine haftungsvermittelnde Schicht unter Verwendung eines siliziumorganischen Monomers aufgebracht. Im Anschluss daran wird auf der haftungsvermittelnden Schicht ein kohlenstoffhaltiger Überzug abgeschieden. [0012] Ein Verfahren zur Verbesserung der Schichthaftung von harten, kohlenstoffhaltigen Überzügen auf Stahlsubstraten ist aus der EP 0 856 592 A1 bekannt. Bei diesem Verfahren wird zur Verbesserung der Haftung der unter starken Druckeigenspannungen stehenden, kohlenstoffhaltigen Schicht eine erste Haftschicht aufgebracht, die aus einem Nanokomposit mit einander durchdringenden Netzwerken aus amorphen Kohlenwasserstoffen und amorphem Siliziumoxid besteht. Das metallische Substrat wird zuvor einem Plasmaätz-Verfahren unterzogen, bei dem es mit Ionen eines Inertgases, wie Argon, beschossen wird. [0013] Nachteilig ist bei diesem Verfahren die Notwendigkeit, dass es für eine gute Schichthaftung erforderlich ist, zahlreiche, mehrlagige Schichtsysteme aufzubringen. Bei einer festgelegten Gesamtschichtdicke ist dadurch die verfügbare Dicke der funktionsrelevanten, eine DLC-Schicht darstellenden Schicht eingeschränkt. [0014] Aus der US 5 771 873 ist ein Verfahren zum Aufbringen eines kohlenstoffhaltigen, als Verkokungsschutz dienenden Überzuges auf Bauteile bekannt, die in einem Motorbrennraum angeordnet werden. Das Verfahren umfasst eine chemische Reinigung, die von einem Plasmaätz-Verfahren in einer Argon-Atmosphäre einer Vakuumkammer gefolgt ist. Daraufhin wird eine siliziumhaltige Kohlenwasserstoffschicht einer Dicke von 0,5 Microm aufgebracht. Anschliessend wird eine kohlenstoffhaltige Schicht von etwa 2 Microm aufgebracht, die ebenfalls Silizium enthält, um die Antiverkokungswirkung zu gewährleisten. Der Siliziumgehalt reduziert jedoch die Schichthärte. Auch wird das Verschleissverhalten des Schichtsystems nachteilig beeinflusst. [0015] Bei all den vorgenannten Verfahren zur Herstellung von Haftschichtsystemen, bei denen eine Zwischenschicht ausgebildet wird, kann bisher keine zu metallhaltigen Haftschichten gleichwertige Schichthaftung erzeugt werden. Insbesondere unter Berücksichtigung des sehr empfindlichen Rockwell-Haftungstest-Verfahrens ist kein Schichtsystem bekannt, das eine vergleichbare Haftung unter grossserientauglichen, reproduzierbaren Bedingungen gewährleistet, ohne dass andere Nachteile, wie grosse Haftschichtdicken, aufwendige Mehrlagensysteme oder reduzierte Schichthärten des kohlenstoffhaltigen Überzugs in Kauf genommen werden müssten. Vorteile der Erfindung [0016] Das erfindungsgemässe Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrats mit den Merkmalen nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1, bei welchem Verfahren dem Inertgas ein sauerstoffhaltiges Gas zugegeben wird, hat den Vorteil, dass sich durch die Zumischung des sauerstoffhaltigen Gases zu dem Inertgas bei der Vorreinigung des Substrats nach dem Plasmaätz-Verfahren die Schichthaftung der anschliessend nach dem CVD-Verfahren aufgebrachten Schicht bzw. Schichten erheblich verbessert und bei nicht-metallischen Haftschichten dadurch eine Haftung erreicht werden kann, die mit derjenigen von metallischen Haftschichten, die z.B. aus Chrom bestehen, vergleichbar ist. Dies ist insbesondere mit Hilfe eines Rockwell-Haftungstests nachweisbar. [0017] Durch Einsatz des Verfahrens nach der Erfindung kann eine Haftung von kohlenstoffhaltigen Überzügen auf metallischen Substraten erreicht werden, die den hohen Anforderungen genügt, die bei der Bauteilbeschichtung zum Verschleissschutz von Werkzeugen und Komponenten verlangt werden. Insbesondere bei hohen Anforderungen an die Schichthaftung eines kohlenstoffhaltigen Überzugs wird des Weiteren der Einsatz von siliziumhaltigen Haftschichtsystemen ermöglicht. [0018] Dadurch, dass bei dem Aufbringen der Beschichtung ausschliesslich plasmaunterstützte CVD-Verfahren eingesetzt werden und auf PVD-Mechanismen verzichtet wird, ist die Komplexität des Prozesses bzw. der Anlage vorteilhafterweise gering. [0019] Bei dem sauerstoffhaltigen Gas, das dem Inertgas zugegeben wird, kann es sich um reinen Sauerstoff O2 oder auch ein Gas wie Ozon O3, Stickstoffoxid N2O oder Wasser H2O handeln, das Sauerstoff umfasst. [0020] Bei einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung wird auf der Oberfläche eines metallischen Substrats, das beispielsweise aus einer Edelstahllegierung besteht, nach dem Plasmaätz-Prozess mit Argon und Sauerstoff ein Schichtsystem aufgebracht, das aus in die Substratoberfläche implantierten Siliziumatomen, einer Haftschicht, die durch Abscheidung siliziumhaltiger Monomere erzeugt wird, einer Übergangsschicht mit abnehmendem Siliziumgehalt und zunehmendem Kohlenstoffgehalt sowie einer sogenannten DLC-Schicht besteht, welche die Deckschicht des Beschichtungssystems bildet. Die DLC-Schicht stellt eine röntgenamorphe Schicht mit sp<3>-hybridisierten Kohlenstoffatomen dar. In der DLC-Schicht liegt mithin eine sogenannte Diamant-Nahordnung vor. [0021] Das Verfahren nach der Erfindung eignet sich insbesondere dazu, ein metallisches Substrat mit einer sogenannten DLC-Schicht unter Verwendung einer siliziumhaltigen Haftschicht zu versehen. Bei einem derartigen System kann die Haftfestigkeit im Vergleich zu einem System, das ohne den Einsatz von Sauerstoff in einem Plasma geätzt wurde, von einer Haftfestigkeit zwischen 3,5 und 5 auf eine Haftfestigkeit zwischen 2,0 und 3 verringert werden. [0022] Das Verfahren nach der Erfindung kann derart durchgeführt werden, dass das Substrat, gegebenenfalls nach einer nasschemischen Reinigung von Ölrückständen oder Ähnlichem, auf einer vakuumtauglichen Halterung in eine Vakuumkammer eingebracht wird, die dann auf einen Restgasdruck von weniger als 10<-1> mbar evakuiert wird. [0023] Anschliessend wird das Substrat in einem Plasma geätzt. Das Plasma kann dabei mittels Gleichspannungsentladung, dem sogenannten DC-Verfahren, mittels Frequenzanregung der Bauteile, dem sogenannten Mittelfrequenz-Verfahren, mittels Radiofrequenzanregung der Bauteile, dem sogenannten RF-Verfahren, oder durch Einkopplung von Mikrowellen und Generierung eines Mikrowellenplasmas, dem sogenannten MW-Verfahren, erzeugt werden. [0024] Bei diesem sogenannten Plasmaätz- bzw. Reinigungsprozess ist an dem Substrat eine negative Spannung, die sogenannte Biasspannung, angelegt, um positiv geladene Ionen auf die Oberfläche des Substrats beschleunigen zu können. Beim Aufprall der geladenen Ionen werden durch den Sputtereffekt Verunreinigungen von der Oberfläche entfernt. Die gewählte Biasspannung, die zwischen -50 V und mehr als -1000 V liegen kann, ist abhängig von dem gewählten Plasmaverfahren. Der Druck bei dem Plasmaätz-Verfahren wird so gewählt, dass die Plasmaentladung stabil und damit abhängig von dem gewählten Plasmaverfahren ist. Ein Druck zwischen 10<-4> mbar und 10 mbar hat sich als geeignet erwiesen. [0025] Als Inertgas werden bei dem Plasmaätz-Prozess bevorzugt Edelgase, beispielsweise Argon, Helium und Neon, einzeln oder auch als Gemisch eingesetzt. Aus Kostengründen und aufgrund der hohen Atommasse wird vorzugsweise jedoch Argon eingesetzt. Dem Inertgas kann zusätzlich Wasserstoff zugemischt sein, um die Bildung von Oxiden an der metallischen Substratoberfläche zu unterdrücken. [0026] Das sauerstoffhaltige Gas, das erfindungsgemäss während des Plasmaätz-Vorgangs dem Inertgas zugegeben wird, kann einen Anteil zwischen 1% und 80%, vorzugsweise einen Anteil von 10% bis 50%, aufweisen. Die Zugabe des sauerstoffhaltigen Gases kann während der gesamten Dauer des Plasmaätz-Prozesses oder auch nur zeitweise erfolgen. [0027] Ein besonders positiver Effekt kann erzielt werden, wenn das Plasmaätz-Verfahren zunächst mit reinem Argon und anschliessend mit einem Argon-Sauerstoff-Gemisch durchgeführt wird, und zwar typischerweise für eine Dauer zwischen 1 min und 60 min, bevorzugt für eine Dauer zwischen 5 min und 20 min. [0028] Im Anschluss an den Plasmaätz-Prozess wird das Substrat nach einem plasmaunterstützten CVD-Verfahren beschichtet. Dieses kann in einem oder mehreren Teilschritten durchgeführt werden. [0029] Beispielsweise wird zunächst zur Herstellung einer haftungsvermittelnden, siliziumhaltigen Schicht ein siliziumhaltiges Gas in die Vakuumkammer eingeleitet. Das Einlassen des siliziumhaltigen Gases erfolgt dabei vorzugsweise ohne Abschalten des bei dem vorangegangenen Prozessschritt, d.h. dem Plasmaätzen, brennenden Plasmas, um einen möglichst störungsfreien und gut haftenden Übergang zu erhalten. Bevorzugt wird bei diesem Verfahrensschritt an der Oberfläche des Substrats eine hohe negative Spannung erzeugt, die beispielsweise zwischen -100 V und -600 V liegen kann, so dass Siliziumatome in das Metallgitter des Substrates implantiert werden und eine gute Verzahnung der siliziumhaltigen Haftschicht mit dem Substrat erreicht wird. Das siliziumhaltige Gas wird unter einem Druck zwischen 10<-4> mbar und 1 mbar in die Vakuumkammer eingeleitet. [0030] Als siliziumhaltiges Gas können prinzipiell alle siliziumhaltigen Monomere eingesetzt werden. Bevorzugt werden jedoch die Monomere Silan (SiH4), Tetramethylsilan TMS (SiC4H12), Tetraethoxysilan TEOS (SiO4C8H20), Hexamethyldisi-loxan HMDSO (Si2OC6H18) oder Hexamethyldisilan HMDS (Si2C6H18) eingesetzt, wobei sich insbesondere die Monomere Tetramethylsilan, Tetraethoxysilan und Hexamethyldisiloxan eignen, da diese kostengünstig zu beziehen sind und für das Verfahren einen ausreichend hohen Dampfdruck aufweisen. [0031] Nach einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung wird anschliessend dem siliziumhaltigen Gas ein kohlenwasserstoffhaltiges Gas zugegeben, um einen gut haftenden Übergang von der entstandenen siliziumhaltigen Haftschicht auf eine harte, diamantartige Kohlenstoffschicht zu erzielen, die in einem nachfolgenden, weiter unten beschriebenen Verfahrensschritt aufgebracht wird. [0032] Als kohlenwasserstoffhaltiges Gas können Methan (CH4), Ethan (C2H6), Ethen (C2H4), Ethin (C2H2), Zyklohexan (C6H12), Benzol (C6H6) und/oder auch andere Kohlenwasserstoffe eingesetzt werden. [0033] Im Anschluss daran kann die Zugabe des siliziumhaltigen Gases gestoppt und die Beschichtung mit reinem Kohlenwasserstoff fortgeführt werden, so dass eine sogenannte DLC-Schicht erzeugt wird. Bevorzugt wird die Zugabe des siliziumhaltigen Gases hierbei kontinuierlich reduziert. [0034] Eine kohlenwasserstoffhaltige Schicht hoher Härte kann insbesondere abgeschieden werden, wenn als kohlenwasserstoffhaltiges Gas Ethin eingesetzt wird. [0035] Ferner können Kohlenwasserstoffe eingesetzt werden, die neben Kohlenstoff und Wasserstoff Heteroatome, wie beispielsweise Stickstoff, Sauerstoff, Silizium oder Fluor, enthalten. Die Heteroatome verleihen der entstehenden diamantartigen Kohlenstoffschicht bzw. DLC-Schicht besondere Eigenschaften, wie beispielsweise eine erhöhte Temperaturstabilität, einen erhöhten Abrasivverschleiss eines Gegenkörpers, einen niedrigen Reibungskoeffizienten, eine Veränderung des Benetzungsverhaltens, eine Verbesserung des Klebeverhaltens oder auch eine Verbesserung der optischen Transparenz. [0036] Alternativ oder zusätzlich können die Heteroatome bildenden Elemente auch über beigemengte, zusätzliche Gase zugegeben werden. [0037] Es ist auch möglich, die genannten, zusätzlichen Eigenschaften der diamantartigen Kohlenstoffschicht dadurch zu erzielen, dass nach einer plasmaunterstützten Abscheidung eines reinen kohlenwasserstoffhaltigen Überzugs eine oder mehrere zusätzliche Schichten aufgebracht werden, und zwar unter Zumischung zusätzlicher Gase oder durch Verwendung von Kohlenwasserstoffen, die neben Kohlenstoff und Wasserstoff Heteroatome, wie die oben genannten Elemente, enthalten. [0038] Je nach Anwendungsfall kann das auf die mit einem Inertgas und einem sauerstoffhaltigen Gas plasmageätzte Substratoberfläche ein Schichtsystem aufgebracht werden, das aus einer oder auch aus mehreren Schichten besteht. Beispielsweise ist es denkbar, dass auf die mittels eines siliziumhaltigen Gases abgeschiedenen Schichten verzichtet wird und eine DLC-Schicht direkt auf dem Substrat abgeschieden wird. In diesem Falle entfiele also die Haftschicht. [0039] Mit dem Verfahren nach der Erfindung können grundsätzlich alle metallischen Bauteile beschichtet werden. Besonders eignet es sich jedoch für Bauteile aus Stahl, Eisen oder auch aus Edelstahllegierungen, die in der Praxis ein breites Anwendungsfeld haben. [0040] Insbesondere als vorteilhaft hat sich das Verfahren nach der Erfindung gezeigt, wenn Düsennadeln für Common-Rail-Injektoren, Laufrollen von Common-Rail-Injektorsystemen und andere Bauteile von Dieseleinspritzpumpen beschichtet werden. [0041] Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen des Gegenstandes nach der Erfindung sind der Beschreibung, der Zeichnung und den Patentansprüchen entnehmbar. Zeichnung [0042] Ein Ausführungsbeispiel des Gegenstandes nach der Erfindung ist in der Zeichnung schematisch vereinfacht dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigen <tb>Fig. 1<sep>ein Schichtsystem, das nach dem Verfahren nach der Erfindung hergestellt ist; und <tb>Fig. 2<sep>ein Diagramm, das die Haftfestigkeit von Proben darstellt, die unterschiedlichen Ätzverfahren unterzogen wurden. Beschreibung des Ausführungsbeispiels [0043] In Fig. 1 ist ein Schichtsystem dargestellt, das nach dem erfindungsgemässen Verfahren hergestellt ist. Dieses Schichtsystem umfasst vier Schichten, die auf einem Substrat aus einer Edelstahllegierung aufgebracht sind, und bildet eine Beschichtung einer hier nicht näher dargestellten Düsennadel eines Common-Rail-Injektors. [0044] Das in Fig. 1 dargestellte Schichtsystem umfasst eine Schicht 10 aus Siliziumatomen, die in eine Oberfläche des aus der Edelstahllegierung bestehenden Substrats implantiert sind, eine haftungsvermittelnde Schicht 20 mit einer Dicke zwischen 20 nm und 100 nm, die aus einer amorphen Siliziumschicht mit Kohlenstoff- und Wasserstoffanteilen besteht, wobei der Siliziumanteil in der Schicht 20 zwischen 20% und 70% beträgt. [0045] Des Weiteren umfasst das Schichtsystem eine Schicht 30 mit einer Dicke zwischen 100 nm und 200 nm, die auf der Schicht 20 angeordnet ist und als Übergangsschicht ausgebildet ist, die aus amorphem Silizium mit Kohlenstoff- und Wasserstoffanteilen sowie Anteilen von diamantartigem Kohlenstoff besteht. In der Schicht 30 nimmt der Anteil an diamantartigem Kohlenstoff in der der Schicht 20 abgewandten Richtung zu. Der Anteil an Silizium in der Schicht 30 beträgt zwischen 15% und 50%. Die amorphen Siliziumschichten 20 und 30 mit Kohlenstoff- und Wasserstoffanteilen stellen chemisch vernetzte Polymere dar. [0046] Das in Fig. 1 dargestellte Schichtsystem umfasst als oberste Schicht eine Schicht 40 mit einer Dicke von 1 Microm bis 3 Microm, die als sogenannte DLC-Schicht ausgebildet ist und die eigentliche Funktionsschicht des Schichtsystems darstellt. Die DLC-Schicht 40 stellt eine kohlenwasserstoffhaltige Schicht dar, die gegebenenfalls Siliziumanteile aufweisen kann. Es ist auch denkbar, die DLC-Schicht frei von Wasserstoff herzustellen. Die Dicke der DLC-Schicht 40 bzw. diejenige der Schichten 20 und 30 ist steuerbar. [0047] Das in Fig. 1 dargestellte Schichtsystem ist in nachfolgend beschriebener Weise hergestellt. [0048] In einem ersten Verfahrensschritt wird das zu beschichtende Bauteil, d.h. das aus einer Stahllegierung bestehende Substrat, nasschemisch gereinigt. [0049] Anschliessend wird das Substrat auf eine vakuumtaugliche Halterung montiert und zusammen mit dieser in eine Vakuumkammer eingebracht. [0050] Daraufhin wird die Vakuumkammer auf einen Restgasdruck von etwa 10<-4> mbar evakuiert. [0051] In einem nachfolgenden Verfahrensschritt wird das Substrat an der Oberfläche in einem Plasma geätzt. Das Plasma wird mittels Gleichspannungsentladung erzeugt. Dabei wird eine Biasspannung von hier -1000 V an dem Substrat angelegt, so dass positiv geladene Ionen auf die Oberfläche des Substrats beschleunigt werden und eine sogenannte Plasmareinigung erfolgt. Der Druck bei der Plasmareinigung ist so gewählt, dass die Plasmaentladung stabil ist. Im vorliegenden Fall beträgt der Druck etwa 10<-2> mbar. Als Inertgas, das ionisiert und auf die Oberfläche des Substrats beschleunigt wird, wird im vorliegenden Fall Argon eingesetzt. Zur Unterdrückung der Bildung von Oxiden an der Oberfläche des Substrats ist dem Argon Wasserstoff zugemischt. Des Weiteren ist dem Inertgas als sauerstoffhaltiges Gas Sauerstoff zugemischt. Die Konzentration des Sauerstoffs in dem Gasgemisch beträgt etwa 40%. [0052] Der Plasmaätz-Prozess wird so gesteuert, dass der Vakuumkammer zunächst reines Argon und dann das Argon-Sauerstoff-Gemisch zugeführt. Das Plasmaätzen erfolgt hier für eine Zeitdauer von 15 Minuten. [0053] In einem nachfolgenden Verfahrensschritt wird ein siliziumhaltiges Gas, nämlich Tetramethylsilan, TMS, in die Vakuumkammer eingeleitet. Bei diesem Verfahrensschritt wird eine hohe negative Spannung von einigen hundert Volt an der Oberfläche des Substrats erzeugt, so dass Siliziumatome in das Metallgitter des Substrats implantiert werden, wodurch eine gute Verzahnung der bei diesem Verfahrensschritt hergestellten siliziumhaltigen, haftungsvermittelnden Schicht mit dem Substrat erreicht wird. Es werden mithin die Schichten 10 und 20 des in Fig. 1 dargestellten Schichtsystems ausgebildet. [0054] In einem nachfolgenden Verfahrensschritt wird dem siliziumhaltigen Gas zusätzlich ein kohlenwasserstoffhaltiges Gas, nämlich Ethin zugegeben, so dass sich die Schicht 30 des in Fig. 1 dargestellten Schichtsystems ausbildet. [0055] In einem nächsten Verfahrensschritt wird die Zugabe des siliziumhaltigen Gases kontinuierlich auf null zurückgefahren, so dass nur noch das kohlenwasserstoffhaltige Gas in die Vakuumkammer eingeleitet wird und sich die DLC-Schicht 40 des Schichtsystems ausbildet. [0056] In Fig. 2 ist die Verbesserung der Haftung einer DLC-Schicht bei Einsatz des Verfahrens nach der Erfindung gegenüber der Haftung von Schichtsystemen dargestellt, die nach einem herkömmlichen Verfahren hergestellt sind. [0057] Die angegebenen Haftwerke HF entsprechen denen bei der Prüfung nach der deutschen VDI-Richtlinie 3198, wobei das in Fig. 2 gezeigte Schaubild auch allgemein die qualitativen Unterschiede verdeutlicht. Bei einer glatten Oberfläche eines metallischen Substrats hat die Haftfestigkeit einer DLC-Schicht mit einer haftungsvermittelnden, siliziumhaltigen Schicht bei einem Plasmaätzen mit reinem Argon bei der aufgetragenen Skala einen Wert von etwa 3,5, bei einem Plasmaätzen mit einem Argon/H2-Gemisch einen Wert von 4, bei einem Plasmaätzen mit einem Ar/O2/H2-Gemisch einen Wert von 2,8 und bei einem Plasamätzen mit einem Ar/O2-Gemisch einen Wert von etwa 2,2. [0058] Bei einer rauen Oberfläche eines metallischen Substrats erreicht die Haftfestigkeit einer DLC-Schicht mit einer haftungsvermittelnden, siliziumhaltigen Schicht bei einem Plasmätzen mit reinem Argon einen Wert von 5, bei einem Plasmaätzen mit einem Ar/H2-Gemisch einen Wert von 5,5, bei einem Plasmaätzen mit einem Ar/O2/H2-Gemisch einen Wert von 3 und bei einem Plasmaätzen mit einem Ar/O2-Gemisch ebenfalls einen Wert von 3.
Claims (14)
1. Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrats in einem Rezipienten, bei welchem Verfahren das Substrat mittels eines Inertgases in einem Plasma an der Oberfläche geätzt und dann nach einem plasmaunterstützten CVD-Verfahren beschichtet wird, dadurch gekennzeichnet, dass dem Inertgas zumindest zeitweise ein sauerstoffhaltiges Gas zugegeben wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das sauerstoffhaltige Gas einen Anteil von 1% bis 80%, vorzugsweise von 10% bis 50%, hat.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Ätzvorgang in dem Plasma für eine Dauer zwischen 1 min und 60 min, vorzugsweise zwischen 5 min und 20 min, durchgeführt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Ätzvorgang unter einem Druck zwischen 10<-4> mbar und 10 mbar durchgeführt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass bei dem CVD-Verfahren ein siliziumhaltiges Gas in die Vakuumkammer eingeleitet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das siliziumhaltige Gas aus einem siliziumhaltigen Monomer, insbesondere aus Silan, Tetramethylsilan, Tetraethoxysilan, Hexamethyldisiloxan und/oder Hexamethyldisilan, gebildet ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass bei dem CVD-Verfahren ein kohlenwasserstoffhaltiges Gas, welches insbesondere aus Methan, Ethan, Ethen, Ethin, Zyklohexan und/oder Benzol gebildet ist, in die Vakuumkammer eingeleitet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das kohlenwasserstoffhaltige Gas zusätzlich dem siliziumhaltigen Gas zugegeben wird.
9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei dem CVD-Verfahren zunächst das siliziumhaltige Gas und dann zusätzlich das kohlenwasserstoffhaltige Gas in die Vakuumkammer eingeleitet wird und dann die Zufuhr des siliziumhaltigen Gases gestoppt wird, wobei die Zufuhr des siliziumhaltigen Gases vorzugsweise kontinuierlich reduziert wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Kohlenwasserstoffe des kohlenwasserstoffhaltigen Gases Heteroatome, wie Stickstoff, Sauerstoff, Silizium und/oder Fluor, umfassen.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass dem kohlenwasserstoffhaltigen Gas ein Gas zugegeben wird, das Stickstoff, Sauerstoff, Silizium und/oder Fluor umfasst.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass das CVD-Verfahren unter einem Druck zwischen 10<-4> mbar und 1 mbar durchgeführt wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass bei dem CVD-Verfahren eine diamantartige Kohlenstoffschicht ausgebildet wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass bei dem CVD-Verfahren ein Mehrschichtsystem ausgebildet wird.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2002113661 DE10213661A1 (de) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrates |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH696336A5 true CH696336A5 (de) | 2007-04-30 |
Family
ID=27815978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH4002003A CH696336A5 (de) | 2002-03-27 | 2003-03-13 | Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung eines metallischen Substrats. |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| CH (1) | CH696336A5 (de) |
| DE (1) | DE10213661A1 (de) |
| FR (1) | FR2837839B1 (de) |
| NL (1) | NL1023024C2 (de) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004045473A1 (de) * | 2004-09-20 | 2006-03-23 | Franz Xaver Meiller Fahrzeug- Und Maschinenfabrik - Gmbh & Co Kg | Lastentransportbehälter und Verfahren zur Herstellung von Laderaumbegrenzungsblechen für Lastentransportbehälter |
| JP4066440B2 (ja) * | 2006-05-17 | 2008-03-26 | トーヨーエイテック株式会社 | ダイヤモンド様薄膜を備えた医療器具及びその製造方法 |
| DE102007047629A1 (de) * | 2007-04-13 | 2008-10-16 | Stein, Ralf | Verfahren zum Aufbringen einer hochfesten Beschichtung auf Werkstücke und/oder Werkstoffe |
| TWI399451B (zh) * | 2008-09-05 | 2013-06-21 | Yu Hsueh Lin | 傳動機構之表面鍍膜方法 |
| JP5741891B2 (ja) * | 2009-06-19 | 2015-07-01 | 株式会社ジェイテクト | Dlc膜形成方法 |
| JP5661632B2 (ja) | 2009-08-17 | 2015-01-28 | 川澄化学工業株式会社 | 医療器具及び金属製品 |
| AT510420B1 (de) * | 2011-04-08 | 2012-04-15 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zum gasnitrieren von hochdruckkomponenten |
| DE102019206420A1 (de) | 2019-05-03 | 2020-11-05 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Beschichten einer mechanisch hochbelasteten Oberfläche eines Bauteils sowie beschichtetes Bauteil selbst |
| US20250075335A1 (en) * | 2023-08-30 | 2025-03-06 | Ii-Vi Delaware, Inc. | Method and System for Co-Deposited Diamond-Like Carbon Coatings |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE1006711A3 (nl) * | 1992-12-02 | 1994-11-22 | Vito | Werkwijze voor het aanbrengen van een diamantachtige koolstoflaag op staal, ijzer of legeringen daarvan. |
| US5643637A (en) * | 1994-03-18 | 1997-07-01 | General Electric Company | Method of grading the electric field of an electrode |
| US5840427A (en) * | 1996-05-21 | 1998-11-24 | Teledyne Industries Incorporated | Method for making corrosion resistant electrical components |
| GB2313533A (en) * | 1996-05-22 | 1997-12-03 | Vitek Research Corp | Coated fishing fly |
| EP0856592A1 (de) * | 1997-02-04 | 1998-08-05 | N.V. Bekaert S.A. | Beschichtung enthaltende Filme aus diamantartigem Kohlenstoff und diamantartigem Nanokomposit |
| DE19709673C2 (de) * | 1997-03-11 | 2001-01-04 | Heraeus Kulzer Gmbh & Co Kg | Verfahren zur Behandlung von Oberflächen |
| US6015597A (en) * | 1997-11-26 | 2000-01-18 | 3M Innovative Properties Company | Method for coating diamond-like networks onto particles |
| EP1086260A1 (de) * | 1998-05-12 | 2001-03-28 | Applied Materials, Inc. | Sauerstoff-argon gasgemisch zur vorreinigung eines vakuumprozesssystems |
| US6280834B1 (en) * | 1999-05-03 | 2001-08-28 | Guardian Industries Corporation | Hydrophobic coating including DLC and/or FAS on substrate |
-
2002
- 2002-03-27 DE DE2002113661 patent/DE10213661A1/de not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-03-13 CH CH4002003A patent/CH696336A5/de not_active IP Right Cessation
- 2003-03-26 NL NL1023024A patent/NL1023024C2/nl not_active IP Right Cessation
- 2003-03-27 FR FR0303762A patent/FR2837839B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10213661A1 (de) | 2003-10-16 |
| NL1023024A1 (nl) | 2003-09-30 |
| FR2837839A1 (fr) | 2003-10-03 |
| FR2837839B1 (fr) | 2006-10-20 |
| NL1023024C2 (nl) | 2004-11-24 |
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