TWI877701B - 顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法,其應用於一控制電路測試串聯之第一、第二驅動器,控制電路傳送一致能訊號、一第一電位與一第二電位至第一驅動器,以依據一第一預設參數與一第二預設參數比對第一驅動器之一第一回傳電位與一第二回傳電位,在第一回傳電位不等於第一預設參數或第二回傳電位不等於第二預設參數時,控制電路停止測試,如此,藉由控制電路及驅動器間的電位來回傳輸進行內建自我測試,以簡化顯示驅動裝置之自我測試而無需外接測試裝置。
Description
本發明係關係於一種顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法,特別是一種應用於一顯示面板之顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法。
隨著時代的發展,發光二極體(LED)逐漸於顯示裝置使用,其起初應用於TFT-LCD的背光模組。
TFT-LCD原為非自發光的平面顯示器,其顯示方式類似光控制開關,需有一提供光源的背光模組。
自1990年代TFT-LCD開始蓬勃發展時,即有廠商利用LED做為液晶顯示器之背光源,以LED作為背光源具有高色彩飽和度、省電、輕薄等特點,但因當時面板製造成本過高、散熱不佳、光電效率低等因素,並未大量應用於TFT-LCD產品中。
至2000年代,將藍光LED chip封裝於含螢光粉的樹脂中而製成的白光LED,其製程、效能、成本已逐漸成熟;於2010年代,白光LED的背光模組(LED backlight module)呈現爆發性的成長,幾年間即全面取代傳統的冷陰
極管背光(CCFL backlight module),其應用領域由手機、平板電腦、筆記型電腦、桌上型顯示器,乃至電視和公用看板。
近年來由於顯示面板所能提供的解析度不斷提高,也就是說提升顯示面板內部單位面積的像素數量,提升像素數量導致每一像素所佔據的面積不斷縮小。
提升像素數量導致在每一像素的面積有限情形下,使得顯示面板內部的每個像素所能容納的電路元件之數量,由於對應每一像素受到其面積所限制。
如此一來,現今技術簡化了位於像素中的電路,如此也對應簡化了位於像素中的電路可以完成的功能,例如運用於主動式矩陣有機發光二極體(Active-matrix organic light-emitting diode,AMOLED)、Micro LED微米級發光二極體等顯示面板的驅動晶片。
為了確保驅動器耦接像素中的電路,在驅動器出廠前會對其資料線進行測試,一般常見之測試的部分通常使用測試機台來進行,並根據測試機台提供的測試結果完成驅動器測試與篩選。
然而,這樣的驅動器測試僅能保證顯示驅動裝置於出廠時通過測試與篩選,並無法於使用時對顯示面板即時進行測試,也就是所謂的內建自我測試(built-in self-test,BIST),內建自我測試是一種讓設備可以自我檢測的機制,也是可測試性設計的一種實現技術,目的之一是在簡化產品複雜度,因此降低成本,並且減少對外部測試設備的依賴程度。
為了讓顯示面板對內部之驅動器進行內建自我測試,習知的解決方法是在顯示面板內部新增一測試電路,利用測試電路對顯示面板內部之驅
動器進行內建自我測試,但新增電路帶來的問題便是壓縮顯示面板內部之空間,以及依據自我測試的方式不同需要對應改變整體電路佈局。
因此,如何在不新增電路的狀況下,僅靠使用原有電路對顯示面板進行自我檢測為本領域技術人員所欲解決之問題。
本發明之一主要目的,本發明提供一種顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法,藉由控制電路依序傳送電位至驅動器,以依據驅動器之回傳電位進行內建自我測試,無須另外設置檢測電路即可完成自我測試。
為了達成上述之主要目的,本發明提供一種顯示驅動裝置,其包含一控制電路、一第一驅動器及一第二驅動器控制電路包含一第一預設參數與一第二預設參數,該第一驅動器與該第二驅動器之間串聯,並皆耦接至該控制電路,該控制電路產生一致能訊號至該第一驅動器,以依序驅動該第一驅動器與該第二驅動器進行測試,該控制電路傳送一第一電位與/或一第二電位至該第一驅動器,使該第一驅動器回傳一第一回傳電位與/或一第二回傳電位至該控制電路,該控制電路依據該第一預設參數與/或該第二預設參數比對該第一回傳電位與/或該第二回傳電位,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數時,該控制電路停止往該第二驅動器進行測試。藉此,讓顯示驅動裝置無須另外設置檢測電路即可完成自我測試。
本發明之另一實施例,進一步地,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該第一驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器,且該控制電路傳送該第一電位與該第二電位至該第二驅動器,以測試該第二驅動器。
本發明另外提供一種串聯式複數個驅動器之測試方法,其應用於控制電路依序測試一第一驅動器與一第二驅動器,該第一驅動器與該第二驅動器相互串聯,該控制電路傳送一致能訊號至該第一驅動器與該第二驅動器,以驅使該些個驅動器依序自我測試,其測試方法先由控制電路依據一第一電位與/或一第二電位測試該第一驅動器,以讓該控制電路依據一第一預設參數與/或一第二預設參數比對該驅動器之一第一回傳電位及/或一第二回傳電位,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數時,該控制電路停止往下一個驅動器進行測試。藉此,讓顯示驅動裝置無須另外設置檢測電路即可完成自我測試。
本發明之另一實施例,進一步地,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該第一驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器,且該控制電路傳送該第一電位與/或該第二電位至該第二驅動器,以繼續往該第二驅動器進行測試。
10:控制電路
12:第一測試模組
20:驅動器列
22:驅動器
222:第二測試模組
201~20N:驅動器
302:時脈驅動單元
304:資料控制單元
306:發光驅動單元
308:致能單元
310:電源控制單元
CN1:第一計數數值
CN2:第二計數數值
B0:第一回傳電位
B1:第二回傳電位
B2:第三回傳電位
B3:第四回傳電位
CC:控制計數器
CMD:測試指令
CKC:控制時脈端
CKD:資料時脈端
D0:第一資料端
D1:第二資料端
DE:資料感測器
DE0:第一預設參數
DE1:第二預設參數
DE2:第三預設參數
DE3:第四預設參數
DL0:第一資料線
DL1:第二資料線
EN:致能訊號
ENI:致能輸入端
ENO:致能輸出端
CG:時脈訊號單元
GND:接地端
M1:面板測試模型控制元件
M2:面板測試模型驅動單元
P:輸出控制單元
SC:系統控制處理單元
ST:起始訊號
S10~S40:步驟
S200~S260:步驟
S300~S400:步驟
UC:驅動計數器
V1:第一電位
V2:第二電位
V3:第三電位
V4:第四電位
VCC:供應電壓端
VDD:驅動電壓端
VDR:驅動電壓
VR1:第一參考電壓
VR2:第二參考電壓
VR3:第三參考電壓
VREF1:第一參考電壓端
VREF2:第二參考電壓端
VREF3:第三參考電壓端
第一A圖:其為本發明之顯示驅動裝置之電路圖之第一實施例;第一B圖:其為本發明之部分顯示驅動裝置之電路圖之第一實施例;第一C圖:其為本發明之控制電路之方塊示意圖之第一實施例;第一D圖:其為本發明之驅動器之方塊示意圖之第一實施例;第二圖:其為本發明之顯示驅動裝置之測試方法之流程圖之第一實施例;第三A圖:其為本發明之顯示驅動裝置之測試方法之流程圖之第二實施例;
第三B圖:其為本發明之控制電路與驅動器及資料線之示意圖之第一實施例;第三C圖:其為本發明之控制電路之步驟示意圖之第一實施例;第三D圖:其為本發明之驅動器之步驟示意圖之第一實施例;第三E圖:其為本發明之訊號時序示意圖之第一實施例;第三F圖:其為本發明之電位傳輸示意圖之第一實施例;第四A圖:其為本發明之顯示驅動裝置之測試方法之流程圖之第三實施例;第四B圖:其為本發明之控制電路與驅動器及資料線之示意圖之第二實施例;第四C圖:其為本發明之控制電路之步驟示意圖之第二實施例;第四D圖:其為本發明之驅動器之步驟示意圖之第二實施例;第四E圖:其為本發明之訊號時序示意圖之第二實施例;以及第四F圖:其為本發明之電位傳輸示意圖之第二實施例。
為使 貴審查委員對本發明之特徵及所達成之功效有更進一步之瞭解與認識,謹佐以較佳之實施例及配合詳細之說明,說明如後:在說明書及請求項當中使用了某些詞彙指稱特定的元件,然,所屬本發明技術領域中具有通常知識者應可理解,製造商可能會用不同的名詞稱呼同一個元件,而且,本說明書及請求項並不以名稱的差異作為區分元件的方式,而是以元件在整體技術上的差異作為區分的準則。在通篇說明書及請求項當
中所提及的「包含」為一開放式用語,故應解釋成「包含但不限定於」。再者,「耦接」一詞在此包含任何直接及間接的連接手段。因此,若文中描述一第一裝置耦接一第二裝置,則代表第一裝置可直接連接第二裝置,或可透過其他裝置或其他連接手段間接地連接至第二裝置。
現有顯示面板之驅動器進行自我測試時,在顯示面板內部新增一測試電路,利用測試電路對顯示面板內部之驅動器進行內建自我測試,但新增電路帶來的問題便是壓縮顯示面板內部之空間,以及整體電路佈局會依據自我測試的測試方式需要對應改變電路佈局。
本發明提供一種顯示驅動裝置及其驅動器之測試方法,藉由原有電路設置測試模組,以對顯示面板進行自我檢測,達到節省電路布局面積並減少使用外部測試設備之功效。
在下文中,將藉由圖式來說明本發明之各種實施例來詳細描述本發明。然而本發明之概念可能以許多不同型式來體現,且不應解釋為限於本文中所闡述之例示性實施例。
請參閱第一A圖,其為本發明之顯示驅動裝置結構圖之第一實施例。如圖所示,本發明之第一實施例為揭示本發明所應用之一顯示驅動裝置1,其包含一控制電路10與複數個驅動器列20,控制電路10耦接驅動器列20,每一列驅動器列20包含串聯之複數個(例如N個)驅動器201~20N,控制電路10之一第一資料端D0耦接一第一資料線DL0,控制電路10之一第二資料端D1耦接一第二資料線DL1,控制電路10之一控制時脈端CKC耦接一第一時脈線CL0,控制電路10之一資料時脈端CKD耦接一第二時脈線CL1,控制電路10之一致能輸出端ENO耦接一致能線ENL,本實施例之該第一資料線DL0、該第二資料線
DL1、該第一時脈線CL0與該第二時脈線CL1串接該些個驅動器201~20N,本實施例之該些個驅動器201~20N之間分別連接一致能線ENL,控制電路10經致能線ENL耦接至第一驅動器201。
請進一步參閱第一B圖,其為本發明之部分顯示驅動裝置之電路圖之第一實施例。如圖所示,本發明依據第一A圖之電路圖進一步以第一驅動器201與第二驅動器202及其耦接之控制電路10作為舉例說明,其中第一驅動器201與第二驅動器202分別包含一時脈驅動單元302、一資料控制單元304、一發光驅動單元306、一致能單元308與一電源控制單元310,時脈驅動單元302之控制時脈端CKC為經第一時脈線CL0耦接控制電路10之控制時脈端CKC,以接收一時脈控制訊號CLK,資料控制單元304之資料時脈端CKD、第一資料端D0與第二資料端D1為經第二時脈線CL1、第一資料線DL0與第二資料線DL1耦接控制電路10之資料時脈端CKD、第一資料端D0與第二資料端D1,資料控制單元304以經第二時脈線CL1接收資料時脈訊號DLK,資料時脈訊號DLK用以控制驅動器列20驅動顯示面板30之一顯示元件(圖未示)進行顯示,例如:驅動AMOLED、Mini LED、Micro LED等進行顯示。
接續上述,發光驅動單元306耦接控制電路10之一驅動電壓端VDD、一第一參考電壓端VREF1、一第二參考電壓端VREF2與一第三參考電壓端VREF3,以接收控制電路10之一驅動電壓VDR、一第一參考電壓VR1、一第二參考電壓VR2與一第三參考電壓VR3。每一致能單元308設置一致能輸入端ENI與一致能輸出端ENO,第一驅動器201之致能輸入端ENI耦接控制電路10之致能輸出端ENO,第二驅動器202之致能輸入端ENI耦接第一驅動器之致能輸出端ENO,第二驅動器202之致能輸出端ENO耦接下一驅動器之致能輸入端,以
此類推致第N驅動器20N。每一電源控制單元310耦接控制電路10之一供應電壓端VCC與一接地端GND。
請接續一併參閱第一C圖與第一D圖,其為本發明之控制電路與驅動器之方塊示意圖之第一實施例。如第一C圖所示,本發明之控制電路10包含一第一測試模組12,用以進行自我測試,其中第一測試模組12包含一系統控制處理單元SC、一時脈訊號單元CG、一面板測試模型控制元件M1、一控制計數器CC與一資料感測器DE,系統控制處理單元SC接收時脈訊號單元CG所產生之時脈控制訊號CLK,以依據時脈控制訊號CLK產生對應之致能訊號EN,並透過致能輸出端ENO輸出致能訊號EN,且系統控制處理單元SC對應產生一測試指令CMD至面板測試模型控制元件M1,面板測試模型控制元件M1依據測試指令CMD產生一起始訊號ST。控制計數器CC依據資料感測器DE之資料比對結果計數一第一計數數值,例如:比對結果為YES,第一計數數值加1。
如第一D圖所示,本實施例係以一驅動器22舉例說明前述之驅動器201~20N,驅動器22包含一第二測試模組222,用以進行自我測試,其包含一資料控制單元304、一致能單元308與一面板測試模型驅動單元M2,致能單元308包含一驅動計數器UC與一輸出控制單元P,面板測試模型驅動單元M2用以接收起始訊號ST,因而初始化測試模式,因此致能單元308接收致能訊號EN即會用於驅動驅動器22進行測試,而資料控制單元304之第一資料端D0、第二資料端D1與資料時脈端CKD分別經第一資料線DL0、第二資料線DL1與第二時脈線CL1耦接資料線感測器DE之第一資料端D0、第二資料端D1與資料時脈端CKD。其中致能單元308之驅動計數器UC為透過致能單元308的致能輸入端ENI接收致能訊號EN,並依據致能訊號EN計數一第二計數數值CN2,例如:每一次
致能訊號EN致能(即電位為高電位),第二計數數值加1。且,驅動器22之驅動計數器UC驅使輸出控制單元P通過致能單元308之致能輸入端ENI接收致能訊號EN,據以使驅動器22的致能輸出端ENO輸出致能訊號EN至與其串連的下一個驅動器。
請進一步參閱第二圖,其本發明之顯示驅動裝置之測試方法之流程圖之第一實施例。如圖所示,本發明之串聯式複數個驅動器之測試方法為應用於控制電路10測試該些個驅動器201~20N,驅動器201~20N彼此之間相互串聯,控制電路10傳送致能訊號EN至該些個驅動器201~20N,以驅使該些個驅動器201~20N依序自我測試,也就是從第一驅動器201測試至第N驅動器20N,本實施例係以控制電路10測試第一驅動器201與第二驅動器202做舉例說明。本發明之測試方法如下步驟所示:步驟S10:控制電路依據第一電位及/或第二電位測試驅動器,以讓控制電路依據第一預設參數與及/或第二預設參數比對驅動器之第一回傳電位及/或第二回傳電位。
於步驟S10中,控制電路10為經第一資料線DL0、或第二資料線DL1或其組合傳送第一電位與第二電位,以測試第一驅動器201,藉此應用於該些個驅動器201~20N之自我測試,其中,第一驅動器201即會依據第一電位與第二電位產生對應之第一回傳電位與第二回傳電位並原路徑或交換路徑回傳至控制電路10,以讓控制電路10依據第一預設參數及/或第二預設參數比對第一驅動器所回傳之第一回傳電位及/或第二回傳電位,藉此進行自我測試。
另外,本發明之測試方法更包含:步驟S20:第一計數數值是否等於N;
步驟S30:產生異常訊號;以及,步驟S40:產生結束訊號。
於步驟S20中,由系統控制處理單元SC判斷控制計數器CC是否已將其計數數值計數到N,即表示系統控制處理單元SC判斷是否第N驅動器20N已完成自我測試,當判斷為假(NO)時,系統控制處理單元SC執行步驟S30,停止自我測試並產生一異常訊號,當判斷為真(YES)時,系統控制處理單元SC執行步驟S40,產生一結束訊號,也就是第一驅動器201至第N驅動器20N已完成自我測試,步驟S10之詳細流程如下。
請進一步參閱第三A圖,其為本發明之顯示驅動裝置之測試方法之流程圖之第一實施例,其中步驟S10之步驟包含:步驟S100:控制電路傳送第一電位至第一驅動器;步驟S110:第一驅動器回傳第一回傳電位至控制電路;步驟S120:第一回傳電位是否等於第一預設參數;步驟S130:控制電路傳送第二電位至第一驅動器;步驟S140:第一驅動器回傳第二回傳電位至控制電路;步驟S150:第二回傳電位是否等於第二預設參數;步驟S160:控制電路停止往第二驅動器測試;以及,步驟S170:第一驅動器傳送致能訊號至第二驅動器。
其中,當第一回傳電位不等於第一預設參數或第二回傳電位不等於第二預設參數時,控制電路10停止往下一個驅動器進行測試。
請一併參閱第一C圖、第一D圖與第三A圖至第三F圖。如第三A圖至第三F圖所示,本實施例係以控制電路10以第一資料線DL0傳送資料至該第一驅動器201與第二驅動器202作為舉例說明。
於步驟S100中,控制電路10之第一測試模組12經資料感測器DE之第一資料端D0傳送一第一電位V1至第一驅動器201之資料控制單元304。
於步驟S110中,第一驅動器201之資料控制單元304依據第一電位V1產生一第一回傳電位B0並經資料控制單元304之第一資料端D0傳送至控制電路10。
於步驟S120中,控制電路10之資料感測器DE即比對第一回傳電位B0與第一預設參數DE0,當控制電路10之資料感測器DE比對第一回傳電位B0等於第一預設參數DE0時,控制電路10執行步驟S130,當控制電路10之資料感測器DE比對第一回傳電位B0不等於第一預設參數DE0時,控制電路10執行步驟S160。
於步驟S130中,控制電路10之資料感測器DE之第一資料端D0傳送一第二電位V2至第一驅動器201之資料控制單元304。
於步驟S140中,第一驅動器201之資料控制單元304依據第二電位V2產生一第二回傳電位B1並經資料控制單元304之第一資料端D0傳送至控制電路10。
於步驟S150中,控制電路10之資料感測器DE即比對第二回傳電位B1與第二預設參數DE1,當控制電路10之資料感測器DE比對第二回傳電位B1等於第二預設參數DE1時,控制電路10執行步驟S170,當控制電路10之資料
感測器DE比對第二回傳電位B1不等於第二預設參數DE1時,控制電路10執行步驟S160。
於步驟S160中,控制電路10即會透過系統控制處理單元SC中止測試,特別是系統控制處理單元SC驅動面板測試模型控制元件M1中止對應之驅動器22停止自我測試。
於步驟S170中,控制電路10之系統控制處理單元SC即輸出致能訊號EN至致能單元308,因而讓驅動計數器UC驅動輸出控制單元P通過致能線ENL輸出致能訊號EN至下一驅動器,亦即輸入致能訊號EN至第二驅動器202之致能單元308。
為了更加詳細說明本發明之控制電路10與第一驅動器201之間如何自我測試,請進一步參閱第三C圖,其為本發明之控制電路之步驟示意圖之第一實施例,請一併第三D圖,其為本發明之驅動器之步驟示意圖之第一實施例。如第三C圖與第三D圖所示,執行控制電路10與第一驅動器201之自我測試之流程圖。執行步驟S200,該控制電路10開始執行自我測試,系統控制處理單元SC接收來自一時脈訊號單元CG之一時脈控制訊號CLK以驅動一面板測試模型控制元件M1。執行步驟S210,系統控制處理單元SC驅動控制計數器CC執行歸零,即驅使控制計數器CC之第一計數數值CN1歸零,該控制電路10經由該系統控制處理單元SC通過致能線ENL傳送該致能訊號EN至第一驅動器201,第一測試模組12之面板測試模型控制元件M1傳送起始訊號ST至第二測試模組222之面板測試模型驅動單元M2。
接續上述,第一驅動器201執行步驟S300,第一驅動器201之第二測試模組222接收起始訊號ST,起始訊號ST使驅動計數器UC開始計數,因而
開始執行自我測試,執行步驟S310,第一驅動器201歸零驅動計數器UC,即驅動計數器UC將其內部之第二計數數值CN2歸零,執行步驟S320,驅動計數器UC歸零並未計數第二計數數值CN2至1或2或3,因此一直判斷為假(NO),而執行步驟S340至步驟S380。步驟S380中第一驅動器201接收起始訊號ST並使第一驅動器201設定為輸入模式,即將第一驅動器201之第一資料端D0設定為輸入模式。接續執行步驟S390,第一驅動器201執行判定其所接收該致能訊號EN是否致能。若判斷為真(YES)則執行步驟S400,第一驅動器201之驅動計數器UC計數第二計數數值CN2加1,此時第一計數數值CN1為0,第二計數數值CN2為1。此時,控制電路10執行步驟S220,傳送第一電位V1至第一驅動器201,而第一驅動器201接續執行步驟S320至步驟S360,因步驟S360判定第二計數數值CN2為1,則執行步驟S370依據第一電位V1傳送第一回傳電位B0至控制電路10,並且執行步驟S390直到判定所接收該致能訊號EN為致能時。若是第一驅動器201接收致能訊號EN則接續執行步驟S400,驅動計數器UC計數第二計數數值CN2加1,此時第二計數數值CN2為2。
請一併參閱第三E圖與第三F圖,其為本發明之訊號時序示意圖與電位傳輸示意圖之第一實施例。於本實施例中,控制電路10於致能訊號EN內開始執行自我測試,同時傳送起始訊號ST至第一驅動器201,使第一驅動器201一併開始自我測試,該控制電路10經由資料感測器DE通過第一資料線DL0傳送一第一電位V1至第一驅動器201之資料控制單元304,第一驅動器201的第一資料端D0用以接收該第一電位V1,於本第一實施例中,第二計數數值CN2為1。該第一電位V1為致能,藉由該控制電路10傳送第一電位V1至第一驅動器201,使第一驅動器201透過第一資料線DL0回傳第一回傳電位B0至控制電路10,相
當於傳送第一電位V1至控制電路10,透過該第一電位V1確認第一驅動器201是否發生短路,於本實施例中雖提出該第一電位V1為高電位,但並不限定於高電位,只要能夠以該第一電位V1確認該第一驅動器201並未發生短路即可繼續測試。
請一併參閱第一C圖、第一D圖與第三A圖至第三F圖。控制電路10接續執行步驟S230,控制電路10之資料感測器DE比對第一回傳電位B0與第一預設參數DE0。當判斷為真(YES)時,接續執行步驟S240,控制電路10傳送第二電位V2至第一驅動器201。當判斷為假(NO)時,執行步驟S20。於本實施例中,第一預設參數DE0對應之電位為第一電位V1,因此,控制電路10經由該資料感測器DE接收第一回傳電位B0比對第一預設參數DE0,相當於第一電位V1比對第一電位V1,所以判斷為真(YES),因而接續執行步驟S240。但是當判斷為假(NO)時,該控制電路10判定執行步驟S20,該控制電路10判斷第一計數數值CN1是否等於N,即判斷是否已測試至第N驅動器20N。當第一計數數值CN1為N時,執行步驟S40,表示自我測試已經完整結束。若第一計數數值CN1不等於N時,執行步驟S30,表示當前測試之驅動器異常,此時控制電路10停止測試並由系統控制處理單元SC產生一異常訊號進行報錯,例如:第二驅動器202異常,異常訊號對應至第二驅動器202。
請一併參閱第一C圖、第一D圖與第三A圖至第三F圖。執行步驟S240,控制電路10經由資料感測器DE通過第一資料線DL0傳送一第二電位V2至第一驅動器201之資料控制單元304,第一驅動器201的第一資料端D0用以接收該第二電位V2。
接續上述,於本實施例中電位該第二電位V2為低電位,藉由該控制電路10傳送第二電位V2至第一驅動器201中,第一驅動器201之資料控制單元304即依據第二電位V2下拉電位以確認該第一驅動器201是否可產生電位變動,因此第二電位V2必須與第一電位V1不同,於本實施例中雖提出第二電位V2為低電位,但並不限定於低電位,只要能夠以該第二電位V2確認第一驅動器201可產生電位變化即可續行測試。
此時,第一驅動器201執行步驟S320,判斷為假(NO),接續執行步驟S340,第一驅動器201判定第二計數數值CN2為2,執行步驟S350,第一驅動器201進行通過第一資料線DL0傳送第二回傳電位B1至控制電路10,控制電路10即可透過第二回傳電位B1確認第一驅動器201是否可產生電位變動,其中,第一驅動器201經由第一資料線DL0回傳第二回傳電位B1到控制電路10,相當於第一驅動器201直接回傳第二電位V2至控制電路10。當第一驅動器201執行步驟S350後並且執行步驟S390直到判定所接收該致能訊號EN為致能時。若是第一驅動器201接收致能訊號EN則接續執行步驟S400,驅動計數器UC計數第二計數數值CN2加1,此時第二計數數值CN2為3。
復參閱請一併參閱第一C圖、第一D圖與第三A圖至第三F圖。控制電路10接收第二回傳電位B1後,執行步驟S250,以第二回傳電位B1比對預先設置於控制電路10或於測試流程中輸入至控制電路10之第二預設參數DE1,於本實施例中,第二預設參數DE1對應之電位為第二電位V2,當兩者相同時,控制電路10持續執行步驟S260,若兩者不同或控制電路10並未接收到第二回傳電位B1時,控制電路10接續執行步驟S20,控制電路10判斷第一計數數值是否等於N,步驟S20至步驟S40不再贅述。
接續上述,在完成步驟S250且第二回傳電位B1等於第二預設參數DE1後,控制電路10執行步驟S260,控制電路10之控制計數器CC加1,也就是第一計數數值CN1加1,此時CN為1,與此同時,控制電路10傳送致能訊號EN至第一驅動器201,此時第二計數數值CN2為3,第一驅動器201接續執行步驟S320,因判斷為真,接續執行步驟S330,第一驅動器201設定為輸入模式,即將第一驅動器201之第一資料端D0設定為輸入模式,且第一驅動器201之驅動計數器UC驅使輸出控制單元P通過致能輸出端ENO輸出致能訊號EN至與其串連的下一個驅動器202之致能輸入端ENI(如第一B圖所示之第一驅動器201之致能輸出端ENO耦接第二驅動器202之致能輸入端ENI,因此第一驅動器201傳送致能訊號EN至第二驅動器202),並控制電路10重複執行步驟S220~S260以及第二驅動器202執行步驟S300~S400直到第一計數數值CN1為N(完成該些個驅動器201~20N之測試)或是執行步驟S30,判定異常發生時停止測試。
復參閱第三E圖,第三E圖的ENI(201)表示第一驅動器201的致能輸入端ENI的訊號,D0(201)表示第一驅動器201的第一資料端D0的訊號,ENI(202)表示第二驅動器202的致能輸入端ENI的訊號,D0(202)表示第二驅動器202的第一資料端D0的訊號,其中第一電位V1與第二電位V2較佳實施例可為反相,但不以此為限,只要第一電位V1與第二電位V2能達成測試功能即可。在此實施例中,控制電路10是分時輸出第一電位V1與第二電位V2。
復參閱第三A圖與第三C圖,在第三A圖中是以執行步驟S100~S150以確定是否要執行步驟S170。在另一實施例中,若步驟S150判斷為真則可以增加執行步驟S100~S120,此時若該增加步驟S120判斷為真則執行步驟S170。在第三C圖中是以執行步驟S220~S250以確定是否要執行步驟S260。
在另一實施例中,若步驟S250判斷為真則可以增加執行步驟S220~S230,此時若該增加步驟S230判斷為真則執行步驟S260。
本發明前述實施例之顯示驅動裝置之測試方法,提供一種利用面板電路進行測試之方法,藉由控制電路10及驅動器間的一資料線DL0傳輸電位V1、V2與回傳電位B0、B1進行內建自我測試,克服了現有需設置外部測試電路或以測試器進行測試的問題。
接下來,請參閱第四A圖至第四E圖,其為本發明顯示驅動裝置之測試方法之流程圖、控制電路與驅動器及資料線之示意圖、控制電路之步驟示意圖、驅動器之步驟示意圖及訊號時序示意圖。本發明在前述實施例之基礎上,更包含一第三電位V3與一第四電位V4。第一電位V1與第三電位V3為經第一資料線DL0進行傳輸,第二電位V2與第四電位V4為經第二資料線DL1進行傳輸,其中第三電位V3與第四電位V4較佳實施例可為第一電位V1與第二電位V2之反相,或第四電位V4等於第一電位V1,第三電位V3等於第二電位V2,但不以此為限,只要第三電位V3與第四電位V4能達成測試功能即可。第一驅動器201同時通過該第一資料線DL0與第二資料線DL1回傳對應之回傳電位B0~B3至控制電路10,以進行測試。
復參閱第一C圖、第一D圖與第四A圖至第四E圖。於本實施例中步驟包含:步驟S102:控制電路傳送第一電位與第二電位至第一驅動器;步驟S112:第一驅動器傳送第一回傳電位與第二回傳電位至控制電路;
步驟S122:控制電路比對第一回傳電位與第二回傳電位是否等於第一預設參數與第二預設參數;步驟S132:控制電路傳送第三電位與第四電位至第一驅動器;步驟S142:第一驅動器傳送第三回傳電位與第四回傳電位至控制電路;步驟S152:控制電路比對第三回傳電位與第四回傳電位是否等於第三預設參數與第四預設參數;步驟S160:控制電路停止往第二驅動器測試;以及步驟S170:驅動器傳送致能訊號至下一驅動器。
其中,S160與S170同於上一實施例,不再贅述。接續,於步驟S102中,控制電路10通過該第一資料線DL0傳送第一電位V1至第一驅動器201,控制電路10通過第二資料線DL1傳送之第二電位V2至第一驅動器201,第一驅動器201的第一資料端D0用以接收該第一電位V1,第一驅動器201的第二資料端D1用以接收該第二電位V2,於本實施例中第一電位V1為高電位,第二電位V2為低電位,藉由第一電位V1抬升,第二電位V2下拉以確認第一驅動器201是否發生短路,於本實施例中雖提出第一電位V1為高電位,第二電位V2為低電位,但並不限定其電位,只要能夠以第一電位V1及第二電位V2確認第一驅動器201並未發生短路即可續行測試。
於步驟S112中,在確認第一驅動器201是否發生短路後,第一驅動器201通過第一資料線DL0回傳送第一回傳電位B0及通過第二資料線DL1回傳第二回傳電位B1到控制電路10,於本實施例中,更可為第一驅動器201直接回傳第一電位V1及第二電位V2至控制電路10。接續於步驟S122中,依據第一預
設參數DE0與第二預設參數DE1比對第一回傳電位B0及第二回傳電位B1,當相同時,接續執行步驟S132。
於步驟S132中,於本實施例中,該控制電路10傳送第三電位V3與第四電位V4,於本實施例中第三電位V3為低電位,第四電位V4為高電位,透過第三電位V3下拉及第四電位V4抬升以確認第一驅動器201是否可產生電位變動,因此該第三電位V3必須與該第一電位V1不同,該第四電位V4必須與該第三電位V3不同,於本第二實施例中雖提出第三電位V3為低電位,第四電位V4為高電位,但並不限定其電位高低,只要能夠以第三電位V3及第四電位V4確認第一驅動器201可產生電位變動即可續行測試。於步驟S142中,第一驅動器201經第一資料線DL0與第二資料線DL1傳送第三回傳電位B2及第四回傳電位B3至控制電路10,於本實施例中,第一驅動器201直接回傳第三電位V3及第四電位V4至控制電路10。接續執行步驟S152,依據第三預設參數DE2與第四預設參數DE3比對第三回傳電位B2與第四回傳電位B3,當相同時,執行步驟S170,當有一者不同時,即執行步驟S160。
完成第一驅動器201之一輪測試後同樣將第一驅動器201之該致能訊號EN傳送至下一驅動器202進行測試,第一驅動器201之驅動計數器UC驅使輸出控制單元P通過致能輸出端ENO輸出致能訊號EN至與其串連的下一個驅動器202之致能輸入端ENI(如第一B圖所示之第一驅動器201之致能輸出端ENO耦接第二驅動器202之致能輸入端ENI,因此第一驅動器201傳送致能訊號EN至第二驅動器202),並重複執行第四C圖所示步驟S222~S260以及第四D圖步驟S300~S400。
進一步參閱第四C圖與第四D圖之步驟示意圖,其參照第四A圖之流程圖,而與前一實施例之第三C圖與第三D圖之間的差異在於進一步控制電路10增加傳送第三電位V3與第四電位V4至第一驅動器201、第二驅動器202,同時第一驅動器201、第二驅動器202增加回傳第三回傳電位B2與第四回傳電位B3。
其中步驟S200~S210、步驟S260、步驟S20~S40以及步驟S300~S310、S390~S400與前述實施例之相同,因此不再贅述。於步驟S222中,控制電路10改為傳輸第一電位V1與第二電位V2至第一驅動器201。基於第二計數數值CN2為0則執行至步驟S382,第一驅動器201設定為輸入模式,即將第一驅動器201之第一資料端D0與第二資料端D1設定為輸入模式,並接續執行至步驟S400使第二計數數值CN2為1。接續於步驟S362,第一驅動器201因第二計數數值CN2為1,而接續執行步驟S372第一驅動器201之驅動計數器UC驅動資料控制單元304回傳第一回傳電位B0與第二回傳電位B1至控制電路10,並接續執行至步驟S400使第二計數數值CN2為2。接續控制電路10執行步驟S232,依據資料感測器DE之一第一預設參數DE0與一第二預設參數DE1進行比對,在第一回傳電位B0不等於第一預設參數DE0或第二回傳電位B1不等於第二預設參數DE1時,控制電路10執行步驟S20,驅使停止第一驅動器201往第二驅動器202輸出致能訊號EN,並判斷第一計數數值CN1是否為N,當判斷為假(NO)時,控制電路10執行步驟S30,當判斷為真(YES)時,控制電路10執行步驟S40。
接續上述,當第一回傳電位B0等於第一預設參數DE0且第二回傳電位B1等於第二預設參數DE1時,控制電路10執行步驟S242,如第四F圖所示,經資料感測器DE傳送第三電位V3與第四電位V4至第一驅動器201之資料控
制單元304,第一驅動器201接續執行步驟S342,第一驅動器201因第二計數數值CN2為2,而接續執行步驟S352,並接續執行至步驟S400使第二計數數值CN2為3。如第四F圖所示,讓第一驅動器201之驅動計數器UC驅動資料控制單元304傳送第三回傳電位B2與第四回傳電位B3至控制電路10之資料感測器DE。於步驟S252中,控制電路10之資料感測器DE依據第三預設參數DE2與第四預設參數DE3比對第三回傳電位B2與第四回傳電位B3,當第三回傳電位B2不等於第三預設參數DE2或第四回傳電位B3不等於第四預設參數DE3時,控制電路10執行步驟S20,步驟S20至步驟S40不再贅述。
承接上述,當第三回傳電位B2等於第三預設參數DE2及第四回傳電位B3等於第四預設參數DE3時,執行步驟S260,同時第一驅動器201接續執行步驟S320,因判斷為真,接續執行步驟S332,第一驅動器201設定為輸入模式,即將第一驅動器201之第一資料端D0與第二資料端D1設定為輸入模式,且第一驅動器201之驅動計數器UC驅使輸出控制單元P通過致能輸出端ENO輸出致能訊號EN至與其串連的下一個驅動器202之致能輸入端ENI(如第一B圖所示之第一驅動器201之致能輸出端ENO耦接第二驅動器202之致能輸入端ENI,因此第一驅動器201傳送致能訊號EN至第二驅動器202)。
復參閱第四E圖,第四E圖的ENI(201)表示第一驅動器201的致能輸入端ENI的訊號,D0(201)表示第一驅動器201的第一資料端D0的訊號,D1(201)表示第一驅動器201的第二資料端D1的訊號,ENI(202)表示第二驅動器202的致能輸入端ENI的訊號,D0(202)表示第二驅動器202的第一資料端D0的訊號,D1(202)表示第二驅動器202的第二資料端D1的訊號。
復參閱第四A圖與第四C圖,在第四A圖中是以執行步驟S102~S152以確定是否要執行步驟S170。在另一實施例中,若步驟S152判斷為真則可以增加執行步驟S102~S122,此時若該增加步驟S122判斷為真則執行步驟S170。在第四C圖中是以執行步驟S222~S252以確定是否要執行步驟S260。在另一實施例中,若步驟S252判斷為真則可以增加執行步驟S222~S232,此時若該增加步驟S232判斷為真則執行步驟S260。
本發明第二實施例之顯示驅動裝置之測試方法,於本發明第一實施例之基礎上,提供一種利用多個資料線進行測試的方法,不僅克服了現有需設置外部測試電路或以測試器進行測試的問題,更藉由多個資料線進行測試達到同時檢測,進一步減少檢測流程。
綜上所述,本發明之各實施例提供了數種改良的顯示驅動裝置之測試方法,藉由控制電路及驅動器間的資料來回傳輸進行內建自我測試,克服了現有需設置外部測試電路或以測試器進行測試的問題,更進一步提供利用多個資料線同時進行測試的方法,不僅克服了現有需設置外部測試電路或以測試器進行測試的問題,更藉由多個資料線進行測試達到同時檢測,進一步減少檢測流程。
故本發明實為一具有新穎性、進步性及可供產業上利用者,應符合我國專利法專利申請要件無疑,爰依法提出發明專利申請,祈 鈞局早日賜准專利,至感為禱。
惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,並非用來限定本發明實施之範圍,舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾,均應包括於本發明之申請專利範圍內。
S10~S40:步驟
Claims (19)
- 一種顯示驅動裝置,其包含: 一控制電路,其係包含一第一預設參數、一第二預設參數與一第一測試模組;以及 一第一驅動器,耦接該控制電路; 一第二驅動器,耦接該控制電路並串聯該第一驅動器; 其中,該控制電路傳送一致能訊號至該第一驅動器,以依序測試該第一驅動器與該第二驅動器,該控制電路傳送一第一電位及/或一第二電位至該第一驅動器,使該第一驅動器回傳一第一回傳電位與/或一第二回傳電位至該控制電路,該第一測試模組依據該第一預設參數及/或該第二預設參數比對該第一回傳電位及/或該第二回傳電位,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數時,該控制電路停止往該第二驅動器進行測試。
- 如請求項1所述之顯示驅動裝置,其中,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該第一驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器,且該控制電路傳送該第一電位與該第二電位至該第二驅動器,以測試該第二驅動器。
- 如請求項1所述之顯示驅動裝置,其中,該控制電路經一第一資料線分時輸出該第一電位與該第二電位,而傳送至該第一驅動器,該第一驅動器經該第一資料線分時回傳該第一回傳電位與該第二回傳電位至該控制電路。
- 如請求項3所述之顯示驅動裝置,其中該控制電路包含一控制計數器,該控制計數器依據該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數而對一第一計數數值加1,當該第一計數數值等於N時,該控制電路結束測試,當該第一計數數值不等於N時,該控制電路停止測試並產生一異常訊號,其中N為表示一總驅動器數量。
- 如請求項3所述之顯示驅動裝置,其中該第一驅動器包含一驅動計數器,該驅動計數器依據該致能訊號計數一第二計數數值,當該第二計數數值計數至1時,該第一驅動器回傳該第一回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至2時,該驅動器回傳該第二回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至3時,該第一驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器。
- 如請求項1所述之顯示驅動裝置,其中該第一測試模組依據一時脈訊號產生該致能訊號至該第一驅動器,該第一驅動器與該第二驅動器分別設置一致能輸入端與一致能輸出端,該第一驅動器之該致能輸入端耦接該控制電路,該第二驅動器之該致能輸入端與該第一驅動器之該致能輸出端耦接,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該第一驅動器之該致能輸出端輸出該致能訊號至該第二驅動器之該致能輸入端。
- 如請求項1所述之顯示驅動裝置,其中該控制電路包含一面板測試模型控制元件,該面板測試模型控制元件依據一測試指令產生一起始訊號至該第一驅動器之一面板測試模型驅動單元,該面板測試模型驅動單元依據該起始訊號驅使該第一驅動器依據該致能訊號、該第一電位與該第二電位進行自我測試並產生對應之該第一回傳電位與該第二回傳電位。
- 如請求項1所述之顯示驅動裝置,其中該控制電路經一第一資料線分時輸出該第一電位與一第三電位,經一第二資料線分時輸出該第二電位與一第四電位,而傳送至該第一驅動器,該第一驅動器經該第一資料線分時回傳該第一回傳電位與一第三回傳電位,經該第二資料線分時回傳該第二回傳電位與一第四回傳電位,而回傳至該控制電路。
- 如請求項8所述之顯示驅動裝置,其中該第一驅動器包含一驅動計數器,該驅動計數器依據該致能訊號計數一第二計數數值,當該第二計數數值計數至1時,該第一驅動器回傳該第一回傳電位與該第二回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至2時,該驅動器回傳一第三回傳電位與一第四回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至3時,該驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器。
- 一種串聯式複數個驅動器之測試方法,其係應用於一控制電路依序測試一第一驅動器與一第二驅動器,該些第一驅動器串聯該第二驅動器,該控制電路傳送一致能訊號至該第一驅動器,以依序測試該第一驅動器與該第二驅動器,其測試方法之步驟包含: 該控制電路依據一第一電位及/或一第二電位測試該第一驅動器,以讓該控制電路依據一第一預設參數及/或一第二預設參數比對該第一驅動器之一第一回傳電位及/或一第二回傳電位; 其中,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數時,該控制電路停止往該第二驅動器進行測試。
- 如請求項10所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該驅動器將該致能訊號傳送至一第二驅動器,且該第二驅動器重複該第一驅動器之測試步驟。
- 如請求項10所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中於該控制電路依據一第一電位與一第二電位依序測試該第一驅動器,以讓該控制電路依據一第一預設參數及/或一第二預設參數比對該第一驅動器之一第一回傳電位及/或一第二回傳電位之步驟中,其包含: 該控制電路經一第一資料線傳送該第一電位至該第一驅動器; 該第一驅動器經該第一資料線回傳該第一回傳電位至該控制電路; 該控制電路比對該第一回傳電位是否等於該第一預設參數; 當該第一回傳電位等於該第一預設參數時,該控制電路經該第一資料線傳送該第二電位至該第一驅動器; 該第一驅動器經該第一資料線回傳該第二回傳電位至該控制電路;以及 該控制電路比對該第二回傳電位是否等於該第二預設參數; 其中,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數時,該控制電路停止測試。
- 如請求項12所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中,當該第一回傳電位等於該第一預設參數及該第二回傳電位等於該第二預設參數時,該驅動器將該致能訊號傳送至該第二驅動器,且該控制電路與該第二驅動器重複上述之該控制電路與該第一驅動器之測試步驟。
- 如請求項12所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中該控制電路之一控制計數器計數一計數數值,更包含下列步驟: 當該計數數值等於N時,該控制電路結束測試,當該計數數值不等於N時,該控制電路停止測試並產生一異常訊號。
- 如請求項12所述之顯示驅動裝置,其中該第一驅動器包含一驅動計數器,該驅動計數器依據該致能訊號計數一第二計數數值,當該第二計數數值計數至1時,該第一驅動器經該第一資料線回傳該第一回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至2時,該第一驅動器經該第一資料線回傳該第二回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至3時,該第一驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器。
- 如請求項10所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中於該控制電路依據一第一電位與一第二電位測試該第一驅動器,以讓該控制電路依據一第一預設參數及/或一第二預設參數依序比對該第一驅動器之一第一回傳電位及/或一第二回傳電位之步驟中,其包含: 該控制電路經一第一資料線傳送該第一電位至該第一驅動器,並經一第二資料線傳送該第二電位至該第一驅動器; 該第一驅動器經該第一資料線回傳該第一回傳電位至該控制電路,並經該第二資料線回傳該第二回傳電位至該控制電路; 該控制電路比對該第一回傳電位與該第二回傳電位是否等於該第一預設參數與該第二預設參數; 當該第一回傳電位與該第二回傳電位等於該第一預設參數與該第二預設參數時,該控制電路經該第一資料線傳送一第三電位至該第一驅動器,並經該第二資料線傳送一第四電位至該第一驅動器; 該第一驅動器經該第一資料線回傳一第三回傳電位至該控制電路,並經該第二資料線回傳一第四回傳電位至該控制電路;以及 該控制電路比對該第三回傳電位與該第四回傳電位是否等於一第三預設參數與一第四預設參數; 其中,當該第一回傳電位不等於該第一預設參數或該第二回傳電位不等於該第二預設參數或該第三回傳電位不等於該第三預設參數或該第四回傳電位不等於該第四預設參數時,該控制電路停止往該第二驅動器測試。
- 如請求項16所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中,當該第一回傳電位等於該第一預設參數、該第二回傳電位等於該第二預設參數、該第三回傳電位等於該第三預設參數及該第四回傳電位等於該第四預設參數時,該驅動器將該致能訊號傳送至該第二驅動器,且該控制電路與該第二驅動器重複上述該控制電路與該第一驅動器之測試步驟。
- 如請求項16所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,其中該第一驅動器包含一驅動計數器,該驅動計數器依據該致能訊號計數一第二計數數值,當該第二計數數值計數至1時,該第一驅動器經該第一資料線回傳該第一回傳電位至該控制電路,並經該第二資料線回傳該第二回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至2時,該第一驅動器經該第一資料線回傳該第三回傳電位至該控制電路,並經該第二資料線回傳該第四回傳電位至該控制電路,當該第二計數數值計數至3時,該驅動器傳送該致能訊號至該第二驅動器。
- 如請求項10所述之串聯式複數個驅動器之測試方法,更包含下列步驟: 該控制電路傳送一起始訊號至該第一驅動器; 其中該控制電路進一步依據一測試指令產生該起始訊號,該第一驅動器接收該起始訊號,並依據該起始訊號進行測試。
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