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WO2024116813A1 - 弾性波装置及びフィルタ装置 - Google Patents

弾性波装置及びフィルタ装置 Download PDF

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Publication number
WO2024116813A1
WO2024116813A1 PCT/JP2023/040852 JP2023040852W WO2024116813A1 WO 2024116813 A1 WO2024116813 A1 WO 2024116813A1 JP 2023040852 W JP2023040852 W JP 2023040852W WO 2024116813 A1 WO2024116813 A1 WO 2024116813A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
electrode
region
electrode fingers
elastic wave
wave device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2023/040852
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
健太郎 中村
拓也 薮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to CN202380081471.7A priority Critical patent/CN120266395A/zh
Publication of WO2024116813A1 publication Critical patent/WO2024116813A1/ja
Priority to US19/207,606 priority patent/US20250274098A1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02543Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
    • H03H9/02574Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02228Guided bulk acoustic wave devices or Lamb wave devices having interdigital transducers situated in parallel planes on either side of a piezoelectric layer
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02818Means for compensation or elimination of undesirable effects
    • H03H9/02858Means for compensation or elimination of undesirable effects of wave front distortion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/125Driving means, e.g. electrodes, coils
    • H03H9/145Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
    • H03H9/14517Means for weighting
    • H03H9/14529Distributed tap
    • H03H9/14532Series weighting; Transverse weighting
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/125Driving means, e.g. electrodes, coils
    • H03H9/145Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
    • H03H9/14544Transducers of particular shape or position
    • H03H9/14547Fan shaped; Tilted; Shifted; Slanted; Tapered; Arched; Stepped finger transducers

Definitions

  • the present invention relates to an elastic wave device and a filter device.
  • an acoustic wave device is disclosed in the following Patent Document 1.
  • an IDT (Interdigital Transducer) electrode is provided on a piezoelectric substrate.
  • the shape of the multiple electrode fingers of the IDT electrode includes a curved shape. More specifically, each electrode finger extends along a curve from the center of the area where the IDT electrodes intersect to the common electrode.
  • the electrode finger pitch in the center portion in the direction in which the multiple electrode fingers extend is narrower than the electrode finger pitch at the ends in the same direction. This provides the effect of suppressing the response of unwanted waves.
  • the object of the present invention is to provide an elastic wave device and a filter device that can increase the Q value.
  • the elastic wave device comprises a piezoelectric substrate including a piezoelectric layer, and an IDT electrode provided on the piezoelectric layer and having a pair of bus bars and a plurality of electrode fingers, the pair of bus bars being a first bus bar and a second bus bar facing each other, the plurality of electrode fingers being a plurality of first electrode fingers and a plurality of second electrode fingers, one end of each of the plurality of first electrode fingers being connected to the first bus bar, one end of each of the plurality of second electrode fingers being connected to the second bus bar, the plurality of first electrode fingers and the plurality of second electrode fingers being interdigitated with each other, a virtual line formed by connecting the tips of the plurality of second electrode fingers being a first envelope, and a virtual line formed by connecting the tips of the plurality of first electrode fingers being a second envelope, and in the IDT electrode,
  • the region between the first envelope and the second envelope is an intersection region, and is provided on the piezoelectric layer.
  • the piezoelectric layer further includes a plurality of electrode patterns provided at least one between the first bus bar and the intersection region and between the second bus bar and the intersection region, and among the plurality of electrode fingers, the tip of at least one of the first electrode fingers or the tip of at least one of the second electrode fingers faces the electrode pattern, and the shapes of the plurality of first electrode fingers and the plurality of second electrode fingers in a plan view each include a curved portion in the intersection region, and when the wavelength defined by the electrode finger pitch of the IDT electrode is ⁇ , the distance between the tip of the electrode finger facing the electrode pattern and the electrode pattern is 0.5 ⁇ or less.
  • the filter device according to the present invention is an elastic wave device that includes a plurality of elastic wave resonators, at least one of which is configured according to the present invention.
  • the elastic wave device and filter device of the present invention can increase the Q value.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a first preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view taken along line II in FIG.
  • FIG. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a schematic plan view of a conventional elastic wave device.
  • FIG. 5 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a first reference example.
  • FIG. 6 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a second reference example.
  • FIG. 7 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the first embodiment of the present invention, the first reference example, and the second reference example.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a first preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view taken along line II in FIG.
  • FIG. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode in the first embodiment of the present
  • FIG. 8 is a diagram showing the relationship between frequency and Q value in the first embodiment, the first reference example, and the second reference example of the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing the reverse velocity plane of an elastic wave propagating through a first piezoelectric substrate and a second piezoelectric substrate.
  • FIG. 10 is a diagram showing the reverse velocity planes of a longitudinal wave, a fast shear wave, and a slow shear wave in a first piezoelectric substrate.
  • FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • FIG. 12 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode when the fixed points are the centers of gravity of two foci of an ellipse.
  • FIG. 13 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a second preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the second embodiment and the third reference example of the present invention.
  • FIG. 15 is a diagram showing the relationship between frequency and Q value in the second embodiment and the third reference example of the present invention.
  • FIG. 16 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a first modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 17 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a second modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 18 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a third modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 19 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a fourth modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 is a schematic plan view showing the vicinity of a first edge region and the vicinity of a second edge region of an IDT electrode in a fifth modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 21 is a schematic plan view showing the vicinity of a first edge region and the vicinity of a second edge region of an IDT electrode in a sixth modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 22 is a schematic plan view showing the vicinity of a first edge region and the vicinity of a second edge region of an IDT electrode in a seventh modified example of the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 23 is a schematic plan view showing the vicinity of a first electrode pattern and the vicinity of a second electrode pattern of an IDT electrode in the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 24 is a schematic plan view showing the vicinity of a first electrode pattern and the vicinity of a second electrode pattern of an IDT electrode in a first modified example of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 25 is a schematic plan view showing the vicinity of a first electrode pattern and the vicinity of a second electrode pattern of an IDT electrode in a second modified example of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 26 is a schematic plan view showing the vicinity of a first electrode pattern and the vicinity of a second electrode pattern of an IDT electrode in a third modified example of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 27 is a schematic plan view showing the vicinity of a first electrode pattern and the vicinity of a second electrode pattern of an IDT electrode in a fourth modified example of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 28 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 29 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • FIG. 30 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a third modified example of the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 31 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode according to the fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 32 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a modified example of the fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 33 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a sixth preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 34 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode according to the sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 35 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a modified example of the sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 36 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a seventh preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 37 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • FIG. 38 is a diagram showing the relationship between the absolute value of the excitation angle
  • FIG. 39 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a tenth preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 39 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a tenth preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 40 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • FIG. 41 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • FIG. 42 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to an eleventh preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 43 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the eleventh embodiment of the present invention and the second reference example.
  • FIG. 44 is a diagram showing the relationship between frequency and return loss in the eleventh embodiment and the second reference example of the present invention.
  • FIG. 45 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the first modified example and the second reference example of the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 46 is a diagram showing the relationship between frequency and return loss in the first modified example and the second reference example of the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 47 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a second modified example of the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 48 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a third modified example of the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 49 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a fourth modified example of the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 50 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a twelfth preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 51 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a first modified example of the twelfth embodiment of the present invention.
  • FIG. 52 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a second modified example of the twelfth embodiment of the present invention.
  • FIG. 53 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a third modified example of the twelfth embodiment of the present invention.
  • FIG. 54 is a circuit diagram of a filter device according to a thirteenth embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view taken along line II in FIG. 1.
  • the elastic wave device 1 has a piezoelectric substrate 2.
  • the piezoelectric substrate 2 is a substrate having piezoelectricity.
  • the piezoelectric substrate 2 has a support substrate 4, an intermediate layer 5, and a piezoelectric layer 6.
  • the intermediate layer 5 is provided on the support substrate 4.
  • the piezoelectric layer 6 is provided on the intermediate layer 5.
  • the intermediate layer 5 has a frame-like shape. That is, the intermediate layer 5 has a through hole.
  • the support substrate 4 blocks one end of the through hole in the intermediate layer 5.
  • the piezoelectric layer 6 blocks the other end of the through hole in the intermediate layer 5. This forms a hollow portion 2c in the piezoelectric substrate 2.
  • a part of the piezoelectric layer 6 and a part of the support substrate 4 face each other with the hollow portion 2c in between.
  • the support substrate 4 is the support member in the present invention.
  • the support member may be a laminate including the support substrate 4.
  • the piezoelectric layer 6 may be indirectly provided on the support substrate 4 via another layer, as in this embodiment.
  • the piezoelectric substrate 2 may be a substrate consisting of only the piezoelectric layer 6.
  • the piezoelectric layer 6 has a first principal surface 6a and a second principal surface 6b.
  • the first principal surface 6a and the second principal surface 6b face each other.
  • the second principal surface 6b is located on the support substrate 4 side.
  • An IDT electrode 8 is provided on the first principal surface 6a of the piezoelectric layer 6. At least a portion of the IDT electrode 8 overlaps with the hollow portion 2c in a plan view.
  • a plan view refers to a view from a direction corresponding to the top in FIG. 2. In FIG. 2, for example, of the support substrate 4 side and the piezoelectric layer 6 side, the piezoelectric layer 6 side is the top.
  • the IDT electrode 8 has a pair of bus bars and a plurality of electrode fingers.
  • the pair of bus bars is specifically a first bus bar 14 and a second bus bar 15.
  • the first bus bar 14 and the second bus bar 15 face each other.
  • the plurality of electrode fingers is specifically a plurality of first electrode fingers 16 and a plurality of second electrode fingers 17.
  • One end of each of the plurality of first electrode fingers 16 is connected to the first bus bar 14.
  • One end of each of the plurality of second electrode fingers 17 is connected to the second bus bar 15.
  • Each of the plurality of first electrode fingers 16 and the plurality of second electrode fingers 17 includes a base end and a tip end. The base end of the first electrode finger 16 is the portion connected to the first bus bar 14.
  • the base end of the second electrode finger 17 is the portion connected to the second bus bar 15.
  • the plurality of first electrode fingers 16 and the plurality of second electrode fingers 17 are interdigitated with each other.
  • the first electrode finger 16 and the second electrode finger 17 may be simply referred to as electrode fingers.
  • the first bus bar 14 and the second bus bar 15 may be simply referred to as bus bars.
  • the electrode finger pitch is constant in the IDT electrode 8 of the acoustic wave device 1.
  • the electrode finger pitch is the center-to-center distance between adjacent first electrode fingers 16 and second electrode fingers 17.
  • the IDT electrode 8 has a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19. More specifically, each of the plurality of first electrode patterns 18 is located between the first bus bar 14 and the second electrode finger 17. Meanwhile, each of the plurality of second electrode patterns 19 is located between the second bus bar 15 and the first electrode finger 16.
  • the first electrode pattern 18 and the second electrode pattern 19 may be simply referred to as electrode patterns.
  • Each of the multiple first electrode patterns 18 is connected to both adjacent first electrode fingers 16.
  • the multiple first electrode patterns 18 have a rectangular shape extending parallel to the first bus bar 14 in a plan view.
  • the first electrode patterns 18 are provided between all of the first electrode fingers 16. Therefore, the configuration of the IDT electrode 8 corresponds to a configuration in which all of the first electrode fingers 16 are connected by the first bus bar 14 and bar-shaped electrodes other than the first bus bar 14.
  • multiple openings are formed by the first bus bar 14, the multiple first electrode fingers 16, and the multiple first electrode patterns 18.
  • the multiple first electrode patterns 18 do not have to be connected to the first electrode fingers 16.
  • Each of the multiple second electrode patterns 19 is connected to both adjacent second electrode fingers 17.
  • the multiple second electrode patterns 19 have a rectangular shape extending parallel to the second bus bar 15.
  • the second electrode patterns 19 are provided between all of the second electrode fingers 17.
  • the second bus bar 15, the multiple second electrode fingers 17, and the multiple second electrode patterns 19 form multiple openings.
  • the multiple second electrode patterns 19 do not have to be connected to the second electrode fingers 17.
  • each first electrode pattern 18 faces the first bus bar 14 across a gap.
  • each second electrode pattern 19 faces the second bus bar 15 across a gap.
  • all of the first electrode patterns 18 face the tips of the second electrode fingers 17 across a gap. All of the second electrode patterns 19 face the tips of the first electrode fingers 16 across a gap. It is sufficient that the tip of at least one first electrode finger 16 or the tip of at least one second electrode finger 17 of the multiple electrode fingers faces the electrode pattern of the present invention.
  • the first electrode pattern 18 is provided between at least one adjacent set of first electrode fingers 16. It is sufficient that at least one first electrode pattern 18 faces at least one second electrode finger 17. Alternatively, for example, it is sufficient that the second electrode pattern 19 is provided between at least one adjacent set of second electrode fingers 17. It is sufficient that at least one second electrode pattern 19 faces at least one first electrode finger 16.
  • the imaginary line formed by connecting the tips of the second electrode fingers 17 is the first envelope E1
  • the imaginary line formed by connecting the tips of the first electrode fingers 16 is the second envelope E2.
  • the area between the first envelope E1 and the second envelope E2 is the intersection area D. More specifically, the area surrounded by the electrode finger at one end of the multiple electrode fingers in the direction in which the multiple electrode fingers are arranged, the electrode finger at the other end, the first envelope E1, and the second envelope E2 is the intersection area D. Therefore, the first envelope E1 corresponds to the edge portion of the intersection area D on the first bus bar 14 side.
  • the second envelope E2 corresponds to the edge portion of the intersection area D on the second bus bar 15 side.
  • the electrode pattern may be provided at least either between the first bus bar 14 and the intersection region D, or between the second bus bar 15 and the intersection region D.
  • the shape of the multiple first electrode fingers 16 and the multiple second electrode fingers 17 in a planar view includes a shape in which two arcs are connected. More specifically, it includes a shape in which the arcs of two circles whose centers are at different positions and have the same radius are connected. The centers of the two circles face each other with the IDT electrode 8 in between.
  • the shape of the multiple electrode fingers is not limited to the above. It is sufficient that the shape of the multiple electrode fingers in a planar view includes a curved shape in the intersection region D.
  • the features of this embodiment are as follows: 1) The shapes of the first electrode fingers 16 and the second electrode fingers 17 in a planar view each include a curved portion in the intersection region D. 2) The distance between the tip of an electrode finger that faces the electrode pattern and the electrode pattern is 0.5 ⁇ or less. This makes it possible to increase the Q value. The following describes the above effects in detail, along with the detailed configuration of the IDT electrode 8.
  • the shapes of the multiple first electrode fingers 16 and the multiple second electrode fingers 17 in a planar view each have an inflection point.
  • an inflection point is a point where different curves are connected to each other, or a point where a curve and a straight line are connected.
  • the directions of the curved shapes are different with the inflection point as a boundary.
  • the different directions of the curved shapes mean, for example, that the curved directions are different in the curved shapes. More specifically, for example, the direction of the curved shape is different when the curve is bent so as to be convex to the left in FIG. 1 and the curve is bent so as to be convex to the right.
  • the two curved shapes are inverted to each other with the inflection point as a boundary.
  • FIG. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of the IDT electrode in the first embodiment.
  • each curved region which will be described later, is indicated by hatching.
  • each of the multiple electrode fingers in plan view is a shape in which two arcs are connected.
  • one of the arcs in each of the multiple electrode finger shapes is a respective arc in the multiple concentric circles. Therefore, the centers of the circles containing the arcs in each of the multiple electrode finger shapes are coincident.
  • the centers of these circles are defined as fixed point C1.
  • the other arc in each of the multiple electrode finger shapes is also a respective arc in the multiple concentric circles.
  • the centers of these circles are defined as fixed point C2.
  • two fixed points C1 and C2 are defined. Fixed point C1 and C2 face each other across the IDT electrode 8.
  • the direction of the curved shape can be defined depending on whether the shape of the electrode finger in a planar view is an arc centered on fixed point C1 or fixed point C2.
  • the shape of the IDT electrode 8 may be a shape that defines three or more fixed points.
  • the shape of the multiple electrode fingers in a planar view may include an elliptical arc.
  • the fixed point is the midpoint of the two foci of the ellipse in which the elliptical arc is included.
  • the fixed point is the center of gravity of the two foci of the ellipse.
  • the different curved portions of the shape of the multiple electrode fingers in a planar view may be a combination of a circular arc and an elliptical arc.
  • the ellipse coefficient of the shape of the multiple electrode fingers in a planar view is ⁇ 2/ ⁇ 1.
  • two ellipse coefficients ⁇ 2/ ⁇ 1 can be defined.
  • the ellipse coefficient of the circle or ellipse based on the fixed point C1 in the shape of the multiple electrode fingers is ⁇ 12/ ⁇ 11
  • the ellipse coefficient of the circle or ellipse based on the fixed point C2 is ⁇ 22/ ⁇ 21.
  • both the ellipse coefficients ⁇ 12/ ⁇ 11 and ⁇ 22/ ⁇ 21 are 1.
  • the ellipse coefficients ⁇ 12/ ⁇ 11 and ⁇ 22/ ⁇ 21 are other than 1.
  • ⁇ 1 i.e., ⁇ 11 and ⁇ 21
  • ⁇ 2 i.e., ⁇ 12 and ⁇ 22
  • ⁇ 12 and ⁇ 22 correspond to the dimensions along the axis direction not passing through the intersection region D among the major and minor axes of the ellipse.
  • the intersection region D includes a plurality of curved regions.
  • the plurality of curved regions are a first curved region W1 and a second curved region W2.
  • the first curved region W1 includes a first envelope E1.
  • the second curved region W2 includes a second envelope E2.
  • the shape of the first electrode fingers 16 and the second electrode fingers 17 in a planar view is a single arc or an elliptical arc.
  • the boundary between the different curved regions corresponds to a line connecting the inflection points of each electrode finger.
  • the boundary line O between the first curved region W1 and the second curved region W2 shown in FIG. 3 is a straight line.
  • the extension line of the boundary line O passes through the fixed points C1 and C2.
  • the shape of the IDT electrode 8 in this embodiment is an example, and the extension line of the boundary line O does not have to pass through the fixed points C1 and C2.
  • the first curved region W1 in the crossing region D has portions located on countless straight lines passing through the fixed point C1.
  • a straight line M1 is shown as an example of the countless straight lines passing through the fixed point C1 and the first curved region W1.
  • an elastic wave is excited in a portion located on the straight line M1 in the first curved region W1.
  • An elastic wave is also excited in each of the portions located on the countless straight lines (not shown) that pass through the fixed point C1 and the first curved region W1.
  • the elastic wave device 1 has an excitation section located on the straight line M1 and excitation sections located on countless other straight lines (not shown).
  • the second curved region W2 in the intersection region D similarly has an infinite number of excitation parts.
  • the excitation parts in the second curved region W2 are located on a straight line passing through the fixed point C2.
  • a straight line M2 is shown as an example of the infinite number of straight lines passing through the fixed point C2 and the second curved region W2.
  • An extension of the first envelope E1 passes through the fixed point C1.
  • a straight line including the first envelope E1 and an extension of the first envelope E1 is defined as a reference line N1 in the first curved region W1.
  • the angle between the reference line N1 and a straight line passing through the fixed point C1 and the excitation unit in the first curved region W1 is defined as an angle ⁇ C1 in the first curved region W1.
  • FIG. 3 shows an angle ⁇ C1 of the excitation unit located on the straight line M1 as an example. Note that the angle ⁇ C1 is 0° in the first envelope E1.
  • an extension of the second envelope E2 passes through the fixed point C2.
  • a straight line including the second envelope E2 and the extension of the second envelope E2 is defined as a reference line N2 in the second curved region W2.
  • An angle between a straight line passing through the fixed point C2 and the excitation unit in the second curved region W2 and the reference line N2 is defined as an angle ⁇ C2 in the second curved region W2.
  • an angle ⁇ C2 of the excitation unit located on the straight line M2 is shown as an example. Note that the angle ⁇ C2 is 0° in the second envelope E2.
  • the positive direction of angle ⁇ C1 is the counterclockwise direction in plan view. More specifically, the positive direction is the direction from the second bus bar 15 side to the first bus bar 14 side.
  • the positive direction of angle ⁇ C2 is also the counterclockwise direction in plan view.
  • the direction in which an elastic wave is excited is one of the following three directions.
  • the first direction is perpendicular to the direction in which the electrode fingers extend.
  • the second direction is the direction that connects the shortest distance between adjacent electrode fingers.
  • the third direction is parallel to the electric field vector generated between the electrode fingers.
  • each electrode finger includes a pair of edge portions that connect the base end and the tip end in a plan view. Both edge portions have a curved shape.
  • the direction in which the electrode fingers extend is as follows. First, when a virtual line parallel to the reference line in the present invention is drawn to connect both edge portions in any part of the electrode finger, the center of gravity of the part located on the virtual line is set as the representative point of the virtual line. An infinite number of virtual lines can be drawn on the electrode finger, and there are an infinite number of representative points. The direction in which the tangent to the curve connecting these representative points extends is set as the direction in which the electrode finger extends. The direction in which the electrode finger extends differs for each position on the electrode finger. In the case of having a different reference line for each curved region as in this embodiment, the reference line of the curved region on which the virtual line is drawn may be set as the direction in which the virtual line extends.
  • the excitation direction of the elastic wave is the same in all three directions described above.
  • the shape of the electrode fingers in a planar view is an arc centered on each fixed point.
  • the direction in which the elastic wave is excited is the first direction described above.
  • the direction in which the elastic wave is excited is represented by the direction perpendicular to the extension direction of the electrode fingers.
  • the angle between the reference line N1 and a straight line passing through the fixed point C1 and the excitation portion of the first curved region W1, and the excitation direction of the elastic wave at the intersection of the electrode fingers is defined as the excitation angle ⁇ C1 _prop .
  • the angle between the fixed point C2 and the excitation portion of the second curved region W2, and the excitation direction of the elastic wave at the intersection of the electrode fingers is defined as the excitation angle ⁇ C2 _prop .
  • the positive and negative directions of the excitation angles ⁇ C1 _prop and ⁇ C2 _prop are the same as the positive and negative directions of the angles ⁇ C1 and ⁇ C2 , respectively.
  • the angle ⁇ C1 in the excitation part of the first curved region W1 and the excitation angle ⁇ C1_prop are approximately equal.
  • the configuration of the present invention may be described in detail by taking up either the angle ⁇ C1 or the excitation angle ⁇ C1_prop .
  • the relationship between the angle ⁇ C2 in the excitation part of the second curved region W2 and the excitation angle ⁇ C2_prop is similar.
  • the angle between the straight line passing through the edge portion on the first busbar 14 side and the fixed point C1 and the straight line passing through the edge portion on the second busbar 15 side and the fixed point C2 is defined as the intersection angle.
  • the intersection angle in the first curved region W1 is defined as ⁇ C1 _AP
  • the intersection angle in the second curved region W2 is defined as ⁇ C2 _AP .
  • the straight line passing through the edge portion on the first busbar 14 side and the fixed point C1 in the first curved region W1 is the reference line N1, which is a straight line passing through the first envelope E1 and the fixed point C1.
  • the extension line of the boundary line O of the first curved region W1 and the second curved region W2 passes through the fixed point C1 and the fixed point C2. Therefore, the straight line passing through the edge portion on the second busbar 15 side and the fixed point C1 in the first curved region W1 is a straight line including the boundary line O. Therefore, the intersection angle ⁇ C1_AP in the first curved region W1 is the angle between the reference line N1 and a straight line including the boundary line O. In this case, 0 ⁇ C1_prop ⁇ C1_AP .
  • the intersection angle ⁇ C2_AP in the second curved region W2 is the angle between the reference line N2 and a straight line including the boundary line O. In this case, 0 ⁇ C2_prop ⁇ C2_AP .
  • the intersection angle ⁇ C1_AP of the first curved region W1 and the intersection angle ⁇ C2_AP of the second curved region W2 are the same. However, the intersection angle ⁇ C1_AP of the first curved region W1 and the intersection angle ⁇ C2_AP of the second curved region W2 may be different from each other.
  • the electrode finger pitch is constant in the IDT electrode 8 of the elastic wave device 1. Therefore, the wavelength ⁇ in the IDT electrode 8 is constant regardless of the excitation angle ⁇ C1 —prop and the excitation angle ⁇ C2 —prop .
  • a piezoelectric single crystal is used as the material for the piezoelectric layer 6 of the elastic wave device 1.
  • the propagation axis is the axis along which the elastic wave propagates.
  • the direction in which the propagation axis extends is the X-propagation direction.
  • the straight lines that extend parallel to the propagation axis are the reference lines N1 and N2.
  • the reference lines N1 and N2 do not necessarily have to extend parallel to the propagation axis.
  • the direction in which the propagation axis extends is not limited to the X propagation direction, but may be perpendicular to either the 90°X propagation direction or the direction in which the electrode fingers of the IDT electrode 8 extend.
  • a pair of reflectors 9A and 9B are provided on the piezoelectric layer 6.
  • the reflectors 9A and 9B face each other across the IDT electrode 8 in the direction in which the multiple electrode fingers of the IDT electrode 8 are arranged.
  • the reflector 9A has multiple reflector electrode fingers 9a.
  • the reflector 9B has multiple reflector electrode fingers 9b.
  • the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a of the reflector 9A and the shape of the multiple reflector electrode fingers 9b of the reflector 9B each include a curved shape.
  • the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a of the reflector 9A and the shape of the multiple reflector electrode fingers 9b of the reflector 9B in a planar view are each a shape in which two arcs are connected.
  • one of the arcs in the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a is a respective arc in multiple concentric circles centered on the fixed point C1.
  • the other arc in the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a is a respective arc in multiple concentric circles centered on the fixed point C2.
  • the shapes of the multiple reflector electrode fingers 9b are each a shape in which two arcs are connected.
  • one of the arcs in the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a is a respective arc in multiple concentric circles centered on the fixed point C1.
  • the other arc in the shape of the multiple reflector electrode fingers 9a is a respective arc in multiple concentric circles centered on the fixed point C2.
  • the shapes of the multiple reflector electrode fingers 9b are each a shape in which
  • each reflector electrode finger corresponds to the shape of the electrode fingers of the IDT electrode 8 in the excitation section. Note that the shape of each reflector electrode finger in a planar view may be a curved or straight shape that does not correspond to the shape of the electrode fingers of the IDT electrode 8 in the excitation section.
  • the elastic wave device 202 of the first reference example shown in FIG. 5 differs from the elastic wave device 1 of the first embodiment in that it does not have the electrode pattern of the present invention and has a plurality of first offset electrodes 22 and a plurality of second offset electrodes 23.
  • each of the multiple first offset electrodes 22 is connected to the first bus bar 14.
  • the first electrode fingers 16 and the first offset electrodes 22 are arranged alternately.
  • One end of each of the multiple second offset electrodes 23 is connected to the second bus bar 15.
  • the second electrode fingers 17 and the second offset electrodes 23 are arranged alternately.
  • the first offset electrodes 22 and the second offset electrodes 23 each include a base end and a tip end.
  • the base ends of the first electrode finger 16 and the first offset electrode 22 are connected to the first bus bar 14.
  • the base ends of the second electrode finger 17 and the second offset electrode 23 are connected to the second bus bar 15.
  • the tip end of the first electrode finger 16 and the tip end of the second offset electrode 23 face each other across a gap.
  • the tip end of the second electrode finger 17 and the tip end of the first offset electrode 22 face each other across a gap.
  • the first offset electrode 22 and the second offset electrode 23 may be simply referred to as offset electrodes.
  • the elastic wave device 301 of the second reference example shown in FIG. 6 differs from the elastic wave device 1 of the first embodiment in that it does not have an electrode pattern according to the present invention.
  • the design parameters of the elastic wave device 1 of the first embodiment for comparison are as follows.
  • the distance between the tip of the electrode finger facing the electrode pattern and the electrode pattern is defined as the I-P gap.
  • the distance between the electrode pattern and the bus bar is defined as the B-P gap.
  • the dimension of the electrode pattern along the direction perpendicular to the direction in which the electrode pattern extends is defined as the width of the electrode pattern.
  • Support substrate 4 Material: Si, surface orientation: (111), Euler angles ( ⁇ , ⁇ , ⁇ ) ⁇ : 73°
  • Intermediate layer 5 Material: SiO 2 , thickness: 0.15 ⁇
  • Piezoelectric layer 6 Material: rotated Y-cut 55° X-propagation LiTaO 3 , thickness: 0.2 ⁇ IDT electrode 8; material: Al, thickness: 0.05 ⁇ , Ellipticity coefficient ⁇ 12/ ⁇ 11 in the shape of the electrode finger; 1 Ellipticity coefficient ⁇ 22/ ⁇ 21 in the shape of the electrode finger; 1 Wavelength ⁇ : 2 ⁇ m Number of pairs of electrode fingers of the IDT electrode 8: 100 Duty ratio: 0.5 in the excitation section where the angle ⁇ C1 and the angle ⁇ C2 are 0° Intersection angle ⁇ C1_AP ; 10° Intersection angle ⁇ C2_AP ; 10° I-P gap: 0.135 ⁇ Width of the first electrode pattern 18 and the second electrode pattern 19: 0.2 ⁇ B-P gap: 3.2 ⁇
  • the design parameters of the elastic wave devices of the first and second reference examples are the same as those of the elastic wave device 1, except for the parameters related to the electrode pattern.
  • the length of the offset electrode is defined as the dimension along the direction connecting the base end and the tip end of the offset electrode, the length of each offset electrode is 3.5 ⁇ .
  • the distance between the electrode finger and the bus bar is 3.5 ⁇ .
  • the impedance frequency characteristics and the relationship between frequency and Q value were determined for each of the elastic wave devices of the first embodiment, the first reference example, and the second reference example.
  • FIG. 7 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the first embodiment, the first reference example, and the second reference example.
  • FIG. 8 is a diagram showing the relationship between frequency and Q value in the first embodiment, the first reference example, and the second reference example. Note that fr shown in FIG. 7 and FIG. 8 is the resonant frequency, and fa is the anti-resonant frequency.
  • the impedance frequency characteristics are almost the same in the first and second reference examples.
  • the impedance ratio is larger in the first embodiment than in the first and second reference examples.
  • the Q value of the first embodiment is higher than that of the first and second reference examples. Specifically, the Q value of the first embodiment is particularly high near the anti-resonance frequency. As a result, the impedance at the anti-resonance frequency is high in the first embodiment. As a result, the impedance ratio in the first embodiment can be increased.
  • the leakage of elastic wave energy occurs, for example, when a mode is converted.
  • a mode For example, when SH waves are used as the main mode of elastic waves, the energy of the elastic waves leaks due to conversion from SH waves to Rayleigh waves or from SH waves to bulk waves. Such leakage occurs from the crossing region side toward the busbar side.
  • the offset electrode is used to suppress the leakage of elastic wave energy.
  • the leakage cannot be sufficiently suppressed.
  • an offset electrode is not provided, and therefore the leakage of elastic wave energy cannot be suppressed as effectively as in the first reference example. Therefore, in the first and second reference examples, the Q value cannot be sufficiently increased.
  • a first electrode pattern 18 is provided between the first bus bar 14 and the second electrode finger 17.
  • a second electrode pattern 19 is provided between the second bus bar 15 and the first electrode finger 16.
  • the I-P gap which is the distance between the tip of the electrode finger facing the electrode pattern and the electrode pattern, is set to 0.5 ⁇ or less. This makes it possible to suppress the leakage of elastic wave energy that accompanies mode conversion.
  • the first electrode patterns 18 face the first busbar 14 across a gap.
  • the first electrode fingers 16 and the second electrode fingers 17 are alternately arranged, while in the region closer to the first busbar 14 than the first electrode patterns 18, only the first electrode fingers 16 are provided among the first electrode fingers 16 and the second electrode fingers 17.
  • a high acoustic velocity region is formed in the region between the first electrode patterns 18 and the first busbar 14.
  • the high acoustic velocity region is a region where the acoustic velocity is higher than that in the central region.
  • the central region is a region located in the center of the intersection region D. Details of the central region will be described later.
  • a high acoustic velocity region is also formed in the region between the second electrode patterns 19 and the second busbar 15.
  • the energy of the elastic waves can be effectively confined to the crossing region D side. Therefore, in the first embodiment, the Q value can be effectively increased.
  • the I-P gap exceeds 0.5 ⁇ , energy starts to leak outside the intersection region. If the I-P gap exceeds 1 ⁇ , the effect of suppressing the leakage of elastic wave energy cannot be obtained. On the other hand, it is known that the smaller the I-P gap value, the higher the Q value and the larger the impedance ratio. And if the I-P gap is 0.5 ⁇ or less, the Q value and impedance ratio remain almost unchanged. Therefore, by having an I-P gap of 0.5 ⁇ or less, as in the present invention, the Q value can be effectively increased and the impedance ratio can be increased.
  • the angle ⁇ C1 and the excitation angle ⁇ C1_prop are 0° in the excitation section through which the reference line N1 passes.
  • the angle ⁇ C2 and the excitation angle ⁇ C2_prop are 0° in the excitation section through which the reference line N2 passes. Since the excitation angles ⁇ C1_prop or the excitation angles ⁇ C2_prop are different between the excitation sections of each curved region, the propagation characteristics of the elastic waves are different from each other. In contrast, in this embodiment, the duty ratios are made different between the multiple excitation sections so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies of all the excitation sections are approximately the same.
  • the duty ratios are the same between the excitation sections having the same absolute value of the excitation angle
  • one frequency and the other frequency being approximately the same means that the absolute value of the difference between the two frequencies is 10% or less with respect to the reference frequency.
  • the reference frequency is the frequency when the excitation angle is 0°.
  • the absolute value of the difference between the highest resonance frequency and the lowest resonance frequency of the main mode is preferably 2% or less with respect to the reference frequency, and more preferably 1% or less.
  • the absolute value of the difference between the highest anti-resonance frequency and the lowest anti-resonance frequency of the main mode is preferably 2% or less with respect to the reference frequency, and more preferably 1% or less. This makes it possible to more reliably improve the resonance characteristics.
  • the propagation characteristics of the elastic waves are different in each excitation section, which makes use of this to obtain effects such as suppressing unwanted waves. The details of this are explained below.
  • the phase velocity of the elastic wave has a dependency on the excitation angle in each curved region, and shows a unique characteristic according to the configuration of the substrate.
  • the inverse of the phase velocity corresponds to the reverse velocity plane. Therefore, the relationship between the excitation angle ⁇ C1_prop and the excitation angle ⁇ C2_prop and the phase velocity is approximately equal to the reverse velocity plane of the piezoelectric substrate.
  • an example of the reverse velocity plane of the piezoelectric substrate having a different layer configuration is shown.
  • One piezoelectric substrate is a substrate made of only LiTaO 3 (LT) with a rotated Y cut and 42° X propagation. This substrate is the first piezoelectric substrate.
  • the other piezoelectric substrate is a laminated substrate of a piezoelectric layer/support substrate.
  • This substrate is the second piezoelectric substrate. More specifically, the second piezoelectric substrate is a substrate in which a silicon substrate with a surface orientation of (100), a silicon oxide film, and a lithium tantalate layer are laminated in this order. Even if the surface orientation of the silicon substrate is (110) or (111) or another surface orientation, the shape of the unevenness of the reverse velocity surface does not change.
  • Figure 9 shows the reverse velocity plane of elastic waves propagating through the first piezoelectric substrate and the second piezoelectric substrate.
  • the x-axis shown in FIG. 9 corresponds to the result when it is parallel to the propagation axis. That is, it corresponds to the result when the excitation angle ⁇ C1 _prop and the excitation angle ⁇ C2 _prop are 0°.
  • the reverse velocity planes in the first piezoelectric substrate and the second piezoelectric substrate are both symmetrical with respect to the x-axis.
  • the reverse velocity plane in the first piezoelectric substrate has a concave shape.
  • the reverse velocity plane in the second piezoelectric substrate has a convex shape.
  • Figure 10 shows the inverse velocity planes of longitudinal waves, fast shear waves, and slow shear waves in a first piezoelectric substrate.
  • the reverse velocity planes of the three elastic wave modes, the longitudinal wave, the fast transverse wave, and the slow transverse wave are different from each other.
  • the portions passing through the arrows L1 and L2 in FIG. 10 correspond to examples of results when the excitation angles ⁇ C1 _prop and ⁇ C2 _prop are other than 0°.
  • the intervals of the reverse velocity planes of the slow transverse wave and the fast transverse wave in the portion passing through the arrow L1 are different from the intervals of the reverse velocity planes of the slow transverse wave and the fast transverse wave in the portion passing through the arrow L2.
  • the intervals of the reverse velocity planes of the fast transverse wave and the longitudinal wave in the portion passing through the arrow L1 are different from the intervals of the reverse velocity planes of the fast transverse wave and the longitudinal wave in the portion passing through the arrow L2. That is, in each curved region, the intervals of the reverse velocity planes of different modes are different between excitation parts having different excitation angles. This is also true for the relationship between the main mode and the unnecessary waves used in the elastic wave device.
  • the resonant frequencies or anti-resonant frequencies of the main modes are substantially the same in all excitation parts. Therefore, the frequencies of unwanted waves differ from each other in different excitation parts. This disperses unwanted waves outside the passband. Therefore, unwanted waves outside the passband can be suppressed.
  • outside the passband in an elastic wave device refers to the lower frequency side than the resonant frequency and the higher frequency side than the anti-resonant frequency.
  • the resonant frequencies or anti-resonant frequencies of each excitation section are approximately the same, so that the main mode is preferably excited. This makes it possible to more reliably suppress deterioration of the resonance characteristics.
  • the crossing region D has a first curved region W1 and a second curved region W2.
  • each electrode finger has a portion located in the first curved region W1 and a portion located in the second curved region W2. Therefore, the crossing angle at the portion where each electrode finger is located corresponds to the sum of the crossing angle ⁇ C1_AP in the first curved region W1 and the crossing angle ⁇ C2_AP in the second curved region W2. Therefore, the range of excitation angles is wide at any position in the crossing region D. This makes it possible to effectively disperse unwanted waves and transverse modes outside the passband.
  • the phase velocity corresponds to the reciprocal of the reverse velocity plane. Therefore, the relationship between the excitation angle ⁇ C1_prop and the excitation angle ⁇ C2_prop and the phase velocity is approximately equal to the reverse velocity plane in the XY plane of the piezoelectric substrate as shown in FIG. 10. In other words, it can be said that the function expressing the curved shape of the electrode fingers is determined by the shape of the reverse velocity plane in the XY plane of the piezoelectric substrate.
  • the phase velocity of the elastic wave has dependency on the excitation angle ⁇ C1_prop and the excitation angle ⁇ C2_prop .
  • the duty ratio is changed in each curve region according to the excitation angle ⁇ C1_prop or the excitation angle ⁇ C2_prop , so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies of all the excitation units are made to substantially coincide with each other.
  • the relationship between the excitation angle ⁇ C1_prop and the duty ratio in the first embodiment is shown in FIG. 11. Note that examples in which the maximum value of the duty ratio is different from that in the first embodiment are also shown as a first modified example and a second modified example of the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • the duty ratio when the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is maximum. Note that in the first embodiment, when the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is 0.5. The larger the absolute value of the excitation angle
  • the duty ratio is smaller as the absolute value
  • the duty ratio is 0.64.
  • the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is 0.425.
  • the resonance frequencies or anti-resonance frequencies are approximately the same in all excitation parts in the first curved region.
  • of the excitation angle in the second curved region and the duty ratio is the same as the relationship shown in FIG. 11. Therefore, the resonance frequencies or anti-resonance frequencies are approximately the same in all excitation parts in the second curved region.
  • the first and second modified examples are configured in the same way as the first embodiment except for the duty ratio. Therefore, the Q value can be increased.
  • the relationship between the duty ratio and the frequency of each mode varies depending on the reverse velocity plane of the piezoelectric substrate. Therefore, depending on the configuration of the piezoelectric substrate and the configuration on the piezoelectric substrate, when the absolute values of the excitation angles
  • An example of this is an elastic wave device in which an IDT electrode provided on a substrate made of only rotated Y-cut -4°X-proper LiNbO 3 is embedded in a thick SiO 2 film.
  • the duty ratio is not necessarily maximum or minimum.
  • the duty ratio is not necessarily maximum or minimum.
  • the duty ratio is changed in each curved region according to the angle ⁇ C1 or the excitation angle ⁇ C1 _prop , or the angle ⁇ C2 or the excitation angle ⁇ C2 _prop , so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies of all the excitation parts are made to substantially coincide with each other.
  • the setting of parameters such as the duty ratio is not particularly limited. However, it is preferable that at least one of the duty ratio, the electrode finger pitch, and the thicknesses of the first electrode fingers 16 and the second electrode fingers 17 is changed in accordance with the angle ⁇ C1 or the excitation angle ⁇ C1 _prop , or the angle ⁇ C2 or the excitation angle ⁇ C2 _prop .
  • At least one of these parameters is changed in accordance with the angle or the excitation angle so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies of all the excitation parts in each curved region are made to substantially coincide with each other. This makes it possible to more reliably improve the resonance characteristics.
  • the parameter may be changed in each curved region according to the angle or the excitation angle.
  • a dielectric film is provided on the piezoelectric substrate 2 so as to cover the IDT electrode 8, the thickness of the dielectric film may be changed in each curved region according to the angle or the excitation angle.
  • a plurality of parameters of the IDT electrode 8 or parameters other than the IDT electrode 8 may be changed in each curved region according to the angle or the excitation angle. Even in these cases, the resonant frequencies or anti-resonant frequencies can be made to approximately match in all excitation sections.
  • Parameters such as the reflector electrode finger pitch or duty ratio of each reflector may be different from the parameters of the electrode fingers of the IDT electrode 8 in the excitation section.
  • the reflector electrode finger pitch is the center-to-center distance between adjacent reflector electrode fingers.
  • Each reflector electrode finger may be configured in a pattern different from the shape of the electrode fingers of the IDT electrode 8 in the excitation section.
  • the shape of the multiple electrode fingers in a planar view includes a shape in which two circular arcs are connected.
  • this is not limited to this.
  • the shape of the multiple electrode fingers in a planar view includes a shape in which two elliptical arcs are connected.
  • the intersection region D of the IDT electrode 8A also includes a first curved region W1 and a second curved region W2.
  • the shapes of the multiple electrode fingers in a planar view are shapes that correspond to the respective elliptical arcs of multiple ellipses with the same center of gravity.
  • the midpoint of the focal points A1 and B1 is the fixed point C1.
  • the fixed point C1 is the center of gravity of the focal points A1 and B1.
  • the center of gravity of the focal points A1 and B1 is the center of gravity of an ellipse having the focal points A1 and B1.
  • the second curved region W2 is the same.
  • the midpoint of the focal points A2 and B2 is the fixed point C2.
  • the fixed point C2 is the center of gravity of the focal points A2 and B2.
  • ⁇ 12/ ⁇ 11 and ⁇ 22/ ⁇ 21 which are the elliptical coefficients ⁇ 1/ ⁇ 2 of the shape of the multiple electrode fingers in a planar view, are other than 1.
  • a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19 are provided. This makes it possible to increase the Q value.
  • the shape of the IDT electrode in the first embodiment and each of its modified examples is an example in the present invention.
  • the shape of the IDT electrode may be a shape in which three or more fixed points are defined.
  • Each electrode finger may have multiple inflection points.
  • the shape of each electrode finger in a planar view may include a linear shape as well as a curved shape.
  • the reference line does not necessarily have to pass through the fixed point.
  • the reference line can be defined individually in a localized area of the curve of the shape of each electrode finger in a planar view. In this case, the reference line has an origin other than the fixed point.
  • the directions in which the multiple reference lines extend are parallel.
  • each electrode finger changes continuously.
  • the width of each electrode finger may also change discontinuously.
  • each electrode finger may have a configuration corresponding to a configuration in which multiple parts are connected, and at a connection portion where different parts are connected, the widths of the connected parts may differ from each other.
  • design parameters of the comparative elastic wave device 1 shown in Figures 7 and 8 show examples of materials for each layer of the piezoelectric substrate 2 and the IDT electrode 8 in the elastic wave device 1.
  • the materials are not limited to those mentioned above.
  • the combination of materials for each layer of the piezoelectric substrate 2 and the IDT electrode 8 may be any combination of appropriate materials that excites an elastic wave.
  • the material of the piezoelectric layer 6 shown in FIG. 2 may be, for example, lithium tantalate, lithium niobate, zinc oxide, aluminum nitride, quartz, or PZT (lead zirconate titanate). It is preferable to use lithium tantalate or lithium niobate as the material of the piezoelectric layer 6.
  • the material of the IDT electrode 8 may be, for example, one or more metals selected from the group consisting of Ti, Mo, Ru, W, Al, Pt, Ir, Cu, Cr, and Sc.
  • the same material as the IDT electrode 8 may be used for each reflector.
  • the IDT electrode 8 and each reflector may be made of a single layer metal film or a laminated metal film.
  • the material of the intermediate layer 5 in the first embodiment may be, for example, a dielectric material such as silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride, or tantalum oxide.
  • the material of the support substrate 4 may be, for example, a piezoelectric material such as aluminum nitride, lithium tantalate, lithium niobate, or quartz; a ceramic material such as alumina, sapphire, magnesia, silicon nitride, silicon carbide, zirconia, cordierite, mullite, steatite, or forsterite; a dielectric material such as diamond or glass; a semiconductor material such as silicon, gallium nitride, or gallium arsenide; or a resin; or a material containing the above materials as a main component. It is preferable to use high-resistivity silicon for the support substrate 4. It is desirable for the volume resistivity of the material of the support substrate 4 to be 1000 ⁇ cm or more.
  • main component refers to a component that accounts for more than 50% by weight.
  • the main component material may be in any of the following states: single crystal, polycrystalline, or amorphous, or a mixture of these.
  • the configuration may be such that the piston mode can be used.
  • An example of a configuration in which the piston mode can be used is shown below in the second embodiment.
  • the excitation section is any part on a straight line passing through a fixed point in an area located in the central area of each curved region, which will be described later.
  • FIG. 13 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a second embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that a mass-adding film is provided on each electrode finger and each reflector electrode finger.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • the intersection region D of the IDT electrode 8 has a central region F and a pair of edge regions.
  • the pair of edge regions are a first edge region H1 and a second edge region H2.
  • the first edge region H1 includes the first envelope E1 as an edge portion.
  • the second edge region H2 includes the second envelope E2 as an edge portion.
  • the first edge region H1 and the second edge region H2 face each other with the central region F in between. Note that the region of the IDT electrode 8 is defined here, and the configuration of the IDT electrode 8 in this embodiment is the same as the configuration of the IDT electrode 8 in the first embodiment.
  • each electrode finger in each edge region when viewed in a plan view may be curved or linear.
  • a plurality of mass-adding films 29 are provided in the first edge region H1. Specifically, the mass-adding films 29 are provided on each of the first electrode fingers 16 and each of the second electrode fingers 17. This forms a low acoustic velocity region in the first edge region H1.
  • the low acoustic velocity region is a region in which the acoustic velocity is lower than that in the central region F.
  • each mass-adding film 29 is provided only on one electrode finger.
  • the mass-adding film 29 can be made of an appropriate metal or dielectric material.
  • a mass-adding film 29 is also provided on each reflector electrode finger 9a of the reflector 9A.
  • a mass-adding film 29 is also provided on each reflector electrode finger 9b of the reflector 9B.
  • the mass-adding film 29 does not have to be provided on the reflector electrode finger 9a of the reflector 9A and the reflector electrode finger 9b of the reflector 9B.
  • the central region F and a pair of low sound velocity regions are arranged in this order from the inside to the outside in the direction in which the first bus bar 14 and the second bus bar 15 face each other. This establishes a piston mode. This effectively confines the energy of the main mode to the center of the intersection region D, improving the characteristics of the main mode and suppressing the transverse mode.
  • each electrode finger of the IDT electrode 8 in a planar view includes a curved shape, similar to the first embodiment. Therefore, it is possible to disperse unwanted waves outside the passband.
  • the IDT electrode 8 is provided with a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19. This makes it possible to suppress the leakage of energy of the elastic waves, and to increase the Q value. Below, the effect of increasing the Q value in this embodiment is shown by comparing this embodiment with the third reference example.
  • the third reference example differs from the second embodiment in that the configuration of the IDT electrodes is the same as that of the IDT electrodes in the elastic wave device 301 of the second reference example shown in FIG. 6.
  • a mass-adding film is provided on each electrode finger in each edge region, as in the second embodiment.
  • the design parameters of the elastic wave device of the second embodiment in the comparison are the same as those of the elastic wave device 1 of the first embodiment in the comparison in FIGS. 7 and 8, except for the mass-adding film.
  • the design parameters of the elastic wave device of the third reference example in the comparison are the same as those of the elastic wave device 301 of the second reference example in the comparison in FIGS. 7 and 8, except for the mass-adding film.
  • the impedance-frequency characteristics and the relationship between frequency and Q value were obtained for each of the elastic wave devices of the second embodiment and the third reference example.
  • FIG. 14 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the second embodiment and the third reference example.
  • FIG. 15 is a diagram showing the relationship between frequency and Q value in the second embodiment and the third reference example.
  • the impedance ratio is larger in the second embodiment than in the third reference example. Furthermore, it can be seen that the transverse mode between the resonant frequency and the anti-resonant frequency can be suppressed in the second embodiment.
  • the Q value is higher in the second embodiment than in the third reference example.
  • the Q value is high especially near the anti-resonance frequency.
  • the impedance at the anti-resonance frequency is high in the second embodiment.
  • the impedance ratio in the second embodiment can be increased.
  • a low sonic velocity region is formed in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • a low sonic velocity region is formed in both the first edge region H1 and the second edge region H2. This makes it possible to more reliably establish the piston mode.
  • the mass-adding film 29 may be laminated with at least one of the multiple electrode fingers in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2. However, it is preferable that the multiple electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29 in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2, and it is more preferable that all of the electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29. It is more preferable that the multiple electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29 in both the first edge region H1 and the second edge region H2. This makes it possible to more reliably establish the piston mode. It is even more preferable that all of the electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29 in both edge regions. In this case, the low sound velocity region is formed in the entirety of both edge regions. This makes it possible to more reliably establish the piston mode.
  • the electrode fingers and mass adding film 29 are stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the electrode fingers, and the mass adding film 29.
  • they may also be stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the mass adding film 29, and the electrode fingers.
  • the mass adding film 29 may be provided between the piezoelectric substrate 2 and the electrode fingers. It is sufficient that the mass adding film 29 overlaps with the electrode fingers when viewed in a plan view.
  • the first to fourth modified examples of the second embodiment are shown.
  • the first to fourth modified examples can also improve the characteristics of the main mode, suppress transverse modes and unwanted waves outside the passband, and increase the Q value.
  • the IDT electrode 8 is configured in the same manner as in the second embodiment.
  • One mass-adding film 29A is provided in each of the first edge region H1 and the second edge region H2. This forms a low acoustic velocity region in the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • each mass addition film 29A has a band-like shape.
  • One of the pair of mass addition films 29A is provided over a plurality of electrode fingers in the first edge region H1.
  • the other mass addition film 29A is provided over a plurality of electrode fingers in the second edge region H2.
  • Each mass addition film 29A is also provided in the portion between the electrode fingers on the piezoelectric layer 6.
  • An appropriate dielectric material can be used as the material for the mass addition film 29A.
  • the mass-adding film 29A may be laminated with at least one of the multiple electrode fingers in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2. In this case, the mass-adding film 29A may be provided over the portion where the electrode fingers are provided and the portion between the electrode fingers. However, it is preferable that the multiple electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29A in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2, and it is more preferable that all the electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29A.
  • the multiple electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29A in both the first edge region H1 and the second edge region H2, and it is even more preferable that all the electrode fingers are laminated with the mass-adding film 29A. This makes it possible to more reliably establish the piston mode.
  • each electrode finger of the IDT electrode 28 has a wide portion in the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • the width of the electrode finger in the wide portion is wider than the width of the electrode finger in the central region F.
  • the second electrode finger 27 has a wide portion 27a in the first edge region H1.
  • the first electrode finger 26 has a wide portion 26b in the second edge region H2.
  • the sound speed in the first edge region H1 and the second edge region H2 is lower than the sound speed in the central region F.
  • a low sound speed region is formed in the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • At least one electrode finger has a wide portion in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • multiple electrode fingers have wide portions in at least one of the first edge region H1 and the second edge region H2, and it is more preferable that all electrode fingers have wide portions. It is more preferable that multiple electrode fingers have wide portions in both the first edge region H1 and the second edge region H2, and it is even more preferable that all electrode fingers have wide portions. This makes it possible to more reliably establish the piston mode.
  • each electrode finger is wide over the entire edge region.
  • the shape of each wide portion in a plan view is rectangular.
  • each electrode finger may be wide in at least a portion of each edge region.
  • the shape of each wide portion in a plan view is not limited to a rectangular shape.
  • the IDT electrode 28 is configured in the same manner as in the second modified example.
  • one mass-adding film 29A is provided in each of the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • the electrode fingers and mass-adding film 29A are stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the electrode fingers, and the mass-adding film 29A.
  • they may also be stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the mass-adding film 29A, and the electrode fingers.
  • the mass-adding film 29A may be provided between the piezoelectric substrate 2 and the electrode fingers.
  • a high acoustic velocity film 25 is provided in the central region F of the IDT electrode 8 similar to that of the second embodiment. This makes the acoustic velocity in the central region F high. Therefore, the acoustic velocity in the first edge region H1 and the second edge region H2 is lower than the acoustic velocity in the central region F. In other words, low acoustic velocity regions are formed in both the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • the high acoustic velocity film 25 may be provided in the central region F in the configurations of the first to third modified examples as well.
  • the material of the high acoustic velocity film 25 laminated with the IDT electrode 8 is preferably an insulating material such as silicon nitride, silicon carbide, aluminum nitride, aluminum oxide, or diamond thin film.
  • the electrode fingers and high acoustic velocity film 25 are stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the electrode fingers, and the high acoustic velocity film 25.
  • they may also be stacked in the order of the piezoelectric substrate 2, the high acoustic velocity film 25, and the electrode fingers.
  • the high acoustic velocity film 25 may be provided between the piezoelectric substrate 2 and the electrode fingers.
  • the first electrode pattern 18 is provided between all of the first electrode fingers 16.
  • the second electrode pattern 19 is provided between all of the second electrode fingers 17. Note that in the present invention, the first electrode pattern 18 does not necessarily have to be provided in the portions between all of the first electrode fingers 16. The second electrode pattern 19 does not necessarily have to be provided in the portions between all of the second electrode fingers 17.
  • the fifth to seventh modified examples of the second embodiment are shown.
  • the main mode characteristics can be improved, the transverse mode and unwanted waves outside the passband can be suppressed, and the Q value can be increased.
  • the first electrode pattern 18 is provided between all of the first electrode fingers 16, and the second electrode pattern 19 is provided between all of the second electrode fingers 17.
  • a low acoustic velocity region is formed in both the first edge region H1 and the second edge region H2.
  • the first electrode pattern 18 is provided between all of the first electrode fingers 16.
  • the second electrode pattern 19 is not provided.
  • the low acoustic velocity region is formed only in at least a part of the second edge region H2. More specifically, in this modified example, the low acoustic velocity region is formed in the entire second edge region H2.
  • some of all the second electrode fingers 17 face the first electrode pattern 18.
  • a low acoustic velocity region is formed in a part of the first edge region H1.
  • At least one second electrode finger 17 is located in a part of the first edge region H1 where no low acoustic velocity region is formed.
  • the tip of the at least one second electrode finger 17 faces the first electrode pattern 18.
  • the first electrode pattern 18 is provided in the portion between every other first electrode finger 16 that is aligned in the direction in which the first bus bar 14 extends. Therefore, every other second electrode finger 17 faces the first electrode pattern 18. Then, in the first edge region H1, a mass-adding film 29 is laminated on every other second electrode finger 17. The second electrode finger 17 on which the mass-adding film 29 is laminated does not face the first electrode pattern 18.
  • the arrangement in which the first electrode pattern 18 is provided and the arrangement in which the mass-adding film 29 is provided in the first edge region H1 are not limited to the above.
  • second electrode patterns 19 are provided between all of the second electrode fingers 17, and a low acoustic velocity region is formed in the entire second edge region H2.
  • the first electrode pattern 18 is not provided.
  • a low acoustic velocity region is formed in a part of the first edge region H1.
  • At least one second electrode finger 17 is located in the part of the first edge region H1 where the low acoustic velocity region is not formed.
  • a first offset electrode 22 is provided so as to face the at least one second electrode finger 17.
  • the first offset electrode 22 is configured in the same manner as the first offset electrode 22 in the first reference example shown in FIG. 5. That is, one end of the first offset electrode 22, that is, the base end, is connected to the first bus bar 14. The tip end of the first offset electrode 22 faces the tip end of the second electrode finger 17 across a gap.
  • a mass-adding film 29 is laminated on every other second electrode finger 17 in the first edge region H1.
  • the second electrode fingers 17 on which the mass-adding film 29 is laminated do not face the first offset electrode 22.
  • the second electrode fingers 17 on which the mass-adding film 29 is not laminated face the first offset electrode 22.
  • second electrode patterns 19 are provided between all of the second electrode fingers 17, and a low acoustic velocity region is formed in the entire second edge region H2.
  • each electrode pattern has a rectangular shape extending parallel to the bus bar and is connected to both adjacent electrode fingers.
  • the shape of the electrode pattern in the present invention is not limited to the above.
  • the third embodiment shows an example of another electrode pattern shape.
  • FIG. 23 is a schematic plan view showing the vicinity of the first electrode pattern and the vicinity of the second electrode pattern of the IDT electrode in the third embodiment.
  • This embodiment differs from the second embodiment in the configuration of the connections with the electrode fingers in the first electrode pattern 38 and the second electrode pattern 39.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device of the second embodiment.
  • the first electrode pattern 38 has a rectangular shape extending parallel to the first bus bar 14 in a plan view, and is connected to only one of the adjacent first electrode fingers 16.
  • the second electrode pattern 39 has a rectangular shape extending parallel to the second bus bar 15 in a plan view, and is connected to only one of the adjacent second electrode fingers 17.
  • the main mode characteristics can be improved, transverse modes and unnecessary waves outside the passband can be suppressed, and the Q value can be increased.
  • the multiple first electrode patterns may include, for example, the first electrode pattern of the first embodiment and the first electrode pattern of the present embodiment. The same applies to the second electrode pattern.
  • first to fourth modified examples of the third embodiment are shown, which differ from the third embodiment only in the configurations of the first and second electrode patterns.
  • the first to fourth modified examples can also improve the characteristics of the main mode, suppress transverse modes and unwanted waves outside the passband, and increase the Q value.
  • the first electrode pattern 38A has a rectangular shape extending parallel to the first bus bar 14 in a plan view, and is not connected to any of the adjacent first electrode fingers 16.
  • the second electrode pattern 39A has a rectangular shape extending parallel to the second bus bar 15, and is not connected to any of the adjacent second electrode fingers 17.
  • the first electrode pattern 38B has a shape including a side that does not extend parallel to the first bus bar 14 in a plan view, and is connected to both of the adjacent first electrode fingers 16. Specifically, the side of the first electrode pattern 38B facing the first bus bar 14 does not extend parallel to the first bus bar 14. On the other hand, the side facing the second electrode finger 17 extends parallel to the first bus bar 14.
  • the shape of the first electrode pattern 38B in a plan view is a pentagon.
  • the shape of the second electrode pattern 39B in a plan view is also a pentagon. In this way, the shapes of the first electrode pattern and the second electrode pattern in the present invention in a plan view may be polygons other than a rectangle.
  • the first electrode pattern 38C has a shape including a side that does not extend parallel to the first bus bar 14 in a plan view, and is connected to only one of the adjacent first electrode fingers 16.
  • the side of the first electrode pattern 38C facing the first bus bar 14 does not extend parallel to the first bus bar 14.
  • the side facing the second electrode finger 17 extends parallel to the first bus bar 14.
  • the second electrode pattern 39C has a shape including a side that does not extend parallel to the second bus bar 15 in a plan view, and is connected to only one of the adjacent second electrode fingers 17.
  • the first electrode pattern 38D has a shape including a side that does not extend parallel to the first bus bar 14 in a plan view, and is not connected to any of the adjacent first electrode fingers 16.
  • the side of the first electrode pattern 38D facing the first bus bar 14 does not extend parallel to the first bus bar 14.
  • the side facing the second electrode finger 17 extends parallel to the first bus bar 14.
  • the shape of the first electrode pattern 38D in a plan view is a pentagon.
  • the shape of the second electrode pattern 39D in a plan view is also a pentagon, and is not connected to any of the adjacent second electrode fingers 17.
  • At least one of the multiple first electrode patterns may have the configuration of any of the modified examples.
  • the multiple first electrode patterns may include first electrode patterns of different forms according to the present invention. The same applies to the multiple second electrode patterns.
  • FIG. 28 is a schematic plan view illustrating the configuration of the IDT electrode in the fourth embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that the reference line N1 does not include the first envelope E1 and an extension of the first envelope E1.
  • the reference line N1 is a straight line that extends parallel to the propagation axis of the piezoelectric layer and passes through the fixed point C1.
  • This embodiment also differs from the first embodiment in that the reference line N2 does not include the second envelope E2 and an extension of the second envelope E2.
  • the reference line N2 is a straight line that extends parallel to the propagation axis of the piezoelectric layer and passes through the fixed point C2.
  • This embodiment also differs from the first embodiment in that the first envelope E1 and the second envelope E2 are inclined with respect to the propagation axis.
  • the elastic wave device of this embodiment has a similar configuration to the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • a straight line including the first envelope E1 and an extension of the first envelope E1 is defined as a straight line IG1.
  • a fixed point C1 is located on the straight line IG1.
  • the angle between the straight line IG1 and the reference line N1 is defined as an envelope inclination angle ⁇ IG1 .
  • a straight line including the second envelope E2 and an extension of the second envelope E2 is defined as a straight line IG2.
  • a fixed point C2 is located on the straight line IG2.
  • the angle between the straight line IG2 and the reference line N2 is defined as an envelope inclination angle ⁇ IG2 .
  • the absolute values of the envelope inclination angle ⁇ IG1 and the envelope inclination angle ⁇ IG2 are 90° or less.
  • the positive direction of both the envelope inclination angle ⁇ IG1 and the envelope inclination angle ⁇ IG2 is defined as a counterclockwise direction when viewed in a plan view.
  • the envelope inclination angle ⁇ IG1 is the angle at which the first envelope E1 is inclined with respect to the propagation axis.
  • the envelope inclination angle ⁇ IG2 is the angle at which the second envelope E2 is inclined with respect to the propagation axis.
  • each envelope inclination angle is not limited to the above.
  • the IDT electrode of this embodiment has a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19, similar to the first embodiment. This makes it possible to suppress the leakage of elastic wave energy and increase the Q value.
  • the angle ⁇ C1 , the excitation angle ⁇ C1_prop , and the cross angle ⁇ C1_AP are defined with reference to the reference line N1.
  • the angle ⁇ C2 , the excitation angle ⁇ C2_prop , and the cross angle ⁇ C2_AP are defined with reference to the reference line N2.
  • the duty ratio of the IDT electrode is changed in each curved region according to the excitation angle ⁇ C1_prop or the excitation angle ⁇ C2_prop , so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies of all the excitation parts are made to substantially coincide with each other.
  • the relationship between the excitation angle ⁇ C1_prop and the duty ratio in the fourth embodiment is shown in FIG. 29. Note that examples in which the maximum value of the duty ratio is different from that in the fourth embodiment are also shown as a first modified example and a second modified example of the fourth embodiment.
  • FIG. 29 is a diagram showing the relationship between the absolute value of the excitation angle
  • the two-dot chain line in Fig. 29 indicates the position on the straight line IG1.
  • the duty ratio when the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is maximum. Note that in the fourth embodiment, when the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is 0.5. The larger the absolute value of the excitation angle
  • the duty ratio is smaller as the absolute value
  • the duty ratio is 0.64.
  • the excitation angle ⁇ C1 _prop is 0°, the duty ratio is 0.425.
  • the resonance frequencies or anti-resonance frequencies are approximately the same in all excitation parts in the first curved region.
  • of the excitation angle in the second curved region and the duty ratio is the same as the relationship shown in FIG. 29. Therefore, the resonance frequencies or anti-resonance frequencies are approximately the same in all excitation parts in the second curved region.
  • the first and second modified examples are configured in the same way as the fourth embodiment except for the duty ratio. Therefore, the Q value can be increased.
  • a low acoustic velocity region may be configured in the same way as in the second embodiment.
  • a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger of the IDT electrode, in the same way as in the second embodiment. That is, in each edge region, a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger. This allows the piston mode to be established.
  • a plurality of first electrode patterns 18 and second electrode patterns 19 are also provided. This allows the characteristics of the main mode to be improved, transverse modes and unnecessary waves outside the passband to be suppressed, and the Q value to be increased.
  • FIG. 31 is a schematic plan view illustrating the configuration of an IDT electrode in the fifth embodiment.
  • ⁇ IG1 ⁇ ⁇ IG2 .
  • the signs of the envelope inclination angles ⁇ IG1 and ⁇ IG2 are opposite to each other. That is, the first envelope E1 and the second envelope E2 extend at angles opposite to each other with respect to the propagation axis.
  • the IDT electrode 48 has a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19, as in the fourth embodiment. This makes it possible to suppress the leakage of elastic wave energy and increase the Q value.
  • the signs of the envelope inclination angle ⁇ IG1 and the envelope inclination angle ⁇ IG2 are opposite to each other and have the same absolute value. Therefore, the first envelope E1 and the second envelope E2 are linearly symmetric with respect to the symmetry axis extending in a direction parallel to the propagation axis. However, the signs of the envelope inclination angle ⁇ IG1 and the envelope inclination angle ⁇ IG2 may be opposite to each other and have different absolute values. The signs of the envelope inclination angle ⁇ IG1 and the envelope inclination angle ⁇ IG2 may be the same and have different absolute values. Alternatively, for example, the first envelope E1 may be inclined with respect to the propagation axis, and the second envelope E2 may not be inclined with respect to the propagation axis.
  • a low sound velocity region may be configured in the same manner as in the second embodiment.
  • a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger of the IDT electrode 48 in the same manner as in the second embodiment. That is, in each edge region, a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger. This allows the piston mode to be established.
  • the IDT electrode 48 is configured in the same manner as in the fifth embodiment, and a plurality of first electrode patterns 18 and second electrode patterns 19 are provided. This allows the characteristics of the main mode to be improved, the transverse mode and unnecessary waves outside the passband to be suppressed, and the Q value to be increased.
  • FIG. 33 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a sixth embodiment.
  • FIG. 34 is a schematic plan view for explaining the configuration of an IDT electrode in the sixth embodiment.
  • this embodiment differs from the fifth embodiment in that the intersection region D includes a first linear region T1 and a second linear region T2. As shown in FIG. 34, this embodiment also differs from the fifth embodiment in that the straight line IG1 does not pass through the fixed point C1, and the straight line IG2 does not pass through the fixed point C2.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device of the fifth embodiment.
  • the first straight line region T1 includes the first envelope curve E1.
  • the second straight line region T2 includes the second envelope curve E2.
  • the first electrode fingers 56 and the second electrode fingers 57 have a linear shape in a plan view.
  • a straight line that extends parallel to the straight line IG1 and passes through the fixed point C1 is defined as a straight line J1.
  • the straight line J1 includes an edge portion of the first curved region W1 on the first bus bar 14 side and an extension of the edge portion.
  • the angle between the straight line J1 and the reference line N1 is defined as an edge inclination angle ⁇ J1 .
  • a straight line that extends parallel to the straight line IG2 and passes through the fixed point C2 is defined as a straight line J2.
  • the straight line J2 includes an edge portion of the second curved region W2 on the second bus bar 15 side and an extension of the edge portion.
  • the angle between the straight line J2 and the reference line N2 is defined as an edge inclination angle ⁇ J2 .
  • the absolute values of the edge inclination angle ⁇ J1 and the edge inclination angle ⁇ J2 are 90° or less.
  • the positive direction of both the edge inclination angle ⁇ J1 and the edge inclination angle ⁇ J2 is defined as the counterclockwise direction in a plan view.
  • the signs of the edge inclination angles ⁇ J1 and ⁇ J2 are opposite to each other and the absolute values are the same. Therefore, the edge of the first curved region W1 on the first bus bar 14 side and the edge of the second curved region W2 on the second bus bar 15 side are linearly symmetrical with respect to the axis of symmetry extending in a direction parallel to the propagation axis.
  • the signs of the edge inclination angles ⁇ J1 and ⁇ J2 may be opposite to each other and the absolute values may be different.
  • the signs of the edge inclination angles ⁇ J1 and ⁇ J2 may be the same and the absolute values may be different.
  • the edge inclination angles ⁇ J1 and ⁇ J2 may be the same.
  • the edge of the first curved region W1 may be inclined with respect to the propagation axis, and the edge of the second curved region W2 may not be inclined with respect to the propagation axis.
  • the IDT electrode 58 has a plurality of first electrode patterns 18 and a plurality of second electrode patterns 19, as in the fifth embodiment. This makes it possible to suppress the leakage of elastic wave energy and increase the Q value.
  • a low sound velocity region may be configured in the same manner as in the second embodiment.
  • a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger of the IDT electrode 58 in the same manner as in the second embodiment. That is, in each edge region, a mass-adding film 29 is laminated on each electrode finger. This allows the piston mode to be established.
  • the IDT electrode 58 is configured in the same manner as in the sixth embodiment, and a plurality of first electrode patterns 18 and second electrode patterns 19 are provided. This allows the characteristics of the main mode to be improved, the transverse mode and unnecessary waves outside the passband to be suppressed, and the Q value to be increased.
  • FIG. 36 is a schematic plan view of an elastic wave device according to a seventh embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in the shape of the IDT electrode 68. Accordingly, the shapes of the reflectors also differ from those of the first embodiment.
  • the elastic wave device of this embodiment has a similar configuration to the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • the portion of the first busbar 64 on the side of the intersection region D has multiple bends 64a.
  • the portion of the second busbar 65 on the side of the intersection region D has multiple bends 65a.
  • at least one of the first busbar 64 and the second busbar 65 may have at least one bend.
  • the first envelope E1 has multiple bends V1.
  • the first envelope E1 has a wavy shape in which the multiple bends V1 are connected by straight lines. This makes the distance between the first bus bar 64 and the intersection region D constant.
  • the second envelope E2 has multiple bends V2.
  • the second envelope E2 has a wavy shape in which the multiple bends V2 are connected by straight lines. This makes the distance between the second bus bar 65 and the intersection region D constant.
  • At least one of the first envelope E1 and the second envelope E2 may have a wavy shape in which multiple bends are connected by curves.
  • at least one of the first envelope E1 and the second envelope E2 may have a wavy shape.
  • each first electrode pattern 18 extends parallel to the direction in which the portion of the first busbar 64 on the crossing region D side extends.
  • the multiple first electrode patterns 18 are lined up along a wavy shape.
  • each second electrode pattern 19 extends parallel to the direction in which the portion of the second busbar 65 on the crossing region D side extends.
  • the multiple second electrode patterns 19 are lined up along a wavy shape.
  • the shape of the multiple electrode fingers of the IDT electrode 68 in a planar view is an arc shape on concentric circles with a common center at a fixed point.
  • the distance between the tip of the electrode finger facing the electrode pattern and the electrode pattern is 0.5 ⁇ or less. This makes it possible to increase the Q value.
  • the duty ratio is adjusted to make the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections approximately equal.
  • the electrode finger pitch may be adjusted to make the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections approximately equal. An example of this is shown in the eighth embodiment.
  • the eighth embodiment differs from the first embodiment in that the duty ratio of the IDT electrodes is constant and the electrode finger pitch is not constant.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • the electrode finger pitch in the excitation portion where ⁇ C1 — prop is 0° is p0
  • the electrode finger pitch in an arbitrary portion is p1
  • the rate of change in the electrode finger pitch ⁇ pitch [%] is ⁇ (p1 ⁇ p0)/p0 ⁇ 100 [%].
  • FIG. 37 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • the resonance frequencies or the anti-resonance frequencies are approximately the same.
  • the resonance frequencies or anti-resonance frequencies may be approximately equal in all excitation parts.
  • An example of this is an acoustic wave device in which an IDT electrode provided on a substrate made of only rotated Y-cut -4°X-prop LiNbO 3 is embedded in a thick SiO 2 film.
  • the value of the electrode finger pitch is not necessarily maximum or minimum.
  • the duty ratio or electrode finger pitch is adjusted to make the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections approximately equal.
  • the thickness of multiple electrode fingers may be adjusted to make the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections approximately equal. An example of this is shown in the ninth embodiment.
  • the ninth embodiment differs from the first embodiment in that the duty ratio of the IDT electrode is constant and the thickness of the multiple electrode fingers is not constant.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • FIG. 38 is a diagram showing the relationship between the absolute value of the excitation angle
  • the thinner the thickness of the first electrode finger and the second electrode finger.
  • in the second curved region and the thickness of the first electrode finger and the second electrode finger is also the same as the relationship shown in Fig. 38.
  • the resonance frequencies or the anti-resonance frequencies are approximately the same.
  • the relationship between the thickness of the first electrode finger and the second electrode finger and the frequency of each mode varies depending on the reverse velocity plane of the piezoelectric substrate. Therefore, depending on the configuration of the piezoelectric substrate and the configuration on the piezoelectric substrate, the larger the absolute values of the excitation angles
  • An example of this is an acoustic wave device in which an IDT electrode provided on a substrate made of only rotated Y-cut -4°X-prop LiNbO 3 is embedded in a thick SiO 2 film.
  • the thickness value of the first electrode finger and the second electrode finger is not necessarily maximum or minimum.
  • the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections are made to substantially coincide with each other by the configuration of the IDT electrodes.
  • the resonant frequencies or anti-resonant frequencies in all excitation sections may also be made to substantially coincide with each other by adjusting the thickness of the dielectric film covering the IDT electrodes. An example of this is shown in the tenth embodiment and its modified example.
  • FIG. 39 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a tenth embodiment.
  • FIG. 39 shows a cross section corresponding to the portion shown in FIG. 2. The same is true for the other schematic cross-sectional front views.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that the duty ratio of the IDT electrode 78 is constant. This embodiment also differs from the first embodiment in that a dielectric film 75 is provided on the piezoelectric layer 6 so as to cover the IDT electrode 78.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • the sound velocity of the transverse wave propagating through the dielectric film 75 of this embodiment is lower than the sound velocity of the main mode propagating through the dielectric film 75.
  • the thickness of the dielectric film 75 varies depending on the excitation angle ⁇ C1 _prop of the excitation part of the first curved region covered by the dielectric film 75.
  • the thickness of the dielectric film 75 varies depending on the excitation angle ⁇ C2 _prop of the excitation part of the second curved region covered by the dielectric film 75.
  • FIG. 40 is a diagram showing the relationship between the absolute value
  • of the excitation angle of the excitation part in the first curved region covered by the dielectric film 75 the thinner the thickness of the dielectric film 75.
  • of the excitation angle in the second curved region and the thickness of the dielectric film 75 is also the same as the relationship shown in Fig. 40.
  • the resonance frequencies or the anti-resonance frequencies are approximately the same.
  • the leakage of the energy of the elastic wave can be suppressed and the Q value can be increased.
  • the sound velocity of the transverse waves propagating through the dielectric film 75 is lower than the sound velocity of the main mode propagating through the dielectric film 75.
  • the relationship of the sound velocities of the waves propagating through the dielectric film is not limited to the above.
  • a modified example of the tenth embodiment, which differs from the tenth embodiment only in the sound velocity of the transverse waves propagating through the dielectric film and the manner in which the thickness changes, is shown below.
  • the sound velocity of the transverse wave propagating through the dielectric film is higher than the sound velocity of the main mode propagating through the dielectric film.
  • of the excitation angle in the excitation part of the first curved region covered by the dielectric film and the thickness of the dielectric film is as shown in FIG. 41. More specifically, the greater the absolute value
  • of the excitation angle in the second curved region and the thickness of the dielectric film is also the same as the relationship shown in FIG. 41.
  • the resonance frequencies or the anti-resonance frequencies are approximately the same.
  • the leakage of the energy of the elastic wave can be suppressed, and the Q value can be increased.
  • the thickness of the portion of the dielectric film covering the excitation portion through which the reference line passes in this invention may not necessarily be the maximum or minimum.
  • the laminated structure of the piezoelectric substrate is not limited to the configuration shown in FIG. 2.
  • the eleventh embodiment shows an example in which an elastic wave device has a piezoelectric substrate different from that of the first embodiment.
  • FIG. 42 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to an eleventh embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in the layered structure of the piezoelectric substrate 82.
  • the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device of the first embodiment.
  • the piezoelectric substrate 82 has a support substrate 4, a high acoustic velocity film 85A, a low acoustic velocity film 85B, and a piezoelectric layer 6.
  • the high acoustic velocity film 85A is provided on the support substrate 4.
  • the low acoustic velocity film 85B is provided on the high acoustic velocity film 85A.
  • the piezoelectric layer 6 is provided on the low acoustic velocity film 85B.
  • the high acoustic velocity film 85A is a film with a relatively high acoustic velocity. More specifically, the acoustic velocity of the bulk wave propagating through the high acoustic velocity film 85A is higher than the acoustic velocity of the elastic wave propagating through the piezoelectric layer 6.
  • the material of the high acoustic velocity film 85A may be, for example, a piezoelectric material such as aluminum nitride, lithium tantalate, lithium niobate, or quartz; a ceramic material such as alumina, sapphire, magnesia, silicon nitride, silicon carbide, zirconia, cordierite, mullite, steatite, forsterite, spinel, or sialon; a dielectric material such as aluminum oxide, silicon oxynitride, DLC (diamond-like carbon), or diamond; or a semiconductor material such as silicon; or a material mainly composed of the above-mentioned material.
  • a piezoelectric material such as aluminum nitride, lithium tantalate, lithium niobate, or quartz
  • a ceramic material such as alumina, sapphire, magnesia, silicon nitride, silicon carbide, zirconia, cordierite, mullite, steatite
  • the spinel includes an aluminum compound containing one or more elements selected from Mg, Fe, Zn, Mn, and the like, and oxygen.
  • Examples of the spinel include MgAl2O4 , FeAl2O4 , ZnAl2O4 , and MnAl2O4 .
  • the low acoustic velocity film 85B is a film with a relatively low acoustic velocity. More specifically, the acoustic velocity of the bulk waves propagating through the low acoustic velocity film 85B is lower than the acoustic velocity of the bulk waves propagating through the piezoelectric layer 6.
  • the low acoustic velocity film 85B can be made of a material such as glass, silicon oxide, silicon oxynitride, lithium oxide, tantalum oxide, or a dielectric material such as a compound of silicon oxide with fluorine, carbon, or boron added, or a material containing the above materials as a main component.
  • a high acoustic velocity film 85A, a low acoustic velocity film 85B, and a piezoelectric layer 6 are laminated in this order on a piezoelectric substrate 82.
  • the stopband is a region where the wavelength of the elastic wave is constant as a result of the elastic wave being confined in a metal grating with a periodic structure.
  • the upper end of the stopband is the end of the stopband on the high-frequency side.
  • the stopband is a band from the resonant frequency to the frequency at the upper end of the stopband.
  • the Q value can be effectively increased. Furthermore, it is also possible to suppress transverse modes.
  • Support substrate 4 Material: Si, surface orientation: (111), Euler angles ( ⁇ , ⁇ , ⁇ ) ⁇ : 73° High sound velocity film 85A; material: SiN, thickness: 0.15 ⁇ Low sound velocity film 85B: material: SiO 2 , thickness: 0.15 ⁇
  • Piezoelectric layer 6 Material: rotated Y-cut 55° X-propagation LiTaO 3 , thickness: 0.2 ⁇ IDT electrode 8; material: Al, thickness: 0.05 ⁇ , Ellipticity coefficient ⁇ 12/ ⁇ 11 in the shape of the electrode finger; 1 Ellipticity coefficient ⁇ 22/ ⁇ 21 in the shape of the electrode finger; 1 Wavelength ⁇ : 2 ⁇ m Number of pairs of electrode fingers of the IDT electrode 8: 80 Duty ratio: 0.5 in the excitation section where the angle ⁇ C1 and the angle ⁇ C2 are 0° Intersection angle ⁇ C1_AP ; 10° Intersection angle ⁇ C2_AP ; 10° I-P gap: 0.135 ⁇ Width of the first electrode pattern 18
  • the design parameters of the elastic wave device of the second reference example are the same as those of the elastic wave device of the eleventh embodiment, except for the parameters related to the electrode pattern.
  • the distance between the electrode fingers and the bus bar is 2 ⁇ .
  • the impedance frequency characteristics and the relationship between frequency and Q value were determined for each of the elastic wave devices of the 11th embodiment and the second reference example.
  • FIG. 43 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the eleventh embodiment and the second reference example.
  • FIG. 44 is a diagram showing the relationship between frequency and return loss in the eleventh embodiment and the second reference example. Note that fr shown in FIG. 43 and FIG. 44 is the resonance frequency, fa is the anti-resonance frequency, and fs is the frequency at the upper end of the stop band. The same applies to FIG. 45 and FIG. 46 described later.
  • the impedance ratio is greater in the 11th embodiment than in the second reference example. This is because the Q value can be increased in the 11th embodiment.
  • each electrode finger has a wide portion. This forms a low acoustic velocity region in each edge region.
  • the design parameters of the elastic wave device of the first modified example in this comparison are similar to the design parameters of the elastic wave device of the eleventh embodiment in this comparison in Figures 43 and 44, except for the edge regions. Specifically, in the first modified example, the dimension of each edge region along the direction in which the electrode fingers extend is 0.75 ⁇ . The duty ratio in each edge region is 0.67.
  • the design parameters of the elastic wave device of the second reference example are similar to the design parameters in the comparison in Figures 43 and 44.
  • FIG. 45 is a diagram showing impedance frequency characteristics in the first modified example and the second reference example of the 11th embodiment.
  • FIG. 46 is a diagram showing the relationship between frequency and return loss in the first modified example and the second reference example of the 11th embodiment.
  • the impedance ratio is larger in the first modified example than in the second reference example. This is because the Q value can be increased in the first modified example, as in the eleventh embodiment.
  • the first modified example is able to suppress the transverse mode more effectively than the second reference example. This is because the piston mode is established in the first modified example. In addition, it can be seen that this modified example is able to reduce loss in the stopband more than the second reference example.
  • the effects of the eleventh embodiment and the first modified example can be obtained in the same way even when a dielectric film is provided on a piezoelectric substrate.
  • a piezoelectric substrate 82A has a support substrate 4, an acoustic reflection film 87, a low acoustic velocity film 85B, and a piezoelectric layer 6.
  • the acoustic reflection film 87 is provided on the support substrate 4.
  • the low acoustic velocity film 85B is provided on the acoustic reflection film 87.
  • the piezoelectric layer 6 is provided on the low acoustic velocity film 85B.
  • the acoustic reflection film 87 is a laminate of multiple acoustic impedance layers. Specifically, the acoustic reflection film 87 has multiple low acoustic impedance layers and multiple high acoustic impedance layers.
  • the high acoustic impedance layers are layers with relatively high acoustic impedance. More specifically, the multiple high acoustic impedance layers of the acoustic reflection film 87 are high acoustic impedance layer 87a, high acoustic impedance layer 87c, and high acoustic impedance layer 87e.
  • the low acoustic impedance layers are layers with relatively low acoustic impedance.
  • the multiple low acoustic impedance layers of the acoustic reflection film 87 are low acoustic impedance layer 87b and low acoustic impedance layer 87d.
  • the low acoustic impedance layers and high acoustic impedance layers are alternately laminated.
  • the high acoustic impedance layer 87a is the layer located closest to the piezoelectric layer 6 in the acoustic reflection film 87.
  • the acoustic reflection film 87 has two low acoustic impedance layers and three high acoustic impedance layers. However, it is sufficient that the acoustic reflection film 87 has at least one low acoustic impedance layer and one high acoustic impedance layer.
  • the material for the low acoustic impedance layer may be, for example, silicon oxide or aluminum.
  • the material for the high acoustic impedance layer may be, for example, a metal such as platinum or tungsten, or a dielectric such as aluminum nitride or silicon nitride.
  • the material for the low acoustic velocity film 85B may be the same as the material for the low acoustic impedance layer.
  • the piezoelectric substrate 82B has a support substrate 84 and a piezoelectric layer 6.
  • the piezoelectric layer 6 is provided directly on the support substrate 84. More specifically, the support substrate 84 has a recess.
  • the piezoelectric layer 6 is provided on the support substrate 84 so as to cover the recess. This forms a hollow portion 82c in the piezoelectric substrate 82B.
  • a portion of the piezoelectric layer 6 and a portion of the support substrate 84 face each other with the hollow portion 82c in between.
  • the hollow portion 82c overlaps at least a portion of the IDT electrode 8 in a plan view.
  • the IDT electrode 8 shown in FIG. 42 may be embedded in a protective film.
  • a protective film 89 is provided on the piezoelectric layer 6 so as to cover the IDT electrode 8.
  • the thickness of the protective film 89 is greater than the thickness of the IDT electrode 8.
  • the IDT electrode 8 is embedded in the protective film 89. This makes it difficult for the IDT electrode 8 to be damaged.
  • the protective film 89 has a first layer 89a and a second layer 89b.
  • the IDT electrode 8 is embedded in the first layer 89a.
  • the second layer 89b is provided on the first layer 89a.
  • silicon oxide is used as the material for the first layer 89a.
  • TCF temperature coefficient of frequency
  • Silicon nitride is used for the second layer 89b. This allows the moisture resistance to be improved.
  • the Q value can be increased, as in the eleventh embodiment.
  • the materials of the first layer 89a and the second layer 89b are not limited to those mentioned above.
  • the protective film 89 may be a single layer or a laminate of three or more layers.
  • FIG. 50 is a schematic cross-sectional front view of an elastic wave device according to a twelfth embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that an IDT electrode 8 is provided on both the first principal surface 6a and the second principal surface 6b of the piezoelectric layer 6.
  • the IDT electrode 8 provided on the second principal surface 6b is located within the hollow portion 2c.
  • the elastic wave device 91 of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 1 of the first embodiment.
  • a plurality of first electrode patterns and a plurality of second electrode patterns are provided. This makes it possible to suppress the leakage of elastic wave energy and increase the Q value.
  • the IDT electrodes 8 provided on the first principal surface 6a and the second principal surface 6b of the piezoelectric layer 6 may have different design parameters, for example.
  • first to third modified examples of the twelfth embodiment are shown, which differ from the twelfth embodiment only in at least one of the configuration of the electrodes provided on the second main surface of the piezoelectric layer and the laminated structure of the piezoelectric substrate.
  • the Q value can be increased.
  • the piezoelectric substrate 82 is configured in the same manner as in the eleventh embodiment. Specifically, the piezoelectric substrate 82 has a support substrate 4, a high acoustic velocity film 85A, a low acoustic velocity film 85B, and a piezoelectric layer 6. The IDT electrode 8 provided on the second main surface 6b of the piezoelectric layer 6 is embedded in the low acoustic velocity film 85B.
  • a plate-shaped electrode 98 is provided on the second main surface 6b of the piezoelectric layer 6.
  • the electrode 98 is located within the hollow portion 2c.
  • the IDT electrode 8 and the electrode 98 face each other with the piezoelectric layer 6 in between.
  • the piezoelectric substrate 82 is configured in the same manner as in the first modified example, and an electrode 98 similar to that in the second modified example is provided on the second main surface 6b of the piezoelectric layer 6.
  • the electrode 98 is embedded in the low acoustic velocity film 85B.
  • the elastic wave device according to the present invention can be used, for example, in a filter device. An example of this is shown below.
  • FIG. 54 is a circuit diagram of a filter device according to the thirteenth embodiment.
  • the filter device 100 of this embodiment is a ladder-type filter.
  • the filter device 100 has a first signal terminal 102, a second signal terminal 103, a plurality of series arm resonators, and a plurality of parallel arm resonators.
  • all of the series arm resonators and all of the parallel arm resonators are elastic wave resonators.
  • all of the series arm resonators and all of the parallel arm resonators are elastic wave devices according to the present invention.
  • it is sufficient that at least one of the plurality of elastic wave resonators of the filter device 100 is an elastic wave device according to the present invention.
  • the first signal terminal 102 is an antenna terminal.
  • the antenna terminal is connected to an antenna.
  • the first signal terminal 102 does not necessarily have to be an antenna terminal.
  • the first signal terminal 102 and the second signal terminal 103 may be configured as, for example, an electrode pad or as wiring.
  • the multiple series arm resonators in this embodiment are specifically series arm resonators S1, S2, and S3.
  • the multiple series arm resonators are connected in series between the first signal terminal 102 and the second signal terminal 103.
  • the multiple parallel arm resonators are specifically parallel arm resonators P1 and P2.
  • the parallel arm resonator P1 is connected between the connection point between the series arm resonator S1 and the series arm resonator S2 and the ground potential.
  • the parallel arm resonator P2 is connected between the connection point between the series arm resonator S2 and the series arm resonator S3 and the ground potential.
  • the circuit configuration of the filter device 100 is not limited to the above.
  • the filter device 100 may include, for example, a longitudinally coupled resonator type acoustic wave filter.
  • the elastic wave resonator in the filter device 100 is an elastic wave device according to the present invention. Therefore, in the elastic wave resonator of the filter device 100, it is possible to suppress the leakage of elastic wave energy and increase the Q value. Therefore, it is possible to improve the filter characteristics of the filter device 100.
  • a piezoelectric substrate including a piezoelectric layer, and an IDT electrode provided on the piezoelectric layer and having a pair of bus bars and a plurality of electrode fingers, the pair of bus bars being a first bus bar and a second bus bar facing each other, the plurality of electrode fingers being a plurality of first electrode fingers and a plurality of second electrode fingers, one end of each of the plurality of first electrode fingers being connected to the first bus bar, one end of each of the plurality of second electrode fingers being connected to the second bus bar, the plurality of first electrode fingers and the plurality of second electrode fingers being interdigitated with each other, a virtual line formed by connecting the tips of the plurality of second electrode fingers being a first envelope, a virtual line formed by connecting the tips of the plurality of first electrode fingers being a second envelope, and the first envelope in the IDT electrode and the second envelope is an intersection region, the region is provided on the piezoelectric layer, and the region further includes a plurality of electrode patterns provided at least one between the first bus bar
  • ⁇ 2> The elastic wave device described in ⁇ 1>, in which the intersection region has a first edge region including the first envelope, a second edge region including the second envelope, and a central region sandwiched between the first edge region and the second edge region, and a low sound speed region is formed in at least a portion of at least one of the first edge region and the second edge region, in which the sound speed is lower than the sound speed in the central region.
  • the elastic wave device according to ⁇ 2> or ⁇ 3>, further comprising a mass-adding film that is provided in at least one of the first edge region and the second edge region so as to overlap at least one of the first electrode fingers and the second electrode fingers when viewed in a plane, and the low acoustic velocity region is formed by providing the mass-adding film.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 2> to ⁇ 4>, further comprising a high acoustic velocity film provided in the central region, the high acoustic velocity film making the acoustic velocity in the central region higher than the acoustic velocity in the first edge region and the second edge region, and the low acoustic velocity region being formed in both the first edge region and the second edge region.
  • ⁇ 6> An elastic wave device according to any one of ⁇ 2> to ⁇ 5>, in which the low acoustic velocity region is formed throughout both the first edge region and the second edge region.
  • ⁇ 7> An elastic wave device according to any one of ⁇ 2> to ⁇ 4>, in which the low acoustic velocity region is formed in at least a portion of only one of the first edge region and the second edge region.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 2> to ⁇ 4>, in which some of all the second electrode fingers face the electrode pattern, the low acoustic velocity region is formed in a part of the first edge region, at least one of the second electrode fingers is located in a part of the first edge region where the low acoustic velocity region is not formed, and a tip of the at least one second electrode finger faces the electrode pattern.
  • An elastic wave device comprising at least one offset electrode having one end connected to the first bus bar, the low acoustic velocity region being formed in a portion of the first edge region, at least one of the second electrode fingers being positioned in a portion of the first edge region where the low acoustic velocity region is not formed, and the at least one second electrode finger and the at least one offset electrode being opposed to each other.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 7>, in which the plurality of electrode patterns are provided both between the first bus bar and the intersection region and between the second bus bar and the intersection region, and the tips of all the first electrode fingers and the tips of all the second electrode fingers face the electrode patterns.
  • ⁇ 12> An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 7>, in which the plurality of electrode patterns are provided only between the first bus bar and the intersection region and only between the second bus bar and the intersection region.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a rectangular shape in a plan view that extends parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern, and is connected to both of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a rectangular shape extending parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern in a plan view, and is connected to only one of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a rectangular shape extending parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern in a plan view, and is not connected to any of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a shape including a side that does not extend parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern in a plan view, and is connected to both of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a shape including a side that does not extend parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern in a plan view, and is connected to only one of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 12>, in which at least one of the plurality of electrode patterns has a shape including a side that does not extend parallel to the bus bar of the pair of bus bars that faces the electrode pattern in a plan view, and is not connected to any of the adjacent electrode fingers connected to the bus bar.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 18>, in which a piezoelectric single crystal is used as the material of the piezoelectric layer, the piezoelectric layer has a propagation axis, and the first envelope extends at an angle with respect to the propagation axis.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 19>, in which at least one of the first envelope and the second envelope has at least one bend where the extension direction changes.
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 21>, in which the shapes of the first electrode fingers and the second electrode fingers in a plan view each include at least two curved portions in which the first electrode fingers and the second electrode fingers bend in different directions in the intersection region, and have at least one inflection point.
  • ⁇ 23> The elastic wave device according to ⁇ 22>, wherein the at least two curved portions in the shape of the first electrode fingers and the second electrode fingers in a planar view each include a circular arc or an elliptical arc shape, and the intersection region includes at least two curved regions in which the shape of the first electrode fingers and the second electrode fingers in a planar view each include a single circular arc or an elliptical arc shape.
  • one of the plurality of curved regions includes the first envelope, and in each of the curved regions, the center of a circle including the circular arc in the shape of the first electrode finger and the second electrode finger, or the center of gravity of two foci of an ellipse including the elliptical arc, is taken as a fixed point, and a portion on an arbitrary straight line passing through the fixed point in each of the curved regions is taken as an excitation portion, an extension line of the first envelope passes through the fixed point in the curved region, and a straight line including the first envelope and the extension line of the first envelope is taken as a reference line, and the fixed point and
  • the elastic wave device in which, when an angle between a straight line passing through the fixed point and the excitation part and the reference line is defined, and an excitation angle between a straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region and an excitation direction of an elastic wave at an intersection of the electrode fingers and the reference line is defined, at least one
  • the piezoelectric layer further includes a dielectric film provided to cover the IDT electrode, and one of the plurality of curved regions includes the first envelope, and in each of the curved regions, the center of a circle including the circular arc in the shape of the first electrode finger and the second electrode finger, or the center of gravity of two foci of an ellipse including the elliptical arc is set as a fixed point, and in each of the curved regions, when a portion on any straight line passing through the fixed point is set as an excitation portion, an extension line of the first envelope passes through the fixed point in the curved region, and the first envelope and the first envelope are aligned in a direction perpendicular to each other.
  • the elastic wave device described in ⁇ 23> in which a straight line including an extension of a tangential line is used as a reference line, an angle formed by a straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region including the first envelope and the reference line is defined, and an excitation angle is defined as an angle formed by the straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region and the excitation direction of the elastic wave at the intersection of the electrode fingers and the reference line, the thickness of the dielectric film changes according to each of the angles or the excitation angles so that the resonance frequencies or anti-resonance frequencies in all the excitation parts in the curved region are approximately equal.
  • a piezoelectric single crystal is used as the material of the piezoelectric layer, the piezoelectric layer has a propagation axis, and in each of the curved regions, the center of a circle including the circular arc in the shape of the first electrode finger and the second electrode finger, or the center of gravity of two foci of an ellipse including the elliptical arc is a fixed point, and in each of the curved regions, a portion on any straight line passing through the fixed point is an excitation part, a straight line extending parallel to the propagation axis and passing through the fixed point is a reference line, and a straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region including the first envelope,
  • the elastic wave device described in ⁇ 23> in which at least one of the duty ratio, the electrode finger pitch, and the thicknesses of the first electrode fingers and the second electrode fingers varies according to the angle or the excitation angle, so that when the angle formed by the reference line and the straight line passing through the fixed point and
  • a dielectric film is further provided on the piezoelectric layer so as to cover the IDT electrode, and a piezoelectric single crystal is used as the material of the piezoelectric layer, the piezoelectric layer has a propagation axis, and in each of the curved regions, the center of a circle including the circular arc in the shape of the first electrode finger and the second electrode finger, or the center of gravity of two foci of an ellipse including the elliptical arc, is a fixed point, and in each of the curved regions, a portion on any straight line passing through the fixed point is an excitation part, and a straight line extending parallel to the propagation axis and passing through the fixed point is a reference line
  • the elastic wave device described in ⁇ 23> in which the angle formed by the reference line and a straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region including the first envelope is defined, and the excitation angle formed by the straight line passing through the fixed point and the excitation part in the curved region
  • An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 27>, wherein in the intersection region, the shapes of the first electrode fingers and the second electrode fingers in a planar view include straight line shapes.
  • the elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 28>, further comprising a pair of reflectors arranged on the piezoelectric layer so as to face each other with the IDT electrode therebetween, each of the reflectors having a plurality of reflector electrode fingers, and the shape of the plurality of reflector electrode fingers in a plan view includes a curved shape.
  • ⁇ 30> An elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 29>, in which the piezoelectric substrate has a support substrate and the piezoelectric layer is provided on the support substrate.
  • ⁇ 31> The elastic wave device described in ⁇ 30>, wherein the piezoelectric substrate has an intermediate layer provided between the support substrate and the piezoelectric layer.
  • ⁇ 32> An elastic wave device according to ⁇ 30> or ⁇ 31>, in which a hollow portion is formed in the piezoelectric substrate, and a part of the support substrate and a part of the piezoelectric layer face each other with the hollow portion therebetween.
  • a filter device comprising a plurality of elastic wave resonators, at least one of which is an elastic wave device according to any one of ⁇ 1> to ⁇ 33>.
  • REFERENCE SIGNS LIST 1 ... acoustic wave device 2... piezoelectric substrate 2c... hollow portion 4... supporting substrate 5... intermediate layer 6... piezoelectric layer 6a, 6b... first and second main surfaces 8, 8A... IDT electrodes 9A, 9B... reflectors 9a, 9b... reflector electrode fingers 14, 15... first and second bus bars 16, 17... first and second electrode fingers 18, 19... first and second electrode patterns 22, 23... first and second offset electrodes 25... high acoustic velocity films 26...

Landscapes

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Abstract

本発明の弾性波装置は、圧電体層を含む圧電性基板と、圧電体層上に設けられており、1対のバスバー及び複数の電極指を有するIDT電極8とを備える。IDT電極8の複数の第2の電極指17の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第1の包絡線E1、複数の第1の電極指16の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第2の包絡線E2とする。弾性波装置は、圧電体層上に設けられており、第1のバスバーと交叉領域Dとの間、及び第2のバスバーと交叉領域Dとの間のうち、少なくとも一方に設けられている、複数の電極パターン(第1,第2の電極パターン18,19)をさらに備える。複数の電極指のうち、少なくとも1本の第1の電極指16の先端部または少なくとも1本の第2の電極指17の先端部が、電極パターンと対向している。平面視における複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の形状がそれぞれ、交叉領域Dにおいて、曲線状の部分を含み、IDT電極8の電極指ピッチにより規定される波長をλとしたときに、複数の電極指のうち、電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下である。

Description

弾性波装置及びフィルタ装置
 本発明は、弾性波装置及びフィルタ装置に関する。
 従来、弾性波装置が、携帯電話機のフィルタなどに広く用いられている。下記の特許文献1には、弾性波装置の一例が開示されている。この弾性波装置においては、圧電基板上にIDT(Interdigital Transducer)電極が設けられている。IDT電極の複数の電極指の形状は、曲線の形状を含む。より具体的には、各電極指が、IDT電極が交叉する領域の中央から、共通電極に至るまで、曲線に沿って延びている。
国際公開第2011/108229号
 特許文献1に記載された弾性波装置のIDT電極においては、複数の電極指が延びる方向における中央の部分の電極指ピッチが、該方向における端部の電極指ピッチよりも狭い。そのため、不要波の応答を抑制する効果が得られる。しかしながら、弾性波のエネルギーの漏洩を十分に抑制することができず、Q値を十分に高めることができない。
 本発明の目的は、Q値を高めることができる、弾性波装置及びフィルタ装置を提供することにある。
 本発明に係る弾性波装置は、圧電体層を含む圧電性基板と、前記圧電体層上に設けられており、1対のバスバー及び複数の電極指を有するIDT電極とを備え、前記1対のバスバーが、互いに対向している第1のバスバー及び第2のバスバーであり、前記複数の電極指が、複数の第1の電極指及び複数の第2の電極指であり、前記複数の第1の電極指の一端がそれぞれ、前記第1のバスバーに接続されており、前記複数の第2の電極指の一端がそれぞれ、前記第2のバスバーに接続されており、前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指が互いに間挿し合っており、前記複数の第2の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第1の包絡線、前記複数の第1の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第2の包絡線とし、前記IDT電極における、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線の間の領域が交叉領域であり、前記圧電体層上に設けられており、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間のうち、少なくとも一方に設けられている、複数の電極パターンをさらに備え、前記複数の電極指のうち、少なくとも1本の前記第1の電極指の先端部または少なくとも1本の前記第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向しており、平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、前記交叉領域において、曲線状の部分を含み、前記IDT電極の電極指ピッチにより規定される波長をλとしたときに、前記複数の電極指のうち、前記電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下である。
 本発明に係るフィルタ装置は、複数の弾性波共振子を備え、少なくとも1つの前記弾性波共振子が、本発明に従い構成されている弾性波装置である。
 本発明に係る弾性波装置及びフィルタ装置によれば、Q値を高めることができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図2は、図1中のI-I線に沿う模式的断面図である。 図3は、本発明の第1の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。 図4は、従来の弾性波装置の模式的平面図である。 図5は、第1の参考例の弾性波装置の模式的平面図である。 図6は、第2の参考例の弾性波装置の模式的平面図である。 図7は、本発明の第1の実施形態、第1の参考例及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。 図8は、本発明の第1の実施形態、第1の参考例及び第2の参考例における、周波数及びQ値の関係を示す図である。 図9は、第1の圧電性基板及び第2の圧電性基板を伝搬する弾性波の逆速度面を示す図である。 図10は、第1の圧電性基板における、縦波、速い横波、遅い横波の逆速度面を示す図である。 図11は、本発明の第1の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例における、IDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、デューティ比との関係を示す図である。 図12は、定点が楕円の2つの焦点の重心である場合のIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。 図13は、本発明の第2の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図14は、本発明の第2の実施形態及び第3の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。 図15は、本発明の第2の実施形態及び第3の参考例における、周波数及びQ値の関係を示す図である。 図16は、本発明の第2の実施形態の第1の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図17は、本発明の第2の実施形態の第2の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図18は、本発明の第2の実施形態の第3の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図19は、本発明の第2の実施形態の第4の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図20は、本発明の第2の実施形態の第5の変形例におけるIDT電極の、第1のエッジ領域付近及び第2のエッジ領域付近を示す模式的平面図である。 図21は、本発明の第2の実施形態の第6の変形例におけるIDT電極の、第1のエッジ領域付近及び第2のエッジ領域付近を示す模式的平面図である。 図22は、本発明の第2の実施形態の第7の変形例におけるIDT電極の、第1のエッジ領域付近及び第2のエッジ領域付近を示す模式的平面図である。 図23は、本発明の第3の実施形態におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。 図24は、本発明の第3の実施形態の第1の変形例におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。 図25は、本発明の第3の実施形態の第2の変形例におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。 図26は、本発明の第3の実施形態の第3の変形例におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。 図27は、本発明の第3の実施形態の第4の変形例におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。 図28は、本発明の第4の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。 図29は、本発明の第4の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例における、IDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、デューティ比との関係を示す図である。 図30は、本発明の第4の実施形態の第3の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図31は、本発明の第5の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。 図32は、本発明の第5の実施形態の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図33は、本発明の第6の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図34は、本発明の第6の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。 図35は、本発明の第6の実施形態の変形例に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図36は、本発明の第7の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。 図37は、本発明の第8の実施形態におけるIDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、電極指ピッチの変化率Δpitchとの関係を示す図である。 図38は、本発明の第9の実施形態におけるIDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、電極指の厚みとの関係を示す図である。 図39は、本発明の第10の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図40は、本発明の第10の実施形態においての、誘電体膜が覆っている第1の曲線領域の励振部における励振角度の絶対値|θC1_prop|と、誘電体膜の厚みとの関係を示す図である。 図41は、本発明の第10の実施形態の変形例においての、誘電体膜が覆っている第1の曲線領域の励振部における励振角度の絶対値|θC1_prop|と、誘電体膜の厚みとの関係を示す図である。 図42は、本発明の第11の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図43は、本発明の第11の実施形態及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。 図44は、本発明の第11の実施形態及び第2の参考例における、周波数及びリターンロスの関係を示す図である。 図45は、本発明の第11の実施形態の第1の変形例及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。 図46は、本発明の第11の実施形態の第1の変形例及び第2の参考例における、周波数及びリターンロスの関係を示す図である。 図47は、本発明の第11の実施形態の第2の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図48は、本発明の第11の実施形態の第3の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図49は、本発明の第11の実施形態の第4の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図50は、本発明の第12の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図51は、本発明の第12の実施形態の第1の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図52は、本発明の第12の実施形態の第2の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図53は、本発明の第12の実施形態の第3の変形例に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。 図54は、本発明の第13の実施形態に係るフィルタ装置の回路図である。
 以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
 なお、本明細書に記載の各実施形態は、例示的なものであり、異なる実施形態間において、構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることを指摘しておく。
 図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。図2は、図1中のI-I線に沿う模式的断面図である。
 図1及び図2に示すように、弾性波装置1は圧電性基板2を有する。圧電性基板2は圧電性を有する基板である。具体的には、図2に示すように、圧電性基板2は、支持基板4と、中間層5と、圧電体層6とを有する。支持基板4上に中間層5が設けられている。中間層5上に圧電体層6が設けられている。本実施形態においては、中間層5は枠状の形状を有する。すなわち、中間層5は貫通孔を有する。支持基板4は、中間層5の貫通孔の一方を塞いでいる。圧電体層6は中間層5の貫通孔の他方を塞いでいる。これにより、圧電性基板2において中空部2cが構成されている。圧電体層6の一部及び支持基板4の一部は、中空部2cを挟み互いに対向している。
 支持基板4は、本発明における支持部材である。なお、支持部材は、支持基板4を含む積層体であってもよい。この場合、圧電体層6は、本実施形態と同様に、支持基板4上に、他の層を介して間接的に設けられていてもよい。あるいは、圧電性基板2は、圧電体層6のみからなる基板であってもよい。
 圧電体層6は、第1の主面6a及び第2の主面6bを有する。第1の主面6a及び第2の主面6bは互いに対向している。第1の主面6a及び第2の主面6bのうち第2の主面6bが、支持基板4側に位置している。圧電体層6の第1の主面6aにはIDT電極8が設けられている。IDT電極8の少なくとも一部が、平面視において、中空部2cと重なっている。本明細書において平面視とは、図2における上方に相当する方向から見ることをいう。図2においては、例えば、支持基板4側及び圧電体層6側のうち、圧電体層6側が上方である。
 図1に示すように、IDT電極8は、1対のバスバーと、複数の電極指とを有する。1対のバスバーは、具体的には、第1のバスバー14及び第2のバスバー15である。第1のバスバー14及び第2のバスバー15は互いに対向している。複数の電極指は、具体的には、複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17である。複数の第1の電極指16の一端がそれぞれ、第1のバスバー14に接続されている。複数の第2の電極指17の一端がそれぞれ、第2のバスバー15に接続されている。なお、複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17はそれぞれ、基端部及び先端部を含む。第1の電極指16の基端部は、第1のバスバー14に接続されている部分である。第2の電極指17の基端部は、第2のバスバー15に接続されている部分である。複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17は、互いに間挿し合っている。以下においては、第1の電極指16及び第2の電極指17を、単に電極指と記載することがある。第1のバスバー14及び第2のバスバー15を、単にバスバーと記載することがある。
 弾性波装置1のIDT電極8においては、電極指ピッチは一定である。電極指ピッチとは、隣り合う第1の電極指16及び第2の電極指17の中心間距離である。電極指ピッチをpとしたときに、電極指ピッチpにより規定される波長λは、λ=2pである。
 IDT電極8は、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19を有する。より具体的には、複数の第1の電極パターン18はそれぞれ、第1のバスバー14と、第2の電極指17との間に位置している。一方で、複数の第2の電極パターン19はそれぞれ、第2のバスバー15と、第1の電極指16との間に位置している。以下においては、第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19を、単に電極パターンと記載することがある。
 複数の第1の電極パターン18はそれぞれ、隣り合う第1の電極指16の双方に接続されている。複数の第1の電極パターン18は、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びる矩形の形状を有する。そして、本実施形態では、全ての第1の電極指16同士の間にそれぞれ、第1の電極パターン18が設けられている。そのため、IDT電極8の構成は、第1のバスバー14と、第1のバスバー14以外のバー状電極とにより、全ての第1の電極指16が接続された構成に相当する。本実施形態では、第1のバスバー14、複数の第1の電極指16及び複数の第1の電極パターン18により、複数の開口部が形成されている。もっとも、複数の第1の電極パターン18は、第1の電極指16に接続されていなくともよい。
 複数の第2の電極パターン19はそれぞれ、隣り合う第2の電極指17の双方に接続されている。複数の第2の電極パターン19は、平面視において、第2のバスバー15と平行に延びる矩形の形状を有する。本実施形態では、全ての第2の電極指17同士の間にそれぞれ、第2の電極パターン19が設けられている。そして、第2のバスバー15、複数の第2の電極指17及び複数の第2の電極パターン19により、複数の開口部が形成されている。もっとも、複数の第2の電極パターン19は、第2の電極指17に接続されていなくともよい。
 図1に示すように、各第1の電極パターン18は、ギャップを隔てて第1のバスバー14と対向している。また、各第2の電極パターン19は、ギャップを隔てて第2のバスバー15と対向している。
 弾性波装置1においては、全ての第1の電極パターン18はそれぞれ、ギャップを隔てて第2の電極指17の先端部と対向している。全ての第2の電極パターン19はそれぞれ、ギャップを隔てて第1の電極指16の先端部と対向している。なお、複数の電極指のうち、少なくとも1本の第1の電極指16の先端部または少なくとも1本の第2の電極指17の先端部が、本発明における電極パターンと対向していればよい。
 具体的には、少なくとも1本の第1の電極指16の先端部が第2の電極パターン19と対向している構成、及び少なくとも1本の第2の電極指17の先端部が第1の電極パターン18と対向している構成のうち、少なくとも一方を有していればよい。例えば、第1の電極パターン18は、少なくとも隣り合う1組の第1の電極指16同士の間に設けられていればよい。少なくとも1つの第1の電極パターン18が、少なくとも1本の第2の電極指17と対向していればよい。あるいは、例えば、第2の電極パターン19は、少なくとも隣り合う1組の第2の電極指17同士の間に設けられていればよい。少なくとも1つの第2の電極パターン19が、少なくとも1本の第1の電極指16と対向していればよい。
 複数の第2の電極指17の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第1の包絡線E1、複数の第1の電極指16の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第2の包絡線E2とする。第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2の間の領域が交叉領域Dである。より具体的には、複数の電極指のうち、複数の電極指が並ぶ方向における一方端の電極指と、他方端の電極指と、第1の包絡線E1と、第2の包絡線E2とに囲まれた領域が、交叉領域Dである。よって、第1の包絡線E1は、交叉領域Dの第1のバスバー14側の端縁部に相当する。第2の包絡線E2は、交叉領域Dの第2のバスバー15側の端縁部に相当する。交叉領域Dにおいては、電極指が並ぶ方向、つまり、第1の包絡線E1または第2の包絡線E2が延びる方向から見たときに、隣り合う電極指同士が重なり合っている。本発明における電極パターンは、第1のバスバー14と交叉領域Dとの間、及び第2のバスバー15と交叉領域Dとの間のうち、少なくとも一方に設けられていればよい。
 本実施形態においては、平面視における複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の形状は、2つの円弧が接続された形状を含む。より具体的には、中心が互いに異なる位置であり、かつ半径が同じである2つの円の円弧が接続された形状を含む。上記2つの円の中心同士は、IDT電極8を挟み互いに対向している。もっとも、複数の電極指の形状は上記に限定されない。平面視における複数の電極指の形状が、交叉領域Dにおいて、曲線状の形状を含んでいればよい。
 本実施形態の特徴は、以下の構成を有することにある。1)平面視における複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の形状がそれぞれ、交叉領域Dにおいて、曲線状の部分を含むこと。2)複数の電極指のうち、電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下であること。それによって、Q値を高めることができる。以下において、IDT電極8の構成の詳細と共に、上記効果の詳細を説明する。
 図1に示すように、複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の平面視における形状はそれぞれ、変曲点を有する。本明細書において、変曲点は、互いに異なる曲線同士が接続されている点、または曲線と直線とが接続されている点である。変曲点において、互いに異なる曲線同士が接続されている場合、曲線状の形状の方向が、変曲点を境界として、異なっている。曲線状の形状の方向が互いに異なるとは、例えば、曲線状の形状において、曲がる方向が互いに異なることをいう。より具体的には、例えば、図1における左方向に凸となるように曲がっている場合と、右方向に凸となるように曲がっている場合とは、曲線状の形状の方向が互いに異なる。本実施形態においては、変曲点を境界として、2つの曲線状の形状が、互いに反転している。
 図3は、第1の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。なお、図3においては、後述する各曲線領域を、ハッチングを付して示す。
 上記のように、複数の電極指の平面視における形状はそれぞれ、2つの円弧が接続された形状である。平面視において、複数の電極指の形状におけるそれぞれの一方の円弧は、複数の同心円におけるそれぞれの円弧である。そのため、複数の電極指の形状における円弧を含む円の中心は一致している。本実施形態においては、これらの円の中心を定点C1とする。平面視において、複数の電極指の形状におけるそれぞれの他方の円弧も、複数の同心円におけるそれぞれの円弧である。これらの円の中心を定点C2とする。このように、本実施形態では、2つの定点C1及び定点C2が定義される。定点C1及び定点C2は、IDT電極8を挟み互いに対向している。
 電極指の平面視における形状が、定点C1及び定点C2のうち、いずれの定点を中心とする弧であるかにより、曲線状の形状の方向を定義することができる。もっとも、IDT電極8の形状は、3つ以上の定点が定義される形状であってもよい。
 なお、複数の電極指の平面視における形状は、楕円弧を含んでいてもよい。この場合、定点は、該楕円弧が含まれる楕円の2つの焦点の中点である。言い換えれば、定点は、該楕円の2つの焦点の重心である。あるいは、例えば、複数の電極指の平面視における形状の、互いに異なる曲線状の部分が、円弧と楕円弧との組み合わせであってもよい。
 ここで、平面視における複数の電極指の形状の楕円係数をα2/α1とする。本実施形態においては、各電極指の形状は2つの円弧を含むため、2つの楕円係数α2/α1を定義することができる。具体的には、複数の電極指の形状における、定点C1を基準とする円または楕円の楕円係数をα12/α11とし、定点C2を基準とする円または楕円の楕円係数をα22/α21とする。本実施形態における楕円係数α12/α11及びα22/α21の双方は1である。なお、複数の電極指の形状における弧を含む形状が楕円である場合、楕円係数α12/α11及びα22/α21は1以外となる。α1、すなわちα11及びα21は、該楕円の長軸及び短軸のうち、交叉領域Dを通る軸の方向に沿う寸法に相当する。α2、すなわちα12及びα22は、該楕円の長軸及び短軸のうち、交叉領域Dを通らない軸の方向に沿う寸法に相当する。
 なお、r1を任意の定数としたときに、xy平面における楕円係数の式として、(x/α11)+(y/α12)=r1として表わすことができる。同様に、r2を任意の定数としたときに、xy平面における楕円係数の式として、(x/α21)+(y/α22)=r2として表わすことができる。
 図3に示すように、交叉領域Dは、複数の曲線領域を含む。具体的には、本実施形態では、複数の曲線領域は第1の曲線領域W1及び第2の曲線領域W2である。第1の曲線領域W1は第1の包絡線E1を含む。第2の曲線領域W2は第2の包絡線E2を含む。各曲線領域においては、平面視における複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の形状がそれぞれ、単一の円弧または楕円弧の形状である。互いに異なる曲線領域同士の境界線は、各電極指の変曲点同士を接続した線に相当する。図3に示す第1の曲線領域W1及び第2の曲線領域W2の境界線Oは直線状である。そして、境界線Oの延長線は、定点C1及び定点C2を通る。もっとも、本実施形態におけるIDT電極8の形態は一例であって、境界線Oの延長線は、定点C1及び定点C2を通らなくともよい。
 IDT電極8に交流電圧を印加することにより、交叉領域Dにおいて弾性波が励振される。なお、交叉領域Dにおける第1の曲線領域W1は、定点C1を通る無数の直線上に位置するそれぞれの部分を有する。図3には、定点C1及び第1の曲線領域W1を通る無数の直線のうちの一例として、直線M1が示されている。例えば、第1の曲線領域W1における直線M1上に位置する部分において、弾性波が励振される。定点C1及び第1の曲線領域W1を通る、図示しない無数の直線上に位置する部分においてもそれぞれ、弾性波が励振される。すなわち、弾性波装置1は、直線M1上に位置する励振部、及び他の図示しない無数の直線上に位置する励振部を有する。
 交叉領域Dにおける第2の曲線領域W2も同様に、無数の励振部を有する。第2の曲線領域W2における励振部は、定点C2を通る直線上に位置する。図3には、定点C2及び第2の曲線領域W2を通る無数の直線のうちの一例として、直線M2が示されている。
 第1の包絡線E1の延長線は、定点C1を通る。弾性波装置1においては、第1の包絡線E1と、第1の包絡線E1の延長線とを含む直線を、第1の曲線領域W1における基準線N1とする。そして、定点C1及び第1の曲線領域W1における励振部を通る直線と、基準線N1とがなす角の角度を、第1の曲線領域W1における角度θC1とする。図3においては、一例として、直線M1上に位置する励振部の角度θC1を示している。なお、第1の包絡線E1において、角度θC1が0°である。
 一方で、第2の包絡線E2の延長線は、定点C2を通る。第2の包絡線E2と、第2の包絡線E2の延長線とを含む直線を、第2の曲線領域W2における基準線N2とする。定点C2及び第2の曲線領域W2における励振部を通る直線と、基準線N2とがなす角の角度を、第2の曲線領域W2における角度θC2とする。図3においては、一例として、直線M2上に位置する励振部の角度θC2を示している。なお、第2の包絡線E2において、角度θC2が0°である。
 本明細書においては、特に断りのない場合、角度θC1の正の方向を、平面視したときの反時計回りの方向とする。より具体的には、第2のバスバー15側から第1のバスバー14側に向かう方向が上記正の方向である。角度θC2の正の方向も、平面視したときの反時計回りの方向とする。
 ところで、弾性波が励振される方向は、以下の3種の方向のうちいずれかである。第1種目の方向としては、電極指が延びる方向と垂直な方向である。第2種目の方向としては、隣接する電極指間の最短距離を結ぶ方向である。第3種目の方向としては、電極指間に生じる電界ベクトルと平行な方向である。
 なお、各電極指は、平面視において、基端部及び先端部を接続している1対の端縁部を含む。そして、両端縁部は曲線状の形状を有する。本明細書においては、特に断りのない限り、電極指が延びる方向は以下の通りである。まず、電極指の任意の部分において、両端縁部を結ぶように、本発明における基準線と平行な仮想線を引いた場合、該仮想線上に位置する部分の重心を、該仮想線における代表点とする。電極指には、無数の仮想線を引くことができ、無数の代表点が存在する。これらの代表点同士を結んだ曲線の接線が延びる方向を、電極指が延びる方向とする。電極指における位置毎に、電極指が延びる方向は異なることとなる。本実施形態のように、曲線領域毎に異なる基準線を有する場合には、仮想線を引く曲線領域の基準線を、該仮想線が延びる方向とすればよい。
 図4に示す、従来の弾性波装置201では、弾性波の励振方向は、上記における3種の方向のいずれにおいても同一の方向となる。一方で、図3に示す本実施形態では、各曲線領域において、平面視における電極指の形状は、各定点を中心とする円弧である。この場合には、弾性波が励振される方向は、上記における第1種目の方向である。すなわち、弾性波が励振される方向は、電極指が延びる方向と垂直の方向により表される。
 定点C1及び第1の曲線領域W1の励振部を通る直線、並びに電極指の交点における弾性波の励振方向と、基準線N1とがなす角の角度を励振角度θC1_propとする。一方で、定点C2及び第2の曲線領域W2の励振部を通る直線、並びに電極指の交点における弾性波の励振方向と、基準線N2とがなす角の角度を励振角度θC2_propとする。励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propの正負の方向は、それぞれ角度θC1及び角度θC2の正負の方向と同じ方向とする。
 ここで、第1の曲線領域W1の励振部における角度θC1と励振角度θC1_propとは略一致している。以下においては、角度θC1及び励振角度θC1_propのうち、いずれか一方の角度を取り上げて、本発明の構成の詳細などを記載することがある。もっとも、角度θC1及び励振角度θC1_propの間には、作用及び効果を覆すような影響を及ぼす程の差はないことを指摘しておく。第2の曲線領域W2の励振部における角度θC2と、励振角度θC2_propとの間の関係も同様である。なお、各曲線領域において、電極指の平面視における形状が円弧であり、楕円係数α2/α1が1である場合には、角度θC1及び励振角度θC1_propは等しくなる。同様に、角度θC2及び励振角度θC2_propは等しくなる。
 各曲線領域において、第1のバスバー14側の端縁部、及び定点C1を通る直線と、第2のバスバー15側の端縁部、及び定点C2を通る直線とがなす角の角度を、交叉角度とする。なお、第1の曲線領域W1における交叉角度をθC1_AP、第2の曲線領域W2における交叉角度をθC2_APとする。より具体的には、本実施形態では、第1の曲線領域W1における第1のバスバー14側の端縁部及び定点C1を通る直線は、第1の包絡線E1及び定点C1を通る直線である基準線N1である。一方で、上記のように、第1の曲線領域W1及び第2の曲線領域W2の境界線Oの延長線は、定点C1及び定点C2を通る。よって、第1の曲線領域W1における第2のバスバー15側の端縁部、及び定点C1を通る直線は、境界線Oを含む直線である。従って、第1の曲線領域W1における交叉角度θC1_APは、基準線N1と、境界線Oを含む直線とがなす角の角度である。この場合、0≦θC1_prop≦θC1_APである。
 他方、第2の曲線領域W2における交叉角度θC2_APは、基準線N2と、境界線Oを含む直線とがなす角の角度である。この場合、0≦θC2_prop≦θC2_APである。弾性波装置1においては、第1の曲線領域W1の交叉角度θC1_AP及び第2の曲線領域W2の交叉角度θC2_APは同じである。もっとも、第1の曲線領域W1の交叉角度θC1_AP及び第2の曲線領域W2の交叉角度θC2_APは互いに異なっていてもよい。
 上述したように、弾性波装置1のIDT電極8においては、電極指ピッチは一定である。そのため、IDT電極8における波長λは、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propよらず一定である。
 弾性波装置1の圧電体層6の材料としては、圧電単結晶が用いられている。圧電体層6において、伝搬軸は弾性波が伝搬する軸である。伝搬軸が延びる方向はX伝搬の方向である。本実施形態では、交叉領域D及び定点C1または定点C2を通る直線のうち、伝搬軸と平行に延びる直線が基準線N1及び基準線N2である。もっとも、基準線N1及び基準線N2は、必ずしも伝搬軸と平行に延びていなくともよい。
 なお、伝搬軸が延びる方向は、X伝搬の方向だけでなく、90°X伝搬の方向、あるいは、IDT電極8の電極指が延びる方向のうちいずれかに対して垂直となる方向であってもよい。
 図1に示すように、圧電体層6上には1対の反射器9A及び反射器9Bが設けられている。反射器9A及び反射器9Bは、IDT電極8の複数の電極指が並んでいる方向において、IDT電極8を挟み互いに対向している。反射器9Aは複数の反射器電極指9aを有する。反射器9Bは複数の反射器電極指9bを有する。平面視における、反射器9Aの複数の反射器電極指9aの形状、及び反射器9Bの複数の反射器電極指9bの形状はそれぞれ、曲線状の形状を含む。
 より具体的には、本実施形態では、平面視における、反射器9Aの複数の反射器電極指9aの形状、及び反射器9Bの複数の反射器電極指9bの形状はそれぞれ、2つの円弧が接続された形状である。平面視において、複数の反射器電極指9aの形状におけるそれぞれの一方の円弧は、定点C1を中心とする複数の同心円におけるそれぞれの円弧である。平面視において、複数の反射器電極指9aの形状におけるそれぞれの他方の円弧は、定点C2を中心とする複数の同心円におけるそれぞれの円弧である。複数の反射器電極指9bの形状も同様である。各反射器電極指の形状は、励振部におけるIDT電極8の電極指の形状と対応している。なお、各反射器電極指の平面視における形状は、励振部におけるIDT電極8の電極指の形状と対応しない曲線あるいは直線の形状であってもよい。
 以下において、第1の実施形態の、Q値を高めることができる効果を示す。この効果を、第1の実施形態と、第1の参考例及び第2の参考例とを比較することにより示す。
 図5に示す第1の参考例の弾性波装置202は、本発明における電極パターンを有しない点、及び複数の第1のオフセット電極22及び複数の第2のオフセット電極23を有する点において、第1の実施形態の弾性波装置1と異なる。
 より具体的には、弾性波装置202においては、複数の第1のオフセット電極22の一端がそれぞれ、第1のバスバー14に接続されている。第1の電極指16及び第1のオフセット電極22は、交互に並んでいる。複数の第2のオフセット電極23の一端がそれぞれ、第2のバスバー15に接続されている。第2の電極指17及び第2のオフセット電極23は交互に並んでいる。
 複数の電極指と同様に、複数の第1のオフセット電極22及び複数の第2のオフセット電極23はそれぞれ、基端部及び先端部を含む。第1の電極指16及び第1のオフセット電極22の基端部は、第1のバスバー14に接続されている部分である。第2の電極指17及び第2のオフセット電極23の基端部は、第2のバスバー15に接続されている部分である。第1の電極指16の先端部と、第2のオフセット電極23の先端部とがギャップを隔てて対向している。一方で、第2の電極指17の先端部と、第1のオフセット電極22の先端部とが、ギャップを隔てて対向している。以下においては、第1のオフセット電極22及び第2のオフセット電極23を、単にオフセット電極と記載することがある。
 図6に示す第2の参考例の弾性波装置301は、本発明における電極パターンを有しない点において第1の実施形態の弾性波装置1と異なる。なお、当該比較に係る第1の実施形態の弾性波装置1の設計パラメータは以下の通りである。ここで、電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離をI-Pギャップとする。電極パターンとバスバーとの間の距離をB-Pギャップとする。電極パターンが延びる方向と直交する方向に沿う電極パターンの寸法を、電極パターンの幅とする。
 支持基板4;材料…Si、面方位…(111)、オイラー角(φ,θ,ψ)におけるψ…73°
 中間層5;材料…SiO、厚み…0.15λ
 圧電体層6;材料…回転Yカット55°X伝搬のLiTaO、厚み…0.2λ
 IDT電極8;材料…Al、厚み…0.05λ、
 電極指の形状における楕円係数α12/α11;1
 電極指の形状における楕円係数α22/α21;1
 波長λ;2μm
 IDT電極8の電極指の対数;100対
 デューティ比;角度θC1及び角度θC2が0°である励振部において0.5
 交叉角度θC1_AP;10°
 交叉角度θC2_AP;10°
 I-Pギャップ;0.135λ
 第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19の幅;0.2λ
 B-Pギャップ;3.2λ
 反射器9A及び反射器9B;反射器電極指の対数…20対
 第1の参考例及び第2の参考例の弾性波装置の設計パラメータは、電極パターンに関するパラメータ以外は、上記弾性波装置1の設計パラメータと同様である。なお、第1の参考例においては、オフセット電極の、基端部及び先端部を結ぶ方向に沿う寸法をオフセット電極の長さとしたときに、各オフセット電極の長さは3.5λである。第2の参考例においては、電極指とバスバーとの間の距離は、3.5λである。
 第1の実施形態、第1の参考例及び第2の参考例の各弾性波装置のインピーダンス周波数特性、並びに周波数及びQ値の関係を求めた。
 図7は、第1の実施形態、第1の参考例及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。図8は、第1の実施形態、第1の参考例及び第2の参考例における、周波数及びQ値の関係を示す図である。なお、図7及び図8に示されているfrは共振周波数であり、faは反共振周波数である。
 図7に示すように、第1の参考例及び第2の参考例においては、インピーダンス周波数特性はほぼ変わらない。一方で、第1の実施形態においては、第1の参考例及び第2の参考例よりも、インピーダンス比が大きくなっていることがわかる。
 図8に示すように、第1の実施形態においては、第1の参考例及び第2の参考例よりもQ値が高いことがわかる。具体的には、第1の実施形態では、特に反共振周波数付近においてQ値が高い。これにより、第1の実施形態において、反共振周波数におけるインピーダンスが高くなっている。この結果、第1の実施形態におけるインピーダンス比を大きくすることができている。
 弾性波のエネルギーの漏洩は、例えば、モードの変換に伴い生じる。例えば、弾性波の主モードとしてSH波が用いられている場合、SH波からレイリー波、またはSH波からバルク波に変換されることにより、弾性波のエネルギーが漏洩する。このような漏洩は、交叉領域側からバスバー側に向かって生じる。
 第1の参考例においては、オフセット電極により、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することを図っている。しかしながら、第1の参考例では、該漏洩を十分に抑制することはできていない。第2の参考例においては、オフセット電極が設けられていないため、第1の参考例よりも、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することはできていない。そのため、第1の参考例及び第2の参考例においては、Q値を十分に高めることができていない。
 これらに対して、図1に示す第1の実施形態においては、第1のバスバー14及び第2の電極指17の間に第1の電極パターン18が設けられている。同様に、第2のバスバー15及び第1の電極指16の間に第2の電極パターン19が設けられている。加えて、電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離であるI-Pギャップが、0.5λ以下とされている。それによって、モードの変換に伴う、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができる。
 加えて、第1の実施形態においては、複数の第1の電極パターン18が、ギャップを隔てて第1のバスバー14と対向している。そして、交叉領域Dにおいては、第1の電極指16及び第2の電極指17が交互に並んでいる一方で、複数の第1の電極パターン18よりも第1のバスバー14側の領域においては、第1の電極指16及び第2の電極指17のうち、第1の電極指16のみが設けられている。これにより、複数の第1の電極パターン18及び第1のバスバー14の間の領域において、高音速領域が構成されている。高音速領域とは、音速が中央領域における音速よりも高い領域である。中央領域は、交叉領域Dにおける中央に位置する領域である。中央領域の詳細は後述する。複数の第2の電極パターン19及び第2のバスバー15の間の領域においても、高音速領域が構成されている。
 第1のバスバー14側及び第2のバスバー15側において高音速領域が配置されていることにより、弾性波のエネルギーを効果的に交叉領域D側に閉じ込めることができる。従って、第1の実施形態においては、Q値を効果的に高めることができる。
 なお、I-Pギャップが0.5λを超える場合には、交叉領域外へのエネルギーの漏洩が生じ始める。I-Pギャップが1λを越えると、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制する効果を得られなくなる。一方で、I-Pギャップの値が小さいほど、Q値が高くなり、インピーダンス比が大きくなることがわかっている。そして、I-Pギャップが0.5λ以下である場合には、Q値及びインピーダンス比はほぼ変わらなくなる。よって、本発明のように、I-Pギャップが0.5λ以下であることにより、Q値を効果的に高めることができ、インピーダンス比を大きくすることができる。
 以下において、本実施形態のさらなる詳細を説明する。
 第1の曲線領域W1では、基準線N1が通る励振部においては、角度θC1及び励振角度θC1_propは0°である。第2の曲線領域W2では、基準線N2が通る励振部においては、角度θC2及び励振角度θC2_propは0°である。各曲線領域のそれぞれの励振部間においては、励振角度θC1_propまたは励振角度θC2_propが互いに異なるため、弾性波の伝搬特性が互いに異なる。これに対して、本実施形態では、全ての励振部の共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致するように、複数の励振部間において、デューティ比が互いに異ならされている。なお、励振角度の絶対値|θC1_prop|または|θC2_prop|が同じ励振部間においては、デューティ比は同じである。IDT電極8が上記のように構成されているため、共振特性が劣化し難い。もっとも、デューティ比は一定であっても構わない。
 本明細書において、一方の周波数及び他方の周波数が略一致しているとは、双方の周波数の差の絶対値が、基準周波数に対して10%以下であることをいう。なお、基準周波数とは、励振角度が0°のときの周波数のことである。交叉領域Dにおいて、主モードの最も高い共振周波数、及び最も低い共振周波数の差の絶対値が、基準周波数に対して2%以下であることが好ましく、1%以下であることがより好ましい。あるいは、交叉領域Dにおいて、主モードの最も高い反共振周波数、及び最も低い反共振周波数の差の絶対値が、基準周波数に対して2%以下であることが好ましく、1%以下であることがより好ましい。それによって、共振特性をより一層確実に良好にすることができる。
 第1の実施形態では、弾性波の伝搬特性が、各励振部において互いに異なることを利用することによって、不要波の抑制などの効果を得る。この詳細を以下において説明する。
 弾性波の位相速度は各曲線領域における励振角度に対する依存性を有し、基板の構成に応じて固有の特性を示す。なお、位相速度の逆数は、逆速度面に相当する。よって、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propと位相速度との関係は、圧電性基板の逆速度面と概ね等しい。そこで、層構成が互いに異なる圧電性基板の逆速度面の例を示す。一方の圧電性基板は、回転Yカット42°X伝搬のLiTaO(LT)のみからなる基板である。この基板を第1の圧電性基板とする。他方の圧電性基板は、圧電体層/支持基板の貼り合せ基板である。この基板を第2の圧電性基板とする。第2の圧電性基板は、より具体的には、面方位が(100)であるシリコン基板、酸化ケイ素膜及びタンタル酸リチウム層がこの順序において積層された基板である。シリコン基板の面方位が(110)あるいは(111)などのその他の面方位であっても、逆速度面の凹凸の形状は変わらない。
 図9は、第1の圧電性基板及び第2の圧電性基板を伝搬する弾性波の逆速度面を示す図である。
 図9に示すx軸は、伝搬軸に平行であるときの結果に相当する。すなわち、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propが0°であるときの結果に相当する。第1の圧電性基板及び第2の圧電性基板における逆速度面は、いずれもx軸を対称軸とする線対称である。第1の圧電性基板における逆速度面は凹状の形状である。一方で、第2の圧電性基板における逆速度面は凸状の形状である。このように、基板を伝搬する弾性波の励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propに対する依存性は、基板の構成によって異なることがわかる。さらに、弾性波のモードが異なる場合には、同じ基板における励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propに対する依存性は異なる。これを図10により示す。
 図10は、第1の圧電性基板における、縦波、速い横波、遅い横波の逆速度面を示す図である。
 図10に示すように、3種の弾性波のモードである、縦波、速い横波及び遅い横波の逆速度面は、互いに異なる。図10中の矢印L1及びL2を通る部分はそれぞれ、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propが0°以外である場合の結果の例に相当する。矢印L1を通る部分における遅い横波及び速い横波の逆速度面の間隔と、矢印L2を通る部分における遅い横波及び速い横波の逆速度面の間隔とは互いに異なる。同様に、矢印L1を通る部分における速い横波及び縦波の逆速度面の間隔と、矢印L2を通る部分における速い横波及び縦波の逆速度面の間隔とは互いに異なる。すなわち、各曲線領域において、励振角度が互いに異なる励振部同士においては、異なるモード同士の逆速度面の間隔が異なる。これは、弾性波装置において利用する主モードと、不要波との関係でも同様である。
 この場合において、第1の実施形態の弾性波装置1では、主モードの共振周波数同士または反共振周波数同士を、全ての励振部において略一致させている。そのため、異なる励振部同士においては、不要波の周波数同士が互いに異なることとなる。それによって、通過帯域外の不要波が分散される。従って、通過帯域外の不要波を抑制することができる。本明細書において、弾性波装置における通過帯域外とは、共振周波数よりも低域側、及び反共振周波数よりも高域側をいう。
 なお、第1の実施形態においては、各励振部における共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致しているため、主モードが好適に励振される。よって、共振特性の劣化をより確実に抑制することができる。
 加えて、図3に示すように、第1の実施形態においては、交叉領域Dが第1の曲線領域W1及び第2の曲線領域W2を有する。それによって、弾性波装置1のいずれの位置においても、交叉角度を効果的に大きくすることができる。より具体的には、各電極指が、第1の曲線領域W1に位置する部分、及び第2の曲線領域W2に位置する部分を有する。よって、各電極指が位置する部分における交叉角度は、第1の曲線領域W1における交叉角度θC1_APと、第2の曲線領域W2における交叉角度θC2_APとの合計に相当する。そのため、交叉領域Dのいずれの位置においても、励振角度の範囲が広い。これにより、通過帯域外の不要波及び横モードを効果的に分散させることができる
 上記のように、位相速度は、逆速度面の逆数に相当する。よって、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propと位相速度との関係は、図10に示すような、圧電性基板のXY面内の逆速度面と概ね等しい。すなわち、電極指の曲線状の形状を表す関数は、圧電性基板のXY面内の逆速度面の形状によって決められるといえる。弾性波の位相速度は励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propに対する依存性を有する。
 第1の実施形態では、デューティ比を、各曲線領域において、励振角度θC1_propまたは励振角度θC2_propに応じて変化させることにより、全ての励振部の共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。第1の実施形態における、励振角度θC1_prop及びデューティ比の関係を、図11により示す。なお、デューティ比の最大値が第1の実施形態と異なる例も、第1の実施形態の第1の変形例及び第2の変形例として、併せて示す。
 図11は、第1の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例における、IDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、デューティ比との関係を示す図である。
 第1の実施形態においては、励振角度θC1_propが0°である場合に、デューティ比が最大値とされている。なお、第1の実施形態においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.5である。そして、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、デューティ比が小さい。これにより、第1の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。
 第1の変形例及び第2の変形例においても、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、デューティ比が小さい。なお、第1の変形例においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.64である。第2の変形例においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.425である。第1の変形例及び第2の変形例においても、第1の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。なお、第1の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|とデューティ比との関係も、図11に示す関係と同様とされている。よって、第2の曲線領域における全ての励振部においても、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。
 第1の変形例及び第2の変形例においては、デューティ比以外の点では、第1の実施形態と同様に構成されている。よって、Q値を高めることができる。
 なお、圧電性基板の逆速度面によって、デューティ比と各モードの周波数との関係は異なる。よって、圧電性基板の構成や、圧電性基板上の構成によっては、励振角度の絶対値|θC1_prop|及び|θC2_prop|が大きいほどデューティ比が大きいときに、全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致する場合もある。この例としては、回転Yカット-4°X伝搬のLiNbOのみからなる基板上に設けられたIDT電極を、厚みが厚いSiO膜に埋め込んだ弾性波装置などを挙げることができる。あるいは、基準線N1が通る、励振角度θC1_propが0°である励振部において、デューティ比が最大または最小とは、必ずしもならない。同様に、基準線N2が通る、励振角度θC2_propが0°である励振部において、デューティ比が最大または最小とは、必ずしもならない。
 第1の実施形態では、デューティ比を、各曲線領域において、角度θC1または励振角度θC1_prop、あるいは角度θC2または励振角度θC2_propに応じて変化させることにより、全ての励振部の共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。なお、本発明においては、デューティ比などのパラメータの設定は特に限定されない。もっとも、デューティ比、電極指ピッチ、並びに複数の第1の電極指16及び複数の第2の電極指17の厚みのうち少なくともいずれかが、角度θC1または励振角度θC1_prop、あるいは角度θC2または励振角度θC2_propに応じて変化していることが好ましい。これらのパラメータのうち少なくともいずれかが、各曲線領域の全ての励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、上記角度あるいは上記励振角度に応じて変化していることが好ましい。それによって、共振特性をより確実に高めることができる。
 あるいは、圧電性基板2内の中間層5の厚みなどが周波数に影響する場合、該パラメータを、各曲線領域において、上記角度あるいは上記励振角度に応じて変化させてもよい。圧電性基板2上に、IDT電極8を覆うように誘電体膜が設けられている場合には、誘電体膜の厚みを、各曲線領域において、上記角度あるいは上記励振角度に応じて変化させてもよい。上記のIDT電極8またはIDT電極8以外のパラメータのうち複数のパラメータを、各曲線領域において、上記角度あるいは上記励振角度に応じて変化させてもよい。これらの場合においても、全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させることができる。
 各反射器の反射器電極指ピッチあるいはデューティ比などのパラメータは、励振部におけるIDT電極8の電極指のパラメータと異なっていてもよい。なお、反射器電極指ピッチとは、隣り合う反射器電極指同士の中心間距離である。各反射器電極指は、励振部におけるIDT電極8の電極指の形状と異なるパターンにより構成されていてもよい。
 ところで、弾性波装置1においては、複数の電極指の平面視における形状は、2つの円弧が接続された形状を含む。もっとも、これに限定されるものではない。図12に示す第1の実施形態の第3の変形例では、IDT電極8Aにおいては、複数の電極指の平面視における形状は、2つの楕円弧が接続された形状を含む。
 なお、本変形例においても、IDT電極8Aの交叉領域Dは第1の曲線領域W1及び第2の曲線領域W2を含む。第1の曲線領域W1においては、複数の電極指の平面視における形状はそれぞれ、重心が同じ位置である複数の楕円におけるそれぞれの楕円弧に相当する形状である。そして、焦点A1及び焦点B1の中点が定点C1である。言い換えれば、定点C1は、焦点A1及び焦点B1の重心である。なお、焦点A1及び焦点B1の重心は、焦点A1及び焦点B1を有する楕円の重心であるともいえる。第2の曲線領域W2においても同様である。そして、焦点A2及び焦点B2の中点が定点C2である。言い換えれば、定点C2は、焦点A2及び焦点B2の重心である。複数の電極指の平面視における形状の楕円係数α1/α2としてのα12/α11及びα22/α21は、1以外である。
 本変形例においても、第1の実施形態と同様に、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19が設けられている。それによって、Q値を高くすることができる。
 第1の実施形態及びその各変形例におけるIDT電極の形態はそれぞれ、本発明における一例である。本発明においては、例えば、IDT電極の形状は、3つ以上の定点が定義される形状であってもよい。各電極指は複数の変曲点を有していてもよい。交叉領域において、各電極指の平面視における形状が、曲線状の形状と共に、直線状の形状を含んでいてもよい。
 本発明においては、基準線は、上記定点を必ずしも通らなくともよい。基準線は、各電極指の平面視における形状の、曲線の局所的な領域において、それぞれ個別に定義することができる。この場合、基準線は、上記定点以外の原点を有する。もっとも、本発明に係る弾性波装置において、原点が互いに異なる複数の基準線が定義される場合においても、複数の基準線が延びる方向は平行であることが好ましい。
 第1の実施形態においては、各電極指の幅が連続的に変化している。もっとも、各電極指の幅は不連続的に変化していてもよい。この場合、例えば、各電極指が、複数の部分が接続された構成に相当する構成を有し、かつ異なる部分同士が接続された接続部において、接続された部分同士の幅が互いに異なっていればよい。
 なお、図7及び図8に示した比較に係る弾性波装置1の設計パラメータでは、弾性波装置1における圧電性基板2の各層やIDT電極8の材料の例を示した。もっとも、上記の材料に限定されるものではない。圧電性基板2の各層やIDT電極8の材料の組み合わせは、弾性波が励振される適宜の材料の組み合わせとすればよい。
 具体的には、図2に示す圧電体層6の材料としては、例えば、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、酸化亜鉛、窒化アルミニウム、水晶、またはPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)などを用いることができる。圧電体層6の材料として、タンタル酸リチウムまたはニオブ酸リチウムが用いられることが好ましい。
 IDT電極8の材料としては、例えばTi、Mo、Ru、W、Al、Pt、Ir、Cu、Cr及びScからなる群から選択された1種以上の金属が用いられてもよい。各反射器にも、IDT電極8と同様の材料を用いることができる。IDT電極8及び各反射器は、単層の金属膜からなっていてもよく、積層金属膜からなっていてもよい。
 第1の実施形態の中間層5の材料としては、例えば、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素または酸化タンタルなどの誘電体を用いることができる。
 支持基板4の材料としては、例えば、窒化アルミニウム、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶などの圧電体、アルミナ、サファイア、マグネシア、窒化ケイ素、炭化ケイ素、ジルコニア、コージライト、ムライト、ステアタイト、フォルステライトなどのセラミック、ダイヤモンド、ガラスなどの誘電体、シリコン、窒化ガリウム、ガリウムヒ素などの半導体、もしくは樹脂、または上記材料を主成分とする材料を用いることができる。支持基板4には、高抵抗シリコンが用いられることが好ましい。支持基板4の材料の体積抵抗率は、1000Ω・cm以上であることが望ましい。
 本明細書において主成分とは、占める割合が50重量%を超える成分をいう。上記主成分の材料は、単結晶、多結晶、及びアモルファスのうちいずれかの状態、もしくは、これらが混在した状態で存在していてもよい。
 ところで、本発明においては、ピストンモードを利用可能な構成とされていてもよい。以下において、ピストンモードを利用可能な構成の例を、第2の実施形態により示す。なお、ピストンモードを利用する構成の場合、それぞれの曲線領域の、後述する中央領域に位置する領域における、定点を通る任意の直線上の部分を励振部とする。
 図13は、第2の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。
 本実施形態は、各電極指上及び各反射器電極指上に、質量付加膜が設けられている点において第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 IDT電極8の交叉領域Dは、中央領域Fと、1対のエッジ領域とを有する。1対のエッジ領域は、具体的には、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2である。第1のエッジ領域H1は第1の包絡線E1を端縁部として含む。第2のエッジ領域H2は、第2の包絡線E2を端縁部として含む。第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2は、中央領域Fを挟み互いに対向している。なお、ここでは、IDT電極8の領域を定義したのであって、本実施形態におけるIDT電極8の構成は、第1の実施形態におけるIDT電極8の構成と同じである。
 本発明においては、平面視したときの、各エッジ領域における各電極指の形状は、曲線状であってもよく、直線状であってもよい。
 第1のエッジ領域H1に複数の質量付加膜29が設けられている。具体的には、各第1の電極指16上及び各第2の電極指17上にそれぞれ、質量付加膜29が設けられている。それによって、第1のエッジ領域H1において、低音速領域が構成されている。低音速領域とは、中央領域Fにおける音速よりも音速が低い領域である。
 同様に、第2のエッジ領域H2に、複数の質量付加膜29が設けられている。これにより、第2のエッジ領域H2においても低音速領域が構成されている。本実施形態においては、質量付加膜29はそれぞれ、1本の電極指上のみに設けられている。この場合、質量付加膜29の材料としては、適宜の金属または誘電体を用いることができる。
 なお、各エッジ領域を、第1のバスバー14が延びる方向に延長した各領域において、反射器9Aの各反射器電極指9a上にも質量付加膜29がそれぞれ設けられている。同様に、該各領域において、反射器9Bの各反射器電極指9b上にも質量付加膜29がそれぞれ設けられている。もっとも、反射器9Aの反射器電極指9a上、及び反射器9Bの反射器電極指9b上には、質量付加膜29は設けられていなくともよい。
 本実施形態では、第1のバスバー14及び第2のバスバー15が対向している方向における内側から外側にかけて、中央領域F及び1対の低音速領域がこの順序において配置されている。それによって、ピストンモードが成立する。これにより、主モードのエネルギーを交叉領域Dの中央側に効果的に閉じ込めることができ、主モードの特性を良好にすることができ、かつ横モードを抑制することができる。
 加えて、IDT電極8の各電極指の平面視における形状は、第1の実施形態と同様の、曲線状の形状を含む。よって、通過帯域外の不要波を分散させることができる。さらに、IDT電極8においては、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19が設けられている。それによって、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高くすることができる。以下において、本実施形態におけるQ値を高めることができる効果を、本実施形態と第3の参考例とを比較することにより示す。
 第3の参考例は、IDT電極の構成が、図6に示した第2の参考例の弾性波装置301におけるIDT電極と同様である点において、第2の実施形態と異なる。なお、第3の参考例においては、第2の実施形態と同様に、各エッジ領域において、各電極指上に質量付加膜が設けられている。当該比較に係る第2の実施形態の弾性波装置の設計パラメータは、質量付加膜以外においては、図7及び図8における比較に係る第1の実施形態の弾性波装置1の設計パラメータと同様である。当該比較に係る第3の参考例の弾性波装置の設計パラメータは、質量付加膜以外においては、図7及び図8における比較に係る第2の参考例の弾性波装置301の設計パラメータと同様である。第2の実施形態及び第3の参考例の各弾性波装置のインピーダンス周波数特性、並びに周波数及びQ値の関係を求めた。
 図14は、第2の実施形態及び第3の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。図15は、第2の実施形態及び第3の参考例における、周波数及びQ値の関係を示す図である。
 図14に示すように、第2の実施形態においては、第3の参考例よりも、インピーダンス比が大きくなっていることがわかる。さらに、第2の実施形態においては、共振周波数及び反共振周波数の間における、横モードを抑制できていることがわかる。
 図15に示すように、第2の実施形態においては、第3の参考例よりもQ値が高いことがわかる。具体的には、第2の実施形態では、特に反共振周波数付近においてQ値が高い。これにより、第2の実施形態において、反共振周波数におけるインピーダンスが高くなっている。この結果、第2の実施形態におけるインピーダンス比を大きくすることができている。
 なお、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、低音速領域が構成されていればよい。もっとも、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方において低音速領域が構成されていることが好ましい。それによって、ピストンモードをより確実に成立させることができる。
 質量付加膜29は、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、複数の電極指のうち少なくとも1本の電極指と積層されていればよい。もっとも、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、複数の電極指が質量付加膜29と積層されていることが好ましく、全ての電極指が質量付加膜29と積層されていることがより好ましい。なお、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方において、複数の電極指が質量付加膜29と積層されていることがより好ましい。それによって、ピストンモードをより確実に成立させることができる。双方のエッジ領域において、全ての電極指が質量付加膜29と積層されていることがさらに好ましい。この場合には、低音速領域が、双方のエッジ領域の全体において構成されている。それによって、ピストンモードをより一層確実に成立させることができる。
 第2の実施形態においては、電極指及び質量付加膜29が積層されている部分においては、圧電性基板2、電極指及び質量付加膜29の順序で積層されている。もっとも、電極指及び質量付加膜29が積層されている部分において、圧電性基板2、質量付加膜29及び電極指の順序で積層されていてもよい。すなわち、質量付加膜29は、圧電性基板2及び電極指の間に設けられていてもよい。平面視したときに、質量付加膜29が電極指と重なっていればよい。
 以下において、第2の実施形態の第1~第4の変形例を示す。第1~第4の変形例においても、第2の実施形態と同様に、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 図16に示す第1の変形例においては、IDT電極8は第2の実施形態と同様に構成されている。第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2にそれぞれ、質量付加膜29Aが1つずつ設けられている。これにより、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2において、低音速領域が構成されている。
 より具体的には、各質量付加膜29Aは帯状の形状を有する。1対の質量付加膜29Aのうち一方の質量付加膜29Aは、第1のエッジ領域H1において、複数の電極指上にわたり設けられている。同様に、他方の質量付加膜29Aは、第2のエッジ領域H2において、複数の電極指上にわたり設けられている。各質量付加膜29Aは、圧電体層6上における、電極指間の部分にも設けられている。質量付加膜29Aの材料としては、適宜の誘電体を用いることができる。
 なお、質量付加膜29Aは、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、複数の電極指のうち少なくとも1本の電極指と積層されていればよい。この場合、質量付加膜29Aは、電極指が設けられている部分、及び電極指間の部分にわたり設けられていてもよい。もっとも、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、複数の電極指が質量付加膜29Aと積層されていることが好ましく、全ての電極指が質量付加膜29Aと積層されていることがより好ましい。そして、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方において、複数の電極指が質量付加膜29Aと積層されていることがより好ましく、全ての電極指が質量付加膜29Aと積層されていることがさらに好ましい。それによって、ピストンモードをより確実に成立させることができる。
 図17に示す第2の変形例では、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2において、IDT電極28の各電極指が幅広部を有する。幅広部における電極指の幅は、中央領域Fにおける該電極指の幅よりも広い。
 より具体的には、第2の電極指27は、第1のエッジ領域H1において幅広部27aを有する。一方で、第1の電極指26は、第2のエッジ領域H2において幅広部26bを有する。これにより、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2における音速は、中央領域Fにおける音速よりも低い。それによって、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2において、低音速領域が構成されている。
 なお、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、少なくとも1本の電極指が幅広部を有していればよい。もっとも、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2のうち少なくとも一方において、複数の電極指が幅広部を有していることが好ましく、全ての電極指が幅広部を有していることがより好ましい。そして、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方において、複数の電極指が幅広部を有していることがより好ましく、全ての電極指が幅広部を有していることがさらに好ましい。それによって、ピストンモードをより確実に成立させることができる。
 本変形例では、各電極指の幅は、エッジ領域の全体にわたり広くなっている。各幅広部の平面視における形状は四角形である。もっとも、各電極指は、各エッジ領域の少なくとも一部において、幅が広くなっていてもよい。各幅広部の平面視における形状は、四角形に限定されない。
 図18に示す第3の変形例では、IDT電極28は第2の変形例と同様に構成されている。第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2にそれぞれ、第1の変形例と同様に、質量付加膜29Aが1つずつ設けられている。それによって、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2において、低音速領域が構成されている。すなわち、各電極指が幅広部を有する構成、及び質量付加膜29Aが設けられている構成の双方により、低音速領域が構成されている。これにより、中央領域F及び各エッジ領域における音速の差を大きくし易い。よって、横モードをより確実に、効果的に抑制することができる。
 第1の変形例及び本変形例においては、電極指及び質量付加膜29Aが積層されている部分においては、圧電性基板2、電極指及び質量付加膜29Aの順序で積層されている。もっとも、電極指及び質量付加膜29Aが積層されている部分において、圧電性基板2、質量付加膜29A及び電極指の順序で積層されていてもよい。すなわち、質量付加膜29Aは、圧電性基板2及び電極指の間に設けられていてもよい。
 図19に示す第4の変形例においては、第2の実施形態と同様のIDT電極8における中央領域Fに、高音速膜25が設けられている。これにより、中央領域Fの音速が高い。よって、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2における音速は、中央領域Fにおける音速よりも低い。すなわち、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方において、低音速領域が構成されている。
 なお、高音速膜25は、第1~第3の変形例の構成においても、中央領域Fに設けられていてもよい。IDT電極8と積層される高音速膜25の材料としては、例えば、窒化ケイ素、炭化ケイ素、窒化アルミニウム、酸化アルミニウムまたはダイヤモンド薄膜などの、絶縁性材料を用いることが好ましい。
 本変形例においては、電極指及び高音速膜25が積層されている部分においては、圧電性基板2、電極指及び高音速膜25の順序で積層されている。もっとも、電極指及び高音速膜25が積層されている部分において、圧電性基板2、高音速膜25及び電極指の順序で積層されていてもよい。すなわち、高音速膜25は、圧電性基板2及び電極指の間に設けられていてもよい。
 図13に戻り、第2の実施形態においては、第1の電極パターン18は、全ての第1の電極指16間に設けられている。同様に、第2の電極パターン19は、全ての第2の電極指17間に設けられている。なお、本発明においては、第1の電極パターン18は、必ずしも全ての第1の電極指16間の部分に設けられていなくともよい。第2の電極パターン19は、必ずしも全ての第2の電極指17間の部分に設けられていなくともよい。
 以下において、第2の実施形態の第5~第7の変形例を示す。第5~第7の変形例においても、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。もっとも、第2の実施形態のように、全ての第1の電極指16間に第1の電極パターン18が設けられており、全ての第2の電極指17間に第2の電極パターン19が設けられていることが好ましい。そして、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2の双方の全てにおいて、低音速領域が構成されていることが好ましい。
 図20に示す第5の変形例においては、第1の電極パターン18が全ての第1の電極指16間に設けられている。一方で、第2の電極パターン19は設けられていない。低音速領域は、第2のエッジ領域H2のみの少なくとも一部において構成されている。より具体的には、本変形例においては、第2のエッジ領域H2の全体において、低音速領域が構成されている。
 図21に示す第6の変形例においては、全ての第2の電極指17のうち一部の第2の電極指17が、第1の電極パターン18と対向している。第1のエッジ領域H1の一部において、低音速領域が構成されている。第1のエッジ領域H1における低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の第2の電極指17が位置している。該少なくとも1本の第2の電極指17の先端部が、第1の電極パターン18と対向している。
 より具体的には、本変形例においては、第1のバスバー14が延びる方向に並んでいる、1箇所おきの第1の電極指16間の部分に、第1の電極パターン18が設けられている。よって、1本おきの第2の電極指17が、第1の電極パターン18と対向している。そして、第1のエッジ領域H1において、1本おきの第2の電極指17に、質量付加膜29が積層されている。質量付加膜29が積層された第2の電極指17は、第1の電極パターン18と対向していない。もっとも、第1の電極パターン18が設けられている配置、及び第1のエッジ領域H1において質量付加膜29が設けられている配置は、上記に限定されない。
 本変形例では、全ての第2の電極指17間に第2の電極パターン19が設けられており、かつ第2のエッジ領域H2の全てにおいて低音速領域が構成されている。
 図22に示す第7の変形例においては、第1の電極パターン18は設けられていない。第1のエッジ領域H1の一部において、低音速領域が構成されている。第1のエッジ領域H1における低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の第2の電極指17が位置している。そして、該少なくとも1本の第2の電極指17と対向するように、第1のオフセット電極22が設けられている。
 なお、第1のオフセット電極22は、図5に示した第1の参考例における第1のオフセット電極22と同様に構成されている。すなわち、第1のオフセット電極22の一方の端部である基端部が、第1のバスバー14に接続されている。第1のオフセット電極22の先端部が、第2の電極指17の先端部とギャップを隔てて対向している。
 本変形例においては、第6の変形例と同様に、第1のエッジ領域H1において、1本おきの第2の電極指17に、質量付加膜29が積層されている。質量付加膜29が積層された第2の電極指17は、第1のオフセット電極22と対向していない。質量付加膜29が積層されていない第2の電極指17が、第1のオフセット電極22と対向している。
 本変形例では、全ての第2の電極指17間に第2の電極パターン19が設けられており、かつ第2のエッジ領域H2の全てにおいて低音速領域が構成されている。
 第1の実施形態、第2の実施形態及び各変形例においては、各電極パターンが、バスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ隣り合う電極指の双方に接続されている例を示した。もっとも、本発明における電極パターンの形態は上記に限定されない。第3の実施形態により、他の電極パターンの形態の例を示す。
 図23は、第3の実施形態におけるIDT電極の第1の電極パターン付近及び第2の電極パターン付近を示す模式的平面図である。
 本実施形態は、第1の電極パターン38及び第2の電極パターン39における、電極指との接続の構成において、第2の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第2の実施形態の弾性波装置と同様の構成を有する。
 第1の電極パターン38は、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びる矩形の形状を有し、かつ隣り合う第1の電極指16のうち一方のみに接続されている。同様に、第2の電極パターン39は、平面視において、第2のバスバー15と平行に延びる矩形の形状を有し、かつ隣り合う第2の電極指17のうち一方のみに接続されている。本実施形態においても、第2の実施形態と同様に、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 なお、少なくとも1つの第1の電極パターンが上記の構成を有していればよい。複数の第1の電極パターンは、例えば、第1の実施形態の第1の電極パターン及び本実施形態の第1の電極パターンを含んでいてもよい。第2の電極パターンについても同様である。
 以下において、第1の電極パターン及び第2の電極パターンの構成のみが第3の実施形態と異なる、第3の実施形態の第1~第4の変形例を示す。第1~第4の変形例においても、第3の実施形態と同様に、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 図24に示す第1の変形例では、第1の電極パターン38Aは、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びる矩形の形状を有し、かつ隣り合う第1の電極指16のいずれにも接続されていない。第2の電極パターン39Aも同様に、第2のバスバー15と平行に延びる矩形の形状を有し、かつ隣り合う第2の電極指17のいずれにも接続されていない。
 図25に示す第2の変形例では、第1の電極パターン38Bは、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ隣り合う第1の電極指16の双方に接続されている。具体的には、第1の電極パターン38Bにおける、第1のバスバー14と対向している辺が、第1のバスバー14と平行に延びていない。他方、第2の電極指17と対向している辺は、第1のバスバー14と平行に延びている。本変形例においては、第1の電極パターン38Bの平面視における形状は五角形である。第2の電極パターン39Bも同様に、平面視における形状は五角形である。このように、本発明における第1の電極パターン及び第2の電極パターンの平面視における形状は、四角形以外の多角形であってもよい。
 図26に示す第3の変形例では、第1の電極パターン38Cは、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ隣り合う第1の電極指16のうち一方のみに接続されている。具体的には、第1の電極パターン38Cにおける、第1のバスバー14と対向している辺が、第1のバスバー14と平行に延びていない。他方、第2の電極指17と対向している辺は、第1のバスバー14と平行に延びている。第2の電極パターン39Cも同様に、平面視において、第2のバスバー15と平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ隣り合う第2の電極指17のうち一方のみに接続されている。
 図27に示す第4の変形例では、第1の電極パターン38Dは、平面視において、第1のバスバー14と平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ隣り合う第1の電極指16のいずれにも接続されていない。具体的には、第1の電極パターン38Dにおける、第1のバスバー14と対向している辺が、第1のバスバー14と平行に延びていない。他方、第2の電極指17と対向している辺は、第1のバスバー14と平行に延びている。第1の電極パターン38Dの平面視における形状は五角形である。同様に、第2の電極パターン39Dの平面視における形状も五角形であり、かつ隣り合う第2の電極指17のいずれにも接続されていない。
 なお、複数の第1の電極パターンのうち、少なくとも1つが、各変形例のうちいずれかの構成を有していてもよい。複数の第1の電極パターンが、本発明における互いに異なる形態の第1の電極パターンを含んでいてもよい。複数の第2の電極パターンにおいても同様である。
 図28は、第4の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。
 本実施形態は、基準線N1が、第1の包絡線E1及び第1の包絡線E1の延長線を含まない点において第1の実施形態と異なる。基準線N1は、圧電体層の伝搬軸と平行に延び、かつ定点C1を通る直線である。本実施形態は、基準線N2が、第2の包絡線E2及び第2の包絡線E2の延長線を含まない点においても第1の実施形態と異なる。基準線N2は、圧電体層の伝搬軸と平行に延び、かつ定点C2を通る直線である。さらに、本実施形態は、第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2が、伝搬軸に対して傾斜している点においても、第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 第1の包絡線E1及び第1の包絡線E1の延長線を含む直線を、直線IG1とする。直線IG1上に定点C1が位置している。直線IG1と、基準線N1とがなす角の角度を包絡線傾斜角度θIG1とする。一方で、第2の包絡線E2及び第2の包絡線E2の延長線を含む直線を、直線IG2とする。直線IG2上に定点C2が位置している。直線IG2と、基準線N2とがなす角の角度を包絡線傾斜角度θIG2とする。包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の絶対値は、90°以下とする。本明細書においては、包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の双方の正の方向を、平面視したときの反時計回りの方向とする。
 上記のように、本実施形態においては、基準線N1及び基準線N2は、伝搬軸と平行に延びている。よって、包絡線傾斜角度θIG1は、第1の包絡線E1が、伝搬軸に対して傾斜している角度である。包絡線傾斜角度θIG2は、第2の包絡線E2が、伝搬軸に対して傾斜している角度である。本実施形態のIDT電極においては、包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2は同じである。より具体的には、θIG1=θIG2=2°である。もっとも、各包絡線傾斜角度は上記に限定されない。
 本実施形態のIDT電極は、第1の実施形態と同様に、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19を有する。よって、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高めることができる。
 本実施形態においても、第1の実施形態と同様に、基準線N1を基準として、角度θC1、励振角度θC1_prop及び交叉角度θC1_APが定義される。基準線N2を基準として、角度θC2、励振角度θC2_prop及び交叉角度θC2_APが定義される。そして、本実施形態では、θC1_AP=θC2_AP=10°である。
 IDT電極におけるデューティ比を、各曲線領域において、励振角度θC1_propまたは励振角度θC2_propに応じて変化させることにより、全ての励振部の共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。第4の実施形態における、励振角度θC1_prop及びデューティ比の関係を、図29により示す。なお、デューティ比の最大値が第4の実施形態と異なる例も、第4の実施形態の第1の変形例及び第2の変形例として、併せて示す。
 図29は、第4の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例における、IDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、デューティ比との関係を示す図である。図29中の二点鎖線は、直線IG1上の位置を示す。
 第4の実施形態においては、励振角度θC1_propが0°である場合に、デューティ比が最大値とされている。なお、第4の実施形態においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.5である。そして、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、デューティ比が小さい。これにより、第1の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。
 第1の変形例及び第2の変形例においても、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、デューティ比が小さい。なお、第1の変形例においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.64である。第2の変形例においては、励振角度θC1_propが0°のとき、デューティ比は0.425である。第1の変形例及び第2の変形例においても、第1の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。なお、第4の実施形態、第1の変形例及び第2の変形例においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|とデューティ比との関係も、図29に示す関係と同様とされている。よって、第2の曲線領域における全ての励振部においても、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。
 第1の変形例及び第2の変形例においては、デューティ比以外の点においては、第4の実施形態と同様に構成されている。よって、Q値を高めることができる。
 ところで、第4の実施形態においても、第2の実施形態と同様に低音速領域が構成されていてもよい。例えば、図30に示す第4の実施形態の第3の変形例においては、IDT電極の各電極指に、第2の実施形態と同様に、質量付加膜29が積層されている。すなわち、各エッジ領域において、各電極指に質量付加膜29が積層されている。それによって、ピストンモードを成立させることができる。そして、本変形例においても、複数の第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19が設けられている。これらにより、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 図31は、第5の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。
 本実施形態は、包絡線傾斜角度θIG2において第4の実施形態と異なる。具体的には、第4の実施形態ではθIG1=θIG2=2°であった。これに対して、本実施形態では、θIG1=2°であり、θIG2=-2°である。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第4の実施形態の弾性波装置と同様の構成を有する。
 本実施形態においては、θIG1≠θIG2である。さらに、包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の符号が互いに逆である。すなわち、第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2は、伝搬軸に対して、互いに反対側に傾斜して延びている。
 IDT電極48は、第4の実施形態と同様に、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19を有する。よって、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高めることができる。
 本実施形態においては、包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の符号が互いに逆であり、かつ絶対値が同じである。よって、第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2は、伝搬軸と平行な方向に延びる対称軸に対して、線対称である。もっとも、包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の符号が互いに逆であり、かつ絶対値が異なっていてもよい。包絡線傾斜角度θIG1及び包絡線傾斜角度θIG2の符号が同じであり、かつ絶対値が異なっていてもよい。あるいは、例えば、第1の包絡線E1が伝搬軸に対して傾斜しており、かつ第2の包絡線E2が伝搬軸に対して傾斜していなくともよい。
 ところで、第5の実施形態においても、第2の実施形態と同様に低音速領域が構成されていてもよい。例えば、図32に示す第5の実施形態の変形例においては、IDT電極48の各電極指に、第2の実施形態と同様に、質量付加膜29が積層されている。すなわち、各エッジ領域において、各電極指に質量付加膜29が積層されている。それによって、ピストンモードを成立させることができる。そして、本変形例においても、IDT電極48が第5の実施形態と同様に構成されており、かつ複数の第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19が設けられている。これらにより、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 図33は、第6の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。図34は、第6の実施形態におけるIDT電極の構成を説明するための模式的平面図である。
 図33に示すように、本実施形態は、交叉領域Dが、第1の直線領域T1及び第2の直線領域T2を含む点において第5の実施形態と異なる。図34に示すように、本実施形態は、直線IG1が定点C1を通らない点、及び直線IG2が定点C2を通らない点においても、第5の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第5の実施形態の弾性波装置と同様の構成を有する。
 交叉領域Dにおいては、第1のバスバー14側から第2のバスバー15側に向かい、第1の直線領域T1、第1の曲線領域W1、第2の曲線領域W2及び第2の直線領域T2の順序で配置されている。第1の直線領域T1は第1の包絡線E1を含む。一方で、第2の直線領域T2は第2の包絡線E2を含む。
 図33に示すように、第1の直線領域T1及び第2の直線領域T2においては、平面視における第1の電極指56及び第2の電極指57の形状が直線状である。
 図34に示すように、直線IG1と平行に延びており、かつ定点C1を通る直線を直線J1とする。直線J1は、第1の曲線領域W1の第1のバスバー14側の端縁部と、該端縁部の延長線とを含む。直線J1と、基準線N1とがなす角の角度を端縁部傾斜角度θJ1とする。一方で、直線IG2と平行に延びており、かつ定点C2を通る直線を直線J2とする。直線J2は、第2の曲線領域W2の第2のバスバー15側の端縁部と、該端縁部の延長線とを含む。直線J2と、基準線N2とがなす角の角度を端縁部傾斜角度θJ2とする。端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2の絶対値は、90°以下とする。本明細書においては、端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2の双方の正の方向を、平面視したときの反時計回りの方向とする。
 IDT電極58においては、θJ1=2°であり、θJ2=-2°である。このように、端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2の符号が互いに逆であり、かつ絶対値が同じである。よって、第1の曲線領域W1の第1のバスバー14側の端縁部、及び第2の曲線領域W2の第2のバスバー15側の端縁部は、伝搬軸と平行な方向に延びる対称軸に対して、線対称である。
 もっとも、端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2の符号が互いに逆であり、かつ絶対値が異なっていてもよい。端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2の符号が同じであり、かつ絶対値が異なっていてもよい。端縁部傾斜角度θJ1及び端縁部傾斜角度θJ2が同じであってもよい。あるいは、例えば、第1の曲線領域W1の上記端縁部が伝搬軸に対して傾斜しており、かつ第2の曲線領域W2の上記端縁部が伝搬軸に対して傾斜していなくともよい。
 IDT電極58は、第5の実施形態と同様に、複数の第1の電極パターン18及び複数の第2の電極パターン19を有する。よって、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高めることができる。
 ところで、第6の実施形態においても、第2の実施形態と同様に低音速領域が構成されていてもよい。例えば、図35に示す第6の実施形態の変形例においては、IDT電極58の各電極指に、第2の実施形態と同様に、質量付加膜29が積層されている。すなわち、各エッジ領域において、各電極指に質量付加膜29が積層されている。それによって、ピストンモードを成立させることができる。そして、本変形例においても、IDT電極58が第6の実施形態と同様に構成されており、かつ複数の第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19が設けられている。これらにより、主モードの特性を良好にすることができ、横モード及び通過帯域外の不要波を抑制することができ、かつQ値を高めることができる。
 図36は、第7の実施形態に係る弾性波装置の模式的平面図である。
 本実施形態は、IDT電極68の形状において第1の実施形態と異なる。これに伴い、各反射器の形状も第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 第1のバスバー64における交叉領域D側の部分は、複数の折れ曲がり部64aを有する。同様に、第2のバスバー65における交叉領域D側の部分は、複数の折れ曲がり部65aを有する。もっとも、第1のバスバー64及び第2のバスバー65のうち少なくとも一方が少なくとも1つの折れ曲がり部を有している構成であってもよい。
 第1の包絡線E1は複数の折れ曲がり部V1を有する。第1の包絡線E1は、複数の折れ曲がり部V1同士が直線により結ばれた波状の形状を有する。これにより、第1のバスバー64及び交叉領域Dの間の距離は一定とされている。
 同様に、第2の包絡線E2は複数の折れ曲がり部V2を有する。第2の包絡線E2は、複数の折れ曲がり部V2同士が直線により結ばれた波状の形状を有する。これにより、第2のバスバー65及び交叉領域Dの間の距離は一定とされている。
 もっとも、第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2のうち少なくとも一方は、複数の折れ曲がり部同士が曲線により結ばれた波状の形状を有していてもよい。あるいは、第1の包絡線E1及び第2の包絡線E2のうち少なくとも一方が波状の形状を有する構成であってもよい。
 本実施形態においては、各第1の電極パターン18は、第1のバスバー64における交叉領域D側の部分が延びる方向と平行に延びている。よって、複数の第1の電極パターン18は、波状の形状に沿って並んでいる。同様に、各第2の電極パターン19は、第2のバスバー65における交叉領域D側の部分が延びる方向と平行に延びている。よって、複数の第2の電極パターン19は、波状の形状に沿って並んでいる。
 なお、本実施形態においては、IDT電極68の複数の電極指の平面視における形状はそれぞれ、1つの定点を共通の中心とする、同心円における円弧状の形状である。
 本実施形態においても、電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下である。それによって、Q値を高めることができる。
 第1~第7の実施形態においては、デューティ比を調整することにより、全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。もっとも、電極指ピッチを調整することにより、全ての励振部における共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させてもよい。この例を、第8の実施形態により示す。
 第8の実施形態は、IDT電極において、デューティ比が一定であり、かつ電極指ピッチが一定でない点で第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 ここで、θC1_propが0°である励振部における電極指ピッチをp0、任意の部分の電極指ピッチをp1、{(p1-p0)/p0}×100[%]を電極指ピッチの変化率Δpitch[%]とする。
 図37は、第8の実施形態におけるIDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、電極指ピッチの変化率Δpitchとの関係を示す図である。
 図37に示すように、本実施形態では、IDT電極における、励振角度θC1_propが0°である励振部においては、Δpitchは0%である。そして、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、Δpitchは負の方向に大きくなっている。すなわち、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、電極指ピッチが狭い。なお、第8の実施形態においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|とΔpitchとの関係も、図37に示す関係と同様とされている。それによって、第1の曲線領域及び第2の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。加えて、第1の実施形態と同様に、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高くすることができる。
 なお、圧電性基板の逆速度面によって、電極指ピッチと各モードの周波数との関係は異なる。よって、圧電性基板の構成や、圧電性基板上の構成によっては、励振角度の絶対値|θC1_prop|及び|θC2_prop|が大きいほど電極指ピッチが広いときに、全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致する場合もある。この例としては、回転Yカット-4°X伝搬のLiNbOのみからなる基板上に設けられたIDT電極を、厚みが厚いSiO膜に埋め込んだ弾性波装置などを挙げることができる。あるいは、本発明における基準線が通る、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propが0°である励振部において、電極指ピッチの値が最大または最小とは必ずしもならない。
 第1~第8の実施形態においては、デューティ比または電極指ピッチを調整することにより、全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。もっとも、複数の電極指の厚みを調整することにより、全ての励振部における共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させてもよい。この例を、第9の実施形態により示す。
 第9の実施形態は、IDT電極において、デューティ比が一定であり、かつ複数の電極指の厚みが一定でない点で第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 図38は、第9の実施形態におけるIDT電極の、励振角度の絶対値|θC1_prop|と、電極指の厚みとの関係を示す図である。
 図38に示すように、IDT電極の第1の曲線領域においては、励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、第1の電極指及び第2の電極指の厚みが薄い。なお、第9の実施形態においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|と第1の電極指及び第2の電極指の厚みとの関係も、図38に示す関係と同様とされている。それによって、第1の曲線領域及び第2の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。加えて、第1の実施形態と同様に、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高くすることができる。
 なお、圧電性基板の逆速度面によって、第1の電極指及び第2の電極指の厚みと各モードの周波数との関係は異なる。よって、圧電性基板の構成や、圧電性基板上の構成によっては、励振角度の絶対値|θC1_prop|及び|θC2_prop|が大きいほど、各電極指の厚みが厚いときに、全ての励振部において共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致する場合もある。この例としては、回転Yカット-4°X伝搬のLiNbOのみからなる基板上に設けられたIDT電極を、厚みが厚いSiO膜に埋め込んだ弾性波装置などを挙げることができる。あるいは、本発明における基準線が通る、励振角度θC1_prop及び励振角度θC2_propが0°である励振部において、第1の電極指及び第2の電極指の厚みの値が最大または最小とは、必ずしもならない。
 第1~第9の実施形態においては、IDT電極の構成により、全ての励振部における共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させている。もっとも、IDT電極を覆う誘電体膜の厚みを調整することにより、全ての励振部における共振周波数同士または反共振周波数同士を略一致させてもよい。この例を、第10の実施形態及びその変形例により示す。
 図39は、第10の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。図39は、図2に示す部分に相当する断面を示す。図39以外の模式的正面断面図も同様である。
 本実施形態は、IDT電極78において、デューティ比が一定である点で第1の実施形態と異なる。本実施形態は、圧電体層6上に、IDT電極78を覆うように誘電体膜75が設けられている点においても、第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 本実施形態の誘電体膜75を伝搬する横波の音速は、誘電体膜75を伝搬する主モードの音速よりも低い。誘電体膜75の厚みは、誘電体膜75が覆っている第1の曲線領域の励振部の励振角度θC1_propに応じて異なっている。同様に、誘電体膜75の厚みは、誘電体膜75が覆っている第2の曲線領域の励振部の励振角度θC2_propに応じて異なっている。
 図40は、第10の実施形態においての、誘電体膜が覆っている第1の曲線領域の励振部における励振角度の絶対値|θC1_prop|と、誘電体膜の厚みとの関係を示す図である。
 図40に示すように、本実施形態では、誘電体膜75が覆っている第1の曲線領域における励振部の励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、誘電体膜75の厚みが薄い。なお、第10の実施形態においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|と誘電体膜75の厚みとの関係も、図40に示す関係と同様とされている。それによって、第1の曲線領域及び第2の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。加えて、第1の実施形態と同様に、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高くすることができる。
 第10の実施形態では、誘電体膜75を伝搬する横波の音速は、誘電体膜75を伝搬する主モードの音速よりも低い。もっとも、誘電体膜を伝搬する波の音速の関係は上記に限定されない。誘電体膜を伝搬する横波の音速、及び厚みの変化の態様のみが第10の実施形態と異なる、第10の実施形態の変形例を以下において示す。
 第10の実施形態の変形例においては、誘電体膜を伝搬する横波の音速は、該誘電体膜を伝搬する主モードの音速よりも高い。そして、本変形例においては、誘電体膜が覆っている第1の曲線領域の励振部における励振角度の絶対値|θC1_prop|と、誘電体膜の厚みとの関係は、図41に示す通りである。より具体的には、誘電体膜が覆っている第1の曲線領域の励振部の励振角度の絶対値|θC1_prop|が大きいほど、誘電体膜の厚みが厚い。なお、本変形例においては、第2の曲線領域における励振角度の絶対値|θC2_prop|と誘電体膜の厚みとの関係も、図41に示す関係と同様とされている。それによって、第1の曲線領域及び第2の曲線領域における全ての励振部において、共振周波数同士または反共振周波数同士が略一致している。加えて、第10の実施形態と同様に、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高くすることができる。
 なお、圧電性基板の構成などによっては、誘電体膜における励振部を覆っている部分の厚みのうち、本発明における基準線が通る部分の厚みの値が最大または最小とは、必ずしもならない。
 ところで、圧電性基板の積層構造は、図2に示す構成には限定されない。第11の実施形態により、弾性波装置が、第1の実施形態とは異なる圧電性基板を有する例を示す。
 図42は、第11の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。
 本実施形態は、圧電性基板82の積層構造において第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置と同様の構成を有する。
 圧電性基板82は、支持基板4と、高音速膜85Aと、低音速膜85Bと、圧電体層6とを有する。支持基板4上に高音速膜85Aが設けられている。高音速膜85A上に低音速膜85Bが設けられている。低音速膜85B上に圧電体層6が設けられている。
 高音速膜85Aは相対的に高音速な膜である。より具体的には、高音速膜85Aを伝搬するバルク波の音速は、圧電体層6を伝搬する弾性波の音速よりも高い。高音速膜85Aの材料としては、例えば、窒化アルミニウム、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶などの圧電体、アルミナ、サファイア、マグネシア、窒化ケイ素、炭化ケイ素、ジルコニア、コージライト、ムライト、ステアタイト、フォルステライト、スピネル、サイアロンなどのセラミック、酸化アルミニウム、酸窒化ケイ素、DLC(ダイヤモンドライクカーボン)、ダイヤモンドなどの誘電体、もしくはシリコンなどの半導体、または上記材料を主成分とする材料を用いることもできる。なお、上記スピネルには、Mg、Fe、Zn、Mnなどから選ばれる1以上の元素と酸素とを含有するアルミニウム化合物が含まれる。上記スピネルの例としては、MgAl、FeAl、ZnAl、MnAlを挙げることができる。
 低音速膜85Bは相対的に低音速な膜である。より具体的には、低音速膜85Bを伝搬するバルク波の音速は、圧電体層6を伝搬するバルク波の音速よりも低い。低音速膜85Bの材料としては、例えば、ガラス、酸化ケイ素、酸窒化ケイ素、酸化リチウム、酸化タンタル、もしくは酸化ケイ素にフッ素、炭素やホウ素を加えた化合物などの誘電体、または上記材料を主成分とする材料を用いることができる。
 第11の実施形態では、圧電性基板82において、高音速膜85A、低音速膜85B及び圧電体層6がこの順序で積層されている。これにより、弾性波のエネルギーを圧電体層6側に効果的に閉じ込めることができる。よって、阻止域におけるロスを低減することができる。阻止域とは、弾性波が周期構造の金属グレーティングに閉じ込められることにより、弾性波の波長が一定となる領域である。阻止域の上端とは、阻止域の高域側の端部である。阻止域は、共振周波数から阻止域の上端の周波数までの帯域である。
 加えて、第1の実施形態と同様に、交叉領域側からバスバー側に、弾性波のエネルギーが漏洩することを抑制することもできる。従って、Q値を効果的に高めることができる。さらに、横モードを抑制することもできる。
 第11の実施形態の上記効果を、第11の実施形態と、図6に示す第2の参考例とを比較することにより示す。当該比較に係る第11の実施形態の弾性波装置の設計パラメータは以下の通りである。
 支持基板4;材料…Si、面方位…(111)、オイラー角(φ,θ,ψ)におけるψ…73°
 高音速膜85A;材料…SiN、厚み…0.15λ
 低音速膜85B;材料…SiO、厚み…0.15λ
 圧電体層6;材料…回転Yカット55°X伝搬のLiTaO、厚み…0.2λ
 IDT電極8;材料…Al、厚み…0.05λ、
 電極指の形状における楕円係数α12/α11;1
 電極指の形状における楕円係数α22/α21;1
 波長λ;2μm
 IDT電極8の電極指の対数;80対
 デューティ比;角度θC1及び角度θC2が0°である励振部において0.5
 交叉角度θC1_AP;10°
 交叉角度θC2_AP;10°
 I-Pギャップ;0.135λ
 第1の電極パターン18及び第2の電極パターン19の幅;0.2λ
 B-Pギャップ;2λ
 反射器9A及び反射器9B;反射器電極指の対数…20対
 第2の参考例の弾性波装置の設計パラメータは、電極パターンに関するパラメータ以外は、第11の実施形態に係る上記弾性波装置の設計パラメータと同様である。なお、第2の参考例においては、電極指とバスバーとの間の距離は、2λである。
 第11の実施形態及び第2の参考例の各弾性波装置のインピーダンス周波数特性、並びに周波数及びQ値の関係を求めた。
 図43は、第11の実施形態及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。図44は、第11の実施形態及び第2の参考例における、周波数及びリターンロスの関係を示す図である。なお、図43及び図44に示されているfrは共振周波数であり、faは反共振周波数であり、fsは阻止域の上端の周波数である。後述する図45及び図46においても同様である。
 図43に示すように、第11の実施形態においては、第2の参考例よりも、インピーダンス比が大きくなっていることがわかる。これは、第11の実施形態において、Q値を高くできることによる。
 図44に示すように、第2の参考例においては、共振周波数及び反共振周波数の間において、横モードに起因する大きなリップルが生じている。これに対して、第11の実施形態では、第2の参考例よりも、横モードが抑制されていることがわかる。加えて、第11の実施形態においては、第2の参考例よりも、阻止域において、ロスを低減できていることがわかる。
 なお、IDT電極の構成のみが第11の実施形態と異なる場合においても、上記と同様の効果を得ることができる。この例を、第11の実施形態の第1の変形例と、第2の参考例とを比較することにより示す。第1の変形例におけるIDT電極は、図17に示す第2の実施形態の第2の変形例におけるIDT電極28と同様の構成を有する。すなわち、第1のエッジ領域H1及び第2のエッジ領域H2において、各電極指が幅広部を有する。これにより、各エッジ領域において低音速領域が構成されている。
 当該比較に係る第1の変形例の弾性波装置の設計パラメータは、図43及び図44における比較に係る第11の実施形態の弾性波装置の設計パラメータと、各エッジ領域以外においては同様である。具体的には、第1の変形例においては、各エッジ領域の、電極指が延びる方向に沿う寸法は、0.75λである。各エッジ領域におけるデューティ比は0.67である。第2の参考例の弾性波装置の設計パラメータは、図43及び図44における比較に係る設計パラメータと同様である。
 図45は、第11の実施形態の第1の変形例及び第2の参考例における、インピーダンス周波数特性を示す図である。図46は、第11の実施形態の第1の変形例及び第2の参考例における、周波数及びリターンロスの関係を示す図である。
 図45に示すように、第1の変形例においては、第2の参考例よりも、インピーダンス比が大きくなっていることがわかる。これは、第1の変形例において、第11の実施形態と同様に、Q値を高くできることによる。
 図46に示すように、第1の変形例では、第2の参考例よりも、横モードを効果的に抑制できていることがわかる。これは、第1の変形例においては、ピストンモードが成立することによる。加えて、本変形例では、第2の参考例よりも、阻止域において、ロスを低減できていることがわかる。第11の実施形態及び第1の変形例の効果は、圧電性基板上に誘電体膜が設けられている場合においても、同様に得ることができる。
 以下において、圧電性基板の積層構造のみが第11の実施形態と異なる、第11の実施形態の第2の変形例及び第3の変形例を示す。第2の変形例及び第3の変形例においても、第11の実施形態と同様に、Q値を高めることができる。
 図47に示す第2の変形例においては、圧電性基板82Aは、支持基板4と、音響反射膜87と、低音速膜85Bと、圧電体層6とを有する。支持基板4上に音響反射膜87が設けられている。音響反射膜87上に低音速膜85Bが設けられている。低音速膜85B上に圧電体層6が設けられている。
 音響反射膜87は複数の音響インピーダンス層の積層体である。具体的には、音響反射膜87は、複数の低音響インピーダンス層と、複数の高音響インピーダンス層とを有する。高音響インピーダンス層は、相対的に音響インピーダンスが高い層である。音響反射膜87の複数の高音響インピーダンス層は、より具体的には、高音響インピーダンス層87a、高音響インピーダンス層87c及び高音響インピーダンス層87eである。一方で、低音響インピーダンス層は、相対的に音響インピーダンスが低い層である。音響反射膜87の複数の低音響インピーダンス層は、より具体的には、低音響インピーダンス層87b及び低音響インピーダンス層87dである。低音響インピーダンス層及び高音響インピーダンス層は交互に積層されている。なお、高音響インピーダンス層87aが、音響反射膜87において最も圧電体層6側に位置する層である。
 音響反射膜87は、低音響インピーダンス層を2層有し、高音響インピーダンス層を3層有する。もっとも、音響反射膜87は、低音響インピーダンス層及び高音響インピーダンス層をそれぞれ少なくとも1層ずつ有していればよい。
 低音響インピーダンス層の材料としては、例えば、酸化ケイ素またはアルミニウムなどを用いることができる。高音響インピーダンス層の材料としては、例えば、白金またはタングステンなどの金属や、窒化アルミニウムまたは窒化ケイ素などの誘電体を用いることができる。なお、低音速膜85Bの材料は、低音響インピーダンス層の材料と同じであってもよい。
 図48に示す第3の変形例においては、圧電性基板82Bは、支持基板84と、圧電体層6とを有する。支持基板84上に直接的に圧電体層6が設けられている。より具体的には、支持基板84は凹部を有する。支持基板84上に、凹部を塞ぐように、圧電体層6が設けられている。これにより、圧電性基板82Bにおいて中空部82cが構成されている。圧電体層6の一部及び支持基板84の一部は、中空部82cを挟み互いに対向している。中空部82cは、平面視において、IDT電極8の少なくとも一部と重なっている。
 ところで、図42に示すIDT電極8は、保護膜に埋め込まれていてもよい。図49に示す、第11の実施形態の第4の変形例においては、圧電体層6上に、IDT電極8を覆うように、保護膜89が設けられている。保護膜89の厚みは、IDT電極8の厚みよりも厚い。IDT電極8は保護膜89に埋め込まれている。これにより、IDT電極8が破損し難い。
 保護膜89は、第1の層89a及び第2の層89bを有する。第1の層89aにIDT電極8が埋め込まれている。第1の層89a上に第2の層89bが設けられている。それによって、保護膜89による複数の効果を得ることができる。具体的には、本変形例においては、第1の層89aの材料として、酸化ケイ素が用いられている。これにより、弾性波装置における周波数温度係数(TCF)の絶対値を小さくすることができる。よって、弾性波装置の温度特性を改善することができる。第2の層89bには、窒化ケイ素が用いられている。これにより、耐湿性を高めることができる。加えて、本変形例においても、第11の実施形態と同様に、Q値を高めることができる。
 なお、第1の層89a及び第2の層89bの材料は上記に限定されない。保護膜89は単層であってもよく、3層以上の積層体であってもよい。
 図50は、第12の実施形態に係る弾性波装置の模式的正面断面図である。
 本実施形態は、圧電体層6の第1の主面6a及び第2の主面6bの双方にIDT電極8が設けられている点において第1の実施形態と異なる。なお、第2の主面6bに設けられたIDT電極8は、中空部2c内に位置している。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置91は第1の実施形態の弾性波装置1と同様の構成を有する。
 圧電体層6の第1の主面6aに設けられたIDT電極8及び第2の主面6bに設けられたIDT電極8は、圧電体層6を挟み互いに対向している。本実施形態においても、第1の実施形態と同様に、複数の第1の電極パターン及び複数の第2の電極パターンが設けられている。それによって、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高めることができる。
 なお、圧電体層6の第1の主面6a及び第2の主面6bに設けられたIDT電極8においては、例えば、設計パラメータが互いに異なっていてもよい。
 以下において、圧電体層の第2の主面に設けられた電極の構成、及び圧電性基板の積層構造のうち少なくとも一方のみが第12の実施形態と異なる、第12の実施形態の第1~第3の変形例を示す。第1~第3の変形例においても、第12の実施形態と同様に、Q値を高めることができる。
 図51に示す第1の変形例においては、圧電性基板82が、第11の実施形態と同様に構成されている。具体的には、圧電性基板82が、支持基板4、高音速膜85A、低音速膜85B及び圧電体層6を有する。圧電体層6の第2の主面6bに設けられたIDT電極8は、低音速膜85Bに埋め込まれている。
 図52に示す第2の変形例においては、圧電体層6の第2の主面6bに、板状の電極98が設けられている。電極98は、中空部2c内に位置している。IDT電極8及び電極98は、圧電体層6を挟み互いに対向している。
 図53に示す第3の変形例においては、圧電性基板82が第1の変形例と同様に構成されており、かつ圧電体層6の第2の主面6bに、第2の変形例と同様の電極98が設けられている。電極98は低音速膜85Bに埋め込まれている。
 本発明に係る弾性波装置は、例えば、フィルタ装置に用いることができる。この例を以下において示す。
 図54は、第13の実施形態に係るフィルタ装置の回路図である。
 本実施形態のフィルタ装置100はラダー型フィルタである。フィルタ装置100は、第1の信号端子102及び第2の信号端子103と、複数の直列腕共振子及び複数の並列腕共振子とを有する。フィルタ装置100においては、全ての直列腕共振子及び全ての並列腕共振子は弾性波共振子である。さらに、全ての直列腕共振子及び全ての並列腕共振子は本発明に係る弾性波装置である。もっとも、フィルタ装置100の複数の弾性波共振子のうち少なくとも1つの弾性波共振子が、本発明に係る弾性波装置であればよい。
 第1の信号端子102はアンテナ端子である。アンテナ端子はアンテナに接続される。もっとも、第1の信号端子102は、必ずしもアンテナ端子ではなくともよい。第1の信号端子102及び第2の信号端子103は、例えば、電極パッドとして構成されていてもよく、配線として構成されていてもよい。
 本実施形態の複数の直列腕共振子は、具体的には、直列腕共振子S1、直列腕共振子S2及び直列腕共振子S3である。複数の直列腕共振子は、第1の信号端子102及び第2の信号端子103の間に、互いに直列に接続されている。複数の並列腕共振子は、具体的には、並列腕共振子P1及び並列腕共振子P2である。直列腕共振子S1及び直列腕共振子S2の間の接続点とグラウンド電位との間に、並列腕共振子P1が接続されている。直列腕共振子S2及び直列腕共振子S3の間の接続点とグラウンド電位との間に、並列腕共振子P2が接続されている。なお、フィルタ装置100の回路構成は上記に限定されない。フィルタ装置100は、例えば、縦結合共振子型弾性波フィルタを含んでいてもよい。
 フィルタ装置100における弾性波共振子は、本発明に係る弾性波装置である。よって、フィルタ装置100の弾性波共振子において、弾性波のエネルギーの漏洩を抑制することができ、Q値を高めることができる。従って、フィルタ装置100のフィルタ特性を高めることができる。
 以下において、本発明に係る弾性波装置及びフィルタ装置の形態の例をまとめて記載する。
 <1>圧電体層を含む圧電性基板と、前記圧電体層上に設けられており、1対のバスバー及び複数の電極指を有するIDT電極と、を備え、前記1対のバスバーが、互いに対向している第1のバスバー及び第2のバスバーであり、前記複数の電極指が、複数の第1の電極指及び複数の第2の電極指であり、前記複数の第1の電極指の一端がそれぞれ、前記第1のバスバーに接続されており、前記複数の第2の電極指の一端がそれぞれ、前記第2のバスバーに接続されており、前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指が互いに間挿し合っており、前記複数の第2の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第1の包絡線、前記複数の第1の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第2の包絡線とし、前記IDT電極における、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線の間の領域が交叉領域であり、前記圧電体層上に設けられており、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間のうち、少なくとも一方に設けられている、複数の電極パターンをさらに備え、前記複数の電極指のうち、少なくとも1本の前記第1の電極指の先端部または少なくとも1本の前記第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向しており、平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、前記交叉領域において、曲線状の部分を含み、前記IDT電極の電極指ピッチにより規定される波長をλとしたときに、前記複数の電極指のうち、前記電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下である、弾性波装置。
 <2>前記交叉領域が、前記第1の包絡線を含む第1のエッジ領域と、前記第2の包絡線を含む第2のエッジ領域と、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域により挟まれた中央領域と、を有し、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方の少なくとも一部において、前記中央領域における音速よりも音速が低い、低音速領域が構成されている、<1>に記載の弾性波装置。
 <3>前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方において、少なくとも1本の前記電極指が、前記中央領域における幅よりも幅が広い幅広部を有することにより、前記低音速領域が構成されている、<2>に記載の弾性波装置。
 <4>前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方において、平面視したときに、前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指のうち少なくとも1本と重なるように設けられている、質量付加膜をさらに備え、前記質量付加膜が設けられていることにより、前記低音速領域が構成されている、<2>または<3>に記載の弾性波装置。
 <5>前記中央領域に設けられている高音速膜をさらに備え、前記高音速膜が設けられていることによって、前記中央領域における音速が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域における音速よりも高くなっており、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域の双方において、前記低音速領域が構成されている、<2>~<4>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <6>前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域の双方の全体において構成されている、<2>~<5>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <7>前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち一方のみの少なくとも一部において構成されている、<2>~<4>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <8>前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと、前記複数の第2の電極指との間のみに設けられており、前記低音速領域が、前記第2のエッジ領域のみの少なくとも一部において構成されている、<7>に記載の弾性波装置。
 <9>全ての前記第2の電極指のうち一部の前記第2の電極指が、前記電極パターンと対向しており、前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域の一部において構成されており、前記第1のエッジ領域における前記低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の前記第2の電極指が位置しており、該少なくとも1本の第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向している、<2>~<4>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <10>前記第1のバスバーに一端が接続されている少なくとも1本のオフセット電極を有し、前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域の一部において構成されており、前記第1のエッジ領域における前記低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の前記第2の電極指が位置しており、該少なくとも1本の第2の電極指と、前記少なくとも1本のオフセット電極が対向している、<2>~<4>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <11>前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間の双方に設けられており、全ての前記第1の電極指の先端部及び全ての前記第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向している、<1>~<7>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <12>前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間のうち一方にのみ設けられている、<1>~<7>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <13>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指の双方に接続されている、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <14>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のうち一方のみに接続されている、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <15>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のいずれにも接続されていない、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <16>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指の双方に接続されている、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <17>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のうち一方のみに接続されている、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <18>前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のいずれにも接続されていない、<1>~<12>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <19>前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、前記圧電体層が伝搬軸を有し、前記第1の包絡線が前記伝搬軸に対して傾斜して延びている、<1>~<18>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <20>前記第2の包絡線が前記伝搬軸に対して傾斜して延びており、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線が、前記伝搬軸に対して傾斜している角度の絶対値が90°以下であり、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線が、前記伝搬軸に対して、互いに反対側に傾斜して延びている、<19>に記載の弾性波装置。
 <21>前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線のうち少なくとも一方が、延びる方向が変化している、少なくとも1つの折れ曲がり部を有する、<1>~<19>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <22>平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、前記交叉領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の曲がる方向が異なる少なくとも2つの曲線状の部分を含み、かつ少なくとも1つの変曲点を有する、<1>~<21>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <23>平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状における、前記少なくとも2つの曲線状の部分がそれぞれ、円弧または楕円弧の形状を含み、前記交叉領域が、平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、単一の円弧または楕円弧の形状である、少なくとも2つの曲線領域を含む、<22>に記載の弾性波装置。
 <24>複数の前記曲線領域のうち1つの曲線領域が前記第1の包絡線を含み、それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部としたときに、前記第1の包絡線の延長線が、該曲線領域における前記定点を通り、前記第1の包絡線及び前記第1の包絡線の延長線を含む直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、デューティ比、電極指ピッチ、並びに前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の厚みのうち少なくともいずれかが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、<23>に記載の弾性波装置。
 <25>前記圧電体層上に、前記IDT電極を覆うように設けられている誘電体膜をさらに備え、複数の前記曲線領域のうち1つの曲線領域が前記第1の包絡線を含み、それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部としたときに、前記第1の包絡線の延長線が、該曲線領域における前記定点を通り、前記第1の包絡線及び前記第1の包絡線の延長線を含む直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、前記誘電体膜の厚みが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、<23>に記載の弾性波装置。
 <26>前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、前記圧電体層が伝搬軸を有し、それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部とし、前記伝搬軸と平行に延び、かつ前記定点を通る直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、デューティ比、電極指ピッチ、並びに前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の厚みのうち少なくともいずれかが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、<23>に記載の弾性波装置。
 <27>前記圧電体層上に、前記IDT電極を覆うように設けられている誘電体膜をさらに備え、前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、前記圧電体層が伝搬軸を有し、それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部とし、前記伝搬軸と平行に延び、かつ前記定点を通る直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、前記誘電体膜の厚みが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、<23>に記載の弾性波装置。
 <28>前記交叉領域において、平面視における前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状が、直線の形状を含む、<1>~<27>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <29>前記圧電体層上に、前記IDT電極を挟み互いに対向するように設けられており、複数の反射器電極指をそれぞれ有する、1対の反射器をさらに備え、平面視における前記複数の反射器電極指の形状が、曲線状の形状を含む、<1>~<28>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <30>前記圧電性基板が支持基板を有し、前記支持基板上に前記圧電体層が設けられている、<1>~<29>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <31>前記圧電性基板が、前記支持基板及び前記圧電体層の間に設けられている中間層を有する、<30>に記載の弾性波装置。
 <32>前記圧電性基板において中空部が構成されており、前記支持基板の一部と、前記圧電体層の一部とが、前記中空部を挟み互いに対向している、<30>または<31>に記載の弾性波装置。
 <33>前記圧電性基板が前記圧電体層のみからなる、<1>~<29>のいずれか1つに記載の弾性波装置。
 <34>複数の弾性波共振子を備え、少なくとも1つの前記弾性波共振子が、<1>~<33>のいずれか1つに記載の弾性波装置である、フィルタ装置。
1…弾性波装置
2…圧電性基板
2c…中空部
4…支持基板
5…中間層
6…圧電体層
6a,6b…第1,第2の主面
8,8A…IDT電極
9A,9B…反射器
9a,9b…反射器電極指
14,15…第1,第2のバスバー
16,17…第1,第2の電極指
18,19…第1、第2の電極パターン
22,23…第1,第2のオフセット電極
25…高音速膜
26…第1の電極指
26b…幅広部
27…第2の電極指
27a…幅広部
28…IDT電極
29,29A…質量付加膜
38,38A~38D…第1の電極パターン
39,39A~39D…第2の電極パターン
48…IDT電極
56,57…第1,第2の電極指
58…IDT電極
64,65…第1,第2のバスバー
64a,65a…折れ曲がり部
68…IDT電極
75…誘電体膜
78…IDT電極
82,82A,82B…圧電性基板
82c…中空部
84…支持基板
85A…高音速膜
85B…低音速膜
87…音響反射膜
87a…高音響インピーダンス層
87b…低音響インピーダンス層
87c…高音響インピーダンス層
87d…低音響インピーダンス層
87e…高音響インピーダンス層
89…保護膜
89a,89b…第1,第2の層
91…弾性波装置
98…電極
100…フィルタ装置
102,103…第1,第2の信号端子
201,202,301…弾性波装置
D…交叉領域
E1,E2…第1,第2の包絡線
F…中央領域
H1,H2…第1,第2のエッジ領域
N1,N2…基準線
P1,P2…並列腕共振子
S1~S3…直列腕共振子
T1,T2…第1,第2の直線領域
V1,V2…複数の折れ曲がり部
W1,W2…第1,第2の曲線領域

Claims (34)

  1.  圧電体層を含む圧電性基板と、
     前記圧電体層上に設けられており、1対のバスバー及び複数の電極指を有するIDT電極と、
    を備え、
     前記1対のバスバーが、互いに対向している第1のバスバー及び第2のバスバーであり、前記複数の電極指が、複数の第1の電極指及び複数の第2の電極指であり、前記複数の第1の電極指の一端がそれぞれ、前記第1のバスバーに接続されており、前記複数の第2の電極指の一端がそれぞれ、前記第2のバスバーに接続されており、前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指が互いに間挿し合っており、
     前記複数の第2の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第1の包絡線、前記複数の第1の電極指の先端部を結ぶことにより形成される仮想線を第2の包絡線とし、前記IDT電極における、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線の間の領域が交叉領域であり、
     前記圧電体層上に設けられており、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間のうち、少なくとも一方に設けられている、複数の電極パターンをさらに備え、
     前記複数の電極指のうち、少なくとも1本の前記第1の電極指の先端部または少なくとも1本の前記第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向しており、
     平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、前記交叉領域において、曲線状の部分を含み、前記IDT電極の電極指ピッチにより規定される波長をλとしたときに、前記複数の電極指のうち、前記電極パターンと対向している電極指の先端部と、該電極パターンとの間の距離が、0.5λ以下である、弾性波装置。
  2.  前記交叉領域が、前記第1の包絡線を含む第1のエッジ領域と、前記第2の包絡線を含む第2のエッジ領域と、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域により挟まれた中央領域と、を有し、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方の少なくとも一部において、前記中央領域における音速よりも音速が低い、低音速領域が構成されている、請求項1に記載の弾性波装置。
  3.  前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方において、少なくとも1本の前記電極指が、前記中央領域における幅よりも幅が広い幅広部を有することにより、前記低音速領域が構成されている、請求項2に記載の弾性波装置。
  4.  前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち少なくとも一方において、平面視したときに、前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指のうち少なくとも1本と重なるように設けられている、質量付加膜をさらに備え、
     前記質量付加膜が設けられていることにより、前記低音速領域が構成されている、請求項2または3に記載の弾性波装置。
  5.  前記中央領域に設けられている高音速膜をさらに備え、
     前記高音速膜が設けられていることによって、前記中央領域における音速が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域における音速よりも高くなっており、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域の双方において、前記低音速領域が構成されている、請求項2~4のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  6.  前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域の双方の全体において構成されている、請求項2~5のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  7.  前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域及び前記第2のエッジ領域のうち一方のみの少なくとも一部において構成されている、請求項2~4のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  8.  前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと、前記複数の第2の電極指との間のみに設けられており、
     前記低音速領域が、前記第2のエッジ領域のみの少なくとも一部において構成されている、請求項7に記載の弾性波装置。
  9.  全ての前記第2の電極指のうち一部の前記第2の電極指が、前記電極パターンと対向しており、
     前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域の一部において構成されており、
     前記第1のエッジ領域における前記低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の前記第2の電極指が位置しており、該少なくとも1本の第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向している、請求項2~4のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  10.  前記第1のバスバーに一端が接続されている少なくとも1本のオフセット電極を有し、
     前記低音速領域が、前記第1のエッジ領域の一部において構成されており、
     前記第1のエッジ領域における前記低音速領域が構成されていない部分に、少なくとも1本の前記第2の電極指が位置しており、該少なくとも1本の第2の電極指と、前記少なくとも1本のオフセット電極が対向している、請求項2~4のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  11.  前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間の双方に設けられており、全ての前記第1の電極指の先端部及び全ての前記第2の電極指の先端部が、前記電極パターンと対向している、請求項1~7のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  12.  前記複数の電極パターンが、前記第1のバスバーと前記交叉領域との間、及び前記第2のバスバーと前記交叉領域との間のうち一方にのみ設けられている、請求項1~7のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  13.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指の双方に接続されている、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  14.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のうち一方のみに接続されている、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  15.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びる矩形の形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のいずれにも接続されていない、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  16.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指の双方に接続されている、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  17.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のうち一方のみに接続されている、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  18.  前記複数の電極パターンのうち少なくとも1つが、平面視において、前記1対のバスバーのうち該電極パターンと対向しているバスバーと平行に延びていない辺を含む形状を有し、かつ該バスバーに接続された隣り合う前記電極指のいずれにも接続されていない、請求項1~12のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  19.  前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、
     前記圧電体層が伝搬軸を有し、
     前記第1の包絡線が前記伝搬軸に対して傾斜して延びている、請求項1~18のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  20.  前記第2の包絡線が前記伝搬軸に対して傾斜して延びており、
     前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線が、前記伝搬軸に対して傾斜している角度の絶対値が90°以下であり、前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線が、前記伝搬軸に対して、互いに反対側に傾斜して延びている、請求項19に記載の弾性波装置。
  21.  前記第1の包絡線及び前記第2の包絡線のうち少なくとも一方が、延びる方向が変化している、少なくとも1つの折れ曲がり部を有する、請求項1~19のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  22.  平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、前記交叉領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の曲がる方向が異なる少なくとも2つの曲線状の部分を含み、かつ少なくとも1つの変曲点を有する、請求項1~21のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  23.  平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状における、前記少なくとも2つの曲線状の部分がそれぞれ、円弧または楕円弧の形状を含み、前記交叉領域が、平面視における前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の形状がそれぞれ、単一の円弧または楕円弧の形状である、少なくとも2つの曲線領域を含む、請求項22に記載の弾性波装置。
  24.  複数の前記曲線領域のうち1つの曲線領域が前記第1の包絡線を含み、
     それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部としたときに、前記第1の包絡線の延長線が、該曲線領域における前記定点を通り、
     前記第1の包絡線及び前記第1の包絡線の延長線を含む直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、デューティ比、電極指ピッチ、並びに前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の厚みのうち少なくともいずれかが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、請求項23に記載の弾性波装置。
  25.  前記圧電体層上に、前記IDT電極を覆うように設けられている誘電体膜をさらに備え、
     複数の前記曲線領域のうち1つの曲線領域が前記第1の包絡線を含み、
     それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部としたときに、前記第1の包絡線の延長線が、該曲線領域における前記定点を通り、
     前記第1の包絡線及び前記第1の包絡線の延長線を含む直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、前記誘電体膜の厚みが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、請求項23に記載の弾性波装置。
  26.  前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、
     前記圧電体層が伝搬軸を有し、
     それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部とし、前記伝搬軸と平行に延び、かつ前記定点を通る直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、デューティ比、電極指ピッチ、並びに前記複数の第1の電極指及び前記複数の第2の電極指の厚みのうち少なくともいずれかが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、請求項23に記載の弾性波装置。
  27.  前記圧電体層上に、前記IDT電極を覆うように設けられている誘電体膜をさらに備え、
     前記圧電体層の材料として、圧電単結晶が用いられており、
     前記圧電体層が伝搬軸を有し、
     それぞれの前記曲線領域において、前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状における前記円弧を含む円の中心、または前記楕円弧を含む楕円の2つの焦点の重心を定点とし、それぞれの前記曲線領域における、前記定点を通る任意の直線上の部分を励振部とし、前記伝搬軸と平行に延び、かつ前記定点を通る直線を基準線とし、前記第1の包絡線を含む前記曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線と、前記基準線とがなす角の角度を定義し、該曲線領域における前記定点及び前記励振部を通る直線並びに前記電極指の交点における弾性波の励振方向と、前記基準線とがなす角の励振角度を定義した場合、該曲線領域の全ての前記励振部における共振周波数同士、または反共振周波数同士が略一致するように、前記誘電体膜の厚みが、それぞれの前記角度または前記励振角度に応じて変化している、請求項23に記載の弾性波装置。
  28.  前記交叉領域において、平面視における前記第1の電極指及び前記第2の電極指の形状が、直線の形状を含む、請求項1~27のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  29.  前記圧電体層上に、前記IDT電極を挟み互いに対向するように設けられており、複数の反射器電極指をそれぞれ有する、1対の反射器をさらに備え、
     平面視における前記複数の反射器電極指の形状が、曲線状の形状を含む、請求項1~28のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  30.  前記圧電性基板が支持基板を有し、
     前記支持基板上に前記圧電体層が設けられている、請求項1~29のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  31.  前記圧電性基板が、前記支持基板及び前記圧電体層の間に設けられている中間層を有する、請求項30に記載の弾性波装置。
  32.  前記圧電性基板において中空部が構成されており、前記支持基板の一部と、前記圧電体層の一部とが、前記中空部を挟み互いに対向している、請求項30または31に記載の弾性波装置。
  33.  前記圧電性基板が前記圧電体層のみからなる、請求項1~29のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  34.  複数の弾性波共振子を備え、
     少なくとも1つの前記弾性波共振子が、請求項1~33のいずれか1項に記載の弾性波装置である、フィルタ装置。
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