TWI421465B - 透鏡測厚儀 - Google Patents
透鏡測厚儀 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI421465B TWI421465B TW97126391A TW97126391A TWI421465B TW I421465 B TWI421465 B TW I421465B TW 97126391 A TW97126391 A TW 97126391A TW 97126391 A TW97126391 A TW 97126391A TW I421465 B TWI421465 B TW I421465B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- lens
- scale
- contact
- carrier
- thickness gauge
- Prior art date
Links
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 3
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000013022 venting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Description
本發明涉及一種測厚儀，尤其涉及一種用於量測透鏡中心肉厚之透鏡測厚儀及測量透鏡中心肉厚之方法。
近年來，隨著光學產品之發展，光學透鏡之應用範圍持續擴大，如數位相機、具有照相功能之手機等。該光學透鏡以及包括有光學透鏡之鏡頭模組需要很高之精密性。光學透鏡通常採用注射成型。採用注射成型生產產品，大大提高生產效率及產量，降低成本。
生產過程中，透鏡於完成注射成型後需要檢測其中心肉厚(透鏡中心之厚度)以確保產品之精度。如Tomas Fischer等人於2006年IEEE系統、儀器及檢測技術之國際研討會(Instrumentation and Measurement Technology Conference)上發表之論文A Novel Optical Method of Dimension Measurement of Objects with Circular Cross-section中揭示了一種透鏡等光學元件之高度檢測方法。
請參閱圖1，目前，生產過程中通常採用接觸式表面輪廓儀2，其係利用表面輪廓儀2接觸一透鏡1表面並於透鏡1表面移動，然後計算移動過程中最高點與最低點之差值求得透鏡1之中心肉厚。
然而，接觸式表面輪廓儀2價格昂貴，且當透鏡1容易放置傾斜，造成測量誤差。
請參閱圖2，亦有採用高度規3來測量透鏡1之中心肉厚。高度規3包括一測量承載台32和一接觸頭31，測量時，將透鏡1放置於承載台32上，透鏡1之一表面與承載台32接觸，該接觸頭31之端面與透鏡1之另一表面接觸，此時高度規3讀取承載台32與接觸頭31之間之距離數值，即為透鏡1之中心肉厚。
然而，一般承載台32表面和接觸頭31之端面皆為平面，測量透鏡1時，無法將透鏡1有效固定，容易造成測量誤差；另外，承載台32表面和接觸頭31端面與透鏡1表面之接觸面比較小，當接觸頭31與透鏡1表面接觸時，易造成透鏡1局部受力變形，使測量精度變差。
有鑒於此，有必要提供一種測量精度較高之透鏡測厚儀。
一種透鏡測厚儀，用於測量透鏡之中心肉厚，該透鏡測厚儀包括透鏡承載體和刻度尺，該刻度尺與透鏡承載體相對設置，該透鏡承載體具有容納該透鏡之容置槽，該透鏡承載體設置有一個接觸單元和控制單元，該接觸單元和該刻度尺位於透鏡承載體相對之兩側，該接觸單元和刻度尺可向遠離和靠近該容置槽之方向移動，該控制單元控制該接觸單元的運動。
相對於先前技術，該透鏡測厚儀採用了接觸單元和透鏡承載體，透鏡承載體具有容納透鏡之容置槽，於測量透鏡中心肉厚時，透
鏡牢固地容納於容置槽中，接觸單元與透鏡之一個面相接觸，刻度尺與透鏡之另一面相接觸，使用該透鏡測厚儀測量透鏡時，透鏡之受力面積較大，從而可避免透鏡局部受力產生形變而造成之測量誤差。
32、11‧‧‧承載台
31‧‧‧接觸頭
3‧‧‧高度規
2‧‧‧表面輪廓儀
10‧‧‧透鏡測厚儀
1、20‧‧‧透鏡
201‧‧‧第一表面
202‧‧‧第二表面
12‧‧‧支架
13‧‧‧刻度尺
14‧‧‧透鏡承載體
16‧‧‧接觸單元
111‧‧‧承載面
141‧‧‧容置槽
19‧‧‧抽氣單元
142‧‧‧第一孔
143‧‧‧第二孔
17‧‧‧第一連接桿
15‧‧‧第二連接桿
18‧‧‧控制單元
圖1係先前技術接觸式表面輪廓儀與透鏡配合示意圖。
圖2係先前技術高度規與透鏡配合示意圖。
圖3係本發明實施例透鏡測厚儀之結構示意圖。
圖4至5係利用圖3中透鏡測厚儀測量透鏡肉厚之示意圖。
下面將結合附圖，對本發明作進一步之詳細說明。
請參閱圖3，本發明實施例提供一種透鏡測厚儀10，用於測量一透鏡20之中心肉厚，本實施例中該透鏡20為雙凸透鏡，其具有相對之第一表面201和第二表面202。
透鏡測厚儀10包括一個承載台11、一個垂直固定該承載台11上之支架12、一個設置於該支架12上之刻度尺13、一個設置於承載台11上且位置與刻度尺13相對之透鏡承載體14以及一個設置於透鏡承載體14上之接觸單元16，刻度尺13與接觸單元16位元於透鏡承載體14之兩側。
該承載台11具有一承載面111，透鏡承載體14設置於該承載面111。透鏡承載體14具有一個容納透鏡20之容置槽141和一個抽氣單元19，抽氣單元19與容置槽141相通。本實施例中，容置槽141包
括同軸設置之第一孔142和第二孔143，第一孔142之直徑大於第二孔143之直徑，且第一孔142之直徑等於透鏡20之大小。刻度尺13、接觸單元16和容置槽141之中心位於同一條直線上，以保證測量之結果為透鏡20之中心肉厚。
支架12上設置有一個平行承載面111之第一連接桿17，刻度尺13通過第一連接桿17設置於支架12上，刻度尺13上具有精密刻度。
透鏡承載體14上設置有第二連接桿15，接觸單元16通過第二連接桿15與透鏡承載體14相連，且接觸單元16可相對於第二連接桿15上下運動，即接觸單元16可遠離和靠近容置槽141之方向運動。接觸單元16靠近容置槽141之一端為平面。第二連接桿15上設置有控制單元18，控制單元18可控制接觸單元16之上升或下降，控制單元18可為步進馬達、液壓馬達等。
於測量透鏡20中心肉厚時，通過抽氣單元19對容置槽141抽氣可使透鏡20牢固地容納於容置槽141中，接觸單元16與第二表面202相接觸，刻度尺13與第一表面201相接觸，透鏡20之受力面積較大，從而可避免透鏡20局部受力產生形變而造成之測量誤差。
請一併參閱圖4及圖5，採用該透鏡測厚儀10測量該透鏡20之中心肉厚之第一種方法包括如下步驟：
1)將透鏡20放置於容置槽141中，開啟抽氣單元19對容置槽141抽氣以使透鏡20穩固地吸附於容置槽141之壁上，通過操作控制單元18使接觸單元16與透鏡20之第二表面202相接觸。
2)刻度尺13下降與透鏡20之第一表面201相接觸，並記錄此時刻
度尺13之刻度值，此刻度值記作第一刻度。
3)刻度尺13遠離透鏡20後，將透鏡20取出，然後，將刻度尺13與接觸單元16相接觸，記錄此時刻度尺13之刻度值，此刻度記作第二刻度。
4)計算第二刻度值與第一刻度值之差值，此差值即為透鏡20之中心肉厚。
當然，可測出多組差值，取其平均值作為透鏡20之中心肉厚。
採用該透鏡測厚儀10測量該透鏡20之中心肉厚之第二種方法：首先，將透鏡20方於透鏡承載體14上，使接觸單元16與第二表面202接觸，然後，取出透鏡20，使刻度尺13與接觸單元16相接觸，記錄刻度尺13之第一刻度值，再將透鏡20放入容置槽141中，使刻度尺13與第一表面201接觸，記錄刻度尺13之第二刻度值，第二刻度值與第一刻度值之差值即為透鏡20之中心肉厚。
採用該透鏡測厚儀10測量該透鏡20之中心肉厚之第三種方法：首先，透鏡20方於透鏡承載體14上，使刻度尺13接觸第一表面201，使接觸單元16與第二表面202接觸，記錄刻度尺13之第一刻度值，然後，取出透鏡20，使刻度尺13與接觸單元16接觸，記錄刻度尺13之第二刻度，第二刻度值與第一刻度值之差值即為透鏡20之中心肉厚。
當第二表面202為凹面時，接觸單元16靠近容置槽141之一端為凸起結構，將第二表面202與接觸單元16相接觸，第一表面201與刻度尺13相接觸。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10‧‧‧透鏡測厚儀
11‧‧‧承載台
20‧‧‧透鏡
12‧‧‧支架
13‧‧‧刻度尺
14‧‧‧透鏡承載體
16‧‧‧接觸單元
17‧‧‧第一連接桿
15‧‧‧第二連接桿
18‧‧‧控制單元
19‧‧‧抽氣單元
201‧‧‧第一表面
202‧‧‧第二表面
111‧‧‧承載面
141‧‧‧容置槽
142‧‧‧第一孔
143‧‧‧第二孔
Claims (7)
- 一種透鏡測厚儀，用於測量透鏡之中心肉厚，該透鏡測厚儀包括透鏡承載體和刻度尺，該刻度尺與透鏡承載體相對設置，其改進在於：該透鏡承載體具有容納該透鏡之容置槽，該透鏡承載體設置有一個接觸單元和控制單元，該接觸單元和該刻度尺位於透鏡承載體相對之兩側，該接觸單元和刻度尺可向遠離和靠近該容置槽之方向移動，該控制單元控制該接觸單元的運動。
- 如申請專利範圍第1項所述之透鏡測厚儀，其中：該容置槽之大小等於該透鏡之大小。
- 如申請專利範圍第1項所述之透鏡測厚儀，其中：該接觸單元與該透鏡相接觸之部分為平面或者突起結構。
- 如申請專利範圍第1至3項任一項所述之透鏡測厚儀，其中：該透鏡測厚儀進一步包括一個承載台，該透鏡承載體設置於該承載台上。
- 如申請專利範圍第4項所述之透鏡測厚儀，其中：該透鏡測厚儀進一步包括一個垂直設置於該承載台上之支架，該刻度尺通過一個第一連接桿與該支架相連。
- 如申請專利範圍第5項所述之透鏡測厚儀，其中：該透鏡測厚儀進一步包括一個第二連接桿，該接觸單元通過該第二連接桿設置於該透鏡承載體上，該控制單元設置在該第二連接桿上。
- 如申請專利範圍第6項所述之透鏡測厚儀，其中：該透鏡承載體上設置有一個抽氣單元。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW97126391A TWI421465B (zh) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 透鏡測厚儀 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW97126391A TWI421465B (zh) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 透鏡測厚儀 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201003033A TW201003033A (en) | 2010-01-16 |
| TWI421465B true TWI421465B (zh) | 2014-01-01 |
Family
ID=44825387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW97126391A TWI421465B (zh) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 透鏡測厚儀 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWI421465B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112985228B (zh) * | 2021-02-05 | 2024-02-27 | 西安应用光学研究所 | 一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2378713Y (zh) * | 1999-06-30 | 2000-05-17 | 夏来德 | 镜片测厚仪 |
| CN200968843Y (zh) * | 2006-11-07 | 2007-10-31 | 南通新宇光学电子有限公司 | 测量光学透镜中心厚度的装置 |
-
2008
- 2008-07-11 TW TW97126391A patent/TWI421465B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2378713Y (zh) * | 1999-06-30 | 2000-05-17 | 夏来德 | 镜片测厚仪 |
| CN200968843Y (zh) * | 2006-11-07 | 2007-10-31 | 南通新宇光学电子有限公司 | 测量光学透镜中心厚度的装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201003033A (en) | 2010-01-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN207180606U (zh) | 离线式多功能手机壳检测设备 | |
| CN101363706B (zh) | 透镜测厚仪 | |
| CN207515722U (zh) | 尺寸检测装置 | |
| CN109955054B (zh) | 一种用于组装手机壳和镶嵌物的组装设备及组装方法 | |
| CN107505120A (zh) | 摄像头模组光心位置测量方法及测量装置 | |
| CN115265388A (zh) | 一种软包电池测厚装置及方法 | |
| CN206627076U (zh) | 一种玻璃轮廓度自动检测装置 | |
| CN202339186U (zh) | 一种可调节式光电检测系统 | |
| TWI421465B (zh) | 透鏡測厚儀 | |
| CN101619956A (zh) | 透镜测厚仪及测量透镜中心肉厚的方法 | |
| CN105444703A (zh) | 平面度检测装置 | |
| CN214893141U (zh) | 手机中框曲面屏小c平面度自动测量设备 | |
| CN115574726A (zh) | 电池外形尺寸测量设备及测量方法 | |
| CN105526901A (zh) | 一种球面零件中心厚度测量装置及测量方法 | |
| CN212031331U (zh) | 一种用于hud汽车玻璃的检测台 | |
| CN205300529U (zh) | 平面度检测装置 | |
| CN211012878U (zh) | 一种直线导轨平行度检测系统 | |
| CN118882508A (zh) | 一种极框尺寸自动检测设备及其标定方法 | |
| CN202735260U (zh) | 气压同步式取像扫描装置 | |
| CN214095923U (zh) | 一种结构光测贴片五金高度差的装置 | |
| CN208296753U (zh) | 基于棱镜检测环形零件内部尺寸的装置 | |
| CN206113858U (zh) | 孔检测设备 | |
| CN103217130A (zh) | 一种硅片缓冲装载装置 | |
| CN207113802U (zh) | 水平高度测量仪 | |
| CN211708606U (zh) | 一种手套箱扳手组装检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |