[go: up one dir, main page]

TWI430660B - 具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器 - Google Patents

具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器 Download PDF

Info

Publication number
TWI430660B
TWI430660B TW098103899A TW98103899A TWI430660B TW I430660 B TWI430660 B TW I430660B TW 098103899 A TW098103899 A TW 098103899A TW 98103899 A TW98103899 A TW 98103899A TW I430660 B TWI430660 B TW I430660B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
pixel
storage capacitor
region
coupled
imaging
Prior art date
Application number
TW098103899A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201010418A (en
Inventor
Guangbin Zhang
Tiejun Dai
Hongli Yang
Original Assignee
Omnivision Tech Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omnivision Tech Inc filed Critical Omnivision Tech Inc
Publication of TW201010418A publication Critical patent/TW201010418A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI430660B publication Critical patent/TWI430660B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/199Back-illuminated image sensors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/803Pixels having integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/806Optical elements or arrangements associated with the image sensors
    • H10F39/8063Microlenses

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器
本發明大致上涉及影像感測器,且特定言之但不唯一地,本發明涉及背側照明CMOS影像感測器。
對於高速影像感測器,最好使用全域快門以捕捉快速移動的物體。全域快門可使在該影像感測器中的所有像素同時捕捉該影像。對於移動較慢的物體,可使用更普通的滾動快門。滾動快門根據順序捕捉該影像。例如,在一二維(「2D」)像素陣列內的每列可被依序啟用,使得在單列內的每個像素在同一時間捕捉該影像,但是每列係根據滾動順序啟用。因此,像素的每列在一不同影像擷取視窗期間捕捉該影像。對於移動緩慢的物體,在每列之間的時間差產生可接受的影像失真。對於快速移動的物體,滾動快門會造成沿著該物體的移動軸的一明顯伸長失真。為了實施全域快門,儲存電容器被用於暫時儲存由在該陣列中的每個像素擷取的影像電荷,而其等待從該像素陣列之讀出。
圖1說明一習知前側照明互補金屬氧化物半導體(「CMOS」)成像像素100。成像像素100的前側,是基板105之其上供配置像素電路及其上供形成用於重新分佈信號的金屬堆疊110的該側。金屬層(例如,金屬層M1和M2)被以此方式圖案化以便產生一光學通道,入射在成像像素100的該前側上的光可經由該光學通道到達光敏光電二極體(「PD」)區域115。該前側可進一步包含一實施一彩色感測器的彩色濾光器層和一將該光聚焦到PD區域115上的微透鏡。
為了實施全域快門,習知成像像素100包括一儲存電容器120。為了可使電荷在PD區域115之間快速轉移及最小化信號路由,儲存電容器120被定位為緊鄰像素電路區域125內的光電二極體區域115,與其餘像素電路一起用於操作成像像素100。因此,儲存電容器120不惜犧牲PD區域115來消耗成像像素100內的有價值的實際面積(real estate)。減少PD區域115的大小以容納儲存電容器120會降低成像像素100的填充因數,從而減少了對光敏感的像素區域的量,並降低了低光性能。
此處描述了一種操作一具有全域快門和儲存電容器的背側照明影像感測器的系統及方法的實施例。在以下描述中,闡述很多具體細節以更加深入地理解該等實施例。然而,熟習此相關技術者將認識到,此處描述的技術可不需要該等具體細節的一或多個,或者可用其他方法、組件、材料等實踐。在其他情況下,沒有顯示或詳細描述眾所周知的結構、材料或操作以避免混淆某些態樣。
貫穿本說明書的參考「一個實施例」或「一實施例」是指結合該實施例描述的一特定特徵、結構或特點被包含在本發明的至少一實施例中。因此,在貫穿本說明書的各個地方中片語「在一個實施例中」或「在一實施例中」的出現不一定都是參考同一實施例。此外,該等特定特徵、結構或特點可以任何適當的方式組合在一或多個實施例中。
本說明書各處,使用若干專門術語。這些術語將採用其等在其等所來源之技術中的一般意思,除非此處明確定義或其等使用的背景會明確指出。術語「重疊」在此處參考一半導體晶粒的表面法線定義。如果穿過半導體晶粒的橫截面所繪製之與該表面法線平行的一線與該兩個元件相交,則配置在晶粒上的兩個元件被認為是「重疊」。
本發明的非限制和非詳盡實施例係參考以下圖式描述,其中相同數字是指貫穿各種圖式的相同部分,除非另有指明。
圖2是根據本發明的一實施例說明一背側照明成像系統200的方塊圖。成像系統200的該說明實施例包含一像素陣列205、讀出電路210、功能邏輯215和控制電路220。
像素陣列205是一二維(「2D」)陣列的背側照明成像感測器或像素(例如,像素P1、P2...、Pn)。在一實施例中,每個像素是一主動像素感測器(「APS」),如一互補金屬氧化物半導體(「CMOS」)成像像素。如所說明,每個像素被配置成一列(例如,列R1到Ry)和一行(例如,行C1到Cx)以擷取人物、場景或物體的影像資料,該影像資料然後可用於生成該人物、場景或物體的一個2D影像。
在每個像素已擷取其影像資料或影像電荷之後,該影像資料係由讀出電路210讀出並被轉移到功能邏輯215。讀出電路210可包含放大電路、類比至數位轉換電路等。功能邏輯215可簡單地儲存該影像資料或甚至經由應用後起影像作用(例如,剪切、旋轉、去紅眼、調節亮度、調節對比度等)而操縱該影像資料。在一實施例中,讀出電路210可沿著讀出行線(已說明)一次讀出一列影像資料或可使用各種其他技術(未說明)讀出該影像資料,如串列讀出或完全並行同時讀出所有像素。
控制電路220被耦合到像素陣列205以控制像素陣列205的操作特性。例如,控制電路220可產生一快門信號用於控制影像擷取。在一實施例中,該快門信號是一全域快門信號,用於同時啟用像素陣列205內的所有像素以在一單個擷取視窗期間同時擷取其等各自的影像資料。在一替代實施例中,該快門信號是一滾動快門信號,藉此每列、行或組的像素在連續擷取視窗期間被依照順序啟用。
圖3是根據本發明的一實施例,說明在一背側照明成像陣列內的兩個四元電晶體(「4T」)像素的像素電路300的電路圖。像素電路300是一可用於實施圖2的像素陣列200內的每個像素的像素電路結構。然而,應明白本發明的實施例並不限於4T像素結構;確切言之,受益於本發明的一般技術者將明白本發明亦適用於3T設計、5T設計以及各種其他像素結構。
在圖3中,像素Pa和Pb係以兩列和一行配置。每個像素電路300的該說明實施例包含一光電二極體PD、一轉移電晶體T1、一重設電晶體T2、一源極隨耦(「SF」)電晶體T3、一選擇電晶體T4和一儲存電容器C1。在操作期間,轉移電晶體T1接收一轉移信號TX,其將累積在光電二極體PD中的電荷轉移到一耦合至儲存電容器C1的浮動擴散節點FD。雖然浮動擴散節點FD有一固有電容,但其一般不足以取代儲存電容器C1。例如,浮動擴散節點FD達成足夠電容所需的大小將導致不可接受的洩漏電流以及其他非線性特性。
重設電晶體T2被耦合在一電源導軌VDD與該浮動擴散節點FD之間以在一重設信號RST的控制下重設(例如,將該FD放電或充電到一預設電壓)。該浮動擴散節點FD經耦合以控制SF電晶體T3的閘極。SF電晶體T3被耦合在該電源導軌VDD與選擇電晶體T4之間。SF電晶體T3作為一源極隨耦器操作,從儲存電容器C1提供一高阻抗輸出。最後,選擇電晶體T4在一選擇信號SEL的控制下選擇性地將像素電路300的輸出耦合到該讀出行線。
在一實施例中,該TX信號、該RST信號和該SEL信號係由控制電路220產生。在一實施例中,其中像素陣列205用一全域快門操作,該全域快門信號被耦合到整個像素陣列205中的每個轉移電晶體T1的閘極以在每個像素的光電二極體PD與儲存電容器C1之間同時開始電荷轉移。在一實施例中,該全域快門信號係由包含在控制電路220內的全域快門電路305產生。
圖4A是根據本發明的一實施例之一具有一儲存電容器的背側照明成像像素400的混合橫截面/電路圖。成像像素400是像素陣列205內的像素P1到Pn的一種可能實施。成像像素400的該說明實施例包含一基板405、一彩色濾光器410、一微透鏡415、一PD區域420、一互連擴散區域425、一像素電路區域430、像素電路層435和一金屬堆疊440。像素電路區域430的該說明實施例包含一4T像素(其他像素設計可被替代),且儲存電容器C1配置在一擴散井445內。一浮動擴散450被配置在擴散井445內並且被耦合在轉移電晶體T1與儲存電容器C1的電極461之間。儲存電容器C1的一電極463被耦合到一亦配置在擴散井445內的接地擴散455。金屬堆疊440的該說明實施例包含由金屬層間介電層441和443分離的兩個金屬層M1和M2。雖然圖4A只說明一兩層式金屬堆疊,但是金屬堆疊440可包含更多或更少層用於在像素陣列205的前側之上轉移信號。在一實施例中,一鈍化或釘扎層470被配置在互連擴散區域425之上。最後,淺溝渠隔離(「STI」)將成像像素400與鄰近像素(未說明)隔離。
如所說明,成像像素400對入射在其半導體晶粒之背側上的光480具光敏性。經由使用一背側照明感測器,像素電路區域430可與光電二極體區域420以重疊組態定位。換句話說,包含儲存電容器C1的像素電路300可置放為鄰近於互連擴散區域425且在光電二極體區域420與該晶粒前側之間,而不阻礙光480到達光電二極體區域420。經由將儲存電容器C1置放為與光電二極體區域420重疊,與圖1中說明的並排相反,光電二極體區域420和儲存電容器C1不再競爭有價值的晶粒實際面積(real estate)。確切言之,儲存電容器C1可被擴大以增加其電容,而沒有降低該影像感測器的填充因數。本發明的實施例可使高容量儲存電容器C1置放為非常接近於其等各自的光電二極體區域420,而沒有降低該像素的敏感性。此外,該背側照明組態提供更大的靈活性以在金屬堆疊440內的像素陣列205的該前側之上路由信號,而沒有干擾光480。在一實施例中,該全域快門信號在金屬堆疊440內被路由至像素陣列205內的所有像素。
將儲存電容器C1置放在光電二極體區域420之與光曝露側相反的側上的另一優點是增加了與入射光子的隔離。到達儲存電容器C1的光子可導致洩漏電流增加。然而,入射在晶粒背側上的大多數光子終止於光電二極體區域420內。穿過光電二極體區域420的該等光子由儲存電容器C1的電極463進一步阻擋。經由通過接地擴散455將電極463電氣耦合到擴散井445,電極463有效地作為一隔離接地平面操作。電極461和463可用各種導電材料製成,包含金屬、多晶矽、兩者的組合等。
在一實施例中,接地擴散455是一具有與周圍擴散井445相同的導電性類型(即,正或負的摻雜輪廓)的摻雜區域,但是具有更高的摻雜濃度。相反地,浮動擴散450是用一相反導電性類型摻雜物摻雜以在擴散井445內產生一p-n接面,從而電氣隔離浮動擴散450。
在一實施例中,基板405是用p型摻雜物摻雜。在這種情況下,基板405以及生長在其上的磊晶層可被稱為一P基板。在一P基板的實施例中,擴散井445是一P+井植入且接地擴散455是一P++植入,而光電二極體區域420、互連擴散區域425和浮動擴散450是經N型摻雜。在一實施例中,其中基板405以及其上之磊晶層是N型,擴散井445和接地擴散455也是經N型摻雜,而光電二極體區域420、互連擴散區域425和浮動擴散450具有一相反的P型導電性。
圖4B係根據本發明的一實施例說明一多層儲存電容器C2。在一實施例中,多層儲存電容器C2可取代成像像素400內的儲存電容器C1以達成增加的儲存電容。多層儲存電容器C2的該說明實施例包含兩個由兩層絕緣介電材料分離的電極491和493。電極491和493可用各種導電材料製成,如金屬或多晶矽,而該分離介電質可由二氧化矽或其他絕緣材料製成。雖然圖4B說明一雙層堆疊的電容器,但是應明白多層儲存電容器C2的實施例可包含3、4或更多的電極堆疊以增加C2的電容,同時仍然位於光電二極體區域420之上的像素電路區域430內。
圖5是根據本發明的一實施例說明操作一背側照明成像像素400的一過程500的流程圖。過程500說明像素陣列205內的一單個像素的操作;然而,應明白,取決於使用一滾動快門還是全域快門,過程500可由像素陣列205中的每個像素依照順序或併發執行。該等過程區塊的一些或全部在過程500中出現的順序不應視為具限制性。確切言之,受益於本發明的一般技術者將明白該等過程區塊的一些可以未說明的各種順序執行。
在一過程區塊505中,重設光電二極體PD(例如,光電二極體區域420)和儲存電容器C1。重設包含將光電二極體PD和儲存電容器C1放電或充電到一預定電壓電位,如VDD。該重設係經由既使該RST信號有效以啟用重設電晶體T2又使該TX信號有效以啟用轉移電晶體T1而達成。啟用T1和T2將光電二極體區域420、浮動擴散450和電極461耦合到電源導軌VDD。
一旦重設,該RST信號和該TX信號是無效的以由光電二極體區域420開始影像擷取(過程區塊510)。入射在成像像素400的該背側上的光480由微透鏡415經由彩色濾光器410聚焦到光電二極體區域420的該背側上。彩色濾光器410用於將該入射光480過濾成組成顏色(例如,使用拜爾(Bayer)濾鏡或彩色濾光器陣列)。入射光子使電荷累積在該光電二極體的擴散區域內。
在影像擷取視窗期間,當電荷累積在光電二極體區域420內時,經由暫時地使該RST信號有效而該TX信號保持無效,儲存電容器C1被再次重設(過程區塊515)。該第二次重設只重設儲存電容器C1以減少熱雜訊和由於結合該影像電荷產生的其他雜散電荷/洩漏電荷。
一旦該影像擷取視窗過期,則該RST信號再次成無效且藉由使該TX信號有效而將光電二極體區域420內的累積電荷經由該轉移電晶體T1轉移到儲存電容器C1(過程區塊520)。在一全域快門的情況下,該全域快門信號在過程區塊520期間對於在像素陣列205內的所有像素是與該TX信號同時有效的。這導致將由每個像素累積的該影像資料全域轉移到該像素的對應儲存電容器C1中。
一旦該影像資料被轉移到儲存電容器C1,則該TX信號是無效的以隔離儲存電容器C1用於讀出。在一過程區塊525中,該SEL信號是有效的以將該儲存影像資料轉移到該讀出行上用於經由讀出電路210輸出到該功能邏輯215。應明白讀出可經由行線在每列的基礎上(已說明)、經由列線在每行的基礎上(未說明)、在每個像素的基礎上(未說明)或經由其他邏輯分組發生。一旦已讀出所有像素的該影像資料,則過程500返回到過程區塊505以為下個影像準備單獨的儲存電容器C1。
以上解釋的該等過程係就電腦軟體和硬體而描述。描述的該等技術可構成在一機器(例如,電腦)可讀媒體內具體化的機器可執行指令,當其等由一機器執行時,將使該機器實施描述的該等操作。此外,該等過程可具體化在硬體中,如一特定應用積體電路(「ASIC」)或類似物。
機器可存取或機器可讀媒體包含以機器(例如,一電腦、網路裝置、個人數位助理、生產工具、具有一組之一或多個處理器的任何裝置等)可存取的形式提供(即,儲存)資訊的任何機構。例如,一機器可存取媒體包含可記錄/不可記錄媒體(例如,唯讀記憶體(ROM)、隨機存取記憶體(RAM)、磁碟儲存媒體、光學儲存媒體、快閃記憶體裝置等)。
本發明之所說明實施例的以上描述,包含摘要中的描述,並不意味是詳盡的或將本發明限制於所揭示的確切形式。雖然本發明的特定實施例及其實例在本文中係為說明目的而描述,但是熟習此項相關技術者將認識到在本發明的範圍內可有各種修飾。
鑑於以上詳細描述可對本發明作此等修飾。不應將以下請求項中所用的術語視為將本發明限制於本說明書中揭示的特定實施例。確切言之,本發明的範圍完全由以下請求項決定,該等請求項應根據請求項解釋的既定理論解釋。
100...前側照明互補金屬氧化物半導體成像像素
105...基板
110...金屬堆疊
115...光電二極體區域
120...儲存電容器
125...像素電路區域
200...背側照明成像系統
205...像素陣列
210...讀出電路
215...功能邏輯
220...控制電路
300...像素電路
305...全域快門電路
400...成像像素
405...基板
410...彩色濾光器
415...微透鏡
420...光電二極體區域
425...互連擴散區域
430...像素電路區域
435...像素電路層
440...金屬堆疊
441...金屬層間介電層
443...金屬層間介電層
445...擴散井
450...浮動擴散
455...接地擴散
461...電極
463...電極
470...鈍化或釘扎層
480...光
491...電極
493...電極
圖1是一習知前側照明成像像素的橫截面圖。
圖2是根據本發明的一實施例說明一背側照明成像系統的方塊圖。
圖3是根據本發明的一實施例說明在一背側照明成像系統內的兩個4T像素的像素電路的電路圖。
圖4A是根據本發明的一實施例的一具有一儲存電容器的背側照明成像像素的混合性橫截面/電路圖。
圖4B是根據本發明的一實施例說明了一用在背側照明成像像素中的多層儲存電容器。
圖5是根據本發明的一實施例說明操作一具有儲存電容器的背側照明成像像素之過程的流程圖。
300...像素電路
305...全域快門電路

Claims (16)

  1. 一種成像感測器像素,其包括:一光電二極體區域,其配置在一半導體晶粒內用於累積一影像電荷;一像素電路區域,其配置在該半導體晶粒內在該半導體晶粒的一前側與該光電二極體區域之間,該像素電路區域與該光電二極體區域的至少一部分重疊;一互連擴散區域,其配置在該半導體晶粒內,該互連擴散區域被耦合到該光電二極體區域且朝著該半導體晶粒的該前側延伸;及一儲存電容器,其包含在與該光電二極體區域重疊的該像素電路區域內,且經由該互連擴散區域選擇性地耦合到該光電二極體區域以暫時儲存在其上累積的該影像電荷,該儲存電容器包括:一選擇性地耦合到該互連擴散區域的第一電極,一第二電極,及一配置在該第一與該第二電極之間的介電絕緣層,其中該像素電路區域進一步包括一接地擴散區域,該接地擴散區域耦合到該第二電極以使該第二電極接地且具有一與該半導體晶粒的一基板相同的導電性類型;及一浮動擴散,其耦合到該第一電極且具有一與該基板相反的導電性類型;該像素電路區域更包括一轉移電晶體,其耦合在該互連擴散區域與該浮動擴散之間。
  2. 如請求項1之成像感測器像素,其中該成像感測器像素包括一互補金屬氧化物半導體(「CMOS」)背側照明成像 感測器像素。
  3. 如請求項2之成像感測器像素,其中該半導體晶粒包括一P型矽基板,且該像素電路區域包括一配置在該光電二極體區域與該半導體晶粒的該前側之間的P井擴散區域。
  4. 如請求項1之成像感測器像素,其中該第一與第二電極是由從一含有多晶矽或金屬之群組選擇的一材料製成。
  5. 如請求項1之成像感測器像素,其中該儲存電容器包括一具有至少兩個重疊介電絕緣層的多層堆疊電容器。
  6. 如請求項1之成像感測器像素,其中該成像感測器像素包括一使四個電晶體全部被配置在該像素電路區域內的四元電晶體(「4T」)像素設計,該4T像素設計除該轉移電晶體外包括:一重設電晶體,其耦合到該第一電極以重設該儲存電容器和該浮動擴散;一源極隨耦電晶體,其經耦合以從該儲存電容器輸出該影像電荷;及一選擇電晶體,其用於從其他成像感測器像素選擇該成像感測器像素用於讀出。
  7. 如請求項2之成像感測器像素,其進一步包括:一微透鏡,其配置在該光電二極體區域之下的該半導體晶粒的一背側上且經光學對準以將從該背側接收到的光聚焦到該光電二極體區域上;及一彩色濾光器,其配置在該微透鏡與該光電二極體區 域之間用於過濾該光。
  8. 一種操作一包含複數個像素的像素陣列之方法,其中該等像素的每個包含一背側照明互補金屬氧化物半導體(「CMOS」)成像感測器,對於該等像素的每個,該方法包括:將由入射在該像素的一背側上的光產生的電荷累積在該像素的一光電二極體區域內;及將累積在該光電二極體區域內的該電荷轉移到一儲存電容器,其中該儲存電容器定位在該像素的與該背側相反的一前側上且與該光電二極體區域重疊;該方法進一步包括:以一配置在該背側上的微透鏡將該光聚焦到該光電二極體區域上;將該儲存電容器的一第一電極接地到一形成在一配置在一磊晶層中的摻雜井中的接地擴散,其中將累積在該光電二極體區域內的該電荷轉移到該儲存電容器包含經由一轉移閘將該電荷轉移到一配置在該摻雜井內具有與該摻雜井相反導電性類型的浮動擴散,該浮動擴散被耦合到該儲存電容器的一第二電極,其中該摻雜井係配置於與該光電二極體區域重疊在該像素的一前側與該光電二極體區域之間的該磊晶層內。
  9. 如請求項8之方法,對於每個像素,其進一步包括:在累積該電荷之前,經由暫時啟用一耦合在該光電二極體區域與該儲存電容器的一第一電極之間的轉移電晶 體以及經由暫時啟用一耦合在一電壓導軌與該儲存電容器的該第一電極之間的重設電晶體,重設該光電二極體區域和該儲存電容器;及在累積該電荷與將該電荷轉移到該儲存電容器之間,經由啟用該重設電晶體同時禁用該轉移電晶體,再次重設該儲存電容器。
  10. 如請求項9之方法,對於每個像素,其進一步包括:經由暫時啟用一選擇電晶體,讀出儲存在該儲存電容器上的該電荷。
  11. 如請求項8之方法,其中就每個像素轉移在該光電二極體區域內累積的該電荷,包括啟用一全域快門信號以使該像素陣列內的所有像素同時開始轉移該電荷。
  12. 一種成像系統,其包括:一成像像素的背側照明陣列,其中每個成像像素包含:一光電二極體區域,其用於累積一影像電荷;一儲存電容器,其經耦合以暫時儲存由該光電二極體累積的該影像電荷,該儲存電容器被配置在該成像像素的一前側與該光電二極體區域之間;一轉移電晶體,其用於選擇性地將該光電二極體區域耦合到該儲存電容器;控制電路,其被耦合到成像像素的該背側照明陣列以產生一快門信號用於選擇性地啟用該等成像像素之一或多個的該轉移電晶體;及 讀出電路,其被耦合到成像像素的該背側照明陣列以選擇性地讀出該影像電荷;其中該儲存電容器和轉移電晶體被配置在一於該光電二極體區域之上形成的擴散井內,其中每個成像像素進一步包含一具有與該擴散井相反的導電性類型的浮動擴散,其被耦合到該轉移電晶體且被耦合到該儲存電容器的一第一電極;及一具有與該擴散井相似的導電性類型的接地擴散,其被耦合到該儲存電容器的一第二電極。
  13. 如請求項12之成像系統,其中該快門信號包括一全域快門信號,該全域快門信號經耦合以同時啟用該等成像像素的該背側照明陣列內的每個轉移電晶體,以利用所有該等成像像素同時捕捉一影像。
  14. 如請求項12之成像系統,其中成像像素的該背側照明陣列進一步包含:複數個微透鏡,其等配置在成像像素的該陣列的一背側上且每個經對準以將光聚焦到一對應像素上;及一包含兩個或更多個金屬層的金屬堆疊,其配置在成像像素的該陣列的一前側上用於路由信號。
  15. 如請求項12之成像系統,其中該儲存電容器包括一具有至少兩個重疊介電絕緣層的多層堆疊電容器。
  16. 如請求項12之成像系統,其中每個像素包括一四元電晶體(「4T」)像素設計,該4T像素設計包含:該轉移電晶體,其耦合在該光電二極體區域與一浮動擴散之間; 一重設電晶體,其耦合到該儲存電容器的一第一電極以重設該儲存電容器上的該影像電荷;一源極隨耦電晶體,其經耦合以從該儲存電容器輸出該影像電荷;及一選擇電晶體,其用於從其他成像感測器像素選擇該成像感測器像素用於讀出。
TW098103899A 2008-02-08 2009-02-06 具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器 TWI430660B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/028,659 US20090201400A1 (en) 2008-02-08 2008-02-08 Backside illuminated image sensor with global shutter and storage capacitor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201010418A TW201010418A (en) 2010-03-01
TWI430660B true TWI430660B (zh) 2014-03-11

Family

ID=40404992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW098103899A TWI430660B (zh) 2008-02-08 2009-02-06 具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20090201400A1 (zh)
EP (1) EP2253132A1 (zh)
CN (1) CN101939982B (zh)
TW (1) TWI430660B (zh)
WO (1) WO2009099814A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI789602B (zh) * 2019-07-09 2023-01-11 美商豪威科技股份有限公司 影像感測器及捕獲數位電子影像的方法

Families Citing this family (104)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7568628B2 (en) 2005-03-11 2009-08-04 Hand Held Products, Inc. Bar code reading device with global electronic shutter control
US7770799B2 (en) 2005-06-03 2010-08-10 Hand Held Products, Inc. Optical reader having reduced specular reflection read failures
US9478685B2 (en) 2014-06-23 2016-10-25 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured infrared detector and fabrication method for the same
US8889455B2 (en) 2009-12-08 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Manufacturing nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US8299472B2 (en) 2009-12-08 2012-10-30 Young-June Yu Active pixel sensor with nanowire structured photodetectors
US8229255B2 (en) 2008-09-04 2012-07-24 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
US8274039B2 (en) 2008-11-13 2012-09-25 Zena Technologies, Inc. Vertical waveguides with various functionality on integrated circuits
US9343490B2 (en) 2013-08-09 2016-05-17 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured color filter arrays and fabrication method of the same
US8519379B2 (en) 2009-12-08 2013-08-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured photodiode with a surrounding epitaxially grown P or N layer
US8269985B2 (en) 2009-05-26 2012-09-18 Zena Technologies, Inc. Determination of optimal diameters for nanowires
US9299866B2 (en) 2010-12-30 2016-03-29 Zena Technologies, Inc. Nanowire array based solar energy harvesting device
US8835831B2 (en) 2010-06-22 2014-09-16 Zena Technologies, Inc. Polarized light detecting device and fabrication methods of the same
US8791470B2 (en) 2009-10-05 2014-07-29 Zena Technologies, Inc. Nano structured LEDs
US8507840B2 (en) 2010-12-21 2013-08-13 Zena Technologies, Inc. Vertically structured passive pixel arrays and methods for fabricating the same
US9515218B2 (en) 2008-09-04 2016-12-06 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured photovoltaic devices with mirrors and optical claddings
US8748799B2 (en) 2010-12-14 2014-06-10 Zena Technologies, Inc. Full color single pixel including doublet or quadruplet si nanowires for image sensors
US9406709B2 (en) 2010-06-22 2016-08-02 President And Fellows Of Harvard College Methods for fabricating and using nanowires
US8890271B2 (en) 2010-06-30 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Silicon nitride light pipes for image sensors
US9082673B2 (en) 2009-10-05 2015-07-14 Zena Technologies, Inc. Passivated upstanding nanostructures and methods of making the same
US9000353B2 (en) 2010-06-22 2015-04-07 President And Fellows Of Harvard College Light absorption and filtering properties of vertically oriented semiconductor nano wires
US8546742B2 (en) 2009-06-04 2013-10-01 Zena Technologies, Inc. Array of nanowires in a single cavity with anti-reflective coating on substrate
US8866065B2 (en) 2010-12-13 2014-10-21 Zena Technologies, Inc. Nanowire arrays comprising fluorescent nanowires
US8735797B2 (en) 2009-12-08 2014-05-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
JP2010206173A (ja) * 2009-02-06 2010-09-16 Canon Inc 光電変換装置およびカメラ
JP2010206172A (ja) 2009-02-06 2010-09-16 Canon Inc 撮像装置およびカメラ
JP2010206174A (ja) 2009-02-06 2010-09-16 Canon Inc 光電変換装置およびその製造方法ならびにカメラ
JP5257176B2 (ja) * 2009-03-18 2013-08-07 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
US9117712B1 (en) * 2009-07-24 2015-08-25 Mesa Imaging Ag Demodulation pixel with backside illumination and charge barrier
US8569807B2 (en) * 2009-09-01 2013-10-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Backside illuminated image sensor having capacitor on pixel region
KR101062333B1 (ko) * 2009-12-29 2011-09-05 (주)실리콘화일 칩 사이즈가 감소된 배면광 이미지센서 및 그 제조방법
DE112011100842T5 (de) 2010-03-08 2013-01-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
CN102280458A (zh) * 2010-06-11 2011-12-14 英属开曼群岛商恒景科技股份有限公司 背面照光传感器
JP5751766B2 (ja) 2010-07-07 2015-07-22 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
JP5645513B2 (ja) 2010-07-07 2014-12-24 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び撮像システム
JP5643555B2 (ja) 2010-07-07 2014-12-17 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び撮像システム
JP5656484B2 (ja) 2010-07-07 2015-01-21 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
JP5697371B2 (ja) * 2010-07-07 2015-04-08 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
JP5885401B2 (ja) 2010-07-07 2016-03-15 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
US8637800B2 (en) * 2011-04-19 2014-01-28 Altasens, Inc. Image sensor with hybrid heterostructure
JP2012227889A (ja) * 2011-04-22 2012-11-15 Toshiba Corp 固体撮像装置
US9252185B2 (en) 2012-09-19 2016-02-02 Semiconductor Components Industries, Llc Back side illuminated image sensors with back side charge storage
US9094612B2 (en) * 2012-09-25 2015-07-28 Semiconductor Components Industries, Llc Back side illuminated global shutter image sensors with back side charge storage
US9478579B2 (en) * 2012-10-16 2016-10-25 Omnivision Technologies, Inc. Stacked chip image sensor with light-sensitive circuit elements on the bottom chip
CN103107172B (zh) * 2013-01-15 2015-10-21 深圳典邦科技有限公司 微显示集成背照图像传感器的oled图像收发装置
US10325947B2 (en) * 2013-01-17 2019-06-18 Semiconductor Components Industries, Llc Global shutter image sensors with light guide and light shield structures
US9293500B2 (en) 2013-03-01 2016-03-22 Apple Inc. Exposure control for image sensors
US9276031B2 (en) 2013-03-04 2016-03-01 Apple Inc. Photodiode with different electric potential regions for image sensors
US9041837B2 (en) 2013-03-05 2015-05-26 Apple Inc. Image sensor with reduced blooming
US9741754B2 (en) 2013-03-06 2017-08-22 Apple Inc. Charge transfer circuit with storage nodes in image sensors
US9549099B2 (en) 2013-03-12 2017-01-17 Apple Inc. Hybrid image sensor
US9319611B2 (en) 2013-03-14 2016-04-19 Apple Inc. Image sensor with flexible pixel summing
US9030584B2 (en) * 2013-03-18 2015-05-12 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with substrate noise isolation
US9596423B1 (en) 2013-11-21 2017-03-14 Apple Inc. Charge summing in an image sensor
US9596420B2 (en) 2013-12-05 2017-03-14 Apple Inc. Image sensor having pixels with different integration periods
US9473706B2 (en) 2013-12-09 2016-10-18 Apple Inc. Image sensor flicker detection
JP6247918B2 (ja) * 2013-12-09 2017-12-13 浜松ホトニクス株式会社 放射線イメージセンサ
US10285626B1 (en) 2014-02-14 2019-05-14 Apple Inc. Activity identification using an optical heart rate monitor
KR102154184B1 (ko) 2014-03-10 2020-09-09 삼성전자 주식회사 이미지 센서 및 이를 제조하는 방법
US9277144B2 (en) 2014-03-12 2016-03-01 Apple Inc. System and method for estimating an ambient light condition using an image sensor and field-of-view compensation
US9232150B2 (en) 2014-03-12 2016-01-05 Apple Inc. System and method for estimating an ambient light condition using an image sensor
US9584743B1 (en) 2014-03-13 2017-02-28 Apple Inc. Image sensor with auto-focus and pixel cross-talk compensation
US9497397B1 (en) 2014-04-08 2016-11-15 Apple Inc. Image sensor with auto-focus and color ratio cross-talk comparison
US9674470B2 (en) * 2014-04-11 2017-06-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, method for driving semiconductor device, and method for driving electronic device
US9746678B2 (en) * 2014-04-11 2017-08-29 Applied Materials Light wave separation lattices and methods of forming light wave separation lattices
US9538106B2 (en) 2014-04-25 2017-01-03 Apple Inc. Image sensor having a uniform digital power signature
US9398237B2 (en) * 2014-04-30 2016-07-19 Sony Corporation Image sensor with floating diffusion interconnect capacitor
US9686485B2 (en) 2014-05-30 2017-06-20 Apple Inc. Pixel binning in an image sensor
TW201601300A (zh) * 2014-06-26 2016-01-01 原相科技股份有限公司 具連接到浮動擴散區的半導體電容的背感光式半導體結構
CN105304655B (zh) * 2014-06-26 2018-06-29 原相科技股份有限公司 具连接到浮动扩散区的半导体电容的背感光式半导体结构
KR102286111B1 (ko) * 2014-08-21 2021-08-04 삼성전자주식회사 단위 픽셀, 상기 단위 픽셀을 포함하는 이미지 센서, 및 상기 단위 픽셀을 포함하는 이미지 처리 시스템
US9484370B2 (en) 2014-10-27 2016-11-01 Omnivision Technologies, Inc. Isolated global shutter pixel storage structure
US9832407B2 (en) 2014-11-26 2017-11-28 Semiconductor Components Industries, Llc Global shutter image sensor pixels having improved shutter efficiency
JP6787134B2 (ja) * 2014-12-18 2020-11-18 ソニー株式会社 固体撮像素子、撮像装置、および電子機器
US9502457B2 (en) 2015-01-29 2016-11-22 Semiconductor Components Industries, Llc Global shutter image sensor pixels having centralized charge storage regions
US9736405B2 (en) * 2015-01-29 2017-08-15 Altasens, Inc. Global shutter image sensor having extremely fine pitch
US10863131B2 (en) 2015-05-20 2020-12-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor including parallel output of pixel signals from a pixel unit and image processing system including the same
US9515116B1 (en) * 2015-05-22 2016-12-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Vertical transfer gate structure for a back-side illumination (BSI) complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) image sensor using global shutter capture
CN106409847B (zh) * 2015-07-29 2020-05-12 联华电子股份有限公司 影像感测器像素结构
US10014333B2 (en) * 2015-08-26 2018-07-03 Semiconductor Components Industries, Llc Back-side illuminated pixels with interconnect layers
US10566375B2 (en) * 2016-01-29 2020-02-18 Semiconductor Components Industries, Llc Stacked-die image sensors with shielding
US9912883B1 (en) 2016-05-10 2018-03-06 Apple Inc. Image sensor with calibrated column analog-to-digital converters
JP6818875B2 (ja) 2016-09-23 2021-01-20 アップル インコーポレイテッドApple Inc. 積層背面照射型spadアレイ
EP3574344B1 (en) 2017-01-25 2024-06-26 Apple Inc. Spad detector having modulated sensitivity
US10656251B1 (en) 2017-01-25 2020-05-19 Apple Inc. Signal acquisition in a SPAD detector
US10962628B1 (en) 2017-01-26 2021-03-30 Apple Inc. Spatial temporal weighting in a SPAD detector
US10622538B2 (en) 2017-07-18 2020-04-14 Apple Inc. Techniques for providing a haptic output and sensing a haptic input using a piezoelectric body
US10440301B2 (en) 2017-09-08 2019-10-08 Apple Inc. Image capture device, pixel, and method providing improved phase detection auto-focus performance
WO2019107083A1 (ja) * 2017-11-30 2019-06-06 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
US10986290B2 (en) 2018-05-18 2021-04-20 Omnivision Technologies, Inc. Wide dynamic range image sensor with global shutter
US12107095B2 (en) * 2018-07-17 2024-10-01 Brillnics Singapore Pte. Ltd. Solid-state imaging device, method for fabricating solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP7455525B2 (ja) * 2018-07-17 2024-03-26 ブリルニクス シンガポール プライベート リミテッド 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、および電子機器
US11019294B2 (en) 2018-07-18 2021-05-25 Apple Inc. Seamless readout mode transitions in image sensors
US10848693B2 (en) 2018-07-18 2020-11-24 Apple Inc. Image flare detection using asymmetric pixels
TWI701823B (zh) * 2018-10-01 2020-08-11 力晶積成電子製造股份有限公司 影像感測器及其製造方法
KR102573305B1 (ko) 2018-10-18 2023-08-31 삼성전자 주식회사 Sl 기반의 3d 이미지 센서
KR102618358B1 (ko) 2019-06-05 2023-12-28 삼성전자주식회사 이미지 센서
CN112349232B (zh) * 2019-08-06 2025-04-08 群创光电股份有限公司 显示设备及电子设备
CN112769980B (zh) 2019-11-06 2025-02-07 华为技术有限公司 一种电子设备
US11955503B2 (en) 2019-11-21 2024-04-09 Huawei Technologies Co., Ltd. Imaging element, imaging sensor, camera system, and device comprising camera system with an overflow path and gate connected storage
US11563910B2 (en) 2020-08-04 2023-01-24 Apple Inc. Image capture devices having phase detection auto-focus pixels
US11546532B1 (en) 2021-03-16 2023-01-03 Apple Inc. Dynamic correlated double sampling for noise rejection in image sensors
US12192644B2 (en) 2021-07-29 2025-01-07 Apple Inc. Pulse-width modulation pixel sensor
US12069384B2 (en) 2021-09-23 2024-08-20 Apple Inc. Image capture devices having phase detection auto-focus pixels
CN120813084B (zh) * 2025-09-05 2026-01-06 荣芯半导体(宁波)有限公司 一种图像传感器及其制备方法

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4760031A (en) * 1986-03-03 1988-07-26 California Institute Of Technology Producing CCD imaging sensor with flashed backside metal film
US5688715A (en) * 1990-03-29 1997-11-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Excimer laser dopant activation of backside illuminated CCD's
US5149956A (en) * 1991-06-12 1992-09-22 Santa Barbara Research Center Two-color radiation detector array and methods of fabricating same
US5880777A (en) * 1996-04-15 1999-03-09 Massachusetts Institute Of Technology Low-light-level imaging and image processing
NO305728B1 (no) * 1997-11-14 1999-07-12 Reidar E Tangen Optoelektronisk kamera og fremgangsmÕte ved bildeformatering i samme
US6285018B1 (en) * 1999-07-20 2001-09-04 Intevac, Inc. Electron bombarded active pixel sensor
JP2003506926A (ja) * 1999-07-29 2003-02-18 ビジョン−サイエンシズ・インコーポレイテッド マルチ・フォトディテクタ・ユニットセル
US6168965B1 (en) * 1999-08-12 2001-01-02 Tower Semiconductor Ltd. Method for making backside illuminated image sensor
US7291858B2 (en) * 1999-12-24 2007-11-06 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. QWIP with tunable spectral response
US7265397B1 (en) * 2000-08-30 2007-09-04 Sarnoff Corporation CCD imager constructed with CMOS fabrication techniques and back illuminated imager with improved light capture
US6940142B2 (en) * 2001-07-02 2005-09-06 Xerox Corporation Low data line capacitance image sensor array using air-gap metal crossover
US7471324B2 (en) * 2002-08-28 2008-12-30 Aptina Imaging Corporation Amplifier shared between two columns in CMOS sensor
US6919551B2 (en) * 2002-08-29 2005-07-19 Micron Technology Inc. Differential column readout scheme for CMOS APS pixels
US6960796B2 (en) * 2002-11-26 2005-11-01 Micron Technology, Inc. CMOS imager pixel designs with storage capacitor
US7005637B2 (en) * 2003-01-31 2006-02-28 Intevac, Inc. Backside thinning of image array devices
US7115855B2 (en) * 2003-09-05 2006-10-03 Micron Technology, Inc. Image sensor having pinned floating diffusion diode
US7166878B2 (en) * 2003-11-04 2007-01-23 Sarnoff Corporation Image sensor with deep well region and method of fabricating the image sensor
US6900507B1 (en) * 2004-01-07 2005-05-31 Micron Technology, Inc. Apparatus with silicide on conductive structures
US7615808B2 (en) * 2004-09-17 2009-11-10 California Institute Of Technology Structure for implementation of back-illuminated CMOS or CCD imagers
US7551059B2 (en) * 2005-01-06 2009-06-23 Goodrich Corporation Hybrid infrared detector array and CMOS readout integrated circuit with improved dynamic range
US8049293B2 (en) * 2005-03-07 2011-11-01 Sony Corporation Solid-state image pickup device, electronic apparatus using such solid-state image pickup device and method of manufacturing solid-state image pickup device
KR100907739B1 (ko) * 2005-03-11 2009-07-14 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 포토다이오드 영역을 매립한 이미지 센서 및 그 제조 방법
US7227786B1 (en) * 2005-07-05 2007-06-05 Mammen Thomas Location-specific NAND (LS NAND) memory technology and cells
US7566853B2 (en) * 2005-08-12 2009-07-28 Tessera, Inc. Image sensor employing a plurality of photodetector arrays and/or rear-illuminated architecture
US20070259463A1 (en) * 2006-05-02 2007-11-08 Youssef Abedini Wafer-level method for thinning imaging sensors for backside illumination
IL176694A0 (en) * 2006-07-04 2006-10-31 Univ Ramot Method and device for low light level imaging
US7781715B2 (en) * 2006-09-20 2010-08-24 Fujifilm Corporation Backside illuminated imaging device, semiconductor substrate, imaging apparatus and method for manufacturing backside illuminated imaging device
KR100922931B1 (ko) * 2006-12-27 2009-10-22 동부일렉트로닉스 주식회사 씨모스 이미지 센서 및 그 제조 방법
US7498650B2 (en) * 2007-03-08 2009-03-03 Teledyne Licensing, Llc Backside illuminated CMOS image sensor with pinned photodiode
US7687836B2 (en) * 2007-05-24 2010-03-30 Micron Technology, Inc. Capacitance noise shielding plane for imager sensor devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI789602B (zh) * 2019-07-09 2023-01-11 美商豪威科技股份有限公司 影像感測器及捕獲數位電子影像的方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101939982A (zh) 2011-01-05
EP2253132A1 (en) 2010-11-24
WO2009099814A1 (en) 2009-08-13
WO2009099814A8 (en) 2010-08-26
TW201010418A (en) 2010-03-01
CN101939982B (zh) 2013-01-23
US20090201400A1 (en) 2009-08-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI430660B (zh) 具有全域快門及儲存電容之背側照明影像感測器
JP7301936B2 (ja) 固体撮像素子およびその製造方法、並びに電子機器
US10115762B2 (en) Solid-state image pickup device, method of manufacturing thereof, and electronic apparatus
KR101129128B1 (ko) 후면 조사 이미지 센서를 위한 회로 및 광센서 오버랩
JP6007499B2 (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、及び、電子機器
CN102196195B (zh) 固体摄像器件、其制造方法、其驱动方法及电子装置
CN106952932B (zh) 固态成像装置及其制造方法和电子设备
TWI541986B (zh) 用於背側照明影像感測器之黑色參考像素
JP7354315B2 (ja) 固体撮像素子及び電子機器
JP2013012551A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、及び電子機器
US10536659B2 (en) Solid-state image capturing element, manufacturing method therefor, and electronic device
US8730362B2 (en) Image sensor with controllable vertically integrated photodetectors
JP2011129633A (ja) 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器
TW201310629A (zh) 固態攝像裝置及其製造方法、以及電子資訊機器
EP1684351A1 (en) Solid-state image pickup device
JP2011193027A (ja) 固体撮像装置