TWI669485B

TWI669485B - 可調整取像組合之自動光學檢測設備及取像組合調整方法

Info

Publication number: TWI669485B
Application number: TW107133500A
Authority: TW
Inventors: 林其禹; 何健僑
Original assignee: 迅智自動化科技股份有限公司
Priority date: 2018-09-21
Filing date: 2018-09-21
Publication date: 2019-08-21
Also published as: JP2020052041A; CN110940668A; EP3627142A1; TW202012881A; US20200096455A1

Abstract

一種可調整取像組合之自動光學檢測設備及取像組合調整方法。自動光學檢測設備包括至少一個影像擷取裝置、待測物移動機構及可活動的光源。控制電路選取影像擷取裝置、控制待測物移動機構移動待測物到待測位置，和選取光源和控制其運動，依序切換各取像組合來進行取像作業。各取像組合記錄影像擷取裝置、待測物位置和角度及光源的種類和相對於該待測物的位置及角度，不同取像組合所包括的位置或角度不同。藉此，可快速且自動地得出針對待測物的大量取像結果。

Description

可調整取像組合之自動光學檢測設備及取像組合調整方法

本發明是有關於一種光學檢測技術，且特別是有關於一種可調整取像組合之自動光學檢測(Automated Optical Inspection，AOI)設備及其取像組合調整方法。

AOI是結合光學感測、視覺辨識、機構驅動及電控系統等技術，來代替傳統人工目視去檢測待測物的缺陷。這些待測物可能是手機、印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)、顯示面板、觸控面板等和其他各類類型產品或元件。由此可知，自動光學檢測應用的產品相當廣泛。而依據待測物的類型及生產流程，不同待測物上的缺陷可能不同。因此，如何針對各待測物決定對應的取像設定，將是檢測流程中相同重要的一環。在大量生產的生產線上，為了爭取時間，業者可能會布建一連串包含多組AOI檢測站的AOI檢測線，而每一組AOI檢測站設置特定的相機/鏡頭、光源和待測物位置來依序擷取代測影像，以便執行AOI軟體以檢視待測物瑕疵。例如，在輸送帶旁每間隔一定距離設置一組鏡頭及光源，不同檢測點上的那組鏡頭及光源的規格、位置及/或角度不同，且輸送帶會帶動待測物依序經過各檢測點，各檢測點上的鏡頭並對待測物取像。在少量生產情況和為節省建置AOI檢測線的成本考量下，業者可能建置可以執行多個檢測項目的AOI檢測站，這些檢測站可能需要設置數組鏡頭及光源，且各組鏡頭和光源會輪流出現組成取像組合後依序對待測物取像。然而，各組鏡頭及光源的擺設位置或角度、和待測物的取像位置，都是事先透過研究後人為調整固定的。

執行AOI檢測前需要完成兩大系統的建置，包含取像作業和AOI軟體。在取像作業的過程中，需決定對待測物採用何種相機、鏡頭、待測位置及角度等組合。AOI軟體可針對藉由取像組合從待測物上取得的帶測影像進行各種類的檢測分析。如果待測影像清楚呈現需要被檢測的內容，AOI軟體的撰寫並不困難。困難的是，如何讓待測物的待測影像內清楚呈現需要被檢測的內容。例如，手機機殼的多種表面瑕疵可能非常微細和不明顯，對一種相機/鏡頭，必須嘗試讓待測物以不同相對於相機的位置和角度呈現，並在不同的光源和位置/角度變化下，才能得出可用的取像結果。因此，對許多產品的AOI檢測工程，最大的挑戰係在如何決定取像設定以得出合適的取像結果，且最多的時間花費於此。其原因在於，傳統技術上，操作者需要先將相機/鏡頭固定在取像架上、再固定某一種光源在相對相機的某個位置和角度上、再將待測物固定在相對相機的某個位置和角度上。而調整前述步驟的時間，可能需要少則數分鐘到多達數十分鐘之久。而每次取像之後，檢測人員如果對該取像結果不夠滿意，相關設定便需要重新調整。如此反覆進行，相當耗費時間。對一部新生產的手機進行表面瑕疵的AOI檢測工程，往往包含數十站AOI檢測站，而建置工程可達數月之久。其中，多數時間是花在相機、鏡頭、光源、待測位置/角度所形成的組合可能有數千種，再從其中選出數十個最終使用的組合。因此，這種依賴人工調整的傳統AOI取像設定工程明顯效率不高，需要被改進。

傳統人工調整取像設定後，即可依多種組合建置快速AOI檢測線(其包含多個檢測站)。或者，可以建置可在同一站執行多個檢測項目的多項目檢測站。然而，這兩者的建置都需要再將各種相關相機、鏡頭、光源、待測物固定機構等建置在同一檢測線的各檢測站，或是可執行多檢測項目的檢測站，這都將衍生額外的成本。

有鑑於此，本發明提供一種可調整取像組合之自動光學檢測設備及其取像組合調整方法，可自動快速更換不同的鏡頭、待測物位置和角度、不同的光源及對應位置/角度進行拍攝，從而快速由大量取像組合得到大量取像結果。

本發明的可調整取像組合之自動光學檢測設備，其用於對待測物取像，並可根據取像內容進行檢測。而此自動光學檢測設備包括主體、影像擷取裝置、光源、待測物移動機構及控制電路。影像擷取裝置設於主體。光源可活動地設於主體。待測物移動機構設於主體，並供待測物放置。控制電路連接那些影像擷取裝置、光源及待測物移動機構，控制待測物移動機構移動待測物並控制光源運動，且依序切換數個取像組合中的每一者來進行取像作業。而各取像組合記錄影像擷取裝置、待測物所處的待測位置和待測角度、及光源種類和光源相對於待測物的位置及角度，不同取像組合所包括的參數不同。

在本發明的一實施例中，共有數個影像擷取裝置，且那些影像擷取裝置係可活動地設於主體。而控制電路選擇那些影像擷取裝置中的一者朝向待測物進行取像作業。而各取像組合更記錄一個影像擷取裝置，且那些影像擷取裝置和配對的鏡頭規格不同。

在本發明的一實施例中，共有數個光源。而控制電路選擇那些光源中的一者進行移動、和開啟並朝向待測物。各取像組合更記錄一個光源和光源相對待測物的位置，且那些光源所提供的亮度分布不同。

在本發明的一實施例中，上述的控制電路控制光源多軸運動。

在本發明的一實施例中，上述的控制電路依據那些取像組合的取像結果篩選那些取像組合，並依據篩選的那些取像組合之取像結果而挑選出檢測組合供檢測作業使用。各檢測組合記錄影像擷取裝置、待測物所處的待測位置和待測角度、及光源種類和光源相對於待測物的位置及角度，且檢測作業用於評估待測物的缺陷。

在本發明的一實施例中，上述的控制電路判斷那些取像組合的取像結果是否適用於檢測作業，並保留適用於檢測作業的那些取像組合，淘汰未適用於檢測作業的那些取像組合。

本發明的取像組合調整方法，其適用於光學檢測設備檢測待測物。而此取像組合調整方法包括下列步驟。控制並啟動有像擷取裝置。控制光學檢測設備的光源運動，以朝向待測物。控制待測物移動到待測位置。依序切換數個取像組合中的每一者來進行取像作業，而各取像組合記錄影像擷取裝置及光源相對於待測物的位置及角度、以及待測物的所處待測位置及待測角度，且不同取像組合所包括的位置及角度不同。

在本發明的一實施例中，上述影像擷取裝置包括可活動地設於主體的數個影像擷取裝置。而取像組合調整方法更包括下列步驟。選擇那些影像擷取裝置中的一者朝向待測物進行取像作業，其中各取像組合更記錄一個影像擷取裝置，且那些影像擷取裝置的鏡頭規格不同。

在本發明的一實施例中，上述光源包括數個光源，而控制光學檢測設備的光源運動包括下列步驟。選擇那些光源中的一者進行開啟並朝向待測物，而各取像組合更記錄一個光源，且那些光源所提供的亮度分布不同。

在本發明的一實施例中，上述控制光學檢測設備的光源運動包括下列步驟。控制光源多軸運動。

在本發明的一實施例中，上述依序切換那些取像組合中的每一者來進行取像作業之後，更包括下列步驟。依據那些取像組合的取像結果篩選那些取像組合。依據篩選的那些取像組合之取像結果而挑選出檢測組合供檢測作業使用。而各檢測組合記錄影像擷取裝置及光源相對於待測物的位置及角度、及待測物所處的待測位置及待測角度，且檢測作業用於評估待測物的缺陷。

在本發明的一實施例中，上述依據那些取像組合的取像結果篩選那些取像組合包括下列步驟。判斷那些取像組合的取像結果是否適用於檢測作業。保留適用於檢測作業的那些取像組合。淘汰未適用於檢測作業的那些取像組合。

基於上述，本發明實施例可調整取像組合之自動光學檢測設備及其取像組合調整方法，可迅速切換所有取像組合，從而快速得出大量不同取像組合的取像結果。此外，基於取像結果篩選合適的取像組合。這些取像組合的參數可進一步微調之後，並依據微調後的取像結果得出後續檢測作業所用的檢測組合。藉此，不僅可快速決定合適的檢測組合，還能提供給檢測作業使用。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1是依據本發明一實施例之光學檢測設備1的元件方塊圖。請參照圖1，光學檢測設備1包括但不僅限於一台或更多台影像擷取裝置110、待測物移動機構120、一個或更多個光源130、儲存器150及控制電路170。

各影像擷取裝置110可移動地設於光學檢測設備1的主體。影像擷取裝置110可以是相機、攝影機等裝置，影像擷取裝置110並可以包括影像感測器(例如，電荷耦合裝置(Charge Coupled Device，CCD)、互補式金氧半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，CMOS)等)、光學鏡頭、影像控制電路等元件。於本實施例中，這些影像擷取裝置110的鏡頭規格(例如，取像光圈、倍率、焦距、取像可視角度、影像感測器大小等)不同，且其數量可依據實際需求而調整。

待測物移動機構120設於光學檢測設備1的主體並供待測物放置，且待測物移動機構120可以是機械手臂、高度調整台、滑軌、轉台、螺桿、馬達、或汽缸等各類型可驅動連接元件移動或旋轉的機械構件之組合，使放置的待測物能升降、移動及/或旋轉。需說明的是，本實施例的待測物移動機構120是與光學檢測設備1的主體整合，然於其他實施例中，待測物移動機構120可能與光學檢測設備1分離，而作為獨立裝置。

各光源130可活動地設於光學檢測設備1的主體，光源130並可以是同軸光源、背光光源、環形罩光源、條形光源、點光源、條形光源所組成可旋轉邊框光源等各類型光源。光源130可相對於光學檢測設備1主體進行一軸、二軸或更多軸的運動。例如，光源130可升降、移動、及/或旋轉。此外，光源130的數量可依據實際需求而調整，且這些光源130所提供的亮度分布也可能調整。

儲存器150可以是任何型態的固定或可移動隨機存取記憶體(Radom Access Memory，RAM)、唯讀記憶體(Read Only Memory，ROM)、快閃記憶體(flash memory)、傳統硬碟(Hard Disk Drive，HDD)、固態硬碟(Solid-State Drive，SSD)或類似元件，並用以記錄程式碼、軟體模組、檢測腳本(例如，完整檢測腳本151、篩選檢測腳本153、最終檢測腳本155等)、檢測組合157、取像組合159、影像擷取裝置110的取像結果(即，影像)、影像辨識演算法、待測物移動機構120的驅動程式、及其他資料或檔案，其詳細內容待後續實施例詳述。

控制電路170耦接影像擷取裝置110、待測物移動機構120、光源130及儲存器150，控制電路170並可以是中央處理器(Central Processing Unit，CPU)、微控制器、可程式化控制器、特殊應用積體電路(Application-Specific Integrated Circuit，ASIC)、晶片或其他類似元件或上述元件的組合。於本實施例中，控制電路170控制光學檢測設備1的所有運作，例如，驅動待測物移動機構120，控制影像擷取裝置110及光源130的功能(例如，開關、拍攝、明暗、至少一軸向的運動等)。此外，控制電路170可存取並載入儲存器150所記錄的軟體、資料或檔案。

為了方便理解本發明實施例的操作流程，以下將舉諸多實施例詳細說明本發明實施例中針對光學檢測設備1的使用流程。下文中，將搭配光學檢測設備1中的各項裝置、元件及模組說明本發明實施例所述之方法。本方法的各個流程可依照實施情形而隨之調整，且並不僅限於此。

圖2是依據本發明一實施例取像組合調整方法的流程圖。請參照圖2，光學檢測設備1可能包括兩個以上的影像擷取裝置110(其配對的鏡頭規格不同)，這些影像擷取裝置110係可移動、旋轉等至少一軸向活動地設於光學檢測設備1的主體。控制電路170即可啟動某影像擷取裝置110，並控制啟動的影像擷取裝置110移動、旋轉等至少一軸向之運動，以朝向待測物進行取像作業(步驟S210)。

此外，控制電路170控制光源130運動，以朝向待測物(步驟S230)；並控制待測物移動機構120以使待測物運動(步驟S250)。具體而言，控制電路170可選擇並開啟某光源130(各光源130種類不同)，並控制其執行移動、旋轉等至少一軸向之運動，或者控制待測物移動機構120來移動或旋轉待測物到指定位置(即，待測位置及待測角度)，選擇某光源130並控制其運動到相對於待測物的特定位置及角度。而若光學檢測設備1包括兩個以上的光源130，控制電路170選擇那些光源130中的一者進行開啟並朝向待測物，且使其他光源130關閉或不影響選擇之光源130對待測物之照射。

舉例而言，圖3A~3D是依據本發明第一實施例之光學檢測設備2的示意圖。請參照圖3A~3D，光學檢測設備2包括兩個影像擷取裝置111, 112(不同可視角度)，待測物移動機構120包括滑軌121帶動影像擷取裝置111, 112水平移動、高度調整台123可調整頂側高度、及機械手臂124帶動待測物DUT移動。光源130包括邊框可旋轉光源131、環形罩光源132、同軸光源133、及背光光源134。如圖3C所示，各光源130在水平上的位置不同。此外，背光光源134還可受高度調整台123帶動而升降。請參照圖3B、3C，控制電路170可控制對應影像擷取裝置111, 112移動到對應光源130(圖中所示為環形罩光源132)上方，而機械手臂124則帶動待測物DUT到對應光源130下方或上方的特定待測位置且將待測物DUT旋轉至特定待測角度。接著，控制電路170開啟特定光源130，並透過特定影像擷取裝置111, 112進行拍攝，以完成一組取像組合159的取像作業。接著，控制電路170切換至下一組取像組合159，依此類推，對應影像擷取裝置111, 112可能會移動、或機械手臂124移動或旋轉待測物DUT。

圖4A~4E是依據本發明第二實施例之光學檢測設備3的示意圖。與第一實施例不同之處在於，如圖4A~4C所示，光學檢測設備3包括旋轉軸122、上轉台125以旋轉軸122為軸心旋轉並供影像擷取裝置111, 112設置、及下轉台126以旋轉軸122為軸心旋轉並供各光源130設置。如圖4B所示，各光源130相對於軸心的設置角度不同。請參照圖4B、4C，當控制電路170使用某一取像組合159時，上轉台125及/或下轉台126旋轉，使對應影像擷取裝置111, 112(圖中所示為影像擷取裝置112)移動到對應光源130(圖中所示為環形罩光源132)上方，而機械手臂124則帶動待測物DUT到對應光源130下方或上方(例如，位於背光光源134上方)的特定待測位置且將待測物DUT旋轉至特定待測角度。接著，控制電路170切換至下一組取像組合159，依此類推，上轉台125及/或下轉台126可能會旋轉、或機械手臂124移動或旋轉待測物DUT。

圖5A~5D是依據本發明第三實施例之光學檢測設備4的示意圖。與第一實施例不同之處在於，如圖5A~5D所示，光學檢測設備4包括汽缸127可帶動對應光源130所設置的平板伸出或收回、升降台128可帶動對應光源130所設置的平板升降、及馬達1291帶動螺桿1292旋轉。請參照圖5A、5D，當控制電路170使用某一取像組合159時，馬達1291驅動螺桿1292旋轉，使升降台128帶動特定光源130(圖中所示為同軸光源133)下降至如圖所示位置，且對應汽缸127透過伸縮桿推出此光源130，使對應影像擷取裝置111, 112(圖中所示為影像擷取裝置112)朝向對應光源130，而機械手臂124則帶動待測物DUT到對應光源130下方或上方的特定待測位置且將待測物DUT旋轉至特定待測角度。接著，控制電路170切換至下一組取像組合159，依此類推，汽缸127可能會伸出或縮回特定光源130的伸縮桿、升降台128可能會升降支撐特定光源130的平板、或機械手臂124移動或旋轉待測物DUT。

接著，控制電路170依序切換數個取像組合159中的每一者來對待測物進行取像作業(步驟S270)。具體而言，各取像組合159記錄影像擷取裝置110及光源130相對於待測物的位置及角度，且不同取像組合159所包括的參數不同(例如，影像擷取裝置110及光源130的種類、待測位置、待測角度、及待測物相對於對應影像擷取裝置110及光源130的位置及角度中至少一者不同)。此外，若光學檢測設備1包括不只一個影像擷取裝置110及/或光源130，則各取像組合記錄一台特定影像擷取裝置110及/或一個特定光源130。控制電路170可基於完整檢測腳本151而依序使用每一組取像組合159來選擇影像擷取裝置110、待測物移動機構120及/或光源130、使影像擷取裝置110、待測物移動機構120及/或光源130進行至少一軸向之運動並對待測物取像，再切換至下一組取像組合159來進行取像作業(即，影像擷取裝置110、待測物移動機構120及/或光源130定位後，透過選擇的影像擷取裝置110進行拍攝)，如此反覆進行直到所有取像組合159都已使用。換句而言，控制電路170依序使用特定影像擷取裝置110、特定光源130與待測物的特定位置/角度的取像組合159來對待測物取像，而完整檢測腳本151即是依序使用所有的取像組合159。

由此可知，本發明實施例可調整任何取像組合，且取像組合159可迅速切換，完全無須人工調整即可得出大量不同取像組合的取像結果，從而提升效率。需說明的是，待測物移動機構120的設計、影像擷取裝置110及光源130的選擇還有很多種，端視應用者之實際需求可自行調整，本發明不加以限制。

除了快速切換取像組合159，本發明實施例的光學檢測設備1還能進一步挑選出適合檢測作業的取像組合。圖6是依據本發明一實施例之檢測組合選擇方法的流程圖。請參照圖6，控制電路170會先進行如步驟S250所述的使用各取像組合159來進行取像作業(步驟S610)，接著控制電路170依據那些取像組合159的取像結果(即，拍攝的影像)篩選那些取像組合159 (步驟S630)。具體而言，控制電路170透過影像辨識技術判斷那些取像組合159的取像結果是否適用於檢測作業。控制電路170會保留適用於檢測作業的那些取像組合159並記錄於篩選檢測腳本153中，且淘汰未適用於檢測作業的那些取像組合159。需說明的是，此檢測作業是指基於影像處理及辨識技術評估待測物的缺陷，而適用於檢測作業的評斷條件可能是容易觀察出缺陷。然而，由於不同待測物可能出現的缺陷不同，因此評斷適用於檢測作業的標準也會不一樣，應用者可依據實際需求調整篩選的評斷條件，本發明不加以限制。

為了提供更適用於後續檢測作業的取像組合159，控制電路170還會調整篩選的取像組合159的參數並再次進行取像作業(步驟S650)。具體而言，控制電路170依據篩選檢測腳本153依序使用每一組篩選(保留)的取像組合159，並透過待測物移動機構120逐步調整篩選的那些取像組合159中待測物相對於那些影像擷取裝置110的位置及角度。此處逐步調整是指每次調整間隔特定距離或相差特定角度。需說明的是，依據不同設計，於其他實施例中，控制電路170亦可透過待測物移動機構120逐步調整光源130的照射角度、亮度等參數。

控制電路170接著依據調整的取像組合159的取像結果而自這些取像組合159中挑選出檢測組合157供檢測作業使用(步驟S670)。具體而言，控制電路170可依據與步驟S230相同或相似的評斷條件，來判斷篩選之取像組合159經微幅調整的數個組合中更加適用於檢測作業的組合。控制電路170可進一步將挑選的組合作為檢測組合157並記錄在最終檢測腳本155中。需說明的是，於其他實施例中，若考慮到快速得出檢測組合157，則在步驟S630之後，控制電路170亦可將篩選的那些取像組合159直接作為檢測組合157。

此外，本發明實施例的光學檢測設備1不僅可決定檢測組合157，控制電路170還能基於最終檢測腳本155而使用各檢測組合157來對待側物進行檢測作業(步驟S690)。各檢測組合157同樣也包括那些影像擷取裝置110中的至少一者、那些光源130中至少一者、待測物受待測物移動機構120驅動後的待測位置及待測角度、及待測物相對於那些影像擷取裝置110的位置及角度。而最終檢測腳本155即是依序使用每一組或任一組檢測組合157來對待側物進行檢測作業，從而評估待測物是否存在缺陷。也就是說，只要一台本發明實施例的光學檢測設備1即能同時完成檢測組合的決定及對待測物的檢測。需說明的是，在一些實施例中，待測物移動機構120可能更包括輸送帶以承載數個待測物，而待測物移動機構120則依序將待測物移動至影像擷取裝置110可取像的區域。

綜上所述，本發明實施例可調整取像組合之自動光學檢測設備及其取像組合調整方法，能快速切換大量不同的取像組合，從而得出大量取像結果。接著，微調篩選後的取像組合，即可得出供檢測作業使用的檢測組合。本發明實施例完全無需人工來調整取像組合，並可自動判斷合適的取像組合，最後得出最適合檢測作業的檢測組合，明顯提升效率。此外，本發明實施例的自動光學檢測設備還能依據這些檢測組合來進行檢測作業，使一機能夠兩用。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

1~4‧‧‧光學檢測設備

110、111、112‧‧‧影像擷取裝置

120‧‧‧待測物移動機構

121‧‧‧滑軌

122‧‧‧旋轉軸

123‧‧‧高度調整台

124‧‧‧機械手臂

125‧‧‧上轉台

126‧‧‧下轉台

127‧‧‧汽缸

128‧‧‧升降台

1291‧‧‧馬達

1292‧‧‧螺桿

130‧‧‧光源

131‧‧‧邊框可旋轉光源

132‧‧‧環形罩光源

133‧‧‧同軸光源

134‧‧‧背光光源

150‧‧‧儲存器

151‧‧‧完整檢測腳本

153‧‧‧篩選檢測腳本

155‧‧‧最終檢測腳本

157‧‧‧檢測組合

159‧‧‧取像組合

170‧‧‧控制電路

DUT‧‧‧待測物

S210~S270、S610~S690‧‧‧步驟

圖1是依據本發明一實施例之光學檢測設備的元件方塊圖。圖2是依據本發明一實施例之取像組合調整方法的流程圖。圖3A~3D是依據本發明第一實施例之光學檢測設備的示意圖。圖4A~4E是依據本發明第二實施例之光學檢測設備的示意圖。圖5A~5D是依據本發明第三實施例之光學檢測設備的示意圖。圖6是依據本發明一實施例之檢測組合選擇方法的流程圖。

Claims

一種可調整取像組合之自動光學檢測(Automated Optical Inspection，AIO)設備，用於檢測一待測物，而該自動光學檢測設備包括：一主體；多個影像擷取裝置，可活動地設於該主體；至少一光源，可活動地設於該主體；以及一控制電路，連接該些影像擷取裝置、及該至少一光源，控制並啟動至少一該影像擷取裝置，並控制該至少一光源運動，依序切換多個取像組合中的每一者來對該待測物進行一取像作業，該控制電路選擇該些影像擷取裝置中的一者朝向該待測物進行該取像作業，該控制電路依據該些取像組合的取像結果判斷該些取像組合是否適用於一檢測作業，並依據判斷的結果自該些取像組合中挑選出至少一檢測組合供該檢測作業使用，其中每一該取像組合記錄一該影像擷取裝置及該至少一光源相對於該待測物的位置及角度，該些影像擷取裝置包含至少一種鏡頭規格，且不同該取像組合所包括的位置或角度不同，每一該檢測組合記錄該些影像擷取裝置、及該至少一光源相對於該待測物的位置及角度，且該檢測作業用於評估該待測物的缺陷。
如申請專利範圍第1項所述可調整取像組合之自動光學檢測設備，更包括：一待測物移動機構，設於該主體，並供該待測物放置，而該控制電路控制該待測物移動機構使該待測物運動，其中每一該取像組合更記錄該待測物的待測位置及待測角度。
如申請專利範圍第1項所述可調整取像組合之自動光學檢測設備，其中該至少一光源包括多個光源，而該控制電路選擇該些光源中的一者移動到指定位置和進行開啟，而每一該取像組合更記錄一該光源和該光源的位置和亮度分布。
如申請專利範圍第1項所述可調整取像組合之自動光學檢測設備，其中該控制電路控制該至少一光源多軸運動。
如申請專利範圍第1項所述可調整取像組合之自動光學檢測設備，其中該控制電路判斷該些取像組合的取像結果是否適用於該檢測作業，並保留適用於該檢測作業的該些取像組合，淘汰未適用於該檢測作業的該些取像組合。
如申請專利範圍第1項所述可調整取像組合之自動光學檢測設備，該控制電路依據該至少一檢測組合控制該些影像擷取裝置及該至少一光源進行該取像作業，供該檢測作業使用。
一種取像組合調整方法，適用於檢測一待測物，而該取像組合調整方法包括：控制並啟動可活動的多個影像擷取裝置中的一者；控制至少一光源運動，以朝向該待測物；控制該待測物移動到待測位置；依序切換多個取像組合中的每一者來進行一取像作業，其中選擇該些影像擷取裝置中的一者朝向該待測物進行該取像作業，每一該取像組合記錄一該影像擷取裝置及該至少一光源相對於該待測物的位置及角度、以及該待測物的所處待測位置及待測角度，該些影像擷取裝置的鏡頭規格不同，且不同該取像組合所包括的位置或角度不同；依據該些取像組合的取像結果判斷該些取像組合是否適用於一檢測作業，其中該檢測作業用於評估該待測物的缺陷；以及依據判斷的結果自該些取像組合中挑選出至少一檢測組合供該檢測作業使用，其中每一該檢測組合記錄該些影像擷取裝置、及該至少一光源相對於該待測物的位置及角度。
如申請專利範圍第7項所述的取像組合調整方法，其中該至少一光源包括多個光源，而控制該至少一光源運動的步驟包括：選擇該些光源中的一者進行開啟並朝向該待測物，其中每一該取像組合更記錄一該光源，且該些光源所提供的亮度分布不同。
如申請專利範圍第7項所述的取像組合調整方法，其中控制該至少一光源運動的步驟包括：控制該至少一光源多軸運動。
如申請專利範圍第9項所述的取像組合調整方法，其中判斷該些取像組合是否適用於該檢測作業的步驟包括：保留適用於該檢測作業的該些取像組合；以及淘汰未適用於該檢測作業的該些取像組合。
如申請專利範圍第7項所述的取像組合調整方法，其中挑選出該至少一檢測組合供該檢測作業使用的步驟之後，更包括：依據該至少一檢測組合再次控制該些影像擷取裝置及該至少一光源進行該取像作業，供該檢測作業使用。
一種可調整取像組合之自動光學檢測設備，用於檢測一待測物，而該自動光學檢測設備包括：一主體；至少一影像擷取裝置，設於該主體；多個光源，可活動地設於該主體；以及一控制電路，連接該些影像擷取裝置、及該些光源，控制並啟動至少一該影像擷取裝置，並控制該些光源運動，依序切換多個取像組合中的每一者來對該待測物進行一取像作業，該控制電路選擇該些光源中的一者移動到指定位置和進行開啟，該控制電路依據該些取像組合的取像結果判斷該些取像組合是否適用於一檢測作業，並依據判斷的結果自該些取像組合中挑選出至少一檢測組合供該檢測作業使用，其中每一該取像組合記錄該至少一影像擷取裝置、一該光源和該光源的位置和亮度分布、及該至少一光源相對於該待測物的位置及角度，每一該取像組合更記錄，且不同該取像組合所包括的位置或角度不同，每一該檢測組合記錄該至少一影像擷取裝置、及該光源相對於該待測物的位置及角度，且該檢測作業用於評估該待測物的缺陷。
如申請專利範圍第12項所述的可調整取像組合之自動光學檢測設備，其中該控制電路依據該至少一檢測組合再次控制該至少一影像擷取裝置及該些光源進行該取像作業，供該檢測作業使用。