TWI909880B - 測試作業機 - Google Patents

Abstract

一種測試作業機，包含測試裝置、輸送裝置、供料裝置、收料裝置、移料裝置及中央控制裝置，測試裝置之複數層測試室配置測試器以供測試電子元件 ，輸送裝置之移動架能夠沿輸送路徑承載供料裝置、收料裝置及移料裝置同步位移至測試裝置之一方，移料裝置之移料器獨立作複數個方向位移，以利迅速於供料裝置、收料裝置及測試裝置間移載待測/已測之電子元件；藉以有效縮減供料/收料之移料行程及輕量化迅速位移取放料，進而提高測試產能。

Description

測試作業機

本發明提供一種有效縮減供料/收料之移料行程及輕量化迅速位移取放料，進而提高測試產能之測試作業機。

在現今，電子元件測試作業機於機台之前段部固設供料裝置及收料裝置，並於機台之後段部固設測試裝置，測試裝置設有複數層測試室，以供配置測試器而測試電子元件，測試作業機另於機台配置移料裝置，移料裝置之移料器作X-Y-Z方向位移至機台之前段部，而於供料裝置取出待測之電子元件 ，再作X-Y方向位移將待測電子元件移載至機台之後段部的測試裝置一方，由於測試裝置具有複數層測試室，移料器依作業需求，作Z方向位移至各層之測試室，而將待測電子元件移入測試室之測試器，並將已測之電子元件作X-Y-Z方向位移移載至位於機台前段部的收料裝置收置；惟，供料裝置及收料裝置均固設於機台之前段部，導致移料器必須作相當長之X-Y-Z方向位移行程往返於不同高度之各層測試室及供料裝置、收料裝置間執行取出或置放電子元件之作業，以致相當耗費移料時間，因而無法有效提高測試產能。

本發明之目的一，提供一種測試作業機，包含測試裝置、輸送裝置、供料裝置、收料裝置、移料裝置及中央控制裝置，測試裝置設有複數層測試室，各測試室配置至少一測試器，以供測試電子元件；輸送裝置設有可作至少一方向位移之移動架，移動架能夠沿輸送路徑相對測試裝置位移；供料裝置裝配於輸送裝置之移動架，並設有供料器，以供承置待測之電子元件；收料裝置裝配於輸送裝置之移動架，並設有收料器，以供承置已測之電子元件；移料裝置裝配於輸送裝置之移動架，並設有移料器，以供於測試裝置、供料裝置及收料裝置間移載電子元件；藉以，輸送裝置承載供料裝置、收料裝置及移料裝置同步位移至測試裝置之一方，以有效縮短移料行程及移料時間，進而提高測試產能。

本發明之目的二，提供一種測試作業機，其供料裝置及收料裝置配置於移動架，移料裝置配置複數個移料驅動器以驅動該移料器獨立作複數個方向位移，毋需承載供料裝置及收料裝置同步作Z方向位移，不僅可減輕移料驅動器之負荷而節省能源成本，更可使移料器迅速往返位移於各層測試室、供料裝置及收料裝置之間，進而提高移料效能。

本發明之目的三，提供一種測試作業機，其供料裝置、收料裝置及移料裝置配置於移動架而可同步位移，移料裝置之移料器能夠縮短收料位移行程而直接將已測之電子元件收置於收料裝置，以有效縮減收料作動時序，進而提高測試產能。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱圖1～4，本發明測試作業機包含至少一測試裝置10、輸送裝置20、供料裝置30、收料裝置40、移料裝置50及中央控制裝置(圖未示出)，中央控制裝置以控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。

至少一測試裝置10設有複數層測試室，測試室配置至少一測試器 ，以供測試電子元件。

承上述，測試器能夠固定式或可移動式配置於測試室。例如測試器固定配置於測試室，移料裝置50之移料器朝向測試器位移而取放電子元件 。例如測試裝置10配置至少一載板，載板能夠承載測試器移入或移出測試室 ，以供移料器取放電子元件。亦或測試器與移料器作相對位移，不受限於本實施例。

承上述，測試裝置10包含測試器及壓接器，壓接器可作第一方向(如Z方向)位移及測試器可作第二方向(如X方向)位移；例如壓接器相對測試器作Z方向位移時，壓接器可壓接測試器之電子元件；例如測試器相對壓接器作X方向位移時，測試器能夠遠離壓接器，以供移料裝置50移入或移出電子元件。

於本實施例，至少一測試裝置10包含複數個呈相對配置之測試裝置10，測試裝置10包含機架11、至少一載板12、至少一測試器13及至少一壓接器14。

機架11呈立式之第一方向(如Z方向)配置，並設有複數層測試室15，各測試室15配置可作第二方向(如X方向)位移之載板12，載板12由第一測試驅動器121驅動位移，第一測試驅動器121可為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組，至少一傳動組可為皮帶輪組或螺桿螺座組。載板12承置複數個測試器13，測試器13包含電性連接之電路板及具有探針之測試座，測試座供承置及測試電子元件，壓接器14配置於測試室15，且位於測試器13之上方，壓接器14由第二測試驅動器驅動作第一方向(如Z方向)位移，以供壓接測試器13之電子元件。

承上述，壓接器14配置至少一溫控器(圖未示出)，溫控器可為加熱件、致冷晶片或具流體之容置具，以供壓接器14於壓接電子元件之同時，利用溫控器溫控電子元件，使電子元件於模擬日後使用環境之溫度下執行測試作業，進而提高測試良率。

輸送裝置20設有至少一移動架21，移動架21能夠沿輸送路徑A相對測試裝置10位移。

承上述，輸送裝置20設有至少一輸送驅動器22，以驅動移動架21沿輸送路徑A位移。

於本實施例，輸送裝置20於二相對配置之測試裝置10間界定一輸送路徑A，並於輸送路徑A設有呈第三方向(如Y方向)配置之輸送驅動器22，輸送驅動器22可為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組，至少一傳動組可為皮帶輪組或螺桿螺座組，輸送驅動器22以驅動該移動架21沿輸送路徑A而相對測試裝置10位移。

供料裝置30裝配於輸送裝置20之移動架21，並設有至少一供料器31，以供承置待測之電子元件。於本實施例，供料裝置30能夠由移動架21載送沿輸送路徑A同步位移，供料裝置30包含複數個供料器31及供料驅動器(圖未示出)，複數個供料器31相互堆疊，並分別盛裝複數個待測之電子元件，供料驅動器以供驅動該供料器31作第一方向(如Z方向)位移而供料。

收料裝置40裝配於輸送裝置20之移動架21，並設有至少一收料器41，以供承置已測之電子元件。於本實施例，收料裝置40能夠由移動架21載送沿輸送路徑A同步位移，收料裝置40包含複數個收料器41及收料驅動器(圖未示出)，複數個空的收料器41相互堆疊，以供盛裝複數個已測之電子元件，收料驅動器以供驅動該收料器41作第一方向(如Z方向)位移而收料。

移料裝置50裝配於輸送裝置20之移動架21，並設有至少一移料器，以供於測試裝置10、供料裝置30及收料裝置40間移載電子元件。

承上述，移料裝置50於移動架21設有第一移料驅動器，以驅動該移料器作第一方向(如Z方向)位移。

承上述，移料裝置50於第一移料驅動器裝配第二移料驅動器，以驅動該移料器作第三方向(如Y方向)位移。

承上述，移料裝置50於第二移料驅動器裝配第三移料驅動器，以驅動該移料器作第二方向(如X方向)位移。

於本實施例，移料裝置50包含立架51、第一移料驅動器52、第二移料驅動器53、第三移料驅動器54、第一移料器551及第二移料器552，移料裝置50於輸送裝置20之移動架21上配置複數支立架51，以供裝配第一移料驅動器52，第一移料驅動器52能夠驅動第二移料驅動器53作Z方向位移，第二移料驅動器53呈Y方向配置，能夠驅動第三移料驅動器54作Y方向位移，第三移料驅動器54呈X方向配置，能夠驅動第一移料器551及第二移料器552作X方向位移，因此 ，第一移料驅動器52、第二移料驅動器53及第三移料驅動器54能夠帶動第一移料器551及第二移料器552作X-Y-Z方向位移，而於輸送路徑A兩側之測試裝置10 、供料裝置30及收料裝置40執行取放電子元件作業。

依作業需求，第一移料驅動器52、第二移料驅動器53及第三移料驅動器54可為線性馬達、壓缸或包含馬達及至少一傳動組，至少一傳動組可為皮帶輪組或螺桿螺座組。

依作業需求，移料裝置50可設置單一移料器於輸送路徑A兩側之測試裝置10、供料裝置30及收料裝置40執行取放電子元件作業。

測試作業機更包含至少一轉位器60，轉位器60配置於輸送裝置20之移動架21，以供旋轉調整電子元件之擺放角度。

測試作業機更包含至少一空匣裝置70，空匣裝置70配置於輸送裝置20之移動架21，並設有空匣器71及搬移器72，空匣器71可供收置空的供料器31，搬移器72能夠於供料裝置30、空匣器71及收料裝置40之間搬移空的供料器31。

請參閱圖5至圖8，輸送裝置20之輸送驅動器22驅動移動架21沿輸送路徑A位移，移動架21承載供料裝置30、收料裝置40及移料裝置50同步位移至測試裝置10之一方。由於移料裝置50與供料裝置30同步位移，且移料裝置50位於供料裝置30之上方，而可縮短移料裝置50之第一移料器551的取料行程，移料裝置50之第一移料驅動器52、第二移料驅動器53及第三移料驅動器54驅動第一移料器551作較短行程之X-Y-Z方向位移，令第一移料器551迅速於供料裝置30之供料器31取出待測之電子元件。

依作業需求，第一移料器551可將待測電子元件移載至轉位器60 ，而旋轉調整電子元件之擺放角度。

測試裝置10以第一測試驅動器121驅動載板12作X方向位移，以承載測試器13移出測試室15，以供移料裝置50之第一移料器551將待測電子元件置入測試器13，第一測試驅動器121再驅動載板12承載測試器13及待測電子元件作X方向反向位移移入測試室15，並使測試器13相對於壓接器14，壓接器14由第二測試驅動器驅動作Z方向向下位移而壓接測試器13之待測電子元件執行測試作業。

於測試完畢，測試裝置10之載板12作X方向位移載出測試器13及已測電子元件，輸送裝置20之移動架21沿輸送路徑A位移承載供料裝置30、收料裝置40及移料裝置50同步位移至測試裝置10之一方，而可有效縮短測試裝置10至收料裝置40間之移料行程，使得移料裝置50之第一移料驅動器52、第二移料驅動器53及第三移料驅動器54驅動第一移料器551作X-Y-Z方向位移，以迅速將測試器13之已測電子元件取出，並移入收料裝置40之收料器41收置，以簡化收料作動時序，使得工作人員可便利收置及搬運複數個具已測電子元件之收料器41，進而提高測試生產效能。

10:測試裝置 11:機架 12:載板 121:第一測試驅動器 13:測試器 14:壓接器 15:測試室 20:輸送裝置 21:移動架 22:輸送驅動器 A:輸送路徑 30:供料裝置 31:供料器 40:收料裝置 41:收料器 50:移料裝置 51:立架 52:第一移料驅動器 53:第二移料驅動器 54:第三移料驅動器 551:第一移料器 552:第二移料器 60:轉位器 70:空匣裝置 71:空匣器 72:搬移器

圖1：本發明測試作業機之配置圖。 圖2：測試裝置之示意圖。 圖3：輸送裝置、供料裝置、收料裝置及移料裝置之俯視圖。 圖4：輸送裝置、供料裝置、收料裝置及移料裝置之前視圖。 圖5至圖8：測試作業機之使用示意圖。

10:測試裝置

11:機架

12:載板

13:測試器

14:壓接器

15:測試室

20:輸送裝置

22:輸送驅動器

A:輸送路徑

30:供料裝置

40:收料裝置

50:移料裝置

60:轉位器

Claims (10)

1. 一種測試作業機，包含： 至少一測試裝置：設有複數層測試室，該複數層測試室分別配置至少一測試器，以供測試電子元件； 輸送裝置：設有至少一移動架，該至少一移動架能夠沿輸送路徑相對該至少一測試裝置位移； 供料裝置：裝配於該輸送裝置之該至少一移動架，並設有至少一供料器，以供承置待測之該電子元件； 收料裝置：裝配於該輸送裝置之該至少一移動架，並設有至少一收料器，以供承置已測之該電子元件； 移料裝置：裝配於該輸送裝置之該至少一移動架，並設有至少一移料器，以供於該至少一測試裝置、該供料裝置及該收料裝置間移載該電子元件； 中央控制裝置：以供控制及整合各裝置作動而執行自動化作業。
2. 如請求項1所述之測試作業機，其該輸送裝置設有至少一輸送驅動器，以驅動該至少一移動架沿該輸送路徑位移。
3. 如請求項1所述之測試作業機，其該輸送裝置於該至少一測試裝置之一方界定該輸送路徑。
4. 如請求項1所述之測試作業機，其該移料裝置於該輸送裝置之該至少一移動架設置第一移料驅動器，以驅動該至少一移料器作第一方向位移。
5. 如請求項4所述之測試作業機，其該移料裝置於該第一移料驅動器設置第二移料驅動器，以驅動該至少一移料器作第三方向位移。
6. 如請求項5所述之測試作業機，其該移料裝置於該第二移料驅動器設置第三移料驅動器，以驅動該至少一移料器作第二方向位移。
7. 如請求項1所述之測試作業機，其該至少一測試裝置設有呈立式配置之機架，該機架設有該複數層測試室，以供裝配該至少一測試器。
8. 如請求項1所述之測試作業機，其該至少一測試裝置包含該至少一測試器及壓接器，該至少一測試器可作第二方向位移，該壓接器可作第一方向位移。
9. 如請求項1所述之測試作業機，其該至少一測試裝置之該複數層測試室配置複數個載板，該複數個載板分別能夠承載該至少一測試器移入或移出該複數層測試室。
10. 如請求項1至9中任一項所述之測試作業機，更包含至少一轉位器 ，該至少一轉位器配置於該輸送裝置之該至少一移動架，以供旋轉調整該電子元件之擺放角度。