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WO1992004753A1 - Element laser a semi-conducteur du type a puits quantiques - Google Patents

Element laser a semi-conducteur du type a puits quantiques Download PDF

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WO1992004753A1
WO1992004753A1 PCT/JP1991/001213 JP9101213W WO9204753A1 WO 1992004753 A1 WO1992004753 A1 WO 1992004753A1 JP 9101213 W JP9101213 W JP 9101213W WO 9204753 A1 WO9204753 A1 WO 9204753A1
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WO
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layer
quantum
quantum well
semiconductor laser
laser device
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PCT/JP1991/001213
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English (en)
French (fr)
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Narihito Matsumoto
Akihiko Kasukawa
Takeshi Namegaya
Hiroshi Okamoto
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Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Priority claimed from JP24307490A external-priority patent/JPH04122084A/ja
Priority claimed from JP33654690A external-priority patent/JPH04206789A/ja
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Priority to CA002068339A priority patent/CA2068339C/en
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Definitions

  • the present invention relates to a quantum well type semiconductor laser device that can oscillate in a long wavelength band of 1.3 to 1.6 wm.
  • a semiconductor laser device having a quantum well structure has a lower threshold density and a smaller number of quantum valve door layers than a semiconductor laser device having an active layer of ⁇ crystal. Is expected to have better characteristics, such as reduced far field angle (narrower beam width):
  • Some semiconductors having a quantum well structure operate in a single-longitudinal mode in a distributed-floating type.
  • the structure shown in FIG. Some are known.
  • the semiconductor laser device shown in FIG. 7 has an n-InP cladding layer 2 and a non-floor (7) GaInAsP confinement on an n-InP substrate 1.
  • Layer 3, multi-quantum well layer 4 composed of GaInAsP quantum well layer 5 and GaInAsP barrier layer 6 of non-doped element, GG aln As P optical confinement layer 7, p —) n P not B 9, p — G a InAs ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ] ⁇ -: P layer 11 a and n — I n P ⁇ ] 1 b
  • the ⁇ -side electrode 12 and the ⁇ -side electrode 13 are provided on the upper surface of the buried layer 11, respectively.
  • the specifications of each layer in the semiconductor laser device of FIG. 7 are as follows.
  • Thickness 1 200 A
  • Reference 1 IEEE, JOURNAL QUANTUM ELECTRONICS,
  • the oscillation threshold value when the oscillation threshold value is high in the long wavelength band, the emission efficiency is high due to the non-emission mechanism due to the odgon effect or the absorption between the ⁇ electronic bands. Not bad, two:?.
  • the oscillation threshold current is greatly increased, and only the second quantum level due to high carrier injection or oscillation from the optically closed optical confinement layer can be obtained.
  • the following document 2 discloses that the quantum gap wavelength force of the quantum valve door layer is 1.67 m, the quantum co-if number is 4, and the thickness force of the quantum well layer is s 50 to 250 A, GRI layer: each band gap power of one SCH layer s 1.4 m, 1.33 jum, 1.25 am, 1.1 4 um, GRIX — (: ⁇ ⁇ layer thickness; 150 to 300-, Quantumase says ⁇ and GRIN — SCH innermost layer; A semiconductor laser device of V is disclosed.
  • the force required to be higher than the above-mentioned “non-gear” sub-difference of 160 meV is required. Since the laser element has a small differential force s 1 4 3 me Y, the second
  • Document 2 discloses a technical disclosure for reducing the loss of a portion of the O conductor, reducing the far field angle, and improving the emission wavelength; 1 characteristics.
  • the present invention is directed to a case where the number of quantum well layers is reduced to one or two in order to reduce threshold current density, reduce internal loss, and narrow the far-field angle.
  • Another object of the present invention is to provide a quantum well semiconductor laser device that can oscillate at the first quantum level.
  • the present invention provides an active layer comprising a quantum well layer and a barrier layer on an InP substrate, and a light confinement layer disposed above and below the active layer.
  • the bandgap of the layer is larger than the bandgap of the quantum well layer. It is larger than "1 SO nie", and the thickness of the quantum well layer is 3 nm or more and S nm or less. .
  • an InP layer having a larger forbidden band than the light confinement layer may be arranged outside the light confinement layer.
  • the quantum well layer has a lattice mismatch ratio of 0 to 2% with respect to the InP substrate and / or the optical confinement layer.
  • the resonator length in the above is 0 ⁇ m or more.
  • the quantum well type 5 semiconductor device according to the present invention based on new experimental facts, has been described above-SCH structure
  • the characteristics of the semiconductor laser device are improved as follows.
  • the forbidden bandwidth of the optical confinement layer is set to be more than 160 me ⁇ ⁇ larger than the forbidden bandwidth of the quantum well layer, that is, the quantum well layer and the GRI ⁇ —
  • the threshold current density becomes lower.
  • the quantum well layer has a thickness within the range of 38 ⁇ m, so that it oscillates at the first quantum level, which has excellent temperature dependence of oscillation wavelength and 7C force dependence. And.
  • the thickness of the quantum well layer is less than 3 nm, oscillation occurs at the optical confinement layer, and when the thickness of the quantum well layer exceeds S nm, oscillation occurs at the second quantum level.
  • the InP substrate and the Z or Z confinement layer the lattice of the two-dimensional quantum layer; the matching ⁇ is 0 to 2 ⁇ : the threshold voltage as well as the characteristics of ⁇ .
  • ⁇ Density To increase quantum efficiency and to increase quantum efficiency: --In the above, if an InP layer with a larger bandgap is arranged outside the optical confinement layer, the carrier is efficiently confined in the quantum well layer and the first quantum Oscillation at the level is stabilized.
  • the threshold current becomes minimum at about 900 rn. Above 900 m, the quantum efficiency is maintained at a high level.
  • the resonator length is 900 m or more, the resistance of the element becomes small, and the heat dissipation is improved, so that high output operation can be ensured.
  • FIG. 1 is a cutaway perspective view showing a quantum well type semiconductor laser device according to one embodiment of the present invention together with a band gap of the quantum well type semiconductor laser device
  • FIG. Fig. 3 shows the relationship between the number of quantum well layers of the semiconductor laser and the different viewing angle
  • Fig. 4 shows the relationship between wavelength and emission intensity
  • Fig. 5 shows the relationship between oscillation wavelength and temperature.
  • Fig. 6 shows the amount of semiconductors (layers and line widths).
  • the quantum well semiconductor laser device according to the present invention exemplified in E 1 has the following configuration. That is, FIG.
  • the semiconductor laser device is composed of a ⁇ -I ⁇ ⁇ .
  • a multiple quantum well layer 24 composed of an As P optical confinement layer 23, a non-doped G a In As P quantum well layer 25 and a G a In As P barrier layer 26, Nondof CG a In A As P whose confinement band width changes stepwise, light confinement layer 27, first-order diffraction grating 28 engraved on light confinement layer 27, ⁇ -I ⁇ ⁇ La ': / layer 29, p — G a InAsP connector layer 3',-IP layer 31 a and n-1 n P layer 3 1 b, etc.
  • the n-side electrode 3 2 is formed on the lower surface of the substrate 2].
  • the buried layer 3 is provided with p i ⁇ electrodes 33 on two sides.
  • the G aInAs P light confinement layer 23 of the node has a bandgap changing in a stepwise manner, and each bandgap is expressed as a converted value of a band gap wavelength.
  • the GalnAsP barrier layer 26 has a band gap wavelength of 1.3 m and a thickness force of 100 A.
  • each bandgap changing in a stepped manner has a band gap wavelength of 1.3 ⁇ m as a converted value. , 1.2 um, 1.1 m, 1.05 Xm, and a thickness force of 300 A.
  • the next diffraction grating 28 has a pitch of 240 A or less and a height of 500 A or less.
  • the optical confinement layer 27 may not have such a first-order diffraction grating 2 ⁇ .
  • composition of the GRI ⁇ —SC ⁇ region including the photo-closed confining layers _ 23, 27, etc. has been described as an example in which the composition changes stepwise. In some cases, it may change.
  • the semiconductor laser device illustrated in FIG. 1 is manufactured as an example as follows.
  • the InAsPP section wall layer 26), and the GnInAsP photo-closed encapsulation layer 27 of the node are continuously deposited and grown.
  • the primary diffraction grating 280 pattern produced by the Nitto et al. Method is transferred by the chemical etching method.
  • p-InP cladding layer 29 on the stacked structure of n-InP substrate 21 and G a InAs for the mask A P layer is deposited and grown.
  • a vertical mesa having an active layer width of about 2 m is formed in a portion including the optical confinement layer 27.
  • a buried layer 31 of SiO 2 film is selectively grown on both sides of a portion including the active layer.
  • an n-side electrode 32 is provided on the lower surface of the substrate 21 and a P-side electrode 33 is provided on the upper surface of the buried layer 31 via conventional means, and the laminated structure is formed into a laser chip. Cleavage is performed to obtain the semiconductor laser element required for f.
  • the optical confinement layer 23, the multiple quantum well layer 24f, the quantum well layer 25, the barrier layer 26), the primary diffraction grating 28 For the light confinement layer 27 with a layer, the above-mentioned Tsuji is added.
  • a semiconductor laser is shown in which the quantity is 2 and the quantity is 7 nm.
  • Such a semiconductor laser device has a GaInAs quantum well layer (bandgap wavelength of 1 ⁇ m) having GaInAsP (bandgap wavelength of 1.3 ⁇ m) as a barrier layer. (67 m, thickness about 8 um), that is, the quantum well layer is thinner than the semiconductor laser device in which the second quantum level is cut off, and therefore the second quantum level exists. I haven't.
  • the quantum well layer by setting the quantum well layer to such a thickness, low threshold carrier density and threshold current density are measured, and oscillation from the first quantum level is realized. I'll do it.
  • FIGS. 2 and 3 show the internal loss and the far-field angle (perpendicular to the stacking plane) of each semiconductor laser device having a different number of quantum well layers in the active layer, such as 1, 2, 3, and 5. The result of measuring the direction; is shown.
  • Figure 4 shows the quantum progression f of the oscillation: :::, if ⁇ ⁇ :-The semiconductor laser element in the form of a ⁇ type is the natural light emitted from the surface.
  • the measured result is shown c (1)
  • the resonator length in this case is 900 ym, and the threshold current is -27 mA.
  • the peak centered at the wavelength of 1.45 m has no emission peak on the longer wavelength side than this peak. It is clear that it is a place.
  • Figure 6 is electrically a first diffraction grating 2 8: - The element; for ', c the relationship between the number and the line width output product of the quantum well layer is shown
  • the line width output of the semiconductor laser device of the present invention having the number of quantum well layers of 2 and the resonator length of 450 wm is 3.5 MHz.
  • z ⁇ mW and the semiconductor laser device of the present invention having a quantum well layer number of 1 and a resonator length of 600 m, which corresponds to another example, has a line width output of 0.45 MHz.
  • the number of quantum well layers corresponding to the conventional example is 5
  • the resonator length is 300 wm
  • the line width is 10 MHz.
  • the semiconductor laser device having the quantity-3 ⁇ 4 3 ⁇ 4 ⁇ 1 or 2 is much higher than the others. -I can.
  • Table 1 shows the maximum output and the aspect ratio (ellipticity) of the output beam pattern for each semiconductor laser device having a resonator length of 1200 ⁇ m.
  • No. 1 is a semiconductor laser device having one quantum well layer (corresponding to the present invention)
  • 1 ⁇ 'o.2 is a semiconductor laser device having two quantum well layers (corresponding to the present invention)
  • X.3 is a semiconductor laser device having 5 quantum well layers (outside the present invention).
  • the X.o. 1 and -No. 2 have a higher maximum output due to a smaller light confinement coefficient than the No. 3 and have a higher power beam.
  • O emission pattern is also almost circular
  • the semiconductor laser devices of Xo.1 and Xo-2 have the more circular output pattern of the power beam, 1—The coupling efficiency with the fiber is improved.
  • each layer is in a lattice 7 ; matching state.
  • the typical lattice mismatch rate is 0 to 2%, or when a layer having a lattice mismatch rate of 0 to 2% is used for the quantum well layer, the spectrum! The purity is improved.
  • the thickness of the quantum well active layer is equal to or less than the critical film thickness.
  • a predetermined semiconductor layer including a quantum well layer composed of three layers of quantum dots, a barrier layer, and r:-(an active layer! And optical confinement layers above and below this layer)
  • the number of quantum well layers is 2 or 3 in the Nino well semiconductor laser device provided with, so that the internal loss can be reduced, the far-field angle can be reduced, and the optical confinement layer can be reduced. Is larger than the forbidden band width of the quantum valve layer by more than 160 meV, so that the threshold current density decreases and the quantum Since the thickness is in the range of 3 to 8 nm, the temperature of the oscillating wavelength:?: The first quantum having excellent persistence and light output dependence is emitted to increase the purity of the light; : Two to come
  • the outside of the optical confinement layer is: two, one.
  • the carrier is efficiently confined in the quantum well layer, and the oscillation in the first quantum quasi-state is stabilized.
  • the lattice mismatch ratio of the quantum well layer to the I ⁇ substrate is 0 to 2
  • the threshold current density can be further reduced, and the quantum efficiency can be further increased.
  • the quantum parallel semiconductor laser device when the cavity length is 900 m or more, the device resistance is reduced to 0, heat dissipation is improved, and high-output operation is ensured. Two things can be done.

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Description

明 細 書
量子井戸型半導体 レーザ素子
[技 術 の 分 野 ]
本発明は 1 . 3〜 1 . 6 w mの長波長帯で発振する こ とのでき る量子井戸型の半導体 レーザ素子に関する。
[背 景 技 術 ]
量子井戸構造をもつ半導体レーザ素子は、 ゥ結晶 の活性層を有する半導体 レーザ素子と比べて、 闘値電 密度が低 く 、 しかも、 量子弁戸層の数を減らす ;: と によ 、 内部損失が低減し、 遠視野角 ( ビームの広が ' 狭小化するな ど、 特性のよいものが得られる と期待さ ている:
量子井戸構造を もつ半導体 し 一 素ュ と て、 分布揚 還型にて単一縦モー ド動作する ものがあ 、 そ 一例 し て、 図 7 に示す構造と バ ン 卜 ギ ヤ ソ フ と を有す る も が知られている。
図 7 に示す半導体レーザ素子は、 n — I n P基板 1 上 において、 n — I n P ク ラ ッ ド層 2 、 ノ ン ド ー フ- (7) G a I n A s P閉 じ込め層 3 、 ノ ン ド ー ブの G a I n A s P 量子井戸層 5および G a I n A s P障壁層 6からなる多 重量子井戸層 4、 一次回折格子 8が刻まれた ノ ン ドーつ G G a l n A s P光閉 じ込め層 7 、 p — 】 n P ノ ト B 9 、 p — G a I n A s Γ コ ン 々 ゥ ト、 Ϊ に 、 ]■ - : P層 1 1 aおよび n — I n P罾 ] 1 b な J 込
1 1 が所定の箇所に形成さ 、 かつ、 基 S " m;: 一 η側電極 1 2 、 埋め込み層 1 1 の上面に ρ側電極 1 3か それぞれ設けられたものである。
図 7の半導体レーザ素子における各層の仕様はつぎの とお りである。
光閉じ込め層 3 ノ ' ン ドギ ヤ ッ プ波長 1
厚さ 1 2 0 0 A。
量子井戸層 5 ノ ン ド ギ ヤ ッ プ波長 1 7 a m .
厚さ 1 0 0 A。
障壁層 6 ノ ン ドギャ ッ ブ波長 1 S u m
厚さ 1 5 0 A。
光閉じ込め層 7 ノ'; ン ドギャ ッ プ波長 1 S u m
厚さ 1 2 0 0 A
一次回折格子 8 ピ ッ チ 2 4 0 0 A、 高さ 5 0 C) A : 量子井戸構造をもつ半導体レーザ素子に関 て、 の文献 1 には、 活性層の量子井戸層数を減らすこ と に り スぺク トル純度が改善される と報告されている。
文献 1 : IEEE, JOURNAL QUANTUM ELECTRONICS,
Vol. QE-21, No. 10, pp. 1666- 1674, 19 & n . しかし、 上述した構造の半導体レーザ素子において量 子井戸層数を 1 または 2 のよ う に減ら した場合、 光り閉 じ込め係数が小さ く なるために利得が小さ く なり、 発振 に必要な閾値キ ヤ リ ァ密度が高く なる。
二のよ う に、 長波長帯において発振閾優キ ' ' ' 密¾ が高い と きは、 ォージ ニ効吴または ίδ電子帯間吸 二 と き非発光メ カ ニ ズムによ り発光効 が惡く な 、 二:?. 一 一 に と もない、 発振閾値電流が大幅に上昇し た り 、 高キ ヤ リ ァ注入による第 2量子準位あるいは光閉 ヒ'込め層から の発振しか得られな く なる。
それゆえ、 既成の半導体レーザ素子において量子井戸 層数を減ら した と し て も、 スペク ト ル純度が改善されな い
これ以外の公知例と して、 下記の文献 2 には、 量子弁 戸層のノく ン ドギャ ッ プ波長力 1 . 6 7 m、 量子共 if 数が 4、 数量子井戸層の厚さ力 s 5 0〜 2 5 0 A、 G R I Γ\: 一 S C H層の各 -バ ン ド ギ ヤ ッ プ波長力 s 1 . 4 m、 1 . 3 3 ju m、 1 . 2 5 a m , 1 . 1 4 u m、 G R I X — (: }^層の厚さカ; 1 5 0〜 3 0 0 - 、 量子せ曰 罾 と G R I N — S C H最内層 と のノ; ン ト キ 'ノ マ差か 1 4 3 m e Vである半導体レーザ素子が開示されて ■る c 文献 2 : Appl . Phys. Lett. , Vol. 55, No. 22.
pp. 2283-2285, 1989.
この種の半導体 レーザ素子において、 第 1 量子準位て 発振させる ためには、 上記ノ; ' ン ド ギ ヤ 'ソ ブ差カ 1 6 0 m e V以上である こ と を要する力 文献 2 の半導体 レ ー ザ素子は、 その差力 s 1 4 3 m e Y と 小さいために第 2量
'子準位の発振と な り 、 閾値電流密度が高 く なる。
その他、 文献 2 には、 この種 O 導体 一ザ袤 部損失を低減し 、 遠視野角を狭 、 発^波長 ;1 特性を向上させるための技術開示か な , 一
[発 明 の 開 示]
本発明はこのよ うな技術的課題に鑑み、 閾値電流密度 の低下、 内部損失の低減、 遠視野角の狭小化などをはか るべく 、 量子井戸層の数を 1 または 2 に減らし た場合で も、 第 1 量子準位で発振するこ と のできる量子井戸型半 導体レーザ素子を提供し-よう とするものである。
本発明は所期の目的を達成するため、 I n P基板の上 に、 量子井戸層と障壁層とからなる活性層、 および、 言 活性層の上下にそれぞれ配置された光閉じ込め層を含む G a I n A s y P ( x ≥ 0 、 y ≤ 1 : 半導体 層が設けられた量子井戸型半導体レ ーザ素子において、 量子井戸層の数が 1 または 2 であ り、 光閉、二込め層の禁 制帯幅が量子井戸層の禁制帯幅よ 'リ も. 1 S O ni e "以丄 大き く 、 量子井戸層の厚さが 3 n m以上、 S n m以下て あるこ と を特徴とする。
上記において、 光閉じ込め層の外側に、 該光閉じ込め 層よ り も禁制帯幅の大きい I n P層が配置される こ とが あ ·©。 ―
上記における量子井戸層は、 I n P基板および/また は光閉じ込め層に対し、 0 〜 2 %の格子不整合率を有す るこ とが望ま し い。
さ らに、 上記における共振器長 、 0 ϋ u m以上て ある こ とが望ま し い。
本発明に係る量子井 5型半導体 一ザ素子 、 新し 実験的事実に基づいて、 上述し た - S C H構造 一 一 を採用 したこ と によ り 、 当該半導体レーザ素子の特性を 下記のごと く 改善し たものである。
その一つは、 量子井戸層の数を 1 または 2 と する 二 と によ り 、 内部損失が低減し 、 遠視野角が狭小化し 、 さ ら には、 スペク ト ル純度が高まる こ と である。
他の は、 光閉 じ込め層の禁制帯幅を量子井戸層の 禁制帯幅よ り も 1 6 0 m e \τ以上大き く し た こ と 、 すな わち、 量子井戸層 と G R I Ν — S C H最内層 と C ' ギャ ッ プ差が 1 6 0 m e V以上である レ 、 閾値 電流密度が低 く なる。
この値力 s 1 6 0 m e \'未満の場合は 量子 3警の厚 さ に関係な く 、 第 2 量子準位で発振し 閾値電^密度
Γ¾ ヽ な o
さ ら に、 他の一つは、 量子井戸層の厚さ 3 8 ΓΙ m の範囲内にあるため、 発振波長の温度依存性お 7C 力依存性に優れた第 1 量子準位で発振する こ と である。 量子井戸層の厚さが 3 n m未満である と 、 光閉 込 ί 層で発振し 、 量子井戸層の厚さが S n mを超過する と 、 第 2量子準位で発振する。
れらの特性は、 各層が格子整合し , 、ス - レ ! - ± て も成 り立つ。
特に、 I n P基板および Zま たは り 閉 込め層:二 : する量子 曰層の格子 ; 整合 ¾が 0 〜 2 ^ て: Γ . ヒ ^ 、 迕の諸特性だけでな く 、 閾値電^密度を : マ 'ί こ とがて き 、 量子効率をよ り高 る 二 と ^て き : - - 上記において、 光閉じ込め層の外側に、 これよ り も禁 制帯幅の大きい I n P層が配置されている と、 キヤ ア が効率よ く 量子井戸層内に閉じ込められ、 第 1 量子準位 での発振が安定する。
共振器長については、 量子井戸層の数を 1 または 2の と き、 9 0 0 rn程度で閾値電流が最低になるこ とが本 発明の実験で知得されてお り 、 共振器長が 9 0 0 m以 上であれば、 量子効率が高位に保持される。
しかも、 共振器長が 9 0 0 m以上である と、 素子 £ 抗が小さ く な り 、 熱放散性が改善されるので、 高出力 動作を確保する こ とができる。
し たがって、 共振器の長さは、 望ま し : i 9 0 0 π m 以上であるこ とを要するが、 実用に際し 支障なけ ί \ 9 0 0 以下の共振器長でも よい c
[ 図面の簡単な説明 ] 図 1 は本発明の一実施例に係る量子井戸型半導体レー ザ素子を これのバ ン ドギャ ッ プと共に示した切開斜視 図、 図 2 は半導体レーザの量子井戸層数と内部損-失と G 関係を示した図、 図 3 は半導体レーザの量子井戸層数と 違視野角 との関係を示した図、 図 4は波長と発光強度と の関係を示した図、 図 5は発振波長と温度との関係を示 し た図、 図 6 は半導体し 一ザの量 ぉ曰層 ¾と線幅岀 7; 積と Q関係を示し た区、 ;¾ 7 は従来^ ::: ^る量ュ 半導体レーザ素子をこれ G バ ニ- 卜 キ 、、' つ と ^に し Γ": 切開斜視図である。 -
[発明を実施するための最良の形態 ] 本発明に係る量子井戸型半導体 レーザ素子と て E 1 に例示し たものは、 つぎのよ う な構成を有し て 、る - すなわち、 図 1 の半導体レーザ素子は、 n — I n P基 板 2 1 上において、 η — I η Ρ .クラ ッ ド層 2 2 、 禁制帯 幅が階段状に変化する ノ ン ド --ブの G a I n A s P光閉 じ込め層 2 3 、 ノ ン ドープの G a I n A s P量子井戸層 2 5 と G a I n A s P障壁層 2 6 とからなる多重量子≠ 戸層 2 4 、 禁制帯幅が階段状に変化する ノ ン ド ー フ C G a I n A s P光閉じ込め層 2 7 、 該光閉 込め層 2 7 上に刻まれた一次回折格子 2 8 、 ρ - I η Γ ラ ': / 卜層 2 9 、 p — G a I n A s P コ ン 夕 卜 層 3 ' 、 - I P層 3 1 a と n — 1 n P層 3 1 b とか 埕 .込み罾 3 1 が所定の箇所に形成されている と と も :::、 基板 2 】 の下面に n側電極 3 2 、 埋め込み層 3 二面に p i ^電 極 3 3がそれぞれ設けられた ものである。
図 1 の半導体 レーザ素子における各層の仕様はつぎの とお り である。 ·
ノ ン ド一プの G a I n A s P光閉じ込め層 2 3 は、 階 段状に変化する各禁制帯幅が、 バ ン ド ギ ャ ッ プ波長の換 算値に して、 それぞれ 】 . 3 y m、 1 . 2 i m、 1 . 】 u m , 1 . 0 5 u mであ り 、 厚さ 3 (J (' Λ てある
ノ ン ド ーマの G a I η A s P量 ^: !? 2 : 、 'ペ- ド ギ ャ ッ プ波長力 s 1 . 6 7 u mで あ 、 さ 5 0 A て あ o 一 一
G a l n A s P障壁層 2 6 は、 バン ドギャ ッ プ波長か 1 . 3 mであ り 、 厚さ力; 1 0 0 Aである。
ノ ン ド一プの G a I n A s P光閉じ込め層 2 7 も、 階 段状に変化する各禁制帯幅が、 バン ドギヤ ッ プ波長の換 算値にして、 それぞれ 1 . 3 μ m , 1 . 2 u m、 1 . 1 m、 1 . 0 5 X mであ り 、 厚さ力 3 0 0 Aである。
—次回折格子 2 8は、 これの ピ ッ チが 2 4 0 0 A以下 であ り 、 これの高さが 5 0 0 A以下である。
光閉 じ込め層 2 7には、 このよ う な一次回折格子 2 δ がない場合もある。
上記においては、 光閉 ヒ 込め層 _ 2 3 、 2 7 などを含む G R I Ν— S C Η領域の組成 と し て、 これらが階段状に 変化する例を示し たが、 かかる領域の組成が連続的に変 ィヒする場合も ある。
図 1 に例示し た半導体 レ ーザ素子は、 一例 と し て、 下のよ う に作製される。
第 1 回 目 の M 〇 C V D法において、 n — I n P基板 2 1 上に、 n — I n P ク ラ ッ ド層 2 2 、 ノ ン 卜 一ブの G a l n A s P光閉じ込め層 2 3 、 多重量子井戸層 2 4 ( =ソ ン ドープの G a I n A s P量子井戸層 2 5 + G a
I n A s P P章壁層 2 6 ) 、. ノ ン ド 一プの G a l n A s P 光閉ヒ'込め層 2 7を連続し て堆積成長させる。
つぎに、 上記光閉じ込め響 2 7上に、 二 東エ渉露 法によ り 作製し た一次回折格子 2 80パ 々一 ン を、 化学 エ ツ チ ン グ法で転写する。 - - 第 2 回 目 の M 0 C V D法において、 n - I n P基板 2 1 の積層構造上に p — I n P ク ラ ッ ド層 2 9 、 マ セ ス用の G a I n A s P層を堆積成長させる。
その後、 公知ないし周知のフ ォ ト リ ソ グラ フ ィ 法と 化 学エ ッ チ ング法と を用いて、 光閉 じ込め層 2 7 を含む部 分に活性層幅約 2 mの垂直メサを形成する。
第 3 回目の M 0 C V D法において、 活性層を含む部分 の両側に、 S i 0 2 膜によ る埋め込み層 3 1 を選択成長 させる。
その後、 S i 0 2 膜、 プロセス闬の G a I n A s P層 を取 り 除き、 平滑化のための第 4 回目の M 0 C ' D ¾:ニ おいて、 p — I n P ク ラ 、、ノ ド層 2 9 、 - G a I n Λ s P コ ン タ ク 卜層 3 0 を n — I n P基板 2 1 G積層構造丄 に堆積成長させる。
以下は、 慣用の手段を介 し て基板 2 1 の下面に n側電 極 3 2 、 埋め込み層 3 1 の上面に P側電極 3 3 をそれぞ れ設け、 当該積層構造物を レーザチ ッ プに劈開 し て、 f 要の半導体レーザ素子を得る。
このよ う に し て所定の半導体レーザ素子を作製する と き、 光閉 じ込め層 2 3 、 多重量子井戸層 2 4 f 量子井戸 '層 2 5 、 障壁層 2 6 ) 、 一次回折格子 2 8 をもつ光閉 じ 込め層 2 7 な どについては、 既述の辻様を ; 足させる。
上述 し た実施例の場合、 量 共 2 、 量 曰層の厚さか' 7 n mである半導体 レ ー 素ェが 示さ ている。 — かかる半導体レーザ素子は、 G a I n A s P ( バ ン ド ギャ ッ プ波長 1 . 3 μ m ) を障壁層とする G a I n A s 量子井戸層 ( バ ン ドギャ ッ プ波長 1 . 6 7 m、 厚さ約 8 u m ) をもつもの、 すなわち、 第 2量子準位がカ ツ 卜 オフ となる半導体レーザ素子よ り も量子井戸層が薄く 、 したがって、 第 2量子準位は存在していない。
本発明に係る半導体レーザ素子は、 量子井戸層をこの よう な厚さ とするこ と によ り 、 低閾値キ ャ リ ア密度、 閾値電流密度をはかり 、 第 1 量子準位からの発振を実現 してレヽる。
これは、 量子井戸層の数を 1 にし た場合でも、 同 て ある。
本発明に係る半導体レーザ素子の特性を確認し た際 測定結果について、 図 2〜図 6 、 および、 表 1 を参照 て説明する。
図 2 、 図 3 には、 活性層の量子井戸層数が 1 、 2 、 3 、 5のよ う に異なる各半導体レーザ素子において、 こ れらの内部損失および遠視野角 (積層面に垂直な方向; を測定した結果が示されている。
これらの図から明らかなよう に、 量子井戸層数が 1 、
2のものは、 該量子井戸層数が 3 、 5のものよ り も、 内 部損失が低く 、 遠視野角も小さい。
図 4 には、 発振の量子進 fさを確認するたも:::、 if ί ·:- み型と し た半導体レ ーザ素子〇表面から発する自然 ¾二 光のスへク ト ルを測定した結杲が示されている c 一 この場合の共振器長は 9 0 0 y mであ り 、 閾値電流は- 2 7 m Aである。
図 4 を参照し て明らかなよ う に、 1 . 4 5 mの波長 を中心と する ピークは、 この ピー ク よ り も長波長側に発 光ピークが存在しないこ とから、 第 1 量子準位である こ とがわカゝる。
'量子井戸層の厚さを変えてこのスぺク 卜 儿 を測定し た と こ ろ、 図 5 に示すよ う に、 量子井戸層の厚さが 3 0 〜 8 〇 Aの範囲内において、 温度変化に影響されな '、 '、 か つ 、 安定した第 1 量子準位の発振波長が得られた。
なお、 以上に述ベた ものは、 一次回折格子 2 S のな . 半導体 レーザ素子の測定結果である。
図 6 には、 一次回折格子 2 8 のある 導 : —ザ素;' について、 量子井戸層の数と線幅出力積 との関係が示さ れている c
図 6 を参照して明らかなよ う に、 本発明半導体 レ一ザ 素子の一例に該当する量子井戸層数 2 、 共振器長 4 5 0 w mの も のは、 線幅出力が 3 . 5 M H z · m W、 さ ら に、 本発明半導体 レーザ素子の他の一例に該当する量子 井戸層数 1 、 共振器長 6 0 0 mのものは、 線幅出力が 0 . 4 5 M H z · m Wであるのに対し 、 従来例に該当す る量子井戸層数 5 、 共振器長 3 0 0 w m も 7.、 線幅 出力カ 1 0 M H z · m V;である
この結果から理解される よ う 、 量 - ¾ ¾ ^ 1 ま たは 2 の半導体 レーザ素子は、 スへ 々 ^度 高い と - いえる。
表 1 は、 共振器長が 1 2 0 0 μ mである各半導体し ザ素子について、 これらの最高出力と出射ビームパ夕 ンのアスペク ト比 (楕円率) とを示している。
表 1
Figure imgf000014_0001
表 1 中、 N o . 1 は量子井戸層の数が 1 の半導体レー ザ素子 (本発明に該当) 、 1\' o . 2 は量子井戸層の数が 2の半導体レーザ素子 (本発明に該当) 、 X o . 3 は量 子井戸層の数が 5 の半導体 レーザ素子 (本発明外のも の) である。
表 1 を参照して明らかなよう に、 X o . 1 , -N o . 2 のものは、 N o . 3のものと比べ、 光り閉じ込め係数が 小さいために最高出力が大き く 、 力 ビー ム O出射パ タ一ン もほぼ円形である
特に、 X o . 1 、 X o - 2 の半導体レーザ素子は、 力ビームの出射パターンがよ り円 である点て、 一 — ィ バと の結合効率が高ま る。
上述し た実施例の半導体 レ ーザ素子は、 各層が格子 7; 整合の状態にある。
これに関 し ては、 I n P基板および/または光 り 閉 I: 込め層 と 、 G a x I n い x A s y P ュ - y f x ≥ 0 y ≤ 1 ) 量子井戸層 との相対的な格子不整合率が 0 〜 2 %で ある と き、 ま たは、 当該量子井曰層に対し 、 0 〜 2 % 格子不整合率を もつ層を用いて も 、 ス ぺ ク ト !し純度が 上する。
もちろん、 この場合、 量子井戸活性層の厚さは臨界膜 厚以下である。
[産業上の利用可能 ¾:
本発明の場合、 基板の上に、 量子共 3層 と 障壁看 と r: - らなる多重量子井戸層 (活性層 ! と 、 これの上下にあ 光閉 じ込め層 と を含む所定の半導体層が設け られた量ニノ 井戸型半導体 レーザ素子において、 量子井戸層の数が ] または 2 である こ と によ り 、 内部損失の低減、 遠視野角 の狭小化がはかれ、 光閉 じ込め層の禁制帯幅が量子弁 層の禁制帯幅よ り も 1 6 0 m e V以上大 き '、 ' こ と に よ Ό 、 闘値電流密度が低く な り 、 さ らに、 量子弁戸層の厚 さが 3 〜 8 n mの範囲内にあるから、 発振波長の温度 ί?:: 存性および光出力依存性に優れた第 1 量子進 て発 mさ せて、 ス ト ル 純度を高める ;: と てき る二
本発明に係る量子 半導 fe 一ザ素子に ' て、 光閉 し 込め層〇外側 :二 、 こ よ 1禁 蒂 *| . 丁、 き 一 - i
δ I n P層が配置されている と、 キャ リ アが効率よ く 量子 井戸層内に閉じ込められ、 第 1 量子準 ί立での発振が安定 する。
本発明に係る量子井戸型半導体レーザ素子において、 I η Ρ基板に対する量子井戸層の格子不整合率が 0 〜 2
%である と き、 閾値電流密度をよ り低下する こ とがで き、 量子効率をよ り高めるこ とができる。
本発明に係る量子并戸型半導体レーザ素子において、 共振器長が 9 0 0 m以上である と、 素子抵抗が さ ; 0 な り 、 .熱放散性も改善され、 高出力の動作を確保する 二 とができる。
20

Claims

- ί δ 請 求 の 範 囲
1 . I η Ρ基板の上に、 量子井芦層 と障壁層 とからなる 活性層、 お よ び、 該活性層の上下にそれぞれ配置さ れた光閉 じ込め層を含む G a I η , A s , P , - .ν ( χ≥ 0 、 y ≤ 1 ) 半導体層が設けられた量子井 ¾ 半導体レーザ素子において、 量子井戸層の数が 1 また は 2 であ り 、 光閉 じ込め層の禁制帯幅が量子井戸層の 禁制帯幅よ り も 1 6 0 m e \'以上大き : 、 量子 5層 の厚さが 3 n m以上、 8 n m以下である ;: と を特徴 と
1 0 する量子井戸型半導体 レーザ素子 c
2 . 光閉 じ込め層の外側に、 該光閉 込め層よ も禁 帯幅の大き い I n P 層が配置されている請求の W 1 記載の量子井戸型半導体 レ 一ザ素
3 . 量子井戸層が、 I n P基板およ / ま たは り 閉 込め層に対し、 0 〜 2 %の格子不整合率を有する請求 の範囲 1 ま たは 2 記載の量子井戸型半導体 レーザ素 子。
4 . 共振器長が 9 0 0 m以上である請求の範囲 1 ない し 3 いずれかに記載の量子井 型半導体 レーザ素子。
2 0
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