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CH376278A - Process for crucible-free zone melting of semiconductor materials - Google Patents

Process for crucible-free zone melting of semiconductor materials

Info

Publication number
CH376278A
CH376278A CH5502558A CH5502558A CH376278A CH 376278 A CH376278 A CH 376278A CH 5502558 A CH5502558 A CH 5502558A CH 5502558 A CH5502558 A CH 5502558A CH 376278 A CH376278 A CH 376278A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
zone
rod
induction coil
semiconductor
melting
Prior art date
Application number
CH5502558A
Other languages
German (de)
Inventor
Reimer Dipl Phys Emeis
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Priority to CH5502558A priority Critical patent/CH376278A/en
Publication of CH376278A publication Critical patent/CH376278A/en

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/16Heating of the molten zone

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

  

  Verfahren zum     tiegelfreien    Zonenschmelzen von     Halbleiterstoffen       Zur Gewinnung eines kristallinen Stoffes höch  ster Reinheit oder zur     Herstellung    von Einkristallen  aus solchem     Stoff,    insbesondere aus Halbleiterstoff  wie Germanium, Silizium oder einer Verbindung  von Elementen der     III.    und V.

   Gruppe bzw. der  Il. und     VI.    Gruppe des Periodischen Systems, kön  nen bekanntlich     stabförmige    Körper dieses Stof  fes mittels des     tiegelfreien        Zonenschmelzverfahrens     zwecks Erhöhung des     Reinheitsgrades    oder zur Er  zielung einer einkristallinen Struktur weiterbehan  delt werden. Dabei wird jeweils nur ein kleiner Teil  des Halbleiterstabes mittels eines     Ringheizkörpers     zum     Schmelzen    gebracht und der     Heizkörper    relativ  zum Halbleiterstab in dessen Längsrichtung bewegt,  so dass die flüssige Zone durch das Material der  Länge nach hindurchwandert.

   Es ist weiter bekannt,  zum Schmelzen von Halbleitermaterial das Verfah  ren der induktiven Erhitzung     anzuwenden.    Weil aber  die     Leitfähigkeit    der Halbleiterstoffe bei normaler  Temperatur nicht dazu ausreicht, die zur Erhitzung  erforderlichen Induktionsströme entstehen zu las  sen, so war man auf die Mitwirkung anderer Mittel  angewiesen, beispielsweise eines Ringheizkörpers aus  Metall oder Kohle, der durch Widerstandserhitzung  oder durch induktive Erhitzung zum Glühen ge  bracht wird und seine Wärme durch Strahlung auf  den Halbleiter überträgt. Durch den glühenden  Fremdkörper wird aber die Gefahr der Verunreini  gung des Halbleitermaterials     verursacht.    Diese Gefahr  wird mit der     Erfindung    vermieden.  



  Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren  zum     tiegelfreien        Zonenschmelzen    eines aus einem  Halbleiterstoff bestehenden, aufrecht gehalterten  Stabes mittels induktiver     Beheizung    unter Mitwir  kung eines zusätzlichen wärmeabgebenden Körpers  und besteht darin, dass ein zusätzlicher Körper erhitzt  wird, der Wärme auf eine Zone des Halbleiterstabes    überträgt, so dass diese Zone vorgewärmt und elek  trisch leitend wird, worauf von dieser Zone aus  eine Induktionsspule, innerhalb welcher als einziger  Leiter die erhitzte     Stabzone    dem     Hochfrequenzfeld     ausgesetzt wird,

   koaxial zum Halbleiterstab in dessen  Längsrichtung bewegt und so diese     Stabzone    während  ihrer Wanderung durch den Halbleiterstab ausschliess  lich durch in ihr selbst induktiv erzeugten elektri  schen Strom beheizt wird.  



  Die Erfindung sei beispielsweise erläutert an  Hand der Zeichnung, welche eine bevorzugte Vor  richtung zur Durchführung des neuen Verfahrens  zeigt. Mit     Hilfe    einer solchen Einrichtung     können     vorzugsweise     Siliziumstäbe    nach dem     tiegelfreien          Zonenziehverfahren    behandelt werden. Der Halb  leiterstab 2 ist hierbei in ein Quarzrohr 4 einge  schlossen und zweckmässig in senkrechter Stellung  zwischen zwei     Halterungen    18 und 19 eingespannt,  die an den Enden von Wellen 20 und 21 sitzen.

   Die  Welle 20 ist durch die untere Fassung 22 für das  Quarzrohr 4 vakuumdicht hindurchgeführt und so  wohl drehbar als auch unabhängig davon in Achs  richtung verschiebbar, ebenso die Welle 21, die durch  die obere Fassung 22 hindurchgeführt ist. An den  Fassungen 22 befinden sich     Stutzen    25, durch welche  der Innenraum der Einrichtung luftleer gemacht oder  mit Schutzgas gefüllt werden kann. Das Ganze ruht  auf einer Platte 24 und einem Gestell 23.

   Auf ihm  ist auch eine     Führungseinrichtung    26 befestigt, an  der ein Schlitten 27 gleitet, der durch eine Spindel  28 auf und ab bewegt werden     kann.    Die Welle der  Spindel 28 ist durch die Platte 24 hindurchgeführt  und wird von einem Hilfsmotor 29 über ein über  setzungsgetriebe 30 angetrieben, beispielsweise der  art, dass sich der Schlitten mit einer Geschwindig  keit von der Grössenordnung 0,5 bis 5     mm/Min.    nach  oben oder nach unten bewegt. An dem Schlitten 27      ist die     Heizspule    10 befestigt, die z. B. aus Kupfer  rohr besteht und mit einem hochfrequenten Strom  von mehreren MHz gespeist und von Kühlwasser  durchströmt wird.  



  Ein Ringheizkörper 17 aus     Wolfram-    oder       Molybdänblech    ist nahe dem oberen Ende des       SchmeMings    2 angeordnet und mit dessen Halterung  19 durch Drähte aus demselben Metall fest ver  bunden. Zu Beginn eines Ziehvorganges wird die  Heizspule 10 bis zu ihrer höchsten Stellung gefah  ren, so dass sich der Ring 17 in ihrem Feldbereiche  befindet und auf diese Weise zum Glühen gebracht  wird.

   Durch die von ihm ausgestrahlte Wärme wird  nur die von ihm umgebene Zone des Halbleiterstabes  erwärmt und infolgedessen die elektrische Leitfähig  keit dieser     iStabzone    so weit erhöht, dass nunmehr  auch in ihrem Innern von der Spule 10 induzierte  Ströme     fliessen,    welche die Temperatur dieser Zone  weiter erhöhen. Zugleich geht die Temperatur des  Ringheizkörpers 17 zurück infolge der Schwächung  des Magnetfeldes durch die im Halbleiter induzier  ten Ströme.

   Statt eines Ringheizers können auch ein  fache Blechstreifen verwendet werden, die mit dem  Halbleiterstab 2 in     unmittelbarer    Berührung stehen  und so einen wesentlichen Teil der Wärme, welche  in ihnen mittels der Induktionsspule 10 erzeugt wird,  durch Leitung an die von ihnen berührte Stelle des  Halbleiterstabes 2 abgeben. Dazu können     vorteilhaft     Blechstreifen verwendet werden, die zugleich zur  Befestigung des Stabes 2 ,in der Halterung 19 dienen.

    Die Halterung 19 wird dazu ohne Schlitz und ohne  Schrauben     ausgeführt,    und zwar vorzugsweise aus  Aluminium-Oxyd     (A1203).    Der Halbleiterstab 2 wird  in der Halterung festgeklemmt mit     Hilfe    von drei  Blechstreifen aus     Molybdän,    welche etwa 0,2 mm  stark, 40 mm lang und 5 mm breit sind. Diese Strei  fen werden vorher schwach wellenförmig gebogen,  so dass sie als Klemmfedern wirken, wenn sie in  Längsrichtung und um je 120  gegeneinander ver  setzt an das     Stabende    gelegt und mit diesem zusam  men in die Halterung 19 hineingeschoben werden.  Die unteren Enden der     Molybdänstreifen    ragen aus  der     Halterung    19 nach unten heraus.

   Wird nun die  Heizspule 10 so weit nach oben gefahren, dass diese  herausragenden Enden in das     Hochfrequenzfeld    ge  langen, so werden sie glühend und geben Wärme  ab an die von ihnen berührten Stellen des Halbleiter  stabes, so dass die betreffende     Stabzone        elektrisch     gutleitend wird und in ihr Induktionsströme     fliessen.     



  Die mittels Fremdheizung gutleitend gemachte       Stabzone    kann durch weitere     Steigerung    der Hoch  frequenzleistung der Spule 10 verflüssigt werden.  Die Länge der     Schmelzzone    kann je nach dem be  handelten Material, dem Durchmesser des Stabes  oder sonstigen Umständen 5 bis 15 mm und mehr  betragen. Wird nun anschliessend die Spule 10 mit  Hilfe des Schlittens 27 nach unten bewegt, so wan  dert mit ihr die     Schmelzzone    durch den Stab der  Länge nach hindurch.

   Es besteht aber die Gefahr,  dass dadurch     Verunreinigungen,    welche, wie erwähnt,    in die fremdbeheizte Zone etwa von dem Ringheiz  körper 17 oder von den glühend gemachten Enden  der Haltefedern aus     hineingelangt    sein können, in  die übrigen Teile des Halbleiterstabes verschleppt  werden. Diese Gefahr wird vermieden, wenn mit  dem Zonenschmelzen an einer weiter unten liegen  den Stelle des Halbleiterstabes begonnen und die  Schmelzzone 11 mit Hilfe der Spule 19 in Rich  tung des Pfeiles 13, also zu dem fremdbeheizten       Stabende    hin, bewegt wird, so dass dieses     Stabende     mit den Verunreinigungen angereichert wird, welche  von der wandernden Schmelzzone mitgeschleppt wer  den.

   Damit nach beendeter     Fremdbeheizung    an einer  anderen Stelle des Stabes 2, z. B. in der Nähe des  unteren     Stabendes    ohne erneute Fremdheizung mit  dem Zonenschmelzen begonnen werden kann, wird die  zur induktiven     Beheizung    der vorgewärmten Stelle  zugeführte elektrische Leistung auf einen solchen  Betrag begrenzt, dass diese Stelle zwar in festem Zu  stande verbleibt, aber die für ihre gute elektrische  Leitfähigkeit erforderliche erhöhte Temperatur hat,  insbesondere glühend ist.

   Dann wird die Induktions  spule und mit ihr die glühende bzw. gutleitende Zone  zum anderen     Stabende    hin bewegt und nach Errei  chung einer vorbestimmten Stelle, vorzugsweise nahe  diesem anderen     Stabende,    die zugeführte elektrische  Leistung gesteigert und dadurch die glühende bzw.  gutleitende Zone     verflüssigt.    Auf diese Weise kann  auch ein einkristalliner Keimkristall 14, der in der  Halterung 18 befestigt ist, an dem nicht vorgewärm  ten Ende des Halbleiterstabes 2     angeschmolzen    wer  den. Lässt man dann von dieser     Schmelzstelle    aus  die Schmelzzone 11 nach oben durch den Halbleiter  stab 2 wandern, so kann man dadurch bekanntlich  den ganzen Stab in einen Einkristall verwandeln.  



  Soll ein Ziehvorgang ein oder mehrmals in der  selben, beispielsweise durch Pfeil 13 bezeichneten  Richtung von unten nach oben wiederholt werden,  so wird am Schluss eines     Schmelzzonendurchganges     die zugeführte elektrische Leistung der Induktions  spule so weit vermindert, dass zwar der     Schmelzfluss     erstarrt, aber diese     Stabzone    die für ihre gute elek  trische Leitfähigkeit erforderliche erhöhte Temperatur  behält, insbesondere glühend bleibt.

   Dann wird die  Induktionsspule und mit ihr die glühende bzw. gut  leitende Zone wieder zum anderen     Stabende    hin  bewegt, und nach Erreichung einer vorbestimmten  Stelle,     vorzugsweise    in der Nähe dieses anderen Stab  endes, die zugeführte elektrische Leistung wieder ge  steigert und dadurch die glühende bzw. gutleitende  Zone     verflüssigt,    womit eine erneute Wanderung der  Schmelzzone in derselben Richtung wie beim vor  hergehenden Durchgang eingeleitet wird.  



  Die glühende bzw. gutleitende Zone kann vor  teilhaft mit grösserer Geschwindigkeit durch den Stab  2 hindurchgezogen werden als die     Schmelzzone.     



  Die durch Pfeil 13 bezeichnete Ziehrichtung für  die     Schmelzzone    von unten nach oben hat sich als be  sonders günstig erwiesen, wenn der Querschnitt des  Stabes nicht verändert werden soll. Er wird dann auch      über die Stablänge sehr gleichmässig. Die     umgekehrte     Ziehrichtung von oben nach unten hat sich bewährt  für den Fall, dass der Querschnitt durch das Zonen  schmelzen wesentlich verringert werden soll, indem  während des Ziehens die obere Halterung nach oben  weiterbewegt wird. Der Hilfskörper 17 zur Fremd  beheizung wird in diesem Falle vorteilhaft nahe dem  unteren Ende des Halbleiterstabes angebracht.  



  Statt in einem engen Quarzrohr 4 kann das neue  Verfahren auch in einer Stahlkammer von viel grö  sserer Weite durchgeführt werden. Dabei befindet  sich die Heizspule 10 im Innern der Kammer und  umschlingt unmittelbar den     Siliziumstab    2. Die Kam  merweite beträgt vorteilhaft mindestens das Zehn  fache des äusseren     Spulendurchmessers    der Heizspule.  Die Kammerwandung ist     zweckmässigerweise    mit min  destens einem Beobachtungsfenster versehen.

   Eine  Wasserkühlung kann mittels Kupferrohre, welche  auf die stählernen Kammerwandungen aufgelötet  sind, herbeigeführt werden.     Spulenträger        (Schlitten)     und Antriebsvorrichtung können innerhalb oder  wenigstens teilweise ausserhalb der Stahlkammer an  geordnet sein. Vorrichtungen mit einer     Stahlkammer     von verhältnismässig grosser Weite haben sich be  sonders gut bewährt, wenn das neue     Zonenschmelz-          verfahren    im Hochvakuum durchgeführt wird.



  Method for crucible-free zone melting of semiconductor materials To obtain a crystalline substance of the highest purity or to produce single crystals from such a substance, in particular from semiconductor material such as germanium, silicon or a compound of elements of III. and V.

   Group or the Il. and VI. Group of the periodic system, rod-shaped bodies of this substance can be further treated by means of the crucible-free zone melting process in order to increase the degree of purity or to achieve a monocrystalline structure. Only a small part of the semiconductor rod is melted by means of a ring heating element and the heating element is moved in its longitudinal direction relative to the semiconductor rod, so that the liquid zone migrates lengthwise through the material.

   It is also known to use the method of inductive heating for melting semiconductor material. But because the conductivity of the semiconductor materials at normal temperature is not sufficient to generate the induction currents required for heating, other means were required, for example a ring heater made of metal or carbon, which glowed by resistance heating or inductive heating and its heat is transferred to the semiconductor by radiation. However, the glowing foreign body causes the risk of contamination of the semiconductor material. This risk is avoided with the invention.



  The invention relates to a method for crucible-free zone melting of an upright rod made of a semiconductor material by means of inductive heating with the participation of an additional heat-emitting body and consists in that an additional body is heated that transfers heat to a zone of the semiconductor rod, so that this zone is preheated and electrically conductive, whereupon from this zone an induction coil, within which the heated rod zone is the only conductor exposed to the high-frequency field,

   moved coaxially to the semiconductor rod in its longitudinal direction and so this rod zone is heated exclusively Lich during its migration through the semiconductor rod by electrical current generated inductively in it.



  The invention will be explained, for example, with reference to the drawing, which shows a preferred device for performing the new method. With the aid of such a device, silicon rods can preferably be treated according to the crucible-free zone drawing process. The semi-conductor rod 2 is here enclosed in a quartz tube 4 and is expediently clamped in a vertical position between two brackets 18 and 19 which sit at the ends of shafts 20 and 21.

   The shaft 20 is passed through the lower holder 22 for the quartz tube 4 in a vacuum-tight manner and is rotatable and also displaceable in the axial direction independently thereof, as is the shaft 21, which is passed through the upper holder 22. On the sockets 22 there are nozzles 25 through which the interior of the device can be evacuated or filled with protective gas. The whole rests on a plate 24 and a frame 23.

   A guide device 26 is also attached to it, on which a slide 27 slides, which can be moved up and down by a spindle 28. The shaft of the spindle 28 is passed through the plate 24 and is driven by an auxiliary motor 29 via a reduction gear 30, for example of the type that the carriage moves at a speed of the order of magnitude of 0.5 to 5 mm / min. moved up or down. On the carriage 27, the heating coil 10 is attached, the z. B. consists of a copper tube and fed with a high-frequency current of several MHz and is flowed through by cooling water.



  A ring heater 17 made of tungsten or molybdenum sheet is arranged near the upper end of the SchmeMing 2 and firmly connected to its holder 19 by wires made of the same metal. At the beginning of a drawing process, the heating coil 10 is moved up to its highest position so that the ring 17 is in its field area and is made to glow in this way.

   The heat it radiates only heats the zone of the semiconductor rod that is surrounded by it, and as a result the electrical conductivity of this rod zone is increased to such an extent that currents induced by the coil 10 flow inside it, which further increase the temperature of this zone. At the same time, the temperature of the ring heater 17 goes back due to the weakening of the magnetic field by the currents induced in the semiconductor th.

   Instead of a ring heater, simple sheet metal strips can be used that are in direct contact with the semiconductor rod 2 and thus emit a substantial part of the heat generated in them by means of the induction coil 10 by conduction to the point of the semiconductor rod 2 touched by them . For this purpose, sheet metal strips can advantageously be used, which also serve to fasten the rod 2 in the holder 19.

    For this purpose, the holder 19 is designed without a slot and without screws, preferably made of aluminum oxide (A1203). The semiconductor rod 2 is clamped in the holder with the help of three metal strips made of molybdenum, which are approximately 0.2 mm thick, 40 mm long and 5 mm wide. This Strei fen are previously bent slightly wave-like so that they act as clamping springs when they are placed in the longitudinal direction and by 120 against each other ver is placed on the rod end and pushed together with this men in the holder 19. The lower ends of the molybdenum strips protrude from the holder 19 downwards.

   If the heating coil 10 is now moved up so far that these protruding ends ge long into the high-frequency field, they become glowing and give off heat to the areas of the semiconductor rod they touch, so that the rod zone in question is electrically conductive and in it Induction currents flow.



  The rod zone made conductive by means of external heating can be liquefied by further increasing the high-frequency power of the coil 10. The length of the melting zone can be 5 to 15 mm and more, depending on the material being treated, the diameter of the rod or other circumstances. If the coil 10 is then moved downwards with the aid of the slide 27, the melting zone waned with it through the length of the rod.

   However, there is a risk that impurities, which, as mentioned, may have got into the externally heated zone, for example from the ring heating body 17 or from the glowing ends of the retaining springs, are carried over into the remaining parts of the semiconductor rod. This danger is avoided if the zone melting is started at a further down the location of the semiconductor rod and the melting zone 11 is moved with the aid of the coil 19 in the direction of the arrow 13, so to the externally heated rod end, so that this rod end with the impurities is enriched, which are dragged along by the moving melting zone who the.

   So that after the end of external heating at another point on the rod 2, z. B. in the vicinity of the lower end of the rod without renewed external heating with the zone melting, the electrical power supplied for inductive heating of the preheated point is limited to such an amount that this point remains in a solid state, but for its good electrical conductivity has required elevated temperature, in particular is glowing.

   Then the induction coil and with it the glowing or highly conductive zone is moved to the other end of the rod and after reaching a predetermined point, preferably near this other rod end, the supplied electrical power is increased and thereby liquefies the glowing or highly conductive zone. In this way, a single-crystal seed crystal 14, which is fixed in the holder 18, melted to the end of the semiconductor rod 2 not preheated th who the. If the melting zone 11 is then allowed to migrate upwards through the semiconductor rod 2 from this melting point, then, as is known, the entire rod can be converted into a single crystal.



  If a drawing process is to be repeated one or more times in the same direction from bottom to top, for example indicated by arrow 13, the electrical power supplied to the induction coil is reduced so far at the end of a melt zone passage that the melt flow solidifies, but this rod zone the retains the elevated temperature required for their good electrical conductivity, in particular remains glowing.

   Then the induction coil and with it the glowing or highly conductive zone is moved back to the other end of the rod, and after reaching a predetermined point, preferably in the vicinity of this other end of the rod, the electrical power supplied is increased again, thereby increasing the glowing or The highly conductive zone is liquefied, which initiates a renewed migration of the melting zone in the same direction as in the previous passage.



  The glowing or highly conductive zone can be pulled through the rod 2 at a greater speed than the melting zone.



  The direction of drawing indicated by arrow 13 for the melting zone from bottom to top has proven to be particularly favorable if the cross section of the rod is not to be changed. It then becomes very even over the length of the rod. The reverse pulling direction from top to bottom has proven itself in the event that the cross-section through the zone melting is to be reduced significantly by moving the upper holder further upwards during the pulling. The auxiliary body 17 for external heating is advantageously attached near the lower end of the semiconductor rod in this case.



  Instead of a narrow quartz tube 4, the new method can also be carried out in a steel chamber of much greater width. The heating coil 10 is located inside the chamber and directly wraps around the silicon rod 2. The chamber width is advantageously at least ten times the outer coil diameter of the heating coil. The chamber wall is expediently provided with at least one observation window.

   Water cooling can be brought about by means of copper pipes which are soldered onto the steel chamber walls. Coil carrier (slide) and drive device can be arranged inside or at least partially outside of the steel chamber. Devices with a steel chamber of relatively large width have proven to be particularly effective when the new zone melting process is carried out in a high vacuum.

 

Claims (1)

PATENTANSPRUCH Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines aus einem Halbleiterstoff bestehenden, aufrecht ge halterten Stabes mittels induktiver Beheizung unter Mitwirkung eines zusätzlichen wärmeabgebenden Körpers, dadurch gekennzeichnet, dass ein zusätz licher Körper erhitzt wird, der Wärme auf eine Zone des Halbleiterstabes überträgt, so dass diese Zone vorgewärmt und elektrisch leitend wird, wor auf von dieser Zone aus eine Induktionsspule, in nerhalb welcher als einziger Leiter die erhitzte Stab zone dem Hochfrequenzfeld ausgesetzt wird, PATENT CLAIM Method for crucible-free zone melting of a rod made of a semiconductor material, held upright by means of inductive heating with the participation of an additional heat-emitting body, characterized in that an additional body is heated, which transfers heat to a zone of the semiconductor rod, so that this zone is preheated and becomes electrically conductive, whereupon from this zone an induction coil within which the heated rod zone is the only conductor exposed to the high-frequency field, koaxial zum Halbleiterstab in dessen Längsrichtung bewegt und so diese Stabzone während ihrer Wanderung durch den Halbleiterstab ausschliesslich durch in ihr selbst induktiv erzeugten elektrischen Strom beheizt wird. UNTERANSPRÜCHE 1. moved coaxially to the semiconductor rod in its longitudinal direction and so this rod zone is heated during its migration through the semiconductor rod exclusively by in itself inductively generated electrical current. SUBCLAIMS 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch ge kennzeichnet, dass eine Zone des Stabes nahe einem seiner beiden Enden, vorzugsweise nahe seinem oberen Ende, durch Wärmeübertragung vom Hilfs körper vorgewärmt wird, und dass die zur induktiven Beheizung der vorgewärmten Zone zugeführte elek trische Leistung auf einen solchen Betrag begrenzt wird, dass diese Zone zwar in festem Zustand ver bleibt, aber die für ühre gute elektrische Leitfähigkeit erforderliche erhöhte Temperatur hat, dass dann die Induktionsspule und mit ihr die gutleitende Zone zum anderen Stabende hin bewegt wird, Method according to claim, characterized in that a zone of the rod near one of its two ends, preferably near its upper end, is preheated by heat transfer from the auxiliary body, and that the electrical power supplied for inductive heating of the preheated zone is reduced to such an amount it is limited that this zone remains in a solid state, but has the elevated temperature required for good electrical conductivity, so that the induction coil and with it the highly conductive zone is moved to the other end of the rod, und dass nach Erreichung einer vorbestimmten Stelle nahe diesem anderen Stabende die zugeführte elektrische Leistung gesteigert und dadurch die gutleitende Zone verflüssigt wird, worauf die Schmelzzone mit um gekehrter Bewegungsrichtung der Induktionsspule zum ersteren Stabende gezogen wird. 2. Verfahren nach Unteranspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, dass ein aus elektrisch leitendem Ma terial bestehender Hilfskörper seinerseits durch die Induktionsspule induktiv erhitzt wird. 3. Verfahren nach Unteranspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, dass ein einkristalliner Keimkristall an dem nicht vorgewärmten Ende des Halbleiter stabes angeschmolzen ist. 4. and that after reaching a predetermined point near this other end of the rod, the electrical power supplied is increased and the highly conductive zone is thereby liquefied, whereupon the melting zone is drawn towards the first end of the rod with the direction of movement of the induction coil reversed. 2. The method according to dependent claim 1, characterized in that an auxiliary body consisting of electrically conductive Ma is in turn heated inductively by the induction coil. 3. The method according to dependent claim 1, characterized in that a single-crystal seed crystal is melted on the non-preheated end of the semiconductor rod. 4th Verfahren nach Patentanspruch, dadurch ge kennzeichnet, dass am Schluss eines Schmelzzonen- durchganges die zugeführte elektrische Leistung der Induktionsspule so weit vermindert wird, dass zwar die Schmelze erstarrt, aber diese Stabzone die für eine gute elektrische Leitfähigkeit erforderliche er höhte Temperatur behält, dass dann die Induktions spule und mit ihr die gutleitende Zone wieder zum anderen Stabende hinbewegt wird, und dass nach Erreichung einer vorbestimmten Stelle in der Nähe dieses anderen Stabendes die zugeführte elektrische Leistung wieder gesteigert und dadurch die gutlei tende Zone verflüssigt wird, The method according to claim, characterized in that at the end of a melting zone passage, the electrical power supplied to the induction coil is reduced to such an extent that the melt solidifies, but this rod zone retains the elevated temperature required for good electrical conductivity Induction coil and with it the highly conductive zone is moved back to the other end of the rod, and that after reaching a predetermined point near this other end of the rod, the supplied electrical power is increased again and the conductive zone is thereby liquefied, womit eine erneute Wanderung der Schmelzzone in derselben Richtung wie beim vorhergehenden Durchgang eingeleitet wird. 5. Verfahren nach Unteranspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, dass die feste, gutleitende Zone mit grösserer Geschwindigkeit durch den Stab hindurch gezogen wird als die Schmelzzone. thus initiating a renewed migration of the melt zone in the same direction as in the previous pass. 5. The method according to dependent claim 1, characterized in that the solid, highly conductive zone is pulled through the rod at a greater speed than the melting zone.
CH5502558A 1958-01-23 1958-01-23 Process for crucible-free zone melting of semiconductor materials CH376278A (en)

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