TWI591970B - 有助於比較由受測裝置（ｄｕｔ）發送之射頻（ｒｆ）資料信號與由測試系統接收之射頻（ｒｆ）資料信號的系統及方法 - Google Patents

Description

有助於比較由受測裝置(DUT)發送之射頻(RF)資料信號與由測試系統接收之射頻(RF)資料信號的系統及方法

本發明係關於無線射頻(RF)資料信號發送器之測試，特別係關於有助於由受測裝置(DUT)所傳送之RF資料信號與由測試系統所接收之RF資料信號間的比較。

許多通訊裝置利用無線技術達成連線及通訊目的。因為無線裝置傳送並接收電磁波，且因為二或多個無線裝置可能由於信號頻率及功率空間密度而對彼此產生運作干擾，此等裝置及其無線技術必須符合各種無線技術標準規格。

在設計該等裝置的過程中，工程師必須特別小心確保符合或超過其個別依據相關無線技術規定標準所制定之規格。再者，一旦裝置投入量產，就必須接受測試以確保製造瑕疵不會造成運作不當，包括其符合依據相關無線技術規定標準所制定之規格。

作為此種製造測試的一部分，目前無線裝置測試系統利用子系統分析接收自受測裝置(DUT)的信號，如向量信號分析器(VSA)子系統可 分析接收自DUT的信號，而向量信號產生器(VSG)子系統可產生供DUT接收的信號。VSA所進行的分析以及VSG所產生的信號通常可編程，以便其用於測試多種具有各異頻率範圍、頻寬及調變特性的無線技術標準。

當今的無線裝置通常包括根據數種無線信號技術運作之電路系統，例如WiFi(如802.11x)、藍牙、蜂巢式無線存取技術(如LTE)等等。另外為了避免測試時間與成本隨著裝置中所含無線信號技術的種類而增加，一些現代無線信號測試系統係設計為可擷取並分析具有二或多種無線信號技術標準所規範之實體特徵的較長信號序列。

於測試多重技術特徵的較長序列中，控制測試系統的測試程式(如，控制VSA、VSG及其他子系統者)變得更長也更複雜，測試程式除錯程序亦然。除錯程式時常要求於測試系統及附設之其他測試儀器上附加如多頻道示波器等外部儀器，以便檢驗各種控制信號並顯示功率與時間的關係，藉此掌握並解決有關新程式除錯程序的問題。

根據本發明所提供之系統及方法係有助於對受測裝置(DUT)所傳送之射頻(RF)資料信號與測試系統所接收之RF資料信號進行比較。從DUT所接收之RF資料信號接受分析以提供分析資料，此分析資料指出DUT操作符合一或多種適用信號標準。該RF資料信號亦轉換為相關轉換資料，其可與對應信號測試子系統狀態的狀態機資料一同儲存。之後此狀態機資料可視需要以分析資料及轉換資料處理，以供如新測試程式及程序之除錯等離線任務使用。

根據本發明之一實施例，一種有助比較於由受測裝置(DUT)發送之射頻(RF)資料信號與由測試系統接收之RF資料信號的測試系統包括：信號路由電路系統，用以將至少一RF傳送資料信號導引向一DUT且將至少一RF接收資料信號導引出該DUT；資料信號源電路系統，連接至該信號路由電路系統，並因應複數控制信號之一部分及複數傳送資料而提供該至少一RF傳送資料信號及複數系統資料之一部分；資料信號分析電路系統，連接至該信號路由電路系統，且因應該複數控制信號之另一部分而處理該至少一RF接收資料信號並提供複數信號分析資料以及該複數系統資料之另一部分；信號轉換電路系統，連接至該信號路由電路系統，且因應該至少一RF接收資料信號而提供一相關複數接收轉換資料；以及一狀態機，連接至該資料信號源電路系統及該資料信號分析電路系統，且因應該複數系統資料而提供複數狀態機資料。

根據本發明之另一實施例，一種有助於比較由受測裝置(DUT)所傳送之射頻(RF)資料信號與由測試系統所接收之RF資料信號的方法包括：將至少一RF傳送資料信號導引向一DUT並將至少一RF接收資料信號導引出該DUT；接收複數控制信號之一部分及複數傳送資料，並因應於此而提供該至少一RF傳送資料信號及複數系統資料之一部分； 接收該複數控制信號之另一部分，且因應於此而處理該至少一RF接收資料信號並提供複數信號分析資料及該複數系統資料之另一部分；轉換該至少一RF接收資料信號，以提供一相關複數接收轉換資料；以及利用一狀態機處理該複數系統資料，以提供複數狀態機資料。

10‧‧‧DUT

10a,10b,10c,10d‧‧‧DUT

12‧‧‧RF收發器

12aa,12ab,12ac,12ad‧‧‧路由電路

13‧‧‧測試信號序列

13i‧‧‧預期DUT傳送信號

13r‧‧‧接收信號

13t‧‧‧DUT傳送信號

13ta,13tb,13tc,13td‧‧‧DUT信號

14‧‧‧信號序列

15‧‧‧信號通道

100‧‧‧測試系統

112‧‧‧信號路由電路系統

112a‧‧‧信號路由電路系統

112aa,112ab,112ac,112ad‧‧‧信號路由電路

114‧‧‧信號分析電路系統

115‧‧‧輸入信號

115a,115b,115c,115d‧‧‧輸入信號

116‧‧‧測試信號產生電路系統

117‧‧‧VSG輸出信號

118‧‧‧資料儲存電路系統/記憶體

119a‧‧‧信號資料

119aa‧‧‧擷取信號

119aa3‧‧‧信號序列

119g‧‧‧信號通道

120‧‧‧控制電路系統

121a,121g‧‧‧交換資料

121c‧‧‧資料

121m‧‧‧控制信號

121s‧‧‧控制信號

122‧‧‧信號路徑

124‧‧‧單極開關

124a‧‧‧電極

126a,126g‧‧‧雙投開關

132‧‧‧外部觸發儀器

133‧‧‧低解析度信號資料

134‧‧‧記憶體

200‧‧‧測試器

202‧‧‧子系統

203‧‧‧信號/轉向輸入信號

203a,203b,203c,203d‧‧‧轉向DUT信號

204‧‧‧功率偵測器

204a,204b,204c,204d‧‧‧功率偵測器

205‧‧‧功率波封信號

206‧‧‧類比對數位轉換(ADC)電路系統

206a,206b,206c,206d‧‧‧ADC電路

207‧‧‧數位信號

207a,297b,207c,207d‧‧‧轉換後之資料

208‧‧‧數位資料儲存電路系統/記憶體

208a,208b,208c,208d‧‧‧記憶體元件

209‧‧‧狀態機資料信號

209a‧‧‧信號功率波封

209b‧‧‧擷取控制信號

209c‧‧‧資料

209ca‧‧‧PVT資料

220‧‧‧狀態機

221a,221g‧‧‧控制及/或資料信號

221s‧‧‧控制信號

300‧‧‧測試系統

302‧‧‧多工器

304‧‧‧信號分離器

A,B,C‧‧‧信號子序列

t1,t2,t3,t4‧‧‧時間區隔

圖1習知測試環境之方塊圖，其係用以測試無線信號受測裝置(DUT)。

圖2描繪圖1之測試環境中來自DUT之預期及實際傳送信號。

圖3為習知測試環境之功能方塊圖，其係用以測試一無線信號DUT，附加有外部商業測試設備以便直接自該DUT擷取信號。

圖4描繪圖3測試環境下來自該DUT之預期及實際傳送信號連同測試器中之對應擷取控制信號。

圖5為根據本發明例示性實施例之無線信號測試環境的功能方塊圖，其利用一測試系統並支援一或多種測試方法。

圖6為根據本發明另一例示性實施例之圖5測試環境功能方塊圖，其測試系統支援一或多種測試方法。

圖7為根據本發明另一例示性實施例之測試環境功能方塊圖，其利用一測試系統並支援一或多種測試方法。

下列詳細說明係參照附圖之目前主張專利權的本發明之例示性實施例。此份說明意欲例示本發明之範疇，而並非限制性說明。以足 使本領域具通常知識者得以實施本發明之細節來敘述這種實施例，且應了解到可以一些變異來實施其他實施例，而不背離本發明之精神及範圍。

在整份說明書中，在缺少對上下文的相反明確指示下，將了解到所述的個別電路元件在數量上可為單一個或複數個。例如，「電路」及「電路系統」等語可包含單一元件或複數元件，其可為主動及/或被動，且連接或以其他方式接合在一起(如一或多個積體電路晶片)，以提供所述功能。另外，「信號」一詞可指一或更多電流、一或更多電壓或資料信號。在圖式中，類似或相關元件將會有類似或相關字母、數字或字母數字標誌符號。此外，雖已在使用離散電子電路(較佳以一或更多個積體線路晶片的形式)的實施情境中討論本發明，但取決於待處理的信號頻率或資料率，可使用一或更多個適當編程之處理器來實現這種電路的任何部分之功能。此外，於以圖式繪示各種實施例之功能方塊圖時，功能方塊未必表示硬體電路系統間之分隔。因此，例如，一或多功能方塊(如，處理器、記憶體等等)可實施於單一硬體(如，一通用信號處理器、隨機存取記憶體、硬碟等等)。同理，任何所述程式可為獨立程式，可合併為作業系統中之次常式，可為安裝軟體套件內之功能等等。

如將於下文中詳述者，本發明提供系統及方法係在測試系統內添加及使用額外子系統，其可支援所有測試程式之程式除錯，特別是有關多重技術長信號序列者。由於不需使用昂貴的外部測試附屬部件，且因可提供外部測試附屬部件所無法提供之洞察而縮短程式除錯時間，故能降低整體成本。此外，若DUT與測試系統為獨立受控之情況下，致使序列看似高度協調實則耦合鬆散，此技術可顯現DUT與測試系統間確實發生何種 問題。得知DUT與測試器內之情形可使得整體除錯作業更完整掌握狀況。同時，不需加諸測試時間罰則也可達成此一目的。於正常操作期間，重點在於隨著測試程式的持續執行而維持記錄。若發生錯誤，則可利用該信號及控制擷取信號資料來診斷問題發生原因。

參照圖1，一習知測試環境包括一測試系統100，或測試器，用於測試一無線信號DUT 10。該DUT 10中除其他子系統之外，還包括一RF收發器12及一組預先定義之信號序列14，其可受一或多個韌體常式、軟體指令或硬線連接電路結構(其各種形式均為此技藝中所熟知)所啟動。DUT 10透過信號通訊媒體14傳送一測試信號序列13t，供測試器100接收；其中該信號通訊媒體14用於測試時通常為硬線連接信號路徑，但若需要，也可為無線信號連線。

測試器100中除其他子系統之外，還包括信號路由電路系統112(將於下文中詳述)，信號分析電路系統114(如一VSA)，測試信號產生電路系統116(如一VSG)，資料儲存電路系統118(如記憶體電路系統，位於測試器100內之本地設置者或經由網路遠距提供者)以及控制電路系統120(如微處理器式或微控制器式)。控制電路系統120與VSA 114及VSG 116交換資料121a、121g中之控制信號，並視需要提供控制信號121s供信號路由電路系統112使用。控制電路系統120亦可與外部電路系統交換控制信號和資料121c，所述外部電路系統如一採個人電腦形式之外部控制器(圖未示)。

信號路由電路系統112，根據其需要之控制信號121s，執行兩種基本功能：將該DUT傳送信號13t做為輸入信號115導入VSA 114，並將VSG輸出信號117做為DUT接收信號導入該DUT。路由電路系統112 可為一開關，如單刀開關124、雙擲開關126a、126g，其中信號路徑122在測試器100之接收模式與傳送模式(及分別在DUT之傳送模式與接收模式)之間切換。或者，信號路由電路系統112可以其他已知方式實施(如天線共用器)。

如圖1所示，根據預先定義之信號序列14，DUT收發器12傳送一具有例如三個子序列的信號13t，其中之中間序列具有顯著較低的信號位準或功率。此信號13t，被當作輸入信號115導入VSA 114，產生一擷取信號119aa，其受採樣並被VSA 114提供為數位化信號資料119a，以供儲存於記憶體118中。如圖1所示，該擷取信號119aa缺乏信號功率顯著較低的中間序列。

圖2可更清楚顯示此一現象。如上方信號波形圖所示，預期DUT傳送信號13i包含信號功率較高的中間序列。因此，所有三個信號子序列A、B、C的信號功率足已超過VSA 114中的觸發位準，且藉此確保擷取所有信號子序列A、B、C。

然而，如下方信號波形圖所示，實際DUT傳送信號13t誤包含信號功率顯著較低而不足以達到觸發位準的中間序列B，且因此無法連同擷取測試信號119aa中被VSA 114擷取。據此，擷取資料信號119aa的後續分析便可能誤判第二子序列擷取對應預期第二子序列B，但其實應是對應第三子序列C。因此，測試程式會導致錯誤分析，且若沒有其他資料說明或以其他方式關於實際接收信號13t，則此錯誤分析的偵測及/或校正將難以進行，且測試程式的除錯將耗費更多時間。

參照圖3，為了擷取與實際DUT信號13t有關之資訊，一種現有方法是利用外部觸發儀器132，如可就對應實際DUT信號13t之信號資料133進行採樣與儲存的觸發示波器。在此並不需要高解析度資料，低解析度信號資料133就已足夠，且其儲存所占用的記憶體134空間較少。此對應實際DUT信號13t的功率與時間關係(PVT)資料波封133可被儲存，並稍後在測試程式之疑難排解或除錯程序中接受如信號峰谷時序或其他特徵的比較。

參照圖4，如上，預期DUT信號13i包括中間子序列，此中間子序列具有增加之信號功率。然而，實際DUT信號13t之中間子序列誤含較低信號功率。因此，該擷取控制信號與該預期DUT信號13i關聯的信號圖形會與VSA 114中為實際DUT信號13t所產生的擷取控制信號圖形不同。此種擷取控制信號圖形的差異，如擷取控制信號脈衝與時間關係的差異，為程式錯誤的可能原因提供線索。然而，VSA 114所產生的擷取控制信號無法從外部儀器132取得。因此，VSA 114所產生之擷取控制信號與外部儀器132的收集、比較及/或關聯便需要增設一或多個附加外部子系統才能達成。

參照圖5，根據本發明例示性實施例，測試器200進一步包括一子系統202，用以擷取與實際DUT信號13t相關的信號資料。同時，信號路由電路系統112a另能夠提供對應該實際DUT信號13t的信號203。例如，當用為單刀雙擲開關時，電極124a可包括功率分配器，因此VSA輸入信號115及轉向輸入信號203皆對應於該實際DUT信號13t。

此子系統202包括一功率偵測器204、類比對數位轉換(ADC)電路系統206、數位資料儲存電路系統208(如記憶體電路系統)以及一狀態機220，如圖所示相互連接。功率偵測器204偵測外來信號203之信號功率波封。該測得功率波封信號205經ADC電路系統206轉換為一數位信號207。此數位資料207根據狀態機220所發出的一或多個控制信號221s而被儲存於記憶體208中。狀態機220亦接收VSA 121a和VSG 121g控制信號及資料，且控制及/或資料信號221a、221g提供關於VSA 114及VSG 116子系統狀態的資訊。此種子系統控制資訊及資料亦可根據狀態機控制信號221s而被儲存於記憶體208中。因此，所提供的一或多筆狀態機資料信號209可，例如，描述外來DUT信號203及擷取控制信號209b的信號功率波封209a。

藉此可達成信號子序列A、B、C(圖2及4)PVT記錄的擷取與後續存取，外加與擷取外來DUT信號203有關的狀態機資料(如，擷取控制信號資料)。由於功率偵測器204測量信號的功率波封，所以需要的資料位元較少，且使用的採樣率較低，藉此可將擷取記憶體的需求量降到最低。系統狀態機220會將內部時序反映在控制記憶體208內的擷取與儲存。如此一來，無法由外部儀器(圖3)經其他方式存取的內部時序，便可以用於根據內部時序標記而交叉參照、比較及/或關聯擷取PVT資料。例如，將資料207寫入記憶體208時的狀態機狀態209b可連同PVT波封資料209a儲存於記憶體208中。如此可提供更豐富的疑難排解資訊，以利新創或修改測試程式的除錯。

參照圖6，根據本發明又一例示性實施例，此一測試器200亦可於DUT 10執行接收信號測試期間用於疑難排解及除錯測試程式，所述期間係指VSG 116正提供將經由測試信號路徑14被導引出至DUT 10以做為DUT 10之接收信號13r的測試信號117。在此測試情境中，可使用或不使用功率偵測器204及ADC電路系統206。然而，狀態機220可持續提供狀態資料209a、209b以供儲存於記憶體208中。此資料209可稍後於需要時存取，用於測試程式之疑難排解或除錯。

此外，在使用頻分雙工(FDD)信號的DUT測試情境中，VSA 114及VSG 116皆可為主動式，其中VSA輸入信號115受VSA 114接收及處理，而VSG 116提供其輸出信號117。根據本發明例示性實施例之測試系統及方法可檢驗VSA 114所接獲之資料封包以釐清同步錯誤事件。

參照圖7，根據本發明又一例示性實施例，測試系統300可支援多重DUT 10a、10b、10c、10d測試。(此說明實例之測試環境係供四個DUT使用，但熟悉此技藝人士應知可就此實施縮小或放大，以支援更少或更多DUT之測試)。在此例示性實施例中，測試器300包括對應數量之路由電路12aa、12ab、12ac、12ad；功率偵測器204a、204b、204c、204d；ADC電路206a、206b、206c、206d；及記憶體元件208a、208b、208c、208d(然而，應知亦可使用單一記憶體元件提供充分記憶體供儲存轉換後之資料207a、297b、207c、207d)。測試器300亦包括一多工器302及一信號分離器304。

信號路由電路112aa、112ab、112ac、112ad將來自DUT收發器12a、12b、12c、12d之DUT信號13ta、13tb、13tc、13td導引向多工器302， 其根據一或多個來自控制器120的控制信號121m，選擇其輸入信號115a、115b、115c、115d中之一者在相繼時間區隔t1、t2、t3、t4中提供115給VSA 114。如圖所示，狀態機子系統202(圖5)根據待測DUT 10的數量複製。此可讓各轉向DUT信號203a、203b、203c、203d之PVT波封資料接受取樣及儲存，如上所述。

在此實例中，第三DUT 10c提供一錯誤信號13tc，其不同於其餘DUT信號13ta、13tb、13td，而是包括一信號大小顯著較低的信號子序列，與預期明顯增加之信號大小(如圖2及4所示之對應子序列B)正好相反。多工器302將此信號13tc在如，時間區隔t3之間，導引向VSA 114。如此一來造成不完整信號序列119aa3的擷取及儲存，類似於上述者。同時，與第三DUT 10c關聯的狀態機子系統產生的PVT資料209ca和控制信號209cb係儲存為可從記憶體208c檢索之資料209c，用於分析判斷測試程式的問題所在。

或者，就DUT接收系統測試而言，分離器304及至DUT 10a、10b、10c、10d的路由電路112aa、112ab、112ac、112ad對VSG輸出信號117進行分配。如上所述，狀態機220擷取VSA 121a和VSG 121g控制信號及其他VSA和VSG狀態資料221a、221g，並將之儲存221s在記憶體208a、208b、208c、208d中，以供稍後用來建立VSG 116之信號發射與內部系統控制狀態的關聯。

根據此實施300，亦應知在任何已知時間區隔中，一筆DUT信號係受VSA 114所監控。但本發明優點在於所有DUT信號之監控方式可 為使其各自PVT波峰可與狀態機資訊一同接受採樣及儲存，以供後續分析及程式除錯之用。

熟悉此技藝人士應可於不脫離本發明範疇與精神之前提下就本發明操作結構及方法為各種其他修改及變化。雖已經連同特定較佳實施例敘述本發明，應了解到主張權利範圍的本發明不應不當限制於這種特定實施例。吾人意欲以下列的專利申請範圍界定本發明的範圍，並藉此涵蓋屬於這些專利申請範圍內的結構與方法及其等效置換。

10‧‧‧DUT

12‧‧‧RF收發器

13‧‧‧測試信號序列

13t‧‧‧DUT傳送信號

14‧‧‧信號序列

15‧‧‧信號通道

112a‧‧‧信號路由電路系統

114‧‧‧信號分析電路系統

115‧‧‧輸入信號

116‧‧‧測試信號產生電路系統

117‧‧‧VSG輸出信號

118‧‧‧資料儲存電路系統/記憶體

119a‧‧‧信號資料

119aa‧‧‧擷取信號

119g‧‧‧信號通道

120‧‧‧控制電路系統

121a,121g‧‧‧交換資料

121c‧‧‧資料

121s‧‧‧控制信號

122‧‧‧信號路徑

124a‧‧‧電極

126a,126g‧‧‧雙投開關

200‧‧‧測試器

202‧‧‧子系統

203‧‧‧信號/轉向輸入信號

204‧‧‧功率偵測器

205‧‧‧功率波封信號

206‧‧‧類比對數位轉換(ADC)電路系統

207‧‧‧數位信號

208‧‧‧數位資料儲存電路系統/記憶體

209‧‧‧狀態機資料信號

209a‧‧‧信號功率波封

209b‧‧‧擷取控制信號

220‧‧‧狀態機

221a,221g‧‧‧控制及/或資料信號

221s‧‧‧控制信號

Claims (20)

1. 一種包含一測試系統之設備，該測試系統係用以幫助比較由一受測裝置(DUT)所傳送之射頻(RF)資料信號與由該測試系統所接收之射頻資料信號，該設備包含：信號路由電路系統，用以將至少一射頻傳送資料信號導引向一受測裝置且將至少一射頻接收資料信號從該受測裝置導引出；資料信號源電路系統，連接至該信號路由電路系統，並因應複數控制信號之一部分及複數傳送資料而提供該至少一射頻傳送資料信號及複數系統資料之一部分；資料信號分析電路系統，連接至該信號路由電路系統，且因應該複數控制信號之另一部分而處理該至少一射頻接收資料信號，並提供複數信號分析資料及該複數系統資料之另一部分；信號轉換電路系統，連接至該信號路由電路系統，且因應該至少一射頻接收資料信號而提供與該至少一射頻接收資料信號的信號功率波封相關的複數接收轉換資料；以及一狀態機，連接至該資料信號源電路系統及該資料信號分析電路系統，並因應該複數系統資料及該複數接收轉換資料而提供至少對應於該信號功率波封和來自該資料信號分析電路系統的擷取控制信號的複數狀態機資料，其中該擷取控制信號的複數部分中的每一個部分與該信號功率波封中對應的部分為同步。
2. 如請求項1所述之設備，其中該信號路由電路系統包含信號多工器電路系統、信號分離電路系統、切換電路系統以及功率分配器電路系統中之 至少一者。
3. 如請求項1所述之設備，其中該資料信號源電路系統包含一向量信號產生器(VSG)。
4. 如請求項1所述之設備，其中該資料信號分析電路系統包含一向量信號分析器(VSA)。
5. 如請求項1所述之設備，其中該信號轉換電路系統包含：功率偵測電路系統，因應該至少一射頻接收資料信號而提供一測得功率信號；以及類比對數位轉換(ADC)電路系統，連接至該功率偵測電路系統，並因應該測得功率信號而提供該複數接收轉換資料。
6. 如請求項1所述之設備，其中該狀態機包含邏輯電路系統。
7. 如請求項1所述之設備，其進一步包含資料儲存電路系統，連接至該信號轉換電路系統及該狀態機，用以儲存該複數接收轉換資料及該複數狀態機資料。
8. 如請求項7所述之設備，其中該資料儲存電路系統包含本地記憶體電路系統。
9. 如請求項1所述之設備，其進一步包含控制電路系統，連接至該資料信號源電路系統及該資料信號分析電路系統，以提供該複數控制信號。
10. 如請求項1所述之設備，其中該信號轉換電路系統進一步因應該至少一射頻傳送資料信號而提供一相關複數傳送轉換資料。
11. 如請求項10所述之設備，其進一步包含資料儲存電路系統，連接至該信號轉換電路系統及該狀態機，用以儲存該複數接收轉換資料、該複數傳 送轉換資料以及該複數狀態機資料。
12. 一種幫助比較由受測裝置(DUT)所傳送之射頻(RF)資料信號與由測試系統所接收之射頻資料信號的方法，該方法包含：將至少一射頻傳送資料信號導引向一受測裝置並將至少一射頻接收資料信號自該受測裝置導引而出；接收複數控制信號之一部分及複數傳送資料，並因應於此而提供該至少一射頻傳送資料信號及複數系統資料之一部分；接收該複數控制信號之另一部分，且因應於此而處理該至少一射頻接收資料信號並提供複數信號分析資料及該複數系統資料之另一部分；轉換該至少一射頻接收資料信號以提供與該至少一射頻接收資料信號的信號功率波封相關的複數接收轉換資料；以及利用一狀態機處理該複數系統資料及該複數接收轉換資料以提供至少對應於該信號功率波封和來自資料信號分析電路系統的擷取控制信號的複數狀態機資料，其中該擷取控制信號的複數部分中的每一個部分與該信號功率波封中對應的部分為同步。
13. 如請求項12所述之方法，其中該導引包含信號多工傳輸、信號分離、信號切換以及功率分配中之至少一者。
14. 如請求項12所述之方法，其中該轉換包含：偵測該至少一射頻接收資料信號之一功率分布，以提供一測得功率信號；以及執行該測得功率信號之類比對數位轉換，以提供該複數接收轉換資料。
15. 如請求項12所述之方法，其中該以狀態機處理該複數系統資料之步驟包含以邏輯電路系統處理該複數系統資料。
16. 如請求項12所述之方法，其進一步包含儲存該複數接收轉換資料及該複數狀態機資料。
17. 如請求項16所述之方法，其中該儲存包含將該複數接收轉換資料及該複數狀態機資料儲存於本地。
18. 如請求項12所述之方法，其進一步包含提供該複數控制信號。
19. 如請求項12所述之方法，其進一步包含轉換該至少一射頻傳送資料信號，以提供一相關複數傳送轉換資料。
20. 如請求項19所述之方法，其進一步包含儲存該複數接收轉換資料、該複數傳送轉換資料以及該複數狀態機資料。