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WO2005091315A1 - R−Fe−B系薄膜磁石及びその製造方法 - Google Patents

R−Fe−B系薄膜磁石及びその製造方法 Download PDF

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WO2005091315A1
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magnet
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Shunji Suzuki
Kenichi Machida
Eiji Sakaguchi
Kazuya Nakamura
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Proterial Ltd
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Namiki Precision Jewel Co Ltd
Japan Science and Technology Agency
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Definitions

  • the present invention relates to a high-performance thin film magnet suitable for a micromachine, a sensor, and a small-sized medical information device, and a method for manufacturing the same.
  • Nd-Fe-B based rare earth sintered magnets which mainly contain Nd as the rare earth element R, have high magnetic properties, and are used in various applications such as VCM (voice coil motor), MRI (magnetic tomography equipment), etc. Used in various fields. These magnets have a size of several tens of mm on each side.For mobile phone vibration motors, cylindrical magnets with an outer diameter of 3 mm or less are used, and finer magnets are required in the field of micromachines and sensors. ing.
  • the thickness of a thin film magnet formed on a base material such as a flat plate or a shaft is about several tens of ⁇ m, and is several ten minutes smaller than the diameter of the four sides or the shaft of the flat plate. Often, it becomes one hundredth.
  • the demagnetizing field becomes so large that sufficient magnetization is not performed, and therefore the original magnetic properties of the thin film magnet are brought out. It becomes difficult.
  • Conventional Nd-Fe-B-based thin film magnets generally deposit magnet constituents on a substrate in an atomized or ionized state, and then perform a heat treatment to reduce the Nd Fe B Adopt a method to generate crystal grains
  • Patent Documents 2 and 3 Patent Documents 2 and 3
  • Fig. 1 (a) shows the initial magnetization curve and demagnetization curve of a general sintered magnet
  • Fig. 1 (b) shows the initial magnetization curve and demagnetization curve of a conventional thin film magnet. The curve is shown.
  • the magnetization of the sintered magnet rises sharply when a magnetic field is applied, and is as low as 0.4 MA / m. Show the characteristics.
  • Non-Patent Document 1 Journal of the Japan Society of Applied Magnetics, Vol. 27, No. 10, pp. 1007, 2003
  • Patent Document 1 JP-A-8-83713
  • Patent Document 2 JP-A-11-288812
  • Patent Document 3 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-217124
  • Patent Document 4 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-274016
  • An object of the present invention is to improve the magnetization of a thin film magnet.
  • the present inventors aimed at improving the magnetization of a thin-film magnet, with the aim of improving the composition and crystal structure.
  • the present invention relates to (1) an R—Fe_B-based alloy containing 28 to 45% by mass of an R element (where R is one or more of rare earth lanthanide elements) which is physically formed.
  • R element where R is one or more of rare earth lanthanide elements
  • the present invention provides (2) a method in which the C axis, which is the axis of easy magnetization of the RFeB crystal, is non-oriented.
  • the R—Fe—B thin film magnet of (1) characterized in that the magnet is oriented substantially perpendicular to the film surface.
  • the present invention also provides (3) the R_Fe_B-based thin film magnet according to (1) or (2), wherein the film thickness is 0.2 to 400 x m.
  • the present invention provides (4) heating at 700 to 1200 ° C during physical film formation of the R—Fe—B-based alloy and / or subsequent heat treatment to thereby achieve crystal grain growth and R
  • the crystal structure of the Nd-Fe-B thin film magnet is almost composed of RFeB crystals
  • the magnetization direction of each crystal grain gradually rotates with respect to the magnitude of the magnetic field even when a magnetic field is applied.
  • the initial magnetization curve of the conventional thin film magnet of (b) it is difficult to perform sufficient magnetization.
  • thin-film magnets are often applied to minute devices, it is practically difficult to apply a large magnetic field to minute parts.
  • the thin film magnet targeted in the present invention has an R—Fe—B based alloy force, and generally, an Nd—Fe—B based alloy is used.
  • an Nd—Fe—B based alloy is used.
  • addition of Pr, Dy, Tb, etc. as an R element in addition to Nd, or the addition of inexpensive Ce, etc. are performed to improve the coercive force of the thin film magnet.
  • various transition metal elements such as Ti, V, Mo, and Cu, and P, Si, and Al are added. It is common practice to add various transition metal elements, such as Co, Pd, and Pt, in order to improve the carbon content.
  • the total amount of rare earth elements R such as Nd, Pr, Dy, and Tb in the alloy is as follows.
  • the content of R element in the alloy is R Fe
  • the R-enriched grain boundary phase is similar to RO or RO-type oxides, which contain 50% by mass or more of R element and a small amount of Fe and other additives.
  • Nd content in the stoichiometric composition of NdFeB which is represented by Nd as the R element, is 26.
  • the R element in the alloy must be at least 28 mass% in order to coexist a small amount of the Nd-enriched grain boundary phase.
  • the ratio of the grain boundary phase in the alloy increases and the coercive force improves, but the ratio of the NdFeB crystal decreases and the magnetization decreases.
  • the latter has a structure in which the latter is substantially surrounded by the grain boundary phase.
  • the thickness is as thin as about 10 nm, and the grain boundary phase has a structure in which the grain boundary phase is interrupted in some parts.
  • the crystal grain size is generally determined from an average size obtained by cutting the crystal from multiple directions. When the film thickness is small, the crystal becomes a flat-shaped crystal. The observed average size of the crystal is expressed as the crystal grain size. Specifically, this measurement method uses a SEM (scanning electron microscope) or a high-magnification metallized sample of Nd-Fe-B-based thin film formed on a flat substrate or shaft surface, which is slightly etched with nitric acid alcohol. Observed with a microscope, one line was drawn on the obtained image photograph, the crystal grain size at a length of 200 zm on the line was measured and the average was calculated, and this was defined as the crystal grain size.
  • SEM scanning electron microscope
  • a high-magnification metallized sample of Nd-Fe-B-based thin film formed on a flat substrate or shaft surface which is slightly etched with nitric acid alcohol. Observed with a microscope, one line was drawn on the obtained image photograph, the crystal grain size at a length of 200
  • the C axis which is the axis of easy magnetization of the RFeB crystal, is not distributed.
  • the thickness of the Nd—Fe—B based film is in the range of 0.2 to 400 ⁇ , the effects of the present invention can be sufficiently exhibited. If it is less than 0.2 ⁇ , the volume of NdFeB grains becomes small,
  • the thickness exceeds 400 ⁇ , the disorder of the crystal size and orientation becomes large at the lower and upper portions of the film, and the remanent magnetization decreases.
  • long-term operation of about 1 day or more is required to form a film exceeding 400 / im, and a thickness of more than 400 xm can be obtained relatively easily by cutting and polishing a sintered magnet.
  • the upper limit film thickness is set to 400 ⁇ m.
  • the film forming method various physical methods such as coating for depositing an alloy from a liquid, coating or spraying fine alloy powder particles, CVD, and vapor deposition, sputtering, ion plating, and laser deposition.
  • a film formation method can be used.
  • the physical film-forming method can obtain a good quality crystalline film with less impurity contamination. It is suitable as a method for forming a system thin film.
  • a base material for forming a thin film various metals, alloys, glass, silicon, ceramics, and the like can be selected and used. However, since it is necessary to perform the treatment at a high temperature in order to obtain a desired crystal structure, it is desirable to select a high melting point metal such as Fe, Mo, or Ti as the ceramic or metal substrate. When the base material has soft magnetism, the demagnetizing force of the thin film magnet is reduced, so that metals and alloys such as Fe, magnetic stainless steel, and Ni are preferable. If a ceramic substrate is used, the resistance to high-temperature treatment is sufficient.Adhesion with the Nd-Fe-B film may be insufficient. Improving the performance is usually performed, and these base films may be effective even when the base material is a metal or an alloy.
  • a high melting point metal such as Fe, Mo, or Ti
  • the Nd-Fe_B-based film usually consists of amorphous or fine crystals of about several tens of nm. For this reason, crystallization and crystal growth are conventionally promoted by low-temperature heat treatment at 400 to 650 ° C to obtain a crystal structure of less than 1 ⁇ m.
  • low-temperature heat treatment at 400 to 650 ° C to obtain a crystal structure of less than 1 ⁇ m.
  • the role of the heat treatment is to promote the grain growth of the NdFeB crystal in the film and at the same time
  • the present invention has the nucleation-type coercive force mechanism aimed at by the present invention.
  • the high-temperature heat treatment is followed by a low-temperature heat treatment at 500 to 600 ° C. so that the Nd-rich grain boundary phase forms a structure that thinly and uniformly surrounds the crystal, As a result, there is an effect of improving the coercive force.
  • the substrate temperature during film formation is, for example, 300 to 400 ° C, and the film is heated to 700 to 1200 ° C after film formation. If the temperature is lower than 700 ° C, it takes several tens of hours to grow a desired crystal grain, and it is extremely difficult to form a suitable Nd-rich grain boundary phase. At 700 ° C or higher, crystal growth proceeds, and Nd-enriched grain boundary phases are formed through various reactions of Nd, Fe, and B. However, when the temperature exceeds 1200 ° C, part of the alloy becomes molten and becomes thin. It is unsuitable because the morphology of the film is destroyed and the oxidation proceeds significantly.
  • the heat treatment time even if the heat treatment is performed at a high or low temperature to obtain a homogeneous crystal structure, or even when the heat treatment is shifted, the crystal grain size in the film is not uniform or the Nd-rich grain boundary phase thickness is less than 10 minutes. This tends to cause variations.
  • the volume of the thin film magnet is smaller than that of the sintered magnet, it is easy to obtain the desired crystal structure and grain boundary phase with ten-odd minutes and tens of minutes.
  • the treatment time is preferably longer than 10 minutes and shorter than 1 hour, since the effect on the crystal structure is relatively small even if the time is increased or the time is further increased.
  • the RF output of 150 W and the DC output of 300 W were combined, and the substrate was sputtered for 90 minutes while rotating the substrate at 6 rpm to form a 15 ⁇ m thick Nd_Fe_B film on both sides of the substrate. Subsequently, the same sputtering was repeated by changing the number of Nd rods, and a total of six Nd—Fe—B films having different alloy compositions were produced.
  • the magnetic properties of each sample were measured using a vibrating sample magnetometer, and were measured when a magnetic field was applied in a direction perpendicular to the film surface at 1.2 MA / m and 2.4 MA / m. Next, the Fe substrate before film formation that had been heat-treated at the above temperature was measured, and the measured values were subtracted. Then, the magnetic characteristics of the Nd—Fe_B film were obtained. For some samples, the initial magnetization curve was also measured, and correction of the demagnetizing coefficient was not considered in any case.
  • Nd_Fe_B film was 20 J um.
  • the Nd content in the Nd—Fe—B film was 33.2% by mass. All samples after the heat treatment were observed using a SEM device equipped with an EDX analysis function, and Nd Fe
  • Table 2 shows the heat treatment temperature and crystal grain size of each sample, and the values of the remanent magnetization Br / 1.2 and the coercive force Hcj / 1.2 when a low magnetic field of 1.2 MAZm is applied in the direction perpendicular to the film surface. .
  • FIG. 4 shows the relationship between the crystal grain size of each sample and (BH) max / 1.2 and (BH) max / 2.4. .
  • the value of (BH) max / 1.2 approaches the value of (BH) max / 2.4, that is, the magnetization tends to improve.
  • (BH) max / 2.4 the present invention samples of grain size 0 ⁇ 7- 27 ⁇ (5) - (9) in 150 kJ / m 3 or more, (6) - (8) in 200 kJ / m 3 above, up to a 245kJ / m 3, the maximum energy product higher was obtained.
  • a pair of Nd-Fe-B alloy targets were loaded with two Nd rods and one Dy rod each, and the two Fe substrates used in Example 1 were tightly fixed to a jig and sputtered. Attached to the device. The inside of the apparatus is maintained at 0.5 Pa, and the substrate is rotated at 6 rpm.First, 30 W of RF output and 4 W of DC output are applied and reverse sputtering is performed for 10 minutes. A Nd—Dy—Fe—B film was formed on one surface of the two substrates by sputtering for a time. One substrate was used for film thickness measurement, and the other was used for heat treatment.
  • each of the obtained samples was a comparative sample (11) having a diameter of 0.15 ⁇ , a sample (10) of the present invention having a diameter of 0.2 ⁇ m, and a sample (16) of the present invention having a thickness of 374 ⁇ m.
  • the sample was a comparative example sample (12) of ⁇ m.
  • the magnetic properties were measured by applying a magnetic field of 0.8 to 2.4 MA / m in the direction perpendicular to the axis on which the film was formed, and the shaft was heat-treated at the same temperature before film formation as in Example 1. After subtracting these properties, the magnetic properties of the Nd—Dy—Fe—B film were determined. When the result of measuring the magnetic field in the direction parallel to the axis was compared with the above result, the value of the remanent magnetization was at the same level. It is presumed that it was obtained.
  • FIG. 6 shows the relationship between the magnetic field and the maximum energy product of the sample of the present invention (17) and the sample of the comparative example (13).
  • the sample of the present invention (17) has a small difference in the maximum energy product with respect to the magnitude of the magnetic field, and a high value is obtained at a low magnetic field.
  • FIG. 1 shows initial magnetization curves and demagnetization curves of a sintered magnet (a) and a conventional thin film magnet (b).
  • FIG. 2 is a graph showing the relationship between the amount of Nd and (BH) max of the sample of the present invention and a sample of a comparative example.
  • FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the film thickness and (BH) max of the sample of the present invention and the sample of the comparative example.
  • FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the magnetic field and (BH) max of the sample of the present invention (17) and the sample of the comparative example (13).

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Abstract

 物理的に成膜された28~45質量%のR元素(但し、Rは希土類ランタニド元素の一種又は二種以上)を含むR−Fe−B系合金において、結晶粒径が0.5~30μmのR2Fe14B結晶と、該結晶の境界にR元素が富化した粒界相との複合組織を有するR−Fe−B系薄膜磁石。薄膜磁石の着磁性が向上した。物理的成膜中又は/及びその後の熱処理において、700~1200°Cに加熱することによって結晶粒成長とR元素が富化した粒界相の形成を行うことにより、このR−Fe−B系薄膜磁石を製造することができる。

Description

明 細 書
R-Fe-B系薄膜磁石及びその製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、マイクロマシンやセンサ、及び小型の医療'情報機器向けに適する高性 能な薄膜磁石及びその製造方法に関する。
背景技術
[0002] 希土類元素 Rとして Ndを主とする、 Nd— Fe-B系の希土類焼結磁石は高い磁気特 性を有し、 VCM (ボイスコイルモータ)や MRI (磁気断層撮影装置)他、様々な分野で 使用されている。これらの磁石は一辺が数一数十 mmの大きさである力 携帯電話用 振動モータには外径 3mm以下の円筒形状をした磁石が使われ、さらに微小な磁石 がマイクロマシンやセンサ分野において要求されている。例えば厚さが lmm以下の 平板状磁石は、予め大きめの焼結体ブロックから切断や研磨などの工程を経て製作 する力 磁石強度や生産性の問題により 0. 5mm以下の磁石を得ることが困難であ る。
[0003] 一方、最近、スパッタリングやレーザーデポジション等の物理的成膜法により、微小 寸法の薄膜磁石が製作されるようになり、磁気特性では 200kj/m3以上の最大エネ ルギ一積が報告されている(例えば、非特許文献 1、特許文献 1)。これらの製法によ れば、磁石合金成分を真空又は減圧空間内で基板や軸上に堆積させて熱処理を施 し、各種条件を適切に制御することにより 200kj/m3程度の高性能膜を、焼結法と 比べて比較的簡単なプロセスで得ることができる。
[0004] 一般例として、平板や軸などの基材上に成膜した薄膜磁石の厚さは数一数十 μ m 程度であり、平板の四辺や軸の直径に対して数十分の 1から百分の 1となる場合が多 レ、。この薄膜を平板面や軸の周面に対して垂直方向に着磁する際には、反磁界が 非常に大きくなつて充分な着磁が行われず、従って、薄膜磁石の本来の磁気特性を 引き出すことが困難となる。反磁界の大きさは、磁石の着磁方向とその直角方向との 寸法比に依存し、着磁方向(=膜厚方向)の寸法が小さいほど大きくなることは、既に 一般的に知られている。 [0005] 一方、上記寸法比の問題とは別の視点で、着磁しゃすい磁石材料を製作すること ができれば薄膜磁石の特性を容易に引き出すことが可能となり、様々な応用デバィ スの製作において有益となる。従来の Nd-Fe-B系薄膜磁石は、一般に磁石構成成 分を原子又はイオン化された状態で基材上に堆積させ、その後の熱処理によって単 磁区粒子径に相当する 0. 未満の Nd Fe B結晶粒を生成させる手法を採用し
2 14
ている(特許文献 2, 3)。
[0006] この際に、一般的には結晶粒を小さく抑制して所望の磁気特性を得るのが常套手 段であるが (例えば、特許文献 4)、結晶粒径と着磁性を議論した文献はほとんどない 。なお、結晶粒を 0. 3 x m以上に成長させると各結晶粒内が多磁区構造となって保 磁力が低下してしまう。
[0007] 着磁性良否の参考として、図 1 (a)に、一般焼結磁石の初磁化曲線と減磁曲線を、 図 1 (b)に、従来例の薄膜磁石の初磁化曲線と減磁曲線を示す。図 1 (a)から明らか なように、焼結磁石は磁界を加えた場合に磁化は急峻に立ち上がり、 0. 4MA/m 程度の低レ、磁界にぉレ、ても充分に高レ、磁気特性を示してレ、る。
[0008] 一方、図 1 (b)の従来例の薄膜磁石の場合には磁化は原点から徐々に増加し、 1.
2MA/mの磁界においても飽和傾向が見られない。着磁性に関するこの相違は、 焼結磁石が核発生型の保磁力機構を有しているのに対して、従来例の薄膜磁石が 単磁区粒子型の保磁力発生機構によっているためと推察される。
[0009] 非特許文献 1:日本応用磁気学会誌、 27卷、 10号、 1007頁、 2003年
特許文献 1:特開平 8-83713号公報
特許文献 2:特開平 11-288812号公報
特許文献 3:特開 2001 - 217124号公報
特許文献 4:特開 2001 - 274016号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0010] 本発明は、薄膜磁石の着磁性を向上することを課題とする。
課題を解決するための手段
[0011] 本発明者等は、薄膜磁石の着磁性を向上することを目的として、組成と結晶組織の 研究を鋭意重ねた結果、焼結磁石と同様の核発生型保磁力機構を有する薄膜磁石 を製作することに成功した。
[0012] すなわち、本発明は、(1)物理的に成膜された 28— 45質量%の R元素(但し、 Rは 希土類ランタニド元素の一種又は二種以上)を含む R— Fe_B系合金において、結晶 粒径が 0. 5 30 x mの R Fe B結晶と、該結晶の境界に R元素が富化した粒界相
2 14
との複合組織を有することを特徴とする R— Fe— B系薄膜磁石、である。
[0013] また、本発明は、(2) R Fe B結晶の磁化容易軸である C軸が無配向であるカ ぁ
2 14
るいは膜面に対して略垂直に配向していることを特徴とする、上記(1)の R— Fe— B系 薄膜磁石、である。
[0014] また、本発明は、(3)膜厚が 0. 2— 400 x mである上記(1)又は(2)の R_Fe_B系 薄膜磁石、である。
[0015] さらに、本発明は、(4) R— Fe— B系合金の物理的成膜中又は/及びその後の熱処 理において、 700— 1200°Cに加熱することによって結晶粒成長と R元素が富化した 粒界相の形成を行うことを特徴とする、上記(1)一 (3)のいずれかの R— Fe— B系薄膜 磁石の製造方法、である。
[0016] Nd— Fe— B系薄膜磁石の結晶組織がほとんど R Fe B結晶で構成され、且つその
2 14
結晶粒径が 0. 3 μ ΐηに相当する単磁区粒子径未満である場合には、磁界を加えて も各結晶粒の磁化方向は磁界の大きさに対して徐々に回転するため、図 1 (b)の従 来例の薄膜磁石の初磁化曲線に見られる通り充分な着磁をすることが困難である。 また、薄膜磁石は微小なデバイスに応用する例が多いために、微小な部位に大きな 磁界をカ卩えることが実際面で難しレ、。
[0017] 一方、結晶組織が単磁区粒径より大きい R Fe B結晶と、該結晶境界に R元素が
2 14
富化した粒界相との複合組織から成る本発明磁石の場合に、磁界を加えると、後述 する図 3の本発明試料(2)の初磁化曲線から推測されるように、各結晶粒内に存在 する多数の磁区が、 P 接する磁壁を取り払って小さな磁界で一斉に磁界の方向を向 き、焼結磁石に類似した充分な着磁が行われる。この着磁性の困難さと容易さにつ いては、従来例の薄膜磁石が単磁区粒子型の保磁力発生機構を有し、一方、本発 明による薄膜磁石が核発生型の保磁力発生機構を有するためと推察される。 発明を実施するための最良の形態
[0018] (合金系'結晶組織)
本発明で対象とする薄膜磁石は、希土類元素を Rと表記した場合に R— Fe— B系合 金力 成り、一般的には Nd— Fe— B系合金が用いられる。実際の合金製作において は、薄膜磁石の保磁力を向上させるため R元素として Ndの他に Pr, Dy, Tbなどの 添加や、安価な Ceの添加などが行われる。また、成膜した合金の結晶化温度や結晶 粒の大きさを適宜制御するために、 Ti, V, Mo, Cu等の各種遷移金属元素や P, Si , Alを添カ卩したり、耐食性を向上するために Co, Pd, Pt等の各種遷移金属元素を添 カロしたりすることが通常行われる。
[0019] 合金中の Nd, Pr, Dy, Tb等希土類元素 Rの総量は、 R Fe B結晶と R元素が富
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化した粒界相との複合組織を形成するために、 28— 45質量%とすることが必須であ り、 32— 40質量%とすることがより好ましい。即ち、合金中の R元素含有量は R Fe
2 14
B組成よりも多くする必要がある。 R元素が富化した粒界相は、 R元素を 50質量%以 上含み、 Feや他の添加成分を少量含有する、 RO若しくは R O型酸化物に類似し
2 2 3
た相と推察される。
[0020] R元素として Ndを代表例とする Nd Fe Bの化学量論組成においての Nd量は 26.
2 14
7質量%であり、 Ndが富化した粒界相を少量共存させるためには合金中の R元素は 少なくとも 28質量%とする必要がある。一方、 R元素量が多くなると合金中の粒界相 の割合が増加して保磁力は向上するが、 Nd Fe B結晶の割合が低下して磁化の減
2 14
少が著しくなり、高い磁気特性が得られなくなるため 45質量%以下とすることが必要 である。
[0021] 合金内部の Nd Fe B結晶と Nd富化粒界相の関係については、焼結磁石の場合
2 14
と同様に前者の結晶の周囲を後者の粒界相がほぼ取り囲んだ組織となっている。粒 界相の割合が少ない場合はその厚さは十 nm程度と薄ぐまた一部で粒界相が途切 れた組織となるために低保磁力で高磁化の傾向となり、割合が多い場合は厚さが数 百 nm— 1 μ mとなり高保磁力で低磁化の傾向となる。
[0022] 結晶粒径については、一般に結晶を多方向から輪切りにした平均寸法から求める 力 膜厚が薄い場合は扁平形状の結晶となるために、本明細書中では膜面内で観 察された結晶の平均寸法を結晶粒径と表現している。この測定法は、具体的には、 平面基板上あるいは軸表面上に成膜した Nd— Fe— B系薄膜を硝酸アルコールで微 弱エッチングした試料を、 SEM (走査型電子顕微鏡)又は高倍率金属顕微鏡で観察 し、得られた画像写真に 1本のラインを引き、そのライン上 200 z mの長さにある結晶 粒径を測長して平均値を算出し、これを結晶粒径とした。
[0023] Nd Fe B結晶の粒径は、核発生型の保磁力機構をもたせて磁界に対する磁化の
2 14
立ち上がりを急峻にするため、 0. 5 30 x mとすることが必要であり、 3— 15 z m力 S より好ましい。既述したように、 0. 5 z m未満では単磁区粒子径の大きさに近くなつて 初磁化曲線の立ち上がりは緩やかになり、着磁が困難となる。一方、粒径が 30 x m を超えると一結晶内に存在する磁区の数が過多となって磁化が反転しやすくなり、粒 界相が形成されていても必要とする保磁力が得られなくなる。
[0024] 本発明の R— Fe— B系薄膜磁石は、 R Fe B結晶の磁化容易軸である C軸が無配
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向である、あるいは膜面に対して略垂直に配向している。本発明では、基本的に、 C 軸の配向を問わず着磁性が改良される。ただし、 C軸が膜面に平行である場合は反 磁界の影響が小さく着磁性改良効果が小さくなる。
[0025] (膜厚'成膜法'基材)
Nd— Fe— B系膜の厚さは、 0. 2— 400 μ ΐηの範囲であるときに本発明の効果を充 分発揮できる。 0. 2 μ ΐη未満では Nd Fe B結晶粒の体積が小さくなり、 Nd富化粒
2 14
界相との複合組織を形成してもなお単磁区粒子的な挙動が支配的になり、結果的に 良好な着磁性を得ることができない。一方、 400 μ ΐηを超えると膜の下部と上部で結 晶の大きさや配向の乱れが大きくなつて、残留磁化が低下してしまう。また、 400 /i m を超えて成膜するにはおよそ 1日以上の長時間稼働が必要なこと、及び 400 x m超 の厚さは焼結磁石を切断研磨する方法によって比較的容易に得られることにより、上 限膜厚を 400 μ mとする。
[0026] 成膜方法については、合金を液中から析出させるメツキ、微細な合金粉末粒子を塗 布あるいは吹きつけるコーティングや CVD、及び蒸着、スパッタリング、イオンプレー ティング、レーザーデポジションなど各種の物理的成膜法を用いることができる。特に 、物理的成膜法は不純物混入が少なく良質の結晶質膜が得られるため、 Nd-Fe-B 系薄膜の成膜法として好適である。
[0027] 薄膜を形成するための基材は、各種の金属や合金、ガラス、シリコン、セラミックスな どを選択して使用することができる。ただし、所望の結晶組織を得るために高温度で の処理を行う必要上、セラミックスや金属基材としては Fe, Mo,Tiなどの高融点金属 を選択することが望ましい。また、基材が軟磁性を有する場合は薄膜磁石の反磁界 力 、さくなることから、 Fe,磁性ステンレス鋼, Niなどの金属や合金が好適である。な お、セラミックス基材を用いると高温処理における耐性は充分である力 Nd-Fe-B 膜との密着性が不足する場合があり、その対策として Tiや Crなどの下地膜を設ける ことにより密着性を向上することが通常行われ、これら下地膜は基材が金属や合金で も有効の場合がある。
[0028] (熱処理)
スパッタリングなどによって成膜したままの状態では、 Nd— Fe_B系膜は通常ァモ ルファスもしくは数十 nm程度の微細結晶から成ることが多レ、。そのため、従来は 400 一 650°Cの低温熱処理によって結晶化と結晶成長を促進して 1 μ m未満の結晶組 織を得ている。本発明では、第一に、従来よりも大きな結晶粒を製作し、第二に Nd富 化粒界相を共存させるために、 700— 1200°Cの高温熱処理を行うことが必要である この高温熱処理の役割は、膜内の Nd Fe B結晶の粒成長を促すと同時に、該結晶
2 14
周辺に Ndリッチな粒界相を生成させることにあり、この構造を成すことによって本発 明が目的とする核発生型の保磁力機構を有することになる。好ましくは、この高温熱 処理に続いて、 500— 600°Cの低温熱処理を実施することにより、上記の Ndリッチな 粒界相は該結晶を薄く均一に取り囲んだ組織を形成するようになり、結果的に保磁 力の向上をもたらす効果がある。
[0029] 好ましくは、成膜中の基材温度を例えば 300— 400°Cとし、成膜後に 700— 1200 °Cに加熱する。 700°C未満では所望とする結晶粒を成長させるのに数十時間を要す るために適切でなぐまた Nd富化粒界相を生成することが極めて困難である。 700°C 以上になると結晶成長が進み、且つ Nd, Fe, Bの各種反応を経て Nd富化粒界相が 形成されるようになる。しかし、 1200°Cを超えると合金の一部が融液状態となって薄 膜の形態が崩れること、及び酸化が著しく進行するために不適である。 熱処理時間にっレ、ては、均質な結晶組織を得るために高温と低温のレ、ずれの熱 処理においても、 10分以下では膜内の結晶粒径の不揃いや Ndリッチな粒界相厚さ のバラツキを生じ易い。他方、薄膜磁石の体積が焼結磁石と比較して小さいために、 十数分力 数十分程度で所望の結晶組織や粒界相を得ることが容易であり、 1時間 以上の処理は酸化の進行を招くことや、これ以上に時間を増加しても結晶組織のへ の影響は比較的小さいことから、 10分を超え 1時間未満の処理時間が好ましい。
[0030] 熱処理は、成膜後に真空あるいは非酸化性の雰囲気中で行うのが良ぐ加熱方法 としては薄膜試料を電気炉へ装填する方式、赤外線加熱やレーザー照射によって急 速な加熱冷却をする方式、及び薄膜に直接通電するジュール加熱方式などを選択 採用すること力 sできる。
[0031] 成膜と熱処理を分離して実施した方が膜の結晶性や磁気特性を制御し易いため好 ましいが、スパッタリングの最中に基材を高温度に加熱しておく方式や、成膜時の出 力を上げることによって成膜中の温度を高温に維持することにより、所望の結晶組織 を作りこむことも可能である。なお、 Nd— Fe— B系膜はさび易いため成膜後あるいは 熱処理後に、 Niや Tiなどの耐食性保護膜を形成して用いるのが通例である。
実施例 1
[0032] 以下実施例に従つて本発明を詳細に述べる。
目的とする Nd_Fe_B合金の Nd含有量より少なレ、組成の Nd_Fe_B合金を溶解 铸造し、内外周及び平面研削を行い、外径 60mm、内径 30mm、厚さ 20mmの円環 状合金を 2個製作した。さらに放電カ卩ェによって、円環部に直径 6mmの貫通孔を 8 個設けてターゲットとし、別途合金組成調整用に直径 5. 8mm、長さ 20mmで純度 9 9. 5%の Nd棒を用意した。また、長さ 12mm、幅 5mm、厚さ 0. 3mmの短冊形状を した純度 99. 9%の鉄板を多数製作し、溶剤脱脂と酸洗をして基板とした。このター ゲットー対を対向させてその中間に高周波コイルを配置させた 3次元スパッタ装置を 用レ、、この鉄基板表面へ Nd— Fe— B合金を成膜した。
[0033] 実際の成膜作業は以下の手順で行った。スパッタ装置内に取り付けた Nd— Fe-B 合金ターゲットの貫通孔に所定数の Nd棒を装填し、上記基板を装置内のモータ軸 に直結した治具に取り付け、高周波コイルの中間に置かれるようセットした。スパッタ 装置内を 5 X 10— 5Paまで真空排気した後、 Arガスを導入して装置内を lPaに維持し た。次に、 RF出力 30Wと DC出力 3Wを加えて 10分間の逆スパッタを行って鉄基板 表面の酸化膜を除去した。続いて、 RF出力 150Wと DC出力 300Wをカ卩えて基板を 6rpmで回転させながら 90分間のスパッタを行レ、、厚さ 15 μ mの Nd_Fe_B膜を基 板両面に形成した。続いて、 Nd棒の数を変更して同様のスパッタを繰り返し行レ、、合 計 6個の合金組成の異なる Nd— Fe— B膜を製作した。
[0034] 次に、 6個の成膜された基板を長さ方向 1Z2に切断し、一方をグローブボックス内 に設置した電気炉に装填し、酸素濃度を 2PPm以下に維持した Ar雰囲気中で、一 段目を 850°Cで 20分間、 2段目を 600°Cで 30分間の 2段熱処理を行った。ここで得 られた試料を、 Nd組成に従って本発明試料(1)一 (4)、及び比較例試料(1)一 (2) とした。他方を、 600°Cで 30分間の 1段熱処理のみを行レ、、比較例試料(3)—(8)と した。
[0035] 代表例として、 Nd含有量が同じで、最も高い(BH) max値が得られた本発明試料(
2)と比較例試料 (4)につレ、ては、エネルギー分散型質量分析器 (EDX)を備えた走 查型電子顕微鏡(SEM)を用いて結晶組織の観察を行った。観察画像から測長して 求めた本発明試料(2)の結晶粒径は 3— 4 / mであり、また、 2次電子像観察からは 各結晶粒の間に Ndと〇が高濃度に分布した厚さが 0.2 μ ΐη以下の粒界相が見られ た。一方、比較例試料 (4)の結晶粒径は 0. 2 μ ΐη以下であり明瞭な粒界相は認めら れなかった。
[0036] また、 Nd— Fe— Β結晶の磁化容易軸である C軸の方向を調べるため、本発明試料( 2)と比較例試料 (4)については成膜面に対して垂直と水平の 2方向の磁気測定を行 つた。その結果、前者試料の残留磁化は水平と比較して垂直方向に測定した場合に 1.6倍であることから、明らかに膜面に垂直方向に C軸が配向していると推察され、さ らに、この試料の X線回折パターンを測定した結果、 Nd Fe B結晶に起因する(006
2 14
)面の回折線強度が著しいことから、上述の C軸配向が再確認された。一方、後者試 料の残留磁化も方向によって差異があり、水平と比較して垂直方向に測定した場合 に 1.25倍であつたが、結晶粒が小さすぎるために C軸の配向性は前者試料と比較し てやや劣っていた。
[0037] 各試料の磁気特性は振動試料型磁力計を用いて測定し、膜面に垂直方向に磁界 を 1. 2MA/m加えた場合と 2. 4MA/m加えた場合の測定をした。次に、上記温 度で熱処理をした成膜前の Fe基板の測定を行って測定値を減算処理後、 Nd— Fe_ B膜の磁気特性を求めた。また、一部の試料はさらに初磁化曲線の測定も行レ、、い ずれの場合も反磁界係数の補正は考慮しなかった。
[0038] 薄膜の合金組成分析においては、通常利用される ICP分析法では膜を酸溶解する 際に Fe基板の溶出による誤差を生じるため、ここでは EPMA分析によって膜中の N d含有量を算出した。その結果、比較例試料(1)の Nd質量%が 25. 7、本発明試料 ( 1)が 29. 4、本発明試料(2)が 34. 5、本発明試料(3)が 39. 2、本発明試料 (4)が 44. 1、比較例試料(2)が 47. 8であった。なお、上記と熱処理条件が異なる比較例 試料(3)—(8)は、熱処理の違いによる Nd質量%の変化がないため、上記質量%の 結果に相応した値を用いた。 Nd質量と熱処理条件をまとめて表 1に示す。
[表 1]
Figure imgf000011_0001
[0039] 図 2に、本発明試料(1)一(4)及び比較例試料(1)一(8)の、最大エネルギー積 (B H) maxを示す。ここで、 1. 2MA/mの低磁界を加えて測定したものを(BH) max/1.2とし、 2· 4MA/mの高磁界を加えたものを(BH) max/2.4と表記した。
[0040] 図 2から明らかなように、(BH) maxは全試料ともに Nd量に依存しており、 Nd質量が 28%以上 45%以下の本発明試料(1)一 (4)において、最大エネルギー積 (BH) 01& /1.2及び(:61^) 111& /2.4ともに約15(¾1/1113以上の高ぃ値が得られた。また、(B H) max両者の差異は小さぐ低い着磁磁界によって比較的高い特性が得られること が分つた。 Nd質量%が少なすぎる比較例試料( 1 )は、結晶組織内にひ Feの析出が 認められたために保磁力が低ぐ従って高い(BH) maxが得られず、また、 Nd質%が 多すぎる比較例試料(2)は、残留磁化が著しく低下するために高レヽ(BH) maxが得ら れなかった。
[0041] 一方、比較例試料(3) (8)は(BH) max/1.2と(BH) max/2.4の差異が大きぐ着 磁磁界を大きくしなければ高い値が得られず、比較例試料(5)において高磁界を加 えた場合にのみ 150kJ/m3の値が得られた。この理由は、図 3の本発明試料(2)と比 較例試料 (4)の初磁化曲線と減磁曲線に示すように、前者は磁化の立ち上がりが急 峻であるのに対して後者は緩やかであるためであり、結晶組織の違いがその原因と 推察されている。
実施例 2
[0042] 3次元スパッタ装置の前室に、実施例 1で製作した Nd— Fe_B合金ターゲット一対 に各 3本の Nd棒を装填し、後室に同寸法の Tiターゲットを取り付けた。基板には、外 径 10mm、内径 0. 8mm、厚さ 0. 2mmの表面研磨したアルミナを用いた。モータ軸 に直結した治具に差し込んだ直径 0. 5mm,長さ 60mmの波型加工をしたタンダス テン線に、上記アルミナ基板を一回のスパッタ作業につき各 5枚を 7mmずつ離して 取り付けた。
[0043] スパッタ装置内を真空排気した後、 Arガスを導入して装置内を lPaに維持して基 板を 6rpmで回転させた。最初に、 RF出力 100Wと DC出力 10Wを加えて 10分間の 逆スパッタを行い、次に RF100Wと DC150Wを加えて 10分間のスパッタを行って、 基板の両面に Tiの下地膜を形成した。続いてこの Ti成膜基板を装置の前室に移送 して、 RF200Wと DC400Wを加え 80分間のスパッタを行って、上記基板両面に Nd -Fe-B膜を形成した。さらに、これら基板を Arガス雰囲気中に置かれた電気炉に装 填して 600— 1250°Cで 30分間加熱した後炉冷して、熱処理温度の違いによって結 晶粒径の違いを生じた各種の試料、すなわち、本発明試料(5)— (9)、及び比較例 試料(9)一(10)とした。
[0044] 成膜された各膜の厚さは、事前に基板の一部をマスキングして同一スパッタ条件で 成膜し、表面粗さ計によって測定した結果、 Ti膜が 0. 15 μ m、 Nd_Fe_B膜が20 Ju mであった。また、 Nd— Fe— B膜中の Nd量は 33. 2質量%であった。熱処理後の試 料はすべて EDX分析機能を備えた SEM装置を用いて観察し、その画像から Nd Fe
2
B結晶粒径を求めた。 2次電子像観察からは本発明試料(5) (9)では各結晶粒
14
の間に Ndと〇が高濃度に分布した厚さがおよそ 0.1 μ mの粒界相が見られた。一方 、比較例試料(9)一(10)では、明瞭な粒界相は認められなかった。
[0045] 表 2に、各試料の熱処理温度と結晶粒径、及び膜面に垂直方向に 1. 2MAZmの 低磁界を加えた場合の残留磁化 Br/ 1.2と保磁力 Hcj / 1.2の値を示す。
[0046] [表 2]
Figure imgf000013_0001
[0047] 表 2から明らかなように、熱処理温度が 700°C以上の場合に単磁区粒子径 0. 3 μ. mを超える結晶粒径が得られ、高温度になるに従って結晶が成長して粒径が大きく なる。比較例試料(9)は、結晶粒径が小さいため保磁力は大きいが、着磁性が悪い ために残留磁化が低い。比較例試料(10)は、結晶粒径が過大であるために保磁力 が著しく低下して残留磁化の低下を招き、さらに合金成分が一部融液となって膜の 表面が凹凸状態を生じた。
[0048] さらに、図 4に各試料の結晶粒径と(BH) max/1.2及び(BH) max/2.4の関係を示す 。図 4によれば、結晶粒径が大きくなるに従って(BH)max/1.2の値は(BH)max/2.4 の値に近くなり、即ち着磁性が良くなる傾向を示している。さらに、(BH)max/2.4は、 結晶粒径が 0· 7— 27 μΐηの本発明試料(5)—(9)において 150kJ/m3以上、 (6)— (8)において 200kJ/m3以上、最大で 245kJ/m3であり、高い最大エネルギー積が得 られた。
実施例 3
[0049] Nd— Fe-B合金ターゲット一対に各 2本の Nd棒と各 1本の Dy棒を装填し、実施例 1 で用いた Fe基板 2枚を治具に密着固定して、それぞれスパッタ装置に取り付けた。 装置内を 0. 5Paに維持して基板を 6rpmで回転させ、最初に、 RF出力 30Wと DC出 力 4Wを加えて 10分間の逆スパッタを行い、 RF200Wと DC500Wをカ卩えて 0.5分一 24時間のスパッタを行って、上記 2枚の基板片面に Nd— Dy— Fe— B膜を形成した。 一方の基板は膜厚測定に使用し、他方を熱処理に用いた。熱処理は、これら基板を 真空中で赤外加熱することにより 820°Cまで急速昇温させ、 10分間保持後冷却した 。得られた試料はそれぞれ膜厚に従って、 0· 15 μΐηの比較例試料(11)、 0· 2ら!! mの本発明試料(10)— 374 μ mの本発明試料(16)、及び 455 μ mの比較例試料( 12)とした。
[0050] 各試料の組成分析の結果は、 Nd— Dy— Fe_B膜中の Nd量は 29. 8質量%で Dy が 4. 3質量%であり、希土類量の合計は 34. 1質量%であった。また結晶粒径はす ベて 5— 8 zmの範囲であった。また、 2次電子像観察からは各試料とも各結晶粒の 間に Ndと Oが高濃度に分布した厚さが 0.2 μ m以下の粒界相が見られた。
[0051] 図 5に、各試料の膜厚と(BH)max/1.2及び(BH)max/2.4の関係を示す。図 5から 明らかなように、膜厚 0. 15 xmの比較例試料(11)は膜厚が薄すぎるために結晶の 体積が小さぐ従って単磁区粒子的な保磁力機構の挙動が支配的となって着磁性が 悪ぐ結果として(BH)max/1.2と(BH)max/2.4の差異が大きレ、。また、比較例試料( 12)は膜が厚過ぎるために結晶の垂直配向性の乱れが大きくなつて(BH)maxが低 下する傾向を示した。従って、高いエネルギー積を得るには膜の厚さを 0· 2力ら 400 / mとすることが適切であることが明らかになった。
実施例 4 [0052] ターゲットは実施例 3と同じくし、基材は直径 0. 3mm、長さ 12mmの SUS420系ス テンレス鋼製の軸を使用した。装置内を lPaに維持して基材を lOrpmで回転させな がら、 RF出力 20Wと DC出力 2Wを加えて 10分間の逆スパッタを行い、 RF200Wと DC500Wを加えて 4時間のスパッタを行って、基材軸の表面に 46 μ mの Nd_Dy_ Fe— B膜を形成したものを 2個製作した。次に、成膜した軸を電気炉に装填して、一 方を 800°Cで他方を 550°Cで各 30分間保持して炉冷し、前者を本発明試料(17)、 後者を比較例試料(13)とした。
各試料の組成分析の結果は、 Nd— Dy— Fe_B膜中の Nd量は 30. 6質量%で Dy が 4. 4質量%であり、希土類量の合計は 35. 0質量%であった。また、本発明試料( 17)の結晶粒径は 3— 7 μ mであり、 2次電子像観察からは各結晶粒の間に Ndと〇 が高濃度に分布した厚さが 0.2 x m以下の粒界相が見られた。一方、比較例試料(1 3)は、結晶粒径は約 0. であり、明瞭な粒界相は認められな力、つた。
[0053] 磁気特性の測定は、成膜した軸の直角方向に磁界を 0. 8— 2. 4MA/m加えて 行い、実施例 1と同様に成膜前の軸を同一温度で熱処理した試料の特性を差し引い た後、 Nd— Dy— Fe— B膜の磁気特性を求めた。なお、軸と平行方向に磁界をカ卩えて 測定した結果を上記結果と比較した場合に、残留磁化の値は同等レベルであつたた め、本例試料では磁気的に等方的な膜が得られたと推測される。
[0054] 図 6に、本発明試料(17)と比較例試料(13)についての、磁界に対する最大エネ ルギ一積の関係を示す。図 6から明らかなように、比較例試料(13)と比較して本発明 試料(17)は、磁界の大きさに対する最大エネルギー積の差異が小さぐ低い磁界で 高い値が得られることが分った。
産業上の利用可能性
[0055] R含有量と結晶粒径を制御した R— Fe— B系薄膜磁石において、 R Fe B結晶と R
2 14 元素が富化した粒界相との複合組織を形成させることにより、従来薄膜磁石と比較し て優れた着磁性を有する薄膜磁石を製作することができた。これにより、狭い空間に 強大な磁界を発生することが困難なマイクロマシンやセンサ、及び小型の医療'情報 機器向け薄膜磁石を、充分に着磁することが可能となり、各種機器の高性能化に貢 献するものである。 図面の簡単な説明
[図 1]焼結磁石(a)と従来例の薄膜磁石(b)の、初磁化曲線と減磁曲線である。
[図 2]本発明試料と比較例試料の、 Nd量と(BH) maxの関係図である。
[図 3]本発明試料(2)と比較例試料 (4)の初磁化曲線と減磁曲線である。
[図 4]本発明試料と比較例試料の、結晶粒径と(BH) maxの関係図である。
[図 5]本発明試料と比較例試料の、膜厚と(BH) maxの関係図である。
[図 6]本発明試料( 17)と比較例試料( 13)の、磁界と(BH) maxの関係図である。

Claims

請求の範囲
[1] 物理的に成膜された 28 45質量%の R元素(但し、 Rは希土類ランタニド元素の一 種又は二種以上)を含む R— Fe_B系合金において、結晶粒径が 0. 5 30 x mの R
2
Fe B結晶と、該結晶の境界に R元素が富化した粒界相との複合組織を有することを
14
特徴とする R— Fe_B系薄膜磁石。
[2] R Fe B結晶の磁化容易軸である C軸が無配向である力、、あるいは膜面に対して略
2 14
垂直に配向していることを特徴とする、請求項 1記載の R— Fe— B系薄膜磁石。
[3] 膜厚が 0. 2— 400 /i mである請求項 1又は 2記載の R— Fe— B系薄膜磁石。
[4] R— Fe-B系合金の物理的成膜中又は/及びその後の熱処理において、 700— 120 0°Cに加熱することによって結晶粒成長と R元素が富化した粒界相の形成を行うこと を特徴とする、請求項 1一 3のいずれかに記載の R— Fe— B系薄膜磁石の製造方法。
PCT/JP2005/005183 2004-03-23 2005-03-23 R−Fe−B系薄膜磁石及びその製造方法 Ceased WO2005091315A1 (ja)

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JP2006511292A JP4698581B2 (ja) 2004-03-23 2005-03-23 R−Fe−B系薄膜磁石及びその製造方法

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007119271A1 (ja) * 2006-03-20 2007-10-25 Namiki Seimitsu Houseki Kabushiki Kaisha 薄膜希土類磁石及びその製造方法
WO2011016089A1 (ja) * 2009-08-06 2011-02-10 株式会社 東芝 永久磁石とそれを用いた可変磁束モータおよび発電機
WO2013111467A1 (ja) 2012-01-26 2013-08-01 Tdk株式会社 磁気測定装置
WO2014115375A1 (ja) 2013-01-28 2014-07-31 Jx日鉱日石金属株式会社 希土類磁石用スパッタリングターゲット及びその製造方法
WO2016067949A1 (ja) * 2014-10-27 2016-05-06 Jx金属株式会社 希土類薄膜磁石及びその製造方法
JP6208405B1 (ja) * 2016-04-15 2017-10-04 Jx金属株式会社 希土類薄膜磁石及びその製造方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2228808B1 (en) * 2007-11-02 2017-01-04 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Composite magnetic material for magnet and method for manufacturing such material
JP5565498B1 (ja) * 2013-04-25 2014-08-06 Tdk株式会社 R−t−b系永久磁石
JP5370609B1 (ja) * 2013-04-25 2013-12-18 Tdk株式会社 R−t−b系永久磁石
CN104167831B (zh) * 2013-05-16 2019-03-08 纳普拉有限公司 电能和机械能转换装置及使用该装置的产业机械
KR102059762B1 (ko) 2016-03-07 2019-12-26 제이엑스금속주식회사 희토류 박막 자석 및 그 제조 방법
US11072842B2 (en) 2016-04-15 2021-07-27 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Rare earth thin film magnet and method for producing same
US11837392B2 (en) * 2020-12-22 2023-12-05 Tdk Corporation R-T-B based permanent magnet
JP7518754B2 (ja) * 2020-12-22 2024-07-18 Tdk株式会社 R‐t‐b系永久磁石

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201623A (ja) * 1993-12-27 1995-08-04 Tdk Corp 焼結磁石およびその製造方法
JPH07272929A (ja) * 1994-03-29 1995-10-20 Kobe Steel Ltd 希土類元素−Fe−B系薄膜永久磁石
JPH07283016A (ja) * 1994-04-05 1995-10-27 Tdk Corp 磁石およびその製造方法
JPH0945567A (ja) * 1995-07-27 1997-02-14 Hitachi Metals Ltd 希土類−鉄−ボロン系永久磁石の製造方法
JPH11273920A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Sumitomo Special Metals Co Ltd R−tm−b系永久磁石
JP2002164238A (ja) * 2000-09-14 2002-06-07 Hitachi Metals Ltd 希土類焼結磁石の製造方法およびリング磁石
JP2003064454A (ja) * 2001-06-14 2003-03-05 Shin Etsu Chem Co Ltd 耐食性希土類磁石及びその製造方法
JP2003158006A (ja) * 2001-11-20 2003-05-30 Shin Etsu Chem Co Ltd 耐食性希土類磁石
JP2004120892A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Hitachi Ltd リング磁石とその製造法及びそれを用いた回転子並びにモータ

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5194098A (en) * 1982-08-21 1993-03-16 Sumitomo Special Metals Co., Ltd. Magnetic materials
CN1042025A (zh) * 1988-10-17 1990-05-09 三井石油化学工业株式会社 非晶态合金薄膜
JP2957421B2 (ja) 1994-09-09 1999-10-04 三菱電機株式会社 薄膜磁石およびその製造方法ならびに円筒形強磁性薄膜
JPH11288812A (ja) 1998-04-01 1999-10-19 Sumitomo Special Metals Co Ltd 高保磁力R−Fe−B系薄膜磁石及びその製造方法
EP0994493B1 (en) * 1998-10-14 2003-09-10 Hitachi Metals, Ltd. R-T-B sintered permanent magnet
JP2001217124A (ja) 2000-02-03 2001-08-10 Sumitomo Special Metals Co Ltd R‐Fe‐B系垂直磁気異方性薄膜磁石及びその製造方法
JP2001274016A (ja) 2000-03-24 2001-10-05 Mitsubishi Electric Corp 希土類合金膜磁石
CN1218331C (zh) * 2000-08-02 2005-09-07 株式会社新王磁材 薄膜稀土族永久磁铁及其制造方法
EP1239307A1 (en) * 2001-03-09 2002-09-11 Sicpa Holding S.A. Magnetic thin film interference device
JP3997413B2 (ja) * 2002-11-14 2007-10-24 信越化学工業株式会社 R−Fe−B系焼結磁石及びその製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201623A (ja) * 1993-12-27 1995-08-04 Tdk Corp 焼結磁石およびその製造方法
JPH07272929A (ja) * 1994-03-29 1995-10-20 Kobe Steel Ltd 希土類元素−Fe−B系薄膜永久磁石
JPH07283016A (ja) * 1994-04-05 1995-10-27 Tdk Corp 磁石およびその製造方法
JPH0945567A (ja) * 1995-07-27 1997-02-14 Hitachi Metals Ltd 希土類−鉄−ボロン系永久磁石の製造方法
JPH11273920A (ja) * 1998-03-23 1999-10-08 Sumitomo Special Metals Co Ltd R−tm−b系永久磁石
JP2002164238A (ja) * 2000-09-14 2002-06-07 Hitachi Metals Ltd 希土類焼結磁石の製造方法およびリング磁石
JP2003064454A (ja) * 2001-06-14 2003-03-05 Shin Etsu Chem Co Ltd 耐食性希土類磁石及びその製造方法
JP2003158006A (ja) * 2001-11-20 2003-05-30 Shin Etsu Chem Co Ltd 耐食性希土類磁石
JP2004120892A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Hitachi Ltd リング磁石とその製造法及びそれを用いた回転子並びにモータ

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007119271A1 (ja) * 2006-03-20 2007-10-25 Namiki Seimitsu Houseki Kabushiki Kaisha 薄膜希土類磁石及びその製造方法
JP4988713B2 (ja) * 2006-03-20 2012-08-01 並木精密宝石株式会社 薄膜希土類磁石及びその製造方法
WO2011016089A1 (ja) * 2009-08-06 2011-02-10 株式会社 東芝 永久磁石とそれを用いた可変磁束モータおよび発電機
CN102474165A (zh) * 2009-08-06 2012-05-23 株式会社东芝 永磁体、以及使用永磁体的可变磁通电动机及发电机
CN102474165B (zh) * 2009-08-06 2015-09-30 株式会社东芝 永磁体、以及使用永磁体的可变磁通电动机及发电机
US9774219B2 (en) 2009-08-06 2017-09-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Permanent magnet, motor and electric generator
WO2013111467A1 (ja) 2012-01-26 2013-08-01 Tdk株式会社 磁気測定装置
US9702945B2 (en) 2012-01-26 2017-07-11 Tdk Corporation Magnetic measurement device
WO2014115375A1 (ja) 2013-01-28 2014-07-31 Jx日鉱日石金属株式会社 希土類磁石用スパッタリングターゲット及びその製造方法
WO2016067949A1 (ja) * 2014-10-27 2016-05-06 Jx金属株式会社 希土類薄膜磁石及びその製造方法
JPWO2016067949A1 (ja) * 2014-10-27 2017-04-27 Jx金属株式会社 希土類薄膜磁石及びその製造方法
JP6208405B1 (ja) * 2016-04-15 2017-10-04 Jx金属株式会社 希土類薄膜磁石及びその製造方法

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Publication number Publication date
JP4698581B2 (ja) 2011-06-08
CN1954395B (zh) 2010-05-26
US7790300B2 (en) 2010-09-07
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US20070199623A1 (en) 2007-08-30

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