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TWI717641B - 平板型檢測器的位置調整裝置、平板型檢測器的位置調整方法及放射線治療裝置 - Google Patents

平板型檢測器的位置調整裝置、平板型檢測器的位置調整方法及放射線治療裝置 Download PDF

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TWI717641B
TWI717641B TW107135175A TW107135175A TWI717641B TW I717641 B TWI717641 B TW I717641B TW 107135175 A TW107135175 A TW 107135175A TW 107135175 A TW107135175 A TW 107135175A TW I717641 B TWI717641 B TW I717641B
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flat
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panel detector
detector
flat panel
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小林孝幸
伊藤寛昌
笠井茂
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日商東芝能源系統股份有限公司
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Abstract

[課題] 提供可以提高平板型檢測器的位置調整的作業效率的平板型檢測器的位置調整技術。   [技術內容] 平板型檢測器(13)的位置調整裝置(26),是具備:設於平板型檢測器(13)的表面側可映在X線畫像並且由光學機器(7)測量的導引部(27)、及將導引部(27)固定在被設於平板型檢測器(13)及其支撐部(18)之間的位置調整部(21)的平板型檢測器側或是支撐部側的其中任一方的固定部(28)。

Description

平板型檢測器的位置調整裝置、平板型檢測器的位置調整方法及放射線治療裝置
本發明的實施例,是有關於平板型檢測器(flat panel detector)的位置調整裝置、平板型檢測器的位置調整方法及放射線治療裝置。
習知,在放射線治療裝置中,為了確認患者的病變部的位置,設有X線畫像的攝影用的X線管及平板型檢測器。在這種放射線治療裝置中,已知以被配置於等中心(isocenter)的幻象(phantom)為基準,進行各種機器的位置對合的技術。 [習知技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1] 日本特開2016-221156號公報
[本發明所欲解決的課題]
在前述的技術中,將被映出了幻象的X線畫像攝影,依據此X線畫像,進行平板型檢測器的位置的調整。但是,直到平板型檢測器到達適切的位置為止,必需將X線畫像的攝影及平板型檢測器的移動交互地反覆,而具有平板型檢測器的位置調整的作業效率差的課題。
本發明的實施例,是考慮這種狀況者,其目的是提供一種可以提高平板型檢測器的位置調整的作業效率的平板型檢測器的位置調整技術。 [用以解決課題的手段]
本發明的實施例的平板型檢測器的位置調整裝置,是具備:設於平板型檢測器的表面側可映在X線畫像並且由光學機器測量的導引(guide)部、及將前述導引部固定在被設於前述平板型檢測器及其支撐部之間的位置調整部的前述平板型檢測器側或是前述支撐部側的其中任一方的固定部。 [發明的效果]
藉由本發明的實施例,可提供可以提高平板型檢測器的位置調整的作業效率的平板型檢測器的位置調整技術。
(第1實施例) 以下,依據添付圖面說明本實施例。首先,對於第1實施例的平板型檢測器的位置調整裝置使用第1圖~第6圖說明。以下,將第1圖及第3圖的紙面左側作為平板型檢測器及位置調整裝置的正面側(前方側)說明。
第1圖的符號1,是放射線治療裝置。此放射線治療裝置1,是被設於治療室2。放射線治療裝置1,是為了將治療用的放射線照射在被檢體也就是患者K的體內發生的腫瘤等的患部,進行治療而使用。在治療用的放射線中,使用:X線、γ線、電子束、陽子線、中性子線、重粒子線。又,治療室2,是被將放射線遮斷的混凝土製的壁3、頂棚4及地面5所包圍的房間。
在治療室2中,治療用的放射線最集中被照射的位置也就是等中心C是被設定。在治療室2的壁3中,設有設定等中心C用的成為基準的基準部6。又,基準部6,是被設置在四方的壁3的複數處。
藉由光學機器7測量至少3個基準部6的位置,就可以將等中心C的位置特定。進一步,藉由光學機器7測量這些基準部6的位置,就可以將等中心C的橫軸C1及縱軸C2特定。在本實施例中,等中心C的橫軸C1是成為水平軸,等中心C的縱軸C2是成為垂直軸。藉由等中心C的橫軸C1及縱軸C2,來設定治療室2的3次元基準座標系。
本實施例的光學機器7,是可進行光學的位置、距離或是角度的測量的機器。例如,光波測距儀、中轉器(transit)、自動水平儀(auto level)、全站儀(total station)、激光跟踪器(laser tracker)。即,光學機器7,是包含:可使用作業者的肉眼進行測量的機器、及可使用雷射光線進行測量的機器。且,光學機器7,是將2次元的位置關係測量的機器也可以,將3次元的位置關係測量的機器也可以。
進行放射線治療時,必需將充分的輸出的放射線正確地照射在患者K的患部的位置。進一步,有必要抑制患部的附近的正常的組織的曝露量。在此,在治療之前將映出了患者K的患部的X畫像攝影,確認患者K的患部是被配置於等中心C之後,才開始治療用的放射線的照射。
放射線治療裝置1,是具備:配置患者K的治療台8、及朝患者K將治療用的放射線照射的放射線照射裝置9、及在治療之前將X線朝患者K照射將X線畫像攝影的X線畫像攝影裝置10。
在各種裝置的設置時或是維修時,光學機器7被帶入治療室2。且,作業者,是使用光學機器7測量:各種裝置的位置、及設於壁3的基準部6的位置。作業者,是比較各種裝置的位置、及依據基準部6所取得的等中心C的位置,在各種裝置具有位置偏離情況時,進行該裝置的位置的調整。
治療台8,是藉由被設置在地面5的可動臂11被支撐。藉由將此可動臂11動作,使治療台8在載著患者K的狀態下朝水平方向及垂直方向被移動。且,在治療開始之前,藉由由X線畫像確認患者K的患部的位置,且將治療台8移動,而將患者K的患部配置於等中心C。
從放射線照射裝置9被照射的治療用的放射線的照射方向R1,是朝向等中心C。即,從放射線照射裝置9被照射的治療用的放射線,是通過等中心C。又,在本實施例中,治療用的放射線的照射方向R1,是與等中心C的橫軸C1一致。
X線畫像攝影裝置10,是具備:將X線攝影用的X線照射的X線照射部12(X線管)、及藉由從此X線照射部12所照射的X線生成X線畫像的平板型檢測器13 (FPD:平面X線感測器)。
X線照射部12,是藉由被設置在頂棚4的昇降臂14而被吊下。藉由將此昇降臂14動作,進行X線畫像的攝影時,使X線照射部12降下至攝影位置為止。且,開始放射線治療的話,使X線照射部12上昇至退避位置為止。
且從攝影位置中的X線照射部12被照射的X線的照射方向R2,是朝向等中心C。即,從X線照射部12被照射的X線,是通過等中心C。又,在本實施例中,X線的照射方向R2,是與等中心C的橫軸C1一致。進一步,在此X線的照射方向R2的前方,配置有平板型檢測器13。
平板型檢測器13,是電腦X線攝影所使用的攝像元件。此平板型檢測器13,是形成平面板狀的電子機器(第4圖參照)。在本實施例中,平板型檢測器13是由正面視形成四角形狀(第2圖參照)。藉由在形成此平板型檢測器13的平面狀的表面被照射X線,使X畫像被攝影。
平板型檢測器13,是具備將被入射的X線轉換成光的閃爍器(scintillator)。閃爍器的光,是藉由構成各畫素的光二極管(photo diode)被轉換成電氣訊號。且,被轉換的電氣訊號,是透過薄膜晶體管開關(transistor switch)被讀出。進一步,藉由類比/數位轉換元件及低雜訊增幅電路使電氣訊號被處理而生成X線畫像。
如第1圖所示,平板型檢測器13,是被支撐在從地面5被立起的板狀的基部15。在此基部15的正面側配置有平板型檢測器13。
如第3圖所示,在基部15的正面側中,固定有上下2列的朝水平方向延伸的軌道(rail)16。滑動部17是被保持在這些軌道16。且,此滑動部17,是被固定於支撐部18的背面。即,支撐部18,是朝水平方向可移動地被保持於軌道16。且,在支撐部18的正面側中,設有對於支撐部18可移動的移動部19。平板型檢測器13是被固定在此移動部19的正面側。
平板型檢測器13,是在:將X線畫像攝影時的攝影位置(第2圖(A)參照)、及進行放射線治療時的退避位置(第2圖(B)參照)之間,朝水平方向可移動。
又,在基部15中,在對應放射線照射裝置9的位置設有開口部20。在平板型檢測器13是位於退避位置時,可以從放射線照射裝置9朝向等中心C將治療用的放射線照射。且,在平板型檢測器13是位於攝影位置時,從X線照射部12被照射的X線,是被入射至平板型檢測器13。
進一步,移動部19及支撐部18之間,是設有:將平板型檢測器13的位置,讓作業者由手動調整用的位置調整部的位置調整單元21。
位置調整單元21,是具備:被固定於固定了平板型檢測器13的移動部19的第1構件22、及被固定於支撐部18的第2構件23、及調整第1構件22及第2構件23之間的距離用的操作部24。
在本實施例中,位置調整單元21,是被設於平板型檢測器13及其支撐部18之間。且,第1構件22,是透過移動部19被固定於平板型檢測器13。即,第1構件22是位置調整單元21的平板型檢測器側的構件。且,第2構件23,是被固定於支撐部18。即,第2構件23是位置調整單元21的支撐部側的構件。進一步,第1構件22及第2構件23之間,是設有距離調整用的間隙。
又,在第1構件22及第2構件23中,各形成有母螺栓。且,被螺合在母螺紋的公螺紋25是設於位置調整單元(unit)21。作業者,是藉由將操作部24由手動旋轉,就可以將公螺紋25旋轉。藉由此公螺紋25的旋轉可以調整第1構件22及第2構件23之間的距離。
如第2圖(A)所示,位置調整單元21,是對應平板型檢測器13的四邊各設置2個。作業者,是藉由操作各位置調整單元21的操作部24,就可以進行平板型檢測器13的橫方向(X軸)或是縱方向(Y軸)的位置的微調整。
如第3圖及第4圖所示,進行位置的微調整時使用的位置調整裝置26是可裝卸地被安裝於平板型檢測器13。此位置調整裝置26,是具備:與平板型檢測器13的表面接觸的導引部27、及被固定於平板型檢測器13的周緣的固定部28。
導引部27,是由:對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的金屬線31、及對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的金屬線32所構成。這些2條金屬線31、32的各端部,是各別被固定於形成框狀的固定部28的四邊的各中央。又,2條金屬線31、32,是被配置成十字形狀。金屬線31、32彼此的交叉角度,是成為90度。
進一步,金屬線(wire)31、32彼此的交點,是設於對應平板型檢測器13的幾乎中心位置。這些金屬線31、32,是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由光學機器7測量。
且金屬線31、32,是金屬製。因此,在將金屬線31、32配置在平板型檢測器13的表面的狀態下,將X線照射的話,金屬線31、32的像是映在X線畫像。藉由使用這些金屬線31、32,就可以容易地形成可映在X線畫像並且由光學機器7測量的導引部27。即,可以藉由X線畫像特定導引部27的位置。又,固定部28,是可映在X線畫像的金屬製也可以,不可映在X線畫像的合成樹脂製也可以。
固定部28,是被固定於平板型檢測器13或是移動部19。且,位置調整單元21的第1構件22,是各別被固定於移動部19的各四邊。即,固定部28,是被固定於位置調整單元21的平板型檢測器側的第1構件22。
如第2圖(A)所示,在各種裝置的設置時或是維修時,位置調整裝置26是安裝在平板型檢測器13。且,從X線照射部12對於平板型檢測器13將X線照射,進行位置調整用的X線畫像的攝影。作業者,是依據此X線畫像確認,平板型檢測器13的畫像中心,是否正確地被配置於對應等中心C的位置。在此,平板型檢測器13的畫像中心未正確地被配置於對應等中心C的位置的情況時,作業者,是參照位置調整裝置26的導引部27,調整平板型檢測器13的位置。
接著詳述使用平板型檢測器13進行位置調整的實施態樣。第5圖,是顯示將平板型檢測器13從正面所見的狀態的概念圖。
在第5圖的符號中,等中心C的橫軸C1(例如水平軸)及縱軸C2(例如垂直軸)的交點,且對應等中心C的第1位置是設成P1。導引部27的2條金屬線31、32交叉的第2位置是設成P2。平板型檢測器13的中央橫軸41及中央縱軸42的交點,且對應X線畫像的畫像中心的第3位置是設成P3。
且第1位置P1及第2位置P2之間的第1差分是設成D1。第2位置P2及第3位置P3之間的第2差分是設成D2。第1位置P1及第3位置P3之間的第3差分是設成D3。又,本實施例的差分,是2次元座標的差分。且,在差分中,包含位置偏離的方向及位置偏離的距離的至少其中任一方。
等中心C及導引部27,因為是可由光學機器7測量,所以可將第1差分D1藉由光學機器7特定。進一步,由金屬線31、32所構成的導引部27,因為是映在X線畫像,所以可藉由X線畫像特定第2差分D2。且,藉由第1差分及第2差分被特定,就可特定第3差分D3。
藉由第3差分D3被特定,就可把握:平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3、及對應等中心C的第1位置P1的位置偏離量。在此,作業者,是使用光學機器7測量導引部27,確認第2位置P2,且操作位置調整單元21的操作部24,使平板型檢測器13移動。此時,第2位置P2的移動方向及移動距離,是以成為對應第3差分D3的方向及距離的方式調整。
例如,在第5圖中,第3位置P3,是朝第1位置P1的左上方偏離。在此,作業者,是將第2位置P2朝右下方移動。此時,將第2位置P2的移動方向對應第3差分D3的傾斜,並且將第2位置P2的移動距離對應第3差分D3的長度。如此,以使第2位置P2被移動的方式,作業者,是由光學機器7將導引部27的位置確認,且操作位置調整單元21使平板型檢測器13移動。
又,在第1差分D1被特定的階段,作業者是操作位置調整單元21使平板型檢測器13移動,使第2位置P2與第1位置P1一致也可以。即,在事前將第1差分D1設成零也可以。藉由在事前將第1差分D1設成零,就可省去依據第1差分及第2差分,算出第3差分D3的勞力和時間。
且導引部27的2條金屬線31、32,因為是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由光學機器7測量,所以可以確認平板型檢測器13的X軸方向及Y軸方向的移動量。
又,由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之後,是將位置調整裝置26從平板型檢測器13取下。
接著,對於使用位置調整裝置26的位置調整方法使用第6圖的流程圖說明。
首先,在步驟S11中,作業者,是將位置調整裝置26安裝在平板型檢測器13。此時,導引部27是設於平板型檢測器13的表面側。
在下一個步驟S12中,作業者,是將位置調整裝置26的固定部28固定於平板型檢測器13或是移動部19。在此,固定部28,是被螺固在平板型檢測器13或是移動部19也可以,使用規定的挾具被固定也可以。
在下一個步驟S13中,作業者,是使用光學機器7,測量:對應等中心C的第1位置P1、及導引部27所顯示的第2位置P2。
在下一個步驟S14中,作業者,是依據由光學機器7所測量的第1位置P1及第2位置P2,特定第1位置P1及第2位置P2之間的第1差分D1。
在下一個步驟S15中,作業者,是操作X線畫像攝影裝置10,朝向從X線照射部12通過等中心C的照射方向R2將X線照射。此X線是藉由被入射至平板型檢測器13,進行導引部27的金屬線31、32被映出的X線畫像的攝影。作業者,是藉由此X線畫像將第2位置P2及第3位置P3測量。
在下一個步驟S16中,作業者,是依據由X線畫像所測量的第2位置P2及第3位置P3,特定第2位置P2及第3位置P3之間的第2差分D2。
在下一個步驟S17中,作業者,是依據第1差分D1及第2差分D2,將第1位置P1及第3位置P3之間的第3差分D3特定。
在下一個步驟S18中,作業者,是操作位置調整單元21,朝第3差分D3成為零的方向,使平板型檢測器13移動。導引部27也與此平板型檢測器13的移動一起被移動。
如此的話,作業者由光學機器7確認導引部27的位置,且藉由操作操作部24,就可以將平板型檢測器13的位置調整容易地進行。又,因為藉由操作部24被操作,使導引部27與第1構件22連動,所以可以將平板型檢測器13的位置調整容易地進行。
且導引部27,因為被固定於平板型檢測器13,使平板型檢測器13及導引部27一起被移動,所以容易使用光學機器7進行調整。
在下一個步驟S19中,作業者,是使用光學機器7,將導引部27所顯示的第2位置P2測量。
在下一個步驟S20中,作業者,是確認:第2位置P2的移動方向及移動距離,是否對應第3差分D3的方向及距離,即,平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3,是否與對應等中心C的目標位置也就是第1位置P1一致。
在此,第3位置P3未與第1位置P1一致的情況(步驟S20是NO),是返回至前述的步驟S18。另一方面,第3位置P3是與第1位置P1一致的情況(步驟S20是YES),朝步驟S21前進。
在下一個步驟S21中,作業者,是解除固定部28的固定,將位置調整裝置26從平板型檢測器13取下,終了作業。
如此的話,可以將平板型檢測器13的畫像中心定位在等中心C。在本實施例中,在操作位置調整單元21將平板型檢測器13移動時,只使用光學機器7的測量即可。即,因為不需進行將X線畫像的攝影,所以可以由短期間完成作業。如此,可以削減放射線治療裝置1的檢點期間調整。且,可以維持各種裝置的信賴性。
在本實施例中,藉由導引部27與平板型檢測器13的表面接觸,使從平板型檢測器13至導引部27為止的距離,比從平板型檢測器13至X線照射部12為止的距離更小。因此,可以提高平板型檢測器13的位置調整的精度。
又,反覆步驟S13至步驟S20,直到平板型檢測器13精度佳地被移動至目的位置為止也可以。
又,在本實施例中,從X線照射部12被照射的X線雖是通過等中心C,但是進行平板型檢測器13的位置調整時,是從X線照射部12被照射的X線即使不通過等中心C也可以。即使該情況,藉由導引部27接近平板型檢測器13的表面,就可提高位置調整的精度。
且平板型檢測器13的位置調整完成之後,在等中心C設置校正用幻象,將X線畫像攝影,依據此X線畫像,以使X線通過等中心C的方式,進行X線照射部12的位置調整也可以。
又,在本實施例中,雖說明了平板型檢測器13的XY方向的調整,但是從等中心C的距離方向及平板型檢測器13的面精度(XY平面)的調整是具有別的調整機構,進行該調整之後進行如本實施例所示的XY面內的調整。
(第2實施例) 接著,使用第7圖~第8圖說明第2實施例的平板型檢測器的位置調整裝置26A。又,對於與如前述的實施例所示的構成部分相同的構成部分是附加同一符號並省略重複的說明。
如第7圖所示,第2實施例的位置調整裝置26A,是被安裝於平板型檢測器13。此位置調整裝置26A,是具備:與平板型檢測器13的表面接觸的導引部27A、及被固定於平板型檢測器13的周緣的固定部28A。
導引部27A,是由從形成框狀的固定部28A的四邊的各中央朝向框的中央延伸的4條金屬線33、34、35、36所構成。這些金屬線33、34、35、36,是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由光學機器7測量。
如第8圖所示,將各金屬線33、34、35、36延長的虛線39、40彼此的交叉角度,是成為90度。虛線39、40彼此的交點,是設於對應平板型檢測器13的幾乎中心位置。
對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的左右2條金屬線33、34的虛線39,是設於縱方向的同一位置。即,可以藉由左右2條金屬線33、34將2次元座標的X軸特定。且,對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的上下2條金屬線35、36的虛線40,是設於橫方向的同一位置。即,可以藉由上下2條金屬線35、36將2次元座標的Y軸特定。
在第8圖的符號中,導引部27A的4條金屬線33、34、35、36的虛線39、40交叉的第2位置是設成P2。其他的符號也就是第1位置P1、第3位置P3、第1差分D1、第2差分D2、及第3差分D3,是與前述的第1實施例相同構成。
等中心C及導引部27A的4條金屬線33、34、35、36,因為是可由光學機器7測量,所以依據金屬線33、34、35、36的虛線39、40,可將第1差分D1藉由光學機器7特定。進一步,導引部27A的4條金屬線33、34、35、36,因為是映在X線畫像,所以依據金屬線33、34、35、36的虛線39、40,可藉由X線畫像特定第2差分D2。且,藉由第1差分及第2差分被特定,就可特定第3差分D3。
藉由第3差分D3被特定,就可把握:平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3、及對應等中心C的第1位置P1的位置偏離量。在此,作業者,是使用光學機器7測量導引部27A,將第2位置P2確認,且操作作為位置調整部的位置調整單元21的操作部24,使平板型檢測器13移動。此時,第2位置P2的移動方向及移動距離,是以成為對應第3差分D3的方向及距離的方式調整。
又,藉由將複數金屬線33、34、35、36由光學機器7測量,就可以將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的軸測量。即,藉由將複數金屬線33、34、35、36的移動量由光學機器7測量,就可以將平板型檢測器13的移動量確認。
在第2實施例中,複數金屬線33、34、35、36,是成為映在X線畫像的複數標識部。且,位置調整裝置26A被安裝於平板型檢測器13時,金屬線33、34、35、36,是設於平板型檢測器13的周緣部。
如此的話,映在X線畫像的複數金屬線33、34、35、36,因為是未被配置於平板型檢測器13的畫像中心,所以在被檢體也就是患者K的X線畫像的攝影時金屬線33、34、35、36不會成為阻礙。即,在第2實施例中,在由位置調整單元21所產生的平板型檢測器13的位置調整之後,不需將位置調整裝置26A從平板型檢測器13取下就可以將放射線照射進行放射線治療。
(第3實施例) 接著,使用第9圖~第10圖說明第3實施例的平板型檢測器的位置調整裝置26B。又,對於與如前述的實施例所示的構成部分相同的構成部分是附加同一符號並省略重複的說明。以下,將第9圖的紙面左側作為平板型檢測器13及位置調整裝置26B的正面側(前方側)說明。
如第9圖及第10圖所示,第3實施例的位置調整裝置26B,是由側剖面視成為幾乎C字形狀,成為背面側被開放的箱狀的構件。此位置調整裝置26B,是成為與平板型檢測器13嵌合。位置調整裝置26B,是具備:設於正面側的導引部27B、及嵌合在平板型檢測器13且形成箱狀的固定部28B。又,位置調整裝置26B,是可裝卸地被安裝於平板型檢測器13。
導引部27B,是由:對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的線43、及對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的線44所構成。又,2條線43、44,是被配置成十字形狀。
且被配置成十字形狀的線43、44彼此的交叉角度,是成為90度。進一步,這些線43、44彼此的交點,是設於對應平板型檢測器13的幾乎中心位置。這些線43、44,是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由光學機器7測量。
固定部28B,是不可映在X線畫像的合成樹脂製。此固定部28B的四邊,是被固定於平板型檢測器13或是移動部19。在此,固定部28B,是被螺固也可以,使用規定的挾具被固定也可以。又,在固定部28B的四邊設置可卡止在平板型檢測器13或是移動部19的卡止片也可以。
如第9圖的部分放大圖所示,在固定部28B的正面側中,在導引部27B對應的位置形成有V字形狀的溝。且,藉由在此溝被充填供映在X線畫像的含有金屬的樹脂,而形成導引部27B。
在將位置調整裝置26B安裝於平板型檢測器13的狀態下,將X線照射的話,導引部27B的線43、44的像是映在X線畫像。即,可以藉由X線畫像將導引部27B的線43、44的交點的位置P2(第5圖參照)特定。
又,其他的位置也就是第1位置P1、第3位置P3、第1差分D1、第2差分D2、及第3差分D3,是與前述的第1實施例相同構成(第5圖參照)。藉由第3差分D3被特定,就可把握:平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3、及對應等中心C的第1位置P1的位置偏離量。作業者,是使用光學機器7測量導引部27B,將第2位置P2確認,且操作作為位置調整部的位置調整單元21的操作部24,使平板型檢測器13移動。
因此,依據第3實施例的話,可以由簡易的構造獲得與前述的第1實施例同樣的作用效果。
又,在第3實施例中,在由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之前,被安裝於平板型檢測器13。且,在由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之後,將位置調整裝置26B從平板型檢測器13取下。
(第4實施例) 接著,使用第11圖~第12圖說明第4實施例的平板型檢測器的位置調整裝置26C。又,對於與如前述的實施例所示的構成部分相同的構成部分是附加同一符號並省略重複的說明。以下,將第11圖的紙面左側作為平板型檢測器13及位置調整裝置26C的正面側(前方側)說明。
如第11圖及第12圖所示,第4實施例的位置調整裝置26C,是由側剖面視成為幾乎C字形狀,成為背面側被開放的箱狀的構件。此位置調整裝置26C,是成為與平板型檢測器13嵌合。位置調整裝置26C,是具備:設於正面側的導引部27C、及嵌合在平板型檢測器13且形成箱狀的固定部28C。又,位置調整裝置26C,是可裝卸地被安裝於平板型檢測器13。
固定部28C,是不可映在X線畫像的合成樹脂製。此固定部28C的四邊,是被固定於平板型檢測器13或是移動部19。在此,固定部28C,是被螺固也可以,使用規定的挾具被固定也可以。又,在固定部28C的四邊設置可卡止在平板型檢測器13或是移動部19的卡止片也可以。
第4實施例的導引部27C,是由:映在X線畫像的第1標識部45、46、47、48、及可由光學機器7測量的第2標識部49所構成。如第11圖的部分放大圖所示,第1標識部45、46、47、48,是由被埋入固定部28C的正面側的金屬線所構成。如第12圖所示,4條第1標識部45、46、47、48,是被埋入固定部28C的正面側。
這些第1標識部45、46、47、48,是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由X畫像特定。將各金屬線延長的虛線彼此的交叉角度,是成為90度。虛線彼此的交點,是設於對應平板型檢測器13的幾乎中心位置。
第2標識部49,是由不可映在X線畫像的塗料被印刷在固定部28C的正面側的部分。此第2標識部49,是由:對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的線、及對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的線所構成。又,2條線,是被配置成十字形狀。
且被配置成十字形狀的線彼此的交叉角度,是成為90度。進一步,這些線彼此的交點,是設於對應平板型檢測器13的幾乎中心位置。這些線,是直線狀地形成可將對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸由光學機器7測量。
在第4實施例中,將各第1標識部45、46、47、48延長的虛線彼此的交點、及第2標識部49的線的交點是一致。又,藉由第1標識部45、46、47、48被埋入固定部28C並且第2標識部49被印刷在固定部28C,使第1標識部45、46、47、48的位置及第2標識部49的位置彼此被固定。
在將位置調整裝置26C安裝於平板型檢測器13的狀態下,將X線照射的話,導引部27C的第1標識部45、46、47、48的像是映在X線畫像。即,可以藉由X線畫像將導引部27C的第1標識部45、46、47、48的交點的位置P2(第8圖參照)特定。且,可以藉由光學機器7測量導引部27C的第2標識部49的線的交點的位置P2。
又,其他的位置也就是第1位置P1、第3位置P3、第1差分D1、第2差分D2、及第3差分D3,是與前述的第2實施例相同的構成(第8圖參照)。藉由第3差分D3被特定,就可把握:平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3、及對應等中心C的第1位置P1的位置偏離量。作業者,是使用光學機器7測量導引部27C,將第2位置P2確認,且操作作為位置調整部的位置調整單元21的操作部24,使平板型檢測器13移動。
在第4實施例中,被埋入固定部28C的複數金屬線,是成為映在X線畫像的複數第1標識部45、46、47、48。且,位置調整裝置26C被安裝於平板型檢測器13時,第1標識部45、46、47、48,是設於平板型檢測器13的周緣部。
如此的話,映在X線畫像的複數第1標識部45、46、47、48,因為是未被配置於平板型檢測器13的畫像中心,所以在被檢體也就是患者K的X線畫像的攝影時第1標識部45、46、47、48不會成為阻礙。即,在第4實施例中,在由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之後,不必要將位置調整裝置26C從平板型檢測器13取下。
在第4實施例中,可以將映在X線畫像的第1標識部45、46、47、48、及可由光學機器7測量的第2標識部49,各別設於適切的位置。例如,在被檢體的X線畫像的攝影時可將第1標識部45、46、47、48設於不會成為阻礙的位置,並且可以將第2標識部49設於容易由光學機器7進行測量的位置。
(第5實施例) 接著,使用第13圖~第14圖說明第5實施例的平板型檢測器的位置調整裝置26D。又,對於與如前述的實施例所示的構成部分相同的構成部分是附加同一符號並省略重複的說明。以下,將第13圖的紙面左側作為平板型檢測器13及位置調整裝置26D的正面側(前方側)說明。
如第13圖及第14圖所示,第5實施例的位置調整裝置26D,是具備:與平板型檢測器13的表面接觸的導引部27D、及被固定於支撐部18的周緣的固定部28D。
導引部27D,是由:對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的金屬線37、及對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的金屬線38所構成。這些金屬線37、38,是金屬製,可映在X線畫像並且可由光學機器7測量。
第5實施例的固定部28D,是被固定於支撐部18。即,固定部28D,是被固定於位置調整單元21的支撐部側的第2構件23。在此,固定部28D,是被螺固在支撐部18也可以,使用規定的挾具被固定也可以。
在將位置調整裝置26D安裝於平板型檢測器13的狀態下,將X線照射的話,導引部27D的像是映在X線畫像。即,可以藉由X線畫像將導引部27D的金屬線37、38的交點的位置P2(第5圖參照)特定。
又,其他的位置也就是第1位置P1、第3位置P3、第1差分D1、第2差分D2、及第3差分D3,是與前述的第1實施例相同構成(第5圖參照)。藉由第3差分D3被特定,就可把握:平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3、及對應等中心C的第1位置P1的位置偏離量。作業者,是使用光學機器7測量導引部27D,將第2位置P2確認,且操作作為位置調整部的位置調整單元21的操作部24,使平板型檢測器13移動。
在第5實施例的平板型檢測器13的表面的規定位置,設有由不可映在X線畫像的塗料印刷而成的面板用標識部50。此面板用標識部50,是由:對應平板型檢測器13的橫方向(X軸)延伸的線、及對應平板型檢測器13的縱方向(Y軸)延伸的線所構成。又,2條線,是被配置成十字形狀。且,將2條線的交點設成第4位置P4。
第4位置P4,是可由光學機器7測量的位置。此第4位置P4,是在作業者操作位置調整單元21的操作部24,將平板型檢測器13移動時,為了將平板型檢測器13的移動量特定所使用。
作業者,是進行使用光學機器7的調整時,可以以依據導引部27D的第2位置P2為基準,使平板型檢測器13移動。例如,以第2位置P2為基準,以使第4位置P4的移動方向及移動距離成為對應第3差分D3的方向及距離的方式,使平板型檢測器13移動。
且作業者,是可以以依據等中心C的第1位置P1為基準,使平板型檢測器13移動。例如,以第1位置P1為基準,以使第4位置P4的移動方向及移動距離成為對應第3差分D3的方向及距離的方式,使平板型檢測器13移動。
又,在第5實施例中,在由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之前,被安裝於平板型檢測器13。且,在由位置調整單元21進行平板型檢測器13的位置調整之後,將位置調整裝置26D從平板型檢測器13取下。
雖依據第1實施例第5實施例說明了本實施例的平板型檢測器的位置調整裝置,但是將其中任一的實施例中所適用的構成適用在其他的實施例也可以,將各實施例中所適用的構成組合也可以。例如,將第5實施例的導引部被固定於支撐部的構成,適用於第2至第4實施例的導引部也可以。
又,在本實施例中,對應平板型檢測器13的表面的2次元座標的2軸(X軸及Y軸),是被包含與水平面(地面)於垂直的垂直面。因此,等中心C的橫軸C1是成為水平軸,將等中心C的縱軸C2成為垂直軸。即,等中心C的橫軸C1及縱軸C2,是與水平軸及垂直軸一致。假設,平板型檢測器13是對於垂直面被傾斜設置的情況,等中心C的橫軸C1及縱軸C2,未與水平軸及垂直軸一致也可以。
又,在本實施例中,平板型檢測器13雖是作為醫療相關連機器被使用,但是在醫療相關連機器以外的平板型檢測器13的位置調整使用位置調整裝置26也可以。例如,平板型檢測器13,是使用在:作為非破壞檢查的一環而進行的放射線透過檢查、將化石等調查的地質學調查、美術品的真偽調查、科學搜查、考古學上的遺物的調查者也可以。且,放射線或是粒子線的感測器,例如,在將閃爍器或是泡沫箱等對於某基準精度佳地設置的位置對合而使用位置調整裝置也可以。即,被檢體,是人也可以,物也可以。
又,使用X線畫像或是光學機器7將各種裝置的位置對合時,在等中心C設置校正用幻象也可以。
又,在本實施例中,導引部27雖是與平板型檢測器13的表面接觸,但是在導引部27及平板型檢測器13的表面之間具有間隙也可以。即,導引部27是接近平板型檢測器13的表面較佳。且,將導引部27,不能裝卸地附著在平板型檢測器13的表面也可以。
又,在使用位置調整裝置26的位置調整的作業中,X線畫像的攝影及平板型檢測器13的移動未交互地被反覆。即,雖由1次的X線畫像的攝影完成平板型檢測器13的位置調整,但是X線畫像的攝影及平板型檢測器13的移動即使交互地反覆也可以。即使該情況,仍可比習知技術更大幅地減少X線畫像的攝影次數。
又,在本實施例中,雖將平板型檢測器13的畫像中心作為第3位置P3,將此第3位置P3與對應等中心C的第1位置P1一致,但是其他的態樣也可以。例如,第3位置P3,即使不是在平板型檢測器13的畫像中心也可以,在畫像中,可映出患者K的患部的部分較佳。
又,在本實施例中,平板型檢測器13的畫像中心也就是第3位置P3,雖成為平板型檢測器13的中央橫軸41及中央縱軸42的交點,但是第3位置P3,即使不是平板型檢測器13的中央橫軸41及中央縱軸42的交點也可以。此第3位置P3,是配置有進行X線攝影時成為對象的標靶的部分較佳。
又,在本實施例中,導引部雖使用金屬線,但是使用金屬線以外的構成也可以。例如,使用可映在X線畫像的複數金屬球地構成導引部也可以。
依據以上說明的至少1個實施例的話,藉由具備將導引部固定於位置調整部的平板型檢測器側或是支撐部側的其中任一方的固定部,就可以提高平板型檢測器的位置調整的作業效率。
雖說明了本發明的一些的實施例,但是這些實施例,只是例示者,未意圖限定發明的範圍。這些實施例,是可由其他的各式各樣的形態被實施,在不脫離發明的實質範圍內,可以進行各種的省略、置換、變更、組合。這些實施例和其變形,是與被包含於發明的範圍和實質同樣,被包含於申請專利範圍所記載的發明及與其均等的範圍者。
1‧‧‧放射線治療裝置 2‧‧‧治療室 3‧‧‧壁 4‧‧‧頂棚 5‧‧‧地面 6‧‧‧基準部 7‧‧‧光學機器 8‧‧‧治療台 9‧‧‧放射線照射裝置 10‧‧‧X線畫像攝影裝置 11‧‧‧可動臂 12‧‧‧X線照射部 13‧‧‧平板型檢測器 14‧‧‧昇降臂 15‧‧‧基部 16‧‧‧軌道 17‧‧‧滑動部 18‧‧‧支撐部 19‧‧‧移動部 20‧‧‧開口部 21‧‧‧位置調整單元 22‧‧‧第1構件 23‧‧‧第2構件 24‧‧‧操作部 25‧‧‧公螺紋 26(26A、26B、26C、26D)‧‧‧位置調整裝置 27(27A、27B、27C、27D)‧‧‧導引部 28(28A、28B、28C、28D)‧‧‧固定部 31、32、33、34、35、36、37、38‧‧‧金屬線 39、40‧‧‧虛線 41‧‧‧中央橫軸 42‧‧‧中央縱軸 43、44‧‧‧線 45、46、47、48‧‧‧第1標識部 49‧‧‧第2標識部 50‧‧‧面板用標識部 C‧‧‧等中心 D1‧‧‧第1差分 D2‧‧‧第2差分 D3‧‧‧第3差分 K‧‧‧患者 P1‧‧‧第1位置 P2‧‧‧第2位置 P3‧‧‧第3位置 P4‧‧‧第4位置 R1、R2‧‧‧照射方向
[第1圖] 設有放射線治療裝置的治療室的側剖面圖。 [第2圖] 顯示平板型檢測器,(A)是顯示將X線畫像攝影時的平板型檢測器的攝影位置的前視圖,(B)是顯示進行放射線治療時的平板型檢測器的退避位置的前視圖。 [第3圖] 顯示第1實施例的位置調整裝置的側剖面圖。 [第4圖] 顯示第1實施例的位置調整裝置的立體圖。 [第5圖] 顯示使用第1實施例的位置調整裝置的位置調整方法的概念圖。 [第6圖] 顯示第1實施例的位置調整方法的流程圖(flowchart)。 [第7圖] 顯示第2實施例的位置調整裝置的立體圖。 [第8圖] 顯示使用第2實施例的位置調整裝置的位置調整方法的概念圖。 [第9圖] 顯示第3實施例的位置調整裝置的側剖面圖。 [第10圖] 顯示第3實施例的位置調整裝置的立體圖。 [第11圖] 顯示第4實施例的位置調整裝置的側剖面圖。 [第12圖] 顯示第4實施例的位置調整裝置的立體圖。 [第13圖] 顯示第5實施例的位置調整裝置的側剖面圖。 [第14圖] 顯示第5實施例的位置調整裝置的前視圖。
13‧‧‧平板型檢測器
15‧‧‧基部
16‧‧‧軌道
17‧‧‧滑動部
18‧‧‧支撐部
19‧‧‧移動部
21‧‧‧位置調整單元
22‧‧‧第1構件
23‧‧‧第2構件
24‧‧‧操作部
25‧‧‧公螺紋
26‧‧‧位置調整裝置
27‧‧‧導引部
28‧‧‧固定部

Claims (11)

  1. 一種平板型檢測器的位置調整裝置,具備:設於平板型檢測器的表面側可映在X線畫像並且由光學機器測量的導引部、及將前述導引部固定在被設於前述平板型檢測器及其支撐部之間的位置調整部的前述平板型檢測器側或是前述支撐部側的其中任一方的固定部;前述位置調整部,是具備:被固定於前述平板型檢測器的第1構件、及被固定於前述支撐部的第2構件、及調整前述第1構件及前述第2構件之間的距離用的操作部,前述固定部,是將前述導引部固定於前述第1構件或是前述第2構件的其中任一方;前述操作部,藉由調整前述第1構件與前述第2構件之間的距離,使等中心所對應的位置與成為前述平板型檢測器的畫像中心的位置一致。
  2. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是接近前述平板型檢測器的表面。
  3. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是直線狀地形成可將對應前述平板型檢 測器的表面的2次元座標的軸由前述光學機器測量。
  4. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是具備可將對應前述平板型檢測器的表面的2次元座標的軸由前述光學機器測量的複數標識部。
  5. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是具備設於前述平板型檢測器的周緣部且映在前述X線畫像的複數標識部。
  6. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是具備映在前述X線畫像的第1標識部、及可由前述光學機器測量的第2標識部。
  7. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是具備金屬線。
  8. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是被固定在前述平板型檢測器。
  9. 如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置,其中,前述導引部,是被固定於前述支撐部。
  10. 一種平板型檢測器的位置調整方法,包含:將可映在X線畫像並且可由光學機器測量的導引部設於平板型檢測器的表面側的步驟、及將前述導引部固定在被設於前述平板型檢測器及其支撐部之間的位置調整部的前述平板型檢測器側或是前述支撐部側的其中任一方的步驟、及將對應等中心的第1位置及前述導引部所顯示的第2位置之間的第1差分藉由前述光學機器特定的步驟、及將前述第2位置及前述平板型檢測器的畫像中心也就是第3位置之間的第2差分藉由前述X線畫像特定的步驟、及依據前述第1差分及前述第2差分將前述第1位置及前述第3位置之間的第3差分特定的步驟、及依據前述第3差分操作前述位置調整部使前述第3位置與前述第1位置一致的步驟。
  11. 一種放射線治療裝置,具備:如申請專利範圍第1項的平板型檢測器的位置調整裝置、及 將X線照射在前述平板型檢測器將被檢體的X線畫像攝影的X線畫像攝影裝置、及朝前述被檢體將治療用的放射線照射的放射線照射裝置。
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