TWI730295B - 驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 - Google Patents
驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI730295B TWI730295B TW108105185A TW108105185A TWI730295B TW I730295 B TWI730295 B TW I730295B TW 108105185 A TW108105185 A TW 108105185A TW 108105185 A TW108105185 A TW 108105185A TW I730295 B TWI730295 B TW I730295B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- reed
- micro
- driving mechanism
- driving
- seat
- Prior art date
Links
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 70
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 claims abstract description 112
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 46
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 244000089486 Phragmites australis subsp australis Species 0.000 claims 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 9
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 244000273256 Phragmites communis Species 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 230000005288 electromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003032 molecular docking Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
Abstract
本發明提供一種驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機,該驅動機構係:一驅動件;一微動組件,設有具彈性的簧片;該簧片一端固定,另一端可受該驅動件作用進行微動;一被驅動件,設於該微動組件之可受該驅動件作用進行微動的一端,並與該簧片固設連動;該驅動件驅動該微動組件時,可使該可受該驅動件作用進行微動的一端連動該被驅動件進行往復位移;該微動組件的簧片包括:一第一簧片,其片狀表面設有分設兩側而相隔一第一間距的一第一固定部及一第一微動部;一第二簧片,其設有分設兩側而相隔一第二間距的一第二固定部及一第二微動部;藉此所形成的驅動機構、模組使用於分選機中,使被驅動件穩固的執行垂直上、下位移可減少晃動或偏轉。
Description
本發明係有關於一種驅動機構、模組及使用驅動機構、模組之分選機,尤指一種對電子元件進行測試或分選時,用以驅動一被驅動件往復位移之驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機。
按,一般對電子元件進行測試、分選…之設備,常使用一周緣環列佈設等間距鏤空載槽的載盤,該載盤以間歇性旋轉流路將複數個電子元件逐一搬送至各個工作站進行作業,該等工作站分佈對應在該載盤之周緣,例如:入料工作站、量測工作站、轉向工作站、植入工作站、排料工作站…等;其中,在入料工作站、轉向工作站與排料工作站部分,常在電子元件移入或移出載盤之載槽的輸送流路上,以一分離針往復移入或移出輸送流路藉以擋止或允許電子元件通過,該分離針通常設於受電磁鐵驅動的電磁驅動桿上端,藉電磁鐵操作以進行上、下往復操作。
該先前技術中,由於位於該電磁鐵所驅動之該電磁驅動桿上端的該分離針,在該電磁驅動桿本身即已相當細長,而該分離針又為針狀之細長物下,二者長度在相累加後,在被上、下往復驅動時極容易搖晃,導致樞設該電磁驅動桿下端的一軸承及供該分離針樞經的一料座上一擋止孔容易造成磨損擴孔,且因電磁鐵所驅動的該電磁驅動桿係穿經電磁鐵,但為使其承受磁性時可敏捷地反應並作上、下位移,該電磁驅動桿並未在
電磁鐵中拘束其旋轉能力,故導致其上端固設連動的該分離針易在上、下往復位移中同時進行偏轉,使該軸承及該擋止孔的磨耗增大。
爰是,本發明的目的,在於提供一種可以減少被驅動件晃動及偏轉的驅動機構。
本發明的另一目的,在於提供一種使用如所述驅動機構之分選機。
本發明的又一目的,在於提供一種可以減少被驅動件晃動及偏轉的驅動模組。
本發明的再一目的,在於提供一種使用如所述驅動模組之分選機。
依據本發明目的之驅動機構,包括:一驅動件;一微動組件,設有具彈性的簧片;該簧片一端固定,另一端可受該驅動件作用進行微動;一被驅動件,設於該微動組件之可受該驅動件作用進行微動的一端,並與該簧片固設連動;該驅動件驅動該微動組件時,可使該可受該驅動件作用進行微動的一端連動該被驅動件進行往復位移;其中,該微動組件的簧片包括:一第一簧片,其片狀表面設有分設兩側而相隔一第一間距的一第一固定部及一第一微動部;一第二簧片,其設有分設兩側而相隔一第二間距的一第二固定部及一第二微動部。
依據本發明另一目的之分選機,使用如所述驅動機構,包括:該驅動機構使用於分選機中的一第一排料工作站處,用以在一第一載盤旋轉時,擋止電子元件移出一載槽;該驅動機構固設於一料座下方,該料座一端上方設置該第一載盤,另一端設有一輸出管;該輸出管一端對應該載槽,該電子元件可由該輸出管排出;該料座在對應該載槽處開設有一氣孔,
在該氣孔旁側該載槽外周處開設有一擋止孔供該驅動機構的該被驅動件上端穿經。
依據本發明又一目的之驅動模組,使用如所述驅動機構,包括:一料座,一端設有一導入槽供一輸送槽道一端置設其中,該料座上開設有一擋止孔,該料座上表面在該輸送槽道與一第一載盤之一載槽間設有一導引通道,電子元件可依序經該輸送槽道與該導引通道至該載盤之載槽內;其中,該驅動機構的被驅動件可進行上、下往復位移於該料座的該擋止孔中。
依據本發明又一目的之另一驅動模組,包括:一料座,一端設有一導入槽供一輸送槽道一端置設其中,該料座上開設有一擋止孔,該料座上表面在該輸送槽道與一第一載盤之一載槽間設有一導引通道,電子元件可依序經該輸送槽道與該導引通道至該載盤之載槽內;一驅動機構的被驅動件設於一具彈性的簧片上,該被驅動件受一驅動件作用而與該簧片固設連動,該被驅動件可進行上、下往復位移於該料座的該擋止孔中。
依據本發明再一目的之分選機,包括:使用如所述驅動模組,其中,該分選機設有一第一載盤,設於一作業台上,並以一第一間歇性旋轉流路進行電子元件搬送,該第一載盤周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之鏤空的載槽;該料座的該導入槽供一輸送槽道一端置設其中,該料座上表面在該輸送槽道與該第一載盤之該載槽間設有一導引通道,電子元件可依序經該輸送槽道與該導引通道至該載盤之載槽內。
本發明實施例之驅動機構、模組及使用該驅動模組的分選機,藉由該驅動機構以驅動件驅動設有具彈性且一端固定,另一端可受該驅動件作用進行微動之簧片的微動組件,使被驅動件固設於該微動組件之可受該驅動件作用進行微動之簧片一端並與該簧片連動,被驅動件不會被該驅動件驅動而旋轉,該被驅動件係設在簧片上,其長度也不與任何桿體累加,故
可以減少晃動及偏轉,且因為已無供任何桿體樞設的軸承設置,亦無任何軸承可造成磨損。
A:作業台
A1:輸送槽道
B:第一載盤1
B1:載槽
B2:限位件
C:入料工作站
D:量測工作站
E:轉接工作站
F:第一排料工作站
G:第二載盤
G1:載槽
G2:限位件
H:第二排料工作站
K:驅動模組
K1:料座
K11:導入槽
K111:側座
K112:嵌溝
K12:擋止孔
K13:檢測孔
K14:氣孔
K15:導引片
K151:導引通道
K2:驅動機構
K21:微動組件
K211:第一簧片
K2111:第一固定部
K2112:第一微動部
K212:第二簧片
K2121:第二固定部
K2122:第二微動部
K213:固定座
K2131:第一定位
K2132:第二定位
K2133:第一圍座
K2134:第一閃避區間
K2135:第二圍座
K2136:第二閃避區間
K2137:置座
K2138:固定部
K2139:長槽孔
K214:串聯件
K2141:第一聯結部
K2142:第二聯結部
K2143:聯結件
K2144:定位件
K2145:定位部
K2146:緩衝件
K2147:磁動部
K22:微調件
K221:嵌抵部
K2211:長槽孔
K222:區間
K223:跨部
K23:托座
K231:托抵部
K232:固接部
K2321:靠接部
K2322:抵靠面
K2323:擋抵部
K24:彈性件
K25:被驅動件
K26:驅動件
K3:位置檢測機構
K31:檢測片
K32:檢測器
K4:到位檢測機構
K41:光纖
K42:檢測器
W:電子元件
d1:第一間距
d2:第二間距
d3:第三間距
L1:第一軸線
L2:第二軸線
M1:料座
M11:氣孔
M12:擋止孔
M2:輸出管
圖1係本發明實施例中該分選機之部份機構立體示意圖。
圖2係本發明實施例中該驅動模組之立體示意圖。
圖3係本發明實施例中該驅動模組應用於分選機之剖面示意圖。
圖4係本發明實施例中該微動組件配合驅動件之立體示意圖。
圖5係本發明實施例中該微動組件配合驅動件之部份剖面示意圖。
圖6係本發明實施例中該微動組件之該固定座與該微調件、托座之立體分解示意圖。
圖7係本發明實施例中該驅動模組使用於分選機中配合位置檢測機構、到位檢測機構之示意圖。
圖8係該驅動機構使用於分選機中的該第一排料工作站用以擋止該電子元件移出該載槽之實施例示意圖。
請參閱圖1,本發明實施例可實施於如圖所示之電子元件分選機,該分選機例如進行LED之電子元件分選的分選機,該分選機設有包括:一作業台A,設有一輸送槽道A1輸送由振動送料機(圖未示)整列傳送的電子元件W;一第一載盤B,設於該作業台A上,並以一第一間歇性旋轉流路進行電子元件W搬送,該第一載盤B周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之鏤空的載槽B1,該環列佈設之載槽B1外周設有一限位件B2,以防止被旋轉搬送的電子元件W受離心力拋出;該第一載盤B形成順時針之第一間歇性旋轉流路
並承收自該輸送槽道A1輸入之電子元件W,該第一間歇性旋轉流路上依旋轉方向依序設有一入料工作站C、一量測工作站D、一轉接工作站E與一第一排料工作站F;一第二載盤G,設於該作業台A上,並以一第二間歇性旋轉流路進行搬送,該第二載盤G周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之鏤空的載槽G1,該環列佈設之載槽B1外周設有一限位件G2,以防止被旋轉搬送的電子元件受離心力拋出;該第二載盤G與該第一載盤B鄰近,並形成順時針之第二間歇性旋轉流路以進行電子元件W搬送;該第二間歇性旋轉流路上設有複數個第二排料工作站H各自對應各載槽G1(在本發明實施例中設有二十個第二排料工作站H對應二十個載槽G1,圖式僅以一個第二排料工作站H示意);該第一載盤B、該第二載盤G間以該轉接工作站E形成搬送流路的連接,其可為一通道或以吸附搬送方式傳遞電子元件W於該第一載盤B之載槽B1及該第二載盤G之載槽G1間的傳送機構;該第一間歇性旋轉流路以該轉接工作站E為界分成前段與後段,該第一排料工作站F設於該第一間歇性旋轉流路之後段,如此可避開該第一間歇性旋轉流路前段上各工作站之干涉;該第一載盤B之第一間歇性旋轉流路在該轉接工作站E處形成二個相分叉的流路,當電子元件W經該量測工作站D進行量測的結果為屬於落料頻率較高的電子元件W時,該電子元件W被搬送到達該轉接工作站E處時,將由該第一載盤B的第一間歇性旋轉流路自水平徑向排出,並經該轉接工作站E,再以水平徑向進入該第二載盤G的第二間歇性旋轉流路的該載槽G1被搬送,並依量測結果由該載槽G1預設之該第二排料工作站H排出該第二載盤G的第二間歇性旋轉流路;當電子元件經該量測工作站D進行量測之結果為屬於落料頻率較低的電子元件W時,該電子元件W被搬送到達該轉接工作站E處時,將續循該第一載盤B的第一間歇性旋轉流路被搬送越過該轉接工
作站E,而到達該第一排料工作站F,並由該第一排料工作站F排出該第一載盤B的第一間歇性旋轉流路。
請參閱圖1、2,該入料工作站C處設有用以進行擋止的驅動模組K於該第一載盤B下方,用以在該第一載盤B旋轉時,擋止該電子元件W移入或移出該載槽B1;請參閱圖2、3,該驅動模組K可使用如圖所示作說明,包括:一料座K1,呈水平方向設置,一端凹設有一導入槽K11,其供該輸送槽道A1一端置設其中,該料座K1由該導入槽K11朝相對遠離該輸送槽道A1之一端依序開設有一擋止孔K12、一檢測孔K13與一氣孔K14;該料座K1之上表面在該輸送槽道A1與該第一載盤B之間設有兩個導引片K15,其分別位於該擋止孔K12之兩側,該兩導引片K15之間形成一導引通道K151,其一端連通該輸送槽道A1,另一端連通該第一載盤B之載槽B1,使電子元件W可依序經該輸送槽道A1與該導引通道K151至該載盤B1之載槽B11內;兩導引片K15之一端對應該第一載盤B之形狀具有弧凹之外緣;一驅動機構K2,其設於該料座K1之下方,該驅動機構K2設有一微動組件K21,該微動組件K21上端與該料座K1間固設一微調件K22,使該微動組件K21上端與該料座K1下底面間保持一間隔;該微動組件K21下方設有一托座K23,該托座K23與該微動組件K21下底面間相隔間距橫設有一托抵部K231,並在該微動組件K21下底面與該托抵部K231間設有一彈簧構成的彈性件K24;該微動組件K21上設有一由分離針所構成的被驅動件K25,一驅動件K26驅動該微動組件K21,使其上的該被驅動件K25可進行上、下直線往復位移於該料座K1的該擋止孔K12中,以執行對電子元件W的擋止或放行的操作。
請參閱圖4、5,該微動組件K21包括:
一第一簧片K211,呈長方形薄片狀,為金屬材質且具有彈性,其片狀表面設有在X軸向分設兩側而相隔一第一間距d1的一第一固定部K2111及一第一微動部K2112;一第二簧片K212,呈長方形薄片狀,為金屬材質且具有彈性,其片狀表面設有在X軸向分設兩側而相隔一第二間距d2的一第二固定部K2121及一第二微動部K2122;該第一簧片K211的第一間距d1與該第二簧片K212的第二間距d2約略相等;本實施例中該第一簧片K211、第二簧片K212的厚度及材質、彈性係數相同,但亦可依需要採該第一簧片K211、第二簧片K212的厚度及材質、彈性係數為不同;一固定座K213,設有在Z軸向上、下相隔一第三間距d3並位於上方的一第一定位K2131及位於下方的一第二定位K2132,該第一簧片K211以該第一固定部K2111固設於該固定座K213的該第一定位K2131,該第二簧片K212以該第二固定部K2121固設於該固定座K213的該第二定位K2132,固設於該固定座K213上的該第一簧片K211與該第二簧片K212相互平行;供該第一簧片K211的該第一固定部K2111固設的該第一定位K2131外周圍受一框狀且高度略高於該第一簧片K211水平高度的第一圍座K2133所圍設,該第一定位K2131朝該第一簧片K211之該第一微動部K2112的一側,於該第一簧片K211的下方設有一凹陷的第一閃避區間K2134,藉此使該第一簧片K211在該固定座K213上端僅該第一固定部K2111與該固定座K213的該第一定位K2131接觸,其餘部位則呈懸空之不與該固定座K213上端接觸狀態;供該第二簧片K212的該第二固定部K2121固設的該第二定位K2132外周圍受一框狀且高度略低於該第二簧片K212水平高度的第二圍座K2135所圍設,該第二定位K2132朝該第二簧片K212之該第二微動部K2122的一側,於該第二簧片K212的上方設有一凹陷的第二閃避區間K2136,藉此使該第二簧片
K212在該固定座K213下端僅該第二固定部K2121與該固定座K213的該第二定位K2132接觸,其餘部位則呈懸空之不與該固定座K213下端接觸狀態;一串聯件K214,設有在Z軸向上、下相隔一第四間距d4的一第一聯結部K2141及一第二聯結部K2142,該第一簧片K211以該第一微動部K2112與該串聯件K214的該第一聯結部K2141聯結固定,該第二簧片K212以該第二微動部A2122與該串聯件K214的該第二聯結部K2142聯結固定,該固定座K213的第一定位K2131及一第二定位K2132連成的第一軸線L1與該串聯件K214上的該第一聯結部K2141及一第二聯結部K2142連成的第二軸線L2相互平行;該固定座K213的該第三間距d3與該串聯件K214的該第四間距d4約略相等;該第一簧片K211、第二簧片K212與該第一軸線L1、第二軸線L2呈垂直;該第一簧片K211、第二簧片K212、固定座K213、串聯件K214圍設形成一矩形框體;該框體以一側的固定座K213作為固定側,該串聯件K214所形成的另一側藉由該第一簧片K211、第二簧片K212的彈性而可進行上、下微動。
該由分離針所構成的該被驅動件K25設於該微動組件K21框體構造之可進行微動的一側,該被驅動件K25的底端被固設於該微動組件K21的該第一簧片K211的該第一微動部K2112上,該串聯件K214一端的該第一聯結部K2141並嵌入該被驅動件K25底端而與該被驅動件K25固設連動,使該第一簧片K211的第一微動部K2112、該被驅動件K25、該串聯件K214三者可以產生連動;該被驅動件K25呈細長狀並呈多段不同的截徑,由上而下依序為由細徑到粗徑。
該驅動件K26其例如一以環狀電磁鐵的電磁效應進行驅動的構件,並設於該固定座K213朝向該串聯件K214一側的X軸向水平伸設的一置座K2137上,該驅動件K26與該固定座K213在X軸向保持相隔一間隔左、右平行併置而不接觸;該置座K2137伸設於該第一簧片K211與該第二簧片K212間,並與第一簧片K211、該第二簧片K212各保持一間距及相互平行;該串聯件K214以一端
的第二聯結部K2142樞經該置座K2137,而與該第二簧片K212和該置座K2137間的一聯結件K2143固設,該第二簧片K212下方設有一定位件K2144,該聯結件K2143與該定位件K2144上、下夾設該第二簧片K212的該第二微動部K2122,使該串聯件K214一端的第二聯結部K2142與該第二簧片K212的該第二微動部K2122固設並連動;該定位件K2144並凹設有一定位部K2145,該彈性件K24一端嵌置於該定位部K2145而與該第二簧片的該第二微動部連動,另一端抵於該托抵部K231;該聯結件K2143與該置座K2137間設有一撓性體構成的緩衝件K2146,可緩衝該串聯件K214上下位移時該聯結件K2143與該置座K2137間的碰撞以降低噪音;該串聯件K214樞經該驅動件K26中心,並以一磁動部K2147受電磁吸附作用驅動該微動組件K21框體構造之可進行微動的一側,使該串聯件K214可作往下位移作動及連動該被驅動件K25、第一簧片K211的第一微動部K2112、第二簧片K212的第二微動部A2122往下位移,並在電磁吸附停止時,藉第一簧片K211、第二簧片K212的彈性回復力,使該被驅動件K25、第一簧片K211的第一微動部K2112、第二簧片K212的第二微動部A2122往上回復位移;其中,該彈性件K24同時亦可輔助提供該第一簧片K211、第二簧片K212作更即時的彈性回復力。
該微動組件K21可以提供被驅動件K25穩固的定位,該被驅動件K25的上、下位移行程極短,且因該第一簧片K211的第一間距d1與該第二簧片K212的第二間距d2約略相等,故在驅動件K26的作動下,該串聯件K214上、下位移的軌跡與該被驅動件K25、第一簧片K211的第一微動部K2112、第二簧片K212的第二微動部A2122作上、下位移的軌跡,在位移行程中,該串聯件K214、被驅動件K25連成的第二軸線L2依然保持一幾乎與該固定座K213的第一定位K2131及一第二定位K2132連成的第一軸線L1相互平行的垂直狀態,使被驅動件K25穩固的執行垂直上、下位移而減少晃動或偏轉。
請參閱圖3、6,該微動組件K21之該固定座K213的該第一定位K2131Y軸向的兩側各設有一固定部K2138,各固定部K2138上各設有長槽孔K2139;該微調件K22上端設有凸設之嵌抵部K221,其上設有長槽孔K2211,藉螺接件可與該料座K1底部位於該導入槽K11兩側之側座K111下方的嵌溝K112嵌配定位及固設並可作Y軸向微調;該微調件K22下端則在對應該固定座K213的該第一定位K2131處形成向上內凹之區間K222,而以分跨該區間K121或該第一定位K2131兩側的二跨部K223分別各與該固定座K213的二該固定部K2138藉該長槽孔K2139固設並可作X軸向微調;該第一、二簧片K211、K212的第一、二微動部K2112、A2122的一側呈圓弧狀,以減輕其重量及簡化結構,增加該第一、二簧片K211、K212的靈敏度;該托座K23一體設X軸向的該托抵部K231及一Z軸向的固接部K232,該固接部K232設有一Z軸向的靠接部K2321及一X軸向的水平抵靠面K2322,並以該靠接部K2321於該微調件K22相對該第一、二簧片K211、K212的另一側藉螺接件固設,固設時該抵靠面K2322抵靠於該第二圍座K2135的底緣下方;該抵靠面K2322表面朝該第二簧片K212在保持一間距下凸設一擋抵部K2323,供該第二簧片K212作意外偏移的擋抵限制;該微調件K22與該托座K23均不與該第一簧片K211或第二簧片K212接觸。
請參閱圖7,該驅動機構K2可配合一位置檢測機構K3實施,該位置檢測機構K3設有一檢測片K31與一例如近接開關之檢測器K32,該檢測片K31可固設於該聯結件K2143與該定位件K2144間,並與該第二簧片K212的該第二微動部K2122連動,該檢測器K32設於該置座K2137處並樞經該置座K2137;在該驅動件K26驅動時,該串聯件K214連動該聯結件K2143、第二簧片K212的該第二微動部K2122、該檢測片K31位移,使該檢測器K32可由該檢
測片K31檢測該串聯件K214之位置,並藉以獲得該被驅動件K25的位置資訊。
在該驅動機構K2實施於該分選機中時,可設有:一到位檢測機構K4,其設有一光纖K41與一檢測器K42,該光纖K41一端可穿經該料座K1上的該檢測孔K13,另一端與該檢測器K42連結;該檢測器K42設於該托座K23的該托抵部K231上並樞經該托抵部K231,該到位檢測機構K4藉由接收光學訊號之有無來判斷該第一載盤B的該載槽B1內是否存在電子元件W。
請參閱圖1、8,本發明實施例中的該驅動機構K2亦可使用於分選機中的該第一排料工作站F處,用以在該第一載盤B旋轉時,擋止該電子元件W移出該載槽B1;此時該驅動機構K2僅配合該位置檢測機構K3,在此實施例中;該驅動機構K2固設於一料座M1下方,該料座M1一端上方設置該第一載盤B,另一端設有一輸出管M2;該輸出管M2呈斜向設置,其朝上之一端對應該載槽B1,電子元件W可由該輸出管M2排出;該料座M1在對應該載槽B1處開設有一氣孔M11,在該氣孔M11旁側該載槽B1外周處開設有一擋止孔M12供該驅動機構K2的該被驅動件K25上端穿經。
本發明實施例之驅動方法、機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機,藉由該驅動機構以驅動件驅動設有具彈性且一端固定,另一端可受該驅動件作用進行微動之簧片的微動組件,使被驅動件固設於該微動組件之可受該驅動件作用進行微動之簧片一端並與該簧片連動時,被驅動件不會被該驅動件驅動而旋轉,該被驅動件係設在簧片上,其長度也不與任何桿體累加,故可以減少晃動及偏轉,且因為已無供任何桿體樞設的軸承設置,亦無任何軸承可造成磨損。
惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
K211:第一簧片
K212:第二簧片
K213:固定座
K2133:第一圍座
K2134:第一閃避區間
K2135:第二圍座
K2137:置座
K214:串聯件
K25:被驅動件
K26:驅動件
Claims (18)
- 一種驅動機構,包括:一驅動件;一微動組件,設有具彈性的簧片;該簧片一端固定,另一端可受該驅動件作用進行微動;一被驅動件,設於該微動組件之可受該驅動件作用進行微動的一端,並與該簧片固設連動;該驅動件驅動該微動組件時,可使該可受該驅動件作用進行微動的一端連動該被驅動件進行往復位移;其中,該微動組件的簧片包括:一第一簧片,其片狀表面設有分設兩側而相隔一第一間距的一第一固定部及一第一微動部;一第二簧片,其設有分設兩側而相隔一第二間距的一第二固定部及一第二微動部。
- 如請求項1所述驅動機構,其中,該微動組件包括:一固定座,設有相隔一第三間距的一第一定位及一第二定位,該第一簧片以該第一固定部固設於該固定座的該第一定位,該第二簧片以該第二固定部固設於該固定座的該第二定位。
- 如請求項2所述驅動機構,其中,該微動組件包括:一串聯件,設有相隔一第四間距的一第一聯結部及一第二聯結部,該第一簧片以該第一微動部與該串聯件的該第一聯結部聯結固定,該第二簧片以該第二微動部與該串聯件的該第二聯結部聯結固定。
- 如請求項3所述驅動機構,其中,該固定座的該第一定位及第二定位連成的第一軸線與該串聯件上的該第一聯結部及該第二聯結部連成的第二軸線相互平行。
- 如請求項3所述驅動機構,其中,該固定座的該第三間距與該串聯件的該第四間距約略相等;該第一簧片、第二簧片與該第一軸線、第二軸線呈垂直。
- 如請求項3所述驅動機構,其中,該驅動件位於該微動組件的該第一簧片與該第二簧片之間,該驅動件為一電磁鐵,該串聯件樞經該電磁體構成的該驅動件中心,該驅動件驅動該串聯件使該第一、二簧片及被動件被連動。
- 如請求項3所述驅動機構,其中,該驅動件設於該固定座朝向該串聯件一側伸設一置座上,該置座伸設於該第一簧片與該第二簧片間;該串聯件以一端的第二聯結部樞經該置座,而與該第二簧片和該置座間的一聯結件固設。
- 如請求項7所述驅動機構,其中,該第二簧片下方設有一定位件,該聯結件與該定位件上、下夾設該第二簧片的該第二微動部,使該串聯件一端的第二聯結部與該第二簧片的該第二微動部固設並連動。
- 如請求項3所述驅動機構,其中,該聯結件與該置座間設有一撓性體構成的緩衝件。
- 如請求項1所述驅動機構,其中,該微動組件下方設有一托座,該托座與該微動組件下底面間相隔間距橫設有一托抵部,並在該微動組件下底面與該托抵部間設有一彈簧構成的彈性件。
- 如請求項1所述驅動機構,其中,該彈性件一端嵌置於與該第二簧片的該第二微動部連動的一定位部而,另一端抵於該托抵部。
- 一種分選機,使用如請求項1至11任一項所述驅動機構,包括:該驅動機構使用於分選機中的一第一排料工作站處,用以在一第一載盤旋轉時,擋止電子元件移出一載槽;該驅動機構固設於一料座下方,該料座一端上方設置該第一載盤,另一端設有一輸出管;該輸出管一端對應該載槽,該電子元件可由該輸出管排出;該料座在對應該載槽處開設有一氣孔,在該氣孔旁側該載槽外周處開設有一擋止孔供該驅動機構的該被驅動件上端穿經。
- 一種驅動模組,使用如請求項1至11任一項所述驅動機構,包括:一料座,一端設有一導入槽,該料座上開設有一擋止孔,該料座上表面設有一導引通道;其中,該驅動機構的被驅動件可進行上、下往復位移於該料座的該擋止孔中。
- 如請求項13所述驅動模組,其中,該驅動機構配合一位置檢測機構實施,該位置檢測機構設有一檢測片與一檢測器,該檢測片與該第二簧片的該第二微動部連動,藉以獲得該被驅動件的位置資訊。
- 如請求項13所述驅動模組,其中,該微動組件與該料座間固設一微調件,該微調件可作微調位移。
- 一種驅動模組,包括:一料座,一端設有一導入槽,該料座上開設有一擋止孔,該料座上表面設有一導引通道;一驅動機構的被驅動件設於一具彈性的簧片上,該被驅動件受一驅動件作用而與該簧片固設連動,該被驅動件可進行上、下往復位移於該料座的該擋止孔中。
- 一種分選機,包括:使用如請求項13至16任一項所述驅動模組,其中,該分選機設有一第一載盤,設於一作業台上,並以一第一間歇性旋轉流路進行電子元件搬送,該第一載盤周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之鏤空的載槽;該料座的該導入槽供一輸送槽道一端置設其中,該料座 上表面在該輸送槽道與該第一載盤之該載槽間設有一導引通道,電子元件可依序經該輸送槽道與該導引通道至該載盤之載槽內。
- 如請求項17所述分選機,其中,該料座上開設有一檢測孔與一氣孔;該驅動機構設有一到位檢測機構,其設有一光纖與一檢測器,該光纖一端可穿經該料座上的該檢測孔,另一端與該檢測器連結;該到位檢測機構藉由接收光學訊號之有無來判斷該第一載盤的該載槽中是否存在電子元件。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW108105185A TWI730295B (zh) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 |
| CN201911140597.9A CN111570301B (zh) | 2019-02-15 | 2019-11-20 | 驱动方法、机构、模块及使用驱动机构、模块的分选机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW108105185A TWI730295B (zh) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW202031370A TW202031370A (zh) | 2020-09-01 |
| TWI730295B true TWI730295B (zh) | 2021-06-11 |
Family
ID=72116866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW108105185A TWI730295B (zh) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111570301B (zh) |
| TW (1) | TWI730295B (zh) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWM260855U (en) * | 2004-05-31 | 2005-04-01 | Ming-Tsung Hou | Improved structure for the driver of the switch |
| TWI237434B (en) * | 2000-09-29 | 2005-08-01 | Matsushita Electric Works Ltd | Linear oscillator |
| TWI261672B (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-11 | Mjc Probe Inc | Elastic micro probe and method of making same |
| TWM347395U (en) * | 2008-05-02 | 2008-12-21 | Sankitai Co Ltd | Part feeding machine |
| CN102435520A (zh) * | 2011-11-07 | 2012-05-02 | 济南益华摩擦学测试技术有限公司 | 高频往复式微动摩擦磨损试验机 |
| CN206516534U (zh) * | 2017-03-06 | 2017-09-22 | 东莞市华精电子有限公司 | 一种使用寿命长的微动开关 |
| TWM573432U (zh) * | 2018-08-06 | 2019-01-21 | 鋅詠豐精密科技股份有限公司 | Four-wire test passive component detector |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05121524A (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-18 | Sharp Corp | ダイボンデイング用チツプ突き上げ装置 |
| JPH08181192A (ja) * | 1994-12-20 | 1996-07-12 | Sony Corp | ウェハ移載機 |
| JPH11284051A (ja) * | 1998-03-27 | 1999-10-15 | Anelva Corp | 基板搬送トレー |
| CN101383309A (zh) * | 2007-09-06 | 2009-03-11 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 硅片顶针 |
| CN201590406U (zh) * | 2009-12-23 | 2010-09-22 | 东莞华中科技大学制造工程研究院 | 芯片分拣设备的顶针机构 |
| CN202003972U (zh) * | 2010-07-13 | 2011-10-05 | 江门市新侨光电科技有限公司 | 一种用于固晶机的晶圆推顶装置 |
| CN202167470U (zh) * | 2011-07-18 | 2012-03-14 | 成都思茂科技有限公司 | 半导体芯片焊接机弹力顶针芯杆 |
| CN202839552U (zh) * | 2012-07-14 | 2013-03-27 | 佛山市南海区宏乾电子有限公司 | 一种应用于全自动上芯机上的顶针装置 |
| TWI522634B (zh) * | 2014-05-15 | 2016-02-21 | All Ring Tech Co Ltd | Method and device for conveying electronic component detection sorting |
| CN106611736B (zh) * | 2015-10-22 | 2020-04-28 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 顶针机构及半导体加工设备 |
| CN206340532U (zh) * | 2016-12-22 | 2017-07-18 | 中山市同立盛自动化设备有限公司 | 一种固晶机的芯片上料装置 |
| CN108054128A (zh) * | 2017-12-13 | 2018-05-18 | 苏州聚进顺自动化科技有限公司 | 一种固晶机的顶针装置 |
-
2019
- 2019-02-15 TW TW108105185A patent/TWI730295B/zh active
- 2019-11-20 CN CN201911140597.9A patent/CN111570301B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI237434B (en) * | 2000-09-29 | 2005-08-01 | Matsushita Electric Works Ltd | Linear oscillator |
| TWM260855U (en) * | 2004-05-31 | 2005-04-01 | Ming-Tsung Hou | Improved structure for the driver of the switch |
| TWI261672B (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-11 | Mjc Probe Inc | Elastic micro probe and method of making same |
| TWM347395U (en) * | 2008-05-02 | 2008-12-21 | Sankitai Co Ltd | Part feeding machine |
| CN102435520A (zh) * | 2011-11-07 | 2012-05-02 | 济南益华摩擦学测试技术有限公司 | 高频往复式微动摩擦磨损试验机 |
| CN206516534U (zh) * | 2017-03-06 | 2017-09-22 | 东莞市华精电子有限公司 | 一种使用寿命长的微动开关 |
| TWM573432U (zh) * | 2018-08-06 | 2019-01-21 | 鋅詠豐精密科技股份有限公司 | Four-wire test passive component detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW202031370A (zh) | 2020-09-01 |
| CN111570301B (zh) | 2021-09-21 |
| CN111570301A (zh) | 2020-08-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5457085B2 (ja) | ワーク搬送分類装置及びワーク搬送分類方法 | |
| US8425175B2 (en) | Part-delivery apparatus and method for the same | |
| CN102649116A (zh) | 用于分选电子部件的装置 | |
| TWI730295B (zh) | 驅動機構、模組及使用驅動機構、模組的分選機 | |
| US6554128B1 (en) | Die shuttle conveyor and nest therefor | |
| JP5972103B2 (ja) | 整列供給装置 | |
| US20040043514A1 (en) | Pre-aligner | |
| JP3665667B2 (ja) | 小物物品の整列装置 | |
| CN111579829B (zh) | 探针驱动方法及装置 | |
| JP7285408B2 (ja) | 部品実装装置および基板搬送方法 | |
| US3709378A (en) | Aligning and orienting apparatus | |
| US10000343B2 (en) | Vibratory conveying apparatus comprising trough attachment/detachment mechanism, and combination weighing apparatus | |
| KR101358109B1 (ko) | 대상물 안내 기능을 갖는 비전 검사 장치 | |
| JP5011605B2 (ja) | 部品姿勢選別装置 | |
| JP6214748B1 (ja) | 搬送路調整機構、搬送装置、及び、振動式搬送装置 | |
| KR102604545B1 (ko) | 슬릿 노즐 및 기판 처리 장치 | |
| KR101358108B1 (ko) | 미끄러지는 대상물에 대한 비전 검사 장치 | |
| KR102474713B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
| TW202031576A (zh) | 排料方法及裝置 | |
| CN1543306A (zh) | 电子元件生产线的供料装置和包括供料装置的生产线 | |
| KR102507754B1 (ko) | 부품 정렬 공급장치 | |
| CN218968048U (zh) | 一种金属件的自动上料盘 | |
| US3556278A (en) | Anti-snag device | |
| TWM604317U (zh) | 直震機構及使用直震機構之震動送料裝置 | |
| CN120417362A (zh) | 安装装置和安装装置的控制方法 |