WO2020095482A1 - X線位相撮像システム - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to an X-ray phase imaging system, and more particularly to an X-ray phase imaging system for imaging while moving a subject and an imaging system relatively.
- an X-ray phase imaging system that captures an image while moving a subject and an imaging system relatively is known.
- Such an X-ray phase imaging system is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2017-44603.
- the X-ray phase imaging system disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2017-44603 moves an X-ray source, a group of gratings including a first grating, a second grating, and a third grating, a detector, and a subject.
- the transport unit, the pixel calculation unit, and the image calculation unit are provided.
- the X-ray phase imaging system disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2017-44603 captures a plurality of images while moving an object in the periodic direction of moire fringes generated by a plurality of X-ray-irradiated gratings. Thereby, a phase contrast image including the absorption image, the phase differential image, and the dark field image is generated.
- the absorption image is an image formed based on the attenuation of X-rays that occurs when the X-rays pass through the subject.
- the phase differential image is an image formed based on the phase shift of X-rays that occurs when the X-rays pass through the subject.
- the dark-field image is a Visibility image obtained by a change in Visibility based on small-angle scattering (refraction) of X-rays by an object.
- the dark field image is also called a small-angle scattered image. "Visibility" is definition.
- the phase differential image and the dark field image are images obtained by imaging the subject based on the phase shift of the X-ray and the refraction of the X-ray by the subject in the direction orthogonal to the direction of the lattice (direction in which the lattice extends). is there. That is, it is sensitive to the direction orthogonal to the lattice direction, but is not sensitive to the direction along the lattice. Therefore, depending on the orientation of the grating with respect to the subject, there are portions that are not imaged on the phase differential image and the dark field image. Therefore, when generating the phase differential image and the dark field image, it is preferable to change the orientation of the grating with respect to the subject and capture the image.
- the present invention has been made to solve the above problems, and one object of the present invention is to change the orientation of a subject or a lattice and move the subject again without capturing an image of the subject.
- An object of the present invention is to provide an X-ray phase imaging system capable of changing the orientation of the grating and imaging.
- an X-ray phase imaging system includes an X-ray source, a detector that detects X-rays emitted from the X-ray source, an X-ray source and a detector.
- a first grating group including a plurality of gratings arranged along the optical axis direction of the X-rays, with the direction in which the grating extends being directed along the first direction, the X-ray source, and the detector.
- a first grating group including a plurality of gratings arranged along the optical axis direction of the X-rays, with the direction in which the grating extends being directed along the first direction, the X-ray source, and the detector.
- a second grating group including a plurality of gratings, a moving mechanism that relatively moves an imaging system including an object or an X-ray source, a detector, a first grating group, and a second grating group, and a detector. And an image processing unit that generates a phase contrast image based on the signal,
- the moving mechanism is configured to relatively move the subject and the imaging system so that the subject passes through the first lattice area in which the first lattice group is arranged and the second lattice area in which the second lattice group is arranged. Therefore, the image processing unit is configured to generate a first phase contrast image when the subject passes through the first lattice area and a second phase contrast image when the subject passes through the second lattice area.
- the first grating region in which the first grating group is arranged, and the second grating group in which the grating extending direction is different from the first grating group are provided.
- a moving mechanism that relatively moves the subject and the imaging system so as to pass through the arranged second lattice area is provided. Accordingly, by imaging the subject by passing through the first lattice area and the second lattice area, the subject can be imaged by the first lattice group and the second lattice group having different lattice extending directions.
- the first grating group and the second grating group are arranged so that the first direction and the second direction are substantially orthogonal to each other.
- the first direction and the second direction are substantially orthogonal to each other, X-rays generated by the subject in either the first lattice group or the second lattice group are irrespective of the arrangement direction of the subject.
- the phase shift or X-ray refraction can be extracted.
- the subject can be imaged in either the first phase contrast image or the second phase contrast image regardless of the orientation direction of the subject.
- the image processing unit is configured to generate a first combined image in which the first phase contrast image and the second phase contrast image are combined.
- the first direction and the second direction The sensitivity of can be grasped collectively. As a result, the internal structure of the subject can be grasped in detail.
- the X-rays that have passed through the first grating group and the X-rays that have passed through the second grating group are respectively detected by a common detector.
- a common detector by providing one detector, it is possible to detect the X-rays that have passed through the first grating group and the X-rays that have passed through the second grating.
- the first grating group and the second grating group are arranged within an irradiation range of X-rays emitted from a common X-ray source.
- the first lattice group and the second lattice group can be irradiated with X-rays.
- it is possible to suppress an increase in the number of parts as compared with the case where the X-ray source for irradiating the first lattice group with X-rays and the X-ray source for irradiating the second lattice group with X-rays are respectively provided. it can.
- the first grating group and the second grating group each include a first grating that enhances coherence of X-rays emitted from an X-ray source, and a self-image.
- a third grating for causing the self-image of the second grating to interfere with each other, and the first grating of the first grating group and the first grating of the second grating group are integrally formed.
- the second lattice of the first lattice group and the second lattice of the second lattice group are formed separately from the third lattice of the first lattice group and the third lattice of the second lattice group. Has been done.
- the first grating from the X-ray source is formed.
- the distance to the first grating of the group and the distance from the X-ray source to the first grating of the second grating group can be made substantially equal. Further, for example, in the case of forming moire fringes in advance and capturing an image, it is necessary to make the moire fringes of the first lattice group and the moire fringes of the second lattice group have substantially the same direction of the cycle of the moiré fringes.
- the first lattice group and the second lattice group are arranged so that the extending directions of the lattices are different from each other, the relative positions of the respective lattices for forming moire fringes are different from each other. Different for each group. Therefore, the second grating of the first grating group and the second grating of the second grating group are separately formed, and the third grating of the first grating group and the third grating of the second grating group are formed. By forming them separately, it is possible to arrange the respective lattices of the first lattice group and the respective lattices of the second lattice group at relative positions suitable for forming moire fringes.
- the lattice groups and the second lattice group are arranged so that the extending directions of the lattices are different from each other, the directions in which the lattice is translated and moved are different between the first lattice group and the second lattice group.
- the image processing unit in each of the first lattice area and the second lattice area, a plurality of images captured while relatively moving the subject and the imaging system, Based on the phase information of the moire fringes generated in the plurality of images, the pixel value of each pixel of the subject in the plurality of images is associated with the phase value of the moire fringes in each pixel, and the same subject of the plurality of images is identified. Based on the position information of the pixel at the position and the pixel value of each pixel associated with the phase value, the pixel at the same position of the subject in the plurality of images is aligned with each of the first lattice area and the second lattice area.
- the pixel value of the pixel at the same position of the subject in each image and the phase value corresponding to the pixel at the same position of the subject in each image are associated with each other, and the first phase contrast image and the second phase contrast image are obtained.
- a contrast image can be generated. Therefore, for example, as compared with a case where a region for one cycle of moire fringes is divided into regions and an average value of pixel values included in each region is used to generate a first phase contrast image and a second phase contrast image, It is possible to generate the first phase contrast image and the second phase contrast image by using the pixel value of each pixel captured at the same position. As a result, it is possible to prevent the image quality of the first phase contrast image and the second phase contrast image from being deteriorated due to the error in the pixel values used for generating the first phase contrast image and the second phase contrast image. You can
- the moving mechanism is configured to continuously move the subject when the subject is imaged, and the image processing unit, based on the acquired continuous image, the first phase contrast.
- the image and the second phase contrast image are configured to be generated.
- the continuous first phase contrast image and the second phase contrast image are generated, for example, the continuous first phase contrast image and the continuous second phase contrast image are generated by repeating the movement and the imaging of the subject.
- a continuous first phase contrast image and a second phase contrast image can be generated by imaging a subject while continuously moving it. As a result, the imaging time can be shortened as compared with the conventional fringe scanning method.
- the moving mechanism moves the subject
- the subject When capturing an image, the subject is configured to be moved by a predetermined distance, and the image processing unit generates the first phase contrast image and the second phase contrast image based on the image acquired while moving the subject by the predetermined distance.
- the image processing unit generates the first phase contrast image and the second phase contrast image based on the image acquired while moving the subject by the predetermined distance.
- the image processing unit is a marker. Based on a plurality of position calibration images captured while relatively moving the object and the imaging system, it is configured to create position calibration data used for aligning each pixel at the same position of the subject in the plurality of images. There is. According to this structure, by using the position calibration data, it is possible to acquire the position of the pixel at the same position of the subject in each image, so that the movement amount of the subject can be calculated.
- the position calibration data is the sign and the imaging system by the moving mechanism.
- a command value related to the amount of movement that is input to the moving mechanism when relatively moving the marker, and the movement of the marker or the imaging system in the position calibration image when the marker and the imaging system are moved relative to each other based on the command value. Created based on quantity and.
- the position calibration data is an approximate expression indicating the relationship between the command value and the movement amount of the marker or the imaging system based on the position of each pixel at the same position of the marker in the plurality of position calibration images. It is created by getting According to this structure, the approximate expression is obtained based on the position of each pixel at the same position of the marker in the plurality of position calibration images, so that the position is different from the position where the plurality of position calibration images are captured. It is possible to calculate the relationship between the command value relating to the movement amount of the above and the movement amount of the sign or the imaging system by using an approximate expression. As a result, for example, when capturing an image of a subject, the amount of movement of the subject can be acquired even when the subject is moved to a position different from the position to which the sign or the imaging system is moved.
- the image processing unit includes a phase differential image when the subject passes through the first lattice area and a phase differential image when the subject passes through the second lattice area. And is configured to generate a phase image based on According to this structure, by integrating in a predetermined direction in the image of either the phase differential image when passing through the first lattice region or the phase differential image when passing through the second lattice region, It is possible to suppress the occurrence of an artifact in the integration direction in the phase image, as compared with the configuration that generates the phase image. As a result, deterioration of the image quality of the phase image can be suppressed.
- the X-ray phase imaging system further includes a position information acquisition unit that acquires a tomographic position in an optical axis direction of a tomographic surface to be imaged, and the image processing unit is an imaging system in a predetermined direction.
- the first phase contrast image and the second phase contrast image on the tomographic plane are obtained by acquiring the phase distribution on the tomographic plane based on the plurality of images obtained by imaging the subject at a plurality of relative positions of the object and the tomographic position acquired. It is configured to generate a phase contrast image.
- the position information acquiring unit can acquire the position (tomographic position) of the tomographic plane in the subject where the internal structure to be imaged exists. Since the incident angle of X-rays with respect to the point on the tomographic plane is determined by the relative position between the imaging system and the subject, the information on the tomographic position and the relative position when the X-ray image was captured are used for individual X-rays. The position of a point on the tomographic plane in the image can be specified. Thereby, the image processing unit can acquire the phase distribution on the specific tomographic plane indicated by the tomographic position based on the obtained information on the tomographic position and each X-ray image at the plurality of relative positions.
- phase contrast image in which blurring of the image of the internal structure included in the tomographic plane is suppressed is obtained from the phase distribution on the tomographic plane of the tomographic position acquired by the position information acquisition unit.
- the moving mechanism relatively moves the subject and the imaging system such that the subject passes through a non-lattice region in which the first lattice group and the second lattice group are not arranged.
- the image processing unit is configured to move, and displays the first phase contrast image and the second phase contrast image and the absorption image acquired when passing through the non-grating region side by side, or It is configured to display a second combined image obtained by combining the one-phase contrast image and the second phase contrast image with the absorption image.
- an absorption image without a grating can be obtained without retracting the first grating group and the second grating group and capturing an image or using another imaging device that does not have a grating.
- a first phase contrast image and a second phase contrast image using the grating can be generated. Since the X-rays that reach the region without a lattice reach the detector without passing through the lattice, it is possible to suppress the X-ray attenuation due to the lattice, particularly the X-ray attenuation due to the low energy side. As a result, the contrast of the absorption image generated by the X-rays passing through the non-lattice region is compared with the absorption image generated by the X-rays passing through the first and second lattice regions. Can be improved.
- the X-ray phase imaging capable of changing the orientation of the lattice with respect to the subject and capturing the image without changing the orientation of the subject or the lattice and moving the subject again.
- a system can be provided.
- FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of an X-ray phase imaging system according to a first embodiment. It is a schematic diagram for demonstrating the structure and arrangement
- FIG. 3 is a schematic diagram of an image captured by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment while continuously moving a subject.
- FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a configuration for acquiring phase information of moire fringes acquired by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment.
- FIG. 3 is a schematic diagram of a plurality of position calibration images captured by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment. It is a schematic diagram for demonstrating acquisition of the approximate expression for acquiring position calibration data.
- FIG. 8 is a schematic diagram of a plurality of images taken at first to sixth imaging positions among the images taken continuously by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment. It is a schematic diagram for demonstrating the alignment of each pixel of the same position of a to-be-photographed object in several images. It is a schematic diagram for demonstrating the alignment of each pixel of a to-be-photographed object and the phase information of a moire fringe in the image picked up continuously.
- FIG. 8 is a schematic diagram of a plurality of position calibration images captured by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment. It is a schematic diagram for demonstrating acquisition of the approximate expression for acquiring position calibration data.
- FIG. 8 is a schematic diagram of a plurality of images taken at first to
- FIG. 5 is a schematic diagram of an intensity signal curve obtained by associating each phase value of each pixel and each pixel value of the image captured continuously according to the first embodiment in a one-to-one relationship.
- FIG. 6 is a schematic diagram of an absorption image (A), a phase differential image (B) and a dark field image (C) generated by the image processing unit according to the first embodiment.
- 3A is a schematic diagram of a first phase contrast image generated by the image processing unit according to the first embodiment and
- FIG. 2B is a schematic diagram of a second phase contrast image generated by the image processing unit. It is a schematic diagram for demonstrating the phase image by a comparative example.
- FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a phase image generated by the image processing unit according to the first embodiment.
- FIG. 6 is a flowchart for explaining a generation process of a first combined image by the X-ray phase imaging system according to the first embodiment.
- FIG. 9 is a schematic diagram of an intensity signal curve obtained by associating each phase value of each pixel and each pixel value of a plurality of images in a one-to-one relationship according to the second embodiment. It is a flow chart for explaining the generation processing of the 1st synthetic picture by the X-ray phase imaging system by a 2nd embodiment. It is a schematic diagram which showed the whole structure of the X-ray phase imaging system by 3rd Embodiment.
- FIG. 1 It is a schematic diagram for demonstrating the relationship between the relative position of an imaging system and a to-be-photographed object, and the position coordinate in the imaged X-ray image. It is a schematic diagram which showed the X-ray source, the point on the tomographic plane in a to-be-photographed object, and the geometrical relationship with a detector. 6A to 6C are schematic diagrams for explaining how a subject appears in a tomographic image at each tomographic position. It is a flow chart for explaining the generation processing of the phase contrast image by the X-ray phase imaging system by a 3rd embodiment. It is a schematic diagram which showed the whole structure of the X-ray phase imaging system by 4th Embodiment. FIG.
- FIG. 10 is a schematic diagram of an absorption image (A), a first phase contrast image (B), a second phase contrast image (C), and a second composite image (D) that combines them, which are generated by the image processing unit according to the fourth embodiment. is there. It is a flow chart for explaining the generation processing of the 2nd synthetic picture by the X-ray phase imaging system by a 4th embodiment. It is a schematic diagram which showed the whole structure of the X-ray phase imaging system by a 1st modification. It is a schematic diagram which showed the whole structure of the X-ray phase imaging system by the 2nd modification.
- First Embodiment 1 to 15 the configuration of the X-ray phase imaging system 100 according to the first embodiment of the present invention, and the X-ray phase imaging system 100 includes a first phase contrast image 14a (see FIG. 13) and a second phase. A method of generating the contrast image 14b (see FIG. 13) and the first combined image 19 (see FIG. 15) will be described.
- the X-ray phase imaging system 100 is a device that images the inside of the subject T using the Talbot effect.
- the X-ray phase imaging system 100 can be used for imaging the inside of the subject T as an object for nondestructive inspection use, for example.
- FIG. 1 is a diagram of the X-ray phase imaging system 100 viewed from the Y direction.
- the X-ray phase imaging system 100 includes an X-ray source 1, a detector 2, a first grating group 3, a second grating group 4, a moving mechanism 5, and an image processing unit 6.
- the control unit 7 and the grid moving mechanism 8 are provided.
- the direction from the X-ray source 1 to the first grating 30 is the Z2 direction
- the opposite direction is the Z1 direction.
- the direction along the horizontal direction is the Z direction.
- the left-right direction in the plane orthogonal to the Z direction is defined as the X direction, the left direction (upward direction on the paper surface of FIG.
- the X-ray source 1 generates X-rays when a high voltage is applied.
- the X-ray source 1 is configured to emit the generated X-rays in the direction along the optical axis XRa (Z2 direction). In the example shown in FIG. 1, the X-ray source 1 irradiates the region surrounded by the straight line XR1 and the straight line XR2 with X-rays.
- the detector 2 is configured to detect X-rays, convert the detected X-rays into an electric signal, and read the converted electric signal as an image signal.
- the detector 2 is, for example, an FPD (Flat Panel Detector).
- the detector 2 is composed of a plurality of conversion elements (not shown) and pixel electrodes (not shown) arranged on the plurality of conversion elements.
- the plurality of conversion elements and the pixel electrodes are arranged in an array in the X direction and the Y direction at a predetermined cycle (pixel pitch).
- the detector 2 is also configured to output the acquired image signal to the image processing unit 6.
- the first grating group 3 has an X-ray optical axis XRa direction (Z direction) between the X-ray source 1 and the detector 2 with the grating extending direction directed along the first direction (Y direction). ) Includes a plurality of grids arranged along. Specifically, the first lattice group 3 includes a first lattice 30, a second lattice 31, and a third lattice 32.
- the Y direction is an example of the “first direction” in the claims.
- the Z direction is an example of the “optical axis direction” in the claims.
- the second grating group 4 is arranged between the X-ray source 1 and the detector 2 along with the first grating group 3 in a direction (X direction) intersecting the Z direction, and the extending direction of the grating is different from the Y direction. It includes a plurality of gratings arranged along the Z direction toward the direction along the second direction (X direction).
- the second lattice group 4 includes a first lattice 40, a second lattice 41, and a third lattice 42.
- the X direction is an example of the “direction crossing the optical axis direction” and the “second direction” in the claims.
- the first grating 30 is arranged between the X-ray source 1 and the second grating 31, and is irradiated with X-rays from the X-ray source 1.
- the first grating 30 is provided to enhance coherence of X-rays emitted from the X-ray source 1 due to the Law effect.
- lattice 30 is comprised so that the X-ray which passed each X-ray transmission part 30a may be used as a linear light source.
- the X-rays emitted from the X-ray source 1 It is possible to increase coherence. This is called the low effect.
- the second grating 31 is provided to form a self-image of the second grating 31 by the Talbot effect.
- an image (self-image) of the grating is formed at a position separated from the grating by a predetermined distance (Talbot distance). This is called the Talbot effect.
- the third grating 32 is arranged between the second grating 31 and the detector 2, and is irradiated with the X-rays that have passed through the second grating 31.
- the third grating 32 is arranged at a position separated from the second grating 31 by a predetermined Talbot distance.
- the third grating 32 interferes with the self-image of the second grating 31 to form moire fringes MF (see FIG. 4).
- the first grating 40, the second grating 41, and the third grating 42 are arranged for the same purpose as the first grating 30, the second grating 31, and the third grating 32, respectively.
- the moving mechanism 5 is configured to move the subject T or the imaging system 9 in the X direction under the control of the control unit 7.
- the imaging system 9 includes an X-ray source 1, a detector 2, a first grating group 3 and a second grating group 4.
- the moving mechanism 5 is configured to move the subject T from the X2 direction to the X1 direction so that the subject T and the imaging system 9 move relative to each other.
- the moving mechanism 5 causes the subject T to pass through the first lattice region R1 in which the first lattice group 3 is arranged and the second lattice region R2 in which the second lattice group 4 is arranged.
- the imaging system 9 are relatively moved.
- the moving mechanism 5 is composed of, for example, a belt conveyor or various linear motion mechanisms.
- a region surrounded by the straight line XR1 and the X-ray optical axis XRa between the X-ray source 1 and the detector 2 is referred to as a first lattice region R1.
- a region surrounded by the straight line XR2 and the X-ray optical axis XRa is referred to as a second lattice region R2.
- the image processing unit 6 is configured to generate the phase contrast image 14 (see FIG. 12) based on the image signal output from the detector 2.
- the image processing unit 6 generates a first phase contrast image 14a when the subject T passes through the first lattice region R1 and a second phase contrast image 14b when the subject T passes through the second lattice region R2. Is configured.
- the image processing unit 6 is also configured to generate a first combined image 19 in which the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are combined.
- the image processing unit 6 includes, for example, a processor such as a GPU (Graphics Processing Unit) or an FPGA (Field-Programmable Gate Array) configured for image processing.
- a processor such as a GPU (Graphics Processing Unit) or an FPGA (Field-Programmable Gate Array) configured for image processing.
- the control unit 7 is configured to control the moving mechanism 5 to move the subject T in the X direction. Further, the control unit 7 is configured to control the lattice moving mechanism 8 to move the second lattice 31 and the second lattice 41. Further, the control unit 7 controls the grating moving mechanism 8 to adjust the positions of the second grating 31 and the second grating 41, so that the moire fringes MF (see FIG. 4) are formed on the detection surface of the detector 2. Is configured to cause.
- the control unit 7 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), and a RAM (Random Access Memory).
- the lattice moving mechanism 8 is configured to move the second lattice 31 and the second lattice 41 under the control of the control unit 7. Further, the grid moving mechanism 8 is configured to generate the moire fringes MF (see FIG. 4) by adjusting the positions of the second grid 31 and the second grid 41 under the control of the control unit 7. ..
- the detailed structure for moving the lattice by the lattice moving mechanism 8 will be described later. Further, in the example shown in FIG. 1, the two lattice moving mechanisms 8 hold the second lattice 31 and the second lattice 41, respectively.
- the first grating 30 has a plurality of X-ray transmitting portions 30a and X-ray absorbing portions 30b arranged in the X direction at a predetermined period (pitch) d1.
- Each X-ray transmitting portion 30a and X-ray absorbing portion 30b is formed so as to extend linearly.
- the X-ray transmitting portions 30a and the X-ray absorbing portions 30b are formed so as to extend in parallel.
- the first grating 30 is configured to use the X-rays that have passed through the respective X-ray transmissive portions 30a as linear light sources corresponding to the positions of the respective X-ray transmissive portions 30a.
- the second grating 31 has a plurality of slits 31a and an X-ray phase changing portion 31b.
- the slits 31a and the X-ray phase changing portions 31b are arranged in the X direction at a predetermined cycle (pitch) d2.
- Each of the slits 31a and the X-ray phase changing portion 31b is formed so as to extend linearly.
- the slits 31a and the X-ray phase changing portion 31b are formed so as to extend in parallel.
- the second grating 31 is a so-called phase grating.
- the third grating 32 has a plurality of X-ray transmitting portions 32a and X-ray absorbing portions 32b.
- the X-ray transmitting portions 32a and the X-ray absorbing portions 32b are arranged in the X direction at a predetermined cycle (pitch) d3.
- Each X-ray transmitting portion 32a and X-ray absorbing portion 32b is formed so as to extend linearly.
- the X-ray transmitting portions 32a and the X-ray absorbing portions 32b are formed so as to extend in parallel.
- the second grating 31 is a so-called absorption grating.
- the first grating 30 and the second grating 31 have different roles, but the slit 31a and the X-ray transmitting portion 32a respectively transmit X-rays. Further, the X-ray absorbing unit 32b shields X-rays. Further, the X-ray phase changing unit 31b changes the phase of X-rays depending on the difference in the refractive index with the slit 31a.
- the first grating 40 has a plurality of slits 40a and X-ray absorbing portions 40b arranged in the Y direction at a predetermined cycle (pitch) d4.
- the first grating 40 has the same configuration as the first grating 30 except that the first grating 40 is arranged so that the extending direction of the grating is different. That is, the slit 40a and the X-ray absorbing portion 40b have the same configuration as the X-ray transmitting portion 30a and the X-ray absorbing portion 30b.
- the second grating 41 has a plurality of slits 31a and an X-ray phase changing portion 31b.
- the slits 31a and the X-ray phase changing portions 31b are arranged in the Y direction at a predetermined cycle (pitch) d5.
- the second grating 41 has the same configuration as the second grating 31 except that the second grating 41 is arranged so that the extending directions of the second grating 41 are different. That is, the slit 41a and the X-ray phase change unit 41b have the same configuration as the slit 31a and the X-ray phase change unit 31b.
- the third grating 42 has a plurality of X-ray transmitting portions 42a and X-ray absorbing portions 42b.
- the X-ray transmitting portions 42a and the X-ray absorbing portions 42b are arranged in the Y direction at a predetermined cycle (pitch) d6.
- the third lattice 42 has the same configuration as the third lattice 32, except that the third lattice 42 is arranged so that the extending direction of the lattice is different. That is, the X-ray transparent portion 42a and the X-ray absorbing portion 42b have the same configuration as the X-ray transparent portion 32a and the X-ray absorbing portion 32b.
- the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are arranged so that the first direction and the second direction are substantially orthogonal to each other.
- the X-rays that have passed through the first grating group 3 and the X-rays that have passed through the second grating group 4 are detected by the common detector 2.
- the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are arranged within the irradiation range of X-rays emitted from the common X-ray source 1.
- the first grating 30 of the first grating group 3 and the first grating 40 of the second grating group 4 are integrally formed by the substrate RS, and the second grating 31 and the second grating of the first grating group 3 are formed.
- the second grating 41 of the group 4, the third grating 32 of the first grating group 3 and the third grating 42 of the second grating group 4 are formed separately. Further, each lattice of the first lattice group 3 and each lattice of the second lattice group 4 each have a flat plate shape.
- the lattice moving mechanism 8 includes a rotation direction Rz around the X-direction, the Y-direction, the Z-direction, and the Z-direction axis, a rotation direction Rx around the X-direction axis, and a rotation direction Rx around the Y-direction axis.
- the second grating 31 is configured to be movable in the rotation direction Ry.
- the grid moving mechanism 8 includes an X-direction direct-acting mechanism 80, a Y-direction direct-acting mechanism 81, a Z-direction direct-acting mechanism 82, a direct-acting mechanism connecting portion 83, and a stage supporting portion driving portion 84.
- the stage support part 85, the stage drive part 86, and the stage 87 are included.
- the X direction translation mechanism 80 is configured to be movable in the X direction.
- the X-direction translation mechanism 80 includes, for example, a motor.
- the Y-direction translation mechanism 81 is configured to be movable in the Y-direction.
- the Y-direction translation mechanism 81 includes, for example, a motor.
- the Z direction translation mechanism 82 is configured to be movable in the Z direction.
- the Z-direction translation mechanism 82 includes, for example, a motor.
- the lattice moving mechanism 8 is configured to move the second lattice 31 in the X direction by the operation of the X-direction linear movement mechanism 80. Further, the lattice moving mechanism 8 is configured to move the second lattice 31 in the Y direction by the operation of the Y-direction linear moving mechanism 81. Further, the lattice moving mechanism 8 is configured to move the second lattice 31 in the Z direction by the operation of the Z-direction translation mechanism 82. The lattice moving mechanism 8 is configured to move the second lattice 41 as well as the second lattice 31. The lattice moving mechanism 8 is provided in each of the second lattice 31 and the second lattice 41, and individually moves the second lattice 31 and the second lattice 41.
- the stage support section 85 supports the stage 87 from below (Y1 direction).
- the stage drive unit 86 is configured to reciprocate the stage 87 in the X direction.
- the stage 87 has a bottom portion formed in a convex curved surface shape toward the stage support portion 85, and is configured to reciprocate in the X direction so as to rotate around the axis line in the Z direction (Rz direction).
- the stage support driving unit 84 is configured to reciprocate the stage support 85 in the Z direction.
- the bottom of the stage support portion 85 is formed in a convex curved surface shape toward the linear motion mechanism connection portion 83, and is reciprocally moved in the Z direction to rotate around the axis line in the X direction (Rx direction). Is configured.
- the linear motion mechanism connecting portion 83 is provided in the X-direction linear motion mechanism 80 so as to be rotatable around an axis line in the Y direction (Ry direction). Therefore, the grid moving mechanism 8 can rotate the grid around the central axis in the Y direction.
- the X-ray phase imaging system 100 images the subject T with the moire fringes MF generated in advance.
- the first lattice group 3 is arranged so as to extend in the Y direction. Therefore, in order to generate the moire fringes MF having the periodic direction in the X direction by the first grating group 3, the second grating 31 is moved to a position moved in the Z direction by a predetermined distance from the position where the moire fringes MF are not generated. Place it. Further, they are arranged so as to extend in the X direction of the second lattice group 4. Therefore, in order to generate the moire fringes MF whose periodic direction is the X direction by the second grating group 4, the second grating 41 is arranged in the state rotated by a predetermined angle around the Z direction.
- the example shown in FIG. 4 is a schematic diagram of an image 10 captured while the subject T is continuously linearly moved by the moving mechanism 5.
- the example shown in FIG. 4 is an example in which a rectangular subject T is continuously imaged while moving from one side (right side) of the imaging range to the other side (left side).
- the control unit 7 is configured to capture an image while moving the subject T in a state where the moire fringes MF are generated.
- the control unit 7 captures an image while moving the subject T in a state in which the moire fringes MF each having one cycle is the cycle d7.
- the first lattice group 3 and the second lattice group 4 differ in the method of adjusting the relative positions of the respective lattices for generating the moire fringes MF, but the moire fringes MF having a periodic direction in the X direction are generated. It is arranged to let. Therefore, the configuration for extracting the phase information 12 of the moire fringes MF, which will be described later, is the same, and therefore, the moire fringes MF generated by the first lattice group 3 will be described below.
- the image processing unit 6 is configured to acquire the phase information 12 of the moire fringes MF.
- the X-ray phase imaging system 100 acquires the moire fringe image 11 at each step as shown in FIG. 5 by translating the second grating 31 by the grating moving mechanism 8.
- the image processing unit 6 is configured to acquire the phase information 12 of the moire fringes MF based on each moire fringe image 11.
- the moire fringe image 11 in the first to fourth steps of FIG. 5 is set as I k (x, y), and S (x, y) is defined as in the following equation (1).
- k is the number of each step.
- M is the number of translational movements of the lattice.
- x and y are pixel positions (coordinates) on the detection surface of the detector 2 in the plane orthogonal to the X-ray irradiation axis.
- the phase information 12 of the moire fringes MF is represented by the following equation (2).
- ⁇ (x, y) is the phase information 12 of the moire fringes MF.
- I k (x, y) may be used as a function of k to perform fitting with a sine curve (sine wave), and the phase information of the sine curve may be used as the phase information 12 of the moire fringes MF.
- the phase information 12 of the moire fringes MF is a striped image in which the change in the phase value of the moire fringes MF is repeated every one cycle d7.
- the image processing unit 6 includes, in each of the first lattice area R1 and the second lattice area R2, a plurality of images 10 captured while moving the subject T and the image capturing system 9 relatively, and a plurality of images.
- the pixel value of each pixel of the subject T in the plurality of images 10 and the phase value of the moiré fringes MF in each pixel are associated with each other based on the phase information 12 of the moiré fringes MF generated in each image 10.
- the image processing unit 6 determines the same position of the subject T in the plurality of images 10 based on the position information of the pixels of the same position of the subject T in the plurality of images 10 and the pixel value of each pixel associated with the phase value.
- the pixel is aligned in each of the first lattice region R1 and the second lattice region R2 to generate the phase contrast image 14.
- the image processing unit 6 determines the subject in the plurality of images 10 based on the plurality of position calibration images 13 (see FIG. 6) captured while relatively moving the marker M and the imaging system 9. It is configured to generate position calibration data used for aligning pixels at the same position of T.
- the marker M may be any one as long as it absorbs X-rays.
- the marker M includes, for example, a wire.
- FIG. 6 is a schematic diagram of the position calibration image 13 captured while the marker M is moved in the X direction by the moving mechanism 5.
- the position calibration image 13 shown in FIG. 6 is an example of an image captured while moving the marker M from the first imaging position to the sixth imaging position. Further, in the example shown in FIG. 6, the moving amount dm of the marker M is acquired by focusing on the pixel R among the pixels in which the marker M is copied.
- the position calibration data includes a command value related to the amount of movement input to the moving mechanism 5 when the marker M and the imaging system 9 are relatively moved by the moving mechanism 5, and the marker M and the imaging system 9 based on the command value. Is generated based on the actual movement amount dm of the marker M in the position calibration image 13 when the mark is relatively moved.
- the position calibration data is an approximate expression indicating the relationship between the command value and the movement amount dm of the marker M based on the position of each pixel at the same position of the marker M in the plurality of position calibration images 13. It is created by getting
- FIG. 7 is an example of a graph G1 in which the vertical axis represents the position of the marker M in each position calibration image 13, and the horizontal axis represents the command value when the marker M is moved.
- the control unit 7 acquires an approximate expression by linearly fitting each plot mp shown in the graph G1.
- the moving mechanism 5 is configured to continuously move the subject T when the subject T is imaged. Specifically, the moving mechanism 5 continuously moves the subject T by moving the subject T at a substantially constant speed while passing through the first lattice region R1 and while passing through the second lattice region R2. Is configured to move to. Further, the image processing unit 6 is configured to generate the phase contrast image 14 based on the acquired continuous image 10. That is, in the first embodiment, the image 10 is acquired as a moving image in which the image 10 is continuously captured at a predetermined frame rate (time interval).
- the control unit 7 acquires the following expression (3) as the position calibration data.
- x i is the position of the pixel at the same position of the subject T in the i-th frame.
- x start is the position of the pixel in the first frame among the pixels at the same position of the subject T.
- vp is a speed (pulse / s) when the moving mechanism 5 moves the subject T.
- fps is a frame rate (frame / s) when capturing a moving image.
- i is a frame number in the moving image.
- the moving mechanism 5 moves the rectangular subject T from one side (right side) of the image capturing range to the other side (left side) thereof at six positions (first image capturing position to sixth image capturing position). ) Is an example of imaging at each position. Note that, in the first imaging position, a part of the subject T in the X direction is not arranged on the detection surface of the detector 2, so that an example in which a part of the subject T is not shown in the captured image 10 is an example. Further, the example shown in FIG. 8 is an example showing a change in the position of the pixel Q in each pixel of the subject T in the plurality of images 10. In addition, the plurality of images 10 are an example of “a plurality of images captured while moving the subject and the image capturing system relatively” in the claims.
- the position of the subject T at the first image pickup position is shown by a broken line in order to make it easy to grasp the movement amount dt of the subject T.
- the moving mechanism 5 moves the subject T for at least one cycle d7 (see FIG. 4) of the moire fringes MF.
- the image processing unit 6 acquires the position of the pixel at the same position of the subject T in each image 10 using the position calibration data, and aligns the pixels in each image 10. Specifically, as shown in FIG. 9, each image 10 is aligned with the phase information 12, and each aligned subject image 21 and phase information 22 is acquired.
- the images 10 at the first imaging position to the sixth imaging position are aligned at the second imaging position.
- the subject image 21 is shown.
- the image 10 obtained by arranging the subject T at the first imaging position does not show the entire subject T in the X direction, and thus the subject image 21 after alignment has a blank area E. ..
- the moire fringes MF move with respect to the pixel Q.
- the position corresponding to the position of the pixel Q of each subject image 21 after alignment is indicated by a point U. That is, the position of the pixel at each imaging position and the position of the phase value of the moire fringes MF in the phase information 22 after alignment are associated in a one-to-one relationship.
- each frame of the image 10 acquired as a moving image is aligned with the phase information 12, and each aligned subject image 21 and phase information 22 is acquired. That is, as shown in FIG. 10, the pixels of each frame of the continuously captured image 10 and the phase information 12 are aligned using the position calibration data.
- the image processing unit 6 associates the pixel value of each pixel of the image 10 with the phase value of the moire fringes MF based on the pixels of the image 10 acquired as a moving image and the phase information 12, and FIG.
- the intensity signal curve SC1 shown in is acquired.
- the intensity signal curve SC1 is a graph in which the horizontal axis represents the phase value and the vertical axis represents the pixel value.
- the image processing unit 6 generates the phase contrast image 14 based on the intensity signal curve SC1. Note that the blank area E shown in FIG. 9 does not have the phase information 12 of the moire fringes MF, and therefore is not sampled in FIG.
- FIG. 12 is a schematic diagram of the phase contrast image 14.
- the image processing unit 6 generates the absorption image 15, the phase differential image 16, and the dark field image 17 based on the acquired intensity signal curve SC1.
- the method of generating the absorption image 15, the phase differential image 16, and the dark field image 17 can be performed by a known method, and thus the description thereof will be omitted.
- the image processing unit 6 and the control unit 7 generate the intensity signal curve from the image 10 captured in the second lattice region R2, similarly to the generation of the phase contrast image 14 captured in the first lattice region R1. It is configured to acquire SC1.
- the image processing unit 6 and the control unit 7 are also configured to generate the phase contrast image 14 in the second lattice region R2 based on the intensity signal curve SC1 acquired in the second lattice region R2.
- FIG. 13A is a schematic diagram of the first phase differential image 16a when passing through the first lattice region R1.
- FIG. 13B is a schematic diagram of the second phase differential image 16b when passing through the second lattice region R2. Since the phase differential image 16 has sensitivity in the direction orthogonal to the direction in which the grating extends, the emphasized edge direction is different between the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b. That is, in the first phase differential image 16a, the edge in the direction (X direction) orthogonal to the first direction (Y direction) is emphasized. In the second phase differential image 16b, the edge in the direction (Y direction) orthogonal to the second direction (X direction) is emphasized.
- the image processing unit 6 is configured to generate a first combined image 19 (see FIG. 15) that combines the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b. Specifically, the image processing unit 6 causes the subject T to pass through the second lattice region R2 and the first phase differential image 16a (first phase contrast image 14a) when the subject T passes through the first lattice region R1.
- the phase image 18 (first combined image 19) is generated based on the second phase differential image 16b (second phase contrast image 14b) at the time.
- FIG. 14 is a schematic diagram of the phase image 20 according to the reference example.
- the phase image 20 is generated using a phase differential image having sensitivity in the X direction or the Y direction.
- the phase image 20 is generated by integrating along the Y direction (or X direction) intersecting the X direction (or Y direction) in which the edge is emphasized.
- the phase differential image for integration since the phase differential image for integration has sensitivity only in the Y direction (or the X direction), the phase image generated due to noise included in the direction in which the phase image has no sensitivity is generated. Artifact SP occurs at 20. Therefore, the image quality of the phase image 20 deteriorates.
- the example shown in FIG. 15 is a schematic diagram of the phase image 18 generated by the image processing unit 6 according to the first embodiment.
- the image processing unit 6 generates the phase image 18 by the following equation (4).
- ⁇ x is the first phase differential image 16a captured in the first lattice region R1.
- ⁇ y is the first phase differential image 16a captured in the second lattice region R2.
- x and y are the x coordinate and the y coordinate of the pixel in the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b.
- i is an imaginary unit that represents a complex number.
- k and l are coordinates in the frequency space.
- the image processing unit 6 uses the above equation (4) to form the phase image 18 using the first phase differential image 16a sensitive to the X direction and the second phase differential image 16b sensitive to the Y direction. To generate. Since the image processing unit 6 generates the phase image 18 from the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b, which have sensitivity in each direction, it is possible to suppress the occurrence of the artifact SP in the phase image 18.
- step S1 the image processing unit 6 causes the moving mechanism 5 to move the marker M to the first imaging position to the sixth imaging position of each of the first lattice region R1 and the second lattice region R2 under the control of the control unit 7. While moving, a plurality of position calibration images 13 are acquired.
- step S2 the control unit 7 acquires an approximate expression based on the movement amount dm of the marker M and the command value. The control unit 7 acquires the position calibration data based on the acquired inclination of the approximate expression. Thereafter, the process proceeds to step S3.
- step S3 the image processing unit 6 acquires the phase information 12 of the moire fringes MF.
- step S4 the image processing unit 6 causes the moving mechanism 5 to relatively move the subject T and the imaging system 9 in each of the first lattice region R1 and the second lattice region R2 under the control of the control unit 7. Meanwhile, the image 10 is acquired.
- the moving mechanism 5 continuously moves the subject T. Thereafter, the process proceeds to step S5.
- step S5 the image processing unit 6 aligns the pixels at the same position of the subject T in the image 10. Thereafter, the process proceeds to step S6.
- step S6 the image processing unit 6 aligns the phase information 12 and acquires the phase information 22. Then, in step S7, the image processing unit 6 obtains the intensity signal curve SC1 by associating the pixels of the subject T in the continuously captured images 10 with the phase value of the moire fringes MF. Next, in step S8, the image processing unit 6 generates the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b based on the intensity signal curve SC1.
- step S9 the image processing unit 6 generates the first combined image 19 from the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b, and ends the process.
- Either of the processing for acquiring the position calibration data in steps S1 and S2 and the processing for acquiring the phase information 12 of the moire fringes MF in step S3 may be performed first.
- the acquisition process of the position calibration data may be performed at any timing as long as the position alignment of the pixels in the plurality of images 10 is not performed. Further, the process of acquiring the phase information 12 of the moire fringes MF may be performed at any time before the process of aligning the phase information 12.
- the X-ray phase imaging system 100 includes the X-ray source 1, the detector 2 that detects the X-rays emitted from the X-ray source 1, the X-ray source 1, and the detector. And a second grid including a plurality of grids arranged along the optical axis XRa direction (Z direction) of the X-rays with the grid extending direction facing the first direction (Y direction). A second group of gratings 3 arranged between the X-ray source 1 and the detector 2 in a direction (X direction) intersecting the Z direction and arranged side by side with the first grating group 3 extending in a direction different from the Y direction.
- the second grating group 4 including a plurality of gratings arranged along the Z direction toward the direction (X direction), the subject T or X-ray source 1, the detector 2, and the first grating group 3 And a signal detected by the detector 2 and a moving mechanism 5 configured to relatively move the imaging system 9 configured by the second grating group 4 and
- An image processing unit 6 that generates a phase contrast image 14 based on the moving mechanism 5 includes a subject T, a first lattice area R1 in which the first lattice group 3 is arranged, and a second lattice group 4.
- the image processing unit 6 is configured to move the subject T and the image pickup system 9 relative to each other so as to pass through the second lattice region R2.
- the phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b when the subject T passes through the second lattice region R2 are generated.
- the subject T is imaged by passing through the first lattice region R1 and the second lattice region R2, and the subject T is imaged by the first lattice group 3 and the second lattice group 4 in which the lattice extending directions are different from each other. can do.
- the imaging work can be simplified and the imaging time can be shortened.
- the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are arranged so that the Y direction and the second direction (X direction) are substantially orthogonal to each other. ..
- the first direction (Y direction) and the second direction (X direction) are substantially orthogonal to each other, whichever of the first lattice group 3 or the second lattice group 4 regardless of the arrangement direction of the subject T.
- the phase shift of the X-ray or the refraction of the X-ray due to the subject T can be extracted.
- the subject T can be imaged in either the first phase contrast image 14a or the second phase contrast image 14b regardless of the arrangement direction of the subject T.
- the image processing unit 6 is configured to generate the first combined image 19 in which the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are combined.
- the first combined image 19 obtained by combining the second phase contrast image 14b having sensitivity in the first direction (Y direction) and the first phase contrast image 14a having sensitivity in the second direction (X direction)
- the sensitivities in the first direction (Y direction) and the second direction (X direction) can be collectively grasped.
- the internal structure of the subject T can be grasped in detail.
- the X-rays that have passed through the first lattice group 3 and the X-rays that have passed through the second lattice group 4 are respectively detected by the common detector 2. Accordingly, by providing one detector 2, it is possible to detect the X-rays that have passed through the first grating group 3 and the X-rays that have passed through the second grating group 4. As a result, the number of parts is increased as compared with the case where the detector 2 for detecting X-rays passing through the first grating group 3 and the detector 2 for detecting X-rays passing through the second grating group 4 are respectively provided. Can be suppressed.
- the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are arranged within the irradiation range of the X-rays emitted from the common X-ray source 1. Accordingly, by providing one X-ray source 1, it is possible to irradiate the first lattice group 3 and the second lattice group 4 with X-rays. As a result, the number of parts is increased as compared with the case where the X-ray source 1 for irradiating the first grating group 3 with X-rays and the X-ray source 1 for irradiating the second grating group 4 with X-rays are respectively provided. Can be suppressed.
- the first grating group 3 and the second grating group 4 respectively increase the coherence of X-rays emitted from the X-ray source 1 and the first grating 30 and the second grating group 4.
- the 1st grating 30 of the 1st grating group 3 and the 1st grating 40 of the 2nd grating group 4 are formed integrally, and the 2nd grating 31 and the 1st grating of the 1st grating group 3
- the second lattice 41 of the second lattice group 4, the third lattice 32 of the first lattice group 3 and the third lattice 42 of the second lattice group 4 are formed separately.
- the distance from the X-ray source 1 to the first grating 30 of the first grating group 3 and the distance from the X-ray source 1 to the first grating 40 of the second grating group 4 are made substantially equal.
- the moire fringes MF are formed in advance for imaging, the moire fringes MF formed by the first lattice group 3 and the moire fringes MF formed by the second lattice group 4 have their respective directions in the scanning direction.
- the relative position of each grating for forming the moire fringes MF is the first grating group 3.
- the second lattice group 4 are different from each other. Therefore, the second grating 31 of the first grating group 3 and the second grating 41 of the second grating group 4 are separately formed, and the third grating 32 and the second grating group of the first grating group 3 are formed.
- the respective gratings of the first grating group 3 and the second grating group 4 are located at relative positions suitable for forming moire fringes MF. Can be placed.
- the second grating 31 and the second grating 41, or the third grating 31 is used in each of the first grating group 3 and the second grating group 4.
- the first grating group 3 and the second grating group 4 are arranged so that the extending directions of the gratings are different from each other. Are different between the first lattice group 3 and the second lattice group 4.
- the second grating 31 of the first grating group 3 and the second grating 41 of the second grating group 4 are formed separately, and the third grating 32 of the first grating group 3 and the second grating group 4 of the second grating group 4 are formed.
- the third lattice 42 and the third lattice 42 separately, it becomes possible to provide the moving mechanism 5 in each of the lattices of the first lattice group 3 and the second lattice group 4 that are translated.
- the lattices to be translated can be imaged while being translated in different directions.
- the image processing unit 6 takes a plurality of images in each of the first lattice area R1 and the second lattice area R2 while relatively moving the subject T and the imaging system 9. Based on the image 10 and the phase information 22 of the moire fringes MF generated in the plurality of images 10, the pixel value at each pixel of the subject T in the plurality of images 10 and the phase value of the moire fringes MF at each pixel are calculated. The positions of the pixels of the same position of the subject T in the plurality of images 10 are correlated based on the position information of the pixels of the same position of the subject T in the plurality of images 10 and the pixel value of each pixel associated with the phase value.
- the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are generated. Is constructed sea urchin.
- the pixel value of the pixel at the same position of the subject T in each image and the phase value corresponding to the pixel at the same position of the subject T in each image are associated with each other and the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image are obtained.
- the image 14b can be generated. Therefore, for example, comparison is made with the case where the region for one cycle of the moire fringes MF is divided into regions and the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are generated using the average value of the pixel values included in each region.
- the image quality of the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b is deteriorated due to an error in the pixel values used to generate the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b. Can be suppressed.
- the moving mechanism 5 is configured to continuously move the subject T when the subject T is imaged, and the image processing unit 6 uses the acquired consecutive images.
- the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are configured to be generated based on the objective image 10.
- the continuous first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are generated, for example, the continuous first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14a are generated by repeating the movement and the imaging of the subject T.
- the continuous first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are generated by imaging the subject T while continuously moving. You can As a result, the imaging time can be shortened as compared with the conventional fringe scanning method.
- the image processing unit 6 uses the plurality of images 10 for position calibration based on the plurality of images 13 for position calibration that are imaged while the marker M and the imaging system 9 are relatively moved. It is configured to create position calibration data used for aligning each pixel at the same position of the subject T in.
- position calibration data used for aligning each pixel at the same position of the subject T in.
- the position calibration data is the command value regarding the movement amount dm input to the moving mechanism 5 when the moving mechanism 5 relatively moves the marker M and the imaging system 9. It is created based on the movement amount dm of the marker M or the imaging system 9 in the position calibration image 13 when the marker M and the imaging system 9 are relatively moved based on the command value.
- the accurate movement amount dm can be obtained by the position calibration data. Can be obtained.
- it is possible to accurately align the pixels at the same position of the subject T in the plurality of images 10 it is possible to further suppress deterioration of the image quality of the obtained phase contrast image 14.
- the position calibration data is based on the position of each pixel at the same position of the marker M in the plurality of position calibration images 13, and the command value and the marker M or the imaging system. It is created by acquiring an approximate expression indicating the relationship between the movement amount dm of 9 and the movement amount dm. Accordingly, by obtaining the approximate expression based on the position of each pixel at the same position of the marker M in the plurality of position calibration images 13, it is possible to change to a position different from the position where the plurality of position calibration images 13 are captured.
- the relationship between the command value regarding the movement amount dm and the movement amount dm of the marker M or the imaging system 9 can be calculated using an approximate expression. As a result, for example, when the subject T is imaged, even when the subject T is moved to a position different from the position where the sign M or the imaging system 9 is moved, the movement amount dm of the subject T can be acquired. ..
- the image processing unit 6 causes the subject T to pass through the first phase differential image 16a (first phase contrast image 14a) when the subject T passes through the first lattice region R1 and the subject T. Is configured to generate the phase image 18 based on the first phase differential image 16a (second phase contrast image 14b) when passing through the second grating region R2.
- the first phase differential image 16a (first phase contrast image 14a) when passing through the first lattice region R1 or the first phase differential image 16a (first phase differential image when passing through the second lattice region R2) (first phase In one of the contrast images 14a)
- an artifact SP is generated in the integration direction in the phase image 20 (first combined image 19) as compared with the configuration in which the phase image 18 is generated by integrating in a predetermined direction. Can be suppressed.
- the deterioration of the image quality of the phase image 20 (first combined image 19) can be suppressed.
- an X-ray phase imaging system 200 (see FIG. 1) according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 8, 9 and 17.
- the moving mechanism 5 moves the subject T by a predetermined distance dt (see FIG. 8).
- the image processing unit 60 (see FIG. 1) is configured to move, and generates the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b based on the image 10 acquired while moving by the predetermined distance dt. Is configured to.
- the same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
- the X-ray phase imaging system 200 has the same configuration as that of the first embodiment, except that the X-ray phase imaging system 200 includes an image processing unit 60 and a control unit 70.
- the moving mechanism 5 Under the control of the controller 70, the moving mechanism 5 is configured to move the subject T by a predetermined distance dt (see FIG. 8) when the subject T is imaged.
- the image processing unit 60 is configured to generate the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b based on the image 10 acquired while moving by a predetermined distance dt.
- the moving mechanism 5 moves the subject T to each of the first image pickup position (see FIG. 8) to the sixth image pickup position (see FIG. 8) to perform image pickup.
- the control unit 70 moves the subject T by a predetermined movement amount dt by inputting a command value relating to the movement amount for placing the subject T at each imaging position to the moving mechanism 5.
- the command value relating to the movement amount is, for example, the number of pulses input to the movement mechanism 5 when the movement mechanism 5 includes a stepping motor as a drive source.
- the configuration for aligning each image 10 with the phase information 12 is the same as that in the first embodiment, and thus detailed description thereof is omitted.
- the control unit 70 acquires the following expression (5) as the position calibration data.
- x is a position in each image of pixels at the same position of the subject T.
- x start is the position of the pixel at the first imaging position among the pixels at the same position of the subject T.
- p1 is the slope of the approximate expression.
- np is a command value (pulse number) input to the moving mechanism 5 when the subject T is moved.
- the image processing unit 60 obtains the intensity signal curve SC2 (see FIG. 17) showing the relationship between the phase value and the pixel value for the pixel in each subject image 21 (see FIG. 9) after alignment. To do.
- the intensity signal curve SC2 shown in FIG. 17 is a graph in which the horizontal axis represents the phase value and the vertical axis represents the pixel value.
- the image processing unit 60 uses each of the subject images 21 after alignment and the phase information 22 (see FIG. 9) to obtain each phase value and each pixel value of pixels at the same position of the subject T in the plurality of subject images 21.
- An intensity signal curve SC2 of pixel values in which 1 and 2 are associated in a one-to-one relationship is acquired.
- the configuration in which the image processing unit 60 acquires the intensity signal curve SC2 is the same as that in the first embodiment, and thus detailed description will be omitted.
- the image processing unit 60 is configured to generate the phase contrast image 14 based on the acquired intensity signal curve SC2. Since the blank area E shown in FIG. 9 does not have the phase information 12 of the moire fringes MF, sampling is not performed in FIG. 17 in the second embodiment as in the first embodiment.
- step S1 to S3 the control unit 70 acquires the position calibration data and the phase information 12 of the moire fringes MF. Then, a process progresses to step S10.
- step S10 the image processing unit 60 acquires a plurality of images 10 under the control of the control unit 70 while moving the subject T and the imaging system 9 relative to each other by the moving mechanism 5.
- the moving mechanism 5 moves the subject T from the first imaging position to the sixth imaging position.
- the moving mechanism 5 is configured to move the subject T by the predetermined distance dt when the subject T is imaged, and the image processing unit 60 causes the image processing unit 60 to move the predetermined distance dt by the predetermined distance dt. It is configured to generate the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b based on the image 10 acquired while moving. As a result, the number of images 10 at the time of generating the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b can be reduced as compared with the case where the subject T is imaged while being continuously moved. As a result, the imaging time can be further shortened. In addition, for example, when used for medical purposes, it is possible to suppress an increase in exposure dose.
- the X-ray phase imaging system 300 (see FIG. 19) according to the third embodiment will be described with reference to FIGS. 19 to 22.
- the first and second embodiments in which a phase contrast image 14 including all tomographic planes FP (see FIG. 20) to be imaged is generated from a plurality of images 10 in the first lattice region R1 and the second lattice region R2.
- the X-ray phase imaging system 300 in the third embodiment is configured to generate the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b of the predetermined tomographic plane FP to be imaged.
- the same components as those in the first and second embodiments are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
- the X-ray phase imaging system 300 according to the third embodiment is the same as the X-ray phase imaging system 100 according to the first embodiment except that a control unit 170 and an image processing unit 160 are provided. It is a composition.
- the control unit 170 includes a position information acquisition unit 171.
- the X-ray phase imaging system 300 further includes a position information acquisition unit 171 that acquires a tomographic position of the tomographic plane FP to be imaged in the optical axis XRa direction (Z direction), and the image processing unit 160. Is a phase distribution in the tomographic plane FP based on the acquired tomographic positions and a plurality of images 10 obtained by imaging the subject T at a plurality of relative positions between the imaging system 9 and the subject T in a predetermined direction (X direction). The acquisition is configured to generate the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b on the tomographic plane FP.
- FIG. 20 is a diagram showing the relationship between the subject T and the position coordinates of the image 10 when capturing an X-ray image at a plurality of relative positions as described above.
- the vertical axis represents the position in the Z direction
- the horizontal axis represents the position in the predetermined direction (X direction) in which the relative movement is performed.
- the focus position of the X-ray source 1 in the Z direction is the origin.
- a position in the Z direction a position separated by a distance SOD (source object distance) from the focus to the center position of the subject T is set as a reference position (hereinafter referred to as SOD).
- SOD reference position
- the position distant from the focal point to the detection surface of the detector 2 is defined as the detection surface position SID (source image Distance).
- SID source image Distance
- the tomographic position of the tomographic plane FP of the subject T is expressed as the amount of deviation from the reference position SOD.
- 2j + 1 tomographic planes FP (including the tomographic plane at the reference position SOD) shifted by the slice thickness d are set.
- the slice thickness d is the distance between the slice planes FP, and the slice planes FP are arranged at equal intervals in the Z direction with the slice thickness d.
- j is a tomographic position number
- + j tomographic planes FP are set on the positive side (detector 2 side) and ⁇ j tomographic side FP on the negative side (X-ray source 1 side) of the reference position SOD.
- SOD coordinate in the Z direction is z
- the tomographic position of each tomographic plane FP is represented by (z-jd) to (z + jd).
- the position information acquisition unit 171 acquires the slice thickness d and the slice position number (j) of the slice plane FP as the slice position (z ⁇ jd) in the Z direction of the slice plane FP to be imaged.
- the position information acquisition unit 171 acquires the reference position SOD as known information.
- the moving mechanism 5 moves the subject T to each relative position to capture an image.
- the position of the subject T in the coordinate system on the moving mechanism 5 is represented by x (x 0 to x i ).
- i is a number for specifying the relative position.
- the first to sixth imaging positions in FIG. 8 are x 1 to x 6 .
- X d (x d00 to x dji ) be the X coordinate of the projection point on the detection plane (image 10) of the point belonging to each tomographic plane FP (0 to + j) at each position coordinate x 0 to x i .
- Xd00 to Xc are regions where the X-rays that have passed through the first lattice region R1 are detected. Further, X c to X d0i are regions where the X-rays that have passed through the second lattice region R2 are detected.
- the position coordinate x dji of the detection surface (image 10) is specified. Therefore, the relative position between the imaging system 9 and the subject T is represented by x i in the coordinate system of the moving mechanism 5 and x dji in the coordinate system of the image 10.
- x c represents the X-coordinate of the detection surface optical axis XRa in (picture 10) on (normal line passing through the focal point).
- the X coordinate x dj0 appearing on the detection surface (image 10) is similar to that shown in FIG. Therefore, it is expressed by the following relational expression (expression (7)).
- the position coordinate x d00 and the position coordinate x dj0 are expressed in a relationship that does not depend on the SID.
- the phase distribution on the tomographic plane FP is acquired based on the relative position (x d0i ).
- the relative position (x d0i ) of the subject T is acquired by the following expression (10).
- X start is the initial position of the subject T at the start of image capturing.
- p1 is a conversion coefficient [pixel / pulse] of the actual movement amount of the subject T in the image 10 with respect to the command value (the number of pulses) input to the movement mechanism 5.
- np is a command value (pulse number) input to the moving mechanism 5 when the subject T is moved to each relative position of x 0 to x i .
- the image processing unit 160 acquires each relative position (x d0i ) of the subject T by the above equation (10) for each of the obtained images 10 and substitutes it in the above equation (9) to obtain the tomographic position number j. Coordinate conversion is performed so as to obtain a tomographic image of the tomographic plane FP specified by
- the conversion coefficient p1 [pixel / pulse] is a part of the design specifications of the moving mechanism 5 and can be acquired in advance as known information.
- the image processing unit 160 generates position calibration data that associates the movement amount dm of the movement mechanism 5 with the change amount of the relative position (x d0i ) in the image 10, and the reference position SOD. It is configured to acquire the phase distribution on the tomographic plane FP by using the position calibration data acquired in.
- the configuration in which the image processing unit 160 acquires the position calibration data is the same as the configuration in which the image processing unit 6 (60) in the first and second embodiments acquires the position calibration data, and thus detailed description thereof will be omitted. ..
- the generated phase contrast image 14 (the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b) is a tomographic image of the tomographic position (z + jd) acquired by the position information acquisition unit 171.
- FIG. 22 is a conceptual diagram of a tomographic image (phase contrast tomographic image) of the phase contrast image 14.
- a tomographic image absorption image 15, phase differential image 16, dark field image 17
- blurring occurs in the images of the points B2 and B3 on different tomographic planes FP.
- blurring occurs in the images of the points B1 and B3 on different tomographic planes FP.
- a phase contrast tomographic image in which blurring is suppressed (focused) on an arbitrary tomographic plane FP designated by the user is obtained.
- the image processing unit 160 is configured to individually generate a tomographic image based on the plurality of images 10 captured in the first lattice area R1 and the second lattice area R2. That is, the image processing unit 160 is configured to individually generate the first phase contrast image 14a on the predetermined tomographic plane FP and the second phase contrast image 14b on the predetermined tomographic plane FP. Further, the image processing unit 160 may be configured to generate an image in which the first phase contrast image 14a on the predetermined tomographic plane FP and the second phase contrast image 14b on the predetermined tomographic plane FP are combined. ..
- phase contrast image 14 (the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b) by the X-ray phase imaging system 300 according to the third embodiment will be described with reference to FIG. .. Note that detailed description of steps that perform the same processing as those in the first and second embodiments will be omitted.
- the image processing section 160 In steps S1 to S3 and step S10, the image processing section 160 generates a plurality of position calibration images 13 at the respective relative positions. Further, the image processing unit 160 acquires an approximate expression (position calibration data) based on the movement amount dm of the marker M and the command value. Further, the image processing unit 160 acquires the phase information 12 of the moire fringes MF. Further, the image processing unit 160 acquires the plurality of images 10 at the plurality of relative positions in the X direction by the moving mechanism 5. The moving mechanism 5 moves the subject T to each relative position of x 0 to x i .
- step S11 the position information acquisition unit 171 acquires the tomographic position.
- the acquisition process of the tomographic position (z + jd) may be performed at any timing before step S12.
- step S12 the image processing unit 160 uses the points on the tomographic plane FP specified by the acquired tomographic position (z + jd) of the subject T as a reference, and each image acquired at each relative position.
- the coordinate conversion of the position coordinates of 10 and the phase information 12 is performed.
- the image processing unit 160 performs the coordinate conversion on each subject image 21 (see FIG. 9) and the phase information 22 (see FIG. 9) that have been coordinate-transformed into the static coordinate system with the subject T on the tomographic plane FP as a reference. ) To get.
- step S13 the image processing unit 160 acquires the phase distribution on the tomographic plane FP based on each subject image 21 and each phase information 22 after coordinate conversion. That is, the image processing unit 160 generates the intensity signal curve SC2 (see FIG. 17) of each pixel (each position coordinate) in the stationary coordinate system with the subject T on the tomographic plane FP as a reference.
- step S14 the image processing unit 160 generates the phase contrast image 14 (the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b) on the predetermined tomographic plane FP based on the generated intensity signal curve SC2.
- the image processing unit 160 may generate the absorption image 15, the phase differential image 16, and the dark field image 17 as the phase contrast image 14. With the above, the generation processing of the phase contrast image 14 is completed.
- either of the processes of steps S1 and S2 and the process of step S3 may be performed first. Further, the position calibration data acquisition process may be performed at any timing before the coordinate conversion of the plurality of images 10 is performed. The process of acquiring the phase information 12 of the moire fringes MF may be performed any time before the coordinate conversion of the phase information 12.
- the image processing unit 160 further includes the position information acquisition unit 171 that acquires the tomographic position of the tomographic plane FP to be imaged in the Z direction.
- the first phase contrast in the tomographic plane FP is obtained by acquiring the phase distribution in the tomographic plane FP based on the plurality of images 10 obtained by imaging the subject T at a plurality of relative positions with respect to the subject T and the acquired tomographic positions.
- the image 14a and the second phase contrast image 14b are configured to be generated.
- the position information acquisition unit 171 can acquire the position (tomographic position) of the tomographic plane FP in the subject T in the Z direction where the internal structure desired to be imaged exists.
- the image processing unit 160 can acquire the phase distribution on the specific tomographic plane FP indicated by the tomographic position based on the obtained information on the tomographic position and each image 10 at the plurality of relative positions.
- the phase contrast image 14 (tomographic image) in which blurring of the image of the internal structure included in the tomographic plane FP is suppressed is obtained from the phase distribution on the tomographic plane FP of the tomographic position acquired by the position information acquisition unit 171. Be done. As a result, even if the subject T has a large thickness, it is possible to suppress a reduction in the visibility of the internal structure.
- an X-ray phase imaging system 400 (see FIG. 24) according to the fourth embodiment will be described with reference to FIGS. 24 and 25.
- the fourth embodiment differs from the first and second embodiments in which the phase contrast image 14 is generated based on the image 10 captured by passing the subject T through the first lattice region R1 and the second lattice region R2.
- the moving mechanism 5 is configured to relatively move the subject T and the imaging system 9 so that the subject T passes through the no-grid region R3 in which the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are not arranged. Has been done.
- the same components as those in the first and second embodiments are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
- the X-ray phase imaging system 400 has the same configuration as the first embodiment except that the X-ray phase imaging system 400 includes the collimator 50 and the image processing unit 260.
- the moving mechanism 5 is configured to relatively move the subject T and the imaging system 9 so that the subject T passes through the no-grid region R3 in which the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are not arranged. ..
- the image processing unit 260 acquires the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image 14b (second phase differential image 16b), and the absorption acquired when passing through the non-grid region R3. It is configured to display the second composite image 23 in which the image 150 (see FIG. 25) is composited.
- the collimator 50 is arranged between the first grating 30 and the first grating 40 and the second grating 31 and the second grating 41.
- the collimator 50 is composed of a shielding member that shields X-rays, and has collimator holes 50a and 17b that are openable and closable.
- the collimator hole 50a can adjust the irradiation range of the X-rays emitted from the X-ray source 1 and passed through the first lattice group 3 and the second lattice group 4 and emitted to the detector 2. It is possible.
- the collimator hole 50b can adjust the range of X-rays that are irradiated to the detector 2 without passing through the first grating group 3 and the second grating group 4.
- the sizes of the first lattice region R1 and the second lattice region R2 in the X direction are adjusted so that at least one cycle d7 of the moire fringes MF (see FIG. 4) is captured. Since the non-lattice region R3 is a region for capturing the absorption image 150 (see FIG. 25A) without the intervening lattice, the size of the non-lattice region R3 in the X direction is one period d7 of the moire fringe MF. It may be smaller than the size.
- the first grating region R1 includes the optical axis XRa of X-rays, the straight line XR1 indicating the irradiation range of X-rays from the X-ray source 1 to the collimator 50, and the collimator 50 to the detector 2.
- This is a region formed by a straight line XR3 indicating the irradiation range of X-rays.
- the second grating region R2 includes the X-ray optical axis XRa, the straight line XR2 indicating the X-ray irradiation range from the X-ray source 1 to the collimator 50, and the collimator 50 to the detector 2.
- the no-grid region R3 is a region formed by the straight line XR4 and the straight line XR5 indicating the X-ray irradiation range from the collimator 50 to the detector 2.
- the image processing unit 260 displays the second composite image 23 in which the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b are combined with the absorption image 150.
- the first phase contrast image 14a in which the internal structure IS1 extending in the Y direction is depicted is illustrated.
- FIG. 25C shows the second phase contrast image 14b in which the internal structure IS2 extending in the X direction is depicted as the internal structure of the subject T.
- the X-ray absorption amounts of the internal structure IS1 and the internal structure IS2 are so large that they are not depicted in the absorption image 150.
- the second composite image 23 is generated by combining the absorption image 150, the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image 14b (second phase differential image 16b). Therefore, the sensitivity in the Y direction due to the internal structure IS1 and the sensitivity in the X direction due to the internal structure IS2 can be grasped within one second composite image 23.
- step S15 the control unit 7 acquires the position calibration data and the phase information 12 of the moire fringes MF.
- the process of acquiring the position calibration data and the phase information 12 of the moire fringes MF in step S15 is the same as the process of steps S1 to S3 in the first embodiment, and therefore detailed description thereof will be omitted. Then, a process progresses to step S16.
- step S16 the image processing unit 260 acquires a plurality of images 10 taken while moving the subject T in the first lattice area R1, the second lattice area R2, and the non-lattice area R3. Thereafter, in step S17, the image processing unit 260, based on the plurality of images 10 in the first lattice area R1 and the second lattice area R2, the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image. The contrast image 14b (second phase differential image 16b) is generated. Then, a process progresses to step S18.
- step S18 the image processing unit 260 generates the absorption image 150 based on the image 10 in the non-grid region R3. Then, in step S19, the image processing unit 260 combines the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image 14b (second phase differential image 16b) with the absorption image 150. The 2 composite image 23 is generated, and the process is ended.
- step S17 or the process of step S18 may be performed first.
- the moving mechanism 5 includes the subject T and the imaging system 9 so that the subject T passes through the no-grid region R3 where the first lattice group 3 and the second lattice group 4 are not arranged.
- the image processing unit 260 is configured to relatively move the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image 14b (second phase differential image 16b), and the grid. It is configured to display the second combined image 23 that is combined with the absorption image 150 acquired when passing through the non-existing region R3.
- the absorption image 150 and the lattice without the interposition of the lattice can be obtained without retracting the first lattice group 3 and the second lattice group 4 to capture an image or using another imaging device that does not include the lattice. It is possible to generate the first phase contrast image 14a (first phase differential image 16a) and the second phase contrast image 14b (second phase differential image 16b) using. Since the X-rays that reach the non-lattice region R3 reach the detector 2 without passing through the lattice, it is possible to suppress the X-ray attenuation due to the lattice, particularly the X-ray attenuation due to the low energy side. As a result, as compared with the absorption image 15 (see FIG.
- the absorption image 15 passes through the lattice-less region R3.
- the contrast of the absorption image 150 generated by the arriving X-rays can be improved.
- the Z direction is the horizontal direction, and the imaging system 9 is arranged along the horizontal direction.
- the present invention is not limited to this. Absent.
- the Z direction may be the vertical direction, and the imaging system 9 may be arranged along the vertical direction.
- each lattice is flat
- the present invention is not limited to this.
- the range of X-rays to be emitted is also large, and it is necessary to use a grid having a large area.
- X-rays may be incident on the grating in an oblique direction.
- the grating may be curved.
- the lattice of the second lattice group 4 is curved. Only the first grating 40 may be curved depending on the size of the grating. Further, each lattice of the first lattice group 3 may be curved. Further, the lattice of the first lattice group 3 may be curved.
- the present invention is not limited to this. Not limited.
- the coherence of X-rays emitted from the X-ray source 1 is high enough to form a self-image of the second grating 31 and the second grating 41, the first grating 30 and the first grating 40 are set. It need not be provided.
- the present invention is not limited to this. Not limited.
- the lattice to be moved may be any lattice.
- the second embodiment has shown the example of the configuration in which the subject T (marker M) is imaged while being moved to six positions from the first imaging position to the sixth imaging position, the present invention is not limited to this. I can't. If the intensity signal curve SC2 can be acquired, the positions at which the subject T (marker M) is arranged may be less than six or more than six.
- the present invention is not limited to this.
- the movement amount dt of the subject T and the movement amount dm of the marker M may not be the same.
- the subject T (marker M) is moved between the second grating 31 and the second grating 41 and the third grating 32 and the third grating 42 is shown.
- the present invention is not limited to this.
- the subject T (marker M) may be configured to move between the first grating 30 and the first grating 40 and the second grating 31 and the second grating 41.
- the present invention is not limited to this. ..
- the position calibration data may be generated in any way, provided that the position of the pixel in each image 10 can be obtained.
- the image processing unit 6 (60) generates the first combined image 19 from the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b.
- the image processing unit 6 (60) generates the first combined image 19 using the dark field image 17 captured in the first lattice area R1 and the dark field image 17 captured in the second lattice area R2. It may be configured as follows. Further, the image processing unit 6 (60) uses the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b, the dark field image 17 captured in the first lattice region R1, and the dark field captured in the second lattice region R2.
- the first combined image 19 may be generated by combining and combining the images 17.
- the image processing unit 6 (60) generates the first combined image 19 from the first phase differential image 16a and the second phase differential image 16b has been shown.
- the present invention is not limited to this.
- the image processing unit 6 (60) does not generate the first combined image 19 and the first phase differential image 16a (first phase contrast image 14a) and the second phase differential image 16b (second phase contrast image 14b). ) May just be generated.
- the image processing unit 160 generates the second combined image 23 by combining the absorption image 150 and the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b has been shown.
- the present invention is not limited to this.
- the image processing unit 160 outputs the absorption image 150 and the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b to an external display device or the like, so that the absorption image 150 and the first phase contrast image. 14a and the second phase contrast image 14b may be displayed side by side.
- the present invention is not limited to this. I can't.
- the processing of acquiring the position calibration data and the phase information 12 of the moire fringes MF may be performed in advance and stored in the storage unit or the like.
- the image processing unit 6 (60, 160, 260) generates the phase contrast image 14 and the position calibration data and The phase information 12 of the Moire fringes MF may be acquired from the storage unit.
- the moving mechanism 5 may be configured to move the subject T (marker M) from the X1 direction to the X2 direction.
- the moving mechanism 5 may move the subject T (marker M) in any manner as long as the subject T (marker M) can be moved in the cycle direction of the moire fringes MF.
- the moving mechanism 5 may be configured to fix the subject T and move the imaging system 9 to move the subject T and the imaging system 9 relatively.
- the marker M may be fixed and the imaging system 9 may be moved to acquire the position calibration data.
- the moving mechanism 5 may move either the subject T (marker M) or the imaging system 9 as long as the relative position between the subject T (marker M) and the imaging system 9 changes.
- the moving mechanism 5 when the moving mechanism 5 moves the imaging system 9, the moving mechanism 5 may be configured to move the grating moving mechanism 8 together with the grating. Further, in the fourth embodiment, when the moving mechanism 5 moves the imaging system 9, the moving mechanism 5 may be configured to move the collimator 50 together with the imaging system 9.
- the image processing unit 6 (60) may be configured to generate the first combined image 19 without using the equation (4).
- the image processing unit 6 (60) may be configured to generate the first combined image 19 by simply adding the first phase contrast image 14a and the second phase contrast image 14b.
- the image processing unit 6 (60) is configured to generate the first combined image 19 by acquiring the root sum of squares of the first phase contrast image 14a and the root sum of squares of the second phase contrast image 14b. May be.
- the first lattice group 3 is arranged so that the regions are arranged in the order of the second lattice region R2, the first lattice region R1, and the lattice-less region R3 in the direction from the X2 direction to the X1 direction.
- the example of the configuration in which the second grating group 4 and the collimator 50 are arranged is shown, but the present invention is not limited to this.
- the order of the first grid area R1, the second grid area R2, and the non-grid area R3 may be any order.
- the group 3 is preferably arranged at a position close to the optical axis XRa (in front of the X-ray source 1).
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Abstract
このX線位相撮像システム(100)は、X線源(1)と、検出器(2)と、第1格子群(3)と、第2格子群(4)と、移動機構(5)と、画像処理部(6)と、を備える。移動機構は、被写体(T)が、第1格子領域(R1)および第2格子領域(R2)を通過するように被写体と撮像系(9)とを相対移動させるように構成されている。画像処理部は、第1位相コントラスト画像(14a)と、第2位相コントラスト画像(14b)と、を生成するように構成されている。
Description
本発明は、X線位相撮像システムに関し、特に、被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像するX線位相撮像システムに関する。
従来、被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像するX線位相撮像システムが知られている。このようなX線位相撮像システムは、たとえば、特開2017-44603号公報に開示されている。
特開2017-44603号公報に開示されているX線位相撮像システムは、X線源と、第1格子と第2格子と第3格子とを含む格子群と、検出部と、被写体を移動させる搬送部と、画素演算部と、画像演算部とを備えている。特開2017-44603号公報に開示されているX線位相撮像システムは、X線を照射された複数の格子によって生じさせたモアレ縞の周期方向に被写体を移動させながら複数枚の画像を撮像することにより、吸収像と、位相微分像と、暗視野像とを含む位相コントラスト画像を生成するように構成されている。なお、吸収像とは、X線が被写体を通過した際に生じるX線の減衰に基づいて画像化した像である。また、位相微分像とは、X線が被写体を通過した際に発生するX線の位相のずれをもとに画像化した像である。また、暗視野像とは、物体によるX線の小角散乱(屈折)に基づくVisibilityの変化によって得られる、Visibility像のことである。また、暗視野像は、小角散乱像とも呼ばれる。「Visibility」とは、鮮明度のことである。
ここで、位相微分像および暗視野像は、格子の向き(格子が延びる方向)と直交する方向における、被写体によるX線の位相のずれおよびX線の屈折に基づいて被写体を画像化した像である。すなわち、格子の向きと直交する方向に対しては感度があるが、格子に沿う方向に対しては感度がない。したがって、被写体に対する格子の向きによっては、位相微分像および暗視野像上では画像化されない部分が生じる。そのため、位相微分像および暗視野像を生成する際には、被写体に対する格子の向きを変更して撮像することが好ましい。
しかしながら、特開2017-44603号公報の構成では、所定の向きに配置された格子に対して被写体を移動させながら撮像する。そのため、特開2017-44603号公報の構成において、被写体に対する格子の向きを変更して撮像するためには、所定の向きで1度撮像した後に、被写体または格子の向きを変更して再び被写体を移動させながら撮像し直さなければならないという問題点がある。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、被写体または格子の向きを変更して再び被写体を移動させながら撮像することなく、被写体に対する格子の向きを変更して撮像することが可能なX線位相撮像システムを提供することである。
上記目的を達成するために、この発明の一の局面におけるX線位相撮像システムは、X線源と、X線源から照射されたX線を検出する検出器と、X線源と検出器との間において、格子が延びる方向を第1方向に沿った方向に向けて、X線の光軸方向に沿って配置された複数の格子を含む第1格子群と、X線源と検出器との間において光軸方向と交差する方向に第1格子群と並んで配置され、格子が延びる方向を第1方向と異なる第2方向に沿った方向に向けて、光軸方向に沿って配置された複数の格子を含む第2格子群と、被写体またはX線源と検出器と第1格子群と第2格子群とによって構成される撮像系を相対移動させる移動機構と、検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、移動機構は、被写体が、第1格子群が配置された第1格子領域および第2格子群が配置された第2格子領域を通過するように被写体と撮像系とを相対移動させるように構成されており、画像処理部は、被写体が第1格子領域を通過した際の第1位相コントラスト画像と、被写体が第2格子領域を通過した際の第2位相コントラスト画像と、を生成するように構成されている。
この発明の一の局面におけるX線位相撮像システムでは、上記のように、第1格子群が配置された第1格子領域、および、格子が延びる方向が第1格子とは異なる第2格子群が配置された第2格子領域を通過するように被写体と撮像系とを相対移動させる移動機構を備える。これにより、被写体を、第1格子領域および第2格子領域を通過させて撮像することによって、それぞれ格子の延びる方向が異なる第1格子群および第2格子群によって被写体を撮像することができる。その結果、被写体または格子の向きを変更して再び被写体を移動させながら撮像することなく、被写体に対する格子の向きを変更して撮像することができる。これにより、撮像作業を簡略化することができるとともに、撮像時間を短縮することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、第1格子群および第2格子群は、第1方向と第2方向とが略直交する向きとなるように配置されている。このように構成すれば、第1方向と第2方向とが略直交する向きであるため、被写体の配置方向にかかわらず、第1格子群または第2格子群のいずれかにおいて、被写体によるX線の位相のずれまたはX線の屈折を抽出することができる。その結果、被写体の配置方向にかかわらず、第1位相コントラスト画像または第2位相コントラスト画像のいずれかにおいて被写体を画像化することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、第1位相コントラスト画像と、第2位相コントラスト画像とを合成した第1合成画像を生成するように構成されている。このように構成すれば、第1方向に感度を有する第2位相コントラスト画像と、第2方向に感度を有する第1位相コントラスト画像とを合成した第1合成画像において、第1方向および第2方向の感度をまとめて把握することができる。その結果、被写体の内部構造を詳細に把握することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、第1格子群を通過したX線および第2格子群を通過したX線は、それぞれ、共通の検出器によって検出される。このように構成すれば、1つの検出器を設けることにより、第1格子群を通過したX線と第2格子を通過したX線とを検出することができる。その結果、第1格子群を通過したX線を検出する検出器および第2格子群を通過したX線を検出する検出器をそれぞれ設ける場合と比較して、部品点数が増加することを抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、第1格子群および第2格子群は、それぞれ、共通のX線源から照射されるX線の照射範囲内に配置されている。このように構成すれば、1のX線源を設けることにより、第1格子群および第2格子群に対してX線を照射することができる。その結果、第1格子群にX線を照射するX線源および第2格子群にX線を照射するX線源をそれぞれ設ける場合と比較して、部品点数が増加することを抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、第1格子群および第2格子群は、それぞれ、X線源から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子と、自己像を形成するための第2格子と、第2格子の自己像と干渉させるための第3格子とを含み、第1格子群の第1格子および第2格子群の第1格子は、一体的に形成されており、第1格子群の第2格子および第2格子群の第2格子と、第1格子群の第3格子および第2格子群の第3格子とは、それぞれ、別体で形成されている。
このように構成すれば、X線源の近傍に配置される第1格子群の第1格子と第2格子群の第1格子とを一体的に形成することにより、X線源から第1格子群の第1格子までの距離とX線源から第2格子群の第1格子までの距離とを略等しくすることができる。また、たとえば、予めモアレ縞を形成させて撮像する場合、第1格子群によるモアレ縞と、第2格子群によるモアレ縞とで、モアレ縞の周期の方向を略同一にする必要がある。しかしながら、第1格子群と第2格子群とでは、格子の延びる方向が互いに異なるように配置されているため、モアレ縞を形成させるための各格子の相対位置が第1格子群と第2格子群とでそれぞれ異なる。したがって、第1格子群の第2格子と第2格子群の第2格子とをそれぞれ別体で形成すること、および、第1格子群の第3格子と第2格子群の第3格子とをそれぞれ別体で形成することにより、第1格子群の各格子および第2格子群の各格子を、それぞれモアレ縞を形成させるために適した相対位置に配置することができる。
また、たとえば、予め形成させたモアレ縞の位相情報を取得するために、第1格子群および第2格子群の各々において、第2格子または第3格子を並進移動させながら撮像する場合、第1格子群と第2格子群とでは、格子の延びる方向が異なるように配置されているため、格子を並進移動させる方向が第1格子群と第2格子群とでそれぞれ異なる。第1格子群の第2格子と第2格子群の第2格子とをそれぞれ別体で形成すること、および、第1格子群の第3格子と第2格子群の第3格子とをそれぞれ別体で形成することにより、第1格子群および第2格子群の格子のうち、並進移動させる格子にそれぞれ移動機構を設けることが可能になり、第1格子群および第2格子群において、並進移動させる格子を、互いに異なる方向に並進移動させながら撮像することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、第1格子領域および第2格子領域の各々において、被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像した複数の画像と、複数の画像に生じたモアレ縞の位相情報と、に基づいて、複数の画像における被写体の各画素における画素値と、各画素におけるモアレ縞の位相値とを対応付けるとともに、複数の画像における被写体の同一位置の画素の位置情報と、位相値と対応付けた各画素の画素値とに基づいて、複数の画像における被写体の同一位置の画素の位置合わせを、第1格子領域および第2格子領域の各々において行うことにより、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている。このように構成すれば、各画像における被写体の同一位置の画素の画素値と、各画像における被写体の同一位置の画素に対応する各位相値とを対応付けて第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成することができる。したがって、たとえば、モアレ縞の1周期分の領域を領域分割して各領域に含まれる画素値の平均値を用いて第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する場合と比較して、同一位置を写した各画素の画素値を用いて第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成することができる。その結果、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像の生成に用いる画素値に誤差が生じることに起因して第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像の画質が劣化することを抑制することができる。
この場合、好ましくは、移動機構は、被写体を撮像する際に、被写体を連続的に移動させるように構成されており、画像処理部は、取得した連続的な画像に基づいて、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている。このように構成すれば、連続的な第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する際に、たとえば、被写体の移動と撮像とを繰り返すことにより連続的な第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する従来の縞走査法とは異なり、被写体を連続的に移動させながら撮像することにより、連続的な第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成することができる。その結果、従来の縞走査法と比較して、撮像時間を短縮することができる。
上記第被写体の各画素における画素値と、各画素におけるモアレ縞の位相値とを対応付けることにより第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する構成において、好ましくは、移動機構は、被写体を撮像する際に、被写体を所定距離ずつ移動させるように構成されており、画像処理部は、所定距離ずつ移動させながら取得した画像に基づいて、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている。このように構成すれば、被写体を連続的に移動させながら撮像する場合と比較して、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する際の画像の枚数を低減することができる。その結果、撮像時間をより短縮することができる。また、たとえば、医療用途に用いる場合には、被ばく量が増加することを抑制することができる。
上記第被写体の各画素における画素値と、各画素におけるモアレ縞の位相値とを対応付けることにより第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成する構成において、好ましくは、画像処理部は、標識物と撮像系とを相対移動させながら撮像された複数の位置較正用画像に基づいて、複数の画像における被写体の同一位置の各画素の位置合わせに用いる位置較正データを作成するように構成されている。このように構成すれば、位置較正データを用いることにより、被写体の同一位置の画素の各画像における位置を取得することが可能となるので、被写体の移動量を算出することができる。その結果、たとえば、被写体の移動量と標識物の移動量とが同一でない場合でも、被写体の移動量を取得することが可能となるので、複数の画像における被写体の同一位置の各画素の位置合わせを行うことができる。
上記標識物と撮像系とを相対移動させながら撮像された複数の位置較正用画像に基づいて位置較正データを作成す構成において、好ましくは、位置較正データは、移動機構によって標識物と撮像系とを相対移動させる際に移動機構に入力される移動量に関する指令値と、指令値に基づいて標識物と撮像系とを相対移動させた際の位置較正用画像中における標識物または撮像系の移動量とに基づいて作成される。このように構成すれば、移動機構に入力される移動量に関する指令値と、標識物または撮像系の移動量との間に誤差が生じていた場合でも、位置較正データによって正確な移動量を取得することができる。その結果、複数の画像における被写体の同一位置の各画素の位置合わせを正確に行うことが可能となるので、得られる位相コントラスト画像の画質が劣化することをより抑制することができる。
この場合、好ましくは、位置較正データは、複数の位置較正用画像における標識物の同一位置の各画素の位置に基づいて、指令値と標識物または撮像系の移動量との関係を示す近似式を取得することにより作成される。このように構成すれば、複数の位置較正用画像における標識物の同一位置の各画素の位置に基づいて近似式を取得することにより、複数の位置較正用画像を撮像した位置とは異なる位置への移動量に関する指令値と標識物または撮像系の移動量との関係を、近似式を用いて算出することができる。その結果、たとえば、被写体を撮像する際に、標識物または撮像系を移動させた位置と異なる位置に被写体を移動させた場合でも、被写体の移動量を取得することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、画像処理部は、被写体が第1格子領域を通過した際の位相微分像と、被写体が第2格子領域を通過した際の位相微分像とに基づいて、位相像を生成するように構成されている。このように構成すれば、第1格子領域を通過した際の位相微分像、または、第2格子領域を通過した際の位相微分像のどちらか一方の画像において、所定の方向に積分することにより位相像を生成する構成と比較して、位相像において、積分方向にアーチファクトが生じることを抑制することができる。その結果、位相像の画質が劣化することを抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、画像化対象となる断層面の光軸方向における断層位置を取得する位置情報取得部をさらに備え、画像処理部は、所定方向における撮像系と被写体との複数の相対位置で被写体を撮像した複数の画像と、取得された断層位置とに基づいて、断層面における位相分布を取得することにより、断層面における第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている。このように構成すれば、被写体のうちで、画像化したい内部構造が存在する断層面の光軸方向の位置(断層位置)を位置情報取得部によって取得することができる。そして、断層面上の点に対するX線の入射角は撮像系と被写体との相対位置によって決まるので、断層位置の情報と、X線画像が撮像された際の相対位置とにより、個々のX線画像における断層面上の点の位置が特定できる。これにより、画像処理部により、得られた断層位置の情報と、複数の相対位置での各X線画像とに基づいて、断層位置によって示される特定の断層面における位相分布が取得できる。その結果、位置情報取得部により取得された断層位置の断層面における位相分布から、その断層面に含まれる内部構造について画像のぼけが抑制された位相コントラスト画像(断層画像)が得られる。これにより、厚みが大きい被写体であっても、内部構造の視認性の低下を抑制することができる。
上記一の局面におけるX線位相撮像システムにおいて、好ましくは、移動機構は、第1格子群および第2格子群が配置されていない格子なし領域を被写体が通過するように被写体と撮像系とを相対移動させるように構成されており、画像処理部は、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像と、格子なし領域を通過した際に取得された吸収像とを並べて表示するか、または、第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像と、吸収像とを合成した第2合成画像を表示するように構成されている。このように構成すれば、第1格子群および第2格子群を退避させて撮像したり、格子を備えていない別のイメージング装置を用いて撮像したりすることなく、格子を介在させない吸収像と格子を用いた第1位相コントラスト画像および第2位相コントラスト画像とを生成することができる。格子なし領域に到達するX線は、格子を通過せずに検出器に到達するので、格子によるX線の減衰、特に低エネルギー側によるX線の減衰を抑制することができる。その結果、第1格子領域および第2格子領域を通過して到達するX線によって生成された吸収像と比較して、格子なし領域を通過して到達するX線によって生成された吸収像のコントラストを向上させることができる。
本発明によれば、上記のように、被写体または格子の向きを変更して再び被写体を移動させながら撮像することなく、被写体に対する格子の向きを変更して撮像することが可能なX線位相撮像システムを提供することができる。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
図1~図15を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相撮像システム100の構成、およびX線位相撮像システム100が第1位相コントラスト画像14a(図13参照)、第2位相コントラスト画像14b(図13参照)および第1合成画像19(図15参照)を生成する方法について説明する。
図1~図15を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相撮像システム100の構成、およびX線位相撮像システム100が第1位相コントラスト画像14a(図13参照)、第2位相コントラスト画像14b(図13参照)および第1合成画像19(図15参照)を生成する方法について説明する。
(X線位相撮像システムの構成)
まず、図1を参照して、第1実施形態によるX線位相撮像システム100の構成について説明する。
まず、図1を参照して、第1実施形態によるX線位相撮像システム100の構成について説明する。
図1に示すように、X線位相撮像システム100は、タルボ(Talbot)効果を利用して、被写体Tの内部を画像化する装置である。X線位相撮像システム100は、たとえば、非破壊検査用途では、物体としての被写体Tの内部の画像化に用いることが可能である。
図1は、X線位相撮像システム100をY方向から見た図である。図1に示すように、X線位相撮像システム100は、X線源1と、検出器2と、第1格子群3と、第2格子群4と、移動機構5と、画像処理部6と、制御部7と、格子移動機構8とを備えている。なお、本明細書において、X線源1から第1格子30に向かう方向をZ2方向、その逆方向の方向をZ1方向とする。図1に示す例では、水平方向に沿う方向をZ方向としている。また、Z方向と直交する面内の左右方向をX方向とし、左方向(図1の紙面の上方向)をX1方向、右方向(図1の紙面の下方向)をX2方向とする。また、Z方向と直交する面内の上下方向をY方向とし、上方向(図1の紙面の奥に向かう方向)をY2方向、下方向(図1の紙面の手前側に向かう方向)をY1方向とする。
X線源1は、高電圧が印加されることにより、X線を発生させる。X線源1は、発生させたX線を光軸XRaに沿った方向(Z2方向)に向けて照射するように構成されている。なお、図1に示す例では、X線源1は、直線XR1および直線XR2で囲まれた領域にX線を照射する。
検出器2は、X線を検出するとともに、検出されたX線を電気信号に変換し、変換された電気信号を画像信号として読み取るように構成されている。検出器2は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)である。検出器2は、複数の変換素子(図示せず)と複数の変換素子上に配置された画素電極(図示せず)とにより構成されている。複数の変換素子および画素電極は、所定の周期(画素ピッチ)で、X方向およびY方向にアレイ状に配列されている。また、検出器2は、取得した画像信号を、画像処理部6に出力するように構成されている。
第1格子群3は、X線源1と検出器2との間において、格子が延びる方向を第1方向(Y方向)に沿った方向に向けて、X線の光軸XRa方向(Z方向)に沿って配置された複数の格子を含む。具体的には、第1格子群3は、第1格子30と、第2格子31と、第3格子32とを含む。なお、Y方向は、請求の範囲の「第1方向」の一例である。また、Z方向は、請求の範囲の「光軸方向」の一例である。
第2格子群4は、X線源1と検出器2との間においてZ方向と交差する方向(X方向)に第1格子群3と並んで配置され、格子が延びる方向をY方向と異なる第2方向(X方向)に沿った方向に向けて、Z方向に沿って配置された複数の格子を含む。具体的には、第2格子群4は、第1格子40と、第2格子41と、第3格子42とを含む。なお、X方向は、請求の範囲の「光軸方向と交差する方向」および「第2方向」の一例である。
第1格子30は、X線源1と、第2格子31との間に配置されており、X線源1からX線が照射される。第1格子30は、ロー効果により、X線源1から照射されるX線の可干渉性を高めるために設けられている。第1格子30は、各X線透過部30aを通過したX線を線光源とするように構成されている。3枚の格子(第1格子30、第2格子31、および、第3格子32)のピッチと格子間の距離とが一定の条件を満たすことにより、X線源1から照射されるX線の可干渉性を高めることが可能である。これを、ロー効果という。
第2格子31は、タルボ効果により、第2格子31の自己像を形成するために設けられている。可干渉性を有するX線が、スリットが形成された格子を通過すると、格子から所定の距離(タルボ距離)離れた位置に、格子の像(自己像)が形成される。これをタルボ効果という。
第3格子32は、第2格子31と検出器2との間に配置されており、第2格子31を通過したX線が照射される。また、第3格子32は、第2格子31から所定のタルボ距離だけ離れた位置に配置される。第3格子32は、第2格子31の自己像と干渉して、モアレ縞MF(図4参照)を形成する。
第1格子40、第2格子41、および、第3格子42は、それぞれ、第1格子30、第2格子31、および、第3格子32と同様の目的で配置されている。
移動機構5は、制御部7の制御の下、被写体Tまたは撮像系9をX方向に移動させるように構成されている。撮像系9は、X線源1と検出器2と第1格子群3と第2格子群4とによって構成される。図1に示す例では、移動機構5は、被写体TをX2方向からX1方向に移動させることにより、被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されている。具体的には、移動機構5は、被写体Tが、第1格子群3が配置された第1格子領域R1および第2格子群4が配置された第2格子領域R2を通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されている。移動機構5は、たとえば、ベルトコンベアまたは各種の直動機構によって構成されている。なお、第1実施形態では、X線源1と検出器2との間において、直線XR1と、X線の光軸XRaとで囲まれた領域を、第1格子領域R1とする。また、X線源1と検出器2との間において、直線XR2と、X線の光軸XRaとで囲まれた領域を、第2格子領域R2とする。
画像処理部6は、検出器2から出力された画像信号に基づいて、位相コントラスト画像14を(図12参照)を生成するように構成されている。画像処理部6は、被写体Tが第1格子領域R1を通過した際の第1位相コントラスト画像14aと、被写体Tが第2格子領域R2を通過した際の第2位相コントラスト画像14bとを生成するように構成されている。また、画像処理部6は、第1位相コントラスト画像14aと、第2位相コントラスト画像14bとを合成した第1合成画像19を生成するように構成されている。画像処理部6は、たとえば、GPU(Graphics Processing Unit)や画像処理用に構成されたFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのプロセッサを含む。画像処理部6が、第1位相コントラスト画像14a、第2位相コントラスト画像14b、および第1合成画像19を生成する詳細な構成については、後述する。
制御部7は、移動機構5を制御して、被写体TをX方向に移動させるように構成されている。また、制御部7は、格子移動機構8を制御して、第2格子31および第2格子41を移動させるように構成されている。また、制御部7は、格子移動機構8を制御して第2格子31および第2格子41の位置を調整することにより、モアレ縞MF(図4参照)を、検出器2の検出面上に生じさせるように構成されている。制御部7は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)などを含む。
格子移動機構8は、制御部7の制御の下、第2格子31および第2格子41を移動可能に構成されている。また、格子移動機構8は、制御部7の制御の下、第2格子31および第2格子41の位置を調整することにより、モアレ縞MF(図4参照)を生じさせるように構成されている。格子移動機構8が格子を移動させる詳細な構成については後述する。また、図1に示す例では、2つの格子移動機構8が、それぞれ、第2格子31および第2格子41を保持している。
(各格子の構造)
次に、図2を参照して、第1格子群3に含まれる第1格子30、第2格子31、および、第3格子32の構造、および、第2格子群4に含まれる第1格子40、第2格子41、および、第3格子42の構造について説明する。
次に、図2を参照して、第1格子群3に含まれる第1格子30、第2格子31、および、第3格子32の構造、および、第2格子群4に含まれる第1格子40、第2格子41、および、第3格子42の構造について説明する。
(第1格子群)
図2に示すように、第1格子30は、X方向に所定の周期(ピッチ)d1で配列される複数のX線透過部30aおよびX線吸収部30bを有している。各X線透過部30aおよびX線吸収部30bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各X線透過部30aおよびX線吸収部30bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。また、第1格子30は、各X線透過部30aを通過したX線を、各X線透過部30aの位置に対応する線光源とするように構成されている。
図2に示すように、第1格子30は、X方向に所定の周期(ピッチ)d1で配列される複数のX線透過部30aおよびX線吸収部30bを有している。各X線透過部30aおよびX線吸収部30bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各X線透過部30aおよびX線吸収部30bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。また、第1格子30は、各X線透過部30aを通過したX線を、各X線透過部30aの位置に対応する線光源とするように構成されている。
第2格子31は、複数のスリット31aおよびX線位相変化部31bを有している。各スリット31aおよびX線位相変化部31bは、X方向に所定の周期(ピッチ)d2で配列されている。各スリット31aおよびX線位相変化部31bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各スリット31aおよびX線位相変化部31bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。第2格子31は、いわゆる位相格子である。
第3格子32は、複数のX線透過部32aおよびX線吸収部32bを有する。各X線透過部32aおよびX線吸収部32bは、X方向に所定の周期(ピッチ)d3で配列されている。各X線透過部32aおよびX線吸収部32bはそれぞれ、直線状に延びるように形成されている。また、各X線透過部32aおよびX線吸収部32bはそれぞれ、平行に延びるように形成されている。第2格子31は、いわゆる、吸収格子である。第1格子30、第2格子31はそれぞれ異なる役割を持つ格子であるが、スリット31aおよびX線透過部32aはそれぞれX線を透過させる。また、X線吸収部32bはX線を遮蔽する。また、X線位相変化部31bはスリット31aとの屈折率の違いによってX線の位相を変化させる。
(第2格子群)
図2に示すように、第1格子40は、Y方向に所定の周期(ピッチ)d4で配列される複数のスリット40aおよびX線吸収部40bを有している。第1格子40は、格子の延びる方向が異なるように配置されていることを除いて、第1格子30と同様の構成である。すなわち、スリット40aおよびX線吸収部40bは、X線透過部30aおよびX線吸収部30bと同様の構成である。
図2に示すように、第1格子40は、Y方向に所定の周期(ピッチ)d4で配列される複数のスリット40aおよびX線吸収部40bを有している。第1格子40は、格子の延びる方向が異なるように配置されていることを除いて、第1格子30と同様の構成である。すなわち、スリット40aおよびX線吸収部40bは、X線透過部30aおよびX線吸収部30bと同様の構成である。
第2格子41は、複数のスリット31aおよびX線位相変化部31bを有している。各スリット31aおよびX線位相変化部31bは、Y方向に所定の周期(ピッチ)d5で配列されている。第2格子41は、格子の延びる方向が異なるように配置されていることを除いて、第2格子31と同様の構成である。すなわち、スリット41aおよびX線位相変化部41bは、スリット31aおよびX線位相変化部31bと同様の構成である。
第3格子42は、複数のX線透過部42aおよびX線吸収部42bを有する。各X線透過部42aおよびX線吸収部42bは、Y方向に所定の周期(ピッチ)d6で配列されている。第3格子42は、格子の延びる方向が異なるように配置されていることを除いて、第3格子32と同様の構成である。すなわち、X線透過部42aおよびX線吸収部42bは、X線透過部32aおよびX線吸収部32bと同様の構成である。
第1実施形態では、第1格子群3および第2格子群4は、第1方向と第2方向とが略直交する向きとなるように配置されている。また、第1格子群3を通過したX線および第2格子群4を通過したX線は、それぞれ、共通の検出器2によって検出される。また、第1格子群3および第2格子群4は、それぞれ、共通のX線源1から照射されるX線の照射範囲内に配置されている。また、第1格子群3の第1格子30および第2格子群4の第1格子40は、基板RSによって一体的に形成されており、第1格子群3の第2格子31および第2格子群4の第2格子41と、第1格子群3の第3格子32および第2格子群4の第3格子42とは、それぞれ、別体で形成されている。また、第1格子群3の各格子および第2格子群4の各格子は、それぞれ、平板状形状を有している。
(格子移動機構)
図3に示すように、格子移動機構8は、X方向、Y方向、Z方向、Z方向の軸線周りの回転方向Rz、X方向の軸線周りの回転方向Rx、および、Y方向の軸線周りの回転方向Ryに第2格子31を移動可能に構成されている。具体的には、格子移動機構8は、X方向直動機構80と、Y方向直動機構81と、Z方向直動機構82と、直動機構接続部83と、ステージ支持部駆動部84と、ステージ支持部85と、ステージ駆動部86と、ステージ87とを含む。X方向直動機構80は、X方向に移動可能に構成されている。X方向直動機構80は、たとえば、モータなどを含む。Y方向直動機構81は、Y方向に移動可能に構成されている。Y方向直動機構81は、たとえば、モータなどを含む。Z方向直動機構82は、Z方向に移動可能に構成されている。Z方向直動機構82は、たとえば、モータなどを含む。
図3に示すように、格子移動機構8は、X方向、Y方向、Z方向、Z方向の軸線周りの回転方向Rz、X方向の軸線周りの回転方向Rx、および、Y方向の軸線周りの回転方向Ryに第2格子31を移動可能に構成されている。具体的には、格子移動機構8は、X方向直動機構80と、Y方向直動機構81と、Z方向直動機構82と、直動機構接続部83と、ステージ支持部駆動部84と、ステージ支持部85と、ステージ駆動部86と、ステージ87とを含む。X方向直動機構80は、X方向に移動可能に構成されている。X方向直動機構80は、たとえば、モータなどを含む。Y方向直動機構81は、Y方向に移動可能に構成されている。Y方向直動機構81は、たとえば、モータなどを含む。Z方向直動機構82は、Z方向に移動可能に構成されている。Z方向直動機構82は、たとえば、モータなどを含む。
格子移動機構8は、X方向直動機構80の動作により、第2格子31をX方向に移動させるように構成されている。また、格子移動機構8は、Y方向直動機構81の動作により、第2格子31をY方向に移動させるように構成されている。また、格子移動機構8は、Z方向直動機構82の動作により、第2格子31をZ方向に移動させるように構成されている。なお、格子移動機構8は、第2格子41についても、第2格子31と同様に移動させるように構成されている。格子移動機構8は、第2格子31および第2格子41にそれぞれ設けられており、第2格子31および第2格子41を、それぞれ個別に移動させる。
ステージ支持部85は、ステージ87を下方(Y1方向)から支持している。ステージ駆動部86は、ステージ87をX方向に往復移動させるように構成されている。ステージ87は、底部がステージ支持部85に向けて凸曲面状に形成されており、X方向に往復移動されることにより、Z方向の軸線周り(Rz方向)に回動するように構成されている。また、ステージ支持部駆動部84は、ステージ支持部85をZ方向に往復移動させるように構成されている。また、ステージ支持部85は底部が直動機構接続部83に向けて凸曲面状に形成されており、Z方向に往復移動されることにより、X方向の軸線周り(Rx方向)に回動するように構成されている。また、直動機構接続部83は、Y方向の軸線周り(Ry方向)に回動可能にX方向直動機構80に設けられている。したがって、格子移動機構8は、格子をY方向の中心軸線周りに回動させることができる。
第1実施形態では、X線位相撮像システム100は、予めモアレ縞MFを生じさせた状態で被写体Tを撮像する。第1実施形態では、被写体TをX方向に移動させるため、周期方向がX方向であるモアレ縞MFを生じさせる。具体的には、第1格子群3は、Y方向に延びるように配置されている。そのため、第1格子群3によって周期方向がX方向であるモアレ縞MFを生じさせるためには、第2格子31を、モアレ縞MFが生じない位置からZ方向に所定の距離移動させた位置に配置させる。また、第2格子群4のX方向に延びるように配置されている。そのため、第2格子群4によって周期方向がX方向であるモアレ縞MFを生じさせるためには、第2格子41を、Z方向周りに所定の角度分だけ回転させた状態で配置させる。
(位相コントラスト画像の生成)
次に、図4~図12を参照して、第1実施形態によるX線位相撮像システム100が位相コントラスト画像14(図12参照)を生成する構成について説明する。
次に、図4~図12を参照して、第1実施形態によるX線位相撮像システム100が位相コントラスト画像14(図12参照)を生成する構成について説明する。
図4に示す例は、移動機構5によって被写体Tを連続的に直線移動させながら撮像した画像10の模式図である。具体的には、図4に示す例は、矩形状の被写体Tが撮像範囲の一方側(右側)から他方側(左側)へ移動する間を連続的に撮像した例である。
図4に示すように、第1実施形態では、制御部7は、モアレ縞MFを生じさせた状態で被写体Tを移動させながら撮像するように構成されている。第1実施形態では、制御部7は、1周期が周期d7となるモアレ縞MFを称させた状態で、被写体Tを移動させながら撮像する。なお、第1格子群3と第2格子群4とでは、モアレ縞MFを生じさせるために行う各格子の相対位置の調整方法が異なるが、互いに周期方向がX方向であるモアレ縞MFを生じさせるように配置されている。したがって、後述するモアレ縞MFの位相情報12の抽出を行う構成は同様であるため、以下では、第1格子群3によって生じたモアレ縞MFを用いて説明する。
図5に示すように、第1実施形態では、画像処理部6は、モアレ縞MFの位相情報12を取得するように構成されている。具体的には、X線位相撮像システム100は、格子移動機構8によって第2格子31を並進移動させることにより図5に示すような各ステップのモアレ縞画像11を取得する。画像処理部6は、各モアレ縞画像11に基づいて、モアレ縞MFの位相情報12を取得するように構成されている。具体的には、図5の第1~第4ステップのモアレ縞画像11をIk(x、y)とおき、以下の式(1)のようにS(x、y)を定義する。
ここで、kは、各ステップの番号である。また、Mは、格子を並進移動させる回数である。また、xおよびyは、検出器2の検出面上におけるX線の照射軸に直交する面内の画素位置(座標)である。
上記式(1)を用いると、モアレ縞MFの位相情報12は、以下の式(2)によって表される。
ここで、φ(x、y)は、モアレ縞MFの位相情報12である。また、第1実施形態では、Ik(x、y)をkの関数として、サインカーブ(正弦波)によってフィッティングを行い、そのサインカーブの位相情報をモアレ縞MFの位相情報12としてもよい。モアレ縞MFの位相情報12は、モアレ縞MFの位相値の変化が1周期d7毎に繰り返された縞模様の画像である。
第1実施形態では、画像処理部6は、第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々において、被写体Tと撮像系9とを相対移動させながら撮像した複数の画像10と、複数の画像10に生じたモアレ縞MFの位相情報12とに基づいて、複数の画像10における被写体Tの各画素における画素値と、各画素におけるモアレ縞MFの位相値とを対応付けるように構成されている。また、画像処理部6は、複数の画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置情報と、位相値と対応付けた各画素の画素値とに基づいて複数の画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置合わせを、第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々において行うことにより、位相コントラスト画像14を生成するように構成されている。
第1実施形態では、画像処理部6は、標識物Mと撮像系9とを相対移動させながら撮像された複数の位置較正用画像13(図6参照)に基づいて、複数の画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置合わせに用いる位置較正データを作成するように構成されている。標識物Mは、X線を吸収するものであればどのようなものであってもよい。第1実施形態では、標識物Mは、たとえば、ワイヤなどを含む。
(位置較正データの作成)
図6は、移動機構5によって標識物MをX方向に移動させながら撮像した位置較正用画像13の模式図である。図6に示す位置較正用画像13は、標識物Mを第1撮像位置~第6撮像位置に移動させながら撮像された画像の例である。また、図6に示す例では、標識物Mを写した各画素のうち、画素Rに着目して標識物Mの移動量dmを取得している。
図6は、移動機構5によって標識物MをX方向に移動させながら撮像した位置較正用画像13の模式図である。図6に示す位置較正用画像13は、標識物Mを第1撮像位置~第6撮像位置に移動させながら撮像された画像の例である。また、図6に示す例では、標識物Mを写した各画素のうち、画素Rに着目して標識物Mの移動量dmを取得している。
位置較正データは、移動機構5によって標識物Mと撮像系9とを相対移動させる際に移動機構5に入力される移動量に関する指令値と、指令値に基づいて標識物Mと撮像系9とを相対移動させた際の位置較正用画像13中における標識物Mの実際の移動量dmとに基づいて作成される。具体的には、位置較正データは、複数の位置較正用画像13における標識物Mの同一位置の各画素の位置に基づいて、指令値と標識物Mの移動量dmとの関係を示す近似式を取得することにより作成される。
図7は、縦軸が各位置較正用画像13における標識物Mの位置であり、横軸が標識物Mを移動させた際の指令値であるグラフG1の例である。制御部7は、グラフG1に示す各プロットmpを線形フィッティングすることにより近似式を取得する。
第1実施形態では、移動機構5は、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを連続的に移動させるように構成されている。具体的には、移動機構5は、第1格子領域R1を通過する間および第2格子領域R2を通過する間においては、被写体Tを略一定の速度で移動させることにより、被写体Tを連続的に移動させるように構成されている。また、画像処理部6は、取得した連続的な画像10に基づいて、位相コントラスト画像14を生成するように構成されている。すなわち、第1実施形態では、画像10は、所定のフレームレート(時間間隔)で画像10を連続的に撮像した動画像として取得される。
第1実施形態では、画像10を動画像として取得するため、制御部7は、位置較正データとして、以下に示す式(3)を取得する。
ここで、xiは、i番目のフレームの被写体Tの同一位置の画素の位置である。また、xstartは、被写体Tの同一位置の画素のうち、最初のフレームにおける画素の位置である。また、vpは、移動機構5が被写体Tを移動させる際の速度(pulse/s)である。また、fpsは、動画を撮像する際のフレームレート(frame/s)である。また、iは、動画像におけるフレーム番号である。
次に、図8および図9を参照して、連続的に撮像した画像10における画素Qと、位相情報12との位置合わせについて説明する。図8および図9では、簡単のため、各画像10のうち、第1撮像位置~第6撮像位置に被写体Tが配置された際に撮像された画像10を用いて説明する。
図8に示す例は、移動機構5によって、矩形状の被写体Tが撮像範囲の一方側(右側)から他方側(左側)へ移動する間の6か所(第1撮像位置~第6撮像位置)の各位置で撮像を行った例である。なお、第1撮像位置では、X方向における被写体Tの一部が検出器2の検出面上に配置されないため、撮像された画像10において、被写体Tの一部が写っていない例である。また、図8に示す例は、複数の画像10における被写体Tを写した各画素のうち、画素Qの位置の変化を示した例である。また、複数の画像10は、請求の範囲の「被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像した複数の画像」の一例である。
なお、図8の第2撮像位置における画像10には、被写体Tの移動量dtを把握しやすくするため、第1撮像位置における被写体Tの位置を破線で図示している。移動機構5によって被写体Tを移動させながら撮像することにより、モアレ縞MFと被写体Tとを相対移動させることが可能となり、画像処理部6は、位相コントラスト画像14を生成することができる。なお、第2実施形態では、移動機構5によって、被写体Tを少なくともモアレ縞MFの1周期d7(図4参照)分以上移動させる。
第1実施形態では、画像処理部6は、位置較正データを用いて被写体Tの同一位置の画素の各画像10における位置を取得し、各画像10における画素の位置合わせを行う。具体的には、図9に示すように、各画像10と位相情報12との位置合わせを行い、位置合わせを行った各被写体画像21および位相情報22を取得する。
図9に示す例は、位置合わせを行った各被写体画像21および位相情報22を取得する際に、第1撮像位置~第6撮像位置における各画像10を、第2撮像位置において位置合わせを行った被写体画像21を示している。なお、第1撮像位置に被写体Tを配置して撮像した画像10には、X方向における被写体Tの全体が写っていないため、位置合わせ後の被写体画像21には空白の領域Eが生じている。位置合わせ後の各被写体画像21において、画素Qに着目した場合、画素Qに対してモアレ縞MFが移動していることがわかる。図9に示す例では、位置合わせ後の各被写体画像21の画素Qの位置に対応する位置を点Uで図示している。すなわち、各撮像位置における画素の位置と位置合わせ後の位相情報22におけるモアレ縞MFの位相値の位置とは1対1の関係で対応付いている。
第1実施形態では、動画像として取得された画像10の各フレームについて、位相情報12との位置合わせを行い、位置合わせを行った各被写体画像21および位相情報22を取得する。すなわち、図10に示すように、連続的に撮像した画像10の各フレームの画素と、位相情報12とを、位置較正データを用いて位置合わせを行う。
画像処理部6は、動画像として取得された画像10の画素と、位相情報12とに基づいて、画像10の各画素の画素値と、モアレ縞MFの位相値とを対応付けて、図11に示す強度信号曲線SC1を取得する。強度信号曲線SC1は、横軸が位相値であり、縦軸が画素値であるグラフである。第1実施形態では、画像処理部6は、強度信号曲線SC1に基づいて、位相コントラスト画像14を生成する。なお、図9に示した空白の領域Eについてはモアレ縞MFの位相情報12もないので、図11においてサンプリングはしない。
図12は、位相コントラスト画像14の模式図である。第1実施形態では、画像処理部6は、取得した強度信号曲線SC1に基づいて、吸収像15と、位相微分像16と、暗視野像17とを生成する。吸収像15と、位相微分像16と、暗視野像17とを生成する手法は、公知の手法で行うことができるので、説明は省略する。
第1実施形態では、画像処理部6および制御部7は、第1格子領域R1において撮像された位相コントラスト画像14の生成と同様に、第2格子領域R2において撮像された画像10から強度信号曲線SC1を取得するように構成されている。また、画像処理部6および制御部7は、第2格子領域R2において取得した強度信号曲線SC1に基づいて、第2格子領域R2における位相コントラスト画像14を生成するように構成されている。
(第1合成画像)
図13(A)に示す例は、第1格子領域R1を通過した際の第1位相微分像16aの模式図である。図13(B)は、第2格子領域R2を通過した際の第2位相微分像16bの模式図である。位相微分像16は、格子が延びる方向と直交する方向に感度があるため、第1位相微分像16aと第2位相微分像16bとでは、強調されるエッジの方向が異なる。すなわち、第1位相微分像16aでは、第1方向(Y方向)と直交する方向(X方向)のエッジが強調される。また、第2位相微分像16bでは、第2方向(X方向)と直交する方向(Y方向)のエッジが強調される。
図13(A)に示す例は、第1格子領域R1を通過した際の第1位相微分像16aの模式図である。図13(B)は、第2格子領域R2を通過した際の第2位相微分像16bの模式図である。位相微分像16は、格子が延びる方向と直交する方向に感度があるため、第1位相微分像16aと第2位相微分像16bとでは、強調されるエッジの方向が異なる。すなわち、第1位相微分像16aでは、第1方向(Y方向)と直交する方向(X方向)のエッジが強調される。また、第2位相微分像16bでは、第2方向(X方向)と直交する方向(Y方向)のエッジが強調される。
第1実施形態では、画像処理部6は、第1位相コントラスト画像14aと、第2位相コントラスト画像14bとを合成した第1合成画像19(図15参照)を生成するように構成されている。具体的には、画像処理部6は、被写体Tが第1格子領域R1を通過した際の第1位相微分像16a(第1位相コントラスト画像14a)と、被写体Tが第2格子領域R2を通過した際の第2位相微分像16b(第2位相コントラスト画像14b)とに基づいて、位相像18(第1合成画像19)を生成するように構成されている。
図14は、参考例による位相像20の模式図である。図14に示す例では、X方向またはY方向に感度のある位相微分像を用いて、位相像20を生成する。具体的には、位相微分像において、エッジが強調されているX方向(またはY方向)と交差するY方向(またはX方向)に沿って積分することにより、位相像20を生成する。しかしながら、参考例では、積分を行う位相微分像には、Y方向(またはX方向)にしか感度がないため、感度を有していない方向に含まれるノイズに起因して、生成された位相像20にアーチファクトSPが生じてしまう。そのため、位相像20の画質が劣化する。
図15に示す例は、第1実施形態による画像処理部6が生成する位相像18の模式図である。画像処理部6は、以下に示す式(4)により、位相像18を生成する。
ここで、Φxは、第1格子領域R1において撮像された第1位相微分像16aである。また、Φyは、第2格子領域R2において撮像された第1位相微分像16aである。また、xおよびyは、第1位相微分像16aおよび第2位相微分像16bにおける画素のx座標およびy座標である。また、iは、複素数を表す虚数単位である。また、kおよびlは、周波数空間上での座標である。
第1実施形態では、画像処理部6は、上記式(4)によって、X方向に感度がある第1位相微分像16aおよびY方向に感度がある第2位相微分像16bを用いて位相像18を生成する。画像処理部6は、それぞれ方向において感度がある第1位相微分像16aおよび第2位相微分像16bから位相像18を生成するため、位相像18にアーチファクトSPが生じることを抑制することができる。
次に、図16を参照して、第1実施形態によるX線位相撮像システム100による第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する処理の流れについて説明する。
ステップS1において、画像処理部6は、制御部7の制御の下、移動機構5によって標識物Mを第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々の第1撮像位置~第6撮像位置に移動させながら、複数の位置較正用画像13を取得する。次に、ステップS2において、制御部7は、標識物Mの移動量dmと指令値とに基づいて近似式を取得する。制御部7は、取得した近似式の傾きに基づいて、位置較正データを取得する。その後、処理は、ステップS3へ進む。
次に、ステップS3において、画像処理部6は、モアレ縞MFの位相情報12を取得する。その後、ステップS4において、画像処理部6は、制御部7の制御の下、第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々において、移動機構5によって被写体Tと撮像系9とを相対移動させながら、画像10を取得する。なお、第1実施形態では、移動機構5は、被写体Tを連続的に移動させる。その後、処理はステップS5へ進む。
次に、ステップS5において、画像処理部6は、画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置合わせを行う。その後、処理はステップS6へ進む。
ステップS6において、画像処理部6は、位相情報12の位置合わせを行い、位相情報22を取得する。その後、ステップS7において、画像処理部6は、連続的に撮像した画像10における被写体Tの画素と、モアレ縞MFの位相値とを対応付けることにより、強度信号曲線SC1を取得する。次に、ステップS8において、画像処理部6は、強度信号曲線SC1に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する。
次に、ステップS9において、画像処理部6は、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bから、第1合成画像19を生成し、処理を終了する。
なお、ステップS1およびステップS2における位置較正データの取得処理と、ステップS3におけるモアレ縞MFの位相情報12の取得処理とは、どちらの処理を先に行ってもよい。位置較正データの取得処理は、複数の画像10における画素の位置合わせを行う前であれば、どのタイミングで行ってもよい。また、モアレ縞MFの位相情報12を取得する処理は、位相情報12の位置合わせを行う処理の前であれば、いつ行ってもよい。
(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態では、上記のように、X線位相撮像システム100は、X線源1と、X線源1から照射されたX線を検出する検出器2と、X線源1と検出器2との間において、格子が延びる方向を第1方向(Y方向)に沿った方向に向けて、X線の光軸XRa方向(Z方向)に沿って配置された複数の格子を含む第1格子群3と、X線源1と検出器2との間においてZ方向と交差する方向(X方向)に第1格子群3と並んで配置され、格子が延びる方向をY方向と異なる第2方向(X方向)に沿った方向に向けて、Z方向に沿って配置された複数の格子を含む第2格子群4と、被写体TまたはX線源1と検出器2と第1格子群3と第2格子群4とによって構成される撮像系9を相対移動させる移動機構5と、検出器2によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像14を生成する画像処理部6と、を備え、移動機構5は、被写体Tが、第1格子群3が配置された第1格子領域R1および第2格子群4が配置された第2格子領域R2を通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されており、画像処理部6は、被写体Tが第1格子領域R1を通過した際の第1位相コントラスト画像14aと、被写体Tが第2格子領域R2を通過した際の第2位相コントラスト画像14bと、を生成するように構成されている。
これにより、被写体Tを、第1格子領域R1および第2格子領域R2を通過させて撮像することにより、それぞれ格子の延びる方向が異なる第1格子群3および第2格子群4によって被写体Tを撮像することができる。その結果、被写体Tまたは格子の向きを変更して再び被写体Tを移動させながら撮像することなく、被写体Tに対する格子の向きを変更して撮像することができる。これにより、撮像作業を簡略化することができるとともに、撮像時間を短縮することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、第1格子群3および第2格子群4は、Y方向と第2方向(X方向)とが略直交する向きとなるように配置されている。これにより、第1方向(Y方向)と第2方向(X方向)とが略直交する向きであるため、被写体Tの配置方向にかかわらず、第1格子群3または第2格子群4のいずれかにおいて、被写体TによるX線の位相のずれまたはX線の屈折を抽出することができる。その結果、被写体Tの配置方向にかかわらず、第1位相コントラスト画像14aまたは第2位相コントラスト画像14bのいずれかにおいて被写体Tを画像化することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部6は、第1位相コントラスト画像14aと、第2位相コントラスト画像14bとを合成した第1合成画像19を生成するように構成されている。これにより、第1方向(Y方向)に感度を有する第2位相コントラスト画像14bと、第2方向(X方向)に感度を有する第1位相コントラスト画像14aとを合成した第1合成画像19において、第1方向(Y方向)および第2方向(X方向)の感度をまとめて把握することができる。その結果、被写体Tの内部構造を詳細に把握することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、第1格子群3を通過したX線および第2格子群4を通過したX線は、それぞれ、共通の検出器2によって検出される。これにより、1つの検出器2を設けることにより、第1格子群3を通過したX線と第2格子群4を通過したX線とを検出することができる。その結果、第1格子群3を通過したX線を検出する検出器2および第2格子群4を通過したX線を検出する検出器2をそれぞれ設ける場合と比較して、部品点数が増加することを抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、第1格子群3および第2格子群4は、それぞれ、共通のX線源1から照射されるX線の照射範囲内に配置されている。これにより、1のX線源1を設けることにより、第1格子群3および第2格子群4に対してX線を照射することができる。その結果、第1格子群3にX線を照射するX線源1および第2格子群4にX線を照射するX線源1をそれぞれ設ける場合と比較して、部品点数が増加することを抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、第1格子群3および第2格子群4は、それぞれ、X線源1から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子30および第1格子40と、自己像を形成するための第2格子31および第2格子41と、第2格子31の自己像および第2格子41の自己像とそれぞれ干渉させるための第3格子32および第3格子42とを含み、第1格子群3の第1格子30および第2格子群4の第1格子40は、一体的に形成されており、第1格子群3の第2格子31および第2格子群4の第2格子41と、第1格子群3の第3格子32および第2格子群4の第3格子42とは、それぞれ、別体で形成されている。
これにより、X線源1の近傍に配置される第1格子群3の第1格子30と第2格子群4の第1格子40とを一体的に形成することにより、第1格子群3および第2格子群4において、X線源1から第1格子群3の第1格子30までの距離とX線源1から第2格子群4の第1格子40までの距離とを略等しくすることができる。また、たとえば、予めモアレ縞MFを形成させて撮像する場合、第1格子群3によるモアレ縞MFと、第2格子群4によるモアレ縞MFとで、それぞれのモアレ縞MFの方向は、スキャン方向に対して垂直成分が有限である必要がある。しかしながら、第1格子群3と第2格子群4とでは、格子の延びる方向が互いに異なるように配置されているため、モアレ縞MFを形成させるための各格子の相対位置が第1格子群3と第2格子群4とでそれぞれ異なる。したがって、第1格子群3の第2格子31と第2格子群4の第2格子41とをそれぞれ別体で形成すること、および、第1格子群3の第3格子32と第2格子群4の第3格子42とをそれぞれ別体で形成することにより、第1格子群3の各格子および第2格子群4の各格子を、それぞれモアレ縞MFを形成させるために適した相対位置に配置することができる。
また、たとえば、予め形成させたモアレ縞MFの位相情報12を取得するために、第1格子群3および第2格子群4の各々において、第2格子31および第2格子41、または、第3格子32および第3格子42を並進移動させながら撮像する場合、第1格子群3と第2格子群4とでは、格子の延びる方向が異なるように配置されているため、格子を並進移動させる方向が第1格子群3と第2格子群4とでそれぞれ異なる。第1格子群3の第2格子31と第2格子群4の第2格子41とをそれぞれ別体で形成すること、および、第1格子群3の第3格子32と第2格子群4の第3格子42とをそれぞれ別体で形成することにより、第1格子群3および第2格子群4の格子のうち、並進移動させる格子にそれぞれ移動機構5を設けることが可能になり、第1格子群3および第2格子群4において、並進移動させる格子を、互いに異なる方向に並進移動させながら撮像することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部6は、第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々において、被写体Tと撮像系9とを相対移動させながら撮像した複数の画像10と、複数の画像10に生じたモアレ縞MFの位相情報22と、に基づいて、複数の画像10における被写体Tの各画素における画素値と、各画素におけるモアレ縞MFの位相値とを対応付けるとともに、複数の画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置情報と、位相値と対応付けた各画素の画素値とに基づいて、複数の画像10における被写体Tの同一位置の画素の位置合わせを、第1格子領域R1および第2格子領域R2の各々において行うことにより、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。これにより、各画像における被写体Tの同一位置の画素の画素値と、各画像における被写体Tの同一位置の画素に対応する各位相値とを対応付けて第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成することができる。したがって、たとえば、モアレ縞MFの1周期分の領域を領域分割して各領域に含まれる画素値の平均値を用いて第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する場合と比較して、同一位置を写した各画素の画素値を用いて第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成することができる。その結果、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bの生成に用いる画素値に誤差が生じることに起因して第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bの画質が劣化することを抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、移動機構5は、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを連続的に移動させるように構成されており、画像処理部6は、取得した連続的な画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。これにより、連続的な第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する際に、たとえば、被写体Tの移動と撮像とを繰り返すことにより連続的な第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する従来の縞走査法とは異なり、被写体Tを連続的に移動させながら撮像することにより、連続的な第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成することができる。その結果、従来の縞走査法と比較して、撮像時間を短縮することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部6は、標識物Mと撮像系9とを相対移動させながら撮像された複数の位置較正用画像13に基づいて、複数の画像10における被写体Tの同一位置の各画素の位置合わせに用いる位置較正データを作成するように構成されている。これにより、位置較正データを用いることにより、被写体Tの同一位置の画素の各画像における位置を取得することが可能となるので、被写体Tの移動量dmを算出することができる。その結果、たとえば、被写体Tの移動量dmと標識物Mの移動量dmとが同一でない場合でも、被写体Tの移動量dmを取得することが可能となるので、複数の画像10における被写体Tの同一位置の各画素の位置合わせを行うことができる。
また、第1実施形態では、上記のように、位置較正データは、移動機構5によって標識物Mと撮像系9とを相対移動させる際に移動機構5に入力される移動量dmに関する指令値と、指令値に基づいて標識物Mと撮像系9とを相対移動させた際の位置較正用画像13中における標識物Mまたは撮像系9の移動量dmとに基づいて作成される。これにより、移動機構5に入力される移動量dmに関する指令値と、標識物Mまたは撮像系9の移動量dmとの間に誤差が生じていた場合でも、位置較正データによって正確な移動量dmを取得することができる。その結果、複数の画像10における被写体Tの同一位置の各画素の位置合わせを正確に行うことが可能となるので、得られる位相コントラスト画像14の画質が劣化することをより抑制することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、位置較正データは、複数の位置較正用画像13における標識物Mの同一位置の各画素の位置に基づいて、指令値と標識物Mまたは撮像系9の移動量dmとの関係を示す近似式を取得することにより作成される。これにより、複数の位置較正用画像13における標識物Mの同一位置の各画素の位置に基づいて近似式を取得することにより、複数の位置較正用画像13を撮像した位置とは異なる位置への移動量dmに関する指令値と標識物Mまたは撮像系9の移動量dmとの関係を、近似式を用いて算出することができる。その結果、たとえば、被写体Tを撮像する際に、標識物Mまたは撮像系9を移動させた位置と異なる位置に被写体Tを移動させた場合でも、被写体Tの移動量dmを取得することができる。
また、第1実施形態では、上記のように、画像処理部6は、被写体Tが第1格子領域R1を通過した際の第1位相微分像16a(第1位相コントラスト画像14a)と、被写体Tが第2格子領域R2を通過した際の第1位相微分像16a(第2位相コントラスト画像14b)とに基づいて、位相像18を生成するように構成されている。これにより、第1格子領域R1を通過した際の第1位相微分像16a(第1位相コントラスト画像14a)、または、第2格子領域R2を通過した際の第1位相微分像16a(第1位相コントラスト画像14a)のどちらか一方の画像において、所定の方向に積分することにより位相像18生成する構成と比較して、位相像20(第1合成画像19)において、積分方向にアーチファクトSPが生じることを抑制することができる。その結果、位相像20(第1合成画像19)の画質が劣化することを抑制することができる。
[第2実施形態]
次に、図1、図8、図9および図17を参照して、第2実施形態によるX線位相撮像システム200(図1参照)について説明する。被写体Tを連続的に移動させながら撮像する第1実施形態とは異なり、第2実施形態では、移動機構5は、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを所定距離dt(図8参照)ずつ移動させるように構成されており、画像処理部60(図1参照)は、所定距離dtずつ移動させながら取得した画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。なお、上記第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
次に、図1、図8、図9および図17を参照して、第2実施形態によるX線位相撮像システム200(図1参照)について説明する。被写体Tを連続的に移動させながら撮像する第1実施形態とは異なり、第2実施形態では、移動機構5は、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを所定距離dt(図8参照)ずつ移動させるように構成されており、画像処理部60(図1参照)は、所定距離dtずつ移動させながら取得した画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。なお、上記第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
(X線位相撮像システムの構成)
まず、図1を参照して、第2実施形態によるX線位相撮像システム200の構成について説明する。
まず、図1を参照して、第2実施形態によるX線位相撮像システム200の構成について説明する。
第2実施形態では、X線位相撮像システム200は、画像処理部60および制御部70を備える点を除いて、上記第1実施形態と同様の構成である。移動機構5は、制御部70の制御の下、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを所定距離dt(図8参照)ずつ移動させるように構成されている。画像処理部60は、所定距離dtずつ移動させながら取得した画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。
第2実施形態では、移動機構5によって、被写体Tを第1撮像位置(図8参照)~第6撮像位置(図8参照)の各位置に移動させて撮影を行う。第2実施形態では、制御部70は、各撮像位置に被写体Tを配置するための移動量に関する指令値を移動機構5に入力することにより、被写体Tを所定の移動量dtだけ移動させる。移動量に関する指令値は、たとえば、移動機構5が駆動源としてステッピングモータを含む場合、移動機構5に入力されるパルス数である。なお、各画像10と位相情報12との位置合わせを行う構成は、上記第1実施形態と同様であるため、詳細な説明は省略する。
第2実施形態では、制御部70は、位置較正データとして、以下に示す式(5)を取得する。
ここで、xは、被写体Tの同一位置の画素の各画像における位置である。また、xstartは、被写体Tの同一位置の画素のうち、第1撮像位置における画素の位置である。また、p1は、近似式の傾きである。また、npは、被写体Tを移動させる際に移動機構5に入力される指令値(パルス数)である。
第2実施形態では、画像処理部60は、位置合わせ後の各被写体画像21(図9参照)における画素について、位相値と画素値との関係を示す強度信号曲線SC2(図17参照)を取得する。
図17に示す強度信号曲線SC2は、第1実施形態における強度信号曲線SC1と同様に、横軸が位相値であり、縦軸が画素値であるグラフである。画像処理部60は、位置合わせ後の各被写体画像21と、位相情報22(図9参照)とを用いて、複数の被写体画像21における被写体Tの同一位置の画素の各位相値と各画素値とを1対1の関係で対応付けた画素値の強度信号曲線SC2を取得する。画像処理部60が強度信号曲線SC2を取得する構成は、上記第1実施形態と同様であるため、詳細な説明は省略する。画像処理部60は、取得した強度信号曲線SC2に基づいて、位相コントラスト画像14を生成するように構成されている。なお、図9に示した空白の領域Eについてはモアレ縞MFの位相情報12もないので、第2実施形態においても、上記第1実施形態と同様に、図17においてサンプリングはしない。
次に、図18を参照して、第2実施形態によるX線位相撮像システム200による位相コントラスト画像14を生成する処理の流れについて説明する。なお、第1実施形態と同様のステップの説明については省略する。
ステップS1~ステップS3において、制御部70は、位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12を取得する。その後、処理は、ステップS10に進む。
ステップS10において、画像処理部60は、制御部70の制御の下、移動機構5によって被写体Tと撮像系9とを相対移動させながら、複数の画像10を取得する。なお、第1実施形態では、移動機構5は、被写体Tを第1撮像位置~第6撮像位置に移動させる。
その後、処理は、ステップS5~ステップS9と進み、画像処理部60は、第1合成画像19を生成し、処理を終了する。
なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
(第2実施形態の効果)
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態では、上記のように、移動機構5は、被写体Tを撮像する際に、被写体Tを所定距離dtずつ移動させるように構成されており、画像処理部60は、所定距離dtずつ移動させながら取得した画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。これにより、被写体Tを連続的に移動させながら撮像する場合と比較して、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成する際の画像10の枚数を低減することができる。その結果、撮像時間をより短縮することができる。また、たとえば、医療用途に用いる場合には、被ばく量が増加することを抑制することができる。
なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
[第3実施形態]
次に、図19~図22を参照して、第3実施形態によるX線位相撮像システム300(図19参照)について説明する。第1格子領域R1および第2格子領域R2における複数の画像10から、画像化対象となる全ての断層面FP(図20参照)が含まれる位相コントラスト画像14を生成する上記第1および第2実施形態とは異なり、第3実施形態におけるX線位相撮像システム300は、画像化対象となる所定の断層面FPの第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。なお、上記第1および第2実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
次に、図19~図22を参照して、第3実施形態によるX線位相撮像システム300(図19参照)について説明する。第1格子領域R1および第2格子領域R2における複数の画像10から、画像化対象となる全ての断層面FP(図20参照)が含まれる位相コントラスト画像14を生成する上記第1および第2実施形態とは異なり、第3実施形態におけるX線位相撮像システム300は、画像化対象となる所定の断層面FPの第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。なお、上記第1および第2実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
図19に示すように、第3実施形態におけるX線位相撮像システム300は、制御部170および画像処理部160を備える点を除いて、上記第1実施形態におけるX線位相撮像システム100と同様の構成である。制御部170は、位置情報取得部171を含む。
第3実施形態では、X線位相撮像システム300は、画像化対象となる断層面FPの光軸XRa方向(Z方向)における断層位置を取得する位置情報取得部171をさらに備え、画像処理部160は、所定方向(X方向)における撮像系9と被写体Tとの複数の相対位置で被写体Tを撮像した複数の画像10と、取得された断層位置とに基づいて、断層面FPにおける位相分布を取得することにより、断層面FPにおける第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。
図20は、上記のように複数の相対位置でX線画像を撮像する際の、被写体Tと画像10の位置座標との関係を示した図である。図20において、縦軸がZ方向の位置を示し、横軸が相対移動を行う所定方向(X方向)の位置を示す。Z方向においてX線源1の焦点位置を原点とする。Z方向における位置として、焦点から被写体Tの中心位置までの距離SOD(source object distance)だけ離れた位置を基準位置(以下、SODという)とする。焦点から検出器2の検出面までの距離だけ離れた位置を検出面位置SID(source image Distance)とする。なお、図20では、便宜上、Z方向を紙面の上下方向として図示している。
第3実施形態では、被写体Tの断層面FPの断層位置が、基準位置SODからのずれ量として表現される。図20では、被写体Tの断層面FPとして、スライス厚dだけずれた2j+1個の断層面FP(基準位置SODの断層面を含む)を設定する。スライス厚dは、各断層面FPの間の距離であり、各断層面FPはZ方向にスライス厚dを隔てて等間隔で配列される。jは、断層位置番号であり、基準位置SODに対して正側(検出器2側)に+j個、負側(X線源1側)に-j個の断層面FPが設定される。Z方向におけるSODの座標をzとすると、各断層面FPの断層位置は、(z-jd)~(z+jd)で表される。
位置情報取得部171は、画像化対象となる断層面FPのZ方向における断層位置(z±jd)として、スライス厚dと、その断層面FPの断層位置番号(j)とを取得する。なお、位置情報取得部171は、基準位置SODを既知の情報として取得する。
そして、画像処理部160は、Z方向における基準位置SOD(=z)および基準位置SODに対する断層位置のずれ量(±jd)と、所定方向(X方向)における撮像系9と被写体Tとの相対位置と、に基づいて、断層面FPにおける位相分布を取得するように構成されている。
図20に示すように、移動機構5により、被写体Tが各相対位置に移動されて撮像される。移動機構5上の座標系における被写体Tの位置をx(x0~xi)で表す。iは相対位置を特定するための番号であり、たとえばx0を初期位置として、図8の第1撮像位置~第6撮像位置がx1~x6となる。各位置座標x0~xiにおける、各断層面FP(0~+j)に属する点の検出面(画像10)への投影点のX座標を、xd(xd00~xdji)とする。なお、各断層面FP(0~-j)も同様である。また、Xd00からXcまでが、第1格子領域R1を通過したX線が検出される領域である。また、XcからXd0iまでが、第2格子領域R2を通過したX線が検出される領域である。
被写体Tの点B1~B3を位置x0に移動させたとき、点B1(断層位置番号=0)を通るX線は、検出面(画像10)のxd00の座標に写る。一方、点B2(断層位置番号=1)を通るX線は、検出面(画像10)のxd10の座標に写り、点B3(断層位置番号=j)を通るX線は、検出面(画像10)のxdj0の座標に写る。被写体Tの位置座標xiと、断層位置(断層位置番号j)とが決まると、検出面(画像10)の位置座標xdjiが特定される。このため、撮像系9と被写体Tとの相対位置は、移動機構5の座標系ではxiで表され、画像10の座標系ではxdjiで表される。
図20において、被写体Tの位置x0における断層位置番号j=0の点B1と、検出面(画像10)上における位置座標xd00とが、図21に示す相似関係から、以下の関係式(式(6))で表される。xcは、検出面(画像10)上における光軸XRa(焦点を通る法線)のX座標を表す。
ここで、被写体Tの位置x0で、基準位置SODからj番目の断層位置z+jdにおける点(点B3)について、検出面(画像10)上に写るX座標xdj0が、図21に示す相似関係から、以下の関係式(式(7))で表される。
式(7)から分かるように、基準位置SOD(=z)上の位置座標xd00から任意の断層面FP上の位置座標xdj0への変換が可能である。位置座標xd00と位置座標xdj0とは、SIDに依存しない関係で表される。
上式(8)を整理すれば、下式(9)が得られる。
以上から、移動機構5によって被写体Tが所定方向(X方向)の各相対位置xiにおいて撮像された各画像10の位置座標を、基準位置SODからずれた任意の断層位置(z+jd)の断層面FP上の断層画像の位置座標に変換することが可能である。
このように、画像処理部160は、Z方向における基準位置SOD(=z)および基準位置SODに対する断層位置のずれ量(jd)と、所定方向(X方向)における撮像系9と被写体Tとの相対位置(xd0i)と、に基づいて、断層面FPにおける位相分布を取得するように構成されている。
なお、被写体Tの相対位置(xd0i)は、下式(10)により取得される。
ここで、また、Xstartは、撮像開始時点の被写体Tの初期位置である。また、p1は、移動機構5に入力される指令値(パルス数)に対する画像10中での実際の被写体Tの移動量の変換係数[pixel/pulse]である。また、npは、x0~xiの各相対位置へ被写体Tを移動させる際に移動機構5に入力される指令値(パルス数)である。
画像処理部160は、得られた画像10の各々について、上式(10)によって被写体Tの各相対位置(xd0i)を取得し、上式(9)に代入することにより、断層位置番号jにより特定される断層面FPの断層画像となるよう座標変換を行う。
(位置較正データの生成)
上式(10)において、変換係数p1[pixel/pulse]は、移動機構5の設計仕様の一部であり既知の情報として予め取得しうる。これに対して、第3実施形態では、画像処理部160は、移動機構5の移動量dmと画像10における相対位置(xd0i)の変化量とを関連付ける位置較正データを生成し、基準位置SODで取得された位置較正データを用いて断層面FPにおける位相分布を取得するように構成されている。画像処理部160が位置較正データを取得する構成は、上記第1および第2実施形態における画像処理部6(60)が位置較正データを取得する構成と同様のであるため、詳細な説明は省略する。
上式(10)において、変換係数p1[pixel/pulse]は、移動機構5の設計仕様の一部であり既知の情報として予め取得しうる。これに対して、第3実施形態では、画像処理部160は、移動機構5の移動量dmと画像10における相対位置(xd0i)の変化量とを関連付ける位置較正データを生成し、基準位置SODで取得された位置較正データを用いて断層面FPにおける位相分布を取得するように構成されている。画像処理部160が位置較正データを取得する構成は、上記第1および第2実施形態における画像処理部6(60)が位置較正データを取得する構成と同様のであるため、詳細な説明は省略する。
生成される位相コントラスト画像14(第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14b)は、位置情報取得部171により取得された断層位置(z+jd)の断層画像となる。図22は、位相コントラスト画像14の断層像(位相コントラスト断層画像)の概念図である。
図22(A)に示すように、たとえば断層位置として、基準位置SOD(=z)が取得された場合、それぞれの画像10および位相情報12が断層位置=zの断層面FP上の点B1を基準として被写体Tの静止座標系に変換されることにより、断層位置=zの断層面FPにピントが合った断層画像(吸収像15、位相微分像16、暗視野像17)が生成される。このとき、異なる断層面FPにある点B2および点B3の像には、ぼけが生じる。
図22(B)に示すように、点B2がある断層面FPの断層位置(z+d)が取得された場合、断層位置=z+dの断層面FP上の点B2を基準として被写体Tの静止座標系に変換されることにより、断層位置=z+dの断層面FPにピントが合った断層像が生成される。このとき、異なる断層面FPにある点B1および点B3の像には、ぼけが生じる。
図22(C)に示すように、点B3がある断層面FPの断層位置(z+jd)が取得された場合、断層位置=z+jdの断層面FP上の点B3を基準として被写体Tの静止座標系に変換されることにより、断層位置=z+jdの断層面FPにピントが合った断層像が生成される。このとき、異なる断層面FPにある点B1および点B2の像には、ぼけが生じる。
このように、第3実施形態では、ユーザが指定した任意の断層面FPにおいてぼけを抑制した(ピントが合った)位相コントラスト断層画像が得られる。
第3実施形態では、画像処理部160は、第1格子領域R1と第2格子領域R2とにおいて撮像した複数の画像10に基づいて、それぞれ個別に断層画像を生成するように構成されている。すなわち、画像処理部160は、所定の断層面FPにおける第1位相コントラスト画像14aと、所定の断層面FPにおける第2位相コントラスト画像14bとを、それぞれ個別に生成するように構成されている。また、画像処理部160は、所定の断層面FPにおける第1位相コントラスト画像14aと、所定の断層面FPにおける第2位相コントラスト画像14bとを合成した画像を生成するように構成されていてもよい。
次に、図23を参照して、第3実施形態によるX線位相撮像システム300による位相コントラスト画像14(第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14b)を生成する処理の流れについて説明する。なお、上記第1および第2実施形態と同様の処理を行うステップについては、詳細な説明は省略する。
ステップS1~S3およびステップS10において、画像処理部160は、それぞれの相対位置における複数の位置較正用画像13を生成する。また、画像処理部160は、標識物Mの移動量dmと指令値とに基づいて近似式(位置較正データ)を取得する。また、画像処理部160は、モアレ縞MFの位相情報12を取得する。また、画像処理部160は、移動機構5によってX方向における複数の相対位置で複数の画像10を取得する。移動機構5は、被写体Tをx0~xiの各相対位置に移動させる。
次に、ステップS11において、位置情報取得部171が、断層位置を取得する。位置情報取得部171は、たとえばユーザにより設定された、SOD(=z)、スライス厚dおよび断層位置番号jの各設定値を取得する。断層位置(z+jd)の取得処理は、ステップS12の前であれば、どのタイミングで実施されてもよい。
次に、ステップS12において、画像処理部160は、被写体Tのうち、取得された断層位置(z+jd)により特定される断層面FP上の点を基準として、それぞれの相対位置で取得された各画像10および位相情報12の位置座標の座標変換を行う。これにより、画像処理部160は、断層面FP上の被写体Tを基準とする静止座標系に座標変換された、座標変換後の各被写体画像21(図9参照)および位相情報22(図9参照)を取得する。
次に、ステップS13において、画像処理部160は、座標変換後の各被写体画像21および各位相情報22に基づいて、断層面FPにおける位相分布を取得する。すなわち、画像処理部160は、断層面FP上の被写体Tを基準とした静止座標系における、各画素(各位置座標)の強度信号曲線SC2(図17参照)を生成する。
ステップS14において、画像処理部160は、生成した強度信号曲線SC2に基づいて、所定の断層面FPにおける位相コントラスト画像14(第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14b)を生成する。なお、画像処理部160は、位相コントラスト画像14として、吸収像15、位相微分像16および暗視野像17を生成してもよい。以上により、位相コントラスト画像14の生成処理が完了する。
なお、上記第1および第2実施形態と同様に、ステップS1およびステップS2の処理と、ステップS3における処理とは、どちらの処理を先に行ってもよい。また、位置較正データの取得処理は、複数の画像10の座標変換を行う前であれば、どのタイミングで行ってもよい。また、モアレ縞MFの位相情報12を取得する処理は、位相情報12の座標変換の前であれば、いつ行ってもよい。
なお、第3実施形態のその他の構成は、上記第1および第2実施形態と同様である。
(第3実施形態の効果)
第3実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第3実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第3実施形態では、上記のように、画像化対象となる断層面FPのZ方向における断層位置を取得する位置情報取得部171をさらに備え、画像処理部160は、所定方向における撮像系9と被写体Tとの複数の相対位置で被写体Tを撮像した複数の画像10と、取得された断層位置とに基づいて、断層面FPにおける位相分布を取得することにより、断層面FPにおける第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを生成するように構成されている。これにより、被写体Tのうちで、画像化したい内部構造が存在する断層面FPのZ方向の位置(断層位置)を位置情報取得部171によって取得することができる。そして、断層面FP上の点に対するX線の入射角は撮像系9と被写体Tとの相対位置によって決まるので、断層位置の情報と、画像10が撮像された際の相対位置とにより、個々の画像10における断層面FP上の点の位置が特定できる。これにより、画像処理部160により、得られた断層位置の情報と、複数の相対位置での各画像10とに基づいて、断層位置によって示される特定の断層面FPにおける位相分布が取得できる。その結果、位置情報取得部171により取得された断層位置の断層面FPにおける位相分布から、その断層面FPに含まれる内部構造について画像のぼけが抑制された位相コントラスト画像14(断層画像)が得られる。これにより、厚みが大きい被写体Tであっても、内部構造の視認性の低下を抑制することができる。
なお、第3実施形態のその他の効果は、上記第1および第2実施形態と同様である。
[第4実施形態]
次に、図24および図25を参照して、第4実施形態によるX線位相撮像システム400(図24参照)について説明する。被写体Tを、第1格子領域R1および第2格子領域R2を通過させることにより撮像された画像10に基づいて位相コントラスト画像14を生成する上記第1および第2実施形態とは異なり、第4実施形態では、移動機構5は、第1格子群3および第2格子群4が配置されていない格子なし領域R3を被写体Tが通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されている。なお、上記第1および第2実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
次に、図24および図25を参照して、第4実施形態によるX線位相撮像システム400(図24参照)について説明する。被写体Tを、第1格子領域R1および第2格子領域R2を通過させることにより撮像された画像10に基づいて位相コントラスト画像14を生成する上記第1および第2実施形態とは異なり、第4実施形態では、移動機構5は、第1格子群3および第2格子群4が配置されていない格子なし領域R3を被写体Tが通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されている。なお、上記第1および第2実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、説明を省略する。
(X線位相撮像システムの構成)
まず、図24を参照して、第4実施形態によるX線位相撮像システム400の構成について説明する。
まず、図24を参照して、第4実施形態によるX線位相撮像システム400の構成について説明する。
第4実施形態では、X線位相撮像システム400は、コリメータ50および画像処理部260を備える点を除いて、上記第1実施形態と同様の構成である。移動機構5は、第1格子群3および第2格子群4が配置されていない格子なし領域R3を被写体Tが通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されている。画像処理部260は、第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)と、格子なし領域R3を通過した際に取得された吸収像150(図25参照)とを合成した第2合成画像23を表示するように構成されている。
コリメータ50は、第1格子30および第1格子40と第2格子31および第2格子41との間に配置されている。コリメータ50は、X線を遮蔽する遮蔽部材により構成されており、開閉自在に構成されたコリメータ孔50aおよび17bが形成されている。コリメータ孔50aは、X線源1から照射されたX線の内、第1格子群3および第2格子群4を通過して検出器2に照射されるX線の照射範囲を調整することが可能である。コリメータ孔50bは、第1格子群3および第2格子群4を通過せずに検出器2に照射されるX線の範囲を調整することが可能である。また、第1格子領域R1および第2格子領域R2のX方向の大きさは、少なくともモアレ縞MF(図4参照)の1周期d7分が写る大きさに調整する。格子なし領域R3は、格子が介在しない吸収像150(図25(A)参照)を撮像する領域であるため、格子なし領域R3のX方向の大きさは、モアレ縞MFの1周期d7分の大きさよりも小さくてもよい。
図24に示す例では、第1格子領域R1は、X線の光軸XRaと、X線源1からコリメータ50までのX線の照射範囲を示す直線XR1と、コリメータ50から検出器2までのX線の照射範囲を示す直線XR3とによって形成される領域である。また、図24に示す例では、第2格子領域R2は、X線の光軸XRaと、X線源1からコリメータ50までのX線の照射範囲を示す直線XR2と、コリメータ50から検出器2までのX線の照射範囲を示す直線XR4とによって形成される領域である。また、図24に示す例では、格子なし領域R3は、コリメータ50から検出器2までのX線の照射範囲を示す直線XR4および直線XR5によって形成される領域である。
図25に示すように、第4実施形態では、画像処理部260は、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bと、吸収像150とを合成した第2合成画像23を表示するように構成されている。なお、図25(B)に示す例では、被写体Tの内部構造として、Y方向に延びる内部構造IS1が描写された第1位相コントラスト画像14aを図示している。また、図25(C)では、被写体Tの内部構造として、X方向に延びる内部構造IS2が描写された第2位相コントラスト画像14bを図示している。内部構造IS1および内部構造IS2のX線の吸収量は、吸収像150においては描写されない程度の大きさである。
第2合成画像23は、吸収像150、第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)を合成することにより生成される。したがって、内部構造IS1によるY方向の感度と、内部構造IS2によるX方向の感度とを、1枚の第2合成画像23内において把握することができる。
次に、図26を参照して、第4実施形態によるX線位相撮像システム400において第2合成画像23を生成する処理の流れについて説明する。
ステップS15において、制御部7は、位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12を取得する。ステップS15における位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12の取得処理は、上記第1実施形態におけるステップS1~ステップS3の処理と同様であるため、詳しい説明を省略する。その後、処理は、ステップS16へ進む。
ステップS16において、画像処理部260は、第1格子領域R1、第2格子領域R2および格子なし領域R3において、被写体Tを移動させながら撮像された複数の画像10を取得する。その後、ステップS17において、画像処理部260は、第1格子領域R1および第2格子領域R2における複数の画像10に基づいて、第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)を生成する。その後、処理は、ステップS18へ進む。
ステップS18において、画像処理部260は、格子なし領域R3における画像10に基づいて、吸収像150を生成する。その後、ステップS19において、画像処理部260は、第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)と吸収像150とを合成した第2合成画像23を生成し、処理を終了する。
なお、ステップS17の処理と、ステップS18の処理とは、どちらの処理を先に行ってもよい。
なお、第4実施形態のその他の構成は、上記第1および第2実施形態と同様である。
(第4実施形態の効果)
第4実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第4実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第4実施形態では、上記のように、移動機構5は、第1格子群3および第2格子群4が配置されていない格子なし領域R3を被写体Tが通過するように被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されており、画像処理部260は、第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)と、格子なし領域R3を通過した際に取得された吸収像150とを合成した第2合成画像23を表示するように構成されている。これにより、第1格子群3および第2格子群4を退避させて撮像したり、格子を備えていない別のイメージング装置を用いて撮像したりすることなく、格子を介在させない吸収像150と格子を用いた第1位相コントラスト画像14a(第1位相微分像16a)および第2位相コントラスト画像14b(第2位相微分像16b)とを生成することができる。格子なし領域R3に到達するX線は、格子を通過せずに検出器2に到達するので、格子によるX線の減衰、特に低エネルギー側によるX線の減衰を抑制することができる。その結果、第1格子領域R1および第2格子領域R2を通過して到達するX線によって生成された吸収像15(図12(A)参照)と比較して、格子なし領域R3を通過して到達するX線によって生成された吸収像150のコントラストを向上させることができる。
なお、第4実施形態のその他の効果は、上記第1および第2実施形態と同様である。
(変形例)
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
たとえば、上記第1、第2および第4実施形態では、Z方向が水平方向であり、撮像系9が水平方向に沿って配置される構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、図27に示すX線位相撮像システム500のように、Z方向が垂直方向であり、撮像系9は、垂直方向に沿って配置されていてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、各格子が平板状である構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、撮像する被写体Tが大きい場合、照射するX線の範囲も大きくなり、面積の大きい格子を用いる必要がある。X線の照射範囲が大きくなると、格子に対して斜め方向からX線が入射する場合がある。この場合、各スリットおよび各X線透過部に対しても斜め方向から入射するため、各X線吸収部などにおいて意図しない吸収が生じるため、検出器2に到達するX線の線量が低下し、位相コントラスト画像14のコントラストの低下などが生じる。そこで、図28に示すX線位相撮像システム600のように、格子を湾曲させてもよい。図28に示す例では、第2格子群4の格子を湾曲させる例を示している。格子の大きさに応じて、第1格子40のみを湾曲させてもよい。また、第1格子群3の各格子を湾曲させてもよい。また、第1格子群3の格子を湾曲させてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、X線位相撮像システム100(200、300、400)が第1格子30および第1格子40を備える構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。X線源1から照射されるX線の可干渉性が第2格子31および第2格子41の自己像を形成することができるほど十分に高い場合は、第1格子30および第1格子40を設けなくてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、位相情報12を取得する際に、格子移動機構8が、第2格子31および第2格子41を移動させる例を示したが、本発明はこれに限られない。移動させる格子はいずれの格子であってもよい。
また、上記第2実施形態では、第1撮像位置~第6撮像位置の6か所に被写体T(標識物M)を移動させながら撮像する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。強度信号曲線SC2を取得することができれば、被写体T(標識物M)を配置する位置は、6か所より少なくてもよいし、多くてもよい。
また、上記第2実施形態では、標識物Mの移動量dmと同一の移動量dtによって被写体Tを移動させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。被写体Tの移動量dtと、標識物Mの移動量dmとは、同一でなくてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、第2格子31および第2格子41と第3格子32および第3格子42との間において被写体T(標識物M)を移動させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、第1格子30および第1格子40と第2格子31および第2格子41との間において被写体T(標識物M)を移動させるように構成されていてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、指令値と移動量dmとに基づく近似式を取得することにより位置較正データを作成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。各画像10における画素の位置を取得することができれば、位置較正データはどのようにして生成されてもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、画像処理部6(60)が、第1位相微分像16aおよび第2位相微分像16bから第1合成画像19を生成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。画像処理部6(60)は、第1格子領域R1において撮像された暗視野像17と、第2格子領域R2において撮像された暗視野像17とを用いて、第1合成画像19を生成するように構成されていてもよい。また、画像処理部6(60)は、第1位相微分像16aおよび第2位相微分像16bと第1格子領域R1において撮像された暗視野像17および第2格子領域R2において撮像された暗視野像17とを組み合わせて合成することにより、第1合成画像19を生成するように構成されていてもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、画像処理部6(60)が、第1位相微分像16aおよび第2位相微分像16bから第1合成画像19を生成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部6(60)は、第1合成画像19を生成せずに、第1位相微分像16a(第1位相コントラスト画像14a)および第2位相微分像16b(第2位相コントラスト画像14b)を生成するだけでもよい。
また、上記第4実施形態では、画像処理部160が吸収像150と、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bとを合成した第2合成画像23を生成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部160は、吸収像150と、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bとを、外部の表示装置などに出力することにより、吸収像150と、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bとを並べて表示するように構成されていてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12の取得と、被写体Tを撮像とを続けて行う構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12を取得する処理をあらかじめ行い、記憶部などに記憶しておいてもよい。位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12を記憶部に記憶しておく較正の場合、画像処理部6(60、160、260)は、位相コントラスト画像14を生成する際に、位置較正データおよびモアレ縞MFの位相情報12を記憶部から取得するように構成すればよい。
また、上記第1~第4実施形態では、移動機構5が被写体T(標識物M)をX2方向からX1方向へ移動させる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、移動機構5は、X1方向からX2方向へ被写体T(標識物M)を移動させるように構成されていてもよい。被写体T(標識物M)をモアレ縞MFの周期方向に移動させることができれば、移動機構5は被写体T(標識物M)をどの様に移動させてもよい。
また、上記第1~第4実施形態では、撮像系9を固定し、移動機構5が被写体Tを移動させて撮像する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、移動機構5は、被写体Tを固定して、撮像系9を移動させることにより、被写体Tと撮像系9とを相対移動させるように構成されていてもよい。また、標識物Mを固定し、撮像系9を移動させることによって、位置較正用データを取得するように構成されていてもよい。被写体T(標識物M)と撮像系9との相対位置が変化すればよいので、移動機構5は、被写体T(標識物M)と撮像系9とのうち、どちらを移動させてもよい。なお、第1~第3実施形態において、移動機構5が撮像系9を移動させる場合、移動機構5を、格子とともに格子移動機構8を移動させるように構成すればよい。また、第4実施形態において、移動機構5が撮像系9を移動させる場合は、移動機構5を、撮像系9とともにコリメータ50を移動させるように構成すればよい。
また、上記第1および第2実施形態では、画像処理部6(60)が上記式(4)によって、第1合成画像19を生成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。画像処理部6(60)は、上記式(4)を用いずに第1合成画像19を生成するように構成されていてもよい。たとえば、画像処理部6(60)は、第1位相コントラスト画像14aおよび第2位相コントラスト画像14bを単純加算することにより、第1合成画像19を生成するように構成されていてもよい。また、画像処理部6(60)は、第1位相コントラスト画像14aの二乗和平方根および第2位相コントラスト画像14bの二乗和平方根を取得することにより、第1合成画像19を生成するように構成されていてもよい。
また、上記第4実施形態では、X2方向からX1方向に向かう方向において、第2格子領域R2、第1格子領域R1および格子なし領域R3の順序で各領域が並ぶように、第1格子群3、第2格子群4およびコリメータ50が配置する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。第1格子領域R1、第2格子領域R2および格子なし領域R3の順序はどのような順序であってもよい。なお、X方向において、第1格子群3を光軸XRaから離れた位置に配置する場合、X線の照射方向に応じて第1格子群3を傾けて配置する必要があるため、第1格子群3は光軸XRaに近い位置(X線源1の正面)に配置することが好ましい。
1 X線源
2 検出器
3 第1格子群
4 第2格子群
5 移動機構
6、60、160、260 画像処理部
7、70、170 制御部
8 格子移動機構
9 撮像系
10、21 画像(被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像した複数の画像)
12、22 位相情報
13 位置較正用画像
14 位相コントラスト画像
14a 第1位相コントラスト画像
14b 第2位相コントラスト画像
15 吸収像(位相コントラスト画像)
16 位相微分像(位相コントラスト画像)
17 暗視野像(位相コントラスト画像)
18 位相像
19 第1合成画像
23 第2合成画像
30 第1格子(第1格子群)
31 第2格子(第1格子群)
32 第3格子(第1格子群)
40 第1格子(第2格子群)
41 第2格子(第2格子群)
42 第3格子(第2格子群)
71 位置情報取得部
100、200、300、400、500、600 X線位相撮像システム
FP 画像化対象となる断層面
M 標識物
MF モアレ縞
R1 第1格子領域
R2 第2格子領域
R3 格子なし領域
T 被写体
2 検出器
3 第1格子群
4 第2格子群
5 移動機構
6、60、160、260 画像処理部
7、70、170 制御部
8 格子移動機構
9 撮像系
10、21 画像(被写体と撮像系とを相対移動させながら撮像した複数の画像)
12、22 位相情報
13 位置較正用画像
14 位相コントラスト画像
14a 第1位相コントラスト画像
14b 第2位相コントラスト画像
15 吸収像(位相コントラスト画像)
16 位相微分像(位相コントラスト画像)
17 暗視野像(位相コントラスト画像)
18 位相像
19 第1合成画像
23 第2合成画像
30 第1格子(第1格子群)
31 第2格子(第1格子群)
32 第3格子(第1格子群)
40 第1格子(第2格子群)
41 第2格子(第2格子群)
42 第3格子(第2格子群)
71 位置情報取得部
100、200、300、400、500、600 X線位相撮像システム
FP 画像化対象となる断層面
M 標識物
MF モアレ縞
R1 第1格子領域
R2 第2格子領域
R3 格子なし領域
T 被写体
Claims (15)
- X線源と、
前記X線源から照射されたX線を検出する検出器と、
前記X線源と前記検出器との間において、格子が延びる方向を第1方向に沿った方向に向けて、X線の光軸方向に沿って配置された複数の格子を含む第1格子群と、
前記X線源と前記検出器との間において前記光軸方向と交差する方向に前記第1格子群と並んで配置され、格子が延びる方向を第1方向と異なる第2方向に沿った方向に向けて、前記光軸方向に沿って配置された複数の格子を含む第2格子群と、
被写体または前記X線源と前記検出器と前記第1格子群と前記第2格子群とによって構成される撮像系を相対移動させる移動機構と、
前記検出器によって検出された信号に基づいて位相コントラスト画像を生成する画像処理部と、を備え、
前記移動機構は、被写体が、前記第1格子群が配置された第1格子領域および前記第2格子群が配置された第2格子領域を通過するように被写体と前記撮像系とを相対移動させるように構成されており、
前記画像処理部は、被写体が前記第1格子領域を通過した際の第1位相コントラスト画像と、被写体が前記第2格子領域を通過した際の第2位相コントラスト画像と、を生成するように構成されている、X線位相撮像システム。 - 前記第1格子群および前記第2格子群は、前記第1方向と前記第2方向とが略直交する向きとなるように配置されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
- 前記画像処理部は、前記第1位相コントラスト画像と、前記第2位相コントラスト画像とを合成した第1合成画像を生成するように構成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
- 前記第1格子群を通過したX線および前記第2格子群を通過したX線は、それぞれ、共通の前記検出器によって検出される、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
- 前記第1格子群および前記第2格子群は、それぞれ、共通の前記X線源から照射されるX線の照射範囲内に配置されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
- 前記第1格子群および前記第2格子群は、それぞれ、前記X線源から照射されるX線の可干渉性を高める第1格子と、自己像を形成するための第2格子と、前記第2格子の自己像と干渉させるための第3格子とを含み、
前記第1格子群の前記第1格子および前記第2格子群の前記第1格子は、一体的に形成されており、前記第1格子群の前記第2格子および前記第2格子群の前記第2格子と、前記第1格子群の前記第3格子および前記第2格子群の前記第3格子とは、それぞれ、別体で形成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。 - 前記画像処理部は、前記第1格子領域および前記第2格子領域の各々において、被写体と前記撮像系とを相対移動させながら撮像した複数の画像と、複数の前記画像に生じたモアレ縞の位相情報と、に基づいて、複数の前記画像における被写体の各画素における画素値と、各画素における前記モアレ縞の位相値とを対応付けるとともに、
複数の前記画像における被写体の同一位置の画素の位置情報と、前記位相値と対応付けた各画素の画素値とに基づいて、複数の前記画像における被写体の同一位置の画素の位置合わせを、前記第1格子領域および前記第2格子領域の各々において行うことにより、前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。 - 前記移動機構は、被写体を撮像する際に、被写体を連続的に移動させるように構成されており、
前記画像処理部は、取得した連続的な前記画像に基づいて、前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている、請求項7に記載のX線位相撮像システム。 - 前記移動機構は、被写体を撮像する際に、被写体を所定距離ずつ移動させるように構成されており、
前記画像処理部は、所定距離ずつ移動させながら取得した前記画像に基づいて、前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている、請求項7に記載のX線位相撮像システム。 - 前記画像処理部は、標識物と前記撮像系とを相対移動させながら撮像された複数の位置較正用画像に基づいて、複数の前記画像における被写体の同一位置の各画素の位置合わせに用いる位置較正データを作成するように構成されている、請求項7に記載のX線位相撮像システム。
- 前記位置較正データは、前記移動機構によって前記標識物と前記撮像系とを相対移動させる際に前記移動機構に入力される移動量に関する指令値と、前記指令値に基づいて前記標識物と前記撮像系とを相対移動させた際の前記位置較正用画像中における前記標識物または前記撮像系の移動量とに基づいて作成される、請求項10に記載のX線位相撮像システム。
- 前記位置較正データは、複数の前記位置較正用画像における前記標識物の同一位置の各画素の位置に基づいて、前記指令値と前記標識物または前記撮像系の移動量との関係を示す近似式を取得することにより作成される、請求項11に記載のX線位相撮像システム。
- 前記画像処理部は、被写体が前記第1格子領域を通過した際の位相微分像と、被写体が前記第2格子領域を通過した際の位相微分像とに基づいて、位相像を生成するように構成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
- 画像化対象となる断層面の前記光軸方向における断層位置を取得する位置情報取得部をさらに備え、
前記画像処理部は、所定方向における前記撮像系と被写体との複数の相対位置で被写体を撮像した複数の画像と、取得された前記断層位置とに基づいて、前記断層面における位相分布を取得することにより、前記断層面における前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像を生成するように構成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。 - 前記移動機構は、前記第1格子群および前記第2格子群が配置されていない格子なし領域を被写体が通過するように被写体と前記撮像系とを相対移動させるように構成されており、
前記画像処理部は、前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像と、前記格子なし領域を通過した際に取得された吸収像とを並べて表示するか、または、前記第1位相コントラスト画像および前記第2位相コントラスト画像と、前記吸収像とを合成した第2合成画像を表示するように構成されている、請求項1に記載のX線位相撮像システム。
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