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WO2008038537A1 - Acceleration sensor - Google Patents

Acceleration sensor Download PDF

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Publication number
WO2008038537A1
WO2008038537A1 PCT/JP2007/068048 JP2007068048W WO2008038537A1 WO 2008038537 A1 WO2008038537 A1 WO 2008038537A1 JP 2007068048 W JP2007068048 W JP 2007068048W WO 2008038537 A1 WO2008038537 A1 WO 2008038537A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
acceleration sensor
weight
flexible
groove
metal wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2007/068048
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiroyuki Hatano
Atsushi Mieno
Masakatsu Saitoh
Yoshio Ikeda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2006265110A external-priority patent/JP4637074B2/ja
Priority claimed from JP2007024646A external-priority patent/JP2008190961A/ja
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
Priority to US12/375,476 priority Critical patent/US20090223292A1/en
Publication of WO2008038537A1 publication Critical patent/WO2008038537A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/18Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration in two or more dimensions
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
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    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • G01P15/123Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance by piezo-resistive elements, e.g. semiconductor strain gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/084Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass

Definitions

  • the present invention relates to a piezoresistive element type acceleration sensor for acceleration detection used in automobiles, aircraft, home appliances, game machines, robots, security systems and the like. Background art
  • Acceleration sensors have been used to detect small accelerations for vehicle control applications such as brake control systems and for detecting large impact forces for automotive airbag operation.
  • vehicle control applications such as brake control systems and for detecting large impact forces for automotive airbag operation.
  • a one-axis or two-axis function was sufficient to measure acceleration in the X and / or Y axis.
  • 3-axis acceleration sensor that can measure X, Y, and X axis acceleration is required to detect 3D motion.
  • it is required to have high resolution, small size and thinness to detect minute accelerations.
  • Acceleration sensors are systems that convert the movement of a flexible portion into an electrical signal, and are roughly classified into a piezoresistive element type, a capacitance type, and a piezoelectric type. These methods can be used properly depending on the application, but static acceleration detection applications are limited to the piezoresistive element type and the capacitance type. These two types have a three-dimensional structure on the silicon substrate using semiconductor technology or micromachine technology. By forming it, small and highly sensitive acceleration sensors can be manufactured in large quantities at once. In particular, the piezoresistive element type acceleration sensor is easy to construct the structure and manufacturing process, and is suitable for cost reduction.
  • the structure of the flexible part is roughly divided into a diaphragm type and a beam (flexible arm) type.
  • Various acceleration sensors can be obtained by combining the detection method of the electric signal, the structure of the flexible portion, and the number of detection axes.
  • Patent Documents 1 to 6 disclose the shape of the weight, the shape of the flexible arm, the arrangement of the piezoresistive elements, the connection of the piezoresistive elements, the shape of the joint between the flexible arm and the support frame, and the like.
  • the sensor chip and upper restricting plate Adhesives are bonded at predetermined intervals.
  • a case lid is bonded and sealed on the case with an adhesive such as gold-tin solder.
  • the sensor chip is formed with a triaxial acceleration sensor element having a flexible arm.
  • the triaxial acceleration sensor element is composed of a flexible arm paired with a rectangular support frame and a weight, and the weight is Two pairs of flexible arms hold the center of the support frame.
  • a piezoresistive element is formed on the flexible arm.
  • An X-axis piezoresistive element and a Z-axis piezoresistive element force S are formed on a pair of flexible arms, and a Y-axis piezoresistive element is formed on the other pair of flexible arms and connected by metal wiring.
  • the distance between the lower surface of the weight and the inner bottom surface of the case, and the distance between the upper surface of the weight and the upper regulating plate can be reduced by restricting the movement of the weight when excessive acceleration such as impact is applied to the acceleration sensor. Prevent breakage of the flexure arm.
  • Patent Document 7 to Patent Document 9 disclose the diaphragm structure of a three-axis acceleration sensor having a diaphragm and the arrangement of the piezoresistive elements. Attach a circular or polygonal diaphragm as a flexible part to the support frame at its outer edge, and place a weight on the inner edge of the diaphragm! When the weight is displaced by an external force, the piezoresistive element provided on the diaphragm is deformed and an electrical signal is obtained.
  • a triaxial acceleration sensor with a diaphragm has the advantage that the degree of freedom of arrangement of the piezoresistive elements is high.
  • Piezoresistive elements X-axis piezoresistive elements, Y-axis piezoresistive elements, and Z-axis piezoresistive elements are formed on the diaphragm and connected by metal wiring!
  • Patent Document 10 proposes dividing the piezoresistive element into a plurality of elements in order to increase the detection sensitivity without changing the impact resistance of the power consumption. For example, by dividing two piezoresistive elements and connecting two piezosubresistive elements having the same width in series, the same resistance as in the case of one piezoresistive element can be obtained. By arranging two piezo-sub resistance elements of half length next to the stress concentration part of the flexible part, the detection sensitivity can be increased even if the deformation of the flexible part is the same. Even if the piezoresistive element is divided into a plurality of elements, the resistance does not change, so the power consumption does not change and the detection sensitivity can be increased. However, the division increases the number of metal wirings that connect them, so that the metal wiring collides with the upper regulating plate and deforms to generate an offset voltage.
  • the metal wiring is not deformed even when the flexible portion collides with the upper regulating plate! /
  • the metal wiring may be thickly covered with a hard electric insulating film such as aluminum oxide silicon oxide. It is done. However, when such a film is thickened, the degree of deformation of the flexible portion changes.
  • the flexible part is made of silicon and is made of a material having a thermal expansion coefficient different from that of the electrical insulating film or metal wiring. The stress applied to the piezoresistive element changed due to the difference in the thermal expansion coefficient of the constituent materials, which was one of the causes of the offset voltage. Furthermore, if the metal wiring is covered with a hard electric insulating film, the offset voltage is further increased.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2003-172745
  • Patent Document 2 JP 2003-279592 A
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-184373
  • Patent Document 4 Japanese Patent Laid-Open No. 2006-098323
  • Patent Document 5 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2006-098321
  • Patent Document 6 WO2005 / 062060A1 Publication
  • Patent Document 7 Japanese Patent Laid-Open No. 3-2535
  • Patent Document 8 JP-A-6-174571
  • Patent Document 9 Japanese Patent Laid-Open No. 7-191053
  • Patent Document 10 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2006-098321
  • the present invention has been made to solve the above-described problem, and a new offset voltage does not occur even if an excessive impact is applied after the offset voltage correction!
  • the purpose is to provide a small and thin 3-axis accelerometer.
  • the acceleration sensor of the present invention comprises:
  • a flexible part that connects the upper part of the weight and the upper part of the support frame and suspends the weight
  • a plurality of piezoresistive elements formed near the upper surface of the flexible part in the flexible part;
  • a sensor terminal provided on the upper surface of the support frame
  • the part provided in the flexible part of the metal wiring is provided in a rectangular or inverted trapezoidal groove formed on the upper surface of the flexible part! /
  • the upper surface of the metal wiring provided in the groove formed on the upper surface of the flexible portion is lower than the upper surface of the flexible portion.
  • the metal wiring of the upper surface of the weight is provided in a groove having a rectangular or inverted trapezoidal cross section formed on the upper surface of the weight, and the groove formed on the upper surface of the weight. It is preferable that the upper surface of the metal wiring provided therein is lower than the upper surface of the weight.
  • a support frame side of the plurality of piezoresistive elements is provided. It is preferable that the upper surface of the metal wiring portion on the weight side of the piezoresistive element provided on the side of the support frame is lower than the upper surface of the flexible portion! /.
  • the upper surface of the metal wiring provided in the groove formed on the upper surface of the flexible portion may be 0 ⁇ 05 111 to 0.5 m lower than the upper surface of the flexible portion. I like it. Further, it is preferable that the upper surface of the metal wiring provided in the groove formed on the upper surface of the weight is at least 0.05 m lower than the upper surface of the weight.
  • the flexible part is composed of a silicon layer and an electrically insulating layer that covers the upper surface of the silicon layer, and the electrically insulating layer is on the upper surface of the flexible part and the upper surface of the flexible part. It is preferable to cover both inner side walls and the bottom surface of the groove.
  • the groove S is formed on the upper surface of the silicon layer.
  • the groove formed on the upper surface of the flexible part can be formed in the electrically insulating layer stacked on the upper surface of the silicon layer.
  • the weight has an electric insulating layer covering the silicon layer and the upper surface of the silicon layer, and the electric insulating layer covers both inner side walls and the bottom surface of the groove on the upper surface of the weight.
  • the groove may be formed on the upper surface of the silicon layer.
  • the force S is applied to the groove formed on the upper surface of the weight formed in the electrical insulating layer laminated on the upper surface of the silicon layer of the weight.
  • a groove formed on the upper surface of the flexible portion extends from the upper surface of the flexible portion to the upper surface of the weight and the upper surface of the support frame!
  • a plurality of metal wirings can be provided on the upper surface of the support frame on the upper surface of the weight of the groove.
  • the flexible portion is composed of a plurality of flexible arms connecting the upper portion of the weight and the upper portion of the support frame, and each of the plurality of flexible arms is
  • It is composed of a silicon layer and an electrically insulating layer covering the upper surface of the silicon layer, and the electrically insulating layer covers the upper surface of the flexible arm, both the inner side walls and the bottom surface of the groove,
  • each flexible arm may have at least two grooves, and a piezoresistive element may be provided on the upper surface of the silicon layer between the grooves.
  • the metal wiring provided on the upper surface of the flexible portion connecting the weight and the support frame is placed in the groove formed on the upper surface of the flexible portion, Since the upper surface of the wiring is lower than the upper surface of the flexible portion, the metal wiring does not collide with the upper regulating plate when excessive acceleration or impact is applied to the acceleration sensor. For this reason, no offset voltage is newly generated in the acceleration sensor in which the metal wiring is not deformed.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view of an acceleration sensor device having an acceleration sensor according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a plan view of the acceleration sensor of the first embodiment.
  • FIG. 3 is an enlarged plan view of one of the flexible arms extending in the X-axis direction of the acceleration sensor of the first embodiment.
  • FIG. 4 is an enlarged plan view of one of the flexible arms extending in the Y-axis direction of the acceleration sensor of the first embodiment.
  • FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view taken along line V—V in FIG.
  • Figure 6 is an enlarged cross-sectional view taken along line VI-VI in Figure 2.
  • FIG. 7 is an enlarged sectional view taken along line VII-VII in FIG.
  • FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view taken along line ⁇ - ⁇ in FIG.
  • Fig. 9 is an enlarged sectional view taken along line IX-IX in Fig. 2,
  • FIG. 10 is a plan view for explaining wiring of the acceleration sensor according to the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining a full-bridge circuit of the X-axis piezoresistive element (Y-axis piezoresistive element) in FIG.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining the full-bridge circuit of the Z-axis piezoresistive element in FIG.
  • FIG. 13 is an enlarged plan view of two flexible arms extending in the Y-axis direction of the acceleration sensor of the second embodiment.
  • FIG. 14 is an enlarged cross-sectional view taken along line XIV—XIV in FIG.
  • FIG. 15 is an enlarged cross-sectional view of the flexible arm extending in the Y-axis direction of the acceleration sensor of Example 3,
  • FIG. 16 is a longitudinal sectional view taken along line XVI—XVI in FIG.
  • FIG. 17 is a longitudinal sectional view taken along line XVII—XVII in FIG.
  • FIG. 18 is a plan view of the acceleration sensor according to the fourth embodiment.
  • Fig. 1 is an exploded perspective view of the acceleration sensor device according to the first embodiment of the present invention.
  • Fig. 2 is a plan view of the acceleration sensor used in the acceleration sensor device according to the first embodiment.
  • Fig. 3 shows the acceleration sensor in the X-axis direction.
  • Fig. 4 is an enlarged plan view of one of the extending flexible arms,
  • Fig. 4 is an enlarged plan view of one of the flexible arms extending in the Y-axis direction of the acceleration sensor, and
  • Fig. 5 is a V- Fig. 6 is an enlarged cross-sectional view taken along line VI-VI in Fig. 2, Fig.
  • FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view taken along line VII-VII in Fig. 2, and Fig. 8 is taken from line II in Fig. 2.
  • Fig. 9 is an enlarged cross-sectional view along the X-ray.
  • Fig. 9 is an enlarged cross-sectional view along the IX-IX line of Fig. 2.
  • FIG. 11 is a plan view for explaining the wiring of the acceleration sensor in FIG. 2,
  • FIG. 11 is a diagram for explaining a full bridge circuit of the X-axis piezoresistive element (Y-axis piezoresistive element) in FIG. 10, and FIG. It is a figure explaining the full bridge circuit of a Z-axis piezoresistive element.
  • the acceleration sensor 100 is placed on the inner bottom surface 84 of the case 80 in the case 80 and the bottom of the support frame 30 of the acceleration sensor 100 on the inner bottom surface 84 through a small gap from the inner bottom surface 84.
  • the case bottom surface 84 has a small gap between the acceleration sensor 100 and the weight 10.
  • Accelerometer 100 sensor terminals 12t, l it, 13t, 31t, 33t, 23t, 21t, 14t are connected to terminal 86 of case 80 with conductor 70, and terminal 86 of case is connected to external terminal 88 of case inside Then, a measurement voltage is applied to the piezoresistive element of the acceleration sensor 100 from the external terminal 88, or the output of the speed sensor 100 is taken out from the external terminal 88.
  • An upper regulating plate 60 is mounted on the acceleration sensor 100 so as to cover the entire surface of the acceleration sensor 100 with a small gap between the acceleration sensor 100 and the excessive weight / motion of the weight 10 is prevented.
  • acceleration is applied to the weight 10 if the acceleration is within a certain range, the weight S vibrates and moves S, and even if excessive acceleration is applied, the weight is between the upper regulating plate 60 and the bottom of the case. It is designed not to vibrate beyond a small gap between them.
  • a case lid 90 is attached on the case 80.
  • the acceleration sensor 100 has a weight 10 in the center, a support frame 30 surrounding the weight 10 at a predetermined interval from the weight 10, and the weight 10 is suspended by connecting the upper part of the weight and the upper part of the support frame.
  • four flexible arms 21, 21 ', 22, 22' are provided as flexible portions.
  • the acceleration sensor 100 is made of a silicon single crystal substrate on which an SOI layer is formed, that is, an SOI wafer. SOI is an abbreviation for Silicon On Insulator.
  • a thin Si02 insulating layer (for example, about 1 [I m]) is formed on a Si wafer having a thickness of about 410 m and N-type silicon having a thickness of about 6 Hm is formed on the Si02 insulating layer.
  • a wafer formed with a single crystal layer was used as a substrate. It is possible to open four L-shaped through holes 150 in a square silicon single crystal substrate with the size of the support frame 30 and pass between the central weight 10 and the support frame 30 around it.
  • the flexible arms 21, 21 ′, 22, 22 ′ are formed, and the flexible arm portion is thinned.
  • the acceleration sensor 100 includes two orthogonal detection axes (X-axis and Y-axis) and a detection axis (Z-axis) perpendicular to the top surface of the acceleration sensor.
  • Piezoresistive elements Yl, Y2, Y3, Y4 are provided on flexible arms 22, 22 'extending in the Y-axis direction to detect acceleration in the Y-axis direction.
  • Piezoresistive elements Zl, Z2, Z3, and Z4 are further provided on the flexible arms 21 and 21 'extending in the X-axis direction to detect the acceleration in the Z-axis direction.
  • the force detected by the piezoresistive element provided on the flexible arms 21 and 21 'on the Z-axis is provided on the flexible arms 22 and 22'.
  • the power S can be.
  • the piezoresistive elements that detect acceleration in each axial direction constitute the full-bridge detection circuit shown in FIG. 11 or FIG.
  • the flexible arm connecting the weight 10 and the support frame 30 is the weight.
  • Each piezosubresistive element is formed by implanting boron into the silicon layer constituting the flexible arm at a concentration of 1 to 3 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 .
  • the high concentration diffusion layers Xlc, X2c, X3c, X4c, Ylc, Y2c, Y3c, Y4c, Zlc, are connected between the central terminals of the flexible arm of the two piezoresistive elements that make up each piezoresistive element Z2c, Z3c, Z4c are formed.
  • High-concentration diffusion layers are formed by implanting boron at a higher concentration than that of the piezo-subresistance element, for example, !-3 ⁇ 10 21 atoms / cm 3 . Since the piezo-sub resistance element and the high-concentration diffusion layer are formed by diffusing boron in the silicon layer, they are exactly the same in mechanical properties as other parts of the flexible arm.
  • Two piezo-subresistive elements Xla, Xlb, ..., Z4a and Z4b connected by Z4c constitute piezoresistive elements XI, ..., Z4. Resistive elements XI, X2, X3, and X4 are shown in Fig. 11.
  • a metal wiring 25 such as aluminum connects between the terminals of the piezoresistive elements and between the terminals of the piezoresistive elements and the sensor terminals.
  • FIG. 2 shows a force S that is similar to FIG. 10, and in FIG. 2, the metal wiring 25 is on the flexible arms 21, 21 ′, 22, 22 ′ and the flexible arms 21, 21 ′, 22. , 22 'and drawn in the groove 26 formed. In addition, the metal wiring 25 is put on the upper surface of the support frame 30 in the groove 16 formed on the upper surface of the weight 10 on the weight 10 by the force of the groove 36 formed on the upper surface of the support frame 30. Yes. Note that FIG. 10 shows the same structure as FIG. 2. In FIG. 10, the grooves 16, 26 and 36 are not shown in order to show the reference numerals of the piezo-sub resistance elements. Fig. 3 and Fig. 4 show enlarged plan views of the flexible arm 21 and the flexible arm 22 of Fig.
  • Figs. 5 to 9 show the V-V line, VI-VI line, Vll-VIl spring of Fig. 2, The enlarged cross-sectional views along IIX-IIX line and IX-IX line are shown.
  • the cross-sectional shape of the grooves 26 and 36 is rectangular here, but it may be an inverted trapezoid with the upper part of the groove open.
  • the sectional view of the weight 10 is not shown, the sectional shape of the groove 16 on the upper surface of the weight 10 is rectangular. The reverse trapezoid with the upper part of the groove 16 opened is shown.
  • the silicon layer 24 constituting the flexible arm 21 (shown in the piezo-sub resistance elements Zla, Xla, Xlb, Zlb and FIG. 6 shown in FIG. 5).
  • a silicon dioxide electrical insulating layer 28 is formed around the high-concentration diffusion layer Zlc).
  • the single crystal silicon that constitutes the flexible arm is usually N-type or P-type and has an electrical resistance;
  • the depth of the groove 26 from the upper surface of the electrical insulating layer 28 was 0.3 m. Since the metal wiring 25 having a width of 3 m and a thickness of 0.2 m is formed in the force of the groove 26, the upper surface of the metal wiring 25 is 0 from the upper surface of the electrically insulating layer 28 on the upper surface of the flexible arm 21. It was 1 m lower. In the present invention, the upper surface of the metal wiring 25 is preferably at least 0.05 m lower than the upper surface of the electric insulating layer 28 of the flexible arm.
  • the metal wiring 25 will contact the upper regulating plate 60 when the flexible arm is deformed. There is no. No matter how low the upper surface of the metal wiring 25 is from the upper surface of the flexible arm, there is no problem in preventing the metal wiring 25 from coming into contact with the upper regulating plate 60, but to lower the depth, the depth of the groove 26 is increased. There is a need. Therefore, the depth of the upper surface of the metal wiring 25 from the upper surface of the flexible arm is preferably within 0.5 m.
  • the depth of the groove 26 was 0.3 m in this example.
  • the flexible arm is formed of a 6 m thick N-type silicon single crystal layer, that is, a silicon layer laminated on the Si02 layer.
  • the ratio of groove depth to flexible arm thickness was about 5%.
  • the ratio of the groove depth to the thickness of the flexible arm is preferably 15% or less. If this ratio exceeds 15%, the strength of the flexible arm decreases.
  • the metal wiring 25 having a width of 3 ⁇ m is formed in the groove 26 having a bottom width of 4 Hm. If the metal wiring is in contact with the groove sidewall, stress will be generated in the metal wiring due to temperature change, and the metal wiring will be provided in the thin part of the electrical insulation layer at the bottom corner of the groove. In order to avoid this, it is preferable in the present invention that the ratio of the bottom width of the groove to the width of the metal wiring is 110% or more! /.
  • the groove 26 is formed across the high-concentration diffusion layer Zlc, but the depth of the high-concentration diffusion layer Zlc formed in the silicon layer 24 from the upper surface of the flexible arm Is much larger than the depth of the groove 26, for example, 0 ⁇ 3 111;! ⁇ 1 ⁇ 5 m, so that the high concentration diffusion layer Zlc is not cut by the groove 26.
  • the electrical insulating layer 28 is provided between the high concentration diffusion layer Zlc and the metal wiring 25, electrical insulation between them is ensured.
  • the flexible arm 22 in the Y-axis direction has two piezoresistive elements Yl and Y2 (piezosubresistive elements Yla, Ylb, Y2a and Y2b) and two piezoresistive elements Metal wiring 25 is provided.
  • 4 and 8 showing the flexible arm 22 are the same as those shown in FIGS. 3 and 5 showing the flexible arm 21 in the X-axis direction, except for the number of piezo-sub resistance elements and the number of metal wires. The explanation is omitted.
  • the weight 10 in the center of the acceleration sensor 100 is composed of an SOI wafer in which a Si02 insulating layer and an N-type silicon single crystal layer (silicon layer) are stacked on a Si wafer.
  • An electrical insulating layer is formed on the upper surface of the silicon layer.
  • the metal wiring on the flexible arm extends to the upper surface of the weight 10 and is connected to the upper surface of the weight 10 with a metal wiring and / or a high-concentration diffusion layer. ing.
  • a groove 16 is formed along a portion of the metal wiring on the weight 10, and a metal wiring 25 is provided therein. In this embodiment, a groove is formed in the silicon layer on the weight.
  • the upper surface of the metal wiring on the upper surface of the weight is lower than the upper surface of the weight.
  • the upper surface of the metal wiring is preferably at least 0.05 m lower than the upper surface of the electric insulating layer of the weight.
  • each flexible arm has a symmetrical structure with respect to the center line CL extending in the length direction, like the flexible arms 21 and 22 shown in FIGS. Arrangement of metal wiring 25 in Figure 3 As can be understood, one of the top metal wiring and the second surface is sufficient for electrical wiring. S, and two metal wirings to make a symmetrical structure with respect to the center line CL. A line is placed on each side of the center line CL. The same applies to the movable arm 21 ′ on the right side in FIG.
  • the metal wiring on the weight and the flexible arm is provided in a groove formed in the weight or the flexible arm, and is provided in the groove. Since the upper surface of the metal wiring is lower than the upper surface of the weight and the upper surface of the flexible arm, excessive acceleration or impact acts on the acceleration sensor and the weight and the flexible arm are violently applied to the upper regulating plate. Even if there is a collision, there is no generation of an offset voltage that does not cause deformation of the metal wiring.
  • an acceleration sensor according to Embodiment 2 of the present invention will be described.
  • the Y-axis direction flexible arms 23 and 23 shown in FIG. 13 and FIG. 14 are used instead of the Y-axis direction flexible arms 22 and 22 ′ of the acceleration sensor 100 of the first embodiment. have.
  • the 13 have metal wirings 25c and 25c' arranged in the groove 26 along the center line CL, and the terminals on the support frame side of the piezo-subresistive element Yla Sensor terminal formed on the support frame 30 on the opposite side, led to the metal wiring 25c 'along the center line of the flexible arm 23' through the metal wiring 25c along the center line CL of the flexible arm 23 It is tied to 21t.
  • the metal wiring 25d on the right side of the flexible arm 23 is a dummy and one end thereof is open.
  • the groove 26 formed in the two flexible arms 23, 23, 23, the metal wiring 25, 25c, 25c ′, 25d force S are symmetrical with respect to the center line CL of the flexible arms 23, 23 ′.
  • Example 1 the metal wiring pierced from the terminal on the support frame side of the piezo-sub resistance element Yla was connected to the sensor terminal 21t by making a half turn around the acceleration sensor on the support frame 30.
  • Example 2 the metal wiring drawn out from the terminal on the support frame side of the piezo-sub resistance element Yla passes over the two flexible arms 23 and 23 ′ extending in the Y-axis direction and is connected to the sensor terminal 21 t. Yes.
  • FIG. 15 shows a cross-sectional view of the movable arm 21 extending in the Y-axis direction of the acceleration sensor.
  • the groove 26 ' has an inverted trapezoidal shape with a bottom width of 6 m and a depth of 0.4 m, in which a metal wiring 25 having a width of 3 m and a thickness of 0.15 m is provided.
  • the upper surface of the metal wiring 25 is 0.25 111 lower than the upper surface of the electrical insulating layer 28 ′.
  • an electric insulating layer 28 ′ having a thickness of 0.4 ⁇ m between the silicon layer 24 and the metal wiring 25 and the silicon layer 24 are electrically insulated.
  • the piezoelectric sub-resistive elements Yla and Y lb are covered with the electric insulation layer 28 ', and the force S formed near the upper surface of the silicon layer 24 and the piezo-sub resistive elements Yla and Ylb are also covered.
  • an electric insulating layer 28 'of silicon dioxide with a thickness of 0.8 111 is formed on the upper surface of the weight, and a groove is formed in the electric insulating layer 28', and a metal wiring is formed in the groove. Is provided.
  • the upper surface of the metal wiring on the upper surface of the weight is 0 ⁇ 25 m lower than the upper surface of the electrical insulating layer.
  • FIG. 16 is a longitudinal sectional view taken along the line XVI--XVI in FIG. 15, and FIG. 17 is a longitudinal sectional view taken along the line XVII--XVII.
  • a through-hole is opened in the electrical insulating layer 28 'above the piezoelectric sub-resistive element Yla, so that a groove 26' in the electrical insulating layer 28 'is formed.
  • a part of the bottom of the metal wiring 25 formed therein is connected to the end of the piezosub resistance element Yla through a through hole.
  • the upper surface of the metal wiring 25 is lower than the upper surface of the electrical insulating layer 28 'at the end of the piezoelectric sub-resistive element Yla on the support frame 30 side, and at the center side of the support frame 30, the electrical insulating layer 28 It is the same level as the top surface of '.
  • the weight and the flexible arm are displaced by acceleration acting from the outside, but the support frame 30 is not displaced. Therefore, the upper surface of the metal wiring 25 is the same as the upper surface of the electrical insulating layer 28 'on the support frame 30 at the support frame 30. Even at the level, the metal wiring 25 does not collide with the upper restriction plate. Fig.
  • 17 is a vertical cross-sectional view of the central metal wiring 25c, and an electrically insulating layer 28 'is interposed between the high-concentration diffusion layer Ylc connecting the two piezo-sub resistance elements Yla and Ylb and the metal wiring 25c. It is shown that.
  • FIG. 18 shows a plan view of the acceleration sensor 400 of the fourth embodiment.
  • Accelerometer 4 00 has a diaphragm 29 as a flexible portion, and the weight 10 is held at the center of the support frame 30 by the diaphragm 29.
  • the acceleration sensor 400 having the diaphragm 29 as the flexible portion instead of the flexible arm works in the same manner as the acceleration sensor 100 of the first embodiment, and thus detailed description thereof is omitted.
  • 100 acceleration sensor devices including the acceleration sensor of Example 1, and an acceleration sensor having a conventional acceleration sensor in which no groove is formed on one upper surface and metal wiring is provided on the upper surface of the weight and the upper surface of the flexible arm.
  • 100 sensor devices were manufactured, and (a) offset voltage measurement (measurement of output voltage when no acceleration was applied), (b) impact applied, and (c) offset The voltage was measured.
  • the offset voltage after the impact was applied the sample whose offset voltage changed by ⁇ 10% or more compared to the original value was decomposed and the state of the metal wiring was examined. For samples with an offset voltage change of less than ⁇ 10%, the application of impact and measurement of the offset voltage were repeated 50 times.
  • the accelerometer was fixed to a 2 mm thick steel jig and dropped freely from a height of lm onto a 100 mm thick wooden board to give an impact of 1500 to 2000 G.
  • the direction of impact was the Z-axis direction of the acceleration sensor.
  • the acceleration sensor device of Example 1 even when the impact test was repeated 50 times, the force with the offset voltage varied by ⁇ 10% or more was obtained. However, the offset voltage variation exceeded ⁇ 10% in six of the conventional acceleration sensor devices. When these six accelerometer devices were disassembled and investigated, some of the metal wiring was deformed. Five of them were deformed near the weight on the flexible arm, and the other one was deformed on the weight. From this result, it has been confirmed that the acceleration sensor of the present invention does not deform the metal wiring even when an excessive impact is applied, and can prevent the occurrence of the offset voltage.
  • the acceleration sensor of the present invention has a structure in which the metal wiring does not come into contact with the upper regulating plate, so that it is possible to prevent the occurrence of the latch-up phenomenon that occurs only by the generation of the offset voltage due to the deformation of the metal wiring. .
  • Accelerometers that detect acceleration using piezoresistive elements are widely used in automobiles, aircraft, household electrical equipment, industrial machinery, and the like. Some output appears even when acceleration is not acting on the accelerometer. If the output and offset voltage are constant, it can be canceled using a compensation circuit. However, the offset voltage may fluctuate when an excessive impact is applied to the acceleration sensor.
  • the metal wiring collides with the upper regulating plate even if the weight collides with the upper regulating plate by putting the metal wiring on the weight or the flexible portion into the groove or the groove formed on the flexible portion. Since the structure does not, offset voltage fluctuation can be prevented. An accelerometer with a force and a structure is waiting for the industry!

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Description

明 細 書
加速度センサー
技術分野
[0001] 本発明は、自動車、航空機、家電製品、ゲーム機、ロボット、セキュリティーシステム 等に使用される加速度検出用のピエゾ抵抗素子型加速度センサーに関する。 背景技術
[0002] 加速度センサーは、自動車のエアーバッグ作動用の大きな衝撃力を検出する用途 や、ブレーキ制御システムなどの車両制御用途の小さな加速度の検出に使用されて きた。これらの自動車用途では X軸方向および/または Y軸方向の加速度を測定す るため 1軸もしくは 2軸機能で充分であった。最近は、携帯端末機器やロボット、人体 動作の検出による各種制御等の新しい用途向けに実用化が進んできている。このよ うな新用途では 3次元の動きを検出するため X、 Y、 Ζ軸の加速度を測定できる 3軸加 速度センサーが要求されている。また、微小な加速度を検出するために高分解能を 持ち、小型で薄型であることも要求されている。
[0003] 加速度センサーは可撓部の動きを電気信号に変換する方式で、ピエゾ抵抗素子型 、静電容量型、圧電型に大別される。用途によってこれらの方式が使い分けられるが 、静止加速度の検出用途ではピエゾ抵抗素子型と静電容量型に絞られ、これら 2つ のタイプはシリコン基板に半導体技術やマイクロマシン技術により、立体的な構造を 形成することにより小型で高感度の加速度センサーを一度に大量に製造できる。特 に、ピエゾ抵抗素子型の加速度センサーは構造および製造プロセスの構築がし易く 小型、薄型で低価格化に適している。また、可撓部の構造で、ダイヤフラム型と梁(可 橈腕)型に大別される。電気信号の検出方式と可撓部の構造、更に検出軸数を組み 合わせることで、種々の加速度センサーを得ることができる。
[0004] 可撓腕を持ったピエゾ抵抗素子型 3軸加速度センサーに関して、多数の特許出願 力 る。特許文献 1から特許文献 6に錘の形状、可撓腕の形状、ピエゾ抵抗素子の 配置、ピエゾ抵抗素子の接続、可撓腕と支持枠との接合部の形状等が開示されてい る。 3軸加速度センサーで、ケース内にセンサーチップと上部規制板が樹脂などの接 着剤で所定の間隔を介して接着されている。ケース上にケース蓋が例えば金錫はん だ等の接着剤で接着密封されている。センサーチップには、可撓腕を持った 3軸加 速度センサー素子が形成されており、 3軸加速度センサー素子は、矩形の支持枠と 錘と対になった可撓腕で構成され、錘が 2対の可撓腕で支持枠の中央に保持されて いる。可撓腕上にピエゾ抵抗素子が形成されている。 1対の可撓腕に X軸ピエゾ抵抗 素子と Z軸ピエゾ抵抗素子力 S、他の 1対の可撓腕に Y軸ピエゾ抵抗素子が形成され、 金属配線で接続されている。錘の下面とケースの内底面との間隔と、錘の上面と上 部規制板との間隔は、衝撃の様な過度な加速度が加速度センサーに加わったとき、 錘の動きを規制して薄い可撓腕の破損を防ぐ。
[0005] ダイヤフラムを持った 3軸加速度センサーのダイヤフラム構造とピエゾ抵抗素子の 配置が、特許文献 7から特許文献 9に開示されている。可撓部として円形あるいは多 角形をしたダイヤフラムをその外縁で支持枠に取り付け、ダイヤフラムの内縁に錘を 配して!/、る。外力で錘が変位するとダイヤフラムに設けられたピエゾ抵抗素子が変形 し電気信号が得られる。梁型 3軸加速度センサー素子に比べ、ダイヤフラムを持った 3軸加速度センサーはピエゾ抵抗素子の配置の自由度が高いと言う利点がある。正 方形の支持枠、錘およびダイヤフラムで構成され、錘がダイヤフラムの中央に保持さ れている。ダイヤフラムにはピエゾ抵抗素子 (X軸ピエゾ抵抗素子、 Y軸ピエゾ抵抗素 子および Z軸ピエゾ抵抗素子)が形成されて金属配線で接続されて!/、る。
[0006] 錘が外力を受けて動くと可撓部が変形する。可撓部の変形をピエゾ抵抗素子の抵 抗変化として測定して、外力の方向と大きさを知ること力 Sできる。しかし、ピエゾ抵抗 素子の抵抗変化が微小なため、可撓部上に各軸当たり 4個のピエゾ抵抗素子を配し てフルブリッジ回路を構成し、微小な抵抗変化を電圧変化として検出している。フル ブリッジを構成して!/、る 4個のピエゾ抵抗素子の電気抵抗が同じであれば、ブリッジか らの出力が無い。しかし、実際には 4個のピエゾ抵抗素子間でピエゾ抵抗素子の不 純物濃度のばらつき、素子の寸法ばらつき、素子に加わる応力の違い等、種々の要 因により、 4個のピエゾ抵抗素子の抵抗が異なるため、加速度も加わらず可撓部が変 形していない状態でブリッジの出力が出る。この出力電圧をオフセット電圧と称してい る。加速度センサーに補正回路を設けオフセット電圧をキャンセルしてオフセット電 圧を略ゼロにしている。
[0007] 規制板の効果確認試験で過剰な衝撃を加速度センサーに加えると、オフセット電 圧を補正した加速度センサーにおいても許容範囲を超えるオフセット電圧が生じるこ とがあった。これは加速度センサーに加わった過剰な衝撃によって可撓部が上部規 制板に衝突し可撓部に設けられた金属配線の一部が変形したことによると考えられる 。金属配線が変形したために電気抵抗が変わりオフセット電圧が発生したものであつ た。
[0008] 消費電力ゃ耐衝撃性を変えないで検出感度を高めるために、ピエゾ抵抗素子を複 数本に分割することが特許文献 10で提案されている。例えば、ピエゾ抵抗素子を 2 分割して同じ幅をした 2本のピエゾサブ抵抗素子を直列に繋ぐことにより 1本のピエゾ 抵抗素子の場合と同じ抵抗とすることができる。半分の長さの 2本のピエゾサブ抵抗 素子を可撓部の応力集中部に隣合せて配置することで、可撓部の変形が同じであつ ても検出感度を高めることができる。ピエゾ抵抗素子を複数個に分割しても、抵抗が 変わらないので消費電力は変わらず検出感度を高めることができる。しかし、分割す ることでそれらを接続する金属配線の数が増えるため、金属配線が上部規制板と衝 突して変形しオフセット電圧が発生することも増える。
[0009] 可撓部が上部規制板に衝突しても金属配線が変形しな!/、ように、金属配線をアルミ ナゃ酸化シリコンのような、硬い電気絶縁膜で厚く被覆することが考えられる。しかし 、この様な膜を厚くつけると可撓部の変形度合いが変わる。可撓部はシリコンで構成 されており、電気絶縁膜や金属配線とは異なった熱膨張係数を持つ材料で形成され ている。構成材料の熱膨張係数の違いから、ピエゾ抵抗素子に加わる応力が変化し オフセット電圧の発生原因の一つとなっていた。更に、金属配線を硬い電気絶縁膜 で厚く覆うと、オフセット電圧をより大きくする。
特許文献 1:特開 2003— 172745号公報
特許文献 2:特開 2003— 279592号公報
特許文献 3:特開 2004— 184373号公報
特許文献 4 :特開 2006— 098323号公報
特許文献 5 :特開 2006— 098321号公報 特許文献 6 : WO2005/062060A1公報
特許文献 7 :特開平 3— 2535号公報
特許文献 8:特開平 6— 174571号公報
特許文献 9:特開平 7— 191053号公報
特許文献 10 :特開 2006— 098321号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0010] 本発明は、上述の問題を解決するためになされたもので、オフセット電圧補正後に 過度の衝撃が加わっても新たなオフセット電圧の発生が起こらな!/、、小型で薄型の 3 軸加速度センサーを提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0011] 本発明の加速度センサーは、
中央にある錘と、
錘から所定間隔を置!/、て錘を取り囲んで!/、る支持枠と、
錘上部と支持枠上部とを連結して錘を吊り下げている可撓部と、
可撓部内の可撓部上面近くに形成された複数のピエゾ抵抗素子と、
支持枠上面に設けられたセンサー端子と、および
ピエゾ抵抗素子間およびピエゾ抵抗素子とセンサー端子間を結んでいる金属配線と を有し、
金属配線の可撓部に設けられた部分が可撓部上面に形成された矩形あるいは逆台 形断面をした溝のなかに設けられて!/、て、
可撓部上面に形成された溝のなかに設けられた金属配線の上面が可撓部上面より も低くなつている。
[0012] 本発明の前記加速度センサーにおいて、錘上面が有する金属配線が、錘上面に 形成された矩形あるいは逆台形断面をした溝のなかに設けられていて、錘上面に形 成された溝のなかに設けられた金属配線の上面が錘上面よりも低くなつていることが 好ましい。
[0013] 本発明の前記加速度センサーにおいて、複数のピエゾ抵抗素子のうち支持枠側に 設けられているピエゾ抵抗素子の支持枠側の端よりも錘側にある金属配線の部分の 上面が可撓部上面よりも低!/、ことが好まし!/、。
[0014] 本発明の前記加速度センサーにおいて、可撓部上面に形成された溝のなかに設 けられた金属配線の上面が可撓部上面よりも 0· 05 111〜0. 5 m低いことが好まし い。また、錘上面に形成された溝のなかに設けられた金属配線の上面が錘上面より も少なくとも 0. 05 m低いことが好ましい。
[0015] 本発明の前記加速度センサーにおいて、可撓部がシリコン層とシリコン層上面を覆 う電気絶縁層から構成されており、その電気絶縁層が可撓部上面と可撓部上面にあ る溝の両内側壁と底面を覆っていることが好ましい。その溝がシリコン層上面に形成 されていること力 Sできる。あるいは、可撓部上面に形成された溝がシリコン層上面に積 層された電気絶縁層に形成されていることができる。
[0016] 本発明の前記加速度センサーにおいて、錘がシリコン層とシリコン層上面を覆う電 気絶縁層を持ち、その電気絶縁層が錘上面にある溝の両内側壁と底面を覆っている ことが好ましい。その溝がシリコン層上面に形成されていることができる。あるいは、錘 上面に形成された溝が錘のシリコン層上面に積層された電気絶縁層に形成されてい ること力 Sでさる。
[0017] 本発明の前記加速度センサーにおいて、可撓部上面に形成された溝が可撓部上 面から錘上面と支持枠上面に延びて!/、ることが好まし!/、。その溝の錘上面ある!/、は 支持枠上面の部分に複数の金属配線が設けられていることができる。
[0018] 本発明の前記加速度センサーにおいて、
可撓部が、錘上部と支持枠上部とを連結している複数の可撓腕からなり、 複数の可撓腕それぞれが、
可撓部上面に形成された少なくとも 1つの前記溝を有し、
シリコン層と、シリコン層上面を覆う電気絶縁層から構成されており、その電気絶 縁層が可撓腕上面と前記溝の両内側壁と底面を覆っていて、
可撓腕長手方向に延びたセンターラインに関して構造上対称であることが好まし い。可撓腕それぞれが少なくとも 2つの溝を持ち、ピエゾ抵抗素子が溝の間のシリコ ン層上面に設けられていることができる。 発明の効果
[0019] 本発明の加速度センサーでは、錘と支持枠を連結している可撓部の上面に設けら れた金属配線が可撓部上面に形成された溝のなかに入れられており、金属配線上 面が可撓部上面よりも低くなつているので、加速度センサーに過剰な加速度あるいは 衝撃が作用した際に、金属配線が上部規制板に衝突することがない。そのために、 金属配線が変形することがなぐ加速度センサーにオフセット電圧が新たに生じること がない。
図面の簡単な説明
[0020] [図 1]図 1は、本発明の実施例 1の加速度センサーを有する加速度センサー装置の 分解斜視図で、
[図 2]図 2は、実施例 1の加速度センサーの平面図で、
[図 3]図 3は、実施例 1の加速度センサーの X軸方向に延びている可撓腕のうち 1本 の拡大平面図で、
[図 4]図 4は、実施例 1の加速度センサーの Y軸方向に延びている可撓腕のうち 1本 の拡大平面図で、
[図 5]図 5は、図 2の V— V線における拡大断面図で、
[図 6]図 6は、図 2の VI— VI線における拡大断面図で、
[図 7]図 7は、図 2の VII— VII線における拡大断面図で、
[図 8]図 8は、図 2の ΠΧ— ΠΧ線における拡大断面図で、
[図 9]図 9は、図 2の IX— IX線における拡大断面図で、
[図 10]図 10は、実施例 1の加速度センサ一の配線を説明する平面図で、
[図 11]図 11は、図 10における X軸ピエゾ抵抗素子 (Y軸ピエゾ抵抗素子)のフルブリ ッジ回路を説明する図で、
[図 12]図 12は、図 10における Z軸ピエゾ抵抗素子のフルブリッジ回路を説明する図 で、
[図 13]図 13は、実施例 2の加速度センサーの Y軸方向に延びている 2本の可撓腕の 拡大平面図で、
[図 14]図 14は、図 13の XIV— XIV線における拡大断面図で、 [図 15]図 15は、実施例 3の加速度センサーの Y軸方向に延びている可撓腕の拡大 断面図で、
[図 16]図 16は、図 15の XVI— XVI線における縦断面図で、
[図 17]図 17は、図 15の XVII— XVII線における縦断面図で、そして
[図 18]図 18は、実施例 4の加速度センサーの平面図である。
符号の説明
[0021] 10 :錘
l it, 12t, 13t, 14t, 21t, 23t, 31t, 33t :センサー端子
16, 26, 26f , 36 : If
21 , 2 , 21〃 , 22, 22; , 23, 23 :可撓腕
24 :シリコン層
25, 25c, 25c , 25d :金属酉己線
28, 28 :電気絶縁層
29 :ダイヤフラム
30 :支持枠
XI , X2, X3, X4, Yl , Y2, Y3, Y4, Zl , Z2, Z3, Z4 :ピエゾ抵抗素子
発明を実施するための最良の形態
[0022] 以下、図面を参照しながら実施例に基づいて本発明の加速度センサーを詳細に説 明する。
実施例 1
[0023] 図 1から図 12を参照して本発明の実施例 1の加速度センサーを持った加速度セン サー装置を説明する。図 1は本発明の実施例 1の加速度センサー装置の分解斜視 図で、図 2は実施例 1の加速度センサー装置に用いている加速度センサーの平面図 で、図 3は加速度センサーの X軸方向に延びている可撓腕のうち 1本の拡大平面図 で、図 4は加速度センサーの Y軸方向に延びている可撓腕のうち 1本の拡大平面図 で、図 5は図 2の V—V線における拡大断面図で、図 6は図 2の VI— VI線における拡 大断面図で、図 7は図 2の VII— VII線における拡大断面図で、図 8は図 2の ΠΧ— II X線における拡大断面図で、図 9は図 2の IX— IX線における拡大断面図で、図 10は 図 2の加速度センサーの配線を説明する平面図で、図 11は図 10における X軸ピエ ゾ抵抗素子 (Y軸ピエゾ抵抗素子)のフルブリッジ回路を説明する図で、そして図 12 は図 10における Z軸ピエゾ抵抗素子のフルブリッジ回路を説明する図である。
[0024] 図 1の加速度センサー装置において、加速度センサー 100はケース 80内でケース 内底面 84上に加速度センサー 100の支持枠 30の底が内底面 84から小さな間隙を 介して、内底面 84上に接着されており、ケース内底面 84が加速度センサー 100の錘 10との間に小さな間隙を持っている。加速度センサー 100のセンサー端子 12t, l it , 13t, 31t, 33t, 23t, 21t, 14tそれぞれがケース 80の端子 86に導線 70で接続さ れ、ケースの端子 86がケースの外部端子 88にケース内部で接続されて、加速度セ ンサー 100のピエゾ抵抗素子に外部端子 88から測定用電圧を印加し、あるいはカロ 速度センサー 100の出力を外部端子 88から取り出す。加速度センサー 100の上に その全面を覆うように上部規制板 60が加速度センサー 100との間に小さな間隙を介 して取り付けられており、錘 10の過剰な振動 ·動きを防ぐ。加速度が錘 10に加わった 際にその加速度がある範囲内の場合には錘 10が振動 ·動きをする力 S、過剰な加速度 が加わっても錘が上部規制板 60との間およびケース内底面 84との間にある小さな間 隙以上には振動しないようになっている。ケース 80の上にケース蓋 90が取り付けら れている。
[0025] 加速度センサー 100は、中央に錘 10、錘 10から所定間隔を置いて錘 10を取り囲 んでいる支持枠 30、錘上部と支持枠上部とを連結して錘 10を吊り下げている可撓部 を持っている。この実施例では可撓部として 4本の可撓腕 21 , 21' , 22, 22' を持 つ。加速度センサー 100は、 SOI層を形成したシリコン単結晶基板、すなわち SOI ェファーで作られている。 SOIとは Silicon On Insulatorの略である。この例では、 約 410 m厚の Siウェファ一上にエッチングストッパーとなる Si〇2絶縁層を薄く(例 えば、約 1 [I m)形成し、その上に約 6 H m厚の N型シリコン単結晶層を形成したゥェ ファーを基板として使用した。支持枠 30の大きさをした正方形のシリコン単結晶基板 に 4個の L字状貫通孔 150を開けて、中央の錘 10とその周囲にある支持枠 30とそれ らの間を渡している可撓腕 21 , 21' , 22, 22' を形成し、可撓腕の部分を薄くして いる。 [0026] 加速度センサー 100は、 2つの直交する検出軸(X軸と Y軸)および加速度センサ 一上面に垂直な検出軸(Z軸)に対応して、可撓腕上に各軸それぞれにピエゾ抵抗 素子を持っている。すなわち、 X軸方向に延びている可撓腕 21 , 21' 上にピエゾ抵 抗素子 XI , X2, X3, X4が設けられていて X軸方向の加速度を検出する。 Y軸方向 に延びている可撓腕 22, 22' 上にピエゾ抵抗素子 Yl , Y2, Y3, Y4が設けられて いて Y軸方向の加速度を検出する。 X軸方向に延びている可撓腕 21 , 21' 上に更 にピエゾ抵抗素子 Zl , Z2, Z3, Z4が設けられていて Z軸方向の加速度を検出する 。この例では、 Z軸方向の加速度を可撓腕 21 , 21' 上に設けたピエゾ抵抗素子で検 出している力 Z軸方向の加速度を検出する素子が可撓腕 22, 22' 上に設けられて いること力 Sできる。各軸方向の加速度を検出するピエゾ抵抗素子はそれぞれ図 1 1あ るいは図 12に示すフルブリッジ検出回路を構成している。
[0027] この実施例の加速度センサー 100では、ピエゾ抵抗素子 XI ,……, X4, Y1 ,…… , Y4 , Z1 ,…… , Z4それぞれが分割されてピエゾサブ抵抗素子 Xl a, Xlb,…… , X4a, X4b, Yl a, Ylb,……, Y4a, Y4b, Zl a, Zlb,……, Z4a, Z4bで構成され ており、錘 10と支持枠 30を結んでいる可撓腕は錘に加速度力 Sかかったときに錘 10 あるいは支持枠 30に近いところで変形が大きいので、加速度に対する感度を上げる ために、各ピエゾサブ抵抗素子が可撓腕と錘との境界近くあるいは可撓腕と支持枠と の境界近くの可撓腕上の変形の大きい部分に設けられる。その配置を図 2、図 3、図 4および図 10に示す。各ピエゾサブ抵抗素子は可撓腕を構成しているシリコン層に ボロンを濃度 1〜3 X 1018原子 /cm3に打ち込み形成する。各ピエゾ抵抗素子を構 成している 2個のピエゾサブ抵抗素子の可撓腕中央側端子間を結んで高濃度拡散 層 Xlc , X2c , X3c, X4c, Yl c, Y2c , Y3c, Y4c , Zlc , Z2c, Z3c , Z4cカ 成さ れている。これら高濃度拡散層はピエゾサブ抵抗素子よりも高い濃度、例えば;!〜 3 X 1021原子 /cm3でボロンを打ち込んで形成されている。ピエゾサブ抵抗素子と高 濃度拡散層はシリコン層にボロンを拡散して形成しているので、それらは可撓腕の他 の部分と機械的性質で全く同じである。高濃度拡散層 Xlc,…… Z4cで結ばれた 2 個のピエゾサブ抵抗素子 Xl aと Xlb,……, Z4aと Z4bがピエゾ抵抗素子 XI ,……, Z4を構成しており、 X軸のピエゾ抵抗素子 XI , X2, X3, X4が図 1 1に示すフルブリ ッジ検出回路を構成し、そのセンサー端子 12tと 14t間に測定用直流電圧 Vccを印 加してブリッジ出力 Voutをセンサー端子 l itと 13t間から取り出す。 Y軸のピエゾ抵 抗素子 Yl , Y2, Y3, Y4が図 11に示すフルブリッジ検出回路を構成し、そのセンサ 一端子 12tと 14t間に測定用直流電圧 Vccを印加してブリッジ出力 Voutをセンサー 端子 21tと 23t間から取り出す。 Z軸のピエゾ抵抗素子 Zl , Z2, Z3, Z4が図 12に示 すフルブリッジ検出回路を構成し、そのセンサー端子 12tと 14t間に測定用直流電圧 Vccを印加してブリッジ出力 Voutをセンサー端子 31tと 33t間から取り出す。 X軸の ピエゾサブ抵抗素子、 γ軸のピエゾサブ抵抗素子および Z軸のピエゾサブ抵抗素子 とセンサー端子 l it, 12t, 13t, 14t, 21t, 23t, 31t, 33tを加速度センサー 100の 上面に描いた平面図を図 10に示し、図 11と図 12にあるセンサー端子それぞれが図 10に示すセンサー端子それぞれに対応する。これらピエゾ抵抗素子の端子間とピエ ゾ抵抗素子の端子とセンサー端子間を結んでいるのはアルミニウムなどの金属配線 25である。
[0028] 図 2に図 10とよく似た図を示している力 S、図 2では金属配線 25が可撓腕 21 , 21' , 22, 22' 上で可撓腕 21 , 21' , 22, 22' に形成された溝 26の中に入れて描いて いる。また、金属配線 25が支持枠 30の上面で支持枠 30の上面に形成された溝 36 のな力、に、錘 10の上で錘 10の上面に形成された溝 16の中に入れられている。なお 、図 10は図 2と同じ構造を示している力 図 10ではピエゾサブ抵抗素子の参照符号 を示すために、溝 16, 26, 36の図示を省略している。図 3と図 4それぞれに図 2の可 撓腕 21と可撓腕 22の拡大平面図を示し、図 5から図 9に図 2の V—V線、 VI— VI線 、 Vll—VIl泉、 IIX— IIX線および IX— IX線それぞれにおける拡大断面図を示す。 それらの断面図から明らかなように、ここでは溝 26, 36の断面形状が矩形であるが、 溝の上部が開いた逆台形とすることができる。なお、錘 10の断面図を示していないが 、錘 10上面にある溝 16の断面形状が矩形となっている。溝 16の上部が開いた逆台 形とすることあでさる。
[0029] 図 5から図 7の断面図に示すように、可撓腕 21を構成しているシリコン層 24 (図 5に 示しているピエゾサブ抵抗素子 Zla, Xla, Xlb, Zlbおよび図 6に示している高濃 度拡散層 Zlcを含んで)の周囲に二酸化シリコンの電気絶縁層 28が形成されている 。可撓腕を構成している単結晶シリコンは通常 N型あるいは P型で、電気抵抗が;!〜
100 Ω ' cmと小さいので、金属配線 25を設けた溝 26の底と側壁に電気絶縁層 28を 形成し、シリコン層 24から金属配線 25を絶縁する必要がある。ここでは電気絶縁層 2
8力 0. 1〃111厚でぁるカ 0. 02-0. 8〃m厚とすることカできる。?冓 26のな力、に、ス ノ クタ一で形成したアルミニウムの金属配線 25を設けてレ、る。ピエゾサブ抵抗素子と 金属配線 25との接続部、例えば図 3のピエゾサブ抵抗素子 XI aの左端では接続す べきピエゾサブ抵抗素子端の上にある電気絶縁層 28にスルーホールを開けて、アル ミニゥムの金属配線 25をスパッターで形成することで、金属配線 25とピエゾサブ抵抗 素子との接続を確保できる。この実施例では、溝 26の底幅が 4 mで、深さが 0. 3 μ mであった。電気絶縁層 28が可撓腕 21のシリコン層 24の上にも形成されているので 、電気絶縁層 28上面からの溝 26の深さが 0. 3 mであった。、溝 26のな力、に幅 3 mで厚さ 0. 2 mの金属配線 25が形成されているので、金属配線 25の上面が可撓 腕 21の上面にある電気絶縁層 28上面から 0. 1 m低くなつていた。本発明では、金 属配線 25の上面が可撓腕の電気絶縁層 28上面から少なくとも 0. 05 m低くなつて いることが好ましい。金属配線 25の上面が可撓腕の電気絶縁層 28上面から少なくと も 0. 05 m低くなつていれば、可撓腕が変形したときに、金属配線 25が上部規制 板 60に接触することがない。金属配線 25の上面が可撓腕上面からいくら低くなつて いても、金属配線 25の上部規制板 60との接触を防ぐ上では問題がないが、低くする には溝 26の深さを深くする必要がある。そこで、可撓腕上面からの金属配線 25上面 の深さを 0. 5 m以内とすることが好ましい。
[0030] 溝 26の深さがこの実施例では 0. 3 ,1 mであった。可撓腕が Si〇2層上に積層され た 6 m厚の N型シリコン単結晶層、すなわちシリコン層で形成されている。溝深さの 可撓腕厚さに対する比が約 5 %であった。本発明では溝深さの可撓腕厚さに対する 比が 15%以下であることが好ましい。この比が 15 %を超えると可撓腕強度が低下す
[0031] また、上に説明したように底幅 4 H mの溝 26に 3 μ m幅の金属配線 25が形成されて いる。金属配線が溝の側壁と接触していると、温度変化によって金属配線に応力が 生じ、また溝の底隅にある電気絶縁層の薄い部分に金属配線が設けられることになり それを避けることが好ましいので、本発明では溝の底幅の金属配線幅に対する比が 110%以上であることが好まし!/、。
[0032] 図 6の断面図に示すように、溝 26が高濃度拡散層 Zlcを横切って形成されている がシリコン層 24に形成された高濃度拡散層 Zlcの可撓腕上面からの深さが溝 26の 深さ、例えば 0· 3 111よりもかなり大きく;!〜 1 · 5 mなので、溝 26によって高濃度拡 散層 Zlcが切断されることがない。また、高濃度拡散層 Zlcと金属配線 25の間に電 気絶縁層 28が設けられているので、これらの間の電気絶縁が確保される。
[0033] 図 4と図 8に示すように、 Y軸方向の可撓腕 22には 2個のピエゾ抵抗素子 Yl , Y2 ( ピエゾサブ抵抗素子としては Yla, Ylb, Y2a, Y2b)と 2本の金属配線 25が設けら れている。可撓腕 22を図示している図 4と図 8は、 X軸方向の可撓腕 21を図示してい る図 3と図 5とピエゾサブ抵抗素子の数と金属配線の数を除いて同じ構造をしている ので、説明を省略する。
[0034] 加速度センサー 100の中央にある錘 10は、 Siウェファ一上に Si〇2絶縁層と N型シ リコン単結晶層(シリコン層)が積層された SOIウェファ一で構成されている。シリコン 層上面に電気絶縁層が形成されている。図 2、図 3、図 4および図 10に示すように、 可撓腕上の金属配線が錘 10上面に延びていて、錘 10上面で金属配線および/あ るいは高濃度拡散層で接続されている。錘 10上にある金属配線の部分に沿って溝 1 6が形成されており、金属配線 25がそのなかに設けられている。この実施例では、錘 上のシリコン層に溝が形成されている。電気絶縁層が溝 16の両内側壁と底面とに設 けられて、金属配線とシリコン層との間を電気絶縁している。加速度センサーに加速 度が作用したときに、加速度センサー 100の錘 10上面が上部規制板と衝突する可 能性が最も高い。そこで、錘上面の金属配線上面が錘上面から低くなつている。可撓 腕上面におけるのと同じように、錘上面においても金属配線上面が錘の電気絶縁層 上面から少なくとも 0. 05 m低くなつていることが好ましい。
[0035] 金属配線 25を支持枠 30の上面に引き出した部分では、支持枠断面を図 9に示す ように、必要により複数の金属配線 25を収容する幅の広い溝 36を設けることができる 。なお、図 3から図 8に図示した可撓腕 21 , 22のように、各可撓腕はその長さ方向に 延びたセンターライン CLに関して対称な構造をしている。図 3の金属配線 25の配置 力、ら理解できるように、電気配線としては一番上の金属配線と二番面のうちどちらか 1 本で十分である力 S、センターライン CLに関して対称構造とするために 2本の金属配 線をセンターライン CLの両側それぞれに配置している。図 2における右側にある可 橈腕 21' についても同様である。
[0036] ここで述べた実施例 1の加速度センサー 100は、錘上および可撓腕上の金属配線 が錘あるいは可撓腕に形成された溝のなかに設けられており、溝のなかに設けられ た金属配線の上面が錘上面および可撓腕上面よりも低くなつて!/、るので、加速度セ ンサ一に過剰な加速度あるいは衝撃が作用して錘と可撓腕が上部規制板に激しく衝 突することがあっても金属配線に変形が生じることがなぐオフセット電圧の発生がな い。
実施例 2
[0037] 図 13と図 14を参照して、本発明の実施例 2の加速度センサーを説明する。実施例 2の加速度センサーは、実施例 1の加速度センサー 100にあった Y軸方向の可撓腕 22, 22' に代えて、図 13と図 14に示す Y軸方向の可撓腕 23, 23 を持つ。図 13 に示す 2本の可撓腕 23, 23' はそのセンターライン CLに沿った溝 26のなかに金属 配線 25c, 25c' が配置されており、ピエゾサブ抵抗素子 Ylaの支持枠側の端子が 可撓腕 23のセンターライン CLに沿った金属配線 25cを通って可撓腕 23' のセンタ 一ラインに沿った金属配線 25c' に導かれ、更に反対側の支持枠 30に形成された センサー端子 21tに結ばれている。可撓腕 23の右側の金属配線 25dはダミーでそれ の一端が開放されている。 2本の可撓腕 23, 23 に形成された溝 26、金属配線 25 , 25c, 25c' , 25d力 S可撓腕 23, 23' のセンターライン CLに関して対称である。実 施例 1ではピエゾサブ抵抗素子 Yl aの支持枠側の端子から弓 Iき出された金属配線 が支持枠 30の上を加速度センサーの周りを半周してセンサー端子 21tに結ばれて いたが、実施例 2ではピエゾサブ抵抗素子 Ylaの支持枠側の端子から引き出された 金属配線が Y軸方向に延びた 2本の可撓腕 23, 23' の上を通ってセンサー端子 21 tに結ばれている。
実施例 3
[0038] 実施例 3の加速度センサーの外観は図 1に示したものと同じなので、図 1を参照して その加速度センサーを説明する。実施例 3の加速度センサーでは、シリコン層 24の 上面に 0. 8 m厚の二酸化シリコンの電気絶縁層 28' を持ち、電気絶縁層 28' に 溝 26' が形成されている。図 15にその加速度センサーの Y軸方向に延びている可 橈腕 21 の断面図を示している。溝 26' は底幅が 6 mで深さが 0. 4 mの逆台 形をしており、そのなかに幅 3 mで厚さ 0· 15 mの金属配線 25が設けられている 。金属配線 25の上面が電気絶縁層 28' 上面から 0. 25 111低くなつている。溝 26 ' の底においてもシリコン層 24との間に 0. 4〃 m厚の電気絶縁層 28' があるので、 金属配線 25とシリコン層 24との電気絶縁がされている。ピエゾサブ抵抗素子 Yla, Y lbがシリコン層 24の上面近くに形成されている力 S、ピエゾサブ抵抗素子 Yla, Ylb の上も電気絶縁層 28' で覆われている。錘の上面に可撓腕 21〃 と同様に 0. 8 111 厚の二酸化シリコンの電気絶縁層 28' が形成されていて、電気絶縁層 28' に溝が 形成され、その溝のなかに金属配線が設けられている。錘上面の金属配線上面が電 気絶縁層上面から 0· 25 m低くなつている。
[0039] 図 15の XVI— XVI線における縦断面図を図 16に、その XVII— XVII線における縦 断面図を図 17に示している。図 16に示すように、ピエゾサブ抵抗素子 Ylaの支持枠 30側の端では、ピエゾサブ抵抗素子 Ylaの上部にある電気絶縁層 28' にスルーホ ールが開けられて電気絶縁層 28' の溝 26' のなかに形成された金属配線 25の底 の一部がスルーホールを介してピエゾサブ抵抗素子 Ylaの端に接続している。この 図に示すように金属配線 25の上面がピエゾサブ抵抗素子 Ylaの支持枠 30側の端 においては電気絶縁層 28' の上面よりも低くなつていて、支持枠 30の中央側では 電気絶縁層 28' の上面と同じレベルとなっている。錘と可撓腕は外部から作用する 加速度によって変位するが、支持枠 30は変位しないので、支持枠 30のところでは金 属配線 25の上面が支持枠 30上で電気絶縁層 28' 上面と同じレベルであっても、金 属配線 25が上部規制板と衝突することがない。図 17は中央の金属配線 25cの縦断 面図で、 2個のピエゾサブ抵抗素子 Ylaと Ylb間を結んでいる高濃度拡散層 Ylcと 金属配線 25cの間に電気絶縁層 28' が介在していることを示している。
実施例 4
[0040] 図 18に、実施例 4の加速度センサー 400を平面図で示している。加速度センサー 4 00は可撓部としてダイヤフラム 29を持ち、錘 10をダイヤフラム 29で支持枠 30の中央 に保持している。可撓腕に代えて、可撓部としてダイヤフラム 29を持つ加速度センサ 一 400においても、実施例 1の加速度センサー 100と同様に働くので、詳しい説明を 省略する。
実施例 5
[0041] 実施例 1の加速度センサーを備えた加速度センサー装置 100個と、加速度センサ 一上面に溝がなく錘上面と可撓腕上面に金属配線が設けられている従来の加速度 センサーを備えた加速度センサー装置 100個を製作し、それらの試料について、(a) オフセット電圧の測定 (加速度が加えられていない状態での出力電圧の測定)し、 (b )衝撃を印加し、その後(c)オフセット電圧の測定をした。衝撃印加後のオフセット電 圧の測定で、オフセット電圧が当初の値に比べて ± 10%以上変化した試料は分解 して金属配線の様子を調べた。オフセット電圧の変化が ± 10%未満の試料は、衝撃 の印加とオフセット電圧の測定を 50回繰り返した。衝撃試験では、加速度センサー 装置を 2mm厚の鉄製ジグに固定し、それを lmの高さから 100mm厚の木板上に自 由落下させて、 1500〜2000Gの衝撃を力 Qえた。衝撃の方向を加速度センサーの Z 軸方向とした。
[0042] 実施例 1の加速度センサー装置では 50回の繰り返し衝撃試験によっても、オフセッ ト電圧が ± 10%以上変化したものがな力、つた。しかし、従来の加速度センサー装置 のうち 6個でオフセット電圧の変動が ± 10%を超えた。これら 6個の加速度センサー 装置を分解して調査したところ、いずれも金属配線の一部が変形していた。そのうち 5個が可撓腕上の錘に近いところで金属配線が変形し、残り 1個が錘上の金属配線 が変形していた。この結果から、本発明の加速度センサーでは過剰な衝撃が加わつ ても金属配線の変形が生じず、オフセット電圧の発生を防ぐことができることが確認で きた。
[0043] 実施例 1の加速度センサーで上部規制板として ICチップを用いた加速度センサー 装置を 100個製作し、過剰な加速度が加わったときにラッチアップ現象が生じるかど うかを評価した。上と同様な衝撃試験を行い、出力を測定しラッチアップ現象の有無 を見た。 10回の繰り返し衝撃試験によっても、ラッチアップ現象が生じな力 た。この ことから本発明の加速度センサーでは、金属配線が上部規制板に接触しない構造を しているので、金属配線の変形によるオフセット電圧の発生だけでなぐラッチアップ 現象の発生をも防止することができた。
産業上の利用可能性
ピエゾ抵抗素子を用いて加速度を検出する加速度センサーは、自動車、航空機、 家庭用電気機器、産業機械などに広く用いられている。加速度センサーに加速度が 作用していないときにもある出力が出る。その出力、オフセット電圧が一定であれば 補償回路を用いて打ち消すことができる。しかし、過剰な衝撃が加速度センサーに作 用した際にオフセット電圧が変動することがある。本発明の加速度センサーでは、錘 あるいは可撓部上の金属配線を溝あるいは可撓部上に形成した溝に入れて、錘が 上部規制板に衝突しても、金属配線が上部規制板に衝突しない構造をしているので 、オフセット電圧の変動を防ぐことができる。力、かる構造をした加速度センサーは産業 界で待たれて!/、たものである。

Claims

請求の範囲
[1] 中央にある錘と、
錘から所定間隔を置!/、て錘を取り囲んで!/、る支持枠と、
錘上部と支持枠上部とを連結して錘を吊り下げている可撓部と、
可撓部内の可撓部上面近くに形成された複数のピエゾ抵抗素子と、
支持枠上面に設けられたセンサー端子と、および
ピエゾ抵抗素子間およびピエゾ抵抗素子とセンサー端子間を結んでいる金属配線と を有し、
金属配線の可撓部に設けられた部分が可撓部上面に形成された矩形あるいは逆台 形断面をした溝のなかに設けられていて、可撓部上面に形成された溝のなかに設け られた金属配線の上面が可撓部上面よりも低くなつている加速度センサー。
[2] 金属配線の錘上面に設けられた部分が錘上面に形成された矩形あるいは逆台形断 面をした溝のなかに設けられていて、錘上面に形成された溝のなかに設けられた金 属配線の上面が可撓部上面よりも低くなつている請求項 1記載の加速度センサー。
[3] 複数のピエゾ抵抗素子のうち支持枠側に設けられたピエゾ抵抗素子の支持枠側の 端よりも錘側にある金属配線の部分の上面が可撓部上面よりも低い請求項 1記載の 加速度センサー。
[4] 可撓部上面に形成された溝のなかに設けられた金属配線の上面が可撓部上面より も 0. 05 111〜0. 5 m低い請求項 1記載の加速度センサー。
[5] 前記可撓部がシリコン層とシリコン層上面を覆う電気絶縁層から構成されており、そ の電気絶縁層が可撓部上面と前記溝の両内側壁と底面を覆っている請求項 1記載 の加速度センサー。
[6] 前記溝がシリコン層上面に形成されている請求項 5記載の加速度センサー。
[7] 可撓部上面の溝がシリコン層上面に積層された電気絶縁層に形成されている請求 項 5記載の加速度センサー。
[8] 可撓部上面の溝が錘上面と支持枠上面に延びている請求項 1記載の加速度センサ
[9] 前記溝の錘上面あるレ、は支持枠上面の部分に複数の金属配線が設けられて!/、る請 求項 8記載の加速度センサー。
[10] 錘上面に形成された溝のなかに設けられた金属配線の上面が錘上面よりも少なくと も 0. 05 μ m低!/、請求項 2記載の加速度センサー。
[11] 前記錘がシリコン層とシリコン層上面を覆う電気絶縁層を持ち、その電気絶縁層が錘 上面に形成された溝の両内側壁と底面を覆っている請求項 2記載の加速度センサー
[12] 錘上面の溝がシリコン層上面に形成されている請求項 11記載の加速度センサー。
[13] 錘上面の溝がシリコン層上面に積層された電気絶縁層に形成されている請求項 11 記載の加速度センサー。
[14] 前記可撓部が、錘上部と支持枠上部とを連結している複数の可撓腕からなり、 複数の可撓腕それぞれが、
可撓部上面に形成された少なくとも 1つの前記溝を有し、
シリコン層と、シリコン層上面を覆う電気絶縁層から構成されており、その電気絶 縁層が可撓腕上面と前記溝の両内側壁と底面を覆っていて、
可撓腕長手方向に延びたセンターラインに関して構造上対称である請求項 1記 載の加速度センサー。
[15] 可撓腕それぞれが少なくとも 2つの前記溝を持ち、ピエゾ抵抗素子が溝の間のシリコ ン層上面に設けられている請求項 14記載の加速度センサー。
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