TWI679440B - 檢測裝置及其偵測電路 - Google Patents

Abstract

一種檢測裝置及其偵測電路。檢測裝置包含偵測電路、信號源、及信號分析單元。偵測電路具有感測震盪器以形成具有第一頻率的第一信號。信號源提供具有第二頻率的第二信號。偵測電路利用第一信號及第二信號的互調作用產生互調信號於輸出信號中。信號分析單元根據互調信號的頻率變化產生一提升靈敏度檢測結果。

Description

檢測裝置及其偵測電路

本發明係有關於一種偵測技術，特別是一種利用電磁波的偵測技術。

目前已有多種運用不同感測原理的偵測技術。例如雷達偵測是利用發出電磁波到探測物上，利用回彈反射波的時間、波長、波形等來推知探測物的距離、方向、形狀等資訊。又例如光學偵測技術是利用偵測光線被探測物吸收的變化來進行偵測，如光學變化掃描圖法（Photoplethysmography，PPG）。又例如心電圖量測，是將電極貼片貼附在體表來擷取心臟傳導系統的電信號。此些偵測技術，有些受限於接觸式量測方式，有些雖可達到非接觸式，但其成本門檻較高，或易受外界雜訊干擾。

有鑑於此，本發明一實施例提出一種檢測裝置及其偵測電路。檢測裝置包含偵測電路、信號源、及信號分析單元。偵測電路包含共振器、主動回授迴路及輸出端。共振器包含信號輸入端及信號輸出端。主動回授迴路耦接共振器，以與共振器形成一感測震盪器。感測震盪器的震盪頻率為一第一頻率，信號輸入端接收具有一第二頻率的輸入信號。輸出端耦接信號輸出端，以輸出一輸出信號，輸出信號包含依據第一頻率及第二頻率產生的一互調信號。信號源耦接偵測電路的信號輸入端，以提供輸入信號。信號分析單元耦接偵測電路的輸出端，以依據互調信號的頻率變化產生一檢測結果。

本發明另一實施例提出一種檢測裝置及其偵測電路。檢測裝置包含偵測電路、信號源、及信號分析單元。偵測電路包含感測震盪器、功率放大器、混頻器、及輸出端。感測震盪器震盪產生一第一頻率的第一信號。功率放大器耦接感測震盪器，以放大第一信號。混頻器耦接功率放大器以接收經放大的第一信號，並耦接信號源以接收具有一第二頻率的第二信號。混頻器混合經放大的第一信號及第二信號，並輸出一輸出信號。輸出信號包含依據第一頻率及第二頻率產生的一互調信號。輸出端耦接混頻器，以輸出輸出信號。信號分析單元耦接偵測電路的輸出端，以依據互調信號的頻率變化產生一檢測結果，並藉互調之解調技術而得一提升靈敏度檢測效果。

根據本發明實施例所提出之檢測裝置及其偵測電路，能提供高靈敏度且非接觸式的震動偵測。

參照圖1，係為本發明第一實施例的檢測裝置的架構示意圖。檢測裝置包含依序耦接的信號源100、偵測電路300、輸出端500及信號分析單元700。偵測電路300包含共振器320、及主動回授迴路330。

主動回授迴路330耦接共振器320，以與共振器320形成非線性的感測震盪器（Sensing Oscillator）340。感測震盪器340具有一震盪頻率（於後稱「第一頻率」），可耦合環境電磁場而形成具有第一頻率的第一信號。共振器320具有信號輸入端321及信號輸出端322。信號輸入端321耦接信號源100，以接收信號源100傳送的輸入信號（或稱「第二信號」），第二信號具有第二頻率。由於非線性的特性，第一信號及第二信號在感測震盪器340混合，因非線性所造成的互調（Intermodulation）現象，將依據第一頻率及第二頻率產生互調信號於輸出信號中。輸出端500耦接信號輸出端322，以輸出輸出信號。所述信號源100可以是信號產生器，或壓控振盪器，但本發明實施例非以此為限。

進一步來說，本實施例的共振器320為開口諧振環（Split Ring Resonator，SRR）。在此，開口諧振環為單環結構，但本發明實施例非限於此。在一些實施例中，開口諧振環亦可為具有多環結構的互補式開口環形共振環（Complementary Split Ring Resonator, CSRR）。

如圖1所示，開口諧振環包含開口環323、信號輸入帶線324、信號輸出帶線325、及二信號耦合帶線326、327。開口環323包含依序耦接的第一段3231、第二段3232、及第三段3233。第一段3231位於左側，第二段3232位於下方，第三段3233位於右側。第二段3232與開口環323的開口3234相對，第一段3231與第三段3233相對。在此，開口環323的形狀雖是以矩形為例，但本發明實施例非限於此。在一些實施例中，開口環323亦可以是其他幾何形狀。

信號耦合帶線326、327分別耦接主動回授迴路330的兩端，信號耦合帶線326的自由端相鄰於第一段3231，信號耦合帶線327的自由端相鄰於第三段3233。藉此，將開口諧振環的被動共振腔結構與主動回授迴路330結合，形成震盪頻率為第一頻率的感測震盪器340。主動回授迴路330可放大第一信號。在此，主動回授迴路330包含放大器331，係可由一電晶體實現。電晶體可以是雙極接面電晶體（Bipolar Junction Transistor， BJT）或金屬氧化物半導體場效電晶體（Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，MOSFET），在此以BJT為例。電晶體的基極耦接信號耦合帶線326，電晶體的集極耦接信號耦合帶線327，電晶體的射極接地。

信號輸入帶線324與信號輸出帶線325位於同一直線上，朝同一方向延伸，彼此間隔一空隙。信號輸入帶線324相鄰於第一段3231與第二段3232間的連接處。信號輸入帶線324將所接收的第二信號耦合至感測震盪器340。由於感測震盪器340具有非線性特性，將使得第一信號與第二信號發生互調現象，而依據第一頻率及第二頻率產生互調信號。信號輸出帶線325相鄰於第二段3232與第三段3233間的連接處，而可輸出的包含互調信號的輸出信號。

在此，說明互調現象。如圖1所示，放大器331的輸入為基極射極電壓Vbe，輸出為集極電流Ic。放大器331的輸入由第一信號與第二信號組成，可表示為式1， f _w1為第一信號的頻率（第一頻率）， f _w2為第二信號的頻率（第二頻率），A、B為常數，t為時間。根據電晶體的電流方程式，放大器331的輸出可以表示為式2。經由泰勒級數將指數項展開可表示為式3。此非線性的現象可以藉由自然指數的展開而獲得高階的諧振頻率，係可由 展開後組成，其表示為式4。例如第三階諧振頻率為2 f _w1- f _w2，第五階諧振頻率為3 f _w1-2 f _w2，第七階諧振頻率為4 f _w1-3 f _w2，第九階諧振頻率為5 f _w1-4 f _w2。若將第一信號與第二信號的頻率差值定義為∆ f= f _w2- f _w1，則奇數階諧振頻率可視為 f _w1-n∆ f。例如，三階諧振頻率的頻率變化為2∆f，五階諧振頻率的頻率變化為3∆f。因此，愈高階可獲得更高的放大倍率。

（式1）

（式2）

（式3）

（式4）

在本發明第一實施例中，共振器320及主動回授迴路330設置在一基板（如層壓板）的第一面上。意即，在基板的第一面上具有開口環323、信號輸入帶線324、信號輸出帶線325、及信號耦合帶線326、327及放大器331。在基板相對於第一面的第二面上，具有接地面。在此，開口環323、信號輸入帶線324、信號輸出帶線325、信號耦合帶線326、327、及接地面為金屬材質。

相鄰於第一段3231的信號耦合帶線326的自由端作為一偵測區域A。以量測指尖為例，係可將手指放置在偵測區域A上。共振器320表面具有一絕緣層（圖未示），以避免手指直接接觸到金屬。圖2為本發明第一實施例的量測信號示意圖。作為比較，實線為手指放置在偵測區域A上的量測結果，虛線為手指未放置在偵測區域A上的量測結果。可以看到，當手指放置在偵測區域A之後，因為指尖微血管的血流流動變化造成了頻率偏移，且如此細微的變化可被本發明第一實施例的檢測裝置偵測到。

參照圖3，係為本發明第一實施例的第二頻率 f _w2（虛線）與第九階諧振頻率（實線）在時序上的變化示意圖。可以看到，擷取高階諧振頻率可以取得良好的放大信號，利於檢測。因此，耦接於輸出端500的信號分析單元700，可依據互調信號的頻率變化產生一檢測結果。例如，可依據奇數階諧振頻率的變化取得心率、心率變異度（Heart Rate Variability，HRV）等。在此，雖是採用奇數階諧振頻率來分析，但本發明實施例非以此為限，在一些實施態樣中，亦可以採用偶數階諧振頻率來分析。

參照圖4，係為本發明第二實施例的檢測裝置的架構示意圖。檢測裝置包含偵測電路200、信號源400、及信號分析單元600。偵測電路200耦接於信號源400與信號分析單元600之間。偵測電路200包含依序耦接的感測震盪器240、功率放大器250、混頻器260、微分器270、及輸出端280。

參照圖5，係為本發明第二實施例的感測震盪器240的架構示意圖。感測震盪器240包含相互耦接的共振器220及主動回授迴路230。共振器220包括開口環223、信號輸出帶線225、信號耦合帶線226、227，開口環223包含第一段2231、第二段2232、第三段2233，第一段2231與第三段2233之間具有開口2234。主動回授迴路230具有放大器231。感測震盪器240的結構大致與第一實施例的感測震盪器340相同，差異在於本實施例的共振器220不具有信號輸入帶線，其餘的上述部件請參照第一實施例之說明，於此不重複贅述。換言之，本實施例的感測震盪器240不接受信號饋入，而直接感應環境電磁波產生震盪信號（於後稱「第一信號」），其震盪頻率為第一頻率。

如圖4所示，在本實施例中，為了提高非線性的效果，在感測震盪器240耦接功率放大器250，而可放大第一信號。混頻器260耦接於功率放大器250之後，並且耦接信號源400。信號源400用以提供具有第二頻率的一第二信號。混頻器260混合經放大的第一信號、及第二信號，而輸出輸出信號。因非線性所造成的互調現象，將依據第一頻率及第二頻率產生互調信號於輸出信號中。在互調作用下，偶數階諧振頻率可以表示為n( f _w2- f _w1)，即n∆f。如圖6所示，係為本發明第二實施例的混頻器260輸出信號量測結果示意圖。可以看到，本實施例的混頻器260是作為降頻器使用，使得輸入的第一信號及第二信號雖為高頻信號（ f _w2、 f _w2），但可使用適用於低頻的信號分析單元600對低頻的偶數階諧振頻率進行分析，可降低成本。

微分器270耦接於混頻器260之後，以放大輸出信號中的高頻成分。微分器270耦接輸出端280，以於輸出端280輸出經放大處理的輸出信號至信號分析單元600。如圖7所示，係為本發明第二實施例的微分器270輸出信號量測結果示意圖。可以看到，在經過微分器270之後，偶數階諧振頻率被放大。因此，信號分析單元600可依據互調信號的頻率變化產生一檢測結果。在本實施例中，透過混頻器260產生互調作用，可取得倍數放大的頻率偏移（偶數階諧振頻率n∆f），再透過微分器270對高階諧振頻率的強度再次進行放大，因此可以有效提高偵測的靈敏度。

在一些實施例中，偵測電路200可不具有微分器270，使得混頻器260直接耦接輸出端280。

在第二實施例中，雖是採用偶數階諧振頻率來分析，但本發明實施例非以此為限，在一些實施態樣中，亦可以採用奇數階諧振頻率來分析。

如圖8所示，係為本發明第一實施例的檢測裝置的另一架構示意圖。與圖1的差異在於，在一些實施例中，檢測裝置還可包含微分器900，耦接於該信號輸出端322與該輸出端500之間，以於輸出端500輸出經高頻放大處理的輸出信號至信號分析單元700。

在一些實施例中，信號分析單元700、600可例如為向量網路分析儀（vector network analyzer，VNA）、頻譜分析儀(spectrum analyzer)或其他偵測電路，例如：包絡偵測電路(envelope detector circuit)。

綜上所述，根據本發明實施例所提出之檢測裝置及偵測電路，能提供高靈敏度且非接觸式的震動偵測。上述雖是以量測生理參數為例說明，但本發明實施例並非限於此應用，亦可應用於各種領域，如橋樑震動偵測、機器震動偵測等。

100‧‧‧信號源

300‧‧‧偵測電路

320‧‧‧共振器

321‧‧‧信號輸入端

322‧‧‧信號輸出端

323‧‧‧開口環

324‧‧‧信號輸入帶線

325‧‧‧信號輸出帶線

326、327‧‧‧信號耦合帶線

3231‧‧‧第一段

3232‧‧‧第二段

3233‧‧‧第三段

3234‧‧‧開口

330‧‧‧主動回授迴路

331‧‧‧放大器

340‧‧‧感測震盪器

500‧‧‧輸出端

700‧‧‧信號分析單元

900‧‧‧微分器

200‧‧‧偵測電路

220‧‧‧共振器

222‧‧‧信號輸出端

223‧‧‧開口環

225‧‧‧信號輸出帶線

226、227‧‧‧信號耦合帶線

2231‧‧‧第一段

2232‧‧‧第二段

2233‧‧‧第三段

2234‧‧‧開口

230‧‧‧主動回授迴路

231‧‧‧放大器

240‧‧‧感測震盪器

250‧‧‧功率放大器

260‧‧‧混頻器

270‧‧‧微分器

280‧‧‧輸出端

400‧‧‧信號源

600‧‧‧信號分析單元

A‧‧‧偵測區域

f_w1‧‧‧第一頻率

f_w2‧‧‧第二頻率

n∆f‧‧‧偶數階諧振頻率

[圖1] 為本發明第一實施例的檢測裝置的架構示意圖。 [圖2] 為本發明第一實施例的量測信號示意圖。 [圖3] 為本發明第一實施例的第二信號與第九階諧振頻率在時序上的變化示意圖。 [圖4] 為本發明第二實施例的檢測裝置的架構示意圖。 [圖5] 為本發明第二實施例的感測震盪器的架構示意圖。 [圖6] 為本發明第二實施例的混頻器輸出信號量測結果示意圖。 [圖7] 為本發明第二實施例的微分器輸出信號量測結果示意圖。 [圖8] 為本發明第一實施例的檢測裝置的另一架構示意圖。

Claims (17)

1. 一種偵測電路，包含：一共振器，包含一信號輸入端及一信號輸出端；一主動回授迴路，耦接該共振器，以與該共振器形成一感測震盪器，該感測震盪器的震盪頻率為一第一頻率，該信號輸入端接收具有一第二頻率的一輸入信號，該信號輸出端輸出一輸出信號，該輸出信號包含依據該第一頻率及該第二頻率產生的一互調信號；及一輸出端，耦接該信號輸出端，以輸出該輸出信號。
2. 如請求項1所述的偵測電路，其中該共振器為一開口諧振環。
3. 如請求項2所述的偵測電路，其中該開口諧振環為一單環結構，包含：一開口環，包含依序耦接的一第一段、一第二段及一第三段，該第二段與該開口環的一開口相對，該第一段與該第三段相對；一信號輸入帶線，相鄰於該第一段與該第二段間的連接處；一信號輸出帶線，相鄰於該第二段與該第三段間的連接處；及二信號耦合帶線，分別耦接該主動回授迴路的兩端，其中各該信號耦合帶線的一自由端分別相鄰於該第一段及該第三段。
4. 如請求項3所述的偵測電路，其中相鄰於該第一段的該信號耦合帶線的該自由端為一偵測區域。
5. 如請求項1所述的偵測電路，其中該主動回授迴路包含一放大器。
6. 如請求項1所述的偵測電路，更包含一微分器，耦接於該信號輸出端與該輸出端之間，以放大該輸出信號的高頻成分。
7. 一種檢測裝置，包含：如請求項1至6中任一項所述的該偵測電路；一信號源，耦接該偵測電路的該信號輸入端，以提供該輸入信號；及一信號分析單元，耦接該偵測電路的該輸出端，以依據該互調信號的頻率變化產生一檢測結果。
8. 如請求項7所述的檢測裝置，其中該信號分析單元分析該互調信號的奇數階諧振頻率而輸出該檢測結果。
9. 一種偵測電路，包含：一感測震盪器，震盪產生一第一頻率的一第一信號；一功率放大器，耦接該感測震盪器，以放大該第一信號；一混頻器，耦接該功率放大器，並接收具有一第二頻率的一第二信號，以混合經放大的該第一信號及該第二信號，並輸出一輸出信號，該輸出信號包含依據該第一頻率及該第二頻率產生的一互調信號；及一輸出端，耦接該混頻器，以輸出該輸出信號。
10. 如請求項9所述的偵測電路，更包含一微分器，耦接於該混頻器與該輸出端之間，以放大該輸出信號的高頻成分。
11. 如請求項9所述的偵測電路，其中該感測震盪器包含相互耦接的一共振器及一主動回授迴路。
12. 如請求項11所述的偵測電路，其中該共振器為一開口諧振環。
13. 如請求項12所述的偵測電路，其中該開口諧振環為一單環結構，包含：一開口環，包含依序耦接的一第一段、一第二段及一第三段，該第二段與該開口環的一開口相對，該第一段與該第三段相對；一信號輸出帶線，相鄰於該第二段；及二信號耦合帶線，分別耦接該主動回授迴路的兩端，其中各該信號耦合帶線的一自由端分別相鄰於該第一段及該第三段。
14. 如請求項13所述的偵測電路，其中相鄰於該第一段的該信號耦合帶線的該自由端為一偵測區域。
15. 如請求項11所述的偵測電路，其中該主動回授迴路包括一放大器。
16. 一種檢測裝置，包含：如請求項9至15中任一項所述的該偵測電路；一信號源，耦接該偵測電路的該混頻器，以提供該第二信號；及一信號分析單元，耦接該偵測電路的該輸出端，以依據該互調信號的頻率變化產生一檢測結果。
17. 如請求項16所述的檢測裝置，其中該信號分析單元分析該互調信號的偶數階諧振頻率而輸出該檢測結果。