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TWI791631B - 光學膜及影像顯示裝置 - Google Patents

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TWI791631B
TWI791631B TW107134454A TW107134454A TWI791631B TW I791631 B TWI791631 B TW I791631B TW 107134454 A TW107134454 A TW 107134454A TW 107134454 A TW107134454 A TW 107134454A TW I791631 B TWI791631 B TW I791631B
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optical film
resin layer
glass substrate
hard coat
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TW107134454A
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松下広樹
小川善正
高坂洋介
佐藤純
戎佳祐
本田和也
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日商大日本印刷股份有限公司
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Abstract

根據本發明之一態樣，提供一種光學膜10，其具備：厚度為30 μm以上且200 μm以下之玻璃基材11、及與玻璃基材11鄰接之樹脂層12，且樹脂層12於25℃之楊氏模數為70 MPa以上且1200 MPa以下。

Description

光學膜及影像顯示裝置
本發明係關於一種光學膜及影像顯示裝置。
過去以來，已知有智慧型手機或平板終端等影像顯示裝置，但目前正在開發可摺疊之影像顯示裝置。智慧型手機或平板終端等通常係由覆蓋玻璃覆蓋，於影像顯示裝置使用通常之覆蓋玻璃之情形時，硬度雖優異，但柔軟性較差，因此，若欲彎曲則破裂之風險較高。因此，正在研究對可摺疊之影像顯示裝置使用具備厚度薄於通常之覆蓋玻璃且具有柔軟性之薄膜玻璃之光學膜（例如，參照專利文獻1）。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2016-125063號公報
[發明所欲解決之課題]
由於此種可摺疊之影像顯示裝置所使用之光學膜存在光學膜之正面會受到衝擊之情況，因此要求耐衝擊性。
若為通常之覆蓋玻璃，則即便覆蓋玻璃受到衝擊，由於玻璃之厚度較厚，因此亦不易破裂，但薄膜玻璃存在如下情況：由於厚度較薄，故而衝擊吸收性較差，若薄膜玻璃之表面受到衝擊，則會導致薄膜玻璃破裂，或即便未破裂，但亦會因位於較薄膜玻璃更靠影像顯示裝置之內部之層凹陷的影響而導致薄膜玻璃之表面亦凹陷。
又，存在若薄膜玻璃之表面受到衝擊，則衝擊傳遞至存在於影像顯示裝置之內部之構件（例如有機發光二極體面板等顯示面板），而導致上述構件受損之情況。
根據此種情況，目前要求一種光學膜，其維持柔軟性，並且具有即便於影像顯示裝置之顯示面受到衝擊之情形時亦不易破裂，表面之凹陷得到抑制，且存在於較薄膜玻璃更靠影像顯示裝置之內部之構件不會損傷之耐衝擊性。
本發明係為了解決上述問題而成者。即本發明之目的在於提供一種具有柔軟性及耐衝擊性之光學膜、及具備其之影像顯示裝置。 [解決課題之技術手段]
本發明包含以下之發明。 [1]一種光學膜，其具備：玻璃基材，其厚度為30 μm以上且200 μm以下；及樹脂層，其與上述玻璃基材鄰接；且上述樹脂層於25℃之楊氏模數為70 MPa以上且1200 MPa以下。
[2]如上述[1]所記載之光學膜，其中，上述樹脂層之膜厚為100 μm以上且500 μm以下。
[3]如上述[1]或[2]所記載之光學膜，其中，上述樹脂層包含聚矽氧樹脂。
[4]一種影像顯示裝置，其具備顯示面板；及上述[1]至[3]中任一項所記載之光學膜，其配置於較上述顯示面板更靠觀察者側。
[5]如上述[4]所記載之影像顯示裝置，其中，上述顯示面板為有機發光二極體面板。 [發明之效果]
根據本發明，可提供一種具有柔軟性及耐衝擊性之光學膜。又，根據本發明，可提供一種具備此種光學膜之影像顯示裝置。
以下，同時參照圖式，並對本發明之實施形態之光學膜及影像顯示裝置進行說明。圖1係本實施形態之光學膜之概略構成圖，圖2（A）～圖2（C）係示意性地表示連續摺疊試驗之情況之圖，圖3（A）及圖3（B）係示意性地表示摺疊靜置試驗之情況之圖，圖4～圖6係本實施形態之另一光學膜之概略構成圖。
＜＜＜光學膜＞＞＞ 圖1所示之光學膜10具備厚度30 μm以上且200 μm以下之玻璃基材11、及與玻璃基材11鄰接之樹脂層12。於圖1中，光學膜10之正面10A成為玻璃基材11中之與樹脂層12側之第1面11A相反側之第2面11B。於光學膜10中，由於玻璃基材11之第2面11B成為正面10A，因此於光學膜10之表面11A，可獲得與通常之覆蓋玻璃同等之表面物性。再者，於本說明書中，所謂光學膜之「正面」之語言係作為意指光學膜之單側之表面而使用，因此，為了與光學膜之正面進行區別，將與光學膜之正面相反側之面稱為「背面」。光學膜10之背面10B成為樹脂層12中之與玻璃基材11側之第1面12A相反側之第2面12B。
光學膜10具有柔軟性。具體而言，較佳為即便於對光學膜10反覆進行10萬次之於下說明之摺疊試驗（連續摺疊試驗）之情形時，光學膜10亦不會產生破裂或斷裂，更佳為即便於將連續摺疊試驗反覆進行20萬次之情形時，光學膜10亦不會產生破裂或斷裂，進而較佳為即便於將連續摺疊試驗反覆進行100萬次之情形時，光學膜亦不會產生破裂或斷裂。於對光學膜10反覆進行10萬次連續摺疊試驗之情形時，若光學膜10產生破裂或斷裂等，則光學膜10之摺疊性變得不充分。連續摺疊試驗可以玻璃基材11成為外側之方式將光學膜10摺疊而進行，又，亦可以玻璃基材11成為內側之方式將光學膜10摺疊而進行，較佳為於任一情形時光學膜10均不會產生破裂或斷裂。
連續摺疊試驗係以以下方式進行。如圖2（A）所示，於連續摺疊試驗中，首先，將切取成30 mm×100 mm之大小之光學膜10之邊部10C、及與邊部10C對向之邊部10D分別固定於平行配置之固定部15。又，如圖2（A）所示，固定部15可沿水平方向滑動移動。
繼而，如圖2（B）所示，使固定部15以相互靠近之方式移動，藉此，使光學膜10以摺疊之方式變形，進而，如圖2（C）所示，於使固定部15移動至光學膜10之由固定部15固定之對向之2個邊部10C、10D之間隔成為10 mm之位置後，使固定部15沿反方向移動而使光學膜10消除變形。
如圖2（A）～（C）所示，藉由使固定部15移動，可將光學膜10摺疊180°。又，藉由以光學膜10之彎曲部10E不會自固定部15之下端露出之方式進行連續摺疊試驗且控制固定部15最靠近時之間隔，可將光學膜10之對向之2個邊部10C、10D之間隔設為10 mm。於該情形時，將彎曲部10E之外徑視作10 mm。於光學膜10中，較佳為於將以光學膜10之對向之邊部之間隔成為10 mm之方式摺疊180°之試驗反覆進行10萬次之情形時不會產生破裂或斷裂，進而較佳為於將以光學膜10之對向之邊部之間隔成為6 mm、5 mm、3.5 mm、或2 mm之方式摺疊180°之連續摺疊試驗反覆進行10萬次之情形時不會產生破裂或斷裂（上述邊部之間隔越小越佳）。
又，於經由黏著層或接著層於光學膜10之一面側設置有偏光板等另一膜之情形時，將另一膜與黏著層或接著層一併剝離後進行連續摺疊試驗。另一膜之剝離例如可以以下方式進行。首先，利用乾燥機對在光學膜經由黏著層或接著層附有另一膜之積層體進行加熱，將切割刀之刀尖切入被視作光學膜與另一膜之界面之部位，並緩慢地剝離。藉由反覆進行此種加熱與剝離，可將黏著層或接著層及另一膜剝離。再者，即便存在此種剝離步驟，亦不會對連續摺疊試驗造成較大之影響。
於光學膜10中，摺疊靜置試驗後之孔徑角θ較佳為100°以上。具體而言，首先，如圖3（A）所示，將光學膜10之邊部10C、及與邊部10C對向之邊部10D以邊部10C與邊部10D之間隔成為10 mm之方式分別固定於平行配置之固定部16。繼而，進行以將光學膜10摺疊之狀態於70℃靜置240小時之摺疊靜置試驗。其後，如圖3（B）所示，於摺疊靜置試驗後將固定部16自邊部10D拆除，藉此開放摺疊狀態，30分鐘後，於光學膜10中測定光學膜10於室溫自然打開之角度即孔徑角θ。再者，孔徑角θ越大，意味著回復性越好，最大為180°。摺疊靜置試驗可以玻璃基材11成為內側之方式將光學膜10摺疊而進行，又，亦可以玻璃基材11成為外側之方式將光學膜10摺疊而進行，於任一情形時，孔徑角θ均較佳為100°以上。
又，於經由黏著層或接著層於光學膜10之一面側設置有偏光板等另一膜之情形時，藉由與上述相同之方法將另一膜與黏著層或接著層一併剝離後進行摺疊靜置試驗。再者，即便存在此種剝離步驟，亦不會對摺疊靜置試驗造成較大之影響。
光學膜10之正面10A於由JIS K5600-5-4：1999所規定之鉛筆硬度試驗中測定時之硬度（鉛筆硬度）較佳為2 H以上。鉛筆硬度可藉由將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜以不存在折痕或褶皺的方式利用Nichiban公司製造之Cellotape（註冊商標）固定於玻璃板上的狀態下對光學膜之正面進行鉛筆硬度試驗而測定。鉛筆硬度試驗係藉由使用鉛筆硬度試驗機（產品名「鉛筆劃痕塗膜硬度試驗機（電動式）」，東洋精機製作所股份有限公司製造），同時對鉛筆（產品名「Uni」，三菱鉛筆股份有限公司製造）施加750 g之負載，並使鉛筆以1 mm/秒之移動速度移動而進行。鉛筆硬度設為於鉛筆硬度試驗中光學膜之正面未受損之最高硬度。再者，於測定鉛筆硬度時，使用硬度不同之數根鉛筆進行，對每根鉛筆進行5次鉛筆硬度試驗，於光學膜之正面5次中4次以上未受損之情形時，判斷於該硬度之鉛筆中光學膜之正面未受損。上述損傷係指於螢光燈下對進行鉛筆硬度試驗後之光學膜之正面進行透視觀察所視認到者。
光學膜10於波長380 nm之光之穿透率較佳為8%以下。若光學膜10之上述穿透率為8%以下，則於將光學膜用於行動設備終端之情形時，可抑制偏光元件曝露於紫外線中，因此可抑制偏光元件之劣化。上述穿透率可使用分光光度計（產品名「UV-3100PC」，島津製作所股份有限公司製造，光源：鎢燈及氘燈）進行測定。上述穿透率係對切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜測定3次，並設為測定3次所獲得之值之算術平均值。光學膜10之上述穿透率之上限更佳為5%。再者，光學膜10之上述穿透率可藉由對樹脂層12中之下述紫外線吸收劑之添加量進行調整等而達成。
光學膜10之總光線穿透率較佳為70%以上。若光學膜10之總光線穿透率為70%以上，則可獲得充分之光學性能。上述總光線穿透率可使用霧度計（產品名「HM-150」，村上色彩技術研究所製造）並藉由依據JIS K7361-1：1997之方法進行測定。上述總光線穿透率係於將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜於不存在捲曲及褶皺且不存在指紋及灰塵等之狀態下，以樹脂層側成為非光源側之方式設置於霧度計，對1片光學膜測定3次，並設為測定所獲得之值之算術平均值。所謂本說明書中之「測定3次」，意指並非對相同部位測定3次，而是對不同之3個部位進行測定。再者，於無法將光學膜切取成上述大小之情形時，例如由於HM-150進行測定時之入口開口為20 mmφ，因此需要直徑成為21 mm以上般之樣本大小。因此，亦可將光學膜適當切取成22 mm×22 mm以上之大小。於光學膜之大小較小之情形時，在不脫離光源點之範圍內逐次少量移動或改變角度等並將測定點設為3個部位。光學膜10之總光線穿透率更佳為80%以上，進而較佳為90%以上。
又，於經由黏著層或接著層於光學膜10之一面側設置有偏光板等另一膜之情形時，藉由與上述相同之方法將另一膜與黏著層或接著層一併剝離後測定總光線穿透率。再者，即便存在此種剝離步驟，亦不會對總光線穿透率之測定造成較大之影響。
光學膜10之霧度值（總霧度值）較佳為2%以下。若光學膜之上述霧度值為2%以下，則可抑制將光學膜用於行動設備終端之情形時之影像顯示面之白化。上述霧度值可使用霧度計（產品名「HM-150」，村上色彩技術研究所製造）並藉由依據JIS K7136：2000之方法進行測定。上述霧度值係將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜於不存在捲曲及褶皺且不存在指紋及灰塵等之狀態下以樹脂層側成為非光源側之方式設置於霧度計，對1片光學膜測定3次，並設為測定所獲得之值之算術平均值。再者，於無法將光學膜切取成上述大小之情形時，例如由於HM-150進行測定時之入口開口為20 mmφ，因此需要直徑成為21 mm以上般之樣本大小。因此，亦可將光學膜適當切取成22 mm×22 mm以上之大小。於光學膜之大小較小之情形時，在不脫離光源點之範圍內逐次少量移動或改變角度等並將測定點設為3個部位。上述霧度值更佳為1.5%以下，進而較佳為1.0%以下。再者，光學膜10之上述霧度值可藉由調整樹脂層12中之下述紫外線吸收劑之添加量等來達成。
又，於經由黏著層或接著層於光學膜10之一面側設置有偏光板等另一膜之情形時，藉由與上述相同之方法將另一膜與黏著層或接著層一併剝離後測定霧度值。再者，即便存在此種剝離步驟，亦不會對霧度值之測定造成較大之影響。
近年來，積極地採用發光二極體（Light Emitting Diode）作為個人電腦或平板終端等影像顯示裝置之背光裝置之光源，但該發光二極體會強烈地發出被稱為藍光之光。該藍光於波長380～495 nm之光具有接近紫外線之性質，且具有較強之能量，故而不會被眼角膜或晶狀體吸收而到達至視網膜，藉此被視為成為視網膜損傷、視力衰弱、睡眠不良等之原因。因此，於將光學膜應用於影像顯示裝置之情形時，較佳為成為不會對顯示畫面之色調造成影響且藍光遮蔽性優異者。因此，就遮蔽藍光之觀點而言，光學膜10較佳為於波長380 nm之分光穿透率未達1%，於波長410 nm之分光穿透率未達10%，於波長440 nm之分光穿透率為70%以上。原因在於，若於上述波長380 nm之分光穿透率為1%以上或於波長410 nm之分光穿透率為10%以上，則存在無法消除藍光所導致產生之問題之情況，若於波長440 nm之分光穿透率未達70%，則存在會對使用光學膜之影像顯示裝置之顯示畫面之色調造成影響之情況。光學膜10可充分地吸收藍光之波長中波長410 nm以下之波長區域之光，另一方面，使波長440 nm以上之光充分地穿透，不會對顯示畫面之色調造成影響而使藍光之遮蔽性優異。又，於將此種藍光之遮蔽性優異之光學膜10應用於作為影像顯示裝置之有機發光二極體（OLED）顯示裝置之情形時，對於抑制有機發光二極體元件之劣化而言亦有效。
光學膜10之光之穿透率較佳為波長380 nm之前幾乎為0%，自波長410 nm起光之穿透逐漸增大，於波長440 nm附近光之穿透急遽地增大。具體而言，例如較佳為於波長410 nm至440 nm之間分光穿透率以繪製S型曲線之方式變化。於上述波長380 nm之分光穿透率更佳為未達0.5%，進而較佳為未達0.2%，於波長410 nm之分光穿透率更佳為未達7%，更佳為未達5%，於波長440 nm之分光穿透率更佳為75%以上，進而較佳為80%以上。再者，光學膜10較佳為於波長420 nm之分光穿透率未達50%。藉由滿足此種分光穿透率之關係，光學膜10於波長440 nm附近穿透率急遽地提高，不會對顯示畫面之色調造成影響而可獲得極其優異之藍光遮蔽性。
光學膜10於波長380 nm之分光穿透率更佳為未達0.1%，於波長410 nm之分光穿透率更佳為未達7%，於波長440 nm之分光穿透率更佳為80%以上。
光學膜10較佳為使用最小平方法所獲得之波長415～435 nm之範圍之透射光譜之斜率大於2.0。若上述斜率為2.0以下，則存在於藍光之光波長區域，例如波長415～435 nm之波長區域中無法充分地截斷光而藍光截斷效果減弱之情況。又，亦考慮到過分截斷藍光之光波長區域（波長415～435 nm）之可能性，於該情形時，存在會干擾影像顯示裝置之背光或發光波長區域（例如，來自OLED之波長430 nm之發光）而導致產生色調變差等不良情況之可能性增大之情況。上述斜率例如可藉由使用能夠以0.5%之刻度進行測定之分光光度計（產品名「UV-3100PC」，島津製作所股份有限公司製造），在415～435 nm之範圍內於前後1 nm之間測定最低5個點之穿透率之資料而算出。
光學膜10較佳為藍光之遮蔽率為40%以上。若藍光之遮蔽率未達40%，則存在無法充分地消除因上述藍光而導致產生之問題之情況。上述藍光之遮蔽率例如係藉由JIS T7333：2005而算出之值。再者，此種藍光遮蔽率例如可藉由使樹脂層12包含下述芝麻酚型苯并三唑系單體來達成。
於光學膜10中，較佳為在23℃、相對濕度90%之水蒸氣穿透率（WVTR：Water Vapor Transmission Rate）成為0.01 g/（m2 ・24 h）以下。上述水蒸氣穿透率可使用水蒸氣穿透率測定裝置（產品名「PERMATRAN-W3/31」，MOCON公司製造），並藉由依據JIS K7129：2008之方法進行測定。上述水蒸氣穿透率係對切取成100 mm×100 mm之大小之光學膜測定3次，並設為測定所獲得之值之算術平均值。光學膜10之水蒸氣穿透率之上限更佳為成為0.001 g/（m2 ・24 h）以下。
光學膜10可被切取成所需大小，亦可為輥狀。於光學膜10被切取成所需大小之情形時，光學膜之大小並無特別限制，可根據影像顯示裝置之顯示面之大小適當決定。具體而言，光學膜10之大小例如可成為2.8英吋以上且500英吋以下。所謂本說明書中之「英吋」，於光學膜為四邊形狀之情形時意指對角線之長度，於為圓形狀之情形時意指直徑，於為橢圓形狀之情形時，意指短徑與長徑之和之平均值。此處，於光學膜為四邊形狀之情形時，求出上述英吋時之光學膜之縱橫比只要就影像顯示裝置之顯示畫面而言不存在問題，則並無特別限定。例如，可列舉縱：橫=1：1、4：3、16：10、16：9、2：1等。其中，尤其是於富有設計性之車輛用途或數位標牌中，並不限定於此種縱橫比。又，於光學膜10之大小較大之情形時，於自任意位置切取成A5尺寸（148 mm×210 mm）後，切取成各測定項目之大小。
＜＜玻璃基材＞＞ 玻璃基材11之厚度成為30 μm以上且200 μm以下。若玻璃基材11之厚度為30 μm以上，則可抑制光學膜10之捲曲，又，可獲得充分之硬度。另一方面，若玻璃基材11之厚度為200 μm以下，則可獲得良好之柔軟性。又，於光學膜10之輕量化之方面而言較佳。玻璃基材11之厚度係使用掃描型電子顯微鏡（SEM）對玻璃基材11之剖面進行拍攝，於該剖面之影像中測定玻璃基材11之10個部位之厚度，並設為該10個部位之厚度之算術平均值。玻璃基材11之下限依序較佳為35 μm以上、40 μm以上（數值越大越佳），玻璃基材11之上限依序較佳為100 μm以下、80 μm以下、60 μm以下（數值越小越佳）。
作為構成玻璃基材11之玻璃，並無特別限定，可列舉矽酸鹽玻璃或二氧化矽（silica）玻璃。該等之中，較佳為硼矽酸玻璃、鋁矽酸鹽玻璃、鋁硼矽酸玻璃，最佳為無鹼玻璃。作為玻璃基材11之市售品，例如可列舉日本電氣硝子股份有限公司製造之G-Leaf（註冊商標）、松浪硝子工業股份有限公司製造之極薄膜玻璃等。
＜＜樹脂層＞＞ 樹脂層12係由具有透光性之樹脂構成之層。樹脂層12係具有衝擊吸收性之層，但亦作為抑制玻璃基材11破裂時之玻璃的飛濺之層發揮功能。樹脂層亦可成為由2層以上之樹脂層構成之多層構造。
樹脂層12於25℃之楊氏模數成為70 MPa以上且1200 MPa以下。若樹脂層12於25℃之楊氏模數為70 MPa以上，則於光學膜10之正面10A受到衝擊時，可抑制位於較光學膜10更靠影像顯示裝置內部之構件之損傷。又，若樹脂層12於25℃之楊氏模數為1200 MPa以下，則於將光學膜10彎曲時可進一步抑制光學膜10之破裂。樹脂層12之楊氏模數之下限依序較佳為80 MPa以上、90 MPa以上、100 MPa以上（數值越大越佳），上限依序較佳為1000 MPa以下、960 MPa以下、500 MPa以下、300 MPa以下（數值越小越佳）。
本說明書中之「樹脂層之楊氏模數」係使用測定樹脂層12之壓痕硬度（HIT ）時求出之接觸投影面積Ap 而算出。所謂「壓痕硬度」，係根據藉由基於奈米壓痕法之硬度測定所獲得的壓頭之負載至卸載為止之負載-位移曲線求出的值。
上述壓痕硬度（HIT ）之測定係使用HYSITRON（海思創）公司製造之「TI950 TriboIndenter」對測定樣本進行。具體而言，首先，製作藉由包埋樹脂將切取成1 mm×10 mm之光學膜包埋而成之塊，並藉由普通的切片製作方法自該塊切出不存在孔等之均勻之厚度70 nm以上且100 nm以下的切片。切片之製作可使用「超薄切片機EM UC7」（Leica Microsystems股份有限公司）等。並且，將切出該不存在孔等之均勻之切片後所剩之剩餘塊作為測定樣本。繼而，於此種測定樣本中之藉由切出上述切片而獲得之剖面，於以下之測定條件下，歷時25秒將作為上述壓頭之三角錐（Berkovich）壓頭（三角錐，BRUKER公司製造之TI-0039）垂直壓入樹脂層之剖面中央直至最大壓入負載成為500 μN。此處，為了避開玻璃基材之影響及為了避開樹脂層之側緣之影響，三角錐壓頭壓入至自玻璃基材與樹脂層之界面向樹脂層的中央側偏離500 nm、自樹脂層之兩側端分別向樹脂層的中央側偏離500 nm之樹脂層之部分內。再者，於在樹脂層之與玻璃基材側之面相反側之面存在功能層之情形時，壓入至亦自功能層與樹脂層之界面向樹脂層的中央側偏離500 nm之樹脂層之部分內。其後，保持一定時間而進行殘留應力之緩和後，歷時25秒進行卸載，測量緩和後之最大負載，使用該最大負載Pmax （μN）與接觸投影面積Ap （nm2 ），並藉由Pmax /Ap 算出壓痕硬度（HIT ）。上述接觸投影面積係使用標準試樣之熔融石英（BRUKER公司製造之5-0098）並利用Oliver-Pharr法對壓頭前端曲率進行修正所得之接觸投影面積。壓痕硬度（HIT ）設為測定10個部位所獲得之值之算術平均值。再者，於測定值中包含偏離算術平均值±20%以上者之情形時，將該測定值排除在外並再次進行測定。測定值中是否存在偏離算術平均值±20%以上者係藉由於將測定值設為A並將算術平均值設為B時，藉由（A-B）/B×100所求出之值（%）是否為±20%以上來判斷。壓痕硬度（HIT ）可藉由構成下述樹脂層之樹脂之種類等進行調整。 （測定條件） 負載速度：20 μN/秒 保持時間：5秒 負載卸載速度：20 μN/秒 測定溫度：25℃
樹脂層12之楊氏模數Es 係以以下方式求出。首先，藉由下述數式（1），並使用測定壓痕硬度時求出之接觸投影面積Ap 求出壓頭與樹脂層之複合楊氏模數Er 。楊氏模數係測定10個部位之壓痕硬度，分別求出楊氏模數，並設為所獲得之10個部位之楊氏模數之算術平均值。
Figure 02_image001
上述數式（1）中，Ap 為接觸投影面積，Er 為壓頭與樹脂層之複合楊氏模數，S為接觸剛性。
繼而，使用藉由上述而求出之複合楊氏模數Er ，並藉由下述數式（2）求出樹脂層之楊氏模數Es 。
Figure 02_image003
上述數式（2）中，Ei 為壓頭之楊氏模數，Es 為樹脂層之楊氏模數，vi 為壓頭之泊松比，vs 為樹脂層之泊松比。樹脂層之泊松比由於對變形無體積變化，因此設為0.5。
樹脂層12之膜厚較佳為成為100 μm以上且500 μm以下。若樹脂層12之膜厚為100 μm以上，則樹脂層12之硬度亦不會降低，又，若為500 μm以下，則膜厚不會過厚，因此適合薄型化，並且亦不存在加工性變差之虞。樹脂層12之下限更佳為150 μm以上，樹脂層12之上限更佳為300 μm以下，進而較佳為200 μm以下。
樹脂層之膜厚係使用掃描穿透式電子顯微鏡（SEM）對樹脂層之剖面進行拍攝，於該剖面之影像中測定樹脂層之10個部位之膜厚，並設為該10個部位之膜厚之算術平均值。以下記載具體之剖面照片之拍攝方法。首先，製作藉由包埋樹脂將切取成1 mm×10 mm之光學膜包埋而成之塊，並藉由普通之剖面切削方法對該塊製作不存在凹凸之剖面。該剖面之製作可使用「超薄切片機EM UC7」（Leica Microsystems股份有限公司）等。其後，使用掃描穿透式電子顯微鏡（SEM）（產品名「S-4800」，Hitachi High-Technologies股份有限公司製造）拍攝測定樣本之剖面照片。於使用上述S-4800拍攝剖面照片時，將檢測器設為「SE」、將加速電壓設為「5 kV」、將發射電流設為「10 μA」而進行剖面觀察。關於倍率，調節焦距，同時觀察是否能看到各層，並以200倍～1萬倍適當調節對比度及明亮度。較佳之倍率為200倍～2000倍，進而較佳之倍率為400倍～1000倍，最佳之倍率為600倍～1000倍。再者，於使用上述S-4800拍攝剖面照片時，亦可進而將光圈設為「光束監測光圈3」，將物鏡光圈設為「3」，又，將W.D.設為「8 mm」。又，存在高倍率之情況下不易獲知界面之對比度之情形。於該情形時，亦以低倍率同時觀察。例如，以200倍與1000倍或1000倍與2000倍等高低2個倍率進行觀察，以兩倍率求出上述算術平均值，進而將該平均值設為樹脂層之膜厚之值。
構成樹脂層12之樹脂只要為如楊氏模數成為上述範圍內之樹脂，則並無特別限定。作為此種樹脂，可列舉聚矽氧樹脂等。再者，例如可藉由利用熱分解GC-MS及FT-IR對樹脂層12進行分析來判斷構成樹脂層12之樹脂係由何種結構之高分子鏈（重複單元）形成。尤其是熱分解GC-MS由於可將樹脂層12中所包含之單體單元作為單體成分進行偵測，故而有用。
＜聚矽氧樹脂＞ 聚矽氧樹脂係主鏈具有矽氧烷鍵之樹脂。藉由利用聚矽氧樹脂構成樹脂層12，可提高玻璃基材11與樹脂層12之密接性。認為其原因在於殘存於樹脂層12之表面之氫矽基（Si-H基）經過水解反應成為矽烷醇基（Si-OH基），且該矽烷醇基與存在於玻璃基材11之表面之矽烷醇基進行縮合反應。又，藉由利用聚矽氧樹脂構成樹脂層12，可抑制樹脂層12之形成時之收縮，因此可抑制光學膜10之捲曲。進而，聚矽氧樹脂與(甲基)丙烯酸系樹脂相比，耐久性優異，因此，藉由利用聚矽氧樹脂構成樹脂層12，可提高耐久性。
聚矽氧樹脂可具有芳香族基，亦可不具有芳香族基。於樹脂層12係由具有芳香族基之聚矽氧樹脂構成之情形時，較由不具有芳香族基之聚矽氧樹脂構成之情形更硬，從而可獲得優異之耐衝擊性。又，於樹脂層12係由不具有芳香族基之聚矽氧樹脂構成之情形時，相比由具有芳香族基之聚矽氧樹脂構成之情形，可使樹脂層12之折射率更接近玻璃基材11之折射率，因此可抑制玻璃基材11與樹脂層12之間之界面反射。所謂本說明書中之「芳香族基」，意指碳環式之芳基（以下，亦簡稱為「芳基」），亦包含芳基之可經取代之位置經取代基取代而成者。芳基之碳數較佳為6～25，進而較佳為6～15，最佳為6～10。作為芳基之具體例，例如可列舉苯基或萘基。
聚矽氧樹脂之重量平均分子量並無特別限定，例如較佳為如25℃之黏度成為300厘泊以上且10000厘泊之重量平均分子量。
聚矽氧樹脂亦可為加成反應型聚矽氧樹脂組成物、縮合反應型聚矽氧樹脂組成物、及游離輻射硬化型聚矽氧樹脂組成物之任一者之硬化物。該等之中，就硬度之觀點而言，較佳為加成反應型聚矽氧樹脂組成物之硬化物。
作為加成反應型聚矽氧樹脂組成物，例如可使用包含1分子中具有2個以上之鍵結於矽原子之烯基之有機聚矽氧烷（即有機烯基聚矽氧烷）、具有鍵結於矽原子之氫原子（氫矽基）之有機聚矽氧烷（即有機氫化聚矽氧烷）、及鉑族系觸媒者。有機烯基聚矽氧烷之烯基藉由與有機氫化聚矽氧烷之氫矽基進行氫矽基化加成反應而形成硬化物。
有機烯基聚矽氧烷之主鏈通常使二有機矽氧烷單元重複，亦可包含一部分分枝之結構或環狀之結構。
作為有機烯基聚矽氧烷之烯基，通常為乙烯基、烯丙基、丙烯基、異丙烯基等，該等之中，較佳為乙烯基。又，烯基較佳為僅鍵結於分子鏈末端之矽原子而存在。
作為除上述烯基以外亦鍵結於矽原子之官能基，可列舉：甲基、乙基、丙基等烷基；環戊基、環己基等環烷基；苯基、二甲苯基、聯苯基等芳基；苄基、苯基乙基、苯基丙基等芳烷基等一價烴基。又，一價烴基之鍵結於碳原子之氫原子之一部分或全部亦可經氟、氯、溴等鹵素原子、氰基等取代。再者，鍵結於矽原子之烯基以外之官能基亦可不全部相同
有機氫化聚矽氧烷作為有機烯基聚矽氧烷之交聯劑發揮作用。有機氫化聚矽氧烷較佳為1分子中具有2個以上且100個以下之氫矽基。
鉑族系觸媒（氫矽基化用鉑族系觸媒）係用以進行或促進上述有機烯基聚矽氧烷中之烯基與上述有機氫化聚矽氧烷之氫矽基之氫矽基化反應之觸媒。作為鉑族系觸媒，可列舉鉑系觸媒、鈀系觸媒、銠系觸媒等，該等之中，就經濟性、反應性之方面而言，尤佳為鉑系觸媒。
樹脂層12只要25℃之楊氏模數成為上述範圍內，則亦可包含紫外線吸收劑或分光穿透率調整劑等。
＜紫外線吸收劑＞ 光學膜尤其適合用於如可彎曲之智慧型手機或平板終端之行動設備終端，但此種行動設備終端大多於室外使用，因此，存在配置於較光學膜更靠顯示元件側之偏光元件曝露於紫外線中而容易導致劣化之問題。然而，樹脂層由於配置於偏光元件之顯示畫面側，故而若樹脂層中含有紫外線吸收劑，則可適當防止偏光元件曝露於紫外線中。紫外線吸收劑（UVA）亦可含有於下述硬塗層中。
作為紫外線吸收劑，例如可列舉三口井系紫外線吸收劑、二苯甲酮系紫外線吸收劑、及苯并三唑系紫外線吸收劑等。
作為上述三口井系紫外線吸收劑，例如可列舉：2-(2-羥基-4-[1-辛基氧基羰基乙氧基]苯基)-4,6-雙(4-苯基苯基)-1,3,5-三口井、2-[4-[(2-羥基-3-十二烷基氧基丙基)氧基]-2-羥基苯基]-4,6-雙(2,4-二甲基苯基)-1,3,5-三口井、2,4-雙[2-羥基-4-丁氧基苯基]-6-(2,4-二丁氧基苯基)-1,3,5-三口井、2-[4-[(2-羥基-3-十三烷基氧基丙基)氧基]-2-羥基苯基]-4,6-雙(2,4-二甲基苯基)-1,3,5-三口井、及2-[4-[(2-羥基-3-(2'-乙基)己基)氧基]-2-羥基苯基]-4,6-雙(2,4-二甲基苯基)-1,3,5-三口井等。作為市售之三口井系紫外線吸收劑，例如可列舉：TINUVIN460、TINUVIN477（均為BASF公司製造）、LA-46（ADEKA股份有限公司製造）等。
作為上述二苯甲酮系紫外線吸收劑，例如可列舉：2-羥基二苯甲酮、2,4-二羥基二苯甲酮、2,2'-二羥基-4,4'-二甲氧基二苯甲酮、2,2',4,4'-四羥基二苯甲酮、2-羥基-4-甲氧基二苯甲酮、羥基甲氧基二苯甲酮磺酸及其三水鹽、羥基甲氧基二苯甲酮磺酸鈉等。作為市售之二苯甲酮系紫外線吸收劑，例如可列舉CHMASSORB81/FL（BASF公司製造）等。
作為上述苯并三唑系紫外線吸收劑，例如可列舉：2-乙基己基-3-[3-三級丁基-4-羥基-5-(5-氯基-2H-苯并三唑-2-基)苯基]丙酸酯、2-(2H-苯并三唑-2-基)-6-(直鏈及側鏈十二烷基)-4-甲基苯酚、2-[5-氯基(2H)-苯并三唑-2-基]-4-甲基-6-(三級丁基)苯酚、2-(2H-苯并三唑-2-基)-4,6-二-三級戊基苯酚、2-(2'-羥基-5'-甲基苯基)苯并三唑、2-(2'-羥基-3',5'-二-三級丁基苯基)苯并三唑、2-(2'-羥基-3'-三級丁基-5'-甲基苯基)苯并三唑、2-(2'-羥基-3',5'-二-三級丁基苯基)-5-氯基苯并三唑、2-(2'-羥基-3'-(3'',4'',5'',6''-四氫鄰苯二甲醯亞胺甲基)-5'-甲基苯基)苯并三唑、2,2-亞甲基雙(4-(1,1,3,3-四甲基丁基)-6-(2H-苯并三唑-2-基)苯酚)、及2-(2'-羥基-3'-三級丁基-5'-甲基苯基)-5-氯基苯并三唑等。作為市售之苯并三唑系紫外線吸收劑，例如可列舉：KEMISORB71D、KEMISORB79（均為CHEMIPRO KASEI公司製造）、JF-80、JAST-500（均為城北化學公司製造）、ULS-1933D（一方公司製造）、RUVA-93（大塚化學公司製造）等。
其中，紫外線吸收劑適當使用三口井系紫外線吸收劑、苯并三唑系紫外線吸收劑。紫外線吸收劑較佳為與構成硬塗層之樹脂成分之溶解性較高，又，較佳為上述連續摺疊試驗後之滲出較少。紫外線吸收劑較佳為經聚合物化或低聚物化。作為紫外線吸收劑，較佳為具有苯并三唑、三口井、二苯甲酮骨架之聚合物或低聚物，具體而言，較佳為將具有苯并三唑或二苯甲酮骨架之(甲基)丙烯酸酯與甲基丙烯酸甲酯（MMA）以任意比率進行熱共聚合而成者。再者，於將光學膜應用於有機發光二極體（OLED）顯示裝置之情形時，紫外線吸收劑亦可發揮保護OLED免受紫外線損傷之作用。
作為紫外線吸收劑之含量，並無特別限定，相對於樹脂層用組成物之固形物成分100質量份，較佳為1質量份以上且6質量份以下。若未達1質量份，則存在無法充分地獲得使硬塗層含有上述紫外線吸收劑之效果，若超過6質量份，則存在樹脂層產生明顯之著色或強度降低之情況。上述紫外線吸收劑之含量之更佳之下限為2質量份以上，更佳之上限為5質量份以下。
＜分光穿透率調整劑＞ 分光穿透率調整劑係調整光學膜之分光穿透率者。於樹脂層12包含例如下述通式（1）所表示之芝麻酚型苯并三唑系單體之情形時，可適當滿足上述分光穿透率。
Figure 02_image005
上述通式（1）中，R1 表示氫原子或甲基。R2 表示碳數1～6之直鏈狀或支鏈狀之伸烷基或碳數1～6之直鏈狀或支鏈狀之氧伸烷基。
作為上述芝麻酚型苯并三唑系單體，並無特別限制，作為具體之物質名，可列舉：甲基丙烯酸2-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]乙酯、丙烯酸2-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]乙酯、甲基丙烯酸3-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]丙酯、丙烯酸3-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]丙酯、甲基丙烯酸4-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]丁酯、丙烯酸4-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基]丁酯、甲基丙烯酸2-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基-氧基]乙酯、丙烯酸2-[2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基-氧基]乙酯、甲基丙烯酸2-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]乙酯、丙烯酸2-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]乙酯、甲基丙烯酸4-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]丁酯、丙烯酸4-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]丁酯、甲基丙烯酸2-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]乙酯、丙烯酸2-[3-{2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-基}丙醯氧基]乙酯、2-(甲基丙烯醯氧基)乙基2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-羧酸酯、2-(丙烯醯氧基)乙基2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-羧酸酯、4-(甲基丙烯醯氧基)丁基2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-羧酸酯、4-(丙烯醯氧基)丁基2-(6-羥基苯并[1,3]二氧呃-5-基)-2H-苯并三唑-5-羧酸酯等。又，該等芝麻酚型苯并三唑系單體可使用1種，又，亦可使用2種以上。
上述芝麻酚型苯并三唑系單體可含有於樹脂層12中，於樹脂層為2層以上之多層構造之情形時，亦可含有於1層以上之樹脂層中來滿足上述分光穿透率之要件。例如，可列舉如下構成等：於樹脂層之一層中含有上述芝麻酚型苯并三唑系單體來僅達成於波長380 nm之分光穿透率，於其他樹脂層中含有上述芝麻酚型苯并三唑系單體來達成於波長410 nm及波長440 nm之分光穿透率之條件。進而，樹脂層亦可由3層以上構成，且於各樹脂層中含有上述芝麻酚型苯并三唑系單體來滿足上述分光穿透率之要件。
於上述芝麻酚型苯并三唑系單體含有於樹脂層12中之情形時，例如，上述芝麻酚型苯并三唑系單體較佳為以15～30質量%含有於樹脂層12層中。藉由在此種範圍內含有芝麻酚型苯并三唑系單體，可滿足上述分光穿透率。再者，上述芝麻酚型苯并三唑系單體於樹脂層12中，可與構成樹脂層12之樹脂成分反應而一體地含有，亦可不與構成樹脂層12之樹脂成分反應而單獨含有。
＜＜另一光學膜＞＞ 於光學膜10中，光學膜10之正面10A成為玻璃基材11之第2面11B，但如圖4所示，光學膜亦可為進而具備形成於玻璃基材11之第2面11B側之硬塗層21之光學膜20。藉由於玻璃基材11之第2面11B側形成硬塗層21，可獲得所需之鉛筆硬度，並且可於玻璃基材11破裂時進而抑制玻璃飛濺。於光學膜20中，光學膜20之正面20A成為硬塗層21之表面21A，背面20B成為樹脂層12之第2面12B。硬塗層21與玻璃基材11鄰接。再者，於圖4～圖6中，標註有與圖1相同符號之構件係與圖1所示之構件相同者，因此省略說明。
由於光學膜20之物性等與光學膜10之物性等相同，因此，此處省略說明。
＜硬塗層＞ 硬塗層21意指硬塗層21之剖面中央之馬氏硬度為375 MPa以上之層。於本說明書中，所謂「馬氏硬度」，係藉由基於奈米壓痕法之硬度測定將壓頭壓入500 nm時之硬度。基於上述奈米壓痕法之馬氏硬度之測定係於切取成30 mm×30 mm之大小之光學膜中，使用HYSITRON（海思創）公司製造之「TI950 TriboIndenter」而進行。即，於以下之測定條件下，將作為上述壓頭之Berkovich壓頭（三角錐，BRUKER公司製造之TI-0039）於硬塗層之剖面中垂直壓入500 nm。此處，為了避開玻璃基材之影響及為了避開硬塗層之側緣之影響，三角錐壓頭壓入至自玻璃基材與硬塗層之界面向硬塗層的中央側偏離500 nm、自硬塗層之兩側端分別向硬塗層的中央側偏離500 nm之硬塗層之部分內。其後，保持一定時間而進行殘留應力之緩和後進行卸載，測量緩和後之最大負載，使用該最大負載Pmax （μN）與深度500 nm之凹陷面積A（nm2 ），並藉由Pmax /A算出馬氏硬度。馬氏硬度設為對10個部位進行測定所獲得之值之算術平均值。 （測定條件） 負載速度：10 nm/秒 保持時間：5秒 負載卸載速度：10 nm/秒 測定溫度：25℃
硬塗層21可為單層構造，亦可為2層以上之多層構造。硬塗層21之膜厚較佳為成為1 μm以上且20 μm以下。若硬塗層21之膜厚為1 μm以上，則作為硬塗層可獲得充分之硬度，又，若為20 μm以下，則可抑制加工性之惡化。所謂本說明書中之「硬塗層之膜厚」，於硬塗層成為多層構造之情形時，意指將各硬塗層之膜厚合計所得之膜厚（總厚）。硬塗層21之膜厚係使用掃描型電子顯微鏡（SEM）對硬塗層21之剖面進行拍攝，於該剖面之影像中測定硬塗層21之20個部位之膜厚，並設為該20個部位之膜厚之算術平均值。硬塗層21之上限更佳為15 μm以下，進而較佳為10 μm以下。
硬塗層21包含樹脂。硬塗層21亦可進而含有分散於樹脂中之無機粒子。
（樹脂） 樹脂包含聚合性化合物（硬化性化合物）之聚合物（硬化物）。聚合性化合物係分子內具有至少1個聚合性官能基者。作為聚合性官能基，例如可列舉(甲基)丙烯醯基、乙烯基、烯丙基等乙烯性不飽和基。再者，所謂「(甲基)丙烯醯基」，係包含「丙烯醯基」及「甲基丙烯醯基」之兩者之含意。
作為聚合性化合物，較佳為多官能(甲基)丙烯酸酯。作為上述多官能(甲基)丙烯酸酯，例如可列舉：三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、三丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、二乙二醇二(甲基)丙烯酸酯、二丙二醇二(甲基)丙烯酸酯、新戊四醇三(甲基)丙烯酸酯、新戊四醇四(甲基)丙烯酸酯、二新戊四醇六(甲基)丙烯酸酯、1,6-己二醇二(甲基)丙烯酸酯、新戊二醇二(甲基)丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、二三羥甲基丙烷四(甲基)丙烯酸酯、二新戊四醇五(甲基)丙烯酸酯、三新戊四醇八(甲基)丙烯酸酯、四新戊四醇十(甲基)丙烯酸酯、異三聚氰酸三(甲基)丙烯酸酯、異三聚氰酸二(甲基)丙烯酸酯、聚酯三(甲基)丙烯酸酯、聚酯二(甲基)丙烯酸酯、雙酚二(甲基)丙烯酸酯、雙甘油四(甲基)丙烯酸酯、二(甲基)丙烯酸金剛烷酯、二(甲基)丙烯酸異莰酯、二環戊烷二(甲基)丙烯酸酯、三環癸烷二(甲基)丙烯酸酯、二三羥甲基丙烷四(甲基)丙烯酸酯或利用PO、EO、己內酯等對該等進行改質而成者。
該等之中，就可適當滿足上述馬氏硬度之方面而言，較佳為3～6官能者，例如較佳為新戊四醇三丙烯酸酯（PETA）、二新戊四醇六丙烯酸酯（DPHA）、新戊四醇四丙烯酸酯（PETTA）、二新戊四醇五丙烯酸酯（DPPA）、三羥甲基丙烷三(甲基)丙烯酸酯、三新戊四醇八(甲基)丙烯酸酯、四新戊四醇十(甲基)丙烯酸酯等。再者，於本說明書中，所謂(甲基)丙烯酸酯，意指丙烯酸酯及甲基丙烯酸酯之任一者。
再者，為了調整硬度或組成物之黏度、改善密接性等，亦可進而包含單官能(甲基)丙烯酸酯單體。作為上述單官能(甲基)丙烯酸酯單體，例如可列舉：丙烯酸羥乙酯（HEA）、甲基丙烯酸縮水甘油酯、甲氧基聚乙二醇(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸異硬脂酯、丁二酸2-丙烯醯氧基乙酯、丙烯醯口末啉、N-丙烯醯氧基乙基六氫鄰苯二甲醯亞胺、丙烯酸環己酯、丙烯酸四氫呋喃酯、丙烯酸異莰酯、丙烯酸苯氧基乙酯、及丙烯酸金剛烷酯等。
就提高樹脂層之硬度之觀點而言，上述單體之重量平均分子量較佳為未達1000，更佳為200以上且800以下。又，上述聚合性低聚物之重量平均分子量較佳為1000以上且2萬以下，更佳為1000以上且1萬以下，進而較佳為2000以上且7000以下。
（無機粒子） 無機粒子係主要由無機物構成之粒子。無機粒子亦可包含有機成分，但較佳為僅由無機物構成。無機粒子亦可為藉由有機成分進行表面處理而成者。作為無機粒子，只要可提高硬度，則並無特別限定，就獲得優異之硬度之觀點而言，較佳為二氧化矽粒子。二氧化矽粒子之中，較佳為反應性二氧化矽粒子。上述反應性二氧化矽粒子係可與上述多官能(甲基)丙烯酸酯之間構成交聯結構之二氧化矽粒子，藉由含有該反應性二氧化矽粒子，可充分地提高硬塗層21之硬度。
上述反應性二氧化矽粒子較佳為於其表面具有反應性官能基，作為該反應性官能基，例如適當使用上述聚合性官能基。
作為上述反應性二氧化矽粒子，並無特別限定，可使用先前公知者，例如可列舉日本特開2008-165040號公報記載之反應性二氧化矽粒子等。又，作為上述反應性二氧化矽粒子之市售品，例如可列舉日產化學工業股份有限公司製造之MIBK-SD、MIBK-SDMS、MIBK-SDL、MIBK-SDZL、日揮觸媒化成股份有限公司製造之V8802、V8803等。
又，上述二氧化矽粒子可為球形二氧化矽粒子，但較佳為異形二氧化矽粒子。亦可使球形二氧化矽粒子與異形二氧化矽粒子混合。再者，所謂本說明書中之「球形二氧化矽粒子」，例如意指真球狀、橢圓球狀等之二氧化矽粒子，又，所謂「異形二氧化矽粒子」，意指表面具有馬鈴薯狀（剖面觀察時之縱橫比為1.2以上且40以下）之無規之凹凸之形狀之二氧化矽粒子。上述異形二氧化矽粒子由於其表面積與球形二氧化矽粒子相比較大，故而藉由含有此種異形二氧化矽粒子，與上述多官能(甲基)丙烯酸酯等之接觸面積增大，從而可提高上述硬塗層之硬度。硬塗層中所包含之二氧化矽粒子是否為異形二氧化矽粒子可藉由利用穿透式電子顯微鏡（TEM）或掃描穿透式電子顯微鏡（STEM）對硬塗層之剖面進行觀察來確認。
上述二氧化矽粒子之平均粒徑較佳為5 nm以上且200 nm以下。若未達5 nm，則粒子本身之製造變得困難，存在粒子彼此凝聚之情況，又，存在極難以製成異形之情況，進而，存在於上述塗佈前之油墨之階段，異形二氧化矽粒子之分散性較差而凝聚之情況。另一方面，若上述異形二氧化矽粒子之平均粒徑超過200 nm，則存在會產生於硬塗層形成較大之凹凸或霧度上升等不良情況之情況。於二氧化矽粒子為球形二氧化矽粒子之情形時，二氧化矽粒子之平均粒徑係自使用穿透式電子顯微鏡（TEM）或掃描穿透式電子顯微鏡（STEM）所拍攝之粒子之剖面之影像中測定20個粒子之粒徑，並設為20個粒子之粒徑之算術平均值。又，於二氧化矽粒子為異形二氧化矽粒子之情形時，二氧化矽粒子之平均粒徑係自使用穿透式電子顯微鏡（TEM）或掃描穿透式電子顯微鏡（STEM）所拍攝之硬塗層之剖面之影像中測定粒子之外周之2點間距離之最大值（長徑）與最小值（短徑），進行平均求出粒徑，並設為20個粒子之粒徑之算術平均值。
藉由控制上述無機粒子之大小及摻合量，可控制硬塗層21之硬度（馬氏硬度）。例如，於形成硬塗層之情形時，上述二氧化矽粒子較佳為直徑為5 nm以上且200 nm以下，且相對於上述聚合性化合物100質量份而為25～60質量份。
硬塗層21亦可進而包含紫外線吸收劑、分光穿透率調整劑、及/或防汙劑。紫外線吸收劑及分光穿透率調整劑與樹脂層12之欄中所說明之紫外線吸收劑及分光穿透率調整劑相同，因此省略說明。
（防汙劑） 防汙劑可均勻地分散於硬塗層中，但就可以較少之添加量獲得充分之防汙性並且抑制硬塗層之強度降低之觀點而言，防汙劑較佳為偏存於硬塗層之表面側。於硬塗層為單層構造之情形時，作為使防汙劑偏存於硬塗層之表面側之方法，例如可列舉：於形成硬塗層時，於使使用硬塗層用組成物而形成之塗膜乾燥並硬化之前，對塗膜進行加熱而降低塗膜中所包含之樹脂成分之黏度，藉此提高流動性而使防汙劑偏存於硬塗層之表面側之方法；及選定使用表面張力較低之防汙劑，於塗膜之乾燥時不加熱而使防汙劑懸浮於塗膜之表面，其後使塗膜硬化，藉此使上述防汙劑偏存於硬塗層之最表面側之方法等。
作為防汙劑，並無特別限定，例如可列舉聚矽氧系防汙劑、氟系防汙劑、聚矽氧系且氟系防汙劑，可分別單獨使用，亦可混合使用。又，作為防汙劑，亦可為丙烯酸系防汙劑。
作為防汙劑之含量，相對於上述樹脂成分100質量份，較佳為0.01～3.0質量份。若未達0.01質量份，則存在無法對樹脂層賦予充分之防汙性能之情況，又，若超過3.0質量份，則有硬塗層之硬度降低之虞。
防汙劑係重量平均分子量較佳為5000以下，且為了改善防汙性能之耐久性而具有較佳為1個以上、更佳為2個以上之反應性官能基之化合物。其中，藉由使用具有2個以上之反應性官能基之防汙劑，可賦予優異之耐擦傷性。
於防汙劑不具有反應性官能基之情形時，於光學膜為輥狀之情形或片材狀之情形時，重疊時防汙劑均會轉移至光學膜之背面，若欲將其他層貼附或塗佈於光學膜之背面，則存在其他層會產生剝落之情況，進而，存在因進行數次連續摺疊試驗而導致容易剝落之情形。
進而，上述具有反應性官能基之防汙劑之防汙性能之性能持續性（耐久性）變得良好，其中，包含上述氟系防汙劑之硬塗層不易附上指紋（不易顯現），且擦拭性亦良好。進而，可降低硬塗層用組成物之塗佈時之表面張力，因此調平性良好，且所形成之硬塗層之外觀良好。
包含聚矽氧系防汙劑之硬塗層之滑動性良好，且耐鋼絲絨性良好。搭載有硬塗層中包含此種聚矽氧系防汙劑之光學膜之觸控感測器由於利用手指或筆等接觸時之滑動性變得良好，故而觸感變得良好。又，於硬塗層亦不易附上指紋（不易顯現），且擦拭性亦變得良好。進而，由於可降低硬塗層用組成物之塗佈時之表面張力，因此調平性良好，且所形成之硬塗層之外觀良好。
於光學膜20中，硬塗層21設置於玻璃基材11之第2面11B側，但如圖5所示，光學膜亦可為硬塗層31設置於樹脂層12之第2面12B側之光學膜30。於光學膜30中，光學膜30之正面30A成為硬塗層31之表面31A，背面30B成為玻璃基材11之第2面11B。硬塗層31與樹脂層12鄰接。
由於光學膜30之物性等與光學膜10之物性等相同，因此，此處省略說明。又，由於硬塗層31與硬塗層21相同，因此，此處省略說明。
於光學膜30中，背面30B成為玻璃基材11之第2面11B，但如圖6所示，光學膜亦可為於玻璃基材11之第2面11B側進而具備樹脂層41之光學膜40。光學膜40之正面40A成為硬塗層31之表面31A，背面40B成為樹脂層41之表面41A。樹脂層41與玻璃基材11鄰接。
由於光學膜40之物性等與光學膜10之物性等相同，因此，此處省略說明。又，由於樹脂層41與樹脂層12相同，因此，此處省略說明。
於將光學膜30、40組裝至影像顯示裝置時，以硬塗層31位於較玻璃基材11更靠觀察者側之方式配置。因此，玻璃基材11位於較硬塗層31或樹脂層12更靠影像顯示裝置之內部。因此，即便於光學膜30、40之正面30A、40A受到衝擊之情形時，玻璃基材11亦不易破裂。
＜＜光學膜之製造方法＞＞ 光學膜10例如可以以下方式製作。首先，藉由棒式塗佈機等塗佈裝置將樹脂層用組成物塗佈於玻璃基材11之第1面11A，形成樹脂層用組成物之塗膜。
＜樹脂層用組成物＞ 樹脂層用組成物之組成亦會因構成樹脂層12之樹脂而有所不同，於樹脂層係由聚矽氧樹脂構成之情形時，作為樹脂層用組成物，可使用包含每1個分子中具有2個以上之鍵結於矽原子之烯基之有機烯基聚矽氧烷、有機氫化聚矽氧烷、及鉑族系觸媒的加成反應型聚矽氧樹脂組成物。
於形成樹脂層用組成物之塗膜後，利用各種公知之方法例如以80℃以上且300℃以下、較佳為100℃以上且250℃以下之溫度對塗膜進行加熱，使塗膜硬化而獲得樹脂層12。藉此，獲得圖1所示之光學膜10。
光學膜20可藉由在光學膜10之玻璃基材11之第2面11B上形成硬塗層21而獲得。具體而言，首先，於玻璃基材11之第2面11B塗佈硬塗層用組成物，形成硬塗層用組成物之塗膜。
＜硬塗層用組成物＞ 硬塗層用組成物包含用以形成硬塗層21之聚合性化合物。硬塗層用組成物亦可視需要包含其他紫外線吸收劑、分光穿透率調整劑、防汙劑、無機粒子、調平劑、溶劑、聚合起始劑。
（溶劑） 作為上述溶劑，可列舉：醇（例如甲醇、乙醇、丙醇、異丙醇、正丁醇、二級丁醇、三級丁醇、苄醇、PGME、乙二醇、二丙酮醇）、酮（例如丙酮、甲基乙基酮、甲基異丁基酮、環戊酮、環己酮、庚酮、二異丁基酮、二乙基酮、二丙酮醇）、酯（乙酸甲酯、乙酸乙酯、乙酸丁酯、乙酸正丙酯、乙酸異丙酯、甲酸甲酯、PGMEA）、脂肪族烴（例如己烷、環己烷）、鹵化烴（例如氯化亞甲基、氯仿、四氯化碳）、芳香族烴（例如苯、甲苯、二甲苯）、醯胺（例如二甲基甲醯胺、二甲基乙醯胺、N-甲基吡咯啶酮）、醚（例如二乙醚、二口咢烷、四氫呋喃）、醚醇（例如1-甲氧基-2-丙醇）、碳酸酯（碳酸二甲酯、碳酸二乙酯、碳酸甲乙酯）等。該等溶劑可單獨使用，亦可將2種以上併用。其中，作為上述溶劑，就可使(甲基)丙烯酸胺酯（urethane methacrylate）等成分以及其他添加劑溶解或分散而適當地塗佈上述硬塗層用組成物之方面而言，較佳為甲基異丁基酮、甲基乙基酮。
（聚合起始劑） 聚合起始劑係藉由游離輻射照射而分解，產生自由基而使聚合性化合物之聚合（交聯）起始或進行之成分。
聚合起始劑只要可藉由游離輻射照射釋放使自由基聚合起始之物質，則並無特別限定。作為聚合起始劑，並無特別限定，可使用公知者，具體例例如可列舉：苯乙酮類、二苯甲酮類、米其勒苯甲醯基苯甲酸酯、α-醯胺肟酯、9-氧硫口山口星類、丙醯苯類、二苯乙二酮類、安息香類、醯基氧化膦類。又，較佳為混合使用光敏劑，作為其具體例，例如可列舉正丁胺、三乙胺、聚正丁膦等。
於形成硬塗層用組成物之塗膜後，藉由利用各種公知之方法於例如30℃以上且120℃以下之溫度對塗膜進行10秒～120秒加熱而使其乾燥，從而使溶劑蒸發。
於使塗膜乾燥後，對塗膜照射紫外線等游離輻射，使塗膜硬化而獲得硬塗層21。藉此，獲得圖4所示之於玻璃基材11之第2面11B具備硬塗層21之光學膜20。
光學膜30可藉由在光學膜10之樹脂層12之第2面12B上形成硬塗層31而獲得。硬塗層31之形成方法除於樹脂層12之第2面12B塗佈硬塗層用組成物以外與硬塗層21之形成方法相同，因此，此處省略說明。
光學膜40可藉由在光學膜30之玻璃基材11之第2面11B上形成樹脂層41而獲得。樹脂層41之形成方法除於玻璃基材11之第2面11B塗佈樹脂層用組成物以外與樹脂層12之形成方法相同，因此，此處省略說明。
＜＜＜影像顯示裝置＞＞＞ 光學膜10、20、30、40可組入至可摺疊之影像顯示裝置中使用。圖7係本實施形態之影像顯示裝置之概略構成圖。如圖7所示，影像顯示裝置50面向觀察者側，主要依序積層有收納有電池等之殼體51、保護膜52、顯示面板53、圓偏光板54、觸控感測器55、及光學膜10。於顯示面板53與圓偏光板54之間、圓偏光板54與觸控感測器55之間、觸控感測器55與光學膜10之間配置有具有透光性之黏著層56，且該等構件係藉由黏著層56而相互固定。再者，黏著層56配置於顯示面板53與圓偏光板54之間、圓偏光板54與觸控感測器55之間、觸控感測器55與光學膜10之間，但只要黏著層之配置部位位於光學膜與顯示面板之間，則並無特別限定。又，亦可使用接著層代替黏著層。
光學膜10係以玻璃基材11位於較樹脂層12更靠觀察者側之方式配置。於影像顯示裝置50中，光學膜10之玻璃基材11之第2面11B構成影像顯示裝置50之正面50A。
於影像顯示裝置50中，顯示面板53成為包含有機發光二極體等之有機發光二極體面板。觸控感測器54配置於較圓偏光板55更靠顯示面板53側，亦可配置於圓偏光板55與光學膜10之間。又，觸控感測器54亦可為on-cell方式或in-cell方式。
作為黏著層56，例如可使用OCA（Optical Clear Adhesive），就提高耐衝擊性而防止顯示面板53損傷之觀點而言，較佳為使用由上述丙烯酸系凝膠構成之黏著層。再者，於黏著層56使用由上述丙烯酸系凝膠構成之黏著層之情形時，只要於顯示面板53與圓偏光板54之間、圓偏光板54與觸控感測器55之間、觸控感測器55與光學膜10之間之至少任一者配置上述黏著層即可。
再者，於上文中對光學膜10組入至影像顯示裝置50中之例進行了說明，光學膜20、30、40亦可組入至與影像顯示裝置50相同之影像顯示裝置中。於該情形時，光學膜20、30、40係以正面20A、30A、40A位於較背面20B、30B、40B更靠觀察者側之方式配置。
於本實施形態中，由於玻璃基材11之厚度成為30 μm以上且200 μm以下，因此薄於習知覆蓋玻璃，從而可對光學膜10、20、30、40賦予柔軟性。又，由於樹脂層12於25℃之楊氏模數成為70 MPa以上且1200 MPa以下，因此可對光學膜10、20、30、40賦予如下耐衝擊性，即便於光學膜10、20、30、40之正面10A、20A、30A、40A受到衝擊之情形時，光學膜10、20、30、40亦不易破裂，正面10A、20A、30A、40A之凹陷得到抑制，且存在於較玻璃基材11更靠影像顯示裝置之內部之構件不會受損。藉此，可提供維持柔軟性並且具有耐衝擊性之光學膜10、20、30、40。
有機發光二極體會因水分而劣化，因此通常被密封。於本實施形態中，由於使用具有柔軟性之玻璃基材11，因此，與使用聚醯亞胺等具有柔軟性之樹脂基材之情形時相比，水蒸氣穿透率較低。因此，於使用有機發光二極體面板作為顯示面板53之情形時，可進一步抑制有機發光二極體之劣化。
於上述實施形態中，將光學膜10用於影像顯示裝置，但本發明之光學膜之用途並無特別限定。例如，本發明之光學膜亦可於要求使光穿透之各種用途中使用。又，本發明之光學膜除可使用於與影像顯示裝置（包含智慧型手機、平板終端、個人電腦、可佩戴式終端、電視、數位標牌、公共資訊顯示器（PID）、車輛顯示器等）相關之製品以外，亦可使用於住宅或車輛（不僅汽車，亦包含電車或車輛建設用機械等所有車）中所使用之電器、窗或展示用顯示器。本發明之光學膜尤其可適當地使用於重視透明性之部分。又，本發明之光學膜不僅是就透明性等技術觀點而言較佳，亦可適當地使用於要求樣式性或設計性之用途。上述各影像顯示裝置之形態對可摺疊、可捲曲等需要可撓性之用途而言亦較佳。 [實施例]
為了對本發明詳細地進行說明，以下列舉實施例進行說明，但本發明並不限定於該等記載。再者，所謂下述「固形物成分100%換算值」，係將溶劑稀釋品中之固形物成分設為100%時之值。
＜樹脂層用組成物之製備＞ 首先，以成為下述所示之組成之方式摻合各成分，獲得樹脂層用組成物。 （樹脂層用組成物1） 苯基聚矽氧（產名「OE-6652A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：20質量份 苯基聚矽氧（產品名「OE-6652B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：80質量份
（樹脂層用組成物2） 苯基聚矽氧（產品名「OE-6630A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：20質量份 苯基聚矽氧（產品名「OE-6630B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：80質量份
（樹脂層用組成物3） 苯基聚矽氧（產品名「OE-6672A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：2.5質量份 苯基聚矽氧（產品名「OE-6672B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：100質量份
（樹脂層用組成物4） 苯基聚矽氧（產品名「OE-6631A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：33.3質量份 苯基聚矽氧（產品名「OE-6631B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：66.7質量份
（樹脂層用組成物5） 苯基聚矽氧（產品名「OE-6636A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：33.3質量份 苯基聚矽氧（產品名「OE-6636B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：66.7質量份
（樹脂層用組成物6） 甲基聚矽氧（產品名「OE-7810A」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：50質量份 甲基聚矽氧（產品名「OE-7810B」，Dow Corning Toray股份有限公司製造）：50質量份
＜硬塗層用組成物之製備＞ 以成為下述所示之組成之方式摻合各成分，獲得硬塗層用組成物1。
（硬塗層用組成物1） 二新戊四醇五丙烯酸酯與二新戊四醇六丙烯酸酯之混合物（產品名「M403」，東亞合成股份有限公司製造）：25質量份 二新戊四醇EO改質六丙烯酸酯（產品名「A-DPH-6E」，新中村化學工業股份有限公司製造）：25質量份 異形二氧化矽粒子（平均粒徑25 nm，日揮觸媒化成股份有限公司製造）：50質量份（固形物成分100%換算值） 光聚合起始劑（1-羥基環己基苯基酮，產品名「Irgacure（註冊商標）184」，BASF JAPAN公司製造）：4質量份 氟系調平劑（產品名「F568」，DIC股份有限公司製造）：0.2質量份（固形物成分100%換算值） 甲基異丁基酮（MIBK）：150質量份
＜實施例1＞ 首先，準備厚度50 μm之玻璃基材（產品名「Scribe Glass」，松浪硝子股份有限公司製造），利用棒式塗佈機於玻璃基材之一面塗佈樹脂層用組成物1，形成塗膜。其後，將所形成之塗膜以150℃加熱60分鐘而進行硬化，獲得膜厚100 μm之第1樹脂層。藉此，獲得於玻璃基材之一面形成有第1樹脂層之光學膜。光學膜之正面為玻璃基材之表面，光學膜之背面為樹脂層之表面。再者，玻璃基材之厚度及第1樹脂層之膜厚係使用掃描穿透式電子顯微鏡（SEM）（產品名「S-4800」，Hitachi High-Technologies股份有限公司製造）對玻璃基材之剖面及第1樹脂層之剖面進行拍攝，於該剖面之影像中分別測定玻璃基材之10個部位之膜厚及第1樹脂層之10個部位之膜厚，並分別設為該10個部位之膜厚之算術平均值。第1樹脂層之剖面照片係以以下方式拍攝。首先，製作藉由包埋樹脂將切取成1 mm×10 mm之光學膜包埋而成之塊，藉由普通之剖面切削方法對該塊製作不存在凹凸之剖面。該剖面之製作使用「超薄切片機EM UC7」（Leica Microsystems股份有限公司）等。其後，使用掃描穿透式電子顯微鏡（SEM）拍攝測定樣本之剖面照片。於拍攝該剖面照片時，將檢測器設為「SE」、將加速電壓設為「5 kV」、將發射電流設為「10 μA」來進行SEM觀察。關於倍率，調節焦距，同時觀察是否能看到各層，並以1000倍～1萬倍適當調節對比度及明亮度。再者，於拍攝剖面照片時，亦可進而將光圈設為「光束監測光圈3」，將物鏡光圈設為「3」，又，將W.D.設為「8 mm」。於實施例2～8及比較例1～6中，藉由與實施例1相同之方法測定玻璃基材之厚度及樹脂層之膜厚。再者，下述硬塗層或第2樹脂層之膜厚亦藉由與第1樹脂層之膜厚相同之方法進行測定。
＜實施例2＞ 於實施例2中，將第1樹脂層之膜厚設為200 μm，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜實施例3＞ 於實施例3中，將第1樹脂層之膜厚設為500 μm，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜實施例4＞ 於實施例4中，使用樹脂層用組成物2代替樹脂層用組成物1，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜實施例5＞ 於實施例5中，使用樹脂層用組成物3代替樹脂層用組成物1，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜實施例6＞ 於實施例6中，於實施例1之光學膜之玻璃基材中之與第1樹脂層側之面相反側之面進而形成硬塗層，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。硬塗層之形成係以以下方式進行。首先，於實施例1之光學膜之玻璃基材之另一面塗佈硬塗層用組成物1，形成塗膜。繼而，對所形成之塗膜，以70℃加熱1分鐘，藉此使塗膜中之溶劑蒸發，並使用紫外線照射裝置（Fusion UV Systems Japan公司製造，光源H燈泡），於氧氣濃度為200 ppm以下之條件下以累計光量成為200 mJ/cm2 之方式照射紫外線而使塗膜硬化。藉此，獲得依序具備第1樹脂層、玻璃基材、及膜厚5 μm之硬塗層之光學膜。實施例6之光學膜之正面為硬塗層之表面，光學膜之背面為第1樹脂層之表面。
＜實施例7＞ 於實施例7中，於實施例1之光學膜之樹脂層中之與玻璃基材側之面相反側之面進而形成膜厚5 μm之硬塗層，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。硬塗層係藉由除於實施例1之光學膜之第1樹脂層中之與玻璃基材側之面相反側之面塗佈硬塗層用組成物1以外與實施例6相同之方法形成。實施例7之光學膜之正面為硬塗層之表面，光學膜之背面為玻璃基材之表面。
＜實施例8＞ 於實施例8中，於實施例7之光學膜之玻璃基材中之與第1樹脂層側之面相反側之面進而形成膜厚100 μm之第2樹脂層，除此以外，以與實施例7相同之方式獲得光學膜。第2樹脂層係藉由除於實施例7之光學膜之玻璃基材中之與第1樹脂層側之面相反側之面塗佈樹脂層用組成物1以外與第1樹脂層相同之方法形成。實施例8之光學膜之正面為硬塗層之表面，光學膜之背面為第2樹脂層之表面。
＜比較例1＞ 於比較例1中，使用厚度300 μm之玻璃基材（產品名「D263Teco」，松浪硝子股份有限公司製造）代替厚度50 μm之玻璃基材，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜比較例2＞ 於比較例2中，使用厚度700 μm之玻璃基材（產品名「鈉玻璃」，平岡特殊玻璃製作股份有限公司製造）代替厚度50 μm之玻璃基材，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜比較例3＞ 於比較例3中，使用樹脂層用組成物4代替樹脂層用組成物1，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜比較例4＞ 於比較例4中，使用樹脂層用組成物5代替樹脂層用組成物1，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜比較例5＞ 於比較例5中，使用樹脂層用組成物6代替樹脂層用組成物1，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜比較例6＞ 於比較例6中，使用厚度50 μm之聚醯亞胺系基材（產品名「Neopulim」，三菱瓦斯化學股份有限公司製造）代替玻璃基材，除此以外，以與實施例1相同之方式獲得光學膜。
＜楊氏模數算出＞ 求出實施例及比較例之光學膜之第1樹脂層於25℃之楊氏模數。首先，測定第1樹脂層之壓痕硬度。壓痕硬度（HIT ）之測定係使用HYSITRON（海思創）公司製造之「TI950 TriboIndenter」對測定樣本進行。具體而言，首先，製作藉由包埋樹脂將切取成1 mm×10 mm之光學膜包埋而成之塊，並藉由普通的切片製作方法自該塊切出不存在孔等之均勻之厚度70 nm以上且100 nm以下的切片。切片之製作使用「超薄切片機EM UC7」（Leica Microsystems股份有限公司）等。繼而，將切出該不存在孔等之均勻之切片後所剩之剩餘塊作為測定樣本。繼而，於此種測定樣本中之藉由切出上述切片而獲得之剖面，於以下之測定條件下，歷時25秒將作為上述壓頭之三角錐（Berkovich）壓頭（三角錐，BRUKER公司製造之T1-0039）垂直壓入第1樹脂層之剖面中央直至最大壓入負載成為500 μN。此處，為了避開玻璃基材之影響及為了避開第1樹脂層之側緣之影響，三角錐壓頭壓入至自玻璃基材與樹脂層之界面向第1樹脂層的中央側偏離500 nm、自第1樹脂層之兩側端分別向第1樹脂層的中央側偏離500 nm之第1樹脂層之部分內。再者，於在第1樹脂層之與玻璃基材側之面相反側之面存在硬塗層之情形時，壓入至亦自硬塗層與第1樹脂層之界面向第1樹脂層的中央側偏離500 nm之第1樹脂層之部分內。其後，保持一定時間而進行殘留應力之緩和後，歷時25秒進行卸載，測量緩和後之最大負載，使用該最大負載Pmax （μN）與接觸投影面積Ap （nm2 ），並藉由Pmax /Ap 算出壓痕硬度（HIT ）。上述接觸投影面積係使用標準試樣之熔融石英（BRUKER公司製造之5-0098）並利用Oliver-Pharr法對壓頭前端曲率進行修正所得之接觸投影面積。再者，於測定值中包含偏離算術平均值±20%以上者之情形時，將該測定值排除在外並再次進行測定。 （測定條件） 負載速度：20 μN/秒 保持時間：5秒 負載卸載速度：20 μN/秒 測定溫度：25℃
繼而，使用對所獲得之第1樹脂層之壓痕硬度（HIT ）進行測定時求出之上述接觸投影面積Ap ，並根據上述數式（1）及數式（2）求出25℃之楊氏模數。楊氏模數係測定10個部位之壓痕硬度，每次求出楊氏模數，設為所獲得之10個部位之楊氏模數之算術平均值。
＜耐衝擊性試驗＞ 對實施例及比較例之光學膜進行耐衝擊性試驗。首先，於厚度0.7 mm之鈉玻璃之表面，以鈉玻璃側成為切取成100 mm×100 mm之大小之光學膜的背面側之方式直接放置光學膜，並將自高度30 cm之位置使重100 g、直徑30 mm之鐵球掉落至光學膜之正面之耐衝擊性試驗各進行3次。再者，於耐衝擊性試驗中，每次改變使鐵球掉落之位置。並且，於耐衝擊性試驗後之光學膜中，藉由目視評價光學膜之正面是否產生凹陷，並且評價鈉玻璃是否產生破裂。評價結果如以下所述。 （光學膜之破裂/凹陷評價） ○：於自正面及斜方向對光學膜進行觀察之兩種情形時，均未確認到光學膜之破裂及光學膜之正面之凹陷。 Δ：於自正面對光學膜進行觀察之情形時，均未觀察到光學膜之破裂及光學膜之正面之凹陷，但於自斜方向觀察之情形時，於光學膜之正面確認到凹陷。 ×：於自正面及斜方向對光學膜進行觀察之兩種情形時，均觀察到光學膜之破裂或均於光學膜之正面觀察到明顯之凹陷。 （鈉玻璃之破裂評價） ◎：鈉玻璃3次均未破裂，又，亦未產生損傷。 ○：鈉玻璃3次均未破裂，但存在產生損傷者。 Δ：鈉玻璃產生破裂1～2次。 ×：鈉玻璃3次均產生破裂。
＜連續摺疊試驗＞ 對實施例及比較例之光學膜進行摺疊試驗，並對摺疊性進行評價。具體而言，首先，對切取成30 mm×100 mm之大小之光學膜，於固定部分別將光學膜之短邊（30 mm）側固定於耐久試驗機（產品名「DLDMLH-FS」，YUASA-SYSTEM機器股份有限公司製造），並將如圖2（C）所示般以對向之2個邊部之最小間隔成為10 mm的方式進行調整而將光學膜的正面摺疊180°之連續摺疊試驗（以光學膜之正面成為內側且光學膜之背面成為外側之方式摺疊之試驗）進行10萬次，確認彎曲部是否產生破裂或斷裂。又，將以與上述相同之方式製作之實施例及比較例之新的光學膜以與上述相同之方式安裝於上述耐久試驗機，並進行10萬次將光學膜之背面摺疊180°之連續摺疊試驗（以光學膜之背面成為內側、光學膜之正面成為外側之方式摺疊之試驗），確認彎曲部是否產生破裂或斷裂。按以下之基準對連續摺疊試驗之結果進行評價。 ○：於任一連續摺疊試驗中，彎曲部均未產生破裂或斷裂。 ×：於某一連續摺疊試驗中，彎曲部產生破裂或斷裂。
＜摺疊靜置試驗＞ 對實施例及比較例之光學膜進行摺疊靜置試驗，測定使摺疊狀態開放時之孔徑角。具體而言，首先，將切取成30 mm×100 mm之大小之光學膜之短邊（30 mm）側以光學膜之對向之邊部的間隔成為10 mm的方式分別固定於平行配置之固定部，並進行以將光學膜摺疊之狀態於70℃靜置240小時之摺疊靜置試驗。繼而，於摺疊靜置試驗後自其中一邊部將固定部拆除，藉此使摺疊狀態開放，30分鐘後測定光學膜於室溫自然打開之角度即孔徑角（參照圖3（B））。再者，作為孔徑角，於以光學膜之正面成為內側之方式摺疊與以光學膜之正面成為外側之方式摺疊之兩種情形時進行摺疊靜置試驗，並採用角度較小者。再者，表1之摺疊靜置試驗之結果中之「×」意指以光學膜之對向之邊部之間隔成為10 mm之方式彎曲時產生破裂。
＜總光線穿透率測定＞ 對實施例及比較例之光學膜，使用霧度計（產品名「HM-150」，村上色彩技術研究所製造），並依據JIS K7361-1：1997測定總光線穿透率。於測定總光線穿透率時，將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜以不存在捲曲及褶皺且不存在指紋及灰塵等之狀態設定於霧度計，並自光學膜之背面（光學膜之背面）側照射光。總光線穿透率係對1片光學膜測定3次，並設為測定3次所獲得之值之算術平均值。
＜霧度值測定＞ 對實施例及比較例之光學膜，使用霧度計（產品名「HM-150」，村上色彩技術研究所製造），並依據JIS K7136：2000測定霧度值。於測定霧度值時，將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜以不存在捲曲及褶皺且不存在指紋及灰塵等之狀態設置於霧度計，並自光學膜之背面側照射光。霧度值係對1片光學膜測定3次，並設為測定3次所獲得之值之算術平均值。
＜鉛筆硬度＞ 基於JIS K5600-5-4：1999分別測定實施例及比較例之光學膜之正面之鉛筆硬度。再者，於測定鉛筆硬度時，使用鉛筆硬度試驗機（產品名「鉛筆劃痕塗膜硬度試驗機（電動式）」，東洋精機製作所股份有限公司製造），於將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜以不存在折痕或褶皺的方式利用Nichiban公司製造之Cellotape（註冊商標）固定於厚度2 mm之玻璃板上的狀態下，對鉛筆（產品名「Uni」，三菱鉛筆股份有限公司製造）施加750 g之負載，並同時使鉛筆以速度1 mm/秒移動。鉛筆硬度設為於鉛筆硬度試驗中光學膜之正面（光學膜之正面）未受損之最高硬度。再者，於測定鉛筆硬度時，使用硬度不同之多根鉛筆進行，對每根鉛筆進行5次鉛筆硬度試驗，於螢光燈下對光學膜之正面進行透視觀察時，於光學膜之正面5次中4次以上未視認到損傷之情形時，判斷於該硬度之鉛筆中光學膜之正面未受損。
＜水蒸氣穿透率測定＞ 於實施例及比較例之光學膜中，分別測定水蒸氣穿透率。水蒸氣穿透率係依據JIS K7129：2008，使用水蒸氣穿透率測定裝置（產品名「PERMATRAN-W3/31」，MOCON公司製造）於23℃、相對濕度90%之條件下測定。於測定水蒸氣穿透率時，使用切取成100 mm×100 mm之大小之光學膜，又，水蒸氣穿透率設為測定3次所獲得之值之算術平均值。
＜耐擦傷性試驗＞ 對實施例及比較例之光學膜之正面進行耐擦傷性試驗。具體而言，首先，將切取成50 mm×100 mm之大小之光學膜的背面經由膜厚50 μm之透明黏著層（折射率：1.55，產品名「PDC-SI」，Panac股份有限公司製造）貼合於大小10 cm×10 cm及厚度2 mm之丙烯酸板（產品名「COMOGLASS DFA502K」，Kuraray股份有限公司製造）。繼而，對光學膜之正面，使用#0000號之鋼絲絨（產品名「Bonstar」，日本鋼絲絨股份有限公司製造）進行同時施加500 g/cm2 之負載，並往返擦拭10次之耐擦傷性試驗，藉由目視觀察是否於光學膜之正面確認到損傷。評價結果設為如以下所述。 ○：未確認到損傷，或雖確認到若干損傷，但為實際使用上不存在問題之位準。 ×：明確確認到損傷。
以下，將結果示於表1及表2。 [表1]
Figure 107134454-A0304-0001
[表2]
Figure 107134454-A0304-0002
以下，對結果進行說明。於比較例1、2之光學膜中，由於玻璃基材之厚度在30 μm以上且200 μm以下之範圍外，因此於連續摺疊試驗中光學膜產生破裂或斷裂。又，於比較例3～6之光學膜中，由於第1樹脂層於25℃之楊氏模數在70 MPa以上且1200 MPa以下之範圍外，因此導致於耐衝擊性試驗中光學膜破裂、光學膜之正面凹陷或鈉玻璃破裂。相對於此，於實施例1～8之光學膜中，由於玻璃基材之厚度在30 μm以上且200 μm以下之範圍內，因此於連續摺疊試驗中光學膜未產生破裂或斷裂。又，於實施例1～6之光學膜中，由於第1樹脂層於25℃之楊氏模數在70 MPa以上且1200 MPa以下之範圍內，因此於耐衝擊性試驗中，光學膜未破裂或光學膜之正面未凹陷或鈉玻璃未破裂。
對實施例6～8之光學膜之硬塗層之馬氏硬度進行測定，結果硬塗層之馬氏硬度為830 MPa。馬氏硬度係使用HYSITRON（海思創）公司製造之「TI950 TriboIndenter」對測定樣本進行測定所得。具體而言，首先製作藉由包埋樹脂將切取成1 mm×10 mm之光學膜包埋而成之塊，並藉由普通的切片製作方法自該塊切出不存在孔等之均勻之厚度70 nm以上且100 nm以下的切片。切片之製作使用「超薄切片機EM UC7」（Leica Microsystems股份有限公司）。並且，將切出該不存在孔等之均勻之切片後所剩之塊設為測定樣本。繼而，於此種測定樣本中之藉由切出上述切片所獲得之剖面中，使用作為壓頭之Berkovich壓頭（三角錐，BRUKER公司製造之TI-0039），於以下之測定條件下垂直壓入至硬塗層之剖面500 nm。此處，為了避開玻璃基材之影響及為了避開硬塗層之側緣之影響，三角錐壓頭壓入至自與硬塗層鄰接之層和硬塗層之界面向硬塗層的中央側偏離500 nm、自硬塗層之兩側端分別向硬塗層的中央側偏離500 nm之硬塗層之部分內。其後，保持一定時間而進行殘留應力之緩和後進行卸載，測量緩和後之最大負載，使用該最大負載Pmax （μN）與深度500 nm之凹陷面積A（nm2 ），並藉由Pmax /A而算出。馬氏硬度設為測定10個部位所獲得之值之算術平均值。 （測定條件） 負載速度：10 nm/秒 保持時間：5秒 負載卸載速度：10 nm/秒 測定溫度：25℃
10、20、30、40‧‧‧光學膜 10A、20A、30A、40A‧‧‧正面 10B、20B、30B、40B‧‧‧背面 10C、10D‧‧‧邊部 10E‧‧‧彎曲部 11‧‧‧玻璃基材 11A‧‧‧第1面 11B‧‧‧第2面 12、41‧‧‧樹脂層 12A‧‧‧第1面 12B‧‧‧第2面 15；16‧‧‧固定部 21、31‧‧‧硬塗層 21A、31A、41A‧‧‧表面 50‧‧‧影像顯示裝置 51‧‧‧殼體 52‧‧‧保護膜 53‧‧‧顯示面板 54‧‧‧偏光板 55‧‧‧觸控感測器 56‧‧‧黏著層
圖1係實施形態之光學膜之概略構成圖。 圖2（A）～圖2（C）係示意性地表示連續摺疊試驗之情況之圖。 圖3（A）及圖3（B）係示意性地表示摺疊靜置試驗之情況之圖。 圖4係實施形態之另一光學膜之概略構成圖。 圖5係實施形態之另一光學膜之概略構成圖。 圖6係實施形態之另一光學膜之概略構成圖。 圖7係實施形態之影像顯示裝置之概略構成圖。
10‧‧‧光學膜
10A‧‧‧正面
10B‧‧‧背面
11‧‧‧玻璃基材
11A‧‧‧第1面
11B‧‧‧第2面
12‧‧‧樹脂層
12A‧‧‧第1面
12B‧‧‧第2面

Claims (7)

  1. 一種光學膜，其配置於影像顯示裝置之正面，且具備：玻璃基材，其厚度為30μm以上且200μm以下；及樹脂層，其與上述玻璃基材鄰接；上述樹脂層於25℃之楊氏模數為70MPa以上且960MPa以下；上述光學膜之總光線穿透率為90%以上；並且上述光學膜之正面或背面為上述玻璃基材之表面。
  2. 如請求項1所述之光學膜，其中，上述樹脂層之膜厚為100μm以上且500μm以下。
  3. 如請求項1所述之光學膜，其中，上述樹脂層包含聚矽氧樹脂。
  4. 如請求項1所述之光學膜，其於上述樹脂層之與上述玻璃基材相反側之面具備硬塗層。
  5. 一種光學膜，其配置於影像顯示裝置之正面，且具備：玻璃基材，其厚度為30μm以上且200μm以下；樹脂層，其與上述玻璃基材鄰接；及硬塗層；上述樹脂層於25℃之楊氏模數為70MPa以上且960MPa以下；並且上述玻璃基材、上述樹脂層、及上述硬塗層係以上述樹脂層、上述玻璃基材、及上述硬塗層之順序配置，上述硬塗層設置於上述玻璃基材之與上述樹脂層相反側之面，上述光學膜之正面為上述硬塗層之表面，且上述光學膜之背面為上述樹脂層之表面。
  6. 一種影像顯示裝置，其具備：顯示面板；及請求項1至5中任一項所述之光學膜，其配置於較上述顯示面板更靠觀察者 側。
  7. 如請求項6所述之影像顯示裝置，其中，上述顯示面板為有機發光二極體面板。
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