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TWI630382B - 可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法、以及該方法所使用之虛擬端子單元 - Google Patents

可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法、以及該方法所使用之虛擬端子單元 Download PDF

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TWI630382B
TWI630382B TW104117646A TW104117646A TWI630382B TW I630382 B TWI630382 B TW I630382B TW 104117646 A TW104117646 A TW 104117646A TW 104117646 A TW104117646 A TW 104117646A TW I630382 B TWI630382 B TW I630382B
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徐創矢
小塩智
村上奈穗
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日商日東電工股份有限公司
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Abstract

本發明的課題在於提供:不必對形成在樹脂基材上之可撓性薄膜構造的顯示單元貼合保護薄膜,即可進行激發狀態下的顯示單元之缺陷檢查的檢查方法以及在單元母板上形成有複數的顯示單元的構造中,可以高效率進行顯示單元之激發狀態檢查的方法及其用具。
可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,係含有:由樹脂基材、以及形成於該樹脂基材上之可撓性薄膜構造之具有顯示面的至少一個顯示單元構成單元母板,將至少包含單元母板的母板構造體以顯示單元之顯示面朝上的狀態沿搬運方向搬運的階段;在沿該搬運方向被搬運的母板構造體之顯示單元的顯示面形成黏著劑層的階段;對於在顯示單元之顯示面形成有黏著劑層的顯示單元供給激發電力而使該顯示單元成為激發狀態,並對於激發狀態之 該顯示單元進行缺陷檢查的階段;以及在缺陷檢查結束後之前述顯示單元的顯示面所形成的前述黏著劑層貼合光學功能薄膜的階段。此外,提供一種虛擬端子單元,係用來使單元母板上之複數的顯示單元同時成為激發狀態而進行該顯示單元的缺陷檢查所使用之激發電力施加用的虛擬端子單元,該單元母板含有複數列之將複數個顯示單元沿縱方向之列配置之顯示單元的縱列,該顯示單元構成為具備有著兩個短邊與兩個長邊之矩形形狀的顯示面,且沿著該短邊及長邊之中的一個邊形成具有電氣連接端子的端子部分。

Description

可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法、以及該方法所使用之虛擬端子單元
本發明係關於貼合有光學功能薄膜之可撓性薄膜構造的顯示單元之檢査方法及該方法所使用之虛擬端子單元。特別是,雖不是用來特別限定,但本發明係關於可形成有機EL顯示單元般的可撓性薄膜構造,貼合有光學功能薄膜之可撓性薄膜構造的顯示單元之檢査方法及該方法所使用之虛擬端子單元。
有機EL顯示單元係可形成為可撓性薄膜構造,故可以將使用該顯示單元的表示裝置形成曲面,或是將顯示裝置全體構成為可撓性而可彎曲成捲筒狀。此種顯示單元,一般係在如玻璃基板般的耐熱性基板上形成聚醯亞胺樹脂般的樹脂膜,藉由該樹脂膜作為薄膜狀顯示單元形成用的基材,並在該基材上藉由形成顯示單元而製造。如上述般所製造之顯示單元的顯示面,係透過黏著劑層貼 合有光學功能薄膜。
且,使用於智慧型手機或平板電腦尺寸的顯示裝置之尺寸比較小的顯示單元,係在一個基板上形成多數的單元而進行製造。作為記載有以工業化製造上述般之比較小的畫面尺寸之有機EL顯示單元之方法的文獻,有著韓國專利申請公開公報10-1174834號(專利文獻1)。根據該專利文獻1所記載的方法,係在玻璃基板上形成聚醯亞胺樹脂般之樹脂的膜,並將該樹脂膜作為薄膜狀顯示單元形成用的基材。然後,於該基材上形成沿縱橫之複數列配置之多數個顯示單元,並將其全面以工程薄膜所覆蓋,接著,將形成有該顯示單元的基材從玻璃基板予以剝離。之後,以貼合著工程薄膜的狀態,切分各個薄膜狀顯示單元,使沿著各個薄膜狀顯示單元的1邊形成具有電氣連接用之電氣端子的端子部分成為露出,於該端子部分所對應的位置,藉由剝離該工程薄膜,而形成各個薄膜狀顯示單元。
對於如上述般所形成的顯示單元,進行光學檢査。該光學檢査,通常係以反射光的表面缺陷檢査、以及對顯示單元施加激發電力而使該顯示單元成為激發狀態,並檢查該顯示單元的動作是否的點亮檢査的2階段來進行。後者的點亮檢査中,為了對各顯示單元施加激發電力,使用具有與該顯示單元之電氣連接端子連接之電氣連接端子的虛擬端子。
在顯示單元以激發狀態來進行缺陷檢査之 際,在該顯示單元之製造後即刻的狀態進行該檢査時,有著在顯示單元的顯示面附著異物而使顯示單元的功能劣化之虞。因此,通常係在顯示單元的前面貼合保護薄膜來進行檢査。但是,若使用保護薄膜的話,有必要在之後的步驟中剝離該保護薄膜,會增加製程數。在此,有考慮將光學功能薄膜貼合於顯示面之後進行檢査,但光學功能薄膜在貼合於顯示面的狀態下,將無法進行精密的激發狀態檢査。
此外,於單元母板上將複數個顯示單元配置成縱橫之行列狀之構造的情況,若將各個顯示單元予以個別地成為激發狀態來進行缺陷檢査的話,檢査所需的時間及勞力會增大故不佳。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]韓國專利公報10-1174834號
[專利文獻2]國際公開公報WO2009/104371A1
[專利文獻3]日本特開2007-157501號公報
[專利文獻4]日本特開2013-63892號公報
[專利文獻5]日本特開2010-132350號公報
[專利文獻6]日本特開2013-35158號公報
[專利文獻7]日本特開2014-194482號公報
[專利文獻8]日本特開2014-194484號公報
[專利文獻9]日本特許第5204200號
[專利文獻10]日本特許第5448264號
本發明為了對應上述的狀況,其課題係為了解決提供:不必對形成在樹脂基材上之可撓性薄膜構造的顯示單元貼合保護薄膜,即可進行激發狀態下的顯示單元之缺陷檢查的檢查方法。
此外,本發明的其他課題,係提供:在單元母板上形成有複數的顯示單元的構造中,可以高效率進行顯示單元之激發狀態檢查的方法。
本發明之另外的其他課題,係提供:在形成有複數的顯示單元的單元母板中,於顯示單元之激發狀態的缺陷檢査所使用的虛擬端子單元。
本發明可解決上述課題,提供可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢査方法。該方法含有以下階段:由樹脂基材、以及形成於該樹脂基材上之可撓性薄膜構造之具有顯示面的至少一個顯示單元構成單元母板,將至少包含該單元母板的母板構造體以顯示單元之顯示面朝上的狀態沿搬運方向搬運的階段;在沿該搬運方向被搬運的母板構造體之顯示單元的顯 示面形成黏著劑層的階段;對於在顯示單元之顯示面形成有黏著劑層的顯示單元供給激發電力而使該顯示單元成為激發狀態,並對於激發狀態之該顯示單元進行缺陷檢查的階段;以及在缺陷檢查結束後之顯示單元的顯示面所形成的黏著劑層貼合光學功能薄膜的階段。
在該場合中,顯示單元的顯示面,為具有兩個短邊與兩個長邊的矩形形狀,該顯示單元構成為,沿著短邊及長邊之中的一個邊形成具有電氣連接端子的端子部分,單元母板,係以該顯示單元的端子部分相對於搬運方向成為橫向的狀態沿該搬運方向被搬運較佳。
此外,其他的較佳形態中,單元母板,至少含有一個沿與搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的顯示單元之縱列,在顯示單元之激發狀態下所進行的缺陷檢查,是將虛擬端子單元重疊於該單元母板,並將該虛擬端子單元的電氣連接端子連接於顯示單元的電氣連接端子,對該虛擬端子單元供給激發電力來進行;該虛擬端子單元,是藉由與單元母板之周邊對應之形狀的外框、以及設在該外框內的柵構件,而形成與顯示單元的顯示面對應的窗,且沿著窗之各自的一個邊配置有:與顯示單元之端子部分的電氣連接端子對應的電氣連接端子。
此外,其他的較佳形態中,單元母板,含有複數列沿與搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的顯示單元之縱列,在顯示單元之激發狀態下所進行的缺陷檢 查,是將虛擬端子單元重疊於單元母板,並將該虛擬端子單元的電氣連接端子連接於顯示單元的電氣連接端子,對該虛擬端子單元供給激發電力來進行;該虛擬端子單元,是藉由與單元母板之周邊對應之形狀的外框、以及設在該外框內的橫柵及縱柵,而形成縱橫的行列狀之對應於顯示單元之顯示面的窗,且沿著該窗之各自的一個邊配置有:與顯示單元之端子部分的電氣連接端子對應的電氣連接端子。
本發明中,單元母板,可至少包含沿與搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的顯示單元,複數的顯示單元的端子部分,都是以相對於搬運方向成為橫向的狀態沿該搬運方向被搬運。光學功能薄膜可至少包含偏光片。此情況時,光學功能薄膜,係偏光片與1/4波長相位差薄膜的積層體,該積層體,係以前述1/4波長相位差薄膜面對顯示單元的方式貼合於顯示面較佳。顯示單元可為有機EL顯示單元。
本發明之另外的其他態樣中,提供有一種虛擬端子單元,係用來使單元母板上之複數的顯示單元同時成為激發狀態而進行該顯示單元的缺陷檢查所使用之激發電力施加用的虛擬端子單元,該單元母板含有複數列之將複數個顯示單元沿縱方向之列配置之顯示單元的縱列,該顯示單元構成為具備有著兩個短邊與兩個長邊之矩形形狀的顯示面,且沿著前述短邊及長邊之中的一個邊形成具有電氣連接端子的端子部分。該虛擬端子單元係包含:與單 元母板之周邊對應之形狀的外框、設在該外框內的橫柵及縱柵;藉由該橫柵及縱柵所形成之分別對應於複數之顯示單元之顯示面的窗;沿著該窗之各自的一個邊,配置在對應於顯示單元之端子部分的電氣連接端子的位置的激發電力供給用電氣連接端子;以及用來對該激發電力供給用電氣連接端子供給激發電力用的激發電力源連接部。
根據本發明的方法,在以激發狀態檢查顯示單元的情況,係在該顯示單元的顯示面形成有黏著劑層的狀態進行檢査,故可使黏著劑層作用為保護層,與使用保護薄膜的情況相比,可省略保護薄膜剝離步驟。且,由於係在於顯示面貼合光學功能薄膜之前以激發狀態進行檢査,故與貼合光學功能薄膜之後才進行檢査相比,可進行精密的檢査。
此外,本發明之虛擬端子單元,可同時使單元母板上的複數個顯示單元同時成為激發狀態,故可進行高效率的檢査。
I‧‧‧光學功能薄膜貼合位置
II‧‧‧玻璃基板剝離位置
III‧‧‧黏著劑層賦予位置
IV‧‧‧複合薄膜貼合位置
V‧‧‧光學顯示單元切斷位置
W‧‧‧橫方向的寬度
L‧‧‧縱方向的長度
B‧‧‧單元集合體母板
1‧‧‧光學顯示單元
1a‧‧‧短邊
1b‧‧‧長邊
1c‧‧‧端子部分
1d‧‧‧顯示部分
3‧‧‧玻璃基板
4‧‧‧基材
5‧‧‧表面保護薄膜
10‧‧‧吸引保持盤
20‧‧‧黏著劑層賦予機構
21‧‧‧黏著劑帶
21f‧‧‧黏著劑薄片
22‧‧‧黏著劑帶的輥
28‧‧‧切口形成機構
28a‧‧‧切口
29‧‧‧切斷刃
83‧‧‧光學功能薄膜
83a‧‧‧光學功能薄膜的輥
83b‧‧‧偏光片
83d‧‧‧1/4波長相位差薄膜
86‧‧‧黏著劑帶
90‧‧‧複合薄膜
圖1為表示本發明之一實施形態的方法中可使用之光學顯示單元之一例的俯視圖。
圖2為概略表示具有比較小型之顯示畫面的有機EL 顯示單元之製造步驟之一例的立體圖。
圖3為表示本發明的方法所適用之單元集合體母板之一例者,(a)為俯視圖、(b)為截面圖。
圖4(a)(b)(c)(d)為表示表面保護薄膜剝離動作之各階段的圖。
圖5為表示光學檢查裝置之構造的概略圖,其分別表示(a)反射檢査裝置、(b)點亮檢査裝置。
圖6為表示圖2所示之單元集合體母板之點亮檢査用之虛擬端子元件的俯視圖。
圖7為表示使用圖6所示之虛擬端子單元來進行點亮檢査之狀態的立體圖。
圖8為表示黏著劑層賦予機構之全體的概略側視圖。
圖9(a)(b)(c)(d)(e)為表示本發明之一實施形態中,單元集合體母板之黏著劑薄片之貼合順序的概略圖。
圖10為實施本發明之光學功能薄膜貼合方法用之一實施形態的光學顯示面板製造裝置的概略圖。
圖11為表示光學功能薄膜之一例的擴大截面圖。
圖12為實施本發明之光學功能薄膜貼合方法用之其他實施形態的裝置的概略圖。
圖13為表示顯示單元被配置成縱一列的實施形態之黏著劑層賦予之一例的立體圖。
圖14為表示具有大尺寸之柔軟性薄片構造之顯示單元的單元母板之一例的俯視圖。
圖15為表示對圖14所示之例之黏著劑層賦予動作的 立體圖。
於圖1表示適用本發明之一實施形態的方法之光學顯示單元1的一例。該光學顯示單元1係平面形狀具有短邊1a與長邊1b的長方形形狀,且沿著一方的短邊1a形成既定寬度的端子部分1c。於該端子部分1c,配置有電性連接用的多數個電氣端子2。光學顯示單元1之端子部分2以外的區域為顯示領域1d。該顯示區域1d,具有橫方向的寬度W與縱方向的長度L。為了實施本發明的方法,光學顯示單元1以有機EL顯示單元為佳,但只要為可撓性薄膜構造的顯示單元,即可適用本發明的方法。光學顯示單元1,係從行動電話或智慧型手機、或是平板電腦用途之較小型者,到電視用途之較大型者,可具有各種的畫面尺寸。
圖2為概略表示具有智慧型手機或平板電腦用途之比較小型之顯示畫面的有機EL顯示單元之製造步驟之一例的立體圖。該步驟中,作為耐熱性基板首先準備玻璃基板3,在該玻璃基板3上塗布既定厚度的耐熱性樹脂材料,較佳為聚醯亞胺樹脂,藉由乾燥而形成樹脂基材4。作為耐熱性樹脂材料,除了聚醯亞胺樹脂之外,可使用聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚萘二甲酸乙二酯(PEN)、聚碳酸酯(PC)等。除此之外,作為基材的材料,可使用日本特開2007-157501號公報(專利文獻3)所記載的可撓性 陶瓷片,或是如日本特開2013-63892號公報(專利文獻4)、日本特開2010-13250號公報(專利文獻5)、日本特開2013-35158號公報(專利文獻6)所記載般的可撓性玻璃。使用可撓性陶瓷片或可撓性玻璃作為基材的情況,就沒有必要使用玻璃基板3。
於該樹脂基材4上,複數的有機EL顯示單元1係藉由周知的製造方法,以配列成縱橫之行列狀的狀態而形成,樹脂基材4與顯示單元1形成單元集合體母板B。形成在樹脂基材4上的顯示單元為1個的情況時,將此稱之為單元母板。以往的方法中,在這之後係將形成在樹脂基材4上的有機EL顯示單元1予以覆蓋的方式,貼合表面保護薄膜5。有時將單元集合體母板B或單元母板接合於如玻璃基板3般之耐熱性基板的狀態稱之為母板構造體。
圖3(a)為表示未貼合表面保護薄膜5之單元集合體母板B的俯視圖,同圖(b)為圖4之b-b線的截面圖,表示以往之製造方法那般,貼合有表面保護薄膜5的單元集合體母板B被配置在玻璃基板3上的狀態。如圖3(a)所示般,於單元集合體母板B,複數個光學顯示單元1是以端子部分1a朝向橫方向的狀態,構成縱方向之列及橫方向之行的行列配置。單元集合體母板B係如圖3(a)所示般,為具有短邊B-1與長邊B-2的矩形形狀,在一方的短邊B-1的兩端附近,以印字、刻印或其他適當的方法來附上成為母板B之基準點的基準標誌m。該基準標誌 m,是在進行母板B之定位時作為基準來參照。在光學薄膜的貼合之際,單元集合體母板B是沿圖3(a)中箭頭A所示的方向,亦即沿縱方向被搬運。
具有玻璃基板3之狀態的單元集合體母板B,在經過光學顯示單元1的缺陷檢査之後,被搬運至剝離玻璃基板3的玻璃基板剝離位置。在將具有玻璃基板3之狀態的單元集合體母板B移送至該玻璃基板剝離位置之際,進行光學功能薄膜的貼合。將具有玻璃基板3之狀態的單元集合體母板B移送至光學功能薄膜貼合位置之前,進行單元集合體母板B的光學檢査。為了該光學檢査,以往係有必要從單元集合體母板B剝離表面保護薄膜5。於圖4表示剝離表面保護薄膜5的順序。
參照圖4,單元集合體母板B係在導引件15及支承機構13所支承的吸引保持盤10上藉由真空吸引力所保持,並以圖4(a)所示的位置送入表面保護薄膜剝離位置,在圖4(b)所示的位置藉由升降機構上升至既定高度。該既定高度,係單元集合體母板B的表面保護薄膜5之上表面,可與位在一對的按壓輥16c之間的黏著膠帶16d以既定的接觸壓力接觸的高度。
藉由升降機構上升至既定高度的單元集合體母板B,就這樣被送到剝離用黏著膠帶驅動裝置16的下方位置。在此,母板B之表面保護薄膜5的上表面,與位在一對的按壓輥16c之間的黏著膠帶16d的黏著面以按壓狀態接觸。黏著膠帶16d對表面保護薄膜5的接著力,比 表面保護薄膜5對光學顯示單元1的接著力還要大,因此,表面保護薄膜5會附著於黏著膠帶16d,而從配置在樹脂基材4上的光學顯示單元1被剝離。被剝離的表面保護薄膜5,係藉由卷取輥16b而與黏著膠帶16d一起被卷取。表面保護薄膜5被剝離後的母板B,係在圖(d)所示的位置藉由升降機構下降至圖4(a)的位置之送入時的高度,並被搬至光學檢査位置。
以上為以往的方法中,所必要之表面保護薄膜的剝離動作。在本發明中,不需進行該表面保護薄膜的貼合,因此,不需要表面保護薄膜的剝離,而對單元集合體母板B上的顯示單元賦予黏著劑層。為此,藉由圖2之製造步驟所製造的單元集合體母板B,係被搬至具備黏著劑層賦予機構20的黏著劑層賦予位置。圖8為表示黏著劑層賦予機構20之全體的概略側視圖。
黏著劑層賦予機構20,具備將長條的黏著劑帶21卷成輥筒狀的黏著劑帶輥22。黏著劑帶21,係藉由一對的驅動輥23而從輥22以既定的速度送出。在本實施形態中,黏著劑帶21,係構成為在膠帶基材21a之單側的面形成有黏著劑層21b。
此外,參照圖8,藉由一對的驅動輥23而從黏著劑輥22送出的黏著劑帶21,係經由導引輥24、可朝上下方向移動的浮動輥25及導引輥26及導引輥27,而送至切口形成機構28。切口形成機構28,係由切斷刃29與送出用之一對的驅動輥30所構成。該切口形成機構 28,係在切口形成位置停止驅動輥30,而停止黏著劑帶21之搬運的狀態下,使切斷刃29動作,留下膠帶基材21e而僅在黏著劑層21b形成朝其寬度方向的切口28a。該切口28a的間隔,係對應於母板B上之各顯示單元1之縱方向長度L的距離。因此,黏著劑層21b係藉由切口28a而在寬度方向被切斷,成為具有顯示單元之橫方向寬度W與縱方向長度L的黏著劑薄片21c。如此一來,於膠帶基材21a上連續地形成有複數的黏著劑薄片21c,該等黏著劑薄片21c,係被膠帶基材21a支承而送到貼合位置。
浮動輥25,為朝上方彈性地彈壓,係在連續地將黏著劑帶21沿搬運方向驅動之一對的驅動輥23、以及在切斷時停止黏著劑帶21的搬運並在切斷結束後僅進行既定距離驅動之一對的驅動輥30之間,進行膠帶搬運的調整而發揮作用的調整輥。亦即,在驅動輥30的停止期間,浮動輥25係藉由彈壓力而吸收驅動輥23的搬運份量而往上方移動,當驅動輥30的動作開始時,藉由該驅動輥30對黏著劑帶21施加的拉力,而抵抗彈壓力並朝下方移動。
藉由切口28a所形成之一連串的接著劑薄片21c,係以支承在膠帶基材21a的狀態,經過導引輥31、及導引輥32,通過與浮動輥25同樣構造的浮動輥33,並藉由導引輥34、35、36、37的導引而送至貼合位置。
於貼合位置具備有貼合輥38與載帶膜剝離機 構39。貼合輥38係配置成可在上方的退縮位置與下方的按壓位置之間移動,支承在膠帶基材21a之連續的黏著劑薄片21c之中,當前頭之黏著劑薄片21c的前端與貼合對象之顯示單元1的前端成為位置整合的狀態時,從上方位置下降至下方的按壓位置,將黏著劑薄片21c按壓至母板B上的顯示單元1,而對該顯示面賦予黏著劑層。
膠帶基材剝離機構39具備剝離刀片,該剝離刀片是用來在貼合位置將膠帶基材21a以銳角折返,並將前頭的光學薄膜薄片21c從該膠帶基材21a剝離。配置有用來接收以銳角折返之膠帶基材21a的膠帶基材卷取輥40。被從黏著劑薄片21c剝離的膠帶基材21a,係經由導引輥41及一對的卷取用驅動輥42,被搬運至卷取輥40,而被該卷取輥40卷取。
驅動輥30及切斷刃29的動作,係藉由未示於圖8的控制裝置來控制。亦即,控制裝置,係儲存關於母板B上之顯示單元1的尺寸及位置的資訊,並根據顯示單元1之縱方向長度L的資訊,使控制裝置控制驅動輥30的驅動與切斷刃29的動作,以對應顯示單元1之縱方向長度L的長度方向間隔,在黏著劑帶21形成切口28a。且,在貼合位置的上游側,設有檢測黏著劑薄片21c之前端的薄片位置檢測裝置43,將關於搬運至貼合位置之黏著劑薄片21c之前端位置的資訊提供給控制裝置。該黏著劑薄片前端位置資訊,係儲存於控制裝置,控制裝置,係根據該黏著劑薄片前端位置資訊、以及由吸引保持 盤10所取得之母板B的位置資訊,使驅動輥30與卷取用驅動輥42的動作,控制成對應吸引保持盤10的動作,使被從膠帶基材21a剝離之黏著劑薄片21c的前端,與貼合位置之母板B上進行貼合之顯示單元1的前端調節成位置整合。當位置整合達成時,黏著劑薄片21c與母板B係以同步的速度被搬運。貼合輥38下降至下方的按壓位置,將黏著劑薄片21f按壓至顯示單元1的顯示面。如上述般,進行黏著劑層對顯示單元1的賦予。
圖9為表示將黏著劑薄片21c依序貼合於母板B上之配列成縱橫行列狀的顯示單元1之順序之一例的概略圖。該圖示例中,貼合機構20係被固定在相對於搬運方向的橫方向位置,保持母板B的吸引保持盤10,係安裝成可於支承機構13上朝橫方向移動。如圖9(a)所示般,母板B的位置,最初是控制成使左端之顯示單元列之前頭的顯示單元1定位在貼合位置。在該狀態下,如關於圖8之上述般,使黏著劑薄片21c貼合於左端列前頭之顯示單元1的顯示部1d。
接著,將吸引保持盤10朝橫方向動作,藉此使母板B相對於搬運方向朝左橫方向,以相當於顯示單元列之橫方向間隔的距離進行位移。藉由該橫位移,如圖9(b)所示般,使從左算起第2列之前頭的顯示單元1定位於貼合位置。然後,藉由與前述同樣的動作,於該顯示單元1的顯示部1d貼合黏著劑薄片21f。之後,藉由同樣的操作使母板B朝左橫方向位移,進行黏著劑薄片21c的貼 合。當顯示單元1為配置成3列之圖示例的情況時,這樣就完成黏著劑薄片21c對前頭之顯示單元的貼合。將該狀態示於圖9(c)。
接著,以相當於各縱列之顯示單元1之間隔的距離,使吸引保持盤10往搬運方向驅動,使從右端之列的前頭算起第2個顯示單元1定位於貼合位置,同樣地如圖9(d)所示般,於該單元1的顯示部1d貼合黏著劑薄片21f。之後,如圖9(e)所示般,使母板B沿搬運方向被驅動,藉由同樣的操作,進行黏著劑薄片21c的貼合。
如上述般使黏著劑薄片21c賦予至顯示單元1的顯示面之單元集合體母板B,係被搬運至檢査位置。本發明之一實施形態中,光學檢査,係以圖5(a)所示之表面反射檢査與圖5(b)所示之顯示單元的點亮檢査的2階段來進行。如圖5(a)所示般,作為表面反射檢査的檢査裝置,具備有光源70與受光器71,單元集合體母板B係以被吸引保持盤10支承的狀態,移動至反射檢査裝置的下方。在該位置,來自光源70的光會到達被檢體亦即光學顯示單元1的表面,且在光學顯示單元1的表面反射而射入受光器71,藉此檢測出該光學顯示單元1的表面缺陷。
圖5(b)為表示激發顯示單元1之點亮檢査的概要者,將用來檢測光學顯示單元1之發光狀態的檢測器72以複數個並排成一列。由圖2所示的步驟所製造之單元集合體母板B,係具有將複數個光學顯示單元1配列成縱橫之行列狀的構造,故該實施形態中,為了使單元集合 體母板B內之所有的光學顯示單元1同時被激發,而使用圖6(a)(b)所示的虛擬端子單元75。
參照圖6(a),虛擬端子單元75係具備:與單元集合體母板B之矩形形狀對應的矩形形狀之外框75a、複數個橫柵75b、及複數個縱柵75c,於外框75a內,形成有對應單元集合體母板B內之光學顯示單元1的配列而縱橫配列之矩形形狀的窗75d。沿著各個窗75d的一個短邊,在對應於各光學顯示單元1之端子部分1c之端子2的位置,配置有連接用端子76。且,於虛擬端子單元75,設有用來對單元集合體母板B內之各光學顯示單元1的端子2供給激發電力的電力供給端子77a、77b。
圖6(b)為顯示該虛擬端子單元75的裏面者,於該虛擬端子單元75的裏面,設有:用來將連接用端子76之中的正極側端子連接至正極側電力供給端子77a的連接線78a、以及用來將連接用端子76之中的負極側端子連接至負極側電力供給端子77b的連接線78b。正極側電力供給端子77a與負極側電力供給端子77b,係分別連接於電力供給源79的正極側端子79a與負極側端子79b。
圖7表示使用圖6所示之虛擬端子單元75的狀態。虛擬端子單元75,係外框75a重疊於單元集合體母板B的周緣部而放在該單元集合體母板B上。在該狀態下,虛擬端子單元75的窗75d,係分別與單元集合體母板B內的光學顯示單元1重疊。在此,對虛擬端子單元 75供給激發電力時,單元集合體母板B的光學顯示單元1的全部,會同時成為激發狀態。此時,藉由檢測器72將各單元1的動作狀態針對各發光色進行檢査。藉由使用該虛擬端子單元75,可使具有複數之光學顯示單元之母板中全部的單元一起成為激發狀態來進行檢査。
圖10為光學功能薄膜貼合用之本發明的一實施形態的光學顯示面板製造裝置80的概略圖。藉由上述的步驟,對所有的顯示單元1完成光學檢查時,單元集合體母板B係以保持在吸引保持盤10上的狀態被搬往圖10所示的光學顯示面板製造裝置80。
該裝置80具備:帶送出輥81、複數個導引輥84a、84b、84c、84d、84e。於帶送出輥81,安裝有帶狀的光學功能薄膜83的輥83a。光學功能薄膜83,係如圖11所示般,係由:在偏光片83b的兩側貼合有TAC薄膜般的保護薄膜83c之長條網狀的偏光薄膜、以及透過黏著劑層83e接合於該偏光薄膜的長條網狀之1/4波長(λ)相位差薄膜83d所成的積層構造。偏光片83b與相位差薄膜83e,係配置成使該偏光片83b的吸收軸與相位差薄膜83e的慢軸或快軸以45°±5°之範圍的角度交叉。該光學功能薄膜83,為長條的連續網形狀,但其寬度為具有可覆蓋複數列配置在母板B上之顯示單元全體的上表面。其他的態樣中,光學功能薄膜83可在圖11所示的構造中,於偏光薄膜與1/4波長相位差薄膜83d之間介隔1/2相位差薄膜。此情況的1/2相位差薄膜的慢軸或快軸,係配置成相 對於該偏光片83b的吸收軸以15°±5°之範圍的角度交差,1/2相位差薄膜的慢軸或快軸與1/4波長相位差薄膜83d的慢軸或快軸,係配置成以60°±5°之範圍的角度交差。
作為代替方案,使各個光學功能薄膜構成為具有對應於複數列配置在母板B上之顯示單元1之各個橫方向寬度W的寬度,並將該光學功能薄膜83的輥83a以相當於母板B上之顯示單元1之縱方向之列的數量,沿橫方向並列配置,而可對各自之列之顯示單元1的顯示面同時貼合光學功能薄膜83。
本實施形態的情況係構成為:偏光片83b的吸收軸,與該偏光片83b的長度方向平行,且相位差薄膜83d的慢軸,係相對於該相位差薄膜83d的長度方向朝向以45°±5°之範圍的角度傾斜的方向。為此,在相位差薄膜83d的製造階段,有必要使該薄膜斜向延伸。關於該斜向延伸,於日本特願2013-070787號(專利文獻7)、日本特願2013-070789號(專利文獻8)有著詳細的記載,可使用藉由該等之文獻所記載的方法來延伸的相位差薄膜。且,作為相位差薄膜83d,可使用相位差對應於波長在越短波長側越小之具有逆分散特性的薄膜。具有逆分散特性的相位差薄膜,在日本特許第5204200號(專利文獻9)、日本特許第5448264號(專利文獻10)等有所記載,本實施形態的方法中,可使用該等專利申請所記載之逆分散特性的相位差薄膜。
光學功能薄膜83,係由輥83a所送出,以黏 著劑層83c朝向下方的方式,沿著導引輥84b、84c、84d、84e之下側的行進路徑通往水平方向。在光學顯示單元1的顯示面貼合有黏著劑薄片21c的單元集合體母板B,係與接合於該母板B的玻璃基板3,一起以被保持在吸引保持盤10上的狀態,被搬運至朝水平方向延伸之載帶83的下方位置。
圖10所示之光學顯示單元製造裝置80,具有:光學功能薄膜貼合位置I、玻璃基板剝離位置II、黏著劑層賦予位置III、複合薄膜貼合位置IV、以及光學顯示單元切斷位置V。於光學顯示單元1的顯示面貼合有黏著劑薄片21c的單元集合體母板B、以及玻璃基板3,係在到達光學功能薄膜貼合位置I之前,使用設在吸引保持盤10之支承機構13的高度調節機構來調節高度。所調節之高度,係指在單元集合體母板B上之光學顯示單元1所貼合的黏著劑薄片21c,以既定的接觸壓力接觸光學功能薄膜83之相位差薄膜83d的高度。高度調節後之吸引保持盤10上的單元集合體母板B及玻璃基板3,在圖10中被送至從左算起第2個導引輥84b之下。在此,由輥83a所送出的光學功能薄膜83,該相位差薄膜83d會藉由導引輥84b而被按壓在單元集合體母板B上的黏著劑薄片21f。如此一來,光學功能薄膜83會接合於單元集合體母板B。
在該過程中,光學功能薄膜83係沿著圖10中箭頭A所示的搬運方向,以與吸引保持盤10同步的速 度被驅動。單元集合體母板B在通過光學功能薄膜貼合位置I的期間,於單元集合體母板B上之所有的顯示單元的黏著劑薄片21c貼合光學功能薄膜83。單元集合體母板B在通過光學功能薄膜貼合位置I之後,解除吸引保持盤10的真空吸引力,使單元集合體母板B與玻璃基板3,係僅藉由光學功能薄膜83而成為被支承的狀態。
光學功能薄膜83所支承的單元集合體母板B與玻璃基板,接著是被搬運至玻璃基板剝離位置II。在該位置II,使玻璃基板3藉由雷射照射等公知的方法而從樹脂基材4被剝離。藉由雷射照射將玻璃基板從樹脂基材剝離的技術,例如記載於國際公開公報WO2009/104371號(專利文獻2)。剝離玻璃基板3之後的單元集合體母板B,係被搬往黏著劑層賦予位置III。
於黏著劑層賦予位置III,在位於光學功能薄膜83上側之導引輥84c、84d的下側,配置有與導引輥84c、84d相對向,且將光學功能薄膜83與藉由該光學功能薄膜83所支承的單元集合體母板B予以夾持的輥85a、85b。此外,於黏著劑層賦予位置III,設有黏著劑帶送出輥87,在該送出輥87上,支承有黏著劑帶86的輥86a。黏著劑帶86係由黏著劑層86b、貼合於該黏著劑層86b之一側的第1剝離墊片86c、以及貼合於該黏著劑層86b之另一側的第2剝離墊片86d所構成。由輥86a所送出的黏著劑帶86,係經過導引輥88,被搬運至輥85a與載帶83所支承的單元集合體母板B之間。
在該過程中,黏著劑帶86係從輥86a被送出之後,在到達導引輥88之前,剝離第1剝離墊片86c,成為黏著劑層86b露出的狀態。被剝離的第1剝離墊片86c係藉由卷取輥89a來卷取。接著,黏著劑帶86係被搬往輥84c與輥85a之間,使露出的黏著劑層86b接觸至載帶83所支承之單元集合體母板B之下表面的樹脂基材4。黏著劑層86b,係藉由輥84c、85a被按壓至單元集合體母板B之下表面的樹脂基材4而接合於該單元集合體母板B。在該狀態下,單元集合體母板B與黏著劑帶86係被搬往輥84d與輥85b之間,在此,第2剝離墊片86d會從黏著劑層86b被剝離。被剝離的第2剝離墊片86d,係藉由卷取輥89b來卷取。
於下表面賦予有黏著劑層86b的單元集合體母板B,係被光學功能薄膜83支承而搬往複合薄膜貼合位置IV。在該位置IV,配置有複合薄膜90的輥90a,由該輥90a所送出的複合薄膜90,係藉由導引輥84e之下側所配置的導引輥91,按壓至到達導引輥84e之下方位置之單元集合體母板B之下表面所被賦予的黏著劑層86b。如此一來,複合薄膜會貼合於單元集合體母板B。之後,單元集合體母板B,係成為藉由貼合於上表面的光學功能薄膜83、以及貼合於下表面的複合薄膜90所支承。為了將由光學功能薄膜83與複合薄膜90與單元集合體母板B所構成的積層體沿搬運方向驅動,可設置一對的驅動輥91a、91b。本發明之此實施形態中,複合薄膜90,係構 成作為由遮光薄膜的層與具有耐衝撃性及散熱性之薄膜的層所成的積層體。但是,本發明的其他實施形態中,亦可改變該複合薄膜,使用一般的裏面保護薄膜。
於上表面貼合有光學功能薄膜83,且於下表面貼合有複合薄膜90的單元集合體母板B,係被搬往光學顯示單元切斷位置V。在該切斷位置V,具備有承受複合薄膜90的合成樹脂製之支承傳送帶92以及切斷刃93,將單元集合體母板B予以切斷而切離成為各自的光學顯示單元1。此情況中,單元集合體母板B之上表面所貼合的光學功能薄膜83,係配合各自顯示單元1的顯示面1d的尺寸而被切斷。上述切斷所用的機構及動作為周知者,在此省略詳細的說明。
圖12為表示光學功能薄膜貼合用之其他實施形態的裝置。該裝置與圖10所示的裝置80相比之下,其基本的構造及動作為相同,故對應的部分以相同的符號表示,並省略詳細的說明。圖12所示之裝置與圖10所示之裝置80的相異之處,係使通過輥84c與輥85a之間而於下表面賦予有黏著劑層86b的單元集合體母板B,其光學功能薄膜83與第2剝離墊片86d,一起以積層體的形態被輥100卷取。輥100所卷取的積層體,可在其他步驟中由輥100所送出,並在複合薄膜貼合位置IV及光學顯示單元切斷位置V進行處理。
本發明的方法,亦可適用於母板B上配置成縱1列的顯示單元1。將該一例示於圖13。在該情況時, 顯示單元1係端子部分1c相對於列的朝向成為橫向地被配置在母板B上。黏著劑層對顯示單元1之顯示面1的賦予,係藉由與關於圖8所說明的動作相同的動作,可從列的前頭依序將事先切斷的黏著劑薄片21c貼合於顯示單元1的顯示部1d來進行。
本發明的方法,亦可適用於比較大尺寸之柔軟性薄片構造的顯示單元。該例子示於圖14及圖15。顯示單元為有機EL單元的情況時,可使單元本身成為厚度薄的柔軟性薄片構造。參考圖14,柔軟性薄片構造的光學顯示單元101,為具有短邊101a與長邊101b的矩形形狀,且具有位於沿著短邊101a的端子部分101c、以及具有縱方向的長度L與橫方向的寬度W的顯示部101d。該顯示單元101,係在製造階段,形成在由聚醯亞胺般的耐熱樹脂材料所構成的基材102上。製造步驟,係與圖3中說明的步驟相同,在玻璃基板3上使樹脂基材102形成薄膜狀,在其上形成有例如有機EL顯示單元般的光學顯示單元101。與圖3之情況的相異處,係本實施形態中,在基材102上形成有一個顯示單元。關聯於圖3所述之步驟中亦同樣地,在基材102上形成光學顯示單元101之後,在該顯示單元101的顯示面101d貼合黏著劑薄片21c。本實施形態中,亦可為此而採用與圖8所示之黏著劑層賦予機構20相同的機構。此情況時,從帶狀的黏著劑輥22所送出的光學薄膜21,具有與圖16所示之顯示單元101之寬度W對應的寬度。圖15概略地表示貼合部的構造。 貼合部的作用,係與圖8中之前述者為相同,並將對應的部分以相同的符號表示。
以上,將本發明以特定的實施形態予以圖示並說明,但本發明並不限定於圖示的實施形態,本發明的範圍係僅藉由申請專利範圍的請求項所限定。

Claims (10)

  1. 一種可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其特徵在於,含有以下階段:由樹脂基材、以及形成於該樹脂基材上之可撓性薄膜構造之具有顯示面的至少一個顯示單元構成為單元母板的母板構造體以前述顯示單元之前述顯示面朝上的狀態沿搬運方向搬運的階段;在沿該搬運方向被搬運的前述母板構造體之前述顯示單元的前述顯示面形成黏著劑層的階段;對於在前述顯示單元之前述顯示面形成有黏著劑層的前述顯示單元供給激發電力而使該顯示單元成為激發狀態,並對於激發狀態之該顯示單元進行缺陷檢查的階段;以及於在缺陷檢查結束後之前述顯示單元的顯示面所形成的前述黏著劑層貼合光學功能薄膜的階段。
  2. 如請求項1所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述顯示單元的前述顯示面,為具有兩個短邊與兩個長邊的矩形形狀,前述顯示單元構成為,沿著前述短邊及長邊之中的一個邊形成具有電氣連接端子的端子部分,前述單元母板,係以前述顯示單元的前述端子部分相對於前述搬運方向成為橫向的狀態沿該搬運方向被搬運。
  3. 如請求項2所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述單元母板,至少含有一個沿與 前述搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的前述顯示單元之縱列,在前述顯示單元之激發狀態下所進行的前述缺陷檢查,是藉由將虛擬端子單元重疊於前述單元母板,並將該虛擬端子單元的電氣連接端子連接於前述顯示單元的電氣連接端子,對前述虛擬端子單元供給激發電力來進行;該虛擬端子單元,是藉由與前述單元母板之周邊對應之形狀的外框、以及設在該外框內的柵構件,而形成與前述顯示單元的前述顯示面對應的窗,且沿著前述窗之各自的一個邊配置有:與前述顯示單元之前述端子部分的電氣連接端子對應的前述電氣連接端子。
  4. 如請求項2所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述單元母板,含有複數列沿與前述搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的前述顯示單元之縱列,在前述顯示單元之激發狀態下所進行的前述缺陷檢查,是藉由將虛擬端子單元重疊於前述單元母板,並將該虛擬端子單元的電氣連接端子連接於前述顯示單元的電氣連接端子,對前述虛擬端子單元供給激發電力來進行;該虛擬端子單元,是藉由與前述單元母板之周邊對應之形狀的外框、以及設在該外框內的橫柵及縱柵,而形成縱橫的行列狀之對應於前述顯示單元之前述顯示面的窗,且沿著前述窗之各自的一個邊配置有:與前述顯示單元之前述端子部分的電氣連接端子對應的前述電氣連接端子。
  5. 如請求項2~4中任一項所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述單元母板,至少包 含沿與前述搬運方向平行的縱方向之列配置之複數的顯示單元,前述複數的顯示單元的前述端子部分,都是以相對於前述搬運方向成為橫向的狀態沿該搬運方向被搬運。
  6. 如請求項1~4中任一項所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述光學功能薄膜至少包含偏光片。
  7. 如請求項6所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述光學功能薄膜,係偏光片與1/4波長相位差薄膜的積層體,該積層體,係以前述1/4波長相位差薄膜面對前述顯示單元的方式貼合於前述顯示面。
  8. 如請求項6所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述光學功能薄膜,係依序積層偏光片、1/2波長相位差薄膜、1/4波長相位差薄膜的積層體所成的抗反射薄膜,該積層體,係以前述1/4波長相位差薄膜面對前述顯示單元的方式貼合於前述顯示面。
  9. 如請求項1~4中任一項所述之可撓性薄膜構造的顯示單元之光學檢查方法,其中,前述顯示單元為有機EL顯示單元。
  10. 一種虛擬端子單元,係用來使單元母板上之複數的顯示單元同時成為激發狀態而進行顯示單元的缺陷檢查所使用之激發電力施加用的虛擬端子單元,該單元母板含有複數列之將複數個顯示單元沿縱方向之列配置之顯示單元的縱列,該顯示單元構成為具備有著兩個短邊與兩個長 邊之矩形形狀的顯示面,且沿著前述短邊及長邊之中的一個邊形成具有電氣連接端子的端子部分,該虛擬端子單元係包含:與前述單元母板之周邊對應之形狀的外框、設在該外框內的橫柵及縱柵;藉由該橫柵及縱柵所形成之分別對應於前述複數之顯示單元之前述顯示面的窗;沿著前述窗之各自的一個邊,配置在對應於前述顯示單元之前述端子部分的電氣連接端子的位置的激發電力供給用電氣連接端子;以及用來對前述激發電力供給用電氣連接端子供給激發電力的激發電力源連接部。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200036360A (ko) * 2018-09-28 2020-04-07 주식회사 엘지화학 광학필름의 절단위치 결정방법
CN110006922B (zh) * 2019-04-28 2024-09-20 广东利元亨智能装备股份有限公司 柔性线路板检测装置
CN114113138B (zh) * 2021-11-22 2024-10-29 合肥维信诺科技有限公司 产品在籍检测装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005526296A (ja) * 2002-05-17 2005-09-02 ヴィズテック,インコーポレーティッド 電気光学表示装置の可撓性を高める複合構造
JP2007157501A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Kanazawa Inst Of Technology El素子

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS524200B2 (zh) 1973-08-16 1977-02-02
KR100758809B1 (ko) * 2000-12-30 2007-09-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사장치
TW569268B (en) * 2001-09-07 2004-01-01 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Display device and manufacturing method for the display device
JP2004325890A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Nitto Denko Corp 光学機能層、その評価方法、光学素子および画像表示装置
JP2005233788A (ja) * 2004-02-19 2005-09-02 Sony Corp 検査装置および検査方法
KR100627371B1 (ko) * 2005-04-01 2006-09-22 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널
KR20060109194A (ko) * 2005-04-15 2006-10-19 삼성전자주식회사 액정표시패널의 검사방법
CN1758062A (zh) * 2005-11-16 2006-04-12 友达光电股份有限公司 检测装置
CN101145489A (zh) * 2006-11-24 2008-03-19 乐金电子(南京)等离子有限公司 等离子显示板
JP2008216810A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Uinzu:Kk 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法
JP4404109B2 (ja) * 2007-07-03 2010-01-27 ソニー株式会社 表示装置の製造方法
JP2009093848A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Nikon Corp エレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査方法及び欠陥検出装置
CN101174834B (zh) 2007-10-23 2012-01-04 无锡汉柏信息技术有限公司 压控振荡器基于同步补偿的增益线性化方法
WO2009104371A1 (ja) 2008-02-20 2009-08-27 シャープ株式会社 フレキシブル半導体基板の製造方法
JP5532507B2 (ja) 2008-10-01 2014-06-25 日本電気硝子株式会社 ガラスロール及びガラスロールの処理方法
JP2010169552A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Seiko Epson Corp 点灯検査装置および点灯検査方法
JP5433309B2 (ja) * 2009-06-03 2014-03-05 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP5448264B2 (ja) 2009-11-19 2014-03-19 三菱化学株式会社 ポリカーボネート樹脂フィルム並びに透明フィルム
JP2011232276A (ja) * 2010-04-30 2011-11-17 Seiko Epson Corp 発光パネルの検査装置、発光パネルの検査方法。
JP5737625B2 (ja) 2011-08-04 2015-06-17 大日本印刷株式会社 ガラスフィルム積層体、ガラスフィルム積層体ロール、カラーフィルタ用画素付ガラスフィルム積層体およびガラスフィルム積層体の製造方法
JP6016064B2 (ja) 2011-09-02 2016-10-26 日本電気硝子株式会社 高屈折率ガラス
JP2014194482A (ja) 2013-03-29 2014-10-09 Nitto Denko Corp 位相差フィルムの製造方法および円偏光板の製造方法
JP5755675B2 (ja) 2013-03-29 2015-07-29 日東電工株式会社 位相差フィルムの製造方法および円偏光板の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005526296A (ja) * 2002-05-17 2005-09-02 ヴィズテック,インコーポレーティッド 電気光学表示装置の可撓性を高める複合構造
JP2007157501A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Kanazawa Inst Of Technology El素子

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