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TWI877441B - 捲取輥以及捲取於該捲取輥的光學薄膜捲 - Google Patents

捲取輥以及捲取於該捲取輥的光學薄膜捲 Download PDF

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Abstract

本發明課題係提供一種可顯著抑制於所捲取之薄膜上發生壓痕的捲取輥。 其解決手段為本發明實施形態之捲取輥，其具有圓柱狀橡膠製芯與以捲繞於芯上之樹脂薄膜構成之平滑化層。

Description

捲取輥以及捲取於該捲取輥的光學薄膜捲
本發明涉及一種捲取輥以及捲取於該捲取輥的光學薄膜捲。
薄膜可用於廣泛之用途上。作為所述薄膜可舉例如用於影像顯示裝置之光學薄膜、用於食品關係上之包裝薄膜。薄膜在大多情況下可以捲取於捲取輥的薄膜捲之形式來保管及輸送。近年來，薄膜之薄型化正在顯著地發展。隨著薄膜之薄型化發展，以往不成為問題之壓痕便漸成為問題。所述問題在有關缺陷等之容許基準嚴格的光學薄膜中便特別顯著。 先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利特開2011-184152號公報
發明欲解決之課題 本發明是為了解決上述以往課題而完成者，其主要目的在於提供一種可顯著抑制於所捲取之薄膜上發生壓痕的捲取輥。
用以解決課題之手段 本發明實施形態之捲取輥具有圓柱狀橡膠製芯與以捲繞於該芯上之樹脂薄膜構成之平滑化層。 在一實施形態中，上述捲取輥之硬度利用輥硬度測定器測定之BC值為100g以下。 在一實施形態中，上述樹脂薄膜之厚度為15μm以上。 在一實施形態中，上述樹脂薄膜係選自於聚對苯二甲酸乙二酯薄膜、聚乙烯薄膜、雙軸延伸聚丙烯薄膜及環狀烯烴系樹脂薄膜。 根據本發明另一態樣係提供一種光學薄膜捲。該光學薄膜捲係於上述捲取輥上捲取光學薄膜而成。 在一實施形態中，上述光學薄膜包含偏光板。 在一實施形態中，上述偏光板之厚度為500μm以下。
發明效果 根據本發明實施形態，藉由將捲取輥構成為具有橡膠製芯與捲繞於該芯上之樹脂薄膜之平滑化層，可實現可顯著抑制於所捲取之薄膜上發生壓痕的捲取輥。
以下，參照附圖對本發明具體實施形態進行說明，但本發明不受該等實施形態所限。此外，為了便於觀看而示意性顯示圖式，並且附圖中之長度、寬度、厚度等的比率以及角度、高度差等與實際不同。
A.捲取輥 圖1是本發明一實施形態之捲取輥之與長度方向(捲取之薄膜之寬度方向)正交之方向的概略截面圖；圖2是圖1之捲取輥的概略立體圖。圖示例之捲取輥100具有圓柱狀芯10與以捲繞於芯10上之樹脂薄膜22構成之平滑化層20。芯10代表上為橡膠製。如所述，藉由於橡膠製之柔軟的芯上捲繞樹脂薄膜而形成平滑化層，可顯著抑制於所捲取之薄膜上發生壓痕。更詳細而言如以下所述。以往，捲取輥係廣泛使用僅由硬質的芯(例如纖維強化塑膠(FRP)、金屬)構成之輥。所述輥有於處於被捲取成捲之狀態的薄膜上發生壓痕(稱為捲取壓痕)之問題。為了解決所述問題，可知：在使芯(實質上為輥)變柔軟後，容易於芯本身產生傷痕等損傷，又會因柔軟造成表面褶皺或發生凹凸，而該等會造成壓痕發生，結果無法充分抑制壓痕。發明人等對捲取輥之構成與壓痕之關係進行了深入討論，結果發現藉由於柔軟的芯上捲繞預定之樹脂薄膜而形成平滑化層，便皆可解決硬質的芯(實質上為輥)或柔軟的芯(實質上為輥)中之任一問題點，從而完成了本發明。
作為硬度的指標，捲取輥利用輥硬度測定器測定之BC值宜為100g以下，較宜為27g~80g，更宜為30g~75g，尤宜為40g~70g。BC值若在所述範圍內，便可更良好地抑制壓痕發生。此外，作為輥硬度測定器，可舉例如Tapio Technologies公司製「RQP」。
芯10代表上如上述為橡膠製。作為橡膠，只要可獲得本發明實施形態之效果，便可使用任意適當之橡膠。作為橡膠之代表例，可舉丁腈橡膠、乙烯丙烯橡膠、聚矽氧橡膠、丁基橡膠、胺甲酸酯等。宜為丁腈橡膠或胺甲酸酯。該等低價且容易獲得，並且具有柔軟之優點。
構成芯10之橡膠的硬度(利用硬度計A型測定所得者)宜為10~100，較宜為15~95。硬度若在所述範圍內，便具有不易發生壓痕之優點。
芯10之長度可因應捲取之薄膜之寬度來適當設定。芯之長度例如可為1000mm以上，又例如可為1000mm~4000mm，又例如亦可為1300mm~2000mm。芯10之直徑可因應芯之長度、薄膜之捲取量等來適當設定。芯之直徑例如可為20mm~400mm，又例如亦可為25mm~300mm。
作為構成平滑化層20之樹脂薄膜22，只要可獲得本發明實施形態之效果，便可使用任意適當之樹脂薄膜。作為樹脂薄膜，可舉例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜、聚乙烯(PE)薄膜、雙軸延伸聚丙烯(OPP)薄膜、環狀烯烴系樹脂(COP)薄膜。樹脂薄膜亦可為由該等薄膜之構成樹脂之組合(摻混物、共聚物等)形成之薄膜。宜為PET薄膜。其係因其容易獲得且防止壓痕效果優異。
樹脂薄膜之拉伸彈性模數宜為1000MPa~8000MPa，較宜為1500MPa~5000MPa。拉伸彈性模數若在所述範圍內，便具有在捲取輥製作步驟中不易斷裂、容易輸送之優點。
樹脂薄膜之厚度宜為15μm以上，較宜為22μm以上，更宜為27μm以上，尤宜為35μm以上。樹脂薄膜之厚度若在所述範圍內，便可實現上述所期望之BC值，並可更良好地抑制壓痕發生。樹脂薄膜之厚度的上限例如可為500μm。樹脂薄膜若過厚，有難以成形之情形，又有發生成本增大之問題的情形。
樹脂薄膜之捲繞量可因應芯之直徑等來適當設定。樹脂薄膜之捲繞量宜為3m以上，較宜為10m以上，更宜為20m以上，尤宜為25m以上。樹脂薄膜之捲繞量若在所述範圍內，便可形成所期望之平滑化層。結果，可實現上述所期望之BC值，並可更良好地抑制壓痕發生。即便過度增大樹脂薄膜之捲繞量，效果實質上亦不會改變，因此由成本之觀點來看，捲繞量的上限例如可為200m。
與芯(捲取輥)之長度方向正交之方向的截面中，芯之直徑方向的平滑化層之厚度T宜為1mm~200mm，較宜為1mm~100mm，更宜為2mm~80mm。平滑化層之厚度T相對於芯之直徑D的比率(T/D)宜為1%~100%，較宜為1%~50%，更宜為1%~40%，尤宜為2%~30%。若為所述構成，便可實現上述所期望之BC值，並可更良好地抑制壓痕發生。
平滑化層代表上具有無波紋、褶皺、凹凸、粗糙等之平坦且平滑之表面。若為所述構成，便可更良好地抑制壓痕發生。平滑化層之厚度的參差越小越佳。具體而言，平滑化層在1m 2之任意10點測定之厚度的參差(最大值與最小值的差)宜為5μm以下，較宜為3μm以下，更宜為1μm~2μm。
作為由捲取輥捲取之薄膜，可舉任意適當之薄膜。作為代表例，可舉樹脂薄膜之單一薄膜或包含樹脂薄膜之積層薄膜。作為捲取對象薄膜之具體例，可舉任意適當之工業用薄膜(例如光學薄膜、包裝薄膜、膠帶用基材薄膜)。宜為光學薄膜。光學薄膜之有關缺陷等之容許基準嚴格，因此本發明實施形態所帶來之效果顯著。光學薄膜具有光學功能，代表上可為可應用於影像顯示裝置之任意適當之薄膜。作為光學薄膜之具體例，可舉偏光件、相位差薄膜、偏光板(代表上為偏光件與保護薄膜之積層體)、觸控面板用導電性薄膜、表面處理薄膜以及因應目的適當積層之積層體(例如抗反射用圓偏光板、觸控面板用附導電層之偏光板)。在一實施形態中，光學薄膜包含偏光板。偏光板之厚度例如可為500μm以下，又例如可為30μm~300μm，又例如亦可為50μm~170μm。如上述，光學薄膜之有關缺陷等之容許基準嚴格，並且隨著光學薄膜之薄型化，以往不成為問題之壓痕便成為問題。因此，在所述薄型光學薄膜(例如偏光板)中，本發明實施形態之效果顯著。此外，偏光板之厚度是指偏光件、保護薄膜以及用以積層該等的接著劑或黏著劑之合計厚度，而不包含用以將偏光板貼附於影像顯示面板的黏著劑之厚度。又，偏光板可為單獨之偏光板，亦可為積層體(例如抗反射用圓偏光板、觸控面板用附導電層之偏光板)中所含之偏光板。
B.光學薄膜捲 光學薄膜可捲取於本發明實施形態之捲取輥而形成光學薄膜捲。因此，光學薄膜捲亦包含於本發明實施形態中。圖3是本發明一實施形態之光學薄膜捲之與寬度方向(捲取輥之長度方向)正交之方向的概略截面圖。圖示例之光學薄膜捲200係於如圖1與圖2所示之捲取輥100上捲取光學薄膜120而成。本發明實施形態之光學薄膜捲有顯著抑制住壓痕，因此可以最終製品之形式使用至光學薄膜之長度方向端部為止。即，本發明實施形態之光學薄膜捲的製品成品率高，結果可抑制成本。更詳細而言如以下所述。所捲取之薄膜捲中，壓痕在大多情況下會發生於薄膜捲中心部(即，接近捲取輥之環繞部分)。根據本發明實施形態，可顯著抑制光學薄膜在接近捲取輥之環繞部分之所述壓痕，因此可以最終製品之形式使用至光學薄膜之長度方向端部為止，並可提高成品率。
光學薄膜捲可藉由任意適當之方法來製作。在一實施形態中，如圖4所示，光學薄膜捲亦可從本發明實施形態之捲取輥之製作來連續製作。具體而言，亦可連續進行樹脂薄膜22往芯10之捲繞與光學薄膜120之捲取。此時，樹脂薄膜22與光學薄膜120係藉由任意適當之手段安裝。作為安裝手段，可舉例如黏著膠帶、接著劑。在未圖示之實施形態中，光學薄膜捲亦可於具有芯10與平滑化層20之捲取輥100上捲取光學薄膜120而形成。
實施例 以下，藉由實施例具體說明本發明，但本發明不受該等實施例所限。實施例之評估項目如以下所述。
(1)捲取輥之硬度 對在實施例與比較例中製作之捲取輥，使用輥硬度測定器(Tapio Technologies公司制，製品名為「RQP」)，於長度方向(捲取之薄膜之寬度方向)上以1mm間距測定1300點之BC值，將其平均值作為硬度。 (2)捲取輥之表面狀態 以肉眼觀察在實施例與比較例中製作之捲取輥之表面狀態，按以下基準進行了評估。 ○(良好)：未發現1mm以上之傷痕及壓痕中之任一者 ×(不良)：有發現1mm以上之傷痕及/或壓痕 (3)光學薄膜捲之缺陷數量 從在實施例與比較例中製作之光學薄膜捲切出5m之中心部(接近捲取輥之環繞部分)，以肉眼計數壓痕及缺陷之數量，換算成每1m 2之數量，按以下基準進行了評估。 ◎(優良)：未發現壓痕及缺陷(合計為零) ○(良好)：壓痕及缺陷之合計為1個~10個 △(可容許)：壓痕及缺陷之合計為11個~20個 ×(不良)：壓痕及缺陷之合計為21個以上
＜實施例1＞ 準備了直徑為152.4mm(6英寸)且長度為1600mm之圓柱狀橡膠製芯。在該芯上捲繞5m厚度為50μm之PET薄膜並形成平滑化層，製作出捲取輥。所得捲取輥之BC值為49g。又，所得捲取輥之表面狀態為良好。
藉由常規方法，製作了具有三醋酸纖維素(TAC)保護薄膜(厚度為25μm)/偏光件(厚度為5μm)/丙烯酸系保護薄膜(厚度為20μm)/黏著劑層(20μm)/分離件之構成之偏光板。將該偏光板捲取1000m至上述所得捲取輥，製作出光學薄膜捲(偏光板捲)。關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估為優良。
＜實施例2~3＞ 除了以表1所示捲繞量將PET薄膜捲繞於芯外，以與實施例1相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
＜實施例4~12＞ 除了以表1所示捲繞量將表1所示厚度之PET薄膜捲繞於芯外，以與實施例1相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
＜比較例1＞ 將實施例1之芯直接作為捲取輥。即，除了未捲繞PET薄膜外，以與實施例1相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
＜比較例2＞ 除了使用直徑為152.4mm(6英寸)且長度為1600mm之圓柱狀FRP製芯外，以與實施例4相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
＜比較例3~4＞ 除了以表1所示捲繞量將PET薄膜捲繞於芯外，以與比較例2相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
＜比較例5＞ 將比較例2之芯直接作為捲取輥。即，除了未捲繞PET薄膜外，以與比較例2相同方式製作捲取輥。除了使用該捲取輥外，以與實施例1相同方式製作光學薄膜捲。於表1中顯示所得捲取輥之BC值及表面狀態、以及關於所得光學薄膜捲之缺陷之評估。
[表1]
＜評估＞ 由表1明顯可知，與比較例相比，根據本發明實施例有更顯著抑制住光學薄膜捲之壓痕及缺陷。
產業上之可利用性 本發明實施形態之捲取輥可用於任意適當之薄膜之捲取，尤其可適宜用於光學薄膜之捲取。
10:芯 20:平滑化層 22:樹脂薄膜 100:捲取輥 120:光學薄膜 200:光學薄膜捲 D:芯之直徑 T:平滑化層之厚度
圖1是本發明一實施形態之捲取輥之與長度方向正交之方向的概略截面圖。 圖2是圖1之捲取輥的概略立體圖。 圖3是本發明一實施形態之光學薄膜捲之與寬度方向正交之方向的概略截面圖。 圖4是說明本發明實施形態之光學薄膜捲的製造過程之一例的概略立體圖。
10:芯
20:平滑化層
22:樹脂薄膜
100:捲取輥
D:芯之直徑
T:平滑化層之厚度

Claims (5)

  1. 一種捲取輥，具有圓柱狀橡膠製芯與以捲繞於該芯上之樹脂薄膜構成之平滑化層；該樹脂薄膜之厚度為20μm~50μm；該捲取輥之硬度利用輥硬度測量器測定之BC值為32g~68g；與該芯之長度方向正交之方向的截面中，該芯之直徑方向的平滑化層之厚度T為1mm~200mm。
  2. 如請求項1之捲取輥，其中前述樹脂薄膜係選自於聚對苯二甲酸乙二酯薄膜、聚乙烯薄膜、雙軸延伸聚丙烯薄膜及環狀烯烴系樹脂薄膜。
  3. 一種光學薄膜捲，係於如請求項1或2之捲取輥上捲取光學薄膜而成。
  4. 如請求項3之光學薄膜捲，其中前述光學薄膜包含偏光板。
  5. 如請求項4之光學薄膜捲，其中前述偏光板之厚度為500μm以下。
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