TWI502421B - 觸控面板取樣頻率的調整裝置與方法 - Google Patents

Description

觸控面板取樣頻率的調整裝置與方法

本發明是有關於一種觸控電子裝置，且特別是有關於一種觸控面板取樣頻率的調整裝置與方法。

使用者在操作傳統觸控電子裝置(例如智慧型手機或是平板電腦)時，其觸控面板的取樣頻率(sampling rate)往往為固定的頻率。然而，在不同的操作環境中，或是使用不同的應用軟體(application program,AP)時，取樣頻率的需求也會有所不同。

若是當下的取樣頻率需求小於觸控面板的取樣頻率，則過高的取樣頻率會使觸控電子裝置更耗電。例如，當使用者在操作觸控電子裝置以閱讀文件時，則閱讀文件的取樣頻率需求為低取樣頻率。低取樣頻率可以降低觸控電子裝置的功率消耗。

若是當下的取樣頻率需求大於觸控面板的取樣頻率，則因取樣頻率過低而使得使用者的操作感受不佳。例如，當使用者在玩遊戲時(如格鬥類遊戲)，遊戲的取樣頻率需求為高取樣頻率，以便讓使用者操作的響應更為流暢/即時。

本發明提供一種觸控面板取樣頻率的調整裝置與方法，以在作業系統與觸控晶片之間提供一回授機制，進而使調整裝置/方法可以依據操作情境需求而動態調整觸控面板之取樣頻率。

本發明實施例提出一種觸控面板取樣頻率的調整方法。所述調整方法包括：經由觸控晶片偵測觸控面板是否發生觸控事件；當發生該觸控事件時，分析操作情境需求，以獲得分析結果；以及依據該分析結果，動態調整該觸控晶片對該觸控面板的取樣頻率。

本發明實施例提出一種觸控面板取樣頻率的調整裝置，包括偵測模組、分析模組以及調整模組。偵測模組經由觸控晶片偵測觸控面板是否發生觸控事件。分析模組耦接至該偵測模組，以接收該觸控事件的觸控資訊。當發生該觸控事件時，該分析模組分析操作情境需求，以獲得分析結果。調整模組耦接至分析模組，以接收該分析結果。調整模組依據該分析結果，動態調整觸控晶片對觸控面板的取樣頻率。

基於上述，本發明實施例的觸控面板取樣頻率的調整裝置與方法，可以在作業系統與觸控晶片之間提供回授機制。因此，此調整裝置/方法可以依據操作情境需求而動態調整觸控面板之取樣頻率，以使觸控面板取樣頻率符合使用者之操作情境的需求。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

在本案說明書全文(包括申請專利範圍)中所使用的「耦接」一詞可指任何直接或間接的連接手段。舉例而言，若文中描述第一裝置耦接於第二裝置，則應該被解釋成該第一裝置可以直接連接於該第二裝置，或者該第一裝置可以透過其他裝置或某種連接手段而間接地連接至該第二裝置。另外，凡可能之處，在圖式及實施方式中使用相同標號的元件/構件/步驟代表相同或類似部分。不同實施例中使用相同標號或使用相同用語的元件/構件/步驟可以相互參照相關說明。

圖1是依照本發明實施例說明一種觸控電子裝置的功能方塊示意圖。此觸控電子裝置包括觸控面板11與觸控晶片12。觸控晶片12耦接至觸控面板11的多條電極線，以便驅動觸控面板11。觸控晶片12會依據預設的取樣頻率而定時地偵測觸控面板11是否發生觸控事件。例如，當使用者以手指(或物品)觸碰觸控面板11的感應區域時，觸控晶片12可以偵測到觸控面板11的感應區域發生觸控事件。

觸控晶片12可以直接或間接方式將該觸控事件的觸控資訊傳送至觸控電子裝置的作業系統。例如，當使用者以手指(或物品)在觸控面板11上滑動時，作業系統的應 用程式(例如電子書閱讀器)可以依據觸控晶片12所提供的觸控資訊而對應進行翻頁操作。因此，使用者可以操作此觸控電子裝置而閱讀文件。

請參照圖1，觸控面板取樣頻率的調整裝置100包括偵測模組110、分析模組120以及調整模組130。偵測模組110用以耦接至觸控面板11的觸控晶片12。在一些實施例中，偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以利用硬體(hardware)方式實現之。例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130各自實現為不同的積體電路。又例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130整合為同一個積體電路。以硬體方式實現的偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以受控於觸控電子裝置的作業系統。例如，分析模組120可以將觸控資訊或分析結果傳送至作業系統。又例如，分析模組120可以從作業系統接收取樣頻率的調整資訊/命令。

在另一些實施例中，偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以利用韌體(firmware)方式實現之。例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130各自以韌體方式實現於不同的微控制器(microcontroller)。又例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130整合為同一個韌體。以韌體方式實現的偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以受控於觸控電子裝置的作業系統。

在其他實施例中，偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以利用軟體(software)方式實現之。例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130各自以軟體方式實現於不同的應用程式(或驅動程式)。又例如，將偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130整合為同一個程式。以軟體方式實現的偵測模組110、分析模組120及/或調整模組130可以運行於觸控電子裝置的作業系統環境中。

圖2是依照本發明實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。請參照圖1與圖2，觸控晶片12在步驟S210中設定對觸控面板11的取樣頻率。在一些實施例中，當觸控電子裝置在進行初始化時，觸控晶片12在步驟S210中將所述取樣頻率設定為一初始值。在另一些實施例中，觸控晶片12可以將目前取樣頻率記錄於非揮發記憶體(non-volatile memory)。因此，當觸控電子裝置在進行初始化時，觸控晶片12在步驟S210中可以依據所述非揮發記憶體的內容設定所述取樣頻率。

在完成步驟S210後，觸控晶片12會依據步驟S210所設定的取樣頻率而定時地偵測觸控面板11。因此，偵測模組110在步驟S220中可以經由觸控晶片12偵測觸控面板11是否發生觸控事件。其中，該觸控事件包含單指(或多指)的點擊事件或移動事件。偵測模組110可以依據觸控晶片12所提供的觸控資訊來進行點擊行為偵測及/或移動行為偵測。

分析模組120耦接至偵測模組110的輸出端，以接收該觸控事件的觸控資訊。當發生觸控事件時，分析模組120進行步驟S230，以分析操作情境需求，並獲得分析結果。在一些實施例中，所述分析操作情境需求包括：分析模組120分析該觸控事件的觸控資訊與使用者操作行為之對應關係，並依據觸控資訊透過調整模組130調整取樣頻率。例如，在一些實施例中，分析模組120可以取得觸控面板11上的觸碰點的x、y座標，然後依據觸碰點的x、y座標透過調整模組130調整取樣頻率。例如，觸控面板11具有遊戲區與非遊戲區。當使用者的觸碰點位於非遊戲區時，分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。當使用者的觸碰點位於遊戲區時，分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為大於所述正常取樣頻率的「高取樣頻率」，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。

在另一些實施例中，分析模組120可以解析使用者的觸控行為的時間差，然後依據此時間差透過調整模組130調整取樣頻率。所述觸控行為的時間差包括單指(或多指)對觸控面板11點擊的一先前點擊行為與一目前點擊行為的時間差，以及/或是單指(或多指)在觸控面板11上移動的一先前移動行為與一目前移動行為的時間差。例如，相對於一般操作而言，當使用者在玩格鬥類遊戲時，使用者在觸控面板11上的點擊/移動行為是非常快速且頻繁的。因此，若前後點擊/移動行為的時間差大於臨界值 (threshold，例如0.5秒)，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。若前後點擊/移動行為的時間差小於臨界值，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為大於所述正常取樣頻率的「高取樣頻率」，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。

在另一些實施例中，分析模組120可以分析觸控點在觸控面板11上的移動距離，然後依據此移動距離透過調整模組130調整取樣頻率。例如，若觸控點的移動距離大於臨界值(例如20mm)，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。若觸控點的移動距離小於臨界值，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為大於所述正常取樣頻率的「高取樣頻率」，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。

在另一些實施例中，分析模組120可以分析一觸控點的移動方向，然後依據此移動方向透過調整模組130調整取樣頻率。例如，若觸控點的移動方向為向上或向下，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。若觸控點的移動方向為向左或向又，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為大於所述正常取樣頻率的「高取樣頻率」。

在另一些實施例中，步驟S230中所述分析操作情境需求包括：分析模組120分析該觸控事件的觸控資訊與目前作業系統環境之對應關係，並依據觸控資訊透過調整模 組130調整取樣頻率。例如，分析模組120可以分析作業系統的目前應用程式，以及依據該目前應用程式決定一目標取樣頻率。若目前應用程式為網頁瀏覽器，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。若目前應用程式為電子書閱讀器，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為小於所述正常取樣頻率的「低取樣頻率」，以降低觸控晶片12的功率消耗。若目前應用程式為格鬥類遊戲程式，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為大於所述正常取樣頻率的「高取樣頻率」，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。

又例如，分析模組120可以分析作業系統的目前狀態，以及依據該目前狀態決定目標取樣頻率。若目前狀態為正常操作模式，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為「正常取樣頻率」。若目前狀態為省電模式(或待機(standby)模式、或空閒(idle)模式、或睡眠模式、或休眠模式)，則分析模組120可以透過調整模組130將取樣頻率設定為小於所述正常取樣頻率的「低取樣頻率」，以降低觸控晶片12的功率消耗。

調整模組130耦接至分析模組120的輸出端，以接收該分析結果。調整模組130進行步驟S240，以依據分析模組120的分析結果而動態調整觸控晶片12對觸控面板11的取樣頻率。在一些實施例中，調整模組130依據分析模組120的分析結果而對應決定一權重值(Weighting)，以 及提供所述權重值至觸控晶片12，以控制觸控晶片12依據該權重值調整所述取樣頻率。在另一些實施例中，調整模組130依據分析模組120的分析結果而對應決定一頻率數值(Raw data)，以及提供所述頻率數值至觸控晶片12，以控制觸控晶片12依據該頻率數值調整所述取樣頻率。

因此，上述實施例中調整裝置100可以在作業系統與觸控晶片12之間提供回授機制。此調整裝置/方法可以依據操作情境需求而動態調整觸控面板11之取樣頻率，以使觸控面板11的取樣頻率符合使用者之操作情境的需求。

圖3是依照本發明另一實施例說明一種觸控電子裝置的功能方塊示意圖。圖3所示實施例可以參照圖1的相關說明而類推之。不同於圖1所示實施例之處，在於圖3所示實施例中觸控面板取樣頻率的調整裝置300包括偵測模組310、記錄模組320、分析模組330以及調整模組340。偵測模組310、記錄模組320、分析模組330及/或調整模組340可以利用硬體、韌體及/或軟體方式實現之。其中，偵測模組310、分析模組330以及調整模組340可以分別參照圖1中偵測模組110、分析模組120以及調整模組130的相關說明而類推之。

圖4是依照本發明另一實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。圖4所示實施例中步驟S410、S420、S440與S450可以分別參照圖2中步驟S210、S220、S230與S240的相關說明而類推之。不同於圖2所示實施例之處，在於圖4所示實施例還包括了步驟S430。

記錄模組320耦接於偵測模組310與分析模組330之間。當發生觸控事件時，記錄模組320進行步驟S430，以記錄「目前功能」以及偵測模組310所測到的該觸控事件的觸控行為。在一些實施例中，記錄模組320可以記錄偵測模組310所測到的觸控事件的觸控行為，以及記錄所述觸控行為所對應的功能。例如，假設使用者操作電子書閱讀器(應用程式)來閱讀文件的內容，則使用者會在觸控面板11上進行長距離的滑動(移動行為)，以對此文件進行翻頁功能。因此，記錄模組320可以記錄觸控行為(長距離的滑動)以及文件翻頁功能二者之對應關係。又例如，使用者會在觸控面板11上進行點擊行為，以對此文件進行翻頁功能。因此，記錄模組320可以記錄點擊行為以及文件翻頁功能二者之對應關係。

在每次發生觸控事件後，記錄模組320在步驟S430中可以記錄這些觸控事件的觸控行為以及對應的功能。因此，分析模組330在步驟S440中可以分析記錄模組320所記錄的歷史資料，以獲得不同點擊行為與不同功能的對應關係。依據這些歷史資料，分析模組330在步驟S440中可以判斷出目前的觸控事件的觸控行為所對應的功能為何，進而依照所述對應的功能而決定目標取樣頻率。調整模組130在步驟S450中可以依照分析模組330所決定的目標取樣頻率而去調整觸控晶片12對觸控面板11的取樣頻率。

然而，記錄模組320在步驟S430中的記錄內容不應受限於前述實施例。例如，在另一實施例中，在每一次發生觸控事件後，記錄模組320在步驟S430中可以記錄「目前功能」，以及記錄「目前觸控事件」的觸發時間。因此，分析模組330在步驟S440中可以分析記錄模組320所記錄的歷史資料，以獲得不同觸發時間與不同功能的對應關係。依據這些歷史資料，分析模組330在步驟S440中可以判斷出目前的觸控事件所對應的功能為何，進而依照所述對應的功能而決定目標取樣頻率。舉例來說，分析模組330可以從這些歷史資料分析出單指(或多指)對觸控面板11點擊的一先前點擊行為與一目前點擊行為的時間差，以及/或是單指(或多指)在觸控面板11上移動的一先前移動行為與一目前移動行為的時間差。分析模組330從這些歷史資料進一步分析出不同點擊/移動行為的時間差與不同功能的對應關係。所以，分析模組330可以判斷出目前的觸控事件的時間差所對應的功能為何，進而依照所述對應的功能而決定目標取樣頻率。

在又一實施例中，在每一次發生觸控事件後，記錄模組320在步驟S430中可以記錄「目前應用程式」，以及記錄「目前觸控事件」。因此，分析模組330在步驟S440中可以分析記錄模組320所記錄的歷史資料，以獲得不同觸控事件與不同應用程式的對應關係。依據這些歷史資料，分析模組330在步驟S440中可以判斷出目前的觸控事件所對應的應用程式為何，進而依照所述對應的應用程 式而決定目標取樣頻率。舉例來說，分析模組330可以從這些歷史資料分析出當觸控點的移動軌跡是長的且具有幾何形狀(例如圓形等)時，此類觸控事件所對應的應用程式為繪圖程式。所以，一旦分析模組330判斷出目前的觸控事件所對應的應用程式為繪圖程式，則分析模組330可以透過調整模組340將取樣頻率設定為「高取樣頻率」，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。

在更一實施例中，在每一次發生觸控事件後，記錄模組320在步驟S430中可以記錄「目前多媒體內容」(例如圖片、文字、影片或其他類別)，以及記錄「目前觸控事件」。因此，分析模組330在步驟S440中可以分析記錄模組320所記錄的歷史資料，以獲得不同觸控事件與不同多媒體內容的對應關係。依據這些歷史資料，分析模組330在步驟S440中可以判斷出目前的觸控事件所對應的多媒體內容/類別為何，進而依照所述對應的多媒體內容/類別而決定目標取樣頻率。

以手機或是平板電腦為實施範例。當使用者在操作觸控手機或是平板電腦的觸控面板11時，手機或是平板電腦內部的記錄模組320記錄一段時間內使用者的操作行為，作業系統可以透過分析模組330依據使用者的操作行為動態的調整觸控面板11的取樣頻率。以及/或者，手機或是平板電腦亦可依據使用者所選擇之應用程式來決定觸控面板11之取樣頻率，使得該應用程式操作起來更為流暢。

然而，在其他實施例中，分析模組330(或120)的分析/決定方法不應受限於上述出實施例。例如，表1是依照另一實施例說明了不同觸控事件與不同取樣頻率調整的對應關係。

表1中「-」表示不需考慮(don’t care)。於此實施例中，作業系統每一次切換不同程式(例如應用程式)時，分析模組330可以先透過調整模組340將取樣頻率設定為預設之掃描頻率(例如初始值或正常取樣頻率)，然後再 依據表1之定義分析觸控事件，進而透過調整模組340對應地調高或調低取樣頻率。

圖5是依照本發明更一實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。圖5所示實施例中步驟S510、S520、S530、S540與S560可以分別參照圖4中步驟S410、S420、S430、S440與S450的相關說明而類推之。不同於圖4所示實施例之處，在於圖5所示實施例還包括了步驟S550。於本實施例中，分析模組330可以計數時間。當分析模組330在步驟S550判斷時間未達調整週期(例如1秒或是其他週期)時，記錄模組320與分析模組330會再一次進行步驟S520至步驟S540。當分析模組330在步驟S550判斷時間已達調整週期時，分析模組330會重設(reset)所計數的時間，以及進行步驟S560。

綜上所述，上述諸實施例可以在作業系統提供一回授機制，使得作業系統、驅動程式及/或應用程式可以控制驅動晶片12去動態調整觸控面板11之取樣頻率。上述諸實施例可以依據不同的使用環境以及/或者使用者操作情形來動態增減觸控面板11的取樣頻率，使其符合使用者之操作情境/需求。對於高取樣頻率需求的操作環境而言，上述諸實施例可以動態調高觸控面板11的取樣頻率，以便讓使用者操作行為的響應更為流暢/即時。對於低取樣頻率需求的操作環境而言，上述諸實施例可以動態減低觸控面板11的取樣頻率，使觸控電子裝置更為省電。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

11‧‧‧觸控面板

12‧‧‧觸控晶片

100、300‧‧‧觸控面板取樣頻率的調整裝置

110、310‧‧‧偵測模組

120、330‧‧‧分析模組

130、340‧‧‧調整模組

320‧‧‧記錄模組

S210~S240、S410~S450、S510~S560‧‧‧步驟

圖1是依照本發明實施例說明一種觸控電子裝置的功能方塊示意圖。

圖2是依照本發明實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。

圖3是依照本發明另一實施例說明一種觸控電子裝置的功能方塊示意圖。

圖4是依照本發明另一實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。

圖5是依照本發明更一實施例說明一種觸控面板取樣頻率的調整方法的流程示意圖。

S210~S240‧‧‧步驟

Claims (22)

1. 一種觸控面板取樣頻率的調整方法，包括：經由一觸控晶片偵測一觸控面板是否發生一觸控事件；當發生該觸控事件時，分析一操作情境需求，以獲得一分析結果；以及依據該分析結果，動態調整該觸控晶片對該觸控面板的取樣頻率。
2. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中該觸控事件包含一點擊事件或一移動事件。
3. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述分析一操作情境需求包括：分析該觸控事件的觸控資訊與使用者操作行為之對應關係；或是分析所述觸控資訊與目前作業系統環境之對應關係。
4. 如申請專利範圍第3項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述分析該觸控事件的觸控資訊與使用者操作行為之對應關係包括：分析一觸控行為的時間差；分析一觸控點的移動距離；或是分析一觸控點的移動方向。
5. 如申請專利範圍第4項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述觸控行為的時間差包括一先前點擊行 為與一目前點擊行為的時間差，或是一先前移動行為與一目前移動行為的時間差。
6. 如申請專利範圍第3項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述分析該觸控事件的觸控資訊與目前作業系統環境之對應關係包括：分析作業系統的目前應用程式；以及依據該目前應用程式決定一目標取樣頻率。
7. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述動態調整該觸控晶片對該觸控面板的取樣頻率包括：提供一權重值至該觸控晶片，以控制該觸控晶片依據該權重值調整所述取樣頻率；或是提供一頻率數值至該觸控晶片，以控制該觸控晶片依據該頻率數值調整所述取樣頻率。
8. 如申請專利範圍第1項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，更包括：記錄一目前功能以及該觸控事件的觸控行為。
9. 如申請專利範圍第8項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述一目前功能以及記錄該觸控事件的觸控行為包括：記錄一觸控行為所對應的功能；記錄該觸控事件的觸發時間；記錄該觸控事件所對應的應用程式；或是記錄該觸控事件所對應的多媒體內容。
10. 如申請專利範圍第9項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述觸控行為包括點擊行為或是移動行為。
11. 如申請專利範圍第9項所述觸控面板取樣頻率的調整方法，其中所述多媒體內容包括圖片、文字或是影片。
12. 一種觸控面板取樣頻率的調整裝置，包括：一偵測模組，用以耦接至一觸控面板的一觸控晶片，其中該偵測模組經由該觸控晶片偵測該觸控面板是否發生一觸控事件；一分析模組，耦接至該偵測模組以接收該觸控事件的觸控資訊，其中當發生該觸控事件時，該分析模組分析一操作情境需求，以獲得一分析結果；以及一調整模組，耦接至該分析模組以接收該分析結果，其中該調整模組依據該分析結果，動態調整該觸控晶片對該觸控面板的取樣頻率。
13. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該觸控事件包含一點擊事件或一移動事件。
14. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該分析模組分析該觸控事件的觸控資訊與使用者操作行為之對應關係，或是分析所述觸控資訊與目前作業系統環境之對應關係。
15. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該分析模組分析一觸控行為的時間差， 或是分析一觸控點的移動距離，或是分析一觸控點的移動方向。
16. 如申請專利範圍第15項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中所述觸控行為的時間差包括一先前點擊行為與一目前點擊行為的時間差，或是一先前移動行為與一目前移動行為的時間差。
17. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該分析模組分析作業系統的目前應用程式，以及依據該目前應用程式決定一目標取樣頻率。
18. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該調整模組提供一權重值至該觸控晶片，以控制該觸控晶片依據該權重值調整所述取樣頻率；或是該調整模組提供一頻率數值至該觸控晶片，以控制該觸控晶片依據該頻率數值調整所述取樣頻率。
19. 如申請專利範圍第12項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，更包括：一記錄模組，耦接於該偵測模組與該分析模組之間，其中該記錄模組記錄一目前功能以及該觸控事件的觸控行為。
20. 如申請專利範圍第19項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中該記錄模組記錄一觸控行為所對應的功能，或是記錄該觸控事件的觸發時間，或是記錄該觸控事件所對應的應用程式，或是記錄該觸控事件所對應的多媒體內容。
21. 如申請專利範圍第20項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中所述觸控行為包括點擊行為或是移動行為。
22. 如申請專利範圍第20項所述觸控面板取樣頻率的調整裝置，其中所述多媒體內容包括圖片、文字或是影片。