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WO2021014740A1 - 排ガス分析装置、ガス供給方法、及び排ガスサンプリング装置 - Google Patents

排ガス分析装置、ガス供給方法、及び排ガスサンプリング装置 Download PDF

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WO2021014740A1
WO2021014740A1 PCT/JP2020/020448 JP2020020448W WO2021014740A1 WO 2021014740 A1 WO2021014740 A1 WO 2021014740A1 JP 2020020448 W JP2020020448 W JP 2020020448W WO 2021014740 A1 WO2021014740 A1 WO 2021014740A1
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WO
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exhaust gas
gas
flow path
path
analyzer
Prior art date
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PCT/JP2020/020448
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English (en)
French (fr)
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喜則 大槻
フーベ フローリアン
謙次 近藤
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Publication date
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Priority to JP2021534562A priority patent/JP7461951B2/ja
Priority to EP20843635.2A priority patent/EP4006522A4/en
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    • G01N2015/0042—Investigating dispersion of solids
    • G01N2015/0046—Investigating dispersion of solids in gas, e.g. smoke

Definitions

  • the present invention relates to an exhaust gas analyzer and a gas supply method for supplying gas to the exhaust gas analyzer.
  • the conventional exhaust gas analyzer is provided with a return path for returning a part of the exhaust gas flowing through the sampling flow path from the downstream side to the upstream side, and by providing a filter in this return path, the return path is provided.
  • Some have a so-called reflux type dilution mechanism that returns the exhaust gas flowing into the sample as a dilution gas to the sampling flow path.
  • an exhaust gas analyzer needs to check and calibrate the zero level of the analyzer and purge the sampling flow path, for example, before and after the exhaust gas analysis.
  • the present invention has been made to solve the above-mentioned problems at once, and is an exhaust gas capable of calibrating the analyzer and purging the sampling flow path without removing the sampling probe from the sampling location.
  • the main task is to provide an analyzer.
  • the exhaust gas analyzer has a sampling flow path through which exhaust gas from an internal combustion engine flows, an analyzer connected to the sampling flow path to analyze the exhaust gas, and upstream of the analyzer in the sampling flow path.
  • a diluter provided, a recirculation path that branches from a branch point set between the analyzer and the diluter in the sampling flow path and joins the diluter, and a recirculation path provided in the recirculation path, said.
  • the exhaust gas analyzer configured in this way, since the additional flow path through which the calibration gas and the purge gas flow is connected to the return path or the sampling flow path, the opening / closing mechanism of the additional flow path is opened. Therefore, the calibration gas and the purge gas can flow into the return path and the sampling flow path. This makes it possible to calibrate the analyzer and purge the sampling channel without removing the sampling probe from the sampling channel from the sampling location.
  • the calibration gas or a part of the purge gas introduced into the reflux path from the additional flow path.
  • the sample flows to the upstream side of the sampling flow path through the diluter.
  • the flow rate of the analytical gas which is the flow rate of the gas introduced into the analyzer
  • the recirculation path is controlled from the additional flow rate. It is preferable that the additional flow rate, which is the flow rate of the calibration gas or the purge gas introduced into the above, is larger than the first flow rate.
  • the flow rate of the gas flowing from the reflux path to the diluter is controlled by the second flow rate, and the additional flow rate is the flow rate of the calibration gas or the purge gas introduced into the reflux path from the additional flow path.
  • the second flow rate is the flow rate of the calibration gas or the purge gas introduced into the reflux path from the additional flow path.
  • the analyzer analyzes the components contained in the exhaust gas in a state where the opening / closing mechanism is closed, and the additional flow path is connected to the additional flow path in a state where the opening / closing mechanism is open. Examples thereof include a mode in which the calibration gas or the purge gas flows.
  • the analyzer analyzes the particulate matter in the exhaust gas, and a configuration in which a filter for capturing the particulate matter is provided in the reflux path can be mentioned.
  • the filter is provided upstream of the pump in the return path. With such a configuration, it is possible to reduce the inflow of particulate matter into the pump, and it is possible to prevent the pump from malfunctioning.
  • the additional flow path is connected between the pump and the filter in the return path.
  • the additional flow path is provided with a second filter for capturing particulate matter in the atmosphere, and the opening / closing mechanism is open. It is preferable that the atmosphere that has passed through the second filter is introduced from the additional flow path into the reflux path as the calibration gas or the purge gas.
  • the calibration method according to the present invention is provided in a sampling flow path through which exhaust gas from an internal combustion engine flows, an analyzer connected to the sampling flow path to analyze the exhaust gas, and upstream of the analyzer in the sampling flow path.
  • a method of supplying gas to an exhaust gas analyzer including a pump for guiding a part of the exhaust gas to a vessel, wherein an additional flow path through which a calibration gas or a purge gas flows is connected to the return path or the sampling flow path. This method is characterized in that the calibration gas or the purge gas is guided to the sampling flow path by opening the opening / closing mechanism provided in the additional flow path.
  • the exhaust gas sampling device is an exhaust gas sampling device that samples exhaust gas from an internal combustion engine to an analyzer, and is connected to the analyzer, and has a sampling flow path through which the exhaust gas flows and the sampling flow.
  • a diluter provided upstream of the analyzer in the path, a recirculation path branching from a branch point set between the analyzer and the diluter in the sampling flow path and joining the diluter, and the above.
  • a pump provided in the recirculation path to guide a part of the exhaust gas from the branch point to the diluter, and an additional flow path connected to the recirculation path or the sampling flow path to flow a calibration gas or a purge gas. It is characterized by including an opening / closing mechanism provided in the additional flow path.
  • the analyzer can be calibrated and the sampling flow path can be purged without removing the sampling probe from the sampling location.
  • the schematic diagram which shows the usage mode of the exhaust gas analyzer of this embodiment The schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of the same embodiment.
  • the schematic diagram which shows the principle of the analyzer of the same embodiment The flowchart for demonstrating the operation of the exhaust gas analyzer of the same embodiment.
  • the schematic diagram for demonstrating the gas flow rate flowing through the exhaust gas analyzer of the same embodiment The schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of another embodiment.
  • the schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of another embodiment The schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of another embodiment.
  • the schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of another embodiment The schematic diagram which shows the structure of the exhaust gas analyzer of another embodiment.
  • the exhaust gas analyzer 100 of the present embodiment is an in-vehicle type mounted on a vehicle VH.
  • the exhaust gas analyzer 100 may be a stationary type that is not mounted on the vehicle VH.
  • the exhaust gas analyzer 100 includes an exhaust gas sampling device 1 that samples the exhaust gas emitted from the internal combustion engine E, and an analyzer X that analyzes the sampled exhaust gas.
  • the exhaust gas sampling device L1 has an exhaust gas sampling flow path L1 provided with a sampling probe (not shown) at one end, and by attaching this sampling probe to, for example, a sampling location near the tail pipe, the exhaust gas discharged from the internal combustion engine E A part or all of the above is sampled.
  • the sampling flow path L1 here is partially composed of a heating tube unit called a hot hose, and is configured to guide the collected exhaust gas to the analyzer X while heating or maintaining it at a predetermined temperature. ..
  • the analyzer X is connected to the other end of the sampling flow path L1 to analyze the particulate matter contained in the exhaust gas, and here, a particle number measuring mechanism for measuring the number of particles (PN) of the particulate matter. X.
  • a condensed nuclear counter As an example of the particle number measuring mechanism, as shown in FIG. 3, what is called a condensed nuclear counter (CPC) can be mentioned.
  • This CPC is guided to the heating section A1 containing an organic gas such as alcohol or butanol, and then cooled by the condensing section A2 to condense and adhere the organic gas to the particulate matter in the exhaust gas to grow into a large diameter.
  • the grown particulate matter is discharged from the slit A3, and the emitted particles are counted by the laser beam R.
  • a critical orifice type constant flow rate means (not shown) is provided downstream of the CPC as a flow rate controller, and a constant flow rate of gas flows through the CPC.
  • the exhaust gas sampling device 1 of the present embodiment further includes a dilution mechanism 10 for diluting the sampled exhaust gas.
  • the dilution mechanism 10 samples a part of the exhaust gas flowing through the sampling flow path L1, removes the particulate matter (measurement target) contained in the exhaust gas to obtain a diluted gas, and then returns the diluted gas to the sampling flow path L1.
  • So-called reflux type So-called reflux type.
  • this dilution mechanism 10 branches from the branch point L1a set on the sampling flow path L1 and joins the confluence point L1b set on the sampling flow path L1 to generate exhaust gas flowing through the sampling flow path L1. It has a return path L2 that returns a part of the sampling flow path L1 from the downstream side to the upstream side.
  • a diluter MIX is provided at the confluence point L1b, and a branch point L1a is set between the diluter MIX and the analyzer X.
  • the return path L2 is provided with a pump P for circulating the fluid flowing through the return path L2, and a failure of the pump P or the like is provided upstream of the pump P, that is, between the pump P and the branch point L1a.
  • a first filter F1 that captures particulate matter contained in the exhaust gas may be provided in order to prevent the above.
  • flow control for controlling the flow rate of the diluted gas, which is the flow rate of the diluted gas flowing into the diluent MIX from the return path L2, downstream of the pump P in the return path L2, that is, between the pump P and the diluent MIX.
  • a vessel 11 is provided.
  • the flow rate controller 11 here is a venturi as a constant flow rate means, but for example, a mass flow controller, a flow rate adjusting valve, or the like may be used.
  • a second filter F2 that captures particulate matter may be provided downstream of the pump P in the return path L2, that is, between the pump P and the diluter MIX.
  • a second filter F2 that captures particulate matter may be provided.
  • the second filter F2 here is provided between the pump P and the flow rate controller 11, it may be provided between the flow rate adjusting device 11 and the diluter MIX.
  • a dehumidifier 12 for reducing the humidity of the diluting gas flowing into the diluter MIX may be provided downstream of the pump P in the return path L2, that is, between the pump P and the diluter MIX. ..
  • the dehumidifier 12 here is provided between the pump P and the second filter F2, but is between the second filter F2 and the flow rate controller 11, or between the flow rate controller 11 and the diluent MIX. It may be provided between the two, or may be provided upstream of the pump P.
  • the exhaust gas analyzer 100 of the present embodiment is connected to the upstream of the pump P in the return path L2, and has an additional flow path L3 through which the calibration gas or the purge gas flows, and an opening / closing mechanism V1 provided in the additional flow path L3.
  • the control device 20 for controlling the opening / closing mechanism V1 to the open state or the closed state is further provided.
  • the opening / closing mechanism V1 is manually opened / closed, the function related to the control device 20 described later may not be used.
  • calibration gas or purge gas is introduced from one end, and the other end is connected to the upstream side (negative pressure side) of the pump P in the return path L2.
  • the calibration gas is a zero gas for zero check of the analyzer X, that is, a gas that does not substantially contain particulate matter. Further, in the present embodiment, the calibration gas is also used as the purge gas.
  • air atmosphere
  • the additional flow path L3 is provided with a third filter F3 that captures particulate matter contained in the air.
  • the third filter F3 here is provided upstream of the opening / closing mechanism V1, it may be provided downstream of the opening / closing mechanism V1.
  • the additional flow rate L3 is provided with a flow rate adjusting valve V2 which is a flow rate controller for adjusting the additional flow rate which is the flow rate of the calibration gas or the purge gas, and is supplied from the additional flow rate L3 to the return path L2.
  • the flow rate of the calibration gas or purge gas is constant.
  • the flow rate controller a mass flow controller, a plurality of venturis connected in parallel in a switchable manner, or the like may be used.
  • the opening / closing mechanism V1 switches between an open state in which the calibration gas or the purge gas is supplied from the additional flow path L3 to the return path L2 and a closed state in which the supply is stopped, and here, a control signal from the control device 20. It is an on-off valve such as an electromagnetic valve that operates by.
  • the control device 20 is physically provided with a CPU, an internal memory, an input / output interface, and the like, and the CPU and other components cooperate with each other based on the gas supply program stored in the internal memory. Therefore, as shown in FIG. 2, the analysis start signal, the calibration start signal, and the purge start signal are received, and the control signal is output to the opening / closing mechanism V1 based on these signals.
  • control device 20 will be described with reference to FIGS. 4 and 5.
  • control device 20 When the control device 20 receives the analysis start signal input via an input interface such as a mouse, keyboard, or touch panel, it outputs a control signal to the opening / closing mechanism V1 and switches the opening / closing mechanism V1 to the closed state (S1, S2). ).
  • an input interface such as a mouse, keyboard, or touch panel
  • the flow rate controller is provided downstream of the analyzer X and in the return path L2, the flow rate of the analytical gas guided to the analyzer X is as shown in FIG. 5A.
  • the first flow rate A (hereinafter referred to as analytical gas flow rate A) and the second flow rate B (hereinafter referred to as supply flow rate B), which is the flow rate of the flowing gas supplied from the return path L2 to the diluter MIX, are constant flow rates. ..
  • the supply flow rate B at the time of exhaust gas analysis is the supply flow rate of the diluted gas supplied from the reflux path L2 to the diluent MIX.
  • the third flow rate C (hereinafter referred to as the mixed gas flow rate C), which is the flow rate of the mixed gas composed of the exhaust gas and the diluted gas flowing from the diluter to the branch point L1a, is analyzed. It is the total flow rate of the gas flow rate A and the supply flow rate B. Since the analytical gas flow rate A and the supply flow rate B are constant as described above, the mixed gas flow rate C is also controlled to be constant.
  • the fourth flow rate D (hereinafter referred to as sampling flow rate D), which is the flow rate of the gas sampled from one end of the sampling flow path L1, is the flow rate of the difference between the mixed gas flow rate C and the supply flow rate B. Since the mixed gas flow rate C and the supply flow rate B are constant flow rates, the sampling flow rate D is also controlled to a constant flow rate.
  • the analytical gas flow rate A is set to 1 and the diluted gas flow rate B is set to 4, as shown in FIG. 5A.
  • the mixed gas flow rate C is 5, which is the sum of the analytical gas flow rate A and the diluted gas flow rate B
  • the sampling flow rate D is 1, which is obtained by subtracting the diluted gas flow rate B from the mixed gas flow rate C.
  • the exhaust gas sampled from one end side of the sampling flow path L1 is diluted 5-fold with the diluting gas and guided to the analyzer X.
  • control device 20 determines whether or not the analysis end signal for terminating the analysis has been received (S3), and ends the exhaust gas analysis when the analysis end signal is received.
  • the calibration or purging is preferably performed before or after the exhaust gas analysis, but may be performed only before or after the exhaust gas analysis.
  • control device 20 When the control device 20 receives the calibration start signal or the purge start signal input via the input interface of the mouse, keyboard, touch panel, etc., it outputs a control signal to the opening / closing mechanism V1 and switches the opening / closing mechanism V1 to the open state. (S4, S5).
  • the fifth flow rate (hereinafter referred to as the additional flow rate E), which is the flow rate of the calibration gas or the purge gas supplied from the additional flow path L3 to the return path L2, is also a constant flow rate.
  • the additional flow rate E is set to be larger than the analysis gas flow rate A.
  • the additional flow rate E is smaller than the supply flow rate B.
  • the sixth flow rate (hereinafter referred to as branch flow rate F), which is the flow rate of the gas branching from the branch point L1a of the sampling flow path L1 to the return path L2, is 2 obtained by subtracting the additional flow rate E from the supply flow rate B. ..
  • the mixed gas flow rate C becomes 3, which is the sum of the analytical gas flow rate A and the branch flow rate F.
  • surplus flow rate G which is the flow rate of the remaining gas is the diluter. It is guided to the upstream side through MIX.
  • the mixed gas at the time of calibration or purging does not contain exhaust gas and becomes the calibration gas or purge gas itself, and the gas supplied to the diluter MIX is also the calibration gas or purge gas itself.
  • control device 20 determines whether or not the end signal for terminating the calibration or purge has been received (S6), and when the end signal is received, ends the calibration or purge.
  • the exhaust gas analyzer 100 configured in this way, since the additional flow path L3 through which the calibration gas and the purge gas flow flows is connected to the upstream of the pump P in the return path L2, the additional flow path By opening the opening / closing mechanism V1 of L3, the calibration gas and the purge gas can flow into the sampling flow path L1 from the reflux path L2 by utilizing the negative pressure of the pump P. As a result, the analyzer X can be calibrated and the sampling flow path L1 can be purged without removing the sampling probe of the sampling flow path L1 from the sampling location.
  • control device 20 switches the opening / closing mechanism V1 to the open state or the closed state, it is possible to automate the switching between the exhaust gas analysis and the calibration or the purge.
  • the additional flow rate E is larger than the analysis gas flow rate A, a part of the calibration gas or the purge gas introduced from the additional flow path L3 into the return path L2 flows back through the diluent MIX to the sampling flow path L1. , Exhaust gas can be surely prevented from flowing into the analyzer X, and calibration and purging can be performed appropriately.
  • the additional flow path L3 is connected between the pump P and the first filter F1 in the return path L2, particulate matter from the exhaust gas is discharged to the connection point of the additional flow path L3 at the time of exhaust gas analysis.
  • the trapped diluted gas will flow, and the contamination of the additional flow path L3 can be reduced.
  • the dehumidifier 12 is provided downstream of the pump P in the return path L2, the calibration gas and the purge gas can be dried and flowed, so that the moisture contained in these gases is suppressed from dew condensation. can do.
  • the present invention is not limited to the above embodiment.
  • connection point of the additional flow path L3 is between the first filter F1 and the pump P in the above embodiment, but as shown in FIG. 6A, the connection point is the branch point L1a. It may be between the first filter F1 and the like. Further, as shown in FIG. 6B, the connection point of the additional flow path L3 is between the diluter MIX and the branch point L1a in the sampling flow path L1 (a concept including the diluter MIX and the branch point L1a). An additional flow path L3 may be connected to. Further, as shown in FIG. 7, if the pumping means B is provided in the additional flow path L3, the connection point of the additional flow path L3 may be downstream of the pump P in the return path L2.
  • connection point of the additional flow path L3 may be on the upstream side of the diluent MIX in the sampling flow path L1.
  • it may be between the branch point L1a and the analyzer X.
  • calibration start signal and the purge open signal are used as separate signals so that calibration and purge can be executed as separate operations, but calibration and purge can be executed at once in one operation. You may.
  • the calibration gas of the above embodiment is a zero gas for zero check, but for example, a gas for span calibration having a known concentration may be used.
  • the opening / closing mechanism V1 is an opening / closing valve such as a solenoid valve controlled by the control device 20 in the above embodiment
  • the opening / closing mechanism V1 may be one that can be manually switched between the open state and the closed state by the user.
  • Examples of such a device include those configured to switch to an open state or a closed state by removing, for example, a cap provided in the additional flow path L3.
  • a needle valve or a flow rate control valve may be provided in the additional flow path L3 so that the additional flow rate can be adjusted.
  • the exhaust gas analyzer 100 does not necessarily require the Venturi, which is the flow rate controller 11, the second filter F2, the dehumidifier 12, and the flow rate adjusting valve V2, which is the flow rate controller, described in the above embodiment. , As shown in FIG. 9, one, a plurality, or all of these may not be provided.
  • the first filter F1 may be provided upstream of the pump P in the return path L2 or may be provided downstream.
  • the analyzer X is not limited to the CPC that measures the number of particles of the particulate matter contained in the exhaust gas, and may measure the amount (PM) of the particulate matter. Further, the analyzer X analyzes various components contained in the exhaust gas such as carbon monoxide (CO), carbon dioxide (CO 2 ), nitrogen oxides (NO X ), and hydrocarbons (HC). Is also good. In this case, if an exhaust gas cleaning device such as a scrubber is provided instead of the first filter F1 or the second filter F2 of the above embodiment, the exhaust gas introduced into the recirculation path L2 is supplied to the diluter MIX as a diluting gas. can do.
  • CO carbon monoxide
  • CO 2 carbon dioxide
  • NO X nitrogen oxides
  • HC hydrocarbons
  • the analyzer can be calibrated and the sampling flow path can be purged without removing the sampling probe from the sampling location.

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Abstract

サンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計を校正したり、サンプリング流路をパージしたりできるようにするべく、内燃機関Ｅからの排ガスが流れるサンプリング流路Ｌ１と、サンプリング流路Ｌ１に接続されて排ガスを分析する分析計Ｘと、サンプリング流路Ｌ１における分析計Ｘの上流に設けられた希釈器ＭＩＸと、サンプリング流路Ｌ１における分析計Ｘ及び希釈器ＭＩＸの間に設定された分岐点Ｌ１ａから分岐して希釈器ＭＩＸに合流する還流路Ｌ２と、還流路Ｌ２に設けられて、分岐点Ｌ１ａから希釈器ＭＩＸに排ガスの一部を導くポンプとＰ、還流路Ｌ２又はサンプリング流路Ｌ１に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路Ｌ３と、追加流路Ｌ３に設けられた開閉機構Ｖ１とを備えるようにした。

Description

排ガス分析装置、ガス供給方法、及び排ガスサンプリング装置
　本発明は、排ガス分析装置及びこの排ガス分析装置にガスを供給するガス供給方法に関するものである。
　従来の排ガス分析装置としては、特許文献１に示すように、サンプリング流路を流れる排ガスの一部を下流側から上流側に戻す還流路を備え、この還流路にフィルタを設けることで、還流路に流入した排ガスを希釈ガスとしてサンプリング流路に戻す、所謂還流式希釈機構を備えたものがある。
　かかる排ガス分析装置は、分析精度を担保すべく、例えば排ガス分析の前後において、分析計のゼロレベルをチェックして校正したり、サンプリング流路をパージしたりする必要がある。
　しかしながら、これまで校正やパージをするには、サンプリング流路のサンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外し、そのサンプリングプローブにフィルタを取り付け、このフィルタを介して空気等を取り込むことで、ゼロチェックやパージをしており、作業が煩雑であった。
特表２０１４－５２６６７９号公報
　そこで、本願発明は、上述した問題を一挙に解決すべくなされたものであり、サンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計を校正したり、サンプリング流路をパージしたりすることのできる排ガス分析計を提供することをその主たる課題とするものである。
　すなわち本発明に係る排ガス分析装置は、内燃機関からの排ガスが流れるサンプリング流路と、前記サンプリング流路に接続されて前記排ガスを分析する分析計と、前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、前記サンプリング流路における前記分析計及び前記希釈器の間に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に合流する還流路と、前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、前記還流路又は前記サンプリング流路に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路と、前記追加流路に設けられた開閉機構とを備えることを特徴とするものである。
　このように構成された排ガス分析装置によれば、校正用ガスやパージガスが流れる追加流路が、還流路又はサンプリング流路に接続されているので、追加流路の開閉機構を開状態にすることで、校正用ガスやパージガスを還流路やサンプリング流路に流入させることができる。これにより、サンプリング流路のサンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計を校正したり、サンプリング流路をパージしたりすることができるようになる。
　校正時やパージ時に排ガスが分析計に流れ込むことを防ぐためには、前記開閉機構を開状態にした場合に、前記追加流路から前記還流路に導入された前記校正用ガス又は前記パージガスの一部が、前記希釈器を通って前記サンプリング流路の上流側に流れることが好ましい。
　このような構成であれば、校正用ガスやパージガスの一部が希釈器を通ってサンプリング流路を逆流するので、排ガスが分析計に流れ込むことを防ぐことができる。
　校正用ガスやパージガスの一部を確実に逆流させるためには、前記分析計に導入されるガスの流量である分析ガス流量が第１流量に制御されており、前記追加流路から前記還流路に導入される前記校正用ガス又は前記パージガスの流量である追加流量が、前記第１流量よりも大きいことが好ましい。
　また、前記還流路から前記希釈器に流れるガスの流量が、第２流量に制御されており、前記追加流路から前記還流路に導入される前記校正用ガス又は前記パージガスの流量である追加流量が、前記第２流量よりも小さいことが望ましい。
　具体的な実施態様としては、前記開閉機構が閉じられている状態において、前記分析計が前記排ガスに含まれる成分を分析し、前記開閉機構が開かれている状態において、前記追加流路に前記校正用ガス又は前記パージガスが流れる態様が挙げられる。
　具体的な装置構成としては、前記分析計が、前記排ガス中の粒子状物質を分析するものであり、前記還流路に粒子状物質を捕捉するフィルタが設けられている構成を挙げることができる。
　前記フィルタが、前記還流路における前記ポンプの上流に設けられていることが好ましい。
　このような構成であれば、ポンプに粒子状物質が流れ込むことを低減することができ、ポンプの故障を防ぐことができる。
　前記追加流路が、前記還流路における前記ポンプと前記フィルタとの間に接続されていることが好ましい。
　このような構成であれば、排ガス分析時において、追加流路の接続箇所には排ガスから粒子状物質が捕捉されてなる希釈ガスが流れることになり、追加流路の汚れを低減することができる。
　校正用ガスやパージガスとして大気を利用する場合、前記追加流路には、大気中の粒子状物質を捕捉する第２のフィルタが設けられており、前記開閉機構が開かれている状態において、前記追加流路から前記還流路に、前記校正用ガス又は前記パージガスとして前記第２のフィルタを通過した大気が導入されることが好ましい。
　前記還流路における前記ポンプの下流に設けられた除湿器をさらに備えることが好ましい。
　校正ガスやパージガスをドライにして流すことができるので、これらのガスに含まれる水分が結露してしまうことを抑制することができる。
　本発明に係る校正方法は、内燃機関からの排ガスが流れるサンプリング流路と、前記サンプリング流路に接続されて前記排ガスを分析する分析計と、前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、前記サンプリング流路における前記希釈器の下流に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に接続された還流路と、前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、を備える排ガス分析装置にガスを供給する方法であって、前記還流路又は前記サンプリング流路に校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路を接続し、前記追加流路に設けられた開閉機構を開くことで、前記校正用ガス又は前記パージガスを前記サンプリング流路に導くことを特徴とする方法である。
　また、本発明に係る排ガスサンプリング装置は、内燃機関からの排ガスを分析計にサンプリングする排ガスサンプリング装置であって、前記分析計に接続されるとともに、前記排ガスが流れるサンプリング流路と、前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、前記サンプリング流路における前記分析計及び前記希釈器の間に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に合流する還流路と、前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、前記還流路又は前記サンプリング流路に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路と、前記追加流路に設けられた開閉機構とを備えることを特徴とするものである。
　このようなガス供給方法や排ガスサンプリング装置であれば、上述した排ガス分析装置と同様の作用効果を得ることができる。
　このように構成した本発明によれば、サンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計を校正したり、サンプリング流路をパージしたりすることができる。
本実施形態の排ガス分析装置の使用態様を示す模式図。 同実施形態の排ガス分析装置の構成を示す模式図。 同実施形態の分析計の原理を示す模式図。 同実施形態の排ガス分析装置の動作を説明するためのフローチャート。 同実施形態の排ガス分析装置を流れるガス流量を説明するための模式図。 その他の実施形態の排ガス分析装置の構成を示す模式図。 その他の実施形態の排ガス分析装置の構成を示す模式図。 その他の実施形態の排ガス分析装置の構成を示す模式図。 その他の実施形態の排ガス分析装置の構成を示す模式図。
１００・・・排ガス分析装置
１　　・・・排ガスサンプリング装置
Ｌ１　・・・サンプリング流路
Ｌ２　・・・還流路
Ｘ　　・・・分析計
１０　・・・希釈機構
ＭＩＸ・・・希釈器
Ｐ　　・・・ポンプ
Ｆ１　・・・第１のフィルタ
１１　・・・流量制御器
Ｌ３　・・・追加流路
Ｖ１　・・・開閉機構
２０　・・・制御装置
　以下に本発明に係る排ガス分析装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
　本実施形態の排ガス分析装置１００は、図１に示すように、車両ＶＨに搭載される車載型のものである。ただし、排ガス分析装置１００としては、車両ＶＨに搭載されない据え置き型のものであっても良い。
　具体的に排ガス分析装置１００は、図２に示すように、内燃機関Ｅから排出される排ガスをサンプリングする排ガスサンプリング装置１と、サンプリングされた排ガスを分析する分析計Ｘとを備えている。
　排ガスサンプリング装置Ｌ１は、一端部に図示しないサンプリングプローブが設けられた排ガスサンプリング流路Ｌ１を有し、このサンプリングプローブを例えばテールパイプ近傍のサンプリング箇所に取り付けることで、内燃機関Ｅから排出された排ガスの一部又は全部をサンプリングするものである。ここでのサンプリング流路Ｌ１は、一部がホットホースと称させる加熱管ユニットにより構成されており、採取した排ガスを所定の温度に加熱又は維持しながら分析計Ｘに導けるように構成されている。
　分析計Ｘは、サンプリング流路Ｌ１の他端部に接続されて、排ガスに含まれる粒子状物質を分析するものであり、ここでは粒子状物質の粒子数（ＰＮ）を計測する粒子数計測機構Ｘである。
　粒子数計測機構の一例としては、図３に示すように、凝縮核計数器（ＣＰＣ）と称されるものを挙げることができる。このＣＰＣは、アルコールやブタノールなどの有機ガスを含む加熱部Ａ１に導き、その後、凝縮部Ａ２で冷却することによって、排ガス中の粒子状物質に有機ガスを凝縮付着させて大きな径に成長させ、成長した粒子状物質をスリットＡ３から排出して、出てきた粒子をレーザ光Ｒにて計数するものである。このＣＰＣの下流には、流量制御器として図示しない臨界オリフィス型の定流量手段が設けられており、ＣＰＣには一定流量のガスが流れる。
　かかる粒子数計測機Ｘを用いる場合、排ガスに含まれる粒子状物質同士が凝集することを防ぐべく、排ガスを希釈してから粒子数計測機に導く必要がある。なお、排ガスに含まれる粒子状物質とは異なる成分を分析する分析計Ｘにおいても、種々の理由で排ガスを希釈する必要が生じることがある。
　そこで、本実施形態の排ガスサンプリング装置１は、図２に示すように、サンプリングした排ガスを希釈する希釈機構１０をさらに備えている。
　希釈機構１０は、サンプリング流路Ｌ１を流れる排ガスの一部をサンプリングし、その排ガスに含まれる粒子状物質（計測対象）を取り除いて希釈ガスとした後、その希釈ガスをサンプリング流路Ｌ１に戻す、所謂還流式のものである。
　具体的にこの希釈機構１０は、サンプリング流路Ｌ１上に設定された分岐点Ｌ１ａから分岐して、サンプリング流路Ｌ１上に設定された合流点Ｌ１ｂに合流し、サンプリング流路Ｌ１を流れる排ガスの一部をサンプリング流路Ｌ１の下流側から上流側に戻す還流路Ｌ２を有するものである。本実施形態では、合流点Ｌ１ｂには希釈器ＭＩＸが設けられており、この希釈器ＭＩＸと分析計Ｘとの間に分岐点Ｌ１ａが設定されている。
　還流路Ｌ２には、当該還流路Ｌ２に流れる流体を循環させるためのポンプＰが設けられており、このポンプＰの上流、すなわちポンプＰと分岐点Ｌ１ａとの間には、ポンプＰの故障等を防ぐべく、排ガスに含まれる粒子状物質を捕捉する第１のフィルタＦ１が設けられていても良い。
　また、還流路Ｌ２におけるポンプＰの下流、すなわちポンプＰと希釈器ＭＩＸとの間には、還流路Ｌ２から希釈器ＭＩＸに流入する希釈ガスの流量である希釈ガス流量を制御するための流量制御器１１が設けられている。ここでの流量制御器１１は、定流量手段としてのベンチュリであるが、例えばマスフローコントローラや流量調整弁等を用いても構わない。
　さらに、還流路Ｌ２におけるポンプＰの下流、すなわちポンプＰと希釈器ＭＩＸとの間には、希釈器ＭＩＸに流入する希釈ガスに例えばポンプの粉塵等の粒子状物質が含まれることを防ぐべく、粒子状物質を捕捉する第２のフィルタＦ２が設けられていても良い。ここでの第２のフィルタＦ２は、ポンプＰと流量制御器１１との間に設けられているが、流量調整機器１１と希釈器ＭＩＸとの間に設けても良い。
　加えて、還流路Ｌ２におけるポンプＰの下流、すなわちポンプＰと希釈器ＭＩＸとの間には、希釈器ＭＩＸに流入する希釈ガスの湿度を低減するための除湿器１２が設けられていても良い。ここでの除湿器１２は、ポンプＰと第２のフィルタＦ２との間に設けられているが、第２のフィルタＦ２と流量制御器１１との間や、流量制御器１１と希釈器ＭＩＸとの間に設けられていても良いし、ポンプＰの上流に設けられていても良い。
　そして、本実施形態の排ガス分析装置１００は、還流路Ｌ２におけるポンプＰの上流に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路Ｌ３と、この追加流路Ｌ３に設けられた開閉機構Ｖ１とをさらに備えており、この実施形態では開閉機構Ｖ１を開状態又は閉状態に制御する制御装置２０をさらに備えている。なお、開閉機構Ｖ１を手動で開閉する場合には、後述の制御装置２０に係る機能は用いなくても良い。
　追加流路Ｌ３は、一端部から校正用ガス又はパージガスが導入されて、他端部が還流路Ｌ２におけるポンプＰの上流側（負圧側）に接続されたものである。なお、校正用ガスは、分析計Ｘのゼロチェック用のゼロガスであり、すなわち実質的に粒子状物質を含まないガスである。また、ここの実施形態では、校正用ガスをパージガスとしても兼用している。
　この実施形態では、校正用ガスやパージガスとして空気（大気）を用いており、追加流路Ｌ３には空気に含まれる粒子状物質を捕捉する第３のフィルタＦ３が設けられている。ここでの第３のフィルタＦ３は、開閉機構Ｖ１の上流に設けられているが、開閉機構Ｖ１の下流に設けても良い。
　また、追加流路Ｌ３には、校正用ガス又はパージガスの流量である追加流量を調整するための流量制御器たる流量調整弁Ｖ２が設けられており、追加流路Ｌ３から還流路Ｌ２に供給される校正用ガス又はパージガスの流量は一定流量となる。なお、この流量制御器としては、マスフローコントローラや切り替え可能に並列接続された複数のベンチュリ等を用いても構わない。
　開閉機構Ｖ１は、校正用ガス又はパージガスが追加流路Ｌ３から還流路Ｌ２に供給される開状態と、その供給を停止する閉状態とに切り替わるものであり、ここでは制御装置２０からの制御信号により動作する電磁弁等の開閉バルブである。
　制御装置２０は、物理的にはＣＰＵ、内部メモリ、入出力インターフェースなどを備えたものであり、前記内部メモリに格納されたガス供給プログラムに基づいて、ＣＰＵ及びその他の構成要素が協働することにより、図２に示すように、分析開始信号、校正開始信号、パージ開始信号を受け付けて、これらの信号に基づき開閉機構Ｖ１に制御信号を出力するものである。
　以下、制御装置２０の具体的な動作について、図４及び図５を参照しながら説明する。
［排ガス分析時］
　まず、排ガス分析時の開始動作について説明する。
　制御装置２０は、マウス、キーボード、タッチパネル等の入力インターフェースを介して入力された分析開始信号を受け付けると、開閉機構Ｖ１に制御信号を出力して、開閉機構Ｖ１を閉状態に切り替える（Ｓ１、Ｓ２）。
　このとき、上述したように、分析計Ｘの下流や還流路Ｌ２に流量制御器が設けられているので、図５（ａ）に示すように、分析計Ｘに導かれる分析ガスの流量である第１流量Ａ（以下、分析ガス流量Ａという）や、還流路Ｌ２から希釈器ＭＩＸに供給される流れるガスの流量である第２流量Ｂ（以下、供給流量Ｂという）は、一定流量となる。なお、排ガス分析時における供給流量Ｂは、還流路Ｌ２から希釈器ＭＩＸに供給される希釈ガスの供給流量である。
　ここで、図５（ａ）に示すように、希釈器から分岐点Ｌ１ａまでを流れる排ガス及び希釈ガスからなる混合ガスの流量である第３流量Ｃ（以下、混合ガス流量Ｃという）は、分析ガス流量Ａ及び供給流量Ｂを合算した流量である。そして、上述したように分析ガス流量Ａ及び供給流量Ｂが一定流量であることから、混合ガス流量Ｃも一定流量に制御されることになる。
　また、サンプリング流路Ｌ１の一端部からサンプリングされるガスの流量である第４流量Ｄ（以下、サンプリング流量Ｄという）は、混合ガス流量Ｃ及び供給流量Ｂの差分の流量である。そして、混合ガス流量Ｃ及び供給流量Ｂが一定流量であるから、サンプリング流量Ｄも一定流量に制御されることになる。
　より具体的に説明するべく、図５（ａ）に示すように、例えば分析ガス流量Ａを１、希釈ガス流量Ｂを４に設定した場合を考える。この場合、混合ガス流量Ｃは、分析ガス流量Ａと希釈ガス流量Ｂとの合算である５となり、サンプリング流量Ｄは、混合ガス流量Ｃから希釈ガス流量Ｂを差し引いた１となる。その結果、サンプリング流路Ｌ１の一端側からサンプリングされた排ガスは、希釈ガスにより５倍に希釈されて分析計Ｘへと導かれることになる。
　その後、制御装置２０は、分析を終了するための分析終了信号を受け付けた否かを判断し（Ｓ３）、分析終了信号を受け付けた場合に、排ガス分析を終了する。
［校正時・パージ時］
　次に、校正時又はパージ時の動作について説明する。
　なお、校正又はパージは、排ガス分析の前後において行われることが好ましいが、排ガス分析の前又は後の一方のみで行っても良い。
　制御装置２０は、マウス、キーボード、タッチパネル等の入力インターフェースを介して入力された校正開始信号又はパージ開始信号を受け付けると、開閉機構Ｖ１に制御信号を出力して、開閉機構Ｖ１を開状態に切り替える（Ｓ４、Ｓ５）。
　このとき、分析計Ｘの下流や還流路Ｌ２のみならず、追加流路Ｌ３に流量制御器が設けられているので、図５（ｂ）に示すように、分析ガス流量Ａや供給流量Ｂのみならず、追加流路Ｌ３から還流路Ｌ２に供給される校正ガス又はパージガスの流量である第５流量（以下、追加流量Ｅという）も一定流量となる。
　ここで、追加流路Ｌ３に設けられている流量制御器たる流量調整弁Ｖ２は、追加流量Ｅが、分析ガス流量Ａよりも大きく設定されている。なお、この実施形態では、ポンプＰにより校正ガス又はパージガスを引いているので、追加流量Ｅは供給流量Ｂよりも小さくなる。
　より具体的に説明するべく、図５（ｂ）に示すように、上述した排ガス分析時と同じく、分析ガス流量Ａを１、供給流量Ｂを４に設定した場合において、追加流量を２に設定した場合について考える。
　この場合、まずサンプリング流路Ｌ１の分岐点Ｌ１ａから還流路Ｌ２に分岐するガスの流量である第６流量（以下、分岐流量Ｆという）は、供給流量Ｂから追加流量Ｅを差し引いた２となる。これにより、混合ガス流量Ｃは、分析ガス流量Ａと分岐流量Ｆとの合算である３となる。このことから、供給流量Ｂの４のうち、混合ガス流量Ｃの３は希釈器ＭＩＸの下流側に導かれ、残りのガスの流量である第７流量（以下、余剰流量Ｇという）は希釈器ＭＩＸを通って上流側に導かれる。つまり、供給流量Ｂの一部は、希釈器ＭＩＸを通ってサンプリング流量を逆流することになり、排ガスはサンプリングされない状態になる。このことから、校正時又はパージ時における混合ガスには、排ガスは含まれておらず、校正ガス又はパージガスそのものとなり、希釈器ＭＩＸに供給されるガスもまた、校正ガス又はパージガスそのものとなる。
　その後、制御装置２０は、校正又はパージを終了するための終了信号を受け付けた否かを判断し（Ｓ６）、終了信号を受け付けた場合に、校正又はパージを終了する。
　このように、開閉機構Ｖ１を閉状態に切り替えることで、排ガスのサンプリングが開始されて、排ガス分析が行われ、開閉機構Ｖ１を閉状態に切り替えることで、排ガスのサンプリングが停止して、サンプリング流路Ｌ１への校正ガス又はパージガスの供給が行われる。
　このように構成された本実施形態に係る排ガス分析装置１００によれば、校正用ガスやパージガスが流れる追加流路Ｌ３が、還流路Ｌ２におけるポンプＰの上流に接続されているので、追加流路Ｌ３の開閉機構Ｖ１を開状態にすることで、ポンプＰの負圧を利用して校正用ガスやパージガスを還流路Ｌ２からサンプリング流路Ｌ１に流入させることができる。これにより、サンプリング流路Ｌ１のサンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計Ｘを校正したり、サンプリング流路Ｌ１をパージしたりすることができるようになる。
　しかも、制御装置２０が開閉機構Ｖ１を開状態又は閉状態に切り替えるので、排ガス分析と、校正又はパージとの切り替えを自動化することができる。
　さらに、追加流量Ｅが分析ガス流量Ａよりも大きく、追加流路Ｌ３から還流路Ｌ２に導入された校正用ガス又はパージガスの一部が、希釈器ＭＩＸを通ってサンプリング流路Ｌ１を逆流するので、排ガスが分析計Ｘに流れ込むことを確実に防ぐことができ、校正やパージを適切に行うことができる。
　そのうえ、追加流路Ｌ３が、還流路Ｌ２におけるポンプＰと第１のフィルタＦ１との間に接続されているので、排ガス分析時において、追加流路Ｌ３の接続箇所には排ガスから粒子状物質が捕捉されてなる希釈ガスが流れることになり、追加流路Ｌ３の汚れを低減することができる。
　加えて、還流路Ｌ２におけるポンプＰの下流に除湿器１２を設けているので、校正ガスやパージガスをドライにして流すことができるので、これらのガスに含まれる水分が結露してしまうことを抑制することができる。
　なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
　例えば、前記実施形態では、追加流路Ｌ３の接続箇所が、前記実施形態では第１のフィルタＦ１とポンプＰとの間であったが、図６（ａ）に示すように、分岐点Ｌ１ａと第１のフィルタＦ１との間であっても良い。
　また、図６（ｂ）に示すように、追加流路Ｌ３の接続箇所は、サンプリング流路Ｌ１における希釈器ＭＩＸと分岐点Ｌ１ａとの間（希釈器ＭＩＸや分岐点Ｌ１ａを含む概念である）に追加流路Ｌ３を接続しても良い。
　さらには、図７に示すように、追加流路Ｌ３に圧送手段Ｂを設ければ、追加流路Ｌ３の接続箇所は、還流路Ｌ２におけるポンプＰの下流であっても良い。
　加えて、図８（ａ）に示すように、追加流路Ｌ３に圧送手段Ｂを設ければ、追加流路Ｌ３の接続箇所は、サンプリング流路Ｌ１における希釈器ＭＩＸの上流側であっても良いし、図８（ｂ）に示すように、分岐点Ｌ１ａと分析計Ｘとの間であっても良い。
　また、校正開始信号とパージ開信号とを別の信号としており、校正とパージとを別の動作として実行できるようにしていたが、校正とパージとを１度の動作で一挙に実行するようにしても良い。
　さらに、前記実施形態の校正用ガスは、ゼロチェック用のゼロガスであったが、例えば濃度が既知のスパン校正用のガスであっても良い。
　そのうえ、開閉機構Ｖ１は、前記実施形態では制御装置２０により制御される電磁弁等の開閉バルブであったが、ユーザが手動で開状態又は閉状態に切り替えることのできるものであっても良い。このようなものとしては、追加流路Ｌ３に設けた例えばキャップの取り外しで開状態又は閉状態に切り替わるように構成されたものを挙げることができる。
　また、追加流路Ｌ３にニードルバルブや流量制御バルブを設けて、追加流量を調整できるようにしても良い。
　加えて、本発明に係る排ガス分析装置１００としては、前記実施形態で述べた流量制御器１１たるベンチュリ、第２のフィルタＦ２、除湿器１２、流量制御器たる流量調整弁Ｖ２は必ずしも必要ではなく、図９に示すように、これらのうちの１つ又は複数又は全部を設けていない構成としても良い。この場合、第１のフィルタＦ１は、還流路Ｌ２におけるポンプＰの上流に設けられていても良いし、下流に設けられていても良い。
　さらに加えて、分析計Ｘは、排ガスに含まれる粒子状物質の粒子数を測定するＣＰＣに限らず、粒子状物質の量（ＰＭ）を測定するものであっても良い。
　さらに、分析計Ｘは、一酸化炭素（ＣＯ）、二酸化炭素（ＣＯ２）、窒素酸化物（ＮＯＸ）、炭化水素（ＨＣ）等、排ガスに含まれる種々の成分を分析するものであっても良い。この場合は、前記実施形態の第１のフィルタＦ１又は第２のフィルタＦ２の代わりに、スクラバ等の排ガス洗浄装置を設ければ、還流路Ｌ２に導入した排ガスを希釈ガスとして希釈器ＭＩＸに供給することができる。
　その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
　このように構成した本発明によれば、サンプリングプローブをサンプリング箇所から取り外すことなく、分析計を校正したり、サンプリング流路をパージしたりすることができる。

Claims (12)

  1. 　内燃機関からの排ガスが流れるサンプリング流路と、
    　前記サンプリング流路に接続されて前記排ガスを分析する分析計と、
    　前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、
    　前記サンプリング流路における前記分析計及び前記希釈器の間に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に合流する還流路と、
    　前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、
    　前記還流路又は前記サンプリング流路に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路と、
    　前記追加流路に設けられた開閉機構とを備える、排ガス分析装置。
  2. 　前記開閉機構を開状態にした場合に、前記追加流路から前記還流路に導入された前記校正用ガス又は前記パージガスの一部が、前記希釈器を通って前記サンプリング流路の上流側に流れる、請求項１記載の排ガス分析装置。
  3. 　前記分析計に導入されるガスの流量である分析ガス流量が第１流量に制御されており、
    　前記追加流路から前記還流路に導入される前記校正用ガス又は前記パージガスの流量である追加流量が、前記第１流量よりも大きい、請求項１又は２記載の排ガス分析装置。
  4. 　前記還流路から前記希釈器に流れるガスの流量が、第２流量に制御されており、
    　前記追加流路から前記還流路に導入される前記校正用ガス又は前記パージガスの流量である追加流量が、前記第２流量よりも小さい、請求項１又は２記載の排ガス分析装置。
  5. 　前記開閉機構が閉じられている状態において、前記分析計が前記排ガスに含まれる成分を分析し、
    　前記開閉機構が開かれている状態において、前記追加流路に前記校正用ガス又は前記パージガスが流れる、請求項１乃至４のうち何れか一項に記載の排ガス分析装置。
  6. 　前記分析計が、前記排ガス中の粒子状物質を分析するものであり、
    　前記還流路には、粒子状物質を捕捉する第１のフィルタが設けられている、請求項１乃至５のうち何れか一項に記載の排ガス分析装置。
  7. 　前記フィルタが、前記還流路における前記ポンプの上流に設けられている、請求項６記載の排ガス分析装置。
  8. 　前記追加流路が、前記還流路における前記ポンプと前記フィルタとの間に接続されている、請求項７記載の排ガス分析装置。
  9. 　前記追加流路には、大気中の粒子状物質を捕捉する第２のフィルタが設けられており、
    　前記開閉機構が開かれている状態において、前記追加流路から前記還流路に、前記校正用ガス又は前記パージガスとして前記第２のフィルタを通過した大気が導入される、請求項１乃至８のうち何れか一項に記載の排ガス分析装置。
  10. 　前記還流路における前記ポンプの下流に設けられた除湿器をさらに備える、請求項１乃至９のうち何れか一項に記載の排ガス分析装置。
  11. 　内燃機関からの排ガスが流れるサンプリング流路と、前記サンプリング流路に接続されて前記排ガスを分析する分析計と、前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、前記サンプリング流路における前記希釈器の下流に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に接続された還流路と、前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、を備える排ガス分析装置にガスを供給する方法であって、
    　前記還流路又は前記サンプリング流路に校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路を接続し、
    　前記追加流路に設けられた開閉機構を開くことで、前記校正用ガス又は前記パージガスを前記サンプリング流路に導く、ガス供給方法。
  12. 　内燃機関からの排ガスを分析計にサンプリングする排ガスサンプリング装置であって、
    　前記分析計に接続されるとともに、前記排ガスが流れるサンプリング流路と、
    　前記サンプリング流路における前記分析計の上流に設けられた希釈器と、
    　前記サンプリング流路における前記分析計及び前記希釈器の間に設定された分岐点から分岐して前記希釈器に合流する還流路と、
    　前記還流路に設けられて、前記分岐点から前記希釈器に前記排ガスの一部を導くポンプと、
    　前記還流路又は前記サンプリング流路に接続されて、校正用ガス又はパージガスが流れる追加流路と、
    　前記追加流路に設けられた開閉機構とを備える、排ガスサンプリング装置。
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