WO2002035607A3 - Halbleiter-anordnung und verfahren zur herstellung von derartigen halbleiter-anordnungen - Google Patents
Halbleiter-anordnung und verfahren zur herstellung von derartigen halbleiter-anordnungen Download PDFInfo
- Publication number
- WO2002035607A3 WO2002035607A3 PCT/DE2001/003880 DE0103880W WO0235607A3 WO 2002035607 A3 WO2002035607 A3 WO 2002035607A3 DE 0103880 W DE0103880 W DE 0103880W WO 0235607 A3 WO0235607 A3 WO 0235607A3
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- interposer
- semiconductor
- assemblies
- type
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H10W74/111—
-
- H10W20/40—
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
Auf der aktiven Oberfläche eines Halbleiter-Wafers wird ein Interposer (IP) aus einem elastischen Dielektrikum aufgebaut, wobei im Interposer (IP) ausgebildete elektrisch leitende Verbindungen (V) chipseitige Kontakte (K) mit Anschlüssen (A) auf der Oberseite (OS) des Interposers (IP) elektrisch leitend verbinden. Die einzelnen Halbleiter-Anordnungen (HA) entstehen dann durch Zerteilen des Halbleiter-Wafers. Durch die Elastizität des Interposers (IP) und durch die vorzugsweise mäanderförmige Ausgestaltung der Verbindungen (V) wird das unterschiedliche Wärmeausdehnungsverhalten von Chip (C) und Schaltungsträger weitgehend kompensiert.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10052452A DE10052452A1 (de) | 2000-10-23 | 2000-10-23 | Halbleiter-Anordnung und Verfahren zur Herstellung von derartigen Halbleiter-Anordnungen |
| DE10052452.4 | 2000-10-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2002035607A2 WO2002035607A2 (de) | 2002-05-02 |
| WO2002035607A3 true WO2002035607A3 (de) | 2002-10-03 |
Family
ID=7660718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/DE2001/003880 Ceased WO2002035607A2 (de) | 2000-10-23 | 2001-10-10 | Halbleiter-anordnung und verfahren zur herstellung von derartigen halbleiter-anordnungen |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10052452A1 (de) |
| WO (1) | WO2002035607A2 (de) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5019673A (en) * | 1990-08-22 | 1991-05-28 | Motorola, Inc. | Flip-chip package for integrated circuits |
| EP0465197A2 (de) * | 1990-07-02 | 1992-01-08 | General Electric Company | Dielektrische Mehrschichtstruktur |
| DE4228274A1 (de) * | 1992-08-26 | 1994-03-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Kontaktierung von auf einem Träger angeordneten elektronischen oder optoelektronischen Bauelementen |
| WO1998025298A1 (en) * | 1996-12-04 | 1998-06-11 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method for manufacture thereof, circuit board, and electronic equipment |
| WO1999065075A1 (en) * | 1998-06-12 | 1999-12-16 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
| WO2000003571A1 (de) * | 1998-07-10 | 2000-01-20 | Siemens S.A. | Verfahren zur herstellung von verdrahtungen mit elektrisch leitenden querverbindungen zwischen ober- und unterseite eines substrats sowie verdrahtung mit derartigen querverbindungen |
| WO2000004584A2 (de) * | 1998-07-14 | 2000-01-27 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbauelement im chip-format und verfahren zu seiner herstellung |
| EP0991119A1 (de) * | 1997-06-06 | 2000-04-05 | Matsushita Electronics Corporation | Halbleiteranordnung und herstellungsverfahren dafür |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3050807B2 (ja) * | 1996-06-19 | 2000-06-12 | イビデン株式会社 | 多層プリント配線板 |
| JPH1174399A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| SG77652A1 (en) * | 1998-03-18 | 2001-01-16 | Hitachi Cable | Semiconductor device lead-patterning substrate and electronics device and method for fabricating same |
-
2000
- 2000-10-23 DE DE10052452A patent/DE10052452A1/de not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-10-10 WO PCT/DE2001/003880 patent/WO2002035607A2/de not_active Ceased
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0465197A2 (de) * | 1990-07-02 | 1992-01-08 | General Electric Company | Dielektrische Mehrschichtstruktur |
| US5019673A (en) * | 1990-08-22 | 1991-05-28 | Motorola, Inc. | Flip-chip package for integrated circuits |
| DE4228274A1 (de) * | 1992-08-26 | 1994-03-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Kontaktierung von auf einem Träger angeordneten elektronischen oder optoelektronischen Bauelementen |
| WO1998025298A1 (en) * | 1996-12-04 | 1998-06-11 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device, method for manufacture thereof, circuit board, and electronic equipment |
| US6255737B1 (en) * | 1996-12-04 | 2001-07-03 | Seiko Epson Corporation | Semiconductor device and method of making the same, circuit board, and electronic instrument |
| EP0991119A1 (de) * | 1997-06-06 | 2000-04-05 | Matsushita Electronics Corporation | Halbleiteranordnung und herstellungsverfahren dafür |
| WO1999065075A1 (en) * | 1998-06-12 | 1999-12-16 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
| EP1091399A1 (de) * | 1998-06-12 | 2001-04-11 | Hitachi, Ltd. | Halbleitervorrichtung und verfahren zur herstellung |
| WO2000003571A1 (de) * | 1998-07-10 | 2000-01-20 | Siemens S.A. | Verfahren zur herstellung von verdrahtungen mit elektrisch leitenden querverbindungen zwischen ober- und unterseite eines substrats sowie verdrahtung mit derartigen querverbindungen |
| WO2000004584A2 (de) * | 1998-07-14 | 2000-01-27 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbauelement im chip-format und verfahren zu seiner herstellung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2002035607A2 (de) | 2002-05-02 |
| DE10052452A1 (de) | 2002-05-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1347513A3 (de) | Ball grid array Gehäuse mit geringem Spannungsabfall und hoher thermischer Leistung | |
| TW200509331A (en) | Semiconductor chip package and method for making the same | |
| EP0844657A4 (de) | Montagemethode für halbleiterchip | |
| KR20010071766A (ko) | 반도체 소자용 캡슐 | |
| JP4663981B2 (ja) | モノリシックフリップチップ内の複数の半導体素子 | |
| WO2004008532A3 (en) | High power mcm package | |
| KR940002993A (ko) | 열전도체를 구비한 패드 어레이 반도체 소자 및 그 제조방법 | |
| WO2005065238A3 (en) | Micro pin grid array with pin motion isolation | |
| JP2002110905A5 (de) | ||
| CA2139266A1 (en) | Semiconductor Package | |
| WO2005091366A3 (de) | Halbleitermodul mit einem kopplungssubstrat und verfahren zur herstellung desselben | |
| KR200312740Y1 (ko) | 도전성 스프링을 갖는 집적화된 실리콘 콘택터 | |
| JP2901603B1 (ja) | 電子部品導電シート | |
| US6946747B1 (en) | Semiconductor device and its manufacturing method | |
| CA2044747A1 (en) | Electronic circuit module with power feed spring assembly | |
| KR200312739Y1 (ko) | 도전체가 실장된 집적화된 실리콘 콘택터 | |
| WO2004015773A3 (de) | Halbleiterwafer mit elektrisch verbundenen kontakt- und prüfflächen | |
| GB1429078A (en) | Component wafer for an electrical circuit packaging structure | |
| WO2002035607A3 (de) | Halbleiter-anordnung und verfahren zur herstellung von derartigen halbleiter-anordnungen | |
| WO2002067322A3 (en) | Semiconductor device having signal contacts and high current power contacts | |
| TW200730050A (en) | Wiring board and method for manufacturing the same, and semiconductor device | |
| WO2001097285A3 (de) | Elektronisches bauteil aus einem gehäuse und einem substrat | |
| KR200368243Y1 (ko) | 도전강화층이 형성된 집적화된 실리콘 콘택터 | |
| US6291893B1 (en) | Power semiconductor device for “flip-chip” connections | |
| WO2003083493A1 (en) | Ring type contactor pad of integrated silicone contactor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| DFPE | Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101) | ||
| AK | Designated states |
Kind code of ref document: A3 Designated state(s): JP US |
|
| AL | Designated countries for regional patents |
Kind code of ref document: A3 Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR |
|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application | ||
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase | ||
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |