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WO2014069573A1 - 有機el素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置 - Google Patents

有機el素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置 Download PDF

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WO2014069573A1
WO2014069573A1 PCT/JP2013/079560 JP2013079560W WO2014069573A1 WO 2014069573 A1 WO2014069573 A1 WO 2014069573A1 JP 2013079560 W JP2013079560 W JP 2013079560W WO 2014069573 A1 WO2014069573 A1 WO 2014069573A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
layer
organic
electrode
refractive index
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2013/079560
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
祐介 山▲崎▼
祥貴 下平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
Publication of WO2014069573A1 publication Critical patent/WO2014069573A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/26Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the composition or arrangement of the conductive material used as an electrode
    • H05B33/28Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the composition or arrangement of the conductive material used as an electrode of translucent electrodes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/875Arrangements for extracting light from the devices
    • H10K59/879Arrangements for extracting light from the devices comprising refractive means, e.g. lenses
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/805Electrodes
    • H10K59/8051Anodes
    • H10K59/80515Anodes characterised by their shape

Definitions

  • the present invention relates to an organic EL element, and an image display device and an illumination device including the organic EL element.
  • This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2012-241334 filed in Japan on October 31, 2012 and Japanese Patent Application No. 2013-137529 filed in Japan on June 28, 2013. The contents are incorporated herein.
  • An organic EL (electroluminescence) element has features such as a wide viewing angle, high-speed response, and clear self-luminous display. It is expected as a pillar for next-generation lighting devices and image display devices because of its thin and light weight and low power consumption.
  • Organic EL elements are classified into a bottom emission type in which light is extracted from the support substrate side and a top emission type in which light is extracted from the opposite side of the support substrate, depending on the direction in which the light generated in the organic light emitting layer is extracted. .
  • a bottom emission type organic EL device having a transparent electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a metal electrode in this order on a transparent substrate.
  • the light perpendicularly incident on the transparent substrate is transmitted through the transparent substrate and taken out of the element.
  • a small incident angle that is less than the critical angle at the interface between a transparent substrate (for example, glass (typical refractive index: 1.52)) and air (refractive index: 1.0).
  • Light incident at (the angle formed by the normal of the light beam and the incident surface) is refracted at the interface and extracted outside the device.
  • these lights are called external mode lights.
  • the light incident on the interface between the transparent substrate and air at an incident angle larger than the critical angle is totally reflected at the interface and is not taken out of the device, and finally Can be absorbed by the material.
  • this light is referred to as substrate mode light, and the loss due to this is referred to as substrate loss.
  • a transparent electrode for example, indium tin oxide alloy (ITO (typical refractive index: 1.82)
  • a transparent substrate for example, glass (typical) made of a transparent conductive oxide.
  • the light incident on the interface with a refractive index of 1.52)) having an incident angle larger than the critical angle is totally reflected at the interface and is not taken out of the device, but can be finally absorbed by the material.
  • this light is called waveguide mode light, and the loss due to this is called waveguide loss.
  • light emitted from the light-emitting layer is incident on the metal cathode and combined with free electrons of the metal electrode, and light captured on the surface of the metal cathode as surface plasmon polariton (SPP) is also external to the device. And can be finally absorbed by the material.
  • SPP mode light the resulting loss is referred to as plasmon loss.
  • the light extraction efficiency of the organic EL element is generally limited to about 20% (for example, Patent Document 1). That is, about 80% of the light emitted from the light emitting layer is lost. Reducing these losses and improving the light extraction efficiency has become a major issue.
  • the extraction of the substrate mode light can be dealt with by providing a light diffusion sheet or the like on the transparent substrate (for example, Patent Document 2).
  • Patent Document 2 research on the reduction and extraction of guided mode light and SPP mode light, particularly reduction and extraction of SPP mode light, has just started.
  • Patent Document 3 discloses a configuration in which a high refractive index layer having a higher refractive index than that of an organic light emitting layer or a transparent electrode is inserted in the vicinity of the organic light emitting layer.
  • Patent Document 2 discloses a configuration in which the refractive index of the organic light emitting layer and the transparent electrode is equivalently lowered by dispersing fine particles having a lower refractive index than the organic light emitting layer and the transparent electrode in the organic light emitting layer and the transparent electrode. It is disclosed.
  • Patent Documents 4 and 5 disclose a configuration in which a cavity is provided in a transparent electrode layer and a dielectric layer that are sequentially formed on a substrate. Light incident on the side surface of the cavity (interface extending perpendicular to the substrate) is refracted toward the substrate at this interface. With this effect, the ratio of light that causes total reflection can be reduced by changing the incident angle of the guided mode light to a small angle.
  • Patent Documents 6 to 9 As a method for extracting SPP mode light trapped on the surface of the metal cathode, a configuration in which a periodic uneven structure is formed on the surface of the cathode is known (Patent Documents 6 to 9).
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an organic EL element in which SPP mode light and waveguide mode light are effectively extracted to improve light extraction efficiency, and an image display device and an illumination device including the organic EL element.
  • the purpose is to do.
  • the present inventors first assume a two-step light extraction mechanism in which SPP mode light is extracted as propagating light into an organic layer, and then the propagating light is extracted outside the device without being converted into guided mode light.
  • SPP mode light is extracted as propagating light into an organic layer
  • the propagating light is extracted outside the device without being converted into guided mode light.
  • the organic EL device of the present invention has a structure in which an organic layer including a light emitting layer is sandwiched between a first electrode and a second electrode.
  • the two-step light extraction mechanism described above generates the SPP mode light
  • the second electrode side structure of the Otto type arrangement Non-Patent Document 1 that extracts the generated SPP mode light as propagating light into the organic layer.
  • the first electrode side structure that takes out the propagating light to the outside without using the guided mode light.
  • the inventors of the present invention by simulation, have a second pole-side structure with an Otto-type arrangement and an interface that is perpendicular or nearly perpendicular to the substrate that refracts or directs the propagating light extracted into the organic layer to the substrate side.
  • the inventors have found that the second electrode structure and the first electrode side structure have a remarkable effect that cannot be predicted from the effect of improving the light extraction efficiency of the single electrode side structure. I let you.
  • An organic EL device comprising, on a substrate, an anode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a cathode in order, and taking out light from the anode side to the outside.
  • the cathode further comprises a low refractive index layer and a metal layer on the opposite side of the organic layer in order, and the anode has an inner surface formed by a dielectric layer having a refractive index lower than the refractive index of the anode.
  • the organic layer has a layered portion disposed between the anode and the dielectric layer and the cathode, and the cathode is a light-transmitting conductive material.
  • An organic EL element wherein the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer.
  • An organic EL device comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order, and a thickness of the second electrode on the surface opposite to the organic layer.
  • An organic EL element characterized in that the refractive index is lower than the refractive index of the organic layer.
  • An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order, and further, a thickness of the second electrode on the surface opposite to the organic layer.
  • a low refractive index layer having a thickness of 20 nm to 300 nm and a metal layer in order, and the first electrode has a plurality of first electrode protrusions connected to each other by a first electrode layered portion;
  • An organic E comprising a conductive material, wherein the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer.
  • Organic EL element. (6) The organic EL element according to any one of (1) to (5), wherein a refractive index of the low refractive index layer is further lower than a refractive index of the second electrode.
  • the organic EL element according to (6) wherein a refractive index of the second electrode is lower than a refractive index of the organic layer.
  • the low refractive index layer is made of a material having a refractive index smaller by 0.2 or more than at least one of the second electrode and the organic layer.
  • the first electrode hole portion or the first electrode convex portion is periodically arranged in at least one direction within the substrate surface, and the metal layer (dielectric constant ⁇ 1 ) and the low refractive index layer (dielectric)
  • the real part of the rate ⁇ 2 ) and the period (p) in the one direction of the first electrode hole part or the first electrode convex part are as follows for a certain integer N (1 ⁇ N ⁇ 3):
  • is the maximum peak wavelength of the photoluminescence spectrum of the light emitting layer.
  • the organic EL device according to (10), wherein the period is 500 nm to 4000 nm.
  • An image display device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (11).
  • a lighting device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (11).
  • an organic EL element in which SPP mode light and waveguide mode light are effectively extracted to improve light extraction efficiency, and an image display device and an illumination device including the organic EL element.
  • (A) is a perspective view for demonstrating an example of the organic EL element which concerns on 1st embodiment of this invention
  • (b) demonstrates an example of the organic EL element which concerns on 2nd embodiment of this invention. It is a perspective view for doing.
  • the portion of the Otto structure is illustrated separately.
  • It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating an example of the organic EL element which concerns on 3rd Embodiment of this invention.
  • FIG. 5 shows the simulation results of the intensity distribution of the magnetic field of the emitted light from the dipole in the vertical direction for the organic EL element of the first embodiment of the present invention by the FDTD method.
  • Each of (a) to (f) has a pitch of 200 nm. 300 nm, 500 nm, 900 nm, 2000 nm, and 4000 nm.
  • the organic EL element of the first embodiment of the present invention shows the simulation result by the FDTD method of the intensity distribution of the electric field of the radiated light from the horizontal dipole, and (a) to (f) each have a pitch of 200 nm. 300 nm, 500 nm, 900 nm, 2000 nm, and 4000 nm.
  • FIG. 3 is a schematic sectional view of a structure.
  • the organic EL element of this invention may be provided with the layer which is not described below in the range which does not impair the effect of this invention.
  • An organic EL element 10 shown in FIGS. 1A and 1B includes an anode 2 that is an example of a first electrode, an organic layer 3 that includes a light-emitting layer made of an organic EL material, and a cathode that is an example of a second electrode. 4 are arranged in order, and light is extracted from the anode 2 side to the outside. Further, the organic EL element 10 includes a low refractive index layer 5 and a metal layer 6 in this order on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3.
  • the anode 2 includes a plurality of anode holes 2A.
  • the inner side surface 2a of the anode hole 2A is covered with a dielectric layer 7 which is an example of the inner surface covering part of the anode hole.
  • the dielectric layer 7 is configured to be scattered in an island shape in the layer of the anode 2.
  • the dielectric layer 7 is made of a material having a refractive index different from that of the anode 2.
  • the organic layer 3 has a layered portion (organic layered portion) disposed between the anode 2 and the dielectric layer 7 and the cathode 4.
  • the cathode 4 is made of a transparent conductive material (translucent conductive material).
  • the refractive index of the low refractive index layer 5 is lower than the refractive index of the organic layer 3.
  • the dielectric layer 7 may have a structure covering a part of the surface of the anode 2 on the organic layer side in addition to the inner surface 2a of the anode hole 2A.
  • the anode hole portion 2A is not limited to a hole that penetrates the anode 2, and the anode hole portion 2A may be a hole that does not penetrate the anode 2.
  • FIGS. 1A and 1B are examples of a bottom emission structure in which the substrate 1 is disposed on the anode 2 side.
  • FIG. 1A shows an organic EL element in which the dielectric layer is made of a material having a refractive index higher than that of the anode.
  • the top emission structure is a case where the substrate 1 is disposed on the metal layer 6 side.
  • the organic EL device of the present invention may employ either a bottom emission structure or a top emission structure.
  • a bottom emission structure in which the substrate 1 is present on the anode 2 side will be described as an example.
  • the refractive index of the organic layer refers to the average refractive index of all the layers including the light emitting layer made of the organic EL material.
  • the shape of anode hole portion 2A has the effect of refracting light toward the substrate side on the inner side surface.
  • the dielectric layer is made of a material having a refractive index higher than that of the anode, it is preferable that the top surface area on the cathode 4 side is smaller than the bottom area on the substrate 1 side from the viewpoint of refracting the guided mode light more vertically. In the example shown in FIG.
  • the inner side surface is arranged to be perpendicular to the substrate surface, but the invention is not limited to this configuration.
  • the angle of the inner side surface 2a of the anode hole 2A with respect to the substrate surface is preferably 45 to 90 °, more preferably 60 to 90 °, and even more preferably 75 to 90 °.
  • the dielectric layer is made of a material having a refractive index lower than that of the anode
  • a shape in which the top surface area on the cathode 4 side is larger than the bottom area on the substrate 1 side is preferable from the viewpoint of refracting the guided mode light more vertically.
  • the angle of the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A with respect to the substrate surface is preferably 90 ° to 135 °, more preferably 90 ° to 120 °, and still more preferably 90 ° to 105 °.
  • the propagating light re-radiated from the light emitting position toward the anode side and the propagating light from the SPP mode light is incident on the inner side 2a of the anode hole from the outside. Incident light is refracted to the substrate side and is easily taken out from the outer surface of the substrate.
  • the shape of the anode hole portion 2A is not particularly limited as long as it exhibits the effect of diffraction or the effect of the photonic crystal. Not.
  • the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A is nearly perpendicular to the substrate surface. This is because the refractive index modulation becomes steep in the in-plane direction of the substrate across the inner side surface 2a of the anode hole 2A due to the inner surface 2a of the anode hole 2A being perpendicular to the substrate surface.
  • the photonic crystal has a wider band gap frequency range in which light cannot propagate in the in-plane direction of the substrate, and can be extracted from the organic layer 3 to the outside more efficiently.
  • the refractive index is sharply modulated even in the diffraction grating, the diffraction efficiency of light toward the substrate is improved, and similarly, the light extraction to the outside of the element is improved.
  • the bottom emission structure has been described above as an example, the same applies to the top emission structure.
  • the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer.
  • n L , n C , and n O refractive indexes of the low refractive index layer, the cathode, and the organic layer
  • B pattern n L ⁇ n O ⁇ n C
  • n L ⁇ There are three cases: n C ⁇ n O (hereinafter referred to as “C pattern”) and n C ⁇ n L ⁇ n O (hereinafter referred to as “D pattern”).
  • C pattern n C ⁇ n O
  • D pattern n C ⁇ n L ⁇ n O
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is Otto arrangement.
  • the configuration of metal layer / low refractive index layer / cathode is Otto arrangement, and the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is also Otto arrangement.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is an Otto type arrangement.
  • the most preferable B to D pattern is the C pattern.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is Otto arrangement, and the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode (transparent conductive layer) / organic layer.
  • the Otto arrangement re-radiation of SPP mode light is most likely to occur from the metal layer.
  • the refractive index increases in the order of the low refractive index layer, the cathode (transparent conductive layer), and the organic layer, total reflection does not occur at each interface, and the re-radiated SPP mode light is extracted as it is to the substrate side.
  • the low refractive index layer may be air or SOG (spin on glass), and the cathode (transparent conductive layer) may be a transparent conductive material layer such as ITO.
  • the configuration of metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is Otto arrangement. Therefore, re-radiation of SPP mode light occurs from the metal layer.
  • the refractive index of the organic layer is an intermediate value between the low refractive index layer and the cathode (transparent conductive layer)
  • some of the re-emitted SPP mode light is at the cathode (transparent conductive layer) / organic layer interface. And the remaining light is transmitted through the organic layer.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is not an Otto type arrangement.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer + cathode (transparent conductive layer) / organic layer is an Otto type arrangement, re-emission of SPP mode light occurs from the metal layer. Therefore, the re-emission of SPP mode light is less than in the case of the B pattern.
  • a cathode for example, ITO
  • an organic layer are selected so as to satisfy n C ⁇ n O depending on the magnitude of the refractive index, and the refractive index n L is n C and n O as a low refractive index layer.
  • SOG satisfying the refractive index of the B pattern may be employed.
  • n O ⁇ n C ⁇ n L (hereinafter referred to as “E pattern”) and in the case of n C ⁇ n O ⁇ n L (hereinafter also referred to as “F pattern”), the Otto type arrangement is not achieved.
  • the metal layer / low refractive index layer / cathode is in an Otto type arrangement. Therefore, re-emission of SPP mode light occurs from the metal layer, but since the refractive index of the organic layer is lower than that of the low refractive index layer, most of the re-emitted SPP mode light is of the cathode (transparent conductive layer) / organic layer. It is totally reflected at the interface, and it is difficult to extract to the waveguide mode on the anode side.
  • the substrate When applied to the bottom emission type, the substrate is a light-transmitting substrate, and is usually preferably transparent to visible light.
  • transparent to visible light means that it is only necessary to transmit visible light having a wavelength emitted from the light emitting layer. It does not have to be transparent over the entire visible light region.
  • a smooth substrate having a transmittance in visible light of 400 to 700 nm of 50% or more is preferable. Further, the transmittance is more preferably 70% or more.
  • a glass plate, a polymer plate, etc. are mentioned. Examples of the glass plate include soda lime glass, barium / strontium-containing glass, lead glass, aluminosilicate glass, borosilicate glass, barium borosilicate glass, and quartz.
  • the polymer plate examples include polycarbonate, acrylic, polyethylene terephthalate, polyether sulfide, and polysulfone.
  • the emitted light is not visible light, it is necessary to be transparent at least for the emission wavelength region as in the case of visible light.
  • the transmittance is preferably 50% or more and more preferably 70% or more with respect to the wavelength at which light emission has the maximum intensity.
  • an opaque one can also be used.
  • a substrate made of a material such as the above or a material such as stainless steel, or a substrate normally used in other top emission type organic EL elements can be used.
  • the thickness of the substrate 1 is not particularly limited depending on the required mechanical strength, but is preferably 0.01 mm to 10 mm, more preferably 0.05 mm to 2 mm.
  • the anode 2 is an electrode for applying a voltage to the cathode 4 and injecting holes from the anode 2 into the light emitting layer. It is preferable to use a material made of a metal, an alloy, a conductive compound, or a mixture thereof having a high work function. It is preferable to use a material having a work function of 4 eV or more and 6 eV or less so that the difference from the HOMO (High Occupied Molecular Orbital) level does not become excessive.
  • the material of the anode 2 is not particularly limited as long as it is a translucent and conductive material.
  • the anode 2 can be formed on the substrate 1 by, for example, a sputtering method, a vacuum deposition method, a coating method, a CVD method, an ion plating method, or the like.
  • the thickness of the anode 2 is not particularly limited. For example, it is 10 to 2000 nm, preferably 50 to 1000 nm. If the thickness is less than 10 nm, the sheet resistance of the anode 2 increases. If the thickness is more than 2000 nm, the flatness of the organic layer 3 cannot be maintained, and the transmittance of the anode 2 decreases.
  • the dielectric layer 7 covers the inner side surface 2 a of the anode hole 2 A of the anode 2 and is made of a material having a refractive index different from that of the anode 2.
  • the reason why the dielectric layer 7 is made of such a structure and material is to improve the light extraction efficiency.
  • Light incident on the inner side surface 2a of the anode hole 2A (the interface between the anode 2 and the dielectric layer 7 extending in a direction perpendicular or nearly perpendicular to the substrate surface of the substrate 1) is incident on the substrate 1 side at this interface. Refract.
  • the incident angle of the waveguide mode light By changing the incident angle of the waveguide mode light to a small angle, the proportion of light that causes total reflection is reduced, and the light extraction efficiency is improved (see FIGS. 1A and 1B).
  • the material of the dielectric layer 7 is not particularly limited as long as it is a light-transmitting material having a refractive index different from that of the anode.
  • the material of the anode 2 is an indium tin oxide alloy (ITO (refractive index 1.82)), for example, as a low refractive index material, spin-on-glass (SOG (an example of refractive index: 1.25)), fluorine Metal fluorides such as magnesium fluoride (MgF 2 (typical refractive index: 1.38)), organic fluorine compounds such as polytetrafluoroethylene (PTFE (typical refractive index: 1.35)), silicon dioxide ( Examples include SiO 2 (typical refractive index: 1.45)), various low-melting glasses, and porous materials.
  • ITO indium tin oxide alloy
  • SOG an example of refractive index: 1.25
  • fluorine Metal fluorides such as magnesium fluoride (MgF 2 (typical refractive index: 1.38)
  • silicon compounds such as silicon nitride (Si 3 N 4 ) (typical refractive index: 2.0), titanium oxide (TiO 2 ) (typical refractive index: 2 .5) and other metal oxides, aluminum nitride (AlN) (typical refractive index: 2.2) and other metal nitrides, and depending on the refractive index of the material of the anode 2, aluminum oxynitride Polymer compounds such as (AlON) (typical refractive index: 1.8), metal oxynitrides such as silicon oxynitride, and polyethylene naphthalate (typical refractive index: 1.8) And SOG (having a refractive index of 1.8 or more).
  • the thickness of the dielectric layer 7 is not particularly limited. For example, it is 10 to 2000 nm, preferably 50 to 1000 nm. When the thickness is less than 10 nm, the volume of the dielectric layer 7 with respect to the anode is reduced, and the guided mode light is hardly refracted or diffracted. On the other hand, if it is thicker than 2000 nm, it becomes difficult to maintain the flatness of the organic layer 3.
  • the dielectric layer 7 may be an insulator or may have conductivity.
  • the dielectric layer 7 is a conductor
  • a conductive path such as anode 2 / dielectric layer 7 / organic layer 3 / cathode 4 is generated in addition to the conductive path of anode 2 / organic layer 7 / cathode 4.
  • the in-plane luminance distribution in the organic layer 3 becomes uniform, and the luminance of the element can be improved.
  • the dielectric layer 7 is an insulator
  • a conductive path that passes through the dielectric 7 does not occur. Therefore, the brightness of the shortest straight line connecting the dielectric 7 and the cathode 4 is lowered.
  • the in-plane luminance of the organic layer 3 can be made uniform by laying a conductive buffer layer on the dielectric layer 7.
  • various surface treatments for the purpose of improving the film quality can be performed on the anode 2 and the anode-side surfaces of the dielectric layer 7.
  • the dielectric layer 7 is an insulator, by forming a conductive film as the surface treatment, the in-plane luminance in the organic layer can be made uniform and the luminance can be improved as described above. .
  • the cathode 4 is an electrode for injecting electrons into the light emitting layer, and it is preferable to use a material made of a metal, an alloy, a conductive compound, or a mixture thereof having a small work function. It is preferable to use a material having a work function of 1.9 eV or more and 5 eV or less so that the difference from the LUMO (Lowest Unoccupied Molecular Orbital) level of the organic layer 3 in contact with the anode 2 does not become excessive.
  • LUMO Local Unoccupied Molecular Orbital
  • the thickness of the cathode 4 is not particularly limited, but is, for example, 30 nm to 1 ⁇ m, preferably 50 to 500 nm. When the thickness is less than 30 nm, the sheet resistance increases and the drive voltage increases. When the thickness is greater than 1 ⁇ m, heat, radiation damage, and mechanical damage due to film stress during film formation accumulate in the electrode and the organic layer.
  • the organic layer 3 is disposed between the anode 2 and the dielectric layer 7 and the cathode 4.
  • the organic layer 3 shown in FIGS. 1A and 1B has a configuration composed of only an organic layer layered portion, but at least a part of the organic layer 3 only needs to be composed of a layered portion, and is composed of only the layered portion. It is not limited to the case.
  • the organic layer 3 may include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, an electron transport layer, and the like in addition to a light emitting layer (organic light emitting layer) made of an organic EL material.
  • the hole injection layer is a layer that assists hole injection from the anode 2 to the organic layer 3, and its ionization energy is usually as small as 5.5 eV or less.
  • a material which transports holes to the light emitting layer with lower electric field strength is preferable.
  • the material to be formed is not particularly limited as long as it can perform the above functions, and any material can be selected and used from known materials.
  • the hole transport layer is a layer that transports holes to the light emitting region and has a high hole mobility.
  • the material to be formed as such a hole transport layer is not particularly limited as long as it can perform the above function, and any material can be selected and used from known materials.
  • the electron injection layer is a layer that assists injection of electrons from the cathode 4 to the organic layer 3. Such an electron injection layer is preferably a material that injects electrons into the organic layer 3 with lower electric field strength.
  • the material to be formed is not particularly limited as long as it can perform the above functions, and any material can be selected and used from known materials.
  • the electron transport layer is a layer that transports electrons to the light emitting region and has a high electron mobility. The material for forming such an electron transport layer is not particularly limited as long as it can perform the above function, and any material can be selected and used from known materials.
  • the organic layer 3 may be formed by a dry process such as an evaporation method or a transfer method, or may be formed by a wet process such as a spin coating method, a spray coating method, a die coating method, or a gravure printing method.
  • the thickness of the organic layer 3 is not particularly limited, but is, for example, 50 to 2000 nm, and preferably 100 to 1000 nm. If the thickness is less than 50 nm, quenching other than SPP coupling due to metal such as a decrease in internal quantum efficiency due to punch-through current and lossy surface coupling occurs, and if it is thicker than 1000 nm, the driving voltage increases.
  • the low refractive index layer 5 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3, and is preferably made of a material having a refractive index lower than that of the translucent conductive material constituting the cathode 4.
  • the material for the low refractive index layer 5 is not particularly limited as long as it is a material having a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4.
  • SOG satisfying this refractive index condition, metal fluoride such as magnesium fluoride (MgF 2 (typical refractive index: 1.38)), polytetrafluoroethylene (PTFE (typical refractive index: 1.35), etc. )) And the like, silicon dioxide (SiO 2 (typical refractive index: 1.45)), various low-melting-point glasses, porous materials, and the like.
  • the low refractive index layer 15 may be a layer including an air layer.
  • the low refractive index layer is preferably made of a material that is 0.2 or more smaller than at least one of the second electrode and the organic layer. This is because the second electrode or the organic layer corresponds to an Otto type high refractive index layer, and if the refractive index difference between the low refractive index layer and the high refractive index layer is 0.2 or more in the Otto type arrangement, the SPP Since the in-plane component of the wave number of the mode light becomes small, the dispersion curve of the propagation light in the high refractive index layer and the SPP mode light crosses, and the extraction efficiency of the SPP mode light into the high refractive index layer by the Otto type arrangement Because it goes up.
  • the thickness of the low refractive index layer 5 is preferably 20 nm or more and 300 nm or less. When the thickness is 20 nm or less, the film thickness of the low refractive index layer 5 is too thin, so that the metal layer and the high refractive index layer come close to each other and the in-plane wave number component of the SPP mode light becomes large. When the in-plane wavenumber component increases, the dispersion curve does not intersect with the dispersion curve of propagating light in the high refractive index layer, and SPP mode light becomes difficult to be extracted into the high refractive index layer.
  • the thickness is 300 nm or more, the film thickness of the low refractive index layer 15 is too thick, so that the evanescent wave does not reach the metal layer 16 and the SPP mode light is hardly extracted into the high refractive index layer. More preferably, it is 200 nm or less.
  • the metal layer 6 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3 via a low refractive index layer 5.
  • any material or plasmon resonance can be used as long as plasmon resonance is generated by the light emitted from the light emitting layer.
  • a material in which the real part of the complex dielectric constant is negative and the absolute value of the real part has a large value is preferable. Examples of such materials include simple substances such as gold, silver, copper, zinc, aluminum, and magnesium, alloys of gold and silver, alloys of silver and copper, and alloys such as brass.
  • the metal layer 6 may have a laminated structure of two or more layers. The thickness of the metal layer 6 is not particularly limited.
  • the thickness is 20 to 2000 nm, preferably 50 to 500 nm.
  • the thickness is less than 20 nm, the reflectance is lowered and the front luminance is lowered.
  • the thickness is more than 500 nm, heat, radiation damage, and mechanical damage due to film stress during film formation accumulate in the electrode and the organic layer.
  • positioning of the organic EL element of this invention is demonstrated.
  • the following is a principle explanation based on the calculation formula, and therefore, the first electrode and the second electrode are not associated with either the anode or the cathode, respectively, and are described as the first electrode and the second electrode.
  • SPP surface plasmon polariton
  • is an incident angle of incident light from the high refractive index dielectric layer to the low refractive index dielectric layer. Therefore, by changing the incident angle ⁇ , the dispersion curve of the SPP and the evanescent wave due to total reflection (hereinafter, simply referred to as “evanescent wave”, all of which are caused by total reflection) are linearly distributed.
  • incident angle ⁇ is the radiation angle of the SPP when viewed from the metal layer side.
  • the dispersion curve of the SPP and the dispersion line of the evanescent wave intersect each other. This means that only the SPP radiated at a predetermined angle is in a state where energy can be exchanged when the SPP and the evanescent wave resonate. And it becomes possible to take out SPP as propagation light via an evanescent wave.
  • a predetermined incident angle SPP dispersion curve and Light incident on the interface between the high refractive index layer and the low refractive index layer from the high refractive index layer at an angle having an intersection with the dispersion line of the evanescent wave generates an evanescent wave.
  • the evanescent wave excites SPP mode light on the metal surface.
  • the SPP mode light excited on the metal surface can be extracted into the organic layer as propagating light radiated at a predetermined angle via the evanescent wave generated in the Otto arrangement structure.
  • the organic EL element by introducing the Otto arrangement structure, it is possible to extract SPP mode light generated on the surface of the metal layer as propagating light propagating through the organic layer at a predetermined angle.
  • the excitation / extraction of the SPP mode light via the evanescent wave occurs when the thin film satisfies the formula (1). This is because if the low refractive index layer is too thick, the evanescent wave from the organic layer does not reach the metal layer, and the evanescent wave and the SPP mode light cannot exchange energy.
  • the light extracted from the SPP is emitted at a predetermined angle corresponding to the intersection of the SPP dispersion curve and the evanescent wave dispersion line.
  • the effect of the first electrode side structure of the organic EL element of the present invention will be described below.
  • the light propagating in the organic layer is refracted or diffracted toward the substrate side so that the incident angle to the interface between the first electrode and the substrate or the substrate and the outside (for example, air) becomes small.
  • An interface having a refractive index perpendicular to or nearly perpendicular to the substrate surface was introduced. More specifically, by providing a hole in the first electrode and covering the inner surface of the hole with a dielectric layer made of a material having a refractive index different from that of the first electrode, the first electrode is perpendicular to the substrate surface.
  • an interface between the first electrode and the dielectric layer is introduced as an interface having a refractive index close to perpendicular.
  • the first electrode can be used as an interface having a refractive index that is perpendicular or nearly perpendicular to the substrate surface.
  • An interface with the dielectric layer may be introduced.
  • the first electrode side structure may be a structure having periodicity in the in-plane direction of the substrate or a non-periodic structure having no periodicity.
  • the first electrode side structure has periodicity, that is, when the dielectric layers having different refractive indexes and the first electrode are periodically arranged one-dimensionally or two-dimensionally in the in-plane direction of the substrate, the refraction effect is improved.
  • the diffraction effect by the transmission diffraction grating hereinafter simply referred to as “diffraction grating”
  • the photonic crystal light propagation in a specific direction / frequency
  • the waveguide mode light can be extracted to the substrate side.
  • the period (pitch) of the refractive index modulation structure of the first electrode side structure When the period (pitch) of the refractive index modulation structure of the first electrode side structure is larger than the wavelength of the emitted light, refraction at the medium interface having a different refractive index becomes the dominant mechanism and light is extracted. Conceivable. On the other hand, when the period (pitch) of the refractive index modulation structure of the first electrode is equal to or less than the wavelength of the emitted light, the effect of the diffraction grating and the effect of the photonic crystal become the dominant mechanism, and light is extracted. It is thought that.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of an organic EL element having a second electrode side structure having an Otto type arrangement. First, the principle of extracting SPP mode light as guided mode light by the second electrode side structure will be described with reference to FIG. In FIG. 2, the first electrode side structure is omitted.
  • n sub is the refractive index of the substrate
  • n OLED is the average refractive index of the first electrode
  • ⁇ 1 is the dielectric constant of the metal layer
  • ⁇ 2 is the dielectric constant of the low refractive index layer
  • k sp is the wave vector of SPP mode light
  • k 0 is the wave number of light in vacuum
  • is the propagation angle of light propagating in the high refractive index layer.
  • the wave number k sp of the SPP mode light is given by the equations (2) to (5).
  • Equation (11) the in-plane components of the wave vector coincide between the SPP mode light and the extracted light, that is, Equation (11) must be satisfied. is there. From the equations (5) and (6), the SPP mode light is extracted as propagating light at an angle satisfying the following equation (7).
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a part of the first electrode side structure provided with a transmissive diffraction grating. It is assumed that light extracted from the SPP mode light at a predetermined angle ⁇ is diffracted by a diffraction grating having a grating interval (refractive index modulation period) p.
  • the condition for diffracting to the substrate side at a predetermined angle ⁇ sub with respect to the substrate surface is that the difference between the in-plane wave number of incident light incident on the diffraction grating and the in-plane wave number of diffracted light is an integral multiple of 2 ⁇ / p. It is. Therefore, it can be expressed by the following formula (8).
  • N 0, ⁇ 1,...
  • OLED stack indicates a layer through which guided mode light including the first electrode and the organic layer propagates.
  • the specific layer structure depends on the specific structure of the present invention. Further, the position where the “diffraction grating” is provided also depends on the specific configuration of the present invention. Equation (9) is obtained from Equation (7) and Equation (8).
  • is the wavelength in vacuum of the light diffracted by the diffraction grating.
  • the term “wavelength” represents the wavelength in vacuum.
  • the condition under which total reflection does not occur at the interface between the substrate and air is to satisfy equation (10). Therefore, by providing a diffraction grating whose grating interval satisfies the following formula (11), total reflection does not occur at the interface between the substrate and air. As a result, the light extraction efficiency is improved.
  • N in Equation (11) may be a positive integer.
  • the expression (11) approximately satisfies the following expression (1).
  • the maximum peak wavelength of the emission spectrum of the light emitting layer is adopted as ⁇ in Equation (1).
  • the maximum peak wavelength the maximum peak wavelength of the photoluminescence spectrum can be used.
  • N is a diffraction order and is an arbitrary integer, but if the diffraction order is too large, the directivity of the diffracted light decreases. Therefore, it is preferable to select the pitch p and the wavelength ⁇ so that N satisfying the formula (1) is in the range of 1 ⁇ N ⁇ 3.
  • the above theoretical analysis is a one-dimensional analysis.
  • a one-dimensional diffraction grating structure a diffraction grating structure in which the grating is arranged at regular intervals in a predetermined direction
  • a diffraction effect based on this analysis is obtained.
  • the one-dimensional diffraction grating structure does not have a grating structure in a direction orthogonal to the one direction, and therefore does not produce a diffraction effect for light in the orthogonal direction (light component).
  • the two-dimensional diffraction grating structure has a diffraction grating structure in another direction in the substrate surface. Therefore, a diffraction effect is added also in that direction.
  • the two-dimensional diffraction grating structure has a larger diffraction effect than the one-dimensional diffraction grating structure. Therefore, in the organic EL element having a configuration satisfying the expression (1) in a predetermined cross section, the light extraction efficiency can be improved regardless of whether the configuration is a one-dimensional diffraction grating structure or a two-dimensional diffraction grating structure. .
  • a photonic crystal is a structure whose refractive index is periodically different, in particular, a structure whose period is equal to or less than a wavelength. This periodic structure forms a forbidden band (photonic band gap) in which light in a specific wavelength range cannot exist.
  • the first electrode side structure of the present invention is a periodic refractive index modulation structure and the period is equal to or less than the wavelength
  • the first electrode side structure is a one-dimensional or two-dimensional photonic crystal (respectively a substrate). It can be regarded as a photonic crystal structure in which lattices are arranged at regular intervals in a predetermined direction or two directions in a plane.
  • a one-dimensional photonic crystal In a one-dimensional photonic crystal, light having a wavelength corresponding to the photonic band gap cannot propagate in one direction having a periodic structure. For this reason, the propagation of light is redistributed in directions other than in-plane, and the light can be extracted to the substrate side.
  • the one-dimensional photonic crystal structure does not have a periodic structure in a direction orthogonal to the one direction. Therefore, there is no photonic band gap in this direction, and there is no extraction effect due to this, or if any, it is very small.
  • the two-dimensional photonic crystal structure has a lattice structure in two different directions in the plane. Therefore, a photonic band gap is formed in these two directions, and light cannot propagate. Therefore, in the two-dimensional photonic crystal, the direction in which light cannot propagate in the plane increases, so that light is extracted to the substrate more efficiently than the one-dimensional structure.
  • the first electrode side structure is a non-periodic structure having no periodicity
  • the light incident on the first electrode structure is diffracted at random positions and phases, so that the light is emitted at a specific radiation angle. Are not radiated. Therefore, by having such a structure on the first electrode side, relatively uniform (highly diffusible) orientation characteristics can be obtained. That is, in the case where the first electrode side structure is a periodic structure, it is possible to obtain an alignment characteristic in which the light intensity at a specific radiation angle is increased by the effect of strengthening the emitted light by the diffraction grating. On the other hand, when the first electrode structure is an aperiodic structure, relatively uniform alignment characteristics can be obtained. Therefore, the first electrode side structure can be selected as a periodic structure or an aperiodic structure as necessary.
  • FIGS. 1A and 1B The light propagation method indicated by the arrows in FIGS. 1A and 1B is schematically shown for easy understanding of the principle of the action effect by refraction.
  • the way of light propagation varies depending on the magnitude relationship between the refractive index of the dielectric layer 7 and the refractive index of the anode 2, and FIG. 1A is an explanatory diagram when the former is higher than the refractive index of the latter, and FIG. It is explanatory drawing when the former is lower than the refractive index of the latter.
  • the refractive index of the dielectric layer 7 does not depend on the magnitude relationship between the refractive index of the dielectric layer 7 and the refractive index of the anode 2.
  • the light traveling toward the cathode 4 is incident at the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle ( Arrow A1)
  • an evanescent wave (arrow A2) is generated in the low refractive index layer 5.
  • the generated evanescent wave oozes out to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow A3) is excited.
  • a light emission point (or light emission location) Ao indicates a light emission point at a position overlapping the anode 2 in plan view (hereinafter, light emission at this point is referred to as “out light emission”). There are times.)
  • the light emission point Ai indicates a light emission point at a position overlapping the anode hole portion in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in light emission”).
  • the light emission point Ae indicates light emission at a boundary position between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • in-out edge light emission For “in light emission” and “in-out edge light emission”, an arrow indicating total reflection at the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 is omitted.
  • the light propagation after SPP (arrow A3) excitation is also applied to “in emission” and “in-out end emission”. Is the same as in the case of “out emission”. Since the current flows between the cathode and the anode, in this case, the light emission point Ao is located in a route having a higher current density than the light emission point Ai. Many.
  • the cathode layer structure (the cathode 4, the low refractive index layer 5, and the metal layer 6) is used as shown in FIG.
  • the light extracted to the point propagates like AD1, and is extracted to the substrate 1. That is, the light AD 1 traveling through the organic layer 3 from the point A is refracted at the interface between the organic layer 3 and the dielectric layer 7 and passes through the dielectric layer 7. Further, the light is refracted and travels toward the substrate 1 at the interface between the anode 2 and the dielectric layer 7 (the inner surface 2a of the anode hole 2A).
  • the substrate 1 After being refracted at the interface between the anode 2 and the substrate 1, it can be taken out through the substrate 1.
  • the interface between the dielectric layer 7 and the anode 2 the interface between the dielectric layer 7 and the anode 2 (the inner side surface 2a of the anode hole 2A (the anode 2 extending perpendicularly to the substrate surface of the substrate 1).
  • the angle of incidence of the light AD1 on the substrate 1 changes to a smaller angle (an angle closer to the direction perpendicular to the substrate surface of the substrate 1).
  • the light is incident at an angle greater than the critical angle at the interface between the substrate (for example, glass) and the air, total reflection occurs. . Therefore, light that does not undergo total reflection at the interface between the substrate and air increases, and light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A.
  • the vicinity of the shortest distance between the cathode 4 and the anode 2 has the highest current density and the amount of light emission increases.
  • the light emission at the point P of the light emitting layer included in the organic layer 3 is “out light emission” in which the amount of light emission increases, and the light emission at this point is schematically shown.
  • the light PD1 is light traveling toward the substrate side in a direction perpendicular to the substrate. It proceeds through the substrate 1 without being refracted at the interface with the substrate 1 and is taken out to the outside.
  • the light PD 2 is refracted at the inner side surface 2 a of the anode hole 2 A (the interface between the anode 2 and the dielectric layer 7 extending perpendicularly to the substrate surface of the substrate 1) and transmits through the anode 2. Further, after being refracted at the interface between the anode 2 and the substrate 1, it can be taken out through the substrate 1.
  • the incident angle to the substrate 1 is small due to refraction at the interface between the dielectric layer 7 and the anode 2 (inner side surface 2 a of the anode hole 2 A). It changes to an angle (an angle closer to the direction perpendicular to the substrate surface of the substrate 1).
  • Total reflection occurs when incident at an angle greater than the critical angle at the interface between the anode 2 and the substrate (for example, glass) 1 and at the interface between the substrate 1 and air.
  • the incident angle to the substrate 1 is changed to a small angle due to refraction at the inner surface 2a of the anode hole portion 2A, light that does not undergo total reflection at the interface between the substrate and air increases, and light extraction efficiency is improved.
  • the excited SPP mode light A3 is extracted into the organic layer 3 through resonance with the evanescent wave as shown in FIG.
  • the process is the same as that in the case where the dielectric layer 7 is made of a material higher than the refractive index of the anode 2 (FIG. 1A).
  • the light extracted to the organic layer propagates like the light AD1 shown in FIG. That is, the light AD1 traveling through the organic layer 3 from the point A is refracted at the interface between the dielectric layer 7 and the anode 2 (the inner surface 2a of the anode hole 2A) and travels through the dielectric layer 7.
  • the angle of incidence on the interface between the anode 2 and the substrate 1 and the outer surface of the substrate 1 changes to a smaller angle due to refraction at the interface between the dielectric layer 7 and the anode 2.
  • Total reflection at these interfaces is suppressed, and the light beam AD1 can be prevented from becoming guided mode light or substrate mode light, thereby improving the light extraction efficiency.
  • the light PD1 is light traveling toward the substrate side in a direction perpendicular to the substrate. It proceeds through the substrate 1 without being refracted at the interface with the substrate 1 and is taken out to the outside.
  • the light PD2 is refracted at the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A (the interface between the anode 2 and the dielectric layer 7 extending perpendicularly to the substrate surface of the substrate 1), and is transmitted through the dielectric layer 7. Further, after being refracted at the interface between the dielectric layer 7 and the substrate 1, it is taken out through the substrate 1.
  • the angle of incidence on the substrate 1 is small due to refraction at the interface between the anode 2 and the dielectric layer 7 (inner side surface 2 a of the anode hole 2 A). (An angle closer to the direction perpendicular to the substrate surface of the substrate 1). Total reflection occurs when incident at an angle greater than the critical angle at the interface between the anode 1 and the substrate (for example, glass) 1 and at the interface between the substrate 1 and air.
  • the incident angle on the substrate 1 is changed to a small angle due to refraction at the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A, the light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased and the light extraction efficiency is improved. To do.
  • the anode hole 2a is periodically arranged in at least one direction in the plane of the substrate 11 with a period equal to or less than the wavelength of the emitted light.
  • the function and effect of the diffraction grating will be schematically described with reference to FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 4 is schematically shown in order to explain the principle of the action and effect of the diffraction grating. The principle described below does not depend on the magnitude relationship between the refractive indexes of the dielectric layer 7 and the anode 2.
  • the light traveling to the cathode 4 side enters the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle (arrow B1)
  • an evanescent wave (arrow B2) is generated in the low refractive index layer 5.
  • the generated evanescent wave oozes out to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow B3) is excited.
  • the excited SPP is radiated to the cathode 4 at a predetermined angle (arrow B5) through resonance with the evanescent wave (arrow B4), and is extracted to the organic layer 3 as propagating light.
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 4, low refractive index layer 5, metal layer 6) to point B of the organic layer 3 propagates through the organic layer 3 and enters the diffraction grating.
  • the incident light is diffracted by the diffraction grating in a predetermined direction (a direction satisfying the Nth order strengthening condition).
  • the diffracted light is emitted while interfering with the diffracted light at each diffraction point, so that the light is directed very strongly at a predetermined angle.
  • arrows BD1 and BD2 light incident on the interface between the substrate 1 (for example, glass) and air at an incident angle equal to or less than the critical angle is directly extracted outside.
  • the material of the metal layer and the low refractive index layer and the period of the diffraction grating should be selected so as to satisfy the formula (1). preferable.
  • the generated SPP light can be efficiently extracted from the substrate 1 by the diffraction grating, and the light extraction efficiency can be improved.
  • the intensity of the diffracted light is higher as the order N is smaller, it is preferable to select the period of the diffraction grating and the like so as to satisfy the formula (1) for N as small as possible.
  • the organic EL element 10 of the first embodiment of the present invention when the anode hole portion 2A is periodically arranged at a period equal to or less than the wavelength of the emitted light in at least one direction within the surface of the substrate 1, As described above, it can be considered that a diffraction grating is formed, and on the other hand, it can be considered that a photonic crystal is formed.
  • the effect by the photonic crystal will be schematically described with reference to FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 5 is schematically shown in order to explain the principle of action and effect by the photonic crystal.
  • the light traveling to the cathode 4 side enters the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle (arrow C1)
  • an evanescent wave (arrow C2) is generated in the low refractive index layer 5.
  • the generated evanescent wave swells to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow C3) is excited.
  • the excited SPP is radiated to the cathode 4 at a predetermined angle (arrow C5) through resonance with the evanescent wave (arrow C4), and taken out to the organic layer 3 as propagating light.
  • the periodic structure is formed by the dielectric layer 7 that covers the anode 2 and the inner surface 2a of the anode hole.
  • the photonic band gap can be generated parallel to the substrate surface. The direction is the arrow CD2.
  • the organic EL element of the present invention When there is no photonic crystal structure, most of the light extracted into the organic layer 3 is totally reflected at the interface between the anode 2 (or the dielectric layer 7) and the substrate 1 to become guided mode light, or the substrate 1 And is totally reflected on the outer surface of the air interface, and becomes a substrate mode.
  • the light propagation direction in the organic layer is changed by the photonic crystal structure to a direction close to perpendicular to the substrate surface, so that total reflection is suppressed and the light extraction efficiency to the outside is improved.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the second embodiment of the present invention.
  • the dielectric layers are scattered in islands in the anode layer
  • the anode protrusions are scattered in islands in the dielectric layer 7.
  • the plurality of anode convex portions are connected to each other by the anode layered portion.
  • the organic EL element 20 shown in FIG. 6 includes an anode (first electrode) 22, an organic layer 23 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 24 in this order on a substrate 21.
  • the organic EL element 20 includes a low refractive index layer 25 and a metal layer 26 in this order on the opposite side of the second electrode 24 from the organic layer 23.
  • the anode 22 includes a plurality of anode convex portions 22B connected to each other by an anode layered portion 22c.
  • the organic layer 23 has a layered portion disposed between the anode 22 and the dielectric layer 27 and the second electrode 24.
  • the cathode 24 is made of a translucent conductive material.
  • the refractive index of the low refractive index layer 25 is lower than the refractive index of the organic layer 23.
  • FIG. 6 shows an example of a bottom emission structure in which the substrate 21 is disposed on the anode 22 side.
  • the top emission structure is a case where the substrate 21 is disposed on the metal layer 26 side.
  • a bottom emission structure in which the substrate 21 exists on the anode 22 side will be described as an example.
  • the refractive index of the organic layer 23 refers to the average refractive index of all layers including the light emitting layer.
  • the period (pitch) in which the adjacent anode convex portions 22B are arranged in at least one direction within the substrate surface is equal to or greater than the wavelength of the emitted light
  • the shape of the anode convex portion 22B is an effect of refracting light toward the substrate side on the outer surface There is no particular limitation as long as it plays.
  • the dielectric layer is made of a material having a refractive index higher than that of the anode
  • a shape in which the bottom area on the cathode 24 side is smaller than the bottom area on the substrate 21 side is preferable from the viewpoint of refracting the guided mode light more vertically.
  • the outer surface is configured to be arranged perpendicular to the substrate surface, but is not limited to this configuration.
  • the angle of the outer surface 22b of the adjacent anode projection 22B with respect to the substrate surface is preferably 45 to 90 °, more preferably 60 to 90 °, and even more preferably 75 to 90 °.
  • the propagating light re-radiated from the light emitting position toward the anode side and the guided mode light and the SPP mode light is incident on the outer surface 22b of the anode convex portion from the outside. Incident light is refracted to the substrate side and is easily taken out from the outer surface of the substrate.
  • the dielectric layer is made of a material having a refractive index lower than that of the anode, a shape in which the bottom area on the cathode 24 side is larger than the bottom area on the substrate 21 side is preferable from the viewpoint of refracting the guided mode light more vertically.
  • the angle of the outer surface 22b of the adjacent anode projection 22B with respect to the substrate surface is preferably 90 ° to 135 °, more preferably 90 ° to 120 °, and still more preferably 90 ° to 105 °.
  • the shape of the anode protrusions A22B is not particularly limited as long as the effect of diffraction and the effect of photonic crystals are exhibited.
  • the outer surface 22b of the anode convex portion 22B is nearly perpendicular to the substrate surface. This is because the refractive index modulation becomes steep in the in-plane direction of the substrate crossing the outer surface 22b of the anode protrusion 22B because the outer surface 22b of the anode protrusion 22B is perpendicular to the substrate surface.
  • the photonic crystal When the refractive index is sharply modulated, the photonic crystal has a wider band gap frequency range where light cannot propagate in the in-plane direction of the substrate, and can be extracted from the organic layer 23 to the outside more efficiently. Further, when the refractive index is sharply modulated even in the diffraction grating, the diffraction efficiency of light toward the substrate is improved, and similarly, the light extraction to the outside of the element is improved.
  • the same effect can be obtained when the size and the period of the hole and the protrusion are equal between the case of having the anode hole of the first embodiment and the case of having the anode protrusion of the second embodiment.
  • FIG. 7 is a schematic perspective view of the first embodiment and the second embodiment.
  • the anode convex portion according to the second embodiment is provided and the period and size of the anode hole portion or convex portion are not changed, the same refraction effect is obtained. Therefore, also in 2nd Embodiment, the effect similar to the effect of 1st Embodiment is acquired.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the third embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 30 according to the third embodiment of the present invention includes, on a substrate 31, an anode (first electrode) 32, an organic layer 33 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 34 in this order. ing. Furthermore, the organic EL element 30 includes a low refractive index layer 35 and a metal layer 36 in this order on the opposite side of the second electrode 34 from the organic layer 33.
  • the anode 32 includes a plurality of anode hole portions 32A.
  • the inner surface 32a of the anode hole portion 32A is covered with a substrate convex portion 31B which is another example of the anode hole inner surface covering portion.
  • the substrate convex portions 31B are scattered in the layer of the anode 32 in an island shape.
  • the organic layer 33 has a layered portion disposed between the anode 32 and the substrate convex portion 31 ⁇ / b> B and the cathode 34.
  • the cathode 34 is made of a transparent conductive material (translucent conductive material), and the refractive index of the low refractive index layer 45 is lower than the refractive index of the organic layer 33.
  • the substrate convex portion 31B may have a structure that covers a part of the organic layer side surface of the anode 32 in addition to the inner side surface 32a of the anode hole portion 32A.
  • the anode hole portion 32 ⁇ / b> A is not limited to a hole that penetrates the anode 32, and the anode hole portion 3 ⁇ / b> A may be a hole that does not penetrate the anode 32.
  • FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the substrate protrusions are scattered in islands in the anode layer
  • anode protrusions are scattered in the substrate recesses, and a plurality of anode protrusions are formed.
  • the parts are connected to each other by the anode layered part.
  • the organic EL element 40 shown in FIG. 9 includes an anode (first electrode) 42, an organic layer 43 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 44 in this order on a substrate 41.
  • the organic EL element 40 includes a low refractive index layer 45 and a metal layer 46 in this order on the opposite side of the second electrode 44 from the organic layer 43.
  • the anode 42 includes a plurality of anode convex portions 42B connected to each other by an anode layered portion 42c.
  • the organic layer 43 has a layered portion disposed between the anode 42 and the second electrode 44.
  • the cathode 44 is made of a translucent conductive material.
  • the refractive index of the low refractive index layer 45 is lower than the refractive index of the organic layer 43.
  • FIG. 10 is a diagram illustrating an example of an image display device including the organic EL element. Further, the organic EL element may have a bottom emission structure or a top emission structure, but the following description will be made with an example of a bottom emission structure.
  • An image display device 100 shown in FIG. 10 is a so-called passive matrix type image display device.
  • anode wiring 104 In addition to the organic EL element 10, an anode wiring 104, an anode auxiliary wiring 106, a cathode wiring 108, an insulating film 110, and a cathode partition 112 are provided. , A sealing plate 116 and a sealing material 118.
  • a plurality of anode wirings 104 are formed on the substrate 1 of the image display device 100.
  • the anode wirings 104 are arranged in parallel at a constant interval.
  • the anode wiring 104 is made of a transparent conductive film, and for example, ITO (Indium Tin Oxide) can be used.
  • the thickness of the anode wiring 104 can be set to 100 nm to 150 nm, for example.
  • An anode auxiliary wiring 106 is formed on the end of each anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 is electrically connected to the anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 functions as a terminal for connecting to the external wiring on the end portion side of the substrate 1, and the drive circuit (not shown) provided outside via the anode auxiliary wiring 106.
  • a current can be supplied to the anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 is made of a metal film having a thickness of 500 nm to 600 nm, for example.
  • a plurality of cathode wirings 108 are provided on the organic EL element 10.
  • the plurality of cathode wirings 108 are arranged so as to be parallel to each other and orthogonal to the anode wiring 104.
  • Al or an Al alloy can be used for the cathode wiring 108.
  • the thickness of the cathode wiring 108 is, for example, 100 nm to 150 nm.
  • a cathode auxiliary wiring (not shown) is provided at the end of the cathode wiring 108 and is electrically connected to the cathode wiring 108. Therefore, a current can flow between the cathode wiring 108 and the cathode auxiliary wiring.
  • an insulating film 110 is formed on the substrate 1 so as to cover the anode wiring 104.
  • a rectangular opening 120 is provided in the insulating film 110 so as to expose a part of the anode wiring 104.
  • the plurality of openings 120 are arranged in a matrix on the anode wiring 104.
  • the organic EL element 10 is provided between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108. That is, each opening 120 becomes a pixel. Accordingly, a display area is formed corresponding to the opening 120.
  • the film thickness of the insulating film 110 can be, for example, 200 nm to 100 nm, and the size of the opening 120 can be, for example, 100 ⁇ m ⁇ 100 ⁇ m.
  • the organic EL element 10 is located between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108 in the opening 120. In this case, the anode 2 of the organic EL element 10 is in contact with the anode wiring 104 and the cathode 4 is in contact with the cathode wiring 108.
  • the thickness of the organic EL element 10 can be set to, for example, 150 nm to 200 nm.
  • a plurality of cathode partition walls 112 are formed on the insulating film 110 along a direction orthogonal to the anode wiring 104 in plan view.
  • the cathode partition 112 plays a role for spatially separating the plurality of cathode wirings 108 so that the wirings of the cathode wirings 108 do not conduct with each other. Accordingly, the cathode wiring 108 is disposed between the adjacent cathode partition walls 112.
  • the size of the cathode partition 112 for example, the one having a height of 2 ⁇ m to 3 ⁇ m and a width of 10 ⁇ m can be used.
  • the substrate 1 is bonded to each other through a sealing plate 116 and a sealing material 118.
  • the space in which the organic EL element 10 is provided can be sealed, and the organic EL element 10 can be prevented from being deteriorated by moisture in the atmosphere.
  • the sealing plate 116 for example, a glass substrate having a thickness of 0.7 mm to 1.1 mm can be used.
  • the sealing plate 116 may not be transparent when light is extracted from the substrate 1 side as in the case of a bottom emission type element.
  • the sealing plate 116 needs to be transparent with respect to at least a part of the emission wavelength region.
  • a current can be supplied to the organic EL element 10 via the anode auxiliary wiring 106 and the cathode auxiliary wiring (not shown) by a driving device (not shown) to cause the light emitting layer to emit light. Then, light can be emitted from the substrate 1 through the substrate 1.
  • An image can be displayed on the image display device 100 by controlling the light emission and non-light emission of the organic EL element 10 corresponding to the above-described pixel by the control device.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a lighting device including the organic EL element.
  • the organic EL element may have a bottom emission structure or a top emission structure, but in the following, an example of a bottom emission structure will be described.
  • the lighting device 200 shown in FIG. 11 includes the organic EL element 10 described above, and a terminal 202 that is installed adjacent to the substrate 1 (see FIG. 1) of the organic EL element 10 and connected to the anode 2 (see FIG. 1).
  • the terminal 203 is connected to the cathode 4 (see FIG. 1), and the lighting circuit 201 is connected to the terminal 202 and the terminal 203 to drive the organic EL element 10.
  • the lighting circuit 201 has a DC power supply (not shown) and a control circuit (not shown) inside, and supplies a current between the anode layer 2 and the cathode 4 of the organic EL element 10 through the terminal 202 and the terminal 203. Then, the organic EL element 10 is driven, the light emitting layer is caused to emit light, light is emitted from the substrate 1, and used as illumination light.
  • the light emitting layer may be made of a light emitting material that emits white light, and each of the organic EL elements 10 using light emitting materials that emit green light (G), blue light (B), and red light (R). A plurality of them may be provided so that the combined light is white.
  • the anode 2 is formed on the substrate 1.
  • the formation method of this anode 2 is not specifically limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the performance of the overcoated layer (adhesion with the anode 2, surface smoothness, reduction of hole injection barrier, etc.) can be improved.
  • Specific examples of the surface treatment include high-frequency plasma treatment, sputtering treatment, corona treatment, UV ozone irradiation treatment, ultraviolet irradiation treatment, oxygen plasma treatment, and the like.
  • anode buffer layer (not shown) instead of or in addition to the surface treatment of the surface treatment of the anode 2.
  • the anode buffer layer can be prepared by applying a wet process.
  • Specific film forming methods include spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating. And coating methods such as a method, a wire bar coating method, a dip coating method, a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, and an ink jet printing method.
  • the anode buffer layer when the anode buffer layer is produced by a dry process, the anode buffer layer can be formed by using a plasma treatment or the like exemplified in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-303412.
  • a method of forming a film of a single metal, a metal oxide, a metal nitride, or the like can be given.
  • Specific examples of the film forming method include an electron beam evaporation method, a sputtering method, a chemical reaction method, a coating method, and a vacuum evaporation method.
  • a method using photolithography can be used to form the anode hole 2A.
  • a positive resist solution is applied onto the anode 2 and the excess resist solution is removed by spin coating or the like, thereby forming a resist layer 9.
  • a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the anode hole 2A is formed is covered, and exposure is performed with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), or the like.
  • UV ultraviolet rays
  • EB electron beams
  • FIG. 12C the resist layer 9 is exposed to a predetermined pattern corresponding to the anode hole 2A (exposed portion 9a).
  • the resist layer 9 in the exposed pattern portion is removed using a developer.
  • the surface of the anode 2 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 12D).
  • the exposed portion of the anode 2 is removed by etching to form an anode hole portion 2A.
  • etching either dry etching or wet etching can be used.
  • the shape of the anode hole portion 2A can be controlled by combining isotropic etching and anisotropic etching.
  • dry etching reactive ion etching (RIE) or inductively coupled plasma etching can be used.
  • RIE reactive ion etching
  • wet etching a method of immersing in dilute hydrochloric acid or dilute sulfuric acid can be used. By this etching, the surface of the substrate 1 is exposed corresponding to the pattern.
  • anode convex part of 2nd Embodiment you may be the same as the process of forming the said anode hole part 2A.
  • etching the anode it is possible to connect the anode projections by leaving the anode layer-like portion without suppressing the etching to expose the substrate and to establish conduction between the anode projections.
  • the remaining resist layer is removed with a resist removing solution or the like (FIG. 12 (f)), and then the dielectric layer 7 is formed (FIG. 12 (g)).
  • the dielectric layer 7 is configured to fill the anode hole 2A and cover the inner surface 2a of the anode hole 2A.
  • a configuration in which only a part is filled and the inner side surface 2a of the anode hole 2A is covered (a part of the bottom surface of the anode hole 2A is exposed) may be employed.
  • the method for forming the dielectric layer 7 is not particularly limited as with the method for forming the anode 2.
  • a resistance heating vapor deposition method for example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the dielectric layer 7 covers the upper surface of the anode 2 (the surface opposite to the substrate other than the anode hole 2A)
  • the dielectric layer 7 may be exposed by partially removing the surface by etching back. This etch back process is necessary to form a conductive path between the anode and the cathode when the dielectric layer 7 is an insulator.
  • an etch back processing method for example, an etching method or a polishing method used for forming the anode hole 2A can be used. Furthermore, after the dielectric layer 7 is formed, various surface treatments for the purpose of improving the film quality can be performed on the anode 2 and the anode-side surfaces of the dielectric layer 7. As the surface treatment method, the same method as described in the surface treatment after forming the anode 2 can be used.
  • an organic layer 3 including a light emitting layer made of an organic EL material is formed on the anode 2 and the dielectric layer 7.
  • polishing or etching for flattening may be appropriately performed.
  • a conventionally known method can be used to form the organic layer 3 and is not particularly limited. For example, methods such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, and an LB method can be used.
  • the formation conditions are adjusted depending on whether the anode hole 2A is completely filled or partially filled.
  • the dielectric layer 7 covering the inner surface 2a of the anode hole is formed as described above, and the layered organic layer 3 is further formed to produce a structure corresponding to FIG.
  • a cathode 4 is formed on the organic layer 3.
  • the method for forming the cathode 4 can be the same as the method for forming the anode 2 and is not particularly limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a low refractive index layer 5 is formed on the cathode 4.
  • the formation of the low refractive index layer 5 can be performed using the same method as the formation of the dielectric layer 7, and is not particularly limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the low-refractive index layer 5 is a low-refractive index layer including an air layer, for example, after the SOG layer is formed, the SOG material is left at a predetermined position in the SOG layer using photolithography.
  • the low refractive index layer is formed by etching away the SOG layer so that the portion where the SOG layer is removed becomes an air layer.
  • a metal layer 6 is formed on the low refractive index layer 5.
  • the formation of the metal layer 6 is not particularly limited. For example, vapor deposition or sputtering can be used.
  • the organic EL element 10 can be manufactured by the above process. Moreover, after these series of processes, it is preferable to use the organic EL element 10 stably for a long period of time and to attach a protective layer and a protective cover (not shown) for protecting the organic EL element 10 from the outside.
  • a protective layer polymer compounds, metal oxides, metal fluorides, metal borides, silicon compounds such as silicon nitride and silicon oxide, and the like can be used. And these laminated bodies can also be used.
  • a metal having a higher ionization tendency than the metal layer 6 may be used as the protective layer as the sacrificial layer.
  • the protective cover a glass plate, a plastic plate whose surface is subjected to low water permeability treatment, a metal, or the like can be used.
  • the protective cover is preferably bonded to the substrate 1 with a thermosetting resin or a photocurable resin and sealed.
  • a spacer because a predetermined space can be maintained and the organic EL element 10 can be prevented from being damaged. If an inert gas such as nitrogen, argon, or helium is sealed in this space, it becomes easy to prevent the upper metal layer 6 from being oxidized. In particular, when helium is used, heat conduction is high, and thus heat generated from the organic EL element 10 when voltage is applied can be effectively transmitted to the protective cover, which is preferable. Further, by installing a desiccant such as barium oxide in this space, it becomes easy to suppress the moisture adsorbed in the series of manufacturing steps from damaging the organic EL element 10.
  • the metal layer 16 is formed on the substrate 11.
  • the formation method of the metal layer 16 is not specifically limited, For example, a vapor deposition method and sputtering can be used.
  • a low refractive index layer 15 is formed on the metal layer 16.
  • the method for forming the low refractive index layer 15 is not particularly limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the low-refractive index layer 15 is a low-refractive index layer including an air layer, for example, after the SOG layer is formed, the SOG material is left at a predetermined position using photolithography in the SOG layer.
  • the low refractive index layer is formed by etching away the SOG layer so that the portion where the SOG layer is removed becomes an air layer.
  • the cathode 14 is formed on the low refractive index layer 15.
  • the method for forming the cathode 14 is not particularly limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • an organic layer 13 is formed on the cathode 14.
  • a conventionally known method can be used as a method for forming the organic layer 13.
  • methods such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, and an LB method can be used.
  • the anode 12 is formed on the organic layer 13.
  • the formation of the anode 12 is not particularly limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the surface treatment includes high-frequency plasma treatment, sputtering treatment, corona treatment, UV ozone irradiation treatment, ultraviolet irradiation treatment, oxygen plasma treatment, and the like.
  • anode buffer layer (not shown) instead of or in addition to the surface treatment of the anode 12.
  • anode buffer layer is applied by a wet process, spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating, wire bar coating, dip coating
  • the film can be formed using a coating method such as a spray method, a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, or an inkjet printing method.
  • the anode buffer layer when the anode buffer layer is produced by a dry process, the anode buffer layer can be formed by using a plasma treatment or the like exemplified in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-303412.
  • a method of forming a film of a single metal, a metal oxide, a metal nitride, or the like can be mentioned.
  • Specific film forming methods include an electron beam evaporation method, a sputtering method, a chemical reaction method, a coating method, and a vacuum evaporation method. The method etc. can be used.
  • a method using photolithography can be used to form the anode hole portion 12A.
  • a positive resist solution is applied onto the anode 12, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like to form a resist layer 19.
  • FIG. 13 (g) is obtained.
  • a predetermined pattern corresponding to the anode hole 12A is exposed to the resist layer 19 (exposed portion 19a).
  • the resist layer 19 in the exposed pattern portion is removed using a developer.
  • the surface of the anode 12 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 13H).
  • the exposed resist layer 19 is used as a mask to remove the exposed portion of the anode 12 to form an anode hole portion 12A.
  • the etching either dry etching or wet etching can be used.
  • the shape of the anode hole portion 12A can be controlled by combining isotropic etching and anisotropic etching.
  • dry etching reactive ion etching (RIE) or inductively coupled plasma etching can be used.
  • RIE reactive ion etching
  • wet etching a method of immersing in dilute hydrochloric acid or dilute sulfuric acid can be used. By this etching, the surface of the organic layer 13 is exposed corresponding to the pattern.
  • the dielectric layer 17 is formed.
  • the resist layer 19 may be removed before and after the formation of the dielectric layer 17.
  • the dielectric layer 17 is configured to fill the anode hole portion 12A and cover the inner side surface 12a of the anode hole portion 12A.
  • covers may be sufficient.
  • the formation method of the dielectric layer 17 is not limited as in the formation of the anode 12. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or various coating methods can be used.
  • the dielectric layer 17 is formed by the above formation method, when the dielectric layer 17 covers the upper surface of the anode 12 (the surface opposite to the substrate 11 other than the anode hole portion 12A), the dielectric layer The upper surface of the anode 2 may be exposed by removing a portion 17 by etching back.
  • FIG. 14 shows the result of energy dissipation calculation in which the intensity of light emitted from the organic layer is developed with the wave number component in the organic EL element surface direction.
  • the horizontal axis represents the wave number of the light emitted from the organic layer, the organic EL element surface direction component divided by the vacuum wave number k 0 , that is, the effective refractive index, and the vertical axis represents the light intensity of the wave number, that is, the development.
  • the coefficient is shown.
  • the calculation was performed separately for the TM polarization component and the TE polarization component.
  • This calculation shows the result of an organic EL element in which a flat anode, an organic layer, and a cathode (metal) are laminated on glass. In this case, the peak area on the highest wavenumber side of TM polarized light represents the intensity of the SPP mode light, but it can be seen that most of the light emitted from the organic layer is captured as the SPP mode light.
  • FIG. 15 shows the dependence of the intensity of the light emitted from the organic layer (TM polarization component) by the energy dissipation calculation in the Otto configuration on the thickness of the low refractive index layer.
  • the refractive index of the low refractive index layer 5 is 1.38
  • FIG. 15A shows the cathode and the reflective layer as Al
  • FIG. 15B shows the cathode and the reflective layer as Ag.
  • the change of the peak will be described below with reference to FIGS.
  • the light is completely trapped on the surface of the reflective layer as SPP mode light.
  • the SPP mode light and the waveguide mode light are mixed due to the Otto type arrangement. This means that the extracted SPP mode light becomes waveguide mode light, and is recaptured as SPP mode light in the reflective layer again by interface reflection.
  • the peak width becomes gradually narrower.
  • the film thickness of the low refractive index layer becomes sufficiently large, it becomes as shown in FIG.
  • the Otto type arrangement is used, the evanescent wave at the light emitting point does not reach the reflective layer and is not captured as SPP mode light.
  • the emitted light is captured as guided mode light. That is, when the film thickness of the low refractive index layer exceeds a certain thickness, the trapped light is only guided mode light, so the ease of attenuation does not change and the peak width also does not change.
  • surface plasmon polariton (SPP) trapped on the surface of the reflective layer can be taken out by an evanescent wave generated by light totally reflected at the interface between the cathode and the low refractive index layer. That is, the wave number of this evanescent wave needs to have an intersection with the wave number k SPP of the surface plasmon polariton (SPP) generated on the surface of the reflective layer.
  • the wave number k SPP of the surface plasmon polariton (SPP) generated on the reflective layer surface can be expressed by the following equation (13).
  • ⁇ 1 is the dielectric constant of the reflective layer
  • ⁇ 2 is the dielectric constant of the low refractive index layer
  • k 0 is the wave number of light in vacuum at the maximum peak wavelength of light emitted from the light emitting layer.
  • the real part can be expressed by the following equation (14).
  • SPP surface plasmon polariton
  • the intensity of the surface plasmon polariton (SPP) at the position propagated through the thickness (h 2 ) of the low refractive index layer is approximately when the reflection at each interface is negligible. It becomes.
  • ⁇ SPP is a value obtained by dividing the real part of the in-plane direction component of the surface plasmon polariton (SPP) wave number by the wave number k 0 of light in vacuum.
  • FIG. 18A is a graph showing Expression (16) in the case where the reflective layer is Al and (b) is Ag as the reflective layer.
  • the intensity of the surface plasmon polariton (SPP) generated on the reflection layer surface at the interface between the low refractive index layer and the cathode is 0 in the equation (16). It can be seen that the peak width is saturated to a constant value at a thickness of the low refractive index layer of .4 or less. That is, when the expression (16) is 0.4 or less, it can be said that the intensity of the surface plasmon polariton (SPP) that oozes out to the interface between the low refractive index layer and the cathode is reduced, and the light extraction effect by the Otto type arrangement is reduced. In other words, it can be seen that the light extraction effect by the Otto type arrangement can be sufficiently obtained when the thickness of the low refractive index layer satisfies the expression (16) of 0.4 or less.
  • FIG. 19 shows the dependence of the light extraction efficiency on the distance (pitch) between adjacent anode portions using the finite difference time domain method (FDTD (Finite Difference Time Domain) Method) with respect to the effect of the organic EL element of the present invention.
  • FDTD Finite Difference Time Domain
  • the result of computer simulation is shown.
  • Maxwell's equation describing the time change of the electromagnetic field is differentiated spatially and temporally, and the time change of the electromagnetic field at each point in the space is tracked. More specifically, the light emission in the light emitting layer is regarded as radiation from a minute dipole, and the time change of the radiation (electromagnetic field) is traced.
  • the simulation result shows the result of calculating the light extraction up to the substrate.
  • ⁇ on the horizontal axis is the wavelength
  • ⁇ on the vertical axis is the relative intensity.
  • FIG. 20 is a cross-sectional view showing a model structure of an organic EL element used in the simulation.
  • the refractive index values used for the calculation are as follows.
  • the substrate 1 is made of glass, and a refractive index of 1.52 is used.
  • the anode 2 is made of ITO, the refractive index is 1.82 + 0.009i at 550 nm, and other wavelengths are extrapolated by the Lorentz model.
  • the dielectric layer 7 is made of SOG (spin on glass), and a refractive index of 1.25 is used.
  • the cathode 4 was made of ITO, and the same one as the anode was used.
  • the low refractive index layer 5 is composed of an air layer, and a refractive index of 1.00 is used. Assuming that the metal layer 6 is made of aluminum (Al), the refractive index is 0.649 + 4.32i at 550 nm, and other wavelengths are extrapolated by the Drude model.
  • the thicknesses of the anode 2, the dielectric layer 7, the organic layer 3 composed of layered portions, the cathode 4, the low refractive index layer 5, and the metal layer 6 were 150 nm, 150 nm, 100 nm, 50 nm, 50 nm, and 100 nm, respectively.
  • the period P (distance between the centers) of adjacent anode hole portions was in the range of 500 nm to 900 nm and calculated every 100 nm.
  • the diameter D of the anode hole 2A in each period P was set to 1/2 of the period P.
  • a structure having a cathode side structure with an Otto type arrangement and no first electrode side structure for extracting propagating light to the outside without using it as a guided mode light hereinafter referred to as an Otto type arrangement only structure.
  • the cathode side structure with Otto type arrangement and the structure without the first electrode side structure to extract the propagating light to the outside without using the guided mode light hereinafter sometimes referred to as standard structure). did.
  • the standard structure means a structure in which an anode layer, an organic layer, and a cathode metal layer are formed in this order on a glass substrate.
  • the standard structure was such that the substrate was made of glass, the anode was made of ITO, the organic layer was sandwiched, and the cathode was made of Al.
  • Refractive indexes of 1.52, 1.82 + 0.009i, 1.72, and 0.649 + 4.32i were used, respectively, and the anode, organic layer, and cathode layer thicknesses were 150 nm, 100 nm, and 100 nm, respectively. It was.
  • FIG. 19 (a) and 19 (b) respectively show the radiation intensity ⁇ of the radiated light from the horizontal dipole (light propagating in the direction perpendicular to the substrate (hereinafter also referred to as vertical propagation light)), A radiation intensity ⁇ of light emitted from a dipole in the vertical direction (light propagating mainly in a direction parallel to the substrate (hereinafter sometimes referred to as horizontal propagation light)) is shown.
  • FIG. 19A vertical propagation light
  • the radiation intensity is higher by 30% or more than in the case of the structure of only the Otto type arrangement over the entire visible light range in any case of this embodiment. was gotten. Furthermore, over the entire range of visible light, the result was that the radiation intensity was about 10 times that of the standard structure.
  • the improvement of the radiation intensity of several tens of percent in the case of the present invention compared to the case of the structure having only the Otto type arrangement is due to the refraction effect on the inner side surface 2a of the anode hole portion 2A.
  • the improvement of the radiation intensity in the case of this embodiment is about an order of magnitude, because the cathode side structure of the Otto type arrangement and the refraction effect on the inner side surface 2a of the anode hole 2A.
  • the pitch dependence of the anode portion is observed at a wavelength of 650 nm or less.
  • the radiation intensity was higher by about 20% in the case of 900 nm pitch than in the case of 500 nm pitch.
  • FIG. 21 shows an FDTD in which the dipole as the light source is random (dipole moment is random in the x, y, and z directions) in order to simulate a more realistic light emission phenomenon for the organic EL element of this embodiment.
  • the result of having simulated the light extraction efficiency using the method is shown.
  • FIG. 19 a case where the period P is every 100 nm in the range of 500 nm to 900 nm, a structure having only an Otto type arrangement, and a standard structure are shown. In any case, it can be seen that a remarkable synergistic effect is obtained by combining the cathode side structure of the Otto type arrangement and the anode side structure over the entire visible light range.
  • FIG. 22 is a simulation in which the materials of the cathode 4 and the low refractive index layer 5 of the element of FIG. 20 are changed with respect to the simulation of FIG.
  • the cathode 4 is made of a-ITO (amorphous ITO)
  • the refractive index is 2.08 + 0.0013i at 550 nm
  • the low refractive index layer 5 is made of SOG. 25 was used.
  • the case where the period P of the adjacent anode hole part was 200 nm, 300 nm, 500 nm, 900 nm, 2000 nm, 4000 nm, and 8000 nm was calculated.
  • the diameter D of the anode hole portion 2A in each case was 100 nm, 150 nm, 250 nm, 450 nm, 1000 nm, 2000 nm, and 4000 nm, which are 1 ⁇ 2 of the period P, respectively.
  • a simulation was also performed on an element having the same standard structure as in FIG. 19 and an element structure of the present embodiment and only an Otto type arrangement.
  • the organic EL device of this embodiment has an improved light extraction efficiency as a whole in the period P (200 to 8000 nm) between all anode portions, as compared with the structure having only the Otto type arrangement and the standard structure.
  • the light extraction efficiency is increased when the period P of the anode hole portion is 500 nm to 4000 nm.
  • the light extraction efficiency is remarkably increased when the period P between the anode holes is in the range of 900 to 2000 nm. This result cannot be predicted based on the single structure of the cathode-side structure and the anode-side structure of the Otto type arrangement, but was revealed for the first time by the simulation of the present invention.
  • FIGS. 23A to 23F are the elements of the embodiment used in FIG. 22 described above, from the dipoles in the vertical direction when the period P is 200 nm, 300 nm, 500 nm, 900 nm, 2000 nm, and 4000 nm, respectively.
  • the simulation result by the FDTD method of the intensity distribution of the magnetic field of synchrotron radiation is shown.
  • the wavelength of the emitted light was 620 nm.
  • the substrate is located on the upper side, corresponding to the magnetic field strength distribution of the substrate, anode, organic layer, cathode, low refractive index layer, metal layer, and air in order from the top, and the magnetic field strength increases from blue to red. It is shown that.
  • the shape of each layer is also displayed superimposed on the magnetic field distribution.
  • FIGS. 24A to 24F show simulation results by the FDTD method of the intensity distribution of the electric field of the radiated light from the horizontal dipole for the element of the same embodiment as FIG.
  • the display method is the same as in FIG.
  • the wavelength of the emitted light was 620 nm.
  • FIG. 25A shows an element having a standard structure, and shows a simulation result by the FDTD method of the intensity distribution of the magnetic field of the emitted light from the dipole in the vertical direction.
  • the wavelength of the emitted light was 620 nm.
  • the substrate is located on the upper side, corresponding to the magnetic field strength distribution of the substrate, the anode, and the cathode in order from the top, indicating that the magnetic field strength is strong from blue to red.
  • the right end indicates the light emission position.
  • the substrate 1 is made of glass
  • the anode 2 is made of ITO
  • the organic layer 3 is sandwiched
  • the cathode 4 is made of Al.
  • Refractive indexes are 1.52, 1.74 + 0.013i (Lorentz model), 1.72, 0.810 + 4.86i (Drude model), respectively, and the anode, organic layer, and cathode layer thicknesses are used. Are 150 nm, 100 nm, and 100 nm, respectively.
  • FIG. 25 (a) shows that the SPP is strongly trapped (localized) at the interface between the cathode and the organic layer. It can be seen that it is difficult to emit SPP with the standard structure.
  • FIG. 25B shows the simulation result by the FDTD method of the intensity distribution of the magnetic field of the emitted light from the dipole in the vertical direction for the structure having only the Otto type arrangement.
  • FIG. 24C is an enlarged view of the vicinity of the light emitting layer, and the drawing on the right is a schematic cross-sectional view of the layer structure of the element, in order from the top, substrate, anode, organic layer, cathode, low refractive index layer, metal layer. , Represents that it corresponds to air.
  • the propagation of SPP mode light hardly occurs and is extracted to the organic layer. However, it can be seen that the light in the organic layer is confined as guided mode light, and not so much extracted into the substrate.
  • the second electrode side structure and the first electrode side structure provided with an interface that is perpendicular or nearly perpendicular to the substrate are independent of the second electrode side structure and the first electrode side structure. It turns out that the remarkable effect which cannot be predicted from the improvement effect of light extraction efficiency is produced.
  • the external quantum efficiency of the device was measured using an integrating sphere.
  • the standard structure (solid structure) was 16.9%, but in the case of the present invention, it was 47.3%, which was 2.80 times as large as the standard structure (solid structure). .

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Abstract

この有機EL素子は、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備し、第2電極の、有機層の反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と金属層とを順に具備し、第1電極は、第1電極の屈折率と異なる屈折率を有する誘電体層によってその内側面を被覆された複数の第1電極孔部を備え、有機層は、前記第1電極及び誘電体層と前記第2電極との間に配置する層状部を有するものであり、第2電極は、透光性導電材料からなり、低屈折率層の屈折率は有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする。

Description

有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置
 本発明は、有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置に関するものである。
本願は、2012年10月31日に、日本に出願された特願2012-241334と、2013年6月28日に日本に出願された特願2013-137529とに基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子は、広視野角、高速応答、鮮明な自発光表示等の特徴を有する。薄型軽量で低消費電力であること等の理由から、次世代の照明装置や画像表示装置等の柱として期待されている。
 有機EL素子は、有機発光層で発生した光が取り出される向きに応じて、支持基板側から光が取り出されるボトムエミッション型と、支持基板の反対側から光が取り出されるトップエミッション型とに分けられる。
 例えば、透明基板上に、透明電極、発光層を含む有機層、金属電極を順に備えるボトムエミッション型有機EL素子を考える。このような有機EL素子において、発光層で発光した光のうち、透明基板に垂直に入射した光は透明基板を透過して素子の外部に取り出される。また、発光層で発光した光のうち、透明基板(例えば、ガラス(代表的な屈折率:1.52))と空気(屈折率:1.0)との界面に臨界角以下の小さい入射角(光線と入射面の法線がなす角度)で入射した光は、その界面で屈折して素子の外部に取り出される。本明細書では、これらの光を外部モード(External Mode)光という。
 これに対して、発光層で発光した光のうち、透明基板と空気との界面に臨界角より大きい入射角で入射した光はその界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光を基板モード(Substrate Mode)光といい、これによる損失を基板損失という。
 また、発光層で発光した光のうち、透明導電性酸化物からなる透明電極(例えば、酸化インジウム錫合金(ITO(代表的な屈折率:1.82))と透明基板(例えば、ガラス(代表的な屈折率:1.52))との界面に臨界角より大きい入射角で入射した光もその界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光を導波モード(Waveguide Mode)光といい、これによる損失を導波損失という。
 また、発光層で発光した光のうち、金属陰極に入射して金属電極の自由電子と結合し、表面プラズモンポラリトン(SPP;Surface Plasmon Polariton)として金属陰極の表面に捕捉された光も素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光をSPPモード光といい、これによる損失をプラズモン損失という。
 有機EL素子の光取り出し効率(発光層で発光した光に対して素子の外部に取り出される光の割合)は一般に20%程度に留まっている(例えば、特許文献1)。すなわち、発光層で発光した光のうち、約80%が損失となっている。これらの損失を低減して光の取り出し効率を向上させることが大きな課題となっている。
 ここで、基板モード光の取り出しについては透明基板上に光拡散シートなどを設けることで対処できる(例えば、特許文献2)。しかし、導波モード光及びSPPモード光の低減や取り出し、特にSPPモード光の低減や取り出しについては研究が緒に就いたばかりといえる。
 導波モード光は、光が高屈折率材料から低屈折率材料に入射する際に全反射が起きることにより生じる。そのため、導波モード光を低減するには全反射を起きにくくする、あるいは、全反射を生じる光の割合を低減する方策が知られている。
 特許文献3には、有機発光層の近傍に有機発光層や透明電極よりも屈折率の高い高屈折率層を挿入する構成が開示されている。また、特許文献2には、有機発光層及び透明電極に有機発光層及び透明電極よりも低屈折率の微粒子を分散させることで、等価的に有機発光層及び透明電極の屈折率を下げる構成が開示されている。
また、特許文献4及び特許文献5には、基板上に順に形成された透明電極層及び誘電体層にキャビティを有する構成が開示されている。
このキャビティの側面(基板に対して垂直に延びる界面)に入射する光は、この界面において基板側に屈折する。この効果により、導波モード光の入射角を小さい角度に変えることで全反射を生じる光の割合を低減することができる。
 一方、金属陰極の表面に捕捉されたSPPモード光を取り出す方法として、陰極の表面に周期的な凹凸構造を形成する構成が知られている(特許文献6~9)。
特開2008-210717号公報 特開2011-243625号公報 特開2011-233288号公報 特表2003-522371号公報 特開2011-82192号公報 特開2006-313667号公報 特開2009-158478号公報 特表2005-535121号公報 特開2004-31350号公報
A. Otto, Z. Physik 216, 398 (1968)
 しかしながら、SPPモード光を伝播光として有機層中に取り出しても、その光が導波モード光となって素子の外部に取り出すことができなければ、光取り出し効率を向上させることができない。
 本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、SPPモード光及び導波モード光を効果的に取り出して光取り出し効率が向上した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置を提供することを目的とする。
 本発明者らは、まず、SPPモード光を有機層中に伝播光として取り出し、その次に、その伝播光を導波モード光とせずに素子の外部に取り出すという2ステップの光取り出し機構を想定して多数の構造の中から、光取り出し効率を向上させる有効な構造を鋭意検討した。
 光取り出し効率を直接計測することは困難であるため、主にシミュレーションに基づいて検討を行った。
 本発明の有機EL素子は、発光層を含む有機層を第1電極と第2電極が挟持してなる構造のものである。ここで、上記の2ステップの光取り出し機構は、SPPモード光を生成し、生成されたSPPモード光を有機層中に伝播光として取り出すOtto型配置(非特許文献1)の第2電極側構造と、その伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造とからなる。
 本発明者らは、シミュレーションにより、Otto型配置の第2極側構造と、有機層中に取り出した伝播光を基板側に屈折または指向させる、基板に対して垂直又は垂直に近い界面を備えた第1電極側構造とを組み合わせることにより、かかる第2電極構造及び第1電極側構造の単独の光取り出し効率の向上効果からは予測できないほどの顕著な効果を奏することを見出し、本発明を完成させた。
 上記課題を解決するため、概要を説明した本発明は以下の構成を採用する。
(1)基板上に、陽極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、陰極とを順に具備し、前記陽極側から外部に光を取り出すように構成された有機EL素子であって、さらに、前記陰極の、前記有機層の反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記陽極は、該陽極の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層によってその内側面を被覆された複数の陽極孔部を備え、前記有機層は、前記陽極及び前記誘電体層と前記陰極との間に配置する層状部を有するものであり、前記陰極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い、ことを特徴とする有機EL素子。
(2) 第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、さらに、前記第2電極の、前記有機層の反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを順に具備し、前記第1電極は、複数の第1電極孔部を有し、前記第1電極孔部の内側面を被覆し、前記第1電極の屈折率と異なる屈折率を有する材料からなる複数の第1電極孔部内側面被覆部を備え、前記有機層は、前記第1電極と前記第2電極との間、及び、前記第1電極孔部内側面被覆部と前記第2電極との間に配置する有機層層状部を有するものであり、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする有機EL素子。
(3)第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、さらに、前記第2電極の、前記有機層の反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを順に具備し、前記第1電極は、第1電極層状部により互いに連結された複数の第1電極凸部を有し、前記第1電極凸部の外側面を被覆し、前記第1電極の屈折率と異なる屈折率を有する材料からなる複数の第1電極凸部外側面被覆部を備え、前記有機層は、前記第1電極と前記第2電極との間、及び、前記第1電極凸部外側面被覆部と前記第2電極との間に配置する有機層層状部を有するものであり、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする有機EL素子。
(4)第1電極の有機層と反対側に基板を具備し、前記第1電極孔部内側面被覆部が前記基板の一部として形成されていることを特徴とする(2)に記載の有機EL素子。
(5)第1電極の有機層と反対側に基板を具備し、前記第1電極凸部外側面被覆部が前記基板の一部として形成されていることを特徴とする(3)に記載の有機EL素子。
(6)前記低屈折率層の屈折率はさらに、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする(1)~(5)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(7)前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする(6)に記載の有機EL素子。
(8)前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする(1)~(7)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(9)前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部が基板面内の少なくとも一方向に配列される周期が、500nm~4000nmであることを特徴とする(1)~(8)に記載の有機EL素子。
(10)前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部が、基板面内の少なくとも一方向に周期的に配置し、前記金属層(誘電率ε)、前記低屈折率層(誘電率の実部ε)、及び、前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部の前記一方向の周期(p)が、ある整数N(1≦N≦3)に対して以下の式を満たすように選択されていることを特徴とする(1)~(8)のいずれか一項に記載の有機EL素子;
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 ここで、λは前記発光層のフォトルミネッセンス・スペクトルの最大ピーク波長である。
(11)前記周期が、500nm~4000nmであることを特徴とする(10)に記載の有機EL素子。
(12)(1)~(11)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする画像表示装置。
(13)(1)~(11)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする照明装置。
 本発明によれば、SPPモード光及び導波モード光を効果的に取り出して光取り出し効率が向上した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置を提供できる。
本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図であり、(a)は、誘電体層が、陽極の屈折率より高い材料からなる有機EL素子であり、(b)は、誘電体層が、陽極の屈折率より低い材料からなる有機EL素子である。 Otto型配置を有する陰極側構造を備えた有機EL素子の断面模式図である。 透過型回折格子を備えた陽極側構造を備えた有機EL素子の陽極側構造を含む一部の断面模式図である。 本発明の第1実施形態に係る有機EL素子における回折の効果を説明するための断面模式図である。 本発明の第1実施形態に係る有機EL素子におけるフォトニック結晶の効果を説明するための断面模式図である。 本発明の第2実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。 (a)は、本発明の第一実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための斜視図であり、(b)は、本発明の第二実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための斜視図である。なお、発明の特徴を分かりやすく示すため、Otto構造の部分を離して図示した。 本発明の第3実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の第4実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の有機EL素子を備えた照明装置の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の第1実施形態に係るボトムエミッション構造の有機EL素子の製造方法の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の第1実施形態に係るトップエミッション構造の有機EL素子の製造方法の一例を説明するための断面模式図である。 基板上に、陽極と有機層と陰極(金属)とを有する一般の有機EL素子において、有機層で発光した光を有機EL素子面に垂直な面内における波数で展開するエネルギー散逸計算を行った結果を示す。 Otto型配置におけるエネルギー散逸計算の、低屈折率層の膜厚による依存性を示した図であり、低屈折率層の屈折率を1.38とし、(a)は反射層をAlとし、(b)は反射層をAgとした場合の結果を示した図である。 図15におけるピークの変化を説明するための、本発明の一実施形態に係る有機EL素子の断面模式図である。 図15におけるエネルギー散逸計算の結果において、低屈折率層の膜厚に対するピーク幅の変化を示した図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL素子において、(a)は反射層をAl、(b)は反射層をAgとした場合の式(16)をグラフ化した図である。 本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の放射強度(相対値)について行った、コンピュータシミュレーションの結果を示す図であり、(a)は水平方向のダイポールからの放射光(基板に対して垂直方向に伝播する光(以下、タテ伝播光ということがある))の放射強度、(b)は垂直方向のダイポールからの放射光(基板に対して主に平行方向に伝播する光(以下、ヨコ伝播光ということがある))の放射強度ηを示した図である。 図19のシミュレーションを行った構造を説明するための断面模式図である。 本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の放射強度(相対値)について行った、発光源であるランダムのダイポールからの放射光(ダイポールのモーメントがx、y、z方向にランダム)の放射強度ηを、コンピュータシミュレーションした結果を示す図である。 本発明の第1実施形態の有機EL素子の放射強度(相対値)について、ピッチ)の依存性を調べたコンピュータシミュレーションの結果を示す図である。 本発明の第1実施形態の有機EL素子について垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものであり、(a)~(f)は、それぞれピッチが200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nmのものである。 本発明の第1実施形態の有機EL素子について水平方向のダイポールからの放射光の電場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものであり、(a)~(f)は、それぞれピッチが200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nmのものである。 は、(a)は標準構造の有機EL素子、(b)はOtto型配置の第2電極側構造を有し、それ以外はベタ構造((b)の右図参照)の有機EL素子について、垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布をFDTD法のシミュレーションで得られた結果を示すものであり、(c)は(b)の発光層近傍の拡大図であり、その右の図は構造の断面模式図である。
 以下、本発明を適用した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置について、図面を用いてその構成を説明する。以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合がある。各構成要素の寸法比率などは実際と同じであるとは限らない。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。
本発明において、第1電極及び第2電極は一方が陽極で他方が陰極であるが、以下では、第1電極を陽極、第2電極を陰極とする構成を例に挙げて説明する。また、本発明の有機EL素子は本発明の効果を損ねない範囲で以下に記載していない層を備えてもよい。
(有機EL素子)
 図1(a)、(b)は、本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 図1(a)、(b)に示す有機EL素子10は、第1電極の一例である陽極2と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層3と、第2電極の一例である陰極4とを順に具備し、陽極2側から外部に光を取り出すように構成されている。さらに、有機EL素子10は、陰極4の、有機層3の反対側に、低屈折率層5と金属層6とを順に具備している。
 陽極2は、複数の陽極孔部2Aを備えている。陽極孔部2Aの内側面2aは、陽極孔部内側面被覆部の一例である誘電体層7によって被覆されている。誘電体層7は、陽極2の層内に島状に散在する構成である。また、誘電体層7は、陽極2の屈折率と異なる屈折率の材料からなる。有機層3は、陽極2及び前記誘電体層7と前記陰極4との間に配置する層状部(有機層層状部)を有している。陰極4は、透明導電材料(透光性導電材料)からなる。低屈折率層5の屈折率は、有機層3の屈折率よりも低い。誘電体層7は陽極孔部2Aの内側面2aの他、陽極2の有機層側の面の一部を被覆する構造でもよい。また、陽極孔部2Aは、陽極2を貫通する孔に限定されず、陽極孔部2Aは陽極2を貫通しない穴であってもよい。
 図1(a)、(b)は、基板1が陽極2側に配置されるボトムエミッション構造の一例である。図1(a)は、誘電体層が、陽極の屈折率より高い材料からなる有機EL素子である。図1(b)は、誘電体層が、陽極の屈折率より低い材料からなる有機EL素子である。一方、トップエミッション構造とは、基板1が金属層6側に配置されている場合である。本発明の有機EL素子は、ボトムエミッション構造、トップエミッション構造のいずれを適用してもよい。以下、基板1が陽極2側に存在する、ボトムエミッション構造を例に説明する。
 なお、上記のように陰極側の構造について屈折率の比較を行う場合には、有機層の屈折率とは、有機EL材料からなる発光層を含む全ての層の平均の屈折率をいう。
隣接する陽極孔部2Aが基板面内の少なくとも一方向に配置される周期(ピッチ)が、発光光の波長以上において、陽極孔部2Aの形状はその内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はない。誘電体層が、陽極の屈折率より高い材料からなる場合は、導波モード光をより垂直に屈折させる観点からは基板1側の底面積より陰極4側の上面面積が小さい形状が好ましい。図1(a)で示した例では、その内側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成に限定されない。
 陽極孔部2Aの内側面2aが基板面に対する角度は45~90°が好ましく、60~90°がより好ましく、75~90°がより一層好ましい。陽極孔部の内側面2aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう導波モード光とSPPモード光から再放射された伝播光が陽極孔部の内側面2aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出されやすくなる。
誘電体層が、陽極の屈折率より低い材料からなる場合は、導波モード光をより垂直に屈折させる観点からは基板1側の底面積より陰極4側の上面面積が大きい形状が好ましい。
 陽極孔部2Aの内側面2aが基板面に対する角度は90°~135°が好ましく、90°~120°がより好ましく、90°~105°がより一層好ましい。陽極孔部の内側面2aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう導波モード光とSPPモード光から再放射された伝播光が陽極孔部の内側面2aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出されやすくなる。
 一方で、隣接する陽極孔部2Aの周期が発光光の波長と同等以下の場合においては、陽極孔部2Aの形状は、回折の効果やフォトニック結晶による効果を奏するものであれば特に限定はされない。発光した光をより基板側に取り出す観点からは、陽極孔部2Aの内側面2aは基板面に対して垂直に近いことが好ましい。
 これは陽極孔部2Aの内側面2aが基板面に対して垂直であることによって、陽極孔部2Aの内側面2aを横切る基板面内方向において、屈折率の変調が急峻になるためである。屈折率の変調が急峻な場合は、フォトニック結晶では基板面内方向に光が伝播できなくなるバンドギャップの周波数域が広くなり、より効率的に有機層3から外部へ取り出すことができる。また回折格子でも屈折率の変調が急峻な場合は、基板方向への光の回折効率が向上するため、同様に素子外部への光取り出しが向上する。
 以上、ボトムエミッション構造を例に説明したが、これらのことはトップエミッション構造についても同様である。
 本発明の有機EL素子に共通する陰極側の構成である、金属層/低屈折率層/陰極/有機層の積層構造において、低屈折率層の屈折率が有機層の屈折率よりも低い構成としては、低屈折率層、陰極、有機層の屈折率をそれぞれn、n、nとすると、n<n<nの場合(以下「Bパターン」という)、n<n<nの場合(以下「Cパターン」という)と、n<n<nの場合(以下「Dパターン」という)の3通りがある。ところで、Otto型配置では、金属層/低屈折率層/高屈折率層の順で層を配置する必要がある。ここで、Bパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto配置になっている。また、Cパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto配置である他、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成もOtto配置になっている。さらに、Dパターンの場合は、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成がOtto型配置になっている。
 B~Dパターンで最も好ましいのは、Cパターンである。この場合は、まず、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成がOtto配置になっていると共に、金属層/低屈折率層+陰極(透明導電層)/有機層の構成でもOtto配置になっているため、金属層からSPPモード光の再放射が最も生じやすい。さらに、低屈折率層、陰極(透明導電層)、有機層の順に屈折率が高くなるため各界面で全反射が生じず、再放射されたSPPモード光がそのまま基板側へ取り出される。この具体的な構成としては、低屈折率層が空気やSOG(スピンオングラス)で、陰極(透明導電層)がITOなどの透明導電材料層である場合が挙げられる。
 次に好ましいのは、Bパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成がOtto配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。但し、有機層の屈折率が低屈折率層と陰極(透明導電層)の中間の値なので再放射されたSPPモード光のうちの一部の光は陰極(透明導電層)/有機層の界面で全反射して、残りの光が有機層に透過する。
 次に好ましいのは、Dパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成はOtto型配置になっていない。一方で、金属層/低屈折率層+陰極(透明導電層)/有機層の構成はOtto型配置になっているため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。そのため、Bパターンの場合よりもSPPモード光の再放射が少なくなる。この具体的な構成としては、屈折率の大小関係でn<nを満たすように陰極(例えばITO)と有機層を選び、低屈折率層としてその屈折率nがnとnの中間となるような材料、例えば、Bパターンの屈折率条件を満たすSOGを採用すればよい。
 なお、n<n<nの場合(以下「Eパターン」という)、n<n<nの場合(以下「Fパターン」ということがある)ではOtto型配置にはならない。また、n<n<nの場合(以下「Aパターン」という)では、金属層/低屈折率層/陰極がOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射は生じるが、有機層の屈折率が低屈折率層よりも低いため、再放射されたSPPモード光のほとんどが陰極(透明導電層)/有機層の界面で全反射してしまい、陽極側の導波モードに取り出すことが困難である。
 ボトムエミッション型に適用する場合、基板は透光性の基板であり、通常、可視光に対して透明であることが好ましい。ここで、「可視光に対し透明である」とは、発光層から発する波長の可視光を透過することができればよいという意味である。可視光領域全域にわたり透明である必要はない。400~700nmの可視光における透過率が50%以上で、平滑な基板が好ましい。また、透過率が70%以上であることがより好ましい。
 具体的には、ガラス板、ポリマー板等が挙げられる。ガラス板としては、特にソーダ石灰ガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、鉛ガラス、アルミノケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英等が挙げられる。またポリマー板としては、ポリカーボネート、アクリル、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルサルファイド、ポリサルフォン等を挙げることができる。
 なお、発光光が可視光でない場合は、少なくとも発光波長領域に対して、可視光の場合と同様に透明であることが必要である。透過率としては、発光が最大強度となる波長に対し、50%以上であることが好ましく、70%以上であることが更に好ましい。
 トップエミッション型に適用するためには、上記記載と同様なものの他に、不透明なものも使用することができる。具体的には、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)、タングステン(W)、チタン(Ti)、タンタル(Ta)、ニオブ(Nb)の単体、または、これらの合金、あるいはステンレスなどの材料からなる基板、その他のトップエミッション型の有機EL素子で通常用いられる基板を用いることができる。
 基板1の厚さは、要求される機械的強度にもより、特に限定されないが、好ましくは、0.01mm~10mm、より好ましくは0.05mm~2mmである。
陽極2は陰極4との間で電圧を印加し、陽極2より発光層に正孔を注入するための電極である。仕事関数の大きい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましい。HOMO(Highest Occupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が4eV以上6eV以下のものを用いるのが好ましい。陽極2の材料としては透光性でかつ導電性の材料であれば特に制限はない。例えば、酸化インジウム錫合金(ITO)、酸化亜鉛錫合金(IZO)、酸化錫、酸化亜鉛などの透明無機酸化物(PEDOT:PSS)、ポリアニリンなどの導電性高分子および任意のアクセプタなどでドープした導電性高分子、カーボンナノチューブなどの導電性光透過性材料、薄膜金属、これらを含む複合材料を挙げることができる。ここにおいて、陽極2は、基板1上に例えば、スパッタ法、真空蒸着法、塗布法、CVD法、イオンプレーティング法などによって形成することができる。
陽極2の厚さは特に限定されない。例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。10nmより薄いと、陽極2のシート抵抗が増大し、また、2000nmより厚いと有機層3の平坦度を保てなくなると共に、陽極2の透過率が低下する。
 誘電体層7は、陽極2の陽極孔部2Aの内側面2aを被覆しており、陽極2の屈折率と異なる屈折率を有する材料からなる。
 誘電体層7をかかる構成及び材料としたのは、光取り出し効率を向上させるためである。陽極孔部2Aの内側面2a(基板1の基板面に対して、垂直又は垂直に近い方向に延びる陽極2と誘電体層7との界面)に入射する光を、この界面において基板1側に屈折させる。この、導波モード光の入射角を小さい角度に変えることで全反射を生じる光の割合を低減させ、光取り出し効率を向上させる(図1(a)、図1(b)参照)。
 誘電体層7の材料としては、透光性でかつ陽極の屈折率と異なる屈折率を有する材料であれば特に制限はない。陽極2の材料が酸化インジウム錫合金(ITO(屈折率1.82))である場合は、例えば低屈折率の材料としては、スピンオングラス(SOG(屈折率の一例:1.25))、フッ化マグネシウム(MgF(代表的な屈折率:1.38))等の金属フッ化物、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE(代表的な屈折率:1.35))等の有機フッ素化合物、二酸化ケイ素(SiO(代表的な屈折率:1.45))、各種の低融点ガラス、多孔性物質等が挙げられる。一方、高屈折率の材料としては、窒化ケイ素(Si)(代表的な屈折率:2.0)をはじめとするケイ素化合物、酸化チタン(TiO)(代表的な屈折率:2.5)をはじめとする金属酸化物、窒化アルミニウム(AlN)(代表的な屈折率:2.2)をはじめとする金属窒化物や、陽極2の材料の屈折率によっては、アルミニウム酸窒化物(AlON)(代表的な屈折率:1.8)やケイ素酸窒化物をはじめとする金属酸窒化物、ポリエチレンナフタレート(代表的な屈折率:1.8)をはじめとする高分子化合物樹脂、SOG(屈折率が1.8以上のもの)などが挙げられる。
 誘電体層7の厚さは特に限定されない。例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。10nmより薄いと陽極に対する誘電体層7の体積が小さくなり、導波モード光が屈折または回折されにくくなる。また、2000nmより厚いと有機層3の平坦度を保ちにくくなる。
誘電体層7は、絶縁体でも導性を有していてもよい。誘電体層7が導電体の場合、素子を駆動させると陽極2/有機層7/陰極4という導電パスのほか、陽極2/誘電体層7/有機層3/陰極4といった導電パスも生じる。これにより、有機層3内の面内輝度分布が一様となり、素子の輝度を向上させることができる。一方、誘電体層7が絶縁体である場合は、上記の誘電体7を透過する導電パスが生じない。そのため、誘電体7と陰極4を結ぶ最短直線状の輝度が低下する。ただしこの場合でも、この誘電体層7上に導電性のバッファ層を敷くことによって有機層3の面内輝度を一様にすることが可能である。
誘電体層7を形成した後、陽極2および誘電体層7の陽極側の表面に、膜質改善を目的とした各種の表面処理を行うことができる。また、誘電体層7が絶縁体である場合は、表面処理として導電膜を成膜することにより、前記のように有機層内の面内輝度を一様にして、輝度を向上させることができる。
 陰極4は、発光層に電子を注入するための電極であり、仕事関数の小さい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましい。陽極2に接する有機層3のLUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が1.9eV以上5eV以下のものを用いるのが好ましい。
 陰極4の材料としては、Otto型配置の陰極側構造を形成するために、透光性の導電材料とする必要がある。そのため、上記の陽極の材料として挙げたものと同じものを用いることができる。
 陰極4の厚さは特に限定されないが、例えば30nm~1μmであり、好ましくは50~500nmである。30nmより薄いとシート抵抗が増加して、駆動電圧が上昇し、また、1μmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
 有機層3は、陽極2及び誘電体層7と陰極4との間に配置される。図1(a)、(b)に示す有機層3は、有機層層状部のみからなる構成であるが、有機層3の少なくとも一部が層状部で構成されればよく、層状部のみからなる場合に限定されない。
 発光層の材料としては、有機EL素子用の材料として知られる任意の材料を用いることができる。
 また、有機層3は、有機EL材料からなる発光層(有機発光層)の他、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層等を備えてもよい。
 正孔注入層は陽極2から有機層3への正孔注入を助ける層であり、イオン化エネルギーが通常5.5eV以下と小さい。このような正孔注入としてはより低い電界強度で正孔を発光層に輸送する材料が好ましい。形成する材料としては、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。また、正孔輸送層は発光領域まで正孔を輸送する層であって、正孔移動度が大きい。このような正孔輸送層として形成する材料は、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。
電子注入層は陰極4から有機層3への電子の注入を助ける層である。このような電子注入層としてはより低い電界強度で電子を有機層3に注入する材料が好ましい。形成する材料としては、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。また、電子輸送層は発光領域まで電子を輸送する層であって、電子移動度が大きい。このような電子輸送層として形成する材料は、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。
 有機層3は、蒸着法、転写法などの乾式プロセスによって成膜してもよいし、スピンコート法、スプレーコート法、ダイコート法、グラビア印刷法など、湿式プロセスによって成膜してもよい。
 有機層3の厚さは、特に限定されないが、例えば50~2000nmであり、好ましくは100~1000nmである。50nmより薄いと突き抜け電流による内部量子効率の低下や損失性表面カップリング(lossy surface Coupling)など、金属によるSPPカップリング以外の消光が起こり、また、1000nmより厚いと駆動電圧が上昇する。
 低屈折率層5は、陰極4の、有機層3とは反対側に備えられており、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有する材料からなることが好ましい。
 発光層で発光した光が陰極側に伝播し、陰極4と低屈折率層5との界面に達したとき、臨界角以上の角度で入射したときに全反射が起きる。
 このような低屈折率層5の材料としては、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有する材料であれば特に制限はない。例えば、この屈折率条件を満たすSOG、フッ化マグネシウム(MgF(代表的な屈折率:1.38))等の金属フッ化物、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE(代表的な屈折率:1.35))等の有機フッ素化合物、二酸化ケイ素(SiO(代表的な屈折率:1.45))、各種の低融点ガラス、多孔性物質などが挙げられる。また、低屈折率層15は、空気層を含む層からなるものであってもよい。
また低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも0.2以上小さい材料からなることが好ましい。これは、前記第2電極や前記有機層がOtto型配置の高屈折率層に相当し、Otto型配置で低屈折率層と高屈折率層の屈折率差が0.2以上あれば、SPPモード光の波数の面内成分が小さくなるため、高屈折率層中の伝播光とSPPモード光の分散曲線交わるようになり、Otto型配置によるSPPモード光の高屈折率層中への取出し効率が上がるためである。
低屈折率層5の厚さは、20nm以上300nm以下であることが好ましい。厚みが20nm以下では、低屈折率層5の膜厚が薄すぎるため、金属層と高屈折率層が接近してSPPモード光の面内波数成分が大きくなる。面内波数成分が多くなると、分散曲線が高屈折率層中の伝播光の分散曲線と交わらなくなり、SPPモード光が高屈折率層中に取り出されにくくなる。300nm以上では、低屈折率層15の膜厚が厚すぎるため、エバネッセント波が金属層16に届かなくなり、SPPモード光が高屈折率層中に取り出されにくくなる。200nm以下であることがより好ましい。
 金属層6は、陰極4の、有機層3とは反対側に低屈折率層5を介して備えられている。
 金属膜6の材料としては発光層における発光光によりプラズモン共鳴が生じるものであればよいのでほとんどの金属の単体または合金を用いることができる。複素誘電率の実部が負で、実部の絶対値が大きな値を持つような材料が好ましい。かかる材料としては例えば、金、銀、銅、亜鉛、アルミニウム、マグネシウム等の単体や、金と銀との合金、銀と銅との合金、真鍮等の合金が挙げられる。また、金属層6は、2層以上の積層構造であってもよい。
 金属層6の厚さは特に限定されない。例えば20~2000nmであり、好ましくは50~500nmである。20nmより薄いと反射率が低くなり正面輝度が低下し、また、500nmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
次に、本発明の有機EL素子の、Otto配置による第2電極構造の作用効果について説明する。以下は、計算式に基づく原理的な説明であるため、第1電極と第2電極をそれぞれ陽極または陰極の一方に対応させることはせずに、第1電極及び第2電極のまま記述する。
 平坦な金属表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の角振動数をωsp、波数の基板面内方向成分の実部をkspとすると、この分散関係(角振動数と波数の間の関係)は、金属の誘電率の実部εと、金属表面に接触する誘電体の誘電率εによって決まり、近似的に次式(2)によって与えられる(cは真空中の光の速さ)。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 これに対して、通常の伝播光の分散関係は、角振動数をω、波数ベクトルをkとして、次式(3)によって与えられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 表面プラズモンポラリトン(SPP)の分散曲線は通常の伝播光の分散直線と交差しない。そのため、通常の伝播光では平坦な金属表面にSPPを励起することはできず、また、平坦な金属表面に存在するSPPから直接伝播光を取り出すことはできない。
 これに対して、Otto型配置(高屈折率誘電体層(誘電率ε)/低屈折率誘電体層(誘電率ε)/金属層(誘電率ε)の積層構造)を用いた場合について考える。ここで、高屈折率誘電体層側から臨界角より大きい入射角で入射した光は、高屈折率誘電体層と低屈折率誘電体層の界面で全反射する。この際、界面の低屈折率誘電体層側には非伝播光であるエバネッセント波が生じ、全反射の点から遠ざかるに連れてその光強度は減衰する(入射光は界面で全反射するが、その一部は界面から滲み出して存在していると見ることができる)。このエバネッセント波の分散曲線は、次式(4)によって与えられる。θは高屈折率誘電体層から低屈折率誘電体層への入射光の入射角である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 従って、入射角θを変えることにより、SPPの分散曲線と全反射によるエバネッセント波(以降、単に「エバネッセント波」と言う場合も、全て全反射によって生じたものを指すものとする)の分散直線に交点(ω=ωsp、k=ksp)を持たせることが可能となる。すなわち、エバネッセント波を用いれば、平坦な金属表面にSPPを励起することができる。また、平坦な金属表面に存在するSPPからエバネッセント波を介して高屈折率誘電体層中に伝播光として取り出すことが可能となる。ここで、「入射角θ」は、金属層側からみると、SPPの放射角度になる。
 言い換えると、Otto型配置を用いると、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線とが交差するようになる。これは、所定の角度で放射されるSPPだけが、SPPとエバネッセント波とが共鳴することによりエネルギーをやり取りできる状態となることを意味している。そして、SPPを、エバネッセント波を介して伝播光として取り出すことが可能となる。
 従って、有機EL素子において、例えば、有機層に隣接して高屈折率層/低屈折率層/金属層を設けると、有機層で発光した光のうち、所定の入射角(SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線とが交点を有する角度)で高屈折率層から高屈折率層/低屈折率層の界面へ入射した光はエバネッセント波を生じる。そのエバネッセント波が金属表面にSPPモード光を励起する。また、金属表面に励起されたSPPモード光はOtto配置構造において生成されるエバネッセント波を介して所定の角度で放射される伝搬光として有機層中へ取り出すことが可能となる。すなわち、有機EL素子において、Otto配置構造を導入することにより、金属層表面に生じたSPPモード光を所定の角度で有機層中を伝播する伝播光として取り出すことが可能となる。ただし、エバネッセント波を介したSPPモード光の励起・取り出しは式(1)を満たす薄膜である場合に生じる。これは、低屈折率層が厚すぎると、有機層からのエバネッセント波の沁み出しが金属層まで到達せず、エバネッセント波とSPPモード光同士がエネルギーをやりとりできないためである。一方、低屈折率層が薄すぎると、金属層と高屈折率層が接近してSPPモードの波数が(2)式より大きくなり、分散曲線が伝播光の分散曲線(3)と交わらなくなるためである。
 こうしてSPPから取り出される光は上記の通り、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線との交点に対応する所定の角度を有して放射される。
 次に、本発明の有機EL素子の第1電極側構造の作用効果について以下に説明する。
 第1電極側構造としては、有機層中を伝播する光が基板側に屈折または回折して第1電極と基板界面もしくは基板と外部(例えば空気)との界面への入射角が小さくなるように、基板面に対して垂直又は垂直に近い屈折率の界面を導入した。
 より具体的には、第1電極に孔部を設け、その孔部内側面を第1電極と異なる屈折率の材料からなる誘電体層で被覆する構造とすることにより、基板面に対して、垂直又は垂直に近い屈折率の界面として、第1電極と誘電体層との界面を導入する。
 また、第1電極に凸部を設け、その凸部外側面を誘電体層で被覆する構造とすることにより、基板面に対して、垂直又は垂直に近い屈折率の界面として、第1電極と誘電体層との界面を導入してもよい。
 第1電極側構造は、基板面内方向に周期性を有する構造であっても、周期性を有さない非周期的な構造であってもよい。
 第1電極側構造が周期性を有する場合、すなわち屈折率が互いに異なる誘電体層と第1電極が基板面内方向に1次元もしくは2次元的に周期的に並ぶ場合には、屈折の効果に加えて、透過型回折格子(以下、単に「回折格子」という)による回折効果(基板面に対して所定の角度に指向させる効果)や、フォトニック結晶による効果(特定の方向・周波数の光伝播を禁制する効果)によって、導波モード光を基板側に取り出すことが可能となる。
 第1電極側構造の屈折率変調構造の周期(ピッチ)が、発光光の波長より大きい場合は、屈折率が互いに異なる媒質界面での屈折が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されると考えられる。一方、第1電極の屈折率変調構造の周期(ピッチ)が発光光の波長と同等以下である時は、回折格子の効果やフォトニック結晶の効果が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されていると考えられる。
 第1電極側構造が周期性を有し、透過型回折格子として機能する場合について、光取り出し効率が向上する原理を、図2及び図3を用いてより具体的に説明する。
 図2は、Otto型配置を有する第2電極側構造を備えた有機EL素子の断面模式図である。図2を用いて、この第2電極側構造によりSPPモード光を導波モード光として取り出す原理についてまず説明する。なお、図2では第1電極側構造については省略している。
 ここで、nsubは基板の屈折率、nOLEDは第1電極、有機層及び第2電極の平均の屈折率、ε1は金属層の誘電率、εは低屈折率層の誘電率、kspはSPPモード光の波数ベクトル、kは真空中の光の波数、高屈折率層中を伝播する光の、伝播角をθとする。
 SPPモード光の波数kspは式(2)から式(5)によって与えられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 SPPモード光とそれが再放射され、伝播光として取り出されるためには、SPPモード光とその取り出される光とで波数ベクトルの面内成分が一致する、すなわち、式(11)が成立する必要がある。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 式(5)及び式(6)から、SPPモード光は以下の式(7)を満たす角度で伝播光として取り出される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 次に、回折格子によって、そのSPPモード光から取り出された光を外部に取り出す原理について説明する。
図3は、透過型回折格子を備えた第1電極側構造の一部の断面模式図である。
SPPモード光から所定の角度θで取り出された光が格子間隔(屈折率変調の周期)pを有する回折格子によって回折されるとする。基板面に対して所定の角度θsubで基板側に回折する条件は、回折格子に入射する入射光の面内波数と回折光の面内波数との差が2π/pの整数倍であることである。そのため、以下の式(8)で表すことができる。ここで、N=0、±1、・・・である。
 なお、図3において、「OLED積層部」とは、第1電極及び有機層を含む導波モード光が伝播する層を示すものである。具体的な層構成は本発明の具体的な構成に依存する。また、「回折格子」を備える位置も本発明の具体的な構成に依存する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 式(7)及び式(8)から、式(9)が得られる。ここで、λは、回折格子で回折される光の真空中での波長である。以下特に断りのない場合、波長と言えば真空中の波長を表すものとする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 基板と空気の界面で全反射が起きない条件は、式(10)を満たすことである。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
 従って、回折格子の格子間隔が以下の式(11)を満たすような回折格子を設けることにより、基板と空気の界面で全反射を生じさせない。その結果、光取り出し効率は向上する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
 ここで、SPP共鳴を生じる周波数域においては、ε<0、ε<|ε|であるため、式(11)中のNは正の整数としてよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013
さらに、基板と空気の界面でのフレネル反射を抑えるためには、式(11)はおおよそ次の式(1)を満たしていることが望ましい。また、実際の有機EL素子の発光波長はスペクトル分布をもつため、式(1)のλとしては発光層の発光スペクトルの最大ピーク波長を採用する。最大ピーク波長としては、フォトルミネセンス・スペクトルの最大ピーク波長を用いることができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014
Nは回折次数であり、任意の整数であるが、回折次数が大きくなりすぎると回折光の指向性が低下する。そこで、式(1)を満たすようなNが1≦N≦3の範囲にあるようにピッチpと波長λを選ぶことが好ましい。
 以上の理論的な解析は1次元的な解析である。1次元回折格子構造(格子が、所定の一方向に規則的な間隔で配置される回折格子構造)については、この解析に基づく回折効果が得られる。1次元回折格子構造では、その一方向に直交する方向については格子構造を有さないため、その直交方向の光(光の成分)に対しては回折効果を生じない。これに対して、2次元回折格子構造では、基板面内のさらに別の一方向に対しても回折格子構造を有する。従って、その方向についても回折効果が追加されることになる。よって、2次元回折格子構造では、1次元回折格子構造よりも回折効果が大きい。
 したがって、所定の断面において、式(1)の条件を満たす構成を備えた有機EL素子では、その構成が1次元回折格子構造でも2次元回折格子構造でも、光取り出し効率の向上が得られるのである。
 次に、フォトニック結晶の効果による光の取り出し効率の向上について説明する。
 フォトニック結晶は、屈折率が周期的に異なる構造体で、特にその周期が波長と同等以下である構造体のことである。この周期的構造により、特定の波長範囲の光が存在できない禁制帯(フォトニックバンドギャップ)が形成される。本発明の第1電極側構造が周期的な屈折率変調構造で、その周期が波長と同等以下である場合には、第1電極側構造を1次元または2次元のフォトニック結晶(それぞれ、基板面内の所定の一方向または二方向に規則的な間隔で格子が配列するフォトニック結晶構造)と見なすことができる。1次元のフォトニック結晶では、周期構造を有する一方向に対しては、フォトニックバンドギャップに相当する波長の光は伝播することができない。このため、面内以外の方向へ光の伝播が再分配され、光を基板側に取り出すことができる。ただし、1次元フォトニック結晶構造では、その一方向に直交する方向については周期構造を有しない。そのため、この方向についてはフォトニックバンドギャップが存在せず、これによる取り出し効果はないか、あるとしても非常に小さい。
一方、2次元フォトニック結晶構造では面内の互いに異なる2方向に対して格子構造を有する。そのため、この2方向に対してはフォトニックバンドギャップが形成され、光が伝播できないことになる。よって、2次元のフォトニック結晶では面内で光が伝播できない方向が増大するため、1次元構造よりもより効率的に基板へ光が取り出される。
 第1電極側構造が、周期性を有していない非周期的な構造の場合は、この第1電極構造に入射した光がランダムな位置・位相で回折されるため、特定の放射角度に光が強め合って放射されることはない。したがって、第1電極側にこのような構造を持つことによって、比較的均一な(拡散性の高い)配向特性を得ることができる。
 つまり、第1電極側構造が周期的な構造の場合は、回折格子による出射光の強め合いの効果により、ある特定の放射角の光強度が強くなる配向特性を得ることができる。一方で、第1電極構造が非周期的な構造の場合は、比較的均一な配向特性を得ることができる。
 そのため、第1電極側構造は、必要に応じて周期的な構造にするか、非周期的な構造にするかを選択することできる。
 次に、第1実施形態の有機EL素子の屈折による作用効果を、図1(a)、(b)を用いて模式的に説明する。図1(a)、(b)に矢印で示した光の伝播の仕方は、屈折による作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
光の伝播の仕方は誘電体層7の屈折率と陽極2の屈折率の大小関係によって異なり、図1(a)は前者が後者の屈折率より高い場合の説明図、図1(b)は前者が後者の屈折率より低い場合の説明図である。
まず、誘電体層7の屈折率と陽極2の屈折率の大小関係によらない。有機層3に含まれる発光層のAo点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面で臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印A1)全反射した場合(矢印A1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印A2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで滲み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印A3)が励起される。
 励起されたSPPモード光は、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
 図1(a)、(b)において、発光点(あるいは発光箇所)Aoは平面視して陽極2と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点Aiは平面視して陽極孔部と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点Aeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「in発光」及び「in-out端発光」については、陰極4と低屈折率層5との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 また、この作用効果の説明では「out発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「in発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印A3)励起後の光の伝播は「out発光」の場合と同様である。
 電流は陰極と陽極との間に流れるので、この場合は、発光点Aoは発光点Aiよりも電流密度が高いルートに位置するため、「out発光」の方が「in発光」より発光量が多い。
 誘電体層7が陽極2の屈折率より高い材料からなる場合は、図1(a)のように、陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)から有機層3のA点にまで取り出された光は、AD1のように伝播して基板1まで取り出される。
 すなわち、A点から有機層3を通って進む光AD1は、有機層3と誘電体層7との界面で屈折し、誘電体層7を透過する。さらにその光は、陽極2と誘電体層7との界面(陽極孔部2Aの内側面2a)で基板1側へ屈折して進む。陽極2と基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光AD1が誘電体層7から陽極2へ進む際、誘電体層7と陽極2との界面(陽極孔部2Aの内側面2a(基板1の基板面に対して垂直に延びる陽極2と誘電体層7との界面))における屈折により、光AD1の基板1への入射角はより小さい角度(基板1の基板面に対して垂直方向により近い角度)に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射すると全反射となるが、この陽極孔部2Aの内側面2aでの屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面で全反射をしない光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、陽極孔部2Aの内側面2aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 この構成においては、陰極4と陽極2との間の最短距離近傍が最も電流密度が高く、発光量が多くなる。有機層3に含まれる発光層のP点での発光は、発光量が多くなる「out発光」であり、この点での発光を模式的に示すものである。
有機層3に含まれる発光層のP点で発光した光のうち、光PD1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光である。基板1との界面で屈折することなく基板1内を進み、外部に取り出される。
また、光PD2は、陽極孔部2Aの内側面2a(基板1の基板面に対して垂直に延びる、陽極2と誘電体層7との界面)で屈折し、陽極2を透過する。さらに、陽極2と基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。
ここで、光PD2が誘電体層7から陽極2へ進む際、誘電体層7と陽極2との界面(陽極孔部2Aの内側面2a)での屈折により、基板1への入射角が小さい角度(基板1の基板面に対して垂直方向により近い角度)に変わる。陽極2と基板(例えば、ガラス)1の界面、及び、基板1と空気との界面では臨界角以上の角度で入射すると全反射となる。しかし、この陽極孔部2Aの内側面2aでの屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、基板と空気との界面で全反射をしない光が増えて光取り出し効率が向上する。
一方、誘電体層7が陽極2の屈折率より低い材料からなる場合は、図1(b)のように励起されたSPPモード光A3がエバネッセント波との共鳴を介して有機層3中に取り出されるまでは,誘電体層7が陽極2の屈折率より高い材料からなる場合(図1(a) )と同様である。
有機層に取り出された光は図1(b)に示す光AD1のように伝播して、基板1まで取り出される。すなわち、A点から有機層3を通って進む光AD1は、誘電体層7と陽極2との界面(陽極孔部2Aの内側面2a)で屈折し、誘電体層7内を進む。このとき誘電体層7と陽極2の界面での屈折により、陽極2と基板1の界面、及び基板1の外表面への入射角がより小さい角度に変わる。これらの界面での全反射が抑えられ、光線AD1が導波モード光や基板モード光となるのを防ぐことができ、光取出し効率が向上する。
有機層3に含まれる発光層のP点で発光した光のうち、光PD1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光である。基板1との界面で屈折することなく基板1内を進み、外部に取り出される。
また、光PD2は、陽極孔部2Aの内側面2a(基板1の基板面に対して垂直に延びる、陽極2と誘電体層7との界面)で屈折し、誘電体層7を透過する。さらに、誘電体層7と基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出される。
ここで、光PD2が陽極2から誘電体層7へ進む際、陽極2と誘電体層7の界面(陽極孔部2Aの内側面2a)での屈折により、基板1への入射角が小さい角度(基板1の基板面に対して垂直方向により近い角度)に変わる。陽極1と基板(例えば、ガラス)1の界面、及び、基板1と空気との界面では臨界角以上の角度で入射すると全反射となる。しかし、この陽極孔部2Aの内側面2aでの屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。
 次に、本発明の第1実施形態の有機EL素子10において、陽極孔部2aが基板11の面内の少なくとも一方向に発光光の波長と同等以下の周期で周期的に配置することによって、陽極2と陽極孔部内側面2aを被覆する誘電体層7とが回折格子をなす場合について、その回折格子による作用効果を、図4を用いて模式的に説明する。図4に矢印で示した光の伝播の仕方は、回折格子による作用効果の原理を説明するために模式的に示したものである。以下で述べる原理は、誘電体層7と陽極2の屈折率の大小関係にはよらない。
 有機層3に含まれる発光層のBo点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面に臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印B1)全反射した場合(矢印B1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印B2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで滲み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印B3)が励起される。
 励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印B4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印B5)、伝播光として有機層3に取り出される。
 Bi点及びBe点で発光した光についても同様である。
 陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)から有機層3のB点にまで取り出された光は有機層3を伝搬し、回折格子に入射する。入射した光は回折格子によって、ある所定の方向(N次の強め合う条件を満たす方向)に回折光が放射される。
回折光は、通常の屈折光と比べて、回折点毎の回折光が干渉しながら放出されているため、ある所定の角度に非常に強く光が指向される。
 ここで、矢印BD1や矢印BD2で示すように、基板1(例えば、ガラス)と空気との界面に、臨界角以下の入射角で入射する光は、そのまま外部に取り出される。この矢印BD1や矢印BD2で示す光は上記のように干渉により、強め合っているため、ある特定の角度に強度が強い光を取り出すことが可能となり、光の取り出し効率が向上する。
 一方で、矢印BD3で示すように、基板1と空気との界面に、臨界角以上の角度で入射する光は、全反射(矢印BD3r)して基板外部に取り出すことができない。
 このように全反射する光を減らし、効率的に光を取り出すためには、式(1)を満たすように、金属層及び低屈折率層の材料、並びに、回折格子の周期を選択することが好ましい。言い換えると、式(1)を満たせば、回折格子により、発生したSPP光を効率よく基板1から光を取り出すことができ、光の取り出し効率を向上することができる。特に次数Nが小さいほど回折光の強度が高いので、できるだけ小さいNに対して、式(1)を満たすように回折格子の周期等を選択することが好ましい。
 更に、本発明の第1実施形態の有機EL素子10において、陽極孔部2Aが基板1の面内の少なくとも一方向に発光光の波長と同程度以下の周期で周期的に配置する場合は、前述のように回折格子を形成していると見なせるとともに、一方ではフォトニック結晶を形成していると見ることもできる。そのフォトニック結晶による作用効果を、図5を用いて模式的に説明する。図5に矢印で示した光の伝播の仕方は、フォトニック結晶による作用効果の原理を説明するために模式的に示したものである。
 有機層3に含まれる発光層のCo点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面に臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印C1)全反射した場合(矢印C1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印C2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで沁み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印C3)が励起される。
 励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印C4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印C5)、伝播光として有機層3に取り出される。
 Ci点及びCe点で発光した光についても同様である。
 陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)から有機層3のC点にまで取り出された光は有機層3を伝搬し、フォトニック結晶構造に入射する。ある特定の方向に光の波長と同等以下の周期を有する屈折率変調構造体が存在する空間では、その方向にはフォトニックバンドギャップを生じ、バンドギャップ周波数域内の光は伝播できなくなる(光閉じ込め効果)。
本発明の第1実施形態においては、周期構造は陽極2と陽極孔部内側面2aを被覆する誘電体層7によって形成されており、ここでフォトニックバンドギャップを生じうるのは基板面と平行な矢印CD2方向である。したがって、CD2の方向のフォトニックバンドギャップに対応するバンドギャップ周波数域内の光に対しては、この基板と平行な方向への伝播は禁制される。
 一方で、基板面に垂直な方向については、フォトニック結晶構造が形成されていないので、フォトニックバンドギャップは生じない。したがって、有機層3中に伝播光として取り出されたSPPモード光は、この基板面に垂直に近い方向に進むことになる。
 矢印CD1方向は基板面に垂直であるため、フォトニック結晶構造から出射された光は、基板1の外表面でも全反射することなく、効率よく光を取り出される。
 フォトニック結晶構造がない場合、有機層3中に取り出された光は大部分が陽極2(あるいは誘電体層7)と基板1の界面で全反射されて導波モード光になるか、基板1と空気界面の外表面で全反射されて基板モードとなる。本発明の有機EL素子は、フォトニック結晶構造によって有機層中の光伝播方向が基板面に対して垂直に近い方向に変えられるため全反射が抑えられ、外部への光取り出し効率が向上する。
 図6は、本発明の第2実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。第1実施形態では、陽極の層内に誘電体層が島状に散在する構成であるのに対して、第2実施形態では、誘電体層7の層内に陽極凸部が島状に散在し、複数の陽極凸部が陽極層状部により互いに連結された構成である。
 図6に示す有機EL素子20は、基板21上に、陽極(第1電極)22と、発光層を含む有機層23と、陰極(第2電極)24とを順に具備している。さらに、有機EL素子20は、第2電極24の、有機層23の反対側に、低屈折率層25と金属層26とを順に具備している。
 陽極22は、陽極層状部22cにより互いに連結された複数の陽極凸部22Bを備えている。有機層23は、陽極22及び誘電体層27と第2電極24との間に配置する層状部を有している。陰極24は、透光性導電材料からなっている。低屈折率層25の屈折率は有機層23の屈折率よりも低い。
  図6は、基板21が陽極22側に配置されている場合がボトムエミッション構造の例である。一方、トップエミッション構造とは、基板21が金属層26側に配置されている場合である。以下、基板21が陽極22側に存在する、ボトムエミッション構造を例に説明する。
 上記のように陰極24側の構造について屈折率の比較を行う場合には、有機層23の屈折率とは、発光層を含む全ての層の平均の屈折率をいう。
 隣接する陽極凸部22Bが基板面内の少なくとも一方向に配置される周期(ピッチ)が、発光光の波長以上において、陽極凸部22Bの形状はその外側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はない。誘電体層が、陽極の屈折率より高い材料からなる場合は、導波モード光をより垂直に屈折させる観点からは基板21側の底面積より陰極24側の底面積が小さい形状が好ましくい。図6で示した例では、その外側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成に限定されない。
隣接する陽極凸部22Bの外側面22bが基板面に対する角度は45~90°が好ましく、60~90°がより好ましく、75~90°がより一層好ましい。陽極凸部の外側面22bをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう導波モード光とSPPモード光から再放射された伝播光が陽極凸部の外側面22bに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出されやすくなる。
 誘電体層が、陽極の屈折率より低い材料からなる場合は、導波モード光をより垂直に屈折させる観点からは基板21側の底面積より陰極24側の底面積が大きい形状が好ましい。隣接する陽極凸部22Bの外側面22bが基板面に対する角度は90°~135°が好ましく、90°~120°がより好ましく、90°~105°がより一層好ましい。陽極凸部の外側面22aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう導波モード光とSPPモード光から再放射された伝播光が陽極凸部の外側面22bに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出されやすくなる。
 一方で、隣接する陽極凸部22Bの周期が発光光の波長と同等以下においては、陽極凸部A22Bの形状は、回折の効果やフォトニック結晶による効果を奏するものであれば特に限定はされない。発光した光をより基板側に取り出す観点からは、陽極凸部22Bの外側面22bは基板面に対して垂直に近いことが好ましい。
 これは陽極凸部22Bの外側面22bが基板面に対して垂直であることによって、陽極凸部22Bの外側面22bを横切る基板面内方向において、屈折率の変調が急峻になるためである。屈折率の変調が急峻な場合は、フォトニック結晶では基板面内方向に光が伝播できなくなるバンドギャップの周波数域が広くなり、より効率的に有機層23から外部へ取り出すことができる。また回折格子でも屈折率の変調が急峻な場合は、基板方向への光の回折効率が向上するため、同様に素子外部への光取り出しが向上する。
 第1実施形態の陽極孔部を有する場合と、第2実施形態の陽極凸部を有する場合とで、孔部と凸部のサイズと周期が等しい場合には、同様の作用効果が得られる。このことは、回折効果やフォトニック結晶による効果においても同様である。
図7は第1実施形態と第2実施形態の模式的な斜視図であるが、図7(a)で示す第1実施形態の陽極孔部を有する場合と、図7(b)で示す第2実施形態の陽極凸部を有する場合とで、陽極孔部又は凸部の周期、サイズが変わらないときは、同様の屈折の効果を有する。そのため、第2実施形態においても、第1実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 図8は、本発明の第3実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第3実施形態に係る有機EL素子30は、基板31上に、陽極(第1電極)32と、発光層を含む有機層33と、陰極(第2電極)34とを順に具備している。さらに、有機EL素子30は、第2電極34の、有機層33の反対側に、低屈折率層35と金属層36とを順に具備している。
陽極32は、複数の陽極孔部32Aを備えている。陽極孔部32Aの内側面32aは、陽極孔部内側面被覆部の他の一例である基板凸部31Bによって被覆されている。基板凸部31Bが島状に陽極32の層内に散在する構成である。有機層33は、陽極32及び基板凸部31Bと陰極34との間に配置する層状部を有している。陰極34は、透明導電材料(透光性導電材料)からなり、低屈折率層45の屈折率は、有機層33の屈折率よりも低い。基板凸部31Bは陽極孔部32Aの内側面32aの他、陽極32の有機層側の面の一部を被覆する構造でもよい。また、陽極孔部32Aは、陽極32を貫通する孔に限定されず、陽極孔3部2Aは陽極32を貫通しない穴であってもよい。
 図9は、本発明の第4実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。第3実施形態では、陽極の層内に基板凸部が島状に散在する構成であるのに対して、第4実施形態では、基板凹部に陽極凸部の島が散在し、複数の陽極凸部が陽極層状部により互いに連結された構成である。
 図9に示す有機EL素子40は、基板41上に、陽極(第1電極)42と、発光層を含む有機層43と、陰極(第2電極)44とを順に具備している。さらに、有機EL素子40は、第2電極44の、有機層43の反対側に、低屈折率層45と金属層46とを順に具備している。
陽極42は、陽極層状部42cにより互いに連結された複数の陽極凸部42Bを備えている。有機層43は、陽極42と第2電極44との間に配置する層状部を有している。陰極44は、透光性導電材料からなっている。低屈折率層45の屈折率は有機層43の屈折率よりも低い。
(画像表示装置)
 次に、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置について説明を行う。上記の有機EL素子10、20、30、40を備えた画像表示装置についてそれぞれ同様なので、各有機EL素子10、20、30、40をまとめて有機EL素子10として説明する。図10は、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明した図である。また、有機EL素子はボトムエミッション構造でもトップエミッション構造でも良いが、以下はボトムエミッション構造の例で説明を行う。
 図10に示した画像表示装置100は、いわゆるパッシブマトリクス型の画像表示装置であり、有機EL素子10の他に、陽極配線104、陽極補助配線106、陰極配線108、絶縁膜110、陰極隔壁112、封止プレート116、シール材118とを備えている。
 本実施の形態において、画像表示装置100の基板1上には、複数の陽極配線104が形成されている。陽極配線104は、一定の間隔を隔てて平行に配置される。陽極配線104は、透明導電膜により構成され、例えばITO(Indium Tin Oxide)を用いることができる。また陽極配線104の厚さは例えば、100nm~150nmとすることができる。そして、それぞれの陽極配線104の端部の上には、陽極補助配線106が形成される。陽極補助配線106は陽極配線104と電気的に接続されている。このように構成することにより、陽極補助配線106は、基板1の端部側において外部配線と接続するための端子として機能し、外部に設けられた図示しない駆動回路から陽極補助配線106を介して陽極配線104に電流を供給することができる。陽極補助配線106は、例えば、厚さ500nm~600nmの金属膜によって構成される。
 また、有機EL素子10上には、複数の陰極配線108が設けられている。複数の陰極配線108は、それぞれが平行となるよう、かつ、陽極配線104と直交するように配設されている。陰極配線108には、Al又はAl合金を使用することができる。陰極配線108の厚さは、例えば、100nm~150nmである。また、陰極配線108の端部には、陽極配線104に対する陽極補助配線106と同様に、図示しない陰極補助配線が設けられ、陰極配線108と電気的に接続されている。よって、陰極配線108と陰極補助配線との間に電流を流すことができる。
 更に基板1上には、陽極配線104を覆うように絶縁膜110が形成される。絶縁膜110には、陽極配線104の一部を露出するように矩形状の開口部120が設けられている。複数の開口部120は、陽極配線104の上にマトリクス状に配置されている。この開口部120において、陽極配線104と陰極配線108の間に有機EL素子10が設けられる。すなわち、それぞれの開口部120が画素となる。従って、開口部120に対応して表示領域が形成される。ここで、絶縁膜110の膜厚は、例えば、200nm~100nmとすることができ、開口部120の大きさは、例えば、100μm×100μmとすることができる。
 有機EL素子10は、開口部120において陽極配線104と陰極配線108の間に位置している。そしてこの場合、有機EL素子10の陽極2が陽極配線104と接触し、陰極4が陰極配線108と接触する。有機EL素子10の厚さは、例えば、150nm~200nmとすることができる。
 絶縁膜110の上には、複数の陰極隔壁112が陽極配線104と平面視で直交する方向に沿って形成されている。陰極隔壁112は、陰極配線108の配線同士が導通しないように、複数の陰極配線108を空間的に分離するための役割を担っている。従って、隣接する陰極隔壁112の間にそれぞれ陰極配線108が配置される。陰極隔壁112の大きさとしては、例えば、高さが2μm~3μm、幅が10μmのものを用いることができる。
 また、基板1は、封止プレート116とシール材118を介して貼り合わせられている。これにより、有機EL素子10が設けられた空間を封止することができ、有機EL素子10が大気中の水分により劣化するのを防ぐことができる。封止プレート116としては、例えば、厚さが0.7mm~1.1mmのガラス基板を使用することができる。封止プレート116は、素子がボトムエミッション型のように光を基板1側から取り出す場合は、透明でなくてもよい。一方、素子がトップエミッション型のように光を封止プレート116側から取り出す場合には、封止プレート116は、発光波長域の少なくとも一部の波長に対して透明である必要がある。
 このような構造の画像表示装置100において、図示しない駆動装置により、陽極補助配線106、図示しない陰極補助配線を介して、有機EL素子10に電流を供給し、発光層を発光させることができる。そして基板1から基板1を通し、光を出射させることができる。そして、上述の画素に対応した有機EL素子10の発光、非発光を制御装置により制御することにより、画像表示装置100に画像を表示させることができる。
(照明装置)
 次に、上記の有機EL素子を備えた照明装置について説明を行う。上記の有機EL素子10、20、30、40を備えた照明装置についてそれぞれ同様なので、各有機EL素子10、20、30、40をまとめて有機EL素子10として説明する。図11は、上記の有機EL素子を備えた照明装置の一例を説明した図である。また、有機EL素子はボトムエミッション構造でもトップエミッション構造でも良いが、以下ではボトムエミッション構造の例で説明を行う。
 図11に示した照明装置200は、上述した有機EL素子10と、有機EL素子10の基板1(図1参照)に隣接して設置され陽極2(図1参照)に接続される端子202と、陰極4(図1参照)に接続される端子203と、端子202と端子203とに接続し有機EL素子10を駆動するための点灯回路201とから構成される。
 点灯回路201は、図示しない直流電源と図示しない制御回路を内部に有し、端子202と端子203を通して、有機EL素子10の陽極層2と陰極4との間に電流を供給する。そして、有機EL素子10を駆動し、発光層を発光させて、基板1から光を出射させ、照明光として利用する。発光層は白色光を出射する発光材料より構成されていてもよく、また緑色光(G)、青色光(B)、赤色光(R)を出射する発光材料を使用した有機EL素子10をそれぞれ複数個設け、その合成光が白色となるようにしてもよい。
(有機EL素子の製造方法)
 次に、本発明の第1実施形態に係るボトムエミッション型の有機EL素子10の製造方法について図12を参照して説明する。
 まず、図12(a)に示すように、基板1上に、陽極2を形成する。この陽極2の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 陽極2を形成した後に、陽極2の表面処理を行うことで、オーバーコートされる層の性能(陽極2との密着性、表面平滑性、ホール注入障壁の低減化など)を改善することができる。表面処理の具体的方法としては、高周波プラズマ処理を始めとしてスパッタリング処理、コロナ処理、UVオゾン照射処理、紫外線照射処理、または酸素プラズマ処理などが挙げられる。
 更に、陽極2の表面処理の表面処理を行う代わりに、もしくは表面処理に追加して、図示しない陽極バッファ層を形成することで表面処理と同様の効果が期待できる。そして、陽極バッファ層はウェットプロセスにて塗布して作製することができ、具体的な成膜方法としては、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェットプリント法等の塗布法などが挙げられる。
 また、陽極バッファ層をドライプロセスにて作製する場合は、特開2006-303412号公報に例示のプラズマ処理などを用いて成膜することができる。この他にも金属単体あるいは金属酸化物、金属窒化物等を成膜する方法が挙げられる。具体的な成膜方法としては、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、化学反応法、コーティング法、真空蒸着法などが挙げられる。
 次に、陽極孔部2Aを形成するには例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図12(b)に示すように、まず陽極2の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層9を形成する。
 そして、陽極孔部2Aを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行う。 図12(c)に示すように、レジスト層9に陽極孔部2Aに対応した所定のパターンが露光される(露光された部分9a)。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層9を除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、陽極2の表面が露出する(図12(d))。
 図12(e)に示すように、残存したレジスト層9をマスクとして、露出した陽極2の部分をエッチング除去して陽極孔部2Aを形成する。エッチングとしては、ドライエッチングとウェットエッチングの何れをも使用することができる。またこの際に等方性エッチングと異方性エッチングを組合せることで、陽極孔部2Aの形状の制御を行うことができる。ドライエッチングとしては、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)や誘導結合プラズマエッチングが利用できる。またウェットエッチングとしては、希塩酸や希硫酸への浸漬を行う方法などが利用できる。このエッチングにより上記パターンに対応して、基板1の表面が露出する。
 例えば第2実施形態の陽極凸部を形成する場合も、上記陽極孔部2Aを形成する工程と同じで構わない。陽極をエッチングする際に、エッチングを抑えて基板を露出させず、陽極層状部を残すことにより陽極凸部を連結させ、陽極凸部間の導通をとることができる。
 次に、残ったレジスト層をレジスト除去液等により除去し(図12(f))、その後に、誘電体層7を形成する(図12(g))。
図12(g)において誘電体層7は陽極孔部2Aを充填して陽極孔部2Aの内側面2aを被覆する構成である。一部だけ埋めて陽極孔部2Aの内側面2aを被覆する(陽極孔部2Aの底面が一部露出した)構成でもよい。この誘電体層7の形成方法も陽極2の形成方法と同様に特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 上記の形成法によって誘電体層7を形成した後、誘電体層7が陽極2の上面(陽極孔部2A以外の、基板とは反対側の面)を被覆している場合、誘電体層7をエッチバック処理して一部除去することによって、陽極2の上記上面を露出させてもよい。このエッチバック処理は、誘電体層7が絶縁体の場合に、陽極と陰極間の導電パスを形成するために必要となる。エッチバック処理の方法としては、例えば陽極孔2Aの形成で用いられたエッチング方法や、研磨法を用いることができる。
さらに、誘電体層7を形成した後、陽極2および誘電体層7の陽極側の表面に、膜質改善を目的とした各種の表面処理を行うことができる。表面処理の方法としては、陽極2を成膜した後の表面処理で記載したものと同様のものを用いることができる。
 次に、図12(h)に示すように、陽極2及び誘電体層7上に、有機EL材料からなる発光層を含む有機層3を形成する。ここで、有機層3を形成する下地となる陽極2及び誘電体層7の表面が凹凸状の場合は、平坦化するような研磨加工、エッチング処理などを適宜行ってもよい。
 有機層3の形成には従来公知の方法を用いることができ特に限定されない。例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
 陽極孔内側面被覆部の一例である誘電体層7は陽極孔部2Aの内側面2aを被覆していればよい。その形成条件は、陽極孔部2Aを完全に埋めるか、一部を埋めるかによって調整する。
 上記のように陽極孔内側面2aを被覆する誘電体層7を形成すると共に、さらに、層状の有機層3の形成を行い、図12(h)に対応する構造を作製する。
 次に、図12(i)に示すように、有機層3上に陰極4を形成する。陰極4の形成も陽極2の形成と同様の方法を用いることができ、特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、 図12(j)に示すように、陰極4上に低屈折率層5を形成する。低屈折率層5の形成も誘電体層7の形成と同様の方法を用いることができ、特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 低屈折率層5を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
 次に、図12(k)に示すように、低屈折率層5上に金属層6を形成する。金属層6の形成には特に限定されない。例えば、蒸着法、スパッタリングを用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子10を製造することができる。また、これら一連の工程後、有機EL素子10を長期安定的に用い、有機EL素子10を外部から保護するための保護層や保護カバー(図示せず)を装着することが好ましい。保護層としては、高分子化合物、金属酸化物、金属フッ化物、金属ホウ化物、窒化ケイ素、酸化ケイ素等のシリコン化合物などを用いることができる。そして、これらの積層体も用いることができる。また、金属層の酸化を防ぐため、犠牲層として金属層6よりイオン化傾向の大きい金属を保護層として用いても良い。保護カバーとしては、ガラス板、表面に低透水率処理を施したプラスチック板、金属などを用いることができる。この保護カバーは、熱硬化性樹脂や光硬化性樹脂で基板1と貼り合わせて密閉する方法を採ることが好ましい。またこの際に、スペーサを用いることで所定の空間を維持することができ、有機EL素子10が傷つくのを防止できるため好ましい。そして、この空間に窒素、アルゴン、ヘリウムのような不活性なガスを封入すれば、上側の金属層6の酸化を防止しやすくなる。特にヘリウムを用いた場合、熱伝導が高いため、電圧印加時に有機EL素子10より発生する熱を効果的に保護カバーに伝えることができるため、好ましい。更に酸化バリウム等の乾燥剤をこの空間内に設置することにより上記一連の製造工程で吸着した水分が有機EL素子10にダメージを与えるのを抑制しやすくなる。
次に、トップエミッション型の有機EL素子の製造方法を、図13を参照して説明する。
まず、図13(a)に示すように、基板11上に、金属層16を形成する。金属層16の形成方法は特に限定されないが、例えば、蒸着法、スパッタリングを用いることができる。
 次に、図13(b)に示すように、金属層16上に低屈折率層15を形成する。低屈折率層15の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 低屈折率層15を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
 次に、図13(c)に示すように、低屈折率層15上に陰極14を形成する。陰極14の形成方法は、特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、図13(d)に示すように、陰極14上に有機層13を形成する。有機層13の形成方法は、従来公知の方法を用いることができる。例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
 次に、図13(e)に示すように、有機層13の上に陽極12を形成する。この陽極12の形成は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 陽極12を形成した後に、陽極12の表面処理を行うことで、オーバーコートされる層の性能(陽極12との密着性、表面平滑性、ホール注入障壁の低減化など)を改善することができる。表面処理を行うには高周波プラズマ処理を始めとしてスパッタリング処理、コロナ処理、UVオゾン照射処理、紫外線照射処理、または酸素プラズマ処理などがある。
 更に、陽極12の表面処理の表面処理を行う代わりに、もしくは表面処理に追加して、図示しない陽極バッファ層を形成することで表面処理と同様の効果が期待できる。そして、陽極バッファ層をウェットプロセスにて塗布して作製する場合には、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェットプリント法等の塗布法などを用いて成膜することができる。
 また、陽極バッファ層をドライプロセスにて作製する場合は、特開2006-303412号公報に例示のプラズマ処理などを用いて成膜することができる。この他にも金属単体あるいは金属酸化物、金属窒化物等を成膜する方法が挙げられ、具体的な成膜方法としては、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、化学反応法、コーティング法、真空蒸着法などを用いることができる。
 次に、陽極孔部12Aを形成するには例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図13(f)に示すように、まず陽極12の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層19を形成する。
 そして、陽極孔部12Aを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行うと、 図13(g)に示すように、レジスト層19に陽極孔部12Aに対応した所定のパターンが露光される(露光された部分19a)。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層19を除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、陽極12の表面が露出する(図13(h))。
 図13(i)に示すように、残存したレジスト層19をマスクとして、露出した陽極12の部分をエッチング除去して陽極孔部12Aを形成する。エッチングとしては、ドライエッチングとウェットエッチングの何れをも使用することができる。またこの際に等方性エッチングと異方性エッチングを組合せることで、陽極孔部12Aの形状の制御を行うことができる。ドライエッチングとしては、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)や誘導結合プラズマエッチングが利用できる。またウェットエッチングとしては、希塩酸や希硫酸への浸漬を行う方法などが利用できる。このエッチングにより上記パターンに対応して、有機層13の表面が露出する。
 次に、図13(j)に示すように、誘電体層17を形成する。この誘電体層17の形成の前後で、レジスト層19を除去してもよい。なお、図13(i)において誘電体層17は陽極孔部12Aを充填して陽極孔部12Aの内側面12aを被覆する構成であるが、一部だけ埋めて陽極孔部12Aの内側面12aを被覆する構成でもよい。この誘電体層17の形成方法も陽極12の形成と同様に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法、または各種の塗布法などを用いることができる。
 上記の形成方法によって誘電体層17を形成した後、誘電体層17が陽極12の上面(陽極孔部12A以外の、基板11とは反対側の面)を被覆している場合、誘電体層17をエッチバック処理して一部除去することによって、陽極2の上記上面を露出させてもよい。
(Otto型配置におけるSPP取り出し)
本発明における有機ELのOtto型配置による金属層表面に捕捉された表面プラズモンポラリトン(SPP)を取り出すことが可能な距離を検討する。
図14に、有機層で発光した光の強度を、有機EL素子面方向における波数成分で展開するエネルギー散逸計算を行った結果を示す。横軸が、有機層で発光した光の波数の、有機EL素子面方向成分を真空の波数kで割ったもの、すなわち有効屈折率であり、縦軸がその波数の光の強度、すなわち展開係数を示している。計算は、TM偏光成分、TE偏光成分に分けて行った。この計算はガラス上に、各層が平坦な陽極と有機層と陰極(金属)とを積層した有機EL素子の結果を示している。この場合、TM偏光の最も高波数側のピーク面積がSPPモード光の強度を表しているが、有機層で発光した光の多くがSPPモード光として捕捉されているのが分かる。
一方で、Otto型配置におけるエネルギー散逸計算による有機層で発光した光(TM偏光成分)の強度の、低屈折率層の膜厚による依存性を示した図を図15に示す。低屈折率層5の屈折率を1.38とし、図15(a)は陰極および反射層をAlとし、図15(b)は陰極および反射層をAgとした。
図15(a)、(b)共に、低屈折率層の膜厚が厚くなるに従って、ピーク波数が小さくなり、かつピーク幅が狭くなるようにシフトしていることが分かる。また膜厚が厚くなるに従って、ピーク波数のシフトはわずかになり、ピーク幅も一定に近づいていることが確認できる。ピーク波数が小さくなることは、反射層に接した低屈折率層の膜厚が大きくなり、SPPの波数がこの低屈折率層の屈折率の影響で小さくなることを示している。ピーク幅が狭くなることは、SPPとして捕捉されていた光が導波モード光として取り出され、光の減衰が小さくなっていることを示している。これについて、次に説明する。
図16(a)、(b)、(c)を用いてピークの変化について、以下に説明する。図16(a)は、SPPモード光として光が完全に反射層表面に捕捉されている。これは、低屈折率層の膜厚が0nmの時を表しており、SPPは反射層と低屈折率層界面を面内方向に伝播しながら急速に減衰するため、ピーク幅が大きくなっている。
次に、低屈折率層の膜厚が厚くなるにつれて、図16(b)のようになり、Otto型配置によってSPPモード光と導波モード光が混在した状態となる。これは、取り出されたSPPモード光が導波モード光となり、界面反射により再度反射層にSPPモード光として再補足されることを意味している。この場合、光は図16(a)のSPPモード光に比べ減衰しにくいため、ピーク幅は次第に狭くなる。
最後に、低屈折率層の膜厚が十分厚くなると、図16(c)のようになる。この場合、Otto型配置をしているが、発光点におけるエバネッセント波が反射層に届かなくなり、SPPモード光として捕捉されない。この場合、発光した光は導波モード光として、捕捉されることとなる。つまり、低屈折率層の膜厚がある厚みを超えると、捕捉された光は導波モード光のみとなるため、減衰のしやすさは変わらなくなり、ピーク幅にも変化が生じなくなる。
図17は、低屈折率層の膜厚に対する、ピーク幅の変化を示した図である。図17(a)の陰極および反射層がAlの場合に、低屈折率層の膜厚が200nm以上でピーク幅の変化がなくなり、発光した光がSPPに捕捉されなくなっていることが分かる。また、陰極4および反射層がAgの場合に、低屈折率層の膜厚が150nm以上でピーク幅の変化がなくなり、SPPモード光として捕捉されていないことが分かる。
つまりSPPモード光として捕捉される膜厚は200nm以下である。本検討は低屈折率層の屈折率をn=1.38の場合を計算しているが、屈折率は1.38に限定されるものではなく、反射層もAgとAlに限定されるものではない。
また、Otto型配置において、反射層表面に捕捉された表面プラズモンポラリトン(SPP)は、陰極と低屈折率層の界面で全反射した光によって発生するエバネッセント波によって取り出すことができる。すなわち、このエバネッセント波の波数が、反射層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数kSPPと交点を持つ必要がある。
反射層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数kSPPは以下の式(13)で表すことができる。但し、εは反射層の誘電率であり、εは低屈折率層の誘電率であり、kは前記発光層で発光する光の最大ピーク波長における真空中の光の波数である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000015
 またその実数部は以下の式(14)で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000016
 一方で、反射層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)が、反射層に垂直な方向に伝播することを考えると、誘電体層中における表面プラズモンポラリトンの波数の垂直成分は以下の式(15)で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000017
 反射層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)を1として規格化すると、反射層に垂直な方向に伝播することによって指数関数的に減衰していく。低屈折率層の厚み(h)を伝搬した位置での表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度は、各界面での反射が無視できる場合、近似的に
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000018
となる。
但し、κSPPは表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数の基板面内方向成分の実部を真空中の光の波数kで割った値とする。つまり、式(16)が十分大きければ、反射層の表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の電磁場が陰極や有機層に滲み出し、陰極と低屈折率層の界面での全反射により生じたエバネッセント波とカップリングして、取り出すことができる。
 図18(a)は反射層をAl、(b)は反射層をAgとした場合の式(16)をグラフ化した図である。
この結果を、図18(a)、(b)と比較すると、式(16)において、低屈折率層と陰極の界面での反射層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度が0.4以下となる低屈折率層の厚みで、ピーク幅が一定値に飽和していることが分かる。すなわち、式(16)が0.4以下となるときには、低屈折率層と陰極界面にまで滲み出す表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度が小さくなり、Otto型配置による光取り出し効果は少なくなると言える。逆に言えば、低屈折率層の膜厚は、式(16)が0.4以下を満たせば、Otto型配置による光取り出し効果を十分に得ることができることが分かる。
 本発明の有機EL素子の実施例について以下に説明する。
図19は、本発明の有機EL素子の効果について、有限差分時間領域法(FDTD(Finite Difference Time Domain ) Method)を用いて、光取り出し効率の隣接する陽極部分間の距離(ピッチ)の依存性をコンピュータシミュレーションした結果を示す。FDTD法は、電磁界の時間変化を記述するMaxwellの方程式を空間的・時間的に差分化し、空間の各点における電磁界の時間変化を追跡するものである。より具体的には、発光層における発光を微小ダイポールからの放射と捉えて、その放射(電磁界)の時間変化を追跡するものである。シミュレーション結果は、基板までの光取り出しを計算した結果を示すものである。横軸のλは波長、縦軸のηは相対強度である。以下の図においても同じである。
図20は、シミュレーションで用いた、有機EL素子のモデル構造を示す断面図である。
 計算に用いた屈折率の値は以下の通りである。基板1はガラスからなるとして、屈折率としては1.52を用いた。陽極2はITOからなるとして、屈折率としては550nmで1.82+0.009iを用い、その他の波長はローレンツモデルで外挿した。誘電体層7はSOG(スピンオングラス)からなるとして、屈折率としては1.25を用いた。有機層3の屈折率としては1.72を用いた。陰極4はITOからなるとして、陽極と同じものを用いた。低屈折率層5は空気層を含むものからなるとして、屈折率としては1.00を用いた。金属層6はアルミニウム(Al)からなるとして、屈折率としては550nmで0.649+4.32iを用い、その他の波長はドルーデモデルで外挿した。
陽極2、及び、誘電体層7、層状部からなる有機層3、陰極4、低屈折率層5、金属層6の層厚はそれぞれ、150nm、150nm、100nm、50nm、50nm、100nmとした。
隣接する陽極孔部の周期P(中心間の距離)が500nm~900nmの範囲で100nmごとのそれぞれ場合を計算した。
それぞれの周期Pの場合の陽極孔部2Aの径Dはそれぞれ周期Pの1/2とした。
比較のために、Otto型配置の陰極側構造を有し、伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造は有さない構造(以下、Otto型配置のみ構造ということがある)と、Otto型配置の陰極側構造、及び伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造も有さない構造(以下、標準構造ということがある)の場合も計算した。
標準構造は基板のガラス上に、陽極層、有機層、陰極金属層の順に形成された構造を意味する。シミュレーションにおいては、標準構造は基板がガラスからなり、陽極がITOからなり、有機層を挟んで、陰極はAlからなるものを用いた。それぞれ、屈折率としては、1.52、1.82+0.009i、1.72、0.649+4.32iを用い、陽極、有機層、陰極の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、100nmとした。
図19(a)、図19(b)はそれぞれ、水平方向のダイポールからの放射光(基板に対して垂直方向に伝播する光(以下、タテ伝播光ということがある))の放射強度η、垂直方向のダイポールからの放射光(基板に対して主に平行方向に伝播する光(以下、ヨコ伝播光ということがある))の放射強度ηを示す。
図19(a)(タテ伝播光)では、本実施形態の場合と、Otto型配置のみ構造の場合、及び、標準構造の場合とで顕著な差はない。一方で、図19(b)(ヨコ伝播光)では、本実施形態のいずれの場合も可視光の全範囲にわたり、Otto型配置のみ構造の場合に比べると30%以上、放射強度が高いという結果が得られた。さらに、可視光の全範囲にわたり、標準構造の場合に比べると10倍程度、放射強度が高いという結果が得られた。
Otto型配置のみ構造の場合に比べた、本発明の場合の放射強度の数10%の向上は、陽極孔部2Aの内側面2aにおける屈折効果によるものと考えられる。Otto型配置のみ構造の場合は、本実施形態の場合と同様に、Otto型配置の陰極側構造を有するものであるから、陽極孔部2Aの内側面2aにおける屈折効果だけではせいぜい数10%程度の放射強度の差にしかならないことがわかった。
これに対して、標準構造の場合に比べた、本実施形態の場合の放射強度の1桁程度の向上は、Otto型配置の陰極側構造と、陽極孔部2Aの内側面2aにおける屈折効果との相乗効果によるものであると考えられる。Otto型配置の陰極側構造だけではSPPモード光を伝播光として取り出すことはできてもその伝播光を外部にまで取り出すことはできない。これに対して、Otto型配置の陰極側構造と、陽極孔部2Aの内側面2aを有する陽極側構造とを組み合わせることにより、予測を超えた効果が得られることがわかった。
また、図19(a)、(b)から、650nm以下の波長では陽極部分のピッチ依存性がでている。波長580nm近傍では、900nmピッチの場合は500nmピッチの場合に比べて20%程度、放射強度が高いことがわかった。一方、それ以上の波長ではほとんど差がない、すなわち、陽極部分のピッチ依存性が小さいことがわかった。
図21は、本実施形態の有機EL素子について、より現実に近い発光現象をシミュレートするために、発光源であるダイポールをランダム(ダイポールのモーメントがx、y、z方向にランダム)として、FDTD法を用いて、光取り出し効率をシミュレーションした結果を示す。図19と同様に、周期Pが500nm~900nmの範囲で100nmごとの場合と、Otto型配置のみ構造と、標準構造とを示した。
いずれの周期の場合も、可視光の全範囲にわたり、Otto型配置の陰極側構造と、陽極側構造とを組み合わせによる顕著な相乗効果が得られていることがわかる。
 図22は、上記図21のシミュレーションに対して、図20の素子の陰極4と低屈折率層5の材料を変えたシミュレーションである。ここで、陰極4は、a-ITO(アモルファスITO)からなるとして、屈折率としては550nmで2.08+0.0013iを用い、低屈折率層5はSOGを含むものからなるとして、1.25を用いた。
隣接する陽極孔部の周期Pが200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nm、8000nmのそれぞれ場合を計算した。それぞれの場合の陽極孔部2Aの径Dは、それぞれ周期Pの1/2の100nm、150nm、250nm、450nm、1000nm、2000nm、4000nmとした。
比較のために図19の場合と同じ標準構造や本実施形態の素子構成でOtto型配置のみ構造の素子についてもシミュレーションを行った。
図22から、Otto型配置のみ構造や標準構造と比較して、本実施形態の有機EL素子は全ての陽極部分間の周期P(200~8000nm)で、全体として光取り出し効率が向上していることが確認できる。
特に、陽極孔部の周期Pが500nm~4000nmにおいて、光取り出し効率が上がっていることが確認できる。さらに、陽極孔部間の周期Pが900~2000nmの範囲では、顕著に光取り出し効率が上がっていることが確認できる。
この結果はOtto型配置の陰極側構造と、陽極側構造とのそれぞれ単体の構造に基づいては予測ができるものではなく、本発明のシミュレーションによって初めて明らかになったのである。
 図23(a)~(f)は、上記の図22で用いた実施形態の素子で、それぞれ、周期Pを200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nmとした場合についての垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものである。放射光の波長は620nmとした。図中では、基板が上側に位置し、上から順に基板、陽極、有機層、陰極、低屈折率層、金属層、空気の磁場強度分布に対応し、青色から赤色に向かって磁場強度が強いことを示している。また、磁場分布と重ねて各層の形状も重ねて表示している。
 図24(a)~(f)は、それぞれ、図23と同じ実施形態の素子についての水平方向のダイポールからの放射光の電場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものである。表示の仕方は図23と同様である。放射光の波長は620nmとした。
 シミュレーション結果から、垂直方向のダイポールからの放射光、水平方向のダイポールからの放射光のいずれに対する強度分布も、ほとんどが基板中へ向けて取り出されていることがわかった。また、電磁場の強度分布はピッチ依存性が小さいことがわかった。特に図23の垂直方向のダイポールに対する磁場強度分布では、どの周期の場合でも金属層表面に局在するSPPモード光はほとんど観測されず、陰極側に設けられたOtto型配置構造と、基板に対して垂直又は垂直に近い界面を備えた陽極側構造によって、SPPモード光が基板まで取り出されていることが分かる。また、電磁場の強度分布は周期依存性が小さいことがわかった。また、いずれの方向のダイポールに対する電磁場強度においても、中間の周期条件である(b)~(e)では、基板中に回折格子の効果を反映した干渉パターンが観測された。
 このことは、理論的には予測することが困難であり、シミュレーションを行って初めて知ることができたものである。
図25(a)は、標準構造の素子であり、垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものである。放射光の波長は620nmを用いた。図中では、基板が上側に位置し、上から順に基板、陽極、陰極の磁場強度分布に対応し、青色から赤色に向かって磁場強度が強いことを示している。右端は発光位置を示すものである。
図25(a)で示した標準構造の素子は、基板1がガラスからなり、陽極2がITOからなり、有機層3を挟んで、陰極4はAlからなるものを用いた。それぞれ、屈折率としては、1.52、1.74+0.013i(ローレンツモデル)、1.72、0.810+4.86i(ドルーデモデル)を用い、陽極、有機層、陰極の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、100nmとした。
 図25(a)のシミュレーション結果から、SPPが陰極と有機層との界面に強く捕縛(局在)されていることがわかる。標準構造では、SPPを放射させることが困難であることがわかる。
 図25(b)は、Otto型配置のみ構造について、垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布のFDTD法によるシミュレーション結果を示すものである。図24(c)はその発光層近傍の拡大図であり、その右の図は素子の層構成の断面模式図で、上から順に基板、陽極、有機層、陰極、低屈折率層、金属層、空気に対応することを表している。
 Otto型配置のみ構造においては、SPPモード光の伝播はほとんど生じておらず、有機層に取り出されている。しかし、有機層中の光は導波モード光として閉じ込められて、基板中にあまり取り出せていないことがわかる。
 このように、Otto型配置の第2電極側構造と、基板に対して垂直又は垂直に近い界面を備えた第1電極側構造によって、かかる第2電極側構造及び第1電極側構造の単独の光取り出し効率の向上効果からは予測できないほどの顕著な効果を奏することがわかる。
 また、図25(a)で示した標準構造で作製した有機EL素子、及び、図20で示した構造及び材料によって作製した有機EL素子であって、低屈折率層をフッ化マグネシウムからなるものとした素子について、その外部量子効率を積分球を用いて実測した。標準構造(ベタ構造)は16.9%であったのに対して、本発明の場合は47.3%であり、標準構造(ベタ構造)に対して2.80倍の値が得られた。これにより、本発明の構造により、Otto型配置の第2電極側構造と、内側面を有する第1電極側構造との組み合わせによる相乗効果を確認することができた。
1、21、31、41 基板
 2、22、32、42 第1電極(陽極)
3、23、33、43 有機層
4、24、34、44 第2電極(陰極)
 5、25、35、45 低屈折率層
 6、26、36、46 金属層
 7、27、36、37 誘電体層
2A、32A 第1電極孔部
 2a、32a 内側面
22B 第一電極凸部
 22b、42b 外側面
 22c、42c 第一電極層状部
 31B 第一電極孔部内側面被覆部
 41B 第一電極凸部外側面被覆部
41A 基板凹部
 10、20、30、40 有機EL素子
 100 画像表示装置
 104 陽極配線
106 陽極補助配線
108 陰極配線
110 絶縁膜
112 陰極隔壁
116 封止プレート
118 シール材
120 開口部
200 照明装置
201 点灯回路
202 端子
203 端子

Claims (13)

  1. 基板上に、陽極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、陰極とを順に具備し、前記陽極側から外部に光を取り出すように構成された有機EL素子であって、
    さらに、前記陰極の、前記有機層の反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、
    前記陽極は、該陽極の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層によってその内側面を被覆された複数の陽極孔部を備え、
    前記有機層は、前記陽極及び前記誘電体層と前記陰極との間に配置する層状部を有するものであり、
     前記陰極は、透光性導電材料からなり、
    前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い、ことを特徴とする有機EL素子。
  2.  第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、
     さらに、前記第2電極の、前記有機層の反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを順に具備し、
     前記第1電極は、複数の第1電極孔部を有し、
     前記第1電極孔部の内側面を被覆し、前記第1電極の屈折率と異なる屈折率を有する材料からなる複数の第1電極孔部内側面被覆部を備え、
    前記有機層は、前記第1電極と前記第2電極との間、及び、前記第1電極孔部内側面被覆部と前記第2電極との間に配置する有機層層状部を有するものであり、
     前記第2電極は、透光性導電材料からなり、
    前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする有機EL素子。
  3.  第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、
     さらに、前記第2電極の、前記有機層の反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを順に具備し、
     前記第1電極は、第1電極層状部により互いに連結された複数の第1電極凸部を有し
     前記第1電極凸部の外側面を被覆し、前記第1電極の屈折率と異なる屈折率を有する材料からなる複数の第1電極凸部外側面被覆部を備え、
    前記有機層は、前記第1電極と前記第2電極との間、及び、前記第1電極凸部外側面被覆部と前記第2電極との間に配置する有機層層状部を有するものであり、
     前記第2電極は、透光性導電材料からなり、
     前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする有機EL素子。
  4.  第1電極の有機層と反対側に基板を具備し、
    前記第1電極孔部内側面被覆部が前記基板の一部として形成されていることを特徴とする請求項2に記載の有機EL素子。
     第1電極の有機層と反対側に基板を具備し、
    前記第1電極孔部内側面被覆部が前記基板の一部として形成されていることを特徴とする請求項2に記載の有機EL素子。
  5.  第1電極の有機層と反対側に基板を具備し、
    前記第1電極凸部外側面被覆部が前記基板の一部として形成されていることを特徴とする請求項3に記載の有機EL素子。
  6.  前記低屈折率層の屈折率はさらに、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項1~5のいずれか一項に記載の有機EL素子。
  7.  前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項6に記載の有機EL素子。
  8.  前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする請求項1~7のいずれか一項に記載の有機EL素子。
  9.  前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部が基板面内の少なくとも一方向に配列される周期が、500nm~4000nmであることを特徴とする請求項1~8に記載の有機EL素子。
  10.  前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部が、基板面内の少なくとも一方向に周期的に配置し、前記金属層(誘電率ε)、前記低屈折率層(誘電率の実部ε)、及び、前記第1電極孔部、又は前記第1電極凸部の前記一方向の周期(p)が、ある整数N(1≦N≦3)に対して以下の式を満たすように選択されていることを特徴とする請求項1~8のいずれか一項に記載の有機EL素子;
    Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
     ここで、λは前記発光層のフォトルミネッセンス・スペクトルの最大ピーク波長である。
  11.  前記周期が、500nm~4000nmであることを特徴とする請求項10に記載の有機EL素子。
  12.  請求項1~11のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする画像表示装置。
  13.  請求項1~11のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする照明装置。
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