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WO2002003030A1 - Method and device for diagnosing trouble with sensor function - Google Patents

Method and device for diagnosing trouble with sensor function Download PDF

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WO2002003030A1
WO2002003030A1 PCT/JP2001/005247 JP0105247W WO0203030A1 WO 2002003030 A1 WO2002003030 A1 WO 2002003030A1 JP 0105247 W JP0105247 W JP 0105247W WO 0203030 A1 WO0203030 A1 WO 0203030A1
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WO
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sensor
output
chip microcomputer
signal
sensor function
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PCT/JP2001/005247
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English (en)
French (fr)
Inventor
Shigeo Nomura
Tomoyuki Sakai
Sumitaka Ogawa
Yoshiaki Takeuchi
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Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
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Publication date
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Priority to EP01941109A priority patent/EP1229304B1/en
Priority to DE60131830T priority patent/DE60131830T2/de
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Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01C9/02—Details
    • G01C9/06—Electric or photoelectric indication or reading means
    • G01C2009/062—Electric or photoelectric indication or reading means capacitive

Definitions

  • the present invention relates to a method and an apparatus for diagnosing a failure of a sensor function in a device for performing an output control by inputting an electric signal output from a sensor that converts a physical quantity into an electric signal and outputting the same to a one-chip microcomputer.
  • the output signal S 1 from the drive circuit 1 is input to the sensor 2 and drives the sensor 2.
  • the sensor 2 converts a physical quantity into an electric signal and outputs a sensor output signal S2.
  • the sensor output signal S2 is input to the interface circuit 3.
  • the interface circuit 3 processes the sensor output signal S2 into a signal recognizable by the one-chip microcomputer 4, and outputs an electric signal (digital signal) S3.
  • the one-chip microcomputer 4 converts the electric signal S3 received from the interface circuit 3 into a control signal S4 having a predetermined function by a program stored in the memory 4A in advance, and outputs the control signal S4 to the output circuit 5. I do.
  • the output circuit 5 drives the load 6 according to the control signal S4.
  • the sensor output signal S2 usually falls within a certain output range of the sensor output. However, when a sensor failure occurs in the sensor 2 and the sensor output signal S 2 does not fall within the output range, the electric signal S 3 from the interface circuit 3 falls outside the input range of the one-chip microcomputer 4. Therefore, the one-chip microcomputer 4 outputs the fail signal S5. Output circuit 5 receives the fail signal S5 and turns on the fail lamp 7. As a result, it is possible to detect a failure in the sensor function such that the sensor output signal S2 does not fall within the output range.
  • An object of the present invention is to provide a failure diagnosis method and apparatus for a sensor function that can detect a failure in a sensor function even if a sensor output signal output from the sensor falls within a certain output range. Disclosure of the invention
  • the present invention provides a sensor for converting a physical quantity into an electric signal and outputting the signal, and a failure diagnosis method for a sensor function for performing output control by inputting the electric signal to a one-chip microcomputer.
  • a feature is that a drive circuit for driving the sensor is controlled by a drive signal output from the one-chip microcomputer.
  • the present invention provides a failure diagnosis device for a sensor function in an output control device including a sensor that converts a physical quantity into an electric signal and outputs the signal, and a one-chip microcomputer that performs output control by inputting the electric signal.
  • a drive circuit for driving the sensor which is controlled by a drive signal output from the one-chip microcomputer, wherein the one-chip microcomputer controls the drive of the drive circuit to diagnose a failure in the sensor function.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a failure diagnosis of a sensor function according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a flowchart showing the outline of the operation of the one-chip microcomputer.
  • C FIG. 3 is a block diagram showing a failure diagnosis system for a tilt sensor as one specific example of the present invention.
  • 4A to 4C are diagrams showing the relationship between the electrodes of the tilt sensor and the liquid surface of the dielectric liquid.
  • FIG. 5 is a graph showing the output voltage characteristics with respect to the angle of the tilt sensor in FIG.
  • FIG. 6 is an output voltage characteristic diagram with respect to the angle of the tilt sensor, showing the frequency dependence in FIG.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a conventional failure diagnosis system for a sensor function. > BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a block diagram of a sensor function failure system according to an embodiment of the present invention.
  • the one-chip microcomputer 14 outputs a drive signal S 16 (for example, a clock) by a program stored in the memory 14 A in advance, and the drive signal S 16 is input to the drive circuit 11.
  • the output signal S 11 from the drive circuit 11 is input to the sensor 12 and drives the sensor 12.
  • Sensor 1 2 converts a physical quantity into an electric signal
  • c the sensor output signals S 1 2 for outputting a sensor output signal S 1 2 is input to the interface circuit 1 3.
  • the interface circuit 13 converts the sensor output signal S12 into a one-chip microcomputer. Processes it into a signal that can be recognized by 14 and outputs an electrical signal (digital signal) S13.
  • the one-chip microcomputer 14 converts the electric signal S 13 received from the interface circuit 13 into a control signal S 14 having a predetermined function by a program stored in advance in the memory 14 A, Output to output circuit 15.
  • the output circuit 15 drives the load 16 according to the control signal S14.
  • the one-chip microcomputer 14 stops the drive circuit 11 by the drive signal S16, the sensor 12 A predetermined constant sensor output signal S12 is output.
  • the interface circuit 13 Upon receiving the constant sensor output signal S12, the interface circuit 13 outputs a constant electric signal (digital signal) S13 in accordance with the signal.
  • the one-chip microcomputer 14 drives the sensor.
  • the predetermined constant sensor output signal S 12 is not output from the sensor 12, and the predetermined constant sensor output signal S 12 is also output from the interface circuit 13.
  • the electric signal S 13 is no longer output.
  • the one-chip microcomputer 14 determines that the sensor 12 has failed, and outputs a fail signal S 15 to the output circuit 15.
  • the output circuit 15 turns on the fader lamp 17.
  • the one-chip microcomputer 14 outputs the fail signal S15, turns on the fail lamp 17, and diagnoses a failure in the same manner as the conventional device.
  • FIG. 2 is a flowchart illustrating the operation of the one-chip microcomputer 14.
  • step SI it is determined whether or not the mode is the failure diagnosis mode. If the determination is negative (execution mode), the process proceeds to step S2 to drive the drive circuit 11.
  • step S3 it is determined whether the electric signal S13 from the interface circuit 13 is within a predetermined output range. If this determination is affirmative, the process proceeds to step S4, where it is determined that the sensor 12 is normal.
  • step S5 the load 16 is driven, and in step S6, it is determined whether or not a command to end driving of the sensor 12 has been received. If this determination is affirmative, the operation is terminated; otherwise, the process returns to step S1.
  • steps S1 to S6 are repeated, but if the determination in step S3 is negative, the one-chip microcomputer 14 determines that the sensor 2 has malfunctioned and determines in step S1 Proceed to 2 to turn on the fill lamps 17.
  • step S9 it is determined whether or not the electric signal S13 from the interface 13 is a predetermined constant value.
  • the process proceeds to step S10, where the sensor 1 2 is judged to be normal.
  • step S11 the process proceeds to step S11, and it is determined that the sensor 12 is abnormal. Then, the process proceeds to step S12, and the fail lamp 17 is turned on.
  • the one-chip microcomputer 14 can detect the failure of the sensor 12.
  • FIG. 3 shows an example of using a tilt sensor that detects the tilt of the liquid surface of the dielectric liquid as a change in capacitance, and converting the tilt angle of the tilt sensor controlled by the drive signal output from the chip microcomputer into an electrical signal. Convert and input the electric signal to one-chip microcomputer
  • FIG. 3 is a block diagram of a device that performs output control by performing the following.
  • the one-chip microcomputer 24 generates a clock signal S26 according to a program stored in the memory 24A in advance, and a buffer circuit (for example, a C-MOS inverter) using the clock signal S26 as a driving circuit. 2 Supply to 1.
  • the knocker circuit 21 shapes the waveform of the clock signal S26, and corrects the rounding of the waveform, for example.
  • the mouth signal S 21 whose waveform is shaped is supplied to the tilt sensor 22.
  • the tilt sensor 22 detects the tilt of the dielectric liquid as a change in capacitance.
  • the tilt sensor 22 has two capacitances 22 C, 22 D that change according to the inclination, and a C-V (capacity-voltage) converter 22 A, 2 that converts the two capacitances into a voltage.
  • the C-V converters 22A and 22B output output voltages VI and V2, respectively.
  • the tilt angle is converted to (V 2-V I). Since the principle and structure of the tilt sensor 22 are known, they will be briefly described below.
  • FIG. 4A, 4B, and 4C are diagrams schematically showing the inclination sensor 22 and its inclination 0.
  • the tilt sensor 22 includes a common electrode 30, a substantially semicircular first electrode 31 a having both ends cut off, a second electrode 31 b, and the common electrode 30 and the first electrode 31.
  • the common electrode 30 and the first and second electrodes 31a and 31b are formed in parallel with the dielectric electrode 34 accommodated between the second electrodes 31a and 31b. Also, they are arranged at predetermined intervals.
  • the amplifier circuit 23 serving as the interface circuit includes two operational amplifiers 23 A and 23 B, a reference voltage (Vref) 23 C, and resistors 23 D to 23 G (R 1 to R 4).
  • the output voltages VI and V 2 of the tilt sensor 22 are input to operational amplifiers 23 A and 23 B, respectively.
  • the output signal S23 of the amplification circuit 23 is expressed by the following equation (1).
  • the output signal S 23 is adjusted according to the ratio of R 1 and R 2 to a gain that can be recognized by the one-chip microcomputer 24 and output. For example, a voltage range of 1 V to 4 V is set. Also, the absolute value of (V 2 — V I) changes quadratically.
  • the one-chip microcomputer 24 recognizes the inclination angle based on the program and the output signal S23 previously stored in the memory 24A, and outputs the output signal S24 to the output circuit 25.
  • the output circuit 25 drives the load 26 according to the output signal S24.
  • a certain voltage range for example, 1 V to 4 V.
  • the sensor function is normal and the expected value is not Vref. If the voltage is other than, it can be determined that the sensor function is abnormal, that is, a failure.
  • the sensitivity of a tilt sensor that detects the tilt of a dielectric liquid as a change in capacitance depends on the frequency of the clock. Therefore, by changing the frequency without stopping the clock, it is possible to change the sensitivity of the tilt sensor and obtain a failure diagnosis method to obtain the expected value.
  • FIG. 5 shows the output voltage with respect to a typical angle when the output of the tilt sensor that detects the tilt of the liquid surface of the dielectric liquid as a change in capacitance is amplified by a differential amplifier circuit.
  • FIG. The straight line a in the figure shows the characteristics when the one-chip microcomputer 24 stops sending the clock signal S 21 (failure diagnosis mode), and the curve b shows the one-chip microcomputer 24 sending the clock signal S 21. (Execution mode).
  • FIG. 6 is a diagram showing the frequency dependence when the output of the tilt sensor that detects the tilt of the liquid surface of the dielectric liquid as a change in capacitance is amplified by a differential amplifier circuit. As shown, as the clock frequency decreases, the output voltage characteristic shifts upward.
  • the senor function can be confirmed by a program pre-stored in the one-chip microcomputer, the failure of the sensor function can be diagnosed and the failure can be notified to the outside early. Malfunctions can be prevented and safety can be improved.
  • the sensor function can be confirmed by a program stored in the one-chip microcomputer in advance, it is possible to diagnose failure of the sensor function and notify the failure to the outside early.

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Description

センサ機能の故障診断方法および装置 技術分野
本発明は、 物理量を電気信号明に変換して出力するセンサから出力され た電気信号を、 1チップマイコンに田入力することにより出力制御を行う 装置における、 センサ機能の故障診断方法および装置に関する。 背景技術
従来のセンサ機能の故障診断システムの一例を、 図 7を参照して説明 する。 駆動回路 1からの出力信号 S 1は、 センサ 2に入力し、 該センサ 2を駆動する。 センサ 2は、 物理量を電気信号に変換して、 センサ出力 信号 S 2を出力する。 該センサ出力信号 S 2はインターフェイス回路 3 に入力する。 該インターフェイス回路 3は、 センサ出力信号 S 2を 1チ ップマイコン 4が認識できる信号に加工し、 電気信号 (デジタル信号) S 3を出力する。
1チップマイコン 4は、 ィンターフェイス回路 3から受け取った電気 信号 S 3を、 予めメモリ 4 Aに記憶されていたプログラムにより所定の 機能を帯びた制御信号 S 4に変換し、 出力回路 5に出力する。 出力回路 5は、 該制御信号 S 4に応じて、 負荷 6を駆動する。
前記センサ出力信号 S 2は、 通常は、 センサ出力のある出力レンジ内 に収まっている。 しかし、 センサ 2に機能故障が発生して、 センサ出力 信号 S 2が該出力レンジに収まらなくなると、 インタ一フェース回路 3 からの電気信号 S 3は 1チップマイコン 4の入力レンジから外れる。 こ のため、 1チップマイコン 4はフェイル信号 S 5を出力する。 出力回路 5は該フェイル信号 S 5を入力すると、 フェイルランプ 7を点灯する。 この結果、 センサ出力信号 S 2が前記出力レンジに収まらなくなるよう なセンサ機能の故障は検知可能である。
しかしながら、 センサ機能の故障が発生したにもかかわらず、 センサ 出力信号 S 2が前記出力レンジに収まっている場合には、 インターフエ ース回路 3から出力される電気信号 S 3がどのような信号になるか不明 であり、 該センサ機能の故障を検知することが困難である。
本発明の目的は、 センサから出力されたセンサ出力信号がある出力レ ンジに収まっていても、 センサ機能の故障を検知できるセンサ機能の故 障診断方法および装置を提供することにある。 発明の開示
前記した目的を達成するために、 本発明は、 物理量を電気信号に変換 して出力するセンサと、 その電気信号を 1チップマイコンに入力するこ とによって出力制御を行うセンサ機能の故障診断方法において、 前記セ ンサを駆動する駆動回路が、 前記 1チップマイコンから出力される駆動 信号によつて制御されるようにした点に特徴がある。
また、 本発明は、 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 そ の電気信号を入力することによって出力制御を行う 1チップマイコンと を備えた出力制御装置におけるセンサ機能の故障診断装置において、 前 記 1チップマイコンから出力される駆動信号によって制御される、 前記 センサを駆動する駆動回路を具備し、 前記 1チップマイコンが前記駆動 回路の駆動を制御することによりセンサ機能の故障を診断するようにし た点に他の特徴がある。
この発明によれば、 センサ出力が出力レンジに収まるようなセンサ機 能の故障をも検知することができるようになる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の一実施形態のセンサ機能の故障診断 V
ブロック図である。
図 2は、 1チップマイコンの動作の概要を示すフローチャートである c 図 3は、 本発明の一具体例である傾斜センサの故障診断システムを示 すプロック図である。
図 4 A〜図 4 Cは、 傾斜センサの電極と誘電性液体の液面との関係を 示す図である。
図 5は、 図 3における、 傾斜センサの角度に対する出力電圧特性図で める。
図 6は、 図 3における、 周波数依存性を示す、 傾斜センサの角度に対 する出力電圧特性図である。
図 7は、 従来のセンサ機能の故障診断システムを示すプロック図であ る。 > 発明を実施するための最良の形態
以下に、 図面を参照して、 本発明を詳細に説明する。 図 1は、 本発明 の一実施形態を示すセンサ機能の故障システムのブロック図である。
図において、 1チップマイコン 1 4は、 予めメモリ 1 4 Aに記憶され たプログラムにより駆動信号 S 1 6 (例えば、 クロック） を出力し、 該 駆動信号 S 1 6は駆動回路 1 1に入力する。 駆動回路 1 1からの出力信 号 S 1 1は、 センサ 1 2に入力し、 該センサ 1 2を駆動する。 センサ 1 2は、 物理量を電気信号に変換して、 センサ出力信号 S 1 2を出力する c 該センサ出力信号 S 1 2はインターフェイス回路 1 3に入力する。 該ィ ンターフェイス回路 1 3は、 センサ出力信号 S 1 2を 1チップマイコン 1 4が認識できる信号に加工し、 電気信号 （デジタル信号） S 1 3を出 力する。
1チップマイコン 1 4は、 インターフェイス回路 1 3から受け取った 電気信号 S 1 3を、 予めメモリ 1 4 Aに記憶されていたプログラムによ り所定の機能を帯びた制御信号 S 1 4に変換し、 出力回路 1 5に出力す る。 出力回路 1 5は、 該制御信号 S 1 4に応じて、 負荷 1 6を駆動する さて、 1チップマイコン 1 4が駆動信号 S 1 6により駆動回路 1 1を 停止させると、 センサ 1 2は、 予め決められた一定のセンサ出力信号 S 1 2を出力する。 インターフェイス回路 1 3は、 該一定のセンサ出力信 号 S 1 2を受けると、 それに応じた一定の電気信号 （デジタル信号） S 1 3を出力する。
ここで、 センサ 1 2が故障したにも関わらず、 センサ 1 2から、 ある 出力レンジ内のセンサ出力信号 S 1 2が出力されている場合を想定する c この場合、 1チップマイコン 1 4から駆動信号 S 1 6を停止して、 駆動 回路 1 1を停止させると、 センサ 1 2からは前記予め決められた一定の センサ出力信号 S 1 2が出力されなくなり、 インターフェース回路 1 3 からも前記一定の電気信号 S 1 3が出力されなくなる。 この結果、 1チ ップマイコン 1 4は、 センサ 1 2が故障したと判断し、 出力回路 1 5へ フェイル信号 S 1 5を出力する。 これにより、 出力回路 1 5は、 フェイ ノレランプ 1 7を点灯する。
なお、 センサ 1 2の故障により、 センサ出力信号 S 1 2が前記出カレ ンジに収まらなくなると、 ィンターフェース回路 1 3からの電気信号 S 1 3は 1チップマイコン 1 4の入力レンジから外れる。 このため、 1チ ップマイコン 1 4はフェイル信号 S 1 5を出力して、 フェイルランプ 1 7を点灯し、 故障診断するのは、 従来装置と同様である。
図 2は、 1チップマイ コン 1 4の動作を説明するフローチャートであ る。 ステップ S Iでは、 故障診断モードか否かの判断がなされ、 この判 断が否定 （実行モード） の時には、 ステップ S 2に進んで、 駆動回路 1 1を駆動する。 ステップ S 3では、 ィンターフェース回路 1 3からの電 気信号 S 1 3は所定の出力レンジ内か否かの判断がなされる。 この判断 が肯定の時には、 ステップ S 4に進み、 センサ 1 2は正常であると判定 する。 ステップ S 5では、 負荷 1 6を駆動し、 ステップ S 6では、 セン サ 1 2の駆動を終了する旨の指令を受けたか否かの判断がなされる。 こ の判断が肯定であれば、 動作を終了し、 否定であれば、 ステップ S 1に 戻る。 このように、 正常な動作時には、 ステップ S 1〜S 6が繰り返さ れるが、 ステップ S 3の判断が否定になると、 1チップマイコン 1 4は センサ 2が機能故障を起こしたと判断してステップ S 1 2に進み、 フエ ィルランプ 1 7を点灯する。
次に、 前記ステップ S 1の判断が肯定になり、 故障診断モードに入る と、 ステップ S 8に進んで、 1チップマイコン 1 4は駆動回路 1 1の動 作を停止する。 ステップ S 9では、 インターフェース 1 3からの電気信 号 S 1 3が予め定められた一定値であるか否かの判断がなされ、 この判 断が肯定の時には、 ステップ S 1 0に進み、 センサ 1 2は正常と判断す る。 一方、 ステップ S 9の判断が否定の時には、 ステップ S 1 1に進み、 センサ 1 2は異常であると判定する。 そして、 ステップ S 1 2に進み、 フェイルランプ 1 7を点灯する。
以上のようにして、 1チップマイコン 1 4はセンサ 1 2の故障を検知 することができる。
次に、 本発明を、 具体例を挙げて説明する。 図 3は、 誘電性液体の液 面の傾きを静電容量の変化として検出する傾斜センサを用いて、 1チッ プマイコンから出力される駆動信号によって制御される傾斜センサの傾 斜角度を電気信号に変換し、 該電気信号を 1チップマイコンに入力する ことによって出力制御を行う装置のプロック図である。
1チップマイコン 24は、 予めメモリ 2 4 Aに記憶されたプログラム により、 クロック信号 S 2 6を発生し、 該クロック信号 S 2 6を駆動回 路としてのバッファ回路 （例えば， C— MO Sインバータ） 2 1に供給 する。 ノ ッファ回路 2 1は、 該クロック信号 S 2 6を波形整形し、 例え ば波形のなまりを補正する。 波形整形されたク口ック信号 S 2 1は、 傾 斜センサ 2 2に供給される。
傾斜センサ 2 2は、 誘電性液体の傾きを静電容量の変化として検出す る。 該傾斜センサ 2 2は、 傾斜によって変化する静電容量 2 2 C, 2 2 Dと、'該 2つの静電容量を電圧に変換する C一 V (容量一電圧） 変換器 2 2 A, 2 2 Bからなり、 該 C—V変換器 2 2 A, 2 2 Bから出力電圧 V I、 V 2をそれぞれ出力する。 このようにして、 傾斜角度は （V 2— V I ) に変換される。 なお、 該傾斜センサ 2 2の原理と構造は既知であ るので、 以下に簡単に説明する。
図 4A、 図 4 B、 および図 4 Cは、 傾斜センサ 2 2とその傾き 0を模 式的に示した図である。 傾斜センサ 2 2は、 共通電極 3 0と、 両端が切 り落とされた略半円形の第 1の電極 3 1 a と、 第 2の電極 3 1 bと、 該 共通電極 3 0と第 1、 第 2の電極 3 1 a、 3 1 bの間に収容された誘電 性液体 34とから構成され、 前記共通電極 3 0と第 1、 第 2の電極 3 1 a、 3 1 bとは平行にかつ所定間隔離れて配置されている。
傾き θ == 0の時には、 図 4 Αに示されているように、 誘電性液体 34 の液.面 34 aは第 1の電極 3 1 aに達せず、 一方第 2の電極 3 1 bを完 全に浸す。 このため、 第 1電極 3 1 aの静電容量 C 1と第 2電極 3 1 b の静電容量 C 2との差は一番大きくなり、 前記 （V 2—V 1 ) の絶対値 は最大になる。 次に、 0〉 0、 0く 0の時には、 それぞれ図 4 B、 図 4 Cのようになり、 第 1電極 3 1 aの静電容量 C 1 と第 2電極 3 1 bの静 電容量 C 2との差の絶対値は Θが正または負の方向に大きくなるにつれ て減少する。
また、 傾き 0が正および負の方向に大きくなると、 （V 2— V 1 ) の 絶対値は 2次関数的に減少する。
前記インターフェイス回路としての増幅回路 2 3は、 2個のオペアン プ 2 3 A、 2 3 Bと、 基準電圧 （Vref) 2 3 Cと、 抵抗 2 3 D〜 2 3 G (R 1 ~R 4) から構成されており、 前記傾斜センサ 2 2の出力電圧 V I、 V 2はそれぞれオペアンプ 2 3 A、 2 3 Bに入力される。 増幅回 路 2 3の出力信号 S 2 3は下記の（1)式で表される。
S 2 3 =- [(R 1 + 1 ) /R 2 ] X | V 2 - V 1 | + Vref · · · (1) ただし、 R 1 =R4、 R 2 =R 3である。
ここで、 出力信号 S 2 3は、 R 1 と R 2の比率によって 1チップマイ コン 2 4が認識できるゲイン （利得） に調整されて出力される。 例えば. 1 V〜 4 Vの電圧範囲に設定される。 また、 （V 2— V I ) の絶対値は. 2次関数的に変化する。
1チップマイコン 24は、 予めメモリ 24 Aに記憶されたプログラム と出力信号 S 2 3により、 傾斜角度を認識し、 出力信号 S 24を出力回 路 2 5へ出力する。 出力回路 2 5は、 出力信号 S 24に応じて負荷 2 6 を駆動する。
ここで、 出力信号 S 2 3はある電圧範囲に出力するように設定されて いる （例えば、 1 V〜4 V)。 傾斜センサ 2 2が異常な電圧 V 1、 V 2 を出力して、 出力信号 S 2 3の出力電圧が設定された電圧範囲を外れた 場合には、 1チップマイコン 24は、 予めメモリ 24 Aに記憶されたプ ログラムにより、 傾斜センサ 2 2が故障したと判断する。 そして、 フエ ィル信号 S 2 5を出力して、 出力回路 2 5を介してフェイルランプ 2 7 を点灯させる。 また、 傾斜センサ 2 2はクロック信号 S 2 1により駆動されており、 クロック信号 S 2 1が停止 （" H " または " L " に固定） した場合、 傾 斜センサ 2 2の出力 ( V 1—V 2 ) は O Vになり、 前記式（1)より、 出 力信号 S 2 3は、 S 2 3 = V refとなる。 すなわち、 傾斜センサ 2 2が 正常であれば、 クロック信号 S 2 1が停止した場合、 1チップマイコン 2 4には、 一定電圧 Vrefが入力されることになる。
換言すれば、 1チップマイコン 2 4がクロック信号 S 2 6を停止させ た時の出力信号 S 2 3の電圧が V refという期待値であれば、 センサ機 能は正常、 期待値ではない V ref以外の電圧であれば、 センサ機能は異 常、 すなわち故障であると判断できる。
また、 誘電性液体の傾きを静電容量の変化として検出する傾斜センサ の感度は、 クロックの周波数に依存する。 このため、 クロックを停止さ せないで周波数を変更することにより、 傾斜センサの感度を変更し、 期 待値を得る故障診断方法も可能である。
図 5は、 前記した誘電性液体の液面の傾きを静電容量の変化として検 出する傾斜センサの出力を、 差動増幅回路にて増幅した時の代表的な角 度に対する出力電圧を示す図である。 図の直線 aは、 1チップマイコン 2 4がクロック信号 S 2 1の送出を停止した時 （故障診断モード） の特 性、 曲線 bは 1チップマイコン 2 4がクロック信号 S 2 1を送出してい る時 （実行モード） の特性を示す。 図示されているように、 実行モード の時であって、 傾き角 Θ = 0の場合には出力電圧は最低で、 傾き角 0が 正又は負の方向に大きくなると 2次関数的に増大する。
図 6は、 前記した誘電性液体の液面の傾きを静電容量の変化として検 出する傾斜センサの出力を差動増幅回路にて増幅した時の周波数依存性 を示す図である。 図示されているように、 クロック周波数が低くなるに つれて、 出力電圧の特性は上方に推移する。 産業上の利用可能性
前記したように、 本発明によれば、 1チップマイコンに予め記憶させ たプログラムにより、 自らセンサ機能の確認が行えるため、 早期にセン サ機能の故障の診断、 外部への故障通知が可能となり、 誤動作を防ぐと 共に、 安全性の向上を図ることができる。
なお、 本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、 本発明の 趣旨に基づいて、 種々の変形が可能であり、 これらを本発明の範囲から 排除するものではない。
本発明によれば、 1チップマイコンに予め記憶させたプログラムによ り、 自らセンサ機能の確認が行えるため、 早期にセンサ機能の故障の診 断、 外部への故障通知が可能となる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 その電気信号を 1 チップマイコンに入力することによって出力制御を行う装置のセンサ機 能の故障診断方法において、
前記センサを駆動する駆動回路が、 前記 1チップマイコンから出力さ れる駆動信号によって制御されることを特徴とするセンサ機能の故障診 断方法。
2 . クレーム 1に記載のセンサ機能の故障診断方法において、
前記 1チップマイコンは、 予め記憶させたプログラムを有し、 自らセ ンサ機能の確認を実行することを特徴とするセンサ機能の故障診断方法
3 . クレーム 2に記載のセンサ機能の故障診断方法において、
前記 1チップマイコンが、 駆動信号を出力した時に、 センサは正常動 作時のセンサ電気信号を出力し、 一方、 前記 1チップマイコンからの駆 動信号が停止した時に、 センサは予め決められた一定値の電気信号を出 力し、
前記駆動信号の停止時に前記一定値の電気信号が出力されない時にセ ンサ機能の故障と診断するようにしたことを特徴とするセンサ機能の故 障診断方法。'
4 . クレーム 2に記載のセンサ機能の故障診断方法において、
前記 1チップマイコンが、 駆動信号を出力した時に、 センサは正常動 作時のセンサ電気信号を出力し、 一方、 前記 1チップマイコンからの駆 動信号の周波数を変更することによりセンサの感度を変更して、 予め期 待された電気信号を出力させ、
前記駆動信号の周波数の変更時に前記期待された電気信号が出力され ない時に、 センサ機能の故障と診断するようにしたことを特徴とするセ ンサ機能の故障診断方法。
5 . 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 その電気信号を入 力することによって出力制御を行う 1チップマイコンとを備えた出力制 御装置におけるセンサ機能の故障診断装置において、
前記 1チップマイコンから出力される駆動信号によって制御される、 前記センサを駆動する駆動回路を具備し、
前記 1チップマイコンが前記駆動回路の駆動を制御することによりセ ンサ機能の故障を診断するようにしたことを特徴とするセンサ機能の故
6 . クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において、
前記 1チップマイコンは前記駆動回路の駆動を停止し、 かつ前記セン サ出力が一定値であるか否かを検出することにより、 センサ機能の故障 を診断するようにしたことを特徴とするセンサ機能の故障診断装置。
7 . クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において、
前記 1チップマイコンは前記駆動回路に供給する駆動信号の周波数を 変更し、 かつ前記センサ出力が予め期待された電気信号を出力したか否 かを検出することにより、 センサ機能の故障を診断するようにしたこと を特徴とするセンサ機能の故障診断装置。
8 . クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において、
前記駆動回路は、 1チップマイコンから出力された信号を波形整形す るためのバッファ回路から構成されることを特徴とするセンサ機能の故
9 . クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において、
さらに、 前記センサの出力を増幅し、 該増幅した信号を前記 1チップ マイコンへ送るィンターフェース回路を具備したことを特徴とするセン サ機能の故障診断装置。 補正書の請求の範囲
[ 2 0 0 1年 1 1 月 3 0日 （3 0 . 1 1 . 0 1 ) 国際事務局受理：出願当初の請求の範囲
1 , 3及び 9は補正された；新しい請求の範囲 1 0が加えられた；
他の請求の範囲は変更なし。 （3頁） ]
1 . (補正後） 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、' そ の電気信号を 1 チップマイ コンに入力することによって出力制御 5 を行う装 ©のセンサ機能の故障診断方法において、
前記センサを駆動する駆動回路が、 前記 1チップマイ コンから 出力される駆動信号によって制御され、
前記 1チップマイ コンが、 駆動信号を出力した時に、 センサは 正常動作時のセンサ電気信号を出力し、 一方、 前記 1チップマイ
L0 コンからの駆動信号が停止した時に、 センサは予め決められた一 定値の電気信号を出力し、
前記駆動信号の停止時に前記一定値の電気信号が出力されない 時にセンサ機能の故障と診断するよ うにしたこ とを特徴とするセ ンサ機能の故障診断方法。
15 2 . クレーム 1に記載のセンサ機能の故障診断方法において、
前記 1チップマイコンは、 予め記憶されたプログラムを有し、 自らセ ンサ機能の確認を実行することを特徵とするセンサ機能の故障診断方法。 3 - (補正後） 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 そ の電気信号を 1 チップマイコンに入力することによって出力制御 20 を行う装置のセンサ機能の故障診断方法において、
前記センサを駆動する駆動回路が、 前記 1チップマイ コンから 出力される駆動信号によって制御され、
前記 1チップマイ コンが、 駆動信号を出力した時に、 センサは 正常動作時のセンサ電気信号を出力し、 一方、 前記 1 チップマイ 25 コ ンからの駆動信号の周波数を変更するこ とによ りセンサの感度 を変更して、 予め期待された電気信号を出力させ、
条約 1 9条に基づく説明書 前記駆動信号の周波数の変更時に前記期待ざれた電気信号が出 力されない時に、 センサ機能の故障と診断するようにしたことを 特徴とするセンサ機能の故障診断方法。
4 . (補正後） クレーム 3に記載のセンサ機能の故障診断方法において、 前記 1チップマイコンは、 予め記憶されたプログラムを有し、 自らセ ンサ機能の確認を実行することを特徴とするセンサ機能の故障診断方法。
5 . (補正後） 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 そ の電気信号を入力することによって出力制御を行う 1チップマイ コンとを備えた出力制御装置におけるセンサ機能の故障診断装置 において、
前記 1チップマイコンから出力される駆動信号によつて制御さ れる、 前記センサを駆動する駆動回路を具備し、
前記 1チップマイ コンは前記駆動回路の駆動を停止し、 かつ前 記センサ出力が一定値であるか否かを検出することによ り、 セン サ機能の故障を診断するようにしたこ とを特徴とするセンサ機能 の故障診断装置。
6 . (補正後） クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において, 前記駆動回路は、 1チップマイコンから出力された信号を波形整形す るためのバッファ回路から構成されることを特徴とするセンサ機能の 故障診断装置。
7 . (補正後） クレーム 5に記載のセンサ機能の故障診断装置において. さらに、 前記センサの出力を増幅し、 該増幅した信号を前記 1チップ マイコンへ送るィンターフェース回路を具備したことを特徴とするセ ンサ機能の故障診断装置。
8 . (補正後） 物理量を電気信号に変換して出力するセンサと、 そ の電気信号を入力することによって出力制御を行う 1チップマイ
条約 1 9条に基づく説明書 コンとを備えた出力制御装置におけるセンサ機能の故障診断装置 において、
前記 1チップマイコンから出力される駆動信号によって制御さ れる、 前記センサを駆動する駆動回路を具備し、
前記 1 チップマイコンは前記駆動回路に供給する駆動信号の周 波数を変更し、 かつ前記センサ出力が予め期待された電気信号を 出力したか否かを検出することによ り 、 センサ機能の故障を診断 するよ う にしたことを特徴とするセンサ機能の故障診断装置。
9 . (補正後） クレーム 8に記載のセンサ機能の故障診断装置において、 前記駆動回路は、 1チップマイコンから出力された信号を波形整形す るためのバッファ回路から構成されることを特徴とするセンサ機能の 故障診断装置。
1 0 . (追加） クレーム 8に記載のセンサ機能の故障診断装置において- さらに、 前記センサの出力を増幅し、 該増幅した信号を前記 1チップ マイコンへ送るィンターフェース回路を具備したことを特徴とするセ ンサ機能の故障診断装置。
条約 1 9条に基づく説明書 条約第 1 9条 （1 ) に基づく説明書 請求の範囲第 1項の 1構成要件である 「前記駆動信号の停止時に前 記一定値の電気信号が出力されない時にセンサ機能の故障と診断 する」 は、 サーチレポー トで引用された各引用例に何ら開示され ていない。
請求の範囲第 5項の 1構成要件である 「前記 1チップマイコンは前 記駆動回路の駆動を停止し、 かつ前記センサ出力が一定値である か否かを検出することによ り、 センサ機能の故障を診断する」 は. サーチレポー トで引用された各引用例に何ら開示されていない。 請求の範囲第 3項および第 8項はカテゴリー Aのクレームである。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4103781B2 (ja) * 2003-11-19 2008-06-18 トヨタ自動車株式会社 負荷駆動回路における異常監視装置
JP4386075B2 (ja) * 2004-09-22 2009-12-16 トヨタ自動車株式会社 負荷駆動回路における異常監視装置および異常監視方法
US7358720B1 (en) * 2006-01-25 2008-04-15 Simmonds Precision Products, Inc. Proximity sensor interface
WO2009122739A1 (ja) * 2008-04-04 2009-10-08 パナソニック株式会社 センサ装置
US8788233B2 (en) * 2011-01-18 2014-07-22 General Electric Company Diagnostic system and method for a thermistor amplifier circuit
CA2851606C (en) 2011-10-12 2020-08-04 3M Innovative Properties Company Integrated microneedle array delivery system
US9465683B2 (en) * 2014-07-07 2016-10-11 Infineon Technologies Ag Apparatus and a method for providing an error signal for a control unit
CN105252994B (zh) * 2014-07-10 2017-11-17 重庆长安铃木汽车有限公司 一种电动车ptc加热系统及其故障诊断方法
CN104597826B (zh) * 2014-12-31 2018-03-27 广东戈兰玛汽车系统有限公司 一种传感器系统
CN109324280B (zh) * 2018-09-10 2021-02-05 北京和利时智能技术有限公司 一种驱动输出电路及诊断方法
CN111196227B (zh) * 2018-11-19 2021-09-07 宝沃汽车（中国）有限公司 传感器信号监控方法、装置及车辆
CN112798180A (zh) * 2021-01-04 2021-05-14 珠海格力电器股份有限公司 力传感器的故障检测方法及计算机可读存储介质
CN114941990B (zh) * 2022-05-31 2024-10-25 杭州海康机器人股份有限公司 传感器自检方法、装置、电子设备及机器可读存储介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01155056A (ja) * 1987-12-14 1989-06-16 Hitachi Ltd センサの断線・短絡検出装置
JPH06146968A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Mitsubishi Electric Corp 空燃比制御装置
JPH06227410A (ja) * 1993-02-03 1994-08-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電動パワーステアリング装置
JPH0712667A (ja) * 1993-06-29 1995-01-17 Hitachi Ltd 物理量センサおよび物理量センサシステム
JPH07181042A (ja) * 1993-12-22 1995-07-18 Nissan Motor Co Ltd 角速度センサの故障診断装置
JPH09304427A (ja) * 1996-05-21 1997-11-28 Tokai Rika Co Ltd センサ及び物理量検出装置
JPH1019624A (ja) * 1996-07-04 1998-01-23 Yamatake Honeywell Co Ltd 流速検出装置
US5898107A (en) * 1996-09-07 1999-04-27 Robert Bosch Gmbh Method and arrangement for monitoring the operation of a hydrocarbon sensor for an internal combustion engine

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5827420B2 (ja) * 1978-06-06 1983-06-09 株式会社デンソー 自動車用自動変速制御方法および装置
US4350039A (en) * 1980-05-14 1982-09-21 Honeywell Inc. Liquid gaging system null balance circuitry
JPH0769999B2 (ja) * 1987-06-12 1995-07-31 富士電機株式会社 多点入力信号変換装置
US5506454A (en) * 1991-03-20 1996-04-09 Hitachi, Ltd. System and method for diagnosing characteristics of acceleration sensor
JPH07139968A (ja) * 1993-11-18 1995-06-02 Toyota Motor Corp 変位測定装置
US5479716A (en) * 1994-07-12 1996-01-02 Design & Test Technology, Inc. Capacitive based gravity sensor
JPH09218040A (ja) * 1996-02-14 1997-08-19 Nissan Motor Co Ltd 角速度センサの自己診断方法
US5900529A (en) 1997-07-10 1999-05-04 Trw Inc. Apparatus and method for testing an acceleration sensor
DE19853063B4 (de) 1997-11-18 2011-07-28 DENSO CORPORATION, Aichi-pref. Winkelgeschwindigkeitssensor und Diagnosesystem dafür
US6499220B2 (en) * 1997-12-09 2002-12-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Inclination sensor
US6304091B1 (en) * 1998-02-10 2001-10-16 Immersion Corporation Absolute position sensing by phase shift detection using a variable capacitor
US6388453B1 (en) * 1999-01-25 2002-05-14 Bryan D. Greer Swept-frequency dielectric moisture and density sensor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01155056A (ja) * 1987-12-14 1989-06-16 Hitachi Ltd センサの断線・短絡検出装置
JPH06146968A (ja) * 1992-11-11 1994-05-27 Mitsubishi Electric Corp 空燃比制御装置
JPH06227410A (ja) * 1993-02-03 1994-08-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電動パワーステアリング装置
JPH0712667A (ja) * 1993-06-29 1995-01-17 Hitachi Ltd 物理量センサおよび物理量センサシステム
JPH07181042A (ja) * 1993-12-22 1995-07-18 Nissan Motor Co Ltd 角速度センサの故障診断装置
JPH09304427A (ja) * 1996-05-21 1997-11-28 Tokai Rika Co Ltd センサ及び物理量検出装置
JPH1019624A (ja) * 1996-07-04 1998-01-23 Yamatake Honeywell Co Ltd 流速検出装置
US5898107A (en) * 1996-09-07 1999-04-27 Robert Bosch Gmbh Method and arrangement for monitoring the operation of a hydrocarbon sensor for an internal combustion engine

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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