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TWI870532B - 介電質屏蔽式電漿產生裝置及介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法 - Google Patents

介電質屏蔽式電漿產生裝置及介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法 Download PDF

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TWI870532B
TWI870532B TW110100033A TW110100033A TWI870532B TW I870532 B TWI870532 B TW I870532B TW 110100033 A TW110100033 A TW 110100033A TW 110100033 A TW110100033 A TW 110100033A TW I870532 B TWI870532 B TW I870532B
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voltage side
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TW110100033A
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平岡尊宏
中村謙介
鮫島貴紀
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日商牛尾電機股份有限公司
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Abstract

本發明的課題，係提供可有效率地從吹出口的全區域，均勻地噴射電漿的介電質屏蔽式電漿產生裝置。 解決手段是一種介電質屏蔽式電漿產生裝置，具備：介電質基板、設置於介電質基板的第1面側的高電壓側電極、設置於介電質基板的第2面側的低電壓側電極、及設置於高電壓側電極的一端的電性導入部；在介電質基板與低電壓側電極之間，形成用以使氣體從一端側流通至另一端側的氣體流通路徑；於氣體流通路徑的另一端側，形成用以吹出流通於氣體流通路徑的氣體、及在氣體流通路徑產生的電漿的吹出口；介電質基板，係具有厚度隨著接近吹出口而變薄的部分。

Description

介電質屏蔽式電漿產生裝置及介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法
本發明係關於介電質屏蔽式電漿產生裝置及介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法。
電漿產生裝置係在塑膠、紙、纖維、半導體、液晶、薄膜等的製造工程中所使用。例如，藉由照射利用電漿產生裝置所產生的電漿，可進行提升照射對象的表面的親水性、接著性、印刷密接性等的表面處理，去除、洗淨照射對象的表面的有機物，於照射對象的表面生成氧化膜。
圖18係模式揭示先前之電漿產生裝置的立體圖。專利文獻1係如圖18所示，揭示具備對向之一對電極201、201，一方的電極201的對向面202與另一方的電極201的對向面202反向傾斜的電漿產生裝置200。
在電漿產生裝置200中，藉由一邊從上面開口導入電漿生成用氣體G，一邊對電極201、201之間施加電壓，使對向區域202產生多數條的流注放電S。在此，電漿生成用氣體G係從氣體導入孔223透過噴射板224的孔口 225，導入至對向區域202，故藉由孔口225加速，以高速噴射至對向區域202，因為該噴射，發生電漿生成用氣體G的亂流，流注放電S在對向區域202內擴散且分散。之後，藉由分散的流注放電S，涵蓋整個對向區域202，大略均勻地生成電漿P，該電漿P從對向區域202的下面開口，作為電漿噴流吹出至處理空間205，被噴吹至被處理物H。於專利文獻1，揭示可藉由採用前述構造，生成均勻的電漿。
又，藉由電極部保持介電質，確保整體的強度，故電極層設計成較厚。此種狀況中，由於受到介電質與電極金屬之線膨脹係數的相異的影響，介電質非常容易破裂，以壽命的觀點來說是其課題。介電質大概採用陶瓷材料，電極採用金屬。使用厚度薄的介電質的話，因為金屬與陶瓷的線膨脹的差異，發生機械性應變。結果，導致薄陶瓷破損。
作為彌補該缺點的方法，考量增加陶瓷的厚度以謀求強度的方法。然而，有伴隨介電質層的厚度的增加，介電損耗也會增加，故必須犧牲電漿的生成效率的課題。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2010-009890號公報
在專利文獻1所揭示的電漿產生裝置200中，欲藉由產生亂流，涵蓋整個對向區域202，大略均勻地生成電漿P。然而，在此種電極的構造所致之涵蓋整個對向區域202來生成電漿的手法中，從吹出口吹出的電漿難說是充分均勻。例如，在遠離對向區域202的吹出口的位置所生成之電漿，會到移動到吹出口為止之間消失。因此，難說是電漿從吹出口的全區域均勻噴射。又，電漿中生成之活性種的壽命比較短，在遠離對向區域202的吹出口的位置，亦即遠離被處理物的位置所生成的電漿，係到移動至吹出口為止之間消失，無法有效率地噴射電漿。
本發明係有鑑於上述的課題所發明者，其目的係提供可有效率地在吹出口的附近產生電漿，可從吹出口的全區域，均勻地噴射電漿的介電質屏蔽式電漿產生裝置。又，也提供該介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法。
本發明的介電質屏蔽式電漿產生裝置，其特徵為具備：介電質基板；高電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第1面側；低電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第2面側；及 電性導入部，係設置於前述高電壓側電極的一端；在前述介電質基板與前述低電壓側電極之間，形成用以使氣體從前述一端側流通至另一端側的氣體流通路徑；於前述氣體流通路徑的前述另一端側，形成用以吹出流通於前述氣體流通路徑的氣體、及在前述氣體流通路徑產生的電漿的吹出口；前述介電質基板，係具有厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分。
依據本發明的介電質屏蔽式電漿產生裝置，介電質基板的厚度具有隨著接近吹出口而變薄的部分，故隨著接近吹出口，靜電容會變大。然後，在施加至氣體的電壓超過崩潰電壓之處中產生放電。所以，藉由以在吹出口的附近超越崩潰電壓之方式設定介電質基板的厚度的傾斜，可在吹出口的附近產生電漿。結果，可從吹出口的全區域均勻噴射電漿。
又，因為在吹出口的附近產生電漿，故具有優良的電漿的產生效率。
又，本發明的介電質屏蔽式電漿產生裝置並未使用微波，故不需要進行用於微波的傳輸的阻抗匹配等。因此，介電質基板、高電壓側電極、吹出口的形狀並未特別受到限制。又，因為未使用微波，故不需要電磁波的洩漏對策。
又，微波所致之電漿係以高密度產生於電場強度高之駐波的波腹部分。前述駐波係不僅微波的輸入方向，也產 生於與輸入方向正交的方向。因此，從正面觀察吹出口時，電漿的密度高之處與低之處會交互發生。因此，在微波所致之電漿中，從吹出口的全區域均勻噴射電漿並不容易。
另一方面，本發明的介電質屏蔽式電漿產生裝置係為介電質屏蔽式，在施加至氣體的電壓超過崩潰電壓之處產生放電，故藉由以在吹出口的附近超過崩潰電壓之方式來設定介電質基板的厚度的傾斜，可從吹出口的全區域均勻地噴射電漿。
於前述構造中，具備施加電壓為3kV~20kV，頻率為20kHz~150kHz的電源裝置為佳。
具備如上所述之電源裝置的話，可利用介電質屏蔽方式，理想地產生電漿。將上限設為150kHz的理由，係因為該頻率考慮到電漿照射長度，又，利用EMC規格的噪音端子電壓所檢測出的頻率為150kHz~所致。
於前述構造中，前述氣體流通路徑，係具有前述介電質基板與前述低電壓側電極的間隙隨著接近前述吹出口而變窄的部分亦可。
具有前述介電質基板與前述低電壓側電極的間隙隨著接近前述吹出口而變窄的部分的話，可更增大靜電容的變化量。
於前述構造中，於前述吹出口附近且前述低電壓側電極上，具備用以防止構成前述低電壓側電極的材料飛濺的保護層。
設為在電漿產生之處的附近，亦即吹出口附近且低電壓側電極上具備保護層的話，可抑制構成低電壓側電極的材料蒸發、擴散，可防止照射對象物被污染。
於前述構造中，前述介電質基板，係以氧化鋁或氮化鋁構成為佳。
氧化鋁、氮化鋁係具有相對介電常數比較低，且比較高的強度、硬度。所以，以氧化鋁或氮化鋁構成前述介電質基板的話，可更增加每一單位電力的電漿的生成量。又，即使更薄化介電質基板，也可減低破損之虞。
其中，氮化鋁也具有良好的熱傳導性，可有效率地放出介電質基板的熱。藉此，高電壓側電極的溫度也可減低，可減低氮化鋁與高電壓側電極的熱膨脹所致之界面的壓力。結果，可延長本裝置的壽命。
於前述構造中，前述高電壓側電極係為箔狀的金屬亦可。
於前述構造中，前述高電壓側電極係為含有導電金屬的燒結體亦可。前述含有導電金屬的燒結體，係可印刷金屬膏來形成。該構造的狀況中，在將高電壓側電極形成於介電質基板上時，不需要使用接著劑。
於前述構造中，前述高電壓側電極係藉由電鍍、蒸鍍或濺鍍、熱熔射來形成亦可。該構造的狀況中，在將高電壓側電極形成於介電質基板上時，不需要使用接著劑。
於前述構造中，於前述吹出口附近且前述介電質基板的前述第2面上，配置啟動輔助構件亦可。
於使用介電質屏蔽方式的放電中，有在其放電開始時需要高電力，點燈後即使設為較低的電力，也可維持放電的特性。所以，點燈啟動時一般會採用投入高電力的方法。然而，在此種方法中，必須準備可輸出高電力的電源裝置，或採用該裝置之外，於外部將觸發電極設置於放電空間附近等的方法，有導致裝置的大型化的可能性。
於電漿放電的開始，於產生電漿之處需要存在某種程度的初始電子。因此，於產生電漿之處即吹出口附近，且介電質基板的第2面上配置啟動輔助構件的話，則在啟動初期，初始電子會被供給至吹出口附近且介電質基板上的空間。藉此，不需要電源容量大的電源裝置及啟動電路裝置，可提供小型且便宜的電漿產生裝置。
於前述構造中，具有：氣體導入路徑，係將氣體導入至前述氣體流通路徑；前述氣體導入路徑為2個以上為佳。
前述氣體導入路徑有2個以上的話，氣體從2處以上導入至前述氣體流通路徑，故更容易將流通於前述氣體流通路徑的氣體流設為層流。
於前述構造中，於前述吹出口設置遮光構件亦可。
於前述吹出口設置遮光構件的話，可讓放電 所致之光線不會照到照射對象物。
於前述構造中，內部具有空洞的氣體緩衝用基板被層積於前述低電壓側電極的與前述介電質基板相反側之面亦可。
從氣體送出裝置送出的氣體，係氣體被貯留於氣體緩衝用基板的空洞，之後，透過複數氣體導入路徑，流入至氣體流通路徑。藉此，可使流入至氣體流通路徑的氣體，其流動不紊亂，從吹出口均等地流出。
於前述構造中，在前述高電壓側電極的另一端與形成前述吹出口之面之間設置一定的間隙為佳。
在吹出口附近中，有會不隔著介電質基板，在高電壓側電極與低電壓側電極之間直接放電之虞。此種放電會損傷高電壓側電極、介電質基板、低電壓側電極，構成該等的材料會成為不純物而混入電漿。
根據放電效率的觀點，將高電壓側電極配置到吹出口的最前端為止比較有利。然而，高電壓側電極與低電壓側電極的距離明顯變短，會在介電質基板上引起沿面放電。一旦，發生放電的話則不是介電質屏蔽放電，而成為直接放電，會流通過剩的放電電流，導致電極的破損，進而電源供給裝置的破損。
因此，設為在高電壓側電極的另一端與形成吹出口之面之間，設置一定的間隙的構造的話，抑制了高電壓側電極與低電壓側電極之間的直接放電，成為隔著介電質基板的高電壓側電極與低電壓側電極之間的放電，可抑制高電 壓側電極、介電質基板、低電壓側電極的損傷。結果，可防止構成該等的材料作為不純物而混入電漿。
於前述構造中，前述介電質基板中厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分為階梯狀亦可。
陶瓷有容易破裂，機械強度不足的課題。因此，將前述介電質基板中厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分設為階梯狀的話，可維持強度。
又，本發明的電漿放電開始方法，係介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法，其特徵為：前述介電質屏蔽式電漿產生裝置，係具備：介電質基板；高電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第1面側；低電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第2面側；及電性導入部，係設置於前述高電壓側電極的一端；在前述介電質基板與前述低電壓側電極之間，形成用以使氣體從前述一端側流通至另一端側的氣體流通路徑；於前述氣體流通路徑的前述另一端側，形成用以吹出流通於前述氣體流通路徑的氣體、及在前述氣體流通路徑產生的電漿的吹出口；前述介電質基板，係具有厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分；前述電漿放電開始方法，係包含：啟動時，將選自 He、Ne、及Ar所成之群中1種以上的啟動用氣體導入至前述氣體流通路徑，以產生電漿的工程A；及在前述工程A之後，將電漿生成氣體導入至前述氣體流通路徑的工程B。
依據本發明的電漿放電開始方法，啟動時，將選自He、Ne、及Ar所成之群中1種以上的啟動用氣體導入至前述氣體流通路徑，以產生電漿。啟動後係將電漿生成氣體導入至前述氣體流通路徑。結果，即使電漿生成氣體是難以電漿放電的氣體，也可開始放電。
依據本發明，可提供可有效率地從吹出口的全區域，均勻地噴射電漿的介電質屏蔽式電漿產生裝置。又，可提供該介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法。
10:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
12:介電質基板
12a:平坦部
12b:傾斜部
13a:第1面
13b:第2面
14:高電壓側電極
15:間隙
20:低電壓側電極
22:溝部
23a:外周部
23b:外周部
24:氣體導入路徑
25:氣體流通路徑
26:氣體緩衝用基板
27:空洞
30:吹出口
34:電性導入部
40:氣體送出裝置
42:電源裝置
50:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
52:介電質基板
52a:平坦部
52b:傾斜部
53b:第2面
54:高電壓側電極
55:間隙
56:低電壓側電極
56b:(低電壓側電極的)傾斜部
58:變窄的部分
60:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
64:保護層
70:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
72:啟動輔助構件
80:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
82:遮光構件
83:空洞
92:突起
94:突起
96:凹凸
99:絕緣膜
100:介電質屏蔽式電漿產生裝置(電漿產生裝置)
102:介電質基板
102a:平坦部
102b:階梯狀部
103b:第2面
104:高電壓側電極
110:低電壓側電極
123:階梯狀部
124:變窄的部分
[圖1]模式揭示第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的立體圖。
[圖2]圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的A-A剖面圖。
[圖3]圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的正交於A-A的剖面圖。
[圖4]圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的低電壓側電極的俯視圖。
[圖5]揭示於工作台上以所定間隔配置作為被照射物的聚丙烯(PP)薄膜之樣子的俯視圖。
[圖6]揭示水接觸角的測定結果的圖表。
[圖7]用以說明第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置之變形例1的部分剖面圖。
[圖8]用以說明第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置之變形例2的部分剖面圖。
[圖9]用以說明第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置之變形例3的部分剖面圖。
[圖10]用以說明第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置之變形例4的部分剖面圖。
[圖11]用以說明第1實施形態的變形例5的剖面圖。
[圖12]第2實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。
[圖13]第3實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。
[圖14]第4實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的立體圖。
[圖15]圖14所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的A-A剖面圖。
[圖16]第5實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。
[圖17]第6實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。
[圖18]模式揭示先前的介電質屏蔽式電漿產生裝置的立體圖。
以下，針對本實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置，一邊參照圖式一邊進行說明。
[第1實施形態]
圖1係模式揭示第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的立體圖，圖2係圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的A-A剖面圖，圖3係圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的正交於A-A的剖面圖，圖4係圖1所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的低電壓側電極的俯視圖。
如圖1所示，介電質屏蔽式電漿產生裝置(以下也稱為「電漿產生裝置10」)係具備介電質基板12、高電壓側電極14、低電壓側電極20、氣體緩衝用基板26。
介電質基板12係為平板狀，具有厚度隨著接近吹出口30而變薄的部分。具體來說，介電質基板12係具有厚度一定的平坦部12a，與從平坦部12a連續地形成，隨著接近吹出口30而厚度變薄的傾斜部12b。於傾斜部12b中，第1面13a(在圖1中為上側之面)往接近低電壓側電極20的方向傾斜。
介電質基板12係根據更增加每一單位電力的電漿的生成量的觀點，以相對介電常數低的材料構成為佳。前述材料的相對介電常數係10以下為佳。作為前述材料的相對介電常數的下限值，係越低越好，但是例如可設為4以上等。
作為介電質基板12的材質，並未特別限定，但是，盡可能地介電率小的材料為佳。根據耐久性的觀點，陶瓷為佳。作為前述陶瓷，可舉出氧化鋁、氮化鋁、滑石等。氧化鋁、氮化鋁、滑石係具有相對介電常數比較低，且比較高的強度，具優良的耐久性。所以，以氧化鋁、氮化鋁或滑石構成介電質基板12的話，可更增加每一單位電力的電漿的生成量。又，即使更薄化介電質基板12，也可減低破損之虞。
進而，介電質基板12係為將前述介電質的材料作為母材，含有輔助電子生成的物質者亦可。作為前述輔助電子生成的物質，可舉出銀、白金、銅、碳(Carbon)、過渡金屬化合物等。藉由對前述輔助電子生成的物質施加電場，生成初始電子，放出至放電空間。據此有可有利作用於啟動性的優點。
前述輔助電子生成的物質的含有量，係相對於介電質基板12整體(將介電質基板12設為100重量%時)，以1重量%以下含有為佳。含有前述輔助電子生成的物質時，將前述輔助電子生成的物質的含有量設為1重量%以下，係因為伴隨放電而原材料蒸發、飛濺，其成為微粒子而與電漿 一起吹出，導致污染照射對象物，所以需要盡可能減低之理由。
又，含有前述輔助電子生成的物質時，含有量係實驗上為0.05重量%以上為佳。
高電壓側電極14係設置於介電質基板12的第1面13a上。在此，在本說明書中，將圖2之左右方向作為「長度方向」，將正交於長度方向的方向作為「寬度方向」進行說明。
高電壓側電極14係具有與介電質基板12的寬度幾乎相同的寬度，從介電質基板12的平坦部12a的途中連續形成到另一端(在圖2中為右端)附近為止。高電壓側電極14的寬度並未特別限定，但是在設置高電壓側電極14的下側產生電漿，故根據從吹出口30寬廣地噴射電漿的觀點，盡可能寬廣地形成為佳。高電壓側電極14的寬度係與吹出口30的寬度相同，或比吹出口30的寬度還寬為佳。
又，在電漿產生裝置10中，在傾斜部12b的下側產生電漿，故高電壓側電極14不需要形成於平坦部12a上，如本實施形態般，以適合與電源裝置42的連接等的程度，形成於平坦部12a上為佳。
高電壓側電極14的另一端(在圖2中為右端)並未到達形成吹出口30之面。亦即，在高電壓側電極14的另一端與形成吹出口30之面之間設置一定的間隙15。
在吹出口30附近中，有會不隔著介電質基板12，在高電壓側電極14與低電壓側電極20之間直接放電之 虞。此種放電會損傷高電壓側電極14、介電質基板12、低電壓側電極20，構成該等的材料會成為不純物而混入電漿。
根據放電效率的觀點，將高電壓側電極配置到吹出口的最前端為止比較有利，但是，高電壓側電極與低電壓側電極的距離會明顯變短，在介電質基板上引起沿面放電。一旦，發生放電的話則不是介電質屏蔽放電，而成為直接放電，會流通過剩的放電電流，導致電極的破損，進而電源供給裝置的破損。
因此，在電漿產生裝置10中，高電壓側電極14的另一端與形成吹出口30之面之間設置一定的間隙15。藉此，抑制高電壓側電極14與低電壓側電極20之間的直接放電，成為隔著介電質基板12的高電壓側電極14與低電壓側電極20之間的放電，可抑制高電壓側電極14、介電質基板12、低電壓側電極20的損傷。間隙15係例如1~5mm的範圍內為佳。
作為高電壓側電極14的材質，並未特別限定，但是，導電性高者為佳，例如可舉出使用銅、銀、鋁、金的化合物等。
高電壓側電極14可設為箔狀的金屬。作為高電壓側電極14的一例，例如可舉出單面施加黏合加工的銅箔、鋁箔等的金屬箔。
又，高電壓側電極14係為含有導電金屬的燒結體亦可。前述含有導電金屬的燒結體，係可於介電質基板12的 表面印刷金屬膏來形成。該構造的狀況中，在將高電壓側電極14形成於介電質基板12上時，不需要使用接著劑。
又，高電壓側電極14係藉由電鍍、蒸鍍或濺鍍、熱熔射來形成亦可。該構造的狀況中，在將高電壓側電極形成於介電質基板上時，不需要使用接著劑。
高電壓側電極14與介電質基板12係極力密接，於其連接界面中，沒有空氣之層為佳。有空氣之層的話，在其空間的內部會發生放電，因為所產生的自由基，導致電極劣化的可能性。
因此，高電壓側電極14與介電質基板12係於其連接界面中，以微米級密接的方式形成為佳。
又，高電壓側電極14的厚度係相較於介電質基板12為極薄的構造。因為高電壓側電極14薄，故即使有金屬的膨脹，也因薄金屬吸收膨脹，膨脹率的影響對於介電質基板12很輕微。
進而，於介電質基板12中，在先前的方式中，為了避免陶瓷的破損，需要增加其厚度，但是，在本實施形態中，介電質基板的厚度薄，可減低介電層中的介電損耗，提升對氣體之能量的導入效果，可進行效率高的電漿生成。總之，可提供利用材料的量少且效率高的裝置，在資源環境的觀點上也有利益。
高電壓側電極14係於一端側中連接電源裝置42。在第1實施形態中，高電壓側電極14的一端側成為用以連接於電源裝置42的電性導入部34。關於電性導入部34 之電源裝置42與高電壓側電極14的連接方法，只要是電性連接，且可承受施加電壓的方法，並無特別限制。例如，可舉出焊料所致之連接、使用各種連接器(例如同軸連接器等)的連接。但是，在本實施形態中，並未使用微波，故不需要使用具有所定特性阻抗的同軸連接器、同軸電纜。
作為從電源裝置42供給的施加電壓及頻率，只要是電漿產生裝置10中可引起介電質屏蔽放電的範圍即可。具體來說，作為從電源裝置42供給的施加電壓，3kV~20kV的範圍內為佳，10kV以下更理想。又，作為從電源裝置42供給的施加電壓的頻率，20kHz~1000kHz的範圍內為佳，100kHz~150kHz的範圍內更理想。將上限設為150kHz比較理想的理由，係因為該波長考慮到電漿照射長度，又，利用EMC規格的噪音端子電壓所檢測出的頻率為150kHz~所致。
低電壓側電極20係為板狀，設置於介電質基板12的第2面13b(在圖2中為下側之面)側。
低電壓側電極20係直接或透過電阻，連接於接地電位(Ground potential)亦可。又，連接於電源裝置42的低電壓側的輸出亦可。
如圖2所示，於低電壓側電極20的介電質基板12側之面，從長度方向(圖2之左右方向)的一端側(在圖2中為左端側)涵蓋到另一端側(在圖2中為右端側)，形成溝部22。具體來說，溝部22係如圖4所示，將低電壓側電極 20的寬度方向兩側的外周部23a、及一端側的外周部23b以外之處設為溝部。
介電質基板12與低電壓側電極20係以在外周部23a、23b接觸之方式層積。在形成溝部22的部分，亦即溝部22與介電質基板12的第2面13b之間形成空間。藉由該空間，形成用以使氣體從一端側流通至另一端側的氣體流通路徑25。
如圖4所示，於溝部22的一端側，於寬度方向以等間隔設置由複數貫通孔所成的氣體導入路徑24。氣體導入路徑24的數量並未特別限定，但是，如本實施形態般，2以上為佳。氣體導入路徑24有2個以上的話，氣體從2處以上導入至氣體流通路徑25，故更容易將流通於氣體流通路徑25的氣體流設為層流。氣體導入路徑24係以在氣體導入至氣體流通路徑25的時間點導入寬廣的範圍之方式於寬度方向設置複數個為佳。
再者，氣體導入路徑24係作為寬廣開口於一寬度方向的孔洞亦可。
如圖2、圖3所示，於低電壓側電極20的下側(介電質基板12相反側之面)，層積內部具有空洞27的氣體緩衝用基板26。
於氣體緩衝用基板26的空洞27，連接氣體送出裝置40(參照圖2)。從氣體送出裝置40送出氣體的話，氣體係被貯留於空洞27內，之後，透過複數氣體導入路徑24，流入至氣體流通路徑25。
於氣體流通路徑25的另一端側，形成用以吹出流通於氣體流通路徑25的氣體、及在氣體流通路徑25產生的電漿的吹出口30。在第1實施形態中，溝部22(氣體流通路徑25)的寬度從一端側到另一端側設為均勻，吹出口30的寬度也設為與溝部22(氣體流通路徑25)的寬度相同。藉此，可使流入至氣體流通路徑25之氣體的流動不紊亂，從吹出口30均等地流出。再者，該內容係藉由本案發明者們所致之模擬實驗確認。
但是，於本發明中並不限定於該範例，吹出口30的寬度係因應需要調整亦可。例如，與氣體流通路徑25的另一端側的寬度相較，更縮小吹出口30的寬度的話，可利用高壓力來噴射電漿。藉由配合放電部分來縮小吹出口30的寬度，可高密度地生成均勻的電漿。又，與氣體流通路徑25的另一端側的寬度相較，更加大吹出口30的寬度的話，可噴射出噴射寬度廣的電漿。
作為供給至氣體流通路徑25的氣體(從氣體送出裝置40送出的氣體)，係作為啟動時的啟動用氣體，可舉出選自He、Ne、及Ar所成之群中1種以上。又，作為電漿產生之後的電漿生成氣體，可舉出可生成所希望之活性種的氣體，具體來說，選自氫、氧、水、氮等所成之群中1種以上。
所以，在本實施形態中，流通於氣體流通路徑25的氣體流為層流為佳。氣體流為層流時，可更均勻地噴射電漿。
在此，作為區別層流與亂流的參數，有雷諾數。
雷諾數Re係將流體的密度設為ρ(kg/m3)，流速設為U(m/s)，特性長度設為L(m)，液體的黏性係數設為μ(Pa．s)，以Re=ρ．U．L/μ表示的無因次量。
層流與亂流的邊界的雷諾數，係被稱為臨界雷諾數，該值被作為2000~4000。
於後述實施例1所用的電漿產生裝置中，作為流量：0.005m3/sec(300L/min)，短邊：0.5mm，長邊：700mm的話，將U=14.3(m/s)，L=9.99×10-4(m)，流體作為標準大氣壓之乾燥空氣，設為ρ=1.205(kg/m3)，μ=1.822×10-5(Pa．s)的話，雷諾數成為945程度，臨界雷諾數以下之值，可判斷為層流。
從電性導入部34對高電壓側電極14施加電壓的話，於氣體流通路徑25內，施加至氣體的電壓超過崩潰電壓之處中產生放電。具體來說，在電漿產生裝置10中，介電質基板12的厚度具有隨著接近吹出口30而變薄的部分，故隨著接近吹出口30，靜電容會變大。所以，藉由以在吹出口30的附近超越崩潰電壓之方式設定介電質基板12的厚度的傾斜及施加電壓等，可在吹出口30的附近於寬度方向寬廣地產生電漿。然後，該電漿係與氣體的流動一起從吹出口30吹出。藉由以上內容，電漿產生裝置10係可從吹出口30的全區域均勻噴射電漿。又，因為在吹出口30的附近產生電漿，故具有優良的電漿的產生效率。
於電漿產生裝置10中，於低電壓側電極20形成溝部22，將被溝部22與介電質基板12的第2面13b包圍的部分設為氣體流通路徑25，於介電質基板12本身並未形成溝及孔洞，為平板狀。一般來說，對以金屬形成的低電壓側電極20施加加工(第1實施形態中為溝部22的形成)，比對以陶瓷等形成的介電質基板施加加工更為容易。所以，電漿產生裝置10可容易進行製造。
又，於電漿產生裝置10中，介電質基板12為平板狀，故可設為薄型。結果，可更增加每一單位電力的電漿的生成量，可有效率地產生電漿。
在第1實施形態中，溝部22(氣體流通路徑25)的寬度從一端側到另一端側設為均勻，但是，本發明並不限定於該範例。溝部(氣體流通路徑)的寬度係從一端側到另一端側不均勻亦可。例如，溝部(氣體流通路徑)的寬度係作為隨著從一端側朝向另一端側而變窄的構造亦可。又，溝部(氣體流通路徑)的寬度係作為隨著從一端側朝向另一端側而變寬的構造亦可。
在第1實施形態中，已針對於低電壓側電極20的溝部22設置氣體導入路徑24，氣體從低電壓側電極20的下側導入至氣體流通路徑25內之狀況進行說明，但是，於本發明中氣體導入路徑的位置並不限定於該範例。於本發明中，氣體導入路徑只要配置於可使氣體從外部流入至氣體流通路徑的一端側的位置即可，例如設置於低電壓側電極20的一端側側面亦可。
電漿產生裝置10的大小並未特別限制，作為一例，可如下述般。
外觀尺寸：寬度750mm、長度40mm、厚度(最厚之處)20mm
介電質基板12的外形尺寸：寬度750mm、平坦部12a的長度20mm、平坦部12a的厚度4mm、傾斜部12b的長度20mm、傾斜部12b的吹出口30正上方的厚度0.1mm
低電壓側電極20的外形尺寸：寬度750mm、長度20mm、厚度0.1mm
氣體流通路徑25的概略尺寸：寬度700mm、長度35mm、厚度1.5mm
吹出口30的尺寸：開口寬度700mm、開口高度0.2mm
對採用前述尺寸，作為介電質基板12的材質以氧化鋁作為主材料，作為高電壓側電極14的材質以銅作為主材料的導電性材料，作為低電壓側電極20的材質採用銅的電漿產生裝置(以下也稱為「實施例1相關的電漿產生裝置」，以後述條件施加電壓，並且流通氣體來產生電漿。
施加電壓：7.6kVpp、頻率38kHz
氣體種類：氮
氣體流量：300L/min
[電漿均勻噴射的確認]
圖5係揭示於工作台上以所定間隔配置作為被照射物 的聚丙烯(PP)薄膜之樣子的俯視圖。
如圖5所示，於工作台上以所定間隔配置作為被照射物的聚丙烯(PP)薄膜，使用實施例1相關的電漿產生裝置，從上方照射電漿。離吹出口2mm(照射距離)的位置，將PP薄膜固定於單軸工作台上，設為100mm/秒來使吹出口進行往返運動，進行電漿的照射。各PP薄膜表面的水接觸角的測定係照射2次之後(往返運動2次之後)、照射10次之後(往返運動10次之後)、照射200次之後(往返運動200次之後)進行。
水接觸角的測定係設為下述條件。
接觸角測量計：DMs-401(協和界面科學)
液量：2μL
以橢圓擬合漸近。
圖6係揭示水接觸角的測定結果的圖表。由圖6可知，水接觸角係於任一照射條件中，也於寬度方向中為平均值±10%以內。
又另外，於圖6的10mm、30mm、50mm之處也配置聚丙烯(PP)薄膜，進行相同的試驗，成為圖6所示之平均值的±10%以內。
根據以上的結果，可知從吹出口的全區域均勻噴射電漿。
以上，已針對第1實施形態的電漿產生裝置10進行說明。
[變形例]
圖7~圖11係用以說明第1實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置之變形例的部分剖面圖。再者，未圖示之處的構造係與第1實施形態的電漿產生裝置10相同。以下，主要針對與上述之電漿產生裝置10不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與電漿產生裝置10共通的構造，附加相同符號。
在圖7所示的變形例1、圖8所示的變形例2中，於高電壓側電極14與吹出口30之間的介電質基板12上設置突起(在變形例1中為突起92，在變形例2中為突起94)，作為具有隔離高電壓側電極14與低電壓側電極20的突起部的介電質基板。
具體來說，在變形例1中，突起92設置於介電質基板12的端部(吹出口30的正上方)。在變形例2中，突起94以接觸最接近高電壓側電極14的吹出口30之側的端部之方式設置。再者，設置突起94並且設置突起92亦可。
作為突起92、94的材質，可舉出作為介電質基板12的材質所例示者。突起92、94的材質係作為與介電質基板相同的材質亦可，作為不同的材質亦可。突起92、94係一體地形成於介電質基板12亦可，作為其他構件安裝亦可。
變形例1、變形例2係一邊縮短高電壓側電極與低電壓側電極的距離，一邊確保沿面距離者。在變形例1、變形例2中，藉由確保高電壓側電極與低電壓側電極之 間的沿面距離及空間距離，可更加抑止兩電極間的短路、沿面放電的發生等之多餘的放電。
在圖9所示的變形例3中，設為從最接近高電壓側電極14的吹出口30之側的端部到吹出口30的正上方為止之間的介電質基板12上設置凹凸96，來確保沿面距離的構造。藉由凹凸96而沿面上的距離增加，電阻值增加，藉此可減低沿面放電的風險。
在圖10所示的變形例4中，設為於低電壓側電極20的溝部22，以隨著接近吹出口30而開口高度擴大之方式設置錐部98的構造。確保高電壓側電極14與低電壓側電極20側與沿面上的距離者。
在圖11所示的變形例5中，設為於高電壓側電極14的吹出口30側的端部，形成覆蓋高電壓側電極14的絕緣膜99的構造。藉由以絕緣膜99覆蓋高電壓側電極14的端部，可抑止電暈放電的發生等之多餘的放電。作為絕緣膜99，可舉出玻璃及包含玻璃的燒結體、矽、環氧等的樹脂素材。
在變形例1~變形例5中，關於高電壓側電極14與低電壓側電極20之間的沿面距離，及/或空間距離，可確保一定的距離。結果，可防止構成該等的材料作為不純物而混入電漿。又，防止電極的損耗及電源裝置的破損，有利於裝置的壽命延長。
藉由該等確保沿面距離的方法，可將接近高電壓側電極14的吹出口30之側的端部配置於更靠吹出口30的附近， 可達成高效率的電漿的生成。
於放電中，高電壓側電極與低電壓側電極的距離較短對於電性能量的觀點來說為佳。亦即，將高電壓側電極延伸設置地配置到吹出口的最前端為止比較有利。然而，如此配置兩電極的話，高電壓側電極與低電壓側電極的距離明顯變短，會有在介電質基板上引起沿面放電的狀況。
因此，將高電壓側電極配置於從吹出口的正上方離開不發生沿面放電程度之處，確保適切的沿面距離為佳。
如上所述，為了縮短高電壓側電極與低電壓側電極的距離，將高電壓側電極配置於更靠近吹出口的前端比較理想且為佳。因此，需要一邊確保沿面距離，一邊減低高電壓側電極與低電壓側電極的距離的方法。
因此，如變形例1、變形例2，可使用在高電壓側電極與吹出口之間的介電質基板，設置突起部，以作為具有隔離高電壓側電極與低電壓側電極側之突起部的介電質基板的方法。
進而，作為確保沿面距離的方法，如變形例3，可舉出作為設置從高電壓側電極到吹出口的最前端之間的介電質基板上的凹凸，來確保沿面距離的構造的方法。
進而，作為確保沿面距離的方法，如變形例4，可舉出削減吹出口附近之低電壓側電極的端部，作為擴大吹出口的構造，以確保高電壓側電極與低電壓側電極側與沿面上的距離的方法。
進而，如變形例5，可舉出作為利用被覆覆蓋高電壓側電極吹出口側之端部的絕緣體，強制地防護沿面上之直接放電的發生的構造的方法。
藉由該等確保沿面距離的方法，可將接近高電壓側電極的吹出口之側的端部配置於更靠吹出口的附近，可達成高效率的電漿的生成。
如此，藉由確保高電壓側電極與低電壓側電極之間的沿面距離及空間距離，可抑止兩電極間的短路、沿面放電的發生等之多餘的放電。
[第2實施形態]
以下，針對第2實施形態的電漿產生裝置50進行說明。第2實施形態的電漿產生裝置50係介電質基板與高電壓側電極與低電壓側電極的形狀不同於電漿產生裝置10，其他地方共通。因此，以下主要針對不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與第1實施形態的電漿產生裝置10共通的構造，附加相同符號。
圖12係第2實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。如圖12所示，電漿產生裝置50係具備介電質基板52、高電壓側電極54、低電壓側電極56。
介電質基板52係與介電質基板12相同，具有厚度一定的平坦部52a，與從平坦部52a連續地形成，隨著接近吹出口30而厚度變薄的傾斜部52b。但是，於介電質基板52中，相較於介電質基板12，平坦部52a的長度比平 坦部12a短，傾斜部52b的傾斜比傾斜部12b緩。
高電壓側電極54係具有與介電質基板52的寬度幾乎相同的寬度，設置於介電質基板52的傾斜部52b上。在第2實施形態中，高電壓側電極54並未設置於平坦部52a上。
高電壓側電極54的另一端(在圖12中為右端)係與第1實施形態相同，並未到達形成吹出口30之面。亦即，在高電壓側電極54的另一端與形成吹出口30之面之間設置一定的間隙55。
低電壓側電極56係為板狀，設置於介電質基板52的第2面53b(在圖2中為下側之面)側。
於低電壓側電極56，形成與第1實施形態的低電壓側電極20相同的溝部22，於溝部22，形成厚度隨著接近吹出口30而變厚的傾斜部56b。藉此，氣體流通路徑25係具有介電質基板52與低電壓側電極56的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分58。
在第2實施形態中，具有介電質基板52與低電壓側電極56的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分，故可更增大靜電容的變化量。
又，藉由具有高電壓側電極與低電壓側電極的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分，可提升放電開始的機率。放電開始電壓係由於與壓力與距離的積成比例，啟動初期係從高電壓側電極與低電壓側電極的距離近的前端附近開始放電，之後往後部的介電層厚的部分擴散放電。藉由具 有介電質基板52與低電壓側電極56的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分，可確實啟動電漿產生裝置，穩定進行放電。
又，藉由高電壓側電極與低電壓側電極的距離近的部分涵蓋吹出口的長邊方向設置，即使低電力的電漿放電，也可在吹出口的前端附近均等地產生電漿，可進行均勻的處理。
結果，可調整對電漿產生裝置的投入電力，可擴大電漿處理的應用範圍。
以上，已針對第2實施形態的電漿產生裝置50進行說明。
[第3實施形態]
以下，針對第3實施形態的電漿產生裝置60進行說明。第3實施形態的電漿產生裝置60係在吹出口附近且低電壓側電極上具備保護層之處，不同於電漿產生裝置50，其他地方共通。因此，以下主要針對不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與第2實施形態的電漿產生裝置50共通的構造，附加相同符號。
圖13係模式揭示第3實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。如圖13所示，電漿產生裝置60係具備介電質基板52、高電壓側電極54、低電壓側電極56。
於吹出口30附近且低電壓側電極56上，形成 用以防止構成低電壓側電極56的材料飛濺的保護層64。在本實施形態中，以至少覆蓋傾斜部56b之方式形成保護層64。保護層64係介電質為佳。作為保護層64的材質，係與介電質基板52的材質相同物質為佳。作為保護層64的材質的具體例，例如可舉出氧化鋁、氮化鋁、滑石等。
作為低電壓側電極56的保護層64的形成方法，並未特別限制，可舉出熱熔射成為保護層64的材料來進行塗布的方法。熱熔射所致之保護層64的形成係具有容易製造的優點。作為保護層64的厚度，根據防止污染的觀點可適當設定，但例如可採用100μm以下。
依據第3實施形態的電漿產生裝置60，在電漿產生之處的附近，亦即吹出口30附近且低電壓側電極56上具備保護層64，故可抑制構成低電壓側電極56的材料蒸發、擴散，可防止照射對象物被污染。
以上，已針對第3實施形態的電漿產生裝置60進行說明。
[第4實施形態]
以下，針對第4實施形態的電漿產生裝置70進行說明。第4實施形態的電漿產生裝置70係在吹出口附近且介電質基板的第2面上配置啟動輔助構件之處，不同於第1實施形態的電漿產生裝置10，其他地方共通。因此，以下主要針對不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與第1實施形態的電漿產生裝置10共通的 構造，附加相同符號。
圖14係模式揭示第4實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的立體圖，圖15係圖14所示之介電質屏蔽式電漿產生裝置的A-A剖面圖。再者，在圖15中，省略氣體緩衝用基板。如圖14、圖15所示，電漿產生裝置70係具備介電質基板12、高電壓側電極14、低電壓側電極20、氣體緩衝用基板26。
於吹出口30附近且介電質基板12的第2面13b上，配置啟動輔助構件72。
作為啟動輔助構件72的材料，可舉出碳(Carbon)、過渡金屬化合物等。又，作為啟動輔助構件72的材料，可舉出相對介電常數比介電質基板12高的物質。作為啟動輔助構件72的材料，使用相對介電常數比介電質基板12高的物質時，因為介電損耗，前述物質被加熱，初始電子會被供給至前述空間。啟動輔助構件72的材料，其中碳為佳。因為碳係熱穩定性高，故可抑制因為加熱等而附設後的啟動輔助構件72蒸發之狀況等，可提升作為電漿產生裝置70的信賴性。
又，作為啟動輔助構件72的材料，作為利用更少的施加電壓即可發揮電子放出作用之工作函數低的材料亦可。
在電漿產生裝置70中，於產生電漿之處即吹出口30附近，且介電質基板12的第2面13b上配置啟動輔助構件72，故初始電子會被供給至吹出口30附近且介電質基板12的第2面13b上的空間。藉此，不需要電源容量大的微 波振盪裝置及啟動電路裝置，可提供小型且便宜的電漿產生裝置。
在第4實施形態中，已針對未具備保護層64之狀況進行說明，但是，作為具備啟動輔助構件72且具備保護層64的構造亦可。
以上，已針對第4實施形態的電漿產生裝置70進行說明。
[第5實施形態]
以下，針對第5實施形態的電漿產生裝置80進行說明。第5實施形態的電漿產生裝置80係於吹出口設置遮光構件之處，不同於第1實施形態的電漿產生裝置10，其他地方共通。因此，以下主要針對不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與第1實施形態的電漿產生裝置10共通的構造，附加相同符號。
圖16係模式揭示第5實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。如圖16所示，電漿產生裝置80係具備介電質基板12、高電壓側電極14、低電壓側電極20。
如圖16所示，於吹出口30設置遮光構件82。遮光構件82係具有流動於氣體流通路徑25的氣體可流通的空洞83，空洞83係與氣體流通路徑25連通。又，遮光構件82的空洞83係對於氣體流通路徑25之氣體流通的方向，設置成直角。藉此，可讓氣體流通路徑25內的放電所致之光 線不會照到照射對象物。
以上，已針對第5實施形態的電漿產生裝置80進行說明。
在上述的實施形態中，已針對介電質基板具有平坦部之狀況進行說明，但是，於本發明中，介電質基板不具有平坦部，僅具有傾斜部亦可。
在上述的實施形態中，已針對本發明之「厚度隨著接近吹出口而變薄的部分」是傾斜部之狀況，亦即，厚度隨著從平坦部12a接近吹出口30而直線地變薄之狀況進行說明。然而，本發明之「厚度隨著接近吹出口而變薄的部分」並不限定於該範例，作為二次曲線、三次曲線等的多項式性，或指數函數性地變薄的部分亦可。又，作為非連續性，例如階梯狀地變薄的部分亦可。
[第6實施形態]
以下，針對第6實施形態的電漿產生裝置100進行說明。第6實施形態的電漿產生裝置100係介電質基板、高電壓側電極、形成於低電壓側電極的溝的形狀不同於第1實施形態的電漿產生裝置10，其他地方共通。因此，以下主要針對不同之處進行說明，關於共通之處，可省略或簡略說明。又，針對與第1實施形態的電漿產生裝置10共通的構造，附加相同符號。
圖17係第6實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的剖面圖。如圖17所示，電漿產生裝置100係具備 介電質基板102、高電壓側電極104、低電壓側電極110。
介電質基板102係具有厚度一定的平坦部102a，與從平坦部102a形成於階梯上，隨著接近吹出口30而階梯狀變薄的階梯狀部102b。
陶瓷有容易破裂，機械強度不足的課題。因此，可利用設為2階段、3階段等、多段，來維持強度。
低電壓側電極110係為板狀，設置於介電質基板102的第2面103b(在圖17中為下側之面)側。於低電壓側電極110，形成與第1實施形態的低電壓側電極20相同的溝部22，於溝部22，形成厚度隨著接近吹出口30而變厚的階梯狀部123。藉此，氣體流通路徑25係具有介電質基板102與低電壓側電極110的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分124。
在第6實施形態中，具有介電質基板102與低電壓側電極110的間隙隨著接近吹出口30而變窄的部分，故可更增大靜電容的變化量。
再者，第2實施形態~第6實施形態的電漿產生裝置50、60、70、80、100係除了前述所說明的效果之外，也發揮與第1實施形態的電漿產生裝置10相同的效果。
接著，針對本實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法進行說明。
本實施形態的介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法，係使用電漿產生裝置10、50、60、70、80、100。
前述電漿放電開始方法係具有：啟動時，將選自He、Ne、及Ar所成之群中1種以上的啟動用氣體導入至前述氣體流通路徑，以產生電漿的工程A；及 在前述工程A之後，將電漿生成氣體導入至前述氣體流通路徑的工程B。
依據本實施形態之介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法，啟動時，將選自He、Ne、及Ar所成之群中1種以上的啟動用氣體導入至前述氣體流通路徑，以產生電漿，啟動後，對前述氣體流通路徑導入電漿生成氣體(氫、氧、水、氮等，可生成所希望之活性種的氣體)，故即使電漿生成氣體是難以電漿放電的氣體，也可以開始放電。
以上，已針對本發明的實施形態進行說明，但是本發明並不限定於上述的範例，可在足夠本發明的構成的範圍內，適當進行設計變更。
10:介電質屏蔽式電漿產生裝置
12:介電質基板
12a:平坦部
12b:傾斜部
13a:第1面
14:高電壓側電極
15:間隙
20:低電壓側電極
26:氣體緩衝用基板
30:吹出口

Claims (15)

  1. 一種介電質屏蔽式電漿產生裝置，其特徵為具備：介電質基板；高電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第1面側；低電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第2面側；及電性導入部，係設置於前述高電壓側電極的一端，隔著介電質基板在前述高電壓側電極與前述低電壓側電極之間產生介電質屏蔽放電；在前述介電質基板與前述低電壓側電極之間，形成用以使氣體從前述一端側流通至另一端側的氣體流通路徑；於前述氣體流通路徑的前述另一端側，形成用以吹出流通於前述氣體流通路徑的氣體、及在前述氣體流通路徑產生的電漿的吹出口；前述介電質基板，係具有厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分，該變薄的部分越接近前述吹出口則靜電容變越大，在前述吹出口的附近產生電漿。
  2. 如請求項1所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，具備：電源裝置，係施加電壓為3kV~20kV，頻率為20kHz~150kHz。
  3. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電 漿產生裝置，其中，前述氣體流通路徑，係具有前述介電質基板與前述低電壓側電極的間隙隨著接近前述吹出口而變窄的部分。
  4. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，於前述吹出口附近且前述低電壓側電極上，具備用以防止構成前述低電壓側電極的材料飛濺的保護層。
  5. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，前述介電質基板，係以氧化鋁或氮化鋁構成。
  6. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，前述高電壓側電極，係為箔狀的金屬。
  7. 如請求項6所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，前述高電壓側電極，係為含有導電金屬的燒結體。
  8. 如請求項6所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，前述高電壓側電極，係藉由電鍍、蒸鍍或濺鍍來形成。
  9. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，於前述吹出口附近且前述介電質基板的前述第2面上，配置啟動輔助構件。
  10. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，具有：氣體導入路徑，係將氣體導入至前述氣體流通路徑；前述氣體導入路徑為2個以上。
  11. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，於前述吹出口設置遮光構件。
  12. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，內部具有空洞的氣體緩衝用基板被層積於前述低電壓側電極的與前述介電質基板相反側之面。
  13. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，在前述高電壓側電極的另一端與形成前述吹出口之面之間設置一定的間隙。
  14. 如請求項1或2所記載之介電質屏蔽式電漿產生裝置，其中，前述介電質基板中厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分為階梯狀。
  15. 一種電漿放電開始方法，係介電質屏蔽式電漿產生裝置的電漿放電開始方法，其特徵為：前述介電質屏蔽式電漿產生裝置，係具備：介電質基板； 高電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第1面側；低電壓側電極，係設置於前述介電質基板的第2面側；及電性導入部，係設置於前述高電壓側電極的一端，隔著介電質基板在前述高電壓側電極與前述低電壓側電極之間產生介電質屏蔽放電；在前述介電質基板與前述低電壓側電極之間，形成用以使氣體從前述一端側流通至另一端側的氣體流通路徑；於前述氣體流通路徑的前述另一端側，形成用以吹出流通於前述氣體流通路徑的氣體、及在前述氣體流通路徑產生的電漿的吹出口；前述介電質基板，係具有厚度隨著接近前述吹出口而變薄的部分，該變薄的部分越接近前述吹出口則靜電容變越大，在前述吹出口的附近產生電漿；前述電漿放電開始方法，係包含：啟動時，將選自He、Ne、及Ar所成之群中1種以上的啟動用氣體導入至前述氣體流通路徑，以產生電漿的工程A；及在前述工程A之後，將電漿生成氣體導入至前述氣體流通路徑的工程B。
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