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BRPI0318057B1 - método para gerenciar um meio de gravação uma vez e aparelho para gerenciar um meio de gravação uma vez - Google Patents

método para gerenciar um meio de gravação uma vez e aparelho para gerenciar um meio de gravação uma vez Download PDF

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BRPI0318057B1
BRPI0318057B1 BRPI0318057A BR0318057A BRPI0318057B1 BR PI0318057 B1 BRPI0318057 B1 BR PI0318057B1 BR PI0318057 A BRPI0318057 A BR PI0318057A BR 0318057 A BR0318057 A BR 0318057A BR PI0318057 B1 BRPI0318057 B1 BR PI0318057B1
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tdfl
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BRPI0318057A
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BR0318057A (pt
Inventor
Sung Dae Kim
Yong Cheol Park
Original Assignee
Lg Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Lg Electronics Inc filed Critical Lg Electronics Inc
Publication of BR0318057A publication Critical patent/BR0318057A/pt
Publication of BRPI0318057B1 publication Critical patent/BRPI0318057B1/pt

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Abstract

"método para gerenciar meio de gravação óptica, meio de gravação e aparelho para gerenciar meio de gravação óptica". um disco óptico do tipo de gravar uma vez, um método e um aparelho de gerenciar informações de defeito no disco óptico do tipo de gravar uma vez, por exemplo, um bd-wo, são dotados de uma área de gerenciamento de defeitos temporários (tdma). o método inclui a preparação da área de gerenciamento de defeitos temporários (tdma) na qual uma lista de defeitos temporários (tdfl) é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar uma área defeituosa no disco óptico, gravação da lista de defeitos temporários mais recente cumulativamente com a lista de defeitos temporários anterior na área de gerenciamento de defeitos temporários, e gravação das informações de posição para indicar uma posição da lista de defeitos temporários mais recente na área de gerenciamento de defeitos temporários juntamente com a lista de defeitos temporários para gerenciar de forma mais eficaz a lista de defeitos temporários.

Description

MÉTODO PARA GERENCIAR UM MEIO DE GRAVAÇÃO UMA VEZ E APARELHO PARA GERENCIAR UM MEIO DE GRAVAÇÃO UMA VEZ
Campo da Invenção A presente invenção refere-se a um método para gerenciar uma área defeituosa em um disco óptico de alta densidade, e mais particularmente a um disco óptico de gravar uma vez, um aparelho e um método· para gerenciar uma área defeituosa em um disco óptico de alta densidade como um Disco BIu-Ray de Gravar uma vez (BD-WO). Técnica antecedente Discos ópticos nos quais uma grande capacidade de dados pode ser gravada como meios de gravação óptica têm sido amplamente utilizados. Entre eles, um novo HD-DVD (High-Density Digital Versat i ie Disc} no qual dados de video e dados de áudio podem ser gravados e armazenados com alta qualidade e em grandes quantidades, por exemplo um BD (Blu~ ray disc) foi recentemente desenvolvido. O disco Blu-ray, que pertence à tecnologia HD-DVD da próxima geração, é a solução de gravação óptica da próxima geração que pode superar de forma surpreendente a capacidade de gravação de dados de DVDs existentes. Os padrões mundiais de disco Blu-ray de HD-DVD que foram recentemente estabelecidos incluem o viso de um laser celadon tendo um comprimento de onda de 4 05 nm o qual é muito mais denso do que um laser vermelho da tecnologia de DVD existente tendo um comprimento de onda de 650 nm. Por conseguinte, uma maior quantidade de dados em relação à tecnologia de DVD existente pode ser armazenada no BD que tem uma espessura de 1,2 mm, um diâmetro de 12 cm, e uma camada de transmissão óptica tendo uma espessura de 0,1 mm. À medida que diversos tipos de padrões relacionados ao BD (Blu-ray Disc) estão sendo desenvolvidos, vários tipos de padrões pára BD-RE (disco règravãvel BD) e BD-WO (disco de gravar uma vez BD) estão sendo desenvolvidos. Um dos novos discos ópticos de alta densidade, no qual dados de video e áudio de alta qualidade podem ser gravados, apagados e regravados por longos períodos de tempo, é um Disco Blu-Ray regravável (BD-RE)que está sendo atualmente desenvolvido. A figura 1 ilustra esquematicamente a estrutura de uma área de gravação de um BD-RE. 0 BD-RE da figura 1 mostra a estrutura da área de gravação de um disco tendo uma camada de gravação. Visto da periferia interna do disco, a área de gravação é dividida em uma área de entrada, uma área de dados e uma área de saída. Uma área de reserva interna ISAO e uma área de reserva externa OSAO para substituição de uma área defeituosa são fornecidas nas periferias interna e externa da área de dados, e uma área de dados de usuário para gravar dados de usuário é fornecida no centro da área de dados.
Se existe uma área defeituosa em uma área de dados de usuário durante gravação de dados em um BD-RE, os dados gravados na área defeituosa são deslocados para e gravados em uma área de reserva como dados de substituição. Além disso, informações de posição referente à área defeituosa e a área de gravação de dados de substituição são gravadas em áreas de gerenciamento de defeitos DMA 1, DMA 2, DMA 3 e DMA 4 fornecidas nas áreas de entrada e saída. As informações de posição servem como informações de gerenciamento para a área defeituosa a fim de executar gerenciamento de defeitos para o disco óptico. No caso do BD-RE, uma vez que a regravação é possível em qualquer área do disco, a área inteira do disco pode ser aleatoriamente utilizada independente de seu modo de gravação. 0 Disco Blu-ray de gravar uma vez (BD-WO) é. outro tipo de disco óptico de alta densidade que está sendo desenvolvido onde uma alta qualidade de dados pode ser gravada e reproduzida para e a partir do disco. Como o nome pode sugerir, os dados podem ser gravados somente uma vez no BD-WO e não são regraváveis no BD-WO. Entretanto, o BD-WO pode ser lido repetidamente. Como resultado, o BD-WO é útil onde a capacidade de regravação de dados em um meio de gravação não é desejada ou essencial.
As discussões sobre a padronização de discos ópticos de alta densidade, por exemplo, como BD-WO, estavam recentemente em andamento. A esse respeito, uma estrutura de disco, um método e um aparelho para gerenciar áreas defeituosas do BD-WO são necessários, os quais acomodam e consideram as características exclusivas e operações pretendidas do BD-WO. Tais técnicas tornarão o BD-WO comercialmente negociável e operacionalmente exeqüível.
No BD-WO (Disco blu-ray de gravar uma vez), uma vez que somente uma única gravação de dados em uma área especificada do disco é possível, o modo de gravação é muito limitado. Por conseguinte, é difícil aleatoriamente utilizar a área inteira do disco devido à sua dificuldade de gerenciamento. Além disso, em um disco óptico de alta densidade do tipo de gravar uma vez, como o BD-WO, o gerenciamento da área defeituosa se torna um aspecto importante de gravação de dados. Por conseguinte, o disco óptico do tipo gravar uma vez requer um padrão unificado de gerenciamento para informações de defeito em discos ópticos desse tipo.
Revelação da invenção Por conseguinte, a presente invenção é dirigida a um disco óptico do tipo gravar uma vez e um método e aparelho para gerenciar informações de defeito no disco óptico que evitam substancialmente um ou mais problemas e/ou desvantagens da técnica antecedente.
Um objetivo da presente invenção é fornecer um método de identificar uma área defeituosa e um método de gerenciar a área defeituosa.
Um ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são realizados por um método para gerenciar um meio de gravação óptica tendo pelo menos uma .área defeituosa em uma área de dados de usuário, o método compreendendo a gravação de pelo menos uma lista de defeitos temporários em uma área de gerenciamento de defeitos temporários, onde pelo menos uma lista de área de defeitos temporários é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar pelo menos uma área defeituosa; e gravação de informações de posição como pelo menos um indicador de lista de defeitos temporários, onde o indicador de lista de defeitos temporários indica pelo menos uma posição da lista de defeitos temporários para uma unidade de gravação respectiva da área de gerenciamento de defeitos temporários.
Um ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são realizados por um método para gerenciar um meio de gravação óptica tendo pelo menos uma área defeituosa em uma área de dados de usuário, o método compreendendo gravar pelo menos uma lista de defeitos temporários em uma área de gerenciamento de defeitos temporários, onde pelo menos uma lista de área de defeitos temporários é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar pelo menos uma área defeituosa; gravar separadamente as listas de defeitos temporários como listas de defeitos separados para cada unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários; e gravar informações de posição como pelo menos um indicador de lista de defeitos temporários, onde o indicador de lista de defeitos temporários indica pelo menos uma posição da lista de defeitos temporários para uma respectiva unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários.
Ura ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são realizados por um meio de gravação que compreende uma área de dados de usuário dentro de uma área de dados; uma área de gerenciamento de defeitos temporários para gravar informações de gerenciamento, de defeitos, onde as informações de gerenciamento de defeitos são fornecidas para gerenciar dados de substituição de pelo menos uma área defeituosa na área de dados de usuário do meio de gravação; uma primeira área de gerenciamento de defeitos sendo fornecida na área de gerenciamento de defeitos temporários; e uma segunda área de gerenciamento de defeitos sendo fornecida na área de gerenciamento de defeitos temporários para gravar informações de posição que indicam uma posição da lista de defeitos mais recente.
Um ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são realizados por um meio de gravação que compreende uma área de dados de usuário dentro de uma área de dados; uma área de gerenciamento de defeitos temporários para gravar informações de gerenciamento de defeitos, onde as informações de gerenciamento de defeitos são fornecidas para gerenciar dados de substituição de pelo menos uma área defeituosa dentro da área de dados de usuário do meio de gravação; uma lista de defeitos temporários na área de gerenciamento de defeitos temporários, onde a lista de defeitos temporários é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar pelo menos uma área defeituosa; e pelo menos um indicador de lista de defeitos temporários contendo informações de posição, onde o indicador de lista de defeitos temporários indica pelo menos uma posição da lista de defeitos temporários mais recente na área de gerenciamento de defeitos temporários.
Um ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são realizados por um aparelho para gerenciar um meio de gravação óptica tendo pelo menos uma área de gerenciamento de defeitos temporários, e uma área reserva em uma área de dados, o aparelho compreendendo um dispositivo para gravar pelo menos uma lista de defeitos temporários em uma área de gerenciamento de defeitos temporários, onde pelo menos uma lista de defeitos temporários é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar pelo menos uma área defeituosa; e para gravar informações de posição como pelo menos um indicador de lista de defeitos temporários, onde o indicador de lista de defeitos temporários indica pelo menos uma posição da lista de defeitos temporários mais recentes na área de gerenciamento de defeitos temporários e lista de defeitos temporários.
Um ou mais desses e de outros objetivos da presente invenção são adicionalmente realizados por um aparelho para gerenciar um meio de gravação óptica tendo pelo menos uma área de gerenciamento de defeitos temporários, e uma área reserva era uma área de dados, o aparelho compreendendo ura dispositivo para gravar pelo menos uma lista de defeitos temporários em uma área de gerenciamento de defeitos temporários, onde pelo menos uma lista de área de defeitos temporários é gravada como informações de gerenciamento de defeitos para gerenciar pelo menos uma área defeituosa; para gravar separadamente as listas de defeitos temporários como listas de defeitos separadas para cada unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários; e para gravar informações de posição como pelo menos um indicador de lista de defeitos temporários, onde o indicador de lista de defeitos temporários indica pelo menos uma posição da lista de defeitos temporários para uma respectiva unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários. 0 âmbito adicional de aplicabilidade da presente invenção tornar-se-á evidente a partir da descrição detalhada fornecida a seguir. Entretanto, deve ser subentendido que a descrição detalhada e exemplos específicos, embora indiquem modalidades preferidas da invenção, são fornecidos somente como ilustração, uma vez que diversas alterações e modificações compreendidas no espírito e âmbito da invenção tornar-se-ão evidentes para aqueles versados na técnica a partir dessa descrição detalhada.
Breve descrição dos desenhos Objetivos e vantagens adicional da invenção podem ser mais completamente entendidos a partir da seguinte descrição detalhada tomada em combinação com os desenhos em anexo, nos quais: A figura 1 ilustra a estrutura de um disco óptico regravável da técnica relacionada; A figura 2 é um diagrama de blocos de um dispositivo de gravação e/ou reprodução de disco óptico de acordo com uma modalidade da presente invenção;
As figuras 3A e 3B ilustram uma estrutura de um BD-WO de camada única e um disco óptico BD-WO de camada dupla, respectivamente, de acordo com uma modalidade da presente invenção; A figura 4 ilustra a estrutura de um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com uma modalidade da presente invenção;
As figuras 5A e 5B ilustram exemplos da estrutura de TDFL e TDDS aplicados a um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a presente invenção;
As figuras 6A e 6B ilustram um método de gerenciar informações de defeito em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com uma primeira modalidade da presente invenção;
As figuras 7A e 7B ilustram um método de gerenciar informações de defeitos em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com uma segunda modalidade da presente invenção;
As figuras 8A e 8B ilustram um método de gerenciar informações de defeitos em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com uma terceira modalidade da presente invenção; e As figuras 9A e 9B ilustram um método de gerenciar informações de defeitos em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com uma quarta modalidade da presente invenção.
Melhor modo para realizar a invenção Será feita agora referência era detalhe às modalidades preferidas da presente invenção, cujos exemplos são ilustrados nos desenhos em anexo. A figura 2 é um diagrama de blocos de um dispositivo de gravação e/ou reprodução de disco óptico 20 de acordo com uma modalidade da presente invenção. O dispositivo de gravação e/ou reprodução de disco óptico 20 (doravante dispositivo de gravação/reprodução de disco óptico) inclui um captor óptico 22 para gravação e leitura de dados para e de um meio de gravação óptica 21, uma unidade servo 23 para controlar o captor 22 a fim de manter uma distância entre uma lente objetiva do captor 22 e o meio de gravação 21 e para rastrear trilhas relevantes no meio de gravação 21, um processador de dados 24 para processar e fornecer dados de entrada para o captor 22 para gravação, e para processar dados lidos do meio de gravação 21, uma interface 25 para permutar dados e/ou comandos com qualquer host externo 30, uma memória ou armazenagem 27 para armazenar informações e dados na mesma incluindo dados de gerenciamento de defeitos associados ao meio de gravação 21, e um microprocessador ou controlador 26 para controlar as operações e elementos do dispositivo de gravação/reprodução 20, Os dados a serem gravados ou lidos para ou do meio de gravação 21 também podem ser armazenados na memória 27. Todos os componentes do dispositivo de gravação/reprodução 20 são eficientemente acoplados. Na modalidade exemplar mostrada, o meio de gravação 21 é um meio de gravação do tipo gravar uma vez, por exemplo, como um BD-WO.
As figuras 3A e 3B ilustram uma estrutura de um BD-WO de camada única e um disco óptico BD-WO de camada dupla, respectivamente, de acordo com uma modalidade da presente invenção. Como mostrado nas figuras 3A e 3B, o BD-WO pode ter uma ou duas camadas de gravação, Na figura um BD-WO tendo somente uma única camada de gravação (Camada O) inclui uma única camada de gravação composta de uma área de entrada (LIA), uma área de dados, e uma área de saída (LOA) e é mencionado aqui como um disco de camada única.
Na figura 3B, um BD-WO de camada dupla inclui duas camadas de gravação (Camadas O e 1) e é mencionado doravante como um disco de camada dupla. A primeira camada de gravação (Camada 0) inclui uma LIA, uma área de dados e uma zona externa. A segunda camada de gravação (Camada 1) inclui uma LOA, uma área de dados e uma zona externa. Genericamente, uma gravação de dados ocorre na direção mostrada com a seta pontilhada no disco de camada dupla. O disco de camada única pode ter uma capacidade de 23,3, 25,0 ou 27,0 Gbytes, ao passo que o disco de camada dupla pode ter capacidade de 46,6, 50,0 ou 54,0 Gbytes.
Deve ser observado que todas as modalidades diferentes da presente invenção, por exemplo diversos métodos discutidos a seguir, são aplicáveis a qualquer tipo de um disco óptico, como um BD-WO de camada única, um BD-WO ou um BD-RE de camada dupla. Além disso, embora o uso do dispositivo de gravação/reprodução 20 da figura 2 seja discutido abaixo em combinação com os métodos da invenção, a invenção não é limitada a isso e abrange outros dispositivos de gravação/reprodução desde que sejam configurados para implementar os presentes métodos. Uma descrição detalhada das modalidades preferidas será fornecida a seguir com referência a um BD-WO exemplar (Disco blu-ray de gravar uma vez) . A figura 4 mostra um exemplo da estrutura de um disco óptico do tipo de gravar uma vez, por exemplo, um BD-WO, e o método de gravar informações de gerenciamento de disco de acordo com a presente invenção. O disco óptico do tipo de gravar uma vez da figura 4 é um disco de camada única tendo uma camada de gravação. Esse disco óptico inclui áreas de reserva, por exemplo, áreas de reserva interna e externa ISAO/OSAO, para gravação de dados de substituição de uma área defeituosa, e uraa ou mais TDMAs (Área de gerenciamento de defeitos temporários) para gerenciar informações referentes à área defeituosa, por exemplo, para gerenciar um defeito ' físico.
No caso de um disco óptico regravável geral, os dados podem ser repetidamente gravados e apagados de uma DMA (Área de gerenciamento de defeito) mesmo se a DMA tiver um tamanho limitado, e desse modo uma DMA de tamanho grande não é ) necessária. Entretanto, no caso de um disco óptico do tipo de gravar uma vez, por exemplo, um BD-WO, uma área que tem dados gravados na mesma não pode ser utilizada para gravar dados novamente, e uma área de gerenciamento de um tamanho maior é necessária com esse tipo de meio de gravação. Se 3 nenhuma gravação adicional for feita no disco óptico do tipo de gravar uma vez, as informações de TDMA (Área de gerenciamento de defeitos temporários) finais ou mais recentes são necessárias serem transferidas para e gravadas na DMA (Área de gerenciamento de defeitos), e desse modo são mencionadas como TDMA (DMA temporária) em distinção da DMA.
Na figura 4, uma ■ TDMAl é fornecida em uma área de entrada com um tamanho fixo e uma TDMA2 tendo um tamanho variável ou associado a um tamanho da respectiva área de reserva externa (OSAO) na qual é fornecido, por exemplo, como visto nas figuras 4-5B, P = (N*256)/4 é fornecido. A TDMA respectiva serve para armazenar na mesma uma TDFL (Lista de defeitos temporários) e uma TDDS (Estrutura de definição de disco temporário) para gerenciamento de defeitos. A TDFL é uma lista de entrada contendo informações para gerenciar uma série de processos para substituição de dados em uma área defeituosa da área de dados na área de reserva. 0 tamanho da TDFL varia de acordo com o tamanho da área defeituosa, por exemplo, no caso de um disco de camada única, a TDFL é preparada com um tamanho entre 1-4 clusters, e no caso de uma camada dupla, a TDFL é preparada com um tamanho entre 1-8 clusters. A TDDS pode ser preparada na unidade de um único cluster, ou ambas a TDDS e a TDFL são preparadas na unidade de um único cluster. A TDDS inclui informações para gerenciamento do disco óptico do tipo de gravar uma vez e informações referentes ao gerenciamento de defeitos necessário na presente invenção. As informações de gerenciamento de defeitos são informações localizadas parcialmente na TDFL e TDDS. A seguir, o conteúdo detalhado da TDFL e TDDS será explicado com referência às figuras 5A e 5B. A figura 5A ilustra um exemplo da estrutura da TDFL aplicada à presente invenção. A TDFL é genericamente dividida em três partes: um cabeçalho de TDFL, uma lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List) e um indicador para a terminação da TDFL (meio de terminação TDFL). 0 cabeçalho de TDFL está na porção avançada da TDFL e é utilizado para reconhecer a TDFL durante gerenciamento de defeitos. 0 cabeçalho de TDFL inclui um identificador de TDFL, ura campo de contagem de atualização de TDFL que aumenta uma contagem em 1 sempre que a TDFL é atualizada, um campo para o número de entradas de defeito que existem na TDFL correspondente (número de entradas de TDFL), e um campo contendo o número de tipos de entrada (número de tipos de primeira a Na entrada). A lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List) na realidade inclui o conteúdo que compõe a TDFL, por exemplo, a lista de entrada de defeitos é para gerenciar informações de posição da área defeituosa e a área de substituição para cada área defeituosa em uma única entrada ou local. Cada entrada é composta de 8 bytes de dados, e a estrutura de cada entrada inclui um tipo de entrada (status 1), informações de posição da área defeituosa (cluster defeituoso Primeiro PSN) e informações de posição da área de substituição para dados de substituição (cluster de substituição Primeiro P3N) gravados em ordem na entrada. 0 meio de terminação TDFL inclui informações que indicam a terminação da lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List). No caso de um disco de camada dupla, a lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List) ocupa 8 clusters no máximo, e no caso de um disco de camada única, a lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List) ocupa 4 grupos no máximo.
Na figura 5B, a TDFL tem a mesma estrutura que aquela da figura 5A, porém a TDDS é agora gravada juntamente com informações de TDFL, por exemplo, a TDDS pode ser gravada em um local diferente do que a TDFL (como mostrado na figura 5A), e/ou pode ser gravada no mesmo cluster juntamente com a TDFL (figura 5b).
Na TDDS, uma variedade de informações pode ser gravada. Entretanto, em uma modalidade preferida da presente invenção, a TDDS deve incluir informações deposição da TDFL mais recente (Primeiro PSN da TDFL mais recente). No disco óptico do tipo de gravar uma vez, a posição na qual a TDFL mais recente é gravada é mudada sempre que a TDFL for atualizada com relação à área defeituosa. Por conseguinte, é necessário gerenciar as informações de posição de TDFL mais recente durante todo o tempo. A posição na qual a TDFL mais recente é gravada pode ser mencionada como um indicador de TDFL, uma vez que contém informações que indicam as informações de posição da TDFL mais recente. Entretanto, a quantidade de informações de posição de TDFL mais recente pode ser alterada de acordo com o método de gravação da TDFL, que será explicado em maior detalhe a seguir. 0 termo Primeiro PSN utilizado na presente invenção e mostrado nas figuras em anexo se refere ao primeiro número de setor fisico de um cluster. No caso de um BD-WO, a unidade de gravação mínima é definida como um cluster, e uma vez que 32 setores genericamente existem em um único cluster, o Primeiro PSN se refere às informações de posição do setor avançado no cluster correspondente. Conseqüentemente, o Primeiro PSN se refere às informações de posição do cluster correspondente, por exemplo, Primeiro PSN de cluster defeituoso para o primeiro número de setor fisico do cluster defeituoso.
Um método de gravar uma TDFL e um método de gravar um indicador de TDFL de acordo com as diversas modalidades da presente invenção será explicado em maior detalhe a seguir. A lista de entrada de defeitos (Defect_entry_List) é expressa como TDFL1, TDFLlc, TDFL211, TDFL32, etc. para auxiliar na seguinte descrição das figuras 6A-6B. TDFL1 se refere a entradas preparadas no primeiro estágio (estágiol), e TDFLlc se refere a TDFLl após ter sido cumulativamente gravada. TDFL21 se refere às primeiras entradas preparadas no segundo estágio (estágio2), e TDFL32 se refere às segundas entradas preparadas no terceiro estágio (estágio3) . 0 meio de terminação TDFL foi omitido nas figuras 6A e 6B pra reduzir a complexidade dessas figuras, e as informações de posição de TDFL mais recentes (indicador de TDFL) gravadas na TDDS são expressas como Pl, P2, P3, . . . respectivamente. Além disso, o cluster que é a unidade de gravação é ilustrado com uma linha cheia espessa para marcar de forma proeminente o conteúdo da TDMA.
As figuras 6A e 6B ilustram um método de gerenciar informações de defeito em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a primeira modalidade da presente invenção. De acordo com o método de gerenciar informações de defeitos de acordo com a primeira modalidade da presente invenção como mostrado na figura 6A, a TDFL mais recente é repetidamente gravada cumulativamente com a TDFL anterior. Por conseguinte, somente um cabeçalho de TDFL e um indicador de TDFL são utilizados com relação à TDFL dos clusters 1-4 cumulativamente repetidos (ou 1-8 clusters), respectivamente. 0 cabeçalho TDFL e a TDFL são gravados e gerenciados na unidade de cluster único. No caso de um disco de camada única (SL) , o tamanho da TDFL varia de 1 cluster para 4 clusters, e no caso de um disco de camada dupla (DL), o tamanho da TDFL varia de 1 a 8 clusters.
No primeiro estágio (estágiol), uma parte das informações de TDFL, um cabeçalhol de TDFL e uma TDFL1 são gravadas em um único cluster na seqüência exemplar mostrada. Na TDDS, informações (TDDS 1) que indicam a posição das informações de gerenciamento de defeito mais recente são gravadas. Na figura 6A, as informações que indicam a posição das informações de gerenciamento de defeito mais recente, por exemplo, o indicador de TDFL, são expressas como Pl como descrito acima. As informações de posição indicadas por esse indicador são o primeiro PSN, isto é, endereço do cluster correspondente. Por exemplo, na figura 6A, o indicador Pl indica a posição do cabeçalhol de TDFL.
No segundo estágio (estágio2) mostrado na figura 6A, TDFL21 e TDFL22 são adicionalmente gravados durante uma operação de atualizar. As informações de gerenciamento de defeitos são gravadas em um estado gravável uma vez na unidade de gravação de um único cluster no disco. Durante a gravação das informações de gerenciamento de defeito no segundo estágio estágio2, TDFL21 e TDFL22 (correspondendo a novas informações de TDFL obtidas durante a operação de atualizar presente), e as informações de TDFL previamente gravadas (TDFLlc que é idêntica à TDFL1), são gravadas juntamente com o cabeçalho2 de TDFL correspondente e TDDS2. Isto é, as informações de TDFL são cumulativamente gravadas em cada estágio de atualizar juntamente com quaisquer informações de TDFL novas. 0 segundo estágio (estágio2) se refere ao método de gravação no caso das informações de lista da área de gerenciamento de defeitos exceder um único cluster, porém é menor do que 2 clusters. Por exemplo, cabeçalho2 de TDFL + TDFLlc + TDFL21 é igual a um único cluster em tamanho. Portanto, quando a TDFL22 é gravada essa TDFL ocupa uma área parcial do segundo cluster sucessivo, e o cabeçalho2 de TDFL contém o conteúdo da TDFLlc, TDFL21 e TDFL22. 0 valor de indicador gravado na TDDS2 mostra que a posição de informações de defeito mais recente P2 é gravada, o PSN de Cabeçalho 2 de TDFL. Uma vez que as informações de gerenciamento de defeitos são cumulativamente gravadas, somente o PSN mais recente é necessário como um indicador. Nessa modalidade, somente um cabeçalho de TDFL e uma TDDS tendo o indicador de TDFL são gerados e gravados em cada estágio.
Em cada estágio, uma classificação para classificar as TDFLs existentes pode ser executada. A classificação pode ser feita com base em certos critérios predeterminados. Por exemplo, as TDFLs podem ser classificadas primeiramente com base em status 1 (vide a figura 5B) e podem ser adicionalmente classificadas com base no primeiro PSN da TDFL. Obviamente, outros critérios podem ser utilizados.
As informações de gerenciamento de defeitos após realização de classificação são mostradas como exemplo no terceiro estágio (estágio3). Aqui, as informações de gerenciamento de defeitos são classificadas de acordo com o PSN da entrada de TDFL e baseado no tipo de entrada de TDFL (status 1) . De ura ponto de vista do segundo estágio (estágio2), a classificação é realizada sob a assunção de que uma nova entrada de TDFL é produzida para ser incluída era uma posição P2x.
Se uma nova entrada de TDFL a ser gravada for produzida, a nova TDFL deve ser gravada refletindo as informações da lista da área defeituosa classificada de acordo com a regra de classificação como descrito acima. 0 terceiro estágio (estágio3) mostra isso. Uma vez que todas as informações de TDFLlc, TDFL21 e TDFL22 são mudadas através de classificação pelo P2x, as informações de lista de área de gerenciamento de defeitos mudadas são gravadas como a TDFL31, TDFL32, etc. e o cabeçalho3 de TDFL correspondendo ao TDFL31, TDFL32, etc. é gravado na frente das informações correspondentes.
Na TDDS3, as informações de posição P3 das informações de gerenciamento de defeito mais recentes são gravadas. A TDFL31 ocupa um único cluster, e a TDFL32 ocupa uma porção menor do que ura único cluster, seguindo a TDFL31. Por conseguinte, no terceiro estágio, as informações de gerenciamento de área defeituosa excedem um único cluster, porém são menores do que 2 clusters.
Em resumo, de acordo com o método de gerenciar informações de defeito em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a primeira modalidade da presente invenção, a TDFL é cumulativamente gravada na unidade de gravação de um único cluster sempre que for atualizado. A TDDS então expressa aposição das informações de gerenciamento de defeito mais recente (TDFL) com somente um indicador. Além disso, no caso das informações de gerenciamento de defeito serem alteradas de acordo com uma regra de classificação, podem lidar adaptavelmente com tal mudança.
Na figura 6A, o cabeçalho de TDFL tem as informações que indicam o número de clusters atualmente utilizados. Isto significa que uma sinalização para representar quantos clusters são utilizados para representar a lista de área de gerenciamento de defeitos pode ser empregada uma vez que o tamanho das informações de gerenciamento de defeitos é variável. Também é possível gravar as informações para representar o número de clusters atualmente utilizados não somente no cabeçalho de TDFL, como também na TDDS. A figura 6B mostra uma tabela que representa a alteração do indicador de TDFL pelos estágios de acordo com a primeira modalidade da presente invenção. Na primeira modalidade, pode ser reconhecido que somente um indicador é necessário para cada estágio.
As figuras 7A e 7B ilustram um método de gerenciar informações de defeito em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a segunda modalidade da presente invenção. De acordo com o método de gerenciar informações de defeito de acordo com a segunda modalidade da presente invenção como mostrado na figura 7A, a TDFL mais recente é repetidamente gravada cumulativamente com a TDFL anterior. Portanto, somente um cabeçalho de TDFL e um indicador de TDFL são utilizados para cada cluster com relação à TDFL dos 1 -4 clusters cumulativamente repetidos (ou 1-8 clusters). A TDFL gravada para cada estágio é igual àquela na primeira modalidade.
Na segunda modalidade, um indicador de TDFL é utilizado para o cluster correspondente com relação ao tamanho de TDFL que aumenta por estágios. Por conseguinte, mesmo se um defeito for identificado durante a gravação do cluster indicado pelo indicador de TDFL P3 no segundo estágio (estágio2), o defeito é superado através de nova gravação somente do cluster que corresponde àquele defeito, isto é, o cluster incluindo ou iniciando com TDFL22. 0 indicador pode ser mudado para apontar para a área regravada. Se for regravado, o defeito pode ser superado através da mudança somente do indicador indicado por P3. Desse modo, a TDMA necessária para a preparação da TDFL pode ser reduzida. A figura 7B mostra uma tabela que representa a mudança do indicador da TDFL à medida que a TDFL é atualizada por estágios de acordo com a segunda modalidade da presente invenção. Na segunda modalidade, oito indicadores podem ser necessários no máximo, e indicadores que não foram utilizados nos respectivos estágios são ajustados em zero. Nesse exemplo, o primeiro indicador de TDFL aponta para o local Pl, local P2 e local P4 nos estágios 1, 2,' 3, respectivaraente. 0 segundo indicador de TDFL aponta para os locais P3 e P4 nos estágios 2 e 3, respectivamente. 0 segundo indicador de TDFL pode indicar uma mudança de indicador do primeiro local de indicador de TDFL ou local anterior, que pode ser devido à regravação de certo cluster devido a um defeito como discutido acima.
As figuras 8A e 8B ilustram um método de gerenciar informações de defeito era ura disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a terceira modalidade da presente invenção. De acordo com o método de gerenciar informações de defeito de acordo com a terceira modalidade da presente invenção como mostrado na figura 8A, a TDFL mais recente é repetidamente gravada cumulativamente com a TDFL anterior em um único cluster, porém a TDFL também é separadamente gravada para cada cluster, e informações de posição da TDFL mais recente são gravadas em cada cluster gravado na TDDS.
No primeiro estágio (estágio 1), é assumido que o cabeçalhol de TDFL e a TDFL1 são gravadas em um único cluster. Na TDDS, as informações que indicam a posição da TDFL mais recente são gravadas, e na figura 8A, isso é expresso como Pl. As informações de posição indicadas por esse indicador são o. primeiro PSN desse cluster, isto é, endereço do cluster correspondente na estrutura de disco óptico. Na figura 8A, o indicador Pl indica a primeira posição do cabeçalhol de TDFL. No caso de um disco SL, a unidade de gravação, por exemplo, 1 cluster, das informações de gerenciamento de defeito podem variar de 1 cluster para 4 clusters, e desse modo 4 indicadores são necessários. No caso de um disco DL, a unidade de gravação das informações de gerenciamento de defeito podem variar até 8 clusters, e até 8 indicadores são necessários.
No segundo estágio (estágio 2) na figura 8A, novas TDFL21 e TDFL22 são adicionalmente gravadas juntamente com a gravação cumulativa de TDFLs anteriores (que é representado como TDFLlc) durante uma operação de atualizar. As informações de gerenciamento de defeitos são gravadas em um estágio gravável uma vez na unidade de gravação de um único cluster no disco óptico do tipo de gravar uma vez. Durante a recordação das informações de gerenciamento de defeitos no segundo estágio(estágio 2), novas TDFL21 e TDFL22 e a TDFLlc cumulativa que é idêntica à TDFLl, são gravadas juntamente com o cabeçalho 2 de TDFL2 correspondente e cabeçalho 3 de TDFL e TDDS2. 0 segundo estágio (estágio 2) se refere ao método de gravação no caso das informações da lista da área de gerenciamento de defeitos exceder um único cluster, porém é menor do que 2 clusters. Por exemplo, o cabeçalho 2 de TDFL + TDFLlc + TDFL21 é igual a um único cluster de dados, e a TDFL22 é portanto gravada ocupando somente uma área parcial do segundo cluster sucessivo. 0 cabeçalho 3 de TDFL correspondente é gravado, e o valor de indicador gravado na TDDS2 mostra que as posições de informações de defeito mais recentes são gravadas e identificadas pelos indicadores de TDFL P2 e P3.
No terceiro estágio (estágio 3), novas TDFL31 e TDFL32 são adicionalmente gravadas juntamente com a gravação cumulativa de TDFLs anteriores (que é representada como TDFL22c) durante a operação de atualizar. As informações de gerenciamento de defeitos são gravadas em uma única gravação na unidade de gravação de um único cluster no disco óptico do tipo de gravar uma vez como descrito acima. Durante a recordação das informações de gerenciamento de defeitos no terceiro estágio (estágio 3), TDFL31 e TDFL32, e a TDFL22c cumulativa que é idêntica à TDFL22, são gravadas juntamente com o cabeçalho 4 de TDFL, cabeçalho 5 de TDFL e TDDS3. 0 cabeçalho 2 de TDFL, a TDFLlc correspondente e a TDFL21 não são recentemente gravadas, porém, as informações que indicam sua posição P2 são gravadas na TDDS3, de modo que uma gravação repetitiva desnecessária é evitada. Portanto, a área de gravação do disco é eficientemente utilizada e espaço disponível para gerenciamento de defeito e gravação é aumentado.
Se as informações de TDFL22c, TDFL31 e TDFL32 excederem um único cluster, porém, forem menores do que 2 clusters, isto é, a combinação do cabeçalho 4 de TDFL + TDFL22c + TDFL31 for igual a um único cluster, a TDFL32 é gravada ocupando uma área parcial do segundo cluster sucessivo juntamente com o cabeçalho 5 de TDFL correspondente. 0 valor de indicador gravado na TDDS3 mostra que as posições de informações de defeito mais recentes, P2, P4 e P5 são gravadas no estágio 3.
As informações de TDFL mais recentes podem ser obtidas utilizando P2, P4 e P5, por exemplo, as posições das informações de gerenciamento de defeitos mais recentes gravadas na TDDS3. As informações de cabeçalho 2 de TDFL, TDFLlc e TDFL21 podem ser obtidas utilizando as informações de posição P2 indicadas pelo primeiro indicador de TDFL, e as informações de cabeçalho 4 de TDFL, TDFL22c e TDFL31 podem ser obtidas utilizando as informações de posição P4 indicadas pelo segundo indicador de TDFL. As informações de cabeçalho 5 de TDFL e TDFL32 podem ser obtidas utilizando as informações de posição P5 indicadas pelo terceiro indicador de TDFL.
Como discutido nas modalidades anteriores, uma classificação pode ser executada para classificar TDFLs em alguma ordem em cada estágio. Por exemplo, no quarto estágio (estágio 4), as informações de gerenciamento de defeitos após a classificação ser realizada, são mostradas. Aqui, as informações de gerenciamento de defeitos são classificadas de acordo com o PSN da entrada de TDFL e com base no tipo de entrada de TDFL (status 1). De um ponto de vista do terceiro estágio (estágio 3), a classificação é realizada sob a assunção de que uma nova entrada de TDFL é produzida para ser incluída na posição P2x.
Uma vez que todas as informações de TDFLlc, TDFL21, TDFL22c, TDFL31 e TDFL32 são mudadas através da classificação pela P2x, as informações de TDFL mudadas são gravadas como a TDFL41, TDFL42 e TDFL42, e o cabeçalho 6 de TDFL, cabeçalho 7 de TDFL e cabeçalho 8 de TDFL, correspondentes, são gravados juntamente com uma nova TDDS4. Aqui, na TDDS4, P6, P7 e P8, que são informações de posição das informações de gerenciamento de defeito mais recentes, são gravadas. O cabeçalho 6 de TDFL e TDFL41 ocupam um único cluster, o cabeçalho 7 de TDFL e a TDFL42 ocupam um único cluster, e o cabeçalho 8 de TDFL e a TDFL43 ocupam menos do que um único cluster. Por conseguinte, no quarto estágio, as informações de gerenciamento de área de defeitos excede dois clusters, porém é menor do que três clusters.
Em resumo, de acordo com o método de gerenciar informações de defeitos em um disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a terceira modalidade da presente invenção, o cabeçalho de TDFL e a TDFL são gravadas na unidade de gravação de um único cluster sempre que a TDFL for atualizada. Se a TDDS expressar a posição das informações de gerenciamento de defeito mais recentes, e a gravação for executada em excesso de um único cluster, gravações repetidas são minimizadas utilizando as informações que representam a posição das informações de gerenciamento de defeitos mais recentes e as informações de gerenciamento de defeitos mais recentes podem ser eficiente e imediatamente obtidas.
Enquanto isso, na figura 8A, as informações de gerenciamento de defeitos podem ser obtidas quando o cabeçalho correspondente tiver informações com relação ao conteúdo de TDFL correspondente. Alternativamente, as informações de gerenciamento de defeitos podem ser obtidas quando o cabeçalho de TDFL mais recente inclui todas as informações e TDFL. Por exemplo, no segundo estágio (estágio 2), o cabeçalho 2 de TDFL tem somente informações com relação ao conteúdo da TDFLlc e TDFL21, e o cabeçalho 3 de TDFL tem somente informações sobre o conteúdo da TDFL22. Portanto, todas as informações relacionadas à área defeituosa correspondente podem ser obtidas pelo processamento de todas as informações de entrada de todos os cabeçalhos indicados pela posição das informações de gerenciamento de defeitos mais recentes.
Entretanto, o cabeçalho 5 de TDFL inclui informações sobre todo o conteúdo das TDFLlc, TDFL21, TDFL22c, TDFL31 e TDFL32. Nesse caso, todas as informações referentes à área defeituosa inteira podem ser obtidas pelo conteúdo somente do cabeçalho de TDFL mais recente.
Na figura 8A, o cabeçalho de TDFL tem também informações que indicam o número de clusters atualmente utilizados. Uma sinalização para representar quantos clusters são utilizados para representar a lista de área de gerenciamento de defeitos pode ser empregada. Uma vez que o tamanho das informações de gerenciamento de defeitos é variável, essa sinalização pode ser particularmente útil. Também é possível gravar informações que representam o número de clusters atualmente utilizados não somente no cabeçalho de TDFL, como também na TDDS. A figura 8B mostra um exemplo da tabela que representa a mudança dos indicadores de TDFL por estágios de acordo com a terceira modalidade da presente invenção. Na terceira modalidade, oito indicadores são necessários no máximo, e os indicadores que não são utilizados nos respectivos estágios são ajustados em zero. 0 conceito da figura 8B é idêntico àquele da figura 7B e desse modo não é discutido em detalhes adicionais a seguir.
As figuras 9A e 9B ilustram um método de gerenciar informações de defeito em ura disco óptico do tipo de gravar uma vez de acordo com a quarta modalidade da presente invenção. De acordo com o método de gerenciar informações de defeito de acordo com a quarta modalidade da presente invenção como mostrado na figura 9A, a TDFL mais recente é repetidamente gravada cumulativamente com a TDFL anterior em um cluster. Entretanto, a TDFL é separadamente gravada para cada cluster, e informações de posição da TDFL mais recente são gravadas em cada cluster gravado na TDDS. Em comparação com a terceira ou outras modalidades anteriores, o cabeçalho que indica a TDFL não é colocado na borda avançada da TDFL, porém é colocado na TDDS. Isto pode evitar regras complicadas para gravar as informações de cabeçalho de TDFL pela gravação do cabeçalho de TDFL na TDDS. Nessa configuração, um cabeçalho de TDFL pode não ser necessário para cada cluster, porém pode ser fornecido uma vez em cada estágio de atualizar. A TDDS é tipicamente composta de 2048 bytes, o cabeçalho de TDFL de aproximadamente 60 bytes, e as informações de TDDS existentes normalmente não excedem 100 bytes. Por conseguinte, não há problema na execução da gravação na TDDS. A figura 9B mostra um exemplo de uma tabela que representa a mudança do indicador da TDFL por estágios de acordo com a quarta modalidade da presente invenção. Na quarta modalidade, oito indicadores são necessários no máximo do mesmo modo que a terceira modalidade, e os indicadores que não são utilizados nos respectivos estágios são ajustados em zero.
Aplicabilidade industrial Como descrito acima, é revelado um padrão unificado de gerenciamento para informações de defeito, Será evidente para aqueles versados na técnica que diversas modificações e variações podem ser feitas na presente invenção sem se afastar do espírito ou âmbito da invenção. Desse modo, pretende-se que a presente invenção cubra as modificações e variações da presente invenção dede que estejam compreendidas no âmbito das reivindicações apensas e seus equivalentes.

Claims (12)

1. Método para gerenciar um meio de· gravação uma vez, o meio de gravação incluindo uma área sem dados tendo uma área de gerenciamento de defeitos finais e incluindo uma área de dados tendo uma área de dados de usuário e uma área de reserva, caracterizado pelo fato de que compreende as etapas de: gravar uma lista de defeitos para gerenciamento de uma área defeituosa existindo r.a área de dados ern uma ou mais unidades de gravação de uma área de gerenciamento de defeitos temporários atribuída a pelo menos uma da área sem dados e da área de reserva, e gravar informação de posição da lista de defeitos na área de gerenciamento de defeitos temporários, a informação de posição contendo uma pluralidade de indicadores de lista de defeitos, em que um ou mais dentre a pluralidade de indicadores de lista de defeitos respectivamente indica uma posição da uma ou mais unidades de gravação contendo a lista de defeitos, e em que outros indicadores de lista de defeitos da pluralidade de indicadores de lista de defeitos correspondendo a unidades de gravação as quais não contêm a lista de defeitos são configurados para um valor de 0; e se uma unidade de gravação dentre as uma ou mais unidades de gravação é defeituosa, gravar uma lista de defeitos atualizada sendo gravada na unidade de gravação defeituosa na uma outra unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários, e gravar informação de posição atualizada na área de gerenciamento de defeitos temporários, a informação de posição atualizada contendo um indicador de lista de defeitos o qual é mudado para indicar uma posição da uma outra unidade de gravação em vez de um valor de C se a uma outra unidade de gravação contém a lista de defeitos atualizada.
2* Método, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que cada unidade de gravação na área de gerenciamento de defeitos temporários tem um tamanho de um cluster,
3. Método, de acordo com. a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a informação de posição é gravada na última unidade de gravação dentre a uma ou mais unidades de gravação contendo a lista de defeitos.
4. Método, de acordo com a reivindicação 3, caracterizado pelo fato de que a informação de posição contém um total de 8 indicadores de lista de defeitos*
5. Método, de acordo· com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que adieiona Imente compreende: gravar um meio de terminação de lista de defeitos para indicar uma terminação da lista de defeitos na área de gerenciamento de defeitos temporários, o meio de terminação de lista de defeitos sendo gravado entre a lista de defeitos e a informação de posição*
6. Método, de acordo com. a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a área de gerenciamento de defeitos temporários inclui uma cu mais unidades de atualização, uma das uma ou mais unidades de atualização incluindo ambas a lista de defeitos atualizada e a informação de posição atualizada, cada uma das uma ou mais unidades de atualização incluindo Informação de posição correspondente a qual contém pelo menos um indicador de lista de defeito.
7. Método, de acordo com. ã reivindicação 6, caracterizado pelo fato de que a informação de posição está localizada no último setor de cada uma das uma ou mais u n i d a de s de a t u a 1 i z a ç à o .
8. Método, de acordo com a reivindicação 6, caracterizado pelo fato de que pelo menos uma das uma ou mais unidades de atualização inclui informação de posição contendo um indicador de lista de defeito para indicar uma posição da lista de defeitos mais recente gravada.
9. Método, de acordo com a reivindicação o, caracterizado pelo fato de que as unidades de atualização são localizadas de maneira sequencial na área de gerenciamento de de feitos temporários.
10* Aparelho para gerenciar um meio de gravação uma vez, o meio de gravação incluindo unia área sem dados tendo uma área de gerenciamento de defeitos finais e incluindo uma área de dados tendo uma área de dados de usuário e uma área de reserva, caracterizado pelo fato de que compreende: um captor configurado para gravar dados ao meio de gravação; e um microprocessador, operativamente acoplado ao captor, configurado para controlar o captor para: gravar uma lista de defeitos para gerenciamento de uma área defeituosa existindo na área de dados em uma ou mais unidades de gravação de uma área de gerenciamento de defeitos temporários atribuída a pelo menos uma da área sem dados e da área de reserva, e gravar informação de posição da lista de defeitos na área de gerenciamento de defeitos temporários, a informação de posição contendo uma pluralidade de indicadores de lista de defeitos, em que um ou mais dentre a pluralidade de indicadores de lista de defeitos respectivamente indica uma posição da uma ou mais unidades de gravação contendo a lista de defeitos, e em que outros indicadores de lista de defeitos da pluralidade de indicadores de iista de defeitos correspondendo a unidades de gravação as quais não contêm a lista de defeitos são configurados para um valor de D; e se uma unidade de gravação dentre as uma ou mais unidades de gravação é defeituosa, gravar uma lista de defeitos atualizada sendo gravada na unidade de gravação defeituosa r.a uma outra unidade de gravação da área de gerenciamento de defeitos temporários, e gravar informação de posição atualizada na área de gerenciamento de defeitos temporários, a informação de posição atualizada contendo um indicador de lista de defeitos o qual é mudado para indicar uma posição da uma outra unidade de gravação em vez de um valor de 0 se a uma outra unidade de gravação contém a lista de defeitos atuali zada.
11. Aparelho, de acordo com a reivindicação 10, caracterizado pelo fato de que o microprocessador é configurado para controlar o captor para gravar cada unidade de gravação na área de gerenciamento de defeitos temporários tem um tamanho de um c1uster.
12. Aparelho, de acordo com a reivindicação 11, caracterizado polo fato de que o microprocessador é configurado para controlar o captor para gravar, na área de gerenciamento de defeitos finais, a lista de defeitos mais recente gravada na área de gerenciamento de defeitos temporários quando nenhuma gravação adicional está sendo feita no meio de gravação.
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