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WO2022074720A1 - 基板作業装置 - Google Patents

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WO2022074720A1
WO2022074720A1 PCT/JP2020/037777 JP2020037777W WO2022074720A1 WO 2022074720 A1 WO2022074720 A1 WO 2022074720A1 JP 2020037777 W JP2020037777 W JP 2020037777W WO 2022074720 A1 WO2022074720 A1 WO 2022074720A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
image pickup
unit
pickup unit
imaging
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2020/037777
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
和志 高間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Motor Co Ltd
Original Assignee
Yamaha Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Motor Co Ltd filed Critical Yamaha Motor Co Ltd
Priority to JP2022554991A priority Critical patent/JP7387914B2/ja
Priority to CN202080105725.0A priority patent/CN116261918B/zh
Priority to DE112020007435.8T priority patent/DE112020007435T5/de
Priority to PCT/JP2020/037777 priority patent/WO2022074720A1/ja
Priority to KR1020237010372A priority patent/KR102693683B1/ko
Publication of WO2022074720A1 publication Critical patent/WO2022074720A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/57Mechanical or electrical details of cameras or camera modules specially adapted for being embedded in other devices
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/73Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the exposure time
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/74Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the scene brightness using illuminating means
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/90Arrangement of cameras or camera modules, e.g. multiple cameras in TV studios or sports stadiums
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0417Feeding with belts or tapes

Definitions

  • the present invention relates to a board working device, and more particularly to a board working device including a head unit.
  • a board work device equipped with a head unit is known.
  • Such a substrate working apparatus is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2019-75475.
  • the above-mentioned JP-A-2019-75475 discloses a component mounting device (board working device) including a head unit.
  • This component mounting device includes an image pickup unit provided in the head unit.
  • the imaging unit includes two cameras arranged vertically.
  • the image pickup unit is configured to capture the mounting position of the component mounted on the substrate from two directions (angles) by two cameras.
  • Each of the two cameras is arranged so as to be offset up and down so that the mounting position of the component can be imaged from a plurality of oblique directions with respect to the vertical direction.
  • the upper camera of the two cameras offset vertically has an optical axis in an oblique direction close to the vertical direction.
  • the lower camera of the two vertically offset cameras has an oblique optical axis that is close to horizontal.
  • the horizontal position and the vertical direction of the component at the component mounting position are based on the images of the component mounting positions captured from two oblique directions by two cameras.
  • the height position is acquired.
  • the upper camera has an optical axis in an oblique direction close to the vertical direction
  • the lower camera has an optical axis in an oblique direction close to the horizontal direction. Since it has an optical axis, when imaging a substrate with upward warpage and downward warpage, the distance between the upward warped portion and the downward warped portion of the upper surface of the substrate in the optical axis direction of the second camera is , It is larger than the distance between the upwardly warped portion and the downwardly warped portion of the upper surface of the substrate in the optical axis direction of the first camera.
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and one object of the present invention is an oblique direction by each of a plurality of image pickup units arranged at a plurality of different height positions in the vertical direction. It is an object of the present invention to provide a substrate working apparatus capable of ensuring that the image captured from the image is in focus (focus) more reliably.
  • the substrate work apparatus is provided on the head unit including a work head that performs work on the substrate, and the head unit in a state of being arranged at a plurality of different height positions in the vertical direction, and is an image pickup target.
  • the plurality of image pickup units are provided with a plurality of image pickup units that capture the same image pickup position in which the images are arranged from different oblique directions, and the plurality of image pickup units have different depths of field depending on the tilt angle of each image pickup in the diagonal direction. It is set.
  • the plurality of imaging units may be configured to capture the same imaging position where the imaging target is arranged by dividing the field of view by a common camera, and the plurality of imaging units are separate from each other.
  • the camera may be configured to capture the same imaging position in which the imaging target is arranged.
  • different depths of field are set in the plurality of image pickup units according to the respective inclination angles from the respective height positions toward the image pickup target. ..
  • different depths of field are set according to the tilt angle in each of the plurality of image pickup units.
  • the plurality of image pickup units are located on the lower side of the first image pickup unit having the first inclination angle in the oblique direction close to the vertical direction among the inclination angles and the first image pickup unit. It includes a second image pickup unit that is arranged and has a second tilt angle in an oblique direction that is closer to the horizontal direction than the first tilt angle, and the second image pickup unit is from the first depth of field of the first image pickup unit. Also has a deep second depth of field. With this configuration, by making the second depth of field deeper than the first depth of field, it is possible to sufficiently secure the second depth of field of the second image pickup unit. The image captured by the image pickup unit can be more reliably focused.
  • the first imaging unit and the second imaging unit are arranged so as to image the same imaging position in which the imaging target is arranged vertically side by side on the same plane along the vertical direction.
  • the second image pickup unit is arranged below the first image pickup unit in the vertical direction, and has a second depth of field deeper than the first depth of field.
  • the first depth of field is preferably set to a constant depth of field by setting the aperture of the first image pickup unit to be constant.
  • the second depth of field is set to a constant depth of field deeper than the first depth of field by setting the aperture of the second imaging unit to be constant.
  • each of the first image pickup unit and the second image pickup unit is at least around the mounting position of the component to be imaged and around the suction position of the component. It is configured to image one of them, and each of the first depth of field and the second depth of field is due to the warp of the substrate in the cross section along the direction in which the first image pickup unit and the second image pickup unit are arranged.
  • the estimated amount of deviation of the height position of the upper surface of the board or the estimated amount of deviation of the height position of the upper surface of the parts stored in the storage tape due to the difference in the type of storage tape that stores the parts, and the horizontal direction of the parts. It is set by the length of and the tilt angle.
  • the difference in the type of storage tape is not only the difference in the type of tape such as paper tape and embossed tape, but also when the size of the storage part for storing parts is different even with the same paper tape, and with the same embossed tape. Even if there is, it is a broad concept including the case where the size of the storage part for storing parts is different.
  • the control for imaging the image pickup target by each of the illumination unit that irradiates the image pickup target with light and the first image pickup unit and the second image pickup unit.
  • the control unit further includes a control unit for performing the above, and the control unit determines the sensor gain for each of the first image pickup unit and the second image pickup unit, the exposure time of each of the first image pickup unit and the second image pickup unit, and the light amount of the illumination unit. By making any of them different, it is configured to control the brightness of the images captured by each of the first imaging unit and the second imaging unit to be substantially the same as each other.
  • the control unit preferably performs the exposure by the second imaging unit in parallel with the exposure by the first imaging unit. It is configured in. With such a configuration, the time required for exposure when imaging the imaging position can be minimized, so that the working time for the substrate of the work head can be prevented from increasing.
  • the first image pickup unit and the second image pickup unit further include a first camera and a second camera, respectively.
  • the structure of the optical system such as the lenses of the first imaging unit and the second imaging unit can be simplified as compared with the case of imaging with a common camera. It is possible to suppress the complexity of the structure of the second imaging unit.
  • the first image pickup unit and the second image pickup unit further include a common camera and an optical system that divides the field of view of the common camera. .. With this configuration, the number of required cameras can be reduced, and the size of the head unit can be suppressed.
  • an image is taken based on the first image captured by the first image pickup unit and the second image captured by the second image pickup unit. It is configured to acquire the height position around the target. With this configuration, by acquiring the height position of the periphery of the image pickup target based on the first image and the second image in focus, the height position of the periphery of the image pickup target can be acquired more accurately. Therefore, the work on the substrate by the work head can be performed more accurately.
  • the image captured from an oblique direction is more reliably focused by each of the plurality of image pickup units arranged at a plurality of different height positions in the vertical direction. can do.
  • the configuration of the component mounting device 100 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6.
  • the component mounting device 100 is an example of the "board working device” in the claims.
  • the component mounting device 100 is configured to convey the substrate S by a pair of conveyors 2 and mount the component B on the substrate S at the working position P1.
  • the component B is an example of the "imaging target" in the claims.
  • the component mounting device 100 includes a base 1, a pair of conveyors 2, a component supply unit 3, a head unit 4, a support unit 5, a pair of rail units 6, a component recognition imaging unit 7, and an imaging unit 8. And a control unit 9.
  • the transport direction of the substrate S by the pair of conveyors 2 is the X1 direction
  • the direction opposite to the X1 direction is the X2 direction
  • the combined direction of the X1 direction and the X2 direction is the X direction.
  • the direction orthogonal to the X direction is defined as the Y direction.
  • One of the Y directions is the Y1 direction
  • the other direction of the Y direction is the Y2 direction.
  • the direction orthogonal to the X and Y directions is the Z direction (vertical direction)
  • one of the Z directions is the Z1 direction (upward)
  • the other direction of the Z direction is the Z2 direction (downward). ..
  • the pair of conveyors 2 are installed on the base 1 and are configured to convey the substrate S in the X1 direction. Further, the pair of conveyors 2 are provided with a holding mechanism for holding the substrate S being conveyed in a state of being stopped at the working position P1. Further, the pair of conveyors 2 are configured so that the distance in the Y direction can be adjusted according to the dimensions of the substrate S.
  • the parts supply unit 3 is arranged on the outside (Y1 direction side and Y2 direction side) of the pair of conveyors 2. Further, a plurality of tape feeders 31 are arranged in the component supply unit 3. The component supply unit 3 is configured to supply the component B to the mounting head 42 described later.
  • the tape feeder 31 holds a reel (not shown) around which a tape holding a plurality of parts B is held at predetermined intervals.
  • the tape feeder 31 is configured to rotate the reel by sending out the storage tape 32 holding the component B to supply the component B from the tip of the tape feeder 31.
  • component B includes electronic components such as ICs, transistors, capacitors and resistors.
  • the head unit 4 is arranged on the Z1 direction side of the pair of conveyors 2 and the component supply unit 3, and has a plurality of (five) mounting heads 42 to which nozzles 41 (see FIG. 2) are attached to the lower ends, and board recognition. Includes camera 43.
  • the mounting head 42 is an example of a "working head” in the claims.
  • the mounting head 42 is configured to work on the board S. Specifically, that is, the mounting head 42 is configured to attract the component B at the component supply unit 3. Further, the mounting head 42 is configured to mount the component B on the substrate S. As described above, the mounting head 42 is configured to suck the component B supplied by the component supply unit 3 and mount the suctioned component B on the substrate S arranged at the working position P1. Further, the mounting head 42 is configured to be movable up and down (movable in the Z direction), and is supplied from the tape feeder 31 by the negative pressure generated at the tip of the nozzle 41 by a negative pressure generator (not shown). It is configured to attract and hold the component B and mount the component B at the mounting position P3 on the substrate S.
  • the mounting position P3 of the component B is an example of the "imaging position" in the claims.
  • the board recognition camera 43 is configured to image the fiction mark of the board S in order to recognize the position and orientation of the board S. Then, by imaging and recognizing the position of the fiducial mark, it is possible to accurately acquire the mounting position P3 of the component B on the substrate S.
  • the support portion 5 includes a motor 51.
  • the support portion 5 is configured to move the head unit 4 in the X direction along the support portion 5 by driving the motor 51. Both ends of the support portion 5 are supported by a pair of rail portions 6.
  • the pair of rail portions 6 are fixed on the base 1.
  • the rail portion 6 on the X1 side includes the motor 61.
  • the rail portion 6 is configured to move the support portion 5 in the Y direction along the pair of rail portions 6 by driving the motor 61. Since the head unit 4 can move in the X direction along the support portion 5 and the support portion 5 can move in the Y direction along the rail portion 6, the head unit 4 can move in the horizontal direction (XY direction). It is movable.
  • the component recognition image pickup unit 7 is fixed on the upper surface of the base 1.
  • the component recognition image pickup unit 7 is arranged on the outside (Y1 direction side and Y2 direction side) of the pair of conveyors 2.
  • the component recognition imaging unit 7 displays the component B sucked on the nozzle 41 of the mounting head 42 from the lower side (Z2 direction side) in order to recognize the suction state (suction posture) of the component B prior to mounting the component B. It is configured to image.
  • the control unit 9 it is possible for the control unit 9 to acquire the suction state of the component B sucked by the nozzle 41 of the mounting head 42.
  • the image pickup unit 8 is provided in the head unit 4.
  • the image pickup unit 8 is configured to move in the XY direction together with the head unit 4 by moving the head unit 4 in the horizontal direction (XY direction).
  • the image pickup unit 8 is arranged so as to be offset in the horizontal direction (particularly in the Y direction) with respect to the mounting head 42 so as not to interfere with the movement of the mounting head 42 in the Z direction.
  • the image pickup unit 8 is configured to be able to take an image at a position where the mounting head 42 is lowered without moving the head unit 4. Specifically, the image pickup unit 8 is configured to be able to take an image of the suction positions P2 (imaging positions) of the component supply unit 3 from a plurality of (two) directions. Further, the image pickup unit 8 is configured so that the mounting position P3 (imaging position) of the substrate S can be imaged from a plurality of (two) directions.
  • the suction position P2 of the component B is an example of the “imaging position” in the claims.
  • the image pickup unit 8 is configured to image the periphery of the suction position P2 of the component B from a plurality of (two) directions to capture the first image and the second image. Further, the image pickup unit 8 is configured to take a picture of the periphery of the mounting position P3 of the component B from a plurality of (two) directions and take a first image and a second image.
  • the image pickup unit 8 includes an illumination unit 81, a first image pickup unit 82, and a second image pickup unit 83.
  • a set of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are arranged corresponding to each of the plurality of mounting heads 42.
  • the lighting unit 81 has a light source such as an LED (Light Emitting Diode).
  • the illumination unit 81 is configured to irradiate the component B arranged at the suction position P2 or the mounting position P3 (imaging position) with light.
  • the illumination unit 81 is configured to emit light when an image is taken by the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83.
  • the illumination unit 81 is provided around the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are examples of the "plurality of image pickup units" in the claims.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 have a first camera 82a and a second camera 83a, respectively.
  • the first camera 82a has a first image sensor 182a.
  • the second camera 83a has a second image sensor 183a.
  • the first image sensor 182a is configured to convert the light incident from the first lens unit 182b, which will be described later, into an electric signal.
  • the second image pickup device 183a is configured to convert the light incident from the second lens unit 183b, which will be described later, into an electric signal.
  • the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 have a first optical system 82b and a second optical system 83b, respectively.
  • the first optical system 82b has a first lens unit 182b having a plurality of lenses and a first diaphragm unit 182c.
  • the second optical system 83b has a second lens portion 183b having a plurality of lenses and a second diaphragm portion 183c.
  • the first diaphragm portion 182c is a hole that limits the light directed to the first lens portion 182b.
  • the second diaphragm portion 183c is a hole that limits the light directed to the second lens portion 183b.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are provided on the head unit 4 in a state of being arranged at a plurality of different height positions in the Z direction.
  • Each of the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 images the same suction position P2 (imaging position) or mounting position P3 (imaging position) on which the component B is arranged from diagonal directions intersecting each other in different Z directions. It is configured to do.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are configured to take images from tilt angles ( ⁇ u and ⁇ t) in which the respective image pickup directions are different from each other with respect to the reference plane H0. ing.
  • the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 are arranged vertically in the same plane along the Z direction, and the component B (imaging target) is arranged from an oblique direction at the same suction position P2 (imaging position) or mounting position. It is arranged so as to image P3 (imaging position).
  • the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 are arranged adjacent to each other in a vertical plane (inside the YZ plane) including the suction position P2 of the component B with respect to the reference plane H0 or the mounting position P3 of the component B. ing. Further, the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 are arranged so as to be offset from each other in the Z direction.
  • the reference plane H0 is the upper surface of the substrate S that extends along the horizontal direction and is not warped.
  • the first image pickup unit 82 has a first inclination angle ⁇ u in an oblique direction close to the vertical direction among the inclination angles.
  • the second image pickup unit 83 is arranged on the Z2 direction side of the first image pickup unit 82, and has a second inclination angle ⁇ t in an oblique direction closer to the horizontal direction than the first inclination angle ⁇ u.
  • the tilt angle indicates the tilt of the optical axis of the first image pickup unit 82 and the optical axis of the second image pickup unit 83 extending toward the component B with respect to the reference plane H0.
  • each of the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 covers both the periphery of the mounting position P3 (imaging position) of the component B as the imaging target and the periphery of the suction position P2 (imaging position) of the component B. It is configured to image. That is, the image pickup unit 8 can image the suction position P2 of the component B by the mounting head 42 and the mounting position P3 of the component B by the mounting head 42 from a plurality of directions (angles), respectively.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 of the first embodiment differ depending on the first tilt angle ⁇ u and the first tilt angle ⁇ u in the oblique direction to be imaged, respectively.
  • the depth of field is set. That is, in the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, the depth of field differs depending on the first inclination angle ⁇ u and the first inclination angle ⁇ u of each optical axis toward the component B from each height position. It is set.
  • the first imaging unit 82 has a first depth of field D1.
  • the second image pickup unit 83 has a second depth of field D2 deeper than the first depth of field D1 of the first image pickup unit 82.
  • the second image pickup unit 83 is arranged below the first image pickup unit 82 in the vertical direction (Z2 direction).
  • the first depth of field D1 is set by the F value of the first camera 82a. Specifically, the first depth of field D1 is set to a constant depth of field by setting the aperture of the first imaging unit 82 to be constant. That is, the first depth of field D1 is set by the first diaphragm portion 182c, which is a hole having a constant diameter.
  • the second depth of field D2 is set by the F value of the second camera 83a. Specifically, the second depth of field D2 is set to a constant depth of field deeper than the first depth of field D1 by setting the aperture of the second imaging unit 83 to be constant. ..
  • the second depth of field D2 is set by the second diaphragm portion 183c, which is a hole having a constant diameter.
  • the diameter of the hole of the second drawing portion 183c is smaller than the diameter of the hole of the first drawing portion 182c.
  • Each of the first depth of field D1 and the second depth of field D2 is the height of the upper surface of the substrate S due to the warp of the substrate S in the cross section along the direction in which the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are arranged.
  • the deviation amount H of the height position of the upper surface of the substrate S will be described.
  • the deviation amount H is the difference between the upper height position H1 on the upper surface of the substrate S when the substrate S is warped upward and the lower height position H2 on the upper surface of the upper surface of the substrate S when the substrate S is warped downward.
  • the deviation amount H may be the deviation amount at the height position of the upper surface of the component B stored in the storage tape 32.
  • the deviation amount H is stored in the height position of the upper surface of the component B stored in one storage tape 32, which is a reference among the plurality of types, and in a storage tape 32 different from the storage tape 32. This is the difference from the height position of the upper surface of the component B.
  • each of the first depth of field D1 and the second depth of field D2 has a deviation amount H of the height position of the upper surface of the substrate S and a height position of the upper surface of the component B stored in the storage tape 32. It is set according to the larger of the deviation amounts of. Further, each of the first depth of field D1 and the second depth of field D2 is set according to the largest of the horizontal (Y direction) lengths of the plurality of parts B.
  • the first depth of field D1 is about 2. It is calculated as 866 [mm], and the second depth of field D2 is calculated as about 3.964 [mm]. In this case, the second depth of field D2 is about 1.4 times deeper than the first depth of field D1.
  • the F value of the second camera 83a is higher than the F value of the first camera 82a so that the second depth of field D2 is about 1.4 times deeper than the first depth of field D1. Is also set small. In this way, the first camera 82a and the second camera 83a are designed.
  • control unit 9 has a CPU (Central Processing Unit) and a storage unit.
  • the storage unit is a storage device having a memory such as a ROM (Read Only Memory) and a RAM (Random Access Memory).
  • the storage unit stores a component mounting program for mounting the component B on the substrate S.
  • the control unit 9 of the component B is based on an image of the suction position P2 of the component B imaged from a plurality of (two) directions by the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83. It is configured to acquire the position in the horizontal direction (XY direction) and the height position H3 in the vertical direction (Z direction) of the component B at the suction position P2. Further, the control unit 9 is horizontal to the mounting position P3 of the component B based on the images of the mounting position P3 of the component B imaged from a plurality of (two) directions by the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83. It is configured to acquire the position in the direction (XY direction) and the height position H3 in the vertical direction (Z direction).
  • control unit 9 is configured to acquire the height position H3 with respect to the reference plane H0 by stereo matching. That is, by matching the images of the suction position P2 or the mounting position P3 of the component B imaged substantially simultaneously by the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, the height position H3 and the horizontal position of the imaged position can be changed. To be acquired. That is, the control unit 9 acquires the height position H3 around the image pickup target based on the first image captured by the first image pickup unit 82 and the second image captured by the second image pickup unit 83. It is configured to provide control. For matching, a general matching method such as SSD (Sum of Squared Difference) or SAD (Sum of Absolute Difference) is used.
  • the first inclination angle ⁇ u of each optical axis toward the component B from each height position is ⁇ u.
  • different depths of field are set according to the first tilt angle ⁇ u.
  • each of the image pickup units 83 (plural image pickup units), different depths of field are set according to the tilt angle, so that the focus is on the suction position P2 or the mounting position P3 in which the component B (imaging target) is arranged. Can be set individually. As a result, the focus of the image imaged from an oblique direction by each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 (plurality of image pickup units) arranged at a plurality of different height positions in the vertical direction is improved. You can make sure it fits.
  • the first image pickup unit 82 having the first inclination angle ⁇ u in the oblique direction close to the Z direction (vertical direction) among the inclination angles, and the lower side of the first image pickup unit 82.
  • a second image pickup unit 83 having a second inclination angle ⁇ t in an oblique direction closer to the horizontal direction than the first inclination angle ⁇ u is provided.
  • a second depth of field D2 deeper than the first depth of field D1 of the first image pickup unit 82 is set in the second image pickup unit 83.
  • the second depth of field D2 of the second image pickup unit 83 can be sufficiently secured, so that the second depth of field D2 can be sufficiently secured.
  • the image captured by the image pickup unit 83 can be more reliably focused.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are arranged vertically on the same plane along the Z direction (vertical direction), and the component B (image pickup target) is arranged from an oblique direction. ) Are arranged so as to image the same suction position P2 (imaging position) or mounting position P3 (imaging position).
  • the second image pickup unit 83 is arranged below the Z direction (vertical direction) of the first image pickup unit 82, and a second depth of field D2 deeper than the first depth of field D1 is set.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are compared with the case where the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are arranged at positions deviated from the same plane along the Z direction (vertical direction).
  • the horizontal installation space can be reduced.
  • the image captured by the second image pickup unit 83 can be more reliably focused, and the size of the head unit 4 provided with the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 can be suppressed. can do.
  • the first depth of field D1 is set to a constant depth of field by setting the aperture of the first imaging unit 82 to be constant.
  • the second depth of field D2 is set to a constant depth of field deeper than the first depth of field D1 by setting the aperture of the second imaging unit 83 to be constant.
  • each of the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 is placed around the mounting position P3 of the component B as the component B (imaging target) and the suction position P2 of the component B. It is configured to image at least one of the surroundings.
  • the first depth of field D1 and the second depth of field D2 having appropriate values can be acquired, so that appropriate images are taken for each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83. You can set the depth of field.
  • the first camera 82a and the second camera 83a are provided in the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, respectively.
  • the structure of the optical system such as the lenses of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 can be simplified as compared with the case of taking an image with a common camera. 2 It is possible to suppress the complexity of the structure of the image pickup unit 83.
  • control unit 9 is a component based on the first image captured by the first image pickup unit 82 and the second image captured by the second image pickup unit 83. It is configured to acquire the height position around B (image target). As a result, by acquiring the height position around the component B (imaging target) based on the first image and the second image in focus, the height position around the imaging target is acquired more accurately. Therefore, the work on the substrate S by the mounting head 42 can be performed accurately.
  • the control unit 209 aligns the brightness of the image captured by the first imaging unit 82 with the brightness of the image captured by the second imaging unit 83. ..
  • the description of the same configuration as that of the first embodiment will be omitted.
  • the component mounting device 200 includes a base 1, a pair of conveyors 2, a component supply unit 3, a head unit 4, a support unit 5, and a pair of rail units 6. It includes a component recognition image pickup unit 7, an image pickup unit 8, and a control unit 209.
  • the component mounting device 200 is an example of the "board working device" in the claims.
  • the control unit 209 of the second embodiment has different exposure times of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, so that the images captured by each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 are captured. It is configured to control the brightness of the images to be substantially the same as each other. Specifically, the control unit 209 sets the exposure time of the second image pickup unit 83 longer than the exposure time of the first image pickup unit 82 by the amount of light transmitted due to the deep depth of field. By doing so, it is configured to control the brightness of the images captured by each of the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 to be substantially the same as each other.
  • the control unit 209 is configured to perform exposure by the second imaging unit 83 in parallel with the exposure by the first imaging unit 82. That is, as an example, when the exposure start timing of the first imaging unit 82 and the exposure start timing of the second imaging unit 83 coincide with each other for exposure, the exposure end timing of the first imaging unit 82 and the second exposure are performed. The exposure may be performed at the same timing as the end of exposure of the image pickup unit 83. Further, as an example, during the exposure of the second image pickup unit 83, the exposure of the first image pickup unit 82 may be started and the exposure of the first image pickup unit 82 may be ended.
  • the exposure of the first imaging unit 82 may be started during the exposure of the second imaging unit 83, and the exposure of the first imaging unit 82 may be terminated after the exposure of the second imaging unit 83 is completed. ..
  • the other configurations of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.
  • the first optical axis of each optical axis toward the component B from each height position is the first.
  • Different depths of field are set according to the 1 tilt angle ⁇ u and the 1st tilt angle ⁇ u.
  • the focus of the image imaged from an oblique direction by each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 (plurality of image pickup units) arranged at a plurality of different height positions in the vertical direction becomes more focused. You can make sure it fits.
  • the component mounting device 200 is provided with the lighting unit 81 that irradiates the component B (the image pickup target) with light, and the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, respectively.
  • a control unit 209 that controls to image the component B (imaging target) is provided. By causing the control unit 209 to have different exposure times of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83, the brightness of the images captured by each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 can be adjusted to each other. It is configured to control to make it almost the same.
  • the second image pickup unit 83 focuses but also the brightness of the image captured by the second image pickup unit 83 is achieved. Can be ensured. As a result, the image captured by the second imaging unit 83 can be more reliably focused, and an image having the same brightness as the image captured by the first imaging unit 82 is captured by the second imaging unit 83. can do.
  • control unit 209 is configured to perform the exposure by the second imaging unit 83 in parallel with the exposure by the first imaging unit 82.
  • the time required for exposure when imaging the suction position P2 or the mounting position P3 (imaging position) can be minimized, so that the working time of the mounting head 42 with respect to the substrate S can be prevented from increasing. ..
  • the other effects of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.
  • the first imaging unit 82 and the second imaging unit 83 are arranged vertically in the same plane along the vertical direction, and the imaging targets are arranged vertically at the same imaging position.
  • the image is arranged so as to image
  • the present invention is not limited to this. In the present invention, the first imaging unit and the second imaging unit do not have to be arranged in the same plane along the vertical direction.
  • the control unit 9 (209) causes the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 by different exposure times for each of the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83.
  • the control unit abbreviates the brightness of the image captured by each of the first image pickup unit and the second image pickup unit by making the sensor gains for each of the first image pickup unit and the second image pickup unit different. It may be configured to perform the same control. In this case, in the control unit, the sensor gain of the second imaging unit is set larger than the sensor gain of the first imaging unit.
  • control unit is configured to control the brightness of the images captured by each of the first image pickup unit and the second image pickup unit to be substantially the same by changing the amount of light of the illumination unit. good.
  • the exposure timing of the first imaging unit and the exposure timing of the second imaging unit are set separately, and the amount of light at the time of exposure of the first imaging unit is more than that of the second imaging unit. The amount of light during exposure is set large.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 have an example in which the first camera 82a and the second camera 83a are provided, respectively. Not limited to this.
  • the first image pickup unit 82 and the second image pickup unit 83 have a common camera 382 and an optical system 383 that divides the field of view of the common camera. May be good. As a result, the required number of cameras can be suppressed, so that the size of the head unit 4 can be suppressed.
  • the mounting head 42 is shown as an example of the "working head” in the claims, but the present invention is not limited to this.
  • the work head may be a dispense head that applies an adhesive to the substrate.
  • the component mounting device is shown as an example of the "board working device" in the claims, but the present invention is not limited to this.
  • the substrate working device may be a coating device that applies an adhesive, cream solder, or the like to the substrate.
  • control unit 209 is configured to perform the exposure by the second image pickup unit 83 in parallel with the exposure by the first image pickup unit 82, but the present invention shows this. Not limited to. In the present invention, the exposure by the first imaging unit and the exposure by the second imaging unit may be sequentially performed.
  • Head unit 42 Mounting head (working head) 81 Illumination unit 82 First imaging unit (multiple imaging units) 82a 1st camera 83 2nd imaging unit (multiple imaging units) 83a 2nd camera 100, 200 Parts mounting equipment (board work equipment) 382 Common camera 383 Optical system B component (target for imaging) D1 1st depth of field D2 2nd depth of field H Displacement amount H3 Height position L Length P2 Adsorption position (imaging position) P3 mounting position (imaging position) S board ⁇ t 2nd tilt angle ⁇ u 1st tilt angle

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Abstract

この基板作業装置(100、200)は、ヘッドユニット(4)と、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された状態でヘッドユニット(4)に設けられ、各々が斜め方向から撮像対象(B)が配置された同一の撮像位置(P2、P3)を撮像する複数の撮像部(82、83)とを備える。複数の撮像部(82、83)では、各々の傾斜角(θt、θu)に応じて異なる被写界深度(D1、D2)が設定されている。

Description

基板作業装置
 この発明は、基板作業装置に関し、特に、ヘッドユニットを備える基板作業装置に関する。
 従来、ヘッドユニットを備える基板作業装置が知られている。このような基板作業装置は、たとえば、特開2019-75475号公報に開示されている。
 上記特開2019-75475号公報には、ヘッドユニットを備える部品実装装置(基板作業装置)が開示されている。この部品実装装置は、ヘッドユニットに設けられた撮像ユニットを備えている。撮像ユニットは、鉛直方向に配列された2つのカメラを含んでいる。撮像ユニットは、基板に実装された部品の実装位置を、2つのカメラにより、2つの方向(角度)から撮像するように構成されている。2つのカメラの各々は、部品の実装位置を鉛直方向に対して複数の斜め方向から撮像可能なように、上下にオフセットさせて配置されている。ここで、上下にオフセットされた2つのカメラのうちの上側のカメラは、鉛直方向に近い斜め方向の光軸を有している。上下にオフセットされた2つのカメラのうちの下側のカメラは、水平方向に近い斜め方向の光軸を有している。
 上記特開2019-75475号公報の部品実装装置では、2つのカメラにより2つの斜め方向から撮像した部品の実装位置の画像に基づいて、部品の実装位置における部品の水平方向の位置および鉛直方向の高さ位置が取得される。
特開2019-75475号公報
 しかしながら、上記特開2019-75475号公報の部品実装装置では、上側のカメラは、鉛直方向に近い斜め方向の光軸を有しているとともに、下側のカメラは、水平方向に近い斜め方向の光軸を有しているため、上反りおよび下反りが生じた基板を撮像する場合、第2カメラの光軸方向における基板の上面の上反りした部分と下反りした部分との間の距離は、第1カメラの光軸方向における基板の上面の上反りした部分と下反りした部分との間の距離よりも大きくなる。したがって、第2カメラの光軸方向における上記距離が、第1カメラの光軸方向における上記距離よりも大きいことに起因して、上側のカメラでは基板の上面の上反りした部分および下反りした部分の両方に対してピント(焦点)が合っていたとしても、下側のカメラでは基板の上面の上反りした部分および下反りした部分のいずれかに対してピントが合わなくなる場合があると考えられる。このため、上記特開2019-75475号公報の部品実装装置(基板作業装置)では、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された複数のカメラ(撮像部)の各々により斜め方向から撮像される画像のピントがより確実に合うようにすることが望まれている。
 この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された複数の撮像部の各々により斜め方向から撮像される画像のピント(焦点)がより確実に合うようにすることが可能な基板作業装置を提供することである。
 この発明の一の局面による基板作業装置は、基板に対して作業を行う作業ヘッドを含むヘッドユニットと、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された状態でヘッドユニットに設けられ、撮像対象が配置された同一の撮像位置を各々が互いに異なる斜め方向から撮像する複数の撮像部とを備え、複数の撮像部では、各々の撮像する斜め方向の傾斜角に応じて異なる被写界深度が設定されている。なお、複数の撮像部は、共通のカメラにより、撮像対象が配置された同一の撮像位置を視野を分割して撮像するように構成されていてもよいし、複数の撮像部は、互いに別個のカメラにより、撮像対象が配置された同一の撮像位置を撮像するように構成されていてもよい。
 この発明の一の局面による基板作業装置では、上記のように、複数の撮像部において、各々の高さ位置から撮像対象に向かう各々の傾斜角に応じて異なる被写界深度が設定されている。これにより、複数の撮像部の各々が鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置されていても、複数の撮像部の各々において、傾斜角に応じて異なる被写界深度が設定されることにより、撮像対象が配置された同一の撮像位置に対するピントを個別に合わせて設定することができる。その結果、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された複数の撮像部の各々により斜め方向から撮像される画像のピント(焦点)がより確実に合うようにすることができる。
 上記一の局面による基板作業装置において、好ましくは、複数の撮像部は、傾斜角のうち鉛直方向に近い斜め方向の第1傾斜角を有する第1撮像部と、第1撮像部の下側に配置されており、第1傾斜角よりも水平方向に近い斜め方向の第2傾斜角を有する第2撮像部とを含み、第2撮像部は、第1撮像部の第1被写界深度よりも深い第2被写界深度を有している。このように構成すれば、第2被写界深度を第1被写界深度よりも深くすることにより、第2撮像部の第2被写界深度を十分に確保することができるので、第2撮像部により撮像される画像のピントがより確実に合うようにすることができる。
 この場合、好ましくは、第1撮像部および第2撮像部は、鉛直方向に沿った同一平面において上下に並んで斜め方向から撮像対象が配置された同一の撮像位置を撮像するように配置されており、第2撮像部は、第1撮像部の鉛直方向の下方に配置されているとともに、第1被写界深度よりも深い第2被写界深度を有している。このように構成すれば、第1撮像部および第2撮像部を鉛直方向に沿った同一平面からずれた位置に配置する場合と比較して、第1撮像部および第2撮像部の水平方向の設置スペースを小さくすることができる。その結果、第2撮像部により撮像される画像のピントがより確実に合うようにすることができるとともに、第1撮像部および第2撮像部が設けられるヘッドユニットの大型化を抑制することができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、第1被写界深度は、第1撮像部の絞りが一定に設定されることにより、一定の被写界深度に設定されており、第2被写界深度は、第2撮像部の絞りが一定に設定されることにより、第1被写界深度よりも深い一定の被写界深度に設定されている。このように構成すれば、第1撮像部および第2撮像部の絞りを調整する構造が不要になるので、ヘッドユニットの大型化を抑制することができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、第1撮像部および第2撮像部の各々は、撮像対象としての部品の実装位置周辺および部品の吸着位置周辺の少なくとも一方を撮像するように構成されており、第1被写界深度および第2被写界深度の各々は、第1撮像部および第2撮像部の並ぶ方向に沿った断面において、基板の反りによる基板の上面の高さ位置の想定されるずれ量または部品を収納する収納テープの種類の違いによる収納テープに収納された部品の上面の高さ位置の想定されるずれ量と、部品の水平方向の長さと、傾斜角とにより、設定されている。このように構成すれば、適切な値の第1被写界深度および第2被写界深度を取得することができるので、第1撮像部および第2撮像部の各々に対して適切な被写界深度を設定することができる。なお、収納テープの種類の違いとは、紙テープおよびエンボステープといったテープの種類の違いだけでなく、同じ紙テープであっても部品を収納する収納部の大きさが異なる場合、および、同じエンボステープであっても部品を収納する収納部の大きさが異なる場合も含む広い概念である。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、撮像対象に光を照射する照明部と、第1撮像部および第2撮像部の各々により、撮像対象を撮像する制御を行う制御部とをさらに備え、制御部は、第1撮像部および第2撮像部の各々に対するセンサゲイン、第1撮像部および第2撮像部の各々の露光時間、および、照明部の光量のいずれかを異ならせることにより、第1撮像部および第2撮像部の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている。このように構成すれば、第2被写界深度を第1被写界深度よりも深くした場合でも、第2撮像部においてピントを合わせるだけでなく、第2撮像部により撮像される画像の明るさを確保することができる。その結果、第2撮像部により撮像される画像のピントをより確実に合わせることができるとともに、第1撮像部により撮像された画像と同等の明るさの画像を第2撮像部により撮像することができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部の各々の露光時間を異ならせる基板作業装置において、好ましくは、制御部は、第1撮像部による露光と並行して、第2撮像部による露光も行うように構成されている。このように構成すれば、撮像位置を撮像する際の露光に要する時間を最小限に抑えることできるので、作業ヘッドの基板に対する作業時間が増加しないようにすることができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、第1撮像部および第2撮像部は、それぞれ、第1カメラおよび第2カメラをさらに含む。このように構成すれば、共通のカメラにより撮像する場合と比較して、第1撮像部および第2撮像部のレンズなどの光学系の構造を簡略化することができるので、第1撮像部および第2撮像部の構造の複雑化を抑制することができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、第1撮像部および第2撮像部は、共通のカメラと、共通のカメラの視野を分割する光学系とをさらに含む。このように構成すれば、必要なカメラの数量を抑えることができるので、ヘッドユニットの大型化を抑制することができる。
 上記第1撮像部および第2撮像部を備える基板作業装置において、好ましくは、第1撮像部により撮像された第1画像と、第2撮像部により撮像された第2画像とに基づいて、撮像対象の周辺の高さ位置を取得するように構成されている。このように構成すれば、第1画像と、ピントが合った第2画像とに基づいて撮像対象の周辺の高さ位置を取得することにより、撮像対象の周辺の高さ位置をより正確に取得することができるので、作業ヘッドによる基板に対する作業をより精度よく行うことができる。
 本発明によれば、上記のように、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された複数の撮像部の各々により斜め方向から撮像される画像のピント(焦点)がより確実に合うようにすることができる。
第1実施形態の部品実装装置を示した平面図である。 第1実施形態の部品実装装置の実装ヘッドにより収納テープ内の部品を吸着する状態を示した側面図である。 第1実施形態の部品実装装置の実装ヘッドにより基板に部品を実装する状態を示した側面図である。 第1実施形態の部品実装装置の第1撮像部の第1被写界深度を取得するための模式図である。 第1実施形態の部品実装装置の第2撮像部の第2被写界深度を取得するための模式図である。 第1実施形態の部品実装装置における撮像位置の高さ位置を取得するための模式図である。 第2実施形態の部品実装装置を示した平面図である。 第2実施形態の部品実装装置の照明部による光の照射の状態を示した側面図である。 第1および第2実施形態の変形例の部品実装装置のヘッドユニットの側面図である。
 以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
 図1~図6を参照して、本発明の第1実施形態による部品実装装置100の構成について説明する。なお、部品実装装置100は、請求の範囲の「基板作業装置」の一例である。
 図1に示すように、部品実装装置100は、一対のコンベア2により基板Sを搬送し、作業位置P1において基板Sに部品Bを実装するように構成されている。なお、部品Bは、請求の範囲の「撮像対象」の一例である。
 部品実装装置100は、基台1と、一対のコンベア2と、部品供給部3と、ヘッドユニット4と、支持部5と、一対のレール部6と、部品認識撮像部7と、撮像ユニット8と、制御部9とを備えている。
 ここで、一対のコンベア2による基板Sの搬送方向をX1方向とし、X1方向とは逆方向をX2方向とし、X1方向およびX2方向を合わせた方向をX方向とする。水平方向のうちX方向に直交する方向をY方向とする。Y方向のうちの一方向をY1方向とし、Y方向のうちの他方向をY2方向とする。X方向およびY方向に直交する方向をZ方向(上下方向)とし、Z方向のうちの一方向をZ1方向(上方向)とし、Z方向のうちの他方向をZ2方向(下方向)とする。
 一対のコンベア2は、基台1上に設置され、基板SをX1方向に搬送するように構成されている。また、一対のコンベア2には、搬送中の基板Sを作業位置P1で停止させた状態で保持する保持機構が設けられている。また、一対のコンベア2は、基板Sの寸法に合わせてY方向の間隔を調整可能に構成されている。
 部品供給部3は、一対のコンベア2の外側(Y1方向側およびY2方向側)に配置されている。また、部品供給部3には、複数のテープフィーダ31が配置されている。部品供給部3は、後述する実装ヘッド42に対して部品Bを供給するように構成されている。
 テープフィーダ31は、複数の部品Bを所定の間隔を隔てて保持したテープが巻き付られたリール(図示せず)を保持している。テープフィーダ31は、部品Bを保持する収納テープ32を送出することによりリールを回転させて、テープフィーダ31の先端から部品Bを供給するように構成されている。ここで、部品Bは、IC、トランジスタ、コンデンサおよび抵抗などの電子部品を含んでいる。
 ヘッドユニット4は、一対のコンベア2および部品供給部3のZ1方向側に配置されており、ノズル41(図2参照)が下端に取り付けられた複数(5つ)の実装ヘッド42と、基板認識カメラ43とを含んでいる。なお、実装ヘッド42は、請求の範囲の「作業ヘッド」の一例である。
 実装ヘッド42は、基板Sに対して作業を行うように構成されている。具体的には、すなわち、実装ヘッド42は、部品Bを部品供給部3において吸着するように構成されている。また、実装ヘッド42は、基板Sに対して部品Bを実装するように構成されている。このように、実装ヘッド42は、部品供給部3により供給された部品Bを吸着して、作業位置P1に配置された基板Sに対して吸着した部品Bを実装するように構成されている。また、実装ヘッド42は、昇降可能(Z方向に移動可能)に構成され、負圧発生機(図示せず)によりノズル41の先端部に発生された負圧によって、テープフィーダ31から供給された部品Bを吸着して保持し、基板Sにおける実装位置P3に部品Bを実装するように構成されている。なお、部品Bの実装位置P3は、請求の範囲の「撮像位置」の一例である。
 基板認識カメラ43は、基板Sの位置および姿勢を認識するために、基板Sのフィデューシャルマークを撮像するように構成されている。そして、フィデューシャルマークの位置を撮像して認識することにより、基板Sにおける部品Bの実装位置P3を正確に取得することが可能である。
 支持部5は、モータ51を含んでいる。支持部5は、モータ51を駆動させることにより、支持部5に沿ってヘッドユニット4をX方向に移動させるように構成されている。支持部5は、両端部が一対のレール部6により支持されている。
 一対のレール部6は、基台1上に固定されている。X1側のレール部6は、モータ61を含んでいる。レール部6は、モータ61を駆動させることにより、支持部5を一対のレール部6に沿ってY方向に移動させるように構成されている。ヘッドユニット4が支持部5に沿ってX方向に移動可能であるとともに、支持部5がレール部6に沿ってY方向に移動可能であることによって、ヘッドユニット4は水平方向(XY方向)に移動可能である。
 部品認識撮像部7は、基台1の上面上に固定されている。部品認識撮像部7は、一対のコンベア2の外側(Y1方向側およびY2方向側)に配置されている。部品認識撮像部7は、部品Bの実装に先立って部品Bの吸着状態(吸着姿勢)を認識するために、実装ヘッド42のノズル41に吸着された部品Bを下側(Z2方向側)から撮像するように構成されている。これにより、実装ヘッド42のノズル41に吸着された部品Bの吸着状態を制御部9により取得することが可能である。
(撮像ユニット)
 図2および図3に示すように、撮像ユニット8は、ヘッドユニット4に設けられている。これにより、撮像ユニット8は、ヘッドユニット4が水平方向(XY方向)に移動することにより、ヘッドユニット4とともに、XY方向に移動するように構成されている。撮像ユニット8は、実装ヘッド42のZ方向の移動に干渉しないように、実装ヘッド42に対して水平方向(特にY方向)にオフセットされて配置されている。
 撮像ユニット8は、ヘッドユニット4を移動させることなく、実装ヘッド42が下降する位置を撮像可能に構成されている。詳細には、撮像ユニット8は、部品供給部3の吸着位置P2(撮像位置)を複数(2つ)の方向から撮像可能に構成されている。また、撮像ユニット8は、基板Sの実装位置P3(撮像位置)を複数(2つ)の方向から撮像可能に構成されている。なお、部品Bの吸着位置P2は、請求の範囲の「撮像位置」の一例である。
 このように、撮像ユニット8は、部品Bの吸着位置P2の周辺を複数(2つ)の方向から撮像して、第1画像および第2画像を撮像するように構成されている。また、撮像ユニット8は、部品Bの実装位置P3の周辺を複数(2つ)の方向から撮像して、第1画像および第2画像を撮像するように構成されている。
 具体的には、撮像ユニット8は、照明部81と、第1撮像部82と、第2撮像部83とを含んでいる。ここで、一組の第1撮像部82および第2撮像部83が、複数の実装ヘッド42の各々に対応して配置されている。
 照明部81は、LED(Light Emitting Diode)などの光源を有している。照明部81は、吸着位置P2または実装位置P3(撮像位置)に配置された部品Bに光を照射するように構成されている。照明部81は、第1撮像部82および第2撮像部83による撮像の際に発光するように構成されている。照明部81は、第1撮像部82および第2撮像部83の周囲に設けられている。なお、第1撮像部82および第2撮像部83は、請求の範囲の「複数の撮像部」の一例である。
 第1撮像部82および第2撮像部83は、それぞれ、第1カメラ82aおよび第2カメラ83aを有している。第1カメラ82aは、第1撮像素子182aを有している。第2カメラ83aは、第2撮像素子183aを有している。第1撮像素子182aは、後述する第1レンズ部182bから入射した光を電気信号に変換するように構成されている。第2撮像素子183aは、後述する第2レンズ部183bから入射した光を電気信号に変換するように構成されている。また、第1撮像部82および第2撮像部83は、それぞれ、第1光学系82bおよび第2光学系83bを有している。第1光学系82bは、複数のレンズを有する第1レンズ部182bと、第1絞り部182cとを有している。第2光学系83bは、複数のレンズを有する第2レンズ部183bと、第2絞り部183cとを有している。第1絞り部182cは、第1レンズ部182bに向かう光を制限する孔である。第2絞り部183cは、第2レンズ部183bに向かう光を制限する孔である。
 第1撮像部82および第2撮像部83は、Z方向において複数の異なる高さ位置に配置された状態でヘッドユニット4に設けられている。第1撮像部82および第2撮像部83の各々が、部品Bが配置された同一の吸着位置P2(撮像位置)または実装位置P3(撮像位置)を互いに異なるZ方向に交差する斜め方向から撮像するように構成されている。
 第1撮像部82および第2撮像部83は、図4および図5に示すように、基準面H0に対してそれぞれの撮像方向が互いに異なる傾き角度(θuおよびθt)から撮像するように構成されている。第1撮像部82および第2撮像部83は、Z方向に沿った同一平面において上下に並んで斜め方向から部品B(撮像対象)が配置された同一の吸着位置P2(撮像位置)または実装位置P3(撮像位置)を撮像するように配置されている。詳細には、第1撮像部82および第2撮像部83は、基準面H0に対する部品Bの吸着位置P2または部品Bの実装位置P3を含む鉛直面内(YZ面内)において隣接して配置されている。また、第1撮像部82および第2撮像部83は、互いにZ方向にオフセットさせて配置されている。なお、基準面H0とは、水平方向に沿って延びており、反りが発生していない状態の基板Sの上面である。
 第1撮像部82は、傾斜角のうち鉛直方向に近い斜め方向の第1傾斜角θuを有している。第2撮像部83は、第1撮像部82のZ2方向側に配置されており、第1傾斜角θuよりも水平方向に近い斜め方向の第2傾斜角θtを有している。ここで、傾斜角とは、部品Bに向かって延びる第1撮像部82の光軸および第2撮像部83の光軸の各々の基準面H0に対する傾きを示す。
 これにより、第1撮像部82および第2撮像部83の各々は、撮像対象としての部品Bの実装位置P3(撮像位置)の周辺および部品Bの吸着位置P2(撮像位置)の周辺の両方を撮像するように構成されている。すなわち、撮像ユニット8は、実装ヘッド42による部品Bの吸着位置P2、および、実装ヘッド42による部品Bの実装位置P3を、それぞれ、複数の方向(角度)から撮像することが可能である。
 図4および図5に示すように、第1実施形態の第1撮像部82および第2撮像部83では、各々の撮像する斜め方向の第1傾斜角θuおよび第1傾斜角θuに応じて異なる被写界深度が設定されている。すなわち、第1撮像部82および第2撮像部83では、各々の高さ位置から部品Bに向かう各々の光軸の第1傾斜角θuおよび第1傾斜角θuに応じて異なる被写界深度が設定されている。具体的には、第1撮像部82は、第1被写界深度D1を有している。第2撮像部83は、第1撮像部82の第1被写界深度D1よりも深い第2被写界深度D2を有している。ここで、第2撮像部83は、第1撮像部82の鉛直方向の下方(Z2方向)に配置されている。
 第1被写界深度D1は、第1カメラ82aのF値により設定されている。詳細には、第1被写界深度D1は、第1撮像部82の絞りが一定に設定されることにより、一定の被写界深度に設定されている。すなわち、第1被写界深度D1は、一定の直径を有する孔である第1絞り部182cにより設定される。第2被写界深度D2は、第2カメラ83aのF値により設定されている。詳細には、第2被写界深度D2は、第2撮像部83の絞りが一定に設定されることにより、第1被写界深度D1よりも深い一定の被写界深度に設定されている。すなわち、第2被写界深度D2は、一定の直径を有する孔である第2絞り部183cにより設定される。ここで、第2絞り部183cの孔の直径は、第1絞り部182cの孔の直径よりも小さい。
 第1被写界深度D1および第2被写界深度D2の各々は、第1撮像部82および第2撮像部83の並ぶ方向に沿った断面において、基板Sの反りによる基板Sの上面の高さ位置の想定されるずれ量H、または、部品Bを収納する収納テープ32の種類の違いによる収納テープ32に収納された部品Bの上面の高さ位置の想定されるずれ量と、部品Bの水平方向(Y方向)の長さと、傾斜角とにより、設定されている。ここで、以下の説明では、基板Sの上面の高さ位置のずれ量Hについて説明する。ずれ量Hは、基板Sが上反りした場合の基板Sの上面の上側高さ位置H1と、基板Sが下反りした場合の基板Sの上面の下側高さ位置H2との差である。なお、ずれ量Hは、収納テープ32に収納された部品Bの上面の高さ位置のずれ量であってもよい。この場合のずれ量Hは、複数種類のうちの基準となる1つの収納テープ32に収納された部品Bの上面の高さ位置と、上記収納テープ32とは種類の異なる収納テープ32に収納された部品Bの上面の高さ位置との差である。
 ここで、第1被写界深度D1および第2被写界深度D2の各々は、基板Sの上面の高さ位置のずれ量Hおよび収納テープ32に収納された部品Bの上面の高さ位置のずれ量のうちのいずれか大きい方のずれ量に合わせて設定される。また、第1被写界深度D1および第2被写界深度D2の各々は、複数の部品Bの水平方向(Y方向)の長さのうちの最も大きい長さに合わせて設定される。
 図4に示すように、第1被写界深度D1は、第1撮像部82および第2撮像部83の並ぶ方向に沿った断面において、基板Sの上面の高さ位置のずれ量Hと、部品Bの水平方向(Y方向)の長さLと、第1傾斜角θuとにより、設定されている。具体的には、第1被写界深度D1は、第1被写界深度D1=H*sin(θu)+L*cos(θu)という関係式に基づいて、取得される。
 図5に示すように、第2被写界深度D2は、第1撮像部82および第2撮像部83の並ぶ方向に沿った断面において、基板Sの上面の高さ位置のずれ量Hと、部品Bの水平方向の長さLと、第2傾斜角θtとにより、設定されている。具体的には、第2被写界深度D2は、第2被写界深度D2=H*sin(θt)+L*cos(θt)という関係式に基づいて、取得される。
 一例として、ずれ量H=1.0[mm]、長さL=4.0[mm]、θu=60度およびθt=30度である場合、第1被写界深度D1は、約2.866[mm]と算出されるとともに、第2被写界深度D2は、約3.964[mm]と算出される。この場合、第2被写界深度D2は、第1被写界深度D1よりも約1.4倍深い。これにより、第2カメラ83aのF値は、第1被写界深度D1よりも約1.4倍の深さに第2被写界深度D2がなるように、第1カメラ82aのF値よりも小さく設定される。このようにして、第1カメラ82aおよび第2カメラ83aが、設計される。
(制御部)
 図1に示すように、制御部9は、CPU(Central Processing Unit)と、記憶部とを有している。記憶部は、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)などのメモリを有する記憶装置である。記憶部には、基板Sに部品Bを実装するための部品実装プログラムが記憶されている。
 図6に示すように、制御部9は、第1撮像部82および第2撮像部83により、複数(2つ)の方向から撮像した部品Bの吸着位置P2の画像に基づいて、部品Bの吸着位置P2における部品Bの水平方向(XY方向)の位置および鉛直方向(Z方向)の高さ位置H3を取得するように構成されている。また、制御部9は、第1撮像部82および第2撮像部83により、複数(2つ)の方向から撮像した部品Bの実装位置P3の画像に基づいて、部品Bの実装位置P3の水平方向(XY方向)の位置および鉛直方向(Z方向)の高さ位置H3を取得するように構成されている。
 具体的には、制御部9は、基準面H0に対する高さ位置H3をステレオマッチングにより取得するように構成されている。つまり、第1撮像部82および第2撮像部83により略同時に撮像された部品Bの吸着位置P2または実装位置P3の画像をマッチングさせることによって、撮像した位置の高さ位置H3および水平方向位置が取得される。すなわち、制御部9は、第1撮像部82により撮像された第1画像と、第2撮像部83により撮像された第2画像とに基づいて、撮像対象の周辺の高さ位置H3を取得する制御を行うように構成されている。マッチングは、SSD(Sumof Squared Difference)や、SAD(Sum of Absolute Difference)などの一般的なマッチング方法が用いられる。
(第1実施形態の効果)
 第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
 第1実施形態では、上記のように、第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)において、各々の高さ位置から部品Bに向かう各々の光軸の第1傾斜角θuおよび第1傾斜角θuに応じて異なる被写界深度を設定する。これにより、第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)の各々がZ方向(鉛直方向)において複数の異なる高さ位置に配置されていても、第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)の各々において、傾斜角に応じて異なる被写界深度が設定されることにより、部品B(撮像対象)が配置された吸着位置P2または実装位置P3に対するピントを個別に合わせて設定することができる。この結果、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)の各々により斜め方向から撮像される画像のピント(焦点)がより確実に合うようにすることができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、傾斜角のうちZ方向(鉛直方向)に近い斜め方向の第1傾斜角θuを有する第1撮像部82と、第1撮像部82の下側に配置されており、第1傾斜角θuよりも水平方向に近い斜め方向の第2傾斜角θtを有する第2撮像部83とを設ける。第2撮像部83に、第1撮像部82の第1被写界深度D1よりも深い第2被写界深度D2を設定する。これにより、第2被写界深度D2を第1被写界深度D1よりも深くすることにより、第2撮像部83の第2被写界深度D2を十分に確保することができるので、第2撮像部83により撮像される画像のピントがより確実に合うようにすることができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、第1撮像部82および第2撮像部83に、Z方向(鉛直方向)に沿った同一平面において上下に並んで斜め方向から部品B(撮像対象)が配置された同一の吸着位置P2(撮像位置)または実装位置P3(撮像位置)を撮像するように配置されている。第2撮像部83を、第1撮像部82のZ方向(鉛直方向)の下方に配置されているとともに、第1被写界深度D1よりも深い第2被写界深度D2を設定する。これにより、第1撮像部82および第2撮像部83をZ方向(鉛直方向)に沿った同一平面からずれた位置に配置する場合と比較して、第1撮像部82および第2撮像部83の水平方向の設置スペースを小さくすることができる。この結果、第2撮像部83により撮像される画像のピントがより確実に合うようにすることができるとともに、第1撮像部82および第2撮像部83が設けられるヘッドユニット4の大型化を抑制することができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、第1被写界深度D1を、第1撮像部82の絞りを一定に設定することにより、一定の被写界深度に設定する。第2被写界深度D2を、第2撮像部83の絞りを一定に設定することにより、第1被写界深度D1よりも深い一定の被写界深度に設定する。これにより、第1撮像部82および第2撮像部83の絞りを調整する構造が不要になるので、ヘッドユニット4の大型化を抑制することができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、第1撮像部82および第2撮像部83の各々を、部品B(撮像対象)としての部品Bの実装位置P3周辺および部品Bの吸着位置P2周辺の少なくとも一方を撮像するように構成する。第1被写界深度D1および第2被写界深度D2の各々を、第1撮像部82および第2撮像部83の並ぶ方向に沿った断面において、基板Sの反りによる基板Sの上面の高さ位置のずれ量Hと、部品Bの水平方向の長さLと、第1傾斜角θuおよび第2傾斜角θtとにより、設定する。これにより、適切な値の第1被写界深度D1および第2被写界深度D2を取得することができるので、第1撮像部82および第2撮像部83の各々に対して適切な被写界深度を設定することができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、第1撮像部82および第2撮像部83に、それぞれ、第1カメラ82aおよび第2カメラ83aを設ける。これにより、共通のカメラにより撮像する場合と比較して、第1撮像部82および第2撮像部83のレンズなどの光学系の構造を簡略化することができるので、第1撮像部82および第2撮像部83の構造の複雑化を抑制することができる。
 また、第1実施形態では、上記のように、制御部9を、第1撮像部82により撮像された第1画像と、第2撮像部83により撮像された第2画像とに基づいて、部品B(撮像対象)の周辺の高さ位置を取得するように構成する。これにより、第1画像と、ピントが合った第2画像とに基づいて部品B(撮像対象)の周辺の高さ位置を取得することにより、撮像対象の周辺の高さ位置をより正確に取得することができるので、実装ヘッド42による基板Sに対する作業を精度よく行うことができる。
[第2実施形態]
 図7および図8を参照して、第2実施形態による部品実装装置200の構成について説明する。第2実施形態では、第1実施形態とは異なり、制御部209により、第1撮像部82により撮像された画像の明るさと、第2撮像部83により撮像された画像の明るさとが、揃えられる。なお、第2実施形態では、第1実施形態と同じ構成については、説明を省略する。
 図7および図8に示すように、部品実装装置200は、基台1と、一対のコンベア2と、部品供給部3と、ヘッドユニット4と、支持部5と、一対のレール部6と、部品認識撮像部7と、撮像ユニット8と、制御部209とを備えている。なお、部品実装装置200は、請求の範囲の「基板作業装置」の一例である。
 第2実施形態の制御部209は、第1撮像部82および第2撮像部83の各々の露光時間を異ならせることにより、第1撮像部82および第2撮像部83の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている。詳細には、制御部209は、被写界深度が深いことに起因して透過する光の量が少ない分だけ、第2撮像部83の露光時間を第1撮像部82の露光時間よりも大きくすることにより、第1撮像部82および第2撮像部83の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている。
 また、この際、制御部209は、第1撮像部82による露光と並行して、第2撮像部83による露光も行うように構成されている。すなわち、一例として、第1撮像部82の露光開始のタイミングと、第2撮像部83の露光開始のタイミングとを一致させて露光する場合、第1撮像部82の露光終了のタイミングと、第2撮像部83の露光終了のタイミングとを一致させて露光する場合がある。また、一例として、第2撮像部83の露光中に、第1撮像部82の露光を開始させるとともに、第1撮像部82の露光を終了する場合がある。また、一例として、第2撮像部83の露光中に、第1撮像部82の露光を開始させるとともに、第2撮像部83の露光終了後に、第1撮像部82の露光を終了させる場合がある。なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
(第2実施形態の効果)
 第2実施形態では、上記第1実施形態と同様に、第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)において、各々の高さ位置から部品Bに向かう各々の光軸の第1傾斜角θuおよび第1傾斜角θuに応じて異なる被写界深度を設定する。これにより、鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された第1撮像部82および第2撮像部83(複数の撮像部)の各々により斜め方向から撮像される画像のピント(焦点)がより確実に合うようにすることができる。
 また、第2実施形態では、上記のように、部品実装装置200に、部品B(撮像対象)に光を照射する照明部81と、第1撮像部82および第2撮像部83の各々により、部品B(撮像対象)を撮像する制御を行う制御部209とを設ける。制御部209を、第1撮像部82および第2撮像部83の各々の露光時間を異ならせることにより、第1撮像部82および第2撮像部83の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている。これにより、第2被写界深度D2を第1被写界深度D1よりも深くした場合でも、第2撮像部83においてピントを合わせるだけでなく、第2撮像部83により撮像される画像の明るさを確保することができる。この結果、第2撮像部83により撮像される画像のピントをより確実に合わせることができるとともに、第1撮像部82により撮像された画像と同等の明るさの画像を第2撮像部83により撮像することができる。
 また、第2実施形態では、上記のように、制御部209を、第1撮像部82による露光と並行して、第2撮像部83による露光も行うように構成する。これにより、吸着位置P2または実装位置P3(撮像位置)を撮像する際の露光に要する時間を最小限に抑えることできるので、実装ヘッド42の基板Sに対する作業時間が増加しないようにすることができる。なお、第2実施形態のその他の効果は、第1実施形態と同様である。
[変形例]
 なお、今回開示された第1および第2実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した第1および第2実施形態の説明ではなく請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
 たとえば、上記第1および第2実施形態では、第1撮像部82および第2撮像部83は、鉛直方向に沿った同一平面において上下に並んで斜め方向から撮像対象が配置された同一の撮像位置を撮像するように配置されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第1撮像部および第2撮像部は、鉛直方向に沿った同一平面に配置されていなくてもよい。
 また、上記第2実施形態では、制御部9(209)は、第1撮像部82および第2撮像部83の各々に対する露光時間を異ならせることにより、第1撮像部82および第2撮像部83の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、制御部は、第1撮像部および第2撮像部の各々に対するセンサゲインを異ならせることにより、第1撮像部および第2撮像部の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されてもよい。この場合、制御部では、第1撮像部のセンサゲインよりも第2撮像部のセンサゲインが大きく設定される。また、制御部は、照明部の光量を異ならせることにより、第1撮像部および第2撮像部の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されてもよい。この場合、制御部では、第1撮像部の露光するタイミングと第2撮像部の露光するタイミングとが別個に設定されるとともに、第1撮像部の露光の際の光量よりも第2撮像部の露光の際の光量が大きく設定される。
 また、上記第1および第2実施形態では、第1撮像部82および第2撮像部83は、それぞれ、第1カメラ82aおよび第2カメラ83aを有している例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、図9に示す変形例のように、第1撮像部82および第2撮像部83は、共通のカメラ382と、共通のカメラの視野を分割する光学系383とを有していてもよい。これにより、必要なカメラの数量を抑えることができるので、ヘッドユニット4の大型化を抑制することができる。
 また、上記第1および第2実施形態では、請求の範囲の「作業ヘッド」の一例として、実装ヘッド42を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、作業ヘッドは、接着剤を基板に塗布するディスペンスヘッドであってもよい。
 また、上記第1および第2実施形態では、請求の範囲の「基板作業装置」の一例として、部品実装装置を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、基板作業装置は、接着剤またはクリームはんだなどを基板に塗布する塗布装置であってもよい。
 また、第2実施形態では、制御部209は、第1撮像部82による露光と並行して、第2撮像部83による露光も行うように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第1撮像部による露光と、第2撮像部による露光とが、順次行われてもよい。
 4 ヘッドユニット
 42 実装ヘッド(作業ヘッド)
 81 照明部
 82 第1撮像部(複数の撮像部)
 82a 第1カメラ
 83 第2撮像部(複数の撮像部)
 83a 第2カメラ
 100、200 部品実装装置(基板作業装置)
 382 共通のカメラ
 383 光学系
 B 部品(撮像対象)
 D1 第1被写界深度
 D2 第2被写界深度
 H ずれ量
 H3 高さ位置
 L 長さ
 P2 吸着位置(撮像位置)
 P3 実装位置(撮像位置)
 S 基板
 θt 第2傾斜角
 θu 第1傾斜角

Claims (10)

  1.  基板に対して作業を行う作業ヘッドを含むヘッドユニットと、
     鉛直方向において複数の異なる高さ位置に配置された状態で前記ヘッドユニットに設けられ、撮像対象が配置された同一の撮像位置を各々が互いに異なる斜め方向から撮像する複数の撮像部とを備え、
     前記複数の撮像部では、各々の撮像する斜め方向の傾斜角に応じて異なる被写界深度が設定されている、基板作業装置。
  2.  前記複数の撮像部は、
     傾斜角のうち鉛直方向に近い斜め方向の第1傾斜角を有する第1撮像部と、
     前記第1撮像部の下側に配置されており、前記第1傾斜角よりも水平方向に近い斜め方向の第2傾斜角を有する第2撮像部とを含み、
     前記第2撮像部は、前記第1撮像部の第1被写界深度よりも深い第2被写界深度を有している、請求項1に記載の基板作業装置。
  3.  前記第1撮像部および前記第2撮像部は、鉛直方向に沿った同一平面において上下に並んで斜め方向から前記撮像対象が配置された同一の前記撮像位置を撮像するように配置されており、
     前記第2撮像部は、前記第1撮像部の鉛直方向の下方に配置されているとともに、前記第1被写界深度よりも深い前記第2被写界深度を有している、請求項2に記載の基板作業装置。
  4.  前記第1被写界深度は、前記第1撮像部の絞りが一定に設定されることにより、一定の被写界深度に設定されており、
     前記第2被写界深度は、前記第2撮像部の絞りが一定に設定されることにより、前記第1被写界深度よりも深い一定の被写界深度に設定されている、請求項2または3に記載の基板作業装置。
  5.  前記第1撮像部および前記第2撮像部の各々は、前記撮像対象としての部品の実装位置周辺および前記部品の吸着位置周辺の少なくとも一方を撮像するように構成されており、
     前記第1被写界深度および前記第2被写界深度の各々は、前記第1撮像部および前記第2撮像部の並ぶ方向に沿った断面において、前記基板の反りによる前記基板の上面の高さ位置の想定されるずれ量または前記部品を収納する収納テープの種類の違いによる前記収納テープに収納された前記部品の上面の高さ位置の想定されるずれ量と、前記部品の水平方向の長さと、前記傾斜角とにより、設定されている、請求項2~4のいずれか1項に記載の基板作業装置。
  6.  前記撮像対象に光を照射する照明部と、
     前記第1撮像部および前記第2撮像部の各々により、前記撮像対象を撮像する制御を行う制御部とをさらに備え、
     前記制御部は、前記第1撮像部および前記第2撮像部の各々に対するセンサゲイン、前記第1撮像部および前記第2撮像部の各々の露光時間、および、前記照明部の光量のいずれかを異ならせることにより、前記第1撮像部および前記第2撮像部の各々により撮像された画像の明るさを互いに略同じにする制御を行うように構成されている、請求項2~5のいずれか1項に記載の基板作業装置。
  7.  前記制御部は、前記第1撮像部による露光と並行して、前記第2撮像部による露光も行うように構成されている、請求項6に記載の基板作業装置。
  8.  前記第1撮像部および前記第2撮像部は、それぞれ、第1カメラおよび第2カメラを含む、請求項2~7のいずれか1項に記載の基板作業装置。
  9.  前記第1撮像部および前記第2撮像部は、
     共通のカメラと、
     前記共通のカメラの視野を分割する光学系とに含む、請求項2~7のいずれか1項に記載の基板作業装置。
  10.  前記第1撮像部により撮像された第1画像と、前記第2撮像部により撮像された第2画像とに基づいて、前記撮像対象の周辺の高さ位置を取得するように構成されている、請求項2~9のいずれか1項に記載の基板作業装置。
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