TWI898158B - 熔接槍控制裝置、熔接槍控制系統及熔接系統 - Google Patents
熔接槍控制裝置、熔接槍控制系統及熔接系統Info
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Abstract
提供一種在點熔接中,可減低在工件檢測時施加於工件的負載的熔接槍控制裝置。熔接槍控制裝置控制在由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極之間,加壓被熔接物來進行熔接的熔接槍,前述熔接槍控制裝置具備:動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及工件檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
Description
發明領域
本發明是有關於一種熔接槍控制裝置、熔接槍控制系統及熔接系統。
發明背景
至今已提案一種技術,其於進行點熔接的熔接系統中,藉由監視伺服馬達的電流值來檢測工件。例如,專利文獻1揭示:監視熔接槍的伺服馬達的電流或扭矩,在伺服馬達的電流或扭矩的變化趨勢有變化時,判斷為可動電極接觸到熔接工件、或可動電極已完全離開熔接工件,將可動電極定位到判斷為接觸到或已離開時之位置。於此類熔接系統中,由於要藉由可動電極檢測工件時,必須先使可動電極與工件接觸,因此一般會只使可動電極移動而使對向電極靜止。
先行技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2011-88177號公報
發明概要
發明欲解決之課題
於此類點熔接中,由於當施加於工件的負載大時,工件會有變形之虞,因此在工件檢測時施加於工件的負載越小越好。因此,期望在點熔接中,減低在工件檢測時施加於工件的負載。又,檢測到可動電極與工件的接觸之後,使對向電極朝向接觸位置移動時,期望抑制點熔接槍的振動,並且期望實際的軌跡不會從指令軌跡脫離。這是因為若點熔接槍振動,有對熔接品質造成不良影響之虞,若實際的軌跡從指令軌跡脫離,被熔接的點很有可能偏離。
用以解決課題之手段
本揭示的一態樣的熔接槍控制裝置,控制在由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極之間,加壓被熔接物來進行熔接的熔接槍,前述熔接槍控制裝置具備:動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
本揭示的一態樣的熔接槍控制系統具備:熔接槍,其具備由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極,在前述可動電極與前述對向電極之間加壓被熔接物來進行熔接;及熔接槍控制裝置,其控制前述熔接槍;前述熔接槍控制裝置具備:動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
本揭示的一態樣的熔接系統具備:熔接槍,其具備由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極,在前述可動電極與前述對向電極之間加壓被熔接物來進行熔接;熔接槍控制裝置,其控制前述熔接槍;機器人,其保持前述熔接槍或前述被熔接物,並具備驅動複數個軸的機器人側伺服馬達;及機器人控制裝置,其控制前述熔接槍的前述伺服馬達及前述機器人側伺服馬達;前述熔接槍控制裝置具備:動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
發明效果
若依據本發明,可於點熔接中,減低在工件檢測時施加於工件的負載。又,若依據本發明,比起在檢測到接觸前使對向電極靜止的情況,更可抑制點熔接槍的振動,可減低從指令軌跡脫離的情況。
用以實施發明之形態
以下參考圖式來說明本發明的實施形態。圖1是表示本實施形態的點熔接系統1的構成的圖。如圖1所示,點熔接系統1使用機器人10來使點熔接槍20及工件W相對移動,使點熔接槍20接觸工件W來對工件W進行點熔接。點熔接系統1具備機器人10、點熔接槍20、機器人控制裝置30及熔接槍控制裝置40。
機器人10是例如6軸垂直多關節型的機器人,具有基台11、下臂12、上臂13及臂前端部14。基台11設置於地板上。下臂12的一端側是以可繞著第1軸(垂直軸)J1旋轉,且可繞著第2軸(水平軸)J2旋轉的方式連結於基台11上。
於下臂12的另一端側,上臂13的一端側以可繞著第3軸(水平軸)J3旋轉的方式連結。於上臂13的另一端側,臂前端部14以可繞著與第3軸J3呈垂直的第4軸J4旋轉的方式連結,且以可繞著與第4軸J4呈垂直的第5軸J5旋轉的方式連結。於臂前端部14,點熔接槍20以可繞著與第5軸J5呈垂直的第6軸J6旋轉的方式安裝。
再者,機器人10不限定於6軸垂直多關節型,只要可使點熔接槍20與工件W相對移動,亦可為諸如4軸垂直多關節型機器人等其他類型的多關節型機器人。
機器人10內建分別驅動第1軸J1~第6軸J6之複數個驅動軸的複數個伺服馬達15(為了方便只圖示1個)。伺服馬達15是藉由來自機器人控制裝置30的控制訊號來驅動。點熔接槍20的位置及姿勢是藉由伺服馬達15的驅動來變更。
以下亦將機器人10的第1軸J1~第6軸J6稱為機器人軸,亦將驅動這些機器人軸的伺服馬達15稱為機器人軸用馬達。
又,亦將作為垂直軸或水平軸的第1軸J1、第2軸J2及第3軸J3稱為基本軸,亦將第4軸J4、第5軸J5及第6軸J6稱為腕軸。作為垂直軸或水平軸的基本軸J1~J3主要將機器人10的臂前端部14定位。另,腕軸J4~J6主要將機器人10的臂前端部14決定姿勢。
點熔接槍20是所謂C型點熔接槍。點熔接槍20具有連結於臂前端部14的C字狀的槍臂23、及工件夾持用的伺服馬達24。
槍臂23具有從L字狀的架框(frame)23a的端部突出設置之棒狀的對向電極22、及與對向電極22相對向而突出設置之棒狀的可動電極21。可動電極21與對向電極22配置於同軸上。對向電極22固定於架框23a,可動電極21可與對向電極22在同軸上相對於架框23a相對移動。
於點熔接槍20,可動電極21壓入對向電極22而使安裝有對向電極22之金屬製的臂彈性變形,藉此使要求的加壓力在可動電極21與對向電極22之間發生。藉此,點熔接槍20加壓作為被熔接物的工件W來進行熔接。
伺服馬達24是藉由來自熔接槍控制裝置40的控制訊號來驅動。可動電極21藉由伺服馬達24的驅動來接近對向電極22、從對向電極22離開。工件W在可動電極21與對向電極22之間,在板厚方向上被夾持而被點熔接。工件W是藉由未圖示的工件支撐裝置來支撐。
再者,驅動可動電極21的伺服馬達24亦可由例如像機器人控制裝置30或數值控制裝置等外部的控制裝置來驅動,以取代由熔接槍控制裝置40來驅動。
以下亦將點熔接槍20的可動電極21與對向電極22之相對移動的軸稱為槍軸,亦將驅動槍軸的伺服馬達24稱為槍軸用馬達。
於機器人軸用的各伺服馬達15設置有編碼器15a。編碼器15a檢測伺服馬達15之繞著軸的旋轉角度。檢測到之旋轉角度反饋到機器人控制裝置30。臂前端部14之點熔接槍20的位置及姿勢是基於在機器人控制裝置30的反饋控制來控制。藉此,點熔接系統1可將與架框23a一體化的對向電極22,定位到工件W之板厚方向的夾持位置,並且藉由來自編碼器15a的訊號來檢測對向電極22的位置及姿勢。
又,於槍軸用的伺服馬達24設置有編碼器24a。編碼器24a檢測伺服馬達24之繞著軸的旋轉角度。檢測到之旋轉角度反饋到熔接槍控制裝置40。可動電極21藉由在熔接槍控制裝置40的反饋控制,來相對於對向電極22定位。
可動電極21與對向電極22之間的開放量會因應伺服馬達24的旋轉角度而變化。在本實施形態,點熔接系統1將使可動電極21接觸到對向電極22時,亦即開放量為0時之伺服馬達24的旋轉角度,預先設定為基準值。藉此,點熔接系統1可藉由來自編碼器24a的訊號來檢測從基準值起的旋轉角度,可檢測可動電極21與對向電極22之間的開放量。
機器人控制裝置30及熔接槍控制裝置40分別具備具有CPU、ROM、RAM、其他週邊電路等之運算處理裝置。機器人控制裝置30與熔接槍控制裝置40可通訊地連接,並相互收發訊號。
機器人控制裝置30儲存機器人10及點熔接槍20的動作程式(作業程式)及教示資料等。教示資料包含熔接打點資料,前述熔接打點資料是將工件W在許多個熔接處進行點熔接時之機器人10及點熔接槍20的位置及姿勢。自動運轉用的作業程式是基於教示資料來製作。
機器人控制裝置30在自動運轉時,按照作業程式,藉由機器人10來控制點熔接槍20相對於工件W的位置及姿勢,在可動電極21與對向電極22之間配置工件W。
熔接槍控制裝置40按照作業程式來使可動電極21動作,控制要讓工件W負載之由可動電極21及對向電極22所造成的加壓力。進而,熔接槍控制裝置40按照作業程式,來控制要供給到可動電極21及對向電極22的電流,在預先決定的熔接打點位置執行點熔接。
又,機器人控制裝置30或熔接槍控制裝置40亦可構成為與支撐工件W的支撐裝置(未圖示)可通訊地連接,並且可控制工件支撐裝置。
圖2是表示熔接槍控制裝置40的功能性構成的圖。如圖2所示,熔接槍控制裝置40具備控制部41及記憶部42。
控制部41是控制熔接槍控制裝置40全體的部分,亦可為例如CPU。控制部41藉由從記憶部42適當地讀出並執行各種程式,來實現各種功能。記憶部42是以ROM、RAM、快閃記憶體或硬碟(HDD)等所構成,記憶各種程式及資料等。
又,控制部41具備動作控制部411、工件檢測部412(檢測部)及接觸位置推定部413。
動作控制部411控制可動電極21及對向電極22的動作。具體而言,動作控制部411在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度(第1速度)移動,並且使對向電極22或工件W,以慢於搜尋速度的微速(第2速度)移動。
又,動作控制部411是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,使可動電極21減速到第1速度。進而,動作控制部411使可動電極減速之後,使可動電極21往快於微速(第2速度)的抵接速度(第3速度)加速。再者,後面會就搜尋速度、微速及抵接速度來敘述。
又,動作控制部411是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,使對向電極22以第3速度,朝向由接觸位置推定部413所計算的目標位置加速。
工件檢測部412一面藉由動作控制部411來使可動電極21及對向電極22移動,一面基於驅動可動電極21之伺服馬達24的動作狀態來檢測工件W。具體而言,工件檢測部412取得伺服馬達24的電流值或速度,來作為伺服馬達24的動作狀態。工件檢測部412基於取得之伺服馬達24的電流值或速度,來判定可動電極21與工件W的接觸,藉此檢測工件W。又,工件檢測部412亦可藉由例如像接觸感測器等外部感測器,來進行可動電極21與工件W的接觸的判定。
接觸位置推定部413是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,推定可動電極21與工件W的接觸位置,計算對向電極22的目標位置。
<第1實施形態>
圖3A~圖3E是表示第1實施形態的可動電極21及對向電極22的動作的圖。圖4是表示第1實施形態的可動電極21及對向電極22的速度的變化的圖。
如圖3A所示,在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,動作控制部411開始關閉點熔接槍20的動作。
當開始關閉點熔接槍20的動作時,如圖3B所示,動作控制部411使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22以微速移動。
在此,如圖4所示,搜尋速度是可動電極21為了檢測工件W而移動的速度,搜尋速度設定為比微速快得多的速度。又,微速是比搜尋速度慢得多的速度,為例如1mm/s到2mm/s程度。因此,對向電極22雖不是呈停止,但移動距離甚小。
如圖3C所示,當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,動作控制部411如圖4所示使可動電極21減速到微速。
如圖3D所示,動作控制部411使可動電極21減速之後,使可動電極21往抵接速度加速。在此,抵接速度設定為比上述微速快得多的速度。又,動作控制部411使對向電極22朝向由接觸位置推定部413所計算的目標位置加速到抵接速度。
然後,如圖3E所示,動作控制部411使可動電極21及對向電極22與工件W抵接,完成關閉點熔接槍20的動作。
圖5是表示由第1實施形態的熔接槍控制裝置40關閉點熔接槍20的動作的流程圖。
於步驟S1,動作控制部411在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22以微速移動。
於步驟S2,工件檢測部412取得伺服馬達24的電流值,來作為伺服馬達24的動作狀態。然後,工件檢測部412判定取得之伺服馬達24的電流值是否超過閾值T1。當電流值超過閾值T1時(是),工件檢測部412判定為可動電極21與工件W已接觸。藉此,工件檢測部412檢測出工件W,處理前進到步驟S3。另,當電流值為閾值T1以下時(否),工件檢測部412判定為可動電極21與工件W未接觸,處理返回到步驟S1。
於步驟S3,接觸位置推定部413推定可動電極21與工件W的接觸位置,計算對向電極22的目標位置。
於步驟S4,動作控制部411使可動電極21減速到微速。進而,動作控制部411使可動電極減速之後,使可動電極21往快於微速的抵接速度加速。又,動作控制部411是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,使對向電極22往抵接速度,朝向由接觸位置推定部413所計算的目標位置加速。其後,動作控制部411使可動電極21及對向電極22與工件W抵接,完成關閉點熔接槍20的動作。
<第2實施形態>
接著,說明由第2實施形態的熔接槍控制裝置40關閉點熔接槍20的動作。第2實施形態的熔接槍控制裝置40與第1實施形態的不同點是:採用彈性控制,藉由可動電極21來搜尋工件W,及使用閾值T2來判定工件W的檢測。
具體而言,動作控制部411在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,採用彈性控制,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22或工件W,以慢於搜尋速度的微速移動。在此,彈性控制表示追隨外力的控制。彈性控制可藉由例如限制伺服馬達24之馬達扭矩的輸出、或減少位置/速度迴路增益(loop gain)來實現。
又,工件檢測部412取得伺服馬達24的速度,來作為伺服馬達24的動作狀態。工件檢測部412判定取得之伺服馬達24的速度是否低於閾值T2,藉此判定可動電極21與工件W的接觸。藉此,工件檢測部412檢測出工件W。
圖6是表示由第2實施形態的熔接槍控制裝置40關閉點熔接槍20的動作的流程圖。
於步驟S11,動作控制部411在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22以微速移動。
於步驟S12,工件檢測部412取得伺服馬達24的速度,來作為伺服馬達24的動作狀態。工件檢測部412判定取得之伺服馬達24的速度是否低於閾值T2。當伺服馬達24的速度低於閾值T2時(是),工件檢測部412判定為可動電極21與工件W已接觸。亦即,工件檢測部412檢測出工件W,處理前進到步驟S13。另,當伺服馬達24的速度為閾值T2以上時(否),工件檢測部412判定為可動電極21與工件W未接觸,處理返回到步驟S11。
於步驟S13,接觸位置推定部413推定可動電極21與工件W的接觸位置,計算對向電極22的目標位置。
於步驟S14,動作控制部411使可動電極21減速到微速。進而,動作控制部411使可動電極減速之後,使可動電極21往快於微速的抵接速度加速。又,動作控制部411是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,使對向電極22往抵接速度,朝向由接觸位置推定部413所計算的目標位置加速。其後,動作控制部411使可動電極21及對向電極22與工件W抵接,完成關閉點熔接槍20的動作。
再者,在上述實施形態,動作控制部411在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22以微速移動。然而,動作控制部411亦可藉由控制未圖示的支撐裝置使工件W以微速移動,來取代使對向電極22以微速移動。亦即,動作控制部411亦可在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使工件W以微速移動。
又,在上述實施形態,點熔接系統1雖具備C型的點熔接槍20,但亦可具備其他種類的點熔接槍。其他種類的點熔接槍亦可為例如所謂X型的點熔接槍及固定設置型的點熔接槍等。
圖7是表示具備X型的點熔接槍20的點熔接系統1A的構成的圖。如圖7所示,X型的點熔接槍20具有可開閉的一對槍臂26a、26b,及安裝於各槍臂26a、26b之前端部的可動電極21及對向電極22。
圖8是表示具備固定設置型的點熔接槍20的點熔接系統1B的構成的圖。如圖8所示,點熔接系統1B藉由固定設置於預定位置的槍架25來支撐點熔接槍20,並且在機器人10的臂前端部,透過機械手19保持工件W。藉此,點熔接系統1B藉由機器人10的驅動,來相對於點熔接槍20使工件W相對移動,於可動電極21與對向電極22之間配置工件W。此類具備X型的點熔接槍20的點熔接系統1A及具備固定設置型的點熔接槍20的點熔接系統1B,可與上述點熔接系統1同樣,藉由熔接槍控制裝置40來執行關閉點熔接槍20的動作。
如以上所說明,熔接槍控制裝置40控制在由伺服馬達驅動的可動電極21及與可動電極21相對向的對向電極22之間,加壓工件W來進行熔接的點熔接槍20,前述熔接槍控制裝置40具備:動作控制部411,其在於可動電極21與對向電極22之間配置有工件W的狀態下,使可動電極21以搜尋速度移動,並且使對向電極22或工件W,以慢於搜尋速度的微速移動;及工件檢測部412,其一面藉由動作控制部411來使可動電極21及對向電極22移動,一面基於驅動可動電極21之伺服馬達24的動作狀態來檢測工件W。
藉此,由於熔接槍控制裝置40不僅使可動電極21以搜尋速度移動,還使對向電極22或工件W以微速移動,因此比起在檢測到接觸前使對向電極22靜止的情況,在將對向電極22往抵接速度加速時,可從一開始就補償摩擦扭矩,可減少速度變化。故,熔接槍控制裝置40可平滑地加速對向電極22或工件W,可抑制點熔接槍20的振動。又,熔接槍控制裝置40使對向電極22或工件W以微速移動,藉此例如可減低齒輪的背隙卡住而從指令軌跡脫離的情況。
又,工件檢測部412基於作為伺服馬達24的動作狀態之伺服馬達24的電流值或速度,來判定可動電極21與工件W的接觸,藉此檢測工件W。動作控制部411是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,使可動電極21減速到微速,並在使可動電極21減速之後,使可動電極21往快於搜尋速度及微速的抵接速度加速,並使對向電極22往抵接速度加速。
藉此,熔接槍控制裝置40可藉由在檢測到接觸時使可動電極21急減速,來減低檢測到工件W時施加於工件W的負載。進而,熔接槍控制裝置40藉由在檢測到接觸前使對向電極22以微速動作,比起在檢測到接觸前使對向電極22靜止的情況,在將對向電極22往抵接速度加速時,可從一開始就補償摩擦扭矩,可減少速度變化。因此,熔接槍控制裝置40可平滑地加速對向電極22,可抑制點熔接槍20的振動。又,熔接槍控制裝置40使對向電極22以微速動作,藉此例如可減低齒輪的背隙卡住而從指令軌跡脫離的情況。
又,熔接槍控制裝置40進一步具備接觸位置推定部413,前述接觸位置推定部413是當藉由工件檢測部412檢測出工件W時,推定可動電極21與工件W的接觸位置,並計算對向電極22的目標位置,動作控制部411使對向電極22以抵接速度,往由接觸位置推定部413所計算的目標位置移動。藉此,熔接槍控制裝置40可使對向電極22往目標位置移動。
又,驅動可動電極21的伺服馬達24亦可由外部的控制裝置來驅動。藉此,熔接槍控制裝置40可使用外部的控制裝置來驅動可動電極21。又,工件檢測部412亦可藉由外部感測器來進行可動電極21與工件W的接觸的判定。藉此,熔接槍控制裝置40可使用外部感測器來判定可動電極21與工件W的接觸。
以上雖說明了本發明的實施形態,但上述點熔接系統1可藉由硬體、軟體或該等的組合來實現。又,由上述點熔接系統1所進行的控制方法亦可藉由硬體、軟體或該等的組合來實現。在此,藉由軟體來實現,是意指藉由電腦讀入並執行程式來實現。
程式可利用各種類型的非暫時性電腦可讀取媒體(non-transitory computer readable medium)來儲存並供給到電腦。非暫時性電腦可讀取媒體包含各種類型之具實體的記錄媒體(tangible storage medium)。非暫時性電腦可讀取媒體之例包含磁性記錄媒體(例如硬碟驅動器)、光磁性記錄媒體(例如磁光碟)、CD-ROM(Read Only Memory(唯讀記憶體))、CD-R、CD-R/W、半導體記憶體(例如遮罩唯讀記憶體、PROM(Programmable ROM(可程式化唯讀記憶體))、EPROM(Erasable PROM(可抹除可程式化唯讀記憶體))、快閃記憶體、RAM(random access memory(隨機存取記憶體)))。
又,上述各實施形態雖為本發明較佳的實施形態,但本發明的範圍不是僅限定於上述各實施形態,可在不脫離本發明之要旨的範圍內,以施以各種變更的形態來實施。
1,1A,1B:點熔接系統
10:機器人
11:基台
12:下臂
13:上臂
14:臂前端部
15:伺服馬達
15a:編碼器
19:機械手
20:點熔接槍
21:可動電極
22:對向電極
23:槍臂
23a:架框
24:伺服馬達
24a:編碼器
25:槍架
26a,26b:槍臂
30:機器人控制裝置
40:熔接槍控制裝置
41:控制部
42:記憶部
411:動作控制部
412:工件檢測部(檢測部)
413:接觸位置推定部
J1:第1軸
J2:第2軸
J3:第3軸
J4:第4軸
J5:第5軸
J6:第6軸
S1~S4,S11~S14:步驟
T1,T2:閾值
W:工件
圖1是表示本實施形態的點熔接系統的構成的圖。
圖2是表示熔接槍控制裝置的功能性構成的圖。
圖3A是表示可動電極及對向電極的動作的圖。
圖3B是表示可動電極及對向電極的動作的圖。
圖3C是表示可動電極及對向電極的動作的圖。
圖3D是表示可動電極及對向電極的動作的圖。
圖3E是表示可動電極及對向電極的動作的圖。
圖4是表示第1實施形態的可動電極及對向電極的速度的變化的圖。
圖5是表示由第1實施形態的熔接槍控制裝置關閉點熔接槍的動作的流程圖。
圖6是表示由第2實施形態的熔接槍控制裝置關閉點熔接槍的動作的流程圖。
圖7是表示具備X型的點熔接槍的點熔接系統的構成的圖。
圖8是表示具備固定型的點熔接槍的點熔接系統的構成的圖。
1:點熔接系統
10:機器人
11:基台
12:下臂
13:上臂
14:臂前端部
15:伺服馬達
15a:編碼器
20:點熔接槍
21:可動電極
22:對向電極
23:槍臂
23a:架框
24:伺服馬達
24a:編碼器
30:機器人控制裝置
40:熔接槍控制裝置
J1:第1軸
J2:第2軸
J3:第3軸
J4:第4軸
J5:第5軸
J6:第6軸
W:工件
Claims (7)
- 一種熔接槍控制裝置,其控制在由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極之間,加壓被熔接物來進行熔接的熔接槍,前述熔接槍控制裝置具備: 動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及 檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
- 如請求項1之熔接槍控制裝置,其中前述檢測部是基於作為前述伺服馬達的前述動作狀態之前述伺服馬達的電流值或速度,來判定前述可動電極與前述被熔接物的接觸,藉此檢測出前述被熔接物, 前述動作控制部是: 當藉由前述檢測部檢測出前述被熔接物時,使前述可動電極減速到前述第2速度,使前述可動電極減速之後,使前述可動電極往快於前述第2速度的第3速度加速, 當藉由前述檢測部檢測出前述被熔接物時,使前述對向電極往前述第3速度加速。
- 如請求項2之熔接槍控制裝置,其進一步具備接觸位置推定部,前述接觸位置推定部是當藉由前述檢測部檢測出前述被熔接物時,推定前述可動電極與前述被熔接物的接觸位置,計算前述對向電極的目標位置, 前述動作控制部使前述對向電極,以前述第3速度往由前述接觸位置推定部所計算的前述目標位置移動。
- 如請求項1至3中任一項之熔接槍控制裝置,其中驅動前述可動電極的前述伺服馬達是由外部的控制裝置來驅動。
- 如請求項2之熔接槍控制裝置,其中前述檢測部藉由外部感測器來進行前述可動電極與前述被熔接物的接觸的判定。
- 一種熔接槍控制系統,具備: 熔接槍,其具備由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極,在前述可動電極與前述對向電極之間加壓被熔接物來進行熔接;及 熔接槍控制裝置,其控制前述熔接槍, 前述熔接槍控制裝置具備: 動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及 檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
- 一種熔接系統,具備: 熔接槍,其具備由伺服馬達驅動的可動電極及與前述可動電極相對向的對向電極,在前述可動電極與前述對向電極之間加壓被熔接物來進行熔接; 熔接槍控制裝置,其控制前述熔接槍; 機器人,其保持前述熔接槍或前述被熔接物,並具備驅動複數個軸的機器人側伺服馬達;及 機器人控制裝置,其控制前述熔接槍的前述伺服馬達及前述機器人側伺服馬達, 前述熔接槍控制裝置具備: 動作控制部,其在於前述可動電極與前述對向電極之間配置有前述被熔接物的狀態下,使前述可動電極以第1速度移動,並且使前述對向電極或前述被熔接物,以慢於前述第1速度的第2速度移動;及 檢測部,其一面藉由前述動作控制部來使前述可動電極及前述對向電極移動,一面基於驅動前述可動電極之前述伺服馬達的動作狀態,來檢測前述被熔接物。
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2022
- 2022-09-22 TW TW111135914A patent/TWI898158B/zh active
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