[go: up one dir, main page]

NO842440L - Spektrometer - Google Patents

Spektrometer

Info

Publication number
NO842440L
NO842440L NO842440A NO842440A NO842440L NO 842440 L NO842440 L NO 842440L NO 842440 A NO842440 A NO 842440A NO 842440 A NO842440 A NO 842440A NO 842440 L NO842440 L NO 842440L
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
secondary electron
monochromator
calculator
operating voltage
spectrometer
Prior art date
Application number
NO842440A
Other languages
English (en)
Inventor
Hermann Ritzl
Original Assignee
Hermann Ritzl
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hermann Ritzl filed Critical Hermann Ritzl
Publication of NO842440L publication Critical patent/NO842440L/no

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4228Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
    • G01J2001/4233Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation with selection of detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J2003/283Investigating the spectrum computer-interfaced
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/67Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

Oppfinnelsen angår et spektrometer omfattende en prøve-eksiterende lyskilde, en motorisk stillbar monokromator, en til en innstillbar driftsspenningskilde tilkoplet sekundærelektr'ron-multiplikator med en etter-innkoplet A/D-omformer og en regnemaskin som lagrer A/D-omformerens utgangssignaler og den tilhørende bølgelengde, og som styrer monokromatorens stilling og etterregulerer sekundærelektron-multiplikatorens driftsspenningskilde ifølge en lagret forbindelse mellom driftsspenningen og spektrometerets spektralfølsomhet ved den på monokromatoren innstilte bølgelengde av strålingen.
Et sådant spektrometer er kjent fra US-PS 4 373 813 og kan eksempelvis benyttes til å bestemme prøvens prosentuelle innhold av forskjellige kjemiske elementer, da sekundærelektron-multiplikatorens utgangssignalnivå med monokromatoren innstilt på en spektrallinje som er karakteristisk for et bestemt kjemisk element, er et direkte mål på den i prøven forhånden-værende mengde av vedkommende element.
Da bredden av en spektrallinje bare beløper seg til en trehundretusendel av det spektrum som ligger mellom ca. 2000
og 6000 Å, er det for sådanne spektrometre nødvendig med monokromatorer med høy oppløsning for å kunne adskille innbyrdes nærliggende linjer fra hverandre og entydig tilordne en bestemt bølgelengde til disse. Passende monokromatorer med en opp-løsning på opptil 1,6 millioner punkter (referert til en drei-ning på 360°) er tilgjengelige på markedet. Fra US-PS 3 868 499 er det også allerede kjent å la monokromatoren i et spektrometer kjøre gjennom spektret styrt av en regnemaskin, for hvilket formål monokromatoren er utstyrt med en skrittmotor og en stillingsgiver.
For visse anvendelser av spektrometrien, eksempelvis for spektralanalytisk bestemmelse av sammensetningen av en metallur-gisk prøve, er det nødvendig med meget store måleområder fra f.eks. 0,001% til 100% innhold med samtidig høy målenøyaktighet på 0,5 promille (referert til absoluttverdien). Med spektro-meteret av den innledningsvis angitte typen kan ét sådant måleområde ikke dekkes og en sådan nøyaktighet ikke oppnås, da sekundærelektron-multiplikatoren under hensyntagen til den nødvendige støyavstand ved en gitt driftshøyspenning (referert til et bestemt spektralområde) leverer et utnyttbart utgangs signal høyst over området på tre tierpotenser altså spenner over et måleområde fra f.eks. 0,01% til 10%.
Formålet med oppfinnelsen er å tilveiebringe et spektrometer av den innledningsvis angitte type som tillater en tids-besparende og helautomatisk opptagelse av det av prøven utstrålte spektrum med et forstørret måleområde og en øket målenøyaktighet.
Ovennevnte formål løses ifølge oppfinnelsen ved at det
i strålebanen mellom monokromatoren og sekundærelektron-multiplikatoren er anordnet en stråledeler som tilfører en liten brøkdel av strålingsenergien til en andre sekundærelektron-multi^plikator som likeledes er koplet til en via regnemaskinen etter-regulerbar driftsspenningskilde at utgangene fra de to sekundærelektron-mul.tlplikatorer er forbundet med A/D-omformerens inngang via en styrbar, elektrisk bryter hvis styreinngang er forbundet med regnemaskinen, og at regnemaskinen lar monokromatoren kjøre gjennom det spektrum som skal undersøkes, flere ganger kontinuerlig i vekslende retning, og ut fra de aktuelle, lagrede enkeltverdier av strålingsintensiteten etter fratrekk av bak-grunnsstøyen regner ut en middelverdi.
Ved hjelp av anvendelsen av to sekundærelektron-multiplikatorer oppnås det herved et større måleområdet på ca. seks tierpotenser, mens den gjentatte gjennomkjøring av det undersøkte spektrum og den etterfølgende middelverdidannelse sikrer den høye målenøyaktighet. Denne kan også økes ytterligere ved at flere linjer måles pr. element og at det ved middelverdidannelsen tas hensyn til at de enkelte måleverdier må ha en gaussisk for-deling eller normalfordeling. På denne måte kan spesielt også meget små innhold måles, altså meget svake linjer som bare hever seg meget lite over bakgrunnen, altså har en meget liten støy-avstand.
Oppfinnelsen skal beskrives nærmere i det følgende under henvisning til tegningen hvis ene figur viser et emisjonsspekt-rometer ifølge oppfinnelsen i en som eksempel valgt utførelses-form som er skjematisk forenklet i et blokkskjema.
På tegningen eksiterer eller stimulerer en lyskilde 1, eksempelvis en glimutladningslampe, en prøve 2. Den utsendte stråling går gjennom en monokromator 3 som virker som kontinuer lig avstembart filter. For dette formål driver en av en regnemaskin styrt skrittmotor 4 monokromatorens 3 bevegelige gitter hvis stilling tilbakemeldes til regnemaskinen 9 via en stillingsgiver 3a.
Den fra monokromatoren 3 uttredende stråling treffer en første sekundærelektron-mulitplikator 5a. I strålebanen ligger en stråledeler 10 som eksempelvis avbøyer en tusendel av strålingen i retning mot en andre sekundærelektron-multiplikator 5b hvis akse forløper vinkelrett på aksen til den første sekundærelektron-multiplikator 5a. Stråledeleren 10 kan hensiktsmessig bestå av en tynn, blank tråd.
Sekundærelektron-multiplikatorene ~5a og 5b er koplet til separate høyspenningskilder 6a og 6b. Den fra disse høyspennings-kilder avgitte driftsspenningsverdi fastlegger følsomhetsområdet for vedkommendesekundærelektron-multiplikator. Høyspenningskil-dene 6a hhv. 6b er derfor slik innstilt at sekundærelektron-multiplikatoren 5a eksempelvis avgiret utgangssignal fra 0,01 til 10
V svarende til et innhold på 0,01 til 100%, og sekundærelektron-multiplikatoren 5b avgir et utgangssignal fra 0,01 til 10 V svarende til et innhold fra 0,001% til 0,1%. Da sekundærelektron-multiplikator ene haren følsomhet som er avhengig av den innfallende lysbølgelengde, kan de fra høyspenningskildene til de tilhørende sekundærelektron-multiplikatorer avgitte drifts-spenninger styres via regnemaskinen 9. Sammenhengen mellom bølge-lengden og sekundærelektron-multiplikatorenestilhørende følsom-het er for dette formål lagret i regnemaskinen 9.
Sekundærelektron-multiplikatorenes 5a og 5b signalut-ganger er forbundet med to adskilte innganger til en elektronisk bryter 7 hvis utgang er forbundet med regnemaskinen 9 via en A/D-omformer 8. Bryteren 7 gjennomkopler i hvert tilfelle utgangen fra den sekundærelektron-multiplikator hvis utgangssignal har den høyeste verdi, uten å overskride den tillatte maksimalverdi på eksempelvis 10 V, over hvilken metnings- eller overstyringsområdet begynner. Over en ledning 7a mottar regnemaskinen 9 en informasjon om den øyeblikkelige stilling av bryteren 7 såfremt denne automatisk avgjør hvilken utgang av sekundærelektron-multiplikatorene som gjennomkoples til A/D-omforme-ren. En annen mulighet består i å la denne avgjørelse treffes av rengemaskinen 9 som da over ledningen 7a bringer bryteren 7 i den tilsvarende stilling. I dette område er selvsagt også andre elektroniske løsninger mulige. Spesielt kan det til sekundærelektron-multiplikatorenes 5a, 5b utganger være tilkoplet separate A/D-omformere som på sin side begge er forbundet med regnemaskinen 9 som tar avgjørelse angående hvilket omformerutgangssignal som skal viderebearbeides.
I regnemaskinen 9 lagres de målte intensitetsverdier i forbindelse med de tilhørende bølgelengder, og nærmere bestemt de separate lagringsplasser eller lagerceller ved gjentatt gjennomkjøring eller gjennomgang av spekt Samtidig lagres den til de målte spektrallinjer hørende verdi av underlaget eller bakgrunnen. De lagrede verdier blir etter avslutning av måleprogrammet omregnet til middelverdier og disse derpå omregnet til prosentverdier som deretter f.eks. blir utskrevet.

Claims (2)

1. Spektrometer omfattende en prøveeksiterende lyskilde, 'en motorisk stillbar monokromator, en til en innstillbar driftsspenningskilde tilkoplet sekundærelektron-mulitplikator med en etter-innkoplet A/D-omformer og en regnemaskin som lagrer A/D-omformerens utgangssignaler og den tilhørende bølgelengde, og som styrer monokromatorens stilling og etterregulerer sekundærelektron-multiplikatorens driftsspenningskilde ifølge en lagret forbindelse mellom driftsspenningen og spektrometerets spektralfølsomhet ved den på monokromatoren innstilte bølge-lengde av strålingen, karakterisert ved at det i strålebanen mellom monokromatoren (3)og sekundærelektron-multiplikatoren(5a) er anordnet en stråledeler (10)som tilfører en liten brøkdel av strålingsenergien til en andre sekundærelektron-multiplikator (5b)som likeledes er koplet til en via regnemaskinen(9)etterregu-lerbar driftsspenningskilde (6b), at utgangen fra de to sekundærelektron-multiplikator (5a, 5b)er forbundet med A/D-omformerens (8)inngang via en styrbar, elektrisk bryter (7)hvis styreinngang er forbundet med regnemaskinen (9),og at regnemaskinen (9) lar monokromatoren (3)kjøre gjennom det spektrum som skal undersøkes, flere ganger kontinuerlig i vekslende retning, og ut fra de aktuelle, lagrede enkeltverdier av strålingsintensiteten etter fratrekk av bakgrunnsstøyen regner ut en middelverdi.
2.. Spektrometer ifølge krav 1, karakterisert ved at stråledeleren 10 består av en tynn tråd.
NO842440A 1983-07-15 1984-06-18 Spektrometer NO842440L (no)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3325659 1983-07-15

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NO842440L true NO842440L (no) 1985-01-16

Family

ID=6204115

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO842440A NO842440L (no) 1983-07-15 1984-06-18 Spektrometer

Country Status (15)

Country Link
US (1) US4609289A (no)
JP (1) JPS6070319A (no)
AU (1) AU2979084A (no)
BE (1) BE899994A (no)
BR (1) BR8403039A (no)
CA (1) CA1229239A (no)
CH (1) CH665026A5 (no)
FR (1) FR2549222B1 (no)
GB (1) GB2143319B (no)
IN (1) IN160716B (no)
IT (1) IT1175548B (no)
NL (1) NL8401933A (no)
NO (1) NO842440L (no)
SE (1) SE8403318L (no)
ZA (1) ZA844681B (no)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06100500B2 (ja) * 1985-06-26 1994-12-12 株式会社島津製作所 分光測定装置
US4907876A (en) * 1987-05-08 1990-03-13 Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha Examination apparatus for measuring oxygenation in body organs
JP2002139380A (ja) * 2000-11-02 2002-05-17 Hitachi Ltd 分光光度計
JP2003232681A (ja) * 2002-02-07 2003-08-22 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計
US7414717B2 (en) * 2003-10-21 2008-08-19 Fastmetrix, Inc. System and method for detection and identification of optical spectra

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3531202A (en) * 1966-11-14 1970-09-29 Baird Atomic Inc Spectrometer readout system
US3554647A (en) * 1968-12-27 1971-01-12 Nasa Spectroscope equipment using a slender cylindrical reflector as a substitute for a slit
US3967113A (en) * 1974-12-05 1976-06-29 Baxter Laboratories, Inc. Wavelength-corrected spectrofluorometer
JPS576989Y2 (no) * 1975-07-22 1982-02-09
US4260255A (en) * 1979-10-22 1981-04-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army High energy laser beam sampling meter
US4373813A (en) * 1981-01-07 1983-02-15 Beckman Instruments, Inc. Control of system energy in a single beam spectrophotometer

Also Published As

Publication number Publication date
GB2143319A (en) 1985-02-06
AU2979084A (en) 1985-01-17
FR2549222B1 (fr) 1989-03-10
JPS6070319A (ja) 1985-04-22
BE899994A (fr) 1984-10-15
US4609289A (en) 1986-09-02
NL8401933A (nl) 1985-02-01
ZA844681B (en) 1985-02-27
SE8403318D0 (sv) 1984-06-20
IN160716B (no) 1987-08-01
SE8403318L (sv) 1985-01-16
CH665026A5 (de) 1988-04-15
IT1175548B (it) 1987-07-01
IT8421565A0 (it) 1984-06-22
GB2143319B (en) 1987-01-07
GB8415954D0 (en) 1984-07-25
CA1229239A (en) 1987-11-17
FR2549222A1 (fr) 1985-01-18
BR8403039A (pt) 1985-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0866961B1 (en) Improved spectrophotometer
US4180327A (en) Spectrophotometers with digital processing
US4253765A (en) Multi-wavelength spectrophotometer
JPS6116010B2 (no)
US20110112386A1 (en) Noninvasive alcohol sensor
NO842440L (no) Spektrometer
US3924950A (en) Atomic absorption spectroscopy with background correction
JP6791214B2 (ja) 分光分析装置
US5801829A (en) Method for measurment and compensation of stray light in a spectrometer
US3689158A (en) Atomic absorption analyzer compensated for background absorption
US4669872A (en) Temperature measuring device
KR900005331B1 (ko) 무기질원소 농도측정장치
GB2070765A (en) Spectrophotometry
Lundberg et al. Simultaneous determination of manganese, cobalt, and copper with a computer-controlled flameless atomic absorption spectrophotometer
US3715163A (en) Apparatus for simultaneous multielement analysis by atomic fluorescence spectroscopy
JP3102485B2 (ja) 分光光度計
US7692790B2 (en) Grating spectrometer system and method for the acquisition of measured values
JP7241021B2 (ja) Atr分光計及びサンプルの化学組成を分析する方法
RU2035045C1 (ru) Устройство для безреактивного измерения содержания общего билирубина в крови
AU730982B2 (en) Improved spectrophotometer
RU2065166C1 (ru) Устройство для определения содержания гемоглобина в пробах крови
JPS6073407A (ja) 膜厚モニタ
JP2509886B2 (ja) 光電子放出閾値測定装置
McGeorge et al. Signal-to-noise considerations for rapid scan atomic spectrometry with an inductively coupled plasma
JP2000009645A (ja) 発光分光分析装置