TWI490735B - 利用比對算則之多手指觸碰感測方法 - Google Patents

Description

利用比對算則之多手指觸碰感測方法

本發明係關於觸碰感測，更明確而言，係關於利用比對算則之觸碰感測方法，本方法尤其適用於感測同時發生的多點觸碰。

第1圖係顯示一般觸碰感測裝置1之示意圖。該觸碰感測裝置1具有一觸控面板10，其包含一感測陣列，具有行列交錯的軌條(如12與13)。軌條行13係經由觸碰感測器14檢測，而軌條列12係經由觸碰感測器16檢測。觸碰感測器14和16將指示檢測結果的感測信號發給觸碰控制器18以判定發生在觸控面板10上的一或多點觸碰的位置與強度。此種觸碰感測裝置1及其操作在此項領域中為泛知者。

舉例而言，當兩根手指同時觸碰該觸碰面板10的位置15和17，在X軸與Y軸的感測信號波形曲線係分別如第1圖之下方與左方所示。如圖所示，在Y軸之維度，由於兩個位置15和17大致上是在同一列，故波形僅有一個波峰。在X軸之維度，由於兩個觸碰位置15和17是在不同行，故波形具有兩個波峰。

藉由觀察感測信號的波形，可得知觸碰位置。理想上，當有兩個觸碰發生在不同的行或列，波形將會出現「波峰-波谷-波峰」的曲線。亦即，在波形曲線中有兩個極大值以及一個極小值出現在兩者之間。第2圖顯示兩個觸碰發生時之感測信號的各種波形曲線。圖表(a)顯示理想狀況。如所示，波形具有顯現為「波峰-波谷-波峰」的曲線。兩個波峰分別表示此維度中兩個觸碰位置的座標，而波谷表示兩個觸碰位置之間的空間。然而，實作上，波形可能並不如此完美。圖表(b)顯示感測信號受到雜訊干擾的狀況。如可見者。因為雜訊，使得波谷消失不見。在此情況下，難以區分兩個觸碰位置。圖表(c)顯示兩個觸碰位置太過接近以致兩個波峰彼此重疊的狀況。在此種情況下，亦難以區分兩個觸碰位置。

習知技術中，係藉由以下的中心點公式計算位置以用於找出觸碰位置：

其中X _touch 為觸碰位置的座標，X [i ]為第i 條線(如：第i 行)的座標，W [i ]為第i 條線的信號幅度，i 起始於一觸碰區域的起始點並結束於該觸碰區域的結束點。此種方式容易受到雜訊干擾，亦即，所計算出的位置可能因為雜訊而漂移。

因此，希望有方法能夠更有效而精確地判斷發生在觸控面板等的觸碰位置，即使當觸碰位置彼此很接近時亦不會受到雜訊干擾。

本發明之一目的在於提供一種觸碰感測方法，其可有效精確檢測觸控面板等之觸碰感測器的觸碰位置。

根據本發明之一方面，用於檢測觸碰感測器之觸碰位置的觸碰感測方法包含提供代表一理想觸碰的一參考觸碰波形曲線；從觸碰感測器擷取感測信號；藉由移動該參考觸碰波形曲線而比對該參考觸碰波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及對應該最佳結果，從該參考觸碰波形曲線確認觸碰位置。

根據本發明之另一方面，用於檢測觸碰感測器之觸碰位置的觸碰感測方法包含提供代表一理想觸碰的一參考觸碰波形曲線；從觸碰感測器擷取感測信號；合成複數個參考觸碰波形曲線以組成一理想組合波形曲線；藉由改變組成該理想組合波形曲線的該等參考觸碰波形曲線之中心點來比對該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及對應該最佳結果，從該理想組合波形曲線確認觸碰位置。

比對可藉由計算該參考觸碰波形曲線或是由複數個參考觸碰波形曲線組成的理想組合波形曲線與該感測信號的相關度實行。或者，比對可藉由計算該參考觸碰波形曲線或是由複數個參考觸碰波形曲線組成的理想組合波形曲線與該感測信號之間的差異而實行。

為讓本發明之上述內容能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

第3圖係顯示兩個觸碰之理想波形曲線以及有兩個觸碰的感測信號波形。於此例中，兩個觸碰發生在X軸維度的不同座標上。為了簡單與清楚起見，將不討論Y軸維度。然而，熟知此項技藝者當可理解Y軸維度的情況係與X軸維度類似。於第3圖中，波形曲線32表示第一觸碰，而波形曲線34表示第二觸碰。該等觸碰係可以手指或其他物件行之。兩個觸碰同時發生在不同的X軸座標上。如所示，第一波形曲線32的中心點係在位置u，而第二波形曲線34的中心點係在位置v。波形曲線32和34為理想波形曲線。實作上，係檢測具有一波形曲線38的感測信號，理想狀況中，其大致為第一與第二觸碰波形曲線32與34的總和。

於本發明中，係預先儲存一參考觸碰波形曲線。該參考觸碰波形曲線為理想觸碰波形曲線，如第一觸碰波形曲線32或第二觸碰波形曲線34。舉例而言，當u=3時，表示參考觸碰波形曲線的中心點在第三條線。對於兩個觸碰的狀況，該參考觸碰波形曲線被複製並以不同間隔距離配置以與該感測信號波形曲線38比較。藉由如此，即使當有雜訊時或是當兩個觸碰發生在接近的位置時，亦可辨識兩個觸碰的中心點。

藉由逐步移動兩個參考觸碰波形曲線32和34，亦即，改變u和v的位置，並且比較該等參考觸碰波形曲線32、34與該感測信號波形曲線38，可獲得最接近的結果。造成最接近結果的一組(u,v)即表示兩個觸碰的中心點位置。

為了決定u的移動範圍與v的移動範圍，係如第3圖所示般設定一個臨界值。該臨界值的位準係被設定成可劃分觸碰狀態與非觸碰狀態。該臨界值與該感測信號波形曲線在兩個點相交，此二點的X軸座標分別為Wa和Wb。該點Wa為搜尋觸碰位置的起始點，而該點Wb為搜尋觸碰位置的結束點。亦即，搜尋觸碰位置的有效範圍係定義為[Wa,Wb]。於此圖中，點Wm為Wa與Wb之間的中點。亦即，Wm的座標為Wm=(Wa+Wb)/2。

一般而言，u的位置可藉由在從Wa到Wm的範圍裡搜尋而找到，而v的位置可藉由在從Wm到Wb的範圍裡搜尋而找到。然而，為了確保搜尋結果為最佳，u和v的搜尋範圍可稍微擴展。例如，為了找到u的位置，搜尋範圍可擴展為[Wa,Wm+1]；為了找到v的位置，搜尋範圍可擴展為[Wm-1,Wb]。舉一個例子，如果由臨界值所決定的起始點Wa以及結束點Wb分別為9和16，亦即搜尋範圍為[9,16]，此搜尋範圍可於起始與結束擴展2。因此，調整厚的搜尋範圍變成[9-2,16+2]=[7,18]。

第4圖顯示兩個參考觸碰波形曲線32、34之中心點的不同相對位置。由兩個參考觸碰波形曲線所組成的理想組合波形曲線IP(i ,j )可表示為：

IP(i ,j )=Su(i )⊕Sv(j )　(2)

其中Su(i )為觸碰波形曲線32，其中心點在位置i (亦即，i =u)；Sv(j )為觸碰波形曲線34，其中心點在位置j (亦即，j =v)。變數i 和j 係在上述的搜尋範圍內。

於第4圖中，顯示了六種理想組合波形曲線IP(i ,j )，包括IP(Wa,Wm-1)=Su(Wa)⊕Sv(Wm-1)、IP(Wa,Wm)=Su(Wa)⊕Sv(Wm)、IP(Wa+1,Wm-1)=Su(Wa+1)⊕Sv(Wm-1)、IP(Wa+1,Wm)=Su(Wa+1)⊕Sv(Wm)、IP(Wa+2,Wm-1)=Su(Wa+2)⊕Sv(Wm-1)、以及IP(Wa+2,Wm)=Su(Wa+2)⊕Sv(Wm)。各理想組合波形曲線IP(i ,j )係與感測信號波形曲線W(x1,x2)比對以獲取最佳結果，其中x1和x2為兩個實際觸碰的中心點位置。

各種理想組合波形曲線IP(i ,j )與感測信號波形曲線W(x1,x2)之比對可利用任何適當算則實施，諸如相關性運算、SAD(絕對差值總和)或MSE(均方差)。當採用相關性運算時，係計算W(x1,x2)*(Su(i )⊕Sv(j ))之加總，而最大結果即為最佳結果。當採用SAD或MSE時，係計算各種理想組合波形曲線IP(i ,j )與感測信號波形曲線W(x1,x2)之間的差值。因此，最小結果為最佳結果。

於本實施例中係採用SAD算則。SAD算則可表示為：

其中N為SAD映對圖中點的數目(亦即(i ,j )之組數)，亦即位置u和v之組合的數目。

u和v的值係逐步改變以合成出各種理想組合波形曲線IP(i ,j )。計算各個IP(i ,j )與感測信號波形曲線W(x1,x2)之間的SAD結果以構成包含不同組(u,v)之各個SAD結果的SAD映對圖。在此SAD映對圖中，最小結果即為最佳結果，且對應此最小結果的一組(u,v)即表示估計的觸碰位置。

如上所述，可採用其他算則，諸如MSE以及相關性運算。MSE算則可表示如下：

相關性運算可表示如下：

表示理想組合波形曲線IP之公式(2)係可稱為參考觸碰波形曲線合成公式，並可進一步表示為：

IP(i ,j )=Su(i )⊕Sv(j )=IP(i,j )=Su(i )+Sv(j )+k *Su(i )*Sv(j ) (6)

其中k 表示兩個參考觸碰波形曲線32和34之間的耦合度，亦即兩個參考觸碰波形曲線32和34的重疊程度。當k =0時，意謂兩個參考觸碰波形曲線各自獨立而可直接加在一起。

第5圖係顯示兩個參考觸碰波形曲線32和34的u和v之各種組合的SAD映對圖。在此SAD映對圖中，係選定一初點50(亦即一組特定的(u,v))實行搜尋以找出最小結果55。如所示，u的搜尋範圍係決定為[Wa,Wm+1]，v的搜尋範圍係決定為[Wm-1,Wb]。如果初點50選擇適當，則可迅速獲取最小結果55。

為了從SAD映對圖找出最小結果，可利用各種已知方法。除了全搜尋法以外，一些快速搜尋法亦適用，諸如最陡梯度搜尋法、三步搜尋法、菱形搜尋法等。

第6圖係顯示最陡梯度搜尋法用於本發明之示意圖。如已知者，在選定一初點60(亦即一組特定(u,v))之後，係檢查SAD映對圖中該初點60周圍的八個最近的點以及該初點60，以從這九點中找出相對最小結果。而後，搜尋進一步朝相對最小結果的方向實行，檢查該相對最小結果附近的三個點。可能的狀況係如圖中下方所示。

為了搜尋最佳的點(亦即最佳結果)，除了每次移動u或v之位置一個單位之外，亦可以1/2單位來移動位置，例如1/2畫素甚至1/4畫素。如果u或v的位置每次移動1/2畫素，則可達1/2畫素的解析度。如果u或v的位置每次移動1/4畫素，則可達1/4畫素的解析度。

第7圖係顯示三步搜尋法用於本發明之示意圖。在選定一初點70(亦即一組特定(u,v))之後，係檢查該初點70周圍於上、下、左、右、左上、左下、右上、右下方向之相隔預定間距的八個點以及該初點70，以決定一個相對較佳點。而後，係檢查在該相對較佳點周圍之該等八個方向的另八個點以及該相對較佳點以找出第二相對較佳點。依此類推。最後，可決定最終最佳點。

第8圖係顯示四個圖表，闡示根據本發明之方法的實施範例。圖表(a)顯示一感測信號之波形，縱軸為信號幅度，橫軸為位置。係如上述般利用一臨界值以界定搜尋範圍。於本例中，得到的是Wa=9，Wb=16。為了確保可完成最佳比對，該範圍在起始於結束處延展2。亦即，調整過的搜尋範圍為[Wa-2,Wb+2]=[9-2,16+2]=[7,18]。圖表(b)為圖表(a)的局部放大。圖表(c)為本例中藉由上述之SAD算則比對該感測信號波形與在不同位置之兩個參考觸碰波形曲線所得到的SAD映對圖。藉由利用全搜尋法或快速搜尋法搜尋該SAD圖，最小結果出現在(u=11,v=14)。亦即，座標11和14為兩個手指觸碰的估計位置。圖表(d)顯示兩個參考觸碰波形曲線82、84，其各為類高斯波形。波形曲線86表示理想組合波形曲線IP(11,14)，其係藉由合成兩個參考觸碰波形曲線Su(11)82和Sv(14)84而得。如可見者，圖表(b)中的感測信號波形與理想組合波形曲線IP(11,14)86非常近似。

應注意的是諸如相關性計算、SAD、MSE等比對方法本質上具有對雜訊免疫的特性。於第8圖所示的例子中，信號雜訊比(SNR)為10。然而，如可知者，SAD映對圖具有雜訊免疫的特性。可獲取最小結果的位置而不被雜訊顯著影響。

第9圖係顯示四個圖表，闡示根據本發明之方法的另一實施範例。此四個圖表係對應第8圖的圖表，因此相關詳細說明在此省略亦避免冗贅。於本例中，兩個手指觸碰的位置彼此太接近以致波形曲線合併在一起。如圖表(d)所示，從SAD映對圖中所得之最小結果的兩個位置非常接近，以致兩個參考觸碰波形曲線92和94非常接近。結果，藉由合成該等兩個參考觸碰波形曲線92和94所得到的理想組合波形曲線96並不具有「波峰-波谷-波峰」的形狀。然而，藉由利用本發明之方法，在此種狀況下仍然可得到正確的觸碰位置。

本發明之方法當利用全搜尋而實施時可歸結為第10圖所示之流程圖。第10圖係顯示本發明之方法於利用全搜尋判定兩個手指觸碰位置時的流程圖。於步驟S110，係決定用以實行比對操作的邊界。如所述，可藉由對一感測信號設定一臨界值而獲取一起始點Wa以及一結束點Wb。此外可得一中點Wm=(Wa+Wb)/2。

於步驟S120，係稍微擴展該邊界而設定搜尋範圍。舉例而言，尋找第一手指觸碰位置u之搜尋範圍可設定為[Wa,Wm+1]，而尋找第二手指觸碰位置v之搜尋範圍可設定為[Wm-1,Wb]。

於步驟S130，從例如觸控面板之觸碰感測器擷取一感測信號波形曲線W(x1,x2)，其中x1及x2表示兩個手指觸碰的位置。藉由合成兩個參考觸碰波形曲線Su(i )與Sv(j )而產生一理想組合波形曲線IP(i ,j )，其中在本例中Wa≦i ≦Wm+1且Wm-1≦j ≦Wb。藉由改變位置u與v的i 與j 值，可獲取多個理想組合波形曲線IP(i ,j )。藉由利用任何合適的算則比對感測信號波形曲線W(x1,x2)與該等IP(i ,j )以得到一映對圖MAP(u,v)(例如SAD映對圖)。在步驟S140，在映對圖MAP(u,v)搜尋最佳結果。對應該最佳結果的特定一組(u,v)即表示實際的手指觸碰位置。

第11圖係顯示本發明之方法於利用快速搜尋判定兩個手指觸碰位置時的流程圖。於步驟S210，係決定用以實行比對操作的邊界。如所述，可藉由對一感測信號設定一臨界值而獲取一起始點Wa以及一結束點Wb。此外可得一中點Wm=(Wa+Wb)/2。於步驟S220，係選定一搜尋初點(亦即一組特定的(u,v))，並選定搜尋步階。如果搜尋步階選定為一個畫素，則解析度即達一個畫素。如果搜尋步階選定為1/4畫素，則解析度即達1/4畫素。於本例中，選擇(u=(Wa+Wm)/2,v=(Wm+Wb)/2))作為始點，且搜尋步驟為1。於步驟S230，利用諸如最陡梯度搜尋法、三步搜尋法等快速搜尋法從感測信號波形曲線W(x1,x2)與理想組合波形曲線IP(i ,j )之比對映對圖中從該始點開始尋找最佳結果。

參考觸碰波形曲線可以各種方式取得。例如，可預先測量一觸碰波形曲線，並將所測得的波形曲線的多個點的信號位準值以查找表的形式儲存於產品之記憶體中，諸如唯讀記憶體、快閃等記憶體等。開始使用時，可從該查找表讀取該等多點的信號位準值。

參考觸碰波形曲線可由數學式產生，例如高斯分佈，其表示為：

其中S 為參考觸碰波形曲線，i 為位置(例如第i 條線)，u 為參考觸碰波形曲線S 的中心點，σ為理想手指或其他物件的寬度。手指寬度愈大，參數σ愈大。

不然，參考觸碰波形曲線可藉由動態收集實際手指觸碰波形曲線的統計資料而得到或加以調整。

本發明之方法尤適用於決定多點觸碰的位置判定。然而，本發明亦可應用於判定單一觸碰的位置。第12圖係顯示一個觸碰之理想波形曲線與一個觸碰之感測信號波形。於圖中，參考觸碰波形曲線係以圖號82表示，感測信號波形曲線以圖號88表示。如同兩個觸碰的情況，給定信號幅度的一個臨界值以決定一搜尋範圍。感測信號波形曲線88與該臨界值相交的兩點對應一起始點Wa以及一結束點Wb。因此，搜尋範圍即設定為[Wa,Wb]。如上所述，搜尋範圍可微幅擴展。移動參考觸碰波形曲線Su(i )82，亦即變更變數i 。感測信號波形曲線88係與移動的參考觸碰波形曲線Su(i )82比對以找出最佳匹配。該參考觸碰波形曲線Su(i )82可每次移動一個畫素、1/2畫素或1/4畫素。如果採用快速搜尋法，起始點Wa與結束點Wb之間的中點Wm一般來說會是適當的搜尋初點。

可推知本發明亦可應用於判定三或更多個觸碰的位置。在此種狀況下，應提供三或更多個參考觸碰波形曲線，且在三維或更高維度的映對圖(例如SAD映對圖)中尋找最佳答案。如果決定了適當的搜尋範圍並選定適當的初點，該等觸碰的觸碰位置可藉由利用諸如上述最陡梯度搜尋法等快速搜尋法迅速找出。

第13圖係顯示兩個觸碰的分開狀況與重疊狀況。圖中上方的圖表顯示兩個觸碰波形曲線92和94於時間T-n彼此分開。該等兩個觸碰朝向彼此移動。於時間T，該兩個觸碰波形曲線92和94彼此重疊，產生如所示之組合波形曲線98。如可見者，該波形曲線98並不具有「波峰-波谷-波峰」的形狀。反之，該波形曲線98為類高斯波形。然而，波形曲線98之信號寬度與信號高度明顯大於單一觸碰的波形曲線92或94。因此，即使當感測信號波形曲線無法清楚表示出兩個波峰時，亦可藉由針對信號寬度與高度設定適當的限值th1和th2而判斷在特定觸碰區域發生的觸碰事件是單一觸碰或兩個觸碰。當判斷為兩個觸碰的事件時，係啟動上述的雙觸碰感測程序。當已知在先前狀態有發生兩個分開的手指觸碰時，亦可啟動雙觸碰感測程序。

第14圖係顯示用於決定是否啟動多點觸碰感測程序之方法流程圖。於步驟S310，輸入一觸碰區域。於此觸碰區域中，感測信號指出至少有一個觸碰發生。於步驟S320，檢查是否滿足下列條件任何一者：(1)在先前狀態(例如於時間T-n)有兩個分開的手指觸碰；(2)該感測信號之信號寬度大於一信號寬度限值th1；及(3)該感測信號之信號高度大於一信號高度限值th2。當至少滿足上述三個條件之一時，則在步驟S330啟動上述的多點觸碰感測程序以找出觸碰位置。於步驟S340，係輸出估計的觸碰位置。

第15圖顯示用於感測不同區域之觸碰的方法。左側顯示流程圖，右側顯示對應程序各步驟的波形圖。於步驟S410，輸入一感測信號。該感測信號之波形係顯示於右側。於步驟S420，確認觸碰區域。於本例中，感測信號指出有兩個觸碰區域：觸碰區域1和觸碰區域2。於步驟S430，藉由第14圖所示的程序確認各區域的觸碰數。舉例而言，於本例中，判定在觸碰區域1中有一個手指觸碰，而在觸碰區域2中有兩個手指觸碰。於步驟S440，實行上述之本發明的觸碰感測方法，分別利用單一參考觸碰波形曲線與觸碰區域1中的感測信號波形曲線做比對而對觸碰區域1，及利用兩個參考觸碰波形曲線與觸碰區域2中的感測信號波形曲線做比對而對觸碰區域2，以找出觸碰位置。於步驟S450，輸出觸碰區域1之觸碰位置的估計中心點以及觸碰區域2之觸碰位置的估計中心點。

雖然本發明已就較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

1．．．觸碰感測裝置

10．．．感測面板

12．．．軌條

13．．．軌條

14．．．觸碰感測器

15．．．觸碰位置

16．．．觸碰感測器

17．．．觸碰位置

18．．．觸碰控制器

32．．．第一波形曲線

34．．．第二波形曲線

38．．．感測信號波形曲線

50．．．初點

55．．．最小結果點

60．．．初點

70．．．初點

82．．．參考觸碰波形曲線

84．．．參考觸碰波形曲線

86．．．理想組合波形曲線

88．．．感測信號波形曲線

92．．．參考觸碰波形曲線

94．．．參考觸碰波形曲線

96．．．理想組合波形曲線

98．．．組合波形曲線

第1圖係顯示一般觸碰感測裝置之示意圖；

第2圖係顯示當有兩個觸碰發生時，感測信號的各種波形曲線；

第3圖係顯示兩個觸碰之理想波形曲線及有兩個觸碰的感測信號波形；

第4圖係顯示兩個參考觸碰波形曲線之中心點的不同相對位置；

第5圖係顯示兩個參考觸碰波形曲線的u和v之各種組合的SAD(絕對差值總和)映對圖；

第6圖係顯示最陡梯度搜尋法用於本發明之示意圖；

第7圖係顯示三步搜尋法用於本發明之示意圖；

第8圖係顯示四個圖表，闡示根據本發明之方法的實施範例；

第9圖係顯示四個圖表，闡示根據本發明之方法的另一實施範例；

第10圖係顯示本發明之方法於利用全搜尋判定兩個手指觸碰位置時的流程圖；

第11圖係顯示本發明之方法於利用快速搜尋判定兩個手指觸碰位置時的流程圖；

第12圖係顯示一個觸碰之理想波形曲線與一個觸碰之感測信號波形；

第13圖係顯示兩個觸碰的分開狀況與重疊狀況；

第14圖係顯示用於決定是否啟動多點觸碰感測程序之方法流程圖；及

第15圖顯示用於感測不同區域之觸碰的方法。

Claims (9)

1. 一種用於檢測觸碰感測器之多點觸碰的觸碰感測方法，該方法包含：提供一參考觸碰波形曲線，其表示一理想的觸碰；從該觸碰感測器擷取一感測信號；合成複數個該參考觸碰波形曲線以組成一理想組合波形曲線；藉由改變組成該理想組合波形曲線之該等參考觸碰波形曲線的中心點位置來比對該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及從對應該最佳結果之理想組合波形曲線辨識觸碰位置。
2. 如申請專利範圍第1項之方法，尚包含設定一搜尋範圍，其中該搜尋範圍(searching range)係藉由對該感測信號設定一信號幅度臨界值而界定，當改變組成該理想組合波形曲線之該等參考觸碰波形曲線的中心點位置時，該等參考觸碰波形曲線之中心點的位置係落在該搜尋範圍內。
3. 如申請專利範圍第2項之方法，其中該比對步驟包含：在該搜尋範圍內選定一搜尋的初點，該初點表示組成該理想組合波形之該等參考觸碰波形曲線之中心點的特定位置；以及從該等參考觸碰波形曲線之中心點的位置係在該初點的狀態開始，藉由利用快速搜尋法(fast searching method)比較該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果。
4. 如申請專利範圍第3項之方法，其中該快速搜尋法係以最陡梯度搜尋法(steepest gradient searching method)實施。
5. 如申請專利範圍第3項之方法，其中該快速搜尋法係以三步搜尋法 (three-steps searching method)實施。
6. 如申請專利範圍第1項之方法，其中用於找出最佳結果之該比對步驟係藉由進行該理想組合波形曲線與該感測信號之相關性運算(auto-correlation)以找出最大結果作為最佳結果。
7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中用於找出最佳結果之該比對步驟係藉由計算該理想組合波形曲線與該感測信號之間的差值以找出最小結果作為最佳結果。
8. 如申請專利範圍第7項之方法，其中該差值係採用SAD(絕對差值總和)算則計算。
9. 一種用於檢測觸碰感測器之觸碰的觸碰感測方法，該方法包含：提供一參考觸碰波形曲線，其表示一理想的觸碰；從該觸碰感測器擷取一感測信號；從該感測信號中確認一觸碰區域，在該觸碰區域至少發生一個觸碰；確認該觸碰區域中發生多少觸碰；當判定在該觸碰區域僅有一個觸碰時，藉由移動該參考觸碰波形曲線來比對該參考波形曲線與該感測信號以找出最佳結果，而當判定在該觸碰區域有複數個觸碰時，合成複數個該參考觸碰波形曲線以組成一理想組合波形曲線，並藉由改變組成該理想組合波形曲線之該等參考觸碰波形曲線之中心點位置來比對該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及從對應該最佳結果的該參考觸碰波形曲線或該理想組合波形曲線辨識一或複數個觸碰位置。