TWI491898B - 薄膜開關電路之測試系統 - Google Patents

Description

薄膜開關電路之測試系統

本發明係關於一種測試系統，尤其係關於薄膜開關電路之測試系統。

隨著科技之發展，電子設備已普及化至個人使用者，常見的電子設備包括電腦主機、筆記型電腦、手機等可攜式電子設備，且其週邊輸入裝置可配合電子設備使用，以提升操作電子設備之便利性。其中，週邊輸入裝置包括有滑鼠裝置、鍵盤裝置以及軌跡球裝置等。

鍵盤裝置內部必須設置有薄膜開關電路，其功能為被鍵盤裝置之按鍵觸壓而輸出相對應的按鍵訊號，以便於使用者輸入字母、數字或符號。鍵盤裝置之製造過程中，必須進行測試，以確保鍵盤裝置之功能正常。其測試包含有於鍵盤裝置組裝完成前之電路板測試、薄膜開關電路測試，以及其組裝完成後之功能性測試。其中，對電路板以及薄膜開關電路 的測試是為了避免於鍵盤裝置組裝完成之後才發現電路板或薄膜開關電路有缺陷存在時，必須拆卸鍵盤裝置來除錯，其將造成的工時浪費。

本發明之主題係為鍵盤裝置中之薄膜開關電路的測試。首先簡單說明薄膜開關電路之結構。請參閱圖1，其為習知薄膜開關電路之結構爆炸示意圖。習知薄膜開關電路1包括一上線路板11、一隔離層12以及一下線路板13，上線路板11具有對應於鍵盤裝置(未顯示於圖中)之複數按鍵(未顯示於圖中)的複數第一接點111。隔離層12位於上線路板11之下方，且具有對應於複數第一接點111之複數開孔121，而下線路板13位於隔離層12之下方，且具有對應於複數第一接點111之複數第二接點131。上線路板11、隔離層12以及下線路板13互相結合之後，每一第一接點111位於複數開孔121之上方，而第二接點131則位於複數開孔121之下方。其中，第一接點111、複數開孔12以及第二接點131共同形成一按鍵接點，且按鍵接點具有一接點電阻值。

當一個按鍵被使用者觸壓時，上線路板11中位於該按鍵下方之第一接點111被推抵而伸入相對應的開孔121中，且第一接點111與相對應之第二接點131接觸，此時，薄膜開關電路1輸出對應於該按鍵之按鍵訊號。而當使用者不再觸壓按鍵時，第一接點111與相對應之第二接點131分離，且第一接點111與第二接點131被隔離層12所分隔，以避免發生誤觸。當第一接點111與相對應之第二接點131接觸時，按鍵接點之接點電阻值太大時，薄膜開關電路1會無法輸出相對應之按鍵訊號。因此，於鍵盤裝置組裝完成之前，必須針對薄膜開關電路1之按鍵接點進行測試。

一般而言，薄膜開關電路的測試係採用薄膜開關電路專用的測試治具以及電腦系統而進行，其中測試治具包含有電阻測量器。接下來，可藉由測試人員或打擊工具來依序觸壓薄膜開關電路上之每一按鍵接點， 且依序取得複數按鍵接點之複數接點電阻值。藉由習知方式進行測試時，電阻測量器會傳輸複數接點電阻值至電腦系統，但測試人員無法得知哪一接點電阻值係對應於哪一按鍵接點，因此，測試人員必須記錄或預先安排觸壓按鍵接點的順序，再自行將觸壓按鍵接點的順序依序對應於複數接點電阻值，才得以得知哪一按鍵接點之接點電阻值太大，而可進行調整。

然而，測試人員經過長時間的測試工作之後，很容易因失誤而發生按鍵接點與接點電阻值對應錯誤之情形，而造成測試準確率下降。因此，需要一種不需人力測試之薄膜開關電路之測試系統。

本發明之目的在於提供一種不需以人力測量且符合成本效應之薄膜開關電路之測試系統。

於一較佳實施例中，本發明提供一種薄膜開關電路之測試系統，用以測試一薄膜開關電路，該薄膜開關電路包括複數掃描輸入線、複數掃描輸出線以及由該複數掃描輸入線與該複數掃描輸出線所共同形成之複數按鍵接點，且該複數按鍵接點中之至少一該按鍵接點被導通時產生一接點電阻值，該薄膜開關電路之測試系統包括一連接元件以及一測試模組。該連接元件用以連接於該薄膜開關電路，而該測試模組連接於該連接元件，用以測試該薄膜開關電路中對應於該複數按鍵接點之該複數接點電阻值。該測試模組包括一控制單元以及複數固定電阻，該控制單元具有一預設電阻值，用以根據該接點電阻值與該預設電阻值而判斷該按鍵接點是否通過測試。該控制單元包括複數第一連接接腳以及複數第二連接接腳，每一該第一連接接腳對應於一該掃描輸入線，且分別連接於相對應之該掃 描輸入線，而每一該第二連接接腳對應於一該掃描輸出線，且分別連接於相對應之該掃描輸出線。該複數固定電阻對應於該複數掃描輸入線且連接於該複數第一連接接腳；其中當該按鍵接點被觸壓時，該按鍵接點與相對應之該固定電阻形成一等效電路，且該控制單元由該等效電路中獲得該接點電阻值，而判斷該按鍵接點是否通過測試。

因此，本發明薄膜開關電路之測試系統可藉由控制單元指派第一序號以及第二序號至不同的第一連接接腳以及第二連接接腳，以指派複數識別資訊至複數按鍵接點。當按鍵接點被觸壓以進行測試時，控制單元可根據對應於被觸壓之按鍵接點的第一連接接腳以及第二連接接腳所傳輸之第一序號以及第二序號而得知被觸壓的是哪一按鍵接點。之後，控制單元於因按鍵接點導通而形成之等效電路中取得接點電阻值，且比較該接點電阻值與預設電阻值以判斷該按鍵接點是否通過測試。最後，顯示測試結果於顯示元件上或電腦系統之顯示螢幕上，以供測試人員觀看。

1、20、30‧‧‧薄膜開關電路

2、3‧‧‧薄膜開關電路之測試系統

4‧‧‧電腦系統

00~7H‧‧‧識別資訊

11‧‧‧上線路板

12‧‧‧隔離層

13‧‧‧下線路板

21‧‧‧第一連接元件

22‧‧‧第二連接元件

23‧‧‧測試模組

41‧‧‧顯示螢幕

111‧‧‧第一接點

121‧‧‧開孔

131‧‧‧第二接點

231‧‧‧控制單元

232、332‧‧‧開關電路

233‧‧‧穩壓電路

234‧‧‧警示元件

235‧‧‧顯示元件

331‧‧‧第一控制單元

333‧‧‧第一穩壓電路

334‧‧‧第二穩壓電路

335‧‧‧連接電路

3351‧‧‧第二控制單元

3352‧‧‧連接器

C1~C10‧‧‧電容

E‧‧‧等效電路

JP‧‧‧跳線元件

P00~P19‧‧‧第一連接接腳

P20~P39‧‧‧第二連接接腳

R0~R7‧‧‧掃描輸入線

RL‧‧‧按鍵接點

Rs1~Rs8‧‧‧固定電阻

S0~S17‧‧‧掃描輸出線

V5‧‧‧電壓源

VA‧‧‧實際電壓值

VCC‧‧‧測試電壓

Vin‧‧‧供電源

圖1係習知薄膜開關電路之結構爆炸示意圖。

圖2係本發明薄膜開關電路之測試系統於第一較佳實施例中之電路示意圖。

圖3係本發明薄膜開關電路之測試系統之薄膜開關電路之複數按鍵接點於第一較佳實施例中之示意圖。

圖4係本發明薄膜開關電路之測試系統之開關電路、穩壓電路以及顯示元件於第一較佳實施例中之電路示意圖。

圖5係本發明薄膜開關電路之測試系統之等效電路於第一較佳實施例中之電路示意圖。

圖6係本發明薄膜開關電路之測試系統於第二較佳實施例中之電路示意圖。

圖7係本發明薄膜開關電路之測試系統之開關電路以及穩壓電路於第二較佳實施例中之電路示意圖。

圖8係本發明薄膜開關電路之測試系統之連接電路於第二較佳實施例中之電路示意圖。

鑑於習知技術之問題，本發明提供一種可解決習知技術問題之薄膜開關電路之測試系統。請同時參閱圖2以及圖3，圖2係為本發明薄膜開關電路之測試系統於第一較佳實施例中之電路示意圖，圖3係為本發明薄膜開關電路之測試系統之薄膜開關電路之複數按鍵接點於第一較佳實施例中之示意圖。薄膜開關電路之測試系統2之功能為測試一薄膜開關電路20，薄膜開關電路20包括複數掃描輸入線R0~R7、複數掃描輸出線S0~S17以及由複數掃描輸入線R0~R7與複數掃描輸出線S0~S17所共同形成之複數按鍵接點RL(請參照圖5)，其中每一按鍵接點具有一識別資訊00、01、……、10、11、……、70、……、7H。當每一按鍵接點中被觸壓而導通時，可產生一接點電阻值。薄膜開關電路20之結構如圖1所示，而不再 贅述。

圖2以及圖3中，薄膜開關電路之測試系統2包括一第一連接元件21、一第二連接元件22以及一測試模組23，第一連接元件21之功能為連接於待測試之薄膜開關電路20之複數掃描輸入線R0~R7，第二連接元件22之功能為連接於薄膜開關電路20之複數掃描輸出線S0~S17。測試模組23連接於第一連接元件21以及第二連接元件22，其功能為測試薄膜開關電路20中對應於複數按鍵接點RL之複數接點電阻值。於本較佳實施例中，第一連接元件21以及第二連接元件22分別為固定複數掃描輸入線R0~R7以及複數掃描輸出線S0~S17之夾具。

接下來說明測試模組23之內部電路。請同時參閱圖2以及圖4，圖4係為本發明薄膜開關電路之測試系統之開關電路、穩壓電路以及顯示元件於第一較佳實施例中之電路示意圖。測試模組23包括一控制單元231、複數固定電阻Rs1~Rs8、一開關電路232、一穩壓電路233、一警示元件234以及一顯示元件235。控制單元231具有一預設電阻值，其功能有二，第一功能為根據被觸壓的按鍵接點RL之接點電阻值與預設電阻值的比較，而判斷被觸壓之按鍵接點RL是否通過測試。其第二功能為指派複數識別資訊00~7H至複數按鍵接點RL，使每一按鍵接點RL對應於一個識別資訊。控制單元231包括複數第一連接接腳P11~P19以及複數第二連接接腳P20~P39，複數第一連接接腳P11~P18係分別對應於複數掃描輸入線R0~R7，其中第一連接接腳P11對應於掃描輸入線R0，第一連接接腳P12對應於掃描輸入線R1，……，以此類推，且複數第一連接接腳P11~P18分別連接於相對應之複數掃描輸入線R0~R7，而第一連接接腳P19連接於穩壓電路233。複數第二連接接腳P21~P38係分別對應於複數掃描輸出線S0~S17，其中第二連接接腳P21對應於掃描輸出線S0，第二連接接腳P22 對應於掃描輸出線S1，……，以此類推，且複數第二連接接腳P21~P38分別連接於相對應之複數掃描輸出線S0~S17。第二連接接腳P20連接於警示元件234，而第二連接接腳P39則連接於顯示元件235。

測試模組23中，複數固定電阻Rs1~Rs8對應於複數掃描輸入線R0~R7且連接於複數第一連接接腳P11~P18。開關電路232連接於一供電源Vin，其功能為提供來自於供電源Vin之一電力，穩壓電路233連接於供電源Vin以及控制單元231之第一連接接腳P19，其功能為穩定電力，以驅動控制單元231。警示元件234連接於控制單元231之第二連接接腳P20，其功能為於控制單元231判斷被觸壓之按鍵接點RL通過測試時，產生一第一警示聲響，或於控制單元231判斷被觸壓之按鍵接點RL測試失敗時，產生一第二警示聲響。顯示元件235連接於控制單元231之第二連接接腳P39，其功能為於控制單元231判斷被觸壓之按鍵接點RL通過測試時，顯示該按鍵接點RL之一識別資訊以及一通過測試訊息，或於控制單元231判斷被觸壓之按鍵接點RL測試失敗時，顯示該按鍵接點RL之識別資訊以及一測試失敗訊息。

於本較佳實施例中，控制單元231係為一微處理器，警示元件234係為一蜂鳴器，顯示元件235係為一LCD顯示器，且通過測試訊息以及測試失敗訊息係為文字訊息。而第一警示聲響例如為二短連續聲響，第二警示聲響例如為一長連續聲響。當然，第一警示聲響以及第二警示聲響可根據測試人員之習慣或喜好而變更，並非以上述舉例為限。

接下來說明控制單元231指派複數識別資訊00~7H至複數按鍵接點RL之運作情形。於測試模組23開始對薄膜開關電路20進行測試之前，控制單元231指派複數第一序號0~7至複數第一連接接腳P11~P18，使第一序號0對應於第一連接接腳P11，第一序號1對應於第一連接 接腳P12，……，以此類推。另一方面，控制單元231指派複數第二序號0~9、A~H至複數第二連接接腳P21~P38，使第二序號0對應於第二連接接腳P21，第二序號1對應於第二連接接腳P22，……，第二序號A對應於第二連接接腳P30，……，以此類推。藉此，控制單元231可指派複數第一序號0~7以及複數第二序號0~H為複數按鍵接點RL之識別資訊。

舉例說明，假設所欲觸壓的按鍵接點RL係對應於鍵盤裝置之Esc鍵，控制單元231可指派第一序號0以及第二序號0為對應於掃描輸入線R0以及掃描輸出線S0之按鍵接點RL(亦即對應於Esc鍵之按鍵接點)的識別資訊，也就是說，對應於Esc鍵之按鍵接點RL的識別資訊為「00」。同理，對應於掃描輸入線R7以及掃描輸出線S17之按鍵接點RL的識別資訊為「7H」，因此，薄膜開關電路20上之每一按鍵接點RL具有識別資訊。

接下來說明薄膜開關電路之測試系統2之運作情形。請繼續參閱圖2~圖4，於薄膜開關電路20藉由第一連接元件21以及第二連接元件22而連接於測試模組23之後，啟動開關電路232，使供電源Vin所提供之電力進入穩壓電路233，以穩定電力，穩定的電力被傳輸至控制單元231，以驅動控制單元231。當測試人員觸壓薄膜開關電路20之第一個按鍵接點RL時，該第一個按鍵接點RL例如為對應於鍵盤裝置之Esc鍵，且第一個按鍵接點RL分別對應於掃描輸入線R0以及掃描輸出線S0，該按鍵接點RL被觸壓而導通且與對應於掃描輸入線R0之固定電阻Rs1並聯而形成一等效電路E，如圖5所示。此時，該按鍵接點RL產生一接點電阻值。控制單元231藉由對應於掃描輸入線R0之第一連接接腳P11而獲得該接點電阻值，且控制單元231比較該接點電阻值與預設電阻值(例如為300歐姆)而判斷被觸壓之該按鍵接點RL是否通過測試。

當該按鍵接點RL未被導通時，對應於該按鍵接點RL之掃描輸入線R0藉由第一連接接腳P11傳輸一第一邏輯準位訊號至控制單元231，且對應於該按鍵接點RL之掃描輸出線S0藉由第二連接接腳P21亦傳輸第一邏輯準位訊號至控制單元231，其中第一邏輯準位訊號係為低邏輯準位訊號。當按鍵接點RL被導通時，對應於該按鍵接點RL之掃描輸入線R0藉由第一連接接腳P11傳輸一第二邏輯準位訊號至控制單元231，且對應於該按鍵接點RL之掃描輸出線S0藉由第二連接接腳P21亦傳輸第二邏輯準位訊號至控制單元231，其中第二邏輯準位訊號係為高邏輯準位訊號。當控制單元231接收到高邏輯準位訊號時，控制單元231擷取輸出高邏輯準位訊號之第一連接接腳P11的第一序號0以及第二連接接腳P21的第二序號0，而可獲得被觸壓之按鍵接點RL的識別資訊為「00」。

另一方面，控制單元231中預設有計算出對應於按鍵接點RL之接點電阻值之公式：接點電阻值=(實際電壓值VA×固定電阻Rs1之電阻值)/(測試電壓VCC×實際電壓值VA)，其中，上述公式係因應等效電路E以及歐姆定律而獲得，而測試電壓VCC係穩壓電路233所提供。於等效電路E中，由於固定電阻Rs1之電阻值為已知，故控制單元231可根據上述公式計算而獲得被觸壓之按鍵接點RL的接點電阻值。

於取得接點電阻值之後，當控制單元231判斷該接點電阻值小於或等於預設電阻值時，控制單元231判斷被觸壓之該按鍵接點RL通過測試，此時，控制單元231藉由第二連接接腳P20而輸出對應於通過測試之一第一訊號(未顯示於圖中)至警示元件234，使警示元件234產生第一警示聲響，以提示測試人員該按鍵接點RL通過測試。另一方面，控制單元231藉由第二連接接腳P39而輸出對應於通過測試之對應於被觸壓之該按鍵接點RL之識別資訊00、接點電阻值的數值以及一通過測試訊息，例如 顯示00 250Ω PASS。

反之，當控制單元231判斷該接點電阻值大於預設電阻值時，控制單元231判斷被觸壓之該按鍵接點RL測試失敗，此時，控制單元231藉由第二連接接腳P20而輸出對應於測試失敗之一第二訊號(未顯示於圖中)至警示元件234，使警示元件234產生第二警示聲響，以提示測試人員該按鍵接點RL測試失敗。另一方面，控制單元231藉由第二連接接腳P39而輸出對應於測試失敗之對應於被觸壓之該按鍵接點RL之識別資訊00、接點電阻值的數值以及一測試失敗訊息，例如顯示00 330Ω FAIL。

關於其餘按鍵接點RL之測試過程亦與上述為同理，而不再贅述，其中，測試人員根據顯示元件235所顯示的按鍵接點RL之識別資訊00以及一測試失敗訊息而得知測試失敗之按鍵接點RL為何，以便於送回工廠進行薄膜開關電路20之修正調整工作。而於其修正調整工作完成之後，再次進行上述測試，至所有按鍵接點RL皆通過測試為止。至所有按鍵接點RL測試完成之後，薄膜開關電路20之測試完成。

需特別說明的有二，第一，測試人員可以手動方式依序觸壓薄膜開關電路20之每一按鍵接點RL，以進行測試，但非以此為限。本發明薄膜開關電路之測試系統亦可利用自動打擊器依序觸壓按鍵接點RL，以提升測試效率以及觸壓正確性。第二，本較佳實施例中雖設置有警示元件，但其僅為輔助提醒測試人員，事實上並非限定薄膜開關電路之測試系統中必須包含有警示元件。

此外，本發明亦提供一與上述不同之第二較佳實施例。請同時參閱圖6、圖7以及圖8，圖6係為本發明薄膜開關電路之測試系統於第二較佳實施例中之電路示意圖，圖7係為本發明薄膜開關電路之測試系統之開關電路以及穩壓電路於第二較佳實施例中之電路示意圖，而圖8係為 本發明薄膜開關電路之測試系統之連接電路於第二較佳實施例中之電路示意圖。薄膜開關電路之測試系統3之功能為測試一薄膜開關電路30，薄膜開關電路30包括複數掃描輸入線R0~R7、複數掃描輸出線S0~S17以及由複數掃描輸入線R0~R7與複數掃描輸出線S0~S17所共同形成之複數按鍵接點。薄膜開關電路之測試系統3包括一第一連接元件31、一第二連接元件32以及一測試模組33，且測試模組33包括一第一控制單元331、複數固定電阻Rs1~Rs8、複數電容C1~C10、一開關電路332、一第一穩壓電路333、一第二穩壓電路334以及一連接電路335。其中，控制單元231包括複數第一連接接腳P00~P19以及複數第二連接接腳P20~P39。

本較佳實施例之薄膜開關電路之測試系統3與第一較佳實施例之薄膜開關電路之測試系統2之結構大致上相同，且相同之處則不再多加說明。而本較佳實施例與第一較佳實施例中不同之處有四，第一，控制單元231更包含有第一連接接腳P00，第二，測試模組33更包含有複數電容C1~C10，第三，測試模組33除了第一穩壓電路333之外，更包含有第二穩壓電路334，第四，測試模組33更包含有連接電路335，其功能為建立測試模組33與一電腦系統4之連接。

接下來說明與第一較佳實施例之該些不同之處。請參閱圖6，複數電容C1~C8係分別對應於固定電阻Rs1~Rs8以及第一連接接腳P11~P18，亦即電容C1對應於固定電阻Rs1，電容C2對應於固定電阻Rs2，以此類推。另外，複數電容C1~C8係分別連接於相對應之第一連接接腳P11~P18，而分別與相對應之固定電阻Rs1~Rs8並聯。電容C9係連接於第一連接接腳P00而與第一穩壓電路333並聯，而電容C10係連接於第一連接接腳P19而與第二穩壓電路334並聯，複數電容C1~C10之功能為濾除雜訊。

如上段內容所述，第一穩壓電路333藉由第一連接接腳P00而連接於第一控制單元331，而第二穩壓電路334藉由第一連接接腳P19而連接於第一控制單元331。本較佳實施例之薄膜開關電路之測試系統3藉由增設第二穩壓電路334而可提升穩定電力之效果。另外，第一穩壓電路333可藉由一跳線元件JP而連接於第二穩壓電路334，藉此，第一穩壓電路333以及第二穩壓電路334可共用電壓源V5，使得第二穩壓電路334不需額外連接於另一電壓源。

至於連接電路335之結構。請參閱圖8，連接電路335包括一第二控制單元3351以及一連接器3352，第二控制單元3351藉由第二連接接腳P20、P39而連接於第一控制單元331，以接收來自於第一控制單元331之各種訊號以及按鍵接點之複數識別資訊。連接器3352分別連接於第二控制單元3351以及電腦系統4，其功能為傳輸訊號以及按鍵接點之複數識別資訊至電腦系統4。於本較佳實施例中，連接器3352係為一RS232連接器，但非以此為限。於另一較佳實施例中，連接器亦可採用USB連接器或Mini USB連接器。

接下來說明薄膜開關電路之測試系統3之運作情形。請繼續參閱圖6~圖8，於薄膜開關電路30藉由第一連接元件31以及第二連接元件32而連接於測試模組33之後，啟動開關電路332，使供電源Vin所提供之電力進入第一穩壓電路333以及第二穩壓電路334，以穩定電力，穩定的電力被傳輸至第一控制單元331，以驅動第一控制單元331。當測試人員以手動方式觸壓或以自動打擊器觸壓薄膜開關電路30中對應於掃描輸入線R7以及掃描輸出線S17之按鍵接點時，該按鍵接點RL被觸壓而導通且與對應於掃描輸入線R7之固定電阻Rs1並聯而形成一等效電路(未顯示於圖中)。此時，該按鍵接點產生一接點電阻值。第一控制單元331藉由對應於 掃描輸入線R7之第一連接接腳P18而獲得該接點電阻值，且第一控制單元331比較該接點電阻值與預設電阻值(例如為300歐姆)而判斷被觸壓之該按鍵接點是否通過測試。

當按鍵接點被導通時，對應於該按鍵接點之掃描輸入線R7藉由第一連接接腳P18所輸出之第一邏輯準為訊號變更為第二邏輯準位訊號，且對應於該按鍵接點之掃描輸出線S17藉由第二連接接腳P38亦將所輸出之第一邏輯準位訊號變更為第二邏輯準位訊號，使第一控制單元331接收到分別來自於第一連接接腳P18以及第二連接接腳P38之第二邏輯準位訊號，此時，第一控制單元331擷取輸出第二邏輯準位訊號之第一連接接腳P18的第一序號7以及第二連接接腳P38的第二序號H，而可獲得被觸壓之按鍵接點的識別資訊為「7H」。另一方面，第一控制單元331根據按鍵接之接點電阻值之公式計算而獲得被觸壓之按鍵接點的接點電阻值。

於取得接點電阻值之後，當第一控制單元331判斷該接點電阻值小於或等於預設電阻值時，第一控制單元331判斷被觸壓之該按鍵接點通過測試，此時，第一控制單元331藉由第二連接接腳P20、P39以及連接電路335而傳輸被觸壓之該按鍵接點之識別資訊7H、接點電阻值的數值以及一通過測試訊息至電腦系統4，使電腦系統4之一顯示螢幕41顯示被觸壓之該按鍵接點之識別資訊7H、接點電阻值的數值以及通過測試訊息，例如顯示7H 275Ω PASS。

反之，當第一控制單元331判斷該接點電阻值大於預設電阻值時，第一控制單元331判斷被觸壓之該按鍵接點測試失敗，此時，第一控制單元331同樣藉由第二連接接腳P20、P39以及連接電路335而傳輸被觸壓之該按鍵接點之識別資訊7H、接點電阻值的數值以及一測試失敗訊息至電腦系統4，使電腦系統4之顯示螢幕41顯示被觸壓之該按鍵接點之識 別資訊7H、接點電阻值的數值以及通過測試訊息，例如顯示7H 350Ω FAIL。關於其餘按鍵接點之測試過程亦與上述為同理，而不再贅述。

需特別說明的是，較佳之作法為：預先安裝一分析程式於電腦系統4中，分析程式可根據所接收到之識別資訊、接點電阻值的數值以及通過測試訊息(或測試失敗訊息)而輸出一測試結果報表，且測試報表中特別標註測試失敗之識別資訊，測試人員可根據測試結果報表而得知哪些按鍵接點未通過測試而需進行修正調整工作。

根據上述各較佳實施例可知，本發明薄膜開關電路之測試系統可藉由控制單元指派第一序號以及第二序號至不同的第一連接接腳以及第二連接接腳，以指派複數識別資訊至複數按鍵接點。當按鍵接點被觸壓以進行測試時，控制單元可根據對應於被觸壓之按鍵接點的第一連接接腳以及第二連接接腳所傳輸之第一序號以及第二序號而得知被觸壓的是哪一按鍵接點。之後，控制單元於因按鍵接點導通而形成之等效電路中取得接點電阻值，且比較該接點電阻值與預設電阻值以判斷該按鍵接點是否通過測試。最後，顯示測試結果於顯示元件上或電腦系統之顯示螢幕上，以供測試人員觀看，而便於進行後續工作。

與習知技術相比，本發明薄膜開關電路之測試系統可辨識被觸壓之按鍵接點，使得測試人員不需於測試過程中一一記錄觸壓按鍵接點的順序或記錄目前觸壓的是哪一按鍵接點，而不會發生失誤，以提升測試準確率。另外，本發明薄膜開關電路之測試系統可連接電腦系統而與電腦系統共同運作。當然，本發明薄膜開關電路之測試系統亦可採用單獨運作之工作模式，而不需連接於電腦系統，以提供不同工作模式。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，並非用以限定本發明之申請專利範圍，因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改 變或修飾，均應包含於本案之申請專利範圍內。

2‧‧‧薄膜開關電路之測試系統

20‧‧‧薄膜開關電路

21‧‧‧第一連接元件

22‧‧‧第二連接元件

23‧‧‧測試模組

231‧‧‧控制單元

234‧‧‧警示元件

P00~P19‧‧‧第一連接接腳

P20~P39‧‧‧第二連接接腳

R0~R7‧‧‧掃描輸入線

Rs1~Rs8‧‧‧固定電阻

S0~S17‧‧‧掃描輸出線

V5‧‧‧電壓源

Claims (10)

1. 一種薄膜開關電路之測試系統，用以測試一薄膜開關電路，該薄膜開關電路包括複數掃描輸入線、複數掃描輸出線以及由該複數掃描輸入線與該複數掃描輸出線所共同形成之複數按鍵接點，且該複數按鍵接點中之至少一該按鍵接點被導通時產生一接點電阻值，該薄膜開關電路之測試系統包括：一連接元件，用以連接於該薄膜開關電路；以及一測試模組，連接於該連接元件，用以測試該薄膜開關電路中對應於該複數按鍵接點之該複數接點電阻值，該測試模組包括：一控制單元，具有一預設電阻值，用以辨識該至少一按鍵接點，或根據該接點電阻值與該預設電阻值而判斷該按鍵接點是否通過測試，該控制單元包括：複數第一連接接腳，每一該第一連接接腳對應於一該掃描輸入線，且分別連接於相對應之該掃描輸入線；以及複數第二連接接腳，每一該第二連接接腳對應於一該掃描輸出線，且分別連接於相對應之該掃描輸出線；以及複數固定電阻，對應於該複數掃描輸入線且連接於該複數第一連接接腳；其中當該按鍵接點被觸壓時，該按鍵接點與相對應之該固定電阻形成一等效電路，且該控制單元由該等效電路中獲得該接點電阻值，而判斷該按鍵接點是否通過測試。
2. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中當該按 鍵接點被觸壓時，該按鍵接點與相對應之該固定電阻並聯而形成該等效電路，使該控制單元藉由相對應之該第一連接接腳而獲得該接點電阻值，且該控制單元比較該接點電阻值與該預設電阻值而判斷被觸壓之該按鍵接點是否通過測試；其中該接點電阻值小於或等於該預設電阻值時，該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點通過測試；而當該接點電阻值大於該預設電阻值時，該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點測試失敗。
3. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括一警示元件，連接於該控制單元，用以於該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點通過測試時，產生一第一警示聲響，或於該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點測試失敗時，產生一第二警示聲響。
4. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括一顯示元件，連接於該控制單元，用以於該控制單元判斷該按鍵接點通過測試時，顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之一通過測試訊息，或於該控制單元判斷該按鍵接點測試失敗時，顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之一測試失敗訊息。
5. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該控制單元指派複數第一序號至該複數第一連接接腳，且指派複數第二序號至該複數第二連接接腳，而指派該複數第一序號以及該複數第二序號為該複數按鍵接點之複數識別資訊，以辨識該複數按鍵接點。
6. 如申請專利範圍第5項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中當該複數按鍵接點皆未被觸壓時，該複數掃描輸入線藉由該複數第一連接接腳分別傳輸一第一邏輯準位訊號至該控制單元，且該複數掃描輸出線藉由該複 數第二連接接腳分別傳輸該第一邏輯準位訊號至該控制單元；而當該複數按鍵接點中之一該按鍵接點被觸壓時，對應於該按鍵接點之該掃描輸入線藉由對應之該第一連接接腳傳輸一第二邏輯準位訊號至該控制單元，且對應於該按鍵接點之該掃描輸出線藉由對應之該第二連接接腳傳輸該第二邏輯準位訊號至該控制單元，該控制單元根據對應於被觸壓之該按鍵接點之該掃描輸入線之該第一序號以及對應於被觸壓之該按鍵接點之該掃描輸出線之該第二序號而獲得該按鍵接點之該識別資訊。
7. 如申請專利範圍第6項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括一顯示元件，連接於該控制單元，用以於該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點通過測試時，顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之該識別資訊、該接點電阻值以及一通過測試訊息，或於該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點測試失敗時，顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之該識別資訊、該接點電阻值以及一測試失敗訊息。
8. 如申請專利範圍第6項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括一連接電路，連接於該控制單元以及一電腦系統，用以建立該測試模組與該電腦系統之連接；其中當該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點通過測試時，該電腦系統之一顯示螢幕顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之該識別資訊、該接點電阻值以及一通過測試訊息；而當該控制單元判斷被觸壓之該按鍵接點測試失敗時，該顯示螢幕顯示對應於被觸壓之該按鍵接點之該識別資訊、該接點電阻值以及一測試失敗訊息。
9. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括複數電容，每一該電容對應於一該固定電阻且連接於相對應之 該第一連接接腳，用以濾除雜訊。
10. 如申請專利範圍第1項所述之薄膜開關電路之測試系統，其中該測試模組更包括：一開關電路，連接於一供電源，用以提供來自於該供電源之一電力；以及一穩壓電路，連接於該供電源以及一該第一連接接腳，用以穩定該電力。