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TWI666880B - 應用在數位類比轉換器的校正方法及相關的電路 - Google Patents

應用在數位類比轉換器的校正方法及相關的電路 Download PDF

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TWI666880B
TWI666880B TW107140710A TW107140710A TWI666880B TW I666880 B TWI666880 B TW I666880B TW 107140710 A TW107140710 A TW 107140710A TW 107140710 A TW107140710 A TW 107140710A TW I666880 B TWI666880 B TW I666880B
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
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    • HELECTRICITY
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

本發明揭露一種應用在一數位類比轉換器的校正方法,其包含有以下步驟:產生一第一數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第一類比訊號;使用一類比數位轉換器以根據該第一類比訊號來產生一第一數位輸出訊號;產生一第二數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第二類比訊號;對該第二類比訊號進行極性轉換以產生一轉換後訊號;使用該類比數位轉換器以根據該轉換後訊號來產生一第二數位輸出訊號;以及根據該第一、第二數位輸出訊號以產生一數位校正訊號,以控制一校正電路來產生一類比校正訊號或是判斷補償直流偏移的極性方向。

Description

應用在數位類比轉換器的校正方法及相關的電路
本發明係有關於數位類比轉換器,尤指一種數位類比轉換器的校正方法與相關的電路。
在通訊系統中,數位類比轉換器在非理想效應的影響下會具有直流偏移成分,而使得所輸出的類比訊號有直流偏差並影響到訊號的傳輸品質。為了消除數位類比轉換器的直流偏移成分,傳統上也提出了一些改善方法,在中華民國專利公開號TW200533085中,提出了一種使用兩點內插方式來校正數位類比轉換器之直流偏移的方法,然而,此方法是在數位類比轉換器的數位輸入端進行補償,因此會影響到數位類比轉換器的輸入訊號範圍。另外,中華民國專利公告號TWI355829提到了另一種類比式直流偏移校正方法,然而,此方法在操作上會使得類比數位轉換器的直流偏移被反應在數位類比轉換器的校正上,而使得校正結果有誤差存在。
因此,本發明的目的之一在於提供一種數位類比轉換器的校正電路 與校正方法,其可以避免影響到數位類比轉換器的輸入訊號範圍,且也可以避免類比數位轉換器的直流偏移影響到數位類比轉換器的直流偏移校正,以解決先前技術中所述的問題。
在本發明的一個實施例中,揭露了一種應用在一數位類比轉換器的校正方法,其包含有以下步驟:產生一第一數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第一類比訊號;使用一類比數位轉換器以根據該第一類比訊號來產生一第一數位輸出訊號;產生一第二數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第二類比訊號;對該第二類比訊號進行極性轉換以產生一轉換後訊號;使用該類比數位轉換器以根據該轉換後訊號來產生一第二數位輸出訊號;以及根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號以產生一數位校正訊號,以控制一校正電路來產生一類比校正訊號或是判斷補償直流偏移的極性方向。
在本發明的另一個實施例中,揭露了一種應用在一數位類比轉換器的電路,其包含有一控制電路、一極性轉換電路、一類比數位轉換器以及一校正電路。在該電路的操作中,該控制電路,用以產生一第一數位輸入訊號以及一第二數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以分別產生一第一類比訊號以及一第二類比訊號;該極性轉換電路用以將該第二類比訊號進行極性轉換以產生一轉換後訊號;該類比數位轉換器用以根據該第一類比訊號以產生一第一數位輸出訊號,並根據該轉換後訊號產生一第二數位輸出訊號;以及該校正電路用以根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號以產生一數位校正訊號,以控制一校正電路來產生一類比校正訊號或是判斷補償直流偏移的極性方向。
100、300‧‧‧電路
110、310‧‧‧數位類比轉換器
120、320‧‧‧極性轉換電路
130、330‧‧‧類比數位轉換器
140、340‧‧‧控制電路
150、350‧‧‧校正電路
200~212‧‧‧步驟
315‧‧‧轉阻放大器
410‧‧‧減法器
420‧‧‧比較器
430‧‧‧偏移量控制電路
440‧‧‧訊號產生電路
Din1‧‧‧第一數位輸入訊號
Din2‧‧‧第二數位輸入訊號
V1‧‧‧第一類比訊號
V2‧‧‧第二類比訊號
V_SWAP‧‧‧控制訊號
V2PI‧‧‧轉換後訊號
Dout1‧‧‧第一數位輸出訊號
Dout2‧‧‧第二數位輸出訊號
D_OS‧‧‧數位校正訊號
V_OS、I_OS‧‧‧類比校正訊號
I1‧‧‧第一電流訊號
I2‧‧‧第二電流訊號
D_OS_EN‧‧‧致能訊號
第1圖為根據本發明一實施例之用以校正一數位類比轉換器之電路的示意圖。
第2圖為根據本發明一實施例之一種應用在一數位類比轉換器的校正方法的流程圖。
第3圖為根據本發明一實施例之用以校正一數位類比轉換器之電路的示意圖。
第4圖繪示了根據本發明一實施例之控制電路的示意圖。
第5圖為第3、4圖中部份訊號的時序圖。
第1圖為根據本發明一實施例之用以校正一數位類比轉換器110之電路100的示意圖。如第1圖所示,電路100包含了一極性轉換電路120、一類比數位轉換器130、一控制電路140以及一校正電路150。在本實例中,數位類比轉換器110以及電路100係設置在一通訊裝置中的一發射器(transmitter)或是一收發器(transceiver)中。
在第1圖所示的架構中,電路100係用來在一特定時段,例如該通訊裝置開機時,對數位類比轉換器110進行校正,以補償數位類比轉換器110的直流偏移。而在校正結束之後,電路100的功能便可以關閉,且數位類比轉換器110的輸出可直接供通訊裝置內的其他元件使用。
在電路100的操作中,首先,控制電路140產生一第一數位輸入訊號Din1至數位類比轉換器110中,以產生一第一類比訊號V1,而此時控制電路140 也會產生控制訊號V_SWAP來關閉極性轉換電路120以讓第一類比訊號V1直接傳送至類比數位轉換器130中;接著,類比數位轉換器130對第一類比訊號V1進行類比數位轉換操作以產生一第一數位輸出訊號Dout1至控制電路140。在本實施例中,第一數位輸入訊號Din1可以是數位類比轉換器110之一數位輸入碼範圍的一中間值加上一數位偏移值,具體來說,假設數位類比轉換器110的輸出電壓範圍為-1V~1V,則該數位輸入碼範圍的該中間值所對應到的輸出電壓可以是輸出電壓範圍的中間值(亦即0V),而該數位偏移可以對應到任意適合的輸出電壓。在本實例中,第一類比訊號V1可以表示為:V1=A+△A+OS_DAC,其中A為該數位輸入碼範圍的該中間值所對應到的電壓,△A為該數位偏移值所對應到的電壓,且OS_DAC為位類比轉換器110的直流偏移;類比數位轉換器130所接收到的第一類比訊號V1加上本身的直流偏移OS_ADC可以表示如下:X1=A+△A+OS_DAC+OS_ADC,而第一數位輸出訊號Dout1即為X1的數位資料。
接著,控制電路140產生一第二數位輸入訊號Din2至數位類比轉換器110中,以產生一第二類比訊號V2,而此時控制電路140會產生控制訊號V_SWAP來開啟極性轉換電路120以讓第二類比訊號V2進行極性轉換(例如,以中間值0V為基準進行翻轉)以產生一轉換後訊號V2PI至類比數位轉換器130中;接著,類比數位轉換器130對轉換後訊號V2PI進行類比數位轉換操作以產生一第二數位輸出訊號Dout2至控制電路140。在本實施例中,第二數位輸入訊號Din2可以是數位類比轉換器110之該數位輸入碼範圍的該中間值減去該數位偏移值,在本實例中,第二類比訊號V2可以表示為:V1=A-△A+OS_DAC;轉換後訊號V2PI可以表示為:V2PI=A+△A-OS_DAC(在本實施例中,以A為基準進行極性轉換);類比數位轉換器130所接收到的轉換後訊號V2PI加上本身的直流偏移OS_ADC可以表示如下:X2=A+△A-OS_DAC+OS_ADC,而第二數位輸出訊號Dout2即為 X2的數位資料。
接著,控制電路140將第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2相減後便只剩下OS_DAC的資訊,而類比數位轉換器130本身的直流偏移OS_ADC便可完全被移除。因此,控制電路140便可以根據所得到之數位類比轉換器110的直流偏移OS_DAC來計算或查表以判斷數位類比轉換器110所需校正的大小或補償的極性方向,並據以產生一數位校正訊號D_OS,以供校正電路150產生一類比校正訊號V_OS至數位類比轉換器110的輸出端進行補償。
如上所述,透過以上實施例的操作,數位類比轉換器110的直流偏移校正可以不受到類比數位轉換器130之直流偏移的影響,再加上校正電路150是在數位類比轉換器110的類比輸出端進行補償,因此也可以避免影響到數位類比轉換器110之輸入訊號範圍。
需注意的是,上述實施例所述之產生第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2的時間點是可以互換的,亦即控制電路140可以先產生第二數位輸入訊號Din2以供產生第二數位輸出訊號Dout2之後,再產生第一數位輸入訊號Din1以供產生第一數位輸出訊號Dout1。在另一實施例中,在產生第一數位輸出訊號Dout1的過程中,控制電路140可以產生控制訊號V_SWAP以開啟極性轉換電路120,而在產生第二數位輸出訊號Dout1的過程中控制電路140可以產生控制訊號V_SWAP以關閉極性轉換電路120。只要所產生的第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2可以透過相減而消除類比數位轉換器130之直流偏移,上述實施變化均應隸屬於本發明的範疇。
第2圖為根據本發明一實施例之一種應用在一數位類比轉換器的校正方法的流程圖。參考以上實施例所述的內容,校正方法的流程如下所述。
步驟200:流程開始。
步驟202:產生第一數位輸入訊號至數位類比轉換器,以產生第一類比訊號。
步驟204:對第一類比訊號進行類比數位轉換操作以產生第一數位輸出訊號。
步驟206:產生第二數位輸入訊號至數位類比轉換器,以產生第二類比訊號。
步驟208:對第二類比訊號進行極性轉換以產生轉換後訊號。
步驟210:對轉換後訊號進行類比數位轉換操作以產生第二數位輸出訊號。
步驟212:根據第一數位輸出訊號以及第二數位輸出訊號的差值以產生類比校正訊號至數位類比轉換器的輸出端,以校正數位類比轉換器的直流偏移。
第3圖為根據本發明一實施例之用以校正一數位類比轉換器310之電路300的示意圖。如第3圖所示,電路300包含了一轉阻放大器(transimpedance amplifier)315、一極性轉換電路320、一類比數位轉換器330、一控制電路340以及一校正電路350。在本實例中,數位類比轉換器310以及電路300係設置在一通訊裝置中的一發射器或是一收發器中。第4圖繪示了根據本發明一實施例之控制電路340的示意圖。如第4圖所示,控制電路340包含了一減法器410、一比較器420、一偏移量控制電路430以及一訊號產生電路440。
在第3圖所示的架構中,電路300係用來在一特定時段,例如該通訊裝置開機時,對數位類比轉換器310進行校正,以補償數位類比轉換器310的直流偏移。而在校正結束之後,電路300的功能便可以關閉,且數位類比轉換器310的輸出可直接供通訊裝置內的其他元件使用。
電路300的操作與第1圖所示的電路100類似,其主要差異是控制電路340在計算出第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2的差值後,僅調整數位校正訊號D_OS的一個位元以產生對應的類比校正訊號I_OS來校正數位類比轉換器310的直流偏移。亦即,控制電路340會多次計算出第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2的差值後,依序調整數位校正訊號D_OS的其餘位元,以使得校正電路350所產生的類比校正訊號I_OS逼近理想值。
關於電路300的操作,同時參考第3~5圖,其中第5圖繪示了相關訊號的時序圖。首先,控制電路340內的訊號產生電路440產生一第一數位輸入訊號Din1至數位類比轉換器310中,以產生一第一電流訊號I1至轉阻放大器315後產生一第一類比訊號V1(電壓訊號)。此時訊號產生電路440產生控制訊號V_SWAP以關閉極性轉換電路320以讓第一類比訊號V1直接傳送至類比數位轉換器330中;接著,類比數位轉換器330對第一類比訊號V1進行類比數位轉換操作以產生一第一數位輸出訊號Dout1至控制電路340。在本實施例中,第一數位輸入訊號Din1以及第一數位輸出訊號Dout1的範例可參考第1圖的實施例。
接著,訊號產生電路440產生一第二數位輸入訊號Din2至數位類比轉換器310中,以產生一第二電流訊號I2至轉阻放大器315後產生一第二類比訊號V2(電壓訊號)。此時訊號產生電路440會產生控制訊號V_SWAP以開啟極性轉換 電路320以讓第二類比訊號V2進行極性轉換以產生一轉換後訊號V2PI至類比數位轉換器330中;接著,類比數位轉換器330對轉換後訊號V2PI進行類比數位轉換操作以產生一第二數位輸出訊號Dout2至控制電路340。在本實施例中,第二數位輸入訊號Din2以及第二數位輸出訊號Dout2的範例可參考第1圖的實施例。
接著,控制電路340內的減法器將第一數位輸出訊號Dout1以及第二數位輸出訊號Dout2相減後,產生一差值訊號至比較器420以與一參考電壓(本實施例中為0)進行比較,以產生一比較訊號至偏移量控制電路430以產生數位校正訊號D_OS<5:0>的第一個位元(例如,最重要位元(most significant bit,MSB))(在本實施例中,係假設校正訊號為6位元的數位訊號),其中比較訊號係可以反映出數位類比轉換器310之直流偏移的極性/方向。此時,訊號產生電路440也會產生致能訊號D_OS_EN<5>至校正電路350,以控制校正電路350來根據數位校正訊號D_OS<5>來產生類比校正訊號I_OS至數位類比轉換器110的輸出端進行補償。在本實施例中,類比校正訊號I_OS係為一電流,其透過直接連接至數位類比轉換器310的輸出端以調整數位類比轉換器310的輸出電流。
接著,電路100重複上述步驟,以依序產生數位校正訊號D_OS的其他位元D_OS<4>D_OS<0>,並依序產生致能訊號D_OS_EN<4>~D_OS_EN<0>至校正電路350,以使得校正電路350可以根據數位校正訊號D_OS的其他位元D_OS<4>D_OS<0>來依序更新類比校正訊號I_OS的電流值。
第3圖之電路300可以讓類比校正訊號I_OS以連續逼近的方式接近理想值,因此可以避免數位類比轉換器310以及類比數位轉換器330的特性不匹配的問題。
在有關於第3~5圖的另一個實施例中,若是在直流偏移補償的過程中提前達到標準,例如在產生數位校正訊號D_OS<3>之後直流偏移量便已符合標準,則接下來的致能訊號D_OS_EN<2>~D_OS_EN<0>便會關閉,而不再需要繼續產生剩餘的校正位元。
簡要歸納本發明,在本發明之應用於數位類比轉換器的校正電路與校正方法,透過特定數位輸入訊號以及極性轉換操作,可以消除校正過程中類比數位轉換器之直流偏移的影響,而使得數位類比轉換器之直流偏移校正可以更準確。此外,本實施例係直接對數位類比轉換器的類比輸出端進行直流偏移校正,因此也可以避免影響到數位類比轉換器的輸入訊號範圍。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。

Claims (10)

  1. 一種應用在一數位類比轉換器的校正方法,包含有:(a)產生一第一數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第一類比訊號;(b)使用一類比數位轉換器以根據該第一類比訊號來產生一第一數位輸出訊號;(c)產生一第二數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以產生一第二類比訊號;(d)對該第二類比訊號進行極性轉換以根據一基準電壓進行翻轉來產生一轉換後訊號;(e)使用該類比數位轉換器以根據該轉換後訊號來產生一第二數位輸出訊號;以及(f)根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號以產生一數位校正訊號,以控制一校正電路來產生一類比校正訊號或是判斷補償直流偏移的極性方向,以供校正該數位類比轉換器。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之校正方法,其中該數位校正訊號係用以控制該校正電路來產生該類比校正訊號以校正該數位類比轉換器的一輸出。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之校正方法,其中該類比校正訊號係為一電流訊號,且該類比校正訊號係用來校正該數位類比轉換器的一直流偏移。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之校正方法,其中該第一數位輸入訊號為該數位類比轉換器之一數位輸入碼範圍的一中間值加上一數位偏移值,且該第二數位輸入訊號為該中間值減去一數位偏移值。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之校正方法,其中該第一數位輸入訊號為該數位類比轉換器之一數位輸入碼範圍的一中間值減去一數位偏移值,且該第二數位輸入訊號為該中間值加上一數位偏移值。
  6. 如申請專利範圍第2項所述之校正方法,其中步驟(f)的步驟包含有:根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號的差值,以產生該數位校正訊號至該校正電路,以供產生該類比校正訊號至以校正該數位類比轉換器的該輸出。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之校正方法,其中該步驟(f)的步驟包含有:(g)根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號的差值,以產生該數位校正訊號的一個位元;以及(h)根據該數位校正訊號以產生該類比校正訊號至該數位類比轉換器的一輸出端。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之校正方法,另包含有:重複步驟(a)、(b)、(c)、(d)、(e)、(g)以產生出該數位校正訊號的其他位元。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之校正方法,其中步驟(a)、(b)的時間點係在步驟(c)、(d)、(e)之前;或是步驟(a)、(b)的時間點係在步驟(c)、(d)、(e)之後。
  10. 一種應用在一數位類比轉換器的電路,包含有:一控制電路,用以產生一第一數位輸入訊號以及一第二數位輸入訊號至該數位類比轉換器,以分別產生一第一類比訊號以及一第二類比訊號;一極性轉換電路,耦接於該控制電路,用以將該第二類比訊號進行極性轉換以根據一基準電壓進行翻轉來產生一轉換後訊號;一類比數位轉換器,耦接於該極性轉換電路以及該控制電路,用以根據該第一類比訊號以產生一第一數位輸出訊號,並根據該轉換後訊號產生一第二數位輸出訊號;一控制電路,耦接於該類比數位轉換器,用以根據該第一數位輸出訊號以及該第二數位輸出訊號以產生一數位校正訊號或是判斷補償直流偏移的極性方向;以及一校正電路,耦接於該類比數位轉換器,用以根據該數位校正訊號以產生一類比校正訊號,以供校正該數位類比轉換器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022035342A1 (en) * 2020-08-13 2022-02-17 Huawei Technologies Co., Ltd. Signal processing apparatus for use in optical communication
US11598655B2 (en) * 2021-07-13 2023-03-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic-field sensor with test pin for control of signal range and/or offset
TWI774493B (zh) * 2021-07-29 2022-08-11 新唐科技股份有限公司 可用於信號轉換器的控制電路與校正方法
US12113542B2 (en) * 2022-08-19 2024-10-08 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Calibration detector with two offset compensation loops
CN118199636A (zh) * 2022-12-12 2024-06-14 恩智浦有限公司 自校准缓冲电压dac
KR20240174566A (ko) * 2023-06-09 2024-12-17 에스케이하이닉스 주식회사 아날로그 디지털 변환기
US20250385682A1 (en) * 2024-06-18 2025-12-18 Qualcomm Incorporated Direct current offset calibration for digital-to-analog conversion

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5818370A (en) * 1991-11-08 1998-10-06 Crystal Semiconductor Corporation Integrated CODEC with a self-calibrating ADC and DAC
US6445319B1 (en) * 2000-05-10 2002-09-03 Texas Instruments Incorporated Analog to digital converter circuit
TW200929966A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Ind Tech Res Inst Circuit and method for calibrating direct current offset
TW201810954A (zh) * 2016-04-15 2018-03-16 瑞昱半導體股份有限公司 數位類比轉換器之校正電路及校正方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6888481B2 (en) * 2003-01-10 2005-05-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. D/A converting device with offset compensation function and offset compensation method of D/A converting device
TWI235555B (en) 2004-03-18 2005-07-01 Mediatek Inc DAC DC offset calibration method and related apparatus
US8659456B2 (en) * 2011-11-16 2014-02-25 Mediatek Inc. Electronic device and transmitter DC offset calibration method thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5818370A (en) * 1991-11-08 1998-10-06 Crystal Semiconductor Corporation Integrated CODEC with a self-calibrating ADC and DAC
US6445319B1 (en) * 2000-05-10 2002-09-03 Texas Instruments Incorporated Analog to digital converter circuit
TW200929966A (en) * 2007-12-26 2009-07-01 Ind Tech Res Inst Circuit and method for calibrating direct current offset
TW201810954A (zh) * 2016-04-15 2018-03-16 瑞昱半導體股份有限公司 數位類比轉換器之校正電路及校正方法

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