TWI498545B - Optical inspection machine - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種光學檢測機，特別是指一種檢測液晶面板半成品的光學檢測機。
自動光學檢查(Automated Optical Inspection，AOI)為利用光學方式取代人工檢測，而成為工業自動化檢測機台。目前AOI在檢測液晶面板的應用，為檢查液晶面板半成品是否有亮點、暗點、點瑕疵或畫面顏色不均的缺陷。
但在製程中，液晶面板半成品已黏貼偏光片，一旦檢出影像瑕疵的不良品，不良品將難以再次重工補救，必須棄置，而造成浪費材料成本。
因此，本發明之目的，即在提供一種減少液晶面板半成品的不良品的耗材支出且提升良率的光學檢測機。
於是，本發明光學檢測機，適用檢測一未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包含：一平台單元，用以承載該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；
一探針模組，設置於該平台單元的上方，並電連接該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；一巨觀檢測模組，設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包括一低倍率鏡頭、一設置於該低倍率鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片；及一微觀檢測模組，設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包括一高倍率鏡頭、一設置於該高倍率鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片。
較佳地，其中，該旋轉單元具有一旋轉馬達、一可受該旋轉馬達旋轉的皮帶輪，及一受該皮帶輪旋轉而帶動該第一偏光片進行旋轉的傳動皮帶。
較佳地，其中，該平台單元具有一中空的基座，及一位於該基座的兩相反側之間且承載該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的氣浮載台。
較佳地，其中，該平台單元還具有一呈水平延伸的輸送軌道，該光學檢測機還包含一移載裝置，該移載裝置包括一滑接於該輸送軌道並沿一第一方向相對該輸送軌道滑動的輸送件，及一設置於該輸送件的定位模組，該探針模組設置於該定位模組。
較佳地，其中，該移載裝置挾持該未黏貼偏光片的液晶面板半成品沿該第一方向移動，至該巨觀檢測模組及該微觀檢測模組進行檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品。
較佳地，其中，該定位模組具有一基部、二設置於該基部兩相反側且分別沿該第一方向延伸的第一滑軌、二設置於該基部兩相反端部且分別沿一垂直於該第一方向的第二滑軌、二分別可滑設於該第一滑軌的第一滑移件、二分別可滑設於該第二滑軌的第二滑移件，及二分別設置於該等第一滑移件且夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的定位件。
較佳地，該光學檢測機還包含一輝度檢查模組，該輝度檢查模組設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的輝度，並包括一輝度計、一設置於該輝度計與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片。
較佳地，其中，該巨觀檢測模組還包括一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元，該輝度檢測模組還包括一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元；各該旋轉單元具有一旋轉馬達，一可受該旋轉馬達旋轉的皮帶輪，及一受該皮帶輪旋轉而帶動該第一偏光片進行旋轉的傳動皮帶。
較佳地，該光學檢測機還包含一光學拍照模組，該光學拍照模組設置於該平台單元的上方，以擷取該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之影像，並包括一鏡頭、一設置於該鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片。
較佳地，該光學檢測機還包含一面板旋轉機構，該面板旋轉機構定義一軸，並包括一設置於該平台單元上方且可繞軸旋轉的旋轉部，及一設置於該旋轉部並可受該旋轉部帶動而旋轉且供該未黏貼偏光片的液晶面板半成品放置的吸盤架。
本發明之功效在於：透過探針模組使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品通電以驅動該等液晶，透過巨觀檢測模組、微觀檢測模組、輝度檢查模組及光學拍照模組，且利用該等第一偏光片、該等光源及該等第二偏光片的配合，使得在該未黏貼偏光片的液晶面板半成品未進行
下一步驟的加工，檢驗瑕疵，從而提升良率及減少不良品耗材支出。
1‧‧‧未黏貼偏光片的液晶面板半成品
2‧‧‧固定裝置
21‧‧‧平台單元
211‧‧‧基座
212‧‧‧氣浮載台
213‧‧‧輸送軌道
214‧‧‧溝漕
22‧‧‧第一固定架
23‧‧‧第二固定架
24‧‧‧固定架
3‧‧‧移載裝置
31‧‧‧輸送件
32‧‧‧定位模組
321‧‧‧基部
322‧‧‧第一滑軌
323‧‧‧第二滑軌
324‧‧‧第一滑移件
325‧‧‧第二滑移件
326‧‧‧定位件
327‧‧‧定位本體
328‧‧‧定位部
33‧‧‧探針模組
331‧‧‧固定座
332‧‧‧延伸臂
333‧‧‧臂體
334‧‧‧固定件
335‧‧‧探針
4A‧‧‧巨觀檢測模組
41A‧‧‧低倍率鏡頭
42‧‧‧第一偏光片
43‧‧‧旋轉單元
431‧‧‧旋轉馬達
432‧‧‧皮帶輪
433‧‧‧傳動皮帶
44‧‧‧光源
45‧‧‧第二偏光片
4B‧‧‧微觀檢測模組
41B‧‧‧高倍率鏡頭
4C‧‧‧輝度檢查模組
41C‧‧‧輝度計
4D‧‧‧光學拍照模組
41D‧‧‧鏡頭
5‧‧‧面板旋轉機構
51‧‧‧旋轉部
52‧‧‧吸盤架
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
L‧‧‧軸
本發明之其他的特徵及功效，將於參照圖式的較佳實施例詳細說明中清楚地呈現，其中：圖1是一示意圖，說明本發明光學檢測機的一較佳實施例，適用檢測一未黏貼偏光片的液晶面板半成品；圖2是一示意圖，說明該較佳實施例；圖3是一示意圖，說明一巨觀檢測模組與一微觀檢測模組檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；圖4是一示意圖，說明二定位模組與夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；圖5是一示意圖，說明一探針模組的延伸臂；圖6是一示意圖，說明該巨觀檢測模組的低倍率鏡頭、第一偏光片與旋轉單元的關係；圖7是一示意圖，說明該微觀檢測模組的高倍率鏡頭、第一偏光片與旋轉單元的關係；圖8是一示意圖，說明一輝度檢查模組與一光學拍照模組檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；圖9是一示意圖，說明該輝度檢查模組的輝度計、第一偏光片與旋轉單元的關係；圖10是一示意圖，說明該旋轉單元；圖11是一示意圖，說明該光學拍照模組的鏡頭、第一偏光片與旋轉單元的關係；及
圖12是一示意圖，說明該未黏貼偏光片的液晶面板半成品可以選擇為短邊放置或是長邊放置。
在本發明被詳細描述之前，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。
參閱圖1、圖2、圖3與圖4，本發明光學檢測機之較佳實施例，適用檢測一未黏貼偏光片的液晶面板半成品1，該光學檢測機包含一固定裝置2、二移載裝置3、一巨觀檢測模組4A、一微觀檢測模組4B、一輝度檢查模組4C、一光學拍照模組4D，及一面板旋轉機構5。
該固定裝置2包括一平台單元21、連接該平台單元21兩相反側且部分跨設於該平台單元21的一第一固定架22與一第二固定架23，及一設置於該平台單元21上方的固定架24。該第一固定架22與該第二固定架23彼此相間隔。該平台單元21具有一基座211、一設置該基座211上且用以承載該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的氣浮載台212，及二呈水平延伸的輸送軌道213。該氣浮載台212具有二相間隔的溝漕214，使得光線能通過溝槽214。該氣浮載台212的材質較佳地係以鋁合金材質所構成，例如A6061-T6鋁合金所構成，其係具有良好之機械性質。基此，該氣浮載台212的氣浮效果，造成未黏貼偏光片的液晶面板半成品1與氣浮載台212之間隔有氣體層，使得該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1置於該氣浮載台212上時，不會與該氣浮載台212接觸磨擦而受到該氣浮載台212
刮傷。
該等移載裝置3輸送該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1且分別設置於該基座211的兩相反側。各該移載裝置3包括一滑接於對應的輸送軌道213並沿一第一方向D1相對該輸送軌道213滑動的輸送件31、一設置於該輸送件31的定位模組32，及一設置於該定位模組32的探針模組33。
須說明的是，圖4為了便於說明定位模組32與夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的關係，移除了部分元件。各該定位模組32具有一基部321、二設置於該基部321兩相反側且分別沿該第一方向D1延伸的第一滑軌322、二設置於該基部321兩相反端部且分別沿一垂直於該第一方向D1的第二滑軌323、二分別可滑設於該第一滑軌322的第一滑移件324、二分別可滑設於該第二滑軌323的第二滑移件325，及二分別設置於該等第一滑移件324且夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的定位件326。各該定位件326具有一設置於對應該第一滑移件324的定位本體327，及二彼此相間隔且設置於該定位本體327的定位部328，各該定位部328分別用以定位該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的X軸正、負方向與Y軸正、負方向。須補充說明的是，在本實施例中二輸送軌道213、二輸送件31、四第一滑軌322、四第一滑移件324、四第二滑軌323，及四第二滑移件325，是分別採用雙側式線性馬逹的態樣。
參閱圖2、圖3與圖5，各該探針模組33設置於該平台單元21的上方，並具有一固定於對應的該定位模組32的基部321的固定座331，及多數個設置於該固定座331的延伸臂332。在本實施例中，各該探針模組33具有八延伸臂332，但是，實際實施時，可依需求調整延伸臂332的數量。各該延伸臂332具有一臂體333、兩上下相間隔且分別連接於該臂體333的固定件334，及多數個分別設置於該固定件334且彼此相間隔的探針335。該等探針335夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的兩相反側，並電連接該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1，以通電驅動該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的多數個液晶(圖未示)。
參閱圖1、圖3與圖6，該巨觀檢測模組4A設置於該平台單元21的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之缺陷，並包括三彼此相間隔地設置於該第一固定架22的低倍率鏡頭41A、三設置於該低倍率鏡頭41A與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第一偏光片42、三分別帶動該等第一偏光片42進行旋轉而改變第一偏光片42的角度的旋轉單元43、三設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的下方且產生光線透過對應的溝漕214照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的光源44，及三設置於該等光源44與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第二偏光片45。在本實施例中，低倍率鏡頭41A、第一偏光片42、旋轉單元43、光源44及第
二偏光片45的數量可依實際情形調整數量，當然，該巨觀檢測模組4A也可僅包括一低倍率鏡頭41A、一第一偏光片42、一旋轉單元43、一光源44及一第二偏光片45。
參閱圖1、圖3與圖7，該微觀檢測模組4B設置於該平台單元21的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之缺陷，並包括九彼此相間隔地設置於該第一固定架22的高倍率鏡頭41B、九分別設置於該等高倍率鏡頭41B與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第一偏光片42、九分別帶動該等第一偏光片42進行旋轉而改變第一偏光片42的角度的旋轉單元43、九分別設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的下方且產生光線透過對應的溝漕214照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的光源44，及九分別設置於該光源44與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第二偏光片45。在本實施例中，該等高倍率鏡頭41B、該等第一偏光片42及該等旋轉單元43可相對該第一固定架22沿該第二方向D2滑移，也就是該等光源44及該等第二偏光片45也會如透過一輸送帶(圖未示)，對應該等高倍率鏡頭41B、該等第一偏光片42及該等旋轉單元43進行滑移；再者，高倍率鏡頭41B、第一偏光片42、旋轉單元43、光源44及第二偏光片45的數量可依實際情形調整數量，當然，該微觀檢測模組4B也可僅包括一高倍率鏡頭41B、一第一偏光片42、一旋轉單元43、一光源44及一第二偏光片45。
參閱圖1、圖8與圖9，該輝度檢查模組4C設
置於該平台單元21的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的輝度，並包括一設置於該第二固定架23且沿該第二方向D2滑移的輝度計41C、一設置於該輝度計41C與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第一偏光片42、一分別帶動該第一偏光片42進行旋轉而改變第一偏光片42的角度的旋轉單元43、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的下方且產生光線透過對應的溝漕214照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的光源44，及一設置於該光源44與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第二偏光片45。在本實施例中，該輝度計41C、該第一偏光片42及該旋轉單元43可相對該第二固定架23沿該第二方向D2滑移，也就是該光源44及該第二偏光片45也會如透過一輸送帶(圖未示)，對應該輝度計41C、該第一偏光片42及該旋轉單元43進行滑移。
參閱圖6、圖7、圖9與圖10，該巨觀檢測模組4A的該等旋轉單元43、該微觀檢測模組4B的該等旋轉單元43與該輝度檢查模組4C的該旋轉單元43結構大致相同，各該旋轉單元43具有一旋轉馬達431、一可受該旋轉馬達431旋轉的皮帶輪432，及一受該皮帶輪432旋轉而帶動該第一偏光片42進行旋轉的傳動皮帶433。
參閱圖1、圖8與圖11，該光學拍照模組4D設置於該平台單元21的上方，以擷取該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之影像，並包括一設置於該第二固定架23且沿該第二方向D2滑移的鏡頭41D、一設置於該鏡頭41D與
該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第一偏光片42、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的下方且產生光線透過對應的溝漕214照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的光源44，及一設置於該光源44與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1之間的第二偏光片45。在本實施例中，鏡頭41D及該第一偏光片42可相對該第二固定架23沿該第二方向D2滑移，也就是該光源44及該第二偏光片45也會如透過一輸送帶(圖未示)，對應該鏡頭41D及該第一偏光片42進行滑移。
該面板旋轉機構5定義一垂直該固定架24的軸L，並包括一設置於該固定架24且可繞該軸L旋轉的旋轉部51，及一設置於該旋轉部51並可受該旋轉部51帶動而旋轉且供該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1放置的吸盤架52。也就是說，該旋轉部51可繞軸L旋轉90°，以使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1可以從如圖12中的實線所示短邊入料轉換成如圖12中假想線所示的長邊入料，或是長邊入料轉換成短邊入料。
以下說明本實施例光學檢測機的運作方式。
參閱圖1、圖4與圖12，首先，該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1可以選擇為短邊放置於該面板旋轉機構5的吸盤架52，透過該旋轉部51可繞該軸L旋轉90°，以使該吸盤架52帶動該面板旋轉機構5旋轉90°，而轉換成長邊放置。接著，透過一機械手臂(圖未示)將該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1移動至該等移載裝置3的定位
模組32。相反地，該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1而可以透過該面板旋轉機構5將長邊入料轉換成短邊入料。
繼而，該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1選擇為短邊進入該等移載裝置3的定位模組32，透過該等定位模組32的定位部328去夾持該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的兩相反側；相反地，或是該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1選擇為長邊進入該等移載裝置3的定位模組32，此時該等移載裝置3的第一滑移件324與第二滑移件325分別沿該第一方向D1及該第二方向D2滑行，使得該等定位模組32的定位部328去夾持該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的兩相反側。須說明的是，若該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1入料時，已經是預定的該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1短邊放置或長邊放置入料，此步驟可省略。
以下是採該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1選擇為短邊進入該等移載裝置3的定位模組32方式說明。
參閱圖1與圖3，當光學檢測機進行檢測時，該等移載裝置3挾持該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1沿該第一方向D1移動且使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1承載於氣浮載台212上，並使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的兩相反側電連接至該等探針模組33，以通電驅動該等液晶。
參閱圖1與圖3，接著，該等輸送件31沿該第一方向D1相對該輸送軌道213滑動而輸送該未黏貼偏光片
的液晶面板半成品1通過該巨觀檢測模組4A與該微觀檢測模組4B。該巨觀檢測模組4A可對該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1進行大範圍低解析的檢測。該微觀檢測模組4B可對該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1進行小範圍高解析的檢測。
參閱圖1與圖8，繼而，該等輸送件31繼續沿該第一方向D1相對該輸送軌道213滑動而通過該輝度檢查模組4C及該光學拍照模組4D。該輝度檢查模組4C可對該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1進行輝度的檢測。該光學拍照模組4D可對該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1進行影像擷取。
參閱圖4與圖12，透過該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1可以選擇為短邊或是長邊進入該等移載裝置3的定位模組32，使得進料方式更為靈活而多元性。
參閱圖1，由於本實施例光學檢測機在檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1時，是利用該等輸送件31沿該第一方向D1相對該輸送軌道213滑動而輸送該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1通過該巨觀檢測模組4A、該微觀檢測模組4B、該輝度檢查模組4C及該光學拍照模組4D，而使本實施例光學檢測機達到全面檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1而無死角。
詳細來說，該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1未貼附偏光片，為了正確查驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1，本實施例光學檢測機是利用該等第一偏光片42
、該等光源44及該等第二偏光片45的配合，模擬該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1已貼附偏光片以進行檢測。
參閱圖6、圖7、圖9與圖10，再者，該巨觀檢測模組4A的該等旋轉單元43、該微觀檢測模組4B的該等旋轉單元43與該輝度檢查模組4C的該旋轉單元43，使對應的該第一偏光片42可旋轉任意角度，也就是各該第一偏光片42可相對對應的該第二偏光片45旋轉，使得各該第一偏光片42的偏振方向與對應的該第二偏光片45的偏振方向相同或者是不同，而判斷該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的液晶成像是否具有亮點、暗點或其他缺陷。
具體而言，當各該第一偏光片42的偏振方向與對應的該第二偏光片45的偏振方向相互平行時，也就是全開的狀態，即亮畫面，可以有效地檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1暗點。
當各該第一偏光片42的偏振方向與對應的該第二偏光片45的偏振方向相互垂直時，也就是全關的狀態，即暗畫面，可以有效地檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1亮點。
當各該第一偏光片42的偏振方向與對應的該第二偏光片45的偏振方向是其他任意角度時(即前述偏振方向相互平行與偏振方向相互垂直的角度之外)，此時為灰畫面。即可依客戶的特殊需求來檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1的該等液晶的缺陷。
相較於先前技術，受檢測的液晶面板半成品已
經貼合偏光片，當發現不良品後造成材料及工時浪費。本實施例光學檢測機在檢測該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1時，透過探針模組33使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1通電以驅動該等液晶，透過巨觀檢測模組4A、微觀檢測模組4B、輝度檢查模組4C及光學拍照模組4D，且利用該等第一偏光片42、該等光源44及該等第二偏光片45的配合，使得在該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1未進行下一步驟的加工，檢驗輝度與亮點、暗點等瑕疵，提早排除不良品，從而提升液晶螢幕面板的生產效率與良率。
補充說明的是，在本實施例中，該等移載裝置3的數目為二，但是該光學檢測機也可以僅包含一移載裝置3。也就是輸送件31、定位模組32及探針模組33的數目皆為一，仍可實施。
綜上所述，透過探針模組33使該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1通電以驅動該等液晶，透過巨觀檢測模組4A、微觀檢測模組4B、輝度檢查模組4C及光學拍照模組4D，且利用該等第一偏光片42、該等光源44及該等第二偏光片45的配合，使得在該未黏貼偏光片的液晶面板半成品1未進行下一步驟的加工，檢驗瑕疵，從而提升良率及減少不良品耗材支出，故確實能達成本發明之目的。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
1‧‧‧未黏貼偏光片的液晶面板半成品
2‧‧‧固定裝置
21‧‧‧平台單元
211‧‧‧基座
212‧‧‧氣浮載台
213‧‧‧輸送軌道
214‧‧‧溝漕
22‧‧‧第一固定架
23‧‧‧第二固定架
24‧‧‧固定架
3‧‧‧移載裝置
31‧‧‧輸送件
32‧‧‧定位模組
4A‧‧‧巨觀檢測模
組
4B‧‧‧微觀檢測模組
4C‧‧‧輝度檢查模組
4D‧‧‧光學拍照模組
44‧‧‧光源
45‧‧‧第二偏光片
5‧‧‧面板旋轉機構
51‧‧‧旋轉部
52‧‧‧吸盤架
D1‧‧‧第一方向
L‧‧‧軸
Claims (10)
- 一種光學檢測機，適用檢測一未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包含：一平台單元，用以承載該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；一探針模組，設置於該平台單元的上方，並電連接該未黏貼偏光片的液晶面板半成品；一巨觀檢測模組，設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包括一低倍率鏡頭、一設置於該低倍率鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片；及一微觀檢測模組，設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品，並包括一高倍率鏡頭、一設置於該高倍率鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片， 其中，該平台單元還具有一呈水平延伸的輸送軌道，該光學檢測機還包含一移載裝置，該移載裝置包括一滑接於該輸送軌道並沿一第一方向相對該輸送軌道滑動的輸送件。
- 如請求項1所述光學檢測機，其中，該旋轉單元具有一旋轉馬達、一可受該旋轉馬達旋轉的皮帶輪，及一受該皮帶輪旋轉而帶動該第一偏光片進行旋轉的傳動皮帶。
- 如請求項1所述光學檢測機，其中，該平台單元具有一中空的基座，及一位於該基座的兩相反側之間且承載該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的氣浮載台。
- 如請求項3所述光學檢測機，其中，該平台單元還具有一設置於該輸送件的定位模組，該探針模組設置於該定位模組。
- 如請求項4所述光學檢測機，其中，該移載裝置挾持該未黏貼偏光片的液晶面板半成品沿該第一方向移動，至該巨觀檢測模組及該微觀檢測模組進行檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品。
- 如請求項4所述光學檢測機，其中，該定位模組具有一基部、二設置於該基部兩相反側且分別沿該第一方向延伸的第一滑軌、二設置於該基部兩相反端部且分別沿一垂直於該第一方向的第二滑軌、二分別可滑設於該第一滑軌的第一滑移件、二分別可滑設於該第二滑軌的第二滑移件，及二分別設置於該等第一滑移件且夾設於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的定位件。
- 如請求項1所述光學檢測機，還包含一輝度檢查模組，該輝度檢查模組設置於該平台單元的上方，以檢驗該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的輝度，並包括一輝度計、一設置於該輝度計與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片。
- 如請求項7所述光學檢測機，其中，該巨觀檢測模組還包括一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元，該輝度檢測模組還包括一帶動該第一偏光片進行旋轉而改變第一偏光片的角度的旋轉單元；各該旋轉單元具有一旋轉馬達，一可受該旋轉馬達旋轉的皮帶輪，及一受該皮帶輪旋轉而帶動該第一偏光片進行旋轉的傳動皮帶。
- 如請求項1所述光學檢測機，還包含一光學拍照模組，該光學拍照模組設置於該平台單元的上方，以擷取該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之影像，並包括一鏡頭、一設置於該鏡頭與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第一偏光片、一設置於該未黏貼偏光片的液晶面板半成品的下方且產生光線照射至未黏貼偏光片的液晶面板半成品的光源，及一設置於該光源與該未黏貼偏光片的液晶面板半成品之間的第二偏光片。
- 如請求項1所述光學檢測機，還包含一面板旋轉機構， 該面板旋轉機構定義一軸，並包括一設置於該平台單元上方且可繞該軸旋轉的旋轉部，及一設置於該旋轉部並可受該旋轉部帶動而旋轉且供該未黏貼偏光片的液晶面板半成品放置的吸盤架。
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| CN106444111A (zh) * | 2016-11-25 | 2017-02-22 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 一种lcd检测用上偏光片精密调节装置 |
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| CN107886884A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-04-06 | 苏州广林达电子科技有限公司 | Oled面板画面调节机构 |
| CN108107614A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-06-01 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示检查方法及显示检查装置 |
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| CN111380668B (zh) * | 2018-12-27 | 2022-10-11 | 浙江舜宇智能光学技术有限公司 | 一种深度相机的精度检测系统及其精度检测方法 |
| CN110286507A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-09-27 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种基板检测装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW200923352A (en) * | 2007-09-26 | 2009-06-01 | Oht Inc | Circuit pattern inspection device |
| TW200937006A (en) * | 2008-01-30 | 2009-09-01 | Olympus Corp | Inspection system |
| TWM380471U (en) * | 2009-12-02 | 2010-05-11 | Hirose Tech Co Ltd | Optical image detection apparatus |
| CN102798634A (zh) * | 2011-05-26 | 2012-11-28 | 塔工程有限公司 | 光学检测装置以及具有光学检测装置的阵列测试装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101539674A (zh) * | 2008-03-19 | 2009-09-23 | 东捷科技股份有限公司 | Lcd玻璃基板检测系统 |
| CN101887180A (zh) * | 2009-05-15 | 2010-11-17 | 东捷科技股份有限公司 | 移动式点灯机构 |
| CN201562095U (zh) * | 2009-12-09 | 2010-08-25 | 宏濑科技股份有限公司 | 光学影像检测设备 |
| JP2012042223A (ja) * | 2010-08-12 | 2012-03-01 | Hitachi High-Technologies Corp | Ａｃｆ貼付状態検査装置またはａｃｆ貼付・貼付状態検査装置 |
| CN201795916U (zh) * | 2010-08-26 | 2011-04-13 | 宏濑科技股份有限公司 | 光学特性检测机台 |
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW200923352A (en) * | 2007-09-26 | 2009-06-01 | Oht Inc | Circuit pattern inspection device |
| TW200937006A (en) * | 2008-01-30 | 2009-09-01 | Olympus Corp | Inspection system |
| TWM380471U (en) * | 2009-12-02 | 2010-05-11 | Hirose Tech Co Ltd | Optical image detection apparatus |
| CN102798634A (zh) * | 2011-05-26 | 2012-11-28 | 塔工程有限公司 | 光学检测装置以及具有光学检测装置的阵列测试装置 |
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