NL8702474A - Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. - Google Patents
Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8702474A NL8702474A NL8702474A NL8702474A NL8702474A NL 8702474 A NL8702474 A NL 8702474A NL 8702474 A NL8702474 A NL 8702474A NL 8702474 A NL8702474 A NL 8702474A NL 8702474 A NL8702474 A NL 8702474A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- ray
- segments
- detector device
- width
- ray detector
- Prior art date
Links
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 8
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
* * PHN 12.287 1 N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven.
Röntgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust röntgenanalyse apparaat.
De uitvinding heeft betrekking op een röntgenlijnendetector-inrichting, omvattende een reeks evenwijdig opgestelde vastestofdetectorelementen.
Een dergelijke röntgenlijnendetector-inrichting is 5 bekend uit de Nederlandse octrooiaanvrage 8 300 419. In figuur 4c van deze publicatie is een röntgenlijnendetector-inrichting van de zojuist genoemde soort getoond waarbij de vastestofdetectorelementen elk een gelijkblijvende breedte, maar onderling verschillende breedten hebben.
Voorts zijn de vastestoffendetectorelementen selectief in twee groepen 10 doorverbonden, teneinde achtergrondstroom en donkerstroom te kunnen elimineren en piekverschuiving te kunnen constateren.
De onderhavige uitvinding beoogt te voorzien in een röntgenlijnendetector-inrichting, waarmee naast rechte röntgenlijnen ook gekromde röntgenlijnen met optimale intensiteit en optimaal 15 scheidend vermogen kunnen worden gedetecteerd.
De uitvinding voorziet hiertoe in een röntgenlijnendetector-inrichting van de in de aanhef genoemde soort, die het kenmerk heeft, dat de vastestofdetectorelementen even breed zijn en elk identiek zijn gesegmenteerd in een aantal naburige afzonderlijke 20 segmenten, waarvan een centraal segment in zijn middelbereik een breedte heeft die die van het vastestofdetectorelement benadert en in zijn eindbereiken een wezenlijk kleinere breedte heeft en de overige segmenten in hun eindbereiken een wezenlijk grotere breedte hebben dan die in hun middenbereik.
25 Voorts voorziet de uitvinding in een röntgenanalyse apparaat met een röntgenbron, een objectdrager, een röntgenlijnendetector-inrichting en een met de röntgendetector-inrichting verbonden signaalverwerkingsinrichting.
Ook het röntgenanalyse apparaat van de zo net genoemde 30 soort is bekend uit de eerder genoemde publicatie.
Met hetzelfde oogmerk als hiervoor genoemd is het röntgenanalyse apparaat van de genoemde soort volgens de uitvinding 8702474
V
* PHN 12.287 2 gekenmerk, doordat de röntgenlijnendetector-inrichting er een volgens de uitvinding is en dat de signaalverwerkings-inrichting afhankelijk van de afbuighoek van de röntgenstraal van de röntgenbron naar de objectiefdrager selectief de signalen van naburige segmenten van de 5 röntgenlijnendetector-inrichting combineert.
Net zoals in de genoemde publicatie kan het röntgenanalyse apparaat zijn belichaamd in een spectrometer of een diffractometer, waarbij de röntgenlijnen respectievelijk spectraallijnen of diffractielijnen zijn.
10 De uitvinding zal nu nader worden toegelicht aan de hand van de tekening, waarin:
Figuur 1 een aantal mogelijke röntgenlijnen laat zien; en
Figuur 2 een deel van de röntgenlijnendetector-15 inrichting volgens de uitvinding laat zien, alsmede zeer vereenvoudigd een deel van de röntgenanalyse-inrichting, waarbij voor de overige samenstellende delen wordt verwezen naar de genoemde publicatie.
Wanneer men met gebogen, focusserende optieken werkt, ontstaan er röntgenlijnen die afhankelijk van de afbuighoek Θ van de 20 door de (niet getoonde) röntgenbron uitgezonden röntgenstraal naar een (niet getoonde) objectdrager in verschillende richtingen gekromd kunnen zijn. In figuur 1 zijn drie types röntgenlijnen aangegeven, namelijk van links naar rechts a, b en c, waarbij respectievelijk Θ groter dan, gelijk aan, en kleiner dan ïï/4 is.
25 Röntgenlijn c is ook in figuur 2 getekend. Verder is in figuur 2 een deel van een reeks evenwijdig opgestelde even lange vastestofdetectorelementen A-D getoond, die bijvoorbeeld door silicium dioden worden gevormd. De vastestofelementen A-D zijn hier even breed en zijn elk identiek gesegmenteerd in een aantal naburige afzonderlijke 30 segmenten, respectievelijk 1-3, 4-6, 7-9 en 10-12, waarvan een centraal segment, in dit geval respectievelijk 2, 5, 8 en 11 in zijn middenbereik een breedte heeft die die van het vastestofdetectorelement, respectievelijk A-D benadert en in zijn eindbereiken een wezenlijk kleinere breedte heeft. De overige segmenten respectievelijk 1 en 3, 4 35 en 6, 7 en 9 en 10 en 12 hebben in hun eindbereiken een wezenlijk grotere breedte dan in hun middenbereik. Zoals in figuur 2 is getoond kunnen de eindbereiken van alle segmenten althans bij benadering een 8702474 PHN 12.287 3 4 gelijke breedte hebben.
Aldus kan een röntgenlijn van het type c met optimaal scheidend vermogen en een optimale intensiteit worden opgemeten door de segmenten 6, 7 en 8 parallel te schakelen, ofwel de daarvan afkomstige 5 signalen te combineren, bijvoorbeeld optellen. Voor een röntgenlijn van het type b kunnen segment 7, 8 en 9 worden gecombineerd, voor type a segmenten 8, 9 en 10.
Meestal zijn de röntgenlijnprofiel niet zo abrupt als hier is voorgesteld, maar is een Gauss-functie-vormige verdeling 10 aanwezig. Bij een opname van een röntgenlijn van bijvoorbeeld type c zal men in dat geval niet alleen de segmenten 6, 7 en 8 combineren, maar ook 3, 4 en 5 en 9, 10 en 11. Het is niet noodzakelijk steeds drie segmenten 1-12 te combineren.
In figuur 2 is verder een signaalverwerkingsinrichting 20 15 getoond die bij voorkeur is voorzien van een digitaal-naar-analoog omzetter 21 om de van de segmenten 1-12 afkomstige signalen te digitaliseren en dan geschikt selectief te combineren. Bij een aftasting van een spectrum of een diffractogram bijvoorbeeld kan de signaalverwerkingsinrichting 20 ervoor zorgen dat de relevante signalen 20 van de segmenten 1-12 worden gecombineerd door rekening te houden met de faseverschillen van de opeenvolgende metingen. Verder kan de combinatie van de signalen vanaf de segmenten 1—12 afhankelijk van de afbuighoek Θ worden gemaakt, waardoor men continu van type a naar type c gaat.
87 0 2.47 4
Claims (4)
1. Röntgenlijnendetector-inrichting, omvattende een reeks evenwijdig opgestelde vastestofdetectorelementen, met het kenmerk, dat de vastestofdetectorelementen even breed zijn en elk identiek zijn gesegmenteerd in een aantal naburige afzonderlijke segmenten, waarvan 5 een centraal segment in zijn middenbereik een breedte heeft die die van het vastestofdetectorelement benadert en in zijn eindbereiken een wezenlijk kleinere breedte heeft en de overige segmenten in hun eindbereiken een wezenlijk grotere breedte hebben dan die in hun middenbereik. 10
2. Röntgenlijnendetector-inrichting volgens conclusie 1, met het kenmek, dat alle segmenten in hun eindbereiken een althans bij benadering gelijke breedte hebben.
3. Röntgenanalyse apparaat met een röntgenbron, een objectdrager, een röntgenlijnendetector-inrichting en een met de 15 röntgenlijnendetector-inrichting verbonden signaalverwerkingsinrichting, met het kenmerk, dat de röntgenli jnendetector-inrichting er een volgens conclusie 1 of 2 is en dat de signaalverwerkings-inrichting afhankelijk van de afbuighoek van de röntgenstraal van de röntgenbron naar de objectiefdrager 20 selectief de signalen van naburige segmenten van de röntgenlijnendetector-inrichting combineert.
4. Röntgenanalyse apparaat volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat de signaalverwerkings-inrichting een analoog-naar-digitaalomzetter omvat voor, voorafgaand aan het combineren, 25 digitaliseren van de segmentsignalen. 8702474
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8702474A NL8702474A (nl) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. |
| DE8888202186T DE3865166D1 (de) | 1987-10-16 | 1988-10-03 | Roentgenliniendetektor-anordnung sowie ein mit einer derartigen anordnung ausgeruestetes roentgenanalysegeraet. |
| EP88202186A EP0312156B1 (en) | 1987-10-16 | 1988-10-03 | X-ray line detector device and x-ray analysis apparatus comprising such a device |
| US07/252,952 US4956855A (en) | 1987-10-16 | 1988-10-03 | X-ray line detector device and X-ray analysis apparatus comprising such a device |
| JP63256046A JPH01134292A (ja) | 1987-10-16 | 1988-10-13 | Ｘ線検出装置およびこのような装置を有するｘ線分析装置 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8702474 | 1987-10-16 | ||
| NL8702474A NL8702474A (nl) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8702474A true NL8702474A (nl) | 1989-05-16 |
Family
ID=19850781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8702474A NL8702474A (nl) | 1987-10-16 | 1987-10-16 | Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4956855A (nl) |
| EP (1) | EP0312156B1 (nl) |
| JP (1) | JPH01134292A (nl) |
| DE (1) | DE3865166D1 (nl) |
| NL (1) | NL8702474A (nl) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5105087A (en) * | 1990-11-28 | 1992-04-14 | Eastman Kodak Company | Large solid state sensor assembly formed from smaller sensors |
| KR102056556B1 (ko) | 2016-09-30 | 2019-12-16 | 가부시키가이샤 리가쿠 | 파장 분산형 형광 x선 분석 장치, 및 그것을 사용하는 형광 x선 분석 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8300419A (nl) * | 1983-02-04 | 1984-09-03 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat. |
| US4698131A (en) * | 1985-12-13 | 1987-10-06 | Xerox Corporation | Replaceable image sensor array |
-
1987
- 1987-10-16 NL NL8702474A patent/NL8702474A/nl not_active Application Discontinuation
-
1988
- 1988-10-03 US US07/252,952 patent/US4956855A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-03 EP EP88202186A patent/EP0312156B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-03 DE DE8888202186T patent/DE3865166D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-13 JP JP63256046A patent/JPH01134292A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0312156A1 (en) | 1989-04-19 |
| EP0312156B1 (en) | 1991-09-25 |
| JPH01134292A (ja) | 1989-05-26 |
| US4956855A (en) | 1990-09-11 |
| DE3865166D1 (de) | 1991-10-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8547537B2 (en) | Object authentication | |
| US4264921A (en) | Apparatus for color or panchromatic imaging | |
| EP0004852B1 (de) | Einrichtung zum Abtasten von Mustern mit einer geregelten Lichtquelle | |
| US5479258A (en) | Image multispectral sensing | |
| DE19843176C1 (de) | Optischer Encoder zur Erfassung von Dreh- und Linearbewegungen | |
| US5444236A (en) | Multicolor radiation detector method and apparatus | |
| DE3781657T2 (de) | Photoelektrischer schalter vom reflektionstyp. | |
| WO2001038828A1 (de) | Winkelmesssystem | |
| AT400989B (de) | Einrichtung zum erkennen unzulässig erwärmter bauteile bzw. stellen an bewegten objekten | |
| NL8702474A (nl) | Roentgenlijnendetector-inrichting en een daarmee uitgerust roentgenanalyse apparaat. | |
| US5793049A (en) | Optical filtering and spectroscopic imaging | |
| NL8300419A (nl) | Roentgen analyse apparaat. | |
| EP0818675B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung spektraler Remissionen | |
| WO1999024974A3 (en) | Optical scanning device | |
| CN1204382C (zh) | 多光栅光谱成像仪设计 | |
| EP3070496A1 (de) | Polygonscanner und verfahren zum erfassen von objekten | |
| US4718762A (en) | Spectrophotometric method and apparatus | |
| US5493399A (en) | Position measuring system with compensation for variable distance between light source and index disk | |
| US5831729A (en) | Spectrometer | |
| JP2812371B2 (ja) | 表面形状測定装置 | |
| DE4230405B4 (de) | Positions-Detektor | |
| US20060081769A1 (en) | EMCCD detector, as well as a spectrometer and a microscope having an EMCCD detector | |
| EP1906368B1 (de) | Optoelektronisches Sicherheitssystem | |
| US3902804A (en) | Optical velocity measuring apparatus | |
| WO2019007947A1 (de) | Vorrichtung zur räumlichen detektion, insbesondere lidar-vorrichtung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A1B | A search report has been drawn up | ||
| BV | The patent application has lapsed |