WO2021261035A1 - 顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法 - Google Patents
顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法 Download PDFInfo
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Definitions
- the present invention relates to Raman spectroscopic measurement for measuring Raman scattered light from a subject, and more particularly to a micro-Raman spectroscopic measuring device using a microscope and a method for adjusting a micro-Raman spectroscopic measuring device.
- Raman spectroscopy has been used as a method for analyzing the composition, chemical structure, crystal structure, etc. of the sample to be analyzed.
- Raman spectroscopy is a method of obtaining a spectrum of Raman scattered light by irradiating the sample with laser light and dispersing the scattered light, and by analyzing the peak wavelength of this spectrum, the composition, chemical structure, and the like of the sample can be obtained. It is possible to analyze the crystal structure and the like.
- Patent Document 1 A microscopic Raman spectroscopic measuring device as described in is put into practical use.
- the micro-Raman spectroscopic measuring device described in Patent Document 1 has a laser light source that emits laser light, a stage on which a sample is placed, an objective lens that concentrates the light beam of the laser light on the sample, and discrimination between laser light and Raman scattered light. It is equipped with an optical discrimination unit, a plurality of mirrors, a spectroscopic unit, and the like, and guides the Raman scattered light emitted from the sample to the spectroscopic unit to measure the spectrum of the Raman scattered light.
- excitation light laser light
- the optical path of the excitation light and the optical path of the Raman scattered light are accurately adjusted.
- the optical path of each optical system may be affected by disturbances such as changes in environmental temperature and vibration.
- the present invention has been made in view of such a problem, and is a microscopic Raman spectroscopic measuring device capable of performing measurement with a high S / N ratio even when the optical path of Raman scattered light is displaced due to disturbance or the like. It is an object of the present invention to provide a method for adjusting a microscopic Raman spectroscopic measuring device.
- a first aspect of the present invention is a micro-Raman spectroscopic measuring device that detects and analyzes Raman scattered light scattered from a sample irradiated with excitation light, a laser light source that emits excitation light, and a spectrum of Raman scattered light.
- a spectroscope for measuring A condenser lens that is placed between the spectroscopes and collects the Raman scattered light that has passed through the optical discrimination portion, and a condenser lens that is placed between the condenser lens and the spectroscope to limit the Raman scattered light that is incident on the spectroscope.
- the present invention relates to a microscopic Raman spectroscopic measuring device.
- a microscopic Raman spectroscopic measuring device including a step of adjusting the position of the spot image of the Raman scattered light collected by the condenser lens and the position of the aperture so that the amount of the Raman scattered light passing through is maximized. Regarding the adjustment method of.
- FIG. 1 is a block diagram of a microscopic Raman spectroscopic measuring device according to the first embodiment of the present invention.
- FIG. 2 is a diagram illustrating a schematic configuration of a movable mirror of the microscopic Raman spectroscopic measuring device according to the first embodiment of the present invention.
- FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the position of the aperture of the microscopic Raman spectroscopic measuring device according to the first embodiment of the present invention and the spot position of the Raman scattered light collected on the aperture.
- FIG. 4 is a block diagram of a microscopic Raman spectroscopic measuring device according to a second embodiment of the present invention.
- FIG. 5 is a block diagram of a microscopic Raman spectroscopic measuring device according to a third embodiment of the present invention.
- FIG. 1 is a block diagram of a microscopic Raman spectroscopic measuring device 100 according to a first embodiment of the present invention.
- the micro-Raman spectroscopic measuring apparatus 100 of the present embodiment includes a stage 101 on which the sample S is placed, a laser light source 102, a collimating lens 103, a movable mirror 104, and a first filter 105.
- FIG. 1 is a block diagram of a microscopic Raman spectroscopic measuring device 100 according to a first embodiment of the present invention.
- the micro-Raman spectroscopic measuring apparatus 100 of the present embodiment includes a stage 101 on which the sample S is placed, a laser light source 102, a collimating lens 103, a movable mirror 104
- the thick gray line indicates the optical path of the excitation light emitted from the laser light source 102 (indicated by the broken line arrow in FIG. 1) and the Raman scattered light emitted from the sample S (indicated by the solid line arrow in FIG. 1). Shows the optical path of.
- the micro-Raman spectroscopic measuring device 100 of the present embodiment has an optical path adjustment function so that calibration can be performed prior to actual measurement, and when calibration is performed, a sample is used.
- S a reference sample that emits Raman scattered light having a specific wavelength is used (details will be described later).
- the stage 101 is a support base for fixing and supporting the sample S, and the sample S is placed on the stage 101 in a state of being sandwiched between a cover glass and a slide glass (not shown).
- the laser light source 102 is a device that emits excitation light having a single wavelength.
- the excitation light emitted from the laser light source 102 is formed into parallel light by the collimated lens 103, and is incident on the substantially central portion of the mirror portion 104e (FIG. 2) of the movable mirror 104.
- the piezo elements 104b and 104c are electrically connected to the control unit 130 via terminals (not shown) and are deformed (expanded) by the voltage input from the control unit 130.
- the other ends of the piezo elements 104b and 104c are fixed to the movable portion 104d, and when the piezo element 104b is deformed, the mirror portion 104e fixed to the movable portion 104d rotates in the X direction around the optical axis AX, and the piezo
- the element 104c is deformed, the mirror portion 104e fixed to the movable portion 104d rotates in the Y direction orthogonal to the X direction.
- the movable mirror 104 of the present embodiment can change the angle of the mirror unit 104e by adjusting the voltage input from the control unit 130 to the piezo elements 104b and 104c, whereby the mirror can be changed. It is possible to reflect the excitation light incident on the portion 104e in a desired direction.
- the excitation light reflected by the mirror unit 104e is incident on the first filter 105 (FIG. 1).
- the optical information of the measurement region in the sample S is transferred to the spectroscope via the aperture 124a and the optical fiber 122. It is configured to be introduced in 120 without excess or deficiency.
- the aperture 124a of the present embodiment will be described as having a substantially circular shape (pinhole), but it is sufficient if the incident Raman scattered light can be regulated and shaped into a spot having a predetermined shape and size. Apertures can be applied.
- the spectroscope 120 has, for example, a diffraction grating and disperses the Raman scattered light incident through the optical fiber 122 to obtain spectral data peculiar to the sample S (that is, the measurement region in the sample S).
- the spectral data obtained by the spectroscope 120 is transmitted to the control unit 130.
- the control unit 130 is a device that collects spectral data received from the spectroscope 120 and analyzes the composition, chemical structure, crystal structure, etc. of the sample S, and can be configured by, for example, a commercially available PC (Personal Computer). .. Further, as described above, the control unit 130 of the present embodiment is electrically connected to the piezo elements 104b and 104c of the movable mirror 104, and the piezo elements 104b and 104c are deformed by the voltage output from the control unit 130. (Expansion and contraction), it is possible to change the angle of the mirror portion 104e.
- the angle of the mirror unit 104e When the angle of the mirror unit 104e is changed, the direction of the excitation light reflected by the mirror unit 104e is changed, so that the direction of the excitation light incident on the first filter 105 is changed. Then, when the direction of the excitation light incident on the first filter 105 is changed, the angle of the excitation light reflected by the first filter 105 (that is, the excitation light toward the sample S) is changed. As a result, since the spot position of the excitation light radiated to the sample S is changed, the position of the Raman scattered light emitted from the sample S is also changed.
- control unit 130 is configured to be able to change the spot position of the Raman scattered light collected on the aperture member 124, and is affected by disturbance such as a change in environmental temperature or vibration. Even if the positional deviation or angular deviation of each optical system (laser light source 102, objective lens 109, mirror 106, 107, 108, first filter 105, second filter 110) occurs, the Raman scattered light incident on the spectroscope 120 is emitted. It is adjusted (calibrated) so that it does not decrease.
- FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the position of the aperture member 124 (aperture 124a) and the spot position of the Raman scattered light collected on the aperture member 124.
- each optical system laser light source 102, objective lens 109, mirror 106, 107, 108, first filter 105, second filter 110
- the Raman is focused on the aperture member 124.
- the spot position of the scattered light substantially coincides with the position of the aperture 124a of the aperture member 124 (FIG. 3A).
- the relative positional relationship between the optical path of the Raman scattered light (that is, the spot position) and the aperture 124a of the aperture member 124 deviates, the Raman scattered light entering the aperture 124a decreases, and as a result, the spectroscope The Raman scattered light incident on the 120 will be reduced. Therefore, in the present embodiment, before starting the measurement, a reference sample that emits Raman scattered light having a specific wavelength is used as the sample S so that the amount of Raman scattered light passing through the aperture 124a is maximized ().
- the calibration process for adjusting the relative positional relationship between the optical path (that is, the spot position) of the Raman scattered light and the aperture 124a of the aperture member 124 is performed so as to be in the state of FIG. 3A).
- the sample S reference sample
- the calibration process is executed via a user interface (not shown) to control the control.
- the unit 130 monitors the output of the spectroscope 120 and changes the voltage applied to the piezo elements 104b and 104c so that the output of the spectroscope 120 is maximized.
- the measurement by the micro-Raman spectroscopic measuring device 100 (that is, the acquisition of the spectrum data) is started in the state where the output of the spectroscope 120 is maximized (that is, the state of FIG. 3A). It is configured to be able to.
- the amount of Raman scattered light passing through the aperture 124a is maximized (that is, before starting the measurement by the microscopic Raman spectroscopic measuring device 100) (that is, FIG. 3A). ),
- the relative positional relationship between the optical path of Raman scattered light (that is, the spot position) and the aperture 124a of the aperture member 124 is adjusted, so that disturbances such as changes in environmental temperature and vibration are assumed. Even if the position shift or the angle shift of each optical system occurs due to the influence of the above, the Raman scattered light incident on the spectroscope 120 does not decrease. Therefore, it is possible to always perform the measurement in a state where the S / N ratio is high.
- the optical path of the excitation light is moved (changed) by changing the angle of the mirror portion 104e of the movable mirror 104, but the configuration is not necessarily limited to such a configuration.
- At least one of the excitation light and the Raman scattered light may be moved.
- a configuration for moving the optical path of the Raman scattered light for example, a configuration including a moving means for supporting the imaging lens 111 and moving the imaging lens 111 in a direction orthogonal to the optical path of the Raman scattered light can be adopted.
- the aperture member 124 may be supported, and a moving means for moving the aperture member 124 in a direction orthogonal to the optical path of the Raman scattered light may be provided.
- the mirror portion 104e of the movable mirror 104 of the present embodiment is rotated by the piezo elements 104b and 104c, it suffices if the angle of the mirror portion 104e can be changed, for example, a piezoelectric element, a pulse motor with a reduction mechanism, or the like. It can also be used.
- a reference sample that emits Raman scattered light having a specific wavelength is used as the sample S.
- the Raman of the sample S used for actual measurement is used. If the wavelength of the scattered light is known in advance, the sample S used for the actual measurement can be used instead of the reference sample. Further, the sample S used for the actual measurement and the reference sample can be placed on the stage 101, and the reference sample and the sample S used for the actual measurement are placed on the stage 101 during the calibration process and the actual measurement. You may switch.
- FIG. 4 is a block diagram of the micro-Raman spectroscopic measuring device 100A according to the second embodiment of the present invention.
- the micro-Raman spectroscopic measuring device 100A of the present embodiment has a configuration in which the mirror 104A is fixed and the movable mirror 108A is movable, and the micro-Raman spectroscopic measuring device according to the first embodiment is configured. Different from 100.
- the configuration of the movable mirror 108A of the present embodiment is the same as the configuration of the movable mirror 104 of the first embodiment.
- the optical path of the Raman scattered light from the movable mirror 108A to the spectroscope 120 can be moved. Therefore, as in the first embodiment, the optical path of the Raman scattered light (that is, the spot position).
- the relative positional relationship between the aperture member 124 and the aperture 124a of the aperture member 124 can be adjusted.
- FIG. 5 is a block diagram of the micro-Raman spectroscopic measuring device 100B according to the third embodiment of the present invention.
- the aperture 124a is formed at the incident port of the spectroscope 120 (that is, the incident port of the spectroscope 120 also serves as the aperture 124a). In that respect, it differs from the micro-Raman spectroscopic measuring apparatus 100A according to the second embodiment.
- a special member for guiding Raman scattered light to the spectroscope 120 such as the aperture member 124 and the optical fiber 122, is not required.
- the micro-Raman spectroscopic measuring device (100, 100A) is A microscopic Raman spectroscopic measuring device (100, 100A) that detects and analyzes Raman scattered light scattered from a sample (S) irradiated with excitation light.
- the laser light source (102) that emits the excitation light and A spectroscope (120) for measuring the spectrum of Raman scattered light, and
- the excitation light emitted from the laser light source (102) is reflected toward the sample (S), and the Raman scattered light scattered from the sample (S) is directed toward the spectroscope (120).
- the position of the spot image of the Raman scattered light collected by the condenser lens (111) and the position of the aperture (124a) are set so that the amount of the Raman scattered light passing through the aperture (124a) is maximized. It is configured to include adjusting means (104, 130) for adjusting to match.
- the microscopic Raman spectroscopic measuring apparatus described in the first item even if the optical path of the Raman scattered light is displaced due to disturbance or the like, the position of the spot image of the Raman scattered light and the position of the aperture are adjusted to match. Therefore, the Raman scattered light incident on the spectroscope does not decrease, and the measurement with a high S / N ratio can be performed.
- the adjusting means (104, 130) is arranged in the optical path of the excitation light from the laser light source (102) to the optical discriminator (105), and the spectroscope (120) is arranged from the optical discriminator (105). It is configured to have a first mirror portion (104) that changes the position of the optical path of the Raman scattered light toward the light path.
- the position of the optical path of the Raman scattered light can be easily changed by changing the angle of the first mirror portion.
- the adjusting means (104, 130) is arranged in the optical path of the Raman scattered light from the optical discriminator (105) to the spectroscope (120), and is arranged from the optical discriminator (105) to the spectroscope (120). ) Is configured to have a second mirror portion (108A) that changes the position of the optical path of the Raman scattered light.
- the position of the optical path of the Raman scattered light can be easily changed by changing the angle of the second mirror portion.
- the adjusting means (104, 130) is configured to have a first moving means for moving the aperture (124a) in a direction orthogonal to the optical path of the Raman scattered light.
- the relative position of the optical path of the Raman scattered light can be easily changed by moving the first moving means.
- the adjusting means (104, 130) is configured to have a second moving means for moving the condenser lens (111) in a direction orthogonal to the optical path of the Raman scattered light.
- the relative position of the optical path of the Raman scattered light can be easily changed by moving the second moving means.
- (Clause 6) In the micro-Raman spectroscopic measuring apparatus (100, 100A) according to any one of the items 1 to 5. It is configured to include an optical fiber (122) that guides the Raman scattered light that has passed through the aperture (124a) to the spectroscope (120).
- the Raman scattered light can be limited without adding a special member.
- the aperture (124a) is formed at the incident port of the spectroscope light (120).
- the Raman scattered light can be limited without adding a special member.
- the position of the spot image of the Raman scattered light and the position of the aperture can be automatically adjusted to match.
- the method for adjusting the micro-Raman spectroscopic measuring device (100, 100A) is as follows.
- a laser light source (102) that emits excitation light a spectroscope (120) that measures the spectrum of Raman scattered light scattered from the sample (S) irradiated with the excitation light, and the laser light source (102) that emits light.
- the light discrimination unit (105) is reflected so as to be directed toward the sample (S), and the Raman scattered light scattered from the sample (S) is transmitted so as to be directed toward the spectroscopic unit (120).
- mice 100 Microscopic Raman spectroscopic measurement device 100A: Microscopic Raman spectroscopic measurement device 101: Stage 102: Laser light source 103: Collimating lens 104: Movable mirror 104A: Mirror 104a: Fixed portion 104b: Piezo element 104c: Piezo element 104d: Movable part 104e: Mirror unit 105: First filter 106: Mirror 107: Mirror 108: Mirror 108A: Movable mirror 109: Objective lens 110: Second filter 111: Imaging lens 120: Spectrometer 122: Optical fiber 124: Aperture member 124a: Aperture 130 : Control unit S: Sample
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Abstract
【課題】S/N比の高い測定を行うことができる顕微ラマン分光測定装置を提供すること。 【解決手段】励起光が照射された試料Sから散射されるラマン散乱光を検出して分析する顕微ラマン分光測定装置100が、励起光を出射するレーザ光源102と、ラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器120と、励起光が試料Sに向かうように反射すると共に、試料Sから散射されるラマン散乱光が分光器120に向かうように透過する光弁別部105と、光弁別部105を透過したラマン散乱光を集光する集光レンズ111と、集光レンズ111と分光器120の間に配置され分光器120に入射するラマン散乱光を制限するアパーチャ124aと、アパーチャ124aを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように、集光レンズ111によって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャ124aの位置が一致するように調整する調整手段104と、を備える。
Description
本発明は、被検体からのラマン散乱光を測定するラマン分光測定に係り、特に顕微鏡を用いる顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法に関する。
従来、分析対象の試料の組成、化学構造、結晶構造等の解析を行う方法としてラマン分光法が用いられている。ラマン分光法は、試料にレーザ光を照射して得られる散乱光を分光して、ラマン散乱光のスペクトルを得る方法であり、このスペクトルのピーク波長を解析することによって試料の組成、化学構造、結晶構造等の解析を行うことができる。そして、特に光学系に顕微鏡を用いる顕微ラマン分光法を用いると、試料中の微細な領域の情報を取り出すことができ、空間分解能の高い測定、解析を行うことができるため、例えば、特許文献1に記載されているような顕微ラマン分光測定装置が実用に供されている。
特許文献1に記載の顕微ラマン分光測定装置は、レーザ光を出射するレーザ光源、試料が載置されるステージ、レーザ光の光束を試料に集光する対物レンズ、レーザ光とラマン散乱光を弁別する光弁別部、複数のミラー、分光部等を備え、試料から発せられるラマン散乱光を分光部に導光してラマン散乱光のスペクトルを測定している。
このような顕微ラマン分光測定装置において、高精度の(つまり、高いS/N比(Signal/Noise比))測定を行うためには、試料に対して励起光(レーザ光)を正確に入射させると共に、試料から発せられるラマン散乱光を正確に分光部に導光する必要があるため、励起光の光路及びラマン散乱光の光路は正確に調整される。
しかしながら、励起光の光路及びラマン散乱光の光路を一旦正確に調整したとしても、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系(レーザ光源、対物レンズ、ミラー、光弁別部)の位置ずれが発生することがあり、このような位置ずれが発生すると、ラマン散乱光の光路も変位してしまう、といった問題がある。
そして、ラマン散乱光の光路が変位すると、分光部に導光されるラマン散乱光が減少し、分光部からの出力信号も低下してしまうため、分光測定のS/N比が低下してしまうこととなる。
しかしながら、励起光の光路及びラマン散乱光の光路を一旦正確に調整したとしても、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系(レーザ光源、対物レンズ、ミラー、光弁別部)の位置ずれが発生することがあり、このような位置ずれが発生すると、ラマン散乱光の光路も変位してしまう、といった問題がある。
そして、ラマン散乱光の光路が変位すると、分光部に導光されるラマン散乱光が減少し、分光部からの出力信号も低下してしまうため、分光測定のS/N比が低下してしまうこととなる。
本発明は、かかる問題に鑑みてなされたものであり、外乱等によってラマン散乱光の光路が変位した場合であってもS/N比の高い測定を行うことができる顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法を提供することを目的とする。
本発明の第1の態様は、励起光が照射された試料から散射されるラマン散乱光を検出して分析する顕微ラマン分光測定装置において、励起光を出射するレーザ光源と、ラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器と、レーザ光源から出射した励起光が試料に向かうように反射すると共に、試料から散射されるラマン散乱光が分光部に向かうように透過する光弁別部と、光弁別部と分光器の間に配置され、光弁別部を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズと、集光レンズと分光器の間に配置され、分光器に入射するラマン散乱光を制限するアパーチャと、アパーチャを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように、集光レンズによって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャの位置が一致するように調整する調整手段と、を備える顕微ラマン分光測定装置に関する。
本発明の第2の態様は、励起光を出射するレーザ光源と、励起光が照射された試料から散射されるラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器と、レーザ光源から出射した励起光が試料に向かうように反射すると共に、試料から散射されるラマン散乱光が分光部に向かうように透過する光弁別部と、光弁別部と分光器の間に配置され、光弁別部を透過したラマン散乱光を集光する集光レンズと、集光レンズと分光器の間に配置され、分光器に入射するラマン散乱光を制限するアパーチャと、を備える顕微ラマン分光測定装置の調整方法において、アパーチャを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように、集光レンズによって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャの位置が一致するように調整する工程を含む、顕微ラマン分光測定装置の調整方法に関する。
本発明の顕微ラマン分光測定装置によれば、外乱等によってラマン散乱光の光路が変位した場合であっても、ラマン散乱光の光路とアパーチャの相対的な位置関係が調整されるため、分光器に入射するラマン散乱光が減少することはなく、S/N比の高い測定を行うことができる。また同様に、本発明の顕微ラマン分光測定装置の調整方法によれば、外乱等によってラマン散乱光の光路が変位した場合であっても、S/N比の高い測定を行うことができる。
以下、本発明の顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100のブロック図である。図1に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100は、試料Sが載置されるステージ101と、レーザ光源102と、コリメートレンズ103と、可動ミラー104と、第1フィルタ105と、ミラー106、107、108と、対物レンズ109と、第2フィルタ110と、結像レンズ111と、分光器120と、光ファイバ122と、アパーチャ部材124と、制御部130等を備えている。なお、図1において、グレーの太線は、レーザ光源102から出射される励起光(図1において破線矢印で示す)の光路と、試料Sから発せられるラマン散乱光(図1において実線矢印で示す)の光路を示している。なお、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100は、実際の測定に先立ってキャリブレーション(校正)を行うことができるように光路の調整機能を有しており、校正を行う場合には、試料Sとして、特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルが用いられる(詳細は後述)。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100のブロック図である。図1に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100は、試料Sが載置されるステージ101と、レーザ光源102と、コリメートレンズ103と、可動ミラー104と、第1フィルタ105と、ミラー106、107、108と、対物レンズ109と、第2フィルタ110と、結像レンズ111と、分光器120と、光ファイバ122と、アパーチャ部材124と、制御部130等を備えている。なお、図1において、グレーの太線は、レーザ光源102から出射される励起光(図1において破線矢印で示す)の光路と、試料Sから発せられるラマン散乱光(図1において実線矢印で示す)の光路を示している。なお、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100は、実際の測定に先立ってキャリブレーション(校正)を行うことができるように光路の調整機能を有しており、校正を行う場合には、試料Sとして、特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルが用いられる(詳細は後述)。
ステージ101は、試料Sを固定支持する支持台であり、試料Sは不図示のカバーガラスとスライドガラスに挟まれた状態でステージ101上に載置される。
レーザ光源102は、単波長の励起光を出射する装置である。レーザ光源102から出射された励起光はコリメートレンズ103によって平行光に成形され、可動ミラー104のミラー部104e(図2)の略中央部に入射する。
図2は、本実施形態の可動ミラー104の概略構成を説明する図である。可動ミラー104は、レーザ光源102から入射する励起光を第1フィルタ105に向けて反射する部材であり、図2に示すように、固定部104aと、ピエゾ素子104b、104cと、可動部104dと、可動部104dに固定されたミラー部104e等から構成されている。
固定部104aは、顕微ラマン分光測定装置100内の所定位置に固定される部材であり、ピエゾ素子104b、104cの一端部に接続されている。
ピエゾ素子104b、104cは、不図示の端子を介して制御部130と電気的に接続されており、制御部130から入力される電圧によって変形する(伸縮する)素子である。ピエゾ素子104b、104cの他端部は可動部104dに固定されており、ピエゾ素子104bが変形すると、可動部104dに固定されたミラー部104eが光軸AXを中心にX方向に回転し、ピエゾ素子104cが変形すると、可動部104dに固定されたミラー部104eがX方向と直交するY方向に回転するようになっている。上述のように、ミラー部104eの略中央部には励起光が入射するため、ミラー部104eがX方向及びY方向に回転することにより、励起光の反射方向が変更されることとなる。つまり、本実施形態の可動ミラー104は、制御部130からピエゾ素子104b、104cに入力される電圧を調整することにより、ミラー部104eの角度を変更することが可能になっており、これによってミラー部104eに入射される励起光を所望の方向に反射することが可能となっている。ミラー部104eによって反射された励起光は、第1フィルタ105に入射する(図1)。
第1フィルタ105(光弁別部)は、可動ミラー104からの励起光を反射すると共に、試料Sからのラマン散乱光を選択的に透過させるLPF(ロングパスフィルタ)である。図1に示すように、第1フィルタ105によって反射された励起光は、ミラー106、107によって反射され、対物レンズ109によってスポット状に集光され、ステージ101上の試料Sに照射される。
試料Sに励起光が照射されると、励起光スポット(つまり、励起光の集光位置)から光が放射される。放射される光には、試料Sにより散乱された光や反射された光が含まれ、それらの中には、本発明の顕微ラマン分光測定装置100に用いるラマン散乱光も含まれる。ラマン散乱光を含む放射光は、対物レンズ109、ミラー107、106を経て第1フィルタ105に入射する。
上述したように、第1フィルタ105は、ラマン散乱光を選択的に通過させる性質を有するフィルタであるため、第1フィルタ105を透過する透過光はラマン散乱光のみとなり、他の成分(試料Sからの他の散乱光や反射光)は第1フィルタ105によって取り除かれる。第1フィルタ105を透過したラマン散乱光は、ミラー108によって反射され、第2フィルタ110に入射する。
上述したように、第1フィルタ105は、ラマン散乱光を選択的に通過させる性質を有するフィルタであるため、第1フィルタ105を透過する透過光はラマン散乱光のみとなり、他の成分(試料Sからの他の散乱光や反射光)は第1フィルタ105によって取り除かれる。第1フィルタ105を透過したラマン散乱光は、ミラー108によって反射され、第2フィルタ110に入射する。
第2フィルタ110は、波長特性を改善するためのLPF(ロングパスフィルタ)である。第2フィルタ110を透過したラマン散乱光は、結像レンズ111によって集光され、アパーチャ部材124に入射する。
アパーチャ部材124は、結像レンズ111からのラマン散乱光が入射する略円形のアパーチャ(開口部)124aを有すると共に、分光器120と接続された光ファイバ122の一端部を支持する部材である。本実施形態のアパーチャ124aは、試料Sと共役な位置に配置されており、アパーチャ124aに結像されるスポット像と略合同の形状及びサイズを有するように構成されている。そして、アパーチャ124aを通過したラマン散乱光は、光ファイバ122によって分光器120に導光されるようになっている。
つまり、結像レンズ111によって結像されるスポット像の位置とアパーチャ124aの位置が正確に一致すると、試料S内の測定領域の光学的情報が、アパーチャ124aおよび光ファイバ122を介して、分光器120に過不足なく導入されるように構成されている。
なお、本実施形態のアパーチャ124aは、略円形(ピンホール)であるものとして説明するが、入射するラマン散乱光を規制して、所定の形状及びサイズのスポットに整形できればよく、任意の形状の開口を適用することができる。
つまり、結像レンズ111によって結像されるスポット像の位置とアパーチャ124aの位置が正確に一致すると、試料S内の測定領域の光学的情報が、アパーチャ124aおよび光ファイバ122を介して、分光器120に過不足なく導入されるように構成されている。
なお、本実施形態のアパーチャ124aは、略円形(ピンホール)であるものとして説明するが、入射するラマン散乱光を規制して、所定の形状及びサイズのスポットに整形できればよく、任意の形状の開口を適用することができる。
分光器120は、例えば回折格子を有し、光ファイバ122を通って入射されるラマン散乱光を分光して、試料S固有の(つまり、試料S内の測定領域の)スペクトルデータを得る。分光器120によって得られたスペクトルデータは、制御部130に送信される。
制御部130は、分光器120から受信するスペクトルデータを収集し、試料Sの組成、化学構造、結晶構造等の解析を行う装置であり、例えば市販のPC(Personal Computer)で構成することができる。
また上述したように、本実施形態の制御部130は、可動ミラー104のピエゾ素子104b、104cと電気的に接続されており、制御部130から出力される電圧によってピエゾ素子104b、104cを変形させ(伸縮させ)、ミラー部104eの角度を変更することが可能になっている。ミラー部104eの角度を変更すると、ミラー部104eによって反射される励起光の方向が変更されるため、第1フィルタ105に入射する励起光の方向が変更されることとなる。
そして、第1フィルタ105に入射する励起光の方向が変更されると、第1フィルタ105によって反射される励起光(つまり、試料Sに向かう励起光)の角度が変更される。この結果、試料Sに照射される励起光のスポット位置が変更されるため、試料Sから放射されるラマン散乱光の位置も変更されることになる。
そして、試料Sから放射されるラマン散乱光の位置が変更されと、第1フィルタ105に入射するラマン散乱光の方向が変更され、ミラー108、第2フィルタ110、結像レンズ111を通過するラマン散乱光の方向も変更され、アパーチャ部材124に集光されるスポット位置も変更されることとなる。
また上述したように、本実施形態の制御部130は、可動ミラー104のピエゾ素子104b、104cと電気的に接続されており、制御部130から出力される電圧によってピエゾ素子104b、104cを変形させ(伸縮させ)、ミラー部104eの角度を変更することが可能になっている。ミラー部104eの角度を変更すると、ミラー部104eによって反射される励起光の方向が変更されるため、第1フィルタ105に入射する励起光の方向が変更されることとなる。
そして、第1フィルタ105に入射する励起光の方向が変更されると、第1フィルタ105によって反射される励起光(つまり、試料Sに向かう励起光)の角度が変更される。この結果、試料Sに照射される励起光のスポット位置が変更されるため、試料Sから放射されるラマン散乱光の位置も変更されることになる。
そして、試料Sから放射されるラマン散乱光の位置が変更されと、第1フィルタ105に入射するラマン散乱光の方向が変更され、ミラー108、第2フィルタ110、結像レンズ111を通過するラマン散乱光の方向も変更され、アパーチャ部材124に集光されるスポット位置も変更されることとなる。
このように、本実施形態においては、制御部130によって、アパーチャ部材124に集光されるラマン散乱光のスポット位置を変更可能に構成し、例えば、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系(レーザ光源102、対物レンズ109、ミラー106、107、108、第1フィルタ105、第2フィルタ110)の位置ずれや角度ずれが発生した場合でも分光器120に入射するラマン散乱光が減少することがないように調整(校正)している。
(顕微ラマン分光測定装置100の調整方法(キャリブレーション処理))
図3は、アパーチャ部材124(アパーチャ124a)の位置と、アパーチャ部材124に集光されるラマン散乱光のスポット位置との関係を示す図である。各光学系(レーザ光源102、対物レンズ109、ミラー106、107、108、第1フィルタ105、第2フィルタ110)が理想的な位置に調整されている場合、アパーチャ部材124に集光されるラマン散乱光のスポット位置はアパーチャ部材124のアパーチャ124aの位置に略一致する(図3(a))。
しかし、各光学系の位置を一旦正確に調整したとしても、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系の位置ずれや角度ずれが発生することがある。そして、このような位置ずれや角度ずれが発生すると、ラマン散乱光の光路が変位してしまう結果、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係がずれてしまう(図3(b))。
このように、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係がずれてしまうと、アパーチャ124aに入るラマン散乱光が減少し、その結果、分光器120に入射するラマン散乱光が減少することとなる。
そこで、本実施形態においては、測定を開始する前に、試料Sとして特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルを使用し、アパーチャ124aを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように(つまり、図3(a)の状態となるように)、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係を調整するキャリブレーション処理を行っている。
具体的には、顕微ラマン分光測定装置100による測定を開始する前に、ステージ101上に試料S(基準サンプル)を載置し、不図示のユーザインターフェースを介してキャリブレーション処理を実行すると、制御部130が分光器120の出力をモニタし、分光器120の出力が最大となるようにピエゾ素子104b、104cに印加する電圧を変更する。そして、キャリブレーション処理が終了すると、分光器120の出力が最大となった状態(つまり、図3(a)の状態)で顕微ラマン分光測定装置100による測定(つまり、スペクトルデータの取得)を開始できるように構成されている。
図3は、アパーチャ部材124(アパーチャ124a)の位置と、アパーチャ部材124に集光されるラマン散乱光のスポット位置との関係を示す図である。各光学系(レーザ光源102、対物レンズ109、ミラー106、107、108、第1フィルタ105、第2フィルタ110)が理想的な位置に調整されている場合、アパーチャ部材124に集光されるラマン散乱光のスポット位置はアパーチャ部材124のアパーチャ124aの位置に略一致する(図3(a))。
しかし、各光学系の位置を一旦正確に調整したとしても、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系の位置ずれや角度ずれが発生することがある。そして、このような位置ずれや角度ずれが発生すると、ラマン散乱光の光路が変位してしまう結果、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係がずれてしまう(図3(b))。
このように、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係がずれてしまうと、アパーチャ124aに入るラマン散乱光が減少し、その結果、分光器120に入射するラマン散乱光が減少することとなる。
そこで、本実施形態においては、測定を開始する前に、試料Sとして特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルを使用し、アパーチャ124aを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように(つまり、図3(a)の状態となるように)、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係を調整するキャリブレーション処理を行っている。
具体的には、顕微ラマン分光測定装置100による測定を開始する前に、ステージ101上に試料S(基準サンプル)を載置し、不図示のユーザインターフェースを介してキャリブレーション処理を実行すると、制御部130が分光器120の出力をモニタし、分光器120の出力が最大となるようにピエゾ素子104b、104cに印加する電圧を変更する。そして、キャリブレーション処理が終了すると、分光器120の出力が最大となった状態(つまり、図3(a)の状態)で顕微ラマン分光測定装置100による測定(つまり、スペクトルデータの取得)を開始できるように構成されている。
このように、本実施形態の構成によれば、顕微ラマン分光測定装置100による測定を開始する前に、アパーチャ124aを通過するラマン散乱光の光量が最大となるように(つまり、図3(a)の状態となるように)、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係が調整されるため、仮に、環境温度の変化や振動等、外乱の影響によって各光学系の位置ずれや角度ずれが発生した場合でも分光器120に入射するラマン散乱光が減少することがない。
従って、常にS/N比の高い状態で測定を行うことが可能となる。
従って、常にS/N比の高い状態で測定を行うことが可能となる。
以上が本実施形態の説明であるが、本発明は、上記の構成に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内において様々な変形が可能である。
例えば、本実施形態においては、可動ミラー104のミラー部104eの角度を変更することによって励起光の光路を移動する(変更する)構成としたが、必ずしもこのような構成に限定されるものではなく、励起光又はラマン散乱光の少なくともいずれか一方の光路を移動させればよい。ラマン散乱光の光路を移動させる構成としては、例えば、結像レンズ111を支持し、ラマン散乱光の光路と直交する方向に結像レンズ111を移動させる移動手段を備える構成を採ることができる。また、アパーチャ部材124を支持し、ラマン散乱光の光路と直交する方向にアパーチャ部材124を移動させる移動手段を備える構成とすることもできる。
また、本実施形態の可動ミラー104のミラー部104eは、ピエゾ素子104b、104cによって回動するものとしたが、ミラー部104eの角度を変更できればよく、例えば圧電素子や減速機構付きパルスモータ等を使用することもできる。
また、本実施形態においては、アパーチャ124aが形成されたアパーチャ部材124を備える構成としたが、光ファイバ122のコアが一種のアパーチャとして機能するため、アパーチャ部材124は必ずしも必要ではない。
また、本実施形態のキャリブレーション処理(調整方法)においては、試料Sとして特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルを使用するものとしたが、例えば、実際の測定に使用する試料Sのラマン散乱光の波長が予め分かっている場合には、基準サンプルに代えて、実際の測定に使用する試料Sを使用することができる。
また、ステージ101上に、実際の測定に使用する試料Sと基準サンプルを載置できる構成とし、キャリブレーション処理時と実際の測定時とで、基準サンプルと実際の測定に使用する試料Sとを切り替えてもよい。
また、ステージ101上に、実際の測定に使用する試料Sと基準サンプルを載置できる構成とし、キャリブレーション処理時と実際の測定時とで、基準サンプルと実際の測定に使用する試料Sとを切り替えてもよい。
(第2の実施形態)
図4は、本発明の第2の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Aのブロック図である。図4に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100Aは、ミラー104Aが固定され、可動ミラー108Aが可動する構成となっている点で第1の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100と異なる。なお、本実施形態の可動ミラー108Aの構成は、第1の実施形態の可動ミラー104の構成と同一である。
可動ミラー108Aを回動させると、可動ミラー108Aから分光器120に向かうラマン散乱光の光路を移動させることができるため、第1の実施形態と同様、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係を調整することができる。
図4は、本発明の第2の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Aのブロック図である。図4に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100Aは、ミラー104Aが固定され、可動ミラー108Aが可動する構成となっている点で第1の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100と異なる。なお、本実施形態の可動ミラー108Aの構成は、第1の実施形態の可動ミラー104の構成と同一である。
可動ミラー108Aを回動させると、可動ミラー108Aから分光器120に向かうラマン散乱光の光路を移動させることができるため、第1の実施形態と同様、ラマン散乱光の光路(つまり、スポット位置)とアパーチャ部材124のアパーチャ124aの相対的な位置関係を調整することができる。
(第3の実施形態)
図5は、本発明の第3の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Bのブロック図である。図5に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100Bは、アパーチャ124aが分光器120の入射口に形成されている(つまり、分光器120の入射口がアパーチャ124aを兼ねている)点で第2の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Aと異なる。
本実施形態の構成によれば、アパーチャ部材124や光ファイバ122等、ラマン散乱光を分光器120に導光するための特別な部材が不要となる。
図5は、本発明の第3の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Bのブロック図である。図5に示すように、本実施形態の顕微ラマン分光測定装置100Bは、アパーチャ124aが分光器120の入射口に形成されている(つまり、分光器120の入射口がアパーチャ124aを兼ねている)点で第2の実施形態に係る顕微ラマン分光測定装置100Aと異なる。
本実施形態の構成によれば、アパーチャ部材124や光ファイバ122等、ラマン散乱光を分光器120に導光するための特別な部材が不要となる。
[態様]
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
(第1項)一態様に係る顕微ラマン分光測定装置(100、100A)は、
励起光が照射された試料(S)から散射されるラマン散乱光を検出して分析する顕微ラマン分光測定装置(100、100A)であって、
前記励起光を出射するレーザ光源(102)と、
前記ラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器(120)と、
前記レーザ光源(102)から出射した前記励起光が前記試料(S)に向かうように反射すると共に、前記試料(S)から散射される前記ラマン散乱光が前記分光器(120)に向かうように透過する光弁別部(105)と、
前記光弁別部(105)と前記分光器(120)の間に配置され、前記光弁別部(105)を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズ(111)と、
前記集光レンズ(111)と前記分光器(120)の間に配置され、前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光を制限するアパーチャ(124a)と、
前記アパーチャ(124a)を通過する前記ラマン散乱光の光量が最大となるように、前記集光レンズ(111)によって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置と前記アパーチャ(124a)の位置が一致するように調整する調整手段(104、130)と、を備えるように構成されている。
励起光が照射された試料(S)から散射されるラマン散乱光を検出して分析する顕微ラマン分光測定装置(100、100A)であって、
前記励起光を出射するレーザ光源(102)と、
前記ラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器(120)と、
前記レーザ光源(102)から出射した前記励起光が前記試料(S)に向かうように反射すると共に、前記試料(S)から散射される前記ラマン散乱光が前記分光器(120)に向かうように透過する光弁別部(105)と、
前記光弁別部(105)と前記分光器(120)の間に配置され、前記光弁別部(105)を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズ(111)と、
前記集光レンズ(111)と前記分光器(120)の間に配置され、前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光を制限するアパーチャ(124a)と、
前記アパーチャ(124a)を通過する前記ラマン散乱光の光量が最大となるように、前記集光レンズ(111)によって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置と前記アパーチャ(124a)の位置が一致するように調整する調整手段(104、130)と、を備えるように構成されている。
第1項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、外乱等によってラマン散乱光の光路が変位した場合であっても、ラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャの位置が一致するように調整されるため、分光器に入射するラマン散乱光が減少することはなく、S/N比の高い測定を行うことができる。
(第2項)第1項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記調整手段(104、130)は、前記レーザ光源(102)から前記光弁別器(105)に向かう前記励起光の光路中に配置され、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第1のミラー部(104)を有するように構成されている。
前記調整手段(104、130)は、前記レーザ光源(102)から前記光弁別器(105)に向かう前記励起光の光路中に配置され、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第1のミラー部(104)を有するように構成されている。
第2項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、第1のミラー部の角度を変更することにより、ラマン散乱光の光路の位置を容易に変更することができる。
(第3項)第1項又は第2項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記調整手段(104、130)は、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路中に配置され、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第2のミラー部(108A)を有するように構成されている。
前記調整手段(104、130)は、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路中に配置され、前記光弁別器(105)から前記分光器(120)に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第2のミラー部(108A)を有するように構成されている。
第3項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、第2のミラー部の角度を変更することにより、ラマン散乱光の光路の位置を容易に変更することができる。
(第4項)第1項から第3項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記調整手段(104、130)は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記アパーチャ(124a)を移動させる第1の移動手段を有するように構成されている。
前記調整手段(104、130)は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記アパーチャ(124a)を移動させる第1の移動手段を有するように構成されている。
第4項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、第1の移動手段を移動させることにより、ラマン散乱光の光路の相対的位置を容易に変更することができる。
(第5項)第1項から第4項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記調整手段(104、130)は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記集光レンズ(111)移動させる第2の移動手段を有するように構成されている。
前記調整手段(104、130)は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記集光レンズ(111)移動させる第2の移動手段を有するように構成されている。
第5項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、第2の移動手段を移動させることにより、ラマン散乱光の光路の相対的位置を容易に変更することができる。
(第6項)第1項から第5項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記アパーチャ(124a)を通過した前記ラマン散乱光を前記分光器(120)に導光する光ファイバ(122)を備えるように構成されている。
前記アパーチャ(124a)を通過した前記ラマン散乱光を前記分光器(120)に導光する光ファイバ(122)を備えるように構成されている。
第6項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、アパーチャを通過したラマン散乱光を容易に分光器まで導光することができる。
(第7項)第6項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記アパーチャ(124a)が、前記光ファイバの入射面上に形成されている。
前記アパーチャ(124a)が、前記光ファイバの入射面上に形成されている。
第7項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、特別な部材を追加することなくラマン散乱光を制限することができる。
(第8項)第1項から第5項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記アパーチャ(124a)が、前記分光器光(120)の入射口に形成されている。
前記アパーチャ(124a)が、前記分光器光(120)の入射口に形成されている。
第8項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、特別な部材を追加することなくラマン散乱光を制限することができる。
(第9項)第1項から第8項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記試料(S)は、特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルである。
前記試料(S)は、特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルである。
第9項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、所定強度のラマン散乱光を得ることができるため、正確なキャリブレーションを行うことが可能となる。
(第10項)第1項から第9項のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光測定装置(100、100A)において、
前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光の光量を取得する光量取得手段(130)と、
前記調整手段(104、130)を駆動する駆動手段(104b、104c)と、
前記光量取得手段(130)によって取得した前記光量に基づいて前記駆動手段(104b、104c)を駆動する制御手段(130)と、をさらに備えるように構成されている。
前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光の光量を取得する光量取得手段(130)と、
前記調整手段(104、130)を駆動する駆動手段(104b、104c)と、
前記光量取得手段(130)によって取得した前記光量に基づいて前記駆動手段(104b、104c)を駆動する制御手段(130)と、をさらに備えるように構成されている。
第10項に記載の顕微ラマン分光測定装置によれば、ラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャの位置が一致するように自動的に調整することができる。
(第11項)一態様に係る顕微ラマン分光測定装置(100、100A)の調整方法は、
励起光を出射するレーザ光源(102)と、前記励起光が照射された試料(S)から散射されるラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器(120)と、前記レーザ光源(102)から出射した前記励起光が前記試料(S)に向かうように反射すると共に、前記試料(S)から散射される前記ラマン散乱光が前記分光部(120)に向かうように透過する光弁別部(105)と、前記光弁別部(105)と前記分光器(120)の間に配置され、前記光弁別部(105)を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズ(111)と、前記集光レンズ(111)と前記分光器(120)の間に配置され、前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光を制限するアパーチャ(124a)と、を備える顕微ラマン分光測定装置(100、100A)の調整方法において、
前記アパーチャ(124a)を通過する前記ラマン散乱光の光量が最大となるように、前記集光レンズ(111)によって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置と前記アパーチャ(124a)の位置が一致するように調整する工程を含む。
励起光を出射するレーザ光源(102)と、前記励起光が照射された試料(S)から散射されるラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器(120)と、前記レーザ光源(102)から出射した前記励起光が前記試料(S)に向かうように反射すると共に、前記試料(S)から散射される前記ラマン散乱光が前記分光部(120)に向かうように透過する光弁別部(105)と、前記光弁別部(105)と前記分光器(120)の間に配置され、前記光弁別部(105)を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズ(111)と、前記集光レンズ(111)と前記分光器(120)の間に配置され、前記分光器(120)に入射する前記ラマン散乱光を制限するアパーチャ(124a)と、を備える顕微ラマン分光測定装置(100、100A)の調整方法において、
前記アパーチャ(124a)を通過する前記ラマン散乱光の光量が最大となるように、前記集光レンズ(111)によって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置と前記アパーチャ(124a)の位置が一致するように調整する工程を含む。
第11項に記載の顕微ラマン分光測定装置の調整方法によれば、外乱等によってラマン散乱光の光路が変位した場合であっても、ラマン散乱光のスポット像の位置とアパーチャの位置が一致するように調整されるため、分光器に入射するラマン散乱光が減少することはなく、S/N比の高い測定を行うことができる。
100 :顕微ラマン分光測定装置
100A :顕微ラマン分光測定装置
101 :ステージ
102 :レーザ光源
103 :コリメートレンズ
104 :可動ミラー
104A :ミラー
104a :固定部
104b :ピエゾ素子
104c :ピエゾ素子
104d :可動部
104e :ミラー部
105 :第1フィルタ
106 :ミラー
107 :ミラー
108 :ミラー
108A :可動ミラー
109 :対物レンズ
110 :第2フィルタ
111 :結像レンズ
120 :分光器
122 :光ファイバ
124 :アパーチャ部材
124a :アパーチャ
130 :制御部
S :試料
100A :顕微ラマン分光測定装置
101 :ステージ
102 :レーザ光源
103 :コリメートレンズ
104 :可動ミラー
104A :ミラー
104a :固定部
104b :ピエゾ素子
104c :ピエゾ素子
104d :可動部
104e :ミラー部
105 :第1フィルタ
106 :ミラー
107 :ミラー
108 :ミラー
108A :可動ミラー
109 :対物レンズ
110 :第2フィルタ
111 :結像レンズ
120 :分光器
122 :光ファイバ
124 :アパーチャ部材
124a :アパーチャ
130 :制御部
S :試料
Claims (10)
- 励起光が照射された試料から散射されるラマン散乱光を検出して分析する顕微ラマン分光測定装置において、
前記励起光を出射するレーザ光源と、
前記ラマン散乱光のスペクトルを計測する分光器と、
前記レーザ光源から出射した前記励起光が前記試料に向かうように反射すると共に、前記試料から散射される前記ラマン散乱光が前記分光器に向かうように透過する光弁別部と、
前記光弁別部と前記分光器の間に配置され、前記光弁別部を透過した前記ラマン散乱光を集光する集光レンズと、
前記集光レンズと前記分光器の間に配置され、前記分光器に入射する前記ラマン散乱光を制限するアパーチャと、
前記アパーチャを通過する前記ラマン散乱光の光量が最大となるように、前記集光レンズによって集光されるラマン散乱光のスポット像の位置と前記アパーチャの位置が一致するように調整する調整手段と、を備える顕微ラマン分光測定装置。 - 前記調整手段は、前記レーザ光源から前記光弁別器に向かう前記励起光の光路中に配置され、前記光弁別器から前記分光器に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第1のミラー部を有する、請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記調整手段は、前記光弁別器から前記分光器に向かう前記ラマン散乱光の光路中に配置され、前記光弁別器から前記分光器に向かう前記ラマン散乱光の光路の位置を変更する第2のミラー部を有する、請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記調整手段は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記アパーチャを移動させる第1の移動手段を有する、請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記調整手段は、前記ラマン散乱光の光路と直交する方向に前記集光レンズを移動させる第2の移動手段を有する、請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記アパーチャを通過した前記ラマン散乱光を前記分光器に導光する光ファイバを備える請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記アパーチャが、前記光ファイバの入射面上に形成されている請求項6に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記アパーチャが、前記分光器光の入射口に形成されている請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記試料は、特定の波長のラマン散乱光を発する基準サンプルである請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
- 前記分光器に入射する前記ラマン散乱光の光量を取得する光量取得手段と、
前記調整手段を駆動する駆動手段と、
前記光量取得手段によって取得した前記光量に基づいて前記駆動手段を駆動する制御手段と、をさらに備える請求項1に記載の顕微ラマン分光測定装置。
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