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WO2010067704A1 - 光起電力装置及びその製造方法 - Google Patents

光起電力装置及びその製造方法 Download PDF

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WO2010067704A1
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Definitions

  • the solar cell unit as a power generation layer is exposed to oxygen, resulting in a new problem that the characteristics of the solar cell unit itself deteriorate.
  • the first separation groove A is formed in the surface electrode 22.
  • the separation groove A is formed by laser processing, for example.
  • an Nd: YAG laser having a wavelength of about 1064 nm and an energy density of 1 ⁇ 10 5 W / cm 2 is used.
  • the line width of the separation groove A is preferably 10 ⁇ m or more and 200 ⁇ m or less.

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Abstract

表面電極と裏面電極との間に第1太陽電池ユニットと第2太陽電池ユニットとを導電性を有する中間層を挟み込んで積層した光起電力装置において、表面電極の表面まで第1太陽電池ユニット、第2太陽電池ユニット及び中間層を貫いて形成された溝を介して表面電極と裏面電極とが電気的に接続され、裏面電極と接する中間層の端部にドーパントを添加することによってPN接合を形成する。

Description

光起電力装置及びその製造方法
 本発明は、光起電力装置及びその製造方法に関する。
 図3に示すように、中間層14を挟んで上部及び下部の2つの太陽電池ユニット10,12を積層したタンデム型の光起電力装置が知られている。上部及び下部の太陽電池ユニット10,12に挟まれる中間層14には1種以上の透明導電膜が用いられる。また、裏面電極の一部には裏面反射層を兼ねる銀(Ag)の裏面電極18が形成され、表面電極16まで貫いて形成された溝Dを介して裏面電極18が表面電極16に接続される。
 このような構造において、上部及び下部の太陽電池ユニット10,12に挟まれた中間層14は、溝Dにおいて裏面電極18と部分的に接している。中間層14と裏面電極18とが電気的に接触していると、その接触点を介して電流のリークが生じ、光起電力装置の発電特性が低下する。
 そこで、溝Dを形成する際に酸化性雰囲気中でレーザ光線を用いて太陽電池ユニット10,12を除去することにより、中間層14の端部付近の酸素含有量を高めて電流リークを抑制する技術が開示されている(特許文献1等)。
特公平7-114292号公報
 しかしながら、酸化性雰囲気中でレーザ加工を行う際に発電層である太陽電池ユニットが酸素に曝され、太陽電池ユニット自体の特性が低下してしまうという新たな問題を生じている。
 本発明は、上記課題を鑑み、太陽電池ユニットの特性を劣化させることなく、中間層と裏面電極との間の接触による特性の低下を抑制した光起電力装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
 本発明の1つの態様は、第1電極と、第2電極との間に、第1太陽電池ユニットと第2太陽電池ユニットとを導電性を有する中間層を挟み込んで積層した光起電力装置であって、第1電極の表面まで第1太陽電池ユニット、第2太陽電池ユニット及び中間層を貫いて形成された溝を介して第1電極と第2電極とが電気的に接続され、第2電極と接する中間層の端部にドーパントが添加されてPN接合が形成されていることを特徴とする。
 また、本発明の別の態様は、第1電極、第1太陽電池ユニット、導電性を有する中間層、第2太陽電池ユニット及び第2電極の順に積層した光起電力装置であって、第1電極の表面まで第1太陽電池ユニット、第2太陽電池ユニット及び中間層を貫いて形成された溝を介して第1電極と第2電極とが電気的に接続され、第2太陽電池ユニットの第2電極側の表面近傍の窒素濃度が第2太陽電池ユニットの表面近傍以外の領域の窒素濃度よりも高いことを特徴とする。
 また、本発明の別の態様は、第1電極と、第2電極との間に、第1太陽電池ユニットと第2太陽電池ユニットとを導電性を有する中間層を挟み込んで積層した光起電力装置の製造方法であって、第1電極の表面まで第1太陽電池ユニット、第2太陽電池ユニット及び中間層を貫く溝を形成する第1工程と、溝に露出された中間層にドーパントを添加して、中間層の端部にPN接合を形成する第2工程と、溝を介して第1電極と電気的に接続されるように第2電極を形成する第3工程と、を含むことを特徴とする。
 本発明によれば、太陽電池ユニットの特性を劣化させることなく、光起電力装置における中間層と裏面電極との間の接触による特性の低下を抑制することができる。
本発明の実施の形態における光起電力装置の構成を示す断面模式図である。 本発明の実施の形態における光起電力装置の製造工程を示す図である。 従来の光起電力装置の構成を示す断面模式図である。
 本発明の実施の形態における光起電力装置100は、図1の断面図に示すように、基板20、表面電極22、第1太陽電池ユニット24、中間層26、第2太陽電池ユニット28及び裏面電極30を含んで構成される。
 以下、図2の製造工程図を参照して、光起電力装置100の製造方法及びその構造について説明する。なお、図1及び図2では光起電力装置100の構造を明確に示すために、光起電力装置100の一部を拡大して示し、各部の比率を変えて示している。
 ステップS10では、基板20上に表面電極22を形成する。基板20は、透光性を有する材料で構成する。基板20は、例えば、ガラス基板、プラスチック基板等とすることができる。表面電極22は、透光性を有する透明導電膜とする。表面電極22は、例えば、SnO2,ZnO,TiO2,SiO2,In23等とすることができる。これらの金属酸化物にF,Sn,Al,Fe,Ga,Nb等がドープされていてもよい。表面電極22は、例えば、スパッタリング法、MOCVD法(熱CVD)により形成する。基板20と表面電極22の一方又は両方の表面に凹凸(テクスチャ構造)を設けることも好適である。
 ステップS12では、表面電極22に第1の分離溝Aを形成する。分離溝Aは、例えば、レーザ加工により形成する。例えば、波長約1064nm、エネルギー密度1×105W/cm2のNd:YAGレーザを使用して形成する。分離溝Aの線幅は10μm以上200μm以下とすることが好適である。
 ステップS14では、表面電極22上に第1太陽電池ユニット24を形成する。本実施の形態では、第1太陽電池ユニット24は非晶質(アモルファス)シリコン太陽電池とする。第1太陽電池ユニット24は、基板20側からp型、i型、n型の順に非晶質シリコン膜を積層して形成する。第1太陽電池ユニット24のi層の膜厚は100nm以上500nm以下とすることが好適である。第1太陽電池ユニット24は、例えば、プラズマ化学気相成長法(CVD)により形成する。第1太陽電池ユニット24の成膜条件の例を表1に示す。
 ステップS16では、第1太陽電池ユニット24上に中間層26を形成する。中間層26は、透光性を有する材料で構成する。中間層26は、例えば、ZnO,SiO2,SnO2,TiO2,In23等とすることができる。これらの金属酸化物にF,Sn,Al,Fe,Ga,Nb等がドープされていてもよい。中間層26の膜厚は10nm以上200nm以下とすることが好適である。中間層26は、DCスパッタリング法により形成することができる。中間層26の成膜条件の例を表1に示す。
 ステップS18では、中間層26上に第2太陽電池ユニット28を形成する。本実施の形態では、第2太陽電池ユニット28は微結晶シリコン太陽電池とする。第2太陽電池ユニット28は、基板20側からp型、i型、n型の順に微結晶シリコン膜を積層して形成する。第2太陽電池ユニット28のi層の膜厚は1000nm以上5000nm以下とすることが好適である。第2太陽電池ユニット28は、例えば、VHFプラズマ化学気相成長法(CVD)により形成する。第2太陽電池ユニット28の成膜条件の例を表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 ステップS20では、第2の分離溝Bを形成する。分離溝Bは、第2太陽電池ユニット28,中間層26,第1太陽電池ユニット24を貫いて表面電極22に到達するように形成する。分離溝Bの線幅は、10μm以上200μm以下とすることが好適である。
 分離溝Bは、例えば、レーザ加工により形成する。レーザ加工は、これに限定されるものではないが、波長約532nm(YAGレーザの第2高調波)を用いて行うことが好適である。レーザ加工のエネルギー密度は例えば1×105W/cm2とすればよい。
 ステップS22では、窒素(N)を含有する気体雰囲気中でプラズマ処理を行う。例えば、窒素(N2)又はアンモニア(NH3)雰囲気中においてプラズマ処理を行うことが好適である。プラズマ処理は、RFプラズマ処理とすることが好適である。プラズマ処理の際の窒素含有ガスの圧力は50Pa以上1000Pa以下とすることが好適である。プラズマ処理の際の導入エネルギーは0.5W/cm2以上100W/cm2とすることが好適である。
 このプラズマ処理によって、分離溝Bに露出している中間層26の端部26aにおける窒素含有量を高くすることができる。
 また、このプラズマ処理によって第2太陽電池ユニット28のn層の表面の窒素含有量が第2太陽電池ユニット28の他の領域、少なくともi層及びp層における窒素含有量よりも高くなる。例えば、第2太陽電池ユニット28のn層の表面から1000nmの深さまでの領域の窒素含有濃度が1000nmより深い領域の窒素含有濃度より高くなる。この窒素含有濃度の分布によりステップS20の処理が施されているか否かを判定することができる。なお、窒素は酸素に比べて太陽電池の特性を劣化させる原因となり難く、さらに、n型のシリコン層に与える影響は小さい。
 ステップS24では、第2太陽電池ユニット28上に裏面電極30を形成する。裏面電極30は、透明導電膜と金属膜との積層構造とすることが好ましい。透明導電膜は、例えば、ZnO,SiO2,SnO2,TiO2等とすることができ、ZnOを用いることがより好ましい。金属膜は、例えば、銀(Ag),アルミニウム(Al),金(Au)等を用いることができ、利用する光の反射率を考慮すると銀(Ag)を用いることがより好ましい。裏面電極30は、例えば、スパッタリング法を用いることにより形成する。
 裏面電極30は、分離溝Bに埋め込まれ、分離溝B内で裏面電極30と表面電極22とが電気的に接続される。すなわち、裏面電極30は、分離溝Bにおいて中間層26の端部26aと接触する。
 ステップS26では、第3の分離溝Cを形成する。分離溝Cは、裏面電極30,第2太陽電池ユニット28,中間層26,第1太陽電池ユニット24を貫いて表面電極22に到達するように形成する。分離溝Cは、分離溝Aとの間に分離溝Bを挟む位置に形成する。分離溝Cの線幅は、10μm以上200μm以下とすることが好適である。分離溝Cは、レーザ加工により形成することができる。例えば、波長約532nm(YAGレーザの第2高調波)、エネルギー密度1×105W/cm2のNd:YAGレーザを使用して分離溝Cを形成することができる。
 さらに、レーザ加工により光起電力装置100の周辺に周辺領域と発電領域とを分離する溝を形成する。
 以上のように、本実施の形態における光起電力装置100では、裏面電極30は、分離溝Bにおいて窒素含有量を高くした中間層26の端部26aと接触する。窒素を導入することにより中間層26の端部26aは高抵抗化、または、p型化されていると考えられ、裏面電極30をその端部26aと接触させることによってキャリア(電子又は正孔)に対する障壁とし、裏面電極30と中間層26との間の電流のリークを抑制することができる。
(実施例)
 ガラスの基板20に凹凸構造を有するSnO2膜である表面電極22を形成し、40μmの線幅の分離溝Aを形成した。その後、i層の膜厚が250nmのアモルファスシリコンの第1太陽電池ユニット24を形成した。
 第1太陽電池ユニット24を形成した後、アルミニウムをドーパントとして含む膜厚50nmのZnO膜を中間層26として形成した。続いて、i層の膜厚が2000nmの微結晶シリコンの第2太陽電池ユニット28を形成した。
 第2太陽電池ユニット28を形成後、波長532nmのNd:YAGレーザの第2高調波を用いて、線幅50μmの分離溝Bを形成した。その後、窒素(N2)又はアンモニア(NH3)ガス雰囲気中でRFプラズマ処理を行い、中間層26の端部26aに窒素を他の領域より高濃度に含有させた。窒化処理後、DCスパッタリング法により、裏面電極30として膜厚100nmのアルミニウムドープされたZnO膜と膜厚300nmの銀(Ag)膜を順次形成した。
 裏面電極30を形成後、波長532nmのNd:YAGレーザの第2高調波を用いて、線幅50μmの分離溝Cを形成した。また、波長1064nm及び532nmのNd:YAGレーザの基本波及び第2高調波を用いて、光起電力装置100の周辺領域と発電領域とを分離する溝を形成した。
(比較例)
 窒素(N2)ガス雰囲気中でのRFプラズマ処理のより窒化を行わないこと以外は上記実施例と同様に光起電力装置を製造した。
 上記実施例で製造された光起電力装置100及び上記比較例で製造された光起電力装置についてAM1.5、100mW/cm2、25℃の条件下で電流-電圧特性(I-V特性)を測定した。測定結果を表2に示す。なお、表2では比較例で製造された光起電力装置の特性を1として、実施例で製造された光起電力装置100の特性を規格化して示している。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 測定の結果から、本実施の形態における光起電力装置100は従来に比べて変換効率が向上した。特に、開放電圧Voc,曲線因子FFについては窒素(N2)及びアンモニア(NH3)のいずれの雰囲気中でのプラズマ処理でも特性が向上した。
 なお、本実施の形態では中間層26に対するドーパントして窒素を用いたが、他のp型ドーパントでも同様の効果が得られると考えられる。また、中間層26としてSiO2やTiO2等の金属酸化膜、他の透明導電膜を用いても同様の効果が得られる。
 また、本実施の形態ではアモルファスシリコン/微結晶シリコンのタンデム構造薄膜太陽電池について説明したが、本発明の適用範囲はこれに限定されるものではない。すなわち、透明導電膜が中間層として用いられた光起電力装置であれば同様の効果が得られると考えられる。特に、主材料をシリコンとし、シリコンと隣接する領域に透明導電膜からなる中間層が設けられたシリコン太陽電池であれば同様の効果が得られる。

Claims (7)

  1.  第1電極と、第2電極との間に、第1太陽電池ユニットと第2太陽電池ユニットとを導電性を有する中間層を挟み込んで積層した光起電力装置であって、
     前記第1電極の表面まで前記第1太陽電池ユニット、前記第2太陽電池ユニット及び前記中間層を貫いて形成された溝を介して前記第1電極と前記第2電極とが電気的に接続され、
     前記第2電極と接する前記中間層の端部にドーパントが添加されてPN接合が形成されていることを特徴とする光起電力装置。
  2.  第1電極、第1太陽電池ユニット、導電性を有する中間層、第2太陽電池ユニット及び第2電極の順に積層した光起電力装置であって、
     前記第1電極の表面まで前記第1太陽電池ユニット、前記第2太陽電池ユニット及び前記中間層を貫いて形成された溝を介して前記第1電極と前記第2電極とが電気的に接続され、
     前記第2太陽電池ユニットの前記第2電極側の表面近傍の窒素濃度が前記第2太陽電池ユニットの前記表面近傍以外の領域の窒素濃度よりも高いことを特徴とする光起電力装置。
  3.  請求項1に記載の光起電力装置であって、
     前記中間層は、ZnO,SiO2,SnO2,TiO2,In23の少なくとも1つを含むことを特徴とする光起電力装置。
  4.  請求項2に記載の光起電力装置であって、
     前記中間層は、ZnO,SiO2,SnO2,TiO2,In23の少なくとも1つを含むことを特徴とする光起電力装置。
  5.  請求項1に記載の光起電力装置であって、
     前記中間層はZnOであり、
     前記ドーパントは、N,P,As,Sb,Bi,Li,Na,K,Rb,Cs,Fr,Cu,Ag,Auの少なくとも1つであることを特徴とする光起電力装置。
  6.  第1電極と、第2電極との間に、第1太陽電池ユニットと第2太陽電池ユニットとを導電性を有する中間層を挟み込んで積層した光起電力装置の製造方法であって、
     前記第1電極の表面まで前記第1太陽電池ユニット、前記第2太陽電池ユニット及び前記中間層を貫く溝を形成する第1工程と、
     前記溝に露出された前記中間層にドーパントを添加して、前記中間層の端部にPN接合を形成する第2工程と、
     前記溝を介して前記第1電極と電気的に接続されるように前記第2電極を形成する第3工程と、
    を含むことを特徴とする光起電力装置の製造方法。
  7.  請求項6に記載の光起電力装置の製造方法であって、
     前記第2工程では、窒素又はアンモニア雰囲気中においてプラズマ処理を行うことによって、前記中間層に前記ドーパントとして窒素を添加することを特徴とする光起電力装置の製造方法。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102456757A (zh) * 2010-10-26 2012-05-16 富阳光电股份有限公司 多层堆栈结构的半导体元件
KR101652607B1 (ko) * 2011-09-19 2016-08-30 쌩-고벵 글래스 프랑스 직렬 연결형 박막 태양광 모듈 및 박막 태양 전지의 직렬 연결 방법

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6237920U (ja) * 1985-08-26 1987-03-06
JPS6384074A (ja) * 1986-09-26 1988-04-14 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JPH09162431A (ja) * 1995-12-13 1997-06-20 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 並列型集積化太陽電池
JPH11274527A (ja) * 1998-03-24 1999-10-08 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JP2001068707A (ja) * 1999-08-27 2001-03-16 Univ Osaka 導電性材料、導電性薄膜、複合膜、及び導電性材料の製造方法
JP2003273383A (ja) * 2002-03-15 2003-09-26 Sharp Corp 太陽電池素子およびその製造方法
JP2005038907A (ja) * 2003-07-15 2005-02-10 Kyocera Corp 集積型光電変換装置
JP2005093939A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 集積型タンデム接合太陽電池及び集積型タンデム接合太陽電池の製造方法
JP2005217038A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Sanyo Electric Co Ltd p型ZnO半導体膜及びその製造方法
JP2005322707A (ja) * 2004-05-07 2005-11-17 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 集積型太陽電池
JP2006313872A (ja) * 2005-04-06 2006-11-16 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 多接合薄膜太陽電池

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6237920U (ja) * 1985-08-26 1987-03-06
JPS6384074A (ja) * 1986-09-26 1988-04-14 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JPH09162431A (ja) * 1995-12-13 1997-06-20 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 並列型集積化太陽電池
JPH11274527A (ja) * 1998-03-24 1999-10-08 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
JP2001068707A (ja) * 1999-08-27 2001-03-16 Univ Osaka 導電性材料、導電性薄膜、複合膜、及び導電性材料の製造方法
JP2003273383A (ja) * 2002-03-15 2003-09-26 Sharp Corp 太陽電池素子およびその製造方法
JP2005038907A (ja) * 2003-07-15 2005-02-10 Kyocera Corp 集積型光電変換装置
JP2005093939A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 集積型タンデム接合太陽電池及び集積型タンデム接合太陽電池の製造方法
JP2005217038A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Sanyo Electric Co Ltd p型ZnO半導体膜及びその製造方法
JP2005322707A (ja) * 2004-05-07 2005-11-17 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 集積型太陽電池
JP2006313872A (ja) * 2005-04-06 2006-11-16 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 多接合薄膜太陽電池

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