WO2016121491A1 - 電子回路モジュール - Google Patents
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Definitions
- This invention relates to an electronic circuit module.
- Patent Document 1 proposes an example of such an electronic circuit module.
- FIG. 12 is a cross-sectional view of the electronic circuit module 700 described in Patent Document 1.
- 12A is a cross-sectional view taken along the line CC of FIG. 12B.
- FIG. 12B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG.
- electronic components 703 and 704 are connected to circuit boards 701 and 702, respectively.
- the electronic component 703 is embedded in the electrical insulating layer 705, and the electronic component 704 is embedded in the embedded layer 706.
- the circuit boards 701 and 702 are electrically connected by a via 707 formed in a columnar shape and a via receiving land 708.
- a conductive film 709 serving as a shield layer is provided on the surface of the buried layer 706.
- the conductive film 709 is connected to the axial cut surface of the via 710 formed in a columnar shape, and is connected to a grounding electrode (not shown) via the via 710 and the via receiving land 708. Yes.
- the grounding of the conductive film 709 is stabilized by the above structure.
- connection surface between the conductive film 709 and the via 710 is a cut surface for obtaining the individual electronic circuit module 700 from the collective substrate, and is merely a plane. Therefore, the connection area between the conductive film 709 and the cross section of the via 710 may be reduced. Therefore, the connection between the conductive film 709 and the ground electrode may be insufficient.
- an object of the present invention is to provide an electronic circuit module in which a conductive film serving as a shield layer is reliably connected to a grounding electrode.
- the conductive film serving as a shield layer provided in the electronic circuit module and the via conductor included in the conductive path leading to the grounding electrode are electrically and reliably connected. It is done.
- An electronic circuit module includes a circuit board, an electronic component, an embedded layer, and a conductive film.
- the circuit board includes a first main surface provided with a first electrode, a second main surface provided with a second electrode including a grounding electrode, a first main surface, and a second main surface. And a pattern conductor and a via conductor as internal conductors.
- the electronic component is connected to the first electrode.
- the buried layer is provided by embedding electronic components on the first main surface of the circuit board.
- the conductive film is connected to a conductive path to the ground electrode.
- the side surface of the circuit board includes a first region connected to the first main surface, a second region connected to the second main surface and having a circumference longer than the first region, and the first region. And a connection region connected to the second region.
- the conductive path to the ground electrode comprises a via conductor.
- the conductive film is formed on a region including at least a part of the outer surface of the buried layer, the first region, and the connection region. The conductive film formed in at least a part of the connection region is connected to the exposed portion of the via conductor included in the conductive path to the ground electrode in the connection region.
- the circumference of the second region is longer than the circumference of the first region, and the connection region between the first region and the second region is the first when the electronic circuit module is viewed from above. It has a shape that spreads from one region to the second region.
- the circumferential length of the first region refers to the length of the connection portion between the first region and the first main surface.
- the peripheral length of the second region refers to the length of the connection portion between the second region and the second main surface.
- the top view of the electronic circuit module refers to viewing the electronic circuit module from the first main surface side of the circuit board 1.
- the exposed portion in the connection region of the via conductor has a three-dimensional shape, unlike the planar exposed portion described in the background art described above, and thus is in contact with the conductive film compared to the planar exposed portion. Increases area. Therefore, the conductive film and the grounding electrode are securely connected, and a high shielding effect can be obtained.
- the cross-section in the axial direction of the via conductor is not limited to a circle, but may be other shapes.
- the electronic circuit module according to the present invention preferably has the following features.
- the conductive path to the ground electrode includes a plurality of via conductors.
- the plurality of via conductors are formed such that adjacent via conductors overlap when the electronic circuit module is viewed from above.
- the conductive film formed in at least a part of the connection region is connected to the exposed portion of the connection region of at least one pair of adjacent via conductors.
- the conductive path to the ground electrode includes a plurality of via conductors, and adjacent via conductors are overlapped with each other when viewed from above.
- the conductive path from the conductive film to the grounding electrode is routed by the via conductor whose electric resistance is substantially lower than that of the pattern conductor. The distance from the conductive film to the ground electrode is reduced. Therefore, since the electrical resistance of the conductive path can be kept low, a high shielding effect can be obtained.
- the above-described preferred embodiment of the electronic circuit module according to the present invention further preferably includes the following features. That is, the plurality of via conductors are formed while shifting the central axis of each via conductor along the connection region when the electronic circuit module is viewed from above.
- the conductive film and the grounding electrode are more reliably connected, and a higher shielding effect can be obtained.
- the above-described preferred embodiment of the electronic circuit module according to the present invention more preferably includes the following other features. Also in the more preferable embodiment having the above-described features, it is more preferable to have the following other features. That is, at least one pair of the adjacent via conductors is formed with the pattern conductors interposed therebetween. The conductive film formed in at least a part of the connection region is connected to the exposed portion in the connection region of at least one pair of adjacent via conductors and the pattern conductor sandwiched between the adjacent via conductors.
- At least one pair of adjacent via conductors connected to the conductive film and related to the conductive path to the ground electrode is formed with the pattern conductor interposed therebetween. That is, the pattern conductor sandwiched between the via conductors is also reliably connected to the conductive path to the ground electrode. Therefore, both external noise and noise generated from the electronic component surely flow to the ground electrode, so that excellent electrical characteristics can be obtained.
- the pattern conductor and the conductive film are securely connected. Therefore, noise generated from the electronic component is dispersed through the conductive film and flows to the plurality of grounding electrodes, which contributes to excellent electrical characteristics.
- the above-described preferred embodiment of the electronic circuit module according to the present invention more preferably includes the following further features. Further, in the further preferable embodiment having the above-described feature or another feature, it is more preferable to provide the following further feature. That is, the conductive film is formed on a region including at least a part of the outer surface of the buried layer, the first region, the connection region, and the second region. The conductive film formed in at least a part of each of the connection region and the second region is connected to the exposed portions of the plurality of via conductors in each of the connection region and the second region.
- the conductive film is formed in at least a part of each of the connection region and the second region.
- the conductive film is connected to the exposed portions of the plurality of via conductors in each of the connection region and the second region. Therefore, since the conductive film and the grounding electrode are more reliably connected and the conductive film reaches the second region, a higher shielding effect can be obtained.
- a solder fillet is also formed in the second region, and an improvement in bonding strength is expected.
- the circumference of the second area is longer than the circumference of the first area, and the connection area between the first area and the second area is when the electronic circuit module is viewed from above.
- And has a shape that spreads from the first region toward the second region. That is, the exposed portion in the connection region of the via conductor has a three-dimensional shape, unlike the planar exposed portion described in the background art described above, and thus is in contact with the conductive film compared to the planar exposed portion. Increases area. Therefore, the conductive film and the grounding electrode are securely connected, and a high shielding effect can be obtained.
- FIG. 2 is a cross-sectional view of the electronic circuit module 100 according to the first embodiment of the present invention, taken along the line AA in FIG. It is sectional drawing equivalent to FIG. 2 of the 1st modification of the electronic circuit module 100 which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is sectional drawing equivalent to FIG. 2 of the 2nd modification of the electronic circuit module 100 which concerns on 1st Embodiment of this invention.
- FIG. 1 is a diagram for explaining an example of a manufacturing method of the electronic circuit module 100 according to the first embodiment of the present invention shown in FIGS.
- FIG. 1 and 2 and schematically illustrates a preparation process, a mounting process, and an embedded layer forming process.
- FIG. FIG. 5 is a view for explaining an example of the manufacturing method of the electronic circuit module 100 according to the first embodiment of the present invention continued from FIG. 5, schematically showing a groove forming step, a conductive film forming step, and a separation step, respectively.
- FIG. 2 of the electronic circuit module 200 which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
- FIG. 2 and the principal part enlarged view of the electronic circuit module 300 which concerns on the 3rd Embodiment of this invention.
- FIG. 2 of the electronic circuit module 400 which concerns on 4th Embodiment of this invention.
- FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a manufacturing method of an electronic circuit module 400 according to the fourth embodiment of the present invention shown in FIG. 9, and schematically shows a preparation process, a mounting process, and an embedded layer forming process. It is.
- FIG. 10 is a view for explaining an example of a manufacturing method of an electronic circuit module 400 according to the fourth embodiment of the present invention continued from FIG. 10, schematically showing a groove forming step, a separation step, and a conductive film forming step, respectively.
- FIG. It is sectional drawing of the electronic circuit module 700 of background art.
- FIG. 1A is a perspective view of the electronic circuit module 100.
- a second electrode 3 including electronic components 5 to 7 and a grounding electrode 3A, which will be described later, is seen through, and the other components are not shown.
- FIG. 1B is a top view in which the electronic components 5 to 7 are similarly seen through, and the other components are not shown.
- FIG. 2 is a cross-sectional view of the electronic circuit module 100 taken along the line AA in FIG.
- the electronic circuit module 100 includes a circuit board 1, electronic components 5 to 7, a buried layer 8, and a conductive film 9.
- the circuit board 1 is a multilayer board in which a circuit pattern made of a conductor is formed on the surface and inside using an insulating resin material reinforced with glass fiber or a ceramic material as a base material.
- a dotted line is attached to the inside of the circuit board 1, but this is to show that it is a multilayer board as described above, and does not show that there is actually such an interface. .
- the circuit board 1 includes a first main surface M1 provided with a first electrode 2, a second main surface M2 provided with a second electrode 3 including a grounding electrode 3A, and a first main surface. It has a side surface S connecting M1 and the second main surface M2, and further includes a pattern conductor 4P and a via conductor 4V as the internal conductor 4.
- the pattern conductor 4P is a conductor formed on each main surface of the circuit board 1 and inside the circuit board 1 so as to be substantially parallel to each main surface.
- the via conductor 4 ⁇ / b> V is a conductor formed so as to be substantially orthogonal to each main surface inside the circuit board 1.
- the circuit pattern of the circuit board 1 is formed by a combination of the pattern conductor 4P and the via conductor 4V.
- the grounding electrode 3 ⁇ / b> A is separated from the side surface S of the circuit board 1. Therefore, the conductive path P to the ground electrode 3A includes two sets of via conductors 4V and a pattern conductor 4P in which the two sets of via conductors 4V are connected near one end and the other end. It consists of The rows of the two pairs of via conductors 4V are formed at positions that do not overlap when the electronic circuit module 100 is viewed from above. That is, the conductive path P has a bent shape.
- At least one of the via conductors 4V constituting the conductive path P to the ground electrode 3A is exposed in at least a part of the connection region SC on the side surface S of the circuit board 1 described later.
- the conductive path P is connected to the conductive film 9 at the exposed portion of the via conductor 4V.
- the pattern conductor 4P may be sandwiched between at least one pair of adjacent via conductors 4V formed so as to overlap in the middle in the middle of the row of via conductors 4V. .
- the side surface S of the circuit board 1 includes a first region S1 connected to the first main surface M1, and a second region S2 connected to the second main surface M2 and having a peripheral length longer than that of the first region. And a connection region SC connected to the first region S1 and the second region S2.
- the circumferential length of the first region S1 and the circumferential length of the second region S2 are the length of the connection portion between the first region S1 and the first main surface M1, and the second length, respectively.
- the length of the connecting portion between the region S2 and the second main surface M2 is indicated.
- the peripheral length of the second region S2 of the side surface S of the circuit board 1 is longer than the peripheral length of the first region S1.
- the connection region SC between the first region S1 and the second region S2 is curvedly expanded from the first region S1 toward the second region S2 when the electronic circuit module 100 is viewed from above. It has a different shape. Therefore, in the cross-sectional view of FIG. 2, the first region S1 to the connection region SC are illustrated as a so-called bell bottom shape.
- the side surface S of the circuit board 1 when the electronic circuit module 100 is viewed from above, the side surface S of the circuit board 1 is a mirror surface with the AA line and a line perpendicular to the line passing through the center of the electronic circuit module 100 as a symmetry plane. It is symmetrical. Note that the side surface S of the circuit board 1 does not have to have the above-described symmetric relationship. For example, in at least one of the four surfaces forming the side surface S of the circuit board 1, the connection region SC is changed from the first region S1 to the first region. It is only necessary to have a shape that expands toward the second region S2.
- the electronic components 5 to 7 are not particularly limited, but are, for example, active components such as integrated circuits and semiconductor devices such as transistors, passive components such as inductors, capacitors, and resistors.
- the electronic components 5 to 7 are connected to the first electrode 2 of the circuit board 1 by a bonding material such as solder.
- the buried layer 8 is an insulating resin material or a material in which, for example, a glass material or silica is dispersed as a filler in an insulating resin material. A single insulating resin material that does not include a filler may be used.
- the buried layer 8 is provided by embedding electronic components 5 to 7 in the first main surface M1 of the circuit board 1.
- the side surface 8S of the buried layer 8 is flush with the first region S1 in a range including manufacturing variations. Note that the side surface 8S and the first region S1 do not have to be flush with each other.
- the embedded layer 8 may be formed so that the peripheral length of the side surface 8S is shorter than the peripheral length of the first region S1. Good.
- the conductive film 9 is a metal thin film or a conductive resin film in which a metal filler is dispersed in a resin base material.
- the conductive film 9 is formed on a region including at least a part of the outer surface 8O including the side surface 8S and the upper surface 8U of the embedded layer 8, the first region S1, and the connection region SC.
- the conductive film 9 formed in at least a part of the connection region SC is connected to the exposed portion of the via conductor 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A in the connection region SC. If the via conductor 4V included in the conductive path P also has an exposed portion in the first region S1, the conductive film 9 is also connected to the exposed portion.
- the exposed portion of the via conductor 4V in the connection region SC on the side surface S of the circuit board 1 is different from the planar exposed portion described in the background art described above and follows the bell bottom shape of the connection region SC. It has a different shape. That is, since the exposed portion in the connection region SC of the via conductor 4V has a three-dimensional shape, the contact area with the conductive film is larger than that of the planar exposed portion, and the conductive film 9 and the ground electrode 3A. The connection with is ensured.
- the pattern conductor 4P may be sandwiched between at least one pair of adjacent via conductors 4V formed so as to overlap in a top view.
- the conductive film 9 formed in at least a part of the connection region SC exposes at least one pair of adjacent via conductors 4V and the pattern conductor 4P sandwiched between the adjacent via conductors 4V in the connection region SC. It will be connected to the part.
- both external noise and noise generated from the electronic components 5 to 7 reliably flow to the ground electrode 3A, and the electronic circuit module 100 having excellent electrical characteristics can be obtained.
- the shape from the first region S1 to the connection region SC on the side surface S of the circuit board 1 is a so-called bell bottom shape.
- the connection region SC between the first region S1 and the second region S2 is directed from the first region S1 to the second region S2 when the electronic circuit module 100 is viewed from above. It may have a shape that spreads linearly. Even in this case, the contact area with the conductive film is sufficiently wide, and as a result, the connection between the conductive film and the grounding electrode can be ensured.
- connection area SC is widened from the first area S1 toward the second area S2 with a predetermined inclination.
- the lower end of the first region S1 and the upper end of the second region S2 may be on the same plane including manufacturing variations, and the connection region SC may be a horizontal plane.
- connection area SC on the side surface S of the circuit board 1 is a staircase from the first area S1 to the second area S2 when the electronic circuit module 100 is viewed from above. You may have the shape which spreads in a shape. In this case, the contact area with the conductive film is further increased, and as a result, the connection between the conductive film and the grounding electrode can be further ensured.
- FIGS. 5 and 6 are diagrams schematically showing a preparation process, a mounting process, a buried layer forming process, a groove forming process, a conductive film forming process, and a separation process performed in an example of the method for manufacturing the electronic circuit module 100. It is.
- FIGS. 5 and 6 corresponds to a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1B (see FIG. 2).
- FIG. 5A is a diagram schematically illustrating a preparation process in the method for manufacturing the electronic circuit module 100.
- the assembly board 1MB which is an assembly of the circuit boards 1, and the electronic components 5 to 7 are prepared.
- the detailed description of the circuit board 1 and the electronic components 5 to 7 has already been made in the description of the structure of the electronic circuit module 100, and is omitted here.
- the separation position of the collective substrate 1MB for making the electronic circuit module 100 singulated in the separation process described later is indicated by a separation line BL.
- the separation line BL is virtual and does not indicate that such a line exists in the collective substrate 1MB.
- some of the via conductors 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A have a part after a groove forming process described later with the separation line BL as a target position. It is formed at a position where it is exposed.
- FIG. 5A as an example, two rows of via conductors 4V are formed adjacent to each other so as to be in such a position, and two rows of via conductors 4V are simultaneously formed by the groove forming step. Some are exposed.
- FIG. 5B is a diagram schematically showing a mounting process in the method for manufacturing the electronic circuit module 100.
- the electronic components 5 to 7 are respectively connected to the first electrode 2 provided on the first main surface M1 of the circuit board 1 in the state of the collective board 1MB so as to constitute an electronic circuit. Is done.
- the electronic components 5 to 7 are connected to the first electrode 2 of the circuit board 1 by a bonding material such as solder. Solder bonding can be performed by selecting either flow bonding or reflow bonding in accordance with the heat resistance of the electronic components 5 to 7 and the like. Note that the electronic components 5 to 7 may be connected to the first electrode 2 by a conductive adhesive.
- FIG. 5C is a diagram schematically showing a buried layer forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 100.
- the buried layer 8 in the state of the collective buried layer 8MB is provided on the first main surface M1 of the circuit board 1 in the state of the collective substrate 1MB. Since the details of the buried layer 8 have already been described in the description of the structure of the electronic circuit module 100, a description thereof is omitted here.
- a liquid resin is applied to the first main surface of the collective substrate 1MB on which the electronic components 5 to 7 are mounted so as to have a predetermined thickness by using, for example, a dispenser, followed by heat curing. Is done.
- the apparatus used for coating is not limited to the above-mentioned dispenser, and an existing coating apparatus can be used. For example, various coaters such as a curtain coater and a spin coater may be used.
- the collective embedded layer 8MB is formed by placing a sheet-like prepreg in a semi-cured state on one main surface of the collective substrate 1MB, pressing the electronic components 5 to 7 so as to be embedded, and then heat-curing. May be performed.
- FIG. 6A is a diagram schematically illustrating a groove forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 100.
- a groove T is formed from the upper surface of the collective buried layer 8MB to a predetermined depth of the collective substrate 1MB on the collective substrate 1MB on which the collective buried layer 8MB is formed on the first main surface. Therefore, the formation of the groove T separates the collective buried layer 8MB to form individual buried layers 8 in which the electronic components 5 to 7 are buried.
- the groove T is formed in a U shape without a flat portion, it may be formed in a U shape having a flat portion.
- the separation line BL may be a symmetrical plane, and may be formed in a pentagonal shape in which the width of the groove T changes linearly from a predetermined depth position. Furthermore, it may be formed in a step shape corresponding to the second modification described above.
- the inner surface of the groove T corresponds to the side surface 8S of the embedded layer 8 and the first region S1 and the connection region SC of the side surface S of the circuit board 1 of the electronic circuit module 100 after being singulated.
- some of the via conductors 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A are partially exposed when the trench T is formed with the separation line BL as a target position. It is formed in such a position. That is, by forming the groove T, a part of the row of the via conductors 4V inside the collective substrate 1MB is exposed in a shape following the bell bottom shape of the connection region SC. In FIG. 6A, the formation of the trench T exposes a part of the row of two pairs of via conductors 4V at the same time.
- the formation of the groove T is performed, for example, by half-cutting a collective substrate 1MB having the collective buried layer 8MB formed on the first main surface with a dicing saw.
- the outer peripheral portion (blade end surface) of the dicing blade is a U-shaped cross section by so-called dressing.
- a groove T having a U-shaped cross section as described above can be obtained.
- the groove T may be formed using a dicing blade having a U-shaped cross section in advance, or other known methods may be used.
- FIG. 6B is a diagram schematically showing a conductive film forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 100.
- the collective conductive film 9MB is formed on the upper surface 8U and the side surface 8S (outer surface 8O) of the buried layer 8, and the first region S1 and the connection region SC of the circuit board 1 in the state of the collective substrate 1MB.
- the conductive film 9 in the state is formed. Since the detailed description of the conductive film 9 has already been made in the description of the structure of the electronic circuit module 100, it is omitted here.
- the conductive film 9 only needs to be formed on a region including at least a part of the outer surface 8O of the buried layer 8, the first region S1, and the connection region SC.
- the formation of the collective conductive film 9MB is performed by attaching a metal thin film to the outer surface 8O of the buried layer 8, the first region S1 and the connection region SC of the circuit board 1 by a so-called thin film forming method such as sputtering or vapor deposition. Is done.
- the collective conductive film 9MB is formed by wetting and spreading a liquid conductive resin on the outer surface 8O of the buried layer 8, the first region S1 and the connection region SC of the circuit board 1, for example, by spin coating. The heat curing may be performed.
- the exposed portion of the via conductor 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A in the connection region SC is connected to the conductive film 9 formed in at least a part of the connection region SC.
- FIG. 6C is a diagram schematically illustrating a separation step in the method for manufacturing the electronic circuit module 100. Through the separation process, the collective substrate 1MB is separated into individual circuit boards 1, and the electronic circuit module 100 is obtained as a single piece.
- the separation of the collective substrate 1MB in the separation process is torn at the separation line BL or cut with a dicing blade thinner than the dicing blade used in the groove forming process (see FIG. 6A) with the separation line BL as a target position. It is done by doing.
- the fracture surface or cut surface of the collective substrate 1MB generated by this separation step becomes the second region S2 of the side surface S of the circuit board 1. For this reason, the peripheral length of the second region S2 of the circuit board 1 is longer than the peripheral length of the first region S1.
- the electronic circuit module 200 is different from the first embodiment in that the conductive path P to the ground electrode 3A does not include the pattern conductor 4P in which two rows of via conductors 4V are connected near one end and the other end. This is different from the electronic circuit module 100 according to FIG. Since other than that is common with the electronic circuit module 100, description of a common location is abbreviate
- FIG. 7 is a cross-sectional view of the electronic circuit module 200 corresponding to FIG.
- the grounding electrode 3 ⁇ / b> A is adjacent to the second region S ⁇ b> 2 on the side surface S of the circuit board 1. Therefore, the conductive path P to the grounding electrode 3A does not include the pattern conductor 4P that bends the conductive path P, and is configured by a set of rows of via conductors 4V.
- the via conductor 4V connected to the grounding electrode 3A is exposed in the second region S2.
- a solder fillet is also formed in the second region S2, and an improvement in bonding strength is expected.
- the row of the pair of via conductors 4V is formed such that adjacent via conductors 4V overlap each other when the electronic circuit module 200 is viewed from above.
- the conductive film 9 formed in at least a part of the connection region SC on the side surface S of the circuit board 1 is connected to the exposed portion of the connection region SC of at least one pair of adjacent via conductors 4V. That is, in the electronic circuit module 200, since the conductive path P is not greatly bent, the distance from the conductive film 9 to the ground electrode 3A is shorter than that of the electronic circuit module 100. As a result, the electrical resistance of the conductive path P can be kept low.
- the pattern conductor 4P may be sandwiched between adjacent via conductors 4V formed so as to overlap in the top view in the middle of the row of via conductors 4V.
- the conductive path P to the ground electrode 3A is formed of a set of via conductors 4V.
- the electronic circuit module 300 is characterized by the arrangement of the via conductors 4V. Since other than that is common with the electronic circuit module 200, description of a common location is abbreviate
- FIG. 8A is a cross-sectional view of the electronic circuit module 300 corresponding to FIG.
- FIG. 8B is an enlarged view of the main part A including the conductive path P to the ground electrode 3A in FIG.
- the central axis of each via conductor 4V along the connection region SC (illustrated by a one-dot chain line in FIG. 8B). It is formed while shifting. Therefore, the area of the exposed portion in the connection region SC of each via conductor 4V is larger than that in the case where the central axis of each via conductor 4V is the same.
- the electronic circuit module 400 is formed with a plurality of via conductors 4V constituting the conductive path P while shifting the central axis along the connection region SC.
- the electronic circuit module 400 is characterized by the way in which the via conductor 4V is exposed on the side surface S of the circuit board 1 and the shape of the conductive film 9. Since other than that is common with the electronic circuit module 300, description of a common location is abbreviate
- FIG. 9 is a cross-sectional view of the electronic circuit module 400 corresponding to FIG.
- some of the plurality of via conductors 4V constituting the conductive path P are exposed in at least a part of each of the connection region SC and the second region S2.
- the via conductor 4V is also exposed in the first region S1, but may not be exposed in the first region S1.
- the conductive film 9 is formed on a region including at least a part of the outer surface 8O of the buried layer 8, the first region S1, the connection region SC, and the second region S2 on the side surface S of the circuit board 1. ing.
- the conductive film 9 is connected to the exposed portion of the side surface S of the via conductor 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A. As described above, when the via conductor 4V is not exposed in the first region S1, the conductive film 9 is connected to the exposed portion in each of the connection region SC and the second region S2.
- the conductive film 9 and the grounding electrode 3A are more reliably connected. Further, since the conductive film 9 is formed so as to reach the second region S2, the electronic circuit module 400 is formed of the conductive film 9 as compared with the electronic circuit module according to the first to third embodiments. The covering area is further increased.
- the electronic circuit module 400 is described as the electronic circuit module 300 according to the third embodiment added with the above features.
- the electronic circuit module 400 according to the fourth embodiment may be the electronic circuit module 200 according to the second embodiment (see FIG. 7) with the above features added.
- FIGS. 10 and 11 are diagrams schematically showing a preparation process, a mounting process, a buried layer forming process, a groove forming process, a separating process, and a conductive film forming process performed in an example of the method for manufacturing the electronic circuit module 400. It is.
- FIGS. 10 and 11 corresponds to a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1B (see FIG. 2).
- FIG. 10A is a diagram schematically illustrating a preparation process in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this preparation process is substantially the same as the preparation process in the method for manufacturing the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- the via conductor 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A is exposed to the side surface S after the groove forming step and the separating step described later with the separation line BL as a target position. It is formed in such a position.
- FIG. 10A as an example, two pairs of via conductors 4V are formed adjacent to each other so as to be in such a position, and two sets of via conductors 4V are simultaneously formed by the groove forming step and the separating step. The columns are exposed.
- FIG. 10B is a diagram schematically showing a mounting process in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this mounting process is the same as the mounting process in the manufacturing method of the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- FIG. 10C is a diagram schematically showing a buried layer forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this buried layer forming step is the same as the buried layer forming step in the method of manufacturing the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- FIG. 11A is a view schematically showing a groove forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this groove forming step is substantially the same as the groove forming step in the method of manufacturing the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- some of the via conductors 4V included in the conductive path P to the ground electrode 3A are partially exposed when the trench T is formed with the separation line BL as a target position. It is formed in such a position. That is, by forming the trench T, a part of the row of the via conductors 4V inside the collective substrate 1MB is exposed in a shape following the bell bottom shape of the first region S1 and the connection region SC on the side surface S of the circuit board 1. It will be. In FIG. 11A, the formation of the trench T exposes a part of the row of two pairs of via conductors 4V at the same time.
- FIG. 11B is a diagram schematically illustrating a separation step in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this separation step is substantially the same as the separation step in the method of manufacturing the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- the separation step is performed prior to the conductive film forming step. Therefore, it is preferable that the separation step be performed in a state in which it does not become a messy state even after the collective substrate 1MB is attached to an adhesive sheet (not shown) and separated into individual circuit boards 1.
- the plurality of via conductors 4V constituting the conductive path P are exposed to at least a part of the second region S2 in addition to the first region S1 and the connection region SC.
- FIG. 11C is a diagram schematically showing a conductive film forming step in the method for manufacturing the electronic circuit module 400. Since this conductive film forming step is substantially the same as the conductive film forming step in the method of manufacturing the electronic circuit module 100 according to the first embodiment, detailed description thereof is omitted.
- Circuit board 2. First electrode, 3. Second electrode, 3A grounding electrode, 4. Internal conductor, 4P pattern conductor, 4V via conductor, 5-7 electronic components, 8 embedded layer, 8O embedded layer outer surface, Side surface of 8S buried layer, top surface of 8U buried layer, 9 conductive film, 100 electronic circuit module, M1 first main surface, M2 second main surface, P conductive path, S side surface, S1 first region, S2 Second area, SC connection area.
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Abstract
電子回路モジュール(100)は、回路基板(1)と、電子部品(5~7)と、埋設層(8)と、導電性膜(9)とを備える。回路基板(1)は、第1の主面(M1)と、第2の主面(M2)と、側面(S)とを有し、パターン導体(4P)とビア導体(4V)とを有する。導電性膜(9)は、接地用電極(3A)への導電経路(P)に接続されている。回路基板(1)の側面(S)は、第1の領域(S1)と、周長が第1の領域(S1)より長い第2の領域(S2)と、第1の領域(S1)と第2の領域(S2)とを接続する接続領域(SC)とを有している。導電性膜(9)は、埋設層(8)の外表面、第1の領域(S1)、および接続領域(SC)のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されている。接続領域(SC)の少なくとも一部に形成された導電性膜(9)は、接地用電極(3A)への導電経路(P)に含まれるビア導体(4V)の、接続領域(SC)における露出部に接続されている。
Description
この発明は、電子回路モジュールに関するものである。
近年、電子機器の高性能化および製造の効率化の要求に応じて、回路基板に電子部品を接続し、表面に導電性膜が設けられた埋設層に埋設してなる電子回路モジュールが用いられることが多くなっている。特開2009-4584号公報(特許文献1)には、そのような電子回路モジュールの一例が提案されている。
図12は、特許文献1に記載されている電子回路モジュール700の断面図である。図12(A)は、図12(B)のC-C線を含む面の矢視断面図である。また、図12(B)は、図12(A)のB-B線を含む面の矢視断面図である。図12に記載の電子回路モジュール700では、回路基板701、702にそれぞれ電子部品703、704が接続されている。電子部品703は、電気絶縁層705に埋設されており、電子部品704は埋設層706に埋設されている。回路基板701、702は、円柱状に形成されているビア707と、ビア受けランド708とにより、電気的に接続されている。
埋設層706の表面には、シールド層となる導電性膜709が設けられている。導電性膜709は、円柱状に形成されているビア710の、軸方向の切断面と接続されており、ビア710とビア受けランド708とを介して、不図示の接地用電極に接続されている。このような電子回路モジュール700では、上記の構造により、導電性膜709の接地が安定するとされている。
上記の電子回路モジュール700では、導電性膜709とビア710との接続面は、集合基板から個別の電子回路モジュール700を得るための切断面であって、単なる平面である。そのため、導電性膜709とビア710の断面との接続面積が小さくなってしまう虞がある。したがって、導電性膜709と接地用電極との接続が不十分となる虞がある。
そこで、この発明の目的は、シールド層となる導電性膜が確実に接地用電極に接続された電子回路モジュールを提供することである。
この発明では、電子回路モジュールが備えるシールド層となる導電性膜と、接地用電極に至る導電経路に含まれるビア導体とを電気的に確実に接続するため、両者の接続構造についての改良が図られる。
この発明に係る電子回路モジュールは、回路基板と、電子部品と、埋設層と、導電性膜と、を備える。回路基板は、第1の電極が設けられた第1の主面と、接地用電極を含む第2の電極が設けられた第2の主面と、第1の主面と第2の主面とを接続する側面とを有し、内部導体としてパターン導体とビア導体とを有する。電子部品は、第1の電極に接続されている。埋設層は、回路基板の第1の主面に、電子部品を埋設して設けられている。導電性膜は、接地用電極への導電経路に接続されている。
回路基板の側面は、第1の主面に接続された第1の領域と、第2の主面に接続され、周長が第1の領域より長い第2の領域と、第1の領域と第2の領域とに接続された接続領域とを有している。接地用電極への導電経路は、ビア導体を含んでなる。導電性膜は、埋設層の外表面、第1の領域、および接続領域のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されている。そして、接続領域の少なくとも一部に形成された導電性膜は、接地用電極への導電経路に含まれるビア導体の、接続領域における露出部に接続されている。
上記の電子回路モジュールでは、第2の領域の周長が第1の領域の周長より長く、第1の領域と第2の領域との接続領域は、電子回路モジュールを上面視したとき、第1の領域から第2の領域に向かって広がるような形状を有している。ここで、第1の領域の周長とは、第1の領域と第1の主面との接続部分の長さを指す。また、第2の領域の周長とは、第2の領域と第2の主面との接続部分の長さを指す。さらに、電子回路モジュールを上面視するとは、回路基板1の第1の主面側から電子回路モジュールを見ることを指す。
すなわち、ビア導体の接続領域における露出部は、前述の背景技術で説明した平面的な露出部とは異なり、立体的な形状を有するため、平面的な露出部と比べて導電性膜との接触面積が大きくなる。したがって、導電性膜と接地用電極とが確実に接続され、高いシールド効果を得ることができる。なお、この発明においては、ビア導体の軸方向の断面は円形に限らず、その他の形状であってもよい。
この発明に係る電子回路モジュールは、以下の特徴を備えることが好ましい。すなわち、接地用電極への導電経路は、複数のビア導体を含んでいる。これらの複数のビア導体は、電子回路モジュールを上面視したとき、隣り合うビア導体同士が重なるように形成されている。そして、接続領域の少なくとも一部に形成された導電性膜は、少なくとも一組の隣り合うビア導体の、接続領域における露出部に接続されている。
上記の電子回路モジュールでは、接地用電極への導電経路は、複数のビア導体を含み、隣り合うビア導体同士が上面視で重なるように形成されている。すなわち、導電性膜から接地用電極までの導電経路は、実質的に電気抵抗がパターン導体よりも低いビア導体によって引き回されている。そして、導電性膜から接地用電極までの距離が短くなるように構成されている。したがって、導電経路の電気抵抗が低く抑えられるため、高いシールド効果を得ることができる。
この発明に係る電子回路モジュールにおける前述の好ましい実施形態は、以下の特徴を備えることがさらに好ましい。すなわち、上記の複数のビア導体は、電子回路モジュールを上面視したとき、接続領域に沿って各ビア導体の中心軸をずらしながら形成されている。
上記の電子回路モジュールでは、接地用電極への導電経路に係る複数のビア導体が接続領域に沿って形成されているため、各ビア導体の接続領域における露出部の面積は、各ビア導体の中心軸が同じ場合に比べてさらに大きくなっている。したがって、導電性膜と接地用電極とがより確実に接続され、より高いシールド効果を得ることができる。
この発明に係る電子回路モジュールにおける前述の好ましい実施形態は、以下の別の特徴を備えることがさらに好ましい。また、前述の特徴を備えたさらに好ましい実施形態においても、以下の別の特徴を備えることがさらに好ましい。すなわち、少なくとも一組の前記隣り合うビア導体は、前記パターン導体を挟んで形成されている。そして、接続領域の少なくとも一部に形成された導電性膜は、少なくとも一組の隣り合うビア導体、および隣り合うビア導体に挟まれたパターン導体の、接続領域における露出部に接続されている。
上記の電子回路モジュールでは、導電性膜に接続されている、接地用電極への導電経路に係る少なくとも一組の隣り合うビア導体は、パターン導体を挟んで形成されている。すなわち、ビア導体に挟まれたパターン導体も、確実に接地用電極への導電経路に接続されている。したがって、外部からのノイズと電子部品から発生するノイズとが、共に確実に接地用電極に流れることになるため、優れた電気的特性を得ることができる。
また、上記の回路モジュールでは、パターン導体と導電性膜とが確実に接続されている。したがって、電子部品から発生するノイズが、導電性膜を介して分散して複数の接地用電極に流れることも、優れた電気的特性に寄与している。
この発明に係る電子回路モジュールにおける前述の好ましい実施形態は、以下のさらに別の特徴を備えることがさらに好ましい。また、前述の特徴または別の特徴を備えたさらに好ましい実施形態においても、以下のさらに別の特徴を備えることがさらに好ましい。すなわち、導電性膜は、埋設層の外表面、第1の領域、接続領域、および第2の領域のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されている。そして、接続領域および第2の領域のそれぞれ少なくとも一部に形成された導電性膜は、複数のビア導体の、接続領域および第2の領域のそれぞれにおける露出部に接続されている。
上記の電子回路モジュールでは、導電性膜が接続領域および第2の領域のそれぞれ少なくとも一部に形成されている。そして、導電性膜は、複数のビア導体の、接続領域および第2の領域のそれぞれにおける露出部に接続されている。したがって、導電性膜と接地用電極とがさらに確実に接続され、かつ導電性膜が第2の領域まで到達して形成されているため、さらに高いシールド効果を得ることができる。また、電子回路モジュールを電子機器の回路基板にはんだを用いて実装する際に、第2の領域にもはんだフィレットが形成されることになり、接合強度の向上が見込まれる。
この発明に係る電子回路モジュールでは、第2の領域の周長が第1の領域の周長より長く、第1の領域と第2の領域との接続領域は、電子回路モジュールを上面視したとき、第1の領域から第2の領域に向かって広がるような形状を有している。すなわち、ビア導体の接続領域における露出部は、前述の背景技術で説明した平面的な露出部とは異なり、立体的な形状を有するため、平面的な露出部と比べて導電性膜との接触面積が大きくなる。したがって、導電性膜と接地用電極とが確実に接続され、高いシールド効果を得ることができる。
以下にこの発明の実施形態を示して、本発明の特徴とするところをさらに詳しく説明する。
(電子回路モジュールの第1の実施形態)
この発明の第1の実施形態に係る電子回路モジュール100について、図1および図2を用いて説明する。
この発明の第1の実施形態に係る電子回路モジュール100について、図1および図2を用いて説明する。
<電子回路モジュールの構造>
図1(A)は、電子回路モジュール100の透視斜視図である。図1(A)では、後述の電子部品5~7および接地用電極3Aを含む第2の電極3を透視して示し、それ以外の構成要素は図示を省略している。図1(B)は、同様に電子部品5~7を透視して示し、それ以外の構成要素は図示を省略した上面図である。また、図2は、電子回路モジュール100の、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図である。
図1(A)は、電子回路モジュール100の透視斜視図である。図1(A)では、後述の電子部品5~7および接地用電極3Aを含む第2の電極3を透視して示し、それ以外の構成要素は図示を省略している。図1(B)は、同様に電子部品5~7を透視して示し、それ以外の構成要素は図示を省略した上面図である。また、図2は、電子回路モジュール100の、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図である。
電子回路モジュール100は、回路基板1と、電子部品5~7と、埋設層8と、導電性膜9と、を備える。
回路基板1は、ガラス繊維により強化された絶縁性の樹脂材料、またはセラミック材料などを母材として、表面および内部に導体による回路パターンが形成された多層基板である。図2では回路基板1の内部に点線が付されているが、これは上記のように多層基板であることを示すためのものであり、実際にこのような界面があることを示すものではない。
回路基板1は、第1の電極2が設けられた第1の主面M1と、接地用電極3Aを含む第2の電極3が設けられた第2の主面M2と、第1の主面M1と第2の主面M2とを接続する側面Sとを有し、さらに内部導体4としてパターン導体4Pとビア導体4Vとを有する。
ここで、パターン導体4Pとは、回路基板1の各主面上、および回路基板1内部において、各主面と実質的に平行となるように形成されている導体である。また、ビア導体4Vとは、回路基板1内部において各主面と実質的に直交するように形成されている導体である。回路基板1の回路パターンは、これらのパターン導体4Pおよびビア導体4Vの組み合わせにより形成されている。
例えば、図2においては、接地用電極3Aは、回路基板1の側面Sと離間している。そのため、接地用電極3Aへの導電経路Pは、二組のビア導体4Vの列と、それらの二組のビア導体4Vの列が一端近傍および他端近傍に接続されたパターン導体4Pとを含んで構成されている。この二組のビア導体4Vの列は、電子回路モジュール100を上面視した場合、重ならないような位置に形成されている。すなわち、導電経路Pは、屈曲した形状となっている。
そして、接地用電極3Aへの導電経路Pを構成するビア導体4Vのうち少なくとも1つは、後述する回路基板1の側面Sにおける接続領域SCの少なくとも一部に露出している。導電経路Pは、後述するように、ビア導体4Vの露出部において、導電性膜9と接続されている。
なお、図2に示すように、ビア導体4Vの列の途中において、上面視で重なるように形成された少なくとも一組の隣り合うビア導体4Vの間に、パターン導体4Pが挟まれていてもよい。
回路基板1の側面Sは、第1の主面M1に接続された第1の領域S1と、第2の主面M2に接続され、周長が第1の領域より長い第2の領域S2と、第1の領域S1と第2の領域S2とに接続された接続領域SCとを有している。第1の領域S1の周長、および第2の領域S2の周長とは、前述のように、それぞれ第1の領域S1と第1の主面M1との接続部分の長さ、および第2の領域S2と第2の主面M2との接続部分の長さを指す。
回路基板1の側面Sは、上記のように第2の領域S2の周長が第1の領域S1の周長より長くなっている。ここで、第1の領域S1と第2の領域S2との接続領域SCは、電子回路モジュール100を上面視したとき、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって曲線的に広がるような形状を有している。そのため、図2の断面図において、第1の領域S1から接続領域SCにかけては、いわゆるベルボトム形状として図示されている。
図1(B)においては、回路基板1の側面Sは、電子回路モジュール100を上面視した場合、A-A線、およびそれと直交して電子回路モジュール100の中心を通る線を対称面として鏡面対称となっている。なお、回路基板1の側面Sは上記の対称関係になくてもよく、例えば回路基板1の側面Sをなす4つの面のうちの少なくとも1つにおいて、接続領域SCが第1の領域S1から第2の領域S2に向かって広がるような形状を有していればよい。
電子部品5~7は、特に限定はされないが、例えば集積回路やトランジスタのような半導体デバイスをはじめとする能動部品、インダクタやキャパシタ、抵抗をはじめとする受動部品などである。電子部品5~7は、例えばはんだなどの接合材料により、回路基板1の第1の電極2に接続されている。
埋設層8は、絶縁性の樹脂材料、または絶縁性の樹脂材料中にフィラーとして例えばガラス材料やシリカなどを分散させたものである。なお、フィラーを含まない、単一の絶縁性の樹脂材料であってもよい。埋設層8は、回路基板1の第1の主面M1に、電子部品5~7を埋設して設けられている。また、図1および図2に示した電子回路モジュール100では、埋設層8の側面8Sは、製造上のばらつきを含む範囲において、第1の領域S1と面一となっている。なお、側面8Sと第1の領域S1とは、面一でなくともよく、例えば、側面8Sの周長が第1の領域S1の周長より短くなるように埋設層8が形成されていてもよい。
導電性膜9は、金属薄膜、または樹脂母材中に金属フィラーを分散させた導電性樹脂膜などである。導電性膜9は、埋設層8の側面8Sおよび上面8Uを含む外表面8O、第1の領域S1、および接続領域SCのそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されている。そして、接続領域SCの少なくとも一部に形成された導電性膜9は、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vの、接続領域SCにおける露出部に接続されている。なお、導電経路Pに含まれるビア導体4Vが第1の領域S1にも露出部を有する場合は、導電性膜9はその露出部とも接続されることになる。
電子回路モジュール100では、ビア導体4Vの、回路基板1の側面Sの接続領域SCにおける露出部は、前述の背景技術で説明した平面的な露出部とは異なり、接続領域SCのベルボトム形状に倣った形状となっている。すなわち、ビア導体4Vの接続領域SCにおける露出部は、立体的な形状を有するため、平面的な露出部と比べて導電性膜との接触面積が大きくなり、導電性膜9と接地用電極3Aとの接続が確実となる。
なお、前述のように、ビア導体4Vの列の途中において、上面視で重なるように形成された少なくとも一組の隣り合うビア導体4Vの間に、パターン導体4Pが挟まれている場合がある。この場合、接続領域SCの少なくとも一部に形成された導電性膜9は、少なくとも一組の隣り合うビア導体4V、および隣り合うビア導体4Vに挟まれたパターン導体4Pの、接続領域SCにおける露出部に接続されることになる。その結果、外部からのノイズと電子部品5~7から発生するノイズとが、共に確実に接地用電極3Aに流れ、優れた電気的特性を有する電子回路モジュール100を得ることができる。
<電子回路モジュールの第1の変形例>
図2では、回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1から接続領域SCにかけての形状は、いわゆるベルボトム形状となっているものを図示した。一方、図3に示すように、第1の領域S1と第2の領域S2との接続領域SCは、電子回路モジュール100を上面視したとき、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって直線的に広がるような形状を有していてもよい。この場合でも、導電性膜との接触面積が十分広くなり、延いては導電性膜と接地用電極との接続を確実にすることができる。
図2では、回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1から接続領域SCにかけての形状は、いわゆるベルボトム形状となっているものを図示した。一方、図3に示すように、第1の領域S1と第2の領域S2との接続領域SCは、電子回路モジュール100を上面視したとき、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって直線的に広がるような形状を有していてもよい。この場合でも、導電性膜との接触面積が十分広くなり、延いては導電性膜と接地用電極との接続を確実にすることができる。
なお、図3では、接続領域SCは所定の傾きをもって、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって広がっている。一方、第1の領域S1の下端と第2の領域S2の上端が製造上のばらつきを含んで同一平面状にあり、接続領域SCが水平面となるようにしてもよい。
<電子回路モジュールの第2の変形例>
回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1から接続領域SCは、図4に示すように、電子回路モジュール100を上面視したとき、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって階段状に広がるような形状を有していてもよい。この場合は、導電性膜との接触面積がさらに広くなり、延いては導電性膜と接地用電極との接続をさらに確実にすることができる。
回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1から接続領域SCは、図4に示すように、電子回路モジュール100を上面視したとき、第1の領域S1から第2の領域S2に向かって階段状に広がるような形状を有していてもよい。この場合は、導電性膜との接触面積がさらに広くなり、延いては導電性膜と接地用電極との接続をさらに確実にすることができる。
<電子回路モジュールの製造方法>
この発明の第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法の一例について、図5および図6を用いて説明する。図5および図6は、電子回路モジュール100の製造方法の一例において行なわれる準備工程、実装工程、埋設層形成工程、溝形成工程、導電性膜形成工程、および分離工程をそれぞれ模式的に示す図である。なお、図5および図6の各図は、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図(図2参照)に相当する。
この発明の第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法の一例について、図5および図6を用いて説明する。図5および図6は、電子回路モジュール100の製造方法の一例において行なわれる準備工程、実装工程、埋設層形成工程、溝形成工程、導電性膜形成工程、および分離工程をそれぞれ模式的に示す図である。なお、図5および図6の各図は、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図(図2参照)に相当する。
また、煩雑化を避けるため、図5および図6において符号を付していないものがあるが、これらについては、図2に示した電子回路モジュール100の対応する箇所の符号を参照する。
<準備工程>
図5(A)は、電子回路モジュール100の製造方法における準備工程を模式的に示す図である。準備工程により、回路基板1の集合体である集合基板1MB、および電子部品5~7が準備される。回路基板1および電子部品5~7の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。
図5(A)は、電子回路モジュール100の製造方法における準備工程を模式的に示す図である。準備工程により、回路基板1の集合体である集合基板1MB、および電子部品5~7が準備される。回路基板1および電子部品5~7の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。
図5(A)では、後述の分離工程で個片化された電子回路モジュール100とするための、集合基板1MBの分離位置が分離線BLにより示されている。分離線BLは仮想的なものであり、集合基板1MB内にこのような線があることを示すものではない。
なお、集合基板1MBの状態において、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vのうち所定のものは、分離線BLを狙い位置として、後述する溝形成工程後に、その一部が露出するような位置に形成されている。図5(A)では、一例として、そのような位置となるように二組のビア導体4Vの列が隣接して形成されており、溝形成工程により、同時に二組のビア導体4Vの列の一部が露出するようになっている。
<実装工程>
図5(B)は、電子回路モジュール100の製造方法における実装工程を模式的に示す図である。実装工程により、集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の主面M1上に設けられている第1の電極2上に、電子部品5~7が電子回路を構成するようにそれぞれ接続される。
図5(B)は、電子回路モジュール100の製造方法における実装工程を模式的に示す図である。実装工程により、集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の主面M1上に設けられている第1の電極2上に、電子部品5~7が電子回路を構成するようにそれぞれ接続される。
図5(B)では、電子部品5~7は、例えばはんだなどの接合材料により、回路基板1の第1の電極2上に接続されている。はんだ接合は、電子部品5~7の耐熱性などに合わせて、フロー接合またはリフロー接合のいずれかを選択して行なうことができる。なお、電子部品5~7は、導電性接着剤により第1の電極2上に接続されてもよい。
<埋設層形成工程>
図5(C)は、電子回路モジュール100の製造方法における埋設層形成工程を模式的に示す図である。埋設層形成工程により、集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の主面M1に、集合埋設層8MBの状態にある埋設層8が設けられる。埋設層8の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。
図5(C)は、電子回路モジュール100の製造方法における埋設層形成工程を模式的に示す図である。埋設層形成工程により、集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の主面M1に、集合埋設層8MBの状態にある埋設層8が設けられる。埋設層8の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。
集合埋設層8MBの形成は、電子部品5~7が実装された集合基板1MBの第1の主面に、例えばディスペンサにより、所定の厚みとなるように液状の樹脂を塗布した後、加熱硬化させることにより行なわれる。塗布に用いる装置は、上記のディスペンサに限らず、既存の塗布装置を用いることができる。例えば、カーテンコーターやスピンコーターなどの種々のコーターを用いてもよい。また、集合埋設層8MBの形成は、半硬化状態でシート状のプリプレグを集合基板1MBの一方主面に載置し、電子部品5~7が埋設されるように押圧した後、加熱硬化させることにより行なってもよい。
<溝形成工程>
図6(A)は、電子回路モジュール100の製造方法における溝形成工程を模式的に示す図である。溝形成工程により、集合埋設層8MBが第1の主面に形成された集合基板1MBに、集合埋設層8MBの上面から集合基板1MBの所定の深さまで溝Tが形成される。したがって、この溝Tの形成により、集合埋設層8MBは分離され、電子部品5~7が埋設される個々の埋設層8となる。
図6(A)は、電子回路モジュール100の製造方法における溝形成工程を模式的に示す図である。溝形成工程により、集合埋設層8MBが第1の主面に形成された集合基板1MBに、集合埋設層8MBの上面から集合基板1MBの所定の深さまで溝Tが形成される。したがって、この溝Tの形成により、集合埋設層8MBは分離され、電子部品5~7が埋設される個々の埋設層8となる。
図6(A)では、溝Tを平坦部のないU字状に形成した場合が示されているが、平坦部を有するU字状となるように形成してもよい。また、前述した第1の変形例に対応して、分離線BLを対称面とし、所定の深さ位置から直線的に溝Tの幅が変わる五角形状となるように形成してもよい。さらに、前述した第2の変形例に対応して、階段状となるように形成してもよい。
溝Tの内面は、個片化された後の電子回路モジュール100の、埋設層8の側面8S、ならびに回路基板1の側面Sの第1の領域S1および接続領域SCに相当する。前述のように、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vのうち所定のものは、分離線BLを狙い位置として、溝Tが形成された際に、その一部が露出するような位置に形成されている。すなわち、この溝Tの形成により、集合基板1MB内部のビア導体4Vの列の一部は、接続領域SCのベルボトム形状に倣った形状で露出することになる。図6(A)では、溝Tの形成により、同時に二組のビア導体4Vの列の一部が露出するようになっている。
溝Tの形成は、例えば、集合埋設層8MBが第1の主面に形成された集合基板1MBを、ダイシングソーによりハーフカットすることにより行なわれる。第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法の一例については、ダイシングブレードの外周部(ブレード端面)は、いわゆるドレッシングにより断面をU字状としたものを用いる。このようなドレッシングが十分行われたダイシングブレードを用いてハーフカットを行なうことにより、前述のような断面がU字状の溝Tを得ることができる。なお、予め断面がU字状となっているダイシングブレードを用いて溝Tの形成を行なってもよく、その他の公知の方法を用いてもよい。
<導電性膜形成工程>
図6(B)は、電子回路モジュール100の製造方法における導電性膜形成工程を模式的に示す図である。導電性膜形成工程により、埋設層8の上面8Uおよび側面8S(外表面8O)、ならびに集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の領域S1および接続領域SCに、集合導電性膜9MBの状態にある導電性膜9が形成される。導電性膜9の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。なお、導電性膜9は、埋設層8の外表面8O、第1の領域S1、および接続領域SCのそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されていればよい。
図6(B)は、電子回路モジュール100の製造方法における導電性膜形成工程を模式的に示す図である。導電性膜形成工程により、埋設層8の上面8Uおよび側面8S(外表面8O)、ならびに集合基板1MBの状態にある回路基板1の第1の領域S1および接続領域SCに、集合導電性膜9MBの状態にある導電性膜9が形成される。導電性膜9の詳細の説明は、電子回路モジュール100の構造の説明で既に行なっているためここでは省略する。なお、導電性膜9は、埋設層8の外表面8O、第1の領域S1、および接続領域SCのそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されていればよい。
集合導電性膜9MBの形成は、埋設層8の外表面8Oと、回路基板1の第1の領域S1および接続領域SCとに、例えばスパッタリングや蒸着などのいわゆる薄膜形成法で金属薄膜を付着させることにより行なわれる。また、集合導電性膜9MBの形成は、液状の導電性樹脂を例えばスピンコート法により、埋設層8の外表面8Oと、回路基板1の第1の領域S1および接続領域SCとに濡れ広がらせ、加熱硬化させることにより行なってもよい。
この工程により、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vの、接続領域SCにおける露出部は、接続領域SCの少なくとも一部に形成された導電性膜9に接続されることになる。
<分離工程>
図6(C)は、電子回路モジュール100の製造方法における分離工程を模式的に示す図である。分離工程により、集合基板1MBが個々の回路基板1に分離され、個片化された電子回路モジュール100が得られる。
図6(C)は、電子回路モジュール100の製造方法における分離工程を模式的に示す図である。分離工程により、集合基板1MBが個々の回路基板1に分離され、個片化された電子回路モジュール100が得られる。
分離工程における集合基板1MBの分離は、分離線BLで破断するか、分離線BLを狙い位置として、溝形成工程(図6(A)参照)で用いたダイシングブレードより厚みの薄いダイシングブレードで切断することにより行なわれる。この分離工程により生じる集合基板1MBの破断面または切断面が、回路基板1の側面Sの第2の領域S2となる。このため、回路基板1の第2の領域S2の周長は、第1の領域S1の周長より長くなる。
(電子回路モジュールの第2の実施形態)
この発明の第2の実施形態に係る電子回路モジュール200について、図7を用いて説明する。
この発明の第2の実施形態に係る電子回路モジュール200について、図7を用いて説明する。
電子回路モジュール200は、接地用電極3Aへの導電経路Pが、二組のビア導体4Vの列が一端近傍および他端近傍に接続されたパターン導体4Pを含まない点が、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100と異なる。それ以外は電子回路モジュール100と共通であるため、共通する箇所の説明については省略する。
図7は、電子回路モジュール200の、図2に相当する断面図である。電子回路モジュール200では、接地用電極3Aは、回路基板1の側面Sにおける第2の領域S2と隣接している。そのため、接地用電極3Aへの導電経路Pは、導電経路Pを屈曲させるパターン導体4Pを含まず、一組のビア導体4Vの列で構成されている。
また、図7の例では、接地用電極3Aに接続されているビア導体4Vは、第2の領域S2に露出している。この場合、電子回路モジュール200を電子機器の回路基板にはんだを用いて実装する際に、第2の領域S2にもはんだフィレットが形成されることになり、接合強度の向上が見込まれる。
この一組のビア導体4Vの列は、電子回路モジュール200を上面視したとき、隣り合うビア導体4V同士が重なるように形成されている。そして、回路基板1の側面Sにおける接続領域SCの少なくとも一部に形成された導電性膜9は、少なくとも一組の隣り合うビア導体4Vの、接続領域SCにおける露出部に接続されている。すなわち、電子回路モジュール200は、導電経路Pが大きく屈曲していないため、電子回路モジュール100に比べて導電性膜9から接地用電極3Aまでの距離が短くなっている。その結果、導電経路Pの電気抵抗が低く抑えられる。
なお、第1の実施形態と同様に、ビア導体4Vの列の途中において、上面視で重なるように形成された隣り合うビア導体4Vの間に、パターン導体4Pが挟まれていてもよい。
(電子回路モジュールの第3の実施形態)
この発明の第3の実施形態に係る電子回路モジュール300について、図8を用いて説明する。
この発明の第3の実施形態に係る電子回路モジュール300について、図8を用いて説明する。
電子回路モジュール300は、第2の実施形態に係る電子回路モジュール200と同様に、接地用電極3Aへの導電経路Pが一組のビア導体4Vの列で形成されている。しかしながら、電子回路モジュール300は、それらのビア導体4Vの配列に特徴がある。それ以外は電子回路モジュール200と共通であるため、共通する箇所の説明については省略する。
図8(A)は、電子回路モジュール300の、図2に相当する断面図である。また、図8(B)は、図8(A)における、接地用電極3Aへの導電経路Pを含む要部Aの拡大図である。
電子回路モジュール300では、導電経路Pを構成する複数のビア導体4Vが、上面視したときに接続領域SCに沿って各ビア導体4Vの中心軸(図8(B)で一点鎖線により図示)をずらしながら形成されている。そのため、各ビア導体4Vの接続領域SCにおける露出部の面積は、各ビア導体4Vの中心軸が同じ場合に比べてさらに大きくなっている。
なお、第1および第2の実施形態と同様に、ビア導体4Vの列の途中において、上面視で重なるように形成された隣り合うビア導体4Vの間に、パターン導体4Pが挟まれていてもよい。
(電子回路モジュールの第4の実施形態)
この発明の第4の実施形態に係る電子回路モジュール400について、図9を用いて説明する。
この発明の第4の実施形態に係る電子回路モジュール400について、図9を用いて説明する。
<電子回路モジュールの構造>
電子回路モジュール400は、第3の実施形態に係る電子回路モジュール300と同様に、導電経路Pを構成する複数のビア導体4Vが、接続領域SCに沿って中心軸をずらしながら形成されている。しかしながら、電子回路モジュール400は、ビア導体4Vの回路基板1の側面Sにおける露出の仕方、および導電性膜9の形状に特徴がある。それ以外は電子回路モジュール300と共通であるため、共通する箇所の説明については省略する。
電子回路モジュール400は、第3の実施形態に係る電子回路モジュール300と同様に、導電経路Pを構成する複数のビア導体4Vが、接続領域SCに沿って中心軸をずらしながら形成されている。しかしながら、電子回路モジュール400は、ビア導体4Vの回路基板1の側面Sにおける露出の仕方、および導電性膜9の形状に特徴がある。それ以外は電子回路モジュール300と共通であるため、共通する箇所の説明については省略する。
図9は、電子回路モジュール400の、図2に相当する断面図である。電子回路モジュール400では、導電経路Pを構成する複数のビア導体4Vのうち幾つかは、接続領域SCおよび第2の領域S2のそれぞれ少なくとも一部に露出している。なお、図9の例では、ビア導体4Vは、第1の領域S1にも露出しているが、第1の領域S1には露出していなくてもよい。
導電性膜9は、埋設層8の外表面8O、回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1、接続領域SC、および第2の領域S2のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されている。そして、導電性膜9は、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vの、側面Sにおける露出部に接続されている。上記のように、ビア導体4Vが第1の領域S1には露出していない場合、導電性膜9は、接続領域SCおよび第2の領域S2のそれぞれにおける露出部に接続されることになる。
上記の特徴により、電子回路モジュール400は、導電性膜9と接地用電極3Aとがさらに確実に接続されている。また、導電性膜9が第2の領域S2まで到達して形成されているため、電子回路モジュール400は、第1ないし第3の実施形態にかかる電子回路モジュールに比べて、導電性膜9による被覆面積がさらに広くなっている。
なお、第1ないし第3の実施形態と同様に、ビア導体4Vの列の途中において、上面視で重なるように形成された隣り合うビア導体4Vの間に、パターン導体4Pが挟まれていてもよい。また、第4の実施形態は、電子回路モジュール400を第3の実施形態に係る電子回路モジュール300に上記の特徴を付加したものとして説明した。一方、第4の実施形態に係る電子回路モジュール400は、第2の実施形態に係る電子回路モジュール200(図7参照)に上記の特徴を付加したものとしてもよい。
<電子回路モジュールの製造方法>
この発明の第4の実施形態に係る電子回路モジュール400の製造方法の一例について、図10および図11を用いて説明する。図10および図11は、電子回路モジュール400の製造方法の一例において行なわれる準備工程、実装工程、埋設層形成工程、溝形成工程、分離工程、および導電性膜形成工程をそれぞれ模式的に示す図である。なお、図10および図11の各図は、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図(図2参照)に相当する。
この発明の第4の実施形態に係る電子回路モジュール400の製造方法の一例について、図10および図11を用いて説明する。図10および図11は、電子回路モジュール400の製造方法の一例において行なわれる準備工程、実装工程、埋設層形成工程、溝形成工程、分離工程、および導電性膜形成工程をそれぞれ模式的に示す図である。なお、図10および図11の各図は、図1(B)のA-A線を含む面の矢視断面図(図2参照)に相当する。
また、煩雑化を避けるため、図10および図11において符号を付していないものがあるが、これらについては、図2に示した電子回路モジュール100、および図9に示した電子回路モジュール400の対応する箇所の符号を参照する。
<準備工程>
図10(A)は、電子回路モジュール400の製造方法における準備工程を模式的に示す図である。この準備工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における準備工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
図10(A)は、電子回路モジュール400の製造方法における準備工程を模式的に示す図である。この準備工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における準備工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
なお、集合基板1MBの状態において、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vは、分離線BLを狙い位置として、後述する溝形成工程後および分離工程後に、側面Sに露出するような位置に形成されている。図10(A)では、一例として、そのような位置となるように二組のビア導体4Vの列が隣接して形成されており、溝形成工程および分離工程により、同時に二組のビア導体4Vの列が露出するようになっている。
<実装工程>
図10(B)は、電子回路モジュール400の製造方法における実装工程を模式的に示す図である。この実装工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における実装工程と同様であるため、詳細な説明を省略する。
図10(B)は、電子回路モジュール400の製造方法における実装工程を模式的に示す図である。この実装工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における実装工程と同様であるため、詳細な説明を省略する。
<埋設層形成工程>
図10(C)は、電子回路モジュール400の製造方法における埋設層形成工程を模式的に示す図である。この埋設層形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における埋設層形成工程と同様であるため、詳細な説明を省略する。
図10(C)は、電子回路モジュール400の製造方法における埋設層形成工程を模式的に示す図である。この埋設層形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における埋設層形成工程と同様であるため、詳細な説明を省略する。
<溝形成工程>
図11(A)は、電子回路モジュール400の製造方法における溝形成工程を模式的に示す図である。この溝形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における溝形成工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
図11(A)は、電子回路モジュール400の製造方法における溝形成工程を模式的に示す図である。この溝形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における溝形成工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
前述のように、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vのうち所定のものは、分離線BLを狙い位置として、溝Tが形成された際に、その一部が露出するような位置に形成されている。すなわち、この溝Tの形成により、集合基板1MB内部のビア導体4Vの列の一部は、回路基板1の側面Sにおける第1の領域S1および接続領域SCのベルボトム形状に倣った形状で露出することになる。図11(A)では、溝Tの形成により、同時に二組のビア導体4Vの列の一部が露出するようになっている。
<分離工程>
図11(B)は、電子回路モジュール400の製造方法における分離工程を模式的に示す図である。この分離工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における分離工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
図11(B)は、電子回路モジュール400の製造方法における分離工程を模式的に示す図である。この分離工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における分離工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
電子回路モジュール400の製造方法では、電子回路モジュール100の製造方法と異なり、導電性膜形成工程に先立って分離工程を行なう。そのため、分離工程は、集合基板1MBを不図示の粘着シートなどに貼り付け、個々の回路基板1に分離した後も、乱雑な状態にならないようにした状態で行なうことが好ましい。
この工程により、導電経路Pを構成する複数のビア導体4Vが、第1の領域S1および接続領域SCに加えて、第2の領域S2の少なくとも一部にも露出することになる。
<導電性膜形成工程>
図11(C)は、電子回路モジュール400の製造方法における導電性膜形成工程を模式的に示す図である。この導電性膜形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における導電性膜形成工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
図11(C)は、電子回路モジュール400の製造方法における導電性膜形成工程を模式的に示す図である。この導電性膜形成工程は、第1の実施形態に係る電子回路モジュール100の製造方法における導電性膜形成工程と大略は同様であるため、詳細な説明を省略する。
導電性膜形成工程により、導電性膜9が埋設層8の外表面8O、ならびに回路基板1の第1の領域S1、接続領域SC、および第2の領域S2のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成される。そして、接地用電極3Aへの導電経路Pに含まれるビア導体4Vの、側面Sにおける露出部は、上記のように形成された導電性膜9に接続されることになる。
なお、この発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、この発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることができる。また、この明細書に記載の各実施形態は、例示的なものであり、異なる実施形態間において、構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることを指摘しておく。
1 回路基板、2 第1の電極、3 第2の電極、3A 接地用電極、4 内部導体、4P パターン導体、4V ビア導体、5~7 電子部品、8 埋設層、8O 埋設層の外表面、8S 埋設層の側面、8U 埋設層の上面、9 導電性膜、100 電子回路モジュール、M1 第1の主面、M2 第2の主面、P 導電経路、S 側面、S1 第1の領域、S2 第2の領域、SC 接続領域。
Claims (5)
- 第1の電極が設けられた第1の主面と、接地用電極を含む第2の電極が設けられた第2の主面と、前記第1の主面と前記第2の主面とを接続する側面とを有し、内部導体としてパターン導体とビア導体とを有する回路基板と、
前記第1の電極に接続された電子部品と、
前記回路基板の第1の主面に、前記電子部品を埋設して設けられた埋設層と、
前記接地用電極への導電経路に接続された導電性膜と、を備える電子回路モジュールであって、
前記回路基板の側面は、前記第1の主面に接続された第1の領域と、前記第2の主面に接続され、周長が前記第1の領域より長い第2の領域と、前記第1の領域と前記第2の領域とに接続された接続領域とを有し、
前記接地用電極への導電経路は、ビア導体を含んでなり、
前記導電性膜は、前記埋設層の外表面、前記第1の領域、および前記接続領域のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されており、
前記接続領域の少なくとも一部に形成された前記導電性膜は、前記接地用電極への導電経路に含まれる前記ビア導体の、前記接続領域における露出部に接続されていることを特徴とする、電子回路モジュール。 - 前記接地用電極への導電経路は、複数のビア導体を含み、
前記複数のビア導体は、電子回路モジュールを上面視したとき、隣り合うビア導体同士が重なるように形成されており、
前記接続領域の少なくとも一部に形成された前記導電性膜は、少なくとも一組の前記隣り合うビア導体の、前記接続領域における露出部に接続されていることを特徴とする、請求項1に記載の電子回路モジュール。 - 前記複数のビア導体は、電子回路モジュールを上面視したとき、前記接続領域に沿って各ビア導体の中心軸をずらしながら形成されていることを特徴とする、請求項2に記載の電子回路モジュール。
- 少なくとも一組の前記隣り合うビア導体は、前記パターン導体を挟んで形成されており、
前記接続領域の少なくとも一部に形成された前記導電性膜は、少なくとも一組の前記隣り合うビア導体、および前記隣り合うビア導体に挟まれたパターン導体の、前記接続領域における露出部に接続されていることを特徴とする、請求項2または3に記載の電子回路モジュール。 - 前記導電性膜は、前記埋設層の外表面、前記第1の領域、前記接続領域、および前記第2の領域のそれぞれ少なくとも一部を含んだ領域上に形成されており、
前記接続領域および前記第2の領域のそれぞれ少なくとも一部に形成された前記導電性膜は、前記複数のビア導体の、前記接続領域および前記第2の領域のそれぞれにおける露出部に接続されていることを特徴とする、請求項2ないし4のいずれか1項に記載の電子回路モジュール。
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