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TWI692045B - 觸控檢測模式切換方法、觸控顯示驅動整合晶片及資訊處理裝置 - Google Patents

觸控檢測模式切換方法、觸控顯示驅動整合晶片及資訊處理裝置 Download PDF

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TWI692045B
TWI692045B TW108128783A TW108128783A TWI692045B TW I692045 B TWI692045 B TW I692045B TW 108128783 A TW108128783 A TW 108128783A TW 108128783 A TW108128783 A TW 108128783A TW I692045 B TWI692045 B TW I692045B
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張利達
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Abstract

一種觸控檢測模式切換方法,包括:在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數;依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中;以及在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數。

Description

觸控檢測模式切換方法、觸控顯示驅動整合晶片及資訊處理裝置
本發明係關於關於觸控偵測,尤指一種觸控顯示裝置的觸控檢測方法。
觸控螢幕已被廣泛地應用於各種電子裝置中。通常,觸控螢幕包含一顯示面板和一觸控面板,且此二者分別由一顯示驅動晶片和一觸控驅動晶片所控制。近年來,隨著內嵌式觸控螢幕技術之成熟,對於顯示面板及觸控面板之控制設計方案也朝向將顯示驅動電路與觸控驅動電路一起整合在單一晶片中,即,觸控顯示驅動整合晶片。
為了確保觸控檢測不會有漏偵測的現象,觸控顯示驅動整合晶片一般會令觸控掃描信號的檢測幀率與顯示驅動信號的顯示幀率之間具有一固定比例,例如,以120Hz的檢測幀率對應60Hz的顯示幀率。
圖1繪示一習知觸控顯示驅動整合晶片內部之一同步信號產生單元所產生的同步信號波形圖。值得說明的是,現有的觸控顯示驅動整合晶片通常會整合有一同步信號產生單元以產生一垂直同步信號(VSYNC),以驅動一顯示驅動模塊及一觸控驅動模塊。由圖1可知,在顯示幀率為60Hz時,每一幀顯示時間約為16.67ms,而在此期間共執行了兩次觸控檢測作業。
另外,觸控檢測可在多種模式間切換,例如:在低功耗檢測模式與正常檢測模式之間切換;或變換觸控掃描信號的頻率。一般而言,不同的觸控檢測模式所需設定的電路參數也會不同,例如:偏置電流、參考電壓、電阻、電容、電路啟動時間等。在一觸控顯示驅動整合晶片工作時,通常利用以下3個操作程序完成觸控檢測模式之切換:1.停止觸控檢測(也就是說,禁能觸控檢測作業);2.切換電路參數;以及3.重新啟動觸控檢測。
圖2繪示一習知觸控顯示驅動整合晶片之觸控檢測模式切換的操作示意圖。如圖2所示,一切換電路參數的軟體操作期間剛好遇到垂直同步信號(VSYNC)的一脈衝,在此軟體操作期間,一觸控偵測單元會不理會垂直同步信號的脈衝的作用而使觸控檢測作業停止。在過了該軟體操作期間後,該觸控偵測單元必須等到垂直同步信號的下一個脈衝才會重啟觸控檢測作業。因此,若所述觸控檢測作業中的一次觸控檢測周期為8.33ms,則一觸摸點最久可能要花25ms(=16.67ms+8.33ms)才會輪到被偵測。然而,若一觸摸操作的持續時間小於25ms,則該觸摸操作就會被漏偵測。
由上述說明可知,本領域亟需一種新穎的觸控檢測模式切換方法。
本發明之主要目的在於提供一種觸控檢測模式切換方法,其可大幅縮短再次啟動之觸控檢測與同步訊號(VSYNC)重新同步之等待時間,以避免觸摸操作的漏偵測發生。
為達成上述目的,一種觸控檢測模式切換方法乃被提出,其包括以下步驟:
在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數;
依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中;以及
在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數。
在一實施例中,所述複數個電路參數係儲存於一儲存單元中。
在一實施例中,該觸控驅動電路係與一顯示驅動電路整合在單一觸控顯示驅動整合晶片中。
為達成上述目的,本發明提出一種觸控顯示驅動整合晶片,其具有一儲存單元、一第一多工器、一第二多工器、一第一寄存器、一第二寄存器及一觸控掃描單元以執行一觸控檢測模式切換方法,該方法包括以下步驟:
在該儲存單元中儲存複數個電路參數;
利用該第一多工器以依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至該第一寄存器中,及利用該第二多工器以依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至該第二寄存器中;以及
在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,該觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數。
在一實施例中,所述之觸控顯示驅動整合晶片進一步具有一控制單元以產生該第一選擇信號及該第二選擇信號。
為達成上述目的,本發明進一步提出一種資訊處理裝置,其具有一中央處理單元及一觸控顯示裝置,該觸控顯示裝置具有如前述之觸控顯示驅動整合晶片,且該中央處理單元係用以與所述之觸控顯示驅動整合晶片通信。
在可能的實施例中,該觸控顯示裝置可為液晶觸控顯示裝置、LED觸控顯示裝置或OLED觸控顯示裝置。
在可能的實施例中,所述之資訊處理裝置可為智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、智慧型手錶或門禁裝置。
為使  貴審查委員能進一步瞭解本發明之結構、特徵、目的、與其優點,茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如後。
本發明提出一種觸控檢測模式切換方法,其係應用於採用一觸控顯示驅動整合晶片的一資訊處理裝置中,用以避免在觸控偵測模式的切換過程中發生觸摸操作漏偵測的現象,其中,所述資訊處理裝置可以是但不限於智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、指紋式打卡裝置或門禁裝置等電子裝置。
請參照圖3,其繪示用以實現本發明之觸控檢測模式切換方法之一觸控檢測模式切換單元之一實施例的電路方塊圖。如圖3所示,一觸控檢測模式切換單元1係設置於一觸控顯示驅動整合晶片中,且其包括:一儲存單元11、一第一多工器12、一第二多工器13、一第一寄存器14、一第二寄存器15以及一觸控掃描單元16,其中,儲存單元11儲存有複數個電路參數,包括:第1個電路參數111、第2個電路參數112、‧‧‧、及第N個電路參數11N;第一多工器12係用以依一第一選擇信號SEL1之控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數;第二多工器13係用以依一第二選擇信號SEL2之控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數;第一寄存器14係用以儲存所述第一觸控掃描參數;第二寄存器15係用以儲存所述第二觸控掃描參數;以及觸控掃描單元16係以所述第一觸控掃描參數及所述第二觸控掃描參數中之一做為目前觸控檢測模式的觸控掃描參數,及以其餘一做為下一個觸控檢測模式的觸控掃描參數。也就是說,若觸控掃描單元16在目前的觸控檢測模式中是以第一寄存器14所儲存的所述第一觸控掃描參數執行一觸控掃描作業,則當觸控掃描單元16改變觸控檢測模式時,其會改以第二寄存器15所儲存的所述第二觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業;或者,若觸控掃描單元16在目前的觸控檢測模式中是以第二寄存器15所儲存的所述第二觸控掃描參數執行一觸控掃描作業,則當觸控掃描單元16改變觸控檢測模式時,其會改以第一寄存器14所儲存的所述第一觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業。
基於圖3,下文將開始說明本發明之觸控檢測模式切換方法。圖4為本發明之觸控檢測模式切換方法之一實施例的流程圖。如圖4所示,該觸控檢測模式切換方法包括:在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數(步驟S1);依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中(步驟S2);以及在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數 (步驟S3)。
也就是說,在步驟S1中,觸控顯示驅動整合晶片1係在儲存單元11中儲存複數個電路參數(111、112、‧‧‧、11N)。特別說明的是,在對觸控驅動電路執行固件(驅動程式)下載程序時,可以一起將所述複數個電路參數(111、112、‧‧‧、11N)載入儲存單元11中。
在步驟S2中,觸控顯示驅動整合晶片1係利用第一多工器12及第二多工器13將所述第一觸控掃描參數及所述第一觸控掃描參數對應地寫入第一寄存器14及第二寄存器15中。
在步驟S3中,觸控顯示驅動整合晶片1係利用觸控掃描單元16執行各種不同模式的觸控檢測作業。例如,假設觸控掃描單元16目前係由第一寄存器14的該第一觸控掃描參數執行一觸控掃描作業,而在之後的一個時點觸控掃描單元16須改變其觸控掃描模式,則觸控掃描單元16會改依第二寄存器15的該第二觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業;或者,假設觸控掃描單元16目前係由第二寄存器15的該第二觸控掃描參數執行一觸控掃描作業,而在之後的一個時點觸控掃描單元16須改變其觸控掃描模式,則觸控掃描單元16會改依第一寄存器14的該第一觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業。在可能的實施例中,可令觸控驅動電路內部的一控制單元傳送第一選擇信號SEL1及第二選擇信號SEL2以進行所述第一觸控掃描參數和所述第二觸控掃描參數的更新。
依上述的說明可知,本發明之觸控檢測模式切換方法在每次切換觸控檢測模式時並不須事先停止觸控檢測,因此可以有效縮短觸控檢測與同步訊號(VSYNC)重新同步的等待時間,而在最壞情況下,該等待時間也僅有16.7ms。
依上述的說明,本發明進一步提出一種資訊處理裝置。請參照圖5,其繪示本發明之資訊處理裝置之一實施例的方塊圖。如圖5所示,一資訊處理裝置100包括一中央處理單元110及一觸控顯示裝置120,其中,該觸控顯示裝置120具有一觸控顯示面板121及用以驅動觸控顯示面板121之一觸控顯示驅動整合晶片122,觸控顯示驅動整合晶片122係用以執行圖4之觸控檢測模式切換方法,且中央處理單元110係用以與觸控顯示驅動整合晶片122通信。
另外,觸控顯示裝置120可為液晶觸控顯示裝置、LED(light emitting diode;發光二極體)觸控顯示裝置或OLED(organic light emitting diode;有機發光二極體)觸控顯示裝置。
如此,上述係已完整且清楚地說明本發明之一種觸控檢測方法;並且,經由上述可得知本發明係具有下列之優點:
本發明的觸控檢測模式切換方法能夠在觸控偵測模式的切換過程中避免觸摸操作的漏偵測發生。
必須加以強調的是,前述本案所揭示者乃為較佳實施例,舉凡局部之變更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所易於推知者,俱不脫本案之專利權範疇。
綜上所陳,本案無論目的、手段與功效,皆顯示其迥異於習知技術,且其首先發明合於實用,確實符合發明之專利要件,懇請  貴審查委員明察,並早日賜予專利俾嘉惠社會,是為至禱。
<本發明> 1:觸控檢測模式切換單元 11:儲存單元 12:第一多工器 13:第二多工器 14:第一寄存器 15:第二寄存器 16:觸控掃描單元 111:第1個電路參數組 112:第2個電路參數組 11N:第N個電路參數組 步驟S1:在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數 步驟S2:依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中 步驟S3:在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數
<習知>
圖1繪示一習知觸控顯示驅動整合晶片內部之一同步信號產生單元所產生的同步信號波形圖; 圖2繪示一習知觸控顯示驅動整合晶片之觸控檢測模式切換的操作示意圖; 圖3繪示用以實現本發明之觸控檢測模式切換方法之一觸控檢測模式切換單元之一實施例的電路方塊圖; 圖4為本發明之觸控檢測模式切換方法之一實施例的流程圖;以及 圖5繪示本發明之資訊處理裝置之一實施例的方塊圖。
步驟S1:在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數
步驟S2:依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中
步驟S3:在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數

Claims (8)

  1. 一種觸控檢測模式切換方法,包括以下步驟: 在一觸控驅動電路中儲存複數個電路參數; 依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至一第一寄存器中,及依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至一第二寄存器中;以及 在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,一觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控檢測模式切換方法,其中,所述複數個電路參數係儲存於一儲存單元中。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控檢測模式切換方法,其中,該觸控驅動電路係與一顯示驅動電路整合在單一觸控顯示驅動整合晶片中。
  4. 一種觸控顯示驅動整合晶片,其具有一儲存單元、一第一多工器、一第二多工器、一第一寄存器、一第二寄存器及一觸控掃描單元以執行一觸控檢測模式切換方法,該方法包括以下步驟: 在該儲存單元中儲存複數個電路參數; 利用該第一多工器以依一第一選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第一觸控掃描參數,並將該第一觸控掃描參數儲存至該第一寄存器中,及利用該第二多工器以依一第二選擇信號的控制在所述複數個電路參數中擇一以提供一第二觸控掃描參數,並將該第二觸控掃描參數儲存至該第二寄存器中;以及 在由一觸控檢測模式切換至另一觸控檢測模式時,該觸控掃描單元係由依一目前觸控掃描參數執行一觸控掃描作業切換至依下一個觸控掃描參數執行另一觸控掃描作業,其中,該目前觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數,或該目前觸控掃描參數係該第二觸控掃描參數且該下一個觸控掃描參數係該第一觸控掃描參數。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之觸控顯示驅動整合晶片,其進一步具有一控制單元以產生該第一選擇信號及該第二選擇信號。
  6. 一種資訊處理裝置,其具有一中央處理單元及一觸控顯示裝置,該觸控顯示裝置具有如申請專利範圍第4項至第5項中任一項所述之觸控顯示驅動整合晶片,且該中央處理單元係用以與所述之觸控顯示驅動整合晶片通信。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之資訊處理裝置,其中該觸控顯示裝置係由液晶觸控顯示裝置、LED觸控顯示裝置和OLED觸控顯示裝置所組成群組所選擇的一種觸控顯示裝置。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之資訊處理裝置,其係由智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦、一體式電腦、智慧型手錶和門禁裝置所組成群組所選擇的一種電子裝置。
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