TWI866011B

TWI866011B - 電子裝置與其密封件

Info

Publication number: TWI866011B
Application number: TW111151013A
Authority: TW
Inventors: 林國雄; 陳達仁
Original assignee: 緯創資通股份有限公司
Priority date: 2022-12-30
Filing date: 2022-12-30
Publication date: 2024-12-11
Also published as: US12407969B2; TW202426794A; CN118283155A; US20240223932A1

Abstract

一種電子裝置包含外殼、收音單元、聲學膜及密封件。外殼設有通孔。密封件包含密封本體及密封環。密封本體具有容置部及通道。通道的一端連接容置部，另一端具有第一開口。容置部容置收音單元。密封環位於密封本體及聲學膜之間，並具有穿孔。穿孔、通孔及第一開口相對應。密封環的密封環硬度低於密封本體的密封本體硬度。

Description

電子裝置與其密封件

本發明涉及電子裝置與其收音單元的密封件。

隨著科技的發展，電子產品越來越講求輕薄外型，並且也講求好的聲學品質，使消費者在使用電子產品具有優質的體驗。

目前在組裝電子產品時需要多種零件進行組裝，生產成本較高。而且組裝多種零件的工序較為繁瑣，不具便利性。另外，也由於需要多種零件，各個零件間的配對位置易發生錯位，元件的密封效果降低，就容易產生環境音干擾的問題。或是，組裝過程中，若壓合力量太小，氣密效果差；若壓合力量過大，又容易影響電子產品的聲學表現。

有鑑於上述問題，依據一實施例，一種電子裝置包含外殼、收音單元、聲學膜及密封件。外殼設有通孔。收音單元裝設於外殼的內側面。密封件包含密封本體及密封環。密封本體具有容置部及通道。通道的一端連接容置部，通道的另一端具有第一開口。容置部容置收音單元。密封環位於密封本體及聲學膜之間，密封環與密封本體相連接。密封環的密封環硬度低於密封本體的密封本體硬度。

此外，依據一實施例，一種密封件包含密封本體及密封環。密封本體具有容置部及通道。通道的一端連接容置部，通道的另一端具有第一開口。密封環位於第一開口，密封環與密封本體相連接。密封環的密封環硬度低於密封本體的密封本體硬度。

綜合上述，任一實施例中，電子裝置與其密封件，由於密封件具有兩種不同質地的特性，材質較軟的密封環以緊配合方式與聲學膜接觸而提高密封效果。材質較硬的密封本體可以維持通道不易變形，使聲波傳遞不受影響，具有優化聲學表現之優點。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者瞭解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明之實施例相關之目的及優點。

以下輔以圖式，以更清楚地說明本發明之各實施例。

請參照圖1和圖2，圖1為一些實施例的電子裝置的立體圖。圖2為一些實施例的電子裝置在圖1標示2-2位置的局部剖面圖，顯示密封件於外殼內側面的相對位置。

電子裝置例如但不限於行動裝置（例如智慧型手機、平板電腦或筆記型電腦）、耳機、喇叭、音響、錄音機、麥克風、微機電（micro-electro-mechanical-system, MEMS）麥克風等具有輸入和/或輸出聲學元件的電子裝置。以下以電子裝置為智慧型手機進行說明。

根據一實施例，電子裝置包含外殼10、收音單元20、聲學膜30、及密封件40。

請參照圖1，外殼10可以容置智慧型手機的面板15、喇叭（圖中未示）、收音單元20、及電路板70等元件。電路板70與收音單元20電性連接（圖中未示）。

外殼10包含上部11、底部12及背部13。面板15和外殼10的背部13之間的相對位置為相對於圖1中Y軸上的相對兩側。

請參照圖2，外殼10設有通孔14。通孔14可以是智慧型手機的收音孔或出音孔。

收音單元20裝設於外殼10的內側面。收音單元20可以是裝置在智慧型手機內的麥克風。

聲學膜30可以是具有防水、防塵功能的織物。例如，聲學膜30是非金屬織物，並具有網孔。所述的非金屬織物可以是紙、布、塑料、碳纖維織物或聚四氟乙烯（ePTFE）膜。或者是，聲學膜30可具有彈性度並含有銅或鋅等金屬材料的織物，用以過濾特定音頻的環境噪音。例如，太高頻的尖銳噪音無法傳入電子裝置。

密封件40包含密封本體50及密封環60。密封環60位於密封本體50及聲學膜30之間，密封環60與密封本體50相連接。密封環60可以固定於密封本體50，或夾設於密封本體50和聲學膜30之間。

密封本體50具有容置部51及通道52。

容置部51容置收音單元20。容置部51可以容置整個或部分的收音單元20。

請參閱圖3、圖4，圖3為一些實施例的密封件的立體圖。圖4為一些實施例的密封件在圖3標示4-4位置的剖面圖，顯示具有轉折型通道的密封件。

通道52的一端連接容置部51。通道52的另一端具有第一開口53。例如，在圖4中，通道52的一端為第二開口54，通道52的第二端為第一開口53。通道52以第二開口54連通容置部51。

密封環60的硬度低於密封本體50的硬度，以相同的應度檢測方式，密封環60的檢測結果低於密封本體50的檢測結果。例如，以符合ISO 2039-1的球壓硬度（H358/30）表示，密封本體50的球壓硬度約為90 MPa（兆帕斯卡，Maga Pascal），密封環60的球壓硬度為大於0 MPa至小於90 MPa。

此外，根據一實施例，密封件40包含密封本體50及密封環60。密封本體50具有容置部51及通道52。通道52的一端連接容置部51，通道52的另一端具有第一開口53。密封環60位於第一開口53，密封環60與密封本體50相連接。其中密封環60的密封環硬度低於密封本體50的密封本體硬度。於此，密封件40的密封本體50及密封環60之間的關係如前所述，在此不再贅述。

在任一實施例中，由於密封件40直接與聲學膜30直接接觸（見於圖2），所以可以減少多種零件堆疊而產生錯位發生率。另外，硬度較大的密封本體50則可以抵抗來自不同方向的力，例如圖2中Z軸的電子零件（例如面板）的重力和Y軸的壓合力。密封件40可以具有好的密封效果，也可以維持通道52形狀，提升電子裝置的聲學表現。

在一些實施例中，密封環60固定於密封本體50，密封環60和密封本體50是一體成形。例如透過液態射出成型（Liquid Injection Molding System；LIMS）方式製成具有兩種不同硬度的密封件40，且密封環60的密封環硬度低於密封本體50的密封本體硬度。例如，密封環60的材質可以是天然橡膠，或是密封環硬度介於邵氏硬度A（Shore A）在10至70之間的合成橡膠，較佳地，密封環60的材質為邵氏硬度A為60的液態矽橡膠。密封本體50的材質可以是塑膠、熱塑性塑膠、硬樹脂、硬塑料、或不透明（聚碳酸酯）-矽氧烷共聚物樹脂等物質。如此一來，因為密封環60和密封本體50是一體成形，所需要的組裝零件數量較少，在組裝電子裝置的過程具有便利性及成本經濟性。

在一些實施例中，密封環60具有穿孔61。穿孔61、通孔14及第一開口53是相對應。請參考圖2所示的實施例，密封件40的穿孔61和外殼10的通孔14相對應。具體而言，穿孔61、通孔14及第一開口53三者間的「相對應」可以是穿孔61、通孔14及第一開口53完全重疊、或是部分重疊。在部分重疊的實施例中，穿孔61、通孔14及第一開口53可以至少有一面積是三者的重疊區域。例如，在圖2所示的開孔孔徑D1為密封件40的穿孔61的孔徑。開孔孔徑D3為第一開口53的孔徑。開孔孔徑D4為通孔14的孔徑。開孔孔徑D1、D4及D3都不同。穿孔61、通孔14及第一開口53相對應，三者的開孔孔徑是部分重疊。

另外，在一些實施例中，密封環60的材料為泡棉，位於密封件40和聲學膜30之間。泡棉製的密封環60和密封本體50為二個分離的元件。密封環60可以是具有穿孔61的態樣（如圖3），或是片狀（即不具穿孔61）的態樣夾設於密封本體50和聲學膜30之間。泡棉的硬度小於密封本體50的材料硬度。如此，泡棉可以緩衝密封本體50施於聲學膜30的壓力，達到密封效果。其中，泡棉的硬度和密封本體50的硬度皆可適實際組裝需求而做調整。

在一些實施例中，密封環60具有外凸部62。外凸部62朝向外殼10方向凸起，並與聲學膜30接觸。外凸部62以緊配合方式與聲學膜30接觸。例如，外凸部62朝向相反於密封本體50的方向（即圖4中的-Y軸方向）凸起。如此，密封環60可以緊配合方式和聲學膜30接觸，對收音單元20提供好的密封效果。

外凸部62以緊配合方式與聲學膜30接觸並具有干涉尺寸，干涉尺寸介於0.15 mm至0.25 mm之間。藉此，外殼10無須再設置溝槽或是固定結構固定密封件40、聲學膜30與外殼10之間的相對位置。如此，減少成本。

此外，在一些實施例中，密封環60和密封本體50透過固定結構而可拆卸地相連接。所述固定結構可以是卡接、扣接、勾合、或緊配合等結構。

舉例來說，請參閱圖5、圖6。圖5為一些實施例的密封環的立體圖。圖6為一些實施例的密封環在圖5標示6-6位置的剖面圖。

密封環60具有對接凸部65。對接凸部65環繞設置於密封環60的一側，並且對接凸部65的凸起方向與外凸部62的凸起方向實質相反。密封環60透過對接凸部65與密封本體50相連接。密封本體50具有相對應的對接凹槽（圖未示），其環繞於第一開口53的外側（與密封環60接觸的接觸面）。對接凹槽和對接凸部65以卡接方式相連接。對接凹槽與對接凸部65可以是鳩尾槽型式、單側梯形或雙側梯形。

在一些實施例中，外凸部62的基部寬度X1可以等於外凸部62的頂部寬度X2。

在一些實施例中，外凸部62的基部寬度X1可以大於外凸部62的頂部寬度X2。以圖6所示的實施例為例，基部64於Z軸上的基部寬度X1大於頂部63於X軸上的頂部寬度X2。朝著圖6中的-X軸方向看過去，外凸部62的剖面會形成平緩凸起的山丘狀。藉此，較寬的基部64可以吸收較多的壓力，降低密封環60的形變量，具有較佳的密封效果。另外，外凸部62的高度（即頂部63到基部64於圖6中Y軸上的距離）可以對應不同的外殼10配置做彈性調整。

另外，請參考圖4和圖7，圖7為圖3實施例的密封件另一視角的立體圖，顯示緩衝部於容置部中的相對位置。

在一些實施例中，密封本體50更包含緩衝部55環繞設置於第二開口54。緩衝部55與收音單元20以緊配合或壓配合方式接觸。具體而言，第二開口54開設於容置部51的兩個相接之側壁511、512。緩衝部55環繞於第二開口54，並且朝向容置部51凸起。例如，在圖7所示之實施例，由於相接的側壁511、512是垂直相接，緩衝部55也會對應轉折成L型。如此，緩衝部55夾於通道52與容置部51之間，可以將通道52內傳遞的聲波直接傳遞到收音單元20的收音孔。聲波可以集中，不會發散於容置部51內。另外，緩衝部55也可以緩衝收音單元20的震動，穩固收音單元20與密封件40之間的相對位置。

在一些實施例中，密封本體50更包含黏貼膜56，其貼合於電路板70。黏貼膜56的厚度介於0.15 mm至0.25 mm之間。請參閱圖2和圖7，黏貼膜56貼合於第二開口54的周圍，位於密封件40與電路板70之間。藉此，可以透過調整黏貼膜56的厚度，使密封件40對於不同厚度的收音單元20都可以提供最合適的密封效果。

在一些實施例中，第一開口53具有第一軸A。第二開口54具有第二軸B，第一軸向A與第二軸向B之夾角約為70至110度。

例如，於圖4中，密封件40的通道52是轉折型通道。通道52具有轉折部57。轉折部57的一端連接第二開口54，另一端朝第一開口53方向延伸。第一軸A為第一開口53的中心線。第二軸B為第二開口54的中心線。第一軸A與第二軸B相垂直。第二軸B垂直於收音單元20。

請參閱圖8，圖8為一些實施例的電子裝置在圖1標示8-8位置的局部剖面圖，顯示具有直線型通道的密封件於外殼內側面的相對位置。

在一些實施例中，第一開口53具有第一軸A。第二開口54具有第二軸B，第一軸A與第二軸B實質平行。例如，於圖8中，密封件40的通道52為直線型通道，第一軸A和第二軸B皆垂直於收音單元20。

聲學表現測試

分別對裝設在智慧型手機內的不同位置（即圖1中外殼10的上部11、底部12和背部13的內側面）的麥克風進行以下測試，對照組分為對照組A（手機之整體，於上部11、底部12和背部13分別裝設麥克風）、對照組1（裝設於上部11的麥克風）、對照組2（裝設於底部12的麥克風）、及對照組3（裝設於背部13的麥克風）；實驗組對應分為實驗組A、實驗組1、實驗組2、及實驗組3。於此，對照組1、實驗組1、對照組2、和實驗組2中，麥克風（收音單元20）和其搭配的密封件40態樣與圖2所示實施例大致相同。對照組3和實驗組3中，麥克風（收音單元20）和其搭配的密封件40態樣與圖8所示實施例大致相同。

對照組使用的密封件40為均質材質，其材料為液態矽橡膠。

實驗組使用的密封件40是以液態射出成型（Liquid Injection Molding System；LIMS）方式製成具有兩種不同硬度的密封件40。密封環60的材質為液態矽橡膠。密封本體50的材質為不透明(聚碳酸酯)-矽氧烷共聚物樹脂。密封環60的硬度小於密封本體50的硬度。

各組的密封環60的干涉尺寸與黏貼膜56的厚度表示於表1。

表1

	對照組1	實驗組1	對照組2	實驗組2	對照組3	實驗組3
干涉尺寸	0.15 mm	0.15 mm	0.15 mm	0.15 mm	0.25 mm	0.25 mm
厚度	0.25 mm	0.25 mm	0.15 mm	0.15 mm	0.25 mm	0.25 mm

1.接收底噪測試（Receiving Idle Channel Noise, Max vol Test）

圖9為接收底噪測試結果比較圖。

對照組A和實驗組A都符合第三代合作夥伴計畫（The 3rd Generation Partnership Project，3GPP）規範中對閒置通道雜訊（Idle Channel Noise，或稱為底噪）規定。

2.噪音靈敏度測試

於三種情境下（待機時、使用相機軟體、及錄影時），對各組收錄到的手機內噪音進行噪音靈敏度分析。各組的測試是使用Tinycap軟體、Tinymix軟體進行錄音及結果分析。

圖10為待機時實驗組1的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖11為待機時實驗組2的噪音靈敏度測試結果比較圖。當手機待機時，於頻率區段8 KHz至12 KHz及頻率區段16 KHz至20 KHz，實驗組1的頻率響應曲線比對照組1的頻率響應曲線平穩。於頻率區段9 KHz至20 KHz，實驗組2的頻率響應曲線比對照組2的頻率響應曲線平穩。也就表示，當待機時，實驗組的麥克風收錄到較少的噪音，實驗組的密封件40具有較好的密封效果。

圖12為使用相機軟體時實驗組1的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖13為使用相機軟體時實驗組2的噪音靈敏度測試結果比較圖。當使用手機照相軟體時，於頻率區段9 KHz至12 KHz及頻率區段16 KHz至20 KHz，實驗組1的頻率響應曲線比對照組1的頻率響應曲線平穩。於頻率區段9 KHz至20 KHz，實驗組2的頻率響應曲線比對照組2的頻率響應曲線平穩。也就表示，當使用手機照相軟體時，實驗組的麥克風可以收錄到較少的噪音，實驗組的密封件40具有較好的密封效果。

圖14為錄影時實驗組3的噪音靈敏度測試結果比較圖。當使用手機錄影時，於頻率區段9 KHz至14 KHz，實驗組3的頻率響應曲線比對照組3的頻率響應曲線平穩。也就表示，使用手機錄影時，實驗組的麥克風收錄到較少的噪音，實驗組的密封件40具有較好的密封效果。

3.頻率響應測試

圖15為實驗組1的頻率響應測試結果比較圖。圖16為實驗組2的頻率響應測試結果比較圖。圖17為實驗組3的頻率響應測試結果比較圖。

各實驗組的共振峰值（Resonance Peak）的比較結果為：實驗組1的共振峰值比對照組1的共振波峰向前移動1.5 kHz；實驗組2的共振波峰比對照組2的共振波峰向前移動2 kHz。實驗組3的共振波峰比對照組3的共振波峰向前移動3 kHz。

於圖15、圖16、及圖17中，各組實驗組的響應曲線都比相比的對照組的響應曲線較平緩。也就表示，實驗組的密封件40對麥克風的聲學表現不產生負面影響，並且有套設實驗組的密封件40的麥克風收錄的聲音較不失真。

綜合上述，任一實施例中，電子裝置與其密封件，由於密封件具有兩種不同質地的特性，材質較軟的密封環以緊配合方式與聲學膜接觸而提高密封效果。材質較硬的密封本體可以維持通道不易變形，使聲波傳遞不受影響，具有優化聲學表現之優點。另外，在一些實施例中，因為所需要的組裝零件數量較少，在組裝電子裝置的過程具有便利性及成本經濟性。

雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

10:外殼 11:上部 12:底部 13:背部 14:通孔 15:面板 20:收音單元 30:聲學膜 40:密封件 50:密封本體 51:容置部 511,512:側壁 52:通道 53:第一開口 54:第二開口 55:緩衝部 56:黏貼膜 57:轉折部 60:密封環 61:穿孔 62:外凸部 63:頂部 64:基部 65:對接凸部 70:電路板 D1,D3,D4:開孔孔徑 A:第一軸 B:第二軸 X1:基部寬度 X2:頂部寬度

圖1為一些實施例的電子裝置的立體圖。圖2為一些實施例的電子裝置在圖1標示2-2位置的局部剖面圖，顯示密封件於外殼內側面的相對位置。圖3為一些實施例的密封件的立體圖。圖4為一些實施例的密封件在圖3標示4-4位置的剖面圖，顯示具有轉折型通道的密封件。圖5為一些實施例的密封環的立體圖。圖6為一些實施例的密封環在圖5標示6-6位置的剖面圖。圖7為圖3實施例的密封件另一視角的立體圖，顯示緩衝部於容置部中的相對位置。圖8為一些實施例的電子裝置在圖1標示8-8位置的局部剖面圖，顯示具有直線型通道的密封件於外殼內側面的相對位置。圖9為接收底噪測試結果比較圖。圖10為待機時實驗組1的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖11為待機時實驗組2的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖12為使用相機軟體時實驗組1的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖13為使用相機軟體時實驗組2的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖14為錄影時實驗組3的噪音靈敏度測試結果比較圖。圖15為實驗組1的頻率響應測試結果比較圖。圖16為實驗組2的頻率響應測試結果比較圖。圖17為實驗組3的頻率響應測試結果比較圖。

10:外殼

14:通孔

20:收音單元

30:聲學膜

40:密封件

50:密封本體

51:容置部

52:通道

53:第一開口

56:黏貼膜

60:密封環

61:穿孔

70:電路板

D1,D3,D4:開孔孔徑

Claims

一種電子裝置，包含：一外殼，設有一通孔；一收音單元，裝設於該外殼的內側面；一聲學膜；以及一密封件，包含：一密封本體，具有一容置部及一通道，該通道的一端連通該容置部，該通道的另一端具有一第一開口，該容置部容置該收音單元；及一密封環，位於該密封本體及該聲學膜之間，該密封環與該密封本體相連接；其中，該密封環的一密封環硬度低於該密封本體的一密封本體硬度。
如請求項1所述之電子裝置，其中該密封環硬度介於邵氏硬度A在10至70之間。
如請求項1所述之電子裝置，其中該密封環具有一穿孔和一外凸部，該穿孔、該通孔及該第一開口相對應，該外凸部朝向該外殼方向凸起，並以緊配合方式與該聲學膜接觸。
如請求項3所述之電子裝置，其中該外凸部以緊配合方式與該聲學膜接觸並具有一干涉尺寸，該干涉尺寸介於0.15mm至0.25mm之間。
如請求項3所述之電子裝置，其中該外凸部的一基部寬度大於該外凸部的一頂部寬度。
如請求項1所述之電子裝置，其中該通道連通該容置部為一第二開口，該密封本體更包含一緩衝部環繞設置於該第二開口，該緩衝部與該收音單元接觸。
如請求項6所述之電子裝置，其中該第一開口具有一第一軸，該第二開口具有一第二軸，該第一軸與該第二軸實質平行。
如請求項6所述之電子裝置，其中該第一開口具有一第一軸，該第二開口具有一第二軸，該第一軸與該第二軸實質垂直。
如請求項1所述之電子裝置，更包含一電路板，該密封本體更包含一黏貼膜貼合於該電路板，且該黏貼膜的一厚度介於0.15mm至0.25mm之間。
如請求項1所述之電子裝置，其中該密封環的材料為泡棉。
一種密封件，包含：一密封本體，具有一容置部及一通道，該通道的一端連通該容置部，該通道的另一端具有一第一開口；及一密封環，位於該第一開口，該密封環與該密封本體相連接；其中該密封環的一密封環硬度低於該密封本體的一密封本體硬度；該密封環具有一外凸部和一穿孔，該穿孔及該第一開口相對應，該外凸部朝向相反於該密封本體的一方向凸起。
如請求項11所述之密封件，其中該密封環硬度介於邵氏硬度A在10至70之間。
如請求項11所述之密封件，其中該密封環更包含一對接凸部；該對接凸部的凸起方向朝向該密封本體與該密封環相接觸之一面；該密封本體與該密封環透過該對接凸部以卡接方式相連接。
如請求項11所述之密封件，其中該外凸部的一基部寬度大於該外凸部的一頂部寬度。
如請求項11所述之密封件，其中該密封環的材料為泡棉。
如請求項11所述之密封件，其中該通道連通該容置部為一第二開口，該密封本體更包含一緩衝部環繞設置於該第二開口。
如請求項16所述之密封件，其中該第一開口具有一第一軸，該第二開口具有一第二軸，該第一軸與該第二軸實質平行。
如請求項16所述之密封件，其中該第一開口具有一第一軸，該第二開口具有一第二軸，該第一軸與該第二軸實質垂直。
如請求項11所述之密封件，其中該密封本體更包含一黏貼膜貼合於該第二開口之周圍，且該黏貼膜的一厚度介於0.15mm至0.25mm之間。