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TWI418162B - 空中測試 - Google Patents

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Publication number
TWI418162B
TWI418162B TW099131987A TW99131987A TWI418162B TW I418162 B TWI418162 B TW I418162B TW 099131987 A TW099131987 A TW 099131987A TW 99131987 A TW99131987 A TW 99131987A TW I418162 B TWI418162 B TW I418162B
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TW
Taiwan
Prior art keywords
noise
total
power
antenna elements
antenna
Prior art date
Application number
TW099131987A
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English (en)
Other versions
TW201119256A (en
Inventor
Pekka Kyoesti
Jukka-Pekka Nuutinen
Tommi Jamsa
Original Assignee
Elektrobit System Test Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elektrobit System Test Oy filed Critical Elektrobit System Test Oy
Publication of TW201119256A publication Critical patent/TW201119256A/zh
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Publication of TWI418162B publication Critical patent/TWI418162B/zh

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Description

空中測試
本發明與一種裝置在消聲室內的空中測試有關。
當射頻信號從發射器傳送給接收器時，該信號沿著一或多個具有不同抵達角、信號延遲、偏振及功率的路徑用無線電通道傳播，這導致接收信號之不同持續時間及強度的減弱。此外，由其他發射器造成的干擾和雜訊干擾了該無線電連接。
可利用模擬真實環境的無線電通道模擬器對發射器和接收器進行測試。在數位無線電通道模擬器中，通常利用FIR(有限脈衝響應)濾波器型塑一通道，這藉由利用通道係數(亦即抽頭係數)加權被不同延遲量延遲之該信號並藉由加總經加權的信號分量而在該通道模型與施加的信號之間產生卷機。所述通道係數是與實際信道之暫時行為對應的時間函數。傳統無線電通道模擬測試是經由導電連接進行，使得發射器與接收器經由電纜耦接在一起。
無線電系統之用戶終端與基地台之間的通信可利用OTA(空中)測試法測試，其中真實用戶終端在消聲室內被模擬器之複數個天線包圍。模擬器可耦接於一基地台或充當基地台且依據通道模型模擬該用戶終端與該基地台間之路徑。
但是，在該OTA室中無法正確地進行具備一期望信噪比的測試。因此，需要一種更好的測試系統。
本發明之一目的是提出一種改良解決方案。
依據本發明之一觀點，提出一種與被天線元件包圍的受測電子裝置無線地通信之方法，該通信通過模擬器之模擬無線電通道進行。該 方法包括於總雜訊功率從至少二個天線元件無線地傳送雜訊給一受測裝置，該總雜訊功率是基於模擬器收到之總信號功率、該模擬器與天線元件之間的至少一天線特定通道之增益、及期望信噪比。
依據本發明之另一觀點，提出一種用於與被複數個天線元件包圍之受測電子裝置無線地通信的測試系統，該等天線元件之至少一者連接至模擬器，該模擬器被配置用以形成用於通信的模擬無線電通道。該測試系統包括與至少二個天線元件耦接的雜訊源；且該雜訊源被配置用於以該模擬器接收到的總信號功率、該模擬器與所述天線元件之間的至少一天線特定通道的增益、及期望信噪比為基礎而形成總雜訊功率；於該總雜訊功率從該至少二個天線元件無線地傳送雜訊給該受測裝置。
本發明提供許多優點。可將具備期望頻率中雜訊分佈的期望強度添加至導往DUT(受測裝置)之傳輸。
△θ‧‧‧角域中天線的間距
100‧‧‧受測電子裝置
102、104、106、108、110、112、114、116、K‧‧‧天線元件
118‧‧‧模擬器
φn‧‧‧路徑方向角度
120、200、202‧‧‧射束
400、412‧‧‧類比-數位轉換器
402‧‧‧加權元件
404‧‧‧被配置成移位暫存器的延遲元件
406‧‧‧乘法器
408‧‧‧加總器
410‧‧‧都普勒元件
500‧‧‧雜訊源
SNR‧‧‧期望信噪比
502‧‧‧總信號功率
504‧‧‧天線特定通道
510‧‧‧雜訊產生器
512‧‧‧加法器
700‧‧‧步驟
以下參照實施例及隨附圖式更詳細地說明本發明，其中第1圖示出OTA測試室內之測量配置；第2圖示出OTA室，其中二個射束處於一個位置；第3圖示出OTA室，其中二個射束偏移至另一位置；第4圖示出FIR濾波器；第5圖示出傳送雜訊給DUT的測試系統；第6圖示出雜訊源；以及第7圖示出方法流程圖。
第1圖呈現OTA測試室。可以是用戶終端的DUT 100位於中心且天線元件102、104、106、108、110、112、114及116以均勻間距(例如8個元件每一者之間成45°)圍繞DUT 100。今用θk表示k個OTA天線之方向，k=1,…,K，且用△θ表示角域中天線的間距，其中K為天線元件102至116之數量。角△θ表示兩天線元件102至116相對於電子裝置100之分隔的量度。所述天線元件每一者可連接至模擬器118(譬如EB(Elektrobit)Propsim®C8)的單一模擬器輸出埠且因此各天線元件可從模 擬器118接收一個天線特定通道。一般而言，至少一個天線元件102至116耦接於模擬器118。
該測試室可為消聲室。模擬器118可包括用於形成各天線特定通道的至少一個FIR濾波器。附加地或替代地，模擬器118可包括處理器、記憶體及用於提供所述天線特定通道之適當電腦程式。就任兩個相繼天線元件102至116來說，該分隔角△θ可為相同或不同。
不同於DUT 100與天線元件102至116間之相同距離，天線元件102至116亦可為距DUT 100不同距離。因此，天線元件102至116可為僅放在一個扇形區內而非放在全角度內或全立體角內。DUT 100亦可在天線中具有一或多個元件。
模擬器118具有用於測試的無線電通道模型。該無線電通道模型可由進行測試之人選擇，所用無線電通道模型可為基於從真實無線電系統錄得之通道的回放模型或者其可為一人工產生的模型或者其可為一回放模型與人工產生模型之組合。
現在假設模擬器118與無線電系統的基地台或類似物耦接且天線元件102至116向DUT 100進行傳送，該DUT係當作該無線電系統之接收用戶終端或類似物。可假設DUT天線特徵為未知且在因此可忽略資訊。
今首先試驗該OTA室中之信號傳輸。模擬器118中的幾何無線電通道模型可被映射到OTA天線元件102至116上，使得各天線元件102至116從模擬器118接收天線特定通道的信號且將該信號無線地傳送至DUT 100。模擬器118用多路徑傳播模擬來自基地台之傳輸。由於與路徑(亦即與延遲)相關之每一信號可從相同或不同方向到達DUT 100，模擬器118依據每一刻該通道模型之無線電路徑，將其接收到的信號分配給每一天線元件102至116。該無線電通道模型決定每一天線特定信號之功率及延遲。在一簡單實施例中，一個路徑的信號僅可從一個天線元件102至116傳送給DUT 100，因此，代表該路徑的射束120之方向必須與最接近該路徑之方向的天線元件102至116之角θk近似。
當一路徑的射束角度與天線元件102至116之角θk相差超過 臨界值(舉例來說可為1°)時，可能利用至少二天線元件102至116傳送該射束。
在一實施例中，模擬路徑的信號功率可基於天線角度θk及路徑方向角度φn在兩天線元件之間分配。模擬器118可依據以下數學式找出最接近路徑方向角度φn的天線元件k的角度θk： 其中min意指所有θj值當中該表現式之最小值，int意指分配的整數值(包括0)。
k之值為然後第二天線元件k+1可為具 有一角θk+△θ=θk+1的天線元件。因此，所選天線元件可為該路徑之射束至少主要在其等之間導往DUT 100的那些天線元件。
如果路徑之射束方向φn剛好在兩天線元件之角度θk和θk+1的中間，則為每一天線元件分配該射束功率的50%。
每一天線元件102至116之權重Wn,k可以下述方式計算 其中i是1或2，k是最接近路徑n之角度φn的天線元件的指數。路徑n至天線元件k的功率Pn被乘以權重Wn,k，使得Pk+Pk+1=Pn。
第2圖和3A呈現至少一射束之旋轉。第2圖呈現通信之瞬間，此時模擬器118及天線元件102至116已基於通道模型形成二個射束 200、202。在此實例中，假設在第一刻時射束202由天線元件110產生且射束200由天線元件114和116產生。
第3圖呈現相對於第2圖所示瞬間之通信下一瞬間。模擬器118已將相同射束200、202轉到相對於DUT 100及天線元件102至116之下一個位置。射束之移動代表模擬的無線電通道之角譜之偏移。這意味著該模擬的無線電通道不一定已經被改變但已相對於DUT 100及天線元件102至116旋轉。射束202由天線元件110和112形成。射束200由天線元件116形成。與其使各射束200、202偏移等於兩天線元件102至116之角△θ的減量或增量，模擬器118可以角△θ的值以外之一值偏移各射束200、202。
第4圖示出FIR濾波器之方塊圖，該FIR濾波器可包括類比-數位轉換器400、加權元件402、被配置成移位暫存器的延遲元件404、乘法器406、加總器408、都普勒(Doppler)元件410及數位-類比轉換器412。類比-數位轉換器400接收類比信號，沒有加權元件402及都普勒元件410之FIR濾波器的基本功能如下。來自類比-數位轉換器400之數位輸入信號x(n)在每一延遲元件404中被延遲，這些延遲可具有相同或不同時間長度，且在乘法器406中，經延遲信號乘以期望通道係數hj(i)，其中i=[0,…,N]且j=[0,…,K]。無線電通道模型由通道係數hj=hj亦被稱為無線電通道之通道估計值或FIR濾波器的抽頭係數。信號分量在加總器408中加總，且加總信號在數位-類比轉換器412中被轉換成類比形式。
在數學形式中，FIR濾波器之輸出信號y(n)可被表示為經延遲信號與通道係數之乘積之總和的卷機： 其中*代表卷機運算且n代表一信號元件之指數。信號x和y及通道脈衝響應估計值h可以純量形式、向量形式或矩陣形式處理。一般而言，無線電通道係數h可為實數或複數。
在一實施例中，FIR濾波器可包括加權元件402之運算。因此，不一定需要單獨的都普勒元件410。加權元件402可被放在類比-數位轉換器400與數位-類比轉換器412之間的任意處，只要所有被延遲信號分量會在延遲前及延遲後經過加權。加權元件402可以是將模擬的無線電通道Hn,k乘以權重Wn,k(見式2)以便提供乘積Wn,kHn,k的乘法器。
在一實施例中，FIR濾波器可額外包括都普勒元件410。該都普勒元件可以是將經加權無線電通道Wn,kHn,k乘以一都普勒偏移exp(j2πCn,kt)以產生乘積Wn,kHn,kexp(j2πCn,kt)都普勒元件410可被放在類比-數位轉換器400與數位-類比轉換器412之間的任意處，只要所有經延遲信號分量會在延遲前或延遲後經都普勒偏移。
不同權重Wn,k、Hn,k及exp(j2πCn,kt)之乘法運算可結合以在一個乘法器中進行。至少一射束相對於DUT 100及天線元件102至116之旋轉可藉由依一時間函數改變權重完成。
除了OTA室中傳送信號之各種形式以外，雜訊可從至少二個天線102至116傳送至DUT 100。該至少二個天線元件可以是也用來傳送通信信號給DUT 100的天線元件，或者該至少二個天線元件可不用於傳送通信信號給DUT。所有天線元件102至116可用於傳送雜訊，但亦有可 能僅有所有天線元件102至116之一部分用於傳送雜訊。
第5圖例示傳送信號及雜訊給DUT 100之測試系統。類似第1圖，DUT 100在中心且室內天線元件102至116以均勻間隔或不均勻間隔圍繞DUT 100。該至少二個天線元件102至116之每一者可連接至雜訊源500之單一輸出，該雜訊源可對從模擬器118傳播給天線元件102至116之傳輸增添雜訊。模擬器118之各模擬器輸出埠可與雜訊源500的輸入埠耦接且雜訊源500可將信號從輸入埠不改變地轉移至雜訊源500的輸出埠。因此，各天線元件可直接從雜訊源500且間接從模擬器118接收一個天線特定通道504。
與雜訊源500耦接之該至少二個天線元件102至116的數量可等於或少於天線元件102至116之總數。若使用少於天線元件102至116之總數的數量，則雜訊源500例如可耦接於每隔一個之天線元件104、108、112及116。模擬器118耦接之天線元件數量亦可少於天線元件102至116之總數。模擬器118可耦接於與雜訊源500所用不同之天線元件。模擬器118舉例來說可耦接於每隔一個之天線元件104、108、112及116。分散的天線元件不必在模擬器118與雜訊源500之間均等分佈。一般而言，當使用分散的天線元件時，該至少二個天線元件直接從雜訊源500接收雜訊且剩下的天線元件通過天線特定通道504從模擬器118接收信號。
在一實施例中，模擬器118和雜訊源500亦有可能使用至少一個共同天線元件，雖然天線元件亦可為不同。雖然至少一個天線元件可能不從模擬器118接收信號，至少一個天線元件可耦接於雜訊源500，且至少一個不同天線元件可耦接於模擬器118，雖然該至少一個不同天線元件可 能不從雜訊源500接收雜訊，同時至少二個天線元件通過與雜訊源500之耦接而連接至模擬器118以接收雜訊及信號二者。
在一實施例中，雜訊可為從所有方向均勻地朝DUT 100傳送。在這樣的情況中，來自相對於DUT 100的不同方向之平均功率應當相同，藉此可降低空間相關性。雜訊可以從所有天線元件102至116或是例如從天線102、108及112傳送。
在一實施例中，該測試系統之雜訊源500可基於模擬器118接收到的信號502的總信號功率、模擬器118與天線元件102至116之間的至少一天線特定通道504之增益、及期望信噪比SNR而形成總雜訊功 率。雜訊源500舉例來說可遵循總雜訊功率之以下數學式： 其中f()是參數|s|2、|h|2及SNR之期望函數，|s|2是模擬器118接收到的總信號功率502、|h|2代表天線特定通道504之增益，且SNR代表期望信噪比。
在一實施例中，總雜訊功率可用下式表示： 其中f(|s|2)是模擬器118接收到的總信號功率502的函數，且g(|h|2)代表天線特定通道504的增益之函數。當總雜訊功率形成時，雜訊源500可提供具有該總雜訊功率的期望頻率中雜訊功率分佈。雜訊源500可產生該期望頻率中雜訊功率分佈或是從記憶體(其可以被包括在雜訊源500中或者可以是外部記憶體)取得該期望頻率中雜訊功率分佈。
在一實施例中，用於各天線元件102至116之雜訊功率|n|2 可藉由用總雜訊功率除以天線元件數量K而形成。當雜訊功率|n|2形成時，雜訊源500可向天線元件102至116提供期望頻率中雜訊功率分佈，該期望雜訊功率分佈具有計算的雜訊功率。
在一實施例中，雜訊功率可用下式以更明確方式表示： 其中〈‧〉代表預定時間視窗中的時間平均之運算，|hi|2代表天線特定通道i 之增益，且代表所述天線特定通道之增益之總和。待加總之增益的數量可涉及可向DUT 100傳送信號之所有OTA天線元件102至116。一般而言，加總運算中之增益的數量可為至少一個。舉例來說，如果天線特定通道之增益的絕對值低於預定臨界值或是該通道中沒有信號傳送，則在加總中可省略該天線特定通道之增益。加總運算中計入之天線特定通道之增益的數量在不同時刻可能不同。
在一實施例中，雜訊源500可通過至少二個天線元件102至116傳送具有計算的雜訊功率之雜訊給DUT 100。OTA室中與模擬器操作性地耦接的天線元件102至116的總數可高於用以傳送雜訊之天線元件的數量。
在一實施例中，雜訊源500可形成與用於總雜訊功率或每一天線特定通道之雜訊功率|n|2之期望雜訊功率分佈對應的複高斯(Gaussian)雜訊。雜訊源500可將該高斯雜訊饋送至該至少二個天線元件102至116。該複高斯雜訊可以藉由在雜訊產生器中產生雜訊而形成，或者 該雜訊可以從稍早儲存的記憶體中取得。取代高斯雜訊，亦可形成其他類型之雜訊分佈。
第6圖更詳細地示出雜訊源500。雜訊源500可包括雜訊產生器510及加法器512。然而，如果雜訊產生器510及模擬器118使用完全不同的天線元件，就不一定需要加法器512。雜訊產生器510產生期望的雜訊功率及期望的雜訊分佈，並可將該期望雜訊饋送至加法器512，該加法器結合天線特定通道504中之雜訊與從模擬器118到天線元件102至116之信號。如果沒有加法器512，雜訊產生器510將該期望雜訊直接饋送至傳送雜訊之該至少二個天線元件。
如果天線元件102至116距DUT 100不同距離，則在形成天線元件k之雜訊功率|n|2時可例如依下述方式將各天線元件k之距離D納入考量： 其中f(D)是距離D之一適當函數。函數f(D)舉例來說可為f(D)=aDc+b。係數a可為大約1，係數b可為大約0且係數c可為大約2。
DUT 100從傳送信號及雜訊二者之天線元件102至116接收到的傳輸ym(t)舉例來說可表示為： 其中cmk(t)是天線元件102至116與DUT 100間之複通道增益，xk(t)是傳送的信號且nk(t)是刻意傳送的雜訊。
通過空中與DUT 100通信賦能了以可在測試中自由地包含 路徑方向的方式測試天線設計、偏振、以及不同雜訊分佈、信噪比及位置之效果。
以上已二維地描述模擬的無線電通道之偏移。然而，在一實施例中，模擬無線電通道之偏移可為三維地進行、使用未曾放在OTA室中之平面上的天線元件。具有至少一射束之角譜的方向隨後以立體角判定。
這些實施例可應用於3GPP(第三代合作計畫)LTE(長期演進)、WiMAX(全球微波存取互通)、Wi-Fi及/或WCDMA(寬頻分碼多重存取)。在亦為一種可能應用的MIMO(多進多出)中，信號以相對於當前實施例不同的方式分配給天線元件。
在射束圍繞DUT 100旋轉期間，傳送的雜訊不必旋轉，因為雜訊可能與方向無關。然而，雜訊可被製成與方向相依且雜訊可以類似於信號射束之方式圍繞DUT 100旋轉。
第7圖示出方法流程圖。在步驟700中，從至少二個天線元件102至116無線地傳送具備總雜訊功率之雜訊給受測裝置100，該總雜訊功率基於模擬器118接收到的總信號功率、模擬器118與天線元件102至116之間的連接之至少一天線特定通道504之增益、及期望信噪比。
該等實施例舉例來說可用ASIC或VLSI電路(特定應用積體電路、超大型積體電路)實施。替代地或附加地，方法步驟之實施例可被實施為電腦程式，其包括用於執行電腦程序以通過模擬器的模擬無線電通道與受測電子裝置通信的指令。該雜訊源可以電子電路及/或電腦程式為基礎控制用於傳送雜訊給DUT之天線元件的使用。
該電腦程式可被儲存在電腦或處理器可讀取的電腦程式發 佈媒體上。該電腦程式媒體舉例來說可為但不限於電的、磁性的、光學的、紅外線或半導體系統、裝置或傳輸媒體。該電腦程式媒體可包含下列媒體之至少一者：電腦可讀取媒體、程式儲存媒體、記錄媒體、電腦可讀取記憶體、隨機存取記憶體、可抹除可程式唯讀記憶體、電腦可讀取軟體發佈包、電腦可讀取信號，電腦可讀電信信號、電腦可讀取印刷物、及電腦可讀取壓縮軟體包。
即便以上已參照依據隨附圖式之實例說明本發明，明顯可知本發明不侷限於此而是可在隨附申請專利範圍項的範圍以內以多種方式修改。
△θ‧‧‧角域中天線的間距
φn‧‧‧路徑方向角度
100‧‧‧受測電子裝置
102、104、106、108、110、112、114、116、K‧‧‧天線元件
118‧‧‧模擬器
120‧‧‧射束
500‧‧‧雜訊源
SNR‧‧‧期望信噪比
502‧‧‧總信號功率
504‧‧‧天線特定通道

Claims (12)

  1. 一種與被複數個天線元件(102至116)包圍的一受測電子裝置(100)無線地通信之方法，該通信通過一模擬器(118)之一模擬的無線電通道進行，其特徵為於一總雜訊功率從至少二個天線元件(102至116)無線地傳送(700)雜訊給一受測裝置(100)，該總雜訊功率是基於該模擬器(118)接收到的一總信號功率、該模擬器(118)與天線元件(102至116)之間的至少一天線特定通道(504)的一增益、及一期望信噪比。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，其包括以該至少一天線特定通道(504)的該增益加權該總信號功率以形成一總天線功率；用該總天線功率除以一信噪比期望值以形成該總雜訊功率；向該至少二個天線元件(102至116)提供用於經由一頻率傳輸之一期望雜訊功率分佈之雜訊，該期望雜訊功率分佈具有該總雜訊功率。
  3. 如申請專利範圍第1項之方法，其包括藉由該至少二個天線元件(102至116)傳送該雜訊，該雜訊之雜訊功率為該總雜訊功率除以傳送該雜訊的該天線元件之一數量。
  4. 如申請專利範圍第1項之方法，其包括以一預定時間視窗中該總信號功率(502)及該至少一天線特定通道(504)的該增益之時間平均為基礎形成該預定時間視窗中之該總雜訊功率。
  5. 如申請專利範圍第2項之方法，其包括形成與該總雜訊功率之該期望雜訊功率分佈對應的一複高斯雜訊，且將該高斯雜訊饋送至超過二個天線元件(102至116)。
  6. 如申請專利範圍第1項之方法，其包括從所有方向均勻地朝該DUT(100)傳送該雜訊。
  7. 一種用於與被複數個天線元件(102至116)包圍之一受測電子裝置(100)無線地通信的測試系統，該複數個天線元件之至少一者連接至一模擬器(118)，該模擬器被配置用以形成用於該通信的一模擬的無線電通道，其特徵為該測試系統包括與至少二個天線元件(102至116)耦接的一雜訊源(500)；以及該雜訊源(500)被配置用以基於該模擬器(118)接收到的一總信號功率、該模擬器(118)與該複數個天線元件(102至116)之間的至少一天線特定通道(504)的一增益、及一期望信噪比而形成一總雜訊功率；於該總雜訊功率從該至少二個天線元件(102至116)無線地傳送雜訊給該受測裝置(100)。
  8. 如申請專利範圍第7項之測試系統，其中該雜訊源(500)被配置用以用該至少一天線特定通道(504)的該增益加權該總信號功率以形成一總天線功率，用該總天線功率除以一信噪比期望值以形成該總雜訊功率，及向該至少二個天線元件(102至116)提供用於經由一頻率傳輸之一期望雜訊功率分佈，該期望雜訊功率分佈具有該總雜訊功率。
  9. 如申請專利範圍第7項之測試系統，其中該雜訊源(500)被配置用以通過該至少二個天線元件(102至116)傳送一雜訊功率，該雜訊功率為該總雜訊功率除以傳送該雜訊的一天線元件數量。
  10. 如申請專利範圍第7項之測試系統，其中該雜訊源(500)被配置用於以一預定時間視窗中該總信號功率及該至少一天線特定通道(504)的該增益之時間平均為基礎形成該預定時間視窗中之該總雜訊功率。
  11. 如申請專利範圍第7項之測試系統，其中該雜訊源(500)被配置用以產生與該總雜訊功率之該期望雜訊功率分佈對應的一複高斯雜訊，且將該高斯雜訊饋送至該至少二個天線元件(102至116)。
  12. 如申請專利範圍第7項之測試系統，其中該測試系統被配置用以從所有方向均勻地朝該DUT(100)傳送該雜訊。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010046095A1 (de) * 2010-09-21 2012-03-22 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messeinheit und Verfahren zur Übertragungsparametermessung eines Messobjekts
FR2965931B1 (fr) * 2010-10-08 2013-05-03 Satimo Ind Procede et dispositif de test electronique d'un objet
WO2013004887A1 (en) * 2011-07-06 2013-01-10 Elektrobit System Test Oy Over-the-air test
US9107098B2 (en) 2012-10-08 2015-08-11 Netgear, Inc. Near-field MIMO wireless test systems, structures, and processes
US8989244B2 (en) 2012-12-10 2015-03-24 Netgear, Inc. Beacon detection structures, systems and processes for interference testing
US8824588B2 (en) * 2012-12-10 2014-09-02 Netgear, Inc. Near-field MIMO wireless transmit power measurement test systems, structures, and processes
US9917665B1 (en) 2016-06-13 2018-03-13 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Testing device and testing method with noise level adjustment
US9941983B1 (en) * 2016-10-07 2018-04-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method and apparatus for testing a wireless device
US9967041B1 (en) * 2016-10-16 2018-05-08 Ambit Microsystems (Shanghai) Ltd. Multi-antenna noise power measuring method and apparatus
US10768216B2 (en) 2018-03-15 2020-09-08 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test arrangement and test method
US11226360B2 (en) * 2018-05-24 2022-01-18 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Over-the-air test system and method with visual status indication
TWI665825B (zh) * 2018-06-06 2019-07-11 亞東技術學院 天線遠場測試系統
EP3588106B1 (en) * 2018-06-29 2023-08-23 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Test equipment for over the air tests as well as method for testing a device under test
EP4106231A1 (en) * 2021-06-14 2022-12-21 Google LLC Selection of physics-specific model for determination of characteristics of radio frequency signal propagation

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW278138B (zh) * 1994-10-28 1996-06-11 Micromodule Systems Inc
US6208841B1 (en) * 1999-05-03 2001-03-27 Qualcomm Incorporated Environmental simulator for a wireless communication device
WO2003039046A1 (en) * 2001-10-31 2003-05-08 Elektrobit Oy Method and apparatus for simulating radio channel
US20080056340A1 (en) * 2006-07-24 2008-03-06 Michael Foegelle Systems and methods for over the air performance testing of wireless devices with multiple antennas

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2551230B2 (ja) * 1990-11-09 1996-11-06 日本電気株式会社 無線選択呼出受信機妨害波感度検査装置
US6940840B2 (en) 1995-06-30 2005-09-06 Interdigital Technology Corporation Apparatus for adaptive reverse power control for spread-spectrum communications
JP4080596B2 (ja) * 1998-05-27 2008-04-23 三菱電機株式会社 無線端末試験装置
JP2001036483A (ja) * 1999-07-19 2001-02-09 Oki Electric Ind Co Ltd 試験装置
FI20012581A0 (fi) * 2001-12-27 2001-12-27 Nokia Corp Häiriönpoistomenetelmä kommunikaatiojärjestelmässä
DE60313741T2 (de) * 2002-02-15 2008-01-24 Dyaptive Systems Inc. Mobilfunknetzwerksimulator
ATE421809T1 (de) 2002-08-22 2009-02-15 Imec Inter Uni Micro Electr Verfahren zur mimo-übertragung für mehrere benutzer und entsprechende vorrichtungen
FI116432B (fi) * 2003-05-15 2005-11-15 Elektrobit Testing Oy Menetelmä ja järjestely kanavasimulaation suorittamiseksi
JP2005227213A (ja) * 2004-02-16 2005-08-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd アンテナ評価装置とそれを用いた測定方法
US7054781B2 (en) * 2004-05-25 2006-05-30 Elektrobit Oy Radio channel simulation
US8605688B2 (en) * 2005-12-28 2013-12-10 Elektrobit System Test Oy Method, apparatus, analyser and computer program of searching for propagation paths
GB0608471D0 (en) 2006-04-28 2006-06-07 Agilent Technologies Inc A method and apparatus for measuring the error rate of a communication device
US8451924B2 (en) 2007-04-25 2013-05-28 Elektrobit System Test Oy Simulation of multi-antenna radio channel
US7890821B2 (en) 2007-10-04 2011-02-15 Veriwave, Inc. Channel impairment emulator systems and methods
US8385869B2 (en) 2007-11-07 2013-02-26 Qualcomm, Incorporated Embedded module receiver noise profiling
CN101500254A (zh) 2008-01-31 2009-08-05 中国移动通信集团公司 一种智能天线性能测试方法、装置及系统
US8571485B2 (en) 2008-10-15 2013-10-29 Elektrobit System Test Oy Data collection and simulation
KR101304807B1 (ko) 2009-06-03 2013-09-05 엘렉트로비트 시스템 테스트 오와이 Ｏｔａ 시험
US9002287B2 (en) * 2009-10-09 2015-04-07 Apple Inc. System for testing multi-antenna devices

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW278138B (zh) * 1994-10-28 1996-06-11 Micromodule Systems Inc
US6208841B1 (en) * 1999-05-03 2001-03-27 Qualcomm Incorporated Environmental simulator for a wireless communication device
WO2003039046A1 (en) * 2001-10-31 2003-05-08 Elektrobit Oy Method and apparatus for simulating radio channel
US20080056340A1 (en) * 2006-07-24 2008-03-06 Michael Foegelle Systems and methods for over the air performance testing of wireless devices with multiple antennas

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Publication number Publication date
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