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TWI645701B - 對統一協定裝置執行自功能測試的方法和相關統一協定裝置 - Google Patents

對統一協定裝置執行自功能測試的方法和相關統一協定裝置 Download PDF

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TWI645701B
TWI645701B TW106109315A TW106109315A TWI645701B TW I645701 B TWI645701 B TW I645701B TW 106109315 A TW106109315 A TW 106109315A TW 106109315 A TW106109315 A TW 106109315A TW I645701 B TWI645701 B TW I645701B
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許軒榮
王良彥
王泓斌
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聯發科技股份有限公司
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Abstract

一種統一協定(Unified Protocol,UniPro)裝置，其中該統一協定裝置具有一自功能測試，包含一實體層電路，該實體層電路包含一發送埠和一接收埠，其中該發送埠和該接收埠在一自測試模式下經由一回路鏈路彼此連接；以及一統一協定介面，用於在該自測試模式下生成一外出測試樣式到該發送埠並檢查從該接收埠接收的一進來測試樣式。本發明由於以上技術特徵，可以僅使用單個統一協定裝置來執行自功能測試方案。

Description

對統一協定裝置執行自功能測試的方法和相關統一協定 裝置
本發明涉及測試統一協定(UniPro)裝置的功能，且更特別地，涉及對統一協定裝置執行自功能測試的方法和統一協定裝置。
統一協定(UniPro)由移動產業處理器介面(MIPI)聯盟開發，且是高速互連技術用於連接在移動或移動影響系統的積體電路。其目標是支援多個應用。例如，計畫連接到UniPro介面的流行應用可包含由MIPI聯盟開發的CSI-3、由聯合電子裝置工程委員會(JEDEC)開發的通用快閃記憶體(UFS)、穀歌Project Ara等。
UniPro裝置可以看作具有UniPro介面和實體層(PHY)電路，其中UniPro介面支援上層(例如，應用層)和下層(例如，實體層)之間的UniPro堆疊中的若干層。為了測試UniPro裝置的功能，在測試下，通常要求對等UniPro裝置連接到UniPro裝置。即，UniPro裝置的發送(TX)埠在測試下應該連接到對等UniPro裝置的接收(RX)埠，且UniPro裝置的RX埠在測試下應該連接到對等體UniPro裝置的TX埠。然而，對於自動測試設備(ATE)環境中的一些製造測試，僅僅一個UniPro裝置是可用的。因此，需要一種新穎的自功能測試方案，其允許一些關鍵測試僅僅使用單個UniPro裝置來執行。
有鑑於此，本發明提供一種對統一協定裝置執行自功能測試的方法和統一協定裝置。
本發明提供一種統一協定裝置，具有自功能測試，包含實體層電路，包含發送埠和接收埠，其中發送埠和接收埠在自測試模式下經由回路鏈路彼此連接；以及統一協定介面，用於在自測試模式下生成外出的測試樣式到發送埠並檢查從接收埠接收的進來的測試樣式。
本發明還提供一種對統一協定裝置執行自功能測試的方法，統一協定裝置包含統一協定介面和實體層電路，包含在自測試模式下，經由回路鏈路連接實體層電路的發送埠到實體層電路的接收埠；以及在自測試模式下，利用統一協定介面生成外出的測試樣式到發送埠，並檢查從接收埠接收的進來的測試樣式。
本發明由於以上技術特徵，可以僅使用單個UniPro裝置來執行自功能測試方案。
100‧‧‧UniPro裝置
102‧‧‧UniPro介面
115‧‧‧DME
111‧‧‧傳輸層(L4)電路
112‧‧‧網路層(L3)電路
113‧‧‧資料鏈路層(L2)電路
114‧‧‧PHY適配器層(L1.5)電路
117‧‧‧RX埠
116‧‧‧TX埠
104‧‧‧實體層(L1)電路
702~712‧‧‧步驟
第1圖是圖示根據本發明的實施例的具有自功能測試的UniPro裝置的示意圖。
第2圖是圖示根據UniPro規格的電力模式改變請求幀的幀結構的示意圖。
第3圖是圖示根據UniPro規格的電力模式改變確認幀的幀結構的示意圖。
第4圖是圖示在實體層電路的TX埠和RX埠經由回路鏈路彼此連接的條件下不成功的電力模式改變過程的示意圖。
第5圖是根據本發明的實施例圖示在自測試模式下在電力模式改變確認幀的狀態欄位被迫使指示“PWR_OK”狀態的條件下執行的成功的電力模式改變過 程的示意圖。
第6圖是根據本發明的實施例圖示在自測試模式下在電力模式改變請求幀的裝置ID欄位刻意由假裝置ID設置的條件下執行的成功的電力模式改變過程的示意圖。
第7圖是圖示根據本發明的實施例的對UniPro裝置執行自功能測試的方法的流程圖。
在說明書及權利要求書當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中技術人員應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及權利要求書並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及權利要求書中所提及的“包含”是一個開放式的用語，故應解釋成“包含但不限定於”。此外，“耦接”一詞在此是包含任何直接及間接的電氣連接手段，因此，若文中描述第一裝置耦接於第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或者透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。
第1圖是圖示根據本發明的實施例的具有自功能測試的UniPro裝置的示意圖。UniPro裝置100可以由包含UniPro介面102和實體層(L1)電路104的硬體電路實施。例如，實體層(PHY)電路104可以相容由MIPI聯盟開發的MPHY規格。UniPro介面102可包含傳輸層(L4)電路111、網路層(L3)電路112、資料鏈路層(L2)電路113、PHY適配器層(L1.5)電路114以及裝置管理實體(DME)115，其中DME 115控制UniPro堆疊中所有的層。關於實體層(L1)電路104，其具有發送(TX)埠116和接收(RX)埠117。每個TX埠116和RX埠117包含多個資料通道。TX埠116負責在TX-方向的微分資料傳輸，以及RX埠117負責在RX-方向的微分資料傳輸。
應該注意到，在UniPro堆疊沒有主/從區分。因此，UniPro裝置支援點對點通信。基於這樣的觀察，本發明因此提出通過在自測試模式下經由回路鏈路10將TX埠116和RX埠117在相同的實體層電路(L1)104連接來實現UniPro裝置100的自功能測試。例如，回路鏈路10可以使用直接連接線實施，和/或軟體驅動器可通過設置UniPro介面102中的控制寄存器使能UniPro裝置100的自測試模式。
因為實體層電路104的TX埠116和RX埠117由回路鏈路10連接，經由TX埠116發送的任何資料由RX埠117接收。換句話說，測試下的UniPro裝置100也用作其對等體UniPro裝置。以此方式，從本地UniPro裝置(即，UniPro裝置100)輸出的資料等效于接收從遠端UniPro裝置發送的相同的資料。因此，UniPro裝置100可以不用對等體UniPro裝置來測試。
在本實施例中，UniPro介面102用於在自測試模式下執行鏈路啟動過程。鏈路啟動過程是多相位握手，其交換UniPro觸發事件以在雙方向建立初始鏈路通信。因此，UniPro介面102(特別地，PHY適配器層電路(L1.5)114)生成UniPro觸發事件到實體層104，UniPro觸發事件經由實體層104的TX埠116發送，相同的UniPro觸發事件由於回路鏈路10由實體層104的RX埠117接收，以及所接收的UniPro觸發事件從實體層電路104傳送至UniPro介面102(特別地，PHY適配器層(L1.5)電路114)。通過直接將實體層電路104的TX埠116連接至相同的實體層電路104的RX埠117，鏈路啟動過程在自測試模式下不用對UniPro介面和實體層電路進行任何修改是可實現的。
在鏈路啟動過程成功完成後，UniPro裝置100離開鏈路啟動過程，並進入低速(LS)模式。在一個示範性實施例中，傳輸層(L4)中的測試特徵可以被採用以執行LS模式測試。例如，UniPro介面102(特別地，傳輸層(L4)電路111)用於生成外出的測試樣式(outgoing test pattern)到TX埠116並檢查由RX 埠117在自測試模式下接收的進來的測試樣式(incoming test pattern)，其中進來的測試樣式起源於通過賄賂鏈路10的外出的測試樣式。
為了執行高速(HS)模式測試，UniPro裝置100要求增加高資料交換率。例如，電力模式改變握手過程可以被執行以進入HS模式，並在自測試模式下增加資料交換率。關於電力模式改變過程，初始化器將發送pacp_pwr_req幀(其是請求幀)，以及接收器將返回pacl_pwr_cnf幀(其是確認幀)。定義於UniPro規格中的pacp_pwr_req幀的幀結構圖示於第2圖。定義於UniPro規格中的pacp_pwr_cnf幀的幀結構圖示於第3圖。
由於TX埠116通過回路鏈路10在自測試模式下連接至RX埠117，UniPro裝置100用作初始化器以及接收器。換句話說，從UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)生成的pacp_pwr_req幀經由TX埠116發送，以及相同的pacp_pwr_req幀由於回路鏈路10立即由RX埠117所接收；以及從UniPro介面102生成(具體地，PHY適配器層電路(L1.5)114)的pacp_pwr_cnf幀經由TX埠116發送，且相同的pacp_pwr_cnf幀由於回路鏈路10立即由RX埠117所接收。
典型地，顯示於第2圖中的pacp_pwr_req幀的欄位“DevID”記錄本地裝置識別(ID)。然而，當UniPro介面102生成具有由分配至UniPro裝置100的實際裝置ID設置的欄位“DevID”的pacp_pwr_req幀時，沒有成功的電力模式改變可實現。第4圖是圖示在實體層電路的TX埠和RX埠經由回路鏈路彼此連接的條件下不成功的電力模式改變過程的示意圖。假設UniPro裝置100的實際裝置ID由“ID0”設置。UniPro介面102(具體地，PHY適配器層電路(L1.5)114)通過生成具有DevID=“ID0”的pacp_pwr_req幀到實體層(L1)電路104初始化電力模式改變過程。具有DevID=“ID0”的pacp_pwr_req幀經由TX埠116發送，並經由回路鏈路10由RX埠117接收。由RX埠117接收的pacp_pwr_req幀可以看作從遠端UniPro 裝置生成的請求幀。根據UniPro規格，如果遠端UniPro裝置的裝置ID大於或等於本地UniPro裝置的裝置ID，從遠端UniPro裝置生成的請求幀由本地UniPro裝置拒絕。因為由RX埠117接收的pacp_pwr_req幀的裝置ID欄位由分配給UniPro裝置100的實際裝置ID“ID0”設置，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)以具有狀態=“PWR_BUSY”的pacp_pwr_cnf幀回復實體層(L1)電路104，其中“PWR_BUSY”狀態指示由於同時訪問請求被拒絕。具有狀態=“PWR_BUSY”的pacp_pwr_cnf幀經由TX埠116發送，並由RX埠117經由回路鏈路10接收。其結果是，電力模式改變過程不成功。
為了實現TX埠116經由回路鏈路10連接到RX埠117的自測試模式下成功的電力模式改變過程，本發明提出迫使電力模式改變確認幀的狀態欄位(例如，pacp_pwr_cnf幀)為“PWR_OK”或有意將電力模式改變請求幀的裝置ID欄位(例如，pacp_pwr_req幀)由不同於測試下分配給UniPro裝置的實際裝置ID的假裝置ID設置。
第5圖是根據本發明的實施例的圖示在自測試模式下在電力模式改變確認幀的狀態欄位被迫使指示“PWR_OK”狀態的條件下執行的成功的電力模式改變過程的示意圖。假設UniPro裝置100的實際裝置ID設置為“ID0”。UniPro介面102(具體地，PHY適配器層電路114)通過生成具有DevID=“ID0”的pacp_pwr_req幀到實體層(L1)電路104初始化電力模式改變過程。具有DevID=“ID0”的pacp_pwr_req幀經由TX埠116發送，並經由回路鏈路10由RX埠117接收。如上所述，由RX埠117所接收的pacp_pwr_req幀可以看作從遠端UniPro裝置生成的請求幀。在本實施例中，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)響應於所接收的pacp_pwr_req幀生成pacp_pwr_cnf幀，其中不管記錄於所接收的pacp_pwr_req幀中的裝置ID“ID0”以及分配給UniPro裝置100的實際裝置ID“ID0”，迫使pacp_pwr_cnf幀的狀態欄位為“PWR_OK”(其指示接受並執行電力 模式改變請求)。換句話說，PHY適配器層(L1.5)電路114被修改以使得pacp_pwr_cnf幀的狀態欄位在自測試模式下為“PWR_OK”。儘管由RX埠117所接收的pacp_pwr_req幀的裝置ID DevID=“ID0”與分配給UniPro裝置100的實際裝置ID“ID0”相同，具有狀態=“PWR_OK”的pacp_pwr_cnf幀確保由UniPro裝置100(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)生成。具有狀態=“PWR_OK”的pacp_pwr_cnf幀經由TX埠116發送，並經由回路鏈路10由RX埠117接收。以此方式，電力模式改變過程可以成功地完成以使能HS模式用於增加資料交換率。記錄於pacp_pwr_req幀的欄位TxMode、TxLane、TxGear、RxMode、RxLane、RxGear中的電力模式以及資料交換率的設置由具有記錄於欄位TxMode、TxLane、TxGear、RxMode、RxLane、RxGear的相同設置的pacp_pwr_cnf幀確認，其中TxMode欄位指示UniPro電力模式用於TX方向，TxLane欄位指示TX方向的活動通道計數，TxGear欄位指示TX方向的HS齒輪設置，RxMode欄位指示RX方向的UniPro電力模式，RxLane欄位指示RX方向的活動通道計數，以及RxGear欄位指示RX方向的HS齒輪設置。基於pacp_pwr_req幀中請求的資料交換率的設置以及由pacp_pwr_cnf幀確認，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層電路114)還控制實體層電路104進入HS模式並操作于高資料交換率。
第6圖是根據本發明的實施例圖示在自測試模式下在電力模式改變請求幀的裝置ID欄位刻意由假裝置ID設置的條件下執行的成功的電力模式改變過程的示意圖。假設UniPro裝置100的實際裝置ID設置為“ID0”。UniPro介面102(具體地，PHY適配器(L1.5)層電路114)通過生成pacp_pwr_req幀初始化電力模式改變過程，其中pacp_pwr_req幀的裝置ID欄位刻意地由不同於分配給UniPro裝置100的實際裝置ID“ID0”的假裝置ID“ID1”設置。例如，假裝置ID“ID1”和實際裝置ID“ID0”被合適地設置，以便假裝置ID“ID1”小於實際裝置ID“ID0”。具有DevID=”ID1”的pacp_pwr_req幀經由TX埠116發送，並經由回路鏈路10由RX埠117接收。如上 所述，如果遠端UniPro裝置的裝置ID大於或等於本地UniPro裝置的裝置ID，則由RX埠117接收的pacp_pwr_req幀可以看作從遠端UniPro裝置生成的請求幀，以及從遠端UniPro裝置生成的請求幀可以由本地UniPro裝置拒絕。在本實施例中，因為假裝置ID“ID1”特別地設置為小於分配給UniPro裝置100的實際裝置ID“ID0”(即，ID1<ID0)，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)響應於所接收的pacp_pwr_req幀生成pacp_pwr_cnf幀，其中pacp_pwr_cnf幀的狀態欄位由“PWR_OK”設置(其指示接受並執行電力模式改變請求)。換句話說，由於假裝置ID“ID1”以及實際裝置ID“ID0”的合適地設置，pacp_pwr_cnf幀的狀態欄位確保指示接受並執行電力模式改變請求。具有狀態=“PWR_OK”的pacp_pwr_cnf幀經由TX埠116發送，並經由回路電路10由RX埠117接收。以此方式，電力模式改變過程成功完成以使能HS模式用於增加資料交換率。記錄於pacp_pwr_req幀的欄位TxMode、TxLane、TxGear、RxMode、RxLane、RxGear中的電力模式以及資料交換率的設置由具有記錄於欄位TxMode、TxLane、TxGear、RxMode、RxLane、RxGear的相同設置的pacp_pwr_cnf幀確認，其中TxMode欄位指示UniPro電力模式用於TX方向，TxLane欄位指示TX方向的活動通道計數，TxGear欄位指示TX方向的HS齒輪設置，RxMode欄位指示RX方向的UniPro電力模式，RxLane欄位指示RX方向的活動通道計數，以及RxGear欄位指示RX方向的HS齒輪設置。基於pacp_pwr_req幀中請求的資料交換率的設置以及由pacp_pwr_cnf幀確認，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層電路114)還控制實體層電路104進入HS模式並操作于高資料交換率。
在顯示於第5圖和第6圖的以上實施例中，UniPro裝置100通過在完成鏈路啟動過程後執行電力模式改變握手過程使能高資料交換率用於HS模式測試。備選地，用於HS模式測試的高資料交換率可以無需進行電力模式改變握手過程直接使能。此也落入本發明的範圍。
在一個備選設計中，在完成鏈路啟動過程後，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)還配置為具有設置SGEAR，其變為使能HS模式用於在自測試模式下增加資料交換率，其中設置SGEAR在不執行電力模式改變握手過程的條件下改變。例如，設置SGEAR可包含TX方向的HS齒輪設置以及RX方向的HS齒輪設置。基於設置SGEAR在自測試模式下直接寫入UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)，UniPro介面102(具體地，PHY適配器層(L1.5)電路114)還控制實體層電路104進入HS模式並操作于高資料交換率。
在另一備選設計中，在完成鏈路啟動過程後，實體層電路104還配置為具有設置SGEAR ’，其變為使能HS模式用於在自測試模式下增加資料交換率，其中設置SGEAR ’在不執行電力模式改變握手過程的條件下改變。例如，設置SGEAR ’可包含TX方向的HS齒輪設置以及RX方向的HS齒輪設置。基於設置SGEAR ’在自測試模式下寫入實體層(L1)電路104，實體層(L1)電路104進入HS模式並操作于高資料交換率。
在UniPro裝置100進入HS模式後，HS模式測試可以在自測試模式下執行，其中TX埠116經由回路鏈路10連接到RX埠117。在一個示範性實施例中，傳輸層(L4)中的測試特徵可以被採用以執行HS模式測試。例如，UniPro介面102(特別地，傳輸層(L4)電路111)配置為生成外出的測試樣式到TX埠116，並檢查在自測試模式下從RX埠117接收的進來的測試樣式，其中進來的測試樣式起源於通過回路鏈路10的外出的測試樣式。
如上所述，LS模式測試和/或HS模式測試可以在自測試模式下執行，其中實體層(L1)電路104的TX埠116和RX埠117由回路鏈路10連接。然而，這些僅僅是用於說明性的目的，並非是本發明的限制。在本發明的一些實施例中，UniPro裝置100可以被控制進入和離開休眠模式，以便休眠模式測試可以在自測試模式下執行，其中實體層(L1)電路104的TX埠116和RX埠117由回路鏈路10連 接。
第7圖是圖示根據本發明的實施例的對UniPro裝置執行自功能測試的方法的流程圖。假設結果基本相同，步驟不要求以顯示於第7圖中的精確不執行。在步驟702中，實體層(L1)電路104的TX埠116經由回路鏈路10連接至相同的實體層電路(L1)104的RX埠117。在步驟704，使能UniPro裝置100的自測試模式，例如，通過設置UniPro介面102的控制寄存器。在步驟706，鏈路啟動過程在自測試模式下執行。在步驟708，在自測試模式下執行LS模式測試，例如，通過使用傳輸層電路111作為樣式生成器以及樣式檢查器。在步驟710，UniPro裝置100離開LS模式並進入HS模式，例如，通過執行電力模式改變過程或通過直接寫入齒輪設置到PHY適配器層(L1.5)電路114/實體層(L1)電路104。在步驟712，在自測試模式下執行HS模式測試，例如，通過使用傳輸層(L4)電路111作為樣式生成器和樣式檢查器。應該注意到流程中的步驟可以省略和/或附加的步驟可以增加到流程中，依據實際設計考慮。例如，顯示於第7圖中的步驟708可以省略。對於另一示例，用於控制UniPro裝置100進入休眠模式、在自測試模式下執行休眠模式測試以及控制UniPro裝置100離開休眠模式的附加的步驟可以增加到顯示於第7圖的流程。這些備選設計均落入本發明的範圍。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

Claims (18)

  1. 一種統一協定裝置，具有自功能測試，包含：一實體層電路，包含一發送埠和一接收埠，其中所述發送埠和所述接收埠在一自測試模式下經由一回路鏈路彼此連接；以及一統一協定介面，用於在所述自測試模式下生成一外出測試樣式到所述發送埠並檢查從所述接收埠接收的一進來測試樣式，在完成鏈路啟動過程後，所述統一協定介面另用以執行一電力模式改變握手過程以在所述自測試模式下調一資料交換率。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，所述統一協定介面另用以在所述自測試模式下執行一鏈路啟動過程，以及所述外出測試樣式在所述自測試模式下在完成所述鏈路啟動過程後經由所述發送埠發送。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，所述外出測試樣式在所述自測試模式下在完成所述電力模式改變握手過程後經由所述發送埠發送。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，在所述電力模式改變握手過程中，所述統一協定介面用於：生成一電力模式改變請求幀到所述發送埠；從所述接收埠接收所述電力模式改變請求幀；回應於從所述接收埠接收的所述電力模式改變請求幀，生成一電力模式改變確認幀到所述發送埠，其中不管記錄於所述電力模式改變請求幀的一裝置身分(identity,ID)以及分配給所述統一協定裝置的一裝置 ID，所述電力模式改變確認幀的一狀態欄位被迫指示接受並執行一電力模式改變請求；以及從所述接收埠接收所述電力模式改變確認幀。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，在所述電力模式改變握手過程中，所述統一協定介面用於：生成一電力模式改變請求幀到所述發送埠，其中所述電力模式改變請求幀的一裝置身分(identity,ID)欄位刻意由不同於分配給所述統一協定裝置的一實際裝置ID的一假裝置ID設置；從所述接收埠接收所述電力模式改變請求幀；回應於從所述接收埠接收的電力模式改變請求幀，生成一電力模式改變確認幀到所述發送埠，其中所述電力模式改變確認幀的一狀態欄位由於所述假裝置ID和所述實際裝置ID確保指示接受並執行一電力模式改變請求；以及從所述接收埠接收所述電力模式改變確認幀。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，在完成所述鏈路啟動過程後，所述統一協定介面另具有在所述自測試模式下改變為調整一資料交換率的一設置，且所述設置在不執行一電力模式改變握手過程的條件下被改變。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的統一協定裝置，其中，所述外出測試樣式在所述自測試模式下在所述設置改變後經由所述發送埠發送。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的統一協定裝置，其中，在完成所述鏈路啟動過程後，所述實體層電路另具有在所述自測試模式下改變為調整一資料交換率的一設置，且所述設置在不執行電力模式改變握手過程的條件下被改變。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的統一協定裝置，其中，所述外出的測試樣式在所述自測試模式下在所述設置被改變後經由所述發送埠發送。
  10. 一種對統一協定裝置執行自功能測試的方法，所述統一協定裝置包含一統一協定介面和一實體層電路，包含：在一自測試模式下，經由一回路鏈路連接所述實體層電路的一發送埠到所述實體層電路的一接收埠；以及在所述自測試模式下，利用所述統一協定介面生成一外出測試樣式到所述發送埠，並檢查從所述接收埠接收的一進來測試樣式，在完成鏈路啟動過程後，利用所述統一協定介面執行一電力模式改變握手過程以在所述自測試模式下調整一資料交換率。
  11. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，另包括：在所述自測試模式下，利用所述統一協定介面執行一鏈路啟動過程；其中在完成所述鏈路啟動過程後，所述外出測試樣式在所述自測試模式下經由所述發送埠發送。
  12. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，其中，在完成所述電力模式改變握手過程後，所述外出測試樣式在所述自測試模式下經由所述發送埠發送。
  13. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，其中，利用所述統一協定介面執行所述電力模式改變握手過程包含：生成一電力模式改變請求幀到所述發送埠；從所述接收埠接收所述電力模式改變請求幀；回應於從所述接收埠接收的所述電力模式改變請求幀，生成一電力模式改變確認幀到所述發送埠，其中不管記錄於所述電力模式改變請求幀的一裝置身分(identity,ID)以及分配給所述統一協定裝置的一裝置ID，所述電力模式改變確認幀的一狀態欄位被迫指示接受並執行電力模式改變請求；以及從所述接收埠接收所述電力模式改變確認幀。
  14. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，其中，利用所述統一協定介面執行所述電力模式改變握手過程包含：生成一電力模式改變請求幀到所述發送埠，其中所述電力模式改變請求幀的一裝置身分(identity,ID)欄位刻意由不同於分配給所述統一協定裝置的一實際裝置ID的一假裝置ID設置；從所述接收埠接收所述電力模式改變請求幀；回應於從所述接收埠接收的電力模式改變請求幀生成一電力模式改變確認幀到所述發送埠，其中所述電力模式改變確認幀的一狀態欄位由 於所述假裝置ID和所述實際裝置ID確保指示接受並執行一電力模式改變請求；以及從所述接收埠接收所述電力模式改變確認幀。
  15. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，另包括：在完成鏈路啟動過程後，在所述自測試模式下改變所述統一協定介面的設置以調整一資料交換率而不執行一電力模式改變握手過程。
  16. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，其中，所述外出測試樣式在所述自測試模式下在所述設置改變後經由所述發送埠發送。
  17. 如申請專利範圍第10項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，另包括：在完成所述鏈路啟動過程後，改變所述實體層電路的一設置以在所述自測試模式下調整一資料交換率而不執行一電力模式改變握手過程。
  18. 如申請專利範圍第17項所述的對統一協定裝置執行自功能測試的方法，其中，所述外出測試樣式在所述自測試模式下在所述設置改變後經由所述發送埠發送。
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