WO2024111125A1 - 光ファイバ位置調整装置及び光ファイバ位置調整方法 - Google Patents
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- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
Definitions
- This disclosure relates to an optical fiber position adjustment device and an optical fiber position adjustment method.
- Non-patent documents 1 and 2 are related documents of this technology and discuss a side polishing method for optical fibers.
- optical fibers that have already been installed in a network are referred to as working optical fibers.
- Optical fibers newly connected to working optical fibers are referred to as branch fibers.
- Working optical fibers are installed in facilities that build networks, such as utility tunnels and overhead lines. They may be installed either indoors or outdoors. Working optical fibers may already be in use for optical communications in the network, or may be installed and unused.
- Non-Patent Document 1 polishing the side of the optical fiber is often performed in places with limited working space, such as high up on a utility pole or in a narrow space inside a manhole. Branching work in such places tends to increase the burden on the worker.
- This disclosure has been made in consideration of the above circumstances, and aims to provide an optical fiber position adjustment device and an optical fiber position adjustment method that can reduce the burden on workers when branching or merging optical fibers.
- An optical fiber position adjustment device includes a first polishing surface formed on a side of a first optical fiber and a second polishing surface formed on a side of a second optical fiber that are overlapped with each other while being in slidable contact with each other, and includes a first holding part that holds the first optical fiber and a second holding part that holds the second optical fiber, a first driving part that moves the second holding part in a second direction that intersects with a first direction along the second optical fiber, and a position adjustment part that includes a first stopper part that contacts the first holding part from the opposite direction to the second direction, a light source that generates test light that is incident on the second optical fiber, and a light intensity measuring part that measures the intensity of the test light that has passed through the second optical fiber.
- the optical fiber position adjustment method includes overlapping a first holding part that holds a first optical fiber having a first polishing surface on its side with a second holding part that holds a second optical fiber having a second polishing surface on its side with the first polishing surface and the second polishing surface in slidable contact with each other, measuring the intensity of light that has passed through the second optical fiber, moving the second holding part along the second direction so that the second polishing surface approaches the first polishing surface while restricting the rotation of the first holding part and the movement in the second direction by contacting a stopper from the opposite direction of the second direction that intersects with the first direction along the second optical fiber, and stopping the movement of the second holding part when the intensity reaches a predetermined value due to the movement of the second holding part.
- the present disclosure provides an optical fiber position adjustment method and an optical fiber position adjustment device that can reduce the burden on workers when branching or merging optical fibers.
- FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating an example optical fiber branch according to an embodiment of the present disclosure.
- FIG. 2A is a perspective view showing an example of a polishing apparatus.
- FIG. 2B is a cross-sectional view of the holding portion shown in FIG. 2A.
- FIG. 3A is a block diagram showing the configuration of an optical fiber position adjustment device according to this embodiment.
- FIG. 3B is a block diagram showing the configuration of the control unit shown in FIG. 3A.
- FIG. 3C is a schematic diagram of the configuration of the optical fiber position adjustment device according to this embodiment.
- FIG. 4A is a top view of the operation unit according to the first embodiment.
- FIG. 4B is a side view of the operation unit shown in FIG. 4A.
- FIG. 4A is a top view of the operation unit according to the first embodiment.
- FIG. 4B is a side view of the operation unit shown in FIG. 4A.
- FIG. 5 is a cross-sectional view showing two polishing surfaces and their surroundings in the initial state.
- FIG. 6 is a flowchart showing an example of a process of the optical fiber position adjustment method according to the first embodiment.
- FIG. 7A is a top view of an operation unit according to the second embodiment.
- FIG. 7B is a front view of the operation unit shown in FIG. 7A.
- FIG. 8A is a top view of an operation unit according to the third embodiment.
- FIG. 8B is a front view of the operation unit shown in FIG. 8A.
- optical fibers that have already been installed in a network are sometimes called current optical fibers.
- Current optical fibers are installed in facilities that build a network, such as utility tunnels and overhead lines. They may be installed either indoors or outdoors. Current optical fibers may already be used for optical communications in the network, or may be installed and unused.
- optical fibers that are newly connected to current optical fibers are sometimes called branch fibers. Branch fibers are optical fibers that branch off from a route (transmission route) built by the current optical fiber, or that build a route that merges into that route.
- the X direction (second direction), Y direction, and Z direction (first direction) are defined as being orthogonal to each other.
- the X direction and Z direction are, for example, horizontal directions, and are the directions in which one of the two holding parts 41, 42 according to this embodiment approaches the other.
- the Y direction is, for example, vertical, and is the arrangement direction of the two holding parts 41, 42.
- the Z direction is also the direction along the two optical fibers 10, 20 (longitudinal direction), and the extension direction of the V groove 34 (see FIG. 2B) formed in each holding part 41 (42).
- the optical fiber branch 1 is a so-called optical fiber coupler that branches light propagating through one optical fiber into two optical fibers, or merges light propagating through two optical fibers into one optical fiber.
- FIG. 1 is a cross-sectional view of the optical fiber branch 1.
- the optical fiber branch 1 includes an optical fiber (first optical fiber) 10 and an optical fiber (second optical fiber) 20. Note that the cross-sectional view shown in FIG. 1 includes the central axis 10a of the optical fiber 10 and the central axis 20a of the optical fiber 20.
- the optical fiber 10 is, for example, the above-mentioned currently used optical fiber, and has already been laid in a network (not shown).
- the optical fiber 10 has a core (first core) 11, a cladding (first cladding) 12, and a coating (first coating) 13.
- the optical fiber 10 is a single-mode optical fiber or a multimode optical fiber.
- the optical fiber 20 is, for example, the branch fiber described above, and is newly connected to the optical fiber 10 as an additional path of a network (not shown).
- the optical fiber 20 has a core (second core) 21, a cladding (second cladding) 22, and a coating (second coating) 23.
- the optical fiber 20 is also a single-mode optical fiber or a multimode optical fiber.
- the optical fiber 10 has a polished surface (first polished surface) 14 on a side surface 15.
- the polished surface 14 is formed by polishing the side surface 15. This polishing process can be performed, for example, by a polishing device 30 (see FIGS. 2A and 2B ) described below. By this polishing process, the coating 13 is removed from the polished surface 14, and a part of the cladding 12 remains.
- the minimum thickness of the cladding 12 from the polished surface 14 to the core 11 is defined as the remaining cladding thickness (first remaining cladding thickness) d lv (see FIG. 5 ).
- the optical fiber 20 has a polished surface (second polished surface) 24 on a side surface 25.
- the polished surface 24 is formed by polishing the side surface 25.
- This polishing process can also be performed by, for example, a polishing device 30 described below.
- the coating 23 is removed from the polished surface 24, and a part of the cladding 22 remains.
- the minimum value of the thickness of the cladding 22 from the polished surface 24 to the core 21 is defined as the remaining cladding thickness (second remaining cladding thickness) d br .
- the optical fiber 10 extends in the Z direction while being bent with a radius of curvature (first radius of curvature) R lv at least in a portion including the polished surface 14.
- the polished surface 14 is formed by polishing a side surface 15 of the optical fiber 10 placed in a state in which the optical fiber 10 is bent with the radius of curvature R lv . Therefore, when the optical fiber 10 is bent with the radius of curvature R lv , the polished surface 14 forms an elliptical plane extending in the longitudinal direction of the optical fiber 10.
- the optical fiber 20 extends in the Z direction while being bent with a radius of curvature (second radius of curvature) R br at least in a portion including the polished surface 24.
- the polished surface 24 is formed by polishing a side surface 25 of the optical fiber 20 placed in a state in which the optical fiber 20 is bent with the radius of curvature R br . Therefore, when the optical fiber 20 is bent with the radius of curvature R br , the polished surface 24 forms an elliptical plane extending in the longitudinal direction of the optical fiber 20.
- a refractive index matching agent (not shown) is interposed between polished surface 14 and polished surface 24.
- the refractive index matching agent may be a viscous liquid or a deformable solid.
- the refractive index of the refractive index matching agent is smaller than the refractive indexes of cladding 12 and cladding 22. This prevents an increase in insertion loss.
- the polished surface 14 and the polished surface 24 are in contact with each other via a refractive index matching material (not shown). Therefore, the cores 11 and 21 are positioned relative to each other with a core distance d (see FIG. 5 ).
- the core distance d is the distance between the cores 11 and 21, and its minimum value is the sum of the remaining cladding thickness d lv of the cladding 12, the remaining cladding thickness d br of the cladding 22, and the thickness of the refractive index matching material (not shown).
- the core spacing d By making the core spacing d sufficiently small, evanescent coupling between core 11 and core 21 is obtained. That is, core 11 and core 21 are optically coupled, enabling the multiplexing or demultiplexing of light, which is the function of optical fiber branch 1.
- the coupling efficiency between core 11 and core 21 depends on the core spacing d.
- the core spacing d at which 100% coupling efficiency is obtained depends on the wavelength of light. For example, when the wavelength of light is 1260 nm, the core spacing d at which 100% coupling efficiency is obtained is 2.6 ⁇ m or less.
- FIG. 2A is a perspective view showing an example of a polishing device 30 used to form the polishing surface 14 (24).
- FIG. 2B is a cross-sectional view of the holding part 32 shown in FIG. 2A.
- the polishing device 30 includes a polishing table 31 and a holding part 32.
- the formation of the polishing surface 14 will be described as an example.
- the polishing table 31 has a flat upper surface 31a, and the polishing sheet 33 is placed on this upper surface 31a.
- the holding part 32 has a rectangular parallelepiped shape extending in the first direction.
- the holding part 32 has a flat surface 32a facing the upper surface 31a of the polishing table 31, and a V-shaped groove 34 curved with a radius R is formed on this flat surface 32a.
- the radius R is slightly smaller than the radius of curvature Rlv .
- the material of the polishing table 31 and the holding part 32 is, for example, optically transparent glass.
- the V-groove 34 is formed so that its depth from the plane 32a is shallowest near the center of the plane 32a. Also, as shown in Fig. 2B, the minimum depth of the V-groove 34 is set to a value that allows the cladding 12 to have a remaining cladding thickness d lv .
- the polishing process of the optical fiber 10 using the polishing device 30 is performed at the site where the optical fiber 20 is connected to the optical fiber 10.
- a state is prepared for measuring the leaked light from the optical fiber 10. Specifically, the optical fiber 10 is bent while laser light (for convenience, referred to as propagating light) is propagating through the optical fiber 10, and the intensity of the laser light (for convenience, referred to as leaked light) leaking from the bent portion is measured with a light intensity meter (not shown).
- the optical fiber 10 is an optical fiber in use. Therefore, the light propagating through the optical fiber 10 is either communication light 81 propagating through the network or pseudo communication light introduced using a specified light source. In either case, a bend that causes a loss that does not affect communication is imparted to the optical fiber 10, and the intensity of the leaked light from the bent portion is measured until polishing is completed.
- adhesive 35 (see FIG. 5) is filled into the V-groove 34 of the holding portion 32, and the optical fiber 10 is fixed in the V-groove 34.
- the adhesive 35 hardens and the optical fiber 10 is fixed in the V-groove 34, a part of the side surface 15 of the optical fiber 10 is exposed from the flat surface 32a of the holding portion 32 (see FIG. 2B).
- the flat surface 32a of the holding portion 32 is opposed to the polishing sheet 33 placed on the polishing table 31. After that, the side surface 15 of the optical fiber 10 exposed from the flat surface 32a of the holding portion 32 is pressed against the polishing sheet 33 and polished.
- the polishing of the side surface 15 is performed while monitoring the intensity of communication light 81 leaking from the bent portion downstream of the holding unit 32. As the polishing progresses, the polished surface approaches the core 11 (i.e., the remaining cladding thickness d lv decreases), and the intensity of the leaked light being measured gradually decreases. Then, when the intensity of the leaked light reaches a predetermined value, the polishing is stopped and the bend that was applied to monitor the leaked light is released. Through this series of steps, the formation of the polished surface 14 is completed.
- the polished surface 24 of the optical fiber 20 having the remaining cladding thickness d br is also formed through the same process as described above.
- the polished surface 24 is formed using a holding part 32 in which a V-groove 34 having a radius R slightly smaller than the radius of curvature R br is formed.
- the polished surface 24 may be formed in advance at a remote location such as a factory. In this case, more precise processing is possible than on-site processing.
- optical fiber position adjustment device 40 An optical fiber position adjustment device 40 according to a first embodiment of the present disclosure will be described.
- the optical fiber position adjustment device 40 will be simply referred to as the position adjustment device 40.
- FIG. 3A is a block diagram showing an example of the configuration of the position adjustment device 40 according to this embodiment.
- FIG. 3B is a block diagram showing the configuration of the control unit 50 shown in FIG. 3A.
- FIG. 3C is a schematic diagram of the configuration of the position adjustment device 40.
- FIG. 4A is a top view of the position adjustment device 40.
- FIG. 4B is a side view of the position adjustment device 40 shown in FIG. 4A. Note that FIGS. 4A and 4B show the arrangement of the holding unit 41 and the holding unit 42 in the initial state when the process of the optical fiber position adjustment method described below is performed.
- the position adjustment device 40 includes a holding unit (first holding unit) 41, a holding unit (second holding unit) 42, a light source 43, a light intensity measurement unit 44, and a position adjustment unit 45.
- the holding unit 41 is the same as the holding unit 32 that holds the optical fiber 10.
- the holding unit 42 is the same as the holding unit 32 that holds the optical fiber 20. That is, the holding unit 41 is the holding unit 32 in which the V-groove 34 having a radius R slightly smaller than the radius of curvature Rlv is formed, and the holding unit 42 is the holding unit 32 in which the V-groove 34 having a radius R slightly smaller than the radius of curvature Rbr is formed.
- the holding portion 41 holds the optical fiber 10 after the above-mentioned polishing process has been completed. That is, the holding portion 41 holds the optical fiber 10 with the polished surface 14 exposed on the plane 41a.
- the plane 41a is parallel to the XZ plane.
- the holding portion 42 holds the optical fiber 10 with the polished surface 24 exposed on the plane 42a.
- the plane 42a is also parallel to the XZ plane.
- the holding portion 41 and the holding portion 42 hold the corresponding optical fiber with the polished surface 14 and the polished surface 24 in slidable contact with each other. In other words, the holding portion 41 and the holding portion 42 are overlapped in the Y direction with their respective planes 41a, 42a (i.e., the polished surface 14 and the polished surface 24) in slidable contact with each other.
- the light source 43 is a laser light source having a known configuration, and generates test light 80 to be incident on the optical fiber 20.
- the test light 80 may be incident on either end of the optical fiber 20.
- the optical fiber 10 is an active optical fiber
- the light source 43 is connected to the end of the optical fiber 20 (i.e., the branch fiber) located on the opposite side of the optical fiber branch 1 from the optical network unit (ONU) on the telecommunications carrier side that connects to the optical fiber 10.
- the light source 43 may be controlled by the control unit 50.
- the optical line terminal on the subscriber side may be used as the light source 43.
- the optical line terminal on the subscriber side is usually installed indoors and operates on power supplied from a commercial power source.
- this optical line terminal is used as the light source 43, there is no need to prepare a separate dedicated light source. In other words, the position adjustment device 40 can be made smaller.
- the light intensity measuring unit 44 is a so-called light intensity meter, and includes a light receiving unit 46 that receives the test light 80 that has passed through the optical fiber 20.
- the light intensity measuring unit 44 measures (calculates) the intensity of the test light 80 received by the light receiving unit 46, and outputs the measurement result to the control unit 50.
- the position adjustment unit 45 includes an operation unit 48A and a control unit 50 that controls the operation unit 48A.
- the position adjustment unit 45 moves one of the holding unit 41 (i.e., the polishing surface 14) and the holding unit 42 (i.e., the polishing surface 24) relative to the other until the intensity of the test light 80 reaches a predetermined target value P rf.
- the predetermined target value P rf is the intensity of the test light 80 measured by the light intensity measurement unit 44 when the optical branching ratio set in the optical fiber branch 1 is obtained, and is stored in advance in a storage 53 of the control unit 50 described later.
- the control unit 50 is, for example, a general-purpose computer.
- the computer serving as the control unit 50 comprises a CPU (Central Processing Unit, processor) 51, memory 52, storage 53 (HDD: Hard Disk Drive, SSD: Solid State Drive), a communication unit 54, an input unit 55, and an output unit 56.
- the memory 52 and storage 53 are storage devices.
- the CPU 51 executes a specific program loaded onto the memory 52, thereby realizing various functions of the position adjustment device 40, such as measuring the intensity of the test light 80 and controlling the operation unit 48A.
- the programs executed by the control unit 50 may be stored in a computer-readable recording medium such as a Universal Serial Bus (USB) memory, a Compact Disc (CD), or a Digital Versatile Disc (DVD), and may be distributed to the control unit 50 via a network.
- a computer-readable recording medium such as a Universal Serial Bus (USB) memory, a Compact Disc (CD), or a Digital Versatile Disc (DVD), and may be distributed to the control unit 50 via a network.
- the computer-readable recording medium is, for example, a non-transitory recording medium.
- the operating unit 48A operates the position of the holding unit 41 or the holding unit 42. Below, an example will be described in which the object of operation of the position adjustment unit 45 is the holding unit 42. As shown in FIG. 4A, the operating unit 48A includes a guide unit 57, a linear actuator 58 as a first drive unit, and a stopper (first stopper unit) 59.
- the guide portion 57 holds the holding portion 42 so that it can move in a direction intersecting the Z direction, and regulates the movement of the holding portion 42 in the Z direction and the rotation around the Y direction.
- the direction intersecting the Z direction is, for example, the X direction (second direction).
- the guide portion 57 is formed on the stage 60 (see FIG. 4B) and has a guide groove 61 that extends along the X direction.
- the width of the guide groove 61 is approximately equal to the width of the holding portion 42 along the Z direction.
- the guide portion 57 may be a pair of side walls provided on the stage 60 and extending in the X direction. In this case as well, the distance between the pair of side walls is approximately equal to the width of the holding portion 42.
- the linear actuator 58 is composed of, for example, a motor and a micrometer head, and is controlled by the control unit 50.
- the drive shaft 58a of the linear actuator 58 extends in the X direction, and moves the holding part 42 placed in the guide groove 61 in the X direction.
- the stopper 59 When viewed from the Y direction, the stopper 59 is provided on the opposite side of the linear actuator 58 across the holding portion 41 and the holding portion 42, and contacts the holding portion 41 from the opposite direction of the X direction (second direction).
- the stopper 59 includes a wall portion 62 that extends in the Y direction and the Z direction, and a plurality of pins 63 that extend from the wall portion 62 in the opposite direction of the X direction.
- the multiple pins 63 are spaced apart in the Z direction within a range that allows them to come into contact with the holding portion 41 in the Z direction. Also, as shown in FIG. 4B, the multiple pins 63 are located at the same height as the holding portion 41 in the Y direction. In other words, the multiple pins 63 extend from the wall portion 62 toward the holding portion 41. There are two or more pins 63. However, as shown in FIG. 4A, when viewed from the Y direction, the multiple pins 63 are located on both sides along the central axis 58b of the drive shaft 58a of the linear actuator 58.
- the holding portion 41 placed on the holding portion 42 also moves in the X direction.
- the holding portion 41 comes into contact with the multiple pins 63, restricting further movement of the holding portion 41.
- the pins 63 are provided on both sides of the central axis 58b of the drive shaft 58a. Therefore, the multiple moments centered on each contact point with the multiple pins 63 are approximately offset, and rotation of the holding portion 41 around the Y direction is also restricted.
- Figure 5 is a cross-sectional view showing the polished surface 14 and the polished surface 24 and their surroundings in the initial state.
- Figure 6 is a flowchart showing an example of the process of the optical fiber position adjustment method according to this embodiment.
- the object of operation of the position adjustment unit 45 is the holding unit 42.
- the holding unit 42 is placed on the guide unit 57, and the holding unit 41 is placed on the holding unit 42.
- the holding units 41 and 42 are overlapped with the polishing surface 14 and the polishing surface 24 in slidable contact with each other (step S1).
- a refractive index matching agent (not shown) has been applied in advance to the flat surface 41a of the holding unit 41 or the flat surface 42a of the holding unit 42.
- the holding part 42 When the holding parts 41 and 42 are placed, as shown in FIG. 4B, the holding part 42 is placed closer to the linear actuator 58 than the holding part 41. Therefore, as shown in FIG. 5, the polished surface 24 is closer to the linear actuator 58 than the polished surface 14. As described in Non-Patent Document 2, even if the polished surfaces are misaligned by several mm in the Z direction, the effect on the light branching rate is small. Therefore, when placing the holding part 41 on the holding part 42, which has a substantially identical shape, it is sufficient to perform an operation such as aligning the centers of the holding parts 41 and 42.
- the light source 43 generates a test light 80 having a preset intensity P in , and the intensity of the test light 80 passing through the optical fiber 20 is measured using the optical intensity measurement unit 44 (see FIG. 3C).
- the optical intensity measurement unit 44 outputs the intensity P th of the test light 80 incident on the light receiving unit 46 to the control unit 50. Note that, when evaluating the optical branching ratio, it can be estimated from the result of using the formula expressed as 1-(P th /P in ).
- the intensity measurement of the test light 80 by the optical intensity measurement unit 44 continues until the intensity of the test light 80 reaches a predetermined target value by the movement of the holding unit 42.
- the communication light 81 may or may not propagate through the optical fiber 10. In other words, the optical fiber position adjustment method according to this embodiment does not interfere with optical communication using the optical fiber 10.
- the control unit 50 operates the linear actuator 58 to move the holding unit 42 in the X direction (step S2). That is, the holding unit 42 is moved so that the polishing surface 24 approaches the polishing surface 14.
- the holding unit 41 placed on the holding unit 42 also tries to move. However, the holding unit 41 comes into contact with the pin 63 of the stopper 59, and further movement in the X direction is restricted. At this time, the holding unit 41 comes into contact with the pin 63 at multiple points along the Z direction. Therefore, the rotation of the holding unit 41 around the Y direction is also restricted. That is, while the holding unit 42 is moving, the holding unit 41 is stationary.
- the control unit 50 acquires the intensity Pth of the test light 80 from the light intensity measuring unit 44 and compares the intensity Pth with a predetermined target value Prf (step S3).
- the core spacing d decreases. Therefore, the light branching ratio increases. In other words, while the holding unit 42 is moving in the X direction, the intensity Pth of the test light gradually decreases.
- the control unit 50 determines that the desired light branching ratio has not been obtained, and continues to move the holding unit 42 by the linear actuator 58. On the other hand, if the intensity Pth is equal to the target value Prf (YES in step S3), the control unit 50 determines that the desired light branching ratio has been obtained, and stops moving the holding unit 42.
- the holding portion 41 and the holding portion 42 are joined while maintaining the above-mentioned optical branching ratio.
- adhesive or ultraviolet curing resin is applied to the side of the holding portion 41 and the side of the holding portion 42 and then cured. This restricts the relative movement of the two portions and fixes them to each other.
- the adhesive or ultraviolet curing resin may be applied between the holding portion 41 and the holding portion 42.
- the optical fiber branch 1 (see Figure 1) held by the holding portion 41 and the holding portion 42 is completed.
- the position adjustment device 40 is withdrawn with the holding portion 41 and the holding portion 42 remaining joined to each other.
- the optical fiber position adjustment method of this embodiment when manufacturing the optical fiber branch 1, mutual alignment can be completed simply by moving the holding part 42 in the X direction relative to the holding part 41. Since the holding part 42 only needs to move in one direction, the optical fiber position adjustment device can be constructed with a simple configuration. Therefore, the optical fiber position adjustment device can be made smaller and lighter, and its operation is also simple. In other words, the burden on the worker in the branching or merging work of optical fibers can be reduced.
- the polishing process of the optical fiber 10 is performed at the site where the optical fiber is branched or merged, whereas the polishing process of the optical fiber 20, which is a branched fiber, can be performed in advance at a remote location such as a factory. In other words, the polishing process of the optical fiber 20 at the work site can be omitted, further reducing the burden on the worker.
- optical fiber position adjustment device 40 according to a second embodiment of the present disclosure will be described.
- the optical fiber position adjustment device 40 according to this embodiment can be configured by adding a Z-direction movement mechanism to the operation unit 48A according to the first embodiment. Therefore, among the configurations of the second embodiment, configurations that overlap with the configurations of the first embodiment are given the same reference numerals, and overlapping descriptions will be omitted.
- FIG. 7A is a top view of the operating unit 48B according to the second embodiment.
- FIG. 7B is a front view of the operating unit 48B shown in FIG. 7A.
- the operating unit 48B includes a linear actuator 65 as a second drive unit in addition to the configuration of the operating unit 48A.
- the linear actuator 65 is also composed of, for example, a motor and a micrometer head, and is controlled by the control unit 50.
- the linear actuator 58 is installed at the same height as the holding unit 42 in the Y direction
- the linear actuator 65 is installed at the same height as the holding unit 41 in the Y direction. Therefore, the drive shaft 65a of the linear actuator 65 extends in the Z direction, moving the holding unit 41 placed on the holding unit 42 in the Z direction.
- Changes in the optical branching ratio in optical fiber branch 1 occur both when there is a relative axial misalignment between core 11 and core 21 along the X direction, and when there is a relative axial misalignment between core 11 and core 21 along the Z direction.
- changes in the optical branching ratio are more dependent on the relative axial misalignment along the X direction than on the relative axial misalignment along the Z direction.
- the optical branching ratio changes more rapidly with an axial misalignment along the X direction than with an axial misalignment along the Z direction. Therefore, although it depends on the movement resolution of operation unit 48A, it may be difficult to fine-tune the optical branching ratio by simply adjusting the position of holding unit 42 along the X direction.
- the position adjustment of the holding unit 42 by the linear actuator 58 is regarded as a coarse adjustment
- the position adjustment of the holding unit 41 by the linear actuator 65 is regarded as a fine adjustment, and these adjustments are used in combination.
- the position adjustment of the holding unit 42 along the X direction shown in steps S1 to S3 of Fig. 6 is performed using the linear actuator 58, and the intensity Pth is brought closer to the target value Prf .
- the position adjustment of the holding unit 41 along the Z direction is performed using the linear actuator 65 until the intensity Pth reaches the target value Prf .
- the following process is executed.
- the position of the holding unit 42 is adjusted by the linear actuator 58.
- the processing of steps S1 to S3 shown in Fig. 6 is executed. That is, the control unit 50 operates the linear actuator 58 to move the holding unit 42 in the X direction while monitoring the intensity Pth of the test light 80.
- the processing is limited to only bringing the intensity Pth close to the target value Prf .
- the position of the holding part 41 is adjusted by the linear actuator 65.
- the holding part 41 has already come into contact with the multiple pins 63 of the stopper 59 due to the movement of the holding part 42 in the X direction, and further movement in the X direction and rotation around the Y direction are restricted.
- the control unit 50 operates the linear actuator 65 to move the holding unit 41 in the Z direction while monitoring the intensity Pth of the test light 80. Even if the holding unit 41 moves in the Z direction, only the holding unit 41 moves in the Z direction because the holding unit 42 is held by the guide unit 57.
- the control unit 50 stops the operation of the linear actuator 65 and ends the position adjustment. Thereafter, as in the first embodiment, the holding portion 41 and the holding portion 42 are joined together, and the position adjustment device 40 is withdrawn.
- the holding part 42 is placed on the holding part 41 in advance so that the polishing surface 14 is closer to the linear actuator 65 than the polishing surface 24. Therefore, when the holding part 41 is moved in the Z direction by operating the linear actuator 65, the polishing surface 14 moves along the Z direction so as to approach the polishing surface 24.
- the holding part 41 Before operating the linear actuator 65, the holding part 41 has already been brought into slidable contact with the multiple pins 63 of the stopper 59 due to the movement of the holding part 42 in the X direction by operating the linear actuator 58, and movement along the X direction and rotation around the Y direction are already restricted.
- the intensity Pth can be adjusted to the target value Prf with high accuracy even if the movement resolution of the linear actuators 58 and 65 is relatively large. In other words, high-precision adjustment is possible until a desired optical branching ratio is obtained.
- optical fiber position adjustment device 40 according to a third embodiment of the present disclosure will be described.
- the optical fiber position adjustment device 40 according to this embodiment can be configured by replacing the guide unit 57 in the operation unit 48A according to the first embodiment with a two-axis stage, and using the linear actuator 58 in the first embodiment and the linear actuator 65 in the second embodiment to drive the two-axis stage. Therefore, among the configurations of the third embodiment, configurations that overlap with the configurations of the first and second embodiments are given the same reference numerals, and overlapping descriptions will be omitted.
- FIG. 8A is a top view of an operating unit 48C according to the third embodiment.
- FIG. 8B is a front view of the operating unit 48B shown in FIG. 8A.
- the operating unit 48C has a biaxial stage (XY stage) 70 instead of the guide unit 57 in the operating unit 48A.
- the operating unit 48C also has linear actuators 58, 65 that change the operating object to a biaxial stage (XY stage).
- the operating direction of the linear actuators 58, 65 in the third embodiment is the same as the operating direction of the same actuators in the second embodiment.
- the two-axis stage 70 comprises a first stage 71 that is slidable in the X direction, and a second stage 72 that is slidable in the Z direction.
- the first stage 71 is located above the second stage 72, and is operated in the X direction by a linear actuator 58.
- the second stage 72 is located below the first stage 71, and is operated in the Z direction by a linear actuator 65.
- the upper surface 71a of the first stage 71 is parallel to the XZ plane.
- the holding part 41 or the holding part 42 is placed on this upper surface 71a.
- the holding part 42 is placed on the first stage 71.
- the holding part 42 may be temporarily fixed to the upper surface 71a with an adhesive or the like having a relatively weak adhesive strength.
- the operating unit 48C includes a stopper (second stopper portion) 66 in addition to the stopper (first stopper portion) 59.
- the stopper 66 When viewed from the Y direction, the stopper 66 is provided on the opposite side of the linear actuator 65 across the holding portion 41 and the holding portion 42, and contacts the holding portion 41 from the opposite direction of the Z direction (first direction).
- the stopper 66 includes a wall portion 67 extending in the X direction and the Y direction, and at least one pin 68 extending from the wall portion 67 in the opposite direction to the Z direction.
- the stopper 66 includes multiple pins 68, the multiple pins 68 are arranged at intervals in the X direction.
- the pin 68 is provided at a position where it can come into contact with the holding portion 41 in the X direction. Also, as shown in FIG. 8B, the pin 68 is located at the same height as the holding portion 41 in the Y direction. In other words, the pin 68 extends from the wall portion 67 toward the holding portion 41.
- the relative position adjustment of the holding parts 41 and 42 in this embodiment is the same as the position adjustment in the second embodiment. That is, in this embodiment, the position adjustment of the holding part 42 by the linear actuator 58 is regarded as a coarse adjustment. However, the subject of the position adjustment by the linear actuator 65 is the holding part 42, not the holding part 41. In this embodiment, the position adjustment of the holding part 42 by the linear actuator 65 is regarded as a fine adjustment. Then, these coarse and fine adjustments are used together.
- the position of the holder 42 is adjusted by the linear actuator 58.
- the processes of steps S1 to S3 shown in Fig. 6 are executed. That is, the control unit 50 operates the linear actuator 58 to move the first stage 71 of the biaxial stage 70 in the X direction while monitoring the intensity Pth of the test light 80.
- the process in step S3 is limited to bringing the intensity Pth closer to the target value Prf .
- the position of the holding part 42 is adjusted by the linear actuator 65.
- the holding part 41 has already come into contact with the multiple pins 63 of the stopper 59 due to the movement of the first stage 71 in the X direction, and further movement in the X direction and rotation around the Y direction are restricted.
- the control unit 50 monitors the intensity Pth of the test light 80 while operating the linear actuator 65 to move the second stage 72 of the biaxial stage 70 in the Z direction.
- the first stage 71 also moves in the Z direction together with the second stage 72.
- the holding unit 41 comes into contact with the pin 68 of the stopper 66. This restricts further movement of the holding unit 41 in the Z direction, and only the holding unit 42 moves in the Z direction.
- the control unit 50 stops the operation of the linear actuator 65 and ends the position adjustment. Thereafter, as in the first embodiment, the holding portion 41 and the holding portion 42 are joined together, and the position adjustment device 40 is withdrawn.
- the third embodiment can also provide the same effects as the second embodiment. That is, even if the movement resolution of the linear actuators 58 and 65 is relatively large, the intensity Pth can be matched to the target value Prf with high accuracy, and high-precision adjustment is possible until a desired optical branching ratio is obtained.
- the linear actuator 58 (65) does not have to be controlled by the control unit 50.
- the linear actuator 58 (65) does not have a motor, and mechanical elements such as the micrometer head are manually operated by an operator. The operator manually operates the micrometer head while monitoring the intensity of the test light 80 measured by the light intensity measurement unit 44 on a display device such as a monitor (not shown). Since the configuration for automatically controlling the linear actuator 58 (65) can be omitted, further miniaturization of the position adjustment device 40 and reduction in manufacturing costs can be expected.
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Abstract
光ファイバ位置調整装置(40)は、第1光ファイバ(10)の側面(15)に形成された第1研磨面(14)と第2光ファイバ(20)の側面(25)に形成された第2研磨面(24)が互いに摺動可能に接触した状態で互いに重ね合わされ、第1光ファイバ(10)を保持する第1保持部(41)及び第2光ファイバ(20)を保持する第2保持部(42)と、第2光ファイバ(20)に沿った第1方向と交差する第2方向に第2保持部(42)を移動させる第1駆動部(58)、及び、第2方向の反対方向から第1保持部(41)に接触する第1ストッパ部(59)を含む位置調整部(45)と、第2光ファイバ(20)に入射する試験光(80)を生成する光源(43)と、第2光ファイバ(20)を通過した試験光(80)の強度を測定する光強度測定部(44)とを備える。
Description
本開示は、光ファイバ位置調整装置及び光ファイバ位置調整方法に関する。
道路の拡幅工事などの種々の工事に伴う光ファイバのルート変更などにより、屋外に敷設されている光ファイバを一時的に切断することがある。しかしながら、光ファイバを切断すると通信サービスが一時的に停止してしまうため、光ファイバを切断することなく当該光ファイバの経路を分岐させる或いは他の経路と合流させる技術が求められている。非特許文献1、2は、この技術の関連文献であり、光ファイバの側面研磨法について検討している。
植松卓威、納戸一貴、飯田裕之、廣田栄伸、片山和典、"光ファイバ側面研磨を用いたインサービス光分岐に関する検討"、電子情報通信学会技術研究報告、vol. 121, no. 332, OFT 2021-61, pp. 32-35, Jan. 2022.
植松卓威、廣田栄伸、飯田裕之、海老根崇、真鍋哲也、"側面研磨法を用いた光分岐の基礎検討"、電子情報通信学会技術研究報告、vol. 119, no. 223, OFT 2019-36, pp. 23-26, Oct. 2019.
説明の便宜上、ネットワークに既に敷設された光ファイバを現用光ファイバと称する。また、現用光ファイバに新たに接続される光ファイバを分岐ファイバと称する。現用光ファイバは、共同溝や架空線などのネットワークを構築する設備に敷設されている。敷設場所は屋内、屋外の何れでもよい。また、現用光ファイバは、ネットワークの光通信に既に使用されていてもよく、敷設された状態で使用されていなくてもよい。
ネットワークに既に敷設された光ファイバは、十分に引き出すことが困難である。従って、現用光ファイバに対して非特許文献1の技術を適用して光ファイバ分岐を構築する場合、光ファイバ側面の研磨作業は、電柱上の高所やマンホール内の狭所などの作業空間が限られた場所で行うことが多くなる。このような場所での分岐作業は作業者の負担を増大させやすい。
本開示は上述の事情を鑑みて成されたものであり、光ファイバの分岐又は合流作業における作業者の負担を軽減することが可能な光ファイバ位置調整装置及び光ファイバ位置調整方法の提供を目的とする。
本開示の一態様に係る光ファイバ位置調整装置は、第1光ファイバの側面に形成された第1研磨面と第2光ファイバの側面に形成された第2研磨面が互いに摺動可能に接触した状態で互いに重ね合わされ、前記第1光ファイバを保持する第1保持部及び前記第2光ファイバを保持する第2保持部と、前記第2光ファイバに沿った第1方向と交差する第2方向に前記第2保持部を移動させる第1駆動部、及び、前記第2方向の反対方向から前記第1保持部に接触する第1ストッパ部を含む位置調整部と、前記第2光ファイバに入射する試験光を生成する光源と、前記第2光ファイバを通過した前記試験光の強度を測定する光強度測定部とを備える。
本開示の一態様に係る光ファイバ位置調整方法は、第1研磨面を側面に有する第1光ファイバを保持する第1保持部と、第2研磨面を側面に有する第2光ファイバを保持する第2保持部とを、前記第1研磨面と前記第2研磨面が互いに摺動可能に接触した状態で重ね合わせ、前記第2光ファイバを通過した光の強度を測定しつつ、前記第2光ファイバに沿った第1方向と交差する第2方向の反対方向からのストッパとの接触によって前記第1保持部の回転と前記第2方向への移動とを規制しながら、前記第2方向に沿って、前記第2研磨面が前記第1研磨面に接近するように、前記第2保持部を移動させ、前記第2保持部の移動によって前記強度が所定値に達したとき前記第2保持部の移動を停止させることを含む。
本開示によれば、光ファイバの分岐又は合流作業における作業者の負担を軽減することが可能な光ファイバ位置調整方法および光ファイバ位置調整装置を提供することができる。
以下、本開示の実施形態に係る光ファイバ位置調整装置および光ファイバ位置調整方法について説明する。なお、各図において共通する部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
上述の通り、説明の便宜上、ネットワークに既に敷設された光ファイバを現用光ファイバと称することがある。現用光ファイバは、共同溝や架空線などのネットワークを構築する設備に敷設されている。敷設場所は屋内、屋外の何れでもよい。現用光ファイバは、ネットワークの光通信に既に使用されていてもよく、敷設された状態で使用されていなくてもよい。また、現用光ファイバに新たに接続される光ファイバを分岐ファイバと称することがある。分岐ファイバは現用光ファイバが構築した方路(伝送路)から分岐する又は当該方路に合流する方路を構築する光ファイバである。
また、説明の便宜上、互いに直交するX方向(第2方向)、Y方向、Z方向(第1方向)を定義する。X方向及びZ方向は例えば水平方向であり、本実施形態に係る2つの保持部41、42のうちの一方に向けてその他方が接近する方向である。Y方向は例えば鉛直方向であり、2つの保持部41、42の配列方向である。また、Z方向は、2本の光ファイバ10、20に沿った方向(長手方向)、各保持部41(42)に形成されるV溝34(図2B参照)の延伸方向でもある。
まず、本開示の各実施形態に係る光ファイバ分岐1について説明する。光ファイバ分岐1は、1本の光ファイバを伝播する光を2本の光ファイバに分岐する、或いは2本の光ファイバを伝播する光を1本の光ファイバに合流させる、所謂光ファイバカプラである。図1は、光ファイバ分岐1の断面図である。図1に示すように、光ファイバ分岐1は、光ファイバ(第1光ファイバ)10と、光ファイバ(第2光ファイバ)20とを備えている。なお、図1に示す断面図は、光ファイバ10の中心軸10aと光ファイバ20の中心軸20aを含んでいる。
光ファイバ10は、例えば上述の現用光ファイバであり、ネットワーク(図示せず)に既に敷設されている。光ファイバ10は、コア(第1コア)11と、クラッド(第1クラッド)12と、被覆(第1被覆)13とを備えている。光ファイバ10は、シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバである。
光ファイバ20は、例えば上述の分岐ファイバであり、ネットワーク(図示せず)の追加経路として光ファイバ10に新たに接続する。光ファイバ20は、コア(第2コア)21と、クラッド(第2クラッド)22と、被覆(第2被覆)23とを備えている。光ファイバ20も、シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバである。
光ファイバ10は、研磨面(第1研磨面)14を側面15に有する。研磨面14は、側面15の研磨によって形成される。この研磨加工は、例えば後述の研磨装置30(図2A及び図2B参照)によって遂行することができる。この研磨加工により、研磨面14において被覆13が除去され、クラッド12の一部が残存する。ここで、研磨面14からコア11までのクラッド12の厚さの最小値を、残存クラッド厚(第1残存クラッド厚)dlvと定義する(図5参照)。
光ファイバ10と同様に、光ファイバ20は、研磨面(第2研磨面)24を側面25に有する。研磨面24は、側面25の研磨によって形成される。この研磨加工も、例えば後述の研磨装置30によって遂行することができる。この研磨加工により、研磨面24において被覆23が除去され、クラッド22の一部が残存する。ここで、研磨面24からコア21までのクラッド22の厚さの最小値を、残存クラッド厚(第2残存クラッド厚)dbrと定義する。
光ファイバ10は、少なくとも研磨面14を含む部分において曲率半径(第1曲率半径)Rlvで曲げられつつ、Z方向に延伸している。研磨面14は、曲率半径Rlvで曲げられた状態に置かれた光ファイバ10の側面15への研磨によって形成される。従って、光ファイバ10が曲率半径Rlvで曲げられた状態で、研磨面14は、光ファイバ10の長手方向に延びる楕円状の平面を形成する。
光ファイバ20は、少なくとも研磨面24を含む部分において曲率半径(第2曲率半径)Rbrで曲げられつつ、Z方向に延伸している。研磨面24は、曲率半径Rbrで曲げられた状態に置かれた光ファイバ20の側面25への研磨によって形成される。従って、光ファイバ20が曲率半径Rbrで曲げられた状態で、研磨面24は、光ファイバ20の長手方向に延びる楕円状の平面を形成する。
なお、研磨面14と研磨面24の間には、屈折率整合剤(図示せず)が介在している。屈折率整合剤は粘性を持つ液状でもよく、変形可能な固形状でもよい。屈折率整合剤の屈折率は、クラッド12及びクラッド22の各屈折率よりも小さい。これにより挿入損失の増加が抑制される。
研磨面14と研磨面24は屈折率整合剤(図示せず)を介して互いに接触する。従って、コア11とコア21は、コア間隔d(図5参照)を置いて互いに位置することになる。コア間隔dは、コア11とコア21の間隔であり、その最小値は、クラッド12の残存クラッド厚dlvと、クラッド22の残存クラッド厚dbrと、屈折率整合剤(図示せず)の厚さの総和である。
コア間隔dを十分に小さくすることにより、コア11とコア21の間のエバネッセント結合が得られる。即ち、コア11とコア21は光学的に結合し、光ファイバ分岐1の機能である光の合波又は分波が可能となる。なお、コア11とコア21の間の結合効率はコア間隔dに依存する。また、100%の結合効率が得られるコア間隔dは光の波長に依存する。例えば、光の波長が1260nmのとき、100%の結合効率が得られるコア間隔dは2.6μm以下である。
次に、研磨面14(24)の形成方法について説明する。図2Aは、研磨面14(24)の形成に用いる研磨装置30の一例を示す斜視図である。図2Bは、図2Aに示す保持部32の断面図である。図2Aに示すように、研磨装置30は、研磨台31と、保持部32とを備える。以下、研磨面14の形成を例に挙げて説明する。
研磨台31は平坦な上面31aを有し、この上面31aには研磨シート33が載置される。保持部32は第1方向に延伸する直方体の形状を有する。保持部32は、研磨台31の上面31aに対向する平面32aを有し、この平面32aには、半径Rで湾曲したV溝34が形成されている。半径Rは、曲率半径Rlvよりも僅かに小さい。なお、研磨台31及び保持部32の材質は、例えば光学的に透明なガラスである。
図2Aに示すように、V溝34は、平面32aからの深さが平面32aの中央付近で最も浅くなるように形成されている。また、図2Bに示すように、このV溝34の最小深さは、クラッド12が残存クラッド厚dlvを有することができる値に設定される。
研磨装置30を用いた光ファイバ10の研磨加工は、光ファイバ10に光ファイバ20を接続する現場で行われる。まず、研磨前の準備工程として、光ファイバ10からの漏洩光を測定する状態を準備する。具体的には、光ファイバ10にレーザ光(便宜上、伝播光と称する)が伝播している状態で光ファイバ10に曲げを付与し、曲げられた部分から漏洩するレーザ光(便宜上、漏洩光と称する)の強度を光強度計(図示せず)によって測定する。
上述の通り、光ファイバ10は現用光ファイバである。従って、光ファイバ10を伝播する光は、そのネットワークを伝播する通信光81又は所定の光源を用いて導入された疑似的な通信光である。何れの場合も、通信に影響を与えない程度の損失が生じる曲げを光ファイバ10に付与し、曲げられた部分からの漏洩光の強度測定を、研磨が終了するまで行う。
次に、保持部32のV溝34内に接着剤35(図5参照)を充填し、V溝34内に光ファイバ10を固定する。接着剤35が硬化し、光ファイバ10がV溝34に固定されると、光ファイバ10の側面15の一部が保持部32の平面32aから露出する(図2B参照)。
次に、側面15の一部が保持部32の平面32aから露出した状態で、保持部32の平面32aを、研磨台31に載置した研磨シート33に対向させる。その後、保持部32の平面32aから露出した光ファイバ10の側面15を研磨シート33に押し当てて研磨する。
側面15の研磨は、保持部32より下流側で曲げを付与した部分から漏洩する通信光81の強度を監視しながら行われる。研磨が進むと、研磨面がコア11に近づき(即ち残存クラッド厚dlvが減少し)、測定中の漏洩光の強度が徐々に減少する。そして、漏洩光の強度が所定の値に達したときに研磨を終了し、漏洩光を監視するために付与されていた曲げを解放する。これら一連の工程により研磨面14の形成が完了する。
残存クラッド厚dbrを有する光ファイバ20の研磨面24も、上述した工程と同様の工程を経て形成される。但し、研磨面24は、曲率半径Rbrよりも僅かに小さい半径Rを持つV溝34が形成された保持部32を用いて形成される。研磨面24は、工場等の遠隔地で予め形成されてもよい。この場合、現場での加工よりも精密な加工が可能となる。
(第1実施形態)
本開示の第1実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。説明の便宜上、光ファイバ位置調整装置40を単に位置調整装置40と称する。
本開示の第1実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。説明の便宜上、光ファイバ位置調整装置40を単に位置調整装置40と称する。
図3Aは、本実施形態に係る位置調整装置40の構成の一例を示すブロック図である。図3Bは、図3Aに示す制御部50の構成を示すブロック図である。図3Cは、位置調整装置40の構成の概略図である。図4Aは、位置調整装置40の上面図である。図4Bは、図4Aに示す位置調整装置40の側面図である。なお、図4A及び図4Bは、後述する光ファイバ位置調整方法の処理を実行する初期状態の保持部41と保持部42の配置を示している。
図3Aに示すように、位置調整装置40は、保持部(第1保持部)41と、保持部(第2保持部)42と、光源43と、光強度測定部44と、位置調整部45とを備える。また、図3Cに示すように、保持部41は、光ファイバ10を保持した上述の保持部32がそのまま流用される。同様に、保持部42は、光ファイバ20を保持した上述の保持部32がそのまま流用される。即ち、保持部41は、曲率半径Rlvよりも僅かに小さい半径Rを持つV溝34が形成された保持部32であり、保持部42は、曲率半径Rbrよりも僅かに小さい半径Rを持つV溝34が形成された保持部32である。
保持部41は、上述の研磨加工が終了した光ファイバ10を保持する。即ち、保持部41は、研磨面14が平面41a上に露出した光ファイバ10を保持する。平面41aはXZ平面に平行である。同様に、保持部42は、研磨面24が平面42a上に露出した光ファイバ10を保持する。平面42aもXZ平面に平行である。保持部41と保持部42は、研磨面14と研磨面24が互いに摺動可能に接触した状態で、対応する光ファイバを保持している。換言すれば、保持部41と保持部42は、それぞれの平面41a、42a(即ち、研磨面14と研磨面24)が互いに摺動可能に接触した状態でY方向に重なり合わされる。
光源43は周知の構成を有するレーザ光源であり、光ファイバ20に入射する試験光80を生成する。試験光80は、光ファイバ20の両端のうちの何れに入射してもよい。例えば、光ファイバ10が現用光ファイバである場合、光源43は、光ファイバ分岐1を挟んで、光ファイバ10に接続する通信事業者側の光回線終端装置(ONU: Optical Network Unit)と反対側に位置する光ファイバ20(即ち、分岐ファイバ)の端部に接続する。なお、図3Aにおいて点線で示すように、光源43は制御部50によって制御されてもよい。
加入者側の光回線終端装置が、光源43として利用されてもよい。加入者側の光回線終端装置は通常、屋内に設置され、商用電源からの電力供給を受けて動作している。この光回線終端装置を光源43として使用した場合、専用の光源を別途用意する必要が無い。つまり、位置調整装置40を小型化できる。
光強度測定部44は所謂光強度計であり、光ファイバ20を通過した試験光80を受ける受光部46を含む。光強度測定部44は、受光部46が受けた試験光80の強度を測定(算出)し、その測定結果を制御部50に出力する。
図3Aに示すように、位置調整部45は、操作部48Aと、操作部48Aを制御する制御部50とを含む。位置調整部45は、試験光80の強度が所定の目標値Prfに達するまで、保持部41(即ち、研磨面14)と保持部42(即ち、研磨面24)のうちの一方を、その他方に対して相対的に移動させる。ここで、所定の目標値Prfとは、光ファイバ分岐1に設定された光分岐率が得られたときに、光強度測定部44によって測定された試験光80の強度であり、後述する制御部50のストレージ53に予め記憶されている。
図3Bに示すように、制御部50は、例えば汎用コンピュータである。制御部50としてのコンピュータは、CPU(Central Processing Unit、プロセッサ)51と、メモリ52と、ストレージ53(HDD: Hard Disk Drive, SSD: Solid State Drive)と、通信部54と、入力部55と、出力部56とを備える。メモリ52及びストレージ53は記憶装置である。このコンピュータにおいて、CPU51がメモリ52上にロードされた所定のプログラムを実行することにより、試験光80の強度測定、操作部48Aの制御などの位置調整装置40の諸機能が実現される。
なお、制御部50によって実行されるプログラムは、USB (Universal Serial Bus)メモリ、CD (Compact Disc)、DVD (Digital Versatile Disc)などのコンピュータ読取り可能な記録媒体に記憶されていてもよく、ネットワークを介して制御部50に配信されてもよい。コンピュータ読取り可能な記録媒体は、例えば非一時的な(non-transitory)記録媒体である。
操作部48Aは、保持部41又は保持部42の位置を操作する。以下、位置調整部45の操作対象が保持部42である場合を例に挙げて説明する。図4Aに示すように、操作部48Aは、ガイド部57と、第1駆動部としてのリニアアクチュエータ58と、ストッパ(第1ストッパ部)59とを備える。
ガイド部57は、保持部42をZ方向と交差する方向に移動可能に保持すると共に、保持部42のZ方向への移動とY方向周りの回転を規制する。Z方向と交差する方向とは、例えばX方向(第2方向)である。ガイド部57は、ステージ60(図4B参照)に形成され、X方向に沿って延伸するガイド溝61を有する。ガイド溝61の幅はZ方向に沿った保持部42の幅に略等しい。或いは、ガイド部57は、ステージ60に設けられ、X方向に延伸する一対の側壁でもよい。この場合も、一対の側壁の間隔は、保持部42の幅に略等しい。
リニアアクチュエータ58は、例えば、モータとマイクロメータヘッドによって構成され、制御部50によって制御される。リニアアクチュエータ58の駆動軸58aはX方向に伸長し、ガイド溝61内に載置された保持部42をX方向に移動させる。
ストッパ59は、Y方向から見て、保持部41及び保持部42を挟んでリニアアクチュエータ58と反対側に設けられ、X方向(第2方向)の反対方向から保持部41に接触する。ストッパ59は、Y方向及びZ方向に延伸する壁部62と、壁部62からX方向の反対方向に延伸する複数のピン63とを含む。
図4Aに示すように、複数のピン63は、Z方向において保持部41と接触可能な範囲においてZ方向に間隔を置いて設けられる。また、図4Bに示すように、複数のピン63は、Y方向において保持部41と同じ高さに位置する。つまり、複数のピン63は壁部62から保持部41に向けて延伸している。ピン63の数は2つ以上である。但し、図4Aに示すように、Y方向から見て、複数のピン63は、リニアアクチュエータ58の駆動軸58aの中心軸58bに沿った両側に位置するように設けられる。
リニアアクチュエータ58によって、保持部42がX方向に移動すると、保持部42上に載置された保持部41もX方向に移動する。保持部42が更にX方向に移動すると、保持部41が複数のピン63に接触し、保持部41の更なる移動が規制される。また、上述の通り、ピン63は駆動軸58aの中心軸58bの両側に設けられている。従って、複数のピン63との各接触点を中心とした複数のモーメントは略相殺され、保持部41のY方向周りの回転も規制される。
次に、位置調整装置40による光ファイバ位置調整方法について説明する。図5は、初期状態における研磨面14及び研磨面24とその周辺を示す断面図である。図6は、本実施形態に係る光ファイバ位置調整方法の処理の一例を示すフローチャートである。
以下、位置調整部45の操作対象が保持部42である場合を例に挙げて説明する。図4Bに示すように、初期状態として、ガイド部57には保持部42が載置され、保持部42には保持部41が載置される。保持部41と保持部42は、研磨面14と研磨面24が互いに摺動可能に接触した状態で、重なり合わされる(ステップS1)。なお、保持部41の平面41a又は保持部42平面42aに、屈折率整合剤(図示せず)が予め塗布されている。
保持部41と保持部42を載置する際、図4Bに示すように、保持部42は保持部41よりもリニアアクチュエータ58に近接して配置される。従って、図5に示すように、研磨面24は研磨面14よりもリニアアクチュエータ58に近接する。なお、非特許文献2で述べている通り、研磨面同士がZ方向に数mmずれても光分岐率への影響が小さい。そのため、略同形である保持部42に保持部41を載置する際には、保持部41と保持部42の中央同士を合わせるなどの操作を行えばよい。
次に、光源43によって予め設定された強度Pinをもつ試験光80を生成し、光強度測定部44を用いて光ファイバ20を通過した試験光80の強度を測定する(図3C参照)。光強度測定部44は、受光部46に入射した試験光80の強度Pthを制御部50に出力する。なお、光分岐率を評価する場合、1-(Pth/Pin)で表される数式を用いた結果から推定することができる。光強度測定部44による試験光80の強度測定は、保持部42の移動によって試験光80の強度が所定の目標値に達するまで継続する。なお、測定が行われている間、光ファイバ10には通信光81(図3C参照)が伝播していてもよく、伝播していなくてもよい。つまり、本実施形態に係る光ファイバ位置調整方法は、光ファイバ10を用いた光通信と干渉しない。
次に、制御部50はリニアアクチュエータ58を操作し、保持部42をX方向に移動させる(ステップS2)。即ち、研磨面24が研磨面14に接近するように、保持部42を移動させる。保持部42が移動すると、保持部42に載置された保持部41も移動しようする。しかしながら、保持部41はストッパ59のピン63に接触し、X方向への更なる移動が規制される。このとき、保持部41はZ方向に沿った複数の箇所でピン63に接触する。従って、保持部41のY方向周りの回転も併せて規制される。即ち、保持部42が移動している間、保持部41は静止している。
研磨面24は研磨面14に接近する間、制御部50は、試験光80強度Pthを光強度測定部44から取得し、強度Pthと所定の目標値Prfを比較する(ステップS3)。研磨面24は研磨面14に接近すると、コア間隔dは減少する。従って、光分岐率は増加する。つまり、保持部42がX方向に移動している間、試験光の強度Pthは徐々に減少する。
強度Pthが、測定誤差を考慮しても目標値Prfより大きい場合(ステップS3においてNO)、制御部50は、所望の光分岐率が得られないと判断し、リニアアクチュエータ58による保持部42の移動を継続する。一方、強度Pthが目標値Prfに等しい場合(ステップS3においてYES)、制御部50は、所望の光分岐率が得られた判断し、保持部42の移動を停止する。
保持部42の移動を停止した後、上述の光分岐率を維持したまま、保持部41と保持部42を接合する。例えば、保持部41の側面と保持部42の側面に接着剤または紫外線硬化樹脂を塗布して硬化させる。これにより、両者の相対移動が規制され、互いに固定される。なお、接着剤や紫外線硬化樹脂は、保持部41と保持部42の間に塗布してもよい。何れの場合も、保持部41と保持部42によって保持された光ファイバ分岐1(図1参照)が完成する。光ファイバ分岐1の完成後、互いに接合した保持部41と保持部42を残した状態で、位置調整装置40は回収される。
このように、本実施形態に係る光ファイバ位置調整方法によれば、光ファイバ分岐1を製造する際に、保持部41に対して保持部42をX方向に移動するだけで、相互の位置合わせを終了させることができる。保持部42に必要な移動方向は1つであるため、光ファイバ位置調整装置を簡便な構成で構築することができる。従って、光ファイバ位置調整装置は小型化且つ軽量化し、その操作も簡便なものとなる。つまり、光ファイバの分岐又は合流作業における作業者の負担を軽減することができる。
光ファイバ10が現用光ファイバである場合、光ファイバ10の研磨加工は光ファイバの分岐又は合流作業の現場で行われる一方、分岐ファイバである光ファイバ20の研磨加工は予め工場等の遠隔地で行うことができる。つまり、作業現場における光ファイバ20の研磨加工を省略できるので、作業者の負担を更に軽減することができる。
(第2実施形態)
本開示の第2実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。後述の通り、本実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40は、第1実施形態に係る操作部48AにZ方向の移動機構を付加することで構成できる。従って、第2実施形態の構成のうち、第1実施形態の構成と重複する構成については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
本開示の第2実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。後述の通り、本実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40は、第1実施形態に係る操作部48AにZ方向の移動機構を付加することで構成できる。従って、第2実施形態の構成のうち、第1実施形態の構成と重複する構成については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図7Aは、第2実施形態に係る操作部48Bの上面図である。図7Bは、図7Aに示す操作部48Bの正面図である。これらの図に示すように、操作部48Bは、操作部48Aの構成に加えて、第2駆動部としてのリニアアクチュエータ65を備える。
リニアアクチュエータ58と同じく、リニアアクチュエータ65も、例えば、モータとマイクロメータヘッドによって構成され、制御部50によって制御される。但し、リニアアクチュエータ58がY方向において保持部42と同じ高さに設置されるのに対して、リニアアクチュエータ65はY方向において保持部41と同じ高さに設置される。従って、リニアアクチュエータ65の駆動軸65aはZ方向に伸長し、保持部42上に載置された保持部41をZ方向に移動させる。
光ファイバ分岐1における光分岐率の変化は、X方向に沿ったコア11とコア21の相対的な軸ずれ、及びZ方向に沿ったコア11とコア21の相対的な軸ずれの何れにおいても発生する。但し、非特許文献2に示されている通り、光分岐率の変化は、Z方向に沿った相対的な軸ずれよりも、X方向に沿った相対的な軸ずれに大きく依存している。即ち、光分岐率は、Z方向に沿った軸ずれよりも、X方向に沿って軸ずれの方が急激に変化する。従って、操作部48Aの移動分解能次第ではあるが、X方向に沿った保持部42の位置調整だけでは、光分岐率の微調整が困難な場合が考えられる。
そこで、Z方向に沿った軸ずれによる光分岐率の変化が緩慢な点に着目し、本実施形態では、リニアアクチュエータ58による保持部42の位置調整を粗調整、リニアアクチュエータ65による保持部41の位置調整を微調整として捉え、これらの調整を併用する。例えば、リニアアクチュエータ58を用いて、図6のステップS1~S3に示すX方向に沿った保持部42の位置調整を行い、強度Pthを目標値Prfに近付ける。その後、強度Pthが目標値Prfに達するまでリニアアクチュエータ65を用いてZ方向に沿った保持部41の位置調整を行う。具体的には次の処理を実行する。
まず、リニアアクチュエータ58によって保持部42の位置調整を行う。この場合、図6に示すステップS1~S3の処理を実行する。即ち、制御部50はリニアアクチュエータ58を操作して、保持部42をX方向に移動させつつ、試験光80の強度Pthを監視する。但し、ステップS3では強度Pthを目標値Prfに近付けるだけの処理に留める。
次に、リニアアクチュエータ65によって保持部41の位置調整を行う。このとき、保持部41は、保持部42のX方向への移動によって、ストッパ59の複数のピン63に既に接触し、X方向への更なる移動とY方向周りの回転が規制されている。
制御部50は、リニアアクチュエータ65を操作して、保持部41をZ方向に移動させつつ、試験光80の強度Pthを監視する。保持部41がZ方向に移動しても、保持部42はガイド部57に保持されているため、保持部41だけがZ方向に移動する。
保持部42が保持部41に対してZ方向に移動するため、強度Pthは緩やかに減少する。そして、強度Pthが目標値Prfに達したとき、制御部50はリニアアクチュエータ65の操作を停止し、位置調整を終了する。その後、第1実施形態と同じく、保持部41と保持部42を接合させ、位置調整装置40を回収する。
以上の操作において、保持部42は、研磨面14が研磨面24よりもリニアアクチュエータ65に近接するように、予め保持部41に載置されている。従って、リニアアクチュエータ65の操作によって保持部41をZ方向に移動させた場合、研磨面14は研磨面24に接近するようにZ方向に沿って移動する。リニアアクチュエータ65を操作する前、リニアアクチュエータ58の操作による保持部42のX方向への移動によって、保持部41は既にストッパ59の複数のピン63に摺動可能に接触し、X方向に沿った移動及びY方向周りの回転が既に規制されている。
以上の一連の操作を行うことによって、リニアアクチュエータ58、65の移動分解能が比較的大きくても、強度Pthを高精度に目標値Prfに合わせることができる。即ち、所望の光分岐率を得るまでの高精度な調整が可能となる。
(第3実施形態)
本開示の第3実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。後述の通り、本実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40は、第1実施形態に係る操作部48Aにおけるガイド部57を2軸ステージに置換し、第1実施形態におけるリニアアクチュエータ58と、第2実施形態におけるリニアアクチュエータ65とを当該二軸ステージの駆動に用いることで構成できる。従って、第3実施形態の構成のうち、第1及び第2実施形態の構成と重複する構成については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
本開示の第3実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40について説明する。後述の通り、本実施形態に係る光ファイバ位置調整装置40は、第1実施形態に係る操作部48Aにおけるガイド部57を2軸ステージに置換し、第1実施形態におけるリニアアクチュエータ58と、第2実施形態におけるリニアアクチュエータ65とを当該二軸ステージの駆動に用いることで構成できる。従って、第3実施形態の構成のうち、第1及び第2実施形態の構成と重複する構成については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図8Aは、第3実施形態に係る操作部48Cの上面図である。図8Bは、図8Aに示す操作部48Bの正面図である。これらの図に示すように、操作部48Cは、操作部48Aにおけるガイド部57の代わりに、二軸ステージ(XYステージ)70を備える。また、操作部48Cは、操作対象を二軸ステージ(XYステージ)に変えたリニアアクチュエータ58、65を備える。第3実施形態におけるリニアアクチュエータ58、65の操作方向は、第2実施形態に同アクチュエータの操作方向と同一である。
二軸ステージ70は、X方向にスライド自在に設けられた第1ステージ71と、Z方向にスライド自在に設けられた第2ステージ72とを備える。第1ステージ71は第2ステージ72の上方に位置し、リニアアクチュエータ58によってX方向に操作される。第2ステージ72は第1ステージ71の下方に位置し、リニアアクチュエータ65によってZ方向に操作される。
第1ステージ71の上面71aはXZ平面と平行である。この上面71aには、保持部41又は保持部42が載置される。例えば、図8Bに示すように、保持部42が第1ステージ71に載置される。なお、上面71aに対する保持部42のスリップを防止するため、保持部42は、比較的弱い接着力をもつ接着剤等で上面71aに一時的に固定されていてもよい。
操作部48Cは、ストッパ(第1ストッパ部)59に加え、ストッパ(第2ストッパ部)66を備える。ストッパ66は、Y方向から見て、保持部41及び保持部42を挟んでリニアアクチュエータ65と反対側に設けられ、Z方向(第1方向)の反対方向から保持部41に接触する。ストッパ66は、X方向及びY方向に延伸する壁部67と、壁部67からZ方向の反対方向に延伸する少なくとも1つピン68とを含む。ストッパ66が複数のピン68を含む場合、複数のピン68はX方向に間隔を置いて配列する。
図8Aに示すように、ピン68は、X方向において保持部41と接触可能な位置に設けられる。また、図8Bに示すように、ピン68は、Y方向において保持部41と同じ高さに位置する。つまり、ピン68は壁部67から保持部41に向けて延伸している。
本実施形態における保持部41と保持部42の相対的な位置調整は、第2実施形態における位置調整と同様である。即ち、本実施形態では、リニアアクチュエータ58による保持部42の位置調整を粗調整として捉える。但し、リニアアクチュエータ65による位置調整の対象は、保持部41ではなく保持部42である。本実施形態では、リニアアクチュエータ65による保持部42の位置調整を微調整として捉える。そして、これら粗調整及び微調整を併用する。
まず、リニアアクチュエータ58によって保持部42の位置調整を行う。この場合、図6に示すステップS1~S3の処理を実行する。即ち、制御部50はリニアアクチュエータ58を操作して、二軸ステージ70の第1ステージ71をX方向に移動させつつ、試験光80の強度Pthを監視する。但し、第2実施形態と同じく、ステップS3では強度Pthを目標値Prfに近付けるだけの処理に留める。
次に、リニアアクチュエータ65によって保持部42の位置調整を行う。このとき、保持部41は、第1ステージ71のX方向への移動によって、ストッパ59の複数のピン63に既に接触し、X方向への更なる移動とY方向周りの回転が規制されている。
制御部50は、リニアアクチュエータ65を操作して、二軸ステージ70の第2ステージ72をZ方向に移動させつつ、試験光80の強度Pthを監視する。第2ステージ72がZ方向に移動すると、第2ステージ72と共に第1ステージ71もZ方向に移動する。そして図8A及び図8Bに示すように、保持部41は、ストッパ66のピン68に接触する。これにより、保持部41のZ方向への更なる移動が規制され、保持部42だけがZ方向に移動する。
保持部42が保持部41に対してZ方向に移動するため、強度Pthは緩やかに減少する。そして、強度Pthが目標値Prfに達したとき、制御部50はリニアアクチュエータ65の操作を停止し、位置調整を終了する。その後、第1実施形態と同じく、保持部41と保持部42を接合させ、位置調整装置40を回収する。
このように、第3実施形態においても、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。即ち、リニアアクチュエータ58、65の移動分解能が比較的大きくても、強度Pthを高精度に目標値Prfに合わせることができ、所望の光分岐率を得るまでの高精度な調整が可能となる。
各実施形態に係るリニアアクチュエータ58(65)は、制御部50によって制御されなくともよい。この場合、リニアアクチュエータ58(65)はモータを備えず、マイクロメータヘッド等の機械要素は作業者によって手動で操作される。作業者は、光強度測定部44によって測定された試験光80の強度をモニタ等の表示装置(図示せず)で監視しつつ、マイクロメータヘッドを手動で操作する。リニアアクチュエータ58(65)の自動制御を行うための構成を省略できるので、位置調整装置40の更なる小型化と製造コストの削減が期待できる。
なお、本開示は上述の実施形態に限定されず、特許請求の範囲の記載によって示され、さらに特許請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含む。
1 光ファイバ分岐(光ファイバカプラ)
10 光ファイバ(第1光ファイバ)
11 コア(第1コア)
12 クラッド(第1クラッド)
13 被覆(第1被覆)
14 研磨面(第1研磨面)
15 側面
20 光ファイバ(第2光ファイバ)
20 光ファイバ
21 コア(第2コア)
22 クラッド(第2クラッド)
23 被覆(第2被覆)
24 研磨面(第2研磨面)
25 側面
30 研磨装置
32 保持部
40 光ファイバ位置調整装置
41 保持部(第1保持部)
42 保持部(第2保持部)
43 光源
44 光強度測定部
45 位置調整部
48A、48B、48C 操作部
50 制御部
57 ガイド部
58 リニアアクチュエータ
59 ストッパ(第1ストッパ部)
60 ステージ
61 ガイド溝
62 壁部
63 ピン
65 リニアアクチュエータ
66 ストッパ(第2ストッパ部)
67 壁部
68 ピン
70 二軸ステージ(XYステージ)
71 第1ステージ
72 第2ステージ
80 試験光
81 通信光
10 光ファイバ(第1光ファイバ)
11 コア(第1コア)
12 クラッド(第1クラッド)
13 被覆(第1被覆)
14 研磨面(第1研磨面)
15 側面
20 光ファイバ(第2光ファイバ)
20 光ファイバ
21 コア(第2コア)
22 クラッド(第2クラッド)
23 被覆(第2被覆)
24 研磨面(第2研磨面)
25 側面
30 研磨装置
32 保持部
40 光ファイバ位置調整装置
41 保持部(第1保持部)
42 保持部(第2保持部)
43 光源
44 光強度測定部
45 位置調整部
48A、48B、48C 操作部
50 制御部
57 ガイド部
58 リニアアクチュエータ
59 ストッパ(第1ストッパ部)
60 ステージ
61 ガイド溝
62 壁部
63 ピン
65 リニアアクチュエータ
66 ストッパ(第2ストッパ部)
67 壁部
68 ピン
70 二軸ステージ(XYステージ)
71 第1ステージ
72 第2ステージ
80 試験光
81 通信光
Claims (5)
- 第1光ファイバの側面に形成された第1研磨面と第2光ファイバの側面に形成された第2研磨面が互いに摺動可能に接触した状態で互いに重ね合わされ、前記第1光ファイバを保持する第1保持部及び前記第2光ファイバを保持する第2保持部と、
前記第2光ファイバに沿った第1方向と交差する第2方向に前記第2保持部を移動させる第1駆動部、及び、前記第2方向の反対方向から前記第1保持部に接触する第1ストッパ部を含む位置調整部と、
前記第2光ファイバに入射する試験光を生成する光源と、
前記第2光ファイバを通過した前記試験光の強度を測定する光強度測定部と
を備える光ファイバ位置調整装置。 - 前記位置調整部は、
前記第1方向に前記第1保持部を移動させる第2駆動部
を更に含む請求項1記載の光ファイバ位置調整装置。 - 前記位置調整部は、
前記第1方向に前記第2保持部を移動させる第2駆動部と、
前記第1方向と反対方向から前記第1保持部に接触する第2ストッパ部と
を更に含む請求項1記載の光ファイバ位置調整装置。 - 第1研磨面を側面に有する第1光ファイバを保持する第1保持部と、第2研磨面を側面に有する第2光ファイバを保持する第2保持部とを、前記第1研磨面と前記第2研磨面が互いに摺動可能に接触した状態で重ね合わせ、
前記第2光ファイバを通過した光の強度を測定しつつ、前記第2光ファイバに沿った第1方向と交差する第2方向の反対方向からのストッパとの接触によって前記第1保持部の回転と前記第2方向への移動とを規制しながら、前記第2方向に沿って、前記第2研磨面が前記第1研磨面に接近するように、前記第2保持部を移動させ、
前記第2保持部の移動によって前記強度が所定値に達したとき前記第2保持部の移動を停止させる
光ファイバ位置調整方法。 - 前記第1光ファイバはネットワークに既に敷設された光ファイバであり、
前記第2光ファイバは前記第1光ファイバが構築した光の方路から分岐する又は当該方路に合流する方路を構築する光ファイバである
請求項4に記載の光ファイバ位置調整方法。
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|---|---|---|---|
| JP2024559831A JPWO2024111125A1 (ja) | 2022-11-25 | 2022-11-25 | |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2022/043616 WO2024111125A1 (ja) | 2022-11-25 | 2022-11-25 | 光ファイバ位置調整装置及び光ファイバ位置調整方法 |
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|---|---|---|---|
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- 2022-11-25 WO PCT/JP2022/043616 patent/WO2024111125A1/ja not_active Ceased
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