TWM662233U - 採用負壓式接點對位之電子測試裝置 - Google Patents

Abstract

一種採用負壓式接點對位之電子測試裝置包含一測試台、一電路載板、一環狀彈性結構、一探針模塊及一氣道組。電路載板承載並電連接一待側物。環狀彈性結構具可壓縮性，夾合於測試台與電路載板之間，使得環狀彈性結構之內部空間於測試台與電路載板之間成為密閉狀。探針模塊位於測試台上，且部分地伸入內部空間，且連接電路載板。氣道組位於測試台上，且接通內部空間。當透過氣道組對內部空間抽真空，從而帶動電路載板朝測試台壓縮環狀彈性結構及內部空間時，電路載板壓合且電連接探針模塊。

Description

採用負壓式接點對位之電子測試裝置

本創作有關於一種電子測試裝置，且特別是關於一種採用負壓式接點對位之電子測試裝置。

傳統測試裝置包含工作模組及檢測載板。檢測載板覆蓋於工作模組上之探針頭，並由探針頭之數個探針分別觸接檢測載板之各個導電接點。故，工作模組得以透過探針頭分別傳遞檢測訊號至檢測載板上之待測物，從而進行相關之電檢測工作。

然而，由於檢測載板之面積相當龐大，且探針頭的所有探針相當精密，光憑習知方式無法讓檢測載板全面且確實地垂直下降，從而精準地完成探針頭之探針與檢測載板之導電接點的對位，導致測試性能的失準。

由此可見，上述技術顯然仍存在不便與缺陷，而有待加以進一步改良。

本創作提出一種採用負壓式接點對位之電子測試裝置，用以解決先前技術的問題。

依據本創作之一實施方式，一種採用負壓式接點對位之電子測試裝置包含一測試台、一電路載板、一環狀彈性結構、至少一探針模塊及一氣道組。電路載板承載並電連接一待側物。環狀彈性結構具可壓縮性，夾合於測試台與電路載板之間，使得環狀彈性結構之內部空間於測試台與電路載板之間成為密閉狀。探針模塊位於測試台上，且部分地伸入內部空間，且連接電路載板。氣道組位於測試台上，且接通內部空間。當透過氣道組對內部空間抽真空，從而帶動電路載板朝測試台壓縮環狀彈性結構及內部空間時，電路載板壓合且電連接探針模塊。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，環狀彈性結構包含一中介板、一彈性氣密環及多個真空通道。中介板介於測試台與電路載板之間，且位於內部空間內。彈性氣密環圍繞出內部空間，圍繞且固定連接中介板，夾合於測試台與電路載板之間，以致電路載板、中介板與彈性氣密環共同定義出第一氣隙，且測試台與中介板共同定義出至少一第二氣隙，且第二氣隙接通氣道組。這些真空通道分布於中介板上，且分別接通第一氣隙與第二氣隙。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，第一氣隙大於第二氣隙。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，這些真空通道間隔地圍繞探針模塊。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，中介板之外側邊直接連接彈性氣密環之內側壁，且介於彈性氣密環之一上側面與一下側面之間。內側壁之上側面可移除地觸接電路載板，內側壁之下側面固定觸接測試台。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，測試台包含至少一放置開口，探針模塊插設於放置開口內。探針模塊更具有一氣密套環，氣密套環圍繞地套設於探針模塊之外表面，且夾合於探針模塊與測試台之間，用以阻隔第二氣隙與放置開口之連通。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，環狀彈性結構包含至少一貫孔。貫孔貫設於中介板上，連接中介板之二相對面，且對齊放置開口。探針模塊同時插設於貫孔與放置開口內。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，中介板相對電路載板之一面具有一外凸緣與至少一環狀凸緣。中介板之外側邊連接外凸緣，且環狀凸緣沿著貫孔之輪廓圍繞，並且第二氣隙成形於外凸緣與環狀凸緣之間。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，探針模塊包含一模塊本體與多個壓縮探針。這些壓縮探針分別可按壓地設於模塊本體之端面。電路載板包含一配線板及多個接點。配線板放置於彈性氣密環上，這些接點分布於配線板之底面。當電路載板垂直壓迫探針模塊時，這些接點分別將這些壓縮探針壓入模塊本體，且電性觸接這些壓縮探針。

依據本創作一或複數個實施例，在上述之電子測試裝置中，每個壓縮探針具有一壓縮行程，壓縮行程之長度與第一氣隙之高度相同。

如此，透過以上架構，本創作之採用負壓式接點對位之電子測試裝置能夠使檢測載板準確且平整地垂直下降，從而精準地完成探針頭之探針與檢測載板之導電接點的對位，提高測試性能的準確性。

以上所述僅係用以闡述本創作所欲解決的問題、解決問題的技術手段、及其產生的功效等等，本創作之具體細節將在下文的實施方式及相關圖式中詳細介紹。

以下將以圖式揭露本創作之複數實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，熟悉本領域之技術人員應當瞭解到，在部分實施方式中，這些實務上的細節並非必要的，因此不應用以限制本創作。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之。另外，為了便於讀者觀看，圖式中各元件的尺寸並非依實際比例繪示。

第1圖為本創作一實施例之採用負壓式接點對位之電子測試裝置10的剖面示意圖及其區域M之局部放大圖。第2圖為第1圖之電子測試裝置10的分解圖。第3圖為第1圖之環狀彈性結構300及探針模塊400的上視圖。

在本實施例中，如第1圖與第2圖所示，電子測試裝置10包含一測試台100、一電路載板200、一環狀彈性結構300、多個探針模塊400及一氣道組500。電路載板200用以承載並電連接一待側物(例如電子元件，圖中未示)。環狀彈性結構300具可壓縮性，且完全圍繞出一內部空間324。環狀彈性結構300被夾合於測試台100與電路載板200之間，使得內部空間324在測試台100與電路載板200之間共同成為密閉狀。此些探針模塊400分別位於測試台100上，且從測試台100部分地伸入內部空間324，且連接電路載板200。氣道組500位於測試台100上，且接通內部空間324。

更具體地，在本實施例中，如第1圖與第2圖所示，測試台100包含一底座110與多個放置開口120。底座110內部以供容納能夠測試待側物之測試模組(圖中未示)等等。這些放置開口120間隔地位於底座110之頂部111，且分別接通底座110內部。每個探針模塊400之一部分插設於其中一放置開口120內，且電連接底座110內部之測試模組，其餘並從對應之放置開口120伸出。

電路載板200包含一配線板210與多個接點220。配線板210具有彼此相對之一頂面211與一底面212，這些接點220分布於配線板210之底面212，待側物放置於頂面211，且透過配線板210電性導通這些接點220。

環狀彈性結構300包含一中介板310、一彈性氣密環320與多個真空通道340。彈性氣密環320圍繞出所述內部空間324，中介板310位於所述內部空間324內，且介於測試台100與電路載板200之間。

更詳細地，中介板310呈平板狀，沿XY軸方向延伸，包含彼此相對之第一面311與第二面312，其中第一面311面向電路載板200，且第二面312面向測試台100，且與底座110之頂部111保持分離。在本實施例中，中介板310為玻璃纖維板，然而，本創作不限於此。

彈性氣密環320圍繞且固定地連接中介板310。更詳細地，中介板310之外側邊313直接固定地連接彈性氣密環320之內側壁321，且介於彈性氣密環320之上側面322與下側面323之間。彈性氣密環320在Z軸上直接受夾合於測試台100與電路載板200之間，使得配線板210之底面212、中介板310之第一面311與彈性氣密環320共同定義出一第一氣隙S1，以及底座110之頂部111、中介板310之第二面312與彈性氣密環320共同定義出一第二氣隙S2。

在本實施例中，更具體地，彈性氣密環320之上側面322可移除地觸接電路載板200之配線板210，且下側面323固定連接測試台100之底座110，配線板210位於第一氣隙S1與第二氣隙S2之間，且第一氣隙S1之尺寸大於第二氣隙S2之尺寸，然而，本創作不限於此。在本實施例中，彈性氣密環320為橡膠或矽膠產品，且彈性氣密環320之內部呈中空狀，然而，本創作不限於此。

這些真空通道340均勻分布於中介板310上(第3圖)，且每個真空通道340之兩端分別連接中介板310之第一面311與第二面312，且分別接通第一氣隙S1與第二氣隙S2。在本實施例中，這些真空通道340間隔地圍繞探針模塊400(第3圖)，然而，本創作不限於此。須了解到，當這些真空通道340於中介板310上之數量與密度越高，電路載板200便能更準確且平整地垂直下降，從而實現更精準地完成這些壓縮探針420與接點220的對位。

此外，環狀彈性結構300更包含多個貫孔330。這些貫孔330間隔地開設於中介板310上，分別對齊且接通此些放置開口120。每個貫孔330貫設於中介板310上，且分別連接中介板310之第一面311與第二面312。

在本實施例中，每個探針模塊400同時插設於彼此對應之貫孔330與放置開口120內，亦即，每個探針模塊400之另部分穿過貫孔330，且繼續從中介板310之第一面311伸自電路載板200之底面212。更進一步地，探針模塊400包含一模塊本體410與多個壓縮探針420，這些壓縮探針420分別可按壓地設於模塊本體410之端面412，每個壓縮探針420之一端直接觸接電路載板200之其中一接點220。

在本實施例中，探針模塊400更具有多個氣密套環430。每個氣密套環430圍繞地套設於探針模塊400之模塊本體410之外表面411。當模塊本體410插入對應之放置開口120時，氣密套環430被氣密地夾合於模塊本體410與測試台100之間，以供阻隔第二氣隙S2與放置開口120之連通。

氣道組500包含至少一集合通道510與多個分流通道520。此些分流通道520間隔分布於測試台100之底座110內，每個分流通道520之一端接通第二氣隙S2，其另端連接集合通道510，集合通道510遠離第二氣隙S2之一端連接真空產生裝置600。如此，真空產生裝置600能夠連通氣道組500、第二氣隙S2、真空通道340及第一氣隙S1。在本實施例中，氣道組500之集合通道510與分流通道520共同為整體之管體，或者為測試台100內之通氣溝槽，然而，本創作不限於此。

第4圖為第1圖之電子測試裝置10的操作示意圖。如第1圖與第4圖所示，如此，當啟動真空產生裝置600，使得真空產生裝置600透過氣道組500對內部空間324(意即第二氣隙S2、真空通道340及第一氣隙S1)抽真空時，第一氣隙S1內之空氣開始從所有之真空通道340匯集至第二氣隙S2內，接著經由氣道組500被傳送至真空產生裝置600，從而讓內部空間324內產生負壓。

如此，由於內部空間324內產生負壓的緣故，真空產生裝置600之吸力迫使電路載板200沿Z軸朝測試台100之方向D垂直移動，從而垂直地壓縮第一氣隙S1及環狀彈性結構300。故，電路載板200開始向下壓合探針模塊400，並且分別電連接探針模塊400。

更進一步地，當內部空間324被抽真空時，電路載板200之此些接點220分別將對應之壓縮探針420之全部或至少部分地壓入模塊本體410內，從而電性觸接此些壓縮探針420。

在本實施例中，舉例來說，每個壓縮探針420具有一壓縮行程(參考高度H)，此壓縮行程之長度與第一氣隙S1之高度H相同，亦即，當電路載板200之接點220將壓縮探針420之全部壓入模塊本體410時，電路載板200之底面212直接貼合至中介板310之第一面311。

第5圖為本創作一實施例之採用負壓式接點對位之電子測試裝置11的剖面示意圖。第6圖為第5圖沿線段AA方向觀看之示意圖。如第5圖與第6圖所示，此實施例之電子測試裝置11與上述實施例之電子測試裝置10大致相同，其差異在於，若環狀彈性結構301及電路載板200為大面積尺寸產品而從其中央處產生凹陷時，中介板310之第二面312得以部分接觸底座110之頂部111，以強化測試台100對環狀彈性結構301及電路載板200之支撐強度。

更具體地，中介板310之第二面312具有一外凸緣314與多個環狀凸緣315。中介板310之外側邊313連接外凸緣314，且外凸緣314完全圍繞這些環狀凸緣315。每個環狀凸緣315沿著貫孔330之輪廓完全圍繞。故，底座110、中介板310、外凸緣314與此些環狀凸緣315共同定義出所述第二氣隙S3，且第二氣隙S3成形於外凸緣314與環狀凸緣315之間(第6圖)。

然而，本創作不限於此，在其他實施例中，本創作所屬領域具有通常知識者亦可以在不同設計下，讓底座110、中介板310、外凸緣314與此些環狀凸緣315共同定義出多個彼此隔離之第二氣隙S3，且每個第二氣隙S3接通其中一分流通道520及數個真空通道340。

然而，本創作不限於上述之探針模塊、第二氣隙、放置開口、貫孔及環狀凸緣之數量，在其他實施例中，上述之探針模塊、第二氣隙、放置開口、貫孔及環狀凸緣亦可能為單一個。

如此，透過以上架構，本創作之採用負壓式接點對位之電子測試裝置能夠使檢測載板準確且平整地垂直下降，從而精準地完成電子測試裝置與檢測載板的對位，提高測試性能的準確性。

最後，上述所揭露之各實施例中，並非用以限定本創作，任何熟習此技藝者，在不脫離本創作之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，皆可被保護於本創作中。因此本創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10,11:電子測試裝置 100:測試台 110:底座 111:頂部 120:放置開口 200:電路載板 210:配線板 211:頂面 212:底面 220:接點 300,301:環狀彈性結構 310:中介板 311:第一面 312:第二面 313:外側邊 314:外凸緣 315:環狀凸緣 320:彈性氣密環 321:內側壁 322:上側面 323:下側面 324:內部空間 330:貫孔 340:真空通道 400:探針模塊 410:模塊本體 411:外表面 412:端面 420:壓縮探針 430:氣密套環 500:氣道組 510:集合通道 520:分流通道 600:真空產生裝置 AA:線段 D:方向 M:區域 S1:第一氣隙 S2、S3:第二氣隙 H:高度 X,Y,Z:軸

為讓本創作之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下： 第1圖為本創作一實施例之採用負壓式接點對位之電子測試裝置的剖面示意圖及其區域M之局部放大圖。 第2圖為第1圖之電子測試裝置的分解圖。 第3圖為第1圖之環狀彈性結構及探針模塊的上視圖。 第4圖為第1圖之電子測試裝置的操作示意圖。 第5圖為本創作一實施例之採用負壓式接點對位之電子測試裝置的剖面示意圖。 第6圖為第5圖沿線段AA方向觀看之示意圖。

10:電子測試裝置

100:測試台

110:底座

120:放置開口

200:電路載板

210:配線板

220:接點

300:環狀彈性結構

310:中介板

320:彈性氣密環

321:內側壁

324:內部空間

330:貫孔

340:真空通道

400:探針模塊

430:氣密套環

500:氣道組

520:分流通道

600:真空產生裝置

M:區域

S1:第一氣隙

S2:第二氣隙

H:高度

X,Y,Z:軸

Claims (10)

1. 一種採用負壓式接點對位之電子測試裝置，包含： 一測試台； 一電路載板，用以承載並電連接一待側物； 一環狀彈性結構，夾合於該測試台與該電路載板之間，使得該環狀彈性結構所圍成之一內部空間於該測試台與該電路載板之間成為密閉狀； 至少一探針模塊，位於該測試台上，且部分地伸入該內部空間；以及 一氣道組，位於該測試台上，且接通該內部空間， 其中當透過該氣道組對該內部空間抽真空，從而帶動該電路載板朝該測試台壓縮該環狀彈性結構及該內部空間時，該電路載板壓合且電連接該探針模塊。
2. 如請求項1所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該環狀彈性結構包含： 一中介板，介於該測試台與該電路載板之間，且位於該內部空間內； 一彈性氣密環，圍繞出該內部空間，圍繞且固定連接該中介板，夾合於該測試台與該電路載板之間，以致該電路載板、該中介板與該彈性氣密環共同定義出一第一氣隙，且該測試台與該中介板共同定義出至少一第二氣隙，且該第二氣隙接通該氣道組；以及 複數個真空通道，分布於該中介板上，且分別接通該第一氣隙與該第二氣隙。
3. 如請求項2所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該第一氣隙大於該第二氣隙。
4. 如請求項2所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該些真空通道間隔地圍繞該探針模塊。
5. 如請求項2所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該中介板之外側邊直接連接該彈性氣密環之一內側壁，且介於該彈性氣密環之一上側面與一下側面之間， 其中該內側壁之該上側面可移除地觸接該電路載板，該內側壁之該下側面固定觸接該測試台。
6. 如請求項2所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該測試台包含至少一放置開口，該探針模塊插設於該放置開口內；以及 該探針模塊更具有一氣密套環，該氣密套環圍繞地套設於該探針模塊之外表面，且夾合於該探針模塊與該測試台之間，用以阻隔該第二氣隙與該放置開口之連通。
7. 如請求項6所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該環狀彈性結構包含： 至少一貫孔，貫設於該中介板上，連接該中介板之二相對面，且對齊該放置開口，其中該探針模塊同時插設於該貫孔與該放置開口內。
8. 如請求項7所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該中介板相對該電路載板之一面具有一外凸緣與至少一環狀凸緣，該中介板之外側邊連接該外凸緣，且該環狀凸緣沿著該貫孔之輪廓圍繞，其中該第二氣隙成形於該外凸緣與該環狀凸緣之間。
9. 如請求項2所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該探針模塊包含一模塊本體與複數個壓縮探針，該些壓縮探針分別可按壓地設於該模塊本體之端面；以及 該電路載板包含一配線板及複數個接點，該配線板放置於該彈性氣密環上，該些接點分布於該配線板之底面， 其中當該電路載板垂直壓迫該探針模塊時，該些接點分別將該些壓縮探針壓入該模塊本體，且電性觸接該些壓縮探針。
10. 如請求項9所述之採用負壓式接點對位之電子測試裝置，其中該些壓縮探針中每一者具有一壓縮行程，該壓縮行程之一長度與該第一氣隙之一高度相同。

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