TWI454715B - Electronic components composite receiving unit and its application of the test equipment - Google Patents

Description

電子元件複合收料單元及其應用之測試設備

本發明係提供一種可易於擴增收置不同測試等級之料盤，以便利因應測試等級分類，並有效縮減機體的體積，而提升收料效能及節省空間之複合收料單元。

在現今，電子元件測試分類機係依電子元件之測試結果而作不同等級分類收置，請參閱第1圖，係為習知測試分類機之示意圖，其係於機台10上設有供料裝置11與複數個收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G，以及複數個測試裝置13與輸送裝置14，該供料裝置11係設有至少一盛裝複數個待測電子元件之料盤111，各收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G係分別設有至少一料盤121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G，用以盛裝不同等級完測之電子元件，例如第1至7等級完測之電子元件，複數個測試裝置13係分別設有具測試座132之測試電路板131，用以測試電子元件，輸送裝置14係設有至少一可作第一、二、三方向(如X-Y-Z方向)位移之取放器141，用以於供料裝置11、各收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G及各測試裝置13間移載待測/完測之電子元件；於使用時，輸送裝置14係控制取放器141於供料裝置11之料盤111上取出待測之電子元件15，並移載置入於測試裝置13之測試座132內而執行測試作業，於測試完畢後，輸送裝置14再控制取放器141於測試座132內取出完測之電子元件15，並依測試結果，而移載至其一收料裝置12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G分類收置，例如電子元件15之測試結果被判斷為第1等級之良品電子元件，輸送裝置14即將完測之電子元件15移載至收料裝置12A之料盤121A上收置；惟，測試分類機雖配置有複數個收料裝置12A、 12B、12C、12D、12E、12F、12G，用以分類收置不同等級之電子元件，但由於電子元件之測試品質日趨嚴謹，使得測試等級已由複數個等級逐漸細分增加至十多種等級，例如良品、不良品、次級品、外觀瑕疵．．．等，若業者欲因應收置第一至十多種不同等級之電子元件，而於機台10上水平增設十多個收料裝置，勢必使機體不斷向兩側擴充，以致機體相當龐大，造成佔用空間且不利廠房空間配置之缺失，但若不增設十多個收料裝置，則無法因應擴增之測試等級，造成測試等級受限而無法提升測試品質之缺失。

本發明之目的一，係提供一種電子元件複合收料單元，包含收納匣、承盤機構及移盤機構，收納匣係為直立多層式匣體，用以承置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤，承盤機構係設有可作至少一方向位移之承盤器，承盤器依收料作業所需而位移對應於收納匣之其一料盤，用以承置料盤，移盤機構係設有可作至少一方向位移之移盤器，移盤器依收料作業所需將收納匣中之其一料盤移載至承盤機構之承盤器上，而供輸送裝置之移料器將完測之電子元件移載至料盤上分類收置；藉此，複合收料單元可便利擴增複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，而便利因應不同測試作業需求，達到提升收料效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種電子元件複合收料單元，其中，該複合收料單元之收納匣可容置複數個盛裝不同等級完測電子元件之料盤，移盤機構係依測試結果於收納匣處抽換不同料盤，並移載至承盤機構處，供便利收置不同等級之完測電子元件，進而複合收料單元易於增設複數個料盤且不佔空間，並有效縮減機體的體積，達到節省空間之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件複合收料單元，其係設有至少一可暫置複數個不同等級完測電子元件之暫置器，輸送裝置之取放器可將不同等級完測之電子元件先暫置於暫置器後，即離開位移至其他裝置處繼續執行移料作業，當移盤器將收納匣 之一料盤移載至承盤器上，輸送裝置之取放器即於暫置器上將相對應料盤收置等級之完測電子元件全部揀取移載至料盤上分類收置，毋須視取放器每次移載之電子元件測試等級，而反覆費時移出/移入收納匣之料盤，以有效縮減收料作業時間，達到提升收料效能之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種應用電子元件複合收料單元之測試設備，包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，供料裝置係配置於機台上，並用以容納至少一待測之電子元件，收料裝置係配置於機台上，並設有收料單元及複合收料單元，收料單元係設有至少一盛裝相同等級完測電子元件之料盤，複合收料單元係設有收納匣、移盤機構及承盤機構，用以便利擴增複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，測試裝置係設有具測試座之測試電路板，用以測試電子元件，輸送裝置係配置於機台上，並用以移載電子元件，中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升測試生產效能及利於廠房空間配置之實用效益。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第2、3圖，係為本發明電子元件複合收料單元20之第一實施例，其包含收納匣21、承盤機構22及移盤機構23，該收納匣21係為直立多層式匣體，用以承置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤，於本實施例中，收納匣21係固設於機台30上，而於內部設有複數層支撐架211，用以分別承置可盛裝不同等級完測電子元件之料盤24，又各層支撐架211係相通收納匣21之至少一側外部，以供各料盤24輸出至承盤機構22；承盤機構22係設有作至少一方向位移之承盤器，用以承置收納匣21輸出之各料盤24，並設有可驅動承盤器位移之動力結構，於本實施例中，承盤機構22係位於收納匣21之側方，承盤器可為承板221，承盤機構22係於機台3 0設有可驅動承板221作第三方向位移之動力結構，該動力結構係設有可為馬達222之驅動源，馬達222驅動至少一傳動器，傳動器係用以帶動承板221作第三方向位移，於本實施例中，傳動器係設有一由馬達222驅動之螺桿螺座組，螺桿螺座組經由至少一連動件而帶動承板221作第三方向位移，亦或傳動器可設有一由馬達222驅動之皮帶輪組，皮帶輪組係傳動一螺桿螺座組，並以螺桿螺座組帶動承板221作第三方向位移，於本實施例中，傳動器係設有一由馬達222驅動之皮帶輪組223，皮帶輪組223係傳動一螺桿螺座組224，並以螺桿螺座組224連結帶動承板221作第三方向位移，使承板221可位移至收納匣21之各層支撐架211側方，用以承置輸出之各料盤24，另承盤機構22係設有至少一可輔助承板221平穩位移之導桿225；移盤機構23係設有作至少一方向位移之移盤器，用以將收納匣21中之各料盤24移載至承盤機構22之承盤器上，更進一步，移盤機構23之移盤器可為夾具或拉桿等，並設有可驅動移盤器作至少一方向位移之驅動結構，移盤機構23可裝配於收納匣21之側方或各層支撐架211之周側，亦或裝配於承盤機構22之承盤器上，於本實施例中，移盤機構23係裝配於承盤機構22之承板221上，移盤器係設有二夾爪231A、231B，夾爪231A之內側凸設有二推塊2311A、2312A，並於推塊2311A之一側設有可彈性位移之頂抵件2313A，於本實施例中，係於推塊2311A與頂抵件2313A間設有可為彈簧2314A之彈性件，夾爪231B之內側凸設有二推塊2311B、2312B，並於推塊2311B之一側設有可彈性位移之頂抵件2313B，於本實施例中，係於推塊2311B與頂抵件2313B間設有可為彈簧2314B之彈性件，由於承板221可作第三方向位移，移盤器可利用承板221之帶動而作第三方向位移至收納匣21之各料盤24側方，進而移盤機構23之驅動結構僅需帶動移盤器作第一方向位移，將收納匣21之各料盤24移載至承板221 上，該驅動結構係設有可驅動移盤器作第一方向位移的驅動器，於本實施例中，驅動器係設有可為馬達232之驅動源，馬達232係驅動至少一傳動組，傳動組可帶動二夾爪231A、231B作第一方向位移，於本實施例中，傳動組係設有一由馬達232驅動之第一皮帶輪組2331，第一皮帶輪組2331係傳動一呈第二方向配置之軸桿2332，軸桿2332之兩端係分別帶動呈第一方向配置之第二皮帶輪組2333、2334，二第二皮帶輪組2333、2334分別連結帶動二夾爪231A、231B作第一方向位移，以便於收納匣21內取出任一料盤24，並移載至承盤機構22之承板221上，使各料盤24收置不同等級完測之電子元件，另移盤機構23係於承板221與二夾爪231A、231B間分別設有滑移器，用以輔助二夾爪231A、231B平穩位移，於本實施例中，滑移器係於承板221與二夾爪231A、231B間分別設有可相互配合之滑軌234A、234B與滑座235A、235B，又移盤機構23係於承板221上設有至少一限位部件，用以限位料盤，於本實施例中，係於承板221上凹設有限位槽2211，用以限位料盤，並設有至少一可為限位桿236之限位件，用以限位料盤，另移盤機構23設有至少一可調整定位料盤位置之定位器，於本實施例中，定位器係設有一為壓缸237之驅動源，用以驅動至少一凸伸出承板221上之推桿238作第二方向位移，使推桿238頂推料盤靠置於限位槽2211之內面定位，另複合收料單元20更包含設有至少一可暫置不同等級完測電子元件之暫置器，暫置器可為暫置盤，於本實施例中，係於收納匣21之頂面設有暫置盤212，用以暫置不同等級完測之電子元件。

請參閱第4圖，於使用時，輸送裝置40可將完測不同等級(如第5至9等級)之複數個電子元件51~55先移載置入於暫置盤212，使輸送裝置40於每次移載不同等級完測之電子元件51~55時，不用等待盛裝相對應等級電子元件之各料盤 24A~24E移出/移入收納匣21，而可將各電子元件51~55暫置於暫置盤212後，即迅速離開位移至其他裝置處執行下一動作，進而更加節省收料作業時間，該承盤機構22係控制馬達222驅動皮帶輪組223作動，皮帶輪組223即傳動螺桿螺座組224，令螺桿螺座組224之螺桿帶動承板221及移盤機構23作第三方向位移，使移盤機構23之二夾爪231A、231B先位於收納匣21之側方適當位置，移盤機構23係控制馬達232驅動第一皮帶輪組2331作動，第一皮帶輪組2331經由軸桿2332而傳動二第二皮帶輪組2333、2334，各第二皮帶輪組2333、2334係分別帶動二夾爪231A、231B作第一方向位移至收納匣21之前、後方；請參閱第5、6圖，由於收納匣21係立式設有多層支撐架211，不僅便利擴增複數個收置不同等級完測電子元件之料盤，以因應不同測試作業需求而提升收料效能，並有效縮減機體的體積而節省空間，本發明可視收料作業所需，而控制移盤機構23移載收納匣21之各料盤至承盤機構22上，以收置不同等級完測之電子元件，例如欲收置暫置盤212內之複數個第6等級完測電子元件52時，該承盤機構22係控制馬達222驅動皮帶輪組223作動，皮帶輪組223即傳動螺桿螺座組224，令螺桿螺座組224帶動承板221及移盤機構23作第三方向位移，使二夾爪231A、231B之各推塊2311A、2311B分別位於料盤24B之一側方，移盤機構23可控制馬達232驅動第一皮帶輪組2331作動，第一皮帶輪組2331經由軸桿2332傳動二第二皮帶輪組2333、2334，各第二皮帶輪組2333、2334分別帶動二夾爪231A、231B作第一方向位移，令二夾爪231A、231B之各推塊2311A、2311B以頂抵件2313A、2313B頂推料盤24B之一側，並壓縮彈簧2314A、2314B，進而將料盤24B拉出收納匣21，並移載至承板221之限位槽2211上，當二夾爪231A、231B將料盤24B移載 頂抵於限位桿236時，二夾爪231A、231B之頂抵件2313A、2313B即可壓縮彈簧2314A、2314B作一緩衝，使二夾爪231A、231B可確實將料盤24B移載至預設位置，接著控制壓缸237驅動推桿238作第二方向位移頂推料盤24B靠置限位槽2211之內面定位；請參閱第7圖，於承板221承載料盤24B後，承盤機構22可控制馬達222經皮帶輪組223而驅動螺桿螺座組224，令螺桿螺座組224帶動承板221及移盤機構23作第三方向位移至暫置盤212之側方，輸送裝置40即於暫置盤212上將複數個第6等級之完測電子元件52全部揀取移載至料盤24B上分類收置，以縮減收料作業時間；請參閱第8圖，於收料完畢後，承盤機構22係控制馬達222經皮帶輪組223而驅動螺桿螺座組224，令螺桿螺座組224帶動承板221、移盤機構23及已盛裝完測電子元件52之料盤24B作第三方向位移，令料盤24B對應於收納匣21之第二層支撐架211處，接著移盤機構23係控制壓缸237帶動推桿238作第二方向位移而脫離料盤24B，並控制馬達232驅動第一皮帶輪組2331作動，第一皮帶輪組2331經由軸桿2332傳動二第二皮帶輪組2333、2334，各第二皮帶輪組2333、2334分別帶動二夾爪231A、231B作第一方向位移，令二夾爪231A、231B之各推塊2312A、2312B頂推料盤24B，將料盤24B推移至收納匣21之支撐架211上收置，進而完成收料作業。

請參閱第9圖，係為本發明電子元件複合收料單元20A之第二實施例，其包含收納匣25A、承盤機構26A及移盤機構27A，該收納匣25A係為直立多層式匣體，用以承置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤，於本實施例中，收納匣25A係固設於機台30上，而於內部設有複數層支撐架251A，用以分別承置可盛裝不同等級完測電子元件之料盤28A，各層支撐架251A係相通收納匣25A之兩側外部，使移盤機 構27A可由收納匣25A之一側將各料盤28A朝另一側移載輸出至承盤機構26A；承盤機構26A係位於收納匣25A之一側方，並設有作至少一方向位移之承盤器，用以承置收納匣25A輸出之各料盤28A，承盤器可為承板261A，承盤機構26A並設有可驅動承盤器位移之動力結構，於本實施例中，動力結構係設有可為馬達262A之驅動源，馬達262A驅動至少一傳動器，傳動器係用以帶動承板261A作第三方向位移，於本實施例中，傳動器係設有一由馬達262A驅動之螺桿螺座組263A，螺桿螺座組263A經由連動件264A帶動承板261A作第三方向位移，使承板261A可位移至收納匣25A之各層支撐架251A側方，以承置輸出之各料盤28A；移盤機構27A係設有可作至少一方向位移之移盤器，用以將收納匣25A中之各料盤28A移載至承盤機構26A之承盤器上，更進一步，移盤機構27A係設有可驅動移盤器位移之驅動結構，於本實施例中，移盤機構27A係位於收納匣25A之另一側方，移盤器係為夾具271A，移盤機構27A並設有可驅動移盤器作第一、三方向位移之驅動結構，驅動結構包含第一驅動器及第二驅動器，用以分別帶動移盤器作第三、一方向位移，其中，第一驅動器係設有可為第一馬達272A之第一驅動源，第一馬達272A係驅動至少一第一傳動組，第一傳動組係用以帶動第二驅動器及夾具271A作第三方向位移，於本實施例中，第一傳動組係設有可由第馬達272A驅動之螺桿螺座組273A，螺桿螺座組273A係傳動可裝配第二驅動器之活動板274A作第三方向位移，第二驅動器係設有可為第二馬達275A之第二驅動源，第二馬達275A係驅動至少一第二傳動組，第二傳動組係設有可由第二馬達275A驅動之皮帶輪組276A，皮帶輪組276A係傳動可連結夾具271A之活動桿277A作第一方向位移，進而夾具271A可利用第一、二驅動器分別驅動作第三、一方向位移，以便移動至收納匣25A之各層支撐架251A側方，並將收納匣25A內之任一料盤28A移 載至承盤機構26A之承板261A上，使各料盤28A收置不同等級完測之電子元件，另複合收料單元20A更包含設有至少一可暫置不同等級完測電子元件之暫置器，暫置器可為暫置盤，於本實施例中，係於收納匣25A之頂面設有暫置盤252A，用以暫置不同等級完測之電子元件。

請參閱第10圖，於使用時，輸送裝置40可將完測不同等級(如第5至9等級)之複數個電子元件51~55移載置入於暫置盤252A，當欲將暫置盤252A內之複數個第5等級完測電子元件51收置於料盤281A時，承盤機構26A係控制馬達262A驅動螺桿螺座組263A，並以螺桿螺座組263A經連動件264A帶動承板261A作第三方向位移至收納匣25A之料盤281A側方，移盤機構27A係控制第一馬達272A驅動螺桿螺座組273A，並以螺桿螺座組273A經活動板274A而帶動第二驅動器及夾具271A作第三方向位移，使夾具271A位於收納匣25A之料盤281A另一側方，接著控制第二馬達275A驅動皮帶輪組276A，皮帶輪組276A經活動桿277A驅動夾具271A作第一方向位移伸入於收納匣25A中，將料盤281A移載至承板261A上；請參閱第11圖，於承板261A承載料盤281A後，移盤機構27A係控制第二馬達275A驅動皮帶輪組276A，皮帶輪組276A經活動桿277A驅動夾具271A作第一方向位移而退出收納匣25A，承盤機構26A可控制馬達262A驅動螺桿螺座組263A，螺桿螺座組263A經連動件264A帶動承板261A及料盤281A作第三方向位移至暫置盤252A之側方，輸送裝置40即可將暫置盤252A上複數個第5等級之完測電子元件51全部揀取移載至料盤281A上分類收置；請參閱第12圖，承盤機構26A係控制馬達262A驅動螺桿螺座組263A，螺桿螺座組263A經連動件264A帶動承板261A及已盛裝第5等級完測電子元件51之料盤281A作第三方向位移至收納匣25A之支撐架251A側 方，移盤機構27A係控制第一馬達272A驅動螺桿螺座組273A，螺桿螺座組273A經活動板274A而帶動第二驅動器及夾具271A作第三方向位移至收納匣25A之支撐架251A另一側方，接著控制第二馬達275A驅動皮帶輪組276A，皮帶輪組276A經活動桿277A驅動夾具271A作第一方向位移將承板261A上之料盤281A移載至收納匣25A之支撐架251A收置，進而完成收料作業。

請參閱第13、14圖，係為應用複合收料單元20第一實施例之測試分類機，包含機台30、輸送裝置40、供料裝置60、收料裝置70及測試裝置80，該供料裝置60係裝配於機台30上，並設有至少一可盛裝待測電子元件之料盤61；該收料裝置70係裝配於機台30上，並設有至少一相同上述複合收料單元之複合收料單元20(請配合參閱第2、3圖)，於本實施例中，收料裝置70係設有複數個收料單元71及複合收料單元20，各收料單元71係設有至少一料盤711，用以盛裝相同等級完測之電子元件，複合收料單元20係包含收納匣21、承盤機構22及移盤機構23，收納匣21係立式設有複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤24，承盤機構22係設有可作至少一方向位移之承盤器，承盤器依收料作業所需而位移對應於收納匣21之其一料盤24，用以承置料盤24，移盤機構23係設有可作至少一方向位移之移盤器，移盤器依收料作業所需將收納匣21中之其一料盤24移載至承盤機構22之承盤器上，而供輸送裝置40將完測之電子元件移載至料盤24上分類收置，另複合收料單元20更包含設有至少一可暫置不同等級完測電子元件之暫置器，更進一步，暫置器可獨立裝配於收納匣21上，亦或以收料單元71之料盤711作為暫置器，於本實施例中，係於收納匣21之頂面設有可為暫置盤212之暫置器，用以暫置不同等級完測之電子元件；該測試裝置80係設有具測試座82之測試電路板81，用以測試電子元件，以及設有可壓抵電子元件之壓接機構83，並以測試器(圖未示出)將測試結果 傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置控制各裝置作動，更進一步，測試裝置80可裝配於機台30上，亦或裝配於直立機架90上，於本實施例中，測試分類機係於機台30上設有具複數層容置空間91之直立機架90，其各層容置空間91可供裝配測試裝置80；該輸送裝置40係配置於機台30上，用以於供料裝置60、收料裝置70、複合收料單元20及測試裝置80間移載電子元件，於本實施例中，係設有載料機構及第一、二移料機構，載料機構係設有至少一載台41，用以承置電子元件，第一移料機構係設有至少一第一取放器42，用以於供料裝置60、收料裝置70、複合收料單元20及載台41間移載待測/完測之電子元件，第二移料機構係設有至少一第二取放器43，用以於載台41及各測試裝置80間移載待測/完測之電子元件，另於機台30上設有至少一空盤裝置100，該空盤裝置100係用以收置供料裝置60之空料盤61，並將空料盤61補充於收料裝置70，用以接續盛裝完測之電子元件。

請參閱第15圖，於使用時，輸送裝置40之第一取放器42係於供料裝置60之料盤61處取出待測之電子元件51，並移載至載台41處，載台41係作第一方向位移將待測之電子元件51載送至第二取放器43之側方，第二取放器43係於載台41上取出待測之電子元件51；請參閱第16、17圖(請配合參閱第4~8圖)，第二取放器43係將待測之電子元件51移載置入於測試裝置80之測試座82中，測試裝置80之壓接機構83下壓測試座82內之電子元件51執行測試作業，並以測試器將測試結果傳輸至中央控制裝置，由於直立機架90係以第三方向配置數層測試裝置80，使得第二取放器43可以較短位移行程而於各層測試裝置80間移載取放電子元件，於測試完畢後，第二取放器43係於測試裝置80之測試座82取出完測之電子元件51，並移載置入於載台41上，載台41載送完測之電子元件51至第一取放器42之側方，第一取放器42即於載台41上取出完測之電子元件51，並移載至收料裝置70處， 由於收料裝置70係設有收料單元71及複合收料單元20，第一取放器42可依測試結果，將完測之電子元件51移載至收料單元71或複合收料單元20，若完測之電子元件51為測試等級數量較少之第5等級時，第一取放器42可將完測之電子元件51移載暫置於複合收料單元20之暫置盤212上，進而暫置盤212可暫時盛裝複數個不同等級(如第5至9等級)完測之電子元件51~55，當欲收置暫置盤212內之複數個第6等級完測電子元件52時，承盤機構22可帶動二夾爪231A、231B位移對應於收納匣21之料盤24B，移盤機構23即控制二夾爪231A、231B作第一方向位移將料盤24B拉出收納匣21，並移載至承板221上，輸送裝置40之第一取放器42即於暫置盤212上將複數個第6等級之完測電子元件52全部揀取移載至料盤24B上分類收置，以縮減收料作業時間，於收料完畢後，承盤機構22係載送料盤24B對應於收納匣21之第二層支撐架211處，移盤機構23則將料盤24B推移至收納匣21之支撐架211上收置，進而完成收料作業。

〔習知〕

10‧‧‧機台

11‧‧‧供料裝置

111‧‧‧料盤

12A、12B、12C、12D、12E、12F、12G‧‧‧收料裝置

121A、121B、121C、121D、121E、121F、121G‧‧‧料盤

13‧‧‧測試裝置

131‧‧‧測試電路板

132‧‧‧測試座

14‧‧‧輸送裝置

141‧‧‧取放器

15‧‧‧電子元件

〔本發明〕

20、20A‧‧‧複合收料單元

21‧‧‧收納匣

211‧‧‧支撐架

212‧‧‧暫置盤

22‧‧‧承盤機構

221‧‧‧承板

2211‧‧‧限位槽

222‧‧‧馬達

223‧‧‧皮帶輪組

224‧‧‧螺桿螺座組

225‧‧‧導桿

23‧‧‧移盤機構

231A‧‧‧夾爪

2311A、2312A‧‧‧推塊

2313A‧‧‧頂抵件

2314A‧‧‧彈簧

231B‧‧‧夾爪

2311B、2312B‧‧‧推塊

2313B‧‧‧頂抵件

2314B‧‧‧彈簧

232‧‧‧馬達

2331‧‧‧第一皮帶輪組

2332‧‧‧軸桿

2333、2334‧‧‧第二皮帶輪組

234A、234B‧‧‧滑軌

235A、235B‧‧‧滑座

236‧‧‧限位桿

237‧‧‧壓缸

238‧‧‧推桿

24、24A~24E‧‧‧料盤

25A‧‧‧收納匣

251A‧‧‧支撐架

252A‧‧‧暫置盤

26A‧‧‧承盤機構

261A‧‧‧承板

262A‧‧‧馬達

263A‧‧‧螺桿螺座組

264A‧‧‧連動件

27A‧‧‧移盤機構

271A‧‧‧夾具

272A‧‧‧第一馬達

273A‧‧‧螺桿螺座組

274A‧‧‧活動板

275A‧‧‧第二馬達

276A‧‧‧皮帶輪組

277A‧‧‧活動桿

28A、281A‧‧‧料盤

30‧‧‧機台

40‧‧‧輸送裝置

41‧‧‧載台

42‧‧‧第一取放器

43‧‧‧第二取放器

51~55‧‧‧電子元件

60‧‧‧供料裝置

61‧‧‧料盤

70‧‧‧收料裝置

71‧‧‧收料單元

711‧‧‧料盤

80‧‧‧測試裝置

81‧‧‧測試電路板

82‧‧‧測試座

83‧‧‧壓接機構

90‧‧‧直立機架

91‧‧‧容置空間

100‧‧‧空盤裝置

第1圖：習知電子元件測試分類機之示意圖。

第2圖：本發明複合收料單元第一實施例之前視圖。

第3圖：本發明複合收料單元第一實施例之俯視圖。

第4圖：複合收料單元第一實施例之使用示意圖(一)。

第5圖：複合收料單元第一實施例之使用示意圖(二)。

第6圖：複合收料單元第一實施例之使用示意圖(三)。

第7圖：複合收料單元第一實施例之使用示意圖(四)。

第8圖：複合收料單元第一實施例之使用示意圖(五)。

第9圖：本發明複合收料單元第二實施例之前視圖。

第10圖：複合收料單元第二實施例之使用示意圖(一)。

第11圖：複合收料單元第二實施例之使用示意圖(二)。

第12圖：複合收料單元第二實施例之使用示意圖(三)。

第13圖：複合收料單元應用於測試分類機之俯視圖。

第14圖：複合收料單元應用於測試分類機之前視圖。

第15圖：本發明測試分類機之使用示意圖(一)。

第16圖：本發明測試分類機之使用示意圖(二)。

第17圖：本發明測試分類機之使用示意圖(三)。

20‧‧‧複合收料單元

21‧‧‧收納匣

211‧‧‧支撐架

212‧‧‧暫置盤

22‧‧‧承盤機構

221‧‧‧承板

222‧‧‧馬達

223‧‧‧皮帶輪組

224‧‧‧螺桿螺座組

225‧‧‧導桿

23‧‧‧移盤機構

231A‧‧‧夾爪

2311A‧‧‧推塊

2313A‧‧‧頂抵件

2314A‧‧‧彈簧

231B‧‧‧夾爪

2311B‧‧‧推塊

2313B‧‧‧頂抵件

2314B‧‧‧彈簧

232‧‧‧馬達

2332‧‧‧軸桿

2333、2334‧‧‧第二皮帶輪組

234A、234B‧‧‧滑軌

235A、235B‧‧‧滑座

236‧‧‧限位桿

237‧‧‧壓缸

238‧‧‧推桿

24‧‧‧料盤

30‧‧‧機台

Claims (10)

1. 一種電子元件複合收料單元，包含：收納匣：係為直立多層式匣體，用以承置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤；承盤機構：係設有作至少一方向位移之承盤器，用以承置該收納匣輸出之不同等級料盤，使該各料盤分別盛裝不同等級完測之電子元件；移盤機構：係設有作至少一方向位移之移盤器，用以將該收納匣中之各料盤移載至該承盤機構之承盤器，以及將該承盤器上之該各料盤移載至該收納匣。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件複合收料單元，其中，該承盤機構係設有可驅動該承盤器位移之動力結構，該動力結構係設有驅動源，用以驅動至少一傳動器，該傳動器係用以帶動該承盤器作第三方向位移。
3. 依申請專利範圍第1或2項所述之電子元件複合收料單元，其中，該承盤機構係於該承盤器上設有至少一限位部件，用以限位該料盤，並設有至少一可調整定位該料盤位置之定位器。
4. 依申請專利範圍第1或2項所述之電子元件複合收料單元，其中，該移盤機構係裝配於該承盤機構之承盤器，並設有可驅動該移盤器作第一方向位移之驅動結構。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件複合收料單元，其中，該移盤機構之移盤器係設有二夾爪，並由該驅動結構驅動作第一方向位移，將該收納匣之料盤移載至該承盤器上。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件複合收料單元，其中，該移盤器之二夾爪係於內面分別凸設有二推塊，並於其中一該推塊之一側設有可彈性位移之頂抵件，用以移動該料盤。
7. 依申請專利範圍第1或2項所述之電子元件複合收料單元，其中，該移盤機構係裝配於機台上，並設有可驅動該移盤器作第一、三方向位移之驅動結構。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件複合收料單元，更包含設有至少一可暫置不同等級完測電子元件之暫置器。
9. 一種應用電子元件複合收料單元之測試設備，包含：機台；供料裝置：係用以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係設有至少一具料盤之收料單元，用以收置相同等級完測之電子元件，並設有至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件複合收料單元，用以收置複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤；測試裝置：係設有具測試座之測試電路板，用以測試電子元件；輸送裝置：係用以移載電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
10. 依申請專利範圍第9項所述之應用電子元件複合收料單元之測試設備，更包含設有至少一可暫置不同等級完測電子元件之暫置器。