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TWI405115B - 觸控面板 - Google Patents

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TWI405115B
TWI405115B TW098112877A TW98112877A TWI405115B TW I405115 B TWI405115 B TW I405115B TW 098112877 A TW098112877 A TW 098112877A TW 98112877 A TW98112877 A TW 98112877A TW I405115 B TWI405115 B TW I405115B
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transparent conductive
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axis
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TW098112877A
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TW201005621A (en
Inventor
Takashi Nakajima
Original Assignee
Fujitsu Component Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Component Ltd filed Critical Fujitsu Component Ltd
Publication of TW201005621A publication Critical patent/TW201005621A/zh
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    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact

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Description

觸控面板
本發明係關於一種類比電阻膜式之觸控面板。
觸控面板以代表例而言係為用於對於顯示器之直接輸入之輸入器件(device)，且將座標檢測功能與顯示器功能予以一體化。依據此觸控面板，與藉由相對座標輸入之如滑鼠等之指示器件(pointing device)不同，由於可簡單輸入絕對座標，因此可實現符合更多人之感覺之操作。觸控面板雖係依照按下檢測之方式分類成靜電電容式、電磁誘導式、超音波式等，惟以代表性而言，係有類比電阻膜式(例如參照專利文獻1)。類比電阻膜式之觸控面板，係將透明導電膜各自成膜在面狀之第1構件及第2構件之對向面側，且根據電位梯度形成於透明導電膜之一方之面與另一方之面之透明導電膜藉由觸控操作接觸時在該另一方之面所檢測出之電壓值，而將所觸控操作之面上之絕對座標予以特別限定。
圖20係為例示一般之類比電阻膜式之觸控面板之立體圖。圖21係為例示一般之類比電阻膜式之觸控面板之剖面圖。以下，在不同圖式中附有相同參照符號者係指具有相同功能之構成要素。
一般而言，類比電阻膜式之觸控面板100係在薄膜(film)111與玻璃112之間之各自對面之面，成膜有由透明導電物質之ITO(銦錫氧化物)所組成之透明導電膜114。與薄膜111對於玻璃112之對面側相反側之面，係成為觸控面板100之觸控操作面。薄膜111與玻璃112係例如藉由雙面膠帶(tape)黏著。觸控面板100係經由纜線(cable)113而與主機(host)(未圖示)電性連接。
圖22係為說明類比電阻膜式之觸控面板之一般之座標檢測原理之圖。如圖22(a)所示，在成膜有觸控面板100之薄膜111之ITO膜之面側係設有由電極121-1及121-2所組成之電極對，而在成膜有玻璃112之ITO膜之面側係設有由電極122-1及122-2所組成之電極對。構成各電極對之電極121-1及121-2與電極122-1及122-2，係以該等相對之方向成為彼此正交之方式設置。
若以手指觸控操作觸控面板100之薄膜111，則薄膜111朝大致垂直方向撓曲，而使薄膜111上所成膜之透明導電膜與玻璃112上所成膜之透明導電膜接觸(圖中A點)。在圖示之例中，雖係在電極121-1及121-2間施加例如5伏特(volt)作為驅動電壓，惟經由玻璃112之面上所設之電極122-1及122-2，如圖22(b)所示檢測電壓值Va。從所檢測出之電壓值Va、與在電極121-1及121-2間所施加之電壓之電壓值(亦即5伏特)之比，可算出在電極121-1與電極121-2相對之方向中之觸控操作面上之絕對座標。另外，使用此種比之算出方法，由於係以藉由在電極121-1及121-2間所施加之驅動電壓所形成之同一電位之電位梯度進行線形變化為前提，因此可觸控操作觸控面板100之輸入區域範圍(area)係受到某程度限定。
[專利文獻1]日本特開2006-39667號公報
圖23係為說明以複數個手指進行觸控操作圖22所例示之類比電阻膜式之觸控面板時所產生之問題點之圖。如圖23(a)所示，若以複數個手指(在圖示之例中係2支手指)觸控操作觸控面板100之薄膜111，則薄膜111係朝大致垂直方向撓曲，而使在薄膜111上所成膜之透明導電膜與在玻璃112上所成膜之透明導電膜在2點接觸(圖中A點及B點)。其結果，經由在玻璃112之面上所設之電極122-1及122-2，如圖23(b)所示，檢測A點與B點之中間點之電壓之電壓值Vc。此點在類比電阻膜式之觸控面板中，係指以複數個手指進行觸控操作(所謂多點(multi)觸控操作)時，無法辨識在觸控面板上之複數個按下位置。
另外，在靜電電容式之觸控面板中，係已開發可進行多點觸控操作。然而，靜電電容式之觸控面板，在其原理上，與類比電阻膜式之觸控面板不同，無法對應筆輸入。此外，靜電電容式之觸控面板，係不適於在如易於產生靜電或濕氣之環境下之使用。
因此有鑑於上述問題，本發明之目的在於提供一種可辨識且識別藉由多點觸控操作所產生之複數個按下位置資訊之類比電阻膜式之觸控面板。
為了實現上述目的，在本發明之第1態樣中，係一種觸控面板，其係透明導電膜形成在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式，且具備：透明導電膜區域，其係在第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且此等各透明導電膜區域係各自成膜於對於第2構件之對向面側，且鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；驅動用電極對，其係各自設於各透明導電膜區域，且在各驅動用電極對間，施加具有各自不同之電壓值之電壓，在該透明導電膜區域內，形成關於透明導電膜區域之排列方向成為同一電位之電位梯度；檢測用電極對，其係設在透明導電膜成膜於對於第1構件之對向面側之第2構件上，且構成檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與構成驅動用電極對之各電極相對之方向正交之方式設置；及判別機構，其係根據經由檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜接觸。
亦可將上述本發明之第1態樣之觸控面板變形為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域。
依據此變形例，類比電阻膜式之觸控面板具備：
第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X方向排列，將X軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且此透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；
第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與X方向正交之Y方向排列，將Y軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且此透明導電膜區域係位於對於第1構件之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；及
判別機構，其係在X軸用電極對在各X軸用電極對間施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內形成關於X方向成為同一電位之電位梯度之X軸區域檢測模式中，根據經由Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜區域接觸，而在Y軸用電極對在各Y軸用電極對間施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內形成關於Y方向成為同一電位之電位梯度之Y軸區域檢測模式中，根據經由X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第1構件上之透明導電膜區域接觸。
此外，在本發明之第2態樣中，係一種觸控面板，其係透明導電膜成膜在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式，且具備：透明導電膜區域，其係在第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係各自成膜於對於第2構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；檢測用電極對，其係各自設於各透明導電膜區域，且構成檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與透明導電膜區域之排列方向正交之方式設置；驅動用電極對，其係設在透明導電膜成膜於對於第1構件之對向面側之第2構件上，且構成此驅動用電極對之各電極相對之方向，係以沿著透明導電膜區域之排列方向之方式設置，藉由電壓施加形成關於構成檢測用電極對之各電極相對之方向成為同一電位之電位梯度；及判別機構，其係根據經由檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜接觸。
亦可將上述本發明之第2態樣之觸控面板變形為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域。
依據此變形例，類比電阻膜式之觸控面板具備：
第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X方向排列，將X軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；
第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與X方向正交之Y方向排列，將Y軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係位於對於第1構件之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；及
判別機構，其係在X軸用電極對藉由電壓施加形成關於X方向成為同一電位之電位梯度之X軸區域檢測模式中，根據經由Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜區域接觸，在Y軸用電極對藉由電壓施加形成關於Y方向成為同一電位之電位梯度之Y軸區域檢測模式中，根據經由X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第1構件上之透明導電膜區域接觸。
此外，在本發明之第3態樣中，係一種觸控面板，其係透明導電膜形成在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式，且具備：透明導電膜區域，其係在第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係各自成膜於對於第2構件之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；驅動用電極對，其係各自設於各透明導電膜區域，且在各驅動用電極對間，施加具有各自不同之脈衝(pulse)特性之電壓脈衝；檢測用電極對，其係設在透明導電膜成膜於對於第1構件之對向面側之第2構件上，且構成檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與構成驅動用電極對之各電極相對之方向正交之方式設置；及判別機構，其係根據經由檢測用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜接觸。
亦可將上述本發明之第3態樣之觸控面板變形為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域。
依據此變形例，類比電阻膜式之觸控面板具備：
第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X方向排列，將X軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；
第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與X方向正交之Y方向排列，將Y軸用電極對各自設於各透明導電膜區域，且各透明導電膜區域係位於對於第1構件之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣；及
判別機構，其係在於X軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝之X軸區域檢測模式中，根據經由Y軸用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別朝X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜區域接觸，在於Y軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝之Y軸區域檢測模式中，根據經由X軸用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別朝Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與第1構件上之透明導電膜區域接觸。
 [發明之效果]
依據本發明，在類比電阻膜式之觸控面板中，可辨識且識別藉由多點觸控操作所產生之複數個按下位置資訊，並且亦可取得關於與藉由通常觸控操作之按下位置有關之絕對座標資訊。
類比電阻膜式之觸控面板與靜電電容式之觸控面板不同，由於可與手指輸入及筆輸入之雙方對應，因此具有適用領域較廣之優點。例如可藉由2支手指進行多點觸控操作，亦可使用筆進行手寫輸入。此外，具有在如易於產生靜電或濕氣之環境亦可使用之優點。
圖1~3係為說明本發明之類比電阻膜式之觸控面板所設之複數個透明導電膜區域之圖。本發明之類比電阻膜式之觸控面板1，係將透明導電膜成膜在面狀之第1構件11及第2構件12之對向面側之各個。第1構件係例如薄膜，第2構件係例如玻璃。為了設為可辨識且識別藉由多點觸控操作所產生之複數個按下位置資訊，所成膜之透明導電膜係在其面上分割為複數個區域。鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣，其間隔係假想筆輸入之情形而為較一般之筆尖之寬度更窄之例如數毫米(millimeter)以下。另外，區域之數本身並非用以限定本發明，亦可依據使用觸控面板之環境或適用之應用程序(application)加以適當變更。以下說明分割成3個區域之情形作為實施例。
圖1係表示可辨識且識別跨越X方向而進行多點觸控操作之情形之複數個按下位置資訊之透明導電膜區域之排列。此情形下，係將成膜有透明導電膜之第1構件11朝X方向分割。亦即，在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜在對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中係各自設有驅動用電極對21-1、21-2及21-3。在成膜有第2構件12之對於第1構件11之對向面側之透明導電膜之面側，係設有檢測用電極對22。檢測用電極對22係將構成此檢測用電極對22之各電極之相對之方向，以與構成驅動用電極對21-1、21-2及21-3之各電極相對之方向正交之方式設置。
圖2係表示可辨識且識別跨越Y方向而進行多點觸控操作之情形之複數個按下位置資訊之透明導電膜區域之排列。此情形下，係將成膜有透明導電膜之第2構件12朝Y方向分割。亦即，在第2構件12上，係朝Y方向排列透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3。此等各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3係各自成膜在對於第1構件11之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3中係各自設有驅動用電極對22-1、22-2及22-3。在成膜有第1構件11之對於第2構件12之對向面側之透明導電膜之面側，係設有檢測用電極對21。檢測用電極對21係將構成此檢測用電極對21之各電極之相對之方向，以與構成驅動用電極對22-1、22-2及22-3之各電極相對之方向正交之方式設置。
圖3係表示可辨識且識別跨越X方向及Y方向之任一方向而進行多點觸控操作之情形之複數個按下位置資訊之透明導電膜區域之排列。此情形下，係將成膜有透明導電膜之第1構件11朝X方向分割，且將第2構件12朝Y方向分割。亦即，在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜在對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中係各自設有驅動用電極對21-1、21-2及21-3。此外，在第2構件12上，係朝Y方向排列透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3。此等各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3係各自成膜在對於第1構件11之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3中係各自設有驅動用電極對22-1、22-2及22-3。構成此等電極對21-1、21-2及21-3之各電極之相對之方向，係以與構成電極對22-1、22-2及22-3之各電極相對之方向正交之方式設置。此等電極對21-1、21-2及21-3以及電極對22-1、22-2及22-3係依據各自應檢測之區域之方向，切換驅動用電極及檢測用電極之功能。
圖4係為說明本發明之第1實施例之觸控面板之圖。本發明之第1實施例之觸控面板1，係為可在參照圖1所說明之跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜在對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中係各自設有驅動用電極對21-1、21-2及21-3。在成膜有第2構件12之對於第1構件11之對向面側之透明導電膜之面側，係設有檢測用電極對22。檢測用電極對22係將構成此檢測用電極對22之各電極之相對之方向，以與構成驅動用電極對21-1、21-2及21-3之各電極相對之方向正交之方式設置。
在構成驅動用電極對21-1之各電極中係連接有電阻R1及電阻R1'，而在構成驅動用電極對21-2之各電極中係連接有電阻R2及電阻R2'，而在構成驅動用電極對21-3之各電極中係連接有電阻R3及電阻R3'。在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，關於電阻R1與電阻R1'之合成電阻、電阻R2與電阻R2'之合成電阻、及電阻R3與電阻R3'之合成電阻，係具有相等之電阻值。此外，關於電阻R1、電阻R2、電阻R3，係具有各自不同之電阻值。因此，關於電阻R1'、電阻R2'、及電阻R3'，亦將具有各自不同之電阻值。
在構成各驅動用電極對21-1、21-2及21-3之電極中，係各自連接有開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3。連接有電阻R1、電阻R2、及電阻R3之電極中，係經由開關SW1、SW2、及SW3而連接電源。電源雖係將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各驅動用電極對，惟此電壓施加係藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，而依各驅動用電極對21-1、21-2及21-3執行。開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷(on off)動作，係藉由MCU(micro-controller unit，微控制單元)(參照符號30)控制。
如上所述，關於電阻R1與電阻R1'之合成電阻、電阻R2與電阻R2'之合成電阻、及電阻R3與電阻R3'之合成電阻，係具有相等之電阻值，而且關於電阻R1、電阻R2、及電阻R3，係具有各自不同之電阻值，因此若將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各驅動用電極對21-1、21-2及21-3，則在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間，將施加具有各自不同之電壓值之電壓。因此，MCU30係可在第1構件11之觸控操作面側之任一位置被觸控操作而使透明導電膜區域X1-1、X1-2或X1-3之任一者與第2構件12之透明導電膜接觸時，經由檢測用電極對22檢測具有接觸點之透明導電膜區域所固有之電壓值。MCU30係將所檢測出之電壓值經由AD埠(port)29而取得。
在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3中，係藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，藉由電源依序施加具有同一電壓值之電壓。然而，在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，並未以相同時序(timing)施加該電壓。例如，將施加電壓之驅動用電極對，依每數十毫秒依序切換。
判別機構在本實施例中係由MCU30所構成，且根據經由檢測用電極對22所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之驅動用電極對是哪一個，且將表示設有該驅動用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜接觸之訊號予以輸出至主機。另外，執行此判別之判別機構，係可作為圖示所示附屬在觸控面板1所設之運算裝置之MCU30來實現，亦可在連接有觸控面板1之電腦內個別獨立來實現。
如此，上述判別機構(亦即MCU30)係與藉由電源依各驅動用電極對施加電壓之順序及時序對應，而依序取得經由檢測用電極對22所檢測出之電壓值。因此，藉由多點觸控操作，若透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中之任2個或3個，與第2構件12之透明導電膜接觸，則將以經由檢測用電極對22之1次之掃描，而檢測該2個或3個透明導電膜區域所固有之電壓值。判定機構係可根據該所檢測出之2個或3個電壓值，而辨識透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第2構件12之透明導電膜接觸。換言之，依據本發明之第1實施例，即可在跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
本發明之第1實施例之觸控面板，係與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，亦可將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定。此情形下，首先，將開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3均設為關斷，而遮斷藉由所有驅動用電極對之電壓施加。再者，在遮斷藉由所有驅動用電極對之電壓施加時，將電壓施加於檢測用電極對22。另外，關於施加此電壓之進一步之電源，在圖4中係予以省略。如此，在藉由所有驅動用電極對之電壓施加藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3遮斷時，只要經由各驅動用電極對21-1、21-2及21-3之中之任一者檢測出電壓值，即可根據該所檢測出之電壓值，將第1構件11上之透明導電膜區域與第2構件12上之透明導電膜藉由觸控操作所接觸之接觸點之構成檢測用電極對22之各電極之相對之方向(亦即X方向)上中之絕對座標予以特別限定。
接著說明將上述之本發明之第1實施例之觸控面板，設為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域之變形例。圖5係為說明本發明之第1實施例之變形例之觸控面板之圖。本發明之第1實施例之變形例之觸控面板1，係可在參照圖3所說明之跨越X方向及Y方向之任一方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜於對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中，係各自設有X軸用電極對21-1、21-2及21-3。此外，在第2構件12上，係朝Y方向排列透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3。此等各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3係各自成膜於對於第1構件11之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3中，係各自設有Y軸用電極對22-1、22-2及22-3。構成此等X軸用電極對21-1、21-2及21-3之各電極之相對之方向，係設為與構成Y軸用電極對22-1、22-2及22-3之各電極相對之方向正交。
在構成各X軸用電極對21-1之各電極中係連接有電阻Rx1及電阻Rx1'，而在構成X軸用電極對21-2之各電極中係連接有電阻Rx2及電阻Rx2'，而在構成X軸用電極對21-3之各電極中係連接有電阻Rx3及電阻Rx3'。在各X軸用電極對21-1、21-2及21-3間中，關於電阻Rx1與電阻Rx1'之合成電阻、電阻Rx2與電阻Rx2'之合成電阻、及電阻Rx3與電阻Rx3'之合成電阻，係具有相等之電阻值。此外，關於電阻Rx1、電阻Rx2、電阻Rx3，係具有各自不同之電阻值。因此，關於電阻Rx1'、電阻Rx2'、及電阻Rx3'，亦將具有各自不同之電阻值。
在構成各X軸用電極對21-1、21-2及21-3之電極中係各自連接有開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3。在與電阻Rx1、電阻Rx2、及電阻Rx3連接之電極中，係經由開關SW1、SW2、及SW3而連接電源。電源雖係將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各X軸用電極對，惟此施加係藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，而依各X軸用電極對21-1、21-2及21-3執行。開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷動作，係藉由MCU(未圖示)來控制。
若將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各X軸用電極對21-1、21-2及21-3，則在各X軸用電極對21-1、21-2及21-3間中，係將施加具有各自不同之電壓值之電壓。因此，Y軸用電極對22-1、22-2及22-3之任一者，係將於第1構件11之觸控操作面側之任一位置進行觸控操作而使透明導電膜區域X1-1、X1-2或X1-3之任一者與第2構件12之透明導電膜區域接觸時，檢測具有接觸點之透明導電膜區域所固有之電壓值。
在構成Y軸用電極對22-1之各電極中係連接有電阻Ry1及電阻Ry1'，而在構成Y軸用電極對22-2之各電極中係連接有電阻Ry2及電阻Ry2'，而在構成Y軸用電極對22-3之各電極中係連接有電阻Ry3及電阻Ry3'。在各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3間中，關於電阻Ry1與電阻Ry1'之合成電阻、電阻Ry2與電阻Ry2'之合成電阻、及電阻Ry3與電阻Ry3'之合成電阻，係具有相等之電阻值。此外，關於電阻Ry1、電阻Ry2、電阻Ry3，係具有各自不同之電阻值。因此，關於電阻Ry1'、電阻Ry2'、及電阻Ry3'，亦將具有各自不同之電阻值。
在構成各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3之電極中係各自連接有開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3。在與電阻Ry1、電阻Ry2、及電阻Ry3連接之電極中，係經由開關SWR1、SWR2、及SWR3而連接電源。電源雖係將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各Y軸用電極對，惟此施加係藉由開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷，而依各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3執行。若將具有同一電壓值(在圖示之例中係5伏特)之電壓施加於各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3，則在各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3間中，係將施加具有各自不同之電壓值之電壓。因此，MCU(未圖示)係將於第2構件12之觸控操作面側之任一位置進行觸控操作而使透明導電膜區域Y1-1、Y1-2或Y1-3之任一者與第1構件11之透明導電膜區域接觸時，經由X軸用電極對21-1、21-2或21-3之任一者而檢測具有接觸點之透明導電膜區域所固有之電壓值。
在具有上述之構成之觸控面板1中，係X軸用電極對21-1、21-2及21-3以及Y軸用電極對22-1、22-2及22-3，依據各自應檢測之區域之方向，切換作為驅動用電極對進行動作或作為檢測用電極對進行動作。
具體而言，首先，在進行X軸方向之按下區域辨識之情形下(以下稱「X軸區域檢測模式」)中，係對於各X軸用電極對21-1、21-2及21-3，藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，藉由電源依序施加具有同一電壓值之電壓。藉此，各X軸用電極對21-1、21-2及21-3係作為驅動用電極對動作，而在各X軸用電極對21-1、21-2及21-3間，係施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內，係將形成就X方向係成為同一電位之電位梯度。另外，如先前所說明，在各X軸電極對21-1、21-2及21-3間中，並未以相同時序施加該電壓。例如，將施加電壓之X軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
判別機構係由MCU(未圖示)所構成，且根據經由作為檢測用電極對動作之Y軸用電極對22-1、22-2或22-3之任一者所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之X軸用電極對是哪一個，且將表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
如此，上述判別機構在X軸區域檢測模式中係與藉由電源依各X軸用電極對施加電壓之順序及時序對應，而依序取得經由Y軸用電極對22-1、22-2或22-3之任一者所檢測出之電壓值，因此可以經由Y軸用電極對22-1、22-2或22-3之1次之掃描，而辨識透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第2構件12之透明導電膜區域接觸。
此外，在進行Y軸方向之按下區域辨識之情形下(以下稱「Y軸區域檢測模式」)，原理亦相同，亦即，對於各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3，藉由開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷，藉由電源依序施加具有同一電壓值之電壓。藉此，各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3係作為驅動用電極對動作，而在各Y軸用電極對22-1、22-2及22-3間，係施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內，係將形成就Y方向係成為同一電位之電位梯度。另外，如先前所說明，在各Y軸電極對22-1、22-2及22-3間中，並未以相同時序施加該電壓。例如，將施加電壓之Y軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
判別機構係根據經由作為檢測用電極對動作之X軸用電極對21-1、21-2或21-3之任一者所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之Y軸用電極對是哪一個，且將表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第1構件11上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
如此，上述判別機構在Y軸區域檢測模式中係與藉由電源依各Y軸用電極對施加電壓之順序及時序對應，而依序取得經由X軸用電極對21-1、21-2或21-3之任一者所檢測出之電壓值，因此可以經由X軸用電極對21-1、21-2或21-3之1次之掃描，而辨識透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第1構件11之透明導電膜區域接觸。
圖6係為說明本發明之第2實施例之觸控面板之圖。本發明之第2實施例之觸控面板1，係可在參照圖1所說明之跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜於對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中，係各自設有檢測用電極對22-1、22-2及22-3。構成檢測用電極對22-1、22-2及22-3之各電極之相對之方向，係設為與透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之排列方向正交。
在成膜有第2構件12之對於第1構件11之對向面側之透明導電膜之面側，係設有驅動用電極對21。驅動用電極對21係將構成此驅動用電極對21之各電極之相對之方向，以與構成檢測用電極對22-1、22-2及22-3之各電極相對之方向正交之方式設置。驅動用電極對21係以構成驅動用電極對21之各電極之相對之方向，沿著透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之排列方向之方式設置，且藉由電壓施加而形成就構成檢測用電極對22-1、22-2及22-3之各電極之相對之方向係成為同一電位之電位梯度。
第1構件11之觸控操作面側之任一位置進行觸控操作而使透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之任一者與第2構件12之透明導電膜接觸時，將經由所接觸之透明導電膜區域X-1、X-2或X-3之檢測用電極對22-1、22-2或22-3檢測電壓。
判別機構係由MCU(未圖示)所構成，且根據經由檢測用電極對22-1、22-2或22-3所檢測出之電壓值，判別複數個透明導電膜區域X-1、X-2或X-3之中哪一個透明導電膜區域與第2構件12上之透明導電膜接觸。亦即，判別機構係根據經由檢測用電極對22-1、22-2或22-3所檢測出之電壓值，而判別檢測出有具有該電壓值之電壓之檢測用電極對22-1、22-2或22-3是哪一個，且將表示設有該檢測用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜接觸之訊號予以輸出至主機。另外，執行此判別之判別機構，除作為附屬在觸控面板1所設之運算裝置之MCU來實現以外，亦可在連接有觸控面板1之電腦內個別獨立來實現。
如此，上述判別機構係取得經由設在位於經觸控操作之觸控操作面之正下方之透明導電膜區域之檢測用電極對22-1、22-2或22-3所檢測出之電壓值。因此，藉由多點觸控操作，若透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中之任2個或3個，與第2構件12之透明導電膜接觸，則將經由檢測用電極對22-1、22-2或22-3之中之2個或3個，而檢測該2個或3個電壓值。判定機構係可根據該所檢測出之2個或3個電壓值，而辨識透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中是哪2個或3個透明導電膜與第2構件12之透明導電膜接觸。換言之，依據本發明之第2實施例，即可在跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
本發明之第2實施例之觸控面板，係與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，亦可將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定。圖7係為說明在本發明之第2實施例之觸控面板中，將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定之原理之圖。
觸控面板1係具備電源電路，用以在遮斷藉由驅動用電極對21之電壓施加之開關SW1及SW2、與藉由驅動用電極對21之電壓施藉由開關SW1及SW2遮斷時，將同一電壓同時施加於各檢測用電極對22-1、22-2及22-3。在本實施例中，該電源電路係由開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3、及電源(在圖示之例中係5伏特)所構成。
在辨識多點觸控操作時之複數個按下位置資訊之情形下(區域檢測模式)，係藉由MCU(未圖示)之控制，而使開關SW1及SW2導通，且使開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3關斷，而執行上述之處理。
另一方面，在將某一點進行觸控操作時之該一點之絕對位置予以特別限定之情形下(座標檢測模式)，係藉由MCU(未圖示)之控制，而使開關SW1及SW2關斷(遮斷)，且使開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3導通。此時，係對於各檢測用電極對22-1、22-2及22-3同時施加同一電壓。
圖8~10係為說明本發明之第2實施例之觸控面板中之各檢測用電極對所形成之電位梯度之圖。例如，如圖8所示，若對於第1構件11上所設之電極對23施加電壓，則在電極對23形成電位梯度。在圖8~10中，係以虛線表示同一電位面。在形成電極對23之電極附近，同一電位面係成為與構成電極對23之電極之相對之方向正交之方向若干錯開。因此，一般該附近並不使用作為觸控面板之輸入範圍，而係使用作為形成關於觸控面板之配線之範圍。通常，配線範圍係藉由覆蓋觸控面板之化妝板(額緣)所覆蓋。另一方面，在從形成電極對23之電極離開之場所，關於與構成電極對23之電極之相對之方向正交之方向係成為同一電位。因此，一般係將此部分使用作為觸控面板之輸入範圍。
如圖9所示，將透明導電膜分割為複數個區域，且在將電極23-1、23-2及23-3各自設於各透明導電膜區域A-1、A-2及A-3之情形下，若僅施加電壓於電極23-1，則僅在透明導電膜區域A-1形成電位梯度。由於透明導電膜區域A-1、與透明導電膜區域A-2及A-3係電性絕緣，因此電位梯度不會形成。另一方面，如圖10所示，若對於電極23-1、23-2及23-3均施加電壓，則在透明導電膜區域A-1、A-2及A-3均形成電位梯度。因此，即使如本案發明將透明導電膜分割為複數個區域，只要將同一電壓同時施加於各透明導電膜區域A-1、A-2及A-3所設之電極23-1、23-2及23-3，即如圖8之情形所示，在從形成電極對23-1、23-2及23-3之電極離開之場所，由於關於與構成電極對23-1、23-2及23-3之電極之相對之方向正交之方向係成為同一電位，因此將此部分使用作為觸控面板之輸入範圍。
因此，如圖7所示，在驅動用電極對21之電壓施加藉由開關SW1及SW2遮斷時(亦即座標檢測模式)中，可根據經由驅動用電極對21所檢測出之電壓值，將第1構件11上之透明導電膜區域X-1、X-2或X-3與第2構件12上之透明導電膜藉由觸控操作接觸之接觸點之構成檢測用電極對23-1、23-2或23-3之各電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。此絕對座標之算出，係可以習知一般之座標檢測機構來實現。
接著說明將上述之本發明之第2實施例之觸控面板，設為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域之變形例。圖11係為說明本發明之第2實施例之變形例之觸控面板之圖。本發明之第2實施例之變形例之觸控面板1，係為可在參照圖3所說明之跨越X方向及Y方向之任一方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜於對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中，係各自設有X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3。此外，在第2構件12上，係朝Y方向排列透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3。此等各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3係各自成膜於對於第1構件11之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3中，係各自設有Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3。構成此等X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3之各電極之相對之方向，係設為與構成Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3之各電極相對之方向正交。
在構成各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3之電極中係各自連接有開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3。開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷動作，係藉由MCU(未圖示)來控制。
此外，在構成各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3之電極中係各自連接有開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3。開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷動作，係藉由上述MCU來控制。
在具有上述之構成之觸控面板1中，係X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3以及Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3，依據各自應檢測之區域之方向，切換作為驅動用電極對進行動作或作為檢測用電極對進行動作。
具體而言，在進行X軸方向之按下區域辨識之X軸區域檢測模式中，係對於各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3，藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，藉由電源依序施加具有同一電壓值之電壓。藉此，各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3係作為驅動用電極對動作，而在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3內係將依序形成就X方向係成為同一電位之電位梯度。另外，在各X軸電極對20X-1、20X-2及20X-3間中，並未以相同時序施加該電壓。例如，將施加電壓之X軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
判別機構係由MCU(未圖示)所構成，且根據經由作為檢測用電極對動作之Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之任一者所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之X軸用電極對是哪一個，且將表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
如此，上述判別機構在X軸區域檢測模式中係與藉由電源依各X軸用電極對施加電壓之順序及時序對應，而依序取得經由Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之任一者所檢測出之電壓值，因此可以經由Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之1次之掃描，而辨識透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第2構件12之透明導電膜區域接觸。
此外，在進行Y軸方向之按下區域辨識之Y軸區域檢測模式中，對於各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3，藉由開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷，藉由電源依序施加具有同一電壓值之電壓。藉此，各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3係作為驅動用電極對動作，而在各透明導電膜區域內Y-1、Y-2及Y-3中係將形成就Y方向係成為同一電位之電位梯度。另外，如先前所說明，在各Y軸電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3間中，並未以相同時序施加該電壓。例如，將施加電壓之Y軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
判別機構係根據經由作為檢測用電極對動作之X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之任一者所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之Y軸用電極對是哪一個，且將表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第1構件11上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
如此，上述判別機構在Y軸區域檢測模式中係與藉由電源依各Y軸用電極對施加電壓之順序及時序對應，而依序取得經由X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之任一者所檢測出之電壓值，因此可以經由X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之1次之掃描，而辨識透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第1構件11之透明導電膜區域接觸。
本發明之第2實施例之變形例之觸控面板，係與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，亦可將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定。
亦即，在Y軸絕對座標檢測模式中，係將開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3均同時導通，且將同一電壓(在圖示之例中係5伏特)同時施加於各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3。此時，開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3係均關斷。
另一方面，在X軸絕對座標檢測模式中，係將開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3均同時導通，且將同一電壓(在圖示之例中係5伏特)同時施加於各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3。此時，開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3係均關斷。
在Y軸絕對座標檢測模式中，係可根據經由Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之中之任一者所檢測出之電壓值，將第1構件11上之透明導電膜區域X-1、X-2或X-3與第2構件12上之透明導電膜區域藉由觸控操作而接觸之接觸點之構成X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之各電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。
在X軸絕對座標檢測模式中，係可根據經由X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之中之任一者所檢測出之電壓值，將第2構件12上之透明導電膜區域Y-1、Y-2或Y-3與第1構件11上之透明導電膜區域藉由觸控操作而接觸之接觸點之構成Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之各電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。
上述絕對座標之算出，係可以習知一般之座標檢測機構來實現。
圖12係為說明本發明之第3實施例之觸控面板之圖。本發明之第3實施例之觸控面板1，係為可在參照圖1所說明之跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜於對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中，係各自設有驅動用電極對21-1、21-2及21-3。構成驅動用電極對21-1、21-2及21-3之各電極之相對之方向，係設為與透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之排列方向正交。
在成膜有第2構件12之對於第1構件11之對向面側之透明導電膜之面側，係設有檢測用電極對22。檢測用電極對22係將構成此檢測用電極對22之電極之相對之方向，以與構成驅動用電極對21-1、21-2及21-3之各電極相對之方向正交之方式設置。亦即，檢測用電極對22係構成檢測用電極對22之各電極之相對之方向，成為與透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之排列方向同一。
在構成各驅動用電極對21-1、21-2及21-3之各電極中係各自連接有開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3。開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷動作，係藉由MCU(未圖示)來控制。
在各自設於各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，係施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝P-1、P-2及P-3。例如，在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，係施加具有各自不同之脈衝寬度之電壓脈衝P-1、P-2及P-3。此外例如，在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，係施加在1周期內具有各自不同之脈衝數之電壓脈衝P-1、P-2及P-3。然而，在各驅動用電極對21-1、21-2及21-3間中，並未以相同時序施加電壓脈衝。例如，將施加電壓脈衝之驅動用電極對，藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，依每數十毫秒依序切換。
檢測用電極對22係在第1構件11之觸控操作面側之任一位置進行觸控操作而使透明導電膜區域X1-1、X1-2或X1-3之任一者與第2構件12之透明導電膜接觸時，經由所接觸之透明導電膜區域X1-1、X1-2或X1-3之驅動用電極對21-1、21-2或21-3，檢測具有該透明導電膜區域所固有之脈衝特性之電壓脈衝。
判別機構係由MCU(未圖示)所構成，且根據經由檢測用電極對22所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性電壓值，而判別複數個透明導電膜區域X1-1、X1-2或X1-3之中哪一個透明導電膜區域與第2構件上之透明導電膜接觸。亦即，判別機構係根據經由檢測用電極對22所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之驅動用電極對，而將表示設有該驅動用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜接觸之訊號予以輸出於主機。另外，執行此判別之判別機構，除作為附屬在觸控面板1所設之運算裝置之MCU來實現以外，亦可在連接有觸控面板1之電腦內個別獨立來實現。
如此，上述判別機構係取得經由設在位於經觸控操作之觸控操作面之正下方之透明導電膜區域之驅動用電極對21-1、21-2或21-3所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性。因此，藉由多點觸控操作，若透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中之任2個或3個，與第2構件12之透明導電膜接觸，則將經由驅動用電極對21-1、21-2或21-3之中之2個或3個，以1次之掃描，檢測該2個或3個脈衝特性。判定機構係可根據該所檢測出之2個或3個電壓值，而辨識透明導電膜區域X-1、X-2及X-3之中是哪2個或3個透明導電膜區域與第2構件12之透明導電膜接觸。換言之，依據本發明之第3實施例，即可在跨越X方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
本發明之第3實施例之觸控面板，係與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，亦可將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定。圖13係為說明在本發明之第3實施例之觸控面板中，將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定之原理之圖。
觸控面板1係具備電源電路，用以在藉由遮斷施加電壓脈衝於所有驅動用電極對21-1、21-2及21-3之開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3、及開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3斷斷施加電壓脈衝於所有驅動用電極對21-1、21-2及21-3時，施加電壓於檢測用電極對22。在本實施例中，該電源電路係由開關SW1及SW2、及電源(在圖示之例中係5伏特)所構成。
在辨識多點觸控操作時之複數個按下位置資訊之情形下(區域檢測模式)，係藉由MCU(未圖示)之控制，而使開關SW1及SW2導通，且使開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3導通關斷控制，而執行上述之處理。
另一方面，在將某一點進行觸控操作時之該一點之絕對位置予以特別限定之情形下(座標檢測模式)，係藉由MCU(未圖示)之控制，而使開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3關斷(遮斷)，且使開關SW1及SW2導通。此時，係對於檢測用電極對22施加電壓(在圖示之例中係5伏特)。
在驅動用電極對21-1、21-2及21-3之電壓施加藉由開關SWU1及SWD1、開關SWU2及SWD2以及開關SWU3及SWD3遮斷時(亦即座標檢測模式)中，係可根據經由驅動用電極對21-1、21-2及21-3之中之任一者所檢測出之電壓值，將第1構件11上之透明導電膜區域X-1、X-2或X-3與第2構件12上之透明導電膜藉由觸控操作而接觸之接觸點之構成檢測用電極對22之電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。此絕對座標之算出，係可以習知一般之座標檢測機構來實現。
接著說明將上述之本發明之第3實施例之觸控面板，設為可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域之變形例。圖14係為說明本發明之第3實施例之變形例之觸控面板之圖。本發明之第3實施例之變形例之觸控面板1，係為可在參照圖3所說明之跨越X方向及Y方向之任一方向而進行多點觸控操作之情形下辨識且識別複數個按下位置資訊。
在第1構件11上，係朝X方向排列透明導電膜區域X-1、X-2及X-3。此等各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3係各自成膜於對於第2構件12之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域X-1、X-2及X-3中，係各自設有X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3。此外，在第2構件12上，係朝Y方向排列透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3。此等各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3係各自成膜於對於第1構件11之對向面側，而鄰接之透明導電膜區域間係電性絕緣。在各透明導電膜區域Y-1、Y-2及Y-3中，係各自設有Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3。構成此等X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3之各電極之相對之方向，係設為與構成Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3之各電極相對之方向正交。
在構成各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3之電極中係各自連接有開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3。開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷動作，係藉由MCU(未圖示)來控制。
此外，在構成各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3之電極中係各自連接有開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3。開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷動作，係藉由上述MCU來控制。
在具有上述之構成之觸控面板1中，係X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3以及Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3，依據各自應檢測之區域之方向，切換作為驅動用電極對進行動作或作為檢測用電極對進行動作。
具體而言，在進行X軸方向之按下區域辨識之X軸區域檢測模式中，係對於作為驅動用電極對動作之各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3，藉由開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3之導通關斷，藉由電源依序在X軸用電極對間各自施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝電壓。在各X軸電極對20X-1、20X-2及20X-3間中，並未以相同時序施加該電壓脈衝。例如，將施加電壓脈衝之X軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
在進行Y軸方向之按下區域辨識之Y軸區域檢測模式中，係對於作為驅動用電極對動作之各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3，藉由開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3之導通關斷，藉由電源依序在Y軸用電極對間各自施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝電壓。在各X軸電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3間中，並未以相同時序施加該電壓脈衝。例如，將施加電壓脈衝之Y軸用電極對，依每數十毫秒依序切換。
在各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3間、以及各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3間中，係例如施加具有各自不同之脈衝寬度之電壓脈衝P-1、P-2及P-3、或在1週期內具有各自不同之脈衝數之電壓脈衝P-1、P-2及P-3。
判別機構係由MCU(未圖示)所構成，且根據在X軸區域檢測模式中，經由作為檢測用電極對動作之Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之任一者所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之X軸用電極對為哪一個，且將表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第2構件12上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
此外，判別機構係根據在Y軸區域檢測模式中，經由作為檢測用電極對動作之X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之任一者所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之Y軸用電極對為哪一個，且將表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域之正上方之觸控操作面進行觸控操作而與第1構件11上之透明導電膜區域接觸之訊號予以輸出至主機。
本發明之第3實施例之變形例之觸控面板，係與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，亦可將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定。
亦即，在Y軸絕對座標檢測模式中，係將開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3均同時導通，且將同一電壓(在圖示之例中係5伏特)同時施加於各X軸用電極對20X-1、20X-2及20X-3。此時，開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3係均關斷。
另一方面，在X軸絕對座標檢測模式中，係將開關SWR1及SWL1、開關SWR2及SWL2、以及開關SWR3及SWL3均同時導通，且將同一電壓(在圖示之例中係5伏特)同時施加於各Y軸用電極對20Y-1、20Y-2及20Y-3。此時，開關SW1及SWD1、開關SW2及SWD2、以及開關SW3及SWD3係均關斷。
在Y軸絕對座標檢測模式中，係可根據經由Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之中之任一者所檢測出之電壓值，將第1構件11上之透明導電膜區域X-1、X-2或X-3與第2構件12上之透明導電膜區域藉由觸控操作而接觸之接觸點之構成X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之各電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。
在X軸絕對座標檢測模式中，係可根據經由X軸用電極對20X-1、20X-2或20X-3之中之任一者所檢測出之電壓值，將第2構件12上之透明導電膜區域Y-1、Y-2或Y-3與第1構件11上之透明導電膜區域藉由觸控操作而接觸之接觸點之構成Y軸用電極對20Y-1、20Y-2或20Y-3之各電極之相對之方向上之絕對座標予以特別限定。
上述絕對座標之算出，係可以習知一般之座標檢測機構來實現。
圖15及圖16係為表示本發明之實施例之觸控面板之動作流程之流程圖。在此，圖15及16所示之流程圖，係表示可藉由跨越XY兩方向之多點觸控操作而辨識複數個區域之觸控面板之動作流程，此動作流程係可適用在本發明之第1~第3實施例之各變形例之觸控面板之任一者。
首先，在步驟S101中，判定觸控面板是否導通。於觸控面板導通之情形下，在步驟S102中，判定觸控面板是否進行多點觸控操作。在判定僅某一點被觸控操作之情形下係前進至步驟S103，而在判定為被多點觸控操作之情形下係前進至步驟S108。
在步驟S102中，判定僅一點被觸控操作之情形下係進入座標檢測模式，與習知之類比電阻膜式之觸控面板同樣，執行特別限定該一點之絕對位置之處理。亦即，在步驟S103中，施加電壓於X軸用電極對，且在步驟S104中讀取X軸方向之電壓值，而在步驟S105中，施加電壓於Y軸用電極對，且在步驟S106中讀取Y軸方向之電壓值，再者在步驟S107中，輸出關於X方向及Y方向之座標資訊。
另一方面，在步驟S102中判定被多點觸控操作之情形下，係進入區域檢測模式。首先，在步驟S108中，係判定是否朝X軸方向進行了多點觸控操作。在是之情形下係前進至步驟S109，而在否之情形下係前進至步驟S112。
在步驟S109中驅動X軸用電極對，而在步驟S110中辨識被觸控操作之X軸區域。再者在步驟S111中，雖係藉由多點觸控操作辨識手指操作之方向，惟其詳細內容係參照圖17~19後述。
在步驟S112中，係判定是否朝Y軸方向進行了多點觸控操作。於判定為是之情形下係前進至步驟S113，而於判定為否之情形下係前進至步驟S116。在步驟S113中驅動Y軸用電極對，而在步驟S114中辨識被觸控操作之Y軸區域。再者在步驟S115中，係藉由多點觸控操作辨識手指操作之方向。
在步驟S112中，判定為否之情形下，係相當於朝X軸方向及Y軸方向兩方進行多點觸控操作，因此前進至步驟S116。在步驟S116中驅動X軸用電極對，而在步驟S117中辨識經多點觸控操作之X軸區域。再者在步驟S118中，辨識藉由多點觸控操作操作手指之方向。在步驟S119中驅動Y軸用電極對，而在步驟S120中辨識經多點觸控操作之Y軸區域。再者在步驟S121中，藉由多點觸控操作辨識手指操作之方向。
圖17係為表示圖16及圖17中藉由多點觸控操作之手指操作方向之辨識之動作流程之流程圖。圖17所示之步驟S201係相當於圖15所示之步驟S111、及圖16所示之步驟S115、S118及S121。在步驟S202中辨識經多點觸控操作之複數個區域(辨識1)，經過一定時間後，在步驟S203中辨識經多點觸控操作之複數個區域(辨識2)。例如，按下2支手指在觸控面板之觸控操作面，而在按下觸控操作面之狀態下，若挪動手指，則會在步驟S202中之辨識1、與步驟S203中之辨識2之間於辨識結果產生變化。在步驟S204中，係分析辨識資訊，且在步驟S205中將分析結果向主機報告。
圖18及圖19係為說明藉由多點觸控操作之手指操作方向之辨識之具體例之圖。在圖18及圖19中，係表示以手指2支進行觸控操作透明導電膜區域A~E之中任2個透明導電膜區域之情形，茲將被觸控操作之位置在圖中以圓形記號(○)表示。
如圖18所示，考慮在步驟S202之辨識1之階段中，透明導電膜區域C及D進行觸控操作之情形。在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域B及C進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指直接將此等手指之間隔朝左移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像朝左側捲動(scroll)之處理。此外，在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域A及C進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指一面將此等手指之間隔擴展一面朝左移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像一面放大一面朝左側捲動之處理。此外，在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域C及E進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指一面將此等手指之間隔擴展一面朝右移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像一面放大一面朝右側捲動之處理。
如圖19所示，考慮在步驟S202之辨識1之階段中，透明導電膜區域B及D進行操觸控操作之情形。在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域C及E進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指直接將此等手指之間隔朝右移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像朝右側捲動之處理。此外，在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域B及C進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指一面將此等手指之間隔縮窄一面朝左移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像一面縮小一面朝左側捲動之處理。此外，在步驟S203之辨識2之階段中，於辨識透明導電膜區域D及E進行觸控操作之情形下，係被分析為2支手指一面將此等手指之間隔縮窄一面朝右移動，且向主機報告此分析結果。在主機中，係接受此分析結果，而執行將顯示在電腦之畫面上之圖像一面縮小一面朝右側捲動之處理。
[產業上之可利用性]
本發明係可適用於類比電阻膜式之觸控面板。本發明係對於以類比電阻膜式之觸控面板構成各種資訊處理機器之顯示器之情形為有利。以資訊處理機器之例而言，係有行動電話、資訊攜帶終端機(PDA，個人數位助理)、攜帶音樂播放器、攜帶圖像播放器、攜帶瀏覽器(browser)、電視調諧器(one seg tuner)、電子辭典、汽車導航系統(car navigation system)、電腦、POS(point of sale，銷售點)終端機、庫存管理終端機、ATM(automatic teller machine，自動櫃員機)、各種多媒體終端機等。
1．．．觸控面板
11．．．第1構件
12．．．第2構件
21、21-1、21-2、21-3．．．電極對
22、22-1、22-2、22-3．．．電極對
23、23-1、23-2、23-3．．．電極
20X-1、20X-2、20X-3．．．X軸用電極對
20Y-1、20Y-2、20Y-3．．．Y軸用電極對
R1、R2、R3、R1'、R2'、R3'．．．電阻
SW1、SW2、SW3、SWD1、SWD2、SWD3．．．開關
X-1、X-2、X-3、Y-1、Y-2、Y-3．．．透明導電膜區域
圖1係為說明本發明之類比電阻膜式之觸控面板所設之複數個透明導電膜區域之圖(其1)。
圖2係為說明本發明之類比電阻膜式之觸控面板所設之複數個透明導電膜區域之圖(其2)。
圖3係為說明本發明之類比電阻膜式之觸控面板所設之複數個透明導電膜區域之圖(其3)。
圖4係為說明本發明之第1實施例之觸控面板之圖。
圖5係為說明本發明之第1實施例之變形例之觸控面板之圖。
圖6係為說明本發明之第2實施例之觸控面板之圖。
圖7係為說明在本發明之第2實施例之觸控面板中，將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定之原理之圖。
圖8係為說明本發明之第2實施例之觸控面板中之各檢測用電極對所形成之電位梯度之圖(其1)。
圖9係為說明本發明之第2實施例之觸控面板中之各檢測用電極對所形成之電位梯度之圖(其2)。
圖10係為說明本發明之第2實施例之觸控面板中之各檢測用電極對所形成之電位梯度之圖(其3)。
圖11係為說明本發明之第2實施例之變形例之觸控面板之圖。
圖12係為說明本發明之第3實施例之觸控面板之圖。
圖13係為說明在本發明之第3實施例之觸控面板中，將某一點進行觸控操作之情形之該一點之絕對位置予以特別限定之原理之圖。
圖14係為說明本發明之第3實施例之觸控面板之圖。
圖15係為表示本發明之實施例之觸控面板之動作流程之流程圖(其1)。
圖16係為表示本發明之實施例之觸控面板之動作流程之流程圖(其2)。
圖17係為表示圖15及16中藉由多點觸控操作之手指操作方向之辨識之動作流程之流程圖。
圖18係為說明圖18及19係藉由多點觸控操作之手指操作方向之辨識之具體例之圖(其1)。
圖19係為說明圖18及19係藉由多點觸控操作之手指操作方向之辨識之具體例之圖(其2)。
圖20係為例示一般之類比電阻膜式之觸控面板之立體圖。
圖21係為例示一般之類比電阻膜式之觸控面板之剖面圖。
圖22(a)、(b)係為說明類比電阻膜式之觸控面板之一般之座標檢測原理之圖。
圖23(a)、(b)係為說明以複數個手指進行觸控操作圖22所例示之類比電阻膜式之觸控面板時所產生之問題點之圖。
1．．．觸控面板
11．．．第1構件
12．．．第2構件
21-1、21-2、21-3、22．．．電極對
29．．．AD埠
30．．．MCU
R1、R2、R3、R1'、R2'、R3'．．．電阻
SW1、SW2、SW3、SWD1、SWD2、SWD3．．．開關
X-1、X-2、X-3．．．透明導電膜區域

Claims (25)

  1. 一種觸控面板，其特徵為：其係透明導電膜成膜在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式之觸控面板，且具備：透明導電膜區域，其係在前述第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係各自成膜於對於前述第2構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；驅動用電極對，其係各自設於各前述透明導電膜區域，且在各前述驅動用電極對間，施加具有各自不同之電壓值之電壓，在該透明導電膜區域內，形成關於前述透明導電膜區域之排列方向成為同一電位之電位梯度；檢測用電極對，其係設在前述透明導電膜成膜於對於前述第1構件之對向面側之前述第2構件上，且構成前述檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與構成前述驅動用電極對之各電極相對之方向正交之方式設置；及判別機構，其係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別前述複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  2. 如請求項1之觸控面板，其中具備：第1電阻及第2電阻，其係對於各前述驅動用電極對分別連接於構成該驅動用電極對之各電極，且在各前述驅動用電極對間，對於前述第1電阻與前述第2電阻之合成 電阻具有相等之電阻值，並且在各前述驅動用電極對間，對於前述第1電阻具有各自不同之電阻值；及電源，其係對於各前述驅動用電極對，對構成該驅動用電極對之與前述第1電阻連接之前述電極，經由該第1電阻依序施加具有同一電壓值之電壓；在各前述驅動用電極對間，施加具有各自不同之電壓值之電壓。
  3. 如請求項2之觸控面板，其中前述判別機構係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之驅動用電極對，且輸出信號，該信號係表示設有該驅動用電極對之透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  4. 如請求項3之觸控面板，其中前述判別機構係對應於藉由前述電源施加電壓於各前述驅動用電極對之順序及時序，而依序取得經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓值，且判別前述複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  5. 如請求項1之觸控面板，其中進一步具備：開關，其係遮斷所有前述驅動用電極對之電壓施加；另一電源，其係在藉由前述開關遮斷前述所有驅動用電極對之電壓施加時，對前述檢測用電極對施加電壓；及 座標檢測機構，其係在藉由前述開關遮斷前述所有驅動用電極對之電壓施加時，根據經由各前述驅動用電極對之中之任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜藉由觸控操作接觸之接觸點在構成前述檢測用電極對之各電極的相對方向上之絕對座標。
  6. 一種觸控面板，其特徵為：其係透明導電膜成膜在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式之觸控面板，且具備：透明導電膜區域，其係在前述第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係各自成膜於對於前述第2構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；檢測用電極對，其係各自設於各前述透明導電膜區域，且構成前述檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與前述透明導電膜區域之排列方向正交之方式設置；驅動用電極對，其係設在前述透明導電膜成膜於對於前述第1構件之對向面側之前述第2構件上，且構成前述驅動用電極對之各電極相對之方向，係以沿著前述透明導電膜區域之排列方向之方式設置，藉由電壓施加形成關於構成前述檢測用電極對之各電極相對之方向成為同一電位之電位梯度；及判別機構，其係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別前述複數個透明導電膜區域之中哪一 個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  7. 如請求項6之觸控面板，其中前述判別機構係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓值，而判別檢測出具有該電壓值之電壓之檢測用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該檢測用電極對之透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  8. 如請求項6之觸控面板，其中進一步具備：開關，其係遮斷前述驅動用電極對之電壓施加；電源，其係在藉由前述開關遮斷前述驅動用電極對之電壓施加時，對各前述檢測用電極對同時施加同一電壓；及座標檢測機構，其係在藉由前述開關遮斷前述驅動用電極對之電壓施加時，根據經由前述驅動用電極對所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜藉由觸控操作接觸之接觸點在構成前述檢測用電極對之各電極的相對方向上之絕對座標。
  9. 一種觸控面板，其特徵為：其係透明導電膜成膜在面狀之第1構件及第2構件之對向面側各側之類比電阻膜式之觸控面板，且具備：透明導電膜區域，其係在前述第1構件上朝某一定方向排列之複數個透明導電膜區域，且各前述透明導電膜 區域係各自成膜於對於前述第2構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；驅動用電極對，其係各自設於各前述透明導電膜區域，且在各前述驅動用電極對間，施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝；檢測用電極對，其係設在前述透明導電膜成膜於對於前述第1構件之對向面側之前述第2構件上，且構成前述檢測用電極對之各電極相對之方向，係以與構成前述驅動用電極對之各電極相對之方向正交之方式設置；及判別機構，其係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之前述電壓脈衝之脈衝特性，而判別前述複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸。
  10. 如請求項9之觸控面板，其中在各前述驅動用電極對間，施加具有各自不同之脈衝寬度之電壓脈衝。
  11. 如請求項9之觸控面板，其中在各前述驅動用電極對間，施加在1週期內具有各自不同之脈衝數之電壓脈衝。
  12. 如請求項10之觸控面板，其中前述判別機構係根據經由前述檢測用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之驅動用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該驅動用電極對之透明導電膜區域與前述第2構 件上之前述透明導電膜接觸。
  13. 如請求項9之觸控面板，其中進一步具備：開關，其係遮斷所有前述驅動用電極對之電壓脈衝之施加；電源，其係在藉由前述開關遮斷前述所有驅動用電極對之電壓脈衝之施加時，對前述檢測用電極對施加電壓；及座標檢測機構，其係在藉由前述開關遮斷前述所有驅動用電極對之電壓脈衝之施加時，根據經由各前述驅動用電極對之中之任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜藉由觸控操作接觸之接觸點在構成前述檢測用電極對之各電極的相對方向上之絕對座標。
  14. 一種觸控面板，其特徵為：其係類比電阻膜式之觸控面板，且具備：第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X方向排列，將X軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與前述X方向正交之Y方向排列，將Y軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係位於對於前述第1構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；及 判別機構，其係在前述X軸用電極對在各前述X軸用電極對間施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內形成關於前述X方向成為同一電位之電位梯度之X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝前述X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域接觸，而在前述Y軸用電極對在各前述Y軸用電極對間施加具有各自不同之電壓值之電壓，並且在該透明導電膜區域內形成關於前述Y方向成為同一電位之電位梯度之Y軸區域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝前述Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜區域接觸。
  15. 如請求項14之觸控面板，其中具備：第1電阻及第2電阻，其係對於各前述X軸用電極對及各前述Y軸用電極對，分別連接於構成該X軸用電極對或該Y軸用電極對之各電極，且在各前述X軸用電極對及各前述Y軸用電極對間，對於前述第1電阻與前述第2電阻之合成電阻具有相等之電阻值，並且在各前述X軸用電極對及各前述Y軸用電極對間，對於前述第1電阻具有各自不同之電阻值；及電源，其係在前述X軸區域檢測模式中，對於各前述X軸用電極對，對與構成該X軸用電極對之前述第1電阻連 接之前述電極，經由該第1電阻依序施加具有同一電壓值之電壓，而在前述Y軸區域檢測模式中，對於各前述Y軸用電極對，對與構成該Y軸用電極對之前述第1電阻連接之前述電極，經由該第1電阻依序施加具有同一電壓值之電壓；在各前述X軸用電極對間及各前述Y軸用電極對間，施加具有各自不同之電壓值之電壓。
  16. 如請求項15之觸控面板，其中前述判別機構在前述X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之X軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜接觸，在前述Y軸區域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之Y軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜接觸。
  17. 如請求項16之觸控面板，其中前述判別機構在前述X軸區域檢測模式中，對應於藉由前述電源施加電壓於各前述X軸用電極對之順序及時序，而依序取得經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓值，且判別朝前述X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述 透明導電膜接觸，在前述Y軸區域檢測模式中，對應於藉由前述電源施加電壓於各前述Y軸用電極對之順序及時序，而依序取得經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓值，且判別朝前述Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜接觸。
  18. 一種觸控面板，其特徵為：其係類比電阻膜式之觸控面板，且具備：第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X方向排列，將X軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與前述X方向正交之Y方向排列，將Y軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且前述透明導電膜區域係位於對於前述第1構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；及判別機構，其係在前述X軸用電極對藉由電壓施加形成關於前述X方向成為同一電位之電位梯度之X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝前述X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域接觸，在前述Y軸用電極對藉由電壓施加形成關於前述Y方向成為同一電位之電位梯度之Y軸區 域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別朝前述Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜區域接觸。
  19. 如請求項18之觸控面板，其中前述判別機構在前述X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之X軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域接觸，在前述Y軸區域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓值，而判別施加有具有該電壓值之電壓之Y軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜區域接觸。
  20. 如請求項18之觸控面板，其中進一步具備：電源，其係在X軸絕對座標檢測模式中，對各前述Y軸用電極對同時施加同一電壓，而在Y軸絕對座標檢測模式中，對各前述X軸用電極對同時施加同一電壓；及座標檢測機構，其係在前述X軸絕對座標檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對之中任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域藉由觸控操作接觸之接觸點之在X軸方向上之絕對座標，在前述Y軸 絕對座標檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對之中任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域藉由觸控操作接觸之接觸點在Y軸方向上之絕對座標。
  21. 一種觸控面板，其特徵為：其係類比電阻膜式之觸控面板，且具備：第1構件，其係將複數個透明導電膜區域朝X軸方向排列，將X軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係位於與觸控操作面相反側之面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；第2構件，其係將複數個透明導電膜區域朝與前述X軸方向正交之Y軸方向排列，將Y軸用電極對各自設於各前述透明導電膜區域，且各前述透明導電膜區域係位於對於前述第1構件之對向面側，而鄰接之前述透明導電膜區域間係電性絕緣；及判別機構，其係在於前述X軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝之X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之前述電壓脈衝之脈衝特性，而判別朝前述X軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域接觸，在於前述Y軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝特性之電壓脈衝之Y軸區域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之前述 電壓脈衝之脈衝特性，而判別朝前述Y軸方向排列之複數個透明導電膜區域之中哪一個透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜區域接觸。
  22. 如請求項21之觸控面板，其中在各前述X軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝寬度之電壓脈衝，而在各前述Y軸用電極對間施加具有各自不同之脈衝寬度之電壓脈衝。
  23. 如請求項21之觸控面板，其中在各前述X軸用電極對間施加在1週期內具有各自不同之脈衝數之電壓脈衝，而在各前述Y軸用電極對間施加在1週期內具有各自不同之脈衝數之電壓脈衝。
  24. 如請求項22之觸控面板，其中前述判別機構在前述X軸區域檢測模式中，根據經由前述Y軸用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之X軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該X軸用電極對之透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域接觸，在前述Y軸區域檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對所檢測出之電壓脈衝之脈衝特性，而判別施加有具有該脈衝特性之電壓脈衝之Y軸用電極對，且輸出訊號，該訊號係表示設有該Y軸用電極對之透明導電膜區域與前述第1構件上之前述透明導電膜區域接觸。
  25. 如請求項21之觸控面板，其中進一步具備：電源，其係在X軸絕對座標檢測模式中，對各前述Y軸 用電極對同時施加同一電壓，而在Y軸絕對座標檢測模式中，對各前述X軸用電極對同時施加同一電壓；及座標檢測機構，其係在前述X軸絕對座標檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對之中任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域藉由觸控操作接觸之接觸點在X軸方向上之絕對座標，在前述Y軸絕對座標檢測模式中，根據經由前述X軸用電極對之中任一者所檢測出之電壓值，而特定出前述第1構件上之前述透明導電膜區域與前述第2構件上之前述透明導電膜區域藉由觸控操作接觸之接觸點在Y軸方向上之絕對座標。
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4968380B2 (ja) * 2010-03-03 2012-07-04 カシオ計算機株式会社 接触状態検出方法、タッチパネル装置、及び、表示装置
TWI410851B (zh) 2010-04-27 2013-10-01 Htc Corp 手持裝置及其觸控感測裝置
JP5029767B2 (ja) * 2010-04-27 2012-09-19 カシオ計算機株式会社 抵抗膜式タッチパネルの接触状態検出方法、タッチパネル装置、及び表示装置
CN102236495B (zh) * 2010-05-04 2013-06-05 宏达国际电子股份有限公司 手持装置及其触控感测装置
KR101274649B1 (ko) * 2010-05-27 2013-06-12 엘지디스플레이 주식회사 터치 패널 일체형 액정 표시 장치 및 이의 제조 방법
JP5642500B2 (ja) * 2010-07-22 2014-12-17 富士通コンポーネント株式会社 タッチパネルにおける位置検出方法、タッチパネル、タッチパネルの初期化方法
CN102402319B (zh) * 2010-09-09 2014-09-24 群康科技(深圳)有限公司 触控面板的驱动方法与装置
JP5458443B2 (ja) 2010-09-14 2014-04-02 株式会社ジャパンディスプレイ タッチ検出機能付き表示装置、および電子機器
KR101680256B1 (ko) * 2010-11-08 2016-12-13 삼성디스플레이 주식회사 저항막 방식의 터치 스크린 패널
TWI448951B (zh) 2011-07-07 2014-08-11 Cal Comp Electronics & Comm Co 電阻式觸控面板
KR101306287B1 (ko) * 2011-08-16 2013-09-09 주식회사 팬택 플렉서블 디스플레이의 변형 인지 장치
WO2013192539A1 (en) 2012-06-21 2013-12-27 Nextinput, Inc. Wafer level mems force dies
WO2014008377A1 (en) 2012-07-05 2014-01-09 Ian Campbell Microelectromechanical load sensor and methods of manufacturing the same
JP2014026582A (ja) * 2012-07-30 2014-02-06 Brother Ind Ltd 接触検出処理プログラム、接触検出処理方法、及びタッチパネル装置
CN102937852B (zh) * 2012-10-19 2015-08-05 北京京东方光电科技有限公司 一种电容式内嵌触摸屏、其驱动方法及显示装置
JP5904458B2 (ja) * 2013-01-22 2016-04-13 ブラザー工業株式会社 接触検出処理プログラム、接触検出処理方法、及びタッチパネル装置
CN104423768B (zh) * 2013-09-10 2018-04-17 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控系统及其控制方法
WO2015106246A1 (en) 2014-01-13 2015-07-16 Nextinput, Inc. Miniaturized and ruggedized wafer level mems force sensors
CN117486166A (zh) 2015-06-10 2024-02-02 触控解决方案股份有限公司 具有容差沟槽的加固的晶圆级mems力传感器
US11243125B2 (en) 2017-02-09 2022-02-08 Nextinput, Inc. Integrated piezoresistive and piezoelectric fusion force sensor
WO2018148503A1 (en) 2017-02-09 2018-08-16 Nextinput, Inc. Integrated digital force sensors and related methods of manufacture
WO2019018641A1 (en) 2017-07-19 2019-01-24 Nextinput, Inc. STACK OF STRAIN TRANSFER IN A MEMS FORCE SENSOR
US11423686B2 (en) 2017-07-25 2022-08-23 Qorvo Us, Inc. Integrated fingerprint and force sensor
US11243126B2 (en) 2017-07-27 2022-02-08 Nextinput, Inc. Wafer bonded piezoresistive and piezoelectric force sensor and related methods of manufacture
JP6593932B2 (ja) * 2017-10-16 2019-10-23 株式会社ソディック 機械の操作盤
WO2019079420A1 (en) 2017-10-17 2019-04-25 Nextinput, Inc. SHIFT TEMPERATURE COEFFICIENT COMPENSATION FOR FORCE SENSOR AND STRAIN GAUGE
JP6993168B2 (ja) * 2017-10-18 2022-01-13 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置、および、タッチパネル装置
WO2019090057A1 (en) 2017-11-02 2019-05-09 Nextinput, Inc. Sealed force sensor with etch stop layer
US11874185B2 (en) 2017-11-16 2024-01-16 Nextinput, Inc. Force attenuator for force sensor
TWI673643B (zh) * 2018-09-28 2019-10-01 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 可改善觸控屏遠近端驅動信號均勻性的驅動方法及利用其之觸控裝置
US10962427B2 (en) 2019-01-10 2021-03-30 Nextinput, Inc. Slotted MEMS force sensor
JP7698494B2 (ja) 2020-11-02 2025-06-25 Ｆｃｌコンポーネント株式会社 タッチパネル

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6088024A (en) * 1997-06-13 2000-07-11 Nec Corporation Touch panel and method for detecting a pressed position on a touch panel
US6208332B1 (en) * 1997-09-17 2001-03-27 Nec Corporation Resistance film tablet system capable of rapidly detecting a position of contact and method of controlling the same
TW493137B (en) * 2000-03-31 2002-07-01 Nissha Printing Touch panel with light-shielding peripheral edges
TW498266B (en) * 2000-08-03 2002-08-11 Hantouch Com Resistive film type transparent analog touch panel
US20030122796A1 (en) * 2001-12-27 2003-07-03 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for driving a touch panel
TWI249708B (en) * 2004-09-09 2006-02-21 Ind Tech Res Inst Analog resistive touch panel without bias
TWI253584B (en) * 2004-11-23 2006-04-21 Ind Tech Res Inst Coordinate positioning system of touch panel

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63208923A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Mitsubishi Electric Corp 手書き入力装置
JP3310082B2 (ja) * 1993-12-24 2002-07-29 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶一体型タブレットにおける座標検出方法
JP3269596B2 (ja) * 1994-10-31 2002-03-25 シャープ株式会社 タッチパネル式入力装置
JPH0945184A (ja) * 1995-08-01 1997-02-14 Gunze Ltd マトリックス型タッチパネルの検出装置
US5815141A (en) * 1996-04-12 1998-09-29 Elo Touch Systems, Inc. Resistive touchscreen having multiple selectable regions for pressure discrimination
JP2000242429A (ja) * 1999-02-18 2000-09-08 Canon Inc タッチパネル装置及びその制御方法
JP2002287889A (ja) * 2001-03-23 2002-10-04 Sharp Corp ペン入力装置
WO2003019346A1 (fr) * 2001-08-22 2003-03-06 Sharp Kabushiki Kaisha Capteur tactile, affichage a capteur tactile et procede de generation de donnees de position
JP2005049978A (ja) * 2003-07-30 2005-02-24 Toshiba Tec Corp 抵抗膜式タッチパネル
JP2006039667A (ja) 2004-07-22 2006-02-09 Fujitsu Component Ltd エリア分割アナログ抵抗膜タッチパネル
JP4508886B2 (ja) * 2005-01-20 2010-07-21 富士通コンポーネント株式会社 抵抗膜方式タッチパネル

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6088024A (en) * 1997-06-13 2000-07-11 Nec Corporation Touch panel and method for detecting a pressed position on a touch panel
US6208332B1 (en) * 1997-09-17 2001-03-27 Nec Corporation Resistance film tablet system capable of rapidly detecting a position of contact and method of controlling the same
TW493137B (en) * 2000-03-31 2002-07-01 Nissha Printing Touch panel with light-shielding peripheral edges
TW498266B (en) * 2000-08-03 2002-08-11 Hantouch Com Resistive film type transparent analog touch panel
US20030122796A1 (en) * 2001-12-27 2003-07-03 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for driving a touch panel
TWI249708B (en) * 2004-09-09 2006-02-21 Ind Tech Res Inst Analog resistive touch panel without bias
TWI253584B (en) * 2004-11-23 2006-04-21 Ind Tech Res Inst Coordinate positioning system of touch panel

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