[go: up one dir, main page]

TWI842499B - 影像感測器模組 - Google Patents

影像感測器模組 Download PDF

Info

Publication number
TWI842499B
TWI842499B TW112115880A TW112115880A TWI842499B TW I842499 B TWI842499 B TW I842499B TW 112115880 A TW112115880 A TW 112115880A TW 112115880 A TW112115880 A TW 112115880A TW I842499 B TWI842499 B TW I842499B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
image sensor
image sensing
cover plate
sensor module
integrated circuit
Prior art date
Application number
TW112115880A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202444111A (zh
Inventor
張正芳
張孟智
蔡正豐
Original Assignee
業泓科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 業泓科技股份有限公司 filed Critical 業泓科技股份有限公司
Priority to TW112115880A priority Critical patent/TWI842499B/zh
Priority to CN202310530460.4A priority patent/CN116454105A/zh
Priority to US18/203,700 priority patent/US12507494B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI842499B publication Critical patent/TWI842499B/zh
Publication of TW202444111A publication Critical patent/TW202444111A/zh

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/804Containers or encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/52Elements optimising image sensor operation, e.g. for electromagnetic interference [EMI] protection or temperature control by heat transfer or cooling elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/805Coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45147Copper (Cu) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45163Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than 1550°C
    • H01L2224/4518Molybdenum (Mo) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/18Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
    • H10F39/182Colour image sensors
    • H10W72/07554
    • H10W72/354
    • H10W72/552
    • H10W72/5522
    • H10W72/5524
    • H10W72/5525
    • H10W72/884
    • H10W90/734
    • H10W90/754

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

本發明提供一種影像感測器模組,包括積體電路基板、影像感測晶片、蓋板及封裝材料。影像感測晶片設置於積體電路基板上。影像感測晶片包括影像感測區域及非影像感測區域。蓋板和影像感測晶片的非影像感測區域之間設置有壩。蓋板包括透明材料及緩衝材料。封裝材料覆蓋影像感測晶片的周邊、壩的周邊、部分積體電路基板及蓋板的周邊。緩衝材料設置於透明材料與壩之間,以及設置於透明材料與封裝材料之間。本發明降低封裝材料剝離蓋板的可能性。

Description

影像感測器模組
本發明關於影像感測器領域,特別關於影像感測器模組的結構設計。
影像感測器為用於將光訊號轉換為類比訊號的裝置。影像感測器輸出類比訊號並傳輸至圖像處理器,圖像處理器再將類比訊號轉換為數位訊號及進行其他影像處理(如色彩校正等),以獲得數位影像資訊。目前圖像處理器常見類型主要為電荷耦合元件(charge coupled device,CCD)或互補式金屬氧化物半導體(complementary metal-oxide-semiconductor,CMOS)。
互補式金氧半影像感測器(CMOS Image Sensor,CIS)是一種基於互補式金屬氧化物半導體工藝的影像感測器。目前互補式金氧半影像感測器在汽車、安全、醫療及製造等應用領域的市場都在持續擴展。互補式金氧半影像感測器的實際應用舉例如監視攝影機、車載攝影機或內視鏡攝影機等。
互補式金氧半影像感測器的封裝一般採用打線封裝(wire bonding)技術或覆晶封裝(flip chip package,FCP)技術。打線封裝技術為以金線(gold wire)接合積體電路基板的上表面設置的引腳墊(finger pad)及影像感測晶片的上表面設置的銲墊(bond pad),並在影像感測晶片上黏接蓋板保護影像感測晶片的上表面 的影像感測區域,再利用塗佈封裝方式保護金線及影像感測晶片,並使蓋板固定於影像感測器的上方,接著在積體電路基板的下表面設置球柵陣列銲錫球,藉以形成互補式金氧半影像感測器的結構。
一般使用球柵陣列銲錫球的封裝是以單顆晶片方式塗佈,這種方式具有耗費時間的缺點。因此目前將此塗佈封裝製程改為使用模封模具搭配模製化合物(molding compound)進行一次性注膠封裝,藉以改善一般以單顆晶片方式塗佈所產生耗時的缺點,有效提升封裝的效率。但是由於模製化合物需要經由高溫製程固化,以及進行高低溫環境測試時的溫度變化影響,因此在模製化合物的熱膨脹係數和蓋板的熱膨脹係數不同的情況下,導致蓋板側邊的模製化合物剝離,或蓋板側邊和模製化合物之間出現空隙,造成互補式金氧半影像感測器的蓋板容易脫落,影響產品良率的問題。
本發明的一目的在於解決一般互補式金氧半影像感測器的模製化合物容易從與蓋板玻璃的問題。
基於本發明的一目的,本發明提供一種影像感測器模組,包括積體電路基板、影像感測晶片、蓋板及封裝材料。影像感測晶片設置於積體電路基板的上表面。影像感測晶片包括影像感測區域及非影像感測區域。蓋板包括透明材料及緩衝材料。透明材料對應設置於影像感測晶片的影像感測區域的上方的位置,且蓋板的下表面和影像感測晶片的上表面的非影像感測區域之間設置有壩。封裝材料覆蓋影像感測晶片的周邊、壩的周邊、積體電路基板的部分 上表面及蓋板的周邊。其中緩衝材料設置於透明材料與壩之間,以及設置於透明材料與封裝材料之間。
於本發明的一實施例中,其中積體電路基板的上表面設置有複數引腳墊,且影像感測晶片上設置有複數銲墊,複數引腳墊及複數銲墊經由複數金屬導線連接;其中複數引腳墊、複數銲墊及複數金屬導線被封裝材料所覆蓋。
於本發明的一實施例中,其中緩衝材料為環氧樹脂、矽基樹脂、丙烯酸樹脂或聚醯亞胺。
於本發明的一實施例中,其中蓋板平行於影像感測晶片。
於本發明的一實施例中,其中蓋板的下表面和影像感測晶片的上表面之間包括有間隙。
於本發明的一實施例中,其中影像感測晶片的下表面和積體電路基板的上表面之間包括有黏接層。
於本發明的一實施例中,其中蓋板進一步包括頂部抗反射層。
於本發明的一實施例中,其中蓋板進一步包括底部抗反射層。
於本發明的一實施例中,其中蓋板進一步包括頂部抗反射層及底部抗反射層。
於本發明的一實施例中,其中積體電路基板的下表面設置有複數傳導元件。
1:影像感測器模組
2:積體電路基板
3:影像感測晶片
4:金屬導線
5:蓋板
6:黏接層
7:壩
8:封裝材料
20:引腳墊
22:傳導元件
30:銲墊
50:透明材料
52:緩衝材料
500:第一抗反射層
502:第二抗反射層
ISA:影像感測區域
NISA:非影像感測區域
圖1為本發明的影像感測器模組的剖面示意圖,其中蓋板中的透明材料呈現為長方形。
圖2為本發明的影像感測器模組的剖面示意圖,其中蓋板中的透明材料呈現T字形。
圖3為本發明的影像感測器模組的剖面示意圖,其中蓋板中的透明材料呈現漏斗狀。
圖4為本發明的影像感測器模組的剖面示意圖,其中蓋板中的透明材料的上表面及下表面分別設置有第一抗反射層及第二抗反射層。
為了使本發明所屬技術領域中具有通常知識者易於理解本發明的內容,以下結合實施例與圖式對本發明作進一步的說明,各個實施例僅用於說明本發明的技術特徵,提及的內容並非對本發明的限定。
於整個說明書中所述的「一實施例」表示結合實施例所描述的特定特點、結構或特徵包括於至少一個實施例中。因此於整個說明書的各個位置所述的「一實施例」無需全都指相同實施例。另外,特定特點、結構或特徵可在一個或多個實施例中以任何方式組合。
於整個說明書中所述「第一」及「第二」僅用於描述目的,而不能理解為指示或者暗示相對重要性。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,本發明提供一種影像感測器模組1,包括積體電路基板2、影像感測晶片3、複數金屬導線4、蓋板5及封裝材料8。積體電路基板2的上表面設置有複數引腳墊(finger pad)20。影像感測晶片3設置於積體電路基板2的上表面,且影像感測晶片3的上表面設置有複數銲墊(bond pad)30。複數金屬導線4用於連接複數引腳墊20及複數銲墊30。影像感測晶片3上包括有影 像感測區域ISA及非影像感測區域NISA。於影像感測晶片3的上表面的非影像感測區域NISA和蓋板5的下表面之間設置有壩(dam)7。封裝材料8覆蓋影像感測晶片3的周邊、壩7的周邊、積體電路基板2的部分上表面、複數金屬導線4及蓋板5的周邊。蓋板5包括透明材料50及緩衝材料52,透明材料50設置於對應影像感測晶片3的影像感測區域ISA的上方的位置,緩衝材料52位於透明材料50和壩7之間,以及透明材料50和封裝材料8之間。其中壩7為一種支撐結構,用於使蓋板5的下表面和影像感測晶片3的上表面之間形成間隙。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,積體電路基板2用於承載影像感測晶片3,且積體電路基板2上佈設有金屬線路,於本發明的一實施例中,積體電路基板2為FR-4基板,但實際實施時不限於此,積體電路基板2也可為雙馬來醯亞胺三嗪樹脂(Bismaleimide Triazine,BT)基板、味之素積聚膜(Ajinomoto Build-up Film,ABF)基板或模封互連基板(Molded Interconnect Substrate,MIS)基板等佈設有金屬線路的基板。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,積體電路基板2的下表面連接有複數傳導元件22,於本發明的一實施例中,由於積體電路基板2採用球柵陣列封裝(ball grid array,BGA),因此傳導元件22為錫球,但實際實施時不限於此,積體電路基板2也可採用其他封裝方式,舉例如平面網格陣列封裝(land grid array,LGA),因此傳導元件22即為平面網格陣列封裝墊(LGA pad)。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,影像感測晶片3用於接收到的光訊號轉換為電子訊號,於本發明的一實施例中,影像感測晶片3的影像感測區域ISA設置有聚光層、彩色濾光層及光電轉換層,彩色濾光層設置於光電轉換層的上表面,聚光層設置於彩色濾光層的上表面。聚光層由複數微透鏡所組成,用於使光 線聚集以提高影像感測器的靈敏度。彩色濾光層為彩色濾光片,彩色濾光片包括複數子像素,複數子像素的種類包括紅色子像素、綠色子像素及藍色子像素,各個微透鏡分別對應各個子像素,因此當光線經由微透鏡聚光並通過彩色濾光層時,根據子像素的種類可以分別提供紅色、綠色及藍色的色彩資訊。聚光層由複數互補式金屬氧化物半導體(complementary metal-oxide-semiconductor,CMOS)所組成,用於接收色彩資訊,以及感受光線的強弱形成明暗資訊,並將色彩資訊及明暗資訊轉換為電子訊號以記錄成圖像。影像感測晶片3為藉由黏接層6固定於影像感測器模組1的上表面,於本實施例中,黏接層6的材料為熱固化膠。熱固化膠舉例如購自漢高(Henkel)公司的熱固化膠LOCTITE ABLESTIK 2053S。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,金屬導線4用於達到連通影像感測晶片3與積體電路基板2的電路,於本發明的一實施例中,金屬導線4為金線,但實際實施時不限於此,金屬導線4也可為銀、銅、鋁、鉬、鈦或其他金屬導電線材,但金屬導線4不限於單一金屬材料,也可為前述材料所形成的合金材料。金屬導線4連接引腳墊20及銲墊30,藉以作為引腳墊20及銲墊30之間的通路來傳輸電子訊號,因此影像感測晶片3將光訊號轉換為電子訊號後,即可由銲墊30將電子訊號經由金屬導線4傳輸至積體電路基板2的引腳墊20,引腳墊20再經由積體電路基板2上佈設的金屬線路將電子訊號傳輸至傳導元件22。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,蓋板5用於保護影像感測晶片3,避免影像感測晶片3直接受到外力破壞,舉例如撞擊或刮傷等,於本發明的一實施例中,蓋板5的透明材料50可為玻璃、藍寶石玻璃、聚碳酸酯(polycarbonate,PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(poly(methyl methacrylate),PMMA)或其他透明板材。其中玻璃可為鈉鈣玻璃、鋁矽酸鹽玻璃、硼矽酸鹽玻璃、無鹼玻璃、水晶玻璃或石英玻璃等 透明玻璃。於本發明的一實施例中,透明材料50設置於影像感測晶片3的影像感測區域ISA的正上方,透明材料50的投影面積大於或等於影像感測晶片3的影像感測區域ISA的投影面積。由於透明材料50具有透明性質,且封裝材料8僅包覆蓋板5周邊,不會遮蔽透明材料50的上表面,因此外部光線可以穿透透明材料50到達影像感測晶片3,使影像感測晶片3接收光線,並將其轉換為對應的電子訊號。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,蓋板5和影像感測晶片3之間設置有壩7,使蓋板5與影像感測晶片3之間形成間隙,藉以避免影像感測晶片3的影像感測區域ISA受到蓋板5的壓迫,於本發明的一實施例中,蓋板5與影像感測晶片3相互平行。於本發明的一實施例中,壩7的材料可為光固化樹脂或熱固化樹脂。光固化樹脂舉例可為紫外線固化樹脂(UV curing resin),但實際實施時不限於此,也可為其他類型的光固化樹脂。熱固化樹脂舉例可為丙烯酸樹脂(acrylic resin),但實際實施時不限於此,也可為其他類型的熱固化樹脂。壩7的材料舉例如購自長瀨(NAGASE)集團的壩劑(dam agent)NAGASE T694/UR301N2。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,封裝材料8用於固定蓋板5,以及保護及固定影像感測晶片3、複數引腳墊20、複數銲墊30、複數金屬導線4及積體電路基板2上的金屬線路,於本發明的一實施例中,封裝材料8可為環氧樹脂(epoxy),舉例如雙酚A型環氧樹脂(bisphenol A type epoxy resin)、雙酚F型環氧樹脂(bisphenol F type epoxy resin)、苯酚酚醛清漆型環氧樹脂(phenol novolac type epoxy resin)、甲酚酚醛清漆型環氧樹脂(cresol novolac type epoxy resin)、脂肪族環氧樹脂(aliphatic epoxy resin)等環氧樹脂,但實際實施時不限於此,封裝材料8也可為矽基樹脂(silicone)、丙烯酸樹脂(acrylic resin)、聚醯亞胺等熱固化樹脂。封裝材料8不限於單一種材料,也可以為前述封裝材料8的舉例中的任二者以上的混合物。另外, 封裝材料8不限於單組分膠的態樣,也可為雙組分膠的態樣。封裝材料舉例如購自住友電木(Sumitomo Bakelite)株式會社的環氧樹脂封裝化合物商品EME-G311QF。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,於本發明的一實施例中,緩衝材料52可為環氧樹脂(epoxy),舉例如雙酚A型環氧樹脂(bisphenol A type epoxy resin)、雙酚F型環氧樹脂(bisphenol F type epoxy resin)、苯酚酚醛清漆型環氧樹脂(phenol novolac type epoxy resin)、甲酚酚醛清漆型環氧樹脂(cresol novolac type epoxy resin)、脂肪族環氧樹脂(aliphatic epoxy resin)等環氧樹脂,但實際實施時不限於此,緩衝材料52也可為矽基樹脂(silicone)、丙烯酸樹脂(acrylic resin)、聚醯亞胺(polyimide,PI)等熱固化樹脂。緩衝材料52不限於單一種材料,也可以為前述緩衝材料52的舉例中的任二者以上的混合物。另外,緩衝材料52不限於單組分膠的態樣,也可為雙組分膠的態樣。封裝材料舉例如購自住友電木(Sumitomo Bakelite)株式會社的環氧樹脂封裝化合物商品EME-G311QF。
本發明如前所述的緩衝材料52、壩7及封裝材料8為不同製備階段進行添加,因此不可將緩衝材料52、壩7及封裝材料8視為於同一步驟中完成的一體成型的材料。本發明中的蓋板5為事先於透明材料50的周邊設置緩衝材料52,後續再設置於壩7上,最後再填充封裝材料8完成封裝。本發明利用緩衝材料52的熱膨脹係數與封裝材料8的熱膨脹係數相近或相同的性質,加強蓋板5與封裝材料8間的黏著性,使本發明的影像感測器模組1進行高溫固化製程,例如BGA技術的植球回焊(ball mount reflow),或者進行高低溫環境測試時,可以減少溫度變化造成的影響,降低熱漲冷縮導致封裝材料8剝離蓋板5的可能性。
本發明中的透明材料50可以為不同形狀,以下分別搭配圖1、圖2及圖3進行說明。
請參閱圖1,圖1為本發明的影像感測器模組1的剖面示意圖,其中蓋板5中的透明材料50呈現為長方形,而緩衝材料52包覆透明材料50的周邊,因此於圖1中緩衝材料52呈現為位於透明材料50的兩端,且緩衝材料52位於透明材料50和壩7之間,以及透明材料50和封裝材料8之間。
請參閱圖2,圖2為本發明的影像感測器模組1的剖面示意圖,其中蓋板5中的透明材料50呈現T字形,而緩衝材料52包覆透明材料50的周邊,因此於圖2中緩衝材料52呈現為位於透明材料50的兩端,且緩衝材料52位於透明材料50和壩7之間,以及透明材料50和封裝材料8之間。
請參閱圖3,圖3為本發明的影像感測器模組1的剖面示意圖,其中蓋板5中的透明材料50呈現為漏斗狀,且為上寬下窄的態樣,且透明材料50的左側下方及右側下方分皆呈現為斜邊,因此於圖3中緩衝材料52呈現為位於透明材料50的兩端,且緩衝材料52位於透明材料50和壩7之間,以及透明材料50和封裝材料8之間。
前述僅為本發明所述蓋板5的態樣的示範例,並非限定蓋板5僅可為前述態樣,特此說明。
請參閱圖4,於本發明的一實施例中,蓋板5進一步包括抗反射層(anti-reflection coating),其中抗反射層設置於透明材料50的表面,可以為單面抗反射層或雙面抗反射層。抗反射層用於降低透明材料50的光反射,減少光線穿過透明材料50時的損耗,藉以提升透明材料50的光線穿透率,達到提高影像品質的功效。於本實施例中,蓋板5具有雙面抗反射層,抗反射層包括第一抗反射層500及 第二抗反射層502。第一抗反射層500設置於透明材料50的上表面,用於代表頂部抗反射層(top anti-reflective coating,TARC)。第二抗反射層502設置於透明材料50的下表面,用於代表底部抗反射層(bottom anti-reflective coating,BARC)。藉由第一抗反射層500及第二抗反射層502共同降低透明材料50的光反射,達到提升影像品質的功效,但實際實施時不限於此,也可為具有單面抗反射層的蓋板5,如僅包括第一抗反射層500或僅包括第二抗反射層502,即抗反射層僅設置於透明材料50的上表面或透明材料50的下表面。
請參閱圖1、圖2、圖3及圖4,本發明藉由僅在透明材料50與壩7,以及透明材料50與封裝材料8之間設置緩衝材料52,不僅減省緩衝材料52用量,具有降低成本的功效,同時藉由緩衝材料52的設置,使蓋板5不易受到高溫製程固化,以及進行高低溫環境測試時的溫度變化影響,達到降低蓋板5脫落的機會,提升影像感測器模組1的生產良率的功效。
各實施例僅係用於說明本發明的內容,而非意圖限定本發明的實施範圍,因此依本發明申請專利範圍所進行的均等變化與改變,皆應仍屬本發明的涵蓋範圍。
1:影像感測器模組
2:積體電路基板
3:影像感測晶片
4:金屬導線
5:蓋板
6:黏接層
7:壩
8:封裝材料
20:引腳墊
22:傳導元件
30:銲墊
50:透明材料
52:緩衝材料
ISA:影像感測區域
NISA:非影像感測區域

Claims (10)

  1. 一種影像感測器模組,包括: 一積體電路基板; 一影像感測晶片,設置於該積體電路基板的一上表面,該影像感測晶片包括一影像感測區域及一非影像感測區域; 一蓋板,包括一透明材料及一緩衝材料,該透明材料對應設置於該影像感測晶片的該影像感測區域的上方的位置,且該蓋板的一下表面和該影像感測晶片的一上表面的該非影像感測區域之間設置有一壩; 一封裝材料,覆蓋該影像感測晶片的一周邊、該壩的一周邊、該積體電路基板的部分該上表面及該蓋板的一周邊; 其中該緩衝材料設置於該透明材料與該壩之間,以及設置於該透明材料與該封裝材料之間。
  2. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該積體電路基板的該上表面設置有複數引腳墊,且該影像感測晶片上設置有複數銲墊,該複數引腳墊及該複數銲墊經由複數金屬導線連接;其中該複數引腳墊、該複數銲墊及該複數金屬導線被該封裝材料所覆蓋。
  3. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該緩衝材料為環氧樹脂、矽基樹脂、丙烯酸樹脂或聚醯亞胺。
  4. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該蓋板平行於該影像感測晶片。
  5. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該蓋板的該下表面和該影像感測晶片的該上表面之間包括有一間隙。
  6. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該影像感測晶片的該下表面和該積體電路基板的該上表面之間包括有一黏接層。
  7. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該蓋板進一步包括一頂部抗反射層。
  8. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該蓋板進一步包括一底部抗反射層。
  9. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該蓋板進一步包括一頂部抗反射層及一底部抗反射層。
  10. 如請求項1所述的影像感測器模組,其中該積體電路基板的一下表面設置有複數傳導元件。
TW112115880A 2023-04-27 2023-04-27 影像感測器模組 TWI842499B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW112115880A TWI842499B (zh) 2023-04-27 2023-04-27 影像感測器模組
CN202310530460.4A CN116454105A (zh) 2023-04-27 2023-05-11 影像传感器模组
US18/203,700 US12507494B2 (en) 2023-04-27 2023-05-31 Image sensor module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW112115880A TWI842499B (zh) 2023-04-27 2023-04-27 影像感測器模組

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI842499B true TWI842499B (zh) 2024-05-11
TW202444111A TW202444111A (zh) 2024-11-01

Family

ID=87120356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW112115880A TWI842499B (zh) 2023-04-27 2023-04-27 影像感測器模組

Country Status (3)

Country Link
US (1) US12507494B2 (zh)
CN (1) CN116454105A (zh)
TW (1) TWI842499B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI859696B (zh) * 2023-01-11 2024-10-21 同欣電子工業股份有限公司 晶片封裝結構

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200820396A (en) * 2006-10-18 2008-05-01 Advanced Semiconductor Eng Semiconductor chip package manufacturing method and structure thereof
TW201411820A (zh) * 2012-09-10 2014-03-16 歐普提茲股份有限公司 低輪廓影像感測器封裝體及方法
TW201614747A (en) * 2014-08-18 2016-04-16 Optiz Inc Wire bond sensor package and method

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2579312A3 (en) 2005-03-25 2013-05-29 Fujifilm Corporation Solid state imaging device and manufacturing method thereof
JP5993025B2 (ja) * 2012-10-26 2016-09-14 京セラ株式会社 光学フィルタ部材およびこれを備えた撮像装置
US20150028187A1 (en) * 2013-07-23 2015-01-29 Stmicroelectronics Pte Ltd Image sensor device with infrared filter adhesively secured to image sensor integrated circuit and related methods
US20150214416A1 (en) * 2014-01-28 2015-07-30 Stack Devices Corp. Method of package for sensor chip
CN110957334B (zh) 2018-09-27 2022-04-15 胜丽国际股份有限公司 感测器封装结构
US11037970B2 (en) * 2018-11-01 2021-06-15 Semiconductor Components Industries, Llc Semiconductor package structure and related methods
US11444111B2 (en) * 2019-03-28 2022-09-13 Semiconductor Components Industries, Llc Image sensor package having a light blocking member
KR102650997B1 (ko) * 2019-05-20 2024-03-25 삼성전자주식회사 이미지 센서 패키지
CN110854295B (zh) 2019-11-21 2022-06-03 京东方科技集团股份有限公司 显示面板封装结构、显示面板和显示装置
CN112951855A (zh) 2019-12-10 2021-06-11 格科微电子(上海)有限公司 图像传感器芯片的封装方法及封装件
WO2021187091A1 (ja) * 2020-03-17 2021-09-23 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 センサパッケージおよびその製造方法、並びに撮像装置
US12278248B2 (en) * 2020-10-08 2025-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor package and method of fabricating the same
KR20220060380A (ko) * 2020-11-04 2022-05-11 삼성전자주식회사 이미지 센서 패키지

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200820396A (en) * 2006-10-18 2008-05-01 Advanced Semiconductor Eng Semiconductor chip package manufacturing method and structure thereof
TW201411820A (zh) * 2012-09-10 2014-03-16 歐普提茲股份有限公司 低輪廓影像感測器封裝體及方法
TW201614747A (en) * 2014-08-18 2016-04-16 Optiz Inc Wire bond sensor package and method

Also Published As

Publication number Publication date
TW202444111A (zh) 2024-11-01
US12507494B2 (en) 2025-12-23
CN116454105A (zh) 2023-07-18
US20240363655A1 (en) 2024-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5201770B2 (ja) 一括リフローで実装された画像センサ
US7345349B2 (en) Solid state imaging device and producing method thereof
US7498556B2 (en) Image sensor module having build-in package cavity and the method of the same
TWI337500B (en) Image sensor module package structure with supporting element
CN101232033A (zh) 影像感测器模块与其方法
KR102837788B1 (ko) 반도체 패키지 및 그 제조 방법
TW200541063A (en) Image pickup device and production method thereof
JP2008205429A (ja) イメージセンサパッケージおよびその形成方法
TWI842499B (zh) 影像感測器模組
CN116941038A (zh) 半导体封装和半导体封装的制造方法
US7566854B2 (en) Image sensor module
US11296141B2 (en) Image capturing assembly and packaging method thereof, lens module, and electronic device
CN207250494U (zh) 一种封装结构
KR100664316B1 (ko) 이미지 센서 패키지, 고체촬상장치 및 그 제조방법
CN112151560A (zh) 图像传感器封装件和相关方法
US20090179290A1 (en) Encapsulated imager packaging
CN117059677A (zh) 影像感测模组、显示模组及电子设备
JP2014045048A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
CN121152410A (zh) 影像传感器模块
CN115000104A (zh) 可透光的芯片封装结构及制作方法
CN120676265A (zh) 影像传感器模块
TW202135246A (zh) 攝像模組封裝結構
KR20020061221A (ko) 반도체 패키지 및 그 제조방법
TWM597983U (zh) 攝像模組封裝結構
WO2021111715A1 (ja) 撮像装置および撮像装置の製造方法