TWI692282B - 具架置調整機構之電子元件作業設備 - Google Patents

Abstract

一種具架置調整機構之電子元件作業設備，其係於機台裝配該架置調整機構，該架置調整機構之承架係以承置部件承置至少一待架置物，並與機台間設有滑移結構，該滑移結構係於承架之第一端設有第一滑移部件，以及於機台設有可供第一滑移部件滑置之第一承滑部件，另於承架與機台間設有定位結構，該定位結構係以至少一定位部件將承架定位於機台；藉此，該架置調整機構之承架可位移作動裝配於不同位置，以利迅速變換待架置物之裝配位置，達到提升換位作業便利性之實用效益。

Description

具架置調整機構之電子元件作業設備

本發明係提供一種利用可調整位移之承架承置待架置物，以利迅速變換待架置物之裝配位置，進而提升換位作業便利性之架置調整機構。

在現今，電子元件作業設備係依作業需求而於機台上配置複數個不同作業裝置，例如供料裝置、收料裝置或測試裝置等，以執行供料作業、收料作業或測試作業等不同預設作業；請參閱第1、2、3圖，係為電子元件測試設備之示意圖，其係於機台11頂面之前段部配置有供料裝置12及收料裝置13，並於機台11頂面之後段部配置複數個測試裝置14，另於機台11之頂面配置有可於供料裝置12、收料裝置13及測試裝置14間移載電子元件之輸送裝置15，其中，該供料裝置12係設有一鎖固於機台11底面之供料殼體121，以承載供料驅動源122及供料托架123，並以供料托架123承置具待測電子元件之供料盤124，該收料裝置13係設有一鎖固於機台11底面之收料殼體131，以承載收料驅動源132及收料托架133，並以收料托架133承置具已測電子元件之收料盤134，複數個測試裝置14係分別設有一鎖固於機台11之測試器，該測試器係設有電性連接之電路板141及測試座142，並以測試座142承置及測試電子元件，另於機台11之頂面鎖固有機架143，該機架143係裝配一壓接器144，以壓接測試座142內之電子元件，該輸送裝置15係以第一輸送器151將供料裝置12之待測電子元件移載至第二輸送器152，第二輸送器152載送待測電子元件至機台11之後段部，第三 輸送器153將待測電子元件移載至測試裝置14而執行測試作業，以及將測試裝置14之已測電子元件移載至第二輸送器152，第二輸送器152載送已測電子元件至機台11之前段部，第一輸送器151將第二輸送器152上之已測電子元件移載至收料裝置13處收料；惟，此一測試設備於使用上具有如下待改善之處：

1．以機台11裝配測試裝置14為例，該機台11係於頂面預設裝配測試裝置14之位置開設螺孔，方可供測試裝置14之機架143以栓具螺合鎖固，換言之，該測試裝置14僅可鎖固於機台11之預設裝配位置，若欲變換測試裝置14之裝配位置，除了必須將測試裝置14的機架143及測試座142拆卸，又必須於機台11上重新開設螺孔，方可於機台11之不同位置鎖固裝配測試裝置14，以致在更動測試裝置14之裝配位置作業上相當繁瑣耗時不便。

2．當測試設備欲增設測試裝置14或外觀檢查裝置時，即必須於機台11上開設新的螺孔，方可於機台11增設鎖固新的測試裝置14或外觀檢查裝置，以致在新增裝置作業上相當繁瑣耗時不便。

3．由於測試裝置14之機架143及測試座142係分別以複數個鎖固用之栓具鎖固於機台11上，欲維修測試裝置14時，即必須將機架143及測試座142之複數個栓具逐一拆卸，方可取下測試裝置14進行修護，於完成修護作業，又須將機架143及測試座142之複數個栓具逐一鎖固於機台11，以致修護作業上相當繁瑣耗時不便。

4．由於供料裝置12、收料裝置13及複數個測試裝置14均以栓具直接鎖固於機台11之頂面，導致機台11必須具有較大面積供裝配供料裝置12、收料裝置13及複數個測試裝置14，以致相當增加測試設備之成本。

本發明之目的一，係提供一種具架置調整機構之電子元件作業設備，其係於機台裝配該架置調整機構，該架置調整機構之承架係以承置部件承置至少一待架置物，並與機台間設有滑移結構，該滑移結構係於承架之第一端設有第一滑移部件，以及於機台設有可供第一滑移部件滑置之第一承滑部件，另於承架與機台間設有定位結構，該定位結構係以至少一定位部件將承架定位於機台；藉此，該架置調整機構之承架可位移作動裝配於不同位置，以利迅速變換待架置物之裝配位置，達到提升換位作業便利性之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該架置調整機構之承架可利用滑移結構而於機台之側方作調整位移，當作業設備欲新增或更換待架置物時，可直接拆卸承架上之原待架置物，而更換裝配新的待架置物，亦或於滑移結構之第一承滑部件滑置新的承架，以裝配新的待架置物，使得作業設備可迅速新增或更換待架置物，達到提升使用便利性之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該架置調整機構之承架可架置於機台之周側面，並以承置部件承置待架置物，而可縮減機台之面積，達到節省設備成本之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種具架置調整機構之電子元件作業設備，其包含機台、架置調整機構、輸送裝置及中央控制裝置，該架置調整機構係設有至少一承置待架置物之承架，該承架並以滑移結構滑置裝配於機台，該輸送裝置係設有至少一移料器，以移載待架置物之電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

11:機台

12:供料裝置

121:供料殼體

122:供料驅動源

123:供料托架

124:供料盤

13:收料裝置

131:收料殼體

132:收料驅動源

133:收料托架

134:收料盤

14:測試裝置

141:電路板

142:測試座

143:機架

144:壓接器

15:輸送裝置

151:第一輸送器

152:第二輸送器

153:第三輸送器

〔本發明〕

20:機台

21:裝配部

22:第一承滑部件

23:第二承滑部件

30:架置調整機構

31、31A、31B、31C、31D、31E:承架

311:承置部件

312、312A:第一滑移部件

313、313A:翼片

314、314A:栓具

315、315A:第二滑移部件

32:固接件

40、40A:測試裝置

41:基板

42:電路板

43:測試座

44:壓接器

50:外觀檢查裝置

51:基板

52:承置座

53:取像器

60:輸送裝置

61:移料器

611:拾取件

62:移動台

63:旋轉座

70:供料裝置

71:供料承置器

80:收料裝置

81:收料承置器

第1圖：習知電子元件測試設備之配置示意圖。

第2圖：習知供料裝置及收料裝置之裝配示意圖。

第3圖：習知測試裝置之裝配示意圖。

第4圖：本發明作業設備之架置調整機構的前視圖。

第5圖：本發明作業設備之架置調整機構的側視圖。

第6圖：本發明作業設備之使用示意圖(一)。

第7圖：本發明作業設備之使用示意圖(二)。

第8圖：本發明作業設備之使用示意圖(三)。

第9圖：本發明作業設備之使用示意圖(四)。

第10圖：本發明作業設備之使用示意圖(五)。

第11圖：本發明作業設備之使用示意圖(六)。

第12圖：本發明作業設備之各裝置配置示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第4、5圖，本發明電子元件作業設備包含機台20及架置調整機構30，該機台20係設有至少一裝配部21，該裝配部21可為機台20之側面或頂面，於本實施例中，係以機台20之側面作為裝配部21；該架置調整機構30係設有至少一具承置部件311之承架31，並以承置部件311承置待架置物，更進一步，承架31係以至少一面(如頂面)或架板作為承置部件311，於本實施例中，承架31係以頂面作為承置部件311，又該承架31係於承置部件311設有至少一固接件32，以定位待架置物，更進一步，該固接件32可為插銷或栓具或卡扣具等，於本實施例中，該承架31係於承置部件311開設複數個螺孔，以供複數個為栓具之固接件32將待架置物螺合鎖固於承架31，然承架31及固接件32之型態係依據待架置物之需求而有不同，並不以本發明所揭露之態樣為限；該架置調整機構30另於承架31與機台20間設有滑移結構， 該滑移結構係於承架31之第一端設有至少一第一滑移部件312，以及於機台20設有至少一可供第一滑移部件312滑置之第一承滑部件22，更進一步，該第一滑移部件312可為滑座或滑動片，並可成型於承架31或為獨立元件，該第一承滑部件22可為滑軌或滑槽，並可成型於機台20或為獨立元件，然第一滑移部件312及第一承滑部件22之型態並不以本發明所揭露之態樣為限；於本實施例中，該滑移結構係於承架31之第一端的上段部設有一為滑座之第一滑移部件312，並於機台20之裝配部21設有可為滑軌且呈第一方向(如X方向)配置之第一承滑部件22，該第一承滑部件22供滑置承架31之第一滑移部件312，該滑移結構另於承架31之第一端的下段部向兩側凸設有翼片313，二翼片313各穿設有栓具314，並以栓具314螺合連接一為滑動片之第二滑移部件315，該機台20之裝配部21係設有一為滑槽且呈X方向配置之第二承滑部件23，該第二承滑部件23可供滑置承架31之第二滑移部件315，該架置調整機構30另於承架31與機台20間設有定位結構，該定位結構係以至少一定位部件將承架31定位於機台20，該定位部件可為栓具或扣具或卡榫，而裝配於承架31之第一滑移部件312或第二滑移部件315，亦可裝配於機台20之第一承滑部件22或第二承滑部件23，亦或以該滑移結構之栓具314作為定位部件，該定位部件之型態及裝配位置係依作業需求而有不同，並不以本發明所揭露之型態為限，於本實施例中，該定位結構係以滑移結構之栓具314作為定位部件，於旋鬆栓具314時，可使承架31於機台20之側面作X方向位移，於旋緊栓具314時，則可使承架31定位於機台20之側面。

請參閱第5、6圖，該待架置物依作業設備之需求而有不同，其可為供料裝置、測試裝置或外觀檢查裝置等，於本實施例中，該待架置物係為測試裝置40，該測試裝置40係於 一基板41裝配有電性連接之電路板42及測試座43，並於測試座43之上方架設有壓接器44，該測試裝置40係以基板41跨置於該架置調整機構30之二承架31的承置部件311，並以固接件32將基板41鎖固於二承架31上，使得二承架31承置裝配該測試裝置40，由於二承架31係架置於機台20之側面，並以栓具314螺合旋緊承架31之第二滑移部件315，令第二滑移部件315及翼片313夾緊第二承滑部件23之側板，使得二承架31定位於機台20之側面；因此，該架置調整機構30利用二承架31將測試裝置40裝配於機台20之側方，達到迅速而便利地完成測試裝置40之裝配作業。

請參閱第7、8圖，欲新增測試裝置40A時，工作人員毋需繁瑣拆卸原有的測試裝置40，僅需旋鬆承架31上之栓具314，令第二滑移部件315釋放第二承滑部件23之側板，承架31即可利用第一滑移部件312及第二滑移部件315分別沿機台20之第一承滑部件22及第二承滑部件23作X方向位移，而承載測試裝置40變換位移至不同位置，以調整二測試裝置40之間距，於調整完畢後，再旋緊栓具314，將承架31及測試裝置40定位於機台20之側方。

請參閱第8、9圖，接著待新增之測試裝置40A係裝配於新的承架31A，新的承架31A即以第一滑移部件312A及第二滑移部件315A滑置於機台20之第一承滑部件22及第二承滑部件23，並旋緊栓具314A，令第二滑移部件315A及翼片313A夾緊第二承滑部件23之側板，使二新的承架31A定位，使新的承架31A迅速承載新增之測試裝置40A配置於機台20之側方，毋須於機台繁瑣開設螺孔等，達到便利增設裝置之實用效益。

請參閱第5、10、11圖，欲將測試裝置40更換為外觀檢查裝置50時，該外觀檢查裝置50係於基板51設有一可承置電子元件之承置座52，並於承置座52之上方裝配 有一為CCD之取像器53，以取像電子元件；工作人員可將承架31上之固接件32拆卸，以取下測試裝置40，再換裝外觀檢查裝置50，亦或將承架31及其上之測試裝置40一併取下，而換裝新的承架及其上外觀檢查裝置50，於本實施例中，工作人員係將承架31之固接件32拆卸，以取下測試裝置40；接著可旋鬆栓具314，依外觀檢查裝置50之體積，令承架31之第一滑移部件312及第二滑移部件315沿機台20之第一承滑部件22及第二承滑部件23作X方向位移，以調整二承架31之間距，於調整完畢後，再旋緊栓具314，將二承架31定位，再利用固接件32將外觀檢查裝置50之基板51鎖固裝配於承架31之承置部件311，使二承架31將外觀檢查裝置50裝配位於機台20之側方，達到迅速換裝不同裝置之實用效益。

請參閱第4、5、12圖，本發明之電子元件作業設備包含機台20、本發明架置調整機構30、至少一待架置物、輸送裝置60及中央控制裝置，該本發明之架置調整機構30係設有至少一承架，並以滑移結構滑置裝配於機台20，於本實施例中，係設有複數組承架31B、31C、31D、31E，複數組承架31B、31C、31D、31E係以滑移結構滑置裝配於機台20之二側方；該至少一待架置物係裝配於承架，以對電子元件執行預設作業(如供料作業或測試作業等)，於本實施例中，係設有複數個待架置物，複數個待架置物係分別為供料裝置70、收料裝置80及測試裝置40，該供料裝置70係裝配於一組承架31B上，並設有至少一供料承置器71，以容置待測之電子元件，該收料裝置80係裝配於一組承架31C上，並設有至少一收料承置器81，以容置已測之電子元件，該複數個測試裝置40係分別裝配於複數組承架31D、31E上，並設有至少一測試器，以測試電子元件，於本實施例中，該測試器係設有電性連接之電路板42及測試座43，並以測試座43承置及 測試電子元件，該輸送裝置60係裝配於機台20，並設有至少一移料器61，以移載待架置物之電子元件，於本實施例中，係於機台20上設有一作X方向位移之移動台62，該移動台62係承載一為機械手臂之移料器61，該移料器61係以拾取件611於供料裝置70之供料承置器71取出待測之電子元件，並移載至移動台62上之旋轉座63，以旋轉待測電子元件之擺置角度，該移動台62係載送移料器61作X方向位移至複數個測試裝置40處，該移料器61之拾取件611係將旋轉座63之待測電子元件移入測試裝置40之測試座43而執行測試作業，以及將測試裝置40之已測電子元件移載至旋轉座63，而旋轉已測電子元件之擺置角度，該移動台62載送移料器61作X方向反向位移，移料器61之拾取件611係於旋轉座63取出已測之電子元件，並依測試結果，而移載至收料裝置80之收料承置器81收置，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

20‧‧‧機台

21‧‧‧裝配部

22‧‧‧第一承滑部件

23‧‧‧第二承滑部件

30‧‧‧架置調整機構

31‧‧‧承架

311‧‧‧承置部件

312‧‧‧第一滑移部件

313‧‧‧翼片

314‧‧‧栓具

315‧‧‧第二滑移部件

32‧‧‧固接件

Claims (10)

1. 一種具架置調整機構之電子元件作業設備，包含：機台；架置調整機構：係設有至少一具承置部件之承架，並以該承置部件承置至少一待架置物，另於該承架與該機台間設有滑移結構，該滑移結構係於該承架之第一端設有至少一第一滑移部件，以及於該機台設有至少一呈第一方向配置之第一承滑部件，該第一承滑部件可供滑置該承架之該第一滑移部件，以供該承架帶動該待架置物沿該第一方向位移而調整裝配於該機台之不同位置。
2. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該承架之承置部件係為該承架之至少一面或架板。
3. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該承架係於該承置部件設有至少一固接件，以定位該待架置物。
4. 依申請專利範圍第3項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該固接件係為插銷或栓具或卡扣具。
5. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該第一滑移部件係為滑座或滑動片。
6. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該第一承滑部件係為滑軌或滑槽。
7. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該滑移結構係於該承架之第一端設有至少一第二滑移部件，以及於該機台設有至少一可供該第二滑移部件滑置之第二承滑部件。
8. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該架置調整機構係於該承架與該機台間設有定位結構，該定位結構係以至少一定位部件將該承架定位於該機台。
9. 依申請專利範圍第8項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，其中，該定位部件係為栓具或扣具或卡榫。
10. 依申請專利範圍第1項所述之具架置調整機構之電子元件作業設備，更包含輸送裝置及中央控制裝置，該輸送裝置係設有至少一移料器，以移載該待架置物之電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。

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