WO2009144860A1 - 表示装置 - Google Patents
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- G02F2202/28—Adhesive materials or arrangements
Definitions
- the present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device configured by bonding a pair of substrates together with a sealing material at an outer peripheral portion.
- a liquid crystal display device which is one of the display devices, is thin and lightweight, and is therefore widely used in mobile devices such as mobile phones and AV devices such as liquid crystal televisions.
- a liquid crystal display panel constituting the liquid crystal display device includes a first substrate and a second substrate which are arranged to face each other, and a liquid crystal layer provided between the two substrates.
- first substrate and the second substrate are bonded together by a seal portion formed in a non-display area on the outer peripheral portion of each substrate.
- the seal part is generally composed of a sealing material such as an epoxy resin, for example, the adhesive strength with an organic insulating film formed on the surface of each substrate tends to be low.
- each substrate constituting the liquid crystal display panel is thinned and easily bent. Therefore, in particular, when mounting components such as external connection terminals are mounted after the liquid crystal display panel is manufactured, there is a possibility that the pair of substrates bonded by the seal portion may be peeled off due to the substrate being bent by the load.
- a liquid crystal dropping and bonding method having higher productivity than the conventional dip injection method is used as a method for forming a liquid crystal layer by supplying a liquid crystal material between a pair of substrates.
- a liquid crystal dropping and bonding method for example, a rectangular frame-shaped seal portion is formed on one of a pair of substrates, and then a liquid crystal material is dropped inside the seal portion of one substrate and bonded to the other substrate. It is.
- the liquid crystal display panel produced by this liquid crystal dropping and bonding method tends to have a lower adhesive strength than the liquid crystal display panel produced by the dip injection method due to the difference in the material constituting the seal portion, and thus the substrate peels off. there is a possibility.
- the non-display area of the outer peripheral part that does not contribute to the display of the liquid crystal display panel is becoming narrower and the frame is becoming narrower. Therefore, the width of the seal part arranged in the non-display area It is conceivable to narrow down. In that case, since it is necessary to adhere
- liquid crystal display panel tends to be peeled off due to thinness, manufacturing process, narrowed frame, and the like, an improvement in adhesive strength between a pair of substrates by a seal portion is required.
- Patent Literature 1 discloses a liquid crystal display device 100 having a structure shown in FIGS.
- FIG. 11 is a plan view of a conventional liquid crystal display device 100 described in Patent Document 1 and the like.
- FIG. 12 shows an enlarged plan view of the seal region 117 ′ surrounded by the dotted line frame S in FIG. 11.
- the liquid crystal display device 100 includes a liquid crystal display panel 111 including a thin film transistor substrate 112 having a terminal portion 115 and a color filter substrate 113.
- the thin film transistor substrate 112 and the color filter substrate 113 are provided with a liquid crystal layer therebetween, and are bonded to each other with a sealant 117.
- the sealing material 117 is provided in a sealing area 117 ′ around the display area 116.
- a plurality of gate layers 120 each formed in a strip shape are provided at predetermined intervals along the width direction of the seal region 117 ′. Then, a stepped portion is formed by the strip-shaped gate layer 120, and an adhesive area with the sealing material 117 is increased, thereby improving the adhesive strength.
- the liquid crystal display device 100 when the thin film transistor substrate 112 and the color filter substrate 113 are bonded together at a predetermined position, a desired adhesive strength can be obtained between the two substrates. However, if the substrates are displaced when the two substrates are bonded together, the sealant 117 is not disposed at a predetermined position, so that the distance between the thin film transistor substrate 112 and the color filter substrate 113, that is, the cell thickness is increased. There is a problem of changing.
- the gate layers 120 pass between the gate layers 120 and enter the display region 116 from the outside. Moisture and foreign matter may be mixed in, causing display defects.
- the present invention has been made in view of the above points, and the object of the present invention is to provide a display device that has a good adhesive force for bonding substrates, can reliably control the cell thickness, and has a good display quality. Is to provide.
- a display device includes first and second substrates each provided with an insulating base material and arranged to face each other, a display medium layer provided between the first and second substrates, and a display
- a sealing device that is provided in a sealing region that surrounds the medium layer, and that adheres the first and second substrates, and the sealing region of the first substrate includes an insulating base material on the insulating substrate, A plurality of structures formed along the length direction of the seal region, and an eaves portion that is provided on each of the plurality of structures and protrudes in a direction along the surface of the insulating base to form a gap below.
- the sealing material is bonded to the eaves on the eaves and filled in the gap to adhere to the structure.
- the structure may be formed in a convex shape.
- the structure may be formed of the same insulating layer as the insulating layer provided in the display region on the insulating substrate.
- the gap may constitute a side portion of the notch formed in the insulating layer.
- the eaves portion may be formed of the same semiconductor film as the semiconductor film on the insulating layer provided in the display region.
- the display device according to the present invention is provided on the eaves portion with the convex upper structure and the upper structure, and protrudes in the direction along the surface of the insulating base to form a gap below.
- An eaves part may be formed.
- the upper structure may be formed of the same semiconductor film as the semiconductor film provided in the display region.
- the upper eaves portion may be formed of the same metal thin film as the metal thin film provided in the display area.
- the structure may be formed over the entire circumference of the seal region surrounding the display medium layer.
- the present invention it is possible to provide a display device that has a good adhesive force for bonding substrates, can reliably control the cell thickness, and has a good display quality.
- FIG. 2 is an enlarged plan view around a seal region surrounded by a dotted line frame S in FIG. 1.
- FIG. 6 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate taken along line A-A ′ of FIG. 5. It is an enlarged plan view of the seal region periphery of the liquid crystal display device according to the second embodiment of the present invention.
- FIG. 8 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate taken along line A-A ′ of FIG. 7.
- FIG. 10 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate taken along line A-A ′ of FIG. 9. It is a top view of the conventional liquid crystal display device.
- FIG. 12 is an enlarged plan view of a seal region surrounded by a dotted line frame S in FIG. 11.
- Liquid crystal display device 11 Liquid crystal display panel 12, 32, 52 Thin film transistor substrate 13 Color filter substrate 16, 36, 56 Display area 20, 40, 60 Glass substrate 21, 41, 61 Liquid crystal layer 22, 42, 62 Gate Insulating film 23, 43, 63 Interlayer insulating film 24, 44, 64 Protective film 25, 45, 65 Structure 29, 48, 68 Semiconductor film 26, 46, 66 Eaves part 27, 47, 67, 92 Gap 17, 37, 57 sealing material 17 ', 37', 57 'sealing region 49, 69, 73 n + semiconductor film 72 gate electrode 75 source electrode 76 drain electrode 77 thin film transistor 90 upper structure 91 upper eaves part
- a liquid crystal display device will be described as an example of the display device.
- the present invention is not limited to the following embodiment.
- FIG. 1 is a plan view of a liquid crystal display device 10 according to Embodiment 1 of the present invention.
- FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device 10.
- FIG. 3 shows a cross-sectional view of the thin film transistor substrate 12.
- FIG. 4 is a cross-sectional view of the color filter substrate 13.
- the liquid crystal display device 10 includes a liquid crystal display panel 11 and a backlight 19.
- the liquid crystal display panel 11 includes a thin film transistor substrate 12 (first substrate) and a color filter substrate 13 (second substrate), which are thin film laminated devices in which a plurality of thin films are laminated on an insulating base material such as a glass substrate. Yes.
- the liquid crystal display panel 11 includes a liquid crystal layer 21 formed between the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13.
- FIG. 3 shows a cross-sectional view of the thin film transistor substrate 12.
- the thin film transistor substrate 12 is provided with a plurality of pixels (not shown), and a thin film transistor 77 is formed in each pixel.
- the thin film transistor substrate 12 is provided with an alignment film 18 on the surface on the liquid crystal layer 21 side and a polarizing plate 28 on the surface opposite to the liquid crystal layer 21 side.
- the thin film transistor substrate 12 is constituted by a glass substrate 20 having a thickness of 0.7 mm, for example.
- a SiNx film (not shown) is formed as a base coat layer with a thickness of 150 nm or the like.
- a gate electrode 72 made of, for example, Ti or the like is formed with a thickness of about 200 nm for each pixel on a part of the SiNx film, and is formed of, for example, a SiNx layer so as to cover the SiNx film and the gate electrode 72.
- the gate insulating film 22 is formed with a thickness of about 400 nm.
- a semiconductor film 29 covering the entire gate electrode 72 through the gate insulating film 22 is formed with a thickness of about 150 nm, for example.
- the semiconductor film 29 is formed of at least one of amorphous Si (a-Si), polycrystalline Si, microcrystalline Si, oxide semiconductor, and the like, for example.
- an n + semiconductor film 73 doped with an n-type impurity at a high concentration is formed with a thickness of, for example, about 50 nm.
- a source electrode 75 and a drain electrode 76 made of, for example, Ti are formed with a thickness of about 200 nm.
- the thin film transistor 77 having the gate electrode 72, the source electrode 75 and the drain electrode 76 is formed on the thin film transistor substrate 12.
- the thin film transistor 77 is covered with an interlayer insulating film 23 and a protective film 24 each formed of, for example, a SiNx layer.
- a pixel electrode (not shown) constituting each pixel is formed on the drain electrode 76 via the interlayer insulating film 23 and the protective film 24, and the drain electrode 76 and the pixel electrode are formed on the interlayer insulating film 23 and the protective film 24. It is electrically connected through the formed contact hole.
- the thin film transistor substrate 12 is formed in a larger area than the color filter substrate 13, and when the two substrates are bonded together, a region where the thin film transistor substrate 12 is left (the surplus region 14) is generated as shown in FIG. In the surplus area 14, a terminal portion 15 and the like for transmitting an external signal are formed.
- the color filter substrate 13 is composed of a glass substrate 80 (insulating base material). On the glass substrate 80, for example, a SiNx film (not shown) formed as a base coat is formed with a thickness of 150 nm or the like. On the SiNx film, a plurality of color filter layers 82 constituting each pixel are formed at predetermined intervals. A black matrix layer 83 that partitions the plurality of color filter layers 82 is formed between the adjacent color filter layers 82, and a counter electrode 84 is formed so as to cover the color filter layers 82 and the black matrix layer 83. Has been. In the color filter substrate 13, an alignment film 18 ′ is provided on the surface on the liquid crystal layer 21 side, and a polarizing plate 28 ′ is provided on the surface opposite to the liquid crystal layer 21 side.
- the liquid crystal layer 21 is surrounded and sealed by a sealing material 17 formed between the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13.
- a columnar spacer (not shown) made of, for example, plastic or glass is formed between the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13 in order to make the distance between the two substrates uniform.
- FIG. 5 shows an enlarged plan view around the seal region 17 ′ surrounded by the dotted line frame S in FIG. 1.
- FIG. 6 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate 12 taken along the line A-A ′ of FIG.
- a gate insulating film 22, an interlayer insulating film 23, and a protective film 24 formed in the display region 16 are stacked around the seal region 17 'of the thin film transistor substrate 12. These layers are notched in the sealing region 17 ′, and the glass substrate 20 is exposed in the region.
- a structure 25 made of the same material as the gate insulating film 22 is formed on the glass substrate 20.
- a plurality of structures 25 are formed on the glass substrate 20 in the seal region 17 ′ so as to extend along the length direction of the seal region 17 ′ and over the entire circumference of the seal region 17 ′.
- the structure 25 is formed in a convex shape. More specifically, the structure 25 is formed in a cylindrical shape having a height and a diameter of, for example, about 400 nm.
- the structure 25 is not particularly limited as long as it has a convex shape, and may be formed in a prismatic shape, a tapered shape, a reverse tapered shape, or the like.
- the eaves part 26 is provided on each of the plurality of structures 25.
- the eaves part 26 is formed in a cylindrical shape having a height of about 100 nm and a diameter of about 500 nm, for example.
- the eaves portion 26 protrudes in a direction along the surface of the glass substrate 20 and forms a gap 27 below.
- the gap 27 constitutes a side portion of the notch 27 ′ formed in the gate insulating film 22.
- the eaves portion 26 is not particularly limited as long as it forms a gap 27, and may be formed in a prismatic shape or a tapered shape.
- the eaves portion 26 is formed of the same material as the semiconductor film 29 provided in the display region 16.
- the sealing material 17 provided in the sealing region 17 ′ so as to surround the liquid crystal layer 21 is bonded to the eaves portion 26 on the eaves portion 26 and is attached to the gate insulating film 22.
- the formed gap 27 is filled and adhered to the structure 25.
- a glass substrate 20 serving as a base of the thin film transistor substrate 12 is prepared. Then, a base coat layer is formed on the glass substrate 20. Subsequently, a Ti film having a thickness of about 200 nm is formed on the base coat layer by sputtering, and then patterned by photolithography to form the gate electrode 72. Next, a SiN film (400 nm) / a-Si (150 nm) / n + Si (50 nm) is continuously formed at a high temperature of 250 ° C.
- a-Si and n + Si are patterned in an island shape by photolithography.
- the semiconductor film 29 in the seal region 17 ′ is also formed by the same patterning mask at the same time so that a plurality of circular regions are along the length direction of the seal region 17 ′ and over the entire circumference of the seal region 17 ′. To be patterned.
- Ti is deposited to a thickness of about 200 nm on the gate insulating film 22 / semiconductor film 29 / n + semiconductor film 73 in the display region 16 by sputtering and then patterned by photolithography to form the source electrode 75 and the drain.
- An electrode 76 is formed.
- an interlayer insulating film 23 and a protective film 24 are formed using a SiNx layer or the like, and contact holes are formed in the interlayer insulating film 23 and the protective film 24 by etching so as to reach the drain electrode 76 from the surface. .
- the semiconductor film 29 and the gate insulating film 22 remaining in the seal region 17 ′ are also etched using the same mask.
- the gate insulating film 22 (SiN) has an etching rate higher than that of the semiconductor film 29 (a-Si)
- the gate insulating film 22 other than the lower part of the plurality of circular regions constituted by the semiconductor film 29 is used.
- the existing portion (exposed portion) is etched faster than the semiconductor film 29.
- the structure 25 is formed by the gate insulating film 22 being greatly etched and thinned, and the semiconductor film 29 protrudes in the direction along the surface of the glass substrate 20 and forms a gap 27 below.
- the constituted eaves part 26 is formed on the structure 25.
- a pixel electrode that is electrically connected to the drain electrode 76 through a contact hole is formed on the protective film 24, and then an alignment film 18 is formed to manufacture the thin film transistor substrate 12.
- a glass substrate 80 serving as a base of the color filter substrate 13 is prepared. Then, a thin film such as the color filter layer 82 and the counter electrode 84 and the alignment film 18 ′ are formed on the glass substrate 80 to produce the color filter substrate 13.
- the sealing material 17 is applied in a substantially frame shape to the sealing region 17 ′ on the alignment film 18 side of the thin film transistor substrate 12 or the color filter substrate 13.
- the sealing material 17 adheres to the eaves portion 26 on the eaves portion 26, fills the gap 27 formed in the gate insulating film 22, and adheres to the structure 25.
- the sealing material 17 is formed so as to form an injection port for injecting a liquid crystal material when the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13 are bonded to each other.
- the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13 are bonded to each other through the sealing material 17 so that the surfaces provided with the alignment films 18 face each other, and a liquid crystal material is injected from the injection port. Is sealed to form the liquid crystal layer 21.
- polarizing plates 28 and 28 ' are respectively attached to the surfaces of the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13 opposite to the liquid crystal layer 21 side to produce the liquid crystal display panel 11, and the backlight 19 is provided thereon.
- the liquid crystal display device 10 is completed.
- FIG. 7 is an enlarged plan view around the seal region 37 ′ of the liquid crystal display device 30 according to the second embodiment of the present invention.
- FIG. 8 is a sectional view of the thin film transistor substrate 32 taken along the line AA ′ of FIG.
- a gate insulating film 42, a semiconductor film 48 (a-Si), an n + semiconductor film 49 (n + Si), an interlayer insulating film 43, and a protective film 44 formed in the display region are laminated around the seal region 37 ′ of the thin film transistor substrate 32. ing. These layers are cut out at a seal region 37 ′ to form a cutout 47 ′, and the glass substrate 40 is exposed in the region.
- the notch 47 ' is formed in a cylindrical shape having a height and a diameter of about 400 nm, for example.
- the shape of the notch 47 ' is not limited, and may be formed in a prismatic shape, a tapered shape, a reverse tapered shape, or the like.
- the adjacent portion of the notch 47 ′ on the glass substrate 40 is made of the same material as the gate insulating film 42, and extends along the length direction of the seal region 37 ′ on the glass substrate 40 in the seal region 37 ′.
- a structure 45 is formed over the entire circumference of the region 37 ′.
- a eaves portion 46 is formed on the structure 45.
- the eaves portion 46 protrudes in a direction along the surface of the glass substrate 40 and forms a gap 47 below.
- the gap 47 constitutes the side of the notch 47 '.
- the eaves portion 46 is made of the same material as the semiconductor film 48 provided in the display region 16.
- the sealing material 37 provided in the sealing region 37 ′ so as to surround the liquid crystal layer 41 is bonded to the eaves portion 46 on the eaves portion 46 and is formed in the gate insulating film 42.
- the gap 47 is filled and adhered to the structure 45.
- the structure 45 and the eaves portion 46 in the seal region 37 ′ can be formed simultaneously with the formation of each component of the thin film transistor substrate 32, as in the first embodiment. Specifically, first, a glass substrate 40 serving as a base of the thin film transistor substrate 32 is prepared. Then, a base coat layer and a gate electrode are formed on the glass substrate 40. Next, a SiN film / a-Si / n + Si is continuously formed as the gate insulating film 42 / semiconductor film 48 / n + semiconductor film 49, and then a-Si and n + Si are patterned into islands by photolithography. .
- the semiconductor film 48 in the seal region 37 ′ is also applied to the entire circumference of the seal region 37 ′ by using the same patterning mask so that the plurality of circular holes are along the length direction of the seal region 37 ′. Patterned to form.
- Ti is deposited to a thickness of about 200 nm by sputtering, and then patterned by photolithography to form source and drain electrodes. Form.
- an interlayer insulating film 43 and a protective film 44 are formed using a SiNx layer or the like, and contact holes are formed in the interlayer insulating film 43 and the protective film 44 by etching so as to reach the drain electrode from the surface.
- the semiconductor film 48 and the gate insulating film 42 remaining in the seal region 37 ' are also etched using the same mask.
- the gate insulating film 42 (SiN) has an etching rate higher than that of the semiconductor film 48 (a-Si), portions of the gate insulating film 42 corresponding to the plurality of circular holes formed in the semiconductor film 48. Is etched faster.
- the structure 45 is formed by the gate insulating film 42 being greatly etched and thinned, and the semiconductor film 48 protrudes in the direction along the surface of the glass substrate 40 and forms a gap 47 below.
- the constructed eaves portion 46 is formed on the structure 45. At this time, a plurality of cylindrical notches 47 ′ having the gap 47 as a side portion are formed.
- a pixel electrode that is electrically connected to the drain electrode through the contact hole is formed on the protective film 44, and then an alignment film is formed to manufacture the thin film transistor substrate 32.
- a color filter substrate is manufactured, and then a sealing material 37 is applied in a substantially frame shape to the thin film transistor substrate 32 or the sealing region 37 ′ on the alignment film side of the color filter substrate.
- the sealing material 37 adheres to the eaves portion 46 on the eaves portion 46, fills the gap 47 formed in the gate insulating film 42, and adheres to the structure 45.
- a polarizing plate is attached to each surface of the thin film transistor substrate 32 and the color filter substrate opposite to the liquid crystal layer 41 side to produce a liquid crystal display panel, and a backlight is provided thereon to complete the liquid crystal display device 30.
- FIG. 9 is an enlarged plan view around the seal region 57 ′ of the liquid crystal display device 50 according to the third embodiment of the present invention.
- FIG. 10 is a cross-sectional view of the thin film transistor substrate 52 taken along line AA ′ of FIG.
- a gate insulating film 62, a semiconductor film 68 (a-Si), an n + semiconductor film 69 (n + Si), an interlayer insulating film 63, and a protective film 64 formed in the display region 56 are stacked around the seal region 57 ′ of the thin film transistor substrate 52. Has been. These layers are notched in the seal region 57 'to form a notch 67', and the glass substrate 60 is exposed in the region.
- the notch 67 ' is formed in a cylindrical shape having a height and a diameter of about 400 nm, for example.
- the shape of the notch 67 ′ is not limited, and may be formed in a prismatic shape, a tapered shape, a reverse tapered shape, or the like.
- the adjacent portion of the notch 67 ′ on the glass substrate 60 is made of the same material as that of the gate insulating film 62, and extends along the length direction of the seal region 57 ′ on the glass substrate 60 in the seal region 57 ′.
- a structure 65 is formed over the entire circumference of the region 57 ′.
- An eaves portion 66 is formed on the structure 65.
- the eaves portion 66 protrudes in a direction along the surface of the glass substrate 60 and forms a gap 67 below.
- the gap 67 constitutes a side portion of the notch 67 '.
- the eaves 66 is made of the same material as the semiconductor film 68 provided in the display region 56.
- a convex upper structure 90 and an upper eaves 91 provided on the upper structure 90 and projecting in the direction along the surface of the glass substrate 60 to form a gap 92 below are provided on the eaves 66.
- a plurality of each is formed.
- the upper structure 90 is made of the same material as the n + semiconductor film 69 (n + Si) provided in the display region 56.
- the upper structure 90 is formed in a cylindrical shape having a height and a diameter of about 100 nm, for example.
- the upper eaves part 91 is formed of the same metal thin film as the source electrode and the drain electrode.
- the upper eaves part 91 is formed in a cylindrical shape having a height and a diameter of about 200 nm, for example.
- the seal material 57 provided in the seal region 57 ′ so as to surround the liquid crystal layer 61 between the thin film transistor substrate 52 and the color filter substrate is on the eaves 66 and the upper eaves 91 and on the eaves 66 and the upper eaves 91.
- the gaps 67 and 92 formed in the gate insulating film 62 and the n + semiconductor film 69 are filled and bonded to the structure 65 and the upper structure 90, respectively.
- the structure 65, the eaves portion 66, the upper structure 90, and the upper eaves portion 91 in the seal region 57 ' can be formed simultaneously with the formation of each component of the thin film transistor substrate 52, as in the first embodiment.
- a glass substrate 60 serving as a base of the thin film transistor substrate 52 is prepared.
- a base coat layer and a gate electrode are formed on the glass substrate 60.
- a SiN film / a-Si / n + Si is continuously formed as the gate insulating film 62 / semiconductor film 68 / n + semiconductor film 69, and then a-Si and n + Si are patterned into islands by photolithography. .
- the semiconductor film 68 in the seal region 57 ′ is also simultaneously spread over the entire circumference of the seal region 57 ′ so that the plurality of circular holes are along the length direction of the seal region 57 ′ with the same patterning mask. Then, the n + semiconductor film 69 is patterned into a columnar shape in a region where the circular holes of the semiconductor film 68 are avoided, and a plurality of upper structures 90 are formed.
- Ti is formed on the gate insulating film 62 / semiconductor film 68 / n + semiconductor film 69 in the display region 56 by sputtering to a thickness of about 200 nm, and then patterned by photolithography to form source and drain electrodes. Form.
- the columnar upper eaves 91 is simultaneously formed on the upper structure 90 by using the same patterning mask for the Ti film in the seal region 57 ′.
- an interlayer insulating film 63 and a protective film 64 are formed using a SiNx layer or the like, and contact holes are formed in the interlayer insulating film 63 and the protective film 64 by etching so as to reach the drain electrode from the surface.
- the gate insulating film 62 (SiN) has a higher etching rate than the semiconductor film 68 (a-Si), portions corresponding to a plurality of circular holes formed in the semiconductor film 68 of the gate insulating film 62. Is etched faster.
- the gate insulating film 62 is greatly etched and thinned to form the structure 65, and the semiconductor film 68 protrudes in the direction along the surface of the glass substrate 60 and forms a gap 67 below.
- the constructed eaves 66 is formed on the structure 65. At this time, a plurality of cylindrical notches 67 ′ having the gap 67 as a side portion are formed.
- a pixel electrode that is electrically connected to the drain electrode through the contact hole is formed on the protective film 64, and then an alignment film is formed to manufacture the thin film transistor substrate 52.
- a color filter substrate is manufactured, and then a sealing material 57 is applied in a substantially frame shape to the thin film transistor substrate 52 or the sealing region 57 'on the alignment film side of the color filter substrate.
- the seal material 57 adheres to the eaves 66 and the upper eaves 91 on the eaves 66 and the upper eaves 91, and the gaps 67 and 92 formed in the gate insulating film 62 and the n + semiconductor film 69. And bonded to the structure 65 and the upper structure 90.
- a polarizing plate is attached to each surface of the thin film transistor substrate 52 and the color filter substrate opposite to the liquid crystal layer 61 side to produce a liquid crystal display panel, and a backlight is provided thereon to complete the liquid crystal display device 50. .
- an LCD liquid crystal display
- the display device is not limited to this.
- an organic EL organic electroluminescence
- an inorganic EL inorganic electroluminescence
- Electrophoretic PD (plasma display)
- PALC plasma addressed liquid crystal display
- FED field emission display
- SED surface-conduction electron-
- It may be a display device such as emitter display (surface electric field display).
- a plurality of liquid crystal display devices 10, 30, and 50 are formed in the seal regions 17 ′, 37 ′, and 57 ′ of the thin film transistor substrates 12, 32, and 52 along the length direction of the seal regions 17 ′, 37 ′, and 57 ′.
- Eaves portions 26, 46, 66 to be formed are provided, and the sealing materials 17, 37, 57 are bonded to the eaves portions 26, 46, 66 on the eaves portions 26, 46, 66 and gaps 27, 47. , 67 and bonded to the structures 25, 45, 65.
- the sealing members 17, 37, and 57 ′ are provided on the structures 25, 45, and 65, and the structures 25, 45, and 65 are bonded to the sealing regions 17 ′, 37 ′, and 57 ′. Since the eaves portions 26, 46, and 66 are formed, the bonding area of the sealing materials 17, 37, and 57 is increased, and the thin film transistor substrates 12, 32, and 52 and the color filter substrate can be bonded better. it can. Further, eaves portions 26, 46, 66 provided on the plurality of structures 25, 45, 65, respectively, projecting in the direction along the surfaces of the glass substrates 20, 40, 60 and forming gaps 27, 47, 67 below.
- the structure 25 is formed in a convex shape.
- the adhesion area with the sealing material 17 becomes larger, and the thin film transistor substrate 12 and the color filter substrate 13 can be bonded better.
- the structures 25, 45, and 65 are the same as the gate insulating films 22, 42, and 62 provided in the display regions 16, 36, and 56 on the insulating base material.
- the same semiconductor as the semiconductor films 29, 48, 68 on the gate insulating films 22, 42, 62 provided in the display regions 16, 36, 56 is formed by the gate insulating film. It is formed of a film.
- the structural bodies 25, 45, 65 and the eaves portions 26, 46, 66 are formed into respective components of the liquid crystal display devices 10, 30, 50 constituting the display areas 16, 36, 56. At the same time, it can be formed by the same method. For this reason, it is possible to form the structures 25, 45, 65 and the eaves portions 26, 46, 66 at the same time in the conventional production line without requiring an extra step. Therefore, the manufacturing efficiency and manufacturing cost of the liquid crystal display devices 10, 30, and 50 are improved.
- liquid crystal display device 50 is provided on the eaves portion 66 on the convex upper structure 90 and the upper structure 90, and protrudes in a direction along the surface of the glass substrate 60 to form a gap 92 below.
- An upper eaves portion 91 is further formed.
- the upper structure 90 to which the seal material 57 adheres and the upper eaves 91 on the upper structure 90 are further formed in the seal region 57 ′.
- the thin film transistor substrate 52 and the color filter substrate can be bonded better.
- the upper eaves portion 91 provided on the upper structure 90 and protruding in the direction along the surface of the glass substrate 60 to form the gap 92 below becomes a catching portion of the sealing material 57, the bonding between the two substrates is performed. The power becomes even better.
- the upper structure 90 is formed of the same n + semiconductor film 69 as the n + semiconductor film 69 provided in the display region 56, and the upper eaves 91 is the same as the source electrode and the drain electrode. It is formed of a metal thin film.
- the upper structure 90 and the upper eaves portion 91 can be formed simultaneously with the formation of the respective components of the liquid crystal display device 50 constituting the display region 56 and in the same method. For this reason, the upper structure 90 and the upper eaves part 91 can be simultaneously formed on a conventional production line without requiring an extra step. Therefore, the manufacturing efficiency and manufacturing cost of the liquid crystal display device 50 are improved.
- the structures 25, 45, and 65 are formed over the entire circumference of the seal regions 17 ′, 37 ′, and 57 ′ surrounding the liquid crystal layers 21, 41, and 61. Yes.
- the structures 25, 45, 65 are formed over the entire circumference of the seal regions 17 ′, 37 ′, 57 ′ surrounding the liquid crystal layers 21, 41, 61.
- the thin film transistor substrates 12, 32, 52 and the color filter substrate can be better bonded together over the entire circumference of 17 ', 37', 57 '.
- the present invention is useful for display devices.
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Abstract
表示装置10は、第1基板12のシール領域17’に、シール領域17’の長さ方向に沿うように複数形成された構造体25と、複数の構造体25上にそれぞれ設けられ、絶縁性基材の表面に沿う方向に突出して下方に間隙27を形成するひさし部26と、が設けられている。シール材17は、ひさし部26上でひさし部26に接着していると共に間隙27に充填されて構造体25に接着している。
Description
本発明は、表示装置に関し、特に、一対の基板が外周部でシール材により貼り合わされて構成される表示装置に関する。
表示装置の1つである液晶表示装置は、薄型で軽量であるので、携帯電話を始めとするモバイル機器、液晶テレビを始めとするAV機器などに広く用いられている。この液晶表示装置を構成する液晶表示パネルは、互いに対向して配置された第1基板及び第2基板と、それら両基板の間に設けられた液晶層とを備えている。
ここで、上記第1基板と第2基板とは、各基板の外周部の非表示領域に形成されたシール部によって貼り合わされている。
上記シール部は、一般的にエポキシ樹脂などのシール材により構成されているので、例えば、各基板の表面に形成された有機絶縁膜との接着強度が低い傾向にある。
ところで、液晶表示パネルは、近年、益々薄型になっているので、その液晶表示パネルを構成する各基板が薄くなって、撓み易くなっている。そのため、特に、液晶表示パネルを作製した後に外部接続端子などの実装部品を搭載する際に、その荷重によって基板が撓むことにより、シール部によって貼り合わされていた一対の基板が剥がれるおそれがある。
また、近年、液晶表示パネルの製造プロセスでは、一対の基板の間に液晶材料を供給して液晶層を形成する方法として、従来のディップ注入法よりも生産性の高い液晶滴下貼り合わせ法を用いることが多くなっている。この液晶滴下貼り合わせ法は、例えば、一対の基板の一方に矩形枠状のシール部を形成した後に、一方の基板のシール部の内側に液晶材料を滴下して、他方の基板と貼り合わせる方法である。この液晶滴下貼り合わせ法で作製した液晶表示パネルは、シール部を構成する材料などの違いにより、その接着強度がディップ注入法で作製した液晶表示パネルよりも低くなる傾向があるので、基板が剥がれる可能性がある。
さらに、特に、携帯電話などのモバイル機器では、液晶表示パネルの表示に寄与しない外周部の非表示領域を狭くする、狭額縁化が進んでいるので、非表示領域内に配置させるシール部の幅を狭くすることが考えられる。そうなると、限られた面積内で一対の基板を接着する必要があるので、基板が剥がれる可能性が高くなる。
このように、液晶表示パネルは、薄型、製造プロセス及び狭額縁化などによって、基板が剥がれ易くなる傾向にあるので、シール部による一対の基板間の接着強度の向上が求められている。
このような課題に対し、例えば、特許文献1等には、図11及び12に示す構造の液晶表示装置100が開示されている。図11は、特許文献1等に記載の従来の液晶表示装置100の平面図を示す。図12は、図11の点線枠Sで囲まれたシール領域117’の拡大平面図を示す。
液晶表示装置100は、図11に示すように、端子部115を備えた薄膜トランジスタ基板112とカラーフィルタ基板113で構成される液晶表示パネル111を備えている。薄膜トランジスタ基板112とカラーフィルタ基板113とは、それらの間に液晶層が設けられ、互いにシール材117で貼り合わされている。シール材117は、表示領域116の周囲のシール領域117’に設けられている。
シール領域117’には、図12に示すように、それぞれ短冊状に形成されたゲート層120が、シール領域117’の幅方向に沿って、所定間隔を空けて複数設けられている。そして、この短冊状のゲート層120によって段差部を形成し、シール材117との接着面積を増やすことで、接着強度の向上を図っている。
特開平09-33933号公報
液晶表示装置100は、薄膜トランジスタ基板112とカラーフィルタ基板113とが所定の位置で貼り合わされた場合には、両基板間で所望の接着強度が得られる。しかしながら、両基板を貼り合わせる際に、基板同士がずれてしまった場合には、シール材117が所定位置に配置されないことにより、薄膜トランジスタ基板112とカラーフィルタ基板113との間隔、すなわち、セル厚が変わってしまうという問題がある。
また、短冊状に形成されたゲート層120が、シール領域117’の幅方向に沿って、所定間隔を空けて複数設けられているため、このゲート層120間を通り、外部から表示領域116内へ水分や異物が混入し、表示不良が生じるおそれもある。
本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、基板貼り合わせの接着力が良好で、確実にセル厚を制御でき、且つ、表示品位の良好な表示装置を提供することである。
本発明に係る表示装置は、各々、絶縁性基材を備え、互いに対向して配置された第1及び第2基板と、第1及び第2基板の間に設けられた表示媒体層と、表示媒体層を包囲するシール領域に設けられて、第1及び第2基板を接着するシール材と、を備えた表示装置であって、第1基板のシール領域には、絶縁性基材上において、シール領域の長さ方向に沿うように複数形成された構造体と、複数の構造体上にそれぞれ設けられ、絶縁性基材の表面に沿う方向に突出して下方に間隙を形成するひさし部と、が設けられ、シール材は、ひさし部上でひさし部に接着していると共に間隙に充填されて構造体に接着していることを特徴とする。
また、本発明に係る表示装置は、構造体が、凸状に形成されていてもよい。
さらに、本発明に係る表示装置は、構造体が、絶縁性基材上において、表示領域に設けられた絶縁層と同一の絶縁層で形成されていてもよい。
また、本発明に係る表示装置は、間隙が、絶縁層に形成された切り欠きの側部を構成してもよい。
さらに、本発明に係る表示装置は、ひさし部が、表示領域に設けられた絶縁層上の半導体膜と同一の半導体膜で形成されていてもよい。
また、本発明に係る表示装置は、ひさし部上に、凸状の上方構造体と、上方構造体上に設けられ、絶縁性基材の表面に沿う方向に突出して下方に間隙を形成する上方ひさし部と、が形成されていてもよい。
さらに、本発明に係る表示装置は、上方構造体が、表示領域に設けられた半導体膜と同一の半導体膜で形成されていてもよい。
また、本発明に係る表示装置は、上方ひさし部が、表示領域に設けられた金属薄膜と同一の金属薄膜で形成されていてもよい。
さらに、本発明に係る表示装置は、構造体が、表示媒体層を包囲するシール領域の全周に渡って形成されていてもよい。
本発明によれば、基板貼り合わせの接着力が良好で、確実にセル厚を制御でき、且つ、表示品位の良好な表示装置を提供することができる。
10,30,50 液晶表示装置
11 液晶表示パネル
12,32,52 薄膜トランジスタ基板
13 カラーフィルタ基板
16,36,56 表示領域
20,40,60 ガラス基板
21,41,61 液晶層
22,42,62 ゲート絶縁膜
23,43,63 層間絶縁膜
24,44,64 保護膜
25,45,65 構造体
29,48,68 半導体膜
26,46,66 ひさし部
27,47,67,92 間隙
17,37,57 シール材
17’,37’,57’ シール領域
49,69,73 n+半導体膜
72 ゲート電極
75 ソース電極
76 ドレイン電極
77 薄膜トランジスタ
90 上方構造体
91 上方ひさし部
11 液晶表示パネル
12,32,52 薄膜トランジスタ基板
13 カラーフィルタ基板
16,36,56 表示領域
20,40,60 ガラス基板
21,41,61 液晶層
22,42,62 ゲート絶縁膜
23,43,63 層間絶縁膜
24,44,64 保護膜
25,45,65 構造体
29,48,68 半導体膜
26,46,66 ひさし部
27,47,67,92 間隙
17,37,57 シール材
17’,37’,57’ シール領域
49,69,73 n+半導体膜
72 ゲート電極
75 ソース電極
76 ドレイン電極
77 薄膜トランジスタ
90 上方構造体
91 上方ひさし部
以下、本発明の実施形態に係る表示装置の構成、及び、その製造方法を、図面に基づいて詳細に説明する。また、表示装置として液晶表示装置を例に挙げて説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
(実施形態1)
(液晶表示装置10の構成)
図1は、本発明の実施形態1に係る液晶表示装置10の平面図を示す。図2は、液晶表示装置10の断面図を示す。図3は、薄膜トランジスタ基板12の断面図を示す。図4は、カラーフィルタ基板13の断面図を示す。液晶表示装置10は、液晶表示パネル11及びバックライト19で構成されている。
(液晶表示装置10の構成)
図1は、本発明の実施形態1に係る液晶表示装置10の平面図を示す。図2は、液晶表示装置10の断面図を示す。図3は、薄膜トランジスタ基板12の断面図を示す。図4は、カラーフィルタ基板13の断面図を示す。液晶表示装置10は、液晶表示パネル11及びバックライト19で構成されている。
液晶表示パネル11は、それぞれガラス基板等の絶縁性基材に複数の薄膜が積層された薄膜積層デバイスである薄膜トランジスタ基板12(第1基板)及びカラーフィルタ基板13(第2基板)により構成されている。液晶表示パネル11は、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13との間に形成された液晶層21を備えている。
図3は、薄膜トランジスタ基板12の断面図を示す。薄膜トランジスタ基板12には、複数の画素(不図示)が設けられ、各画素には薄膜トランジスタ77が形成されている。また、薄膜トランジスタ基板12は、液晶層21側の表面に配向膜18が設けられていると共に、液晶層21側とは反対側の表面に偏光板28が設けられている。
薄膜トランジスタ基板12は、例えば厚さが0.7mmのガラス基板20により構成されている。ガラス基板20には、一方の面に、例えばベースコート層としてSiNx膜(不図示)が150nm等の厚みで形成されている。SiNx膜の一部には各画素ごとに、例えばTi等からなるゲート電極72が200nm程度の厚みで形成されており、これらSiNx膜及びゲート電極72を覆うように、例えばSiNx層等で形成されたゲート絶縁膜22が、400nm程度の厚みで形成されている。
ゲート絶縁膜22上には、ゲート絶縁膜22を介してゲート電極72の全体を覆う半導体膜29が、例えば150nm程度の厚みで形成されている。半導体膜29は、例えば、アモルファスSi(a-Si)、多結晶Si、微結晶Si及び酸化物半導体等の少なくとも一つから形成されている。
半導体膜29上には、n型不純物が高濃度にドープされたn+半導体膜73が、例えば50nm程度の厚みで形成されている。n+半導体膜73及びゲート絶縁膜22上には、例えばTi等からなるソース電極75及びドレイン電極76がそれぞれ200nm程度の厚みで形成されている。薄膜トランジスタ基板12には、このように、ゲート電極72、ソース電極75及びドレイン電極76を有する薄膜トランジスタ77が形成されている。薄膜トランジスタ77は、それぞれ例えばSiNx層等で形成された層間絶縁膜23及び保護膜24により覆われている。また、ドレイン電極76上には層間絶縁膜23及び保護膜24を介して各画素を構成する不図示の画素電極が形成され、ドレイン電極76と画素電極とは層間絶縁膜23及び保護膜24に形成されたコンタクトホールを介して電気的に接続されている。
薄膜トランジスタ基板12は、カラーフィルタ基板13より大面積に形成されており、両基板を貼り合わせた際に、図1に示すように、薄膜トランジスタ基板12が余る領域(余剰領域14)が生じる。この余剰領域14には、外部信号を伝達するための端子部15等が形成されている。
カラーフィルタ基板13は、ガラス基板80(絶縁性基材)で構成され、ガラス基板80上には、例えばベースコートとして形成されたSiNx膜(不図示)が150nm等の厚みで形成されている。SiNx膜上には、各画素を構成する複数のカラーフィルタ層82が所定の間隔で形成されている。隣接するカラーフィルタ層82の間には、これら複数のカラーフィルタ層82を区画するブラックマトリクス層83が形成されており、これらカラーフィルタ層82及びブラックマトリクス層83を覆うように対向電極84が形成されている。カラーフィルタ基板13には、液晶層21側の表面に配向膜18’が設けられていると共に、液晶層21側とは反対側の表面には偏光板28’が設けられている。
液晶層21は、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13との間に形成されたシール材17によって囲まれ、これにより封止されている。また、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13との間には、これら両基板の間隔を均一にする目的で、例えばプラスチックやガラス等からなる柱状スペーサ(不図示)が形成されている。
次に、液晶表示装置10のシール領域17’周辺について説明する。図5は、図1における点線枠Sで囲まれたシール領域17’周辺の拡大平面図を示す。図6は、図5のA-A’線における薄膜トランジスタ基板12の断面図を示す。
薄膜トランジスタ基板12のシール領域17’周辺は、表示領域16に形成されたゲート絶縁膜22、層間絶縁膜23及び保護膜24が積層されている。これらの層は、シール領域17’で切り欠かれており、当該領域ではガラス基板20が露出している。ガラス基板20上には、ゲート絶縁膜22と同一材料からなる構造体25が形成されている。
構造体25は、シール領域17’のガラス基板20上において、シール領域17’の長さ方向に沿うように且つシール領域17’の全周に渡って複数形成されている。構造体25は、凸状に形成されている。より具体的には、構造体25は、例えば400nm程度の高さ及び直径を有する円柱状に形成されている。構造体25は、凸状であれば、特にその形状は限定されず、角柱状、テーパ状、又は、逆テーパ状等に形成されていてもよい。
ひさし部26は、複数の構造体25上にそれぞれ設けられている。ひさし部26は、例えば、100nm程度の高さ及び500nm程度の直径を有する円柱状に形成されている。ひさし部26は、ガラス基板20の表面に沿う方向に突出して下方に間隙27を形成している。間隙27は、ゲート絶縁膜22に形成された切り欠き27’の側部を構成している。ひさし部26は、間隙27を形成するような形状であれば、特に限定されず、角柱状又はテーパ状等に形成されていてもよい。ひさし部26は、表示領域16に設けられた半導体膜29と同一の材料で形成されている。
薄膜トランジスタ基板12及びカラーフィルタ基板13間において、液晶層21を取り囲むようにシール領域17’に設けられたシール材17は、ひさし部26上でひさし部26に接着していると共にゲート絶縁膜22に形成された間隙27に充填されて構造体25に接着している。
(液晶表示装置10の製造方法)
次に、本発明の実施形態に係る液晶表示装置10の製造方法について説明する。尚、以下に示す製造方法は単なる例示であり、本発明に係る液晶表示装置10は、以下に示す方法により製造されたものに限定されない。
次に、本発明の実施形態に係る液晶表示装置10の製造方法について説明する。尚、以下に示す製造方法は単なる例示であり、本発明に係る液晶表示装置10は、以下に示す方法により製造されたものに限定されない。
まず、薄膜トランジスタ基板12のベースとなるガラス基板20を用意する。そして、このガラス基板20の上に、ベースコート層を形成する。続いて、ベースコート層上に、スパッタ法でTiを200nm程度の厚さに成膜後、フォトリソグラフィ法によりパターニングしてゲート電極72を形成する。次に、CVD法で、ゲート絶縁膜22/半導体膜29/n+半導体膜73として、SiN膜(400nm)/a-Si(150nm)/n+Si(50nm)を250℃の高温で連続成膜し、続いて、フォトリソグラフィ法によりa-Si及びn+Siをアイランド状にパターニングする。このとき、シール領域17’の半導体膜29も、同じパターニングマスクによって、同時に、複数の円状領域がシール領域17’の長さ方向に沿うように且つシール領域17’の全周に渡って形成されるようにパターニングする。
次に、表示領域16のゲート絶縁膜22/半導体膜29/n+半導体膜73上に、スパッタ法でTiを200nm程度の厚さに成膜後、フォトリソグラフィ法によりパターニングしてソース電極75及びドレイン電極76を形成する。
続いて、SiNx層等を用いて層間絶縁膜23及び保護膜24を成膜し、層間絶縁膜23及び保護膜24に、その表面からドレイン電極76まで到達するようにエッチングによりコンタクトホールを形成する。その際、同時に、シール領域17’に残存させた半導体膜29及びゲート絶縁膜22も同じマスクを用いてエッチングする。このとき、ゲート絶縁膜22(SiN)は、半導体膜29(a-Si)よりもエッチング速度が大きいため、ゲート絶縁膜22の、半導体膜29で構成される複数の円状領域の下部以外に存在する部分(露出する部分)が、半導体膜29よりも速くエッチングされる。さらにエッチングしていくと、ゲート絶縁膜22が大きくエッチングされて細ることにより構造体25が形成され、且つ、ガラス基板20の表面に沿う方向に突出して下方に間隙27を形成する半導体膜29で構成されたひさし部26が構造体25上に形成される。
次に、保護膜24上に、コンタクトホールを介してドレイン電極76に電気的に接続する画素電極を形成し、続いて、配向膜18を形成して、薄膜トランジスタ基板12を作製する。
次に、カラーフィルタ基板13のベースとなるガラス基板80を用意する。そして、このガラス基板80の上に、カラーフィルタ層82や対向電極84等の薄膜、及び、配向膜18’を形成して、カラーフィルタ基板13を作製する。
続いて、シール材17を、薄膜トランジスタ基板12又はカラーフィルタ基板13の配向膜18側のシール領域17’に略枠状に塗布する。これにより、シール材17は、ひさし部26上でひさし部26に接着すると共に、ゲート絶縁膜22に形成された間隙27に充填されて構造体25に接着する。また、シール材17は、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13とを貼り合わせたときに液晶材料を注入するための注入口が形成されるように形成する。
次に、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13とを、それぞれ配向膜18が設けられた面が対向するようにシール材17を介して貼り合わせて、注入口より液晶材料を注入した後、注入口を封止することにより、液晶層21を形成する。
次に、薄膜トランジスタ基板12及びカラーフィルタ基板13の液晶層21側とは反対側の面にそれぞれ偏光板28,28’を貼り付けて液晶表示パネル11を作製し、これにバックライト19を設けて液晶表示装置10が完成する。
(実施形態2)
次に、本発明の実施形態2について説明する。図7は、本発明の実施形態2に係る液晶表示装置30のシール領域37’周辺の拡大平面図を示す。図8は、図7のA-A’線における薄膜トランジスタ基板32の断面図を示す。
次に、本発明の実施形態2について説明する。図7は、本発明の実施形態2に係る液晶表示装置30のシール領域37’周辺の拡大平面図を示す。図8は、図7のA-A’線における薄膜トランジスタ基板32の断面図を示す。
薄膜トランジスタ基板32のシール領域37’周辺は、表示領域に形成されたゲート絶縁膜42、半導体膜48(a-Si)、n+半導体膜49(n+Si)、層間絶縁膜43及び保護膜44が積層されている。これらの層は、シール領域37’で切り欠かれ、切り欠き47’が形成されており、当該領域ではガラス基板40が露出している。切り欠き47’は、例えば400nm程度の高さ及び直径を有する円柱状に形成されている。切り欠き47’の形状は限定されず、角柱状、テーパ状、又は、逆テーパ状等に形成されていてもよい。
ガラス基板40上の切り欠き47’の隣接部には、ゲート絶縁膜42と同一材料からなり、シール領域37’のガラス基板40上において、シール領域37’の長さ方向に沿い、且つ、シール領域37’の全周に渡る構造体45が形成されている。
構造体45上には、ひさし部46が形成されている。ひさし部46は、ガラス基板40の表面に沿う方向に突出して下方に間隙47を形成している。間隙47は、切り欠き47’の側部を構成している。ひさし部46は、表示領域16に設けられた半導体膜48と同一の材料で形成されている。
薄膜トランジスタ基板32及びカラーフィルタ基板間において、液晶層41を取り囲むようにシール領域37’に設けられたシール材37は、ひさし部46上でひさし部46に接着していると共にゲート絶縁膜42に形成された間隙47に充填されて構造体45に接着している。
シール領域37’の構造体45及びひさし部46は、実施形態1と同様に、それぞれ薄膜トランジスタ基板32の各構成要素の形成と同時に形成することができる。具体的には、まず、薄膜トランジスタ基板32のベースとなるガラス基板40を用意する。そして、このガラス基板40の上に、ベースコート層及びゲート電極を形成する。次に、ゲート絶縁膜42/半導体膜48/n+半導体膜49として、SiN膜/a-Si/n+Siを連続成膜し、続いて、フォトリソグラフィ法によりa-Si及びn+Siをアイランド状にパターニングする。このとき、シール領域37’の半導体膜48も、同じパターニングマスクによって、同時に、複数の円状の孔がシール領域37’の長さ方向に沿うように且つシール領域37’の全周に渡って形成されるようにパターニングする。
次に、表示領域36のゲート絶縁膜42/半導体膜48/n+半導体膜49上に、スパッタ法でTiを200nm程度の厚さに成膜後、フォトリソグラフィ法によりパターニングしてソース電極及びドレイン電極を形成する。
続いて、SiNx層等を用いて層間絶縁膜43及び保護膜44を成膜し、層間絶縁膜43及び保護膜44に、その表面からドレイン電極まで到達するようにエッチングによりコンタクトホールを形成する。その際、同時に、シール領域37’に残存させた半導体膜48及びゲート絶縁膜42も同じマスクを用いてエッチングする。このとき、ゲート絶縁膜42(SiN)は、半導体膜48(a-Si)よりもエッチング速度が大きいため、ゲート絶縁膜42の、半導体膜48に形成した複数の円状の孔に対応する部分がより速くエッチングされる。さらにエッチングしていくと、ゲート絶縁膜42が大きくエッチングされて細ることにより構造体45が形成され、且つ、ガラス基板40の表面に沿う方向に突出して下方に間隙47を形成する半導体膜48で構成されたひさし部46が構造体45上に形成される。そして、このとき、間隙47を側部とする円柱状の切り欠き47’が複数形成される。
次に、保護膜44上に、コンタクトホールを介してドレイン電極に電気的に接続する画素電極を形成し、続いて、配向膜を形成して、薄膜トランジスタ基板32を作製する。
次に、実施形態1と同様にして、カラーフィルタ基板を作製し、続いて、シール材37を、薄膜トランジスタ基板32又はカラーフィルタ基板の配向膜側のシール領域37’に略枠状に塗布する。これにより、シール材37は、ひさし部46上でひさし部46に接着すると共に、ゲート絶縁膜42に形成された間隙47に充填されて構造体45に接着する。
次に、薄膜トランジスタ基板32及びカラーフィルタ基板の液晶層41側とは反対側の面にそれぞれ偏光板を貼り付けて液晶表示パネルを作製し、これにバックライトを設けて液晶表示装置30が完成する。
(実施形態3)
次に、本発明の実施形態3について説明する。図9は、本発明の実施形態3に係る液晶表示装置50のシール領域57’周辺の拡大平面図を示す。図10は、図9のA-A’線における薄膜トランジスタ基板52の断面図を示す。
次に、本発明の実施形態3について説明する。図9は、本発明の実施形態3に係る液晶表示装置50のシール領域57’周辺の拡大平面図を示す。図10は、図9のA-A’線における薄膜トランジスタ基板52の断面図を示す。
薄膜トランジスタ基板52のシール領域57’周辺は、表示領域56に形成されたゲート絶縁膜62、半導体膜68(a-Si)、n+半導体膜69(n+Si)、層間絶縁膜63及び保護膜64が積層されている。これらの層は、シール領域57’で切り欠かれ、切り欠き67’が形成されており、当該領域ではガラス基板60が露出している。切り欠き67’は、例えば400nm程度の高さ及び直径を有する円柱状に形成されている。切り欠き67’の形状は限定されず、角柱状、テーパ状、又は、逆テーパ状等に形成されていてもよい。
ガラス基板60上の切り欠き67’の隣接部には、ゲート絶縁膜62と同一材料からなり、シール領域57’のガラス基板60上において、シール領域57’の長さ方向に沿い、且つ、シール領域57’の全周に渡る構造体65が形成されている。
構造体65上には、ひさし部66が形成されている。ひさし部66は、ガラス基板60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙67を形成している。間隙67は、切り欠き67’の側部を構成している。ひさし部66は、表示領域56に設けられた半導体膜68と同一の材料で形成されている。
ひさし部66上には、凸状の上方構造体90と、上方構造体90上に設けられ、ガラス基板60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙92を形成する上方ひさし部91と、がそれぞれ複数形成されている。
上方構造体90は、表示領域56に設けられたn+半導体膜69(n+Si)と同一の材料で形成されている。上方構造体90は、例えば100nm程度の高さ及び直径を有する円柱状に形成されている。
上方ひさし部91は、ソース電極及びドレイン電極と同一の金属薄膜で形成されている。上方ひさし部91は、例えば200nm程度の高さ及び直径を有する円柱状に形成されている。
薄膜トランジスタ基板52及びカラーフィルタ基板間において、液晶層61を取り囲むようにシール領域57’に設けられたシール材57は、ひさし部66及び上方ひさし部91上で、ひさし部66及び上方ひさし部91にそれぞれ接着していると共に、ゲート絶縁膜62及びn+半導体膜69に形成された間隙67,92に充填されて構造体65及び上方構造体90に接着している。
シール領域57’の構造体65、ひさし部66、上方構造体90及び上方ひさし部91は、それぞれ実施形態1と同様に、それぞれ薄膜トランジスタ基板52の各構成要素の形成と同時に形成することができる。具体的には、まず、薄膜トランジスタ基板52のベースとなるガラス基板60を用意する。そして、このガラス基板60の上に、ベースコート層及びゲート電極を形成する。次に、ゲート絶縁膜62/半導体膜68/n+半導体膜69として、SiN膜/a-Si/n+Siを連続成膜し、続いて、フォトリソグラフィ法によりa-Si及びn+Siをアイランド状にパターニングする。このとき、シール領域57’の半導体膜68も、同じパターニングマスクによって、同時に、複数の円状の孔がシール領域57’の長さ方向に沿うように且つシール領域57’の全周に渡って形成されるようにパターニングし、さらに、半導体膜68の円状の孔を避けた領域において、n+半導体膜69を円柱状にパターニングして上方構造体90を複数形成しておく。
次に、表示領域56のゲート絶縁膜62/半導体膜68/n+半導体膜69上に、スパッタ法でTiを200nm程度の厚さに成膜後、フォトリソグラフィ法によりパターニングしてソース電極及びドレイン電極を形成する。このとき、シール領域57’のTi膜も、同じパターニングマスクによって、同時に、上方構造体90上に円柱状の上方ひさし部91を形成する。
続いて、SiNx層等を用いて層間絶縁膜63及び保護膜64を成膜し、層間絶縁膜63及び保護膜64に、その表面からドレイン電極まで到達するようにエッチングによりコンタクトホールを形成する。その際、同時に、シール領域57’に残存させた半導体膜68及びゲート絶縁膜62も同じマスクを用いてエッチングする。このとき、ゲート絶縁膜62(SiN)は、半導体膜68(a-Si)よりもエッチング速度が大きいため、ゲート絶縁膜62の、半導体膜68に形成した複数の円状の孔に対応する部分がより速くエッチングされる。さらにエッチングしていくと、ゲート絶縁膜62が大きくエッチングされて細ることにより構造体65が形成され、且つ、ガラス基板60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙67を形成する半導体膜68で構成されたひさし部66が構造体65上に形成される。そして、このとき、間隙67を側部とする円柱状の切り欠き67’が複数形成される。
次に、保護膜64上に、コンタクトホールを介してドレイン電極に電気的に接続する画素電極を形成し、続いて、配向膜を形成して、薄膜トランジスタ基板52を作製する。
次に、実施形態1と同様にして、カラーフィルタ基板を作製し、続いて、シール材57を、薄膜トランジスタ基板52又はカラーフィルタ基板の配向膜側のシール領域57’に略枠状に塗布する。これにより、シール材57は、ひさし部66及び上方ひさし部91上で、ひさし部66及び上方ひさし部91にそれぞれ接着すると共に、ゲート絶縁膜62及びn+半導体膜69に形成された間隙67,92に充填されて構造体65及び上方構造体90に接着する。
次に、薄膜トランジスタ基板52及びカラーフィルタ基板の液晶層61側とは反対側の面にそれぞれ偏光板を貼り付けて液晶表示パネルを作製し、これにバックライトを設けて液晶表示装置50が完成する。
なお、本実施形態では、表示装置としてLCD(liquid crystal display;液晶表示ディスプレイ)に係るものについて示したが、これに限らず、例えば、有機EL(organic electro luminescence )、無機EL(inorganic electro luminescence )、電気泳動(electrophoretic)、PD(plasma display;プラズマディスプレイ)、PALC(plasma addressed liquid crystal display;プラズマアドレス液晶ディスプレイ)、FED(field emission display;電界放出ディスプレイ)、又は、SED(surface-conduction electron-emitter display;表面電界ディスプレイ)等に係る表示装置であってもよい。
(作用効果)
次に、本発明の実施形態に係る作用効果を説明する。
次に、本発明の実施形態に係る作用効果を説明する。
液晶表示装置10,30,50は、薄膜トランジスタ基板12,32,52のシール領域17’,37’,57’に、シール領域17’,37’,57’の長さ方向に沿うように複数形成された構造体25,45,65と、複数の構造体25,45,65上にそれぞれ設けられ、ガラス基板20,40,60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙27,47,67を形成するひさし部26,46,66と、が設けられ、シール材17,37,57は、ひさし部26,46,66上でひさし部26,46,66に接着していると共に間隙27,47,67に充填されて構造体25,45,65に接着している。
このような構成によれば、シール領域17’,37’,57’に、シール材17,37,57が接着する構造体25,45,65と、構造体25,45,65上に設けられたひさし部26,46,66が形成されているため、シール材17,37,57の接着面積がより大きくなり、薄膜トランジスタ基板12,32,52とカラーフィルタ基板とをより良好に貼り合わせることができる。また、複数の構造体25,45,65上にそれぞれ設けられ、ガラス基板20,40,60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙27,47,67を形成するひさし部26,46,66がシール材17,37,57の引っかかり部となるため、両基板間の接着力がさらに良好となる。また、これにより、両基板間のセル厚を確実に制御することができる。さらに、構造体25,45,65がシール領域17’,37’,57’の長さ方向に沿うように複数形成されているため、外部から表示領域16,36,56内へ水分や異物が混入するのを良好に抑制することができ、表示品位の良好な液晶表示装置10,30,50を得ることができる。
また、液晶表示装置10は、構造体25が凸状に形成されている。
このような構成によれば、構造体25をより多く形成することで、シール材17との接着面積がより大きくなり、薄膜トランジスタ基板12とカラーフィルタ基板13とをより良好に貼り合わせることができる。
さらに、液晶表示装置10,30,50は、構造体25,45,65が、絶縁性基材上において、表示領域16,36,56に設けられたゲート絶縁膜22,42,62と同一のゲート絶縁膜で形成されており、ひさし部26,46,66が、表示領域16,36,56に設けられたゲート絶縁膜22,42,62上の半導体膜29,48,68と同一の半導体膜で形成されている。
このような構成によれば、構造体25,45,65とひさし部26,46,66とを、表示領域16,36,56を構成する液晶表示装置10,30,50の各構成要素の形成と同時に且つ同一の方法で形成することができる。このため、余分な工程等を必要とせず、従来の製造ラインで同時に構造体25,45,65とひさし部26,46,66とを形成することができる。したがって、液晶表示装置10,30,50の製造効率及び製造コストが良好となる。
また、液晶表示装置50は、ひさし部66上に、凸状の上方構造体90と、上方構造体90上に設けられ、ガラス基板60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙92を形成する上方ひさし部91と、がさらに形成されている。
このような構成によれば、シール領域57’に、シール材57が接着する上方構造体90と、上方構造体90上に上方ひさし部91がさらに形成されているため、シール材57の接着面積がより大きくなり、薄膜トランジスタ基板52とカラーフィルタ基板とをより良好に貼り合わせることができる。また、上方構造体90上にそれぞれ設けられ、ガラス基板60の表面に沿う方向に突出して下方に間隙92を形成する上方ひさし部91がシール材57の引っかかり部となるため、両基板間の接着力がさらに良好となる。
さらに、液晶表示装置50は、上方構造体90が、表示領域56に設けられたn+半導体膜69と同一のn+半導体膜69で形成され、上方ひさし部91が、ソース電極及びドレイン電極と同一の金属薄膜で形成されている。
このような構成によれば、上方構造体90と上方ひさし部91とを、表示領域56を構成する液晶表示装置50の各構成要素の形成と同時に且つ同一の方法で形成することができる。このため、余分な工程等を必要とせず、従来の製造ラインで同時に上方構造体90と上方ひさし部91とを形成することができる。したがって、液晶表示装置50の製造効率及び製造コストが良好となる。
さらに、液晶表示装置10,30,50は、構造体25,45,65が、液晶層21,41,61を包囲するシール領域17’,37’,57’の全周に渡って形成されている。
このような構成によれば、構造体25,45,65が液晶層21,41,61を包囲するシール領域17’,37’,57’の全周に渡って形成されているため、シール領域17’,37’,57’の全周に渡って薄膜トランジスタ基板12,32,52とカラーフィルタ基板とをより良好に貼り合わせることができる。
以上説明したように、本発明は、表示装置について有用である。
Claims (9)
- 各々、絶縁性基材を備え、互いに対向して配置された第1及び第2基板と、
上記第1及び第2基板の間に設けられた表示媒体層と、
上記表示媒体層を包囲するシール領域に設けられて、上記第1及び第2基板を接着するシール材と、
を備えた表示装置であって、
上記第1基板の上記シール領域には、
上記絶縁性基材上において、上記シール領域の長さ方向に沿うように複数形成された構造体と、
上記複数の構造体上にそれぞれ設けられ、上記絶縁性基材の表面に沿う方向に突出して下方に間隙を形成するひさし部と、
が設けられ、
上記シール材は、上記ひさし部上で該ひさし部に接着していると共に上記間隙に充填されて上記構造体に接着している表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記構造体は、凸状に形成されている表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記構造体は、上記絶縁性基材上において、表示領域に設けられた絶縁層と同一の絶縁層で形成されている表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記間隙は、上記絶縁層に形成された切り欠きの側部を構成する表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記ひさし部は、表示領域に設けられた絶縁層上の半導体膜と同一の半導体膜で形成されている表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記ひさし部上には、凸状の上方構造体と、該上方構造体上に設けられ、上記絶縁性基材の表面に沿う方向に突出して下方に間隙を形成する上方ひさし部と、が形成されている表示装置。 - 請求項6に記載された表示装置において、
上記上方構造体は、表示領域に設けられた半導体膜と同一の半導体膜で形成されている表示装置。 - 請求項6に記載された表示装置において、
上記上方ひさし部は、表示領域に設けられた金属薄膜と同一の金属薄膜で形成されている表示装置。 - 請求項1に記載された表示装置において、
上記構造体は、上記表示媒体層を包囲するシール領域の全周に渡って形成されている表示装置。
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