TWI727041B - 顯示裝置 - Google Patents
顯示裝置 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI727041B TWI727041B TW106115346A TW106115346A TWI727041B TW I727041 B TWI727041 B TW I727041B TW 106115346 A TW106115346 A TW 106115346A TW 106115346 A TW106115346 A TW 106115346A TW I727041 B TWI727041 B TW I727041B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- layer
- resin layer
- conductive layer
- resin
- display device
- Prior art date
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 283
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 283
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 166
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 8
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 6
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 713
- 239000010408 film Substances 0.000 description 132
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 101
- 238000000034 method Methods 0.000 description 90
- 239000000463 material Substances 0.000 description 55
- 230000008569 process Effects 0.000 description 39
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 37
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 37
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 31
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 23
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 22
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 18
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 16
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 15
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 14
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 14
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 10
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 8
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 7
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 7
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 7
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 7
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 6
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 5
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 5
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 5
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 5
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 4
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 4
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- DQXBYHZEEUGOBF-UHFFFAOYSA-N but-3-enoic acid;ethene Chemical compound C=C.OC(=O)CC=C DQXBYHZEEUGOBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 4
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 4
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Nd+3].[Nd+3] PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 3
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 2
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 2
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N Butyraldehyde Chemical compound CCCC=O ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000004873 anchoring Methods 0.000 description 1
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N cadmium nickel Chemical compound [Ni].[Cd] OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007766 curtain coating Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006356 dehydrogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000011245 gel electrolyte Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000002121 nanofiber Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021334 nickel silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N nickel zinc Chemical compound [Ni].[Zn] QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002926 oxygen Chemical class 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920006350 polyacrylonitrile resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N silver zinc Chemical compound [Zn].[Ag] BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
- G09F9/301—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements flexible foldable or roll-able electronic displays, e.g. thin LCD, OLED
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/411—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs characterised by materials, geometry or structure of the substrates
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133305—Flexible substrates, e.g. plastics, organic film
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133528—Polarisers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13458—Terminal pads
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/674—Thin-film transistors [TFT] characterised by the active materials
- H10D30/6755—Oxide semiconductors, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide or cadmium stannate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/421—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs having a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer
- H10D86/423—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs having a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer comprising semiconductor materials not belonging to the Group IV, e.g. InGaZnO
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/431—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs having different compositions, shapes, layouts or thicknesses of gate insulators in different TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/441—Interconnections, e.g. scanning lines
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/451—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs characterised by the compositions or shapes of the interlayer dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/60—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs wherein the TFTs are in active matrices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/81—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/82—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/121—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
- H10K59/1213—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/124—Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/131—Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/40—OLEDs integrated with touch screens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136222—Colour filters incorporated in the active matrix substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/311—Flexible OLED
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Geometry (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
本發明提供一種可靠性高的顯示裝置。該顯示裝置包括第一基板、第一基板上的第一樹脂層、第一樹脂層上的像素部及端子部、端子部上的第二樹脂層、以及第二樹脂層上的第二基板,其中,像素部包括電晶體及與電晶體電連接的顯示元件,端子部包括導電層,第一樹脂層包括開口部,導電層包括從第一樹脂層中的開口部露出的第一區域,第二樹脂層包括與第一區域重疊的區域,導電層為與電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層。
Description
本發明的一個實施方式係關於一種顯示裝置及其製造方法。
注意,本發明的一個實施方式不侷限於上述技術領域。作為本說明書等所公開的本發明的一個實施方式的技術領域的一個例子,可以舉出半導體裝置、顯示裝置、發光裝置、蓄電裝置、記憶體裝置、電子裝置、照明設備、輸入裝置、輸入輸出裝置、其驅動方法或者其製造方法。
注意,在本說明書等中,半導體裝置是指能夠藉由利用半導體特性而工作的所有裝置。電晶體、半導體電路、運算裝置及記憶體裝置等都是半導體裝置的一個實施方式。另外,攝像裝置、電光裝置、發電裝置(包括薄膜太陽能電池、有機薄膜太陽能電池等)以及電子裝置有時包括半導體裝置。
近年來,已廣泛地開發應用有機EL(Electro
Luminescence:電致發光)元件或液晶元件等的顯示裝置。另外,已開發在具有撓性的基板(薄膜)上設置電晶體等半導體元件或有機EL元件等顯示元件的撓性顯示裝置。這些顯示裝置的主流為在像素部中具有配置成矩陣狀的電晶體的主動矩陣型顯示裝置。
這些顯示裝置採用如下結構:為了對用來驅動像素部的電晶體的驅動電路供應電源及輸入信號,在基板上設置端子部,並將FPC(Flexible Printed Circuit:軟性印刷電路板)安裝於該端子部的結構。
在專利文獻1中公開了如下顯示裝置:包括配置在撓性基板的一個表面的薄膜電晶體及顯示元件以及配置在另一個表面的FPC,藉由形成在撓性基板的貫穿孔中的導電體使薄膜電晶體與FPC連接。
[專利文獻1]日本專利申請公開第2015-72361號公報
在安裝FPC時,藉由利用熱壓合由各向異性導電薄膜將FPC等的連接器貼到設置在基板的端子部的電極,來實現導通。在該熱壓合的製程中,有時由於擠壓而給設置在基板的電晶體、顯示元件等元件或佈線帶來損傷,由此在顯示裝置中產生顯示不良。尤其是,在使用撓性基板作為基板時,有可能會由於該撓性基板的撓性而使
基板變形,由此元件及佈線出現裂縫。
於是,本發明的一個實施方式的目的之一是提供一種可靠性高的顯示裝置。
另外,顯示裝置被要求窄邊框化或低成本化。於是,本發明的一個實施方式的目的之一是提供一種實現窄邊框化的顯示裝置。另外,本發明的一個實施方式的目的之一是提供一種實現低成本化的顯示裝置。
注意,上述目的的記載不妨礙其他目的的存在。本發明的一個實施方式並不需要實現所有上述目的。另外,可以從說明書等的記載衍生上述以外的目的。
本發明的一個實施方式是一種顯示裝置,該顯示裝置包括第一基板、第一基板上的第一樹脂層、第一樹脂層上的像素部及端子部、端子部上的第二樹脂層、以及第二樹脂層上的第二基板,其中,像素部包括電晶體及與電晶體電連接的顯示元件,端子部包括導電層,第一樹脂層包括開口部,導電層包括從第一樹脂層中的開口部露出的第一區域,第二樹脂層包括與第一區域重疊的區域,導電層為與電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層。
另外,本發明的一個實施方式是一種顯示裝置,該顯示裝置包括第一基板、第一基板上的第一樹脂層、第一樹脂層上的像素部及端子部、端子部上的第二樹脂層、像素部及端子部上的第三樹脂層、以及第三樹脂層上的第二基板,其中,像素部包括電晶體及與電晶體電連
接的顯示元件,端子部包括導電層,第一樹脂層包括開口部,導電層包括從第一樹脂層中的開口部露出的第一區域,第二樹脂層包括與第一區域重疊的區域,導電層為與電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層。
在上述顯示裝置中,導電層可以具有第一導電層和第二導電層的疊層結構,第一導電層可以包含氧化物導電材料且具有與第一樹脂層接觸的區域。
另外,上述顯示裝置可以包括與端子部電連接的FPC,FPC可以包括與像素部重疊的區域。此時,也可以在第一基板與FPC之間設置具有IC晶片的第三基板,FPC藉由IC晶片與端子部電連接。
在上述顯示裝置中,第二樹脂層也可以被用作密封劑。
另外,在上述顯示裝置中,第二樹脂層也可以被用作間隔物。
另外,本發明的一個實施方式是一種顯示裝置,該顯示裝置包括第一基板、第一基板的上方的端子部及像素部,端子部的上方的樹脂層,端子部及像素部的上方的第二基板、以及FPC,其中,像素部包括電晶體及與電晶體電連接的顯示元件,端子部包括導電層,該導電層為與電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層,FPC與導電層電連接,FPC包括與像素部重疊的區域以及隔著導電層與樹脂層重疊的區域。
根據本發明的一個實施方式,可以提供一種可靠性高的顯示裝置。另外,根據本發明的一個實施方式,可以提供一種實現窄邊框化的顯示裝置。根據本發明的一個實施方式,可以提供一種實現低成本化的顯示裝置。
70:光
100:顯示裝置
102:像素部
104:端子部
106:FPC
108:連接器
110:第一基板
112:黏合層
114:黏合層
116:基板
118a:偏光板
118b:偏光板
119:背光源
120:支撐基板
121:前體層
122:樹脂層
122a:樹脂層
122b:第一樹脂層
123:區域
124:絕緣層
130:電晶體
131:第一導電層
132:導電層
132a:導電層
134:絕緣層
136:氧化物半導體層
138a:導電層
138b:導電層
138c:導電層
138d:導電層
139:導電層
140:絕緣層
141:絕緣層
142:絕緣層
144:第二電極
146:絕緣層
148:第一電極
149:液晶
150:液晶元件
152:第二樹脂層
154:第二基板
155:樹脂層
156:黏合層
160:支撐基板
162:樹脂層
162a:樹脂層
162b:第三樹脂層
164:絕緣層
166:黑矩陣
168:濾色片
170:發光元件
172:導電層
173:絕緣層
174:EL層
176:導電層
178:樹脂
180:絕緣層
190:電晶體
192:電晶體
194:電晶體
196:絕緣層
198:導電層
200:顯示裝置
210:顯示裝置
220A:顯示裝置
220B:顯示裝置
224:IC晶片
226:基板
7000:顯示部
7001:顯示部
7101:外殼
7103:操作按鈕
7104:外部連接埠
7105:揚聲器
7106:麥克風
7107:相機
7110:行動電話機
7201:外殼
7202:操作按鈕
7203:資訊
7210:可攜式資訊終端
7300:電視機
7301:外殼
7303:支架
7311:遙控器
7650:可攜式資訊終端
7651:非顯示部
7800:可攜式資訊終端
7801:錶帶
7802:輸入輸出端子
7803:操作按鈕
7804:圖示
7805:電池
在圖式中:圖1A和圖1B是說明顯示裝置的結構實例的平面圖及剖面圖;圖2A至圖2F是說明顯示裝置的製造方法的圖;圖3A至圖3C是說明顯示裝置的製造方法的圖;圖4A和圖4B是說明顯示裝置的製造方法的圖;圖5A至圖5C是說明顯示裝置的製造方法的圖;圖6A和圖6B是說明顯示裝置的製造方法的圖;圖7A和圖7B是說明顯示裝置的結構實例的剖面圖;圖8A至圖8D是示出端子部的結構實例的圖;圖9A至圖9C是示出可用於顯示裝置的電晶體的圖;圖10A和圖10B是說明顯示裝置的結構實例的圖;圖11A至圖11F是說明電子裝置的圖。
參照圖式對本發明的實施方式進行詳細說明。但是,本發明不侷限於以下說明,而所屬技術領域的通常知識者可以很容易地理解一個事實就是其方式及詳細內容在不脫離本發明的精神及其範圍的情況下可以被變換為各種各樣的形式。因此,本發明不應該被解釋為僅限定在以下所示的實施方式所記載的內容中。
注意,在下面說明的發明結構中,在不同的圖式中共同使用相同的元件符號來表示相同的部分或具有相同功能的部分,而省略反復說明。另外,當表示具有相同功能的部分時有時使用相同的陰影線,而不特別附加元件符號。
注意,在本說明書所說明的各個圖式中,有時為了容易理解,誇大表示各組件的大小、層的厚度、區域。因此,本發明並不侷限於圖式中的尺寸。
在本說明書等中使用的“第一”、“第二”等序數詞是為了避免組件的混淆而附記的,而不是為了在數目方面上進行限定的。
電晶體是半導體元件的一種,可以進行電流或電壓的放大、控制導通或非導通的切換工作等。本說明書中的電晶體包括IGFET(Insulated Gate Field Effect Transistor:絕緣閘場效電晶體)和薄膜電晶體(TFT:Thin Film Transistor)。
在本說明書等中,顯示裝置包括顯示元件處於密封狀態下的面板和在該面板中安裝有包括控制器的
IC等狀態下的模組。就是說,本說明書中的顯示裝置是指影像顯示裝置或光源(包括照明設備)。另外,顯示裝置不僅包括顯示元件為密封狀態的面板,還包括:將諸如FPC或TCP(Tape Carrier Package:捲帶式封裝)的連接器安裝於顯示元件的模組;在TCP的端部設置有印刷線路板的模組;或者藉由COG(Chip on glass:晶粒玻璃接合)方式將IC(積體電路)直接安裝到顯示元件的模組。
作為設置在顯示裝置中的顯示元件,可以使用液晶元件(也稱為液晶顯示元件)、發光元件(也稱為發光顯示元件)。發光元件包括由電流或電壓控制亮度的元件,明確而言,包括無機EL、有機EL等。此外,也可以應用電子墨水顯示裝置(電子紙)等的對比度因電作用而發生變化的顯示媒介。
當對構成顯示裝置的薄膜進行加工時,可以利用光微影法等進行加工。另外,可以利用使用陰影遮罩的成膜方法形成島狀的薄膜。另外,可以利用奈米壓印法、噴砂法、剝離法等對薄膜進行加工。在光微影法中有如下方法:在要進行加工的薄膜上形成光阻遮罩,藉由蝕刻等對該薄膜進行加工,並去除光阻遮罩的方法;以及在形成感光性薄膜之後,進行曝光及顯影來將該薄膜加工為所希望的形狀的方法。
當在光微影法中使用光時,作為用於曝光的光,例如可以使用i線(波長為365nm)、g線(波長為
436nm)、h線(波長為405nm)或將這些光混合而成的光。另外,還可以使用紫外光、KrF雷射或ArF雷射等。另外,也可以利用液浸曝光技術進行曝光。作為用於曝光的光,也可以使用極紫外光(EUV:Extreme Ultra-Violet)或X射線。另外,也可以使用電子束代替用於曝光的光。當使用極紫外光、X射線或電子束時,可以進行極其微細的加工,所以是較佳的。另外,在藉由電子束等光束的掃描進行曝光時,不需要光罩。
在本實施方式中,參照圖1A至圖6B說明本發明的一個實施方式的顯示裝置及其製造方法。
<顯示裝置的結構實例1>
圖1A和圖1B示出顯示裝置100的結構實例。圖1A是顯示裝置100的平面圖。圖1B是沿著圖1A的點劃線x-y的剖面圖。
圖1A所示的顯示裝置100包括在第一基板110與第二基板154之間被密封的像素部102、端子部104以及與端子部104電連接的FPC106。FPC106具有將各種信號及電位藉由閘極驅動電路或源極驅動電路供應到像素部102的電晶體的功能。閘極驅動電路及源極驅動電路可以都由設置在與像素部的電晶體相同的基板上的電晶體構成。另外,既可以將IC晶片利用COF(Chip On
Film:薄膜覆晶封裝)方式等安裝於FPC106,又可以組合上述電晶體和上述FPC。例如,可以由設置在與像素部的電晶體相同的基板上的電晶體構成掃描線驅動電路,利用COF方式等安裝具有信號線驅動電路的IC晶片。
當顯示裝置100具有觸控感測器等感測器時,顯示裝置100也可以具有感測器驅動電路。感測器驅動電路既可以由設置在與像素部的電晶體相同的基板上的電晶體構成,又可以藉由將IC晶片利用COF方式安裝於FPC106來構成。
另外,作為圖1A和圖1B所示的顯示裝置100,以包括一個FPC106的結構為例子進行說明,但是本發明的實施方式不侷限於此。例如,也可以採用包括多個FPC的結構。在此情況下,可以將FPC連接到多個邊。
圖1B是沿著圖1A的點劃線x-y切斷包括端子部104及FPC106的區域及包括像素部102的區域時的剖面示意圖。
在圖1B中,顯示裝置100包括第一基板110的上方的像素部102及端子部104、隔著像素部102設於第一基板110上的第二基板154。第一基板110藉由黏合層112貼合到第一樹脂層122b。另外,第二基板154藉由黏合層156貼合到第三樹脂層162b。以圍繞像素部102的週邊且具有閉環形狀的方式設置有被用作密封劑的第二樹脂層152,像素部102被第二樹脂層152、第一基板
110及第二基板154密封。
配置在端子部104的導電層138d具有藉由連接器108與FPC106電連接的功能。導電層138d包括從設置在第一樹脂層122b中的開口部露出的第一區域,在該露出的第一區域中與連接器108接觸。另外,第一基板110以不與至少導電層138d從設置在第一樹脂層122b中的開口部露出的第一區域重疊的方式配置。
導電層138d較佳為由用於配置於像素部102中的電晶體130的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個的導電層構成。藉由採用上述結構,可以簡化被用作端子部104的電極的導電層138d的製程,從而可以抑制顯示裝置的製造成本。
在本發明的一個實施方式的顯示裝置100中,端子部104的導電層138d與FPC106電連接的區域(換句話說,導電層138d與連接器108接觸的區域)以與第二樹脂層152重疊的方式配置。第二樹脂層152具有密封劑的功能,使用熱固性樹脂等具有彈性的材料形成。藉由以與端子部104的導電層138d和FPC106的連接區域重疊的方式配置具有上述材料的第二樹脂層152,可以將第二樹脂層152用作抗FPC106的熱壓合製程中的擠壓的緩衝材料。由此,在對FPC106進行熱壓合時,可以抑制因擠壓而給元件及佈線等帶來損傷,從而可以提高顯示裝置100的可靠性。
另外,藉由設置在第一樹脂層122b中的開口
部使導電層138d與FPC106電連接,可以將FPC106配置在與顯示面相反的一側。在此,導電層138d被用作貫通電極或背面電極。藉由將FPC106配置在與顯示面相反的一側,可以在將顯示裝置100組裝於電子裝置時省略用來折疊FPC106的空間,從而可以實現進一步小型化的電子裝置。
並且,藉由以與第二樹脂層152重疊的方式配置導電層138d與FPC106的連接區域,與在設置為關閉環形狀的第二樹脂層152內部設置連接區域的情況相比,可以擴大能夠形成像素部102的區域。由此,可以實現顯示裝置100的窄邊框化。
像素部102包括隔著絕緣層124設置在第一樹脂層122b上的電晶體130以及與電晶體130電連接的顯示元件。在本實施方式中,示出使用液晶元件150作為顯示元件的液晶顯示裝置的例子。注意,可適用於本實施方式所示的顯示裝置的顯示元件只要可以進行顯示就沒有特別的限制,可以使用各種顯示元件。
圖1B例示出具有底閘極型電晶體作為像素部102所包括的電晶體130的情況。注意,本發明的實施方式不侷限於此。
電晶體130是通道蝕刻型電晶體,可以容易減少電晶體所佔的面積,因此可以適用於高解析度顯示裝置。
另外,對用於電晶體的半導體材料沒有特別
的限制,例如可以使用矽、鍺、氧化物半導體等。
另外,對用於電晶體的半導體的結晶性也沒有特別的限制,可以使用非晶半導體或結晶半導體(微晶半導體、多晶半導體、單晶半導體或其一部分具有結晶區域的半導體)。
當使用液晶元件作為顯示元件時,液晶顯示裝置可以採用垂直電場方式或水平電場方式。圖1B示出採用作為水平電場方式的一個例子的FFS(Fringe Field Switching:邊緣場切換)模式的例子。
在一個像素中包括至少一個開關用電晶體130。另外,也可以包括未圖示的儲存電容器。在電晶體130與液晶元件150之間形成有覆蓋電晶體130的絕緣層140及絕緣層142。另外,對覆蓋電晶體130的絕緣層的層數沒有特別的限制。在本實施方式中,在顯示裝置100的一個面的整體上設置有絕緣層140及絕緣層142。藉由採用上述結構,可以提高顯示裝置的製程的良率,所以是較佳的。另一方面,也可以採用在顯示裝置的端部去除絕緣層142或者絕緣層142及絕緣層140的結構。藉由採用在顯示裝置的端部去除絕緣層的結構,可以防止雜質從在顯示裝置的端部露出的絕緣層的端面進入。上述結構是尤其在使用有機材料作為絕緣層142的情況下有效的。
液晶元件150包括與電晶體130的源極或汲極電連接的梳形第一電極148、隔著絕緣層146與第一電極148重疊的第二電極144以及液晶149。第一電極148
被用作像素電極,第二電極144被用作共用電極。另外,第二電極144在像素部102的周邊部電連接於作為與導電層138d相同的層的導電層138c。
作為第二電極144或者第一電極148及第二電極144,使用具有透光性的導電材料。當將具有透光性的導電材料用於上述電極的兩者時,可以提高像素的開口率,所以是較佳的。作為具有透光性的導電材料,可以使用氧化銦、銦錫氧化物、銦鋅氧化物、氧化鋅、添加有鎵的氧化鋅等的導電氧化物或石墨烯。
在本實施方式中,例示出配置在第一電極148與第二電極144之間的絕緣層146延伸到顯示裝置100的端部且具有與第二樹脂層152接觸的區域的情況。注意,本發明的實施方式不侷限於此。例如,在使用設置在第一基板110上的電晶體形成驅動電路時,較佳為在該形成驅動電路的區域去除絕緣層146。
另外,以至少與像素部102重疊的方式在第一基板110的外側由黏合層114貼合設置有背光源119及偏光板118a的基板116。
在液晶元件150中,在第一電極148與第二電極144之間施加電壓,在傾斜方向上產生電場,由該電場控制液晶149的配向,以像素為單位控制配置在像素部102的下方的背光源119所發射的光的偏振,可以顯示影像。
背光源119較佳為配置在第一基板110與
FPC106之間。因為顯示裝置100包括像素部102與FPC106重疊的區域,所以藉由將背光源119配置在上述位置。由此可以在不受到FPC106的透光性的影響的情況下將來自背光源119的光照射到像素部102。另外,也可以在像素部102的側面設置側光源等光源代替背光源119,將來自該光源的光使用導光板傳送到像素部102。
另外,可以在與液晶149接觸的面設置用來控制液晶149的配向的配向膜。配向膜使用具有透光性的材料。
另外,在至少與像素部102重疊的區域中的第二基板154一側設置有濾色片168及黑矩陣166。濾色片168及黑矩陣166隔著絕緣層164與第三樹脂層162b重疊。在第二基板154的外側設置有偏光板118b。
在顯示裝置100的與液晶元件150重疊的區域中設置有濾色片,由此可以使用白色光的背光源作為背光源119來實現全彩色的影像顯示。另外,也可以作為背光源119利用發光顏色不同的多個發光二極體來採用分時顯示方式(場序驅動方式)。當採用分時顯示方式時,不需要設置濾色片168,例如不需要設置呈現R(紅色)、G(綠色)、B(藍色)的每個發光顏色的子像素,所以有提高像素的開口率或增加每單位面積的像素數量等的優點。
濾色片168是為了對來自光源的光進行調色並提高色純度而設置的。例如,當使用白色的背光源製造
全彩色顯示裝置時,使用設置有不同顏色的濾色片的多個像素。此時,既可以使用紅色(R)、綠色(G)、藍色(B)的三種顏色的濾色片,又可以使用上述三種顏色和黃色(Y)的四種顏色。此外,除了R、G、B(及Y)以外還使用白色(W)的像素,而可以使用四種顏色(或五種顏色)。
另外,在彼此相鄰的濾色片168之間設置有黑矩陣166。黑矩陣166遮擋從相鄰的像素發射的光,來抑制產生在相鄰的像素之間的混色。黑矩陣166也可以採用只配置在發光顏色不同的相鄰像素之間,而不設置在發光顏色相同的像素之間的結構。在此,藉由以其端部與黑矩陣166重疊的方式設置濾色片168,可以抑制漏光。作為黑矩陣166可以使用遮光材料,而可以使用金屬材料或包含顏料的有機樹脂材料等。另外,如圖1B所示那樣,藉由將黑矩陣166設置在端子部104等像素部102以外的區域,可以抑制起因於導光等的非意圖的漏光,所以是較佳的。
另外,在此未圖示,但是也可以具有覆蓋黑矩陣166及濾色片168的保護層。保護層可以防止包含在濾色片168中的雜質等擴散到顯示元件。保護層由具有透光性的材料構成,例如可以使用氮化矽膜、氧化矽膜等無機絕緣膜或丙烯酸膜、聚醯亞胺膜等有機絕緣膜,也可以採用有機絕緣膜與無機絕緣膜的疊層結構。
<顯示裝置的製造方法>
參照圖2A至圖6B說明圖1A和圖1B所示的顯示裝置100的製造方法的一個例子。
首先,在支撐基板120上形成前體層121作為用來形成樹脂層的前體層(圖2A)。
作為支撐基板120,使用具有容易傳送的程度的剛性,且對製程中的溫度具有耐熱性的基板。作為能夠用於支撐基板120的材料,例如可以舉出玻璃、石英、陶瓷、藍寶石、有機樹脂、半導體、金屬或合金等。作為玻璃,例如可以舉出無鹼玻璃、鋇硼矽酸鹽玻璃、鋁硼矽酸鹽玻璃等。
作為前體層121,使用感光性樹脂材料。藉由使用感光性樹脂材料作為前體層121,可以利用使用光的光微影法去除前體層121的一部分,加工為所希望的形狀。另外,作為前體層121,較佳為使用具有感光性及熱固性的材料。藉由使用上述材料,可以經過簡單的製程形成具有所希望的形狀的樹脂層。
作為前體層121的材料,典型地可以使用感光性聚醯亞胺樹脂。感光性聚醯亞胺樹脂是適用於顯示面板的平坦化膜等的材料,因此可以共同使用成膜裝置及材料。因此,在製造本發明的一個實施方式的顯示裝置時不需要導入新的製造裝置而可以援用習知的製造裝置,由此可以在不增加製造成本的情況下製造本發明的一個實施方式的顯示裝置。
另外,作為前體層121的材料,可以使用具有感光性的丙烯酸樹脂、環氧樹脂、聚醯胺樹脂、聚醯亞胺醯胺樹脂、矽氧烷樹脂、苯并環丁烯類樹脂及酚醛樹脂等樹脂材料。另外,上述樹脂材料也包含於經過對前體層121進行曝光及顯影的製程而形成的樹脂層中。
在前體層121的成膜中,較佳為使用塗佈法。例如,可以使用旋塗法、浸漬法、噴塗法、噴墨法、分配法、網版印刷法、平板印刷法、刮刀(doctor knife)法、狹縫式塗佈法、輥塗法、簾式塗佈法、刮刀式塗佈法等的方法。尤其是,當利用使用旋塗機的旋塗法形成前體層121時,可以將薄膜的前體均勻地形成在大型基板上,所以是較佳的。
前體層121的厚度較佳為0.01μm以上且小於10μm,更佳為0.1μm以上且3μm以下,進一步較佳為0.5μm以上且1μm以下。藉由使用低黏度的溶液,容易將前體層121形成得薄,從而可以減少顯示裝置的製造成本。
在形成前體層121之後,進行用來去除溶劑的加熱處理(預烤處理),然後使用光罩進行曝光。接著,藉由進行顯影處理及加熱處理(後烤處理),可以形成加工為所希望的形狀的樹脂層122。
在本實施方式中,作為光罩使用灰色調遮罩或半色調遮罩等多灰階遮罩,如圖2B所示那樣形成具有厚度薄的區域123的樹脂層122。另外,當區域123的端
部具有錐形狀時,可以提高覆蓋區域123地形成在樹脂層122上的絕緣層及導電層的覆蓋性,所以是較佳的。
另外,藉由進行顯影處理後的加熱處理(後烤處理),可以減少樹脂層122中的脫氣成分(例如,氫、水等)。在此的加熱處理較佳為以比後面製程中形成在樹脂層122上的電晶體的製程的最高溫度高的溫度進行加熱。例如,當在電晶體的製程的最高溫度為350℃時,對前體層121的後烤處理的加熱溫度較佳為高於350℃且450℃以下,更佳為高於350℃且400℃以下,進一步較佳為高於350℃且低於400℃,更進一步較佳為高於350℃且低於375℃。藉由以上述溫度對前體層121(或樹脂層122)進行加熱處理,可以在電晶體的製程中抑制來自樹脂層122的脫氣。
接著,在樹脂層122上形成絕緣層124。絕緣層124在至少樹脂層122的耐熱溫度以下的溫度下形成。此外,較佳為在比上述後烤處理的加熱溫度低的溫度下形成。
絕緣層124能夠被用作防止支撐基板120或樹脂層122所包含的雜質擴散到後面形成的電晶體或顯示元件中的障壁層。因此,較佳為使用阻擋性高的材料。另外,在後面形成的電晶體的製程中,絕緣層124也可以被用作抑制對樹脂層122的損害的障壁層。
作為絕緣層124,明確而言,例如可以使用氮化矽膜、氧氮化矽膜、氧化矽膜、氮氧化矽膜、氧化鋁
膜、氮化鋁膜等無機絕緣膜。另外,也可以使用氧化鉿膜、氧化釔膜、氧化鋯膜、氧化鎵膜、氧化鉭膜、氧化鎂膜、氧化鑭膜、氧化鈰膜及氧化釹膜等。此外,也可以使用上述絕緣膜的兩個以上的疊層。尤其是,較佳為使用從支撐基板120一側依次層疊有氮化矽膜和氧化矽膜的疊層膜。
在作為絕緣層124使用無機絕緣膜的情況下,形成絕緣層124時的基板溫度較佳為室溫(例如,25℃)以上且350℃以下,更佳為100℃以上且300℃以下。形成絕緣層124時的溫度越高,越可以形成緻密性及阻擋性高的絕緣膜,所以是較佳的。
另外,作為絕緣層124,可以使用有機絕緣材料和無機絕緣材料的疊層。作為有機絕緣材料,可以使用環氧樹脂、丙烯酸樹脂、矽酮樹脂、酚醛樹脂、聚醯亞胺樹脂、醯亞胺樹脂、PVC(聚氯乙烯)樹脂、PVB(聚乙烯醇縮丁醛)樹脂、EVA(乙烯-醋酸乙烯酯)樹脂等有機樹脂。該有機絕緣材料較佳為使用其耐熱性比樹脂層122高的材料。
在作為絕緣層124使用有機絕緣膜的情況下,形成絕緣層124時的溫度較佳為室溫以上且350℃以下,更佳為室溫以上且300℃以下。
接著,在絕緣層124上形成導電層132。導電層132是其一部分被用作電晶體的閘極的導電層。形成導電層132時的溫度較佳為室溫以上且350℃以下,更佳為
室溫以上且300℃以下。
顯示裝置所包括的導電層分別可以使用鋁、鈦、鉻、鎳、銅、釔、鋯、鉬、銀、鉭或鎢等金屬或者以這些金屬為主要成分的合金的單層結構或疊層結構。或者,也可以使用氧化銦、銦錫氧化物、包含鎢的銦氧化物、包含鎢的銦鋅氧化物、包含鈦的銦氧化物、包含鈦的銦錫氧化物、銦鋅氧化物、氧化鋅(ZnO)、添加有鎵的ZnO或者包含矽的銦錫氧化物等具有透光性的導電材料。另外,也可以使用藉由使其含有雜質元素等而被低電阻化的多晶矽或氧化物半導體等半導體或者鎳矽化物等矽化物。此外,也可以使用包含石墨烯的膜。包含石墨烯的膜例如可以使形成為膜狀的氧化石墨烯還原而形成。此外,也可以使用包含雜質元素的氧化物半導體等的半導體。或者,也可以使用銀、碳或銅等的導電膏或者聚噻吩等的導電聚合物形成。導電膏廉價,所以是較佳的。導電聚合物容易塗佈,所以是較佳的。
接著,形成其一部分被用作閘極絕緣層的絕緣層134(圖2C)。絕緣層134可以使用可用於絕緣層124的無機絕緣膜。
接著,去除絕緣層124及絕緣層134的與樹脂層122的區域123重疊的區域,在絕緣層124及絕緣層134中形成到達區域123的開口部。絕緣層124及絕緣層134的開口部既可以分別經過不同製程形成,又可以一次性地形成。注意,在本實施方式中例示出在形成半導體層
之前在絕緣層124及絕緣層134中形成開口部的情況,但是本發明的一個實施方式不侷限於此。絕緣層124及絕緣層134的開口部的形成只要在形成各絕緣層之後且形成後面形成的導電層138d之前,就可以以任何時機進行。
接著,在絕緣層134上形成半導體層。對可用於本發明的一個實施方式的顯示裝置的半導體材料沒有特別的限制,但是較佳為使用氧化物半導體。如上所述,對樹脂層122的後烤處理的加熱溫度較佳為比形成在樹脂層122上的各層的成膜溫度高。因此,當考慮樹脂層122的耐熱性時,電晶體的製程的最高溫度越低,越可以擴大可用於樹脂層122的材料的選擇範圍。另一方面,氧化物半導體不需要低溫矽的製程中所需要的高溫(例如,500℃左右)的脫氫製程。由此,藉由作為半導體材料使用氧化物半導體,可以作為可用於樹脂層122的樹脂材料選擇耐熱溫度例如為350℃左右的耐熱性低且低成本的材料。關於樹脂層的耐熱性,例如可以利用加熱失重率,具體來說,可以利用5%失重溫度等進行評價。樹脂層的5%失重溫度可以為450℃以下,較佳為400℃以下,更佳為低於400℃,進一步較佳為低於350℃。另外,電晶體130等的形成在樹脂層122上的元件的製程中的最高溫度較佳為350℃以下。
另外,氧化物半導體不需要用來晶化的雷射製程,由此不需要為了抑制用來晶化的雷射處理所導致的損害而使樹脂層122的厚度厚。從這觀點來看也可以減少
顯示裝置的成本。另外,氧化物半導體的能帶間隙典型地是2.5eV以上,比矽的1.1eV寬。藉由將上述能帶間隙寬且載子密度小的材料適用於電晶體的通道,可以降低電晶體的關閉狀態下的電流,所以是較佳的。
在本實施方式中,作為半導體層,例如利用濺射法形成具有In、Ga及Zn的氧化物半導體層136(圖2D)。
另外,對氧化物半導體層136的結晶性沒有特別的限制。另外,氧化物半導體層136可以採用單層結構或疊層結構。在氧化物半導體層136採用疊層結構的情況下,既可以層疊具有同一氧化物半導體材料且組成不同的層,又可以層疊具有不同氧化物半導體材料的層。另外,在疊層結構的氧化物半導體層中各層的結晶性可以相同或不同。
形成氧化物半導體膜時的基板溫度較佳為350℃以下,更佳為室溫以上且200℃以下,進一步較佳為室溫以上且130℃以下。藉由提高形成氧化物半導體膜時的基板溫度,可以形成更多的具有配向性的結晶部。
此外,氧化物半導體膜使用惰性氣體(典型的是,Ar氣體)和氧氣體中的任一者或兩者形成。在當形成氧化物半導體膜時使用氧氣體的情況下,成膜時的氧的流量比(氧分壓)較佳為大於0%且低於33%,更佳為5%以上且30%以下,進一步較佳為5%以上且20%以下,更進一步較佳為5%以上且15%以下,典型地較佳為
10%。或者,當形成氧化物半導體膜時,也可以不使用氧氣體。藉由降低氧流量,在膜中可以包含更多的沒有配向性的結晶部。
作為可用於氧化物半導體膜的成膜的氧化物靶材,例如可以使用In-M-Zn類氧化物(M是Ga、Al、Y或Sn)。尤其是,較佳為使用In-Ga-Zn類氧化物。
注意,在此說明利用濺射法成膜的方法,但是本發明的一個實施方式不侷限於此。例如可以使用脈衝雷射沉積(PLD)法、電漿增強化學氣相沉積(PECVD)法、熱CVD(Chemical Vapor Deposition:化學氣相沉積)法、ALD(Atomic Layer Deposition:原子層沉積)法、真空蒸鍍法等。作為熱CVD法的例子,可以舉出MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition:有機金屬化學氣相沉積)法。
接著,形成導電層138a、導電層138b、導電層138c及導電層138d(圖2E)。導電層138a、導電層138b、導電層138c及導電層138d可以在形成導電膜之後形成光阻遮罩,對該導電膜進行蝕刻,然後去除光阻遮罩而形成。導電層138a及導電層138b都與氧化物半導體層136連接,被用作電晶體的源極或汲極。導電層138c配置在像素部102的周邊部,是與後面形成的液晶元件的第二電極電連接的導電層。導電層138d藉由絕緣層124及絕緣層134的開口部與樹脂層122的區域123接觸,被用作端子部104的電極。
在本實施方式中,例示出形成位於與被用作電晶體的源極或汲極的導電層138a、導電層138b相同的層中的導電層作為被用作端子部104的導電層138d的情況,但是本發明的一個實施方式不侷限於此。被用作端子部104的電極的導電層既可以使用位於與被用作電晶體的閘極的導電層132相同的層中的導電層形成,又可以採用由位於與導電層132相同的層中的導電層及位於與導電層138a及導電層138b相同的層中的導電層的疊層結構。導電層138c也是同樣的。
另外,在對導電層138a及導電層138b進行加工時,有時氧化物半導體層136的沒有被光阻遮罩覆蓋的部分因蝕刻而薄膜化。當作為氧化物半導體層136使用包括具有配向性的結晶部的氧化物半導體層時,可以抑制上述薄膜化。
藉由上述製程,可以形成電晶體130。另外,電晶體130示出氧化物半導體層136的寬度大於導電層132的寬度時的例子。當採用該結構時,氧化物半導體層136配置在導電層132與導電層138a或導電層138b之間,由此可以降低導電層132與導電層138a或導電層138b之間的寄生電容。
在形成電晶體130之後,形成覆蓋電晶體130的絕緣層140(圖2E)。絕緣層140可以使用與絕緣層124或絕緣層134相同的方法形成。
作為絕緣層140,較佳為使用在包含氧的氛圍
下以上述低溫度(350℃以下)形成的氧化矽膜或氧氮化矽膜等氧化物絕緣膜。另外,較佳為在該氧化矽膜或氧氮化矽膜上層疊氮化矽膜等不容易使氧擴散和透過的絕緣膜。在包含氧的氛圍下以低溫度形成的氧化物絕緣膜可以是藉由加熱容易釋放多量的氧的絕緣膜。藉由在這種釋放氧的氧化物絕緣膜與不容易使氧擴散和透過的絕緣膜層疊在一起的狀態下進行加熱處理,可以對氧化物半導體層136供應氧。其結果是,可以填補氧化物半導體層136中的氧缺陷及氧化物半導體層136與絕緣層140之間的介面的缺陷,從而可以降低缺陷能階。由此,可以實現可靠性極高的半導體裝置。
接著,在絕緣層140上形成絕緣層142(圖2F)。絕緣層142是具有後面形成的顯示元件的被形成面的層,由此較佳為具有平坦化層的功能。絕緣層142可以援用能夠用於絕緣層124的有機絕緣膜或無機絕緣膜。
絕緣層142在樹脂層122的耐熱溫度以下的溫度下形成。此外,較佳為在比上述後烤處理的加熱溫度低的溫度下形成。例如,在作為絕緣層142使用有機絕緣膜的情況下,形成絕緣層142時的溫度較佳為室溫以上且350℃以下,更佳為室溫以上且300℃以下。另外,在作為絕緣層142使用無機絕緣膜的情況下,形成絕緣層142時的溫度較佳為室溫以上且350℃以下,更佳為100℃以上且300℃以下。
接著,在絕緣層140及絕緣層142中形成到
達導電層138c的開口部之後,在絕緣層142上形成藉由開口部與導電層138c電連接的液晶元件的第二電極144。第二電極144被用作共用電極。第二電極144形成在像素部102的整個面上,在後面形成的第一電極148與電晶體130電連接的區域中具有開口部。在本實施方式中,例示出第二電極144具有與電晶體130重疊的開口部的情況。在形成第二電極144後,形成覆蓋第二電極144的絕緣層146。絕緣層146可以與絕緣層124同樣地形成。
接著,在絕緣層140、絕緣層142及絕緣層146中形成到達導電層138a的開口部之後,在絕緣層146上形成藉由該開口部與導電層138a電連接的液晶元件的第一電極148(圖2F)。第一電極148被用作像素電極。
藉由上述製程,可以在支撐基板120上隔著樹脂層122形成具有電晶體130、液晶元件的第一電極及第二電極等元件的元件形成層。
另外,形成具有與支撐基板120相對的濾色片及黑矩陣的元件形成層。首先,在支撐基板160上形成樹脂層162(圖3A)。
支撐基板160可以適用與支撐基板120同樣的材料。
樹脂層162可以使用與樹脂層122相同的材料及製程形成。包含於樹脂層162的樹脂材料可以使用與包含於樹脂層122的樹脂材料相同的材料或者不同材料。
注意,作為包含於樹脂層162的樹脂材料,選擇其耐熱溫度比濾色片及黑矩陣的製程中的最高溫度高的材料。另外,在本實施方式的顯示裝置100中,樹脂層162位於顯示元件的觀看側,由此樹脂層162(或者進行分離之後的第三樹脂層162b)需要在至少與該顯示元件的顯示區域重疊的區域中具有透光性。由此,作為樹脂層162,較佳為使用具有透光性的材料。另外,較佳為使分離支撐基板160後的第三樹脂層162b具有允許其具有透光性的厚度。注意,在分離支撐基板160後去除第三樹脂層162b的情況下,樹脂層162可以不具有透光性。
接著,在樹脂層162上形成絕緣層164。絕緣層164可以使用與絕緣層124相同的材料。絕緣層164能夠被用作防止樹脂層162所包含的雜質擴散到電晶體或顯示元件中的障壁層。因此,較佳為使用阻擋性高的材料。
藉由使用防濕性高的膜作為絕緣層124及絕緣層164並且將顯示元件及電晶體等配置於一對防濕性高的絕緣層之間,可以抑制水等雜質侵入這些元件,從而可以提高顯示裝置的可靠性,所以是較佳的。
作為防濕性高的絕緣膜,可以舉出氮化矽膜、氮氧化矽膜等含有氮與矽的膜以及氮化鋁膜等含有氮與鋁的膜等。另外,也可以使用氧化矽膜、氧氮化矽膜、氧化鋁膜等。
例如,防濕性高的絕緣膜的水蒸氣穿透率為1×10-5[g/(m2.day)]以下,較佳為1×10-6[g/(m2.day)]
以下,更佳為1×10-7[g/(m2.day)]以下,進一步較佳為1×10-8[g/(m2.day)]以下。
接著,在絕緣層164上形成黑矩陣166及濾色片168(圖3B)。
作為黑矩陣166,可以使用金屬材料或樹脂材料。當使用金屬材料時,可以在形成導電膜之後利用光微影法等去除不需要的部分來形成黑矩陣166。當使用金屬材料、包含顏料或染料的感光性樹脂材料時可以利用光微影法等形成黑矩陣166。
另外,當作為濾色片168使用感光性材料時,可以藉由光微影法等將其加工為島狀。
藉由上述製程,可以隔著樹脂層162在支撐基板160上形成具有濾色片及黑矩陣的元件形成層。注意,由於可以獨立地進行支撐基板120一側的製程和支撐基板160一側的製程,所以對這些製程的順序沒有限制。或者,也可以同時進行這兩個製程。
接著,將支撐基板120和支撐基板160夾著液晶149貼合在一起。此時,以圍繞像素部的週邊的方式形成具有黏合劑的功能的第二樹脂層152。第二樹脂層152具有隔著導電層138d與樹脂層122的區域123重疊的區域(圖3C)。
第二樹脂層152例如可以利用網版印刷法或分配法等形成在支撐基板120一側和支撐基板160一側。作為第二樹脂層152,可以使用熱固性樹脂或紫外線硬化
性樹脂等。另外,可以使用在用紫外光進行預固化之後施加熱而進行固化的樹脂等。或者,作為第二樹脂層152,也可以使用兼有紫外線固化性和熱固性的樹脂等。
在形成第二樹脂層152之後,利用分配法等將液晶149滴落在由第二樹脂層152圍繞的區域中。接著,以夾著液晶149的方式將支撐基板120與支撐基板160貼合在一起,使第二樹脂層152固化。當在減壓氛圍下進行貼合時,可以防止氣泡等混入支撐基板120與支撐基板160之間,所以是較佳的。
另外,可以在滴落液晶149之後在像素部中或像素部的外側散佈粒子狀的間隙間隔物,或者也可以滴落包含該間隙間隔物的液晶149。另外,也可以在將支撐基板120與支撐基板160貼合在一起之後,在減壓氛圍下從設置在第二樹脂層152中的間隙注入液晶149。
接著,如圖4A所示,從支撐基板120一側透過支撐基板120向樹脂層122照射光70。作為光70,較佳為使用雷射。尤其是,較佳為使用線狀雷射。當使用線狀雷射作為光70時,藉由相對地使支撐基板120及光源移動來掃描光70,將光70整體地照射到所希望進行剝離的區域。另外,只要能夠照射與雷射相等的能量,也可以使用閃光燈等。
作為光70,選擇至少其一部分透過支撐基板120且被樹脂層122吸收的波長的光。尤其是,作為光70,較佳為使用從可見光到紫外光的波長區域的光。例
如,使用波長為200nm以上且400nm以下的光,較佳為使用波長為250nm以上且350nm以下的光。尤其是,當使用波長為308nm的準分子雷射時,可以實現高生產率,所以是較佳的。準分子雷射還被用於低溫多晶矽的雷射晶化處理,因此可以利用習知的低溫多晶矽生產線的設備,而不需要新的設備投資,所以是較佳的。另外,也可以使用Nd:YAG雷射的第三諧波的波長為355nm的UV雷射等固體UV雷射(也稱為半導體UV雷射)。另外,也可以使用皮秒雷射等的脈衝雷射。
藉由照射光70,使樹脂層122的支撐基板120一側的表面附近或者樹脂層122的內部的一部分變質,來使樹脂層122與支撐基板120的密接性變低。在此,當對樹脂層122的整個面照射光時,可以在樹脂層122的整體進行剝離,由此在後面的分離製程中不需要使用劃線器等分離支撐基板120的週邊部。另一方面,當在樹脂層122的週邊部設置不受光70照射的區域時,由於沒有照射光70的區域的密接性依然高,而可以抑制在照射光70時樹脂層122與支撐基板120分離,所以是較佳的。
接著,使支撐基板120與樹脂層122分離(圖4B)。
藉由在將支撐基板120固定於載物台的狀態下對支撐基板120施加垂直方向的拉起力量,來可以進行分離。例如,藉由吸附支撐基板160的頂面的一部分並將
其向上方拉起,來可以進行剝離。作為載物台,只要能夠固定支撐基板120就可以採用任何結構,例如既可以包括能夠進行真空吸附或靜電吸附等的吸附機構,又可以包括物理性地保持支撐基板120的機構。
另外,也可以將其表面具有黏合性的圓筒狀構件壓在支撐基板160的頂面並使該圓筒狀構件旋轉來進行分離。此時,也可以在進行剝離的方向上移動載物台。
或者,當在樹脂層122的週邊部設置不受光70照射的區域時,可以在被光照射的部分中的一部分形成缺口部,將其用作剝離起點。例如,藉由使用銳利的刀或針狀構件或者藉由利用劃線器同時切斷支撐基板120和樹脂層122的兩者,來可以形成上述缺口部。
圖4B示出樹脂層122被分離為在支撐基板120一側殘留的樹脂層122a和接觸於絕緣層124的第一樹脂層122b的例子。根據光70的照射條件,有時在樹脂層122的內部發生分離(斷裂)而使支撐基板120一側殘留樹脂層122a。或者,當樹脂層122的表面的一部分融化時,與上述同樣地,有時在支撐基板120一側殘留樹脂層122的一部分。另外,當在支撐基板120與樹脂層122之間的介面進行剝離時,有時在支撐基板120一側沒有殘留樹脂層122a。
殘留在支撐基板120一側的樹脂層122a的厚度例如可以為100nm以下,具體為40nm以上且70nm以下左右。藉由去除殘留的樹脂層122a,可以再次利用支
撐基板120。例如,在將玻璃用於支撐基板120且將聚醯亞胺樹脂用於樹脂層122的情況下,可以利用使用氧電漿的灰化或發煙硝酸等去除樹脂層122a。
接著,直到導電層138d的至少一部分露出為止對第一樹脂層122b的背面(與接觸於絕緣層124的面對置的面)一側進行蝕刻(圖5A)。作為蝕刻,可以採用濕蝕刻法、乾蝕刻法。或者,也可以利用使用電漿的灰化去除第一樹脂層122b的一部分。另外,使用電漿的灰化具有如下優點:控制性高;面內均勻性良好;適合於使用大型基板的處理;等等,因此可以適用於第一樹脂層122b的一部分的去除。
另外,對第一樹脂層122b的背面大致均勻地進行蝕刻。另外,將如上所述那樣均勻地蝕刻而進行平坦化的處理稱為回蝕處理。由於導電層138d形成在樹脂層122的厚度薄的區域123上,所以在分離支撐基板120之後,第一樹脂層122b中的與導電層138d接觸的部分的厚度比其他區域(例如,形成有電晶體130、導電層138c的區域)小。因此,藉由利用回蝕處理對第一樹脂層122b進行蝕刻,可以自准地使導電層138d的一部分露出。
另外,為了使被用作電極的導電層138d從設置在第一樹脂層122b中的開口部露出,可以採用如下方法:在形成在支撐基板120上的樹脂層122中形成到達支撐基板120的開口部,在該開口部中形成導電層。注意,
在支撐基板120與樹脂層122的分離製程中,較佳為在從支撐基板120分離的整個區域上形成樹脂層122,以便提高剝離的可靠性。藉由採用上述結構,可以在不產生剝離不良的情況下均勻地使被照射光70的區域分離。由此,藉由在樹脂層122中形成厚度薄的區域123且在該區域123上形成導電層138d,可以提高顯示裝置的製程的可靠性。
另外,在去除第一樹脂層122b的一部分的製程中利用使用電漿的灰化的情況下,有時露出的導電層138d的表面被氧化。在此情況下,在使導電層138d的一部分露出之後,較佳為利用乾蝕刻或濕蝕刻等蝕刻去除露出的導電層138中被氧化的區域。
另外,在第一樹脂層122b的蝕刻製程中,難以使露出的導電層138d的底面與被蝕刻的第一樹脂層122b的底面對齊,根據蝕刻的條件,有時導電層138d的底面從第一樹脂層122b的底面突出而形成凸部。圖5A例示出導電層138d的底面從第一樹脂層122b的底面突出而形成凸部的情況。
接著,將第一基板110藉由黏合層112黏合到第一樹脂層122b(圖5B)。在此,第一基板110及黏合層112配置在不與露出的導電層138d重疊的位置上。
黏合層112較佳為使用固化性材料。例如,可以使用具有光固化性的樹脂、具有反應固化性的樹脂、具有熱固性的樹脂等。尤其是,較佳為使用不包含溶劑的
樹脂材料。
作為第一基板110,可以使用樹脂等,明確而言,可以使用如下材料:聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)或聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)等聚酯樹脂、聚丙烯腈樹脂、丙烯酸樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚甲基丙烯酸甲酯樹脂、聚碳酸酯(PC)樹脂、聚醚碸(PES)樹脂、聚醯胺樹脂(尼龍、芳族聚醯胺等)、聚矽氧烷樹脂、環烯烴樹脂、聚苯乙烯樹脂、聚醯胺-醯亞胺樹脂、聚氨酯樹脂、聚氯乙烯樹脂、聚偏二氯乙烯樹脂、聚丙烯樹脂、聚四氟乙烯(PTFE)樹脂、ABS樹脂以及纖維素奈米纖維等。另外,第一基板110較佳為具有撓性。
另外,較佳為預先使用黏合層114將具有背光源119及偏光板118a的基板116貼合到固定在第一樹脂層122b的第一基板110。注意,也可以在將第一基板110貼合到第一樹脂層122b之後,將具有背光源119及偏光板118a的基板116使用黏合層114固定在第一基板110。黏合層114可以使用與黏合層112相同的材料。
接著,藉由連接器108將FPC106熱壓合到露出的導電層138d,來使導電層138d與FPC106電連接(圖5B)。
作為連接器108,可以使用使熱固性樹脂與金屬粒子混合的異方性導電膜(ACF:Anisotropic Conductive Film)及異方性導電膏(ACP:Anisotropic Conductive Paste)等。
如上所述,在本發明的一個實施方式的顯示裝置中,以重疊於FPC106與端子部104的連接區域(導電層138d與連接器108接觸的區域)的方式設置有第二樹脂層152。由此,可以在安裝FPC106的製程中,第二樹脂層152被用作抗熱壓合中施加的應力的緩衝層,可以抑制起因於應力的電晶體130及液晶元件150等的元件或佈線的損傷。第二樹脂層152也是被用作用來對液晶元件150進行密封的黏合劑的層,因此可以在不追加被用作抗應力的緩衝層的層的情況下製造可靠性高的顯示裝置。
另外,在安裝FPC106的製程中,在顯示裝置具有導電層138d的底面從第一樹脂層122b的底面突出的區域的情況下,該區域埋入連接器108,而可以擴大導電層138d與連接器108接觸的面積。由此,可以使導電層138d與連接器108良好地導通。另外,導電層138d中的埋入連接器108的區域在連接器108中發揮像楔子那樣的功能(發揮所謂的錨固效應)。由此,可以提高導電層138d與連接器108或者導電層138d與FPC106的密接性。
接著,如圖5C所示,從支撐基板160一側透過支撐基板160向樹脂層162照射光70。光70的照射方法可以參考上述說明。
接著,使支撐基板160與樹脂層162分離(圖6A)。支撐基板160與樹脂層162的分離可以參考支撐基板120與樹脂層122的分離的說明。圖6A例示出
在支撐基板160一側殘留樹脂層162a且形成有與絕緣層164接觸的第三樹脂層162b的情況。
接著,將第二基板154藉由黏合層156黏合到由於分離而露出的第三樹脂層162b(圖6B)。另外,既可以預先在第二基板154上形成有偏光板118b,又可以在黏合第二基板154後形成偏光板118b。
黏合層156可以具有與黏合層112相同的結構。第二基板154可以具有與第一基板110相同的結構。注意,在本實施方式中第二基板154設置在顯示裝置的觀看側,由此第二基板154需要至少在與像素部102重疊的區域具有透光性。
另外,也可以採用如下結構:在設置黏合層156之前去除接觸於絕緣層164的第三樹脂層162b而使黏合層156與絕緣層164接觸。在此情況下,樹脂層162(或第三樹脂層162b)也可以不具有透光性。
藉由上述製程,可以製造本實施方式的顯示裝置100。在本發明的一個實施方式的顯示裝置100中,端子部104的導電層138d電連接於FPC106的區域與第二樹脂層152重疊地配置。由此,可以將第二樹脂層152用作抗FPC106的熱壓合製程中產生的擠壓的緩衝材料並且抑制元件及佈線等的損傷,從而可以提高顯示裝置100的可靠性。
藉由將FPC106配置在與顯示面相反的一側,可以在將顯示裝置100組裝於電子裝置時,可以省略用來
折疊FPC106的空間,從而可以實現進一步小型化的電子裝置。
另外,藉由以重疊於第二樹脂層152的方式配置導電層138d與FPC106的連接區域,可以擴大能夠形成像素部102的區域,從而可以實現顯示裝置100的窄邊框化。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
在本實施方式中,參照圖7A和圖7B說明本發明的一個實施方式的具有與實施方式1不同的結構的顯示裝置。明確而言,說明具有發光元件作為顯示元件的顯示裝置的結構實例。
<顯示裝置的結構實例2>
圖7A是示出本本實施方式的顯示裝置200的像素部102的一部分及端子部104的剖面圖。另外,顯示裝置200的平面圖可以與圖1A相同。圖7A所示的顯示裝置200具有發光元件170代替實施方式1所示的顯示裝置100的液晶元件150。
在顯示裝置200中,在絕緣層142上形成有被用作像素電極的導電層172。導電層172藉由形成在絕緣層140及絕緣層142中的開口部與電晶體130的源極電
極或汲極電極電連接。
在導電層172上形成有覆蓋導電層172的端部的絕緣層173。絕緣層173可以使用可用於絕緣層124的有機絕緣膜或無機絕緣膜。
在絕緣層173上形成有與導電層172的一部分接觸的EL層174。作為EL層174,可以使用有機EL層或無機EL層。另外,也可以使用發光二級管(LED)。EL層174可以藉由蒸鍍法、塗佈法、印刷法或噴射法等的方法形成。在按每個像素中分別形成EL層174時,可以採用使用金屬遮罩等陰影遮罩的蒸鍍法或噴墨法等。在不按每個像素分別形成EL層174時,可以採用不使用金屬遮罩的蒸鍍法。
以接觸於EL層174的方式在EL層174上形成有導電層176。導電層176的一部分被用作共用電極。並且,由其一部分被用作像素電極的導電層172、EL層174及其一部分被用作共用電極的導電層176的疊層結構構成發光元件170。
在顯示裝置200中,在發光元件170與濾色片168及黑矩陣166之間填充有具有透光性的樹脂178。樹脂178具有如下至少一個功能:將第一樹脂層122b一側的元件(電晶體130、發光元件170等)與第三樹脂層162b一側的元件(濾色片168、黑矩陣166等)貼在一起的作為黏合層的功能;保持發光元件170的表面平行於基板154的表面的功能;以及防止發光元件170與基板154
的介面的反射或折射的功能。
作為樹脂178,明確而言,可以使用環氧樹脂、丙烯酸樹脂、矽酮樹脂、酚醛樹脂、聚醯亞胺樹脂、醯亞胺樹脂、PVC(聚氯乙烯)樹脂、PVB(聚乙烯醇縮丁醛)樹脂、EVA(乙烯-醋酸乙烯酯)樹脂等。尤其是,較佳為使用環氧樹脂等透濕性低的材料。另外,也可以使用兩液混合型樹脂。
另外,在上述樹脂中也可以包含乾燥劑。例如,可以使用鹼土金屬的氧化物(氧化鈣或氧化鋇等)那樣的藉由化學吸附吸附水分的物質。或者,也可以使用沸石或矽膠等藉由物理吸附來吸附水分的物質。當在樹脂中包含乾燥劑時,能夠抑制水分等雜質進入元件,從而提高顯示面板的可靠性,所以是較佳的。
另外,藉由在上述樹脂中混合折射率高的填料或光散射構件,可以提高光提取效率。例如,可以使用氧化鈦、氧化鋇、沸石、鋯等。
樹脂178的固化前的黏度較佳為比第二樹脂層152的固化前的黏度低。藉由採用上述方式,可以在形成具有閉環形狀的第二樹脂層152之後,容易將黏度較低的樹脂178填充於該閉環內。
注意,樹脂178並不需要必須設置,也可以填充氮、稀有氣體等惰性氣體代替樹脂178。
在顯示裝置200中,其他結構可以採用與實施方式1所示的顯示裝置100相同的結構。
<顯示裝置的結構實例3>
圖7B是示出本實施方式的顯示裝置210的像素部102的一部分及端子部104的剖面圖。另外,顯示裝置210的平面圖可以與圖1A相同。在圖7B所示的顯示裝置210中,在對發光元件170的密封使用絕緣層代替圖7A所示的顯示裝置200所具有的第二樹脂層152及樹脂178。
圖7B所示的顯示裝置210在發光元件170上具有絕緣層180。絕緣層180被用作抑制水等雜質擴散到發光元件170的保護層。當形成無機絕緣膜,尤其是成膜溫度高且緻密的無機絕緣膜作為絕緣層180時,可以提高阻擋性並抑制雜質的擴散,所以是較佳的。另外,絕緣層180可以採用與發光元件170接觸的無機絕緣膜與無機絕緣膜上的有機絕緣膜的疊層結構。
作為可用於絕緣層180的無機絕緣層,明確而言,例如可以使用氮化矽膜、氧氮化矽膜、氧化矽膜、氮氧化矽膜、氧化鋁膜、氮化鋁膜等無機絕緣膜。另外,也可以使用氧化鉿膜、氧化釔膜、氧化鋯膜、氧化鎵膜、氧化鉭膜、氧化鎂膜、氧化鑭膜、氧化鈰膜及氧化釹膜等。
另外,當在發光元件170上設置絕緣層180時,並不一定需要形成黏合劑(第二樹脂層152)以進行發光元件170的密封。另一方面,為了緩解FPC106的熱
壓合時的應力,需要形成與端子部104的導電層138d重疊的樹脂層。在顯示裝置210中,例示出設置隔離體型的樹脂層155代替被用作黏合劑的樹脂層的情況。
樹脂層155至少設置在重疊於導電層138d與FPC106的連接區域的位置上,即可。樹脂層155除了FPC106的熱壓合時的緩衝材料的功能以外,還可以具有用來保持支撐基板120與支撐基板160之間的間隔的間隔物的功能。在此情況下,除了重疊於導電層138d與FPC106的連接區域的位置以外,還可以在像素部102中的與黑矩陣166重疊的區域中設置樹脂層155。
樹脂層155也可以採用與第二樹脂層152相同的材料及製造方法形成。
在顯示裝置210中,其他結構可以採用與顯示裝置100或顯示裝置200相同的結構。
如上所述,本實施方式所示的顯示裝置200及顯示裝置210是具有發光元件作為顯示元件的EL顯示裝置。本發明的一個實施方式的EL顯示裝置藉由以在端子部104中導電層138d電連接於FPC106的區域與樹脂層重疊的方式設置,可以抑制FPC106的熱壓合製程中的元件及佈線等的損傷。由此,本發明的一個實施方式的EL顯示裝置是可靠性高的顯示裝置。
藉由將FPC106配置在與顯示面相反的一側,在將EL顯示裝置組裝於電子裝置時,可以省略用來折疊FPC106的空間,從而可以實現進一步小型化的電子裝
置。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
在本實施方式中,參照圖8A至圖8D說明可用於本發明的一個實施方式的顯示裝置的端子部的其他結構實例。
圖8A例示出被用作端子部的電極的導電層具有第一導電層131與第二導電層138d的疊層結構的情況。在圖8A中,配置在絕緣層124及絕緣層134的開口部中的第一導電層131從第一樹脂層122b中的開口部露出,具有與連接器108接觸的區域。第一導電層131藉由連接器108與FPC106電連接。另外,以覆蓋第一導電層131的方式在第一導電層131上形成有導電層138d。
作為具有從第一樹脂層122b中的開口部露出的區域的第一導電層131,較佳為使用氧化物導電層。這個理由為如下:當將氧化物導電層用於第一導電層131時,在去除第一樹脂層122b的一部分而使第一導電層131露出的製程中使用利用氧電漿的灰化時,可以抑制第一導電層131的露出的表面被氧化而其導電性下降。作為可用於第一導電層131的氧化物導電層,可以使用氧化銦、銦錫氧化物、銦鋅氧化物、氧化鋅、添加了鎵的氧化鋅等。
另外,當作為設置在第一樹脂層122b上的電晶體130的半導體層使用氧化物半導體層136時,第一導電層131可以由與氧化物半導體層136相同的層構成。氧化物半導體是能夠由膜中的氧缺陷和膜中的雜質濃度(典型地是氫、水等)中的至少一個控制電阻的半導體材料。由此,藉由選擇對氧化物半導體層進行氧缺陷和雜質濃度中的至少一個增加的處理或氧缺陷和雜質濃度中的至少一個降低的處理,可以控制氧化物半導體層的電阻率。由此,可以降低成膜後的氧化物半導體層的電阻,從而可以將該氧化物半導體層用作氧化物導電層。
由與氧化物半導體層136相同的層構成的第一導電層131剛成膜之後是半導體,有時例如在與第一導電層131的頂面接觸的導電層138d的形成製程中,氫和氮中的至少一個被供應到第一導電層131而使其電阻率降低。另外,有時第一導電層131中的氧被與第一導電層131的頂面接觸的導電層138d抽出而使第一導電層131的電阻率降低。另外,導電層138d的構成元素浸入第一導電層131而使第一導電層131的電阻率降低。另外,電晶體130的氧化物半導體層136中與被用作源極或汲極的導電層138a、138b接觸的區域也有時由於氧被抽出或者導電層138a、138b的構成元素浸入等而使其電阻率降低。在此情況下,該低電阻化了的區域也可以被用作源極區域或汲極區域。
另外,在第一導電層131為使用與氧化物半
導體層136相同的層形成且得到低電阻化的層時,也可以藉由上述方法以外的方法控制成為第一導電層131的氧化物半導體層的電阻率。例如,也可以利用使用包含選自稀有氣體(He、Ne、Ar、Kr、Xe)、氫、硼、磷及氮中的一種以上的氣體進行的電漿處理。例如,藉由在Ar氛圍下、Ar和氮的混合氣體氛圍下、Ar和氫的混合氣體氛圍下、氨氛圍下、Ar和氨的混合氣體氛圍下或氮氛圍下等進行電漿處理,可以提高氧化物半導體層的載子密度,從而可以降低電阻率。
或者,可以利用離子植入法、離子摻雜法或電漿浸沒離子佈植技術等,將氫、硼、磷或氮注入到氧化物半導體層,由此使其電阻率降低。
另外,藉由將包含氫和氮中的至少一個的膜形成得與氧化物半導體層接觸,並且利用將氫和氮中的至少一個從該膜擴散至氧化物半導體層的方法,可以提高載子密度來形成被低電阻化的第一導電層131。
包含在氧化物半導體層中的氫與鍵合於金屬原子的氧起反應生成水,與此同時在發生氧脫離的晶格(或氧脫離的部分)中形成氧缺陷。當氫浸入該氧缺陷時,有時產生作為載子的電子。另外,當氫的一部分和鍵合於金屬原子的氧鍵合時,有時會生成作為載子的電子。由此,可以提高氧化物半導體層的載子密度,並可以降低電阻率。
當在顯示裝置的製程中進行加熱處理時,氧
化物半導體層被加熱,有時從氧化物半導體層釋放氧,由此氧缺陷增加。由此,可以降低氧化物半導體層的電阻率。
另外,如此,使用氧化物半導體層形成的氧化物導電層也可以被稱為載子密度高且電阻低的氧化物半導體層、具有導電性的氧化物半導體層、或者導電性高的氧化物半導體層。
另外,如上所述,較佳為將釋放氧的氧化物絕緣膜與容易擴散氧且不容易使氧透過的絕緣膜的疊層用於覆蓋導電層138d的絕緣層140。藉由對該疊層進行加熱處理,可以對電晶體130的氧化物半導體層136供應氧,並且填補氧化物半導體層136中的氧缺陷及氧化物半導體層136與絕緣層140的介面的缺陷,從而可以降低缺陷能階。另一方面,為了維持第一導電層131的導電性,較佳為不使第一導電層131與絕緣層140接觸。在圖8A中第一導電層131被導電層138d覆蓋,因此維持第一導電層131的電阻低的狀態。
藉由使用與第一導電層131相同的材料及製程形成具有電晶體的通道形成區域的氧化物半導體層,可以減少製造成本,所以是較佳的。然而,有時即使氧化物半導體層和第一導電層131具有相同的金屬元素,其組成也互不相同。例如,在電晶體及電容器的製程中,有時膜中的金屬元素脫離而成為不同的金屬組成。
圖8B示出第一樹脂層122b的開口部被絕緣
層124及絕緣層134覆蓋的情況下的端子部的其他結構實例。圖8B所示的結構在圖2D中藉由將絕緣層124及絕緣層134的開口部位於樹脂層122的區域123內來形成。
藉由採用由絕緣層124及/或絕緣層134覆蓋第一樹脂層122b的開口部的結構,可以將該絕緣層用作對水等雜質的障壁層,從而可以抑制來自第一樹脂層122b的開口部的雜質的浸入。由此,可以提高顯示裝置的可靠性。另一方面,如圖2A至圖2F等所示那樣,在與第一樹脂層122b的開口部接觸地形成導電層138d或第一導電層131時,可以擴大導電層138d或第一導電層131與連接器108的連接區域,由此可以實現與FPC106的良好的連接。或者,可以縮小為了獲得與相等的連接區域的端子部的面積。
另外,圖8B例示出由絕緣層124及絕緣層134覆蓋第一樹脂層122b的開口部的情況,但是本實施方式不侷限於此。例如,第一樹脂層122b的開口部既可以被絕緣層124的單層覆蓋,又可以被絕緣層134的單層覆蓋。
圖8C示出在圖8A所示的端子部的結構中第一樹脂層122b的開口部被絕緣層124及絕緣層134覆蓋的情況。藉由採用圖8C所示的結構,可以防止來自第一樹脂層122b的開口部的水等雜質的浸入。當使用氧化物導電層作為第一導電層131時,在去除第一樹脂層122b的一部分而使第一導電層131露出的製程中使用利用氧電
漿的灰化的情況下,可以抑制第一導電層131的露出的表面被氧化而其導電性降低。
圖8D示出具有作為與被用作電晶體130的閘極的導電層132相同的層的導電層132a和作為與被用作源極或汲極的導電層138a、138b相同的層的導電層138d的疊層結構。藉由採用導電層132a與導電層138d的疊層結構,可以降低端子部的電極的電阻。
當作為導電層132a使用氧化物導電層時,在去除第一樹脂層122b的一部分而使導電層132a露出的製程中使用利用氧電漿的灰化的情況下,可以抑制導電層132a的露出的表面被氧化而其導電性降低,所以是較佳的。另外,當將氧化物導電層用於導電層132a、導電層132時,也可以降低成膜後的氧化物半導體層的電阻,而成為氧化物導電層。
另外,圖8D示出以覆蓋第一樹脂層122b的開口部的方式設置絕緣層124的例子。例如,在形成絕緣層124之後,藉由將絕緣層124的開口部位於樹脂層122的區域123內,可以使用絕緣層124覆蓋第一樹脂層122b的開口部。另外,也可以在樹脂層122中形成到達支撐基板120的開口部代替區域123之後,以覆蓋該開口部的方式形成絕緣層124,使支撐基板120分離,然後對從第一樹脂層122b的背面露出的絕緣層124進行蝕刻,來使導電層132a的一部分露出。
另外,也可以組合本實施方式所示的端子部
的各結構。例如,在圖8D中,可以具有第一樹脂層122b的開口部與導電層132a接觸的結構或作為端子部的電極的導電層132a、第一導電層131與導電層138d的疊層結構。
此外,雖然未圖示,但是當在具有圖8A至圖8D所示的端子部的顯示裝置中使用液晶元件作為顯示元件時,可以適當地設置偏光板、背光源等的組件。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
在本實施方式中,參照圖9A至圖9C說明可用於本發明的一個實施方式的顯示裝置的電晶體的其他結構實例。另外,在圖9A至圖9C所示的電晶體中,關於具有與實施方式1相同的功能的組件的材料及形成方法,可以參考實施方式1中的說明。
圖9A所示的電晶體190的與電晶體130不同之處在於包括導電層139及絕緣層141。導電層139設置在絕緣層140上並具有與氧化物半導體層136重疊的區域。另外,絕緣層141覆蓋導電層139及絕緣層140。
導電層139位於隔著氧化物半導體層136與導電層132相反一側,可以將導電層139用作電晶體190的第二閘極電極。藉由具有上述結構並對導電層132及導電層139施加相同的電位,可以提高電晶體190的通態電
流。另外,藉由對導電層132和導電層139中的一個施加用來控制臨界電壓的電位且對另一個導電層施加用來驅動的電位,可以控制電晶體的臨界電壓。
作為導電層139,較佳為使用包含氧化物的導電材料。由此,在構成導電層139的導電膜的成膜時,藉由在包含氧的氛圍下進行成膜,可以對絕緣層140供應氧。較佳的是,沉積氣體中的氧氣體的比率為90%以上且100%以下。供應到絕緣層140中的氧藉由後面的熱處理被供應給氧化物半導體層136,由此可以實現氧化物半導體層136中的氧缺陷的降低。
尤其是,作為導電層139,較佳為使用低電阻化了的氧化物半導體。此時,較佳為作為絕緣層141使用釋放氫的絕緣膜,諸如氮化矽膜等。藉由在絕緣層141的成膜中或後面的熱處理氫被供應給導電層139中,由此可以有效地降低導電層139的電阻。
圖9B所示的電晶體192是頂閘極結構的電晶體。
電晶體192包括:形成在絕緣層124上的氧化物半導體層136;氧化物半導體層136上的絕緣層196;以及隔著絕緣層196與氧化物半導體層136重疊的導電層198。另外,絕緣層140覆蓋氧化物半導體層136的頂面及側端部、絕緣層196的側面以及導電層198。導電層138a及導電層138b設置在絕緣層140上。導電層138a及導電層138b藉由設置在絕緣層140中的開口與氧
化物半導體層136電連接。
注意,雖然在此示出了將導電層198用作遮罩對絕緣層196進行加工,並且絕緣層196的頂面形狀與導電層198的頂面形狀大致一致的例子,但是絕緣層196也可以覆蓋氧化物半導體層136的頂面及側端部。
在電晶體192中,容易拉開導電層198與導電層138a或導電層138b之間的物理距離,由此可以降低這些導電層之間的寄生電容。
圖9C所示的電晶體194的與電晶體192不同之處在於包括導電層132及絕緣層134。導電層132設置在絕緣層124上並具有與氧化物半導體層136重疊的區域。另外,絕緣層134覆蓋導電層132及絕緣層124。
與上述導電層139同樣地,導電層132可以被用作電晶體的第二閘極電極。因此,可以提高通態電流,並且可以控制臨界電壓。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
在本實施方式中,參照圖10A和圖10B說明與其他實施方式不同的顯示裝置的結構實例。
圖10A是本實施方式的顯示裝置220A的透視圖。顯示裝置220A包括由第一基板110與第二基板154進行密封的像素部102、端子部104、具有與端子部104
電連接的IC晶片224的基板226、以及與IC晶片224電連接的FPC106。在顯示裝置220A中,端子部104的電極與配置在基板226的一端的IC晶片224的佈線電連接,配置在基板226的另一端的IC晶片224的佈線與FPC106電連接,由此端子部104與FPC106電連接。
在顯示裝置220A中,基板226安裝有IC晶片224作為外置型週邊驅動電路。IC晶片224的佈線藉由異方性導電膜(ACF:Anisotropic Conductive Film)或異方性導電膏(ACP:Anisotropic Conductive Paste)等連接器與端子部104的電極電連接。藉由在基板226設置IC晶片224,與在第一基板110的上方設置閘極驅動電路或源極驅動電路等驅動電路的情況相比,可以擴大像素部102的面積,從而可以實現顯示裝置的窄邊框化。
另外,在顯示裝置220A中,藉由具有IC晶片224的基板226安裝FPC106,與將安裝有IC晶片的FPC106連接到端子部104的情況相比,可以實現FPC的小型化。由此,在將顯示裝置220A組裝於電子裝置時,可以省略用來折疊FPC106的空間,從而可以實現進一步小型化的電子裝置。
當安裝外置型IC晶片及FPC作為像素部102的驅動電路時,有時安裝IC晶片及FPC時所需要的端子部的餘地變大。於是,如圖10A和圖10B所示那樣,當藉由具有IC晶片224的基板226安裝FPC106時,可以縮小端子部104所需要的餘地。該結構是在安裝多個IC
晶片時特別有效的。另外,作為FPC106,也可以使用具有IC晶片的FPC。
FPC106的配置不侷限於圖10A所示的配置,例如如圖10B所示的顯示裝置220B那樣,也可以將FPC106的與連接到基板226的一端相對的另一端配置在端子部104一側。
另外,在本實施方式所示的顯示裝置220A、220B具有觸控感測器等感測器時,可以安裝感測器驅動電路作為IC晶片224。另外,在本實施方式所示的顯示裝置220A、220B中,基板226可以援用可用於基板110的材料。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
在本實施方式中,參照圖11A至圖11F說明使用本發明的一個實施方式可以製造的電子裝置。
作為電子裝置,例如可以舉出:電視機;桌上型或膝上型個人電腦;用於電腦等的顯示器;數位相機;數位攝影機;數位相框;行動電話機;可攜式遊戲機;可攜式資訊終端;音頻再生裝置;彈珠機等大型遊戲機等。
可以將本發明的一個實施方式的電子裝置沿著房屋或高樓的內壁或外壁、汽車的內部裝飾或外部裝飾
的曲面組裝。
本發明的一個實施方式的電子裝置也可以包括二次電池,較佳為藉由非接觸電力傳送對該二次電池充電。
作為二次電池,例如,可以舉出利用凝膠狀電解質的鋰聚合物電池(鋰離子聚合物電池)等鋰離子二次電池、鎳氫電池、鎳鎘電池、有機自由基電池、鉛蓄電池、空氣二次電池、鎳鋅電池、銀鋅電池等。
本發明的一個實施方式的電子裝置也可以包括天線。藉由由天線接收信號,可以在顯示部上顯示影像或資料等。另外,在電子裝置包括天線及二次電池時,可以將天線用於非接觸電力傳送。
本發明的一個實施方式的電子裝置也可以包括感測器(該感測器具有測量如下因素的功能:力、位移、位置、速度、加速度、角速度、轉速、距離、光、液、磁、溫度、化學物質、聲音、時間、硬度、電場、電流、電壓、電力、輻射線、流量、濕度、傾斜度、振動、氣味或紅外線)。
本發明的一個實施方式的電子裝置可以具有各種功能。例如,可以具有如下功能:將各種資訊(靜態影像、動態圖片、文字影像等)顯示在顯示部上的功能;觸控面板的功能;顯示日曆、日期或時間等的功能;執行各種軟體(程式)的功能;進行無線通訊的功能;讀出儲存在存儲介質中的程式或資料的功能;等。
此外,包括多個顯示部的電子裝置可以具有在一個顯示部主要顯示影像資訊而在另一個顯示部主要顯示文本資訊的功能,或者具有藉由將考慮了視差的影像顯示於多個顯示部上來顯示三維影像的功能等。並且,具有影像接收部的電子裝置可以具有如下功能:拍攝靜態影像;拍攝動態圖片;對所拍攝的影像進行自動或手工校正;將所拍攝的影像儲存在記錄介質(外部或內置於電子裝置中)中;將所拍攝的影像顯示在顯示部上;等等。另外,本發明的一個實施方式的電子裝置所具有的功能不侷限於此,該電子裝置可以具有各種功能。
圖11A至圖11C示出具有彎曲的顯示部7000的電子裝置的一個例子。顯示部7000的顯示面是彎曲的,能夠沿著彎曲的顯示面進行顯示。顯示部7000也可以具有撓性。
使用本發明的一個實施方式的顯示裝置等可以製造顯示部7000。根據本發明的一個實施方式,可以提供一種具備彎曲的顯示部且可靠性高的電子裝置。
圖11A示出行動電話機的一個例子。圖11A所示的行動電話機7110包括外殼7101、顯示部7000、操作按鈕7103、外部連接埠7104、揚聲器7105、麥克風7106、相機7107等。
行動電話機7110在顯示部7000中具備觸控感測器。藉由用手指或觸控筆等觸摸顯示部7000可以進行打電話或輸入文字等各種操作。
此外,藉由操作按鈕7103的操作,可以進行電源的ON、OFF工作或切換顯示在顯示部7000的影像的種類。例如,可以將電子郵件的編寫畫面切換為主功能表畫面。
另外,藉由在行動電話機內部設置陀螺儀感測器或加速度感測器等檢測裝置,可以判斷行動電話機的方向(縱向或橫向),而對顯示部7000的螢幕顯示進行自動切換。此外,螢幕顯示的切換也可以藉由觸摸顯示部7000、操作操作按鈕7103或者使用麥克風7106輸入聲音來進行。
圖11B示出可攜式資訊終端的一個例子。圖11B所示的可攜式資訊終端7210包括外殼7201及顯示部7000。可攜式資訊終端還可以包括操作按鈕、外部連接埠、揚聲器、麥克風、天線、相機或電池等。顯示部7000具備觸控感測器。藉由用手指或觸控筆等接觸顯示部7000可以進行可攜式資訊終端的操作。
本實施方式中例示出的可攜式資訊終端例如具有選自電話機、電子筆記本和資訊閱讀裝置等中的一種或多種的功能。明確而言,可以將該可攜式資訊終端用作智慧手機。本實施方式中例示出的可攜式資訊終端例如可以執行行動電話、電子郵件、文章的閱讀及編寫、音樂播放、網路通訊、電腦遊戲等各種應用程式。
可攜式資訊終端7210可以將文字及影像資訊等顯示在其多個面上。例如,可以將三個操作按鈕7202
顯示在一個面上,而將由矩形表示的資訊7203顯示在另一個面上。圖11B示出在可攜式資訊終端7210的上表面顯示操作按鈕7202的例子且在可攜式資訊終端7210的側面顯示資訊7203的例子。例如,也可以在可攜式資訊終端7210的側面顯示操作按鈕7202,在可攜式資訊終端7210的上表面顯示資訊7203。另外,也可以在可攜式資訊終端7210的三個面以上顯示資訊。
此外,作為資訊7203的例子,可以舉出提示收到SNS(Social Networking Services:社交網路服務)的通知、電子郵件或電話等的顯示;電子郵件等的標題或發送者姓名;日期;時間;電量;以及天線接收強度等。或者,也可以在顯示資訊7203的位置顯示操作按鈕或圖示等代替資訊。
圖11C示出電視機的一個例子。在電視機7300中,在外殼7301中組裝有顯示部7000。在此示出利用支架7303支撐外殼7301的結構。
可以藉由利用外殼7301所具備的操作開關、另外提供的遙控器7311進行圖11C所示的電視機7300的操作。另外,也可以在顯示部7000中具備觸控感測器,藉由用手指等觸摸顯示部7000可以進行顯示部7000的操作。另外,也可以在遙控器7311中具備顯示從該遙控器7311輸出的資料的顯示部。藉由利用遙控器7311所具備的操作鍵或觸控面板,可以進行頻道及音量的操作,並可以對顯示在顯示部7000上的影像進行操作。
另外,電視機7300採用具備接收機及數據機等的結構。可以藉由利用接收機接收一般的電視廣播。再者,藉由數據機將電視機7300連接到有線或無線方式的通訊網路,從而進行單向(從發送者到接收者)或雙向(發送者和接收者之間或接收者之間等)的資訊通訊。
圖11D至圖11F示出包括具有撓性且能夠彎曲的顯示部7001的可攜式資訊終端的一個例子。
使用本發明的一個實施方式的顯示裝置等可以製造顯示部7001。另外,顯示部7001可以具備觸控感測器,藉由用手指等觸摸顯示部7001可以進行可攜式資訊終端的操作。根據本發明的一個實施方式,可以提供一種具備撓性顯示部且可靠性高的電子裝置。
圖11D示出手錶型可攜式資訊終端的一個例子。可攜式資訊終端7800包括錶帶7801、顯示部7001、輸入輸出端子7802及操作按鈕7803等。錶帶7801具有外殼的功能。另外,可攜式資訊終端7800可以組裝有具有撓性的電池7805。電池7805也可以例如與顯示部7001或錶帶7801等重疊。
錶帶7801、顯示部7001及電池7805具有撓性。因此,可以容易使可攜式資訊終端7800彎曲為所希望的形狀。
操作按鈕7803除了時間設定之外還可以具有電源開關、無線通訊的開關、靜音模式的開啟及關閉、省電模式的開啟及關閉等各種功能。例如,藉由利用組裝在
可攜式資訊終端7800中的作業系統,還可以自由設定操作按鈕7803的功能。
另外,藉由用手指等觸摸顯示於顯示部7001的圖示7804,可以啟動應用程式。
另外,可攜式資訊終端7800可以進行被通訊標準化的近距離無線通訊。例如,藉由與可進行無線通訊的耳麥相互通訊,可以進行免提通話。
此外,可攜式資訊終端7800也可以包括輸入輸出端子7802。當包括輸入輸出端子7802時,可攜式資訊終端7800可以藉由連接器直接與其他資訊終端進行資料的交換。另外,也可以藉由輸入輸出端子7802進行充電。另外,在本實施方式中例示出的可攜式資訊終端的充電工作也可以利用非接觸電力傳送進行,而不藉由輸入輸出端子。
圖11E及圖11F示出能夠折疊的可攜式資訊終端的一個例子。圖11E示出可攜式資訊終端7650的以使顯示部7001位於內側的方式折疊的狀態,圖11F示出可攜式資訊終端7650的以使顯示部7001位於外側的方式折疊的狀態。可攜式資訊終端7650包括顯示部7001及非顯示部7651。在不使用可攜式資訊終端7650時,藉由以使顯示部7001位於內側的方式折疊,能夠抑制顯示部7001被弄髒並且受損傷。雖然圖11E和圖11F示出對折的可攜式資訊終端7650,但是可攜式資訊終端7650可以是三折或四折以上的。可攜式資訊終端7650還可以包括
操作按鈕、外部連接埠、揚聲器、麥克風、天線、相機或電池等。
藉由使用利用實施方式製造的顯示裝置,可以以高可靠性製造撓性電子裝置。另外,藉由使用利用實施方式製造的顯示裝置,可以以低成本製造電子裝置。
另外,本實施方式可以與其他實施方式適當地組合。
100:顯示裝置
102:像素部
104:端子部
106:FPC
108:連接器
110:第一基板
112:黏合層
114:黏合層
116:基板
118a:偏光板
118b:偏光板
119:背光源
122b:第一樹脂層
124:絕緣層
130:電晶體
138c:導電層
138d:導電層
140:絕緣層
142:絕緣層
144:第二電極
146:絕緣層
148:第一電極
149:液晶
150:液晶元件
152:第二樹脂層
154:第二基板
156:黏合層
162b:第三樹脂層
164:絕緣層
166:黑矩陣
168:濾色片
Claims (9)
- 一種顯示裝置,包括:第一基板;該第一基板上的第一樹脂層,該第一樹脂層包括開口部;該第一樹脂層上的像素部,該像素部包括電晶體以及與該電晶體電連接的顯示元件;該第一樹脂層上的端子部,該端子部包括導電層;該端子部上的第二樹脂層;以及該第二樹脂層上的第二基板,其中,該導電層包括從該第一樹脂層中的該開口部露出的第一區域,該第二樹脂層包括與該第一區域重疊的區域,並且,該導電層為與該電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層。
- 一種顯示裝置,包括:第一基板;該第一基板上的第一樹脂層,該第一樹脂層包括開口部;該第一樹脂層上的像素部,該像素部包括電晶體以及與該電晶體電連接的顯示元件;該第一樹脂層上的端子部,該端子部包括導電層;該端子部上的第二樹脂層;該像素部及該端子部上的第三樹脂層;以及 該第三樹脂層上的第二基板,其中,該導電層包括從該第一樹脂層中的該開口部露出的第一區域,該第二樹脂層包括與該第一區域重疊的區域,並且,該導電層為與該電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的層。
- 根據申請專利範圍第1或2項之顯示裝置,其中該導電層具有第一導電層和第二導電層的疊層結構,並且該第一導電層包含氧化物導電材料且具有與該第一樹脂層接觸的區域。
- 根據申請專利範圍第1或2項之顯示裝置,還包括與該端子部電連接的FPC,其中該FPC包括與該像素部重疊的區域。
- 根據申請專利範圍第4項之顯示裝置,其中在該第一基板與該FPC之間設置具有IC晶片的第三基板,並且該FPC藉由該IC晶片與該端子部電連接。
- 根據申請專利範圍第1或2項之顯示裝置,其中該第二樹脂層環繞該像素部的周圍且不與該像素部重疊,並且其中該第二樹脂層被用作密封劑。
- 根據申請專利範圍第1或2項之顯示裝置,其中該第二樹脂層被用作間隔物。
- 一種顯示裝置,包括:第一基板;該第一基板的上方的像素部,該像素部包括電晶體以及與該電晶體電連接的顯示元件;該第一基板的上方的端子部,該端子部包括與該電晶體的源極及汲極和電晶體的閘極中的至少一個相同的導電層;該端子部的上方的樹脂層;該端子部及該像素部的上方的第二基板;以及FPC,其中,該FPC與該導電層電連接,並且,該FPC包括與該像素部重疊的區域以及隔著該導電層與該樹脂層重疊的區域。
- 根據申請專利範圍第8項之顯示裝置,其中該樹脂層環繞該像素部的周圍且不與該像素部重疊。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016101134 | 2016-05-20 | ||
| JP2016-101134 | 2016-05-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201806453A TW201806453A (zh) | 2018-02-16 |
| TWI727041B true TWI727041B (zh) | 2021-05-11 |
Family
ID=60330481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW106115346A TWI727041B (zh) | 2016-05-20 | 2017-05-09 | 顯示裝置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10163940B2 (zh) |
| JP (3) | JP6882061B2 (zh) |
| KR (3) | KR102392523B1 (zh) |
| CN (2) | CN107403807B (zh) |
| TW (1) | TWI727041B (zh) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102487061B1 (ko) * | 2016-06-30 | 2023-01-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| KR102772195B1 (ko) * | 2017-02-28 | 2025-02-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
| KR102376292B1 (ko) * | 2017-07-26 | 2022-03-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| US11545607B2 (en) | 2017-12-04 | 2023-01-03 | Tunghsu Group Co., Ltd. | Upper substrate for miniature LED component, miniature LED component, and miniature LED display device |
| JP7016258B2 (ja) * | 2017-12-28 | 2022-02-04 | 日鉄ケミカル&マテリアル株式会社 | ポリイミドフィルムの製造方法及びガラス-ポリイミド積層体 |
| JP7293190B2 (ja) * | 2018-03-16 | 2023-06-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
| EP3751614B1 (en) * | 2018-03-31 | 2025-08-27 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Display apparatus, manufacturing method for display apparatus and electronic device |
| KR102662861B1 (ko) * | 2018-07-13 | 2024-05-03 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판 및 이를 포함하는 배터리 모듈 |
| CN109920804A (zh) * | 2019-03-27 | 2019-06-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示基板及其制备方法和显示装置 |
| CN110109300B (zh) * | 2019-04-23 | 2021-12-03 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种显示面板及显示面板的制作方法 |
| US12183748B2 (en) | 2019-10-12 | 2024-12-31 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Array substrate, display apparatus, and method of fabricating array substrate |
| US11869897B2 (en) | 2020-03-24 | 2024-01-09 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Array substrate, display apparatus, and method of fabricating array substrate |
| CN110751909B (zh) * | 2019-10-31 | 2022-03-22 | 云谷(固安)科技有限公司 | 显示面板及显示装置 |
| US11942693B2 (en) | 2020-03-10 | 2024-03-26 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Antenna, manufacturing method of the same and antenna system |
| CN114072911B (zh) * | 2020-05-06 | 2024-04-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、其制作方法、显示装置和显示面板 |
| KR20220007754A (ko) * | 2020-07-09 | 2022-01-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 이를 포함하는 타일형 표시 장치 |
| KR102894490B1 (ko) | 2020-07-22 | 2025-12-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 색 변환 기판 및 이를 포함하는 표시 장치 |
| KR20220142597A (ko) | 2021-04-14 | 2022-10-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
| KR20230068470A (ko) * | 2021-11-10 | 2023-05-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 타일형 표시 장치 |
| KR20230139898A (ko) * | 2022-03-25 | 2023-10-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 타일형 표시 장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20140273317A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for manufacturing the same |
| US20170294463A1 (en) * | 2016-04-12 | 2017-10-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and manufacturing method of flexible device |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7485511B2 (en) | 2005-06-01 | 2009-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Integrated circuit device and method for manufacturing integrated circuit device |
| KR101660327B1 (ko) * | 2008-09-19 | 2016-09-27 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시장치 |
| KR101824425B1 (ko) * | 2008-12-17 | 2018-02-02 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치 및 전자 기기 |
| US8115883B2 (en) * | 2009-08-27 | 2012-02-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing the same |
| JP5334888B2 (ja) * | 2010-02-23 | 2013-11-06 | パナソニック株式会社 | 発光装置 |
| JP2011248072A (ja) * | 2010-05-26 | 2011-12-08 | Hitachi Displays Ltd | 画像表示装置の製造方法 |
| WO2013137081A1 (ja) * | 2012-03-12 | 2013-09-19 | シャープ株式会社 | 表示パネル |
| US11074025B2 (en) * | 2012-09-03 | 2021-07-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing the same |
| JP6320713B2 (ja) * | 2013-10-03 | 2018-05-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置及びその製造方法 |
| KR102516162B1 (ko) * | 2013-12-02 | 2023-03-29 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 그 제조방법 |
| JP6305759B2 (ja) | 2013-12-26 | 2018-04-04 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
| US9766517B2 (en) * | 2014-09-05 | 2017-09-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and display module |
| US10114263B2 (en) | 2015-12-18 | 2018-10-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
| US10586817B2 (en) | 2016-03-24 | 2020-03-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, manufacturing method thereof, and separation apparatus |
| WO2017182909A1 (en) * | 2016-04-22 | 2017-10-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Separation method and manufacturing method of flexible device |
-
2017
- 2017-05-09 TW TW106115346A patent/TWI727041B/zh not_active IP Right Cessation
- 2017-05-15 KR KR1020170059740A patent/KR102392523B1/ko active Active
- 2017-05-16 US US15/596,408 patent/US10163940B2/en active Active
- 2017-05-18 JP JP2017098694A patent/JP6882061B2/ja active Active
- 2017-05-19 CN CN201710360877.5A patent/CN107403807B/zh active Active
- 2017-05-19 CN CN202310762325.2A patent/CN116845068A/zh active Pending
-
2021
- 2021-05-06 JP JP2021078366A patent/JP2021131559A/ja not_active Withdrawn
-
2022
- 2022-04-26 KR KR1020220051302A patent/KR102471142B1/ko active Active
- 2022-11-22 KR KR1020220157475A patent/KR20220164455A/ko not_active Ceased
-
2023
- 2023-01-30 JP JP2023011578A patent/JP2023059871A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20140273317A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for manufacturing the same |
| US20170294463A1 (en) * | 2016-04-12 | 2017-10-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and manufacturing method of flexible device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2023059871A (ja) | 2023-04-27 |
| US20170338246A1 (en) | 2017-11-23 |
| KR20170131229A (ko) | 2017-11-29 |
| KR20220164455A (ko) | 2022-12-13 |
| CN116845068A (zh) | 2023-10-03 |
| KR102471142B1 (ko) | 2022-11-28 |
| KR102392523B1 (ko) | 2022-04-29 |
| JP2021131559A (ja) | 2021-09-09 |
| JP6882061B2 (ja) | 2021-06-02 |
| US10163940B2 (en) | 2018-12-25 |
| JP2017211651A (ja) | 2017-11-30 |
| KR20220061925A (ko) | 2022-05-13 |
| CN107403807A (zh) | 2017-11-28 |
| TW201806453A (zh) | 2018-02-16 |
| CN107403807B (zh) | 2023-07-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI727041B (zh) | 顯示裝置 | |
| JP7767531B2 (ja) | 表示装置 | |
| US10141526B2 (en) | Peeling method using separating peeling layer and layer to be peeled | |
| JP6468686B2 (ja) | 入出力装置 | |
| JP7252385B2 (ja) | 表示装置 | |
| TWI788287B (zh) | 剝離方法及撓性裝置的製造方法 | |
| KR20180020091A (ko) | 표시 장치 | |
| CN107452899A (zh) | 剥离方法、显示装置、模块及电子设备 | |
| US20200365738A1 (en) | Laser processing apparatus and stack processing apparatus | |
| US20180197975A1 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| TW202234695A (zh) | 顯示裝置 | |
| JP2017188626A (ja) | 表示装置の作製方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |